CN215575493U - 一种基于芯片测试设备的定位机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种基于芯片测试设备的定位机构，属于芯片测试技术领域，其技术方案要点包括测试装置主体，所述测试装置主体的顶部固定连接有操作台，所述操作台的前侧活动连接有支撑板，所述支撑板的前侧活动连接有活动板，所述操作台和活动板相反的一侧均设置有定位机构；所述定位机构包括两个固定板、转杆、夹板和缓冲垫，所述固定板靠近活动板和操作台的一侧均与活动板和操作台固定连接，解决了现有的芯片测试多为对芯片直接放置，在检测时容易出现晃动的情况，从而影响测试数值，且同时测试芯片的大小不同，缺少一种夹持装置能达到对芯片进行固定且方便调节的目的，从而增加使用者操作难度的问题。

Description

一种基于芯片测试设备的定位机构

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种基于芯片测试设备的定位机构。

背景技术

晶体管发明并大量生产之后，各式固态半导体组件如二极管、晶体管等大量使用，取代了真空管在电路中的功能与角色，相对于手工组装电路使用个别的分立电子组件，集成电路可以把很大数量的微晶体管集成到一个小芯片，是一个巨大的进步，集成电路的规模生产能力，可靠性，电路设计的模块化方法确保了快速采用标准化集成电路代替了设计使用离散晶体管，设计初期系统级芯片测试，芯片测试的基础是深亚微米工艺，因此，对器件的测试需要采用全新的方法，由于每个功能元件都有其自身的测试要求，设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。

芯片测试设备是对芯片电路检测的常见装置，现有的技术问题是：现有的芯片测试多为对芯片直接放置，在检测时容易出现晃动的情况，从而影响测试数值，且同时测试芯片的大小不同，缺少一种夹持装置能达到对芯片进行固定且方便调节的目的，从而增加使用者操作难度的问题。

实用新型内容

本实用新型提供一种基于芯片测试设备的定位机构，旨在解决现有的芯片测试多为对芯片直接放置，在检测时容易出现晃动的情况，从而影响测试数值，且同时测试芯片的大小不同，缺少一种夹持装置能达到对芯片进行固定且方便调节的目的，从而增加使用者操作难度的问题。

本实用新型是这样实现的，一种基于芯片测试设备的定位机构，包括测试装置主体，所述测试装置主体的顶部固定连接有操作台，所述操作台的前侧活动连接有支撑板，所述支撑板的前侧活动连接有活动板，所述操作台和活动板相反的一侧均设置有定位机构；

所述定位机构包括两个固定板、转杆、夹板和缓冲垫，所述固定板靠近活动板和操作台的一侧均与活动板和操作台固定连接，所述转杆靠近固定板的一侧与固定板接触，所述夹板的后侧与转杆的前侧活动连接，所述缓冲垫的顶部与夹板的底部固定连接。

为了达到使夹板可以左右移动的效果，作为本实用新型的一种基于芯片测试设备的定位机构优选的，所述转杆的表面开设有滑槽，所述滑槽的内腔活动连接有滑块，所述滑块靠近夹板的一侧与夹板固定连接。

为了达到对转杆与固定板之间连接的效果，作为本实用新型的一种基于芯片测试设备的定位机构优选的，所述转杆的左侧和右侧均开设有凹槽，所述凹槽的内腔活动连接有转轴，所述转轴靠近固定板的一侧与固定板的内壁活动连接。

为了达到对转杆进行复位的效果，作为本实用新型的一种基于芯片测试设备的定位机构优选的，所述转轴的表面套设有扭力弹簧，所述扭力弹簧靠近固定板的一侧与固定板固定连接，所述扭力弹簧靠近凹槽内壁的一侧与凹槽内壁固定连接。

为了达到对活动板和操作台连接的效果，作为本实用新型的一种基于芯片测试设备的定位机构优选的，所述活动板的后侧固定连接有两个伸缩杆，所述操作台底部的左侧和右侧均开设有与伸缩杆配合使用的活动槽。

为了达到对伸缩杆限位的效果，作为本实用新型的一种基于芯片测试设备的定位机构优选的，所述支撑板的底部固定连接有两个限位杆，所述伸缩杆的顶部开设有与限位杆配合使用的若干限位孔。

为了达到对支撑板与芯片测试设备进行连接卡紧的效果，作为本实用新型的一种基于芯片测试设备的定位机构优选的，所述支撑板底部的左侧和右侧均固定连接有摩擦垫，所述测试装置主体的顶部开设有与摩擦垫配合使用的摩擦槽。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

