CN116930568A

CN116930568A - 一种毫米波芯片测试平台

Info

Publication number: CN116930568A
Application number: CN202311184552.8A
Authority: CN
Inventors: 胡强; 曾力; 李松林; 李峰
Original assignee: Chengdu Shengxin Integrated Circuit Co ltd
Current assignee: Chengdu Shengxin Integrated Circuit Co ltd
Priority date: 2023-09-14
Filing date: 2023-09-14
Publication date: 2023-10-24
Anticipated expiration: 2043-09-14
Also published as: CN116930568B

Abstract

本发明提供一种毫米波芯片测试平台，属于芯片技术领域，该毫米波芯片测试平台包括顶板，顶板的下端固定连接有多个连接杆，多个连接杆的下端固定连接有底板，两个检测板，两个检测板均固定连接于多个连接杆的圆周表面，在需要对芯片进行测试时，可以将其放置于置于槽内，而后通过齿条的移动或丝杆螺母的移动，便可以带动连接架以及其下端固定连接的检测探针横向或者竖向移动，进而通过检测探针便可以对芯片的各个电极以及功能区进行探测，从而探测出芯片的供电是否正常，进而提高芯片的检测便捷性。

Description

一种毫米波芯片测试平台

技术领域

本发明属于芯片技术领域，具体涉及一种毫米波芯片测试平台。

背景技术

集成电路英语，缩写作 IC；或称微电路（microcircuit）、微芯片（microchip）、晶片/芯片（chip）在电子学中是一种将电路（主要包括半导体设备，也包括被动组件等）小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，2023年4月，国际科研团队首次将能发射纠缠光子的量子光源完全集成在一块芯片上。

在电子电器以及智能设备、家具方面，毫米波芯片都是不可缺少的智能控制装置以及控制中枢，且毫米波芯片的生产需要严格的检测才可以投入使用，检测步骤包括功能测试、尺寸测试、使用测试等等，但上述步骤的测试在目前检测中，需要一个甚至多个装置对其进行检测，这不仅会导致多个装置的放置面积占用过大，且多个装置所需的成本较大，影响芯片检测的整体成本。

发明内容

本发明的目的在于提供一种毫米波芯片测试平台，旨在解决现有技术中在目前检测中，需要一个甚至多个装置对其进行检测，这不仅会导致多个装置的放置面积占用过大，且多个装置所需的成本较大，影响芯片检测的整体成本的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种毫米波芯片测试平台，包括

顶板，所述顶板的下端固定连接有多个连接杆，多个所述连接杆的下端固定连接有底板；

两个检测板，两个所述检测板均固定连接于多个连接杆的圆周表面；

两个移动槽，两个所述移动槽分别开设于两个检测板的上端；

连接板，所述连接板滑动设于其中一个移动槽内；

啮合槽，所述啮合槽开设于顶板的上端，且啮合槽的一侧内壁开设有放置槽，所述放置槽内固定连接有第二电机；

齿轮，所述齿轮通过转轴转动连接于啮合槽内，且齿轮和第二电机的输出端固定连接；

齿条，所述齿条滑动设于啮合槽内，且齿条与齿轮相啮合；

丝杆，所述丝杆通过轴承转动连接于齿条的一端，且丝杆的圆周表面螺纹连接有丝杆螺母；

以及连接架，所述连接架固定连接于丝杆螺母的两端，且连接架的下端固定连接有检测探针。

作为本发明一种优选的方案，所述顶板的下端开设有带动槽，所述带动槽的一侧内壁固定连接有防滑杆，所述防滑杆的圆周表面滑动连接有带动块，所述丝杆转动连接于带动块的一端，所述带动块的一端固定连接有第一电机，所述第一电机的输出端与丝杆的一端固定连接。

作为本发明一种优选的方案，所述丝杆螺母的下端固定连接有防转块，所述带动块的一端固定连接有防转杆，所述防转块滑动连接于防转杆的圆周表面，所述防转杆的一端固定连接有限位板。

作为本发明一种优选的方案，所述顶板的一端固定连接有L杆，所述齿条的一端开设有防坠槽，且齿条通过防坠槽滑动连接于L杆的外表面，所述防坠槽的上下两侧内壁均开设有稳定槽，所述L杆的上下两端均固定连接有加强块，两个所述加强块分别滑动连接于两个稳定槽内。

