CN218383164U

CN218383164U - 一种用于芯片测试的探针控制设备

Info

Publication number: CN218383164U
Application number: CN202222164534.0U
Authority: CN
Inventors: 车志东; 潘其好
Original assignee: Nanjing Kexing Semiconductor Testing Equipment Co ltd
Current assignee: Nanjing Kexing Semiconductor Testing Equipment Co ltd
Priority date: 2022-08-17
Filing date: 2022-08-17
Publication date: 2023-01-24
Anticipated expiration: 2032-08-17

Abstract

本实用新型公开了一种用于芯片测试的探针控制设备，包括支架和固定机构，所述固定机构设置于支架一侧的上部，所述固定机构中的连接座设置于支架一侧的上部，所述固定机构还包括有滑槽、滑条、螺栓、连接板、第一弹簧、夹持块和拉杆，所述滑槽开设于连接座的底部；本实用新型通过固定机构的设置，具备可对探针以及整组探针一同拆装，从而利于后续的单根亦或是整组一同进行更换操作，并且操作简单便捷，提高了工作效率，利用连接座、滑槽、滑条和螺栓的配合方便对将整组探针本体拆装，经取料机构的设置，方便自动将检测完成的后的芯片取下，以便于后续再次放置未检测的芯片，不仅利于操作，而且提高了检测的效率。

Description

一种用于芯片测试的探针控制设备

技术领域

本实用新型涉及芯片测试探针技术领域，具体涉及一种用于芯片测试的探针控制设备。

背景技术

在芯片生产后为保证其合格性需要对其进行检测工作，而为了检测出失效或者半失效的芯片，芯片检测环节必不可少，而其在检测时需要通过探针对其进行检测工作，且探针是用于测试PCBA的一种用于芯片测试的探针控制设备测试针，表面镀金，内部有平均寿命3万至10万次的高性能弹簧，

现有技术中，公告号CN216449623U公开了一种用于芯片测试的探针控制设备用于高精密芯片测试的探针台，涉及高精密芯片测试技术领域，本实用新型包括底座，底座上表面设有限位杆、升降丝杆、气缸和支撑架，限位杆表面设有升降台，升降丝杆穿透升降台并与升降台螺纹连接，升降丝杆上表面设有电机，电机输出端同轴连接有连杆，连杆与升降丝杆同轴连接。本实用新型通过气缸，在使用时，启动气缸，从而升降工作台，随后将芯片通过固定槽和支撑块固定，随后启动电机随后带动升降丝杆旋转，从而带动升降台升降，随后移动滑动块将探针移动至需要测试的位置，从而对芯片进行测试，当需要对其他位置进行测试时，旋转工作台，从而对其他位置进行测试，较为便捷。

虽然上述技术解决了高度调整以及位置移动的技术问题，但是其在频繁工作后不利于对探针亦或是整组探针一同取下拆装更换，不仅会造成拆装困难，而且降低了工作的效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于芯片测试的探针控制设备，具备可对探针以及整组探针一同拆装，从而利于后续的单根亦或是整组一同进行更换操作，并且操作简单便捷，提高了工作效率，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于芯片测试的探针控制设备，包括支架和固定机构，所述固定机构设置于支架一侧的上部，所述固定机构中的连接座设置于支架一侧的上部；

所述固定机构还包括有滑槽、滑条、螺栓、连接板、第一弹簧、夹持块和拉杆，所述滑槽开设于连接座的底部，所述滑条滑动连接于滑槽的内部，所述螺栓螺纹连接于连接座的一侧，所述连接板安装于滑条的底部，所述第一弹簧分别安装于连接板内腔的两侧，所述夹持块安装于第一弹簧的一侧，所述拉杆安装于夹持块的一侧。

