CN113906287A - 偏光板的接着剂污迹检查装置、及偏光板的接着剂污迹检查方法 - Google Patents
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Abstract
本申请案涉及一种偏光板接着剂污点检测装置及偏光板接着剂污点检测方法接着剂。本申请案能够容易地检查形成在偏光板上的接着剂污迹，且视认性优异。
Description
技术领域
本申请案涉及一种偏光板的接着剂污迹检查装置、及偏光板的接着剂污迹检查方法。
本申请案主张基于2019年6月7日的韩国专利申请第10-2019-0067544的优先权的权益，该韩国申请专利文献中所揭示的所有内容作为一部分包含在本说明书中。
背景技术
液晶显示器(LCD，Liquid crystal display)包括用于控制光的状态的偏光板。通常，LCD中使用的偏光板是以如下方式制成：是通过使用接着剂和具有保护性的基板将具有偏振功能的偏光片附接到偏光片的上部和下部来制造的。
作为此时使用的接着剂的种类，大致可使用热固性接着剂及光固化性接着剂两种。通常的水基接着剂主要由PVA(Polyvinyl Alcohol，聚乙烯醇)组成，且折射率与偏光板相同，因此不会产生因接着剂的厚度偏差形成的污迹。
然而，当光固化性接着剂的折射率不同于PVA偏光板的折射率并且以不均匀的厚度固化时，则会出现可见污点的问题。这种光固化性接着剂的污迹不易看见，因此产生如下问题：难以通过通常的检查方法来确认，在偏光板成品上附着保护膜及/或剥离膜时，更加难以确认。因此，需要一种用于偏光板的接着剂污迹检查装置、及偏光板的接着剂污迹检查方法以解决这种问题的。
发明内容
[发明要解决的问题]
本申请的目的是提供一种用于偏光板的接合剂检查设备和一种用于检查偏光板上的接合剂的方法，其能够容易地检查在偏光板上产生的接着剂并且具有优异的可见性。
[解决问题的手段]
为了解决上述问题，本申请案的偏光板的接着剂污迹检查装置包括：点光源；第一偏光部件，以从所述点光源接收光的方式配置；偏光板，以接收透过所述第一偏光部件的光的方式配置，反射接收到的所述光；第二偏光部件，以接收从所述偏光板反射的光的方式配置；以及检查源，以接收透过所述第二偏光部件的光的方式配置，基于透过所述第二偏光部件的光来判断所述偏光板的接着剂污迹；所述偏光板依次包含偏光件、分别处于所述偏光件的上部与下部的包含光硬化性接着剂的接着剂层、及保护基材，透过所述第一偏光部件的光入射到所述偏光板的保护基材，所述点光源以布鲁斯特角(brewster angle)向所述偏光板入射光。
另外，所述点光源能够向所述第一偏光部件侧发射非偏振光。
另外，从所述点光源发射的光相对于所述偏光板的入射角可为45°至75°。
另外，所述第一偏光部件的吸收轴可与所述偏光板的偏光件垂直。
另外，所述偏光板可为用于液晶显示装置的偏光板。
另外，入射到所述偏光板的光可在所述接着剂层反射。
另外，所述光固化性接着剂包括具有固化状态的丙烯酸类聚合物的接着剂组合物。
另外，所述接着剂层的折射率可为1.45至1.50。
另外，所述偏光件的折射率可为1.5以上至1.6。
另外，从所述偏光板反射出的光相对于所述偏光板的反射角可为45°至75°。
另外，所述第二偏光部件的吸收轴可与所述偏光板的偏光件垂直。
另外，本申请案的偏光板的接着剂污迹检查方法是一种利用所述偏光板的接着剂污迹检查装置的偏光板的接着剂污迹检查方法，所述方法包括：从点光源发射光而使其依次透过第一偏光部件、偏光板、第二偏光部件的步骤；以及基于透过所述第二偏光部件而入射到所述检查源的光来判断所述偏光板的接着剂污迹的步骤。
另外，入射到所述偏光板的光能够被反射。
[发明的效果]
根据本申请案的偏光板的接着剂污迹检查装置、及偏光板的接着剂污迹检查方法，能够容易地检查形成在偏光板上的接着剂污迹，且具体有异的可见性
附图说明
图1是表示根据本申请案中一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置的图。
图2是表示根据本申请案中一实施例的偏光板的图。
图3是为了利用根据本申请案中一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置来检查偏光板的接着剂污迹，通过数码相机拍摄第二偏光部件得到的图像。
