CN110993536B - 一种芯片检测治具的取放芯片操作装置 - Google Patents
一种芯片检测治具的取放芯片操作装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110993536B CN110993536B CN201911305941.5A CN201911305941A CN110993536B CN 110993536 B CN110993536 B CN 110993536B CN 201911305941 A CN201911305941 A CN 201911305941A CN 110993536 B CN110993536 B CN 110993536B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- plate
- chip
- fixedly connected
- lifting
- detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67271—Sorting devices
Abstract
本发明公开了一种芯片检测治具的取放芯片操作装置,包括升降机构、抽拉机构、存储机构和拾取机构,升降机构内安装有若干拾取机构,拾取机构的下方且位于升降机构内安装有抽拉机构,抽拉机构的正下方且位于升降机构内安装有存储机构,升降机构包括检测箱、限位条、升降板、纵向齿条、转轴、一号齿轮、取放槽、横板和二号齿轮,本发明一种芯片检测治具的取放芯片操作装置,由转轴、一号齿轮和二号齿轮驱动横向齿条和纵向齿条运行,在检测板送入检测箱的过程中,升降板能够逐渐下移,进而使得接电触头能够压紧芯片,缓冲弹簧和安装板的设置,使得接电触头能够柔性压紧芯片,从而避免芯片损毁的问题,检测完成后,抽出检测板。
Description
技术领域
本发明涉及一种取放芯片操作装置,特别涉及一种芯片检测治具的取放芯片操作装置,属于芯片加工技术领域。
背景技术
芯片在电子学中是一种把电路小型化的方式,并时常制造在半导体晶圆表面上,在芯片生产工序内,芯片测试工序能够有效检测芯片的工作状态,进而将不合格的芯片剔除,将合格芯片出厂,传统的芯片检测治具多采用单个检测的方式,这种方式的检测效率极低,为保证检测效率,目前,检测设备均采用托盘进行满载检测,使得芯片能够批量分拣。
在专利申请号CN207114712U的发明专利中记述了:“一种弹压式芯片检测治具的取放芯片操作装置,其对被按压时可取放芯片的弹压式芯片检测治具产生按压动作,包括:一基座,将一对侧板结合于一底板上方;一按压单元,将至少一对升降动力设置于该对侧板,且于该对升降动力的动力输出端结合一压板,而该压板至少具有一个芯片置放口;以及一治具滑移载台,设置于该基座而滑移于该基座内部与该基座外部,且相对该芯片置放口具有治具定位槽,而该治具定位槽于该治具滑移载台位于该基座内部时恰位于该芯片置放口正下方;借此,用以提供一种弹压式芯片检测治具的取放芯片操作装置,具有大幅提高芯片取放效率的功效”。
上述专利文件采用弹性式结构对芯片进行集中检测提高了检测效率,但存在以下问题: 一、采用升降动力设备实现压紧动作,将芯片放入后仍需动力设备完成夹紧,在人员操作不当的情况下,极易造成芯片损毁的问题,安全性低。二、采用矩阵式设计,能够完成批量检测作业,可未见分拣结构,而人工分拣如此之多的芯片,会造成混淆的状况,严重会导致不良芯片出厂的后果。
发明内容
本发明的目的就在于为了解决上述问题而提供一种芯片检测治具的取放芯片操作装置,解决了现有技术存在的问题。
为了解决上述技术问题,本发明提供了如下的技术方案:
本发明一种芯片检测治具的取放芯片操作装置,包括升降机构、抽拉机构、存储机构和拾取机构,所述升降机构内安装有若干拾取机构,所述拾取机构的下方且位于升降机构内安装有抽拉机构,所述抽拉机构的正下方且位于升降机构内安装有存储机构。
作为优选,所述升降机构包括检测箱、限位条、升降板、纵向齿条、转轴、一号齿轮、取放槽、横板和二号齿轮,所述检测箱的两个相对内壁上均固定连接有两个限位条,四个所述限位条之间设有升降板,所述升降板的一侧边缘固定连接有两个纵向齿条,所述升降板的下方设有转轴,所述转轴的两端均通过轴承与检测箱内壁转动连接,所述转轴的两端外侧均固定套设有一号齿轮和二号齿轮,两个所述二号齿轮位于两个一号齿轮之间,所述检测箱的一侧侧壁设有取放槽,所述检测箱的两个相对内壁且位于转轴的下方均螺丝固定有横板。
