CN207752049U - 一种元器件测试装置中的探针组 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种元器件测试装置中的探针组，包括底座，底座上端两侧安装有支撑架，支撑架顶端安装有顶板，顶板中部安装有第一螺杆，第一螺杆上端安装有第一旋转板，第一螺杆下端安装有升降板，升降板下端通过螺栓连接有上探针座，底座上端中部安装有工作台，底座两端上部安装有限位架，限位架中部安装有第二螺杆，第二螺杆外侧安装有第二旋转板，第二螺杆内侧安装有下探针座，支撑架下端外侧安装有探针槽，探针槽电性连接有元器件插槽。本实用新型，实现着对元器件的高效测量，同时通过设有的元器件插槽实现着与不同类型的元器件的对接，避免直接更换下探针座，操作简单，可靠性高。

Description

一种元器件测试装置中的探针组

技术领域

本实用新型涉及元器件测试领域，具体是一种元器件测试装置中的探针组。

背景技术

电子元器件是元件和器件的总称。电子元件：指在工厂生产加工时不改变分子成分的成品。如电阻器、电容器、电感器。因为它本身不产生电子，它对电压、电流无控制和变换作用，所以又称无源器件。电子器件：指在工厂生产加工时改变了分子结构的成品。例如晶体管、电子管、集成电路。因为它本身能产生电子，对电压、电流有控制、变换作用（放大、开关、整流、检波、振荡和调制等），所以又称有源器件。按分类标准，电子器件可分为12个大类，可归纳为真空电子器件和半导体器件两大块。

在电子元器件生产结束后，会对电子元器件进行检测，器件测量装置用于对元器件的参数进行测量，一般用于元器件测试分选机中。元器件测试分选机在对元器件进行测量后，会将符合要求的元器件放置在一处，将不符合要求的元器件放置在另一处，从而实现对元器件的分选。然而现有的测量器件中的探针组结构简单，对于不同类型的电子元件测量时，测量操作困难，难以满足对实际电子元件的测量需要，实用性差。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种元器件测试装置中的探针组，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种元器件测试装置中的探针组，包括底座，所述底座上端两侧安装有支撑架，支撑架顶端安装有顶板，顶板中部安装有第一螺杆，第一螺杆上端安装有第一旋转板，所述第一螺杆下端安装有升降板，升降板下端通过螺栓连接有上探针座，所述底座上端中部安装有工作台，所述底座两端上部安装有限位架，限位架中部安装有第二螺杆，第二螺杆外侧安装有第二旋转板，第二螺杆内侧安装有下探针座，所述支撑架下端外侧安装有探针槽，探针槽电性连接有元器件插槽。

作为本实用新型进一步的方案：所述第一旋转板和第二旋转板上端均安装有旋转手柄。

作为本实用新型进一步的方案：所述升降板两端中部通过导向套连接有支撑架。

作为本实用新型进一步的方案：所述探针槽中设有与下探针座相互配合的探针孔。

作为本实用新型进一步的方案：所述上探针座下端均匀安装有上探针，下探针座内侧均匀安装有下探针。

作为本实用新型再进一步的方案：所述工作台上放置有待测量的电子元器件。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

所述一种元器件测试装置中的探针组，结构合理，设计新颖，通过设有的上探针座和下探针座实现着对元器件的高效测量，同时通过设有的元器件插槽实现着与不同类型的元器件的对接，避免直接更换下探针座，操作简单，可靠性高。

附图说明

图1为一种元器件测试装置中的探针组的结构示意图。

图2为一种元器件测试装置中的探针组中探针槽的结构示意图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。

参阅图1和图2，本实用新型实施例中，一种元器件测试装置中的探针组，包括底座1，所述底座1上端两侧安装有支撑架14，用于实现着对顶板11的支撑，支撑架14顶端安装有顶板11，顶板11中部安装有第一螺杆13，第一螺杆13上端安装有第一旋转板12，所述第一螺杆13下端安装有升降板10，所述升降板10两端中部通过导向套15连接有支撑架14，所述导向套15用于对升降板10的上下移动进行限位，避免着升降板10在上下移动过程中发生歪斜，升降板10下端通过螺栓9连接有上探针座16，通过所述螺栓9可以更加需要，实现着对上探针组16的更换，所述上探针座16下端均匀安装有上探针3，所述底座1上端中部安装有工作台4，所述工作台4上放置有待测量的电子元器件，所述底座1两端上部安装有限位架7，限位架7中部安装有第二螺杆8，第二螺杆8外侧安装有第二旋转板17，所述第一旋转板12和第二旋转板17上端均安装有旋转手柄，第二螺杆8内侧安装有下探针座18，下探针座18内侧均匀安装有下探针6，所述支撑架14下端外侧安装有探针槽5，所述探针槽5中设有与下探针座18相互配合的探针孔51，进而实现着探针槽5与下探针座18的对接，探针槽5电性连接有元器件插槽2，所述元器件插槽2用于对原本在电子元器件上带有的插柱进行对接。

所述一种元器件测试装置中的探针组，测量时，将待测量的电子元器件放置在工作台4上，然后转动着第一旋转轮12，使得升降板10带动着上探针组16往下移动，进而实现着对元器件上端的连接，于此同时，根据元器件型号，选择不同的元器件插槽2连接在待测的元器件上，并将元器件插槽2另一端连接在探针槽5上，然后转动第二旋转轮17，将下探针座18与探针槽5相互配合，实现着线路的导通，避免着在测量不同型号时将整个下探针座18更换，适用性强。本实用新型，结构合理，设计新颖，通过设有的上探针座10和下探针座18实现着对元器件的高效测量，同时通过设有的元器件插槽2实现着与不同类型的元器件的对接，避免直接更换下探针座18，操作简单，可靠性高。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种元器件测试装置中的探针组，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）上端两侧安装有支撑架（14），支撑架（14）顶端安装有顶板（11），顶板（11）中部安装有第一螺杆（13），第一螺杆（13）上端安装有第一旋转板（12），所述第一螺杆（13）下端安装有升降板（10），升降板（10）下端通过螺栓（9）连接有上探针座（16），所述底座（1）上端中部安装有工作台（4），所述底座（1）两端上部安装有限位架（7），限位架（7）中部安装有第二螺杆（8），第二螺杆（8）外侧安装有第二旋转板（17），第二螺杆（8）内侧安装有下探针座（18），所述支撑架（14）下端外侧安装有探针槽（5），探针槽（5）电性连接有元器件插槽（2）。

2.根据权利要求1所述的一种元器件测试装置中的探针组，其特征在于，所述第一旋转板（12）和第二旋转板（17）上端均安装有旋转手柄。

3.根据权利要求1所述的一种元器件测试装置中的探针组，其特征在于，所述升降板（10）两端中部通过导向套（15）连接有支撑架（14）。

4.根据权利要求1所述的一种元器件测试装置中的探针组，其特征在于，所述探针槽（5）中设有与下探针座（18）相互配合的探针孔（51）。

5.根据权利要求1所述的一种元器件测试装置中的探针组，其特征在于，所述上探针座（16）下端均匀安装有上探针（3），下探针座（18）内侧均匀安装有下探针（6）。

6.根据权利要求1所述的一种元器件测试装置中的探针组，其特征在于，所述工作台（4）上放置有待测量的电子元器件。