图4是为了利用不根据本申请案中一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置来检查偏光板的接着剂污迹，通过数码相机拍摄第二偏光部件得到的图像。
图5是为了利用不根据本申请案中另一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置来检查偏光板的接着剂污迹，通过数码相机拍摄第二偏光部件得到的图像。
图6是为了利用不根据本申请案中又一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置来检查偏光板的接着剂污迹，通过数码相机拍摄第二偏光部件得到的图像。
具体实施方式
以下，参照附图，对本申请案的偏光板的接着剂污迹检查装置及偏光板的接着剂污迹检查方法进行说明，附图仅为例示，本申请案的偏光板的接着剂污迹检查装置及偏光板的检查方法并不限制于附图。
图1是表示根据本申请案中一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置的图。如图1所示，本申请案的偏光板的接着剂污迹检查装置包含点光源100、第一偏光部件200、偏光板300、第二偏光部件400及检查源500。所述点光源100以布鲁斯特角(brewsterangle)向所述偏光板300入射光。图2是表示根据本申请案中一实施例的偏光板的图。如图2所示，所述偏光板300依次包含偏光件310、分别处于所述偏光件310的上部与下部的接着剂层321、322、及保护基材331、332。另外，所述接着剂层321、322包含光固化性接着剂。另外，透过所述第一偏光部件200的光入射到所述偏光板300的保护基材331、332。本申请案的偏光板的接着剂污迹检查装置能够容易地检查形成在偏光板上的接着剂污迹，且具有优异的可视性。
在本说明书中，术语“依次定位”可指各构成按照串联结构平行定位的状态。另外，在本说明书中，术语“布鲁斯特角(brewster angle)”是指如下的入射角，即，光经过折射率不同的两个介质之间时，仅某种偏光成分的光被反射，其他偏光成分不被反射而全部透过。例如，如果入射垂直偏振光(TE偏光、s偏光)，则几乎所有光会被反射。然而，如果入射水平偏振光(TM偏光.p偏光)，则几乎不发生反射而大部分的光会透过。在这种角度下，偏振光的电场与入射平面平行，因此不被反射。也就是说，存在水平偏振光的反射系数为0的入射角，此时，将该角度称为布鲁斯特角。因此，光以接近布鲁斯特角的角度入射时，反射波的垂直偏光成分远远多于平行偏光成分。因此，如果光以布鲁斯特角入射，则所反射的光始终为s偏光状态。
所述点光源100作为发射沿多个方向振动的非偏振光的光源，可使用发射各种白色光、或在可见光区域的光谱范围内具有连续光谱的各种类型的灯。通过使用发射非偏振光的所述点光源，所述偏光板的接着剂污迹检查装置的制作费用及维护费用会较低。另外，与面光源相比，所述点光源在可见度方面更有利。
所述点光源作为不具有假想面积且呈几何学上的一个点的光源，能够区别于面形态的面光源。
在一例示中，所述点光源100可向所述第一偏光部件200发射非偏振光。发射出所述非偏振光的点光源100能够透过所述第一偏光部件200，并且沿与所述第一偏光部件200的透射轴平行的方向偏光。
另外，所述点光源100能够调节光量。例如，所述点光源100可通过调高光量来改善可视性。
另外，能够调节从所述点光源100发射的光的入射角。在一例示中，从所述点光源100发射的光相对于所述偏光板300的入射角可为45°至75°。例如，从所述点光源100发射的光相对于所述偏光板300的入射角可为45°至70°、50°至70°或55°至65°。此时，可根据所述偏光件310的上部所包含的保护基材332的折射率来特定所述入射角，本申请案中的入射角是以折射率为1.6的保护基材为基准的角度。当从所述点光源发射的光的入射角满足上述范围时，能够容易地检查形成在偏光板上的接着剂污迹，且可见度优异。
所述第一偏光部件200作为用以使从所述点光源发射的光沿特定方向偏光的部分，能够以从所述点光源接收光的方式配置。
在本说明书中，术语“偏光部件及偏光件”可指如下的功能层，即，具有沿某个方向形成的透射轴，并且对入射光表现出各向异性透过特性。例如，偏光部件及偏光件能够具有如下功能：在沿多个方向振动的入射光中，使沿某个方向振动的光透过，反射或吸收沿其余方向振动的光来将其阻断。这种偏光件例如可为反射型偏光件或吸收型偏光件，本申请案的第一偏光部件、第二偏光部件及偏光件可为吸收型偏光件。
