CN108828417A - 一种塑封微电子器件绝缘性测试设备 - Google Patents

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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
    • G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
    • G01R31/1263—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation
    • G01R31/129—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation of components or parts made of semiconducting materials; of LV components or parts

Abstract

本发明公开的属于绝缘性测试设备技术领域，具体为一种塑封微电子器件绝缘性测试设备，包括底座，所述底座的顶部左右两侧对称安装有支杆，两侧所述支杆的顶部安装有横梁，所述横梁的顶部左侧安装有测试仪，所述支杆的外壁套接有滑动套筒，所述伸缩杆的另一端连接有电极，左侧所述支杆的左侧和右侧所述支杆的右侧均螺接有螺杆，且螺杆贯穿支杆，所述螺杆贯穿支杆的一端连接有夹板，通过调节丝杆能够实现对不同形状和大小的塑封微电子器件的夹紧，通过调节滑动套和伸缩杆能够调节两个电极的高度和两个电极之间的相对位置，从而能够实现对不同形状和大小的塑封微电子器件的绝缘测试，且测量的数据的准确性高，使用方便。

Description

一种塑封微电子器件绝缘性测试设备
技术领域
本发明涉及绝缘性测试设备技术领域，具体为一种塑封微电子器件绝缘性测试设备。
背景技术
封装微电子器件(半导体芯片、集成电路晶片等)是一种全包封塑封功率型半导体器件，对器件塑封体的绝缘性有较高的要求，一般要求塑封体的击穿电压≥DC2500V。因此，塑封体绝缘测试是产品生产过程中的一道必备工序，以别除不良的封装体，来确保封装体的出货品质。现有的绝缘性测试设备无法针对于不同形状的塑封微电子器件进行检测，且测试结果不准确，为此，我们提出一种塑封微电子器件绝缘性测试设备。
发明内容
本发明的目的在于提供一种塑封微电子器件绝缘性测试设备，以解决上述背景技术中提出的现有的绝缘性测试设备无法针对于不同形状的塑封微电子器件进行检测，且测试结果不准确的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种塑封微电子器件绝缘性测试设备，包括底座，所述底座的顶部左右两侧对称安装有支杆，两侧所述支杆的顶部安装有横梁，所述横梁的顶部左侧安装有测试仪，所述支杆的外壁套接有滑动套筒，左侧所述滑动套筒的左侧和右侧所述滑动套筒的右侧均安装有定位螺栓，所述滑动套筒的另一侧连接有伸缩杆，所述伸缩杆的另一端连接有电极，两个所述电极的顶部均通过导线与测试仪连接，左侧所述支杆的左侧和右侧所述支杆的右侧均螺接有螺杆，且螺杆贯穿支杆，所述螺杆贯穿支杆的一端连接有夹板，左侧所述夹板的右侧底部和右侧所述夹板的左侧底部均安装有垫板，所述测试仪包括高压产生电路，所述高压产生电路的输出端电性连接采样电路的输入端，所述采样电路的输出端电性连接单片机的输入端，所述单片机的输出端电性连接无线通讯模块的输入端，所述无线通讯模块的输出端电性连接上位机的输入端，所述单片机双向电性连接人机交互装置。
优选的，所述底座的顶部横向开有滑槽，所述垫板的底部安装有与滑槽相配合的滑块。
优选的，所述螺杆与夹板连接的一端安装有转动球，所述夹板的侧壁开有与转动球相配合的球槽。
优选的，所述人机交互装置包括显示屏和操作面板。
优选的，所述采样电路包括稳压电路和A/D转换电路。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：该发明提出的一种塑封微电子器件绝缘性测试设备，通过调节丝杆能够实现对不同形状和大小的塑封微电子器件的夹紧，通过调节滑动套和伸缩杆能够调节两个电极的高度和两个电极之间的相对位置，从而能够实现对不同形状和大小的塑封微电子器件的绝缘测试，且测量的数据的准确性高，使用方便。
附图说明
图1为本发明结构示意图；
图2为本发明夹板和螺杆连接结构示意图；
图3为本发明测试仪原理框图。