作为优选,所述抽拉机构包括滑槽、水平板、横向齿条、上封板、上拉手、限位块、检测板、芯片槽和夹取槽,所述水平板贯穿取放槽设置,所述水平板的一侧固定连接有上封板,所述上封板远离水平板的一侧固定连接有两个上拉手,所述水平板的另外两个相对侧壁上均固定连接有横向齿条,所述水平板远离上封板一端的下侧固定连接有两个滑槽,所述水平板的上侧固定连接有八个限位块,八个所述限位块之间设有检测板,所述检测板上侧开设有有若干芯片槽,所述芯片槽的两个相对槽壁上均开设有夹取槽。
作为优选,所述存储机构包括滑轨、卡条、存料框、下封板、下拉手和拾取槽,所述拾取槽开设在检测箱的一侧侧壁,所述存料框贯穿拾取槽设置,所述存料框的一侧固定连接有下封板,所述下封板远离存料框的一侧固定连接有两个下拉手,所述存料框的另外两个相对侧壁上均固定连接有卡条,所述存料框两侧的检测箱内壁上均螺丝固定有滑轨,两个所述滑轨分别与两个卡条滑动连接,所述拾取槽位于取放槽的下方。
作为优选,所述拾取机构包括滑板、安装板、电磁铁、缓冲弹簧、固定杆、磁铁环、拉簧、推板、凹槽、固定板、夹杆、凸块和连接杆,所述滑板螺丝固定在升降板的下侧,所述滑板上嵌设有安装板,所述安装板的上侧面与升降板的下侧面之间固定连接有缓冲弹簧,所述安装板的上侧且位于缓冲弹簧内螺丝固定有电磁铁,所述安装板的下侧固定连接有固定杆,所述固定杆的底端固定连接有固定板,所述固定板的两端均通过转销转动连接有夹杆,所述固定杆的外侧套设有推板,所述推板的上侧固定连接有磁铁环,所述磁铁环的上侧面与安装板的下侧面之间固定连接有拉簧,所述推板的两侧对称开设有两个凹槽,所述凹槽内铰接有连接杆,所述连接杆的底端均与相邻夹杆的顶端铰接,所述夹杆的底端固定连接有凸块。
作为优选,两个所述纵向齿条分别与两个一号齿轮啮合连接,所述升降板与四个限位条滑动连接,所述纵向齿条和横向齿条相互垂直设置。
作为优选,两个所述横向齿条分别与两个二号齿轮啮合连接,两个所述滑槽分别与两个横板滑动连接。
作为优选,所述电磁铁与磁铁环相对一侧的磁性相同,所述拉簧和磁铁环均套设在固定杆的外侧,所述固定板的下侧嵌设有若干接电触头。
作为优选,所述安装板的一侧设有“T”形滑块,所述滑板上开设有与安装板上“T”形滑块滑动连接的T”形滑槽,所述滑板在升降板下侧呈矩阵状分布。
本发明所达到的有益效果是:
(1)本发明一种芯片检测治具的取放芯片操作装置,由转轴、一号齿轮和二号齿轮驱动横向齿条和纵向齿条运行,在检测板送入检测箱的过程中,升降板能够逐渐下移,进而使得接电触头能够压紧芯片,缓冲弹簧和安装板的设置,使得接电触头能够柔性压紧芯片,从而避免芯片损毁的问题,检测完成后,抽出检测板,升降板又能够自动上移,与传统电驱动压紧结构相比,该结构安全性更高,结构简单,操作便捷。
(2)本发明一种芯片检测治具的取放芯片操作装置,由检测系统判定芯片的工作状态,在判定不合格的状态下,检测系统通过继电器控制该芯片正上方的电磁铁通电,夹杆能够将不合格芯片夹起,实现合格芯片和不合格芯片的分拣作业,采用智能拾取不合格芯片的方式,可有效避免了检测板上合格芯片与不合格芯片的混杂问题,保证分拣过程的准确性,也极大地提高了分拣效率。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中:
图1是本发明的正面结构剖视图;
图2是本发明的侧面结构剖视图;
图3是本发明抽拉机构的结构示意图;
图4是本发明拾取机构的结构示意图;
图5是本发明安装板的结构示意图;
图6是本发明推板的结构示意图。
图中:1、升降机构;11、检测箱;12、限位条;13、升降板;14、纵向齿条;15、转轴;16、一号齿轮;17、取放槽;18、横板;19、二号齿轮;2、抽拉机构;21、滑槽;22、水平板;23、横向齿条;24、上封板 ;25、上拉手;26、限位块;27、检测板;28、芯片槽;29、夹取槽;3、存储机构;31、滑轨;32、卡条;33、存料框;34、下封板;35、下拉手;36、拾取槽;4、拾取机构;41、滑板;42、安装板;43、电磁铁;44、缓冲弹簧;45、固定杆;46、磁铁环;47、拉簧;48、推板;49、凹槽;410、固定板;411、夹杆;412、凸块;413、连接杆。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例:如图1-6所示,本发明一种芯片检测治具的取放芯片操作装置,包括升降机构1、抽拉机构2、存储机构3和拾取机构4,升降机构1内安装有若干拾取机构4,拾取机构4的下方且位于升降机构1内安装有抽拉机构2,抽拉机构2的正下方且位于升降机构1内安装有存储机构3。
