CN215493921U - 一种用于芯片短路测试的测试机 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于芯片短路测试的测试机，属于芯片技术领域，其技术方案要点包括装置本体，所述装置本体内部的顶部固定连接有固定块，所述固定块的两侧均固定连接有限位机构，所述限位机构远离固定块的一侧固定连接有限位板，所述装置本体顶部的两侧均固定连接有固定架，两个固定架相对一侧的前侧和后侧分别活动连接有第一夹持块和第二夹持块，解决了现有的测试机进行芯片的测试时，需要使用的探针是其中最重要的部件之一，因此有时需要使用到多种不同的探针进行测试，在对不同芯片测试时存在不便于更换的现象，影响测试工作的顺利进行，并降低了测试效率，从而影响测试工作的问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片技术领域，特别涉及一种用于芯片短路测试的测试机。
背景技术
芯片又叫集成电路英语或称微电路、微芯片晶片，在电子学中是一种将电路小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。
芯片经过制造后使用短路测试机对芯片进行测试，而现有的测试机进行芯片的测试时，需要使用的探针是其中最重要的部件之一，因此有时需要使用到多种不同的探针进行测试，在对不同芯片测试时存在不便于更换的现象，影响测试工作的顺利进行，并降低了测试效率。
实用新型内容
本实用新型提供一种用于芯片短路测试的测试机，旨在解决现有的测试机进行芯片的测试时，需要使用的探针是其中最重要的部件之一，因此有时需要使用到多种不同的探针进行测试，在对不同芯片测试时存在不便于更换的现象，影响测试工作的顺利进行，并降低了测试效率，从而影响测试工作的问题。
本实用新型是这样实现的，一种用于芯片短路测试的测试机，包括装置本体，所述装置本体内部的顶部固定连接有固定块，所述固定块的两侧均固定连接有限位机构，所述限位机构远离固定块的一侧固定连接有限位板，所述装置本体顶部的两侧均固定连接有固定架，两个固定架相对一侧的前侧和后侧分别活动连接有第一夹持块和第二夹持块，两个第一夹持块相对的一侧均固定连接有第一固定板，两个第二夹持块相对的一侧均固定连接有第二固定板，所述第一固定板和第二固定板相对的一侧之间固定连接有调节机构，所述第一夹持块和第二夹持块相对的一侧之间活动连接有探针；
所述调节机构包括螺杆、螺套、固定杆和转板，所述螺杆的前侧与第一固定板的后侧固定连接，所述螺杆的表面与螺套的内壁螺纹连接，所述螺套的后侧与固定杆的前侧固定连接，所述转板靠近螺套的一侧与螺套固定连接。
为了达到对芯片限位的效果，作为本实用新型的一种用于芯片短路测试的测试机优选的，所述限位机构包括第一活动杆、第二活动杆和弹簧，所述第一活动杆靠近固定块的一侧与固定块固定连接，所述第一活动杆的内壁与第二活动杆的表面活动接触，所述弹簧套设在第一活动杆的表面，所述弹簧靠近固定块的一侧与固定块固定连接。
为了达到方便调节机构转动的效果，作为本实用新型的一种用于芯片短路测试的测试机优选的，所述固定杆表面的后侧固定连接有轴承座，所述轴承座的后侧与第二固定板的前侧固定连接。
为了达到方便限位机构带动限位板移动的效果，作为本实用新型的一种用于芯片短路测试的测试机优选的，所述第二活动杆靠近限位板的一侧固定连接有连接块，所述弹簧靠近连接块的一侧与连接块固定连接，所述连接块靠近限位板的一侧与限位板固定连接。
为了达到方便第一夹持块和第二夹持块移动的效果，作为本实用新型的一种用于芯片短路测试的测试机优选的，所述第一夹持块和第二夹持块靠近固定架的一侧均固定连接有梯形块，所述梯形块靠近固定架的一侧延伸至固定架的内部，两个固定架相对一侧的前侧和后侧均开设有与梯形块配合使用的梯形槽。
为了达到方便对芯片限位的效果，作为本实用新型的一种用于芯片短路测试的测试机优选的，两个限位板相对的一侧均固定连接有橡胶垫，所述装置本体的顶部开设有与限位板配合使用的移动槽。
为了达到对探针限位的效果，作为本实用新型的一种用于芯片短路测试的测试机优选的，所述第一夹持块和第二夹持块相对的一侧均开设有与探针配合使用的限位槽，所述第一夹持块和第二夹持块相对的一侧均与探针的表面接触。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
该用于芯片短路测试的测试机，通过设置限位机构，限位机构可以带动限位板对芯片进行限位，可以在测试过程中达到防止芯片活动的效果，能够避免影响测试工作的进行，通过转板转动，转板带动螺套在螺杆的表面转动，使螺套在螺杆的表面移动，能够带动第一固定板和第二固定板移动，从而能够带动第一夹持块和第二夹持块移动，能够方便对不同的探针进行限位，进而方便对不同的芯片进行测试。