在本说明书中，术语“吸收型偏光件”可指如下层：在沿多个方向振动的入射光中，使与透射轴平行的方向的光透过，吸收沿其余方向振动的光来将其阻断。在一例示中，吸收型偏光件可具有在面方向上彼此正交的透射轴及吸收轴。例如，所述透射轴与吸收轴所成的角度可为85°至95°或90°，可使沿与所述透射轴平行的方向振动的光透过，可反射或吸收沿与吸收轴平行的方向上振动的光。
在本说明书中，在定义角度时使用的垂直、平行、正交或水平等术语是指不损害目标效果的范围内的实质性的垂直、平行、正交或水平，例如包含考虑制造误差(error)或偏差(variation)等在内的误差。例如，在上述各情况下，可包含约±15°以内的误差、约±10°以内的误差或约±5°以内的误差。
作为所述吸收型偏光件，可使用本领域内所公知的通常的吸收型偏光件。例如，作为所述吸收型偏光件，可使用由碘化合物或有机颜料染色而成的拉伸的聚合物膜、例如聚乙烯醇(PVA)膜等。这种吸收型偏光件通常可具有透射轴及与所述透射轴正交的吸收轴。
在一例示中，所述第一偏光部件200具有可垂直于所述偏光板300的偏光件310的吸收轴。具体而言，在所述第一偏光部件200沿第二方向(示为
)具有吸收轴的情况下，所述偏光板300的偏光件310可沿与所述第一偏光部件200的吸收轴垂直的第一方向(示为
)具有吸收轴，所述第一偏光部件200及偏光板300的偏光件310可分别沿与吸收轴正交的方向(未图示)具有透射轴。通过使所述第一偏光部件与偏光板的偏光件垂直地具有吸收轴，经由所述第一偏光部件而沿第一方向(示为
)线偏光的光与所述偏光板的偏光件的透射轴垂直对准，因此能够被所述偏光板的偏光件反射。与此相反，在所述第一偏光部件不与所述偏光板的偏光件的吸收轴垂直的情况下，经由所述第一偏光部件而沿第一方向(示为
)线偏光的光不与所述偏光板的偏光件的透射轴垂直对准，因此能够透过所述偏光板的偏光件。所述线偏振光透过所述偏光板的偏光件而在下部的保护基材反射，此时，存在如下缺点：如果所述偏光板所处的平面、即检查单元的表面不呈暗色，则无法从视觉上识别接着剂污迹。
所述偏光板300作为被检查接着剂污迹的待测样品，可包含在检查单元(未图示)。例如，所述偏光板300可配置在检查单元上。
所述偏光板300以接收透过所述第一偏光部件200的光的方式配置，反射接收到的所述光。具体而言，入射到所述偏光板300的光能够透过所述偏光板300的偏光件310的上部所形成的接着剂层322，在所述偏光板300的偏光件310反射。透过所述接着剂层322且在所述偏光件310发生光反射，由此能够检查偏光板的接着剂污迹。
在一例示中，所述偏光板300可为用于液晶显示装置的偏光板。具体而言，液晶显示装置作为在两张偏光板之间利用液晶来改变光的行进方向或调节光的强度的透过型显示装置，在所述偏光板中包含形成线偏振光的偏光件，但不需要1/4波长板。然而，有机发光显示装置因电极外露而具有在反射太阳光、照明等外界光的方面较弱的缺点，因此为了在电源断开(OFF)的状态下阻断表面反射外界光来实现黑暗的视觉感，可在偏光板中包含用以形成线偏振光的偏光件、及用以形成圆偏振光的1/4波长板。
所述光固化性接着剂可包含具有固化状态的丙烯酸类聚合物的接着剂组合物。在本说明书中，术语“光固化性接着剂”是指可通过照射电磁波来固化的接着剂。所述电磁波的范畴不仅包含微波(microwaves)、红外线(IR)、紫外线(UV)、X射线及γ射线，而且还可包含如α-粒子束(alpha-particle beam)、质子束(proton beam)、中子束(neutron beam)及电子束(electron beam)的粒子束等。所述接着剂层321、322能够以如下方式形成：涂布到所述保护基材321、322或所述偏光件310的一面后，通过照射电磁波来固化。所述术语“固化”是指可通过物理作用或化学反应来使接着剂组合物表现出接着特性的过程。在一例示中，所述接着剂组合物的固化可通过照射电磁波进行的自由基聚合或阳离子反应来执行，优选为同时或依次进行自由基聚合及阳离子反应来执行。
