TW201534886A - 光學膜之檢查裝置及方法 - Google Patents

Abstract

本發明係關於一種光學膜之檢查裝置及方法。 本發明之光學膜之檢查裝置及方法，係關於一種下述之光學膜檢查裝置：具備光源部、偏振部及攝影部，該光源部具備照射綠光或藍光之第1光源部及照射紅光或紅外線之第2光源部，該第1光源部與第2光源部交替地將光照射於偏振部，該偏振部具備配置在該光入射至攝影部之路徑的檢查對象膜及檢查用偏振板，該攝影部係以該偏振部為基準，在該光源之相反側對該偏振部進行攝影，藉此，可執行全部暗黑模式及白色模式之檢查。

Description

光學膜之檢查裝置及方法

本發明係關於一種光學膜之檢查裝置及方法。

如偏振元件、TAC、相位差膜等之各種光學膜，係被用於影像顯示裝置。因影像顯示裝置之發展，亦對用於影像顯示裝置之光學膜要求高品質。

尤其由於偏振板係由偏振元件與接合在偏振元件之至少一面的保護膜構成，因此會有下述各種原因：異物混合在形成各層膜之樹脂組成物的情形、於樹脂組成物之膜硬化時產生氣泡的情形、當積層各層膜時異物混入層間的情形、膜表面產生刮痕的情形、膜產生彎曲的情形等。

引起如前述之不良情形的各種原因會產生各種形態之缺陷。例如，若插入異物或產生氣泡，則光學膜表面會在該處產生凹凸狀缺陷，於產生有刮痕之情形，會在膜表面產生直線狀缺陷。

又，偏振板於液晶顯示裝置中係由上部偏振板與下部偏振板之2片構成，視需要，上部偏振板與下部偏振板係被配置在其吸收軸相互垂直或平行之位置，但會有因吸收軸相互垂直之配置或相互平行之配置而更容易顯現之缺陷，或僅因某配置而顯現之缺陷。

因此，於光學膜之製造結束後，為了去除產生有此種缺陷之部分，而會具備檢測缺陷之步驟。因此，對於所製造之偏振板，分別需要吸收軸相互垂直之配置的檢查及吸收軸相互平行之配置的檢查。

本發明之目的在於提供一種可對各種光學膜執行全部各種模式之檢查的檢查裝置及方法。

1.一種光學膜檢查裝置，具備光源部、偏振部及攝影部，前述光源部具備照射綠光或藍光之第1光源部及照射紅光或紅外線之第2光源部，前述第1光源部與第2光源部交替地將光照射於偏振部，前述偏振部具備配置在前述光入射至攝影部之路徑的檢查對象膜及檢查用偏振板，前述攝影部係以前述偏振部為基準，在前述光源之相反側對前述偏振部進行攝影。

2.如前述第1項之光學膜檢查裝置，其中，前述第1光源部同時照射綠光與藍光。

3.如前述第1項之光學膜檢查裝置，其中，前述第2光源部同時照射紅外線與紅光。

4.如前述第1項之光學膜檢查裝置，其中，前述檢查對象膜係選自由偏振元件、相位差膜、保護膜及此等之二者以上的積層膜組成之群中的光學膜。

5.如前述第4項之光學膜檢查裝置，其中，於前述檢查對象膜包含偏振元件之情形時，前述檢查用偏振板之吸收軸與前述偏振元件之吸收軸垂直。

6.如前述第5項之光學膜檢查裝置，其中，於前述檢查對象膜為偏振元件及相位差膜的積層膜之情形時，前述相位差膜位於偏振元件與前述檢查用偏振板之間，前述光為綠光。

7.如前述第5項之光學膜檢查裝置，其中，當第2光源部照射光時，前述檢查用偏振板旋轉90°使前述偏振元件與其吸收軸平行。

8.如前述第1項之光學膜檢查裝置，其中，當第2光源部照射光時，前述檢查用偏振板脫離前述攝影部之攝影區域而移動。

9.如前述第1項之光學膜檢查裝置，其中，前述檢查裝置具備編碼器(encoder)與控制器，該編碼器係被使用於連續提供檢查對象膜之在線(in-line)製造步驟，測量檢查對象膜之移動速度，該控制器係根據自前述編碼器收到之移動速度來決定第1光源部及第2光源部之照射週期，並且將前述週期訊號送至光源部。