图中：1底座、2支杆、3横梁、4测试仪、41高压产生电路、42采样电路、421稳压电路、422 A/D转换电路、43单片机、44人机交互装置、45无线通讯模块、46上位机、5夹板、51球槽、6垫板、7滑动套筒、8定位螺栓、9伸缩杆、10电极、11螺杆、111转动球。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-3，本发明提供一种技术方案：一种塑封微电子器件绝缘性测试设备，包括底座1，所述底座1的顶部左右两侧对称安装有支杆2，两侧所述支杆2的顶部安装有横梁3，所述横梁3的顶部左侧安装有测试仪4，所述支杆2的外壁套接有滑动套筒7，左侧所述滑动套筒7的左侧和右侧所述滑动套筒7的右侧均安装有定位螺栓8，所述滑动套筒7的另一侧连接有伸缩杆9，所述伸缩杆9的另一端连接有电极10，两个所述电极10的顶部均通过导线与测试仪4连接，左侧所述支杆2的左侧和右侧所述支杆2的右侧均螺接有螺杆11，且螺杆11贯穿支杆2，所述螺杆11贯穿支杆2的一端连接有夹板5，左侧所述夹板5的右侧底部和右侧所述夹板5的左侧底部均安装有垫板6，所述测试仪4包括高压产生电路41，所述高压产生电路41的输出端电性连接采样电路42的输入端，所述采样电路42的输出端电性连接单片机43的输入端，所述单片机43的输出端电性连接无线通讯模块45的输入端，所述无线通讯模块45的输出端电性连接上位机46的输入端，所述单片机43双向电性连接人机交互装置44。
其中，所述底座1的顶部横向开有滑槽，所述垫板6的底部安装有与滑槽相配合的滑块，便于垫板6在水平位置上的平移，所述螺杆11与夹板5连接的一端安装有转动球111，所述夹板5的侧壁开有与转动球111相配合的球槽51，便于螺杆11的转动，所述人机交互装置44包括显示屏和操作面板，便于数据显示和设备的控制，所述采样电路42包括稳压电路421和A/D转换电路422，实现对采集电路的稳压和信号的格式转换。
工作原理：使用时，将塑封微电子器件放在两个垫板6上，然后旋转螺杆11，螺杆11的旋转带动两个夹板5和垫板6的水平移动，从而实现对塑封微电子器件的夹紧，夹板5和垫板6均采用弹性的绝缘材料制成，然后通过定位螺栓8和伸缩杆9实现对两个电极10的高度和相对距离的调节，将两个电极10卡在塑封微电子器件的顶部，通过高压产生电路41产生直流高压，电流经过塑封微电子器件，然后通过采样电路42进行电压处理和采样，然后将信号传输至单片机43进行处理和分析，并通过无线通讯模块45实现处理结果的无线发送。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种塑封微电子器件绝缘性测试设备，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部左右两侧对称安装有支杆(2)，两侧所述支杆(2)的顶部安装有横梁(3)，所述横梁(3)的顶部左侧安装有测试仪(4)，所述支杆(2)的外壁套接有滑动套筒(7)，左侧所述滑动套筒(7)的左侧和右侧所述滑动套筒(7)的右侧均安装有定位螺栓(8)，所述滑动套筒(7)的另一侧连接有伸缩杆(9)，所述伸缩杆(9)的另一端连接有电极(10)，两个所述电极(10)的顶部均通过导线与测试仪(4)连接，左侧所述支杆(2)的左侧和右侧所述支杆(2)的右侧均螺接有螺杆(11)，且螺杆(11)贯穿支杆(2)，所述螺杆(11)贯穿支杆(2)的一端连接有夹板(5)，左侧所述夹板(5)的右侧底部和右侧所述夹板(5)的左侧底部均安装有垫板(6)，所述测试仪(4)包括高压产生电路(41)，所述高压产生电路(41)的输出端电性连接采样电路(42)的输入端，所述采样电路(42)的输出端电性连接单片机(43)的输入端，所述单片机(43)的输出端电性连接无线通讯模块(45)的输入端，所述无线通讯模块(45)的输出端电性连接上位机(46)的输入端，所述单片机(43)双向电性连接人机交互装置(44)。
2.根据权利要求1所述的一种塑封微电子器件绝缘性测试设备，其特征在于：所述底座(1)的顶部横向开有滑槽，所述垫板(6)的底部安装有与滑槽相配合的滑块。
3.根据权利要求1所述的一种塑封微电子器件绝缘性测试设备，其特征在于：所述螺杆(11)与夹板(5)连接的一端安装有转动球(111)，所述夹板(5)的侧壁开有与转动球(111)相配合的球槽(51)。
4.根据权利要求1所述的一种塑封微电子器件绝缘性测试设备，其特征在于：所述人机交互装置(44)包括显示屏和操作面板。
5.根据权利要求1所述的一种塑封微电子器件绝缘性测试设备，其特征在于：所述采样电路(42)包括稳压电路(421)和A/D转换电路(422)。
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