KR20150085398A - 편광판의 얼룩 검사 방법 - Google Patents

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이기우
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Abstract

본 발명은 편광판의 얼룩 검사 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 기준 편광판 및 이와 직교하도록 배치된 피검사 편광판을 투과한 광의 기준 휘도가 1니트 이상이 되도록 광을 조사하고 부위별 투과광의 휘도를 측정하여, 기준 휘도와의 차이가 0.5 이상인 부위에 대응되는 피검사 편광판 상의 부위를 얼룩으로 판정함으로써, 편광판의 얼룩을 보다 용이하게 판별할 수 있고, 이를 높은 정확도로 정량적으로 평가할 수 있는, 편광판의 얼룩 검사 방법에 관한 것이다.

Description

편광판의 얼룩 검사 방법 {INSPECTING METHOD FOR STAIN OF POLARIZING PLATE}
본 발명은 편광판의 얼룩 검사 방법에 관한 것이다.
액정표시장치(LCD), 전계발광(EL) 표시장치, 플라즈마 표시장치(PDP), 전계방출 표시장치(FED), OLED 등과 같은 각종 화상표시장치에 사용되고 있는 편광판은 일반적으로 폴리비닐알콜계(polyvinyl alcohol, PVA) 필름에 요오드계 화합물 또는 이색성 편광물질이 흡착 배향된 편광자를 포함한다. 그리고, 통상적으로 이러한 편광자의 양면에 편광자 보호필름이 구비된다.
이러한 편광판은 무편광 또는 임의 편광의 자연광을 직선 편광으로 바꾸는 광학 소자이므로, 2장의 편광판을 직교 상태로 두면 통상의 백라이트 광 조사시에 광이 이를 투과할 수 없어 암 상태가 된다.
그러나, 일부 편광판의 경우 2장을 직교 상태로 두는 경우에도 빛이 100% 차단되지 않고 연신 방향으로 줄무늬 형태의 얼룩이 관찰된다. 이는, 편광판의 위치별 투과도가 전체적으로 100% 동일하지는 않고, 염료가 불균일하게 염착되거나, 접착 불량 등의 원인에 기인한 것이다.
이러한 얼룩이 심하게 나타나는 경우, 전체적으로 균일한 휘도의 화상을 구현하기 어려워, 결국 최종 제품의 불량이 야기된다. 따라서, 편광판의 얼룩 정도를 정확하게 선별할 수 있는 방법이 요구된다.
종래의 편광판의 얼룩 검사는 검사자의 육안 관찰에 의해 이루어지고 있는데, 이와 같은 검사 방법은 검사자의 주관에 따라 제품의 불량 정도가 판별되기 때문에, 균일한 품질의 제품을 생산해내기 어렵다는 문제점이 있다. 또한, 사람이 일일이 검사하여야 하기 때문에 생산 효율이 떨어진다는 문제점도 있다.
본 발명은 편광판의 얼룩을 정량적으로 평가할 수 있는 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은 편광판의 얼룩의 강도를 정량적으로 평가할 수 있는 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
1. 기준 편광판 및 이와 직교하도록 배치된 피검사 편광판을 투과한 광의 기준 휘도가 1니트 이상이 되도록 광을 조사하고 부위별 투과광의 휘도를 측정하여,
기준 휘도와의 차이가 0.5 이상인 부위에 대응되는 피검사 편광판 상의 부위를 얼룩으로 판정하는, 편광판의 얼룩 검사 방법.
2. 위 1에 있어서, 상기 기준 휘도가 10 내지 3,000니트가 되도록 광을 조사하는, 편광판 얼룩의 정량 검사 방법.
3. 위 1에 있어서, 상기 기준 휘도는 휘도계와 인접한 편광판의 광원으로부터 타측 표면에서 측정되는, 정상 부위의 편광판을 투과한 광의 휘도인, 편광판의 얼룩 검사 방법.
4. 위 1에 있어서, 상기 기준 휘도가 증가할 수록 상기 얼룩을 판정하는 기준 휘도와의 차이도 증가하는, 편광판의 얼룩 검사 방법.