10.一種光學膜之檢查方法，照射綠光或藍光之第1光源部與照射紅光或紅外線之第2光源部交替地將光照射於具備檢查對象膜及檢查用偏振板之偏振部，來檢測不良。

11.如前述第10項之光學膜之檢查方法，其中，前述第1光源部同時照射綠光與藍光。

12.如前述第10項之光學膜之檢查方法，其中，前述第2光源部同時照射紅外線與紅光。

13.如前述第10項之光學膜之檢查方法，其中，前述檢查對象膜係選自由偏振元件、相位差膜、保護膜及此等之二者以上的積層膜組成之群中的光學膜。

14.如前述第13項之光學膜之檢查方法，其中，於前述檢查對象膜包含偏振元件之情形時，前述檢查用偏振板之吸收軸配置成與前述偏振元件之吸收軸垂直，執行全部之對象膜暗黑模式及白色模式的檢查。

15.如前述第14項之光學膜之檢查方法，其中，於前述檢查對象膜為偏振元件及相位差膜的積層膜之情形時，前述相位差膜位於偏振元件與前述檢查用偏振板之間，前述光為綠光。

16.如前述第14項之光學膜之檢查方法，其中，當第2光源部照射光時，前述檢查用偏振板旋轉90°使前述偏振元件與其吸收軸平行。

17.如前述第10項之光學膜之檢查方法，其中，當第2光源部照射光時，前述檢查用偏振板脫離前述檢查區域而移動。

18.如前述第10項之光學膜之檢查方法，其具備編碼器與控制器，該編碼器係被使用於連續提供檢查對象膜之在線製造步驟，測量檢查對象膜之移動速度，該控制器係根據自前述編碼器收到之移動速度來決定光源部之綠光及紅外線的照射週期，並且將前述週期訊號送至光源部。

本發明之檢查裝置藉由使用特定波長之光，而於檢查光學膜時，可更加精密地進行檢查，且可作各種檢查。

檢查偏振板之情形，可執行全部暗黑模式及白色模式之缺陷檢測。藉此，可無須分別進行各模式之缺陷檢測，可在沒有進一步之設備下更快地執行偏振板之檢查。

尤其是於偏振板在其一面使用相位差膜作為保護膜之情形(或保護膜具有相位差之情形)，亦可進行正確之暗黑模式的檢查。

100‧‧‧光源部

200‧‧‧偏振部

210‧‧‧檢查對象膜

220‧‧‧檢查用偏振板

300‧‧‧攝影部

400‧‧‧編碼器

500‧‧‧控制器

圖1，係概略地顯示本發明之檢查裝置一實施形態之圖。

圖2，係概略地顯示本發明之光源一實施形態之圖。

圖3，係顯示測試例1之成像的影像之圖。

圖4，係顯示測試例2之成像的影像之圖。

圖5，係顯示測試例3之成像的影像之圖。

圖6，係顯示測試例4之成像的影像之圖。

本發明係關於一種藉由具備光源部、偏振部及攝影部，而可執行全部暗黑模式及白色模式之檢查的光學膜檢查裝置，其中，前述光源部具備照射綠光或藍光之第1光源部及照射紅光或紅外線之第2光源部，前述第1光源部與第2光源部交替地將光照射於偏振部，前述偏振部具備配置在前述光入射至攝影部之路徑的檢查對象膜及檢查用偏振板，前述攝影部係以前述偏振部為基準，在前述光源之相反側對前述偏振部進行攝影。

於本發明中，所謂暗黑模式之檢查，係指將2片偏振板配置成其吸收軸相互垂直後，使光源位於前述偏振板之一側，對偏振板照射光，由於通常光無法透射前述2片偏振板，故以暗的狀態作為基準(暗黑模式)在其相反側檢查亮點缺陷(漏光之缺陷，亮度較週邊高之部位)。

於本發明中，所謂白色模式之檢查，係指使光源位於檢查對象膜之一側後，對檢查對象膜照射光，在其相反側以透射前述膜之光作為基準(白色模式)，檢查暗點缺陷(無法透射光之缺陷，亮度較週邊低之部位)。此情形，可根據使用之光的種類或不良的種類使用檢查用偏振板。

於本發明中，所謂藍光，係指波長範圍在400~530nm之可見光，較佳為波長為440~480nm之光在90%以上之光。

於本發明中，所謂綠光，係指波長範圍在480~630nm之可見光，較佳為波長為510~550nm之光在90%以上之光。

於本發明中，所謂紅光，係指波長範圍為680~730nm之光在90%以上的可見光，較佳為於前述範圍全部波長範圍在680nm以上之光。

於本發明中，紅外線並無特別限制，包含近紅外線、中紅外線及遠紅外線全部。較佳可使用波長為730~2000nm之近紅外線，或波長為2~1000μm之中/遠紅外線，更佳可使用波長為730~2000μm之近紅外線。

