KR20150086633A - 광학 필름의 검사 장치 및 방법 - Google Patents

광학 필름의 검사 장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20150086633A
KR20150086633A KR1020140006537A KR20140006537A KR20150086633A KR 20150086633 A KR20150086633 A KR 20150086633A KR 1020140006537 A KR1020140006537 A KR 1020140006537A KR 20140006537 A KR20140006537 A KR 20140006537A KR 20150086633 A KR20150086633 A KR 20150086633A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
film
light
inspection
light source
source unit
Prior art date
Application number
KR1020140006537A
Other languages
English (en)
Inventor
이은규
박재현
허재영
Original Assignee
동우 화인켐 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 동우 화인켐 주식회사 filed Critical 동우 화인켐 주식회사
Priority to KR1020140006537A priority Critical patent/KR20150086633A/ko
Priority to TW104101033A priority patent/TW201534886A/zh
Priority to CN201510019517.XA priority patent/CN104792799A/zh
Priority to JP2015005667A priority patent/JP2015138031A/ja
Publication of KR20150086633A publication Critical patent/KR20150086633A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/21—Polarisation-affecting properties
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8848—Polarisation of light

Landscapes

  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

본 발명은 광학 필름의 검사 장치 및 검사 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 녹색광 또는 청색광을 조사하는 제1 광원부와 적색광 또는 적외선을 조사하는 제2 광원부를 포함하고, 상기 제1 광원부와 제2 광원부가 교대로 편광부에 광을 조사하는 광원부; 상기 광이 촬영부로 입사하는 경로에 배치된 검사 대상 필름 및 검사용 편광판을 포함하는 편광부; 및 상기 편광부를 기준으로 상기 광원의 반대편에서 상기 편광부를 촬영하는 촬영부;를 구비함으로써, 암흑모드와 백색모드의 검사를 모두 수행할 수 있는 광학 필름의 검사 장치 및 이를 이용하는 검사 방법에 관한 것이다.

