CN111579964A

CN111579964A - 一种带限位结构的芯片测试装置

Info

Publication number: CN111579964A
Application number: CN202010417242.6A
Authority: CN
Inventors: 孙文檠
Original assignee: Ma'anshan Xinhai Technology Co ltd
Current assignee: Ma'anshan Xinhai Technology Co ltd
Priority date: 2020-05-18
Filing date: 2020-05-18
Publication date: 2020-08-25

Abstract

本发明公开的一种带限位结构的芯片测试装置，包括底板，所述底板的顶部设有第一支撑板，所述第一支撑板的底部与底板的顶部固定连接，所述底板的上方设有顶板，所述顶板的一侧与第一支撑板的一侧固定连接，所述顶板的底部设有芯片测试探针，所述芯片测试探针与第一支撑板之间设有调节组件，所述底板的底部固定连接有若干支撑腿，所述支撑腿的底部固定连接有固定板，所述底板和芯片测试探针之间设有测试板，所述测试板与底板之间设有升降组件，所述测试板上设有限位机构。本发明所述的一种带限位结构的芯片测试装置，芯片测试探针可以探到芯片上不同位置的测试点，提高了测试范围，操作简单，便于实际使用。

Description

一种带限位结构的芯片测试装置

技术领域

本发明涉及芯片测试设备技术领域，特别涉及一种带限位结构的芯片测试装置。

背景技术

芯片封装不但为芯片提供隔离周围环境的保护，更进一步为芯片提供一个连接界面。芯片的封装方式比较常见的有以下三种方式：QFN、BGA和LQFP。封装后的芯片需要用Handler（处理器）来对芯片进行测试，同种型号的Handler（处理器）可以测试不同封装形式的芯片。芯片是一种将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路，集成电路芯片的测试分类包括：晶圆测试、芯片测试和封装测试，芯片测试是在晶圆经过切割、减薄工序，成为一片片独立的片之后的测试，其一般是将芯片放在测试平台上，用探针探到芯片中事先确定的测试点，探针上可以通过直流电流和交流信号，可以对其进行各种电气参数测试，然而，现有的芯片测试装置一般不具备限位机构，而部分有限位机构的测试装置，也不便于快速固定芯片，以及便捷的完成芯片位置的调节，不便于实际操作。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种带限位结构的芯片测试装置，可以有效解决背景技术中问题。

为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：

一种带限位结构的芯片测试装置，包括底板，所述底板的顶部设有第一支撑板，所述第一支撑板的底部与底板的顶部固定连接，所述底板的上方设有顶板，所述顶板的一侧与第一支撑板的一侧固定连接，所述顶板的底部设有芯片测试探针，所述芯片测试探针与第一支撑板之间设有调节组件，所述底板的底部固定连接有若干支撑腿，所述支撑腿的底部固定连接有固定板，所述底板和芯片测试探针之间设有测试板，所述测试板与底板之间设有升降组件，所述测试板上设有限位机构，所述限位机构包括开设于测试板顶部的凹槽，所述凹槽内设有滑板，所述凹槽内设有与滑板相配合的驱动组件，所述滑板的顶部固定连接有两个第二支撑板，两个所述第二支撑板相靠近的一侧均设有夹板，所述夹板与第二支撑板通过若干弹簧连接。

优选的，所述调节组件包括开设于第一支撑板一侧的第一螺纹孔，所述第一螺纹孔内设有第一丝杆，所述第一支撑板远离芯片测试探针的一侧设有旋转块，所述第一丝杆的一端与旋转块固定连接，所述第一丝杆的另一端与芯片测试探针通过第一轴承连接，所述顶板的底部开设有第一滑槽，所述第一滑槽内设有第一滑块，所述第一滑块的底部与芯片测试探针的顶部固定连接。

优选的，所述第一滑槽和第一滑块的横截面均为T形结构，所述旋转块的底部固定连接有第一握把。

优选的，所述升降组件包括开设于底板顶部的第二螺纹孔，所述第二螺纹孔内设有第二丝杆，所述第二丝杆的顶部与测试板的底部通过第二轴承连接，所述第二丝杆的底部与位于底板下方的第一转盘固定连接，所述底板的顶部固定连接有两个套管，所述套管内设有限位杆，所述限位杆的顶端延伸至套管的外部，且所述限位杆的顶部与测试板的底部固定连接。

优选的，所述第一转盘的一侧固定连接有第二握把。

优选的，所述驱动组件包括开设于滑板一侧的第三螺纹孔，所述第三螺纹孔内设有第三丝杆，所述第三丝杆的一端与凹槽的一侧内壁通过第三轴承连接，所述第三丝杆的另一端与位于测试板一侧的第二转盘固定连接。