以下，參照圖式詳細說明本發明。惟，本說明書所附之圖式係例示本發明之較佳實施形態，係用以更加容易理解前述之發明內容與本發明之技術思想，因此不該解析為本發明僅限定於前述圖式所記載之事項。

圖1係概略顯示本發明之檢查裝置的實施形態之圖。本發明之檢查裝置具備光源部100、偏振部200及攝影部300。

光源部100具備第1光源部與第2光源部，第1光源部照射綠光或藍光，第2光源部則照射紅光或紅外線。

第1光源部照射之綠光及藍光的偏振度優異，於2片偏振板之吸收軸相互垂直配置(暗黑模式)時，透射率顯著低。較佳為綠光之偏振度較藍光更優異。

於當暗黑模式檢查時使用白光(各種波長之光同時存在)之情形，若光量增加，則會有產生干涉(偏振度差)，背景色調變明亮之問題。 然而，於如本發明般使用綠光或藍光(較佳為綠光)之情形，即使使用相同光量，背景色調表現得相對接近純黑，因此，對比值顯著上升，暗黑模式之缺陷檢測性能獲得提升。

又，於暗黑模式檢查，為檢查對象膜之保護膜係偏振元件，當在前述偏振元件之一面藉由保護膜附著有相位差膜的情形時(或保護膜具有微小之相位差的情形時)，若使用白光作為檢查光，且前述相位差膜位於偏振元件與檢查用偏振板之間，則會因為相位差膜造成光軸偏離而難以實現完美之暗黑模式。

此處，本發明係使用綠光或藍光來解決如前述般之問題。具體而言，使用綠光或藍光(較佳為綠光)，即使在作為檢查對象膜之偏振元件與檢查用偏振板之間存在相位差膜，暗黑模式之實現度亦較使用白光之情形獲得顯著上升。藉此，增加缺陷判別之正確度及容易性。

另一方面，第2光源部照射之紅光及紅外線由於偏振度低，故於2片偏振板之吸收軸相互垂直配置時，透射率亦高，較佳為紅外線之透射率較紅光更高。因此，於2片偏振板之吸收軸相互垂直配置時，亦可進行白色模式之檢查。

此處，本發明之光源部100藉由使第1光源部與第2光源部交替地照射光，而能以一個檢查裝置執行全部暗黑模式之檢查及白色模式之檢查。

光源部100之第1光源部與第2光源部的配置，若為可將光均勻照射在檢查區域之配置，則無特別限制。例如，如圖2所示，第1光源部之單位光源G與第2光源部之單位光源IR交替配置，或第1光源部與 第2光源部能以線狀交替配置。惟，此僅不過是例示，本發明之範圍並不限定於此等。

如前述，第1光源部可照射綠光或藍光，並可根據檢查對象之具體種類等，視需要一起照射綠光與藍光。同樣地，第2光源部可照射綠光或藍光，但視需要可一起照射紅外線與紅光。

檢查對象膜210可為單位製品(離線(off-line)檢查)，亦可為進行生產之製造步驟中的製品(在線檢查)。

檢查對象膜210之種類，若為能以暗黑模式或白色模式檢測出不良之光學膜，則無特別限制。例如，可列舉偏振元件、相位差膜、保護膜、及此等之二者以上的積層膜等。例如，於作為檢查對象膜210之一例示的偏振元件之情形，偏振元件可為在其至少一面接合有保護膜者。

偏振元件為在經延伸之高分子膜吸附配向有異色性色素者。

構成偏振元件之高分子膜，若為可用異色性物質例如碘加以染色之膜，則其種類並無特別限制，具體而言，可列舉如聚乙烯醇系膜、乙烯-乙酸乙烯酯共聚物膜、乙烯-乙烯醇共聚物膜、纖維素膜、此等之一部分被皂化之膜等親水性高分子膜，或如經脫水處理之聚乙烯醇系膜、經脫鹽酸處理之聚乙烯醇系膜等多烯配向膜等。此等之中，聚乙烯醇系膜由於不僅在面內強化偏振度之均一性的效果優異，而且對異色性物質之染色親和性優異，故較佳。