Description

광학 필름의 검사 장치 및 방법{APPARATUS OF INSPECTING OPTICAL FILM AND METHOD OF INSPECTING THE SAME}
본 발명은 광학 필름의 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.
편광자, TAC, 위상차 필름 등과 같은 다양한 광학 필름이 화상 표시 장치에 사용된다. 화상 표시 장치의 발전에 따라 이에 사용되는 광학 필름들에도 높은 품질이 요구된다.
특히 편광판은 편광자와 편광자의 적어도 일면에 접합된 보호필름으로 이루어지므로, 각 층별 필름을 형성하는 수지 조성물에 이물이 혼합되는 경우, 수지 조성물의 필름 경화 시에 기포가 발생하는 경우, 각 층별 필름의 적층시 층간에 이물이 삽입되는 경우, 필름 표면에 스크래치가 생기는 경우, 필름에 휨이 발생하는 경우 등 매우 다양한 원인이 있다.
불량을 야기하는 상기와 같은 다양한 원인들에 따라 다양한 형태의 결함이 발생하게 된다. 예를 들어, 이물이 삽입되거나 기포가 발생하게 되면 광학 필름의 표면이 해당 지점에서 울퉁불퉁해지는 결함을 갖게 되고, 스크래치가 발생한 경우에는 필름 표면에 직선 형태의 선 모양의 결함을 갖게 된다.
또한, 편광판은 액정 표시 장치에 있어서 상부 편광판과 하부 편광판의 2장으로 구비되게 되는데, 필요에 따라 상부 편광판과 하부 편광판은 그 흡수축이 서로 수직이거나 평행인 위치로 배치되는데, 흡수축이 서로 수직인 배치 또는 평행인 배치에서 더 잘 발견이 되거나 어느 한 배치에서만 발견이 되는 결함이 있다.
따라서, 광학 필름의 제조가 완료된 후에는 이러한 결함들이 발생한 부분을 제거하기 위해 결함을 검출하는 공정을 거치게 된다. 따라서, 제조된 편광판을 흡수축이 서로 수직인 배치에서의 검사 및 평행인 배치에서의 검사가 각각 필요하게 된다.
본 발명은 다양한 광학 필름에 대해서 다양한 모드의 검사를 모두 수행할 수 있는 검사 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
1. 녹색광 또는 청색광을 조사하는 제1 광원부와 적색광 또는 적외선을 조사하는 제2 광원부를 포함하고, 상기 제1 광원부와 제2 광원부가 교대로 편광부에 광을 조사하는 광원부; 상기 광이 촬영부로 입사하는 경로에 배치된 검사 대상 필름 및 검사용 편광판을 포함하는 편광부; 및 상기 편광부를 기준으로 상기 광원의 반대편에서 상기 편광부를 촬영하는 촬영부;를 구비하는 광학 필름 검사 장치.
2. 위 1에 있어서, 상기 제1 광원부는 녹색광과 청색광을 함께 조사하는, 광학 필름 검사 장치.
3. 위 1에 있어서, 상기 제2 광원부는 적외선과 적색광을 함께 조사하는, 광학 필름 검사 장치.
4. 위 1에 있어서, 상기 검사 대상 필름은 편광자, 위상차 필름, 보호 필름 및 이들의 둘 이상의 적층 필름으로 이루어진 군에서 선택되는 광학 필름인, 광학 필름 검사 장치.
5. 위 4에 있어서, 상기 검사 대상 필름이 편광자를 포함하는 경우에, 상기 검사용 편광판의 흡수축은 상기 편광자의 흡수축과 수직인, 광학 필름 검사 장치.
6. 위 5에 있어서, 상기 검사 대상 필름이 편광자 및 위상차 필름의 적층필름인 경우에, 상기 위상차 필름은 편광자와 상기 검사용 편광판 사이에 위치하고, 상기 광은 녹색광인, 광학 필름 검사 장치.
7. 위 5에 있어서, 상기 검사용 편광판은 제2 광원부의 광 조사 시에 상기 편광자와 그 흡수축이 평행하도록 90°회전하는, 광학 필름 검사 장치.
8. 위 1에 있어서, 상기 검사용 편광판은 제2 광원부의 광 조사 시에 상기 촬영부의 촬영 영역을 벗어나도록 이동하는, 광학 필름 검사 장치.
9. 위 1에 있어서, 상기 검사장치는, 검사 대상 필름이 연속적으로 제공되는 인-라인 제조공정에 사용되고,
검사 대상 필름의 이동속도를 측정하는 엔코더; 및상기 엔코더로부터 수신된 이동속도에 따라 제1 광원부와 제2 광원부의 조사 주기를 결정하고 상기 주기 신호를 광원부로 송신하는 컨트롤러를 더 포함하는, 광학 필름 검사 장치.
10. 녹색광 또는 청색광을 조사하는 제1 광원부와 적색광 또는 적외선을 조사하는 제2 광원부가 교대로 검사 대상 필름 및 검사용 편광판을 포함하는 편광부에 광을 조사하여 불량을 검출하는 광학 필름의 검사 방법.
11. 위 10에 있어서, 상기 제1 광원부는 녹색광과 청색광을 함께 조사하는, 광학 필름의 검사 방법.
12. 위 10에 있어서, 상기 제2 광원부는 적외선과 적색광을 함께 조사하는, 광학 필름의 검사 방법.
13. 위 10에 있어서, 상기 검사 대상 필름은 편광자, 위상차 필름, 보호 필름 및 이들의 둘 이상의 적층 필름으로 이루어진 군에서 선택되는 광학 필름인, 광학 필름의 검사 방법.
14. 위 13에 있어서, 상기 검사 대상 필름이 편광자를 포함하는 경우에, 상기 검사용 편광판의 흡수축은 상기 편광자의 흡수축과 수직으로 배치되어 대상 필름의 암흑 모드 및 백색 모드 검사를 모두 수행하는, 광학 필름의 검사 방법.
15. 위 14에 있어서, 상기 검사 대상 필름이 편광자 및 위상차 필름의 적층필름인 경우에, 상기 위상차 필름은 편광자와 상기 검사용 편광판 사이에 위치하고, 상기 광은 녹색광인, 광학 필름의 검사 방법.