该基于芯片测试设备的定位机构，通过设置定位机构，能够使使用者将测试芯片放至操作台，使用者根据芯片的大小和长度，拉动支撑板，支撑板带动限位杆脱离限位孔，摩擦垫脱离摩擦槽，拉动活动板，活动板带动伸缩杆在活动槽内移动，调节完成后，限位杆卡入限位孔中，摩擦垫卡入摩擦槽中，旋转转杆，转杆带动扭力弹簧受力形变，转杆带动夹板旋转，根据测试芯片大小对夹板位置进行调节，从而带动滑块在滑槽中移动，松开夹板，扭力弹簧受力形变带动夹板复位，与测试芯片进行夹持，从而达到了对测试芯片定位的效果，且同时针对不同型号的芯片对夹板进行调节的作用，缓冲垫减少夹板与测试芯片的夹持度，减少磨损从而不会造成测试芯片损坏。

附图说明

图1为本实用新型的基于芯片测试设备的定位机构的整体结构图；

图2为本实用新型中局部结构的立体示意图；

图3为本实用新型中限位杆、限位孔和伸缩杆的立体示意图；

图4为本实用新型中定位机构的立体示意图；

图5为本实用新型中摩擦垫和摩擦槽的立体示意图；

图6为本实用新型中局部结构的主视剖视图。

图中，1、测试装置主体；2、操作台；3、支撑板；4、活动板；5、定位机构；501、固定板；502、转杆；503、夹板；504、缓冲垫；6、滑槽；7、滑块；8、凹槽；9、转轴；10、扭力弹簧；11、伸缩杆；12、活动槽；13、限位杆；14、限位孔；15、摩擦垫；16、摩擦槽。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

请参阅图1-6，本实用新型提供技术方案：一种基于芯片测试设备的定位机构5，包括测试装置主体1，测试装置主体1的顶部固定连接有操作台2，操作台2的前侧活动连接有支撑板3，支撑板3的前侧活动连接有活动板4，操作台2和活动板4相反的一侧均设置有定位机构5；

定位机构5包括两个固定板501、转杆502、夹板503和缓冲垫504，固定板501靠近活动板4和操作台2的一侧均与活动板4和操作台2固定连接，转杆502靠近固定板501的一侧与固定板501接触，夹板503的后侧与转杆502的前侧活动连接，缓冲垫504的顶部与夹板503的底部固定连接。

在本实施例中：通过设置定位机构5，能够使使用者将测试芯片放至操作台2，使用者根据芯片的大小和长度，拉动支撑板3，支撑板3带动限位杆13脱离限位孔14，摩擦垫15脱离摩擦槽16，拉动活动板4，活动板4带动伸缩杆11在活动槽12内移动，调节完成后，限位杆13卡入限位孔14中，摩擦垫15卡入摩擦槽16中，旋转转杆502，转杆502带动扭力弹簧10受力形变，转杆502带动夹板503旋转，根据测试芯片大小对夹板503位置进行调节，从而带动滑块7在滑槽6中移动，松开夹板503，扭力弹簧10受力形变带动夹板503复位，与测试芯片进行夹持，从而达到了对测试芯片定位的效果，且同时针对不同型号的芯片对夹板503进行调节的作用，缓冲垫504减少夹板503与测试芯片的夹持度，减少磨损从而不会造成测试芯片损坏。

作为本实用新型的技术优化方案，转杆502的表面开设有滑槽6，滑槽6的内腔活动连接有滑块7，滑块7靠近夹板503的一侧与夹板503固定连接。

在本实施例中：通过设置滑块7和滑槽6的配合使用，能够使夹板503带动滑块7在滑槽6中移动，起到了增加夹板503左右移动的效果，针对不同测试芯片大小进行调节的效果。

作为本实用新型的技术优化方案，转杆502的左侧和右侧均开设有凹槽8，凹槽8的内腔活动连接有转轴9，转轴9靠近固定板501的一侧与固定板501的内壁活动连接。

在本实施例中：通过设置转轴9和凹槽8的配合使用，起到了增加转杆502和固定板501之间的连接效果，同时增加旋转的效果，方便测试芯片的取放。

作为本实用新型的技术优化方案，转轴9的表面套设有扭力弹簧10，扭力弹簧10靠近固定板501的一侧与固定板501固定连接，扭力弹簧10靠近凹槽8内壁的一侧与凹槽8内壁固定连接。