作为所述丙烯酸类聚合物，可包含(甲基)丙烯酸酯单体。所述单体可作为聚合单元包含在聚合物中。在本说明书中，单体作为聚合单元包含在聚合物中可指单体通过聚合反应等而形成该聚合物的骨架、例如主链或侧链的状态。作为所述(甲基)丙烯酸酯单体，例如可使用(甲基)丙烯酸烷基酯。例如，考虑接着剂的凝集力或玻璃转移温度等，可使用具有1至14个碳原子的烷基的(甲基)丙烯酸烷基酯。这些单体包括(甲基)丙烯酸甲酯、(甲基)丙烯酸乙酯、(甲基)丙烯酸正丙酯、(甲基)丙烯酸异丙酯、(甲基)丙烯酸正丁酯、(甲基)丙烯酸叔丁酯、(甲基)丙烯酸仲丁酯、(甲基)丙烯酸戊酯、(甲基)丙烯酸2-乙基己酯、(甲基)丙烯酸2-乙基丁酯、(甲基)丙烯酸正辛酯、(甲基)丙烯酸异辛酯、(甲基)丙烯酸异壬酯、(甲基)丙烯酸月桂酯及(甲基)丙烯酸十四烷基酯等，并且可以在聚合物中国包含一种或多种上述单体的混合物。
另外，所述保护基材331、332作为用于保护所述偏光件310而附着的膜，可分别通过接着剂层321、322附着到所述偏光件310的上部及下部。作为所述保护基材331、332，可使用本领域内公知的如TAC(Triacetyl Cellulose，三乙酸纤维素)片的用于偏光件的保护基材，但并不限制于此。
在一例示中，所述接着剂层321、322的折射率可为1.45至1.50。例如，所述接着剂层321、322的折射率可为1.46至1.49或1.47至1.48。通过使所述接着剂层321、322具有上述范围的折射率，折射率会不同于所述偏光件310因此在固化时厚度不均匀，由此能够在视觉上识别到接着剂污迹。
所述偏光件310的折射率可为1.5以上至1.6。例如，所述偏光件310的折射率可为1.51至1.57或1.52至1.54。通过使所述偏光件310具有上述范围的折射率，折射率会不同于所述接着剂层321、322因此在固化时厚度不均匀，由此能够在视觉上识别到接着剂污迹从所述偏光板300反射出的光相对于所述偏光板300的反射角可为45°至75°。例如，从所述偏光板300反射出的光相对于所述偏光板300的反射角可为45°至70°、50°至70°或55°至65°。通过使从所述偏光板300反射出的光的反射角满足上述范围，在透过所述第一偏光部件200而线偏光的光中，除未能透过所述偏光板300而在保护基材332反射的光以外，透过所述偏光板300的接着剂层322而被偏光件310反射的光能够被第二偏光部件400吸收，由此能够以优异的可见性在偏光板300的内部检查接着剂层322的接着剂污迹。
所述第二偏光部件400作为根据偏光板300有无接着剂污迹而使从所述偏光板300反射的光透过及/或吸收的部分，以接收从所述偏光板300反射的光到方式配置。具体而言，在所述偏光板300中存在接着剂污迹的部分反射而入射的光能够透过第二偏光部件400。与此相反，在所述偏光板300中不存在接着剂污迹的部分反射而入射的光能够被第二偏光部件400吸收。通过使从所述偏光板反射的光入射到所述第二偏光部件，能够检查偏光板的接着剂污迹。
在一例示中，所述第二偏光部件400可具有垂直于所述偏光板300的偏光件310的吸收轴。也就是说，所述第二偏光部件400的透射轴也可与所述第一偏光部件200平行。具体而言，在所述第二偏光部件400沿第二方向(示为
)具有吸收轴的情况下，所述偏光板300的偏光件310可沿第一方向(示为
)具有吸收轴，所述第二偏光部件400及偏光板300的偏光件310可分别沿与吸收轴正交的方向(未图示)具有透射轴。通过使所述第二偏光部件与偏光板的偏光件垂直地具有吸收轴，在透过所述第一偏光部件200而线偏光的光中，除未能透过所述偏光板300而在保护基材332反射的光以外，透过所述偏光板300的接着剂层322而被偏光件310反射的光能够被第二偏光部件400吸收，由此能够以优异的可视性在偏光板300的内部检查接着剂层322的接着剂污迹。
所述检查源500作为基于透过所述第二偏光部件400的光来判断所述偏光板300的接着剂污迹的部分，以接收透过所述第二偏光部件400的光的方式配置。具体而言，透过第二偏光部件400的光可呈红褐色，此时能够判断为偏光板300存在接着剂污迹。另外，未能透过第二偏光部件400的光可呈暗色，此时能够判断为偏光板300不存在接着剂污迹。
在一例示中，所述检查源500可通过肉眼直接检查偏光板的接着剂污迹，在另一例示中，可通过电脑间接地检查利用摄像机等拍摄器材来代替所述肉眼获得的图像而检查偏光板的接着剂污迹。