16. 위 14에 있어서, 상기 검사용 편광판은 제2 광원부의 광 조사 시에 상기 편광자와 그 흡수축이 평행하도록 90°회전하는, 광학 필름의 검사 방법.
17. 위 10에 있어서, 상기 검사용 편광판은 제2 광원부의 광 조사 시에 상기 검사 영역을 벗어나도록 이동하는, 광학 필름의 검사 방법.
18. 위 10에 있어서, 검사 대상 필름이 연속적으로 제공되는 인-라인 제조공정에 사용되고,
검사 대상 필름의 이동속도를 측정하는 엔코더; 및 상기 엔코더로부터 수신된 이동속도에 따라 광원부의 녹색광과 적외선의 조사 주기를 결정하고 상기 주기 신호를 광원부로 송신하는 컨트롤러를 더 포함하는, 광학 필름의 검사 방법.
본 발명의 검사 장치는 특정 파장의 광을 사용함으로써 광학 필름의 검사 시에 보다 정밀하고 다양한 검사가 가능하다.
편광판을 검사하는 경우에는 암흑 모드와 백색 모드 시의 결함 검출을 모두 수행할 수 있다. 이에 따라, 각 모드의 결함 검출을 개별적으로 할 필요가 없이 보다 빠른 시간에 추가적인 설비 없이 편광판의 검사를 수행할 수 있다.
특히, 편광판이 그 일면에 보호 필름으로 위상차 필름을 사용하는 경우(또는 보호 필름이 위상차를 갖고 있는 경우)에도 정확한 암흑 모드의 검사가 가능하다.
도 1은 본 발명의 검사 장치의 일 실시예를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명에 따른 광원의 일 실시예를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 시험예 1의 영상 이미지를 나타낸 도면이다.
도 4는 시험예 2의 영상 이미지를 나타낸 도면이다.
도 5는 시험예 3의 영상 이미지를 나타낸 도면이다.
도 6은 시험예 4의 영상 이미지를 나타낸 도면이다.
본 발명은 녹색광 또는 청색광을 조사하는 제1 광원부와 적색광 또는 적외선을 조사하는 제2 광원부를 포함하고, 상기 제1 광원부와 제2 광원부가 교대로 편광부에 광을 조사하는 광원부; 상기 광이 촬영부로 입사하는 경로에 배치된 검사 대상 필름 및 검사용 편광판을 포함하는 편광부; 및 상기 편광부를 기준으로 상기 광원의 반대편에서 상기 편광부를 촬영하는 촬영부;를 구비함으로써, 암흑모드와 백색모드의 검사를 모두 수행할 수 있는 광학 필름의 검사 장치에 관한 것이다.
본 발명에 있어서, 암흑 모드의 검사란 2장의 편광판을 그 흡수축이 서로 수직이 되도록 배치한 후, 상기 편광판들의 일측에 광원이 위치하여 편광판에 광을 조사하고, 통상적으로 광은 상기 2장의 편광판을 투과하지 못하므로 어두운 상태를 기준으로 하여(암흑 모드) 그 반대편에서 휘점 결함(광이 새어나오는 결함, 주변보다 휘도가 높은 지점)을 검사하는 것을 지칭한다.
본 발명에 있어서, 백색 모드의 검사란 검사 대상 필름의 일측에 광원을 위치킨 후 검사 대상 필름에 광을 조사하고, 그 반대편에서 상기 필름을 투과하는 광을 기준으로 하여(백색 모드) 암점 결함(광이 투과되지 못하는 결함, 주변보다 휘도가 낮은 지점)을 검사하는 것을 지칭한다. 이 경우 사용되는 광의 종류나 불량의 종류에 따라 검사용 편광판을 사용할 수도 있다.
본 발명에 있어서, 청색광이란 파장의 범위가 400 내지 530nm인 가시광선으로서, 바람직하게는 파장이 440 내지 480nm인 광이 90% 이상인 광을 지칭한다.
본 발명에 있어서, 녹색광이란 파장의 범위가 480 내지 630nm인 가시광선으로서, 바람직하게는 파장이 510 내지 550nm인 광이 90% 이상인 광을 지칭한다.
본 발명에 있어서, 적색광이란 파장의 범위가 680 내지 730nm인 광이 90% 이상인 가시광선으로서, 바람직하게는 상기 범위에서 모든 파장 범위가 680 nm 이상인 광을 지칭한다.
본 발명에 있어서, 적외선은 특별히 제한되지 않으며, 근적외선, 중적외선, 원적외선을 모두 포함한다. 바람직하게는 파장이 730 내지 2000nm인 근적외선, 또는 파장이 2 내지 1000㎛인 중/원적외선을 사용할 수 있으며, 보다 바람직하게는 파장이 730 내지 2000nm인 근적외선을 사용할 수 있다.
이하, 도면을 참고하여 본 발명을 보다 상세하게 설명하도록 한다. 다만, 본 명세서에 첨부되는 다음의 도면들은 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 것이며, 전술한 발명의 내용과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되어서는 아니된다.
도 1에는 본 발명의 검사 장치의 일 실시예가 개략적으로 도시되어 있다. 본 발명의 검사 장치는 광원부(100), 편광부(200) 및 촬영부(300)를 포함한다.
광원부(100)는 제1 광원부와 제2 광원부를 포함하며, 제1 광원부는 녹색광 또는 청색광을 조사하고, 제2 광원부는 적색광 또는 적외선을 조사한다.
제1 광원부가 조사하는 녹색광 및 청색광은 편광도가 우수하여 2장의 편광판이 그 흡수축이 서로 수직인 배치(암흑 모드)를 하고 있는 경우에 투과율이 현저하게 낮다. 바람직하게는 녹색광이 청색광보다 편광도가 더 우수하다.