其中,升降机构1包括检测箱11、限位条12、升降板13、纵向齿条14、转轴15、一号齿轮16、取放槽17、横板18和二号齿轮19,检测箱11的两个相对内壁上均固定连接有两个限位条12,四个限位条12之间设有升降板13,升降板13的一侧边缘固定连接有两个纵向齿条14,升降板13的下方设有转轴15,转轴15的两端均通过轴承与检测箱11内壁转动连接,转轴15的两端外侧均固定套设有一号齿轮16和二号齿轮19,两个二号齿轮19位于两个一号齿轮16之间,检测箱11的一侧侧壁设有取放槽17,检测箱11的两个相对内壁且位于转轴15的下方均螺丝固定有横板18。
其中,抽拉机构2包括滑槽21、水平板22、横向齿条23、上封板24、上拉手25、限位块26、检测板27、芯片槽28和夹取槽29,水平板22贯穿取放槽17设置,水平板22的一侧固定连接有上封板24,上封板24远离水平板22的一侧固定连接有两个上拉手25,水平板22的另外两个相对侧壁上均固定连接有横向齿条23,水平板22远离上封板24一端的下侧固定连接有两个滑槽21,水平板22的上侧固定连接有八个限位块26,八个限位块26之间设有检测板27,检测板27上侧开设有有若干芯片槽28,芯片槽28的两个相对槽壁上均开设有夹取槽29。
其中,存储机构3包括滑轨31、卡条32、存料框33、下封板34、下拉手35和拾取槽36,拾取槽36开设在检测箱11的一侧侧壁,存料框33贯穿拾取槽36设置,存料框33的一侧固定连接有下封板34,下封板34远离存料框33的一侧固定连接有两个下拉手35,存料框33的另外两个相对侧壁上均固定连接有卡条32,存料框33两侧的检测箱11内壁上均螺丝固定有滑轨31,两个滑轨31分别与两个卡条32滑动连接,拾取槽36位于取放槽17的下方。
其中,拾取机构4包括滑板41、安装板42、电磁铁43、缓冲弹簧44、固定杆45、磁铁环46、拉簧47、推板48、凹槽49、固定板410、夹杆411、凸块412和连接杆413,滑板41螺丝固定在升降板13的下侧,滑板41上嵌设有安装板42,安装板42的上侧面与升降板13的下侧面之间固定连接有缓冲弹簧44,安装板42的上侧且位于缓冲弹簧44内螺丝固定有电磁铁43,安装板42的下侧固定连接有固定杆45,固定杆45的底端固定连接有固定板410,固定板410的两端均通过转销转动连接有夹杆411,固定杆45的外侧套设有推板48,推板48的上侧固定连接有磁铁环46,磁铁环46的上侧面与安装板42的下侧面之间固定连接有拉簧47,推板48的两侧对称开设有两个凹槽49,凹槽49内铰接有连接杆413,连接杆413的底端均与相邻夹杆411的顶端铰接,夹杆411的底端固定连接有凸块412。
其中,两个纵向齿条14分别与两个一号齿轮16啮合连接,升降板13与四个限位条12滑动连接,纵向齿条14和横向齿条23相互垂直设置。
其中,两个横向齿条23分别与两个二号齿轮19啮合连接,两个滑槽21分别与两个横板18滑动连接。
其中,电磁铁43与磁铁环46相对一侧的磁性相同,拉簧47和磁铁环46均套设在固定杆45的外侧,固定板410的下侧嵌设有若干接电触头。
其中,安装板42的一侧设有“T”形滑块,滑板41上开设有与安装板42上“T”形滑块滑动连接的T”形滑槽,滑板41在升降板13下侧呈矩阵状分布。