更佳可為對聚乙酸乙烯酯系樹脂進行皂化而得之聚乙烯醇系膜。作為聚乙酸乙烯酯系樹脂，除了乙酸乙烯酯之均聚物的聚乙酸乙烯酯之外，還可舉乙酸乙烯酯與可和乙酸乙烯酯共聚合之其他單體的共聚物 等。作為可和乙酸乙烯酯共聚合之其他單體，可列舉：不飽和羧酸系、不飽和磺酸系、烯烴系、乙烯醚(vinylether)系、具有銨基之丙烯醯胺系單體等。

又，聚乙烯醇系樹脂可為經改質者，例如，可使用經醛類改質之聚乙烯甲醛或聚乙烯縮醛等。

接合在偏振元件之至少一面的保護膜，若為透明性、機械強度、熱穩定性、水分遮蔽性、等向性等優異者，則無特別限制，例如可使用包含選自由丙烯酸系樹脂膜、纖維素系樹脂膜、聚烯烴系樹脂膜及聚酯系樹脂膜組成之群中至少1種的各種透明樹脂膜。

作為前述保護膜之具體例，可列舉：聚(甲基)丙烯酸甲酯、聚(甲基)丙烯酸乙酯等之丙烯酸系樹脂膜；聚對酞酸乙二酯、聚間苯二甲酸乙二酯(polyethylene isophthalate)、聚萘二甲酸乙二酯(polyethylene naphthalate)、聚對酞酸丁二酯(polybutylene terephthalate)等聚酯系樹脂膜；聯乙醯纖維素、三乙醯纖維素等之纖維素系樹脂膜；聚乙烯、聚丙烯、環系或具有降莰烯(norbornene)構造之聚烯烴系、乙烯-丙烯共聚物等之聚烯烴系樹脂膜等，但並不限定於此等。於此種保護膜之情形，可為因製造步驟等各種理由而具有若干之相位差者。

視需要，在檢查對象膜210之偏振元件的至少一面，可接合其他光學功能性膜代替保護膜。光學功能性膜之種類，並無特別限定，例如可列舉：在基材表面配向有液晶性化合物或其高分子化合物等之光學補償膜；使任何種類之偏振光透射，而反射與其相反性質之偏振光的反射型偏振分離膜；含有聚碳酸酯樹脂之相位差膜；含有環狀聚烯烴系樹脂之相 位差膜；表面具有凹凸形狀之防眩功能附加膜；經表面反射防止處理之附加膜；表面具有反射功能之反射膜；同時具有反射功能及透射功能之半透射反射膜等。

可根據檢查對象膜210之移送速度，調節光源部100之第1光源部及第2光源部之光的照射間隔。例如，對於第1光源部照射光時所攝影之區域，可根據檢查對象膜210之移送速度調節各光源部之光的照射間隔，使與隨後第1光源部照射光時所攝影之區域連接(亦即，第2光源部照射光時所攝影之區域，與隨後之第2光源部照射光時所攝影之區域連接)。

檢查用偏振板220係具備用來檢查檢查對象膜210，可用於全部白色模式及暗黑模式檢查。

作為本發明之一實施形態，於檢查對象膜210含有偏振元件時，檢查用偏振板220之吸收軸係以與檢查對象膜210之吸收軸垂直的狀態配置，雖無特別限制，但具有與檢查對象膜210相同構成之良品偏振板可為以吸收軸與檢查對象膜210垂直的狀態配置者。

於本發明之其他實施形態，視需要，檢查用偏振板220於第2光源部照射光時何旋轉90°使檢查對象膜210之偏振元件與吸收軸平行。本發明之檢查裝置，即使檢查對象膜210之偏振元件與檢查用偏振板220之吸收軸以相互垂直之狀態配置，亦可進行白色模式之檢查，但視需要，亦可旋轉90°使檢查用偏振板220之吸收軸與檢查對象膜210之偏振元件的吸收軸平行，進行白色模式之檢查。此情形時，於光源部所照射之光，無論種類，由於皆可透射偏振部200，故可更精密地執行白色模式之檢查。

於本發明之另外其他實施形態，視需要，檢查用偏振板220可於第2光源部照射光時脫離前述攝影部之攝影區域而移動。此時，於光源部100所照射之光由於亦無論種類，皆可透射偏振部200到達攝影部300之檢查區域，故可更精密地執行白色模式之檢查。