암흑 모드 검사 시, 백색광(다양한 파장의 광이 동시에 존재)을 사용할 경우 광량을 증가시키면 간섭이 생겨서(편광도가 떨어짐) 배경 색상이 밝아지는 문제가 있다. 하지만, 본 발명과 같이 녹색광 또는 청색광, 바람직하는 녹색광을 사용할 경우, 동일한 광량을 사용하더라도 배경 색상이 상대적으로 real black에 가깝게 표현되고, 그에 따라 콘트라스트 값이 현저하게 상승되어, 암흑 모드에서의 결함 검출 성능이 향상된다.
또한, 암흑 모드 검사에 있어서, 검사 대상 필름이 보호 필름이 편광자이고 상기 편광자의 일면에 보호 필름으로 위상차 필름이 부착되어 있을 경우(또는 보호 필름이 약간의 위상차를 갖고 있는 경우), 검사광으로 백색광을 사용하고 상기 위상차 필름이 편광자와 검사용 편광판 사이에 위치하게 되면, 위상차 필름으로 인해 광축이 틀어져서 완벽한 암흑모드의 구현이 어렵다.
이에, 본 발명은 녹색광 또는 청색광을 사용하여 상기와 같은 문제점을 해결한다. 구체적으로 녹색광 또는 청색광, 바람직하게는 녹색광을 사용하게 되면 검사 대상 필름인 편광자와 검사용 편광판 사이에 위상차 필름이 존재하여도 백색광을 사용한 경우보다 암흑 모드 구현력이 현저하게 상승한다. 이에 따라 결함 판별의 정확도 및 용이성이 증가한다.
한편, 제2 광원부가 조사하는 적색광 및 적외선은 편광도가 낮아 2장의 편광판이 그 흡수축이 서로 수직인 배치를 하고 있는 경우에도 투과율이 높으며, 바람직하게는 적외선이 적색광보다 투과율이 더 높다. 따라서, 2장의 편광판이 그 흡수축이 서로 수직인 배치를 하고 있는 경우에도 백색 모드의 검사가 가능하다.
이에, 본 발명에 따른 광원부(100)는 제1 광원부와 제2 광원부가 교대로 광을 조사하게 함으로써, 하나의 검사 장치에서 암흑 모드의 검사와 백색 모드의 검사를 모두 수행할 수 있다.
광원부(100)의 제1 광원부와 제2 광원부의 배치는 검사 영역에 균일하게 광을 조사할 수 있는 배치라면 특별히 제한되지 않는다. 예를 들면, 도 2에 도시된 바와 같이, 제1 광원부의 단위 광원(G)과 제2 광원부의 단위 광원(IR)이 교대로 배치되거나, 제1 광원부와 제2 광원부가 라인 형태로 교대로 배치될 수도 있다. 다만, 이는 예시일 뿐이므로 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.
전술한 바와 같이, 제1 광원부는 녹색광 또는 청색광을 조사할 수 있으며, 검사 대상의 구체적인 종류 등 필요에 따라, 녹색광과 청색광을 함께 조사할 수 있다. 마찬가지로, 제2 광원부는 녹색광 또는 청색광을 조사할 수 있으나 필요에 따라 적외선과 적색광을 함께 조사할 수 있다.
검사 대상 필름(210)은 검사 대상 필름(210)은 단위 제품일 수도 있으며(오프-라인 검사), 생산되고 있는 제조 공정 중의 제품일 수도 있다(인-라인 검사).
검사 대상 필름(210)의 종류는 암흑 모드 또는 백색 모드에서 불량을 검출할 수 있는 광학 필름이라면 특별히 제한되지 않는다. 예로는, 편광자, 위상차 필름, 보호 필름 및 이들의 둘 이상의 적층 필름 등을 들 수 있다. 예를 들면, 검사 대상 필름(210)의 일 예시인 편광자의 경우에, 편광자는 그 적어도 일면에 보호필름이 접합된 것일 수 있다.
편광자는 연신된 고분자 필름에 이색성 색소가 흡착 배향된 것이다.
편광자를 구성하는 고분자 필름은 이색성 물질, 예컨대 요오드에 의해 염색 가능한 필름이라면 그 종류가 특별히 제한되지 않으며, 구체적으로 폴리비닐알코올계 필름, 에틸렌-아세트산비닐 공중합체 필름, 에틸렌-비닐알코올 공중합체 필름, 셀룰로오스 필름, 이들의 부분적으로 검화된 필름 등과 같은 친수성 고분자 필름; 또는 탈수 처리된 폴리비닐알코올계 필름, 탈염산 처리된 폴리비닐알코올계 필름 등과 같은 폴리엔 배향 필름 등을 들 수 있다. 이들 중에서 면내에서 편광도의 균일성을 강화하는 효과가 우수할 뿐만 아니라 이색성 물질에 대한 염색 친화성이 우수하다는 점에서 폴리비닐알코올계 필름이 바람직하다.
보다 바람직하게는, 폴리아세트산 비닐계 수지를 비누화하여 얻은 폴리비닐알코올계 필름일 수 있다. 폴리아세트산 비닐계 수지로는 아세트산 비닐의 단독 중합체인 폴리아세트산 비닐 이외에, 아세트산 비닐과 이와 공중합 가능한 다른 단량체와의 공중합체 등을 들 수 있다. 아세트산 비닐과 공중합 가능한 다른 단량체로는 불포화 카르복시산계, 불포화 술폰산계, 올레핀계, 비닐에테르계, 암모늄기를 갖는 아크릴아미드계 단량체 등을 들 수 있다.
또한 폴리비닐알코올계 수지는 변성된 것일 수도 있으며, 예를 들면 알데히드류로 변성된 폴리비닐포르말이나 폴리비닐아세탈 등도 사용할 수 있다.
편광자의 적어도 일면에 접합되는 보호필름은 투명성, 기계적 강도, 열안정성, 수분차폐성, 등방성 등이 우수한 것이라면 특별히 제한되지 않으며, 예를 들면 아크릴계 수지필름, 셀룰로스계 수지필름, 폴리올레핀계 수지필름 및 폴리에스테르계 수지필름으로 이루어진 군에서 선택된 적어도 1종을 포함하는 각종 투명 수지필름을 사용할 수 있다.