具体的,本发明使用时,将满载芯片的检测板27置放在八个限位块26所围成的矩状空间内,使得检测板27不会移位,再推动上拉手25,使得水平板22能够插入检测箱11内,横向齿条23啮合传动二号齿轮19转动,进而能够带动转轴15转动,而转轴15同步传动一号齿轮16,使得一号齿轮16可以啮合传动纵向齿条14向下移动,在检测板27移动至检测箱11内的过程中,纵向齿条14能够拉动升降板13下移,直至升降板13与检测板27间距保持在合理范围内,此时,固定板410下侧的接电触头与芯片上表面紧贴,固定板410压紧芯片时,反作用力能够推动安装板42向上挤压缓冲弹簧44,使得缓冲弹簧44收缩,能够确保固定板410与芯片之间不会产长硬性碰撞,从而避免芯片损毁的问题,且芯片通过接电触头与检测系统电连接,由检测系统判定芯片的工作状态,在判定不合格的状态下,检测系统通过继电器控制该芯片正上方的电磁铁43通电,电磁铁43通电后,磁铁环46受磁场作用下移,使得拉簧47拉伸,磁铁环46推动推板48下移,使得连接杆413与夹杆411之间的夹角变化,夹杆411围绕固定板410转动,能够有效夹持芯片,随后,反向拉出水平板22,使得检测板27能够移出检测箱11,夹杆411能够将不合格芯片夹起,实现合格芯片和不合格芯片的分拣作业,待合格芯片则随检测板27出仓后,检测系统通过继电器控制该芯片正上方的电磁铁43断电,使得磁铁环46失去磁场作用力,在拉簧47的弹力作用下,推板48能够上移,进而拉动连接杆413和夹杆411复位,将芯片松放,使得不合格芯片落入存料框33内。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (3)
1.一种芯片检测治具的取放芯片操作装置,包括升降机构(1)、抽拉机构(2)、存储机构(3)和拾取机构(4),其特征在于,所述升降机构(1)内安装有若干拾取机构(4),所述拾取机构(4)的下方且位于升降机构(1)内安装有抽拉机构(2),所述抽拉机构(2)的正下方且位于升降机构(1)内安装有存储机构(3);所述升降机构(1)包括检测箱(11)、限位条(12)、升降板(13)、纵向齿条(14)、转轴(15)、一号齿轮(16)、取放槽(17)、横板(18)和二号齿轮(19),所述检测箱(11)的两个相对内壁上均固定连接有两个限位条(12),四个所述限位条(12)之间设有升降板(13),所述升降板(13)的一侧边缘固定连接有两个纵向齿条(14),所述升降板(13)的下方设有转轴(15),所述转轴(15)的两端均通过轴承与升降板(13)内壁转动连接,所述转轴(15)的两端外侧均固定套设有一号齿轮(16)和二号齿轮(19),两个所述二号齿轮(19)位于两个一号齿轮(16)之间,所述检测箱(11)的一侧侧壁设有取放槽(17),所述检测箱(11)的两个相对内壁且位于转轴(15)的下方均螺丝固定有横板(18);所述抽拉机构(2)包括滑槽(21)、水平板(22)、横向齿条(23)、上封板(24)、上拉手(25)、限位块(26)、检测板(27)、芯片槽(28)和夹取槽(29),所述水平板(22)贯穿取放槽(17)设置,所述水平板(22)的一侧固定连接有上封板(24),所述上封板(24)远离水平板(22)的一侧固定连接有两个上拉手(25),所述水平板(22)的另外两个相对侧壁上均固定连接有横向齿条(23),所述水平板(22)远离上封板(24)一端的下侧固定连接有两个滑槽(21),所述水平板(22)的上侧固定连接有八个限位块(26),八个所述限位块(26)之间设有检测板(27),所述检测板(27)上侧开设有若干芯片槽(28),所述芯片槽(28)的两个相对槽壁上均开设有夹取槽(29);所述拾取机构(4)包括滑板(41)、安装板(42)、电磁铁(43)、缓冲弹簧(44)、固定杆(45)、磁铁环(46)、拉簧(47)、推板(48)、凹槽(49)、固定板(410)、夹杆(411)、凸块(412)和连接杆(413),所述滑板(41)螺丝固定在升降板(13)的下侧,所述滑板(41)上嵌设有安装板(42),所述安装板(42)的上侧面与升降板(13)的下侧面之间固定连接有缓冲弹簧(44),所述安装板(42)的上侧且位于缓冲弹簧(44)内螺丝固定有电磁铁(43),所述安装板(42)的下侧固定连接有固定杆(45),所述固定杆(45)的底端固定连接有固定板(410),所述固定板(410)的两端均通过转销转动连接有夹杆(411),所述固定杆(45)的外侧套设有推板(48),所述推板(48)的上侧固定连接有磁铁环(46),所述磁铁环(46)的上侧面与安装板(42)的下侧面之间固定连接有拉簧(47),所述推板(48)的两侧对称开设有两个凹槽(49),所述凹槽(49)内铰接有连接杆(413),所述连接杆(413)的底端均与相邻夹杆(411)的顶端铰接,所述夹杆(411)的底端固定连接有凸块(412);两个所述纵向齿条(14)分别与两个一号齿轮(16)啮合连接,所述升降板(13)与四个限位条(12)滑动连接,所述纵向齿条(14)和横向齿条(23)相互垂直设置;两个所述横向齿条(23)分别与两个二号齿轮(19)啮合连接,两个所述滑槽(21)分别与两个横板(18)滑动连接;所述电磁铁(43)与磁铁环(46)相对一侧的磁性相同,所述拉簧(47)和磁铁环(46)均套设在固定杆(45)的外侧,所述固定板(410)的下侧嵌设有若干接电触头。