攝影部300於光源部100照射後，收容透射偏振部200之光而得到檢查區域之攝影成像。可根據使用於攝影部300之裝備的種類或與檢查用偏振板220之距離等，決定在攝影部300所得之檢查區域。所得之攝影成像，係送至控制裝置，藉由預先設定之演算法來判別是否為不良。

本發明之檢查裝置，可進一步具備編碼器400。當本發明之檢查裝置導入於偏振元件或偏振板之製造步驟中的情形時(在線檢查)，係連續提供檢查對象膜210。因此，進一步具備測量作為檢查對象膜之檢查對象膜210的移動速度之編碼器400，而可得到調節根據檢查對象膜210之移動速度的光源部之光照射間隔及攝影部300之攝影間隔所需的資訊。

又，可進一步同時具備編碼器400與控制器500，該控制器500係根據自編碼器400收到之移動速度來決定光源部100之綠光與紅外線的照射週期，並將前述週期訊號送至光源部100。

又，本發明提供一種利用前述檢查裝置之光學膜檢查方法。

本發明之檢查方法的一實施形態，係下述之光學膜檢查方法：照射綠光或藍光之第1光源部與照射紅光或紅外線之第2光源部交替地將光照射於具備檢查對象膜及檢查用偏振板之偏振部，來檢測不良。

本發明之檢查方法的第1光源部、第2光源部及偏振部，可同樣地適用上述之檢查裝置中者。其他用於本發明之檢查裝置的構成可同 樣地適用於本發明之檢查方法。

以下，為了幫助理解本發明，而揭示適合之實施形態，但此等實施形態僅是例示本發明，並非限制所附加之申請專利範圍，對於本發明所屬技術領域中具有通常知識者而言，很清楚可於本發明之範疇及技術思想的範圍內對實施形態作多樣變化且進行修正，當然此種變化及修正亦屬於所附加之申請專利範圍。

實施形態

1.光量增加之測試

將聚乙烯醇偏振元件之兩面接合有TAC保護膜的偏振板2片配置成使其吸收軸相互垂直，照射白光及綠光，測量產生缺陷(顯示為亮點)之區域的對比(CR)值變化。

若參照表1及圖3，則可知當使用白光之情形時，若光量增加，則會產生交錯之干涉(偏振度差)，背景色調變明亮。另一方面，可知 當使用綠光之情形時，即使使用相同光量，背景色調亦表現得相對接近純黑，其結果，可知CR值提升3~4倍程度。因此，可知缺陷能被更加清楚地察覺。

2.相位差膜之測試

準備在聚乙烯醇偏振元件之光源側的一面接合有TAC保護膜且在攝影部側之一面接合有相位差膜(配向角6°(區域1)，配向角7°(區域2))的檢查對象膜，及在聚乙烯醇偏振元件之兩面接合有TAC保護膜的檢查用偏振板。

將前述偏振板2片配置成其吸收軸相互垂直，照射白光及綠光，測量檢查對象膜相互不同之區域(具有缺陷之區域1及不具缺陷之區域2)的CR值變化。

若參照表2及圖4，則可知當使用白光之情形時，因受到位於作為檢查對象膜之偏振元件與檢查用偏振板之間的相位差膜的影響，儘 管2片偏振元件之吸收軸垂直配置，但仍未驅動暗黑模式。另一方面，可知當使用綠光之情形時，順暢地驅動暗黑模式，CR值獲得提升。藉此，可知缺陷能被更加清楚地察覺。

3.相位差膜之測試

準備在聚乙烯醇偏振元件之光源側的一面接合有TAC保護膜且在攝影部側之一面接合有相位差膜(配向角16°(區域1)，配向角13°(區域2))的檢查對象膜，及在聚乙烯醇偏振元件之兩面接合有TAC保護膜的檢查用偏振板。

將前述偏振板2片配置成其吸收軸相互垂直，照射白光及綠光，測量相互不同之區域的背景影像的亮度。

若參照表3及圖5，則可知當使用白光之情形時，因受到位於作為檢查對象膜之偏振元件與檢查用偏振板之間的相位差膜的影響，儘管2片偏振元件之吸收軸垂直配置，但仍未驅動暗黑模式，可是當使用綠光之情形時，可確認暗黑模式之驅動優異，成為背景色調之黑色顯著優異。因此，可知缺陷之判別更加容易。

4.使用紅外線之測試

圖6之(a)~(e)顯示將聚乙烯醇偏振元件之兩面接合有TAC保護 膜的偏振板2片配置成其吸收軸相互垂直，照射紅外線檢測出缺陷(以暗點顯示)之部位的照片。

若參照圖6，則雖然2片偏振板之吸收軸被配置成相互垂直，但可確認紅外線全部透射出，缺陷以暗點顯示。因此，可知當2片偏振板之吸收軸被配置成相互垂直之情形時，亦可進行白色模式之檢查。