优选的，所述凹槽的底部内壁开设有第二滑槽，所述第二滑槽内设有第二滑块，所述第二滑块的顶部与滑板的底部固定连接，所述第二转盘远离测试板的一侧固定连接有手柄。

优选的，所述滑板的顶部开设有第三滑槽，所述第三滑槽内设有第三滑块，所述第三滑块的顶部与夹板的底部固定连接，所述第三滑槽和第三滑块的横截面均为T形结构。

优选的，两个所述夹板相靠近的一侧均固定连接有防滑垫。

与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：

针对现有存在的弊端，通过设置底板、第一支撑板和升降组件的配合作用，可以自由调节测试板的高度，进而便于调节位于两个夹板之间芯片的高度，便于对芯片进行测试，通过设置第一支撑板、顶板、芯片测试探针和调节组件的配合作用，可以左右调节芯片测试探针的位置，通过设置测试板、凹槽、滑板、第二支撑板、夹板、弹簧和驱动组件的配合作用，可以前后调节滑板的位置，当两个夹板之间固定芯片时，芯片可以前后位置调节，进而芯片测试探针可以探到芯片上不同位置的测试点，提高了测试范围，操作简单，便于实际使用，通过设置第三滑槽和第三滑块的配合作用，使得夹板平稳的移动，避免夹板倾斜晃动，便于对芯片的夹持固定，通过设置的防滑垫，减少芯片相对夹板滑动的可能，进一步的使得芯片较为稳定的固定在两个夹板之间。

附图说明

图1为本发明一种带限位结构的芯片测试装置的整体结构示意图；

图2为本发明一种带限位结构的芯片测试装置调节组件的结构示意图；

图3为本发明一种带限位结构的芯片测试装置升降组件的结构示意图；

图4为本发明一种带限位结构的芯片测试装置限位机构的结构示意图；

图5为图4中A处的局部放大示意图。

图中：1、底板；2、第一支撑板；3、顶板；4、芯片测试探针；5、支撑腿；6、固定板；7、测试板；8、凹槽；9、滑板；10、第二支撑板；11、夹板；12、第一螺纹孔；13、第一丝杆；14、第一滑槽；15、第一滑块；16、第一轴承；17、旋转块；18、第一握把；19、第二螺纹孔；20、第二丝杆；21、第二轴承；22、第一转盘；23、第二握把；24、套管；25、限位杆；26、第三螺纹孔；27、第三丝杆；28、第三轴承；29、第二转盘；30、手柄；31、第二滑槽；32、第二滑块；33、弹簧；34、第三滑槽；35、第三滑块；36、防滑垫。

具体实施方式

为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

如图1-5所示，一种带限位结构的芯片测试装置，包括底板1，底板1的顶部设有第一支撑板2，第一支撑板2的底部与底板1的顶部固定连接，底板1的上方设有顶板3，顶板3的一侧与第一支撑板2的一侧固定连接，顶板3的底部设有芯片测试探针4，芯片测试探针4与第一支撑板2之间设有调节组件，底板1的底部固定连接有若干支撑腿5，支撑腿5的底部固定连接有固定板6，底板1和芯片测试探针4之间设有测试板7，测试板7与底板1之间设有升降组件，测试板7上设有限位机构，限位机构包括开设于测试板7顶部的凹槽8，凹槽8内设有滑板9，凹槽8内设有与滑板9相配合的驱动组件，滑板9的顶部固定连接有两个第二支撑板10，两个第二支撑板10相靠近的一侧均设有夹板11，夹板11与第二支撑板10通过若干弹簧33连接；