本申请案还涉及一种偏光板的接着剂污迹检查方法。例示性的偏光板的接着剂污迹检查方法是一种利用所述偏光板的接着剂污迹检查装置的检查方法。因此，下文叙述的偏光板的接着剂污迹检查方法的具体内容可相同地应用所述偏光板的接着剂污迹检查装置中记述的内容，因此省略。
本申请案的偏光板的接着剂污迹检查方法包括透射步骤及判断步骤。通过使用本申请案的偏光板的接着剂污迹检查方法，能够容易地检查形成在偏光板上的接着剂污迹，且具有优异的可视性。
所述透射步骤作为利用所述偏光板的接着剂污迹检查装置透射光的步骤，从点光源发射光而使其依次透过第一偏光部件、偏光板、第二偏光部件。此时，所述点光源以布鲁斯特角(brewster angle)向偏光板入射光。关于所述点光源、第一偏光部件、偏光板、第二偏光部件及光的传播的具体内容与所述偏光板的接着剂污迹检查装置中所述的内容相同，因此省略。
所述判断步骤作为用以判断所述偏光板的接着剂污迹的步骤，基于透射过所述第二偏光部件入射到所述检查源的光来判断所述偏光板的接着剂污迹。也就是说，在光从所述点光源到达所述检查源而呈红褐色的情况下，能够判断为所述偏光板存在接着剂污迹，在来自所述点光源的光没有到达所述检查源而呈暗色的情况下，能够判断为所述偏光板不存在接着剂污迹。另外，关于所述检查源及光的传播的具体内容与所述偏光板的接着剂污迹检查装置中所述的内容相同，因此省略。
在一例示中，入射到所述偏光板的光会被反射。具体而言，透过所述偏光板的偏光件的光会被所述偏光板的接着剂层反射。通过使光被所述偏光板反射，能够检查偏光板的接着剂污迹。关于所述光反射的具体内容与所述偏光板的接着剂污迹检查装置中所述的内容相同，因此省略。
利用按照本申请案中一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置、不按照一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置、不按照另一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置、及不按照又一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置来检查偏光板的接着剂污迹。
根据本申请案中一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置以相对于偏光板为58°的入射角向沿第二方向
具有吸收轴的第一偏光部件入射点光源而使其线偏光，将线偏振光入射到偏光板的保护基材、包含光硬化性接着剂的接着剂层、及沿第一方向
具有吸收轴的偏光件。此后，所述偏光件以相对于偏光板为58°的反射角反射接收到的所述光。此后，将所述反射光入射到所述偏光板的接着剂层、保护基材、及沿第二方向
具有吸收轴的第二偏光部件而使其透过，由此通过检查源检查的光而检测出偏光板的接着剂污迹。图3是为了利用根据本申请案中一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置来检查偏光板的接着剂污迹，通过数码相机拍摄第二偏光部件得到的图像。如图3所示，红褐色较明显。也就是说，在利用根据本申请案中一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置来检查偏光板的接着剂污迹的情况下，能够以优异的视认性检查偏光板的接着剂污迹。
另外，不根据本申请案中一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置除不包含第一偏光部件以外，通过与所述一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置相同的方法来检查偏光板的接着剂污迹，然而，虽能检测出偏光板的接着剂污迹，但视认性较差。其原因在于：在光入射到偏光件的上部所包含的保护基材时，难以在准确的布鲁斯特角附近以外的角度去除p偏光。图4是为了利用不根据本申请案中一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置来检查偏光板的接着剂污迹，通过数码相机拍摄第二偏光部件得到的图像。