5. (S1) 피검사 편광판에서 기준 얼룩 부위를 지정하는 단계;
(S2) 기준 편광판 및 이와 직교하도록 배치된 피검사 편광판을 투과한 광의 기준 휘도가 서로 다른 광을 복수회 조사하고 부위별 투과광의 휘도를 측정하여, 각각의 기준 휘도에 따른 기준 휘도와 기준 얼룩 부위를 투과한 광의 휘도 차이를 검량선으로 얻는 단계; 및
(S3) 기준 편광판 및 이와 직교하도록 배치된 피검사 편광판을 투과한 광의 기준 휘도가 10 내지 3,000니트인 광을 조사하고 부위별 투과광의 휘도를 측정하여,
하기 수학식 1을 만족하는 특정 부위에 대응되는 피검사 편광판 상의 부위를 얼룩으로 판정하는, 편광판의 얼룩 검사 방법:
[수학식 1]
│투과광의 기준 휘도 - 특정 부위에서의 투과광의 휘도│ ≥ │투과광의 기준 휘도를 검량선에 대입하여 얻은 휘도│.
본 발명은 높은 휘도의 광을 조사하여 편광판의 얼룩을 보다 용이하게 판별할 수 있고, 이를 높은 정확도로 정량적으로 평가할 수 있다.
또한, 본 발명은 기준 휘도와의 휘도 차이로서 편광판의 얼룩 정도를 평가하여, 그 휘도 차이가 클수록 보다 심한 얼룩에 해당하므로, 얼룩의 강도를 정량적으로 평가할 수 있다.
도 1은 실시예의 피검사 편광판에서 정상 부위(부위 1)를 나타낸 사진이다.
도 2는 실시예의 피검사 편광판에서 육안으로 얼룩이 관찰된 부위(부위 2)를 나타낸 사진이다.
도 3은 실시예에 따라 작성한 검량선이다.
본 발명은 기준 편광판 및 이와 직교하도록 배치된 피검사 편광판을 투과한 광의 기준 휘도가 1니트 이상이 되도록 광을 조사하고 부위별 투과광의 휘도를 측정하여, 기준 휘도와의 차이가 0.5 이상인 부위에 대응되는 피검사 편광판 상의 부위를 얼룩으로 판정함으로써, 편광판의 얼룩을 보다 용이하게 판별할 수 있고, 이를 높은 정확도로 정량적으로 평가할 수 있는, 편광판의 얼룩 검사 방법에 관한 것이다.
2장의 편광판을 직교 상태로 두고 백라이트 광을 조사하여 관찰하는 경우, 2장 모두 얼룩이 존재하지 않는 정상의 편광판인 경우에는 백라이트 광이 투과하지 않아 완전히 암상태가 된다. 그렇지 않은 경우에는, 광을 조사하고 관찰하면 연신 방향으로 줄무늬 형태의 얼룩을 확인할 수 있다.
이러한 얼룩이 심하게 나타나는 경우 균일한 휘도의 화상을 구현할 수 없어, 이러한 불량품을 선별해야 하고 종래에는 주로 검사자가 육안으로 관찰하여 선별하였다.
그러나, 이와 같은 검사 방법은 검사자의 주관에 의한 것이므로 균일한 품질을 갖는 제품의 생산이 어려울 수 있고, 직교 상태에서는 2장의 편광판을 투과하는 광량이 극히 작아 검사가 용이하지 않은 문제도 있다.
그러나, 본 발명은 직교 상태의 편광판을 투과한 광의 기준 휘도가 1니트 이상이 되도록 고휘도의 광을 조사하여 보다 명확하게 얼룩을 정량적으로 판별할 수 있다.
이하 본 발명의 일 구현예에 따라 본 발명을 상세히 설명한다.
본 발명의 편광판의 얼룩 검사 방법은 기준 편광판 및 이와 직교하도록 배치된 피검사 편광판을 투과한 광의 기준 휘도가 1니트 이상이 되도록 광을 조사하고 부위별 투과광의 휘도를 측정하여, 기준 휘도와의 차이가 0.5 이상인 부위에 대응되는 피검사 편광판 상의 부위를 얼룩으로 판정한다.
얼룩이 없는 기준 편광판과 검사 대상인 피검사 편광판을 직교 상태로 두고 광을 조사한다. 편광판의 배치 순서는 특별히 한정되지 않으며, 상기 광이 기준 편광판에 먼저 도달하도록 배치할 수도 있고, 피검사 편광판에 먼저 도달하도록 배치할 수도 있다.