在本实施例中：通过设置扭力弹簧10，起到了扭力弹簧10在不受力形变的时候，对转杆502和夹板503的复位效果，防止夹板503与测试芯片分离的情况。

作为本实用新型的技术优化方案，活动板4的后侧固定连接有两个伸缩杆11，操作台2底部的左侧和右侧均开设有与伸缩杆11配合使用的活动槽12。

在本实施例中：通过设置活动槽12和伸缩杆11的配合使用，起到了真多不同大小的测试芯片，拉动活动板4，带动伸缩杆11在活动槽12中移动，增加了支撑面积。

作为本实用新型的技术优化方案，支撑板3的底部固定连接有两个限位杆13，伸缩杆11的顶部开设有与限位杆13配合使用的若干限位孔14。

在本实施例中：通过设置限位孔14和限位杆13的配合使用，起到了对伸缩杆11的定位效果，防止伸缩杆11和活动板4前后移动的情况。

作为本实用新型的技术优化方案，支撑板3底部的左侧和右侧均固定连接有摩擦垫15，测试装置主体1的顶部开设有与摩擦垫15配合使用的摩擦槽16。

在本实施例中：通过设置摩擦垫15和摩擦槽16的配合使用，起到了对支撑板3与测试装置主体1表面连接和卡紧的效果。

工作原理：首先，使用者将测试芯片放至操作台2，使用者根据芯片的大小和长度，拉动支撑板3，支撑板3带动限位杆13脱离限位孔14，摩擦垫15脱离摩擦槽16，拉动活动板4，活动板4带动伸缩杆11在活动槽12内移动，调节完成后，限位杆13卡入限位孔14中，摩擦垫15卡入摩擦槽16中，旋转转杆502，转杆502带动扭力弹簧10受力形变，转杆502带动夹板503旋转，根据测试芯片大小对夹板503位置进行调节，从而带动滑块7在滑槽6中移动，松开夹板503，扭力弹簧10受力形变带动夹板503复位，与测试芯片进行夹持，从而达到了对测试芯片定位的效果，且同时针对不同型号的芯片对夹板503进行调节的作用，缓冲垫504减少夹板503与测试芯片的夹持度，减少磨损从而不会造成测试芯片损坏。

以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种基于芯片测试设备的定位机构，包括测试装置主体(1)，其特征在于：所述测试装置主体(1)的顶部固定连接有操作台(2)，所述操作台(2)的前侧活动连接有支撑板(3)，所述支撑板(3)的前侧活动连接有活动板(4)，所述操作台(2)和活动板(4)相反的一侧均设置有定位机构(5)；

所述定位机构(5)包括两个固定板(501)、转杆(502)、夹板(503)和缓冲垫(504)，所述固定板(501)靠近活动板(4)和操作台(2)的一侧均与活动板(4)和操作台(2)固定连接，所述转杆(502)靠近固定板(501)的一侧与固定板(501)接触，所述夹板(503)的后侧与转杆(502)的前侧活动连接，所述缓冲垫(504)的顶部与夹板(503)的底部固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种基于芯片测试设备的定位机构，其特征在于：所述转杆(502)的表面开设有滑槽(6)，所述滑槽(6)的内腔活动连接有滑块(7)，所述滑块(7)靠近夹板(503)的一侧与夹板(503)固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种基于芯片测试设备的定位机构，其特征在于：所述转杆(502)的左侧和右侧均开设有凹槽(8)，所述凹槽(8)的内腔活动连接有转轴(9)，所述转轴(9)靠近固定板(501)的一侧与固定板(501)的内壁活动连接。

4.根据权利要求3所述的一种基于芯片测试设备的定位机构，其特征在于：所述转轴(9)的表面套设有扭力弹簧(10)，所述扭力弹簧(10)靠近固定板(501)的一侧与固定板(501)固定连接，所述扭力弹簧(10)靠近凹槽(8)内壁的一侧与凹槽(8)内壁固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种基于芯片测试设备的定位机构，其特征在于：所述活动板(4)的后侧固定连接有两个伸缩杆(11)，所述操作台(2)底部的左侧和右侧均开设有与伸缩杆(11)配合使用的活动槽(12)。

6.根据权利要求5所述的一种基于芯片测试设备的定位机构，其特征在于：所述支撑板(3)的底部固定连接有两个限位杆(13)，所述伸缩杆(11)的顶部开设有与限位杆(13)配合使用的若干限位孔(14)。

7.根据权利要求1所述的一种基于芯片测试设备的定位机构，其特征在于：所述支撑板(3)底部的左侧和右侧均固定连接有摩擦垫(15)，所述测试装置主体(1)的顶部开设有与摩擦垫(15)配合使用的摩擦槽(16)。

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