상기 보호필름의 구체적인 예를 들면, 폴리메틸(메타)아크릴레이트, 폴리에틸(메타)아크릴레이트 등의 아크릴계 수지필름; 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌이소프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트, 폴리부틸렌테레프탈레이트 등의 폴리에스테르계 수지필름; 디아세틸셀룰로스, 트리아세틸셀룰로스 등의 셀룰로스계 수지필름; 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 시클로계 또는 노르보넨 구조를 갖는 폴리올레핀계, 에틸렌-프로필렌 공중합체 등의 폴리올레핀계 수지필름; 등을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 이러한 보호 필름의 경우, 제조 공정 등 여러 가지 이유에 의해 다소간의 위상차를 가지고 있는 것일 수도 있다.
필요에 따라, 검사 대상 필름(210)의 편광자의 적어도 일면에는 보호 필름 대신에 다른 광학 기능성 필름이 접합될 수 있다. 광학 기능성 필름의 종류는 특별히 한정되지 않으나, 예를 들면 기재 표면에 액정성 화합물 또는 이의 고분자 화합물 등이 배향되어 있는 광학보상 필름, 어떠한 종류의 편광광을 투과시키고 그것과 반대되는 성질의 편광광을 반사시키는 반사형 편광분리 필름, 폴리카보네이트 수지를 포함하는 위상차 필름, 환상 폴리올레핀계 수지를 포함하는 위상차 필름, 표면에 요철 형상을 갖는 방현기능 부가 필름, 표면 반사 방지 처리된 부가 필름, 표면에 반사 기능을 갖는 반사 필름, 반사 기능과 투과 기능을 함께 갖는 반투과 반사 필름 등을 들 수 있다.
검사 대상 필름(210)의 이송 속도에 따라서 광원부(100)의 제1 광원부 및 제2 광원부의 광 조사 간격이 조절될 수 있다. 예를 들면, 제1 광원부의 광 조사시 촬영되는 영역은 그 다음 제1 광원부의 광 조사시 촬영되는 영역과 이어지도록(따라서, 제2 광원부의 광 조사시 촬영되는 영역은 그 다음 제2 광원부의 광 조사시 촬영되는 영역과 이어짐) 검사 대상 필름(210)의 이송 속도에 따라서 각 광원부의 광 조사 간격을 조절할 수 있다.
검사용 편광판(220)은 검사 대상 필름(210)의 검사를 위해 구비되며, 백색 모드 및 암흑 모드 검사에 모두 사용될 수 있다.
본 발명의 일 실시예로서, 검사 대상 필름(210)이 편광자를 포함하는 경우에는 검사용 편광판(220)의 흡수축이 검사 대상 필름(210)의 흡수축과 수직인 상태로 배치되며, 특별히 제한되지는 않으나, 검사 대상 필름(210)과 동일한 구성을 갖는 양품 편광판이 검사 대상 필름(210)과 흡수축이 수직인 상태로 배치되는 것일 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 있어서, 필요에 따라 검사용 편광판(220)은 제2 광원부의 광 조사 시에 검사 대상 필름(210)의 편광자와 흡수축이 평행하도록 90°회전할 수도 있다. 본 발명의 검사 장치는 검사 대상 필름(210)의 편광자와 검사용 편광판(220)이 그 흡수축이 서로 수직인 상태로 배치되어 있어도 백색 모드의 검사가 가능하지만, 필요에 따라, 검사용 편광판(220)이 그 흡수축이 검사 대상 필름(210)의 편광자의 흡수축과 평행하도록 90°회전하여, 백색 모드의 검사를 수행할 수도 있다. 이 경우 광원부에서 조사되는 광은 종류에 상관 없이 편광부(200)를 투과할 수 있으므로 백색 모드의 검사가 보다 정밀하게 수행될 수도 있다.
본 발명의 또 다른 실시예에 있어서, 필요에 따라 필요에 따라, 검사용 편광판(220)은 제2 광원부의 광 조사 시에 상기 촬영부의 촬영 영역을 벗어나도록 이동할 수도 있다. 이 경우에도 광원부(100)에서 조사되는 광은 종류에 상관 없이 편광부(200)를 투과하여 촬영부(300)의 검사 영역에 도달할 수 있으므로 백색 모드의 검사가 보다 정밀하게 수행될 수도 있다.
촬영부(300)는 광원부(100)에서 조사된 후 편광부(200)를 투과한 광을 수용하여 검사 영역의 촬영 영상을 얻는다. 촬영부(300)에 사용되는 장비의 종류 또는 검사용 편광판(220) 과의 거리 등에 따라 촬영부(300)에서 얻어지는 검사 영역이 정해질 수 있다. 얻어진 촬영 영상은 제어장치로 송신하여 미리 정해진 알고리즘에 따라 불량 여부를 판별하게 된다.
본 발명의 검사 장치는 엔코더(400)를 더 포함할 수 있다. 본 발명의 검사 장치가 편광자 또는 편광판의 제조 공정 중에 도입되는 경우(인-라인 검사)에는 검사 대상 필름(210)이 연속적으로 제공된다. 따라서, 검사 대상 필름인 검사 대상 필름(210)의 이동속도를 측정하는 엔코더(400)를 더 구비하여, 검사 대상 필름(210)의 이동 속도에 따른 광원부의 광 조사 간격 및 촬영부(300)의 촬영 간격을 조절하는 데 필요한 정보를 얻을 수 있다.
또한, 엔코더(400)와 함께, 엔코더(400)로부터 수신된 이동속도에 따라 광원부(100)의 녹색광과 적외선의 조사 주기를 결정하고 상기 주기 신호를 광원부(100)로 송신하는 콘트롤러(500)를 더 구비할 수 있다.
또한, 본 발명은 전술한 검사 장치를 이용한, 광학 필름의 검사방법을 제공한다.
본 발명의 검사 방법의 일 실시예는, 녹색광 또는 청색광을 조사하는 제1 광원부와 적색광 또는 적외선을 조사하는 제2 광원부가 교대로 검사 대상 필름 및 검사용 편광판을 포함하는 편광부에 광을 조사하여 불량을 검출하는, 광학 필름의 검사 방법이다.