본 발명은 상기와 같이 편광판의 배치 순서와 무관하게, 직교하는 2장의 편광판을 투과한 광의 기준 휘도가 1 니트 이상이 되도록 고휘도의 광을 조사한다. 그에 따라, 정상 부위와 얼룩 부위를 투과한 광의 편차가 커져, 정상 부위와 얼룩 부위를 명확하게 판별할 수 있다. 얼룩 부위를 보다 명확하게 판별할 수 있다는 점에서 바람직하게는 상기 기준 휘도가 10 내지 3,000니트가 되도록 광을 조사할 수 있다. 3,000니트 초과시에는 그 휘도가 과하게 높아, 정상 부위와 얼룩 부위의 투과광의 휘도 차이를 구별하기 어려운 문제가 있다. 기준 휘도는 상기 범위 내에서 적절히 선택될 수 있으며, 예를 들면 10 내지 3,000니트, 20 내지 3,000니트, 50 내지 3,000니트, 100 내지 3,000니트 등일 수 있다.
상기 휘도의 측정 위치는 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 휘도계와 인접한 편광판의 광원으로부터 타측 표면에서 측정된 것일 수 있다. 그러한 경우에 휘도에 영향을 줄 수 있는 간섭 요인들을 최소화하여 보다 높은 정확도로 얼룩을 판별할 수 있다.
기준 휘도는 얼룩이 존재하지 않는 정상 부위의 휘도로서, 그 기준값은 특별히 한정되지 않고 원하는 스펙에 따라 적절히 선택될 수 있는 것으로서, 통상적으로는 2장의 편광판을 직교 상태로 배치하고 백라이트 광을 조사하여 육안 관찰시 완전히 암 상태인 부위일 수 있다. 기준 휘도는 투과광의 휘도가 증가할 수록 증가한다.
기준 휘도가 1니트 이상인 경우에, 투과광의 휘도가 기준 휘도와 0.5니트 이상 차이나는 경우 해당 부위에 얼룩이 있는 것이므로, 해당 부위에 대응되는 피검사 편광판 상의 부위를 얼룩으로 판별할 수 있다.
기준 휘도는 조사하는 광의 휘도에 따라 증가하는 것이고 조사하는 광의 휘도가 증가할수록 정상 부위들 간의 휘도 차이도 증가할 수 있다. 따라서, 바람직하게는 기준 휘도가 증가할수록 상기 얼룩을 판정하는 기준 휘도와의 차이도 함께 증가할 수 있다. 예를 들면, 기준 휘도가 5니트인 경우 기준 휘도와의 차이가 2니트 이상, 기준 휘도가 10니트이면 기준 휘도와의 차이가 4니트 이상, 기준 휘도가 20니트 이면 기준 휘도와의 차이가 11니트 이상, 기준 휘도가 50니트이면 기준 휘도와의 차이가 34니트 이상, 기준 휘도가 100니트이면 기준 휘도와의 차이가 70니트 이상, 기준 휘도가 200니트이면 기준 휘도와의 차이가 150니트 이상, 기준 휘도가 500니트이면 기준 휘도와의 차이가 380니트 이상인 부위에 대응되는 피검사 편광판 상의 부위를 얼룩으로 판정할 수 있다. 그러나, 이에 제한되는 것은 아니고, 이는 제품에 요구되는 스펙 등에 따라 적절히 선택될 수 있다.
기준 편광판에 광이 먼저 도달하도록 배치된 경우에는 최종적으로 피검사 편광판을 투과한 광의 휘도를 측정한 것이므로, 해당 부위가 바로 피검사 편광판의 얼룩 부위에 해당한다.
반대로, 피검사 편광판에 광이 먼저 도달하도록 배치된 경우에는 피검사 편광판을 거쳐 기준 편광판을 투과한 광의 휘도를 측정한 것이므로, 피검사 편광판의 얼룩에 의해 기준 휘도와의 차이가 발생한 것이다. 따라서, 그러한 경우에는 해당 부위에서 피검사 편광판에 이은 수선과의 접점이 피검사 편광판의 얼룩 부위에 해당한다.