附图说明
图1为本实用新型的用于芯片短路测试的测试机的整体结构图；
图2为本实用新型中装置本体的局部结构图；
图3为本实用新型中固定架的结构图；
图4为本实用新型中调节机构的结构图；
图5为本实用新型中固定架的剖视图；
图6为本实用新型中装置本体的局部剖视图。
图中，1、装置本体；2、调节机构；201、螺杆；202、螺套；203、固定杆；204、转板；3、限位机构；301、第一活动杆；302、第二活动杆；303、弹簧；4、固定块；5、限位板；6、固定架；7、第一夹持块；8、第二夹持块；9、第一固定板；10、第二固定板；11、探针；12、轴承座；13、连接块；14、梯形块；15、梯形槽；16、橡胶垫；17、移动槽；18、限位槽。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
请参阅图1-6，本实用新型提供技术方案：一种用于芯片短路测试的测试机，包括装置本体1，装置本体1内部的顶部固定连接有固定块4，固定块4的两侧均固定连接有限位机构3，限位机构3远离固定块4的一侧固定连接有限位板5，装置本体1顶部的两侧均固定连接有固定架6，两个固定架6相对一侧的前侧和后侧分别活动连接有第一夹持块7和第二夹持块8，两个第一夹持块7相对的一侧均固定连接有第一固定板9，两个第二夹持块8相对的一侧均固定连接有第二固定板10，第一固定板9和第二固定板10相对的一侧之间固定连接有调节机构2，第一夹持块7和第二夹持块8相对的一侧之间活动连接有探针11；
调节机构2包括螺杆201、螺套202、固定杆203和转板204，螺杆201的前侧与第一固定板9的后侧固定连接，螺杆201的表面与螺套202的内壁螺纹连接，螺套202的后侧与固定杆203的前侧固定连接，转板204靠近螺套202的一侧与螺套202固定连接。
在本实施例中：通过设置限位机构3，限位机构3可以带动限位板5对芯片进行限位，可以在测试过程中达到防止芯片活动的效果，能够避免影响测试工作的进行，通过转板204转动，转板204带动螺套202在螺杆201的表面转动，使螺套202在螺杆201的表面移动，能够带动第一固定板9和第二固定板10移动，从而能够带动第一夹持块7和第二夹持块8移动，能够方便对不同的探针11进行限位，进而方便对不同的芯片进行测试。
作为本实用新型的技术优化方案，限位机构3包括第一活动杆301、第二活动杆302和弹簧303，第一活动杆301靠近固定块4的一侧与固定块4固定连接，第一活动杆301的内壁与第二活动杆302的表面活动接触，弹簧303套设在第一活动杆301的表面，弹簧303靠近固定块4的一侧与固定块4固定连接。
在本实施例中：通过两个限位板5往相反的方向移动，限位板5带动第二活动杆302移出第一活动杆301的内部并使弹簧303拉伸，可以使两个限位板5之间移动出放置芯片的空间，然后通过弹簧303复位，弹簧303拉动两个限位板5往相对的方向移动并带动第二活动杆302进入第一活动杆301的内部，可以使限位板5与芯片接触，达到对芯片限位的效果，能够在测试过程中达到防止芯片活动的效果，避免影响测试工作的进行。
作为本实用新型的技术优化方案，固定杆203表面的后侧固定连接有轴承座12，轴承座12的后侧与第二固定板10的前侧固定连接。
在本实施例中：通过设置轴承座12，通过轴承座12与第二固定板10固定连接，可以方便固定杆203在轴承座12的内部转动，从而可以方便螺套202在螺杆201的表面转动。
作为本实用新型的技术优化方案，第二活动杆302靠近限位板5的一侧固定连接有连接块13，弹簧303靠近连接块13的一侧与连接块13固定连接，连接块13靠近限位板5的一侧与限位板5固定连接。
在本实施例中：通过设置连接块13，可以方便第二活动杆302与限位板5固定安装，从而可以方便带动限位板5对芯片进行限位。
作为本实用新型的技术优化方案，第一夹持块7和第二夹持块8靠近固定架6的一侧均固定连接有梯形块14，梯形块14靠近固定架6的一侧延伸至固定架6的内部，两个固定架6相对一侧的前侧和后侧均开设有与梯形块14配合使用的梯形槽15。
在本实施例中：通过设置梯形块14和梯形槽15，通过梯形块14在梯形槽15内移动，可以方便第一夹持块7和第二夹持块8进行移动，从而方便对不同的探针11进行定位。
作为本实用新型的技术优化方案，两个限位板5相对的一侧均固定连接有橡胶垫16，装置本体1的顶部开设有与限位板5配合使用的移动槽17。
在本实施例中：通过设置橡胶垫16，可以防止限位板5对芯片的表面造成压损的情况出现，能够达到对芯片保护的效果，通过设置移动槽17，可以方便限位板5进行移动。