2.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具的取放芯片操作装置,其特征在于,所述存储机构(3)包括滑轨(31)、卡条(32)、存料框(33)、下封板(34)、下拉手(35)和拾取槽(36),所述拾取槽(36)开设在检测箱(11)的一侧侧壁,所述存料框(33)贯穿拾取槽(36)设置,所述存料框(33)的一侧固定连接有下封板(34),所述下封板(34)远离存料框(33)的一侧固定连接有两个下拉手(35),所述存料框(33)的另外两个相对侧壁上均固定连接有卡条(32),所述存料框(33)两侧的检测箱(11)内壁上均螺丝固定有滑轨(31),两个所述滑轨(31)分别与两个卡条(32)滑动连接,所述拾取槽(36)位于取放槽(17)的下方。
3.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具的取放芯片操作装置,其特征在于,所述安装板(42)的一侧设有“T”形滑块,所述滑板(41)上开设有与安装板(42)上“T”形滑块滑动连接的“T”形滑槽,所述滑板(41)在升降板(13)下侧呈矩阵状分布。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201911305941.5A CN110993536B (zh) | 2019-12-18 | 2019-12-18 | 一种芯片检测治具的取放芯片操作装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201911305941.5A CN110993536B (zh) | 2019-12-18 | 2019-12-18 | 一种芯片检测治具的取放芯片操作装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110993536A CN110993536A (zh) | 2020-04-10 |
CN110993536B true CN110993536B (zh) | 2021-01-22 |
Family
ID=70095038
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201911305941.5A Active CN110993536B (zh) | 2019-12-18 | 2019-12-18 | 一种芯片检测治具的取放芯片操作装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN110993536B (zh) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112162124B (zh) * | 2020-10-10 | 2023-11-10 | 湖南中部芯谷科技有限公司 | 一种方便操作的高速高精度数模转换芯片测试装备 |
CN112327135A (zh) * | 2020-10-30 | 2021-02-05 | 芜湖安途智能制造有限公司 | 一种具有定位功能的安全加密芯片测试装置及测试方法 |
CN112858883A (zh) * | 2021-01-14 | 2021-05-28 | 昆山合钜泰电子科技有限公司 | 一种移动式机械手臂抓取检测主板的自动化测试设备 |
CN113328026B (zh) * | 2021-05-28 | 2022-08-30 | 深圳市长方集团股份有限公司 | 一种大功率led芯片封装装置 |
CN113567470B (zh) * | 2021-07-13 | 2022-03-11 | 安徽科惠微电子有限公司 | 一种光学芯片测试装置 |