본 발명의 검사 방법에 따른 제1 광원부와 제2 광원부, 및 편광부는 앞서 설명한 검사 장치에서의 것이 동일하게 적용될 수 있다. 그 외에 본 발명에 따른 검사 장치에 사용된 구성이 본 발명의 검사 방법에 동일하게 적용될 수 있다.
이하, 본 발명의 이해를 돕기 위하여 바람직한 실시예를 제시하나, 이들 실시예는 본 발명을 예시하는 것일 뿐 첨부된 특허청구범위를 제한하는 것이 아니며, 본 발명의 범주 및 기술사상 범위 내에서 실시예에 대한 다양한 변경 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속하는 것도 당연한 것이다.
실시예
1. 광량 증가에 따른 시험
폴리비닐알코올 편광자의 양면에 TAC 보호 필름을 접합한 편광판 2장을 그 흡수축이 서로 수직이 되도록 배치하고, 백색광 및 녹색광을 조사하여 결함(휘점으로 표시됨)이 있는 영역의 콘트라스트(CR)값 변화를 측정하였다.
White LED White LED Green LED
조도 약 50만 lux 약 100만 lux 약 100만 lux
이미지 도 3의 a 도 3의 b 도 3의 c
측정값 White Value(gray) 69 230 165
Black Value(gray) 22 66 13
CR(Contrast Ratio) 3.14 3.49 12.69
표 1 및 도 3을 참고하면, 백색광을 사용할 경우 광량을 증가시키면 크로스의 간섭이 생겨서(편광도가 떨어짐) 배경 색상이 밝아지는 것을 알 수 있다. 반면 녹색광을 사용할 경우, 동일한 광량을 사용하더라도 배경 색상이 상대적으로 real black에 가깝게 표현되는 것을 알 수 있으며, 그 결과 CR값이 3~4배 정도 향상되는 것을 알 수 있다. 따라서, 결함이 더욱 분명하게 인식됨을 알 수 있다.
2. 위상차 필름에 따른 시험
폴리비닐알코올 편광자의 광원측 일면에 TAC 보호 필름을 접합하고, 촬영부측 일면에는 위상차 필름(배향각 6도(영역1), 배향각 7도(영역2))을 접합한 검사 대상 필름 및 폴리비닐알코올 편광자의 양면에 TAC 보호 필름을 접합한 검사용 편광판을 준비하였다.
상기 편광판 2장을 그 흡수축이 서로 수직이 되도록 배치하고, 검사 대상 필름의 서로 다른 영역(결함이 있는 영역 1 및 결함이 없는 영역 2)에서의 CR값 변화를 백색광 및 녹색광을 조사하여 측정하였다.
영역 1 영역 2
White LED Green LED White LED Green LED
이미지 도 4의 a 도 4의 b 도 4의 c 도 4의 d
측정값 White Value (gray) 255 255 254 172
Black Value (gray) 65 21 73 12
CR(Contrast Ratio) 3.92 12.15 3.48 14.33
표 2 및 도 4를 참고하면, 백색광을 사용할 경우 검사 대상 필름인 편광자와 검사용 편광판 사이에 위치한 위상차 필름의 영향으로 2장의 편광자가 그 흡수축이 수직으로 배치되었음에도 암흑 모드가 제대로 구현되지 않는 것을 알 수 있다. 반면 녹색광을 사용할 경우, 암흑 모드가 우수하게 구현되어 CR값이 상승하는 것을 알 수 있다. 그에 따라 결함이 더욱 분명하게 인식될 수 있음을 알 수 있다.
3. 위상차 필름에 따른 시험
폴리비닐알코올 편광자의 광원측 일면에 TAC 보호 필름을 접합하고, 촬영부측 일면에는 위상차 필름(배향각 16도(영역1), 배향각 13도(영역2))을 접합한 검사 대상 필름 및 폴리비닐알코올 편광자의 양면에 TAC 보호 필름을 접합한 검사용 편광판을 준비하였다.
상기 편광판 2장을 그 흡수축이 서로 수직이 되도록 배치하고, 서로 다른 영역에서의 배경 이미지의 휘도를 백색광 및 녹색광을 조사하여 측정하였다.
영역 1 영역 2
White LED Green LED White LED Green LED
이미지 도 5의 a 도 5의 b 도 5의 c 도 5의 d
Background (gray) 213 62 189 52
표 3 및 도 5를 참고하면, 역시 백색광을 사용한 경우에는 검사 대상 필름인 편광자와 검사용 편광판 사이에 위치한 위상차 필름의 영향으로 2장의 편광자가 그 흡수축이 수직으로 배치되었음에도 암흑 모드가 제대로 구현되지 않는 것을 알 수 있으나, 녹색광을 사용한 경우에는 암흑 모드의 구현이 뛰어나 배경색이 되는 black 구현력이 현저히 우수하다는 것을 확인할 수 있다. 따라서, 결함의 판별이 더욱 용이함을 알 수 있다.
4. 적외선을 사용한 시험
폴리비닐알코올 편광자의 양면에 TAC 보호 필름을 접합한 편광판 2장을 그 흡수축이 서로 수직이 되도록 배치하고, 적외선을 조사하여 결함(암점으로 표시됨)이 검출된 부위의 사진을 도 6의 (a) 내지 (e)에 도시하였다.
도 6을 참고하면, 2장의 편광판이 그 흡수축이 서로 수직이 되도록 배치되었으나, 적외선이 모두 투과하여 결함이 암점으로 나타난 것을 확인할 수 있다. 따라서, 2장의 편광판이 그 흡수축이 서로 수직이 되도록 배치된 경우에도 백색 모드의 검사가 가능함을 알 수 있다.
100: 광원부 200: 편광부
210: 검사 대상 필름 220: 검사용 편광판
300: 촬영부
400: 엔코더 500: 콘트롤러