그리고, 투과광의 휘도와 기준 휘도와의 차이가 클수록, 그 정도가 심한 얼룩이 존재하는 것이므로, 그러한 차이값으로 얼룩의 정도를 정량적으로 평가할 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 일 구현예에 따르면 투과광의 기준 휘도에 따른 기준 얼룩과 기준 휘도와의 차이를 각각 확인하여 이를 검량선으로 나타내고, 투과광의 특정 기준 휘도에서의 기준 휘도 및 특정 부위의 휘도와의 차를 상기 검량선에서 얻어진 값과 비교하여 얼룩을 판별할 수 있다. 그러한 경우에 기준 휘도가 달라지는 경우에도 보다 명확하게 얼룩을 판별할 수 있다.
이하 본 발명의 다른 일 구현예를 보다 상세히 설명한다.
먼저, (S1) 피검사 편광판에서 기준 얼룩 부위를 지정한다.
기준 얼룩 부위는 얼룩에 해당하는 부위라면 어떠한 부위라도 해당할 수 있으며, 예를 들면 육안으로 얼룩으로 관찰되는 부위일 수도 있고, 기준 휘도가 20니트인 경우에 기준 휘도와의 휘도 차이가 10니트 이상인 부위일 수도 있으나, 이에 제한되지 않는다.
이후에, (S2) 기준 편광판 및 이와 직교하도록 배치된 피검사 편광판을 투과한 광의 기준 휘도가 서로 다른 광을 복수회 조사하고 부위별 투과광의 휘도를 측정하여, 각각의 기준 휘도에 따른 기준 휘도와 기준 얼룩 부위를 투과한 광의 휘도 차이를 검량선으로 얻는다.
조사하는 광의 휘도에 따라 기준 휘도 및 지정된 기준 얼룩 부위를 투과한 광의 휘도 차이도 달라지므로, 각각의 투과광의 기준 휘도에 따른 각각의 값을 얻어, 그 관계를 검량선으로 얻을 수 있다.
검량선을 그리는 방법은 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 각각의 투과광의 기준 휘도에 따른 기준 휘도와 기준 얼룩 부위를 투과한 광의 휘도 차이를 구하여, x축을 투과광의 기준 휘도, y축을 기준 휘도와 기준 얼룩 부위를 투과한 광의 휘도 차이(그 반대의 경우도 가능)로 설정하여 검량선을 그릴 수 있다.
다음으로, (S3) 기준 편광판 및 이와 직교하도록 배치된 피검사 편광판을 투과한 광의 기준 휘도가 1니트 이상이 되도록 광을 조사하고 부위별 투과광의 휘도를 측정하여, 하기 수학식 1을 만족하는 특정 부위에 대응되는 피검사 편광판 상의 부위를 얼룩으로 판정한다:
[수학식 1]
│투과광의 기준 휘도 - 특정 부위에서의 투과광의 휘도│ ≥ │투과광의 기준 휘도를 검량선에 대입하여 얻은 휘도│.
투과광의 특정 기준 휘도를 검량선에 대입하여 얻은 휘도가 그 기준 휘도에서의 기준 휘도와 기준 얼룩 부위 투과광의 휘도 차이이므로, 상기 수학식 1을 만족하는 특정 부위에 대응되는 피검사 편광판 상의 부위를 얼룩으로 판정할 수 있다.
얼룩 부위를 보다 명확하게 판별할 수 있다는 점에서 바람직하게는 상기 기준 휘도가 10 내지 3,000니트가 되도록 광을 조사할 수 있다. 3,000니트 초과시에는 그 휘도가 과하게 높아, 정상 부위와 얼룩 부위의 투과광의 휘도 차이를 구별하기 어려운 문제가 있다. 기준 휘도는 상기 범위 내에서 적절히 선택될 수 있으며, 예를 들면 10 내지 3,000니트, 20 내지 3,000니트, 50 내지 3,000니트, 100 내지 3,000니트 등일 수 있다.
이하, 본 발명의 이해를 돕기 위하여 바람직한 실시예를 제시하나, 이들 실시예는 본 발명을 예시하는 것일 뿐 첨부된 특허청구범위를 제한하는 것이 아니며, 본 발명의 범주 및 기술사상 범위 내에서 실시예에 대한 다양한 변경 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속하는 것도 당연한 것이다.