CN114062899B (zh) * | 2021-11-22 | 2023-09-22 | 江苏乾合微电子有限公司 | 一种智能芯片检测系统及检测方法 |
CN114300403B (zh) * | 2022-03-09 | 2022-05-24 | 南通皋鑫科技开发有限公司 | 一种贴片二极管芯片封装装置 |
CN116754882B (zh) * | 2023-08-21 | 2023-10-27 | 国网天津市电力公司高压分公司 | 一种电容和变压器升压性能检测装置 |
CN117238834A (zh) * | 2023-10-25 | 2023-12-15 | 天芯电子科技(江阴)有限公司 | 一种用于芯片质量检测的抓取设备 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20020090288A1 (en) * | 2000-03-28 | 2002-07-11 | Lee Dong Suh | Single drive aligner elevation apparatus for an integrated circuit handler |
CN102798809A (zh) * | 2011-05-27 | 2012-11-28 | 嘉兴景焱智能装备技术有限公司 | 一种多工位芯片测试机 |
CN107449942A (zh) * | 2017-07-26 | 2017-12-08 | 郑世珍 | 一种集成电路板用省力测试设备 |
CN207624663U (zh) * | 2017-12-19 | 2018-07-17 | 广州市赛保检测技术有限公司 | 一种用于晶片检测的电气检测设备 |
CN108957284A (zh) * | 2017-05-25 | 2018-12-07 | 东宸精密有限公司 | 弹压式芯片检测治具的取放芯片操作装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR0143334B1 (ko) * | 1995-04-17 | 1998-08-17 | 정문술 | 반도체 소자검사기의 고객트레이 이송장치 |
CN2881650Y (zh) * | 2005-12-28 | 2007-03-21 | 宏连国际科技股份有限公司 | 测试器具 |
KR101508507B1 (ko) * | 2008-07-11 | 2015-04-03 | 한미반도체 주식회사 | 비전검사장비의 픽커 유니트 |
CN203658398U (zh) * | 2014-01-02 | 2014-06-18 | 上海理工大学 | 自动测试治具 |
KR20160048549A (ko) * | 2014-10-24 | 2016-05-04 | 삼성전기주식회사 | 기판 검사 장치 |
CN110045275B (zh) * | 2019-04-29 | 2021-05-11 | 诸暨市景旺机械科技有限公司 | 一种开关耐久性测试装置 |
-
2019
- 2019-12-18 CN CN201911305941.5A patent/CN110993536B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20020090288A1 (en) * | 2000-03-28 | 2002-07-11 | Lee Dong Suh | Single drive aligner elevation apparatus for an integrated circuit handler |
CN102798809A (zh) * | 2011-05-27 | 2012-11-28 | 嘉兴景焱智能装备技术有限公司 | 一种多工位芯片测试机 |
CN108957284A (zh) * | 2017-05-25 | 2018-12-07 | 东宸精密有限公司 | 弹压式芯片检测治具的取放芯片操作装置 |
CN107449942A (zh) * | 2017-07-26 | 2017-12-08 | 郑世珍 | 一种集成电路板用省力测试设备 |