优选的，所述支架一侧的顶部安装有电动滑台，所述电动滑台的底部安装于电动推杆，所述连接座安装于电动推杆的输出端。

优选的，所述支架的一端设置有调整机构，所述调整机构包括底板、第一电机和转盘座，所述底板安装于支架的一端。

优选的，所述第一电机和安装于底板的顶部，所述转盘座安装于第一电机的输出轴，所述夹持块的内侧夹持有探针本体。

优选的，所述转盘座的顶部设置有取料机构，所述取料机构包括安装板、第二弹簧、压板、滚轮、第二电机、传动轴和驱动轮，所述安装板安装于转盘座的顶部。

优选的，所述第二弹簧安装于安装板的底部，所述压板安装于第二弹簧的一端，所述滚轮活动安装于压板的底部。

优选的，所述第二电机安装于转盘座的内腔，所述传动轴键连接于第二电机的输出轴，所述驱动轮分别安装于传动轴表面的两侧。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型通过固定机构的设置，具备可对探针以及整组探针一同拆装，从而利于后续的单根亦或是整组一同进行更换操作，并且操作简单便捷，提高了工作效率，利用连接座、滑槽、滑条和螺栓的配合方便对将整组探针本体拆装，而连接板、第一弹簧、夹持块和拉杆的配合则用于单一的探针本体进行拆装工作。

2、本实用新型经取料机构的设置，方便自动将检测完成的后的芯片取下，以便于后续再次放置未检测的芯片，不仅利于操作，而且提高了检测的效率，利用安装板、第二弹簧、压板和滚轮的配合方便在放置芯片时对其进行压紧，而滚轮还可辅助其进行取料工作，由第二电机、传动轴和驱动轮的配合方便使驱动轮滚动并且和滚轮配合方便将检测后的芯片进行卸料工作。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型连接板结构示意图；

图3为本实用新型图1中A处局部放大结构示意图；

图4为本实用新型图1中B处局部放大结构示意图；

图5为本实用新型转盘座结构示意图。

图中：1、支架；2、固定机构；21、连接座；22、滑槽；23、滑条；24、螺栓；25、连接板；26、第一弹簧；27、夹持块；28、拉杆；3、调整机构；31、底板；32、第一电机；33、转盘座；4、取料机构；41、安装板；42、第二弹簧；43、压板；44、滚轮；45、第二电机；46、传动轴；47、驱动轮；5、探针本体；6、电动滑台；7、电动推杆。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1～5，本实用新型提供一种用于芯片测试的探针控制设备，包括支架1和固定机构2，固定机构2设置于支架1一侧的上部，固定机构2中的连接座21设置于支架1一侧的上部，利用连接座21起到连接的作用；

固定机构2还包括有滑槽22、滑条23、螺栓24、连接板25、第一弹簧26、夹持块27和拉杆28，滑槽22开设于连接座21的底部，滑条23滑动连接于滑槽22的内部，螺栓24螺纹连接于连接座21的一侧，利用滑槽22和滑条23滑动连接的关系利于对连接板25起到取放的作用，而螺栓24则用于其在安装时对其进行锁止固定工作；

连接板25安装于滑条23的底部，第一弹簧26分别安装于连接板25内腔的两侧，夹持块27安装于第一弹簧26的一侧，拉杆28安装于夹持块27的一侧，利用第一弹簧26的弹性推动夹持块27便于对探针本体5进行夹持固定工作，且需要取下时拉动拉杆28即可使夹持块27脱离探针本体5，随后便可直接取下探针本体5。

进一步，如图1所示，支架1一侧的顶部安装有电动滑台6，电动滑台6的底部安装于电动推杆7，连接座21安装于电动推杆7的输出端，启动电动滑台6便于带动下方连接的部件一同进行左右移动工作，以便于进行位置调整，而启动电动推杆7则用于推动其输出端的部件，从而利于调整其所需的高低位置。

另外，如图1所示，支架1的一端设置有调整机构3，调整机构3包括底板31、第一电机32和转盘座33，底板31安装于支架1的一端，利用底板31起到支撑连接的作用。

另外，如图1所示，第一电机32和安装于底板31的顶部，转盘座33安装于第一电机32的输出轴，夹持块27的内侧夹持有探针本体5，而启动第一电机32可用于带动转盘座33进行转动，从而调整芯片的位置，以便于自动跟换未检测的芯片，而转盘座33利于放置多组芯片，探针本体5在被推动后实现检测工作。

优选的，如图1和5所示，转盘座33的顶部设置有取料机构4，取料机构4包括安装板41、第二弹簧42、压板43、滚轮44、第二电机45、传动轴46和驱动轮47，安装板41安装于转盘座33的顶部，利用安装板41可用于安装第二弹簧42。

其中，如图1和5所示，第二弹簧42安装于安装板41的底部，压板43安装于第二弹簧42的一端，滚轮44活动安装于压板43的底部，利用第二弹簧42的弹性推动压板43以及其底部的滚轮44方便对芯片进行压紧工作，且滚轮44设置有两组，每组两个，前后各一个，以便于还可辅助其进行卸料工作。

其中，如图1所示，第二电机45安装于转盘座33的内腔，传动轴46键连接于第二电机45的输出轴，驱动轮47分别安装于传动轴46表面的两侧，检测完成后需要卸料时，启动第二电机45，利用第二电机45带动传动轴46和驱动轮47的转动，以便于带动芯片向外侧移动，从而实现卸料的作用。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims

1.一种用于芯片测试的探针控制设备，包括支架（1）和固定机构（2），其特征在于：所述固定机构（2）设置于支架（1）一侧的上部，所述固定机构（2）中的连接座（21）设置于支架（1）一侧的上部；

所述固定机构（2）还包括有滑槽（22）、滑条（23）、螺栓（24）、连接板（25）、第一弹簧（26）、夹持块（27）和拉杆（28），所述滑槽（22）开设于连接座（21）的底部，所述滑条（23）滑动连接于滑槽（22）的内部，所述螺栓（24）螺纹连接于连接座（21）的一侧，所述连接板（25）安装于滑条（23）的底部，所述第一弹簧（26）分别安装于连接板（25）内腔的两侧，所述夹持块（27）安装于第一弹簧（26）的一侧，所述拉杆（28）安装于夹持块（27）的一侧。

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的探针控制设备，其特征在于：所述支架（1）一侧的顶部安装有电动滑台（6），所述电动滑台（6）的底部安装于电动推杆（7），所述连接座（21）安装于电动推杆（7）的输出端。

3.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的探针控制设备，其特征在于：所述支架（1）的一端设置有调整机构（3），所述调整机构（3）包括底板（31）、第一电机（32）和转盘座（33），所述底板（31）安装于支架（1）的一端。

4.根据权利要求3所述的一种用于芯片测试的探针控制设备，其特征在于：所述第一电机（32）和安装于底板（31）的顶部，所述转盘座（33）安装于第一电机（32）的输出轴，所述夹持块（27）的内侧夹持有探针本体（5）。

5.根据权利要求4所述的一种用于芯片测试的探针控制设备，其特征在于：所述转盘座（33）的顶部设置有取料机构（4），所述取料机构（4）包括安装板（41）、第二弹簧（42）、压板（43）、滚轮（44）、第二电机（45）、传动轴（46）和驱动轮（47），所述安装板（41）安装于转盘座（33）的顶部。

6.根据权利要求5所述的一种用于芯片测试的探针控制设备，其特征在于：所述第二弹簧（42）安装于安装板（41）的底部，所述压板（43）安装于第二弹簧（42）的一端，所述滚轮（44）活动安装于压板（43）的底部。

7.根据权利要求6所述的一种用于芯片测试的探针控制设备，其特征在于：所述第二电机（45）安装于转盘座（33）的内腔，所述传动轴（46）键连接于第二电机（45）的输出轴，所述驱动轮（47）分别安装于传动轴（46）表面的两侧。