실시예
광원, 기준 편광판, 피검사 편광판 및 휘도계의 순으로 배치시키고, 기준 편광판과 피검사 편광판은 직교 상태로 배치하였다.
광원과 기준 편광판 사이의 거리는 3cm, 기준 편광판과 피검사 편광판 사이의 거리는 1cm, 피검사 편광판과 휘도계 사이의 거리는 80cm가 되도록 하였다.
광원으로 제논 아크 램프(UXL-300D, ushio 社), 기준 편광판으로 VAP-7070(jasco), 휘도계는 SR-3AR(Topcon 社)를 사용하였다.
그리고, 평균 중합도가 2,400, 비누화도 99.9몰% 이상인 두께 75㎛의 폴리비닐알콜 필름(VF-PS, KURARAY사)을 건식으로 6배 1축 연신하고, 긴장 상태를 유지한 채로 60℃의 물(탈이온수)에 1분 동안 침지한 후, 요오드/요오드화칼륨/물의 중량비가 0.013/5/100인 28℃의 수용액에 60초 동안 침지하였다. 그 후, 요오드화칼륨/붕산/물의 중량비가 11/10/100인 55℃의 수용액에 300초 동안 침지하였다. 이어서, 10℃의 물로 20초 동안 세정한 후 45℃에서 4분간 건조하여 폴리비닐알콜 수지에 요오드가 흡착 배향된 편광자를 제조하였다. 제조된 편광자의 양면에 보호필름(40CHC, TOPPAN)을 접착제로 Laminator를 이용하여 접합하고 50℃ 오븐에서 3분간 건조하여 편광판을 제조하였고, 이를 피검사 편광판으로 사용하였다.
(1) 검량선 작성
상기 피검사 편광판을 기준 편광판과 직교 상태로 배치하고 백라이트 광을 조사하였을 때 육안으로 암 상태로 관찰된 부위를 정상 부위로 상정하고(부위 1), 육안상 주름이 관찰된 부위를 얼룩 부위로 상정하였다(부위 2).
부위 1 및 2를 촬영한 사진은 도 1 및 도 2에 나타내었다.
하기 표 1에 기재된 서로 다른 기준 휘도를 나타내는 광을 복수회 조사하여, 부위 1 및 2에서 투과광의 휘도를 측정하였다. 휘도는 피검사 편광판의 광원 타측 표면의 투과광을 측정하였다.
부위 1 투과광의 휘도
(기준 휘도, 니트)		 부위 2 투과광의 휘도
(기준 얼룩, 니트)		 편차
1.265667 1.882667 0.617
2.377333 3.550333 1.173
3.615667 5.543667 1.928
5.952333 9.362666 3.410333
9.717667 14.89333 5.175667
35.91 55.35333 19.44333
86.92667 136.1333 49.20667
146.1333 253.3666 107.2333
201.9667 349.3 147.3333
246.6333 440.2666 193.6333
291.0333 510.2666 219.2333
322.8667 573.7334 250.8667
900.8474 1611.692 710.8445
이후에, 상기 표 1에서 얻어진 값으로부터, 투과광의 기준 휘도에 따른 편차와의 관계를 나타내는 검량선을 그렸다(도 3 참조).
도 3에서 x축은 투과광의 기준 휘도, y축은 기준 휘도와 기준 얼룩과의 휘도 차이를 나타낸다.
얻어진 검량선은 하기 수학식 1로 표시된다.
[수학식 1]
y = 0.7751x-4.2154
(식 중, x는 기준 휘도, y는 기준 휘도와 기준 얼룩과의 휘도 차이임).
(2) 얼룩 평가
상기 피검사 편광판을 기준 편광판과 직교 상태로 배치하고 백라이트 광을 조사하였을 때 육안으로 암 상태로 관찰된 부위를 또다른 정상 부위(부위 3)로 상정하고, 육안상 주름이 관찰된 부위를 또다른 얼룩 부위로 상정하였다.
얼룩 부위는 그 강도에 따라 약(부위 4), 강(부위 5)의 두 부위를 지정하였다. '강'일수록 더 심한 얼룩 부위, '약'일수록 그 정도가 미약한 얼룩 부위에 해당한다.