CN207624663U (zh) * | 2017-12-19 | 2018-07-17 | 广州市赛保检测技术有限公司 | 一种用于晶片检测的电气检测设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110993536A (zh) | 2020-04-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN110993536B (zh) | 一种芯片检测治具的取放芯片操作装置 | |
US20160291079A1 (en) | Automated testing platform | |
JP3704013B2 (ja) | モジュールicハンドラーのキャリアハンドリング装置及びその方法 | |
CN213377917U (zh) | 数据线功能性自动检测一体机 | |
CN110695661A (zh) | 一体式铜质压线框自动装配设备 | |
CN109807631B (zh) | 一种医疗器械用微动开关自动装配设备 | |
CN112666002A (zh) | 一种柔性线路板表面耐压测试装置 | |
CN112872163A (zh) | 一种底座与铜板组合用装置 | |
CN218646280U (zh) | 一种pcb线脚高度检测装置 | |
CN109699123A (zh) | 一种自动分板方法 | |
CN217212952U (zh) | 多工位避雷器整支残压自动测试设备 | |
CN113690102B (zh) | 端子自动插接设备 | |
CN115343170A (zh) | 一种pcb连板自动分板测试系统 | |
CN115156881A (zh) | 一种电磁铁自动化装配装置 | |
CN212748246U (zh) | 一种带末速度测量定向跌落试验机 | |
CN211109966U (zh) | 一种组装磁铁用磁铁托盘换位装置 | |
CN113828553A (zh) | 一种紧凑型物料回收装置及自动测试分选机 | |
CN114062901A (zh) | 一种柔性化自动测试线 | |
CN220472612U (zh) | 一种ic卡座平面度测试装置 | |
CN217009868U (zh) | 一种柔性线材绝缘端子自动组装装置 | |
CN216271677U (zh) | 一种Tray盘堆叠机构 | |
CN113358969B (zh) | 信号转换器测试工装 | |
CN217588893U (zh) | 一种固晶贴片机用夹紧结构 | |
CN217981642U (zh) | 一种多层片式瓷介电容器绝缘电阻自动量测装置 | |
CN218238704U (zh) | 一种用于烫线压接插壳机的检测导通装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
TA01 | Transfer of patent application right | ||
TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20210104 Address after: Room 802, block B, Tongtai times center, building 2, Tongtai headquarters Industrial Park, Qiaotou community, Fuhai street, Bao'an District, Shenzhen, Guangdong 518000 Applicant after: Shenzhen New Beautification Photoelectric Equipment Co.,Ltd. Address before: 361000 506, zone B, innovation building, software park, torch hi tech Zone, Xiamen City, Fujian Province Applicant before: Xiao Zhengfu |
|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |