CN113567470B - 一种光学芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及芯片测试领域，特别涉及一种光学芯片测试装置，包括底座，底座为L型结构，底座的侧壁上转动安装有转轴，转轴远离底座的一端固定安装有固定架，固定架上开设有贯穿固定架的插接槽，插接槽内插设有定位架，定位架上呈直线分布均匀开设有多个定位槽，定位槽的两侧内壁上均开设有滑槽，滑槽内均插设有若干芯片，滑槽的内壁上均呈直线分布均匀开设有多个凹槽，凹槽内均设置有弹簧压杆，弹簧压杆的一端均设置有压块，压块远离弹簧压杆的一侧均为圆弧形结构，弹簧压杆远离压块的一端均开设有倾斜面，定位架上并位于定位槽的两侧均匀插设有多个弹簧插杆。本发明可以同时对多个光学芯片进行快速的夹持定位。

Description

一种光学芯片测试装置

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，特别涉及一种光学芯片测试装置。

背景技术

光学芯片也叫半导体激光芯片，半导体激光芯片就是用来做半导体激光器的主要原件，是一种利用直接带隙半导体的载流子复合所产生的光受激辐射进行发光，增益后从而产生激光的主要原件。也就是说，半导体激光芯片本质就是一种半导体芯片，这种芯片的功能是用来产生激光的，所以叫半导体激光芯片。

现有的光学芯片在生产时，大都需要经过研磨抛光，而在研磨的过程中常常会因为操作不当，造成芯片研磨不到位或者研磨过度的现象，这直接影响了光学芯片的生产质量，因此，在光学芯片生产加工成型后，通常需要进行测试，对光学芯片的性能进行检测。在对光学芯片进行检测时，都需要先对光学芯片进行固定，而目前，大多数的检测装置都只能对单个芯片进行夹持和检测，检测效率低下，且在夹持的过程中容易使手指与光学芯片产生接触，影响光学芯片的检测效果，同时，当需要对光学芯片的两面都进行检测时，通常需要人工手动对光学芯片进行翻转并再次进行夹持固定，这进一步的降低了光学芯片的检测效率，给光学芯片的测试带来了不便。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种光学芯片测试装置，可以同时对多个光学芯片进行快速的夹持定位，便于检测，同时可以自动对夹持后的光学芯片进行翻转，进一步提高了光学芯片的检测效率，同时减少了人工与光学芯片之间的触碰，提高了光学芯片的检测效果。

为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案，一种光学芯片测试装置，包括底座，所述的底座为L型结构，所述底座的侧壁上转动安装有转轴，所述转轴远离底座的一端固定安装有固定架，所述固定架上开设有贯穿所述固定架的插接槽，所述插接槽内插设有定位架，所述定位架上呈直线分布均匀开设有多个定位槽，所述定位槽的两侧内壁上均开设有滑槽，所述定位槽内均插设有若干芯片，所述芯片的两侧分别插设在所述滑槽内，所述滑槽的内壁上均呈直线分布均匀开设有多个凹槽，所述凹槽内均水平设置有弹簧压杆，所述弹簧压杆的一端均设置有压块，所述压块远离所述弹簧压杆的一侧均为圆弧形结构，所述弹簧压杆远离所述压块的一端均开设有倾斜面，所述定位架上并位于所述定位槽的两侧均匀垂直插设有多个弹簧插杆，所述弹簧插杆分别与所述弹簧压杆一一对应，所述弹簧插杆插入所述定位架内的一端均开设有倾斜面并分别与对应设置的所述弹簧压杆开设有倾斜面的一端相接触，通过所述定位架可以同时对多个光学芯片进行夹持固定，配合所述固定架可以同时进行多个光学芯片的检测。

所述固定架的两侧均设置有连接块，所述连接块上均设置有两个电动伸缩杆，同一所述连接块上的所述电动伸缩杆互为反向设置并交错分布，两个所述连接块上的所述电动伸缩杆均两两对称设置，对称设置的所述电动伸缩杆的输出端设置有框型结构的压架，所述压架的内壁均呈直线分布设置有若干压杆，两个所述压架上的所述压杆分别一一对应，对应设置的所述压杆相互靠近的一侧均呈直线分布设置有多个固定块，对应设置的所述固定块相互靠近的一侧均设置有气囊，对应设置的所述固定块上的所述气囊相互交错分布，通过所述压架可以对夹持在所述定位架上的所述芯片进行分隔，避免在检测时相邻的芯片产生干扰。