Claims (18)

  1. 녹색광 또는 청색광을 조사하는 제1 광원부와 적색광 또는 적외선을 조사하는 제2 광원부를 포함하고, 상기 제1 광원부와 제2 광원부가 교대로 편광부에 광을 조사하는 광원부;
    상기 광이 촬영부로 입사하는 경로에 배치된 검사 대상 필름 및 검사용 편광판을 포함하는 편광부; 및
    상기 편광부를 기준으로 상기 광원의 반대편에서 상기 편광부를 촬영하는 촬영부;
    를 구비하는 광학 필름 검사 장치.
  2. 청구항 1에 있어서, 상기 제1 광원부는 녹색광과 청색광을 함께 조사하는, 광학 필름 검사 장치.
  3. 청구항 1에 있어서, 상기 제2 광원부는 적외선과 적색광을 함께 조사하는, 광학 필름 검사 장치.
  4. 청구항 1에 있어서, 상기 검사 대상 필름은 편광자, 위상차 필름, 보호 필름 및 이들의 둘 이상의 적층 필름으로 이루어진 군에서 선택되는 광학 필름인, 광학 필름 검사 장치.
  5. 청구항 4에 있어서, 상기 검사 대상 필름이 편광자를 포함하는 경우에, 상기 검사용 편광판의 흡수축은 상기 편광자의 흡수축과 수직인, 광학 필름 검사 장치.
  6. 청구항 5에 있어서, 상기 검사 대상 필름이 편광자 및 위상차 필름의 적층필름인 경우에, 상기 위상차 필름은 편광자와 상기 검사용 편광판 사이에 위치하고, 상기 광은 녹색광인, 광학 필름 검사 장치.
  7. 청구항 5에 있어서, 상기 검사용 편광판은 제2 광원부의 광 조사 시에 상기 편광자와 그 흡수축이 평행하도록 90°회전하는, 광학 필름 검사 장치.
  8. 청구항 1에 있어서, 상기 검사용 편광판은 제2 광원부의 광 조사 시에 상기 촬영부의 촬영 영역을 벗어나도록 이동하는, 광학 필름 검사 장치.
  9. 청구항 1에 있어서, 상기 검사장치는,
    검사 대상 필름이 연속적으로 제공되는 인-라인 제조공정에 사용되고,
    검사 대상 필름의 이동속도를 측정하는 엔코더; 및
    상기 엔코더로부터 수신된 이동속도에 따라 제1 광원부와 제2 광원부의 조사 주기를 결정하고 상기 주기 신호를 광원부로 송신하는 컨트롤러를 더 포함하는, 광학 필름 검사 장치.
  10. 녹색광 또는 청색광을 조사하는 제1 광원부와 적색광 또는 적외선을 조사하는 제2 광원부가 교대로 검사 대상 필름 및 검사용 편광판을 포함하는 편광부에 광을 조사하여 불량을 검출하는 광학 필름의 검사 방법.
  11. 청구항 10에 있어서, 상기 제1 광원부는 녹색광과 청색광을 함께 조사하는, 광학 필름의 검사 방법.
  12. 청구항 10에 있어서, 상기 제2 광원부는 적외선과 적색광을 함께 조사하는, 광학 필름의 검사 방법.
  13. 청구항 10에 있어서, 상기 검사 대상 필름은 편광자, 위상차 필름, 보호 필름 및 이들의 둘 이상의 적층 필름으로 이루어진 군에서 선택되는 광학 필름인, 광학 필름의 검사 방법.
  14. 청구항 13에 있어서, 상기 검사 대상 필름이 편광자를 포함하는 경우에, 상기 검사용 편광판의 흡수축은 상기 편광자의 흡수축과 수직으로 배치되어 대상 필름의 암흑 모드 및 백색 모드 검사를 모두 수행하는, 광학 필름의 검사 방법.
  15. 청구항 14에 있어서, 상기 검사 대상 필름이 편광자 및 위상차 필름의 적층필름인 경우에, 상기 위상차 필름은 편광자와 상기 검사용 편광판 사이에 위치하고, 상기 광은 녹색광인, 광학 필름의 검사 방법.
  16. 청구항 14에 있어서, 상기 검사용 편광판은 제2 광원부의 광 조사 시에 상기 편광자와 그 흡수축이 평행하도록 90°회전하는, 광학 필름의 검사 방법.
  17. 청구항 10에 있어서, 상기 검사용 편광판은 제2 광원부의 광 조사 시에 상기 검사 영역을 벗어나도록 이동하는, 광학 필름의 검사 방법.
  18. 청구항 10에 있어서, 검사 대상 필름이 연속적으로 제공되는 인-라인 제조공정에 사용되고,
    검사 대상 필름의 이동속도를 측정하는 엔코더; 및
    상기 엔코더로부터 수신된 이동속도에 따라 광원부의 녹색광과 적외선의 조사 주기를 결정하고 상기 주기 신호를 광원부로 송신하는 컨트롤러를 더 포함하는, 광학 필름의 검사 방법.
KR1020140006537A 2014-01-20 2014-01-20 광학 필름의 검사 장치 및 방법 KR20150086633A (ko)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140006537A KR20150086633A (ko) 2014-01-20 2014-01-20 광학 필름의 검사 장치 및 방법
TW104101033A TW201534886A (zh) 2014-01-20 2015-01-13 光學膜之檢查裝置及方法
CN201510019517.XA CN104792799A (zh) 2014-01-20 2015-01-14 光学薄膜的检查装置及方法
JP2015005667A JP2015138031A (ja) 2014-01-20 2015-01-15 光学フィルムの検査装置及び方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140006537A KR20150086633A (ko) 2014-01-20 2014-01-20 광학 필름의 검사 장치 및 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20150086633A true KR20150086633A (ko) 2015-07-29

Family

ID=53557782

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020140006537A KR20150086633A (ko) 2014-01-20 2014-01-20 광학 필름의 검사 장치 및 방법

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP2015138031A (ko)
KR (1) KR20150086633A (ko)
CN (1) CN104792799A (ko)
TW (1) TW201534886A (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170115027A (ko) * 2017-09-25 2017-10-16 동우 화인켐 주식회사 투과 광학계 검사 장치 및 이를 이용한 필름 결함 검사 방법
KR20180020455A (ko) * 2016-08-18 2018-02-28 주식회사 엘지화학 결점 검사장치 및 이를 이용한 광학필름의 결점 검사방법
WO2018044030A1 (ko) * 2016-09-02 2018-03-08 주식회사 엘지화학 광학 특성 검사기 및 광학 특성 검사 방법

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102628620B1 (ko) * 2016-02-05 2024-01-24 도레이 카부시키가이샤 시트 형상물의 검사 장치 및 시트 형상물의 검사 방법
KR101955757B1 (ko) * 2016-06-08 2019-03-07 삼성에스디아이 주식회사 필름 처리장치 및 처리방법
TWI628429B (zh) * 2016-12-27 2018-07-01 住華科技股份有限公司 缺陷檢測系統及方法
CN106969906B (zh) * 2017-04-26 2019-05-03 武汉华星光电技术有限公司 一种显示器的色度学计算方法及色度计算方法
TWI676797B (zh) * 2019-03-12 2019-11-11 住華科技股份有限公司 光學膜檢測裝置及光學膜的檢測方法
DE102019107174B4 (de) * 2019-03-20 2020-12-24 Thyssenkrupp Rasselstein Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion der Oberfläche eines sich bewegenden Bands
CN110398849B (zh) * 2019-07-31 2024-03-22 北京兆维电子(集团)有限责任公司 一种液晶显示屏光学检测系统
KR20230150851A (ko) * 2021-03-29 2023-10-31 후지필름 가부시키가이샤 광파장 변환 시트의 검사 방법, 검사 장치, 제조 방법, 제조 장치, 및, 광파장 변환 시트, 백라이트 장치, 액정 패널, 액정 표시 장치.
CN116818786B (zh) * 2023-06-14 2024-06-21 成都瑞波科材料科技有限公司 用于光学膜的异物检测装置、方法及光学膜涂布装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180020455A (ko) * 2016-08-18 2018-02-28 주식회사 엘지화학 결점 검사장치 및 이를 이용한 광학필름의 결점 검사방법
WO2018044030A1 (ko) * 2016-09-02 2018-03-08 주식회사 엘지화학 광학 특성 검사기 및 광학 특성 검사 방법
US10823892B2 (en) 2016-09-02 2020-11-03 Lg Chem, Ltd. Device for testing optical properties and method for testing optical properties
KR20170115027A (ko) * 2017-09-25 2017-10-16 동우 화인켐 주식회사 투과 광학계 검사 장치 및 이를 이용한 필름 결함 검사 방법
WO2019059613A1 (ko) * 2017-09-25 2019-03-28 동우화인켐 주식회사 투과 광학계 검사 장치 및 이를 이용한 필름 결함 검사 방법

Also Published As

Publication number Publication date
CN104792799A (zh) 2015-07-22
TW201534886A (zh) 2015-09-16
JP2015138031A (ja) 2015-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20150086633A (ko) 광학 필름의 검사 장치 및 방법
JP2007327915A (ja) フイルムの欠陥検査装置及び欠陥検査方法
WO2016194874A1 (ja) 光透過性フィルムの欠陥検査方法、直線偏光子フィルムの製造方法及び偏光板の製造方法
KR20150007719A (ko) 편광판의 검사 방법
TW202129263A (zh) 檢查方法、檢查裝置及檢查系統
WO2021176797A1 (ja) 検査方法
KR20150085398A (ko) 편광판의 얼룩 검사 방법
TW201610419A (zh) 積層偏光膜的缺陷檢查方法、製造方法以及製造裝置
JP2016081062A (ja) シート状製品の検査システム、シート状製品の検査方法及びそのような検査で使用するための偏光板（ｓｙｓｔｅｍａｎｄｍｅｔｈｏｄｆｏｒｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎｏｆｓｈｅｅｔ−ｓｈａｐｅｄｐｒｏｄｕｃｔａｎｄｐｏｌａｒｉｚｉｎｇｐｌａｔｅｆｏｒｕｓｅｉｎｓｕｃｈｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎ）
KR20200047266A (ko) 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치
TW202129249A (zh) 檢查方法、檢查裝置及檢查系統
KR102207900B1 (ko) 광학 검사 장치 및 광학 검사 방법
JP2008292201A (ja) 積層フィルムの検査方法及び積層フィルムの検査装置
JP2008267991A (ja) 位相差フィルム検査装置、位相差フィルムの検査方法およびこれを用いた位相差フィルムの製造方法
KR20160005445A (ko) 편광판의 결함 검사 장치 및 방법
TW202033952A (zh) 光學膜檢測裝置及光學膜的檢測方法
CN116519711A (zh) 检查方法
WO2021124646A1 (ja) 検査方法、検査装置、及び検査システム
KR102486442B1 (ko) 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법
KR20180016757A (ko) 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치
JP7413211B2 (ja) 検査方法
WO2022092006A1 (ja) 検査方法
JP7555278B2 (ja) 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
JP2022172803A (ja) 検査方法
CN115015280A (zh) 缺陷检查方法及缺陷检查装置

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination