CN207624663U - 一种用于晶片检测的电气检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于晶片检测的电气检测设备，包括底座，底座上端中部安装有支撑齿条，支撑齿条中部设有升降箱，升降箱内部安装有升降齿轮，升降齿轮中部同轴位置安装有旋转蜗轮，旋转蜗轮下端啮合有蜗杆，蜗杆左端安装有驱动轴，升降箱右端安装有升降套，升降套中部安装有滑块，滑块中部连接有丝杆，滑块下端安装有探针检测器，底座上端中部安装有固定槽，固定槽内部安装有滚球，固定槽上端安装有定位台，定位台下端两侧设有固定装置，固定装置包括固定筒，固定筒内部底端安装有伸缩弹簧。本实用新型，实现着对探针检测器的上下左右移动，进而保证着检测探针与晶片的准确接触，避免着手持检测探针进行检测，满足着晶片检测的需要。

Description

一种用于晶片检测的电气检测设备

技术领域

本实用新型涉及晶片检测技术领域，具体是一种用于晶片检测的电气检测设备。

背景技术

经常使用的这种电气检测设备被用来和被测件进行电接触，以测试它的功能。这种电气检测设备与被测件之间为电连接，也就是说，它一方面与被测件的电气端子接触，另一方面又将电接触用来连接一个检测系统，这个系统通过检测设备向被测件发送电信号，测量它的电阻、电流和电压等以检测它的功能。由于电气上的被测件常常是极其细小的、用来制作电子部件的电子元件如晶片，因此，触头的销状接触元件的尺寸也极小。为了能与检测系统连接，探头的接触元件与一个连接装置相接触，这个装置通过转换使接触间隙变大，从而可以与通向检测系统的连接电缆相连接。

然而目前的电气检测设备在检验晶片时，通常是手动拿着测试夹与晶片上的触点进行一对一接触，不仅操作较为困难，容易产生晃动，且无法将测试探针准确的与晶片上的触点进行接触，严重影响着测试效果。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种用于晶片检测的电气检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种用于晶片检测的电气检测设备，包括底座，所述底座上端中部安装有支撑齿条，支撑齿条中部设有升降箱，升降箱内部安装有升降齿轮，升降齿轮中部同轴位置安装有旋转蜗轮，旋转蜗轮下端啮合有蜗杆，蜗杆左端安装有驱动轴，所述升降箱右端安装有升降套，升降套中部安装有滑块，滑块中部连接有丝杆，所述滑块下端安装有探针检测器，所述底座上端中部安装有固定槽，固定槽内部安装有滚球，所述固定槽上端安装有定位台，所述定位台下端两侧设有固定装置，所述固定装置包括固定筒，固定筒内部底端安装有伸缩弹簧，伸缩弹簧上端安装有伸缩柱。

作为本实用新型进一步的方案：所述底座下端两侧安装有支撑腿，底座上端两侧安装有固定筒。

作为本实用新型进一步的方案：所述定位台上端外侧均匀设有定位槽，定位台下端外侧均匀设有与伸缩柱相互配合的限位槽。

作为本实用新型进一步的方案：所述伸缩柱中部安装有压杆。

作为本实用新型进一步的方案：所述探针检测器前端中部安装有指示灯，探针检测器下端安装有检测探针。

作为本实用新型再进一步的方案：所述丝杆右端安装有第一手柄，驱动轴左端安装有第二手柄。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

所述一种用于晶片检测的电气检测设备，结构合理，设计新颖，通过设有的升降箱和升降套实现着对探针检测器的上下左右移动，进而保证着检测探针与晶片的准确接触，避免着手持检测探针进行检测，操作简单，满足着晶片检测的需要，实用性强。

附图说明

图1为一种用于晶片检测的电气检测设备的结构示意图。

图2为一种用于晶片检测的电气检测设备中升降箱的结构示意图。

图3为一种用于晶片检测的电气检测设备中固定装置的结构示意图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。

参阅图1～3，本实用新型实施例中，一种用于晶片检测的电气检测设备，包括底座1，所述底座1上端中部安装有支撑齿条2，支撑齿条2中部设有升降箱3，升降箱3内部安装有升降齿轮31，升降齿轮31中部同轴位置安装有旋转蜗轮32，旋转蜗轮32下端啮合有蜗杆35，蜗杆35左端安装有驱动轴34，驱动轴34左端安装有第二手柄33，用于带动驱动轴34进行转动，所述升降箱3右端安装有升降套6，升降套6中部安装有滑块5，滑块5中部连接有丝杆4，所述滑块5中部设有与丝杆4相互配合的螺纹孔，进而将丝杆4的旋转运动转化为滑块5的直线运动，所述丝杆4右端安装有第一手柄7，用于带动着丝杆4进行转动，所述滑块5下端安装有探针检测器9，所述探针检测器9前端中部安装有指示灯8，每个指示灯8均于对应的检测探针10进行连接，从而用于判断着检测探针10是否与晶片上对应的触点进行接触，探针检测器9下端安装有检测探针10，所述底座1上端中部安装有固定槽15，所述固定槽15分为2部分，上部分与定位台12进行固定连接，下部分与底座1进行固定连接，固定槽15内部安装有滚球16，所述固定槽15上端安装有定位台12，所述定位台12上端外侧均匀设有定位槽11，定位台12下端外侧均匀设有与伸缩柱134相互配合的限位槽，所述定位台12下端两侧设有固定装置13，所述固定装置13包括固定筒131，固定筒131内部底端安装有伸缩弹簧132，伸缩弹簧132上端安装有伸缩柱134，用于实现着对伸缩柱134的限位支撑，所述伸缩柱134中部安装有压杆133，用于带动着伸缩柱134上下移动，所述底座1下端两侧安装有支撑腿14，底座1上端两侧安装有固定筒131。

所述一种用于晶片检测的电气检测设备，检测时，将所需要检测的晶片放于定位槽11中，之后转动第一手柄33，第一手柄33带动着驱动轴34进行转动，然后通过旋转蜗轮32和蜗杆35的啮合作用，使得升降齿轮31同步转动，然后通过升降齿轮31与支撑齿条2之间的啮合作用，从而使得整个升降箱3带动着升降套6往下移动，由于整个升降箱3内部存在蜗杆蜗轮啮合的参与，而蜗杆蜗轮啮合存在自锁性，所以使得升降箱3的位置得以保持，之后转动着第二手柄7，从而使得滑块5带动着探针检测器9左右移动，使得探针10准确的与晶片进行接触，待某一定位槽11内的晶片检测完成后，通过下移压杆，将伸缩柱顶134端脱离限位槽，然后转动一个角度后，使得另一个定位槽11中的晶片位于探针检测器9下端，松下压杆133，之后重复上述动作，实现着该晶片的检测。本实用新型，结构合理，设计新颖，通过设有的升降箱6和升降套6实现着对探针检测器9的上下左右移动，进而保证着检测探针10与晶片的准确接触，避免着手持检测探针10进行检测，操作简单，满足着晶片检测的需要，实用性强。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种用于晶片检测的电气检测设备，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）上端中部安装有支撑齿条（2），支撑齿条（2）中部设有升降箱（3），升降箱（3）内部安装有升降齿轮（31），升降齿轮（31）中部同轴位置安装有旋转蜗轮（32），旋转蜗轮（32）下端啮合有蜗杆（35），蜗杆（35）左端安装有驱动轴（34），所述升降箱（3）右端安装有升降套（6），升降套（6）中部安装有滑块（5），滑块（5）中部连接有丝杆（4），所述滑块（5）下端安装有探针检测器（9），所述底座（1）上端中部安装有固定槽（15），固定槽（15）内部安装有滚球（16），所述固定槽（15）上端安装有定位台（12），所述定位台（12）下端两侧设有固定装置（13），所述固定装置（13）包括固定筒（131），固定筒（131）内部底端安装有伸缩弹簧（132），伸缩弹簧（132）上端安装有伸缩柱（134）。

2.根据权利要求1所述的一种用于晶片检测的电气检测设备，其特征在于，所述底座（1）下端两侧安装有支撑腿（14），底座（1）上端两侧安装有固定筒（131）。

3.根据权利要求1所述的一种用于晶片检测的电气检测设备，其特征在于，所述定位台（12）上端外侧均匀设有定位槽（11），定位台（12）下端外侧均匀设有与伸缩柱（134）相互配合的限位槽。

4.根据权利要求1所述的一种用于晶片检测的电气检测设备，其特征在于，所述伸缩柱（134）中部安装有压杆（133）。

5.根据权利要求1所述的一种用于晶片检测的电气检测设备，其特征在于，所述探针检测器（9）前端中部安装有指示灯（8），探针检测器（9）下端安装有检测探针（10）。

6.根据权利要求1所述的一种用于晶片检测的电气检测设备，其特征在于，所述丝杆（4）右端安装有第一手柄（7），驱动轴（34）左端安装有第二手柄（33）。