作为本发明的一种优选技术方案，所述的底座的侧壁上开设有环形结构的连接槽，所述固定架靠近所述底座的一侧对称设置有弧形结构的连接块，所述连接块均转动安装在所述连接槽内，所述连接槽的内壁上对称开设有两个限位卡槽，所述连接块相互远离的一侧均插设有弹簧珠，所述弹簧珠分别与所述限位卡槽凹凸配合。

作为本发明的一种优选技术方案，所述的定位架的两侧均设置有卡条，所述插接槽的两侧内壁上均开设有卡槽，所述卡条分别插设在对应设置的所述卡槽内。

作为本发明的一种优选技术方案，所述的滑槽的内壁上均呈直线分布转动安装有多个滚轴。

作为本发明的一种优选技术方案，所述的凹槽的一端均设置有橡胶材质的弹力带，所述弹力带的一侧分别与对应设置的所述压块相接触。

作为本发明的一种优选技术方案，所述的底座的一侧设置有旋转电机，所述旋转电机的输出轴固定安装在所述转轴远离所述固定架的一端。

作为本发明的一种优选技术方案，所述的压杆相互靠近的一侧均呈直线分布设置有多个吸盘，所述吸盘分别与所述定位架相接触。

作为本发明的一种优选技术方案，所述的定位架的上并位于所述定位槽的两侧均开设有弹簧槽，所述弹簧槽的内壁上均呈直线分布均匀设置有若干弹簧杆，所述弹簧插杆的外壁上均开设有固定槽，所述弹簧槽内均滑动安装有连动杆，所述连接杆上均呈直线分布开设有若干通槽，所述弹簧杆的伸缩端分别贯穿对应设置的所述通槽插设在对应设置的所述固定槽内，所述弹簧杆的伸缩端的外壁上均设置有限位块，所述限位块分别与所述连动杆相接触。

本发明的有益效果在于：

1.本发明可以同时对多个光学芯片进行快速的夹持定位，便于检测，并且可以同时自动地对夹持后的光学芯片进行翻转，进一步提高了光学芯片的检测效率，同时减少了人工与光学芯片之间的触碰，提高了光学芯片的检测效果。

2.本发明设计了定位架，定位架通过插槽可以同时插设多个芯片，弹簧压杆配合压块可以对插入插槽内的芯片进行分隔，避免同一插槽内的芯片相互接触，在检测时产生干扰，同时通过压块可以将弹力带按压在芯片上，可以对芯片起到快速定位的作用，避免芯片在检测时产生脱落。

3.本发明设计了固定架，固定架通过插接槽可以连接定位架，固定架在转轴的带动下可以进行转动并带动定位架上芯片进行翻转，便于对芯片进行全面的检测，同时固定架上的压架和压杆可以对定位架进行按压，使其固定，且当压杆按压在定位架上时，可以对定位架上夹持的芯片进行分隔，避免在进行光学检测时，相邻的芯片之间产生干扰。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是本发明的立体结构示意图；

图2是本发明的立体剖切结构示意图；

图3是本发明的图2的A处的局部放大结构示意图；

图4是本发明的图2的B处的局部放大结构示意图；

图5是本发明的定位槽的局部剖视结构示意图；

图6是本发明的压杆的局部结构示意图；

图7是本发明的滑槽的剖视结构示意图；

图8是本发明的图7的C处的局部放大结构示意图；

图9是本发明的固定块和气囊的剖视结构示意图；

图10是本发明的连动杆和弹簧杆的连接结构示意图；

图11是本发明的连接槽的局部剖视结构示意图。

图中：1、底座；11、转轴；12、连接槽；13、限位卡槽；14、旋转电机；2、固定架；21、插接槽；211、卡槽；22、连接块；23、电动伸缩杆；24、连接块；25、弹簧珠；3、定位架；301、卡条；31、定位槽；32、滑槽；321、滚轴；33、芯片；34、凹槽；341、弹力带；35、弹簧压杆；36、压块；37、弹簧插杆；371、固定槽；4、压架；41、压杆；42、固定块；43、气囊；44、吸盘；5、弹簧槽；51、弹簧杆；52、连动杆；53、通槽；54、限位块。

具体实施方式

为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互结合。

参阅图1，一种光学芯片测试装置，包括底座1，底座1为L型结构，底座1的侧壁上转动安装有转轴11，转轴11远离底座1的一端固定安装有固定架2，底座1用于起到支撑和固定的作用，转轴11用于连接固定架2并带动其转动。

参阅图2，底座1的一侧设置有旋转电机14，旋转电机14的输出轴固定安装在转轴11远离固定架2的一端，旋转电机14用于带动转轴11进行转动。

参阅图1和图11，底座1的侧壁上开设有环形结构的连接槽12，固定架2靠近底座1的一侧对称设置有弧形结构的连接块24，连接块24均转动安装在连接槽12内，连接槽12的内壁上对称开设有两个限位卡槽13，连接块24相互远离的一侧均插设有弹簧珠25，弹簧珠25分别与限位卡槽13凹凸配合，当固定架2转动时，可以带动连接块24在连接槽12内滑动，通过连接块24和连接槽12可以提高固定架2的稳定性，弹簧珠25通过与限位卡槽13的凹凸配合可以对固定架2的转动角度进行定位。

参阅图2和图4，固定架2上开设有贯穿固定架2的插接槽21，插接槽21内插设有定位架3。

参阅图4，定位架3的两侧均设置有卡条301，插接槽21的两侧内壁上均开设有卡槽211，卡条301分别插设在对应设置的卡槽211内，通过卡条301和卡槽211的插接可以使定位架3连接在固定架2上。

参阅图2和图3，定位架3上呈直线分布均匀开设有多个定位槽31，定位槽31的两侧内壁上均开设有滑槽32，定位槽31内均插设有若干芯片33，芯片33的两侧分别插设在所述滑槽32内，定位槽31配合滑槽32用于插接芯片33。

参阅图7，滑槽32的内壁上均呈直线分布转动安装有多个滚轴321，滚轴321上下对称设置在滑槽32的内壁上，滚轴321用于提高芯片33在滑槽32内移动的顺畅度，减少芯片33插入滑槽32内产生的摩擦。

参阅图5和图7，滑槽32的内壁上均呈直线分布均匀开设有多个凹槽34，凹槽34内均水平设置有弹簧压杆35，弹簧压杆35的一端均设置有压块36，压块36远离弹簧压杆35的一侧均为圆弧形结构，弹簧压杆35远离压块36的一端均开设有倾斜面，定位架3上并位于定位槽31的两侧均匀垂直插设有多个弹簧插杆37，弹簧插杆37分别与弹簧压杆35一一对应，弹簧插杆37插入定位架3内的一端均开设有倾斜面并分别与对应设置的弹簧压杆35开设有倾斜面的一端相接触，凹槽34用于插设弹簧压杆35和压块36，当芯片33插入定位槽31内并移动至指定位置后，向下按压弹簧插杆37，弹簧插杆37向下移动会对弹簧压杆35进行挤压，弹簧压杆35受到挤压移动后会推动压块36伸出凹槽34，使压块36按压在芯片33的两端，对芯片33进行限位，可以避免同一定位槽31内的芯片33产生接触。

参阅图5，凹槽34的一端均设置有橡胶材质的弹力带341，弹力带341的一侧分别与对应设置的压块36相接触，弹力带341在压块36的推动下会按压在芯片33上，对芯片33起到缓冲的效果，避免压块36直接挤压芯片33，对芯片33造成损伤。

参阅图3、图7、图8和图10，定位架3上并位于定位槽31的两侧均开设有弹簧槽5，弹簧槽5的内壁上均呈直线分布均匀设置有若干弹簧杆51，弹簧插杆37的外壁上均开设有固定槽371，弹簧槽5内均滑动安装有连动杆52，连接杆52上均呈直线分布开设有若干通槽53，弹簧杆51的伸缩端分别贯穿对应设置的通槽53插设在对应设置的固定槽371内，弹簧杆51的伸缩端的外壁上均设置有限位块54，限位块54分别与连动杆52相接触，弹簧槽5用于固定弹簧杆51，当弹簧插杆37下压至指定位置后，会带动固定槽371与弹簧杆51相对齐，此时弹簧杆51的伸缩端会插入固定槽371内，对弹簧插杆37进行定位，当需要使弹簧插杆37复位时，拨动连动杆52至指定位置，连接杆52通过限位块54会带动同一弹簧槽5内的全部弹簧杆51的伸缩端同时收缩，脱离固定槽371，使对应的弹簧插杆37同时复位，提高了芯片33检测后的拆卸效率。