作为本实用新型的技术优化方案，第一夹持块7和第二夹持块8相对的一侧均开设有与探针11配合使用的限位槽18，第一夹持块7和第二夹持块8相对的一侧均与探针11的表面接触。
在本实施例中：通过设置限位槽18，可以方便对探针11进行定位，可以防止其活动，影响测试结果。
工作原理：首先，通过两个限位板5在移动槽17内往相反的方向移动，限位板5带动第二活动杆302移出第一活动杆301的内部并使弹簧303拉伸，可以使两个限位板5之间移动出放置芯片的空间，然后通过弹簧303复位，弹簧303拉动两个限位板5往相对的方向移动并带动第二活动杆302进入第一活动杆301的内部，可以使限位板5带动橡胶垫16与芯片接触，通过橡胶垫16，可以防止限位板5对芯片的表面造成压损的情况出现，能够达到对芯片保护的效果，从而达到对芯片限位的效果，能够在测试过程中达到防止芯片活动的效果，可以避免影响测试工作的进行，然后根据芯片使用相应的探针11，通过转板204转动，转板204带动螺套202在螺杆201的表面转动，可以使固定杆203在轴承座12的内部转动，使螺套202在螺杆201的表面移动，能够带动第一固定板9和第二固定板10移动，从而能够带动第一夹持块7和第二夹持块8移动，可以使第一夹持块7和第二夹持块8与探针11接触，达到对探针11定位的效果。
以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种用于芯片短路测试的测试机，包括装置本体(1)，其特征在于：所述装置本体(1)内部的顶部固定连接有固定块(4)，所述固定块(4)的两侧均固定连接有限位机构(3)，所述限位机构(3)远离固定块(4)的一侧固定连接有限位板(5)，所述装置本体(1)顶部的两侧均固定连接有固定架(6)，两个固定架(6)相对一侧的前侧和后侧分别活动连接有第一夹持块(7)和第二夹持块(8)，两个第一夹持块(7)相对的一侧均固定连接有第一固定板(9)，两个第二夹持块(8)相对的一侧均固定连接有第二固定板(10)，所述第一固定板(9)和第二固定板(10)相对的一侧之间固定连接有调节机构(2)，所述第一夹持块(7)和第二夹持块(8)相对的一侧之间活动连接有探针(11)；
所述调节机构(2)包括螺杆(201)、螺套(202)、固定杆(203)和转板(204)，所述螺杆(201)的前侧与第一固定板(9)的后侧固定连接，所述螺杆(201)的表面与螺套(202)的内壁螺纹连接，所述螺套(202)的后侧与固定杆(203)的前侧固定连接，所述转板(204)靠近螺套(202)的一侧与螺套(202)固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片短路测试的测试机，其特征在于：所述限位机构(3)包括第一活动杆(301)、第二活动杆(302)和弹簧(303)，所述第一活动杆(301)靠近固定块(4)的一侧与固定块(4)固定连接，所述第一活动杆(301)的内壁与第二活动杆(302)的表面活动接触，所述弹簧(303)套设在第一活动杆(301)的表面，所述弹簧(303)靠近固定块(4)的一侧与固定块(4)固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于芯片短路测试的测试机，其特征在于：所述固定杆(203)表面的后侧固定连接有轴承座(12)，所述轴承座(12)的后侧与第二固定板(10)的前侧固定连接。
4.根据权利要求2所述的一种用于芯片短路测试的测试机，其特征在于：所述第二活动杆(302)靠近限位板(5)的一侧固定连接有连接块(13)，所述弹簧(303)靠近连接块(13)的一侧与连接块(13)固定连接，所述连接块(13)靠近限位板(5)的一侧与限位板(5)固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种用于芯片短路测试的测试机，其特征在于：所述第一夹持块(7)和第二夹持块(8)靠近固定架(6)的一侧均固定连接有梯形块(14)，所述梯形块(14)靠近固定架(6)的一侧延伸至固定架(6)的内部，两个固定架(6)相对一侧的前侧和后侧均开设有与梯形块(14)配合使用的梯形槽(15)。
6.根据权利要求1所述的一种用于芯片短路测试的测试机，其特征在于：两个限位板(5)相对的一侧均固定连接有橡胶垫(16)，所述装置本体(1)的顶部开设有与限位板(5)配合使用的移动槽(17)。
7.根据权利要求1所述的一种用于芯片短路测试的测试机，其特征在于：所述第一夹持块(7)和第二夹持块(8)相对的一侧均开设有与探针(11)配合使用的限位槽(18)，所述第一夹持块(7)和第二夹持块(8)相对的一侧均与探针(11)的表面接触。
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