CN219715506U - 一种集成电路测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电路测试治具技术领域，包括上盖板和下盖板，其中，上盖板和下盖板之间转动连接，上盖板底部设有多个呈圆锥形状用于下压电路板的探针，下盖板中部设有在探针下压时起到缓冲作用的缓冲装置，缓冲装置由缓冲板和第一弹簧组成，缓冲板上端开设有配合电路板的卡槽,该集成电路测试治具中，在对电路板进行测试时，通过将电路板卡接在缓冲板上端的卡槽中，然后将上盖板向下释放，使得上盖板下方的探针与电路板接触，由于探针较为脆弱，因此，在下压过程中缓冲板向下移动，使得第一弹簧压缩，从而通过第一弹簧起到缓冲作用，防止探针因过度下压对探针造成损坏。

Description

一种集成电路测试治具

技术领域

本实用新型涉及电路测试治具技术领域，更确切地说涉及一种集成电路测试治具。

背景技术

治具可以分为工艺装配类治具、项目测试类治具和线路板测试类治具三类，在高精度集成电路制作的过程中，需要对高精度集成电路进行测试，确保每一块高精度集成电路制作完成是可以正常使用的。

针对电路测试治具来说，现有技术就有很多，例如：

中国专利公开号CN214409211U公开了一种高精度集成电路测试用治具，包括底板；所述底板顶部的一侧固定安装有支撑框架，所述支撑框架内顶部固定安装有上夹持机构，所述上夹持机构内底部滑动安装有检测机构，所述上夹持机构顶部的四角处固定安装有固定机构，所述底板顶部位于上夹持机构的下方固定安装有下夹持机构；本实用新型设有下夹持机构，在上夹持机构下压集成电路板时，通过缓冲弹簧对上夹持机构的下压进行缓冲，通过控制机构设定缓冲板的底部压在压力传感器顶部时的极限压力值，当上夹持机构的持续下压导致缓冲板的底部压在压力传感器顶部的压力值达到设定值时，通过控制机构自动控制伸缩杆停止伸出，避免探针持续下压集成电路板导致探针的变形损坏。

由此可知，现有的高精度集成电路测试用治具在通过探针压在集成电路板上时，不能精准地控制探针下压的程度，而且由于探针较为脆弱，在下压与继承电路板接触时容易造成探针的变形损坏。

鉴于此，本实用新型提供了一种集成电路测试治具。

实用新型内容

本实用新型之目的在于解决上述缺点，并提供一种能够在测试时对探针起到保护作用的集成电路测试治具。

在对电路板进行测试时，通过将电路板卡接在缓冲板上端的卡槽中，然后将上盖板向下释放，使得上盖板下方的探针与电路板接触，由于探针较为脆弱，因此，在下压过程中缓冲板向下移动，使得第一弹簧压缩，从而通过第一弹簧起到缓冲作用，防止探针因过度下压对探针造成损坏。

因此本实用新型提供了一种集成电路测试治具，其包括上盖板和下盖板，其中，上盖板和下盖板之间转动连接，所述上盖板底部设有多个呈圆锥形状用于下压电路板的探针，所述下盖板中部设有在探针下压时起到缓冲作用的缓冲装置，所述缓冲装置由缓冲板和第一弹簧组成，所述缓冲板上端开设有配合电路板的卡槽。

作为本技术方案的进一步改进，所述上盖板和下盖板之间通过插销转动连接，所述上盖板底部的探针固定连接在配合板上。

作为本技术方案的进一步改进，所述缓冲板两端均设有凸出的支撑块，所述支撑块底部对称设有第一弹簧，所述第一弹簧和支撑块固定连接。

作为本技术方案的进一步改进，所述缓冲板两端对称设有滑块，所述滑块一侧设有与滑块贴合的限位块，所述限位块一侧开设有滑槽，所述限位块另一侧固定连接第二弹簧。

作为本技术方案的进一步改进，所述下盖板中部设有贯穿的螺杆，所述螺杆穿过上盖板固定连接底部配合板，所述上盖板一侧插销穿过上盖板开设的通孔。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：

该集成电路测试治具中，在对电路板进行测试时，通过将电路板卡接在缓冲板上端的卡槽中，然后将上盖板向下释放，使得上盖板下方的探针与电路板接触，由于探针较为脆弱，因此，在下压过程中缓冲板向下移动，使得第一弹簧压缩，从而通过第一弹簧起到缓冲作用，防止探针因过度下压对探针造成损坏。