参阅图1，固定架2的两侧均设置有连接块22，连接块22上均设置有两个电动伸缩杆23，两个电动伸缩杆23的固定端均固定在连接块22上，同一连接块22上的电动伸缩杆23互为反向设置并交错分布，两个连接块22上的电动伸缩杆23均两两对称设置，对称设置的电动伸缩杆23的输出端设置有框型结构的压架4，连接块22用于固定电动伸缩杆23，电动伸缩杆23通过伸缩可以分别带动压架4进行上升和下降，使压架4按压在定位架3上。

参阅图1、图3和图9，压架4的内壁均呈直线分布设置有若干压杆41，两个压架4上的压杆41分别一一对应，对应设置的压杆41相互靠近的一侧均呈直线分布设置有多个固定块42，对应设置的固定块42相互靠近的一侧均设置有气囊43，对应设置的固定块42上的气囊43相互交错分布，当压架4按压在定位架3上时，会带动压杆41同步按压在定位架3上，此时，对应设置的压杆41上的固定块42会插设在定位槽31内并位于两个芯片33之间，同时，固定块42相互抵靠会对气囊43进行挤压，使气囊43变形后伸出固定块42并按压在芯片33的两端，进一步对芯片33进行定位，同时可以将同一定位槽31内相邻的两个芯片33分隔开，避免在进行光学检测时，相互产生干扰。

参阅图6，压杆41相互靠近的一侧均呈直线分布设置有多个吸盘44，吸盘44分别与定位架3相接触，吸盘44可以在压杆41按压在定位架3上时，对定位架3进行固定，避免在固定架2翻转时，定位架3产生晃动。

工作过程：通过人工手动将若干个芯片33插入定位槽31内，当芯片33依次插入同一定位槽31内时，依次按压弹簧插杆37，使同一定位槽31内的压块36依次伸出凹槽34，对同一定位槽31内的芯片33进行初步的分隔，当定位架3上插入芯片33后，将定位架3插入插接槽21内，通过电动伸缩杆23使位于上侧的压架4和位于下侧的压架4均向着定位架3的方向运动，并按压在定位架3上，对定位架3进行固定，同时当压架4按压在定位架3上时，会带动压杆41同步按压在定位架3上，此时，对应设置的压杆41上的固定块42会插设在定位槽31内并位于两个芯片33之间，同时，固定块42相互抵靠会对气囊43进行挤压，使气囊43变形后伸出固定块42按压在芯片33上的端部，进一步对芯片33进行定位，同时可以将同一定位槽31内相邻的两个芯片33分隔开，避免在进行光学检测时，相互产生干扰。

当芯片33的一面检测完成后，操作转轴11转动，带动固定架2进行翻转，使定位架3和芯片33同步翻转。

当芯片33检测完成后，操作压架4脱离定位架3，将定位架3抽出插接槽21，此时，拨动连动杆52至指定位置，连接杆52通过限位块54会带动同一弹簧槽5内的全部弹簧杆51的伸缩端同时收缩，脱离固定槽371，使对应的弹簧插杆37同时复位，提高了芯片33检测后的拆卸效率，便于进行收集。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (8)

