CN218885986U - 一种集成电路测试座 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种集成电路测试座，涉及集成电路测试技术领域，包括操作台，所述操作台的顶端开设有升降槽，所述升降槽的内部设有升降机构，所述升降槽的内部底端固定连接有底座，所述底座的顶端靠近两侧处均开设有滑槽，在底座上开启两个旋转电机，并控制旋转电机的转动圈数，进而带动旋转电机一端的两个正反丝杆在滑槽内旋转，即可使正反丝杆上的两个螺纹滑块相对移动，在第一活动件与第二活动件的活动连接下，铰杆进行角度调节，进而使测试台进行高度调节，有利于在旋转电机的转动控制下，带动测试台调节至固定的高度处，使探针脚在支撑杆与测试顶板的固定支撑下，对集成电路板进行检测。

Description

一种集成电路测试座

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及一种集成电路测试座。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。

现有技术的不足之处：目前现有技术中的传统集成电路测试座上探针脚在对晶圆片测试时，由于缺少升降机构，使得每次测试需要工作人员摇动控制转轮，进行调节探针脚高度操作，不仅费时费力，且测试效率不高。

实用新型内容

为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型提供了一种集成电路测试座，以解决上述背景技术中存在的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种集成电路测试座，包括操作台，所述操作台的顶端开设有升降槽，所述升降槽的内部设有升降机构，所述升降槽的内部底端固定连接有底座，所述底座的顶端靠近两侧处均开设有滑槽，两个所述滑槽的内部均活动连接有正反丝杆，两个所述正反丝杆的靠近两端外壁均螺纹套接有螺纹滑块，四个所述螺纹滑块的顶端均固定连接有第一活动件，四个所述第一活动件上活动连接有两个铰杆。

优选的，两个所述铰杆的顶端活动连接有四个第二活动件，四个所述第二活动件的顶端滑动连接有测试台，所述测试台的底端靠近两侧处均开设有滑动槽，四个所述第二活动件的顶端均滑动连接在测试台底端的滑动槽内。

优选的，两个所述正反丝杆的靠近两端处为光滑的柱状结构，两个所述正反丝杆的一端贯穿底座传动连接有两个旋转电机，两个所述旋转电机的底端固定连接在底座的外壁一侧处。

优选的，所述测试台的顶端设有两个加持组件，所述测试台的顶端靠近两侧处均固定连接有立板，两个所述立板的中部均开设有螺纹通擦，两个所述立板中部的螺纹通槽内均螺纹连接有螺纹杆。

优选的，两个所述螺纹杆的一端均固定连接有旋转把手，两个所述螺纹杆的另一端均活动套接有夹持板，两个所述夹持板的一侧均固定连接有垫板，且两个所述垫板均为防静电的柔软材质。

优选的，所述操作台的顶端四角处均固定连接有支撑杆，四个所述支撑杆的顶端固定连接有测试顶板，所述测试顶板上设有探针脚。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种集成电路测试座，具备以下有益效果：

1、本实用新型通过设有升降机构，将集成电路板放置在测试台上，在底座上开启两个旋转电机，并控制旋转电机的转动圈数，进而带动旋转电机一端的两个正反丝杆在滑槽内旋转，即可使正反丝杆上的两个螺纹滑块相对移动，在第一活动件与第二活动件的活动连接下，铰杆进行角度调节，进而使测试台进行高度调节，有利于在旋转电机的转动控制下，带动测试台调节至固定的高度处，使探针脚在支撑杆与测试顶板的固定支撑下，对集成电路板进行检测。

2、本实用新型通过设有加持组件，在对不同规格大小的集成电路板进行检测时，将集成电路板放置在测试台上，在两个立板的固定支撑下，转动两个旋转把手，带动螺纹杆在立板上转动移动，进而带动两个夹持板相对移动，有利于在两个垫板的防护下，将不同规格大小的集成电路板固定在测试台上，对集成电路板进行检测。

附图说明

图1是本实用新型的整体结构示意图；

图2是本实用新型的操作台处结构剖视图；

图3是本实用新型的升降机构处结构爆炸示意图；

图4是本实用新型的加持组件处结构爆炸示意图。

图中：1、操作台；2、升降槽；3、升降机构；301、滑槽；302、底座；303、螺纹滑块；304、第一活动件；305、铰杆；306、第二活动件；307、测试台；308、旋转电机；309、正反丝杆；4、测试顶板；5、探针脚；6、加持组件；601、旋转把手；602、螺纹杆；603、立板；604、夹持板；605、垫板；7、支撑杆。

具体实施方式

下面将结合本实用新型中的附图，对本实用新型中的技术方案进行清楚、完整地描述，另外，在以下的实施方式中记载的各结构的形态只不过是例示，本实用新型所涉及的集成电路测试座并不限定于在以下的实施方式中记载的各结构，在本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施方式都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提供了一种集成电路测试座，包括操作台1，操作台1的顶端开设有升降槽2，升降槽2的内部设有升降机构3，升降槽2的内部底端固定连接有底座302，底座302的顶端靠近两侧处均开设有滑槽301，两个滑槽301的内部均活动连接有正反丝杆309，两个正反丝杆309的靠近两端外壁均螺纹套接有螺纹滑块303，四个螺纹滑块303的顶端均固定连接有第一活动件304，四个第一活动件304上活动连接有两个铰杆305，有利于在旋转电机308的转动控制下，带动测试台307调节至固定的高度处，使探针脚5在支撑杆7与测试顶板4的固定支撑下，对集成电路板进行检测。