附图说明

下面，参考附图，以示例的方式更详细地描述本实用新型，附图中：

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的上盖板和下盖板开合结构示意图；

图3为本实用新型的缓冲装置结构示意图；

图4为本实用新型的限位板结构示意图；

图5为本实用新型的上盖板剖切结构示意图；

图中各个标号意义为：

100、上盖板；101、下盖板；102、插销；103、配合板；104、探针；

200、缓冲装置；201、缓冲板；202、第一弹簧；203、支撑块；204、卡槽；

300、第二弹簧；301、限位板；302、滑槽；303、滑块；

400、螺杆；401、通孔。

具体实施方式

现有的高精度集成电路测试用治具在通过探针压在集成电路板上时，不能精准地控制探针下压的程度，而且由于探针较为脆弱，在下压与继承电路板接触时容易造成探针的变形损坏。

如图1-5所示，该装置包括上盖板100和下盖板101，其中，上盖板100和下盖板101之间转动连接，上盖板100底部设有多个呈圆锥形状用于下压电路板的探针104，在对电路板进行测试时，通过将电路板放置在缓冲板201上的卡槽204中，将电路板卡接，在下盖板101中部设有在探针104下压时起到缓冲作用的缓冲装置200，缓冲装置200由缓冲板201和第一弹簧202组成，然后，再释放上盖板100，使得上盖板100下方的探针104与电路板接触，由于探针104较为脆弱，因此，在下压过程中缓冲板201向下移动，使得第一弹簧202压缩，从而通过第一弹簧202起到缓冲作用，防止探针104因过度下压对探针104造成损坏。

优选的，为了便于测试电路板，将电路板与探针104接触，所以，在上盖板100和下盖板101之间通过插销102转动连接，上盖板100底部的探针104固定连接在配合板103上。

其次，缓冲板201两端均设有凸出的支撑块203，且支撑块203底部对称设有第一弹簧202，第一弹簧202和支撑块203固定连接，当探针104下压电路板时，探针104与电路板接触向下推动缓冲板201，同时，第一弹簧202向下压缩起到缓冲作用，从而避免探针104下压过度，对探针104造成损伤。

进一步的，缓冲板201两端对称设有滑块303，滑块303一侧设有与滑块303贴合的限位板301，且限位板301一侧开设有滑槽302，限位板301另一侧固定连接第二弹簧300，其目的在于：限制缓冲板201的左右移动吗，对缓冲板201前后移动时通过缓冲装置200保持整体的稳定。

除此之外，考虑到在上盖板100和下盖板101转动过程中需要先调节探针104对电路板的下压程度，因此，在下盖板101中部设有贯穿的螺杆400，且螺杆400穿过上盖板100固定连接底部配合板103，上盖板100一侧插销102穿过上盖板100开设的通孔401，以此控制探针104的下压距离，从而对电路板和探针104起到保护作用。

综上所示，本方案的工作原理如下：首先，将电路板放置在缓冲板201上方开设的卡槽204中，然后，通过旋转螺杆400调节探针104与电路板的下压距离，接着，以插销102为转动轴转动上盖板100，将探针104与电路板贴合，在探针104下压接触电路板时，探针104向下推动缓冲板201，使得支撑块203下方的第一弹簧202压缩，从而通过第一弹簧202起到缓冲作用，防止探针104因过度下压对探针104造成损坏，由于在下压过程中难以控制缓冲板201前后左右移动，因此，将缓冲板201两侧的滑块303卡接在滑槽302中，放置左右移动，同时，在前后移动时，通过第二弹簧300的缓冲作用保持测试时的稳定。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (5)

1.一种集成电路测试治具，其特征在于：包括上盖板(100)和下盖板(101)，其中，上盖板(100)和下盖板(101)之间转动连接，所述上盖板(100)底部设有多个呈圆锥形状用于下压电路板的探针(104)，所述下盖板(101)中部设有在探针(104)下压时起到缓冲作用的缓冲装置(200)，所述缓冲装置(200)由缓冲板(201)和第一弹簧(202)组成，所述缓冲板(201)上端开设有配合电路板的卡槽(204)。

2.如权利要求1所述的集成电路测试治具，其特征在于：所述上盖板(100)和下盖板(101)之间通过插销(102)转动连接，所述上盖板(100)底部的探针(104)固定连接在配合板(103)上。

3.如权利要求1所述的集成电路测试治具，其特征在于：所述缓冲板(201)两端均设有凸出的支撑块(203)，所述支撑块(203)底部对称设有第一弹簧(202)，所述第一弹簧(202)和支撑块(203)固定连接。

4.如权利要求1所述的集成电路测试治具，其特征在于：所述缓冲板(201)两端对称设有滑块(303)，所述滑块(303)一侧设有与滑块(303)贴合的限位板(301)，所述限位板(301)一侧开设有滑槽(302)，所述限位板(301)另一侧固定连接第二弹簧(300)。

5.如权利要求1所述的集成电路测试治具，其特征在于：所述下盖板(101)中部设有贯穿的螺杆(400)，所述螺杆(400)穿过上盖板(100)固定连接底部配合板(103)，所述上盖板(100)一侧插销(102)穿过上盖板(100)开设的通孔(401)。