1.一种光学芯片测试装置，包括底座(1)，其特征在于：所述的底座(1)为L型结构，所述底座(1)的侧壁上转动安装有转轴(11)，所述转轴(11)远离底座(1)的一端固定安装有固定架(2)，所述固定架(2)上开设有贯穿所述固定架(2)的插接槽(21)，所述插接槽(21)内插设有定位架(3)，所述定位架(3)上呈直线分布均匀开设有多个定位槽(31)，所述定位槽(31)的两侧内壁上均开设有滑槽(32)，所述定位槽(31)内均插设有若干芯片(33)，所述芯片(33)的两侧分别插设在所述滑槽(32)内，所述滑槽(32)的内壁上均呈线分布均匀开设有多个凹槽(34)，所述凹槽(34)内均水平设置有弹簧压杆(35)，所述弹簧压杆(35)的一端均设置有压块(36)，所述压块(36)远离所述弹簧压杆(35)的一侧均为圆弧形结构，所述弹簧压杆(35)远离所述压块(36)的一端均开设有倾斜面，所述定位架(3)上并位于所述定位槽(31)的两侧均匀垂直插设有多个弹簧插杆(37)，所述弹簧插杆(37)分别与所述弹簧压杆(35)一一对应，所述弹簧插杆(37)插入所述定位架(3)内的一端均开设有倾斜面并分别与对应设置的所述弹簧压杆(35)开设有倾斜面的一端相接触；

所述固定架(2)的两侧均设置有连接块(22)，所述连接块(22)上均设置有两个电动伸缩杆(23)，同一所述连接块(22)上的所述电动伸缩杆(23)互为反向设置并交错分布，两个所述连接块(22)上的所述电动伸缩杆(23)均两两对称设置，对称设置的所述电动伸缩杆(23)的输出端设置有框型结构的压架(4)，所述压架(4)的内壁均呈直线分布设置有若干压杆(41)，两个所述压架(4)上的所述压杆(41)分别一一对应，对应设置的所述压杆(41)相互靠近的一侧均呈直线分布设置有多个固定块(42)，对应设置的所述固定块(42)相互靠近的一侧均设置有气囊(43)，对应设置的所述固定块(42)上的所述气囊(43)相互交错分布。

2.根据权利要求1所述的一种光学芯片测试装置，其特征在于：所述的底座(1)的侧壁上开设有环形结构的连接槽(12)，所述固定架(2)靠近所述底座(1)的一侧对称设置有弧形结构的连接块(24)，所述弧形结构的 连接块(24)均转动安装在所述连接槽(12)内，所述连接槽(12)的内壁上对称开设有两个限位卡槽(13)，所述弧形结构的 连接块(24)相互远离的一侧均插设有弹簧珠(25)，所述弹簧珠(25)分别与所述限位卡槽(13)凹凸配合。

3.根据权利要求1所述的一种光学芯片测试装置，其特征在于：所述的定位架(3)的两侧均设置有卡条(301)，所述插接槽(21)的两侧内壁上均开设有卡槽(211)，所述卡条(301)分别插设在对应设置的所述卡槽(211)内。

4.根据权利要求1所述的一种光学芯片测试装置，其特征在于：所述的滑槽(32)的内壁上均呈直线分布转动安装有多个滚轴(321)。

5.根据权利要求1所述的一种光学芯片测试装置，其特征在于：所述的凹槽(34)的一端均设置有橡胶材质的弹力带(341)，所述弹力带(341)的一侧分别与对应设置的所述压块(36)相接触。

6.根据权利要求1所述的一种光学芯片测试装置，其特征在于：所述的底座(1)的一侧设置有旋转电机(14)，所述旋转电机(14)的输出轴固定安装在所述转轴(11)远离所述固定架(2)的一端。

7.根据权利要求1所述的一种光学芯片测试装置，其特征在于：所述的压杆(41)相互靠近的一侧均呈直线分布设置有多个吸盘(44)，所述吸盘(44)分别与所述定位架(3)相接触。

8.根据权利要求1所述的一种光学芯片测试装置，其特征在于：所述的定位架(3)上并位于所述定位槽(31)的两侧均开设有弹簧槽(5)，所述弹簧槽(5)的内壁上均呈直线分布均匀设置有若干弹簧杆(51)，所述弹簧插杆(37)的外壁上均开设有固定槽(371)，所述弹簧槽(5)内均滑动安装有连动杆(52)，所述连动杆 (52)上均呈直线分布开设有若干通槽(53)，所述弹簧杆(51)的伸缩端分别贯穿对应设置的所述通槽(53)插设在对应设置的所述固定槽(371)内，所述弹簧杆(51)的伸缩端的外壁上均设置有限位块(54)，所述限位块(54)分别与所述连动杆(52)相接触。

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