另外，不根据本申请案中另一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置除使第一偏光部件及第二偏光部件的吸收轴旋转90°以外，通过与所述一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置相同的方法来检查偏光板的接着剂污迹，然而，虽能检测出偏光板的接着剂污迹，但视认性较差。在透过所述第一偏光部件200而线偏光的光中，除未能透过所述偏光板300而被保护基材332反射的光以外，透过所述偏光板300的接着剂层322而被偏光件310反射的光能够被第二偏光部件400吸收，因此能够以优异的视认性在偏光板300的内部检查接着剂层322的接着剂污迹。
在透过第一偏光部件而线偏光的光入射到偏光件的上部所包含的保护基材时，在偏光件的上部所包含的保护基材的表面与大气之间的布鲁斯特角附近发生p偏光的表面反射，因此视认性较差。图5是为了利用不根据本申请案中另一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置来检查偏光板的接着剂污迹，通过数码相机拍摄第二偏光部件得到的图像。
另外，不根据本申请案中又一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置除使用面光源来代替点光源以外，通过与所述一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置相同的方法来检查偏光板的接着剂污迹，然而，面光源未检测出偏光板的接着剂污迹。也就是说，易于在光源的边界面检测接着剂污迹，因此点光源比面光源更有利。图6是为了利用不根据本申请案中又一实施例的偏光板的接着剂污迹检查装置来检查偏光板的接着剂污迹，通过数码相机拍摄第二偏光部件得到的图像。
[符号的说明]
100 点光源
200 第一偏光部件
300 偏光板
310 偏光件
321、322 接着剂层
331、332 保护基材
400 第二偏光部件
500 检查源
Claims (13)
1.一种偏光板的接着剂污迹检查装置，其包含：
点光源；
第一偏光部件，以从所述点光源接收光的方式配置；
偏光板，以接收透过所述第一偏光部件的光的方式配置，反射所述接收的光；
第二偏光部件，以接收从所述偏光板反射的光的方式配置；以及
检查源，以接收透过所述第二偏光部件的光的方式配置，基于透过所述第二偏光部件的光来判断所述偏光板的接着剂污迹；
所述偏光板依次包含偏光件、分别处于所述偏光件的上部与下部的包含光固化性接着剂的接着剂层、及保护基材，
透过所述第一偏光部件的光入射到所述偏光板的保护基材，所述点光源以布鲁斯特角(brewster angle)向所述偏光板入射光。
2.根据权利要求1所述的偏光板的接着剂污迹检查装置，其中，所述点光源朝向所述第一偏光部件发射非偏振光。
3.根据权利要求2所述的偏光板的接着剂污迹检查装置，其中，从所述点光源发射的光相对于所述偏光板的入射角为45°至75°。
4.根据权利要求1所述的偏光板的接着剂污迹检查装置，其中，所述第一偏光部件具有垂直于所述偏光板的偏光件的吸收轴。
5.根据权利要求1所述的偏光板的接着剂污迹检查装置，其中，所述偏光板为用于液晶显示装置的偏光板。
6.根据权利要求1所述的偏光板的接着剂污迹检查装置，其中，入射到所述偏光板的光在所述接着剂层反射。
7.根据权利要求1所述的偏光板的接着剂污迹检查装置，其中，所述光固化性接着剂包括具有固化状态的丙烯酸类聚合物的接着剂组合物。
8.根据权利要求1所述的偏光板的接着剂污迹检查装置，其中，所述接着剂层的折射率为1.45至1.50。
9.根据权利要求1所述的偏光板的接着剂污迹检查装置，其中，所述偏光件的折射率为1.5以上至1.6。
10.根据权利要求7所述的偏光板的接着剂污迹检查装置，其中，从所述偏光板反射出的光相对于所述偏光板的反射角为45°至75°。
11.根据权利要求1所述的偏光板的接着剂污迹检查装置，其中，所述第二偏光部件具有垂直于所述偏光板的偏光件的吸收轴。
12.一种偏光板的接着剂污迹检查方法，其是利用权利要求1所述的偏光板的接着剂污迹检查装置的方法，
所述方法包括：
从点光源发射光而使其依次透过第一偏光部件、偏光板、第二偏光部件的步骤；以及
基于透过所述第二偏光部件而入射到所述检查源的光来判断所述偏光板的接着剂污迹的步骤。
13.根据权利要求12所述的偏光板的接着剂污迹检查方法，其中，入射到所述偏光板的光会被反射。
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