作为本发明一种优选的方案，所述连接板的上端开设有置于槽，所述置于槽的内壁固定连接有多个接电块，所述连接板的上端固定连接有组装壳，所述组装壳的下内壁固定连接有定位弹簧和垂直杆，所述定位弹簧的上端固定连接有定位板，所述定位板滑动连接于垂直杆的圆周表面，所述垂直杆的上端固定连接有防坏板，所述定位板的上端固定连接有握把。

作为本发明一种优选的方案，所述连接板的一端固定连接有对接块，所述对接块和底板的一端均固定连接有连接壳，两个连接壳的相靠近端均固定连接有多个联结板，多个所述联结板的相靠近端固定连接有两个电动导轨，多个所述电动导轨的圆周表面均滑动连接有导块，多个所述导块的相靠近端通过转轴转动连接有两个铰接杆，两个所述铰接杆之间通过转轴转动连接。

作为本发明一种优选的方案，所述底板的一端固定连接有安装板，所述安装板的上端固定连接有伸缩杆，所述伸缩杆的上端固定连接有定位套，所述定位套内滑动连接有滑动杆，所述滑动杆的下端固定连接有摄像头。

作为本发明一种优选的方案，所述定位套的两侧内壁均固定连接有防掉块，所述滑动杆的两端均开设有防掉槽，且滑动杆通过两个防掉槽分别滑动连接于两个防掉块的外表面。

作为本发明一种优选的方案，所述滑动杆的一端开设有多个定位槽，所述防掉块和定位套的一端开设有其中一个定位槽，所述定位套的一端固定连接有两个回缩弹簧，两个所述回缩弹簧的一端固定连接有回弹板，所述回弹板的一端固定连接有定位杆，所述定位杆活动插接于其中一个定位槽内。

作为本发明一种优选的方案，所述回弹板的一端开设有两个垂直槽，所述定位套的一端固定连接有两个水平杆，两个所述水平杆的一端均固定连接有防离板，所述回弹板通过两个垂直槽分别滑动连接于两个水平杆的圆周表面。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

1、在需要对芯片进行测试时，可以将其放置于置于槽内，而后通过齿条的移动或丝杆螺母的移动，便可以带动连接架以及其下端固定连接的检测探针横向或者竖向移动，进而通过检测探针便可以对芯片的各个电极以及功能区进行探测，从而探测出芯片的供电是否正常，进而提高芯片的检测便捷性。

2、在需要对芯片的功能进行检测时，可以使多个接电块和芯片接触并电性连接，并通过外部与接电块电性连接的设备对芯片的各个功能进行检测，从而提高芯片功能的检测便捷性。

3、在需要对芯片的尺寸以及外观进行检测时，可以将连接板滑动至其中一个检测板内，而后通过滑动杆下端设置的摄像头对芯片进行扫描和拍摄，从而检测芯片的尺寸以及外观，进一步提高芯片的检测便捷性。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为本发明中的主剖立体图；

图2为本发明中的图1中A处的局部放大图；

图3为本发明中的主视立体图；

图4为本发明中的第一侧剖立体图；

图5为本发明中的第二侧剖立体图；

图6为本发明中的图5中B处的局部放大图；

图7为本发明中的仰视立体图；

图8为本发明中的后视立体图。

图中：1、顶板；101、底板；102、连接杆；103、检测板；104、齿条；105、齿轮；106、L杆；107、防坠槽；108、加强块；109、第一电机；110、丝杆；111、丝杆螺母；112、防转块；113、防转杆；114、连接架；115、检测探针；116、带动槽；117、带动块；118、防滑杆；119、第二电机；2、安装板；201、伸缩杆；202、滑动杆；203、定位套；204、定位槽；205、摄像头；206、置于槽；207、接电块；208、组装壳；209、定位弹簧；210、定位板；211、握把；212、垂直杆；213、防坏板；214、回弹板；215、回缩弹簧；216、水平杆；217、防离板；218、定位杆；3、连接壳；301、联结板；302、电动导轨；303、导块；304、铰接杆；305、对接块；306、移动槽。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例1

请参阅图1-图8，本发明提供以下技术方案：

一种毫米波芯片测试平台，包括

顶板1，顶板1的下端固定连接有多个连接杆102，多个连接杆102的下端固定连接有底板101；

两个检测板103，两个检测板103均固定连接于多个连接杆102的圆周表面；

两个移动槽306，两个移动槽306分别开设于两个检测板103的上端；

连接板，连接板滑动设于其中一个移动槽306内；

啮合槽，啮合槽开设于顶板1的上端，且啮合槽的一侧内壁开设有放置槽，放置槽内固定连接有第二电机119；

齿轮105，齿轮105通过转轴转动连接于啮合槽内，且齿轮105和第二电机119的输出端固定连接；

齿条104，齿条104滑动设于啮合槽内，且齿条104与齿轮105相啮合；

丝杆110，丝杆110通过轴承转动连接于齿条104的一端，且丝杆110的圆周表面螺纹连接有丝杆螺母111；

以及连接架114，连接架114固定连接于丝杆螺母111的两端，且连接架114的下端固定连接有检测探针115。

在本发明的具体实施例中，在需要对芯片进行检测时，可以将其放置与连接板上端开设的置于槽206内，可以启动第二电机119使其输出端可以带动齿轮105转动，从而带动与之啮合的齿条104进行移动，并带动检测探针115进行移动，从而改变检测探针115的纵向位置，而在同时还可以启动第一电机109使其带动丝杆110进行转动，并使其圆周表面螺纹连接的丝杆螺母111进行移动，并带动连接架114以及检测探针115进行横向移动，进而对置于槽206内的芯片进行点触，从而对其各个功能区进行探测，检测其各个功能区供电是否正常，通过上述设计使得芯片的供电测试更加简单和方便，且本装置的多个测试区间均为垂直放置，可以减少多个装置所需的占地面积，减少芯片检测所需的成本，需要进行说明的是：具体使用何种型号的第二电机119和第一电机109由熟悉本领域的相关技术人员自行选择，且以上关于第二电机119和第一电机109等均属于现有技术，本方案不做赘述。

具体的请参阅图3，顶板1的下端开设有带动槽116，带动槽116的一侧内壁固定连接有防滑杆118，防滑杆118的圆周表面滑动连接有带动块117，丝杆110转动连接于带动块117的一端，带动块117的一端固定连接有第一电机109，第一电机109的输出端与丝杆110的一端固定连接。

本实施例中：在丝杆110以及多个部件被齿条104带动并进行移动时，可以通过带动块117在带动槽116内滑动，来提高丝杆110以及多个部件的移动稳定性，且带动块117在移动时，可以在防滑杆118的圆周表面进行滑动，进而防止带动块117从带动槽116滑脱而导致的损坏。

具体的请参阅图2，丝杆螺母111的下端固定连接有防转块112，带动块117的一端固定连接有防转杆113，防转块112滑动连接于防转杆113的圆周表面，防转杆113的一端固定连接有限位板，顶板1的一端固定连接有L杆106，齿条104的一端开设有防坠槽107，且齿条104通过防坠槽107滑动连接于L杆106的外表面，防坠槽107的上下两侧内壁均开设有稳定槽，L杆106的上下两端均固定连接有加强块108，两个加强块108分别滑动连接于两个稳定槽内。

本实施例中：在丝杆螺母111进行移动时，可以同步带动防转块112在防转杆113的圆周表面进行滑动，进而提高防转块112的滑动稳定性，防止其转动，通过限位板可以防止防转块112过度滑动而导致的损坏，在连接架114进行移动时，可以通过防坠槽107在L杆106的外表面进行滑动，进而提高齿条104的滑动稳定性，且通过两个稳定槽还可以在两个加强块108的外表面进行滑动，进而提高齿条104的滑动稳定性，防止其由于重力而坠落损坏。

具体的请参阅图8，连接板的上端开设有置于槽206，置于槽206的内壁固定连接有多个接电块207，连接板的上端固定连接有组装壳208，组装壳208的下内壁固定连接有定位弹簧209和垂直杆212，定位弹簧209的上端固定连接有定位板210，定位板210滑动连接于垂直杆212的圆周表面，垂直杆212的上端固定连接有防坏板213，定位板210的上端固定连接有握把211。

本实施例中：在芯片放置于置于槽206内时，可以通过接电块207和芯片接触并电性连接，而后通过外部设备与接电块207电性连接，便可以使得芯片可以进行功能的测试，进而提高芯片的功能区检测便捷性，且在芯片放置于置于槽206内后，还可以通过定位弹簧209的弹性回缩便可以将定位板210进行回拉，使其盖接至芯片的上端，从而防止芯片外脱，通过垂直杆212可以使得定位板210滑动时更加稳定，通过防坏板213可以防止定位板210过度滑动而导致的损坏，通过握把211可以使得定位板210的拉拽更加简单。

具体的请参阅图7，连接板的一端固定连接有对接块305，对接块305和底板101的一端均固定连接有连接壳3，两个连接壳3的相靠近端均固定连接有多个联结板301，多个联结板301的相靠近端固定连接有两个电动导轨302，多个电动导轨302的圆周表面均滑动连接有导块303，多个导块303的相靠近端通过转轴转动连接有两个铰接杆304，两个铰接杆304之间通过转轴转动连接。

本实施例中：且在需要将连接板进行移动至另外的检测区时，可以启动多个电动导轨302使其圆周表面连接的导块303可以同时往相远离端进行移动，从而使得两个铰接杆304的交叉角度变化，从而带动位于上端的连接壳3以及连接板带动下降，方便对连接板上端设置的芯片进行下降至另外的检测区，方便对芯片的快速检测。

具体的请参阅图4，底板101的一端固定连接有安装板2，安装板2的上端固定连接有伸缩杆201，伸缩杆201的上端固定连接有定位套203，定位套203内滑动连接有滑动杆202，滑动杆202的下端固定连接有摄像头205，定位套203的两侧内壁均固定连接有防掉块，滑动杆202的两端均开设有防掉槽，且滑动杆202通过两个防掉槽分别滑动连接于两个防掉块的外表面。

本实施例中：在需要将芯片的尺寸以及外观进行检测时，可以启动伸缩杆201使得定位套203和滑动杆202进行移动，调节滑动杆202的高度，而后还可以滑动滑动杆202使得摄像头205可以对准芯片，而后进行拍摄和扫描，方便对芯片的外观以及尺寸进行检测，且滑动杆202在移动时，可以通过两个防掉槽在两个放掉块的外表面进行滑动，进而提高滑动杆202的滑动稳定性。

具体的请参阅图5，滑动杆202的一端开设有多个定位槽204，防掉块和定位套203的一端开设有其中一个定位槽204，定位套203的一端固定连接有两个回缩弹簧215，两个回缩弹簧215的一端固定连接有回弹板214，回弹板214的一端固定连接有定位杆218，定位杆218活动插接于其中一个定位槽204内。

本实施例中：在滑动杆202滑动至合适位置时，可以通过回缩弹簧215的弹性回缩，便可以将回弹板214进行回拉，从而带动定位杆218插接至其中一个定位槽204内，从而将滑动杆202进行固定，使其可以稳定住方便后续的检测。

具体的请参阅图6，回弹板214的一端开设有两个垂直槽，定位套203的一端固定连接有两个水平杆216，两个水平杆216的一端均固定连接有防离板217，回弹板214通过两个垂直槽分别滑动连接于两个水平杆216的圆周表面。

本实施例中：在回弹板214进行移动时，可以通过两个垂直槽在两个水平杆216的圆周表面进行滑动，进而提高回弹板214的滑动稳定性，且通过防离板217可以防止回弹板214过度滑动而导致的损坏。

本发明的工作原理及使用流程：在需要对芯片进行检测时，可以将其放置于置于槽206内，可以启动第二电机119使齿轮105转动，从而带动齿条104和检测探针115进行移动，从而改变检测探针115的纵向位置，而在同时还可以启动第一电机109使丝杆110进行转动，并使丝杆螺母111进行移动，并带动连接架114以及检测探针115进行横向移动，进而对置于槽206内的芯片进行点触供电检测，通过上述设计使得芯片的供电测试更加简单和方便，且本装置的多个测试区间均为垂直放置，可以减少多个装置所需的占地面积，减少芯片检测所需的成本。

最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims

1.一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，包括：

顶板（1），所述顶板（1）的下端固定连接有多个连接杆（102），多个所述连接杆（102）的下端固定连接有底板（101）；

两个检测板（103），两个所述检测板（103）均固定连接于多个连接杆（102）的圆周表面；

两个移动槽（306），两个所述移动槽（306）分别开设于两个检测板（103）的上端；

连接板，所述连接板滑动设于其中一个移动槽（306）内；

啮合槽，所述啮合槽开设于顶板（1）的上端，且啮合槽的一侧内壁开设有放置槽，所述放置槽内固定连接有第二电机（119）；

齿轮（105），所述齿轮（105）通过转轴转动连接于啮合槽内，且齿轮（105）和第二电机（119）的输出端固定连接；

齿条（104），所述齿条（104）滑动设于啮合槽内，且齿条（104）与齿轮（105）相啮合；

丝杆（110），所述丝杆（110）通过轴承转动连接于齿条（104）的一端，且丝杆（110）的圆周表面螺纹连接有丝杆螺母（111）；

以及连接架（114），所述连接架（114）固定连接于丝杆螺母（111）的两端，且连接架（114）的下端固定连接有检测探针（115）。

2.根据权利要求1所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述顶板（1）的下端开设有带动槽（116），所述带动槽（116）的一侧内壁固定连接有防滑杆（118），所述防滑杆（118）的圆周表面滑动连接有带动块（117），所述丝杆（110）转动连接于带动块（117）的一端，所述带动块（117）的一端固定连接有第一电机（109），所述第一电机（109）的输出端与丝杆（110）的一端固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述丝杆螺母（111）的下端固定连接有防转块（112），所述带动块（117）的一端固定连接有防转杆（113），所述防转块（112）滑动连接于防转杆（113）的圆周表面，所述防转杆（113）的一端固定连接有限位板。

4.根据权利要求3所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述顶板（1）的一端固定连接有L杆（106），所述齿条（104）的一端开设有防坠槽（107），且齿条（104）通过防坠槽（107）滑动连接于L杆（106）的外表面，所述防坠槽（107）的上下两侧内壁均开设有稳定槽，所述L杆（106）的上下两端均固定连接有加强块（108），两个所述加强块（108）分别滑动连接于两个稳定槽内。

5.根据权利要求4所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述连接板的上端开设有置于槽（206），所述置于槽（206）的内壁固定连接有多个接电块（207），所述连接板的上端固定连接有组装壳（208），所述组装壳（208）的下内壁固定连接有定位弹簧（209）和垂直杆（212），所述定位弹簧（209）的上端固定连接有定位板（210），所述定位板（210）滑动连接于垂直杆（212）的圆周表面，所述垂直杆（212）的上端固定连接有防坏板（213），所述定位板（210）的上端固定连接有握把（211）。

6.根据权利要求5所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述连接板的一端固定连接有对接块（305），所述对接块（305）和底板（101）的一端均固定连接有连接壳（3），两个连接壳（3）的相靠近端均固定连接有多个联结板（301），多个所述联结板（301）的相靠近端固定连接有两个电动导轨（302），多个所述电动导轨（302）的圆周表面均滑动连接有导块（303），多个所述导块（303）的相靠近端通过转轴转动连接有两个铰接杆（304），两个所述铰接杆（304）之间通过转轴转动连接。

7.根据权利要求6所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述底板（101）的一端固定连接有安装板（2），所述安装板（2）的上端固定连接有伸缩杆（201），所述伸缩杆（201）的上端固定连接有定位套（203），所述定位套（203）内滑动连接有滑动杆（202），所述滑动杆（202）的下端固定连接有摄像头（205）。

8.根据权利要求7所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述定位套（203）的两侧内壁均固定连接有防掉块，所述滑动杆（202）的两端均开设有防掉槽，且滑动杆（202）通过两个防掉槽分别滑动连接于两个防掉块的外表面。

9.根据权利要求8所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述滑动杆（202）的一端开设有多个定位槽（204），所述防掉块和定位套（203）的一端开设有其中一个定位槽（204），所述定位套（203）的一端固定连接有两个回缩弹簧（215），两个所述回缩弹簧（215）的一端固定连接有回弹板（214），所述回弹板（214）的一端固定连接有定位杆（218），所述定位杆（218）活动插接于其中一个定位槽（204）内。

10.根据权利要求9所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述回弹板（214）的一端开设有两个垂直槽，所述定位套（203）的一端固定连接有两个水平杆（216），两个所述水平杆（216）的一端均固定连接有防离板（217），所述回弹板（214）通过两个垂直槽分别滑动连接于两个水平杆（216）的圆周表面。