100‧‧‧光源部

200‧‧‧偏振部

210‧‧‧檢查對象膜

220‧‧‧檢查用偏振板

300‧‧‧攝影部

400‧‧‧編碼器

500‧‧‧控制器

Claims (18)

1. 一種光學膜檢查裝置，具備光源部、偏振部及攝影部，該光源部具備照射綠光或藍光之第1光源部及照射紅光或紅外線之第2光源部，該第1光源部與第2光源部交替地將光照射於偏振部，該偏振部具備配置在該光入射至攝影部之路徑的檢查對象膜及檢查用偏振板，該攝影部係以該偏振部為基準，在該光源之相反側對該偏振部進行攝影。
2. 如申請專利範圍第1項之光學膜檢查裝置，其中，該第1光源部同時照射綠光與藍光。
3. 如申請專利範圍第1項之光學膜檢查裝置，其中，該第2光源部同時照射紅外線與紅光。
4. 如申請專利範圍第1項之光學膜檢查裝置，其中，該檢查對象膜係選自由偏振元件、相位差膜、保護膜及此等之二者以上的積層膜組成之群中的光學膜。
5. 如申請專利範圍第4項之光學膜檢查裝置，其中，於該檢查對象膜包含偏振元件之情形時，該檢查用偏振板之吸收軸與該偏振元件之吸收軸垂直。
6. 如申請專利範圍第5項之光學膜檢查裝置，其中，於該檢查對象膜為偏振元件及相位差膜的積層膜之情形時，該相位差膜位於偏振元件與該檢查用偏振板之間，該光為綠光。
7. 如申請專利範圍第5項之光學膜檢查裝置，其中，當第2光源部照射光時，該檢查用偏振板旋轉90°使該偏振元件與其吸收軸平行。
8. 如申請專利範圍第1項之光學膜檢查裝置，其中，當第2光源部照射 光時，該檢查用偏振板脫離該攝影部之攝影區域而移動。
9. 如申請專利範圍第1項之光學膜檢查裝置，其中，該檢查裝置具備編碼器(encoder)與控制器，該編碼器係被使用於連續提供檢查對象膜之在線(in-line)製造步驟，測量檢查對象膜之移動速度，該控制器係根據自該編碼器收到之移動速度來決定第1光源部及第2光源部之照射週期，並且將該週期訊號送至光源部。
10. 一種光學膜之檢查方法，照射綠光或藍光之第1光源部與照射紅光或紅外線之第2光源部交替地將光照射於具備檢查對象膜及檢查用偏振板之偏振部，來檢測不良。
11. 如申請專利範圍第10項之光學膜之檢查方法，其中，該第1光源部同時照射綠光與藍光。
12. 如申請專利範圍第10項之光學膜之檢查方法，其中，該第2光源部同時照射紅外線與紅光。
13. 如申請專利範圍第10項之光學膜之檢查方法，其中，該檢查對象膜係選自由偏振元件、相位差膜、保護膜及此等之二者以上的積層膜組成之群中的光學膜。
14. 如申請專利範圍第13項之光學膜之檢查方法，其中，於該檢查對象膜包含偏振元件之情形時，該檢查用偏振板之吸收軸配置成與該偏振元件之吸收軸垂直，執行全部之對象膜暗黑模式及白色模式的檢查。
15. 如申請專利範圍第14項之光學膜之檢查方法，其中，於該檢查對象膜為偏振元件及相位差膜的積層膜之情形時，該相位差膜位於偏振元件與該檢查用偏振板之間，該光為綠光。
16. 如申請專利範圍第14項之光學膜之檢查方法，其中，當第2光源部照射光時，該檢查用偏振板旋轉90°使該偏振元件與其吸收軸平行。
17. 如申請專利範圍第10項之光學膜之檢查方法，其中，當第2光源部照射光時，該檢查用偏振板脫離該檢查區域而移動。
18. 如申請專利範圍第10項之光學膜之檢查方法，其具備編碼器與控制器，該編碼器係被使用於連續提供檢查對象膜之在線製造步驟，測量檢查對象膜之移動速度，該控制器係根據自該編碼器收到之移動速度來決定光源部之綠光及紅外線的照射週期，並且將該週期訊號送至光源部。