调节组件包括开设于第一支撑板2一侧的第一螺纹孔12，第一螺纹孔12内设有第一丝杆13，第一支撑板2远离芯片测试探针4的一侧设有旋转块17，第一丝杆13的一端与旋转块17固定连接，第一丝杆13的另一端与芯片测试探针4通过第一轴承16连接，顶板3的底部开设有第一滑槽14，第一滑槽14内设有第一滑块15，第一滑块15的底部与芯片测试探针4的顶部固定连接，通过转动第一丝杆13，通过第一丝杆13和第一螺纹孔12的配合，改变第一丝杆13的位置，进而通过第一丝杆13驱动芯片测试探针4移动，芯片测试探针4移动时，第一滑块15在第一滑槽14内滑动，通过第一滑槽14和第一滑块15的配合，使得芯片测试探针4平稳的移动，进而左右调节芯片测试探针4的位置，芯片测试探针4可以探到芯片上不同位置的测试点，通过设置第一支撑板2、顶板3、芯片测试探针4和调节组件的配合作用，可以左右调节芯片测试探针4的位置；第一滑槽14和第一滑块15的横截面均为T形结构，旋转块17的底部固定连接有第一握把18，通过第一握把18便于驱动旋转块17转动；升降组件包括开设于底板1顶部的第二螺纹孔19，第二螺纹孔19内设有第二丝杆20，第二丝杆20的顶部与测试板7的底部通过第二轴承21连接，第二丝杆20的底部与位于底板1下方的第一转盘22固定连接，底板1的顶部固定连接有两个套管24，套管24内设有限位杆25，限位杆25的顶端延伸至套管24的外部，且限位杆25的顶部与测试板7的底部固定连接，转动第一转盘22，通过第二丝杆20和第二螺纹孔19的配合，改变第二丝杆20的高度，同时限位杆25可以在套管24内滑动，通过套管24和限位杆25的配合，使得测试板7可以平稳的升降，进而第二丝杆20转动时，第二丝杆20驱动测试板7上下移动，改变测试板7的高度，从而调节待测试的芯片的高度，便于对芯片进行测试，通过设置底板1、第一支撑板2和升降组件的配合作用，可以自由调节测试板7的高度，进而便于调节位于两个夹板11之间芯片的高度，便于对芯片进行测试；第一转盘22的一侧固定连接有第二握把23，便于驱动第一转盘22转动；驱动组件包括开设于滑板9一侧的第三螺纹孔26，第三螺纹孔26内设有第三丝杆27，第三丝杆27的一端与凹槽8的一侧内壁通过第三轴承28连接，第三丝杆27的另一端与位于测试板7一侧的第二转盘29固定连接；凹槽8的底部内壁开设有第二滑槽31，第二滑槽31内设有第二滑块32，第二滑块32的顶部与滑板9的底部固定连接，第二转盘29远离测试板7的一侧固定连接有手柄30，通过转动第二转盘29，进而第三丝杆27转动，且滑板9移动时，第二滑块32在第二滑槽31内移动，通过第二滑块32和第二滑槽31的配合，使得滑板9平稳的移动，进而第三丝杆27转动时，滑板9在凹槽8内移动，可以前后调节滑板9的位置，进而使得芯片可以前后位置调节，通过设置测试板7、凹槽8、滑板9、第二支撑板10、夹板11、弹簧33和驱动组件的配合作用，可以前后调节滑板9的位置，当两个夹板11之间固定芯片时，芯片可以前后位置调节，进而芯片测试探针4可以探到芯片上不同位置的测试点，提高了测试范围，操作简单，便于实际使用；滑板9的顶部开设有第三滑槽34，第三滑槽34内设有第三滑块35，第三滑块35的顶部与夹板11的底部固定连接，第三滑槽34和第三滑块35的横截面均为T形结构，通过设置第三滑槽34和第三滑块35的配合作用，使得夹板11平稳的移动，避免夹板11倾斜晃动，便于对芯片的夹持固定；两个夹板11相靠近的一侧均固定连接有防滑垫36，通过设置的防滑垫36，减少芯片相对夹板11滑动的可能，进一步的使得芯片较为稳定的固定在两个夹板11之间。

需要说明的是，本发明为一种带限位结构的芯片测试装置，在使用时，驱动两个夹板11相远离运动，弹簧33处于压缩状态，进而把芯片放置于两个夹板11之间，通过弹簧33的弹力，对芯片进行固定，夹板11移动时，第三滑块35在第三滑槽34内移动，通过设置第三滑槽34和第三滑块35的配合作用，使得夹板11平稳的移动，避免夹板11倾斜晃动，便于对芯片的夹持固定，通过设置的防滑垫36，减少芯片相对夹板11滑动的可能，进一步的使得芯片较为稳定的固定在两个夹板11之间，通过转动第二转盘29，进而第三丝杆27转动，且滑板9移动时，第二滑块32在第二滑槽31内移动，通过第二滑块32和第二滑槽31的配合，使得滑板9平稳的移动，进而第三丝杆27转动时，滑板9在凹槽8内移动，可以前后调节滑板9的位置，进而使得芯片可以前后位置调节，通过转动第一丝杆13，通过第一丝杆13和第一螺纹孔12的配合，改变第一丝杆13的位置，进而通过第一丝杆13驱动芯片测试探针4移动，芯片测试探针4移动时，第一滑块15在第一滑槽14内滑动，通过第一滑槽14和第一滑块15的配合，使得芯片测试探针4平稳的移动，进而左右调节芯片测试探针4的位置，芯片测试探针4可以探到芯片上不同位置的测试点，芯片测试探针4可对待测试的芯片进行检测，芯片测试探针4为现有技术，芯片测试探针4可探到待测试的芯片中事先确定的测试点，芯片测试探针4上可以通过直流电流和交流信号，可以对待测试的芯片进行各种电气参数测试，提高了测试范围，操作简单，便于实际使用，转动第一转盘22，通过第二丝杆20和第二螺纹孔19的配合，改变第二丝杆20的高度，同时限位杆25可以在套管24内滑动，通过套管24和限位杆25的配合，使得测试板7可以平稳的升降，进而第二丝杆20转动时，第二丝杆20驱动测试板7上下移动，改变测试板7的高度，从而调节待测试的芯片的高度，便于对芯片进行测试。