进一步的，两个铰杆305的顶端活动连接有四个第二活动件306，四个第二活动件306的顶端滑动连接有测试台307，测试台307的底端靠近两侧处均开设有滑动槽，四个第二活动件306的顶端均滑动连接在测试台307底端的滑动槽内，便于在两个铰杆305进行角度变换时，第二活动件306在铰杆305的带动下在测试台307的滑动槽内移动，对铰杆305的移动起到活动支撑作用。

进一步的，两个正反丝杆309的靠近两端处为光滑的柱状结构，两个正反丝杆309的一端贯穿底座302传动连接有两个旋转电机308，两个旋转电机308的底端固定连接在底座302的外壁一侧处，便于开启两个旋转电机308，带动与之传动连接的正反丝杆309转动，进而带动正反丝杆309上的两个螺纹滑块303相对移动，进而对测试台307进行高度调节。

进一步的，测试台307的顶端设有两个加持组件6，测试台307的顶端靠近两侧处均固定连接有立板603，两个立板603的中部均开设有螺纹通擦，两个立板603中部的螺纹通槽内均螺纹连接有螺纹杆602，在对不同规格大小的集成电路板进行检测时，将集成电路板放置在测试台307上，在两个立板603的固定支撑下，转动两个旋转把手601，带动螺纹杆602在立板603上转动移动。

进一步的，两个螺纹杆602的一端均固定连接有旋转把手601，两个螺纹杆602的另一端均活动套接有夹持板604，两个夹持板604的一侧均固定连接有垫板605，且两个垫板605均为防静电的柔软材质，便于在旋转旋转把手601，带动夹持板604相对移动时，垫板605对集成电路板进行夹持防护，便于对集成电路板进行检测。

进一步的，操作台1的顶端四角处均固定连接有支撑杆7，四个支撑杆7的顶端固定连接有测试顶板4，测试顶板4上设有探针脚5，便于通过支撑杆7与测试顶板4的支撑，在探针脚5的作用下对集成电路板进行检测。

本实用新型的工作原理及使用流程：

使用时，通过设有加持组件6，在对不同规格大小的集成电路板进行检测时，将集成电路板放置在测试台307上，在两个立板603的固定支撑下，转动两个旋转把手601，带动螺纹杆602在立板603上转动移动，进而带动两个夹持板604相对移动，在两个垫板605的防护下，将不同规格大小的集成电路板固定在测试台307上，通过设有升降机构3，将集成电路板放置在测试台307上，在底座302上开启两个旋转电机308，并控制旋转电机308的转动圈数，进而带动旋转电机308一端的两个正反丝杆309在滑槽301内旋转，即可使正反丝杆309上的两个螺纹滑块303相对移动，在第一活动件304与第二活动件306的活动连接下，铰杆305进行角度调节，进而使测试台307进行高度调节，在旋转电机308的转动控制下，带动测试台307调节至固定的高度处，使探针脚5在支撑杆7与测试顶板4的固定支撑下，对集成电路板进行检测。

最后应说明的几点是：首先，在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变，则相对位置关系可能发生改变；

其次：本实用新型公开实施例附图中，只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计，在不冲突情况下，本实用新型同一实施例及不同实施例可以相互组合；

最后：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种集成电路测试座，包括操作台(1)，其特征在于：所述操作台(1)的顶端开设有升降槽(2)，所述升降槽(2)的内部设有升降机构(3)，所述升降槽(2)的内部底端固定连接有底座(302)，所述底座(302)的顶端靠近两侧处均开设有滑槽(301)，两个所述滑槽(301)的内部均活动连接有正反丝杆(309)，两个所述正反丝杆(309)的靠近两端外壁均螺纹套接有螺纹滑块(303)，四个所述螺纹滑块(303)的顶端均固定连接有第一活动件(304)，四个所述第一活动件(304)上活动连接有两个铰杆(305)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：两个所述铰杆(305)的顶端活动连接有四个第二活动件(306)，四个所述第二活动件(306)的顶端滑动连接有测试台(307)，所述测试台(307)的底端靠近两侧处均开设有滑动槽，四个所述第二活动件(306)的顶端均滑动连接在测试台(307)底端的滑动槽内。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：两个所述正反丝杆(309)的靠近两端处为光滑的柱状结构，两个所述正反丝杆(309)的一端贯穿底座(302)传动连接有两个旋转电机(308)，两个所述旋转电机(308)的底端固定连接在底座(302)的外壁一侧处。

4.根据权利要求2所述的一种集成电路测试座，其特征在于：所述测试台(307)的顶端设有两个加持组件(6)，所述测试台(307)的顶端靠近两侧处均固定连接有立板(603)，两个所述立板(603)的中部均开设有螺纹通擦，两个所述立板(603)中部的螺纹通槽内均螺纹连接有螺纹杆(602)。

5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试座，其特征在于：两个所述螺纹杆(602)的一端均固定连接有旋转把手(601)，两个所述螺纹杆(602)的另一端均活动套接有夹持板(604)，两个所述夹持板(604)的一侧均固定连接有垫板(605)，且两个所述垫板(605)均为防静电的柔软材质。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：所述操作台(1)的顶端四角处均固定连接有支撑杆(7)，四个所述支撑杆(7)的顶端固定连接有测试顶板(4)，所述测试顶板(4)上设有探针脚(5)。

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