그러고나서, 하기 표 2에 기재된 편광판의 투과광의 기준 휘도에 따른 부위 3 내지 5에서의 투과광의 휘도를 상기와 동일한 방법으로 측정하였다.
부위 1 투과광의 휘도
(기준 휘도, 니트)		 부위 3
투과광의 휘도
(니트)		 부위 4
투과광의 휘도
(니트)		 부위 5
투과광의 휘도
(니트)		 기준 휘도와의 차이
(니트)		 기준 휘도를 검량선에 대입하여 얻어진 값
(니트)
부위 3 부위 4 부위 5
52 64 88 130 12 36 78 36.0898
107 122 187 257 15 80 150 78.7203
215 238 388 525 23 173 310 162.4311
361 489 649 929 128 288 568 275.5957
상기 표 2를 참조하면, 기준 휘도가 52니트가 되도록 광을 조사한 경우에 부위 3은 기준 휘도와의 차이가 12니트, 부위 4는 36니트, 부위 5는 78니트였다.
부위 3의 기준 휘도와의 차이는 12니트로서 기준 휘도 52니트를 검량선에 대입하여 얻어진 36.0898니트 미만이므로, 기준 1은 정상 부위로 판별되었다. 그러나, 부위 4 및 5의 기준 휘도와의 차이는 36.0898니트를 초과하여 이들은 얼룩 부위로 판별되었다.
기준 휘도가 107, 215 및 361이 되도록 광을 조사한 경우에도 위와 마찬가지의 결과를 보였다.
이러한 결과는 육안으로 정상이나 얼룩으로 판별된 부위들이 본 발명의 방법에 따라 평가하는 경우에도 정확히 동일한 결과를 나타내도록 판별될 수 있음을 뒷받침한다.
또한, 상기 표 2에서 얼룩의 정도가 심해질수록 기준 휘도와의 차이가 커지므로, 이러한 휘도 차이를 이용하여 얼룩의 정도도 정량적으로 평가가 가능하다.

Claims (5)

  1. 기준 편광판 및 이와 직교하도록 배치된 피검사 편광판을 투과한 광의 기준 휘도가 1니트 이상이 되도록 광을 조사하고 부위별 투과광의 휘도를 측정하여,
    기준 휘도와의 차이가 0.5 이상인 부위에 대응되는 피검사 편광판 상의 부위를 얼룩으로 판정하는, 편광판의 얼룩 검사 방법.
  2. 청구항 1에 있어서, 상기 기준 휘도가 10 내지 3,000니트가 되도록 광을 조사하는, 편광판 얼룩의 정량 검사 방법.
  3. 청구항 1에 있어서, 상기 기준 휘도는 휘도계와 인접한 편광판의 광원으로부터 타측 표면에서 측정되는, 정상 부위의 편광판을 투과한 광의 휘도인, 편광판의 얼룩 검사 방법.
  4. 청구항 1에 있어서, 상기 기준 휘도가 증가할 수록 상기 얼룩을 판정하는 기준 휘도와의 차이도 증가하는, 편광판의 얼룩 검사 방법.
  5. (S1) 피검사 편광판에서 기준 얼룩 부위를 지정하는 단계;
    (S2) 기준 편광판 및 이와 직교하도록 배치된 피검사 편광판을 투과한 광의 기준 휘도가 서로 다른 광을 복수회 조사하고 부위별 투과광의 휘도를 측정하여, 각각의 기준 휘도에 따른 기준 휘도와 기준 얼룩 부위를 투과한 광의 휘도 차이를 검량선으로 얻는 단계; 및
    (S3) 기준 편광판 및 이와 직교하도록 배치된 피검사 편광판을 투과한 광의 기준 휘도가 10 내지 3,000니트인 광을 조사하고 부위별 투과광의 휘도를 측정하여,
    하기 수학식 1을 만족하는 특정 부위에 대응되는 피검사 편광판 상의 부위를 얼룩으로 판정하는, 편광판의 얼룩 검사 방법:
    [수학식 1]
    │투과광의 기준 휘도 - 특정 부위에서의 투과광의 휘도│ ≥ │투과광의 기준 휘도를 검량선에 대입하여 얻은 휘도│.
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