以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims

1.一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：包括底板（1），所述底板（1）的顶部设有第一支撑板（2），所述第一支撑板（2）的底部与底板（1）的顶部固定连接，所述底板（1）的上方设有顶板（3），所述顶板（3）的一侧与第一支撑板（2）的一侧固定连接，所述顶板（3）的底部设有芯片测试探针（4），所述芯片测试探针（4）与第一支撑板（2）之间设有调节组件，所述底板（1）的底部固定连接有若干支撑腿（5），所述支撑腿（5）的底部固定连接有固定板（6），所述底板（1）和芯片测试探针（4）之间设有测试板（7），所述测试板（7）与底板（1）之间设有升降组件，所述测试板（7）上设有限位机构，所述限位机构包括开设于测试板（7）顶部的凹槽（8），所述凹槽（8）内设有滑板（9），所述凹槽（8）内设有与滑板（9）相配合的驱动组件，所述滑板（9）的顶部固定连接有两个第二支撑板（10），两个所述第二支撑板（10）相靠近的一侧均设有夹板（11），所述夹板（11）与第二支撑板（10）通过若干弹簧（33）连接。

2.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述调节组件包括开设于第一支撑板（2）一侧的第一螺纹孔（12），所述第一螺纹孔（12）内设有第一丝杆（13），所述第一支撑板（2）远离芯片测试探针（4）的一侧设有旋转块（17），所述第一丝杆（13）的一端与旋转块（17）固定连接，所述第一丝杆（13）的另一端与芯片测试探针（4）通过第一轴承（16）连接，所述顶板（3）的底部开设有第一滑槽（14），所述第一滑槽（14）内设有第一滑块（15），所述第一滑块（15）的底部与芯片测试探针（4）的顶部固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述第一滑槽（14）和第一滑块（15）的横截面均为T形结构，所述旋转块（17）的底部固定连接有第一握把（18）。

4.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述升降组件包括开设于底板（1）顶部的第二螺纹孔（19），所述第二螺纹孔（19）内设有第二丝杆（20），所述第二丝杆（20）的顶部与测试板（7）的底部通过第二轴承（21）连接，所述第二丝杆（20）的底部与位于底板（1）下方的第一转盘（22）固定连接，所述底板（1）的顶部固定连接有两个套管（24），所述套管（24）内设有限位杆（25），所述限位杆（25）的顶端延伸至套管（24）的外部，且所述限位杆（25）的顶部与测试板（7）的底部固定连接。

5.根据权利要求4所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述第一转盘（22）的一侧固定连接有第二握把（23）。

6.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述驱动组件包括开设于滑板（9）一侧的第三螺纹孔（26），所述第三螺纹孔（26）内设有第三丝杆（27），所述第三丝杆（27）的一端与凹槽（8）的一侧内壁通过第三轴承（28）连接，所述第三丝杆（27）的另一端与位于测试板（7）一侧的第二转盘（29）固定连接。

7.根据权利要求6所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述凹槽（8）的底部内壁开设有第二滑槽（31），所述第二滑槽（31）内设有第二滑块（32），所述第二滑块（32）的顶部与滑板（9）的底部固定连接，所述第二转盘（29）远离测试板（7）的一侧固定连接有手柄（30）。

8.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述滑板（9）的顶部开设有第三滑槽（34），所述第三滑槽（34）内设有第三滑块（35），所述第三滑块（35）的顶部与夹板（11）的底部固定连接，所述第三滑槽（34）和第三滑块（35）的横截面均为T形结构。

9.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：两个所述夹板（11）相靠近的一侧均固定连接有防滑垫（36）。