CN213041951U - 一种芯片测试机的翻转机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种芯片测试机的翻转机构，包括工作台，所述工作台顶部的前侧和后侧分别设置有固定架和伸缩架，所述固定架两侧的底部均固定连接有固定套，所述工作台的顶部设置有与固定套配合使用的固定机构。本实用新型通过设置工作台、固定架、伸缩架、固定套、固定机构、夹持架、活动杆、旋转杆、旋钮、定位机构、定位槽、测试机本体、把手、滑块、滑槽、通口和通孔的配合使用，解决了现有的芯片测试机不便于使用者使用，在对芯片进行测试时，需要对芯片的正反两面进行测试，造成使用者多次对芯片进行拆装，会耗费使用者大量的时间和精力，影响使用者使用的问题，该芯片测试机的翻转机构，具备便于使用者的优点。
Description
技术领域
本实用新型属于芯片测试设备技术领域，尤其涉及一种芯片测试机的翻转机构。
背景技术
芯片是半导体元件产品的统称，集成电路英语或称微电路、微芯片、晶片/ 芯片，在电子学中是一种把电路小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。
芯片在生产完成后要进行各种测试，需要使用者芯片测试机，现有技术存在的问题是：现有的芯片测试机不便于使用者使用，在对芯片进行测试时，需要对芯片的正反两面进行测试，造成使用者多次对芯片进行拆装，会耗费使用者大量的时间和精力，影响使用者使用。
实用新型内容
针对现有技术存在的问题，本实用新型提供了一种芯片测试机的翻转机构，具备便于使用者的优点，解决了现有的芯片测试机不便于使用者使用，在对芯片进行测试时，需要对芯片的正反两面进行测试，造成使用者多次对芯片进行拆装，会耗费使用者大量的时间和精力，影响使用者使用的问题。
本实用新型是这样实现的，一种芯片测试机的翻转机构，包括工作台，所述工作台顶部的前侧和后侧分别设置有固定架和伸缩架，所述固定架两侧的底部均固定连接有固定套，所述工作台的顶部设置有与固定套配合使用的固定机构，所述固定架内腔的顶部设置有夹持架，所述夹持架的左侧固定连接有与固定架配合使用的活动杆，所述活动杆的左侧与固定架活动连接，所述夹持架的右侧固定连接有旋转杆，所述旋转杆的右侧贯穿至固定架的外侧并固定连接有旋钮，所述固定架右侧的顶部设置有与旋钮配合使用的定位机构，所述旋钮的顶部和底部均开设有与定位机构配合使用的定位槽，所述伸缩架的顶部固定连接有与夹持架配合使用的测试机本体。
作为本实用新型优选的，所述固定机构包括壳体，所述壳体的内腔设置有限位板，所述限位板远离固定套的一侧固定连接有第一弹簧，所述限位板远离第一弹簧的一侧固定连接有与固定套配合使用的固定柱，所述固定柱远离限位板的一侧贯穿壳体并延伸至固定套的内腔。
作为本实用新型优选的，所述定位机构包括定位架，所述定位架的顶部设置有推块，所述推块的底部固定连接有固定杆，所述固定杆的表面套设有第二弹簧，所述固定杆的底部贯穿定位架并固定连接有与定位槽配合使用的定位块。
作为本实用新型优选的，所述固定架的底部与工作台接触，所述伸缩架的底部与工作台固定连接，所述活动杆的左侧套设有轴承座，轴承座的左侧与固定架固定连接，所述旋转杆的表面与固定架的连接处通过轴承活动连接，所述旋钮的右侧固定连接有把手。
作为本实用新型优选的，所述壳体的底部与工作台固定连接，所述限位板的顶部和底部均固定连接有滑块，所述壳体的内壁开设有与滑块配合使用的滑槽，所述滑块靠近滑槽内壁的一侧与滑槽的内壁接触，所述第一弹簧远离限位板的一侧与壳体的内壁固定连接，所述壳体靠近固定套的一侧开设有与固定柱配合使用的通口，所述固定柱靠近固定套内壁的一侧与固定套的内壁接触。
作为本实用新型优选的，所述定位架的左侧与固定架固定连接，所述固定杆的表面与第二弹簧的内壁接触，所述定位架的顶部开设有与固定杆配合使用的通孔，所述定位块靠近定位槽内壁的一侧与定位槽的内壁接触。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：
1、本实用新型通过设置工作台、固定架、伸缩架、固定套、固定机构、夹持架、活动杆、旋转杆、旋钮、定位机构、定位槽、测试机本体、把手、滑块、滑槽、通口和通孔的配合使用，解决了现有的芯片测试机不便于使用者使用，在对芯片进行测试时，需要对芯片的正反两面进行测试，造成使用者多次对芯片进行拆装，会耗费使用者大量的时间和精力，影响使用者使用的问题，该芯片测试机的翻转机构，具备便于使用者的优点，值得推广。
2、本实用新型通过设置固定机构，可以起到固定作用，增加固定架的稳定性，提高了固定架的固定效果。
3、本实用新型通过设置定位机构，可以起到固定作用，方便使用者对夹持架的位置进行固定，减少使用者对芯片位置调节时耗费的时间和精力，便于使用者使用。
4、本实用新型通过设置固定架，可以起到固定作用，通过设置伸缩架，可以对测试机本体起到固定作用，方便对测试机本体的位置进行调节，通过设置活动杆和旋转杆，可以起到固定作用，方便对夹持架的位置进行调节，通过设置轴承座和轴承，方便活动杆和旋转杆转动，通过设置夹持架，可以对芯片的位置进行固定，通过设置把手，方便使用者对旋钮的位置进行调节。
5、本实用新型通过设置壳体，可以起到固定作用，通过设置限位板，可以起到限位作用，通过设置滑块和滑槽，可以增加限位板移动时的稳定性，避免限位板的位置发生偏动，通过设置第一弹簧，可以起到固定作用，增加固定柱对固定套的固定效果，通过设置通口，方便固定柱移动，通过设置固定柱，可以对固定套的位置进行固定，通过设置固定套，可以起到限位作用，方便对固定架的位置进行固定。
6、本实用新型通过设置定位架，可以起到固定作用，通过设置固定杆，可以起到连接作用，通过设置第二弹簧，可以增加定位块对旋钮的固定效果，通过设置通孔，方便固定杆移动，通过设置定位块，可以对旋钮起到固定作用，通过设置定位槽，可以起到限位作用，增加定位块对旋钮的固定效果。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的结构示意图；
图2是本实用新型实施例提供结构的正视剖视图；
图3是本实用新型实施例提供图2中A处的局部放大图；
图4是本实用新型实施例提供图2中B处的局部放大图。
图中：1、工作台；2、固定架；3、伸缩架；4、固定套；5、固定机构；501、壳体；502、限位板；503、第一弹簧；504、固定柱；6、夹持架；7、活动杆；8、旋转杆；9、旋钮；10、定位机构；1001、定位架；1002、推块；1003、固定杆；1004、第二弹簧；1005、定位块；11、定位槽；12、测试机本体；13、把手；14、滑块；15、滑槽；16、通口；17、通孔。
具体实施方式
为能进一步了解本实用新型的发明内容、特点及功效，兹例举以下实施例，并配合附图详细说明如下。
下面结合附图对本实用新型的结构作详细的描述。
如图1至图4所示，本实用新型实施例提供的一种芯片测试机的翻转机构，包括工作台1，工作台1顶部的前侧和后侧分别设置有固定架2和伸缩架3，固定架2两侧的底部均固定连接有固定套4，工作台1的顶部设置有与固定套4配合使用的固定机构5，固定架2内腔的顶部设置有夹持架6，夹持架6的左侧固定连接有与固定架2配合使用的活动杆7，活动杆7的左侧与固定架2活动连接，夹持架6的右侧固定连接有旋转杆8，旋转杆8的右侧贯穿至固定架2的外侧并固定连接有旋钮9，固定架2右侧的顶部设置有与旋钮9配合使用的定位机构10，旋钮9的顶部和底部均开设有与定位机构10配合使用的定位槽11，伸缩架 3的顶部固定连接有与夹持架6配合使用的测试机本体12。
参考图1和图3，固定机构5包括壳体501，壳体501的内腔设置有限位板 502，限位板502远离固定套4的一侧固定连接有第一弹簧503，限位板502远离第一弹簧503的一侧固定连接有与固定套4配合使用的固定柱504，固定柱 504远离限位板502的一侧贯穿壳体501并延伸至固定套4的内腔。
采用上述方案：通过设置固定机构5，可以起到固定作用，增加固定架2的稳定性，提高了固定架2的固定效果。
参考图1和图4，定位机构10包括定位架1001，定位架1001的顶部设置有推块1002，推块1002的底部固定连接有固定杆1003，固定杆1003的表面套设有第二弹簧1004，固定杆1003的底部贯穿定位架1001并固定连接有与定位槽11配合使用的定位块1005。
采用上述方案：通过设置定位机构10，可以起到固定作用，方便使用者对夹持架6的位置进行固定，减少使用者对芯片位置调节时耗费的时间和精力，便于使用者使用。
参考图1和图2，固定架2的底部与工作台1接触，伸缩架3的底部与工作台1固定连接，活动杆7的左侧套设有轴承座，轴承座的左侧与固定架2固定连接，旋转杆8的表面与固定架2的连接处通过轴承活动连接，旋钮9的右侧固定连接有把手13。
采用上述方案：通过设置固定架2，可以起到固定作用，通过设置伸缩架3，可以对测试机本体12起到固定作用，方便对测试机本体12的位置进行调节，通过设置活动杆7和旋转杆8，可以起到固定作用，方便对夹持架6的位置进行调节，通过设置轴承座和轴承，方便活动杆7和旋转杆8转动，通过设置夹持架6，可以对芯片的位置进行固定，通过设置把手13，方便使用者对旋钮9的位置进行调节。
参考图3，壳体501的底部与工作台1固定连接，限位板502的顶部和底部均固定连接有滑块14，壳体501的内壁开设有与滑块14配合使用的滑槽15，滑块14靠近滑槽15内壁的一侧与滑槽15的内壁接触，第一弹簧503远离限位板502的一侧与壳体501的内壁固定连接，壳体501靠近固定套4的一侧开设有与固定柱504配合使用的通口16，固定柱504靠近固定套4内壁的一侧与固定套4的内壁接触。
采用上述方案：通过设置壳体501，可以起到固定作用，通过设置限位板 502，可以起到限位作用，通过设置滑块14和滑槽15，可以增加限位板502移动时的稳定性，避免限位板502的位置发生偏动，通过设置第一弹簧503，可以起到固定作用，增加固定柱504对固定套4的固定效果，通过设置通口16，方便固定柱504移动，通过设置固定柱504，可以对固定套4的位置进行固定，通过设置固定套4，可以起到限位作用，方便对固定架2的位置进行固定。
参考图4，定位架1001的左侧与固定架2固定连接，固定杆1003的表面与第二弹簧1004的内壁接触，定位架1001的顶部开设有与固定杆1003配合使用的通孔17，定位块1005靠近定位槽11内壁的一侧与定位槽11的内壁接触。
采用上述方案：通过设置定位架1001，可以起到固定作用，通过设置固定杆1003，可以起到连接作用，通过设置第二弹簧1004，可以增加定位块1005 对旋钮9的固定效果，通过设置通孔17，方便固定杆1003移动，通过设置定位块1005，可以对旋钮9起到固定作用，通过设置定位槽11，可以起到限位作用，增加定位块1005对旋钮9的固定效果。
本实用新型的工作原理：
在使用时，使用者移动固定架2，固定架2带动固定套4对固定柱504进行挤压，固定柱504受到挤压后带动限位板502在壳体501的内腔滑动并对第一弹簧503进行挤压，固定柱504带动滑块14在滑槽15的内腔滑动，当固定柱 504与固定套4的位置重合时，第一弹簧503压缩后释放的力通过限位板502带动固定柱504进行固定槽的内腔，限位板502带动滑块14在滑槽15的内腔反向滑动，然后将芯片放置在夹持架6中，通过测试机本体12对夹持架6上的芯片进行测试，测试完成后，向下推动推块1002，推块1002带动固定杆1003向下移动并对第二弹簧1004进行挤压，固定杆1003带动定位块1005从定位槽11 的内腔移出，通过把手13转动旋钮9，旋钮9带动旋转杆8转动，旋转杆8带动夹持架6转动，然后松开推块1002，第二弹簧1004压缩后释放的力通过推块 1002带动固定杆1003向上移动，固定杆1003带动定位块1005进入定位槽11 的内腔并对旋钮9的位置进行固定，使用者通过测试机本体12再次对芯片进行测试。
综上所述：该芯片测试机的翻转机构，通过设置工作台1、固定架2、伸缩架3、固定套4、固定机构5、夹持架6、活动杆7、旋转杆8、旋钮9、定位机构10、定位槽11、测试机本体12、把手13、滑块14、滑槽15、通口16和通孔17的配合使用，解决了现有的芯片测试机不便于使用者使用，在对芯片进行测试时，需要对芯片的正反两面进行测试，造成使用者多次对芯片进行拆装，会耗费使用者大量的时间和精力，影响使用者使用的问题，该芯片测试机的翻转机构，具备便于使用者的优点，值得推广。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种芯片测试机的翻转机构，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)顶部的前侧和后侧分别设置有固定架(2)和伸缩架(3)，所述固定架(2)两侧的底部均固定连接有固定套(4)，所述工作台(1)的顶部设置有与固定套(4)配合使用的固定机构(5)，所述固定架(2)内腔的顶部设置有夹持架(6)，所述夹持架(6)的左侧固定连接有与固定架(2)配合使用的活动杆(7)，所述活动杆(7)的左侧与固定架(2)活动连接，所述夹持架(6)的右侧固定连接有旋转杆(8)，所述旋转杆(8)的右侧贯穿至固定架(2)的外侧并固定连接有旋钮(9)，所述固定架(2)右侧的顶部设置有与旋钮(9)配合使用的定位机构(10)，所述旋钮(9)的顶部和底部均开设有与定位机构(10)配合使用的定位槽(11)，所述伸缩架(3)的顶部固定连接有与夹持架(6)配合使用的测试机本体(12)。
2.如权利要求1所述的一种芯片测试机的翻转机构，其特征在于：所述固定机构(5)包括壳体(501)，所述壳体(501)的内腔设置有限位板(502)，所述限位板(502)远离固定套(4)的一侧固定连接有第一弹簧(503)，所述限位板(502)远离第一弹簧(503)的一侧固定连接有与固定套(4)配合使用的固定柱(504)，所述固定柱(504)远离限位板(502)的一侧贯穿壳体(501)并延伸至固定套(4)的内腔。
3.如权利要求1所述的一种芯片测试机的翻转机构，其特征在于：所述定位机构(10)包括定位架(1001)，所述定位架(1001)的顶部设置有推块(1002)，所述推块(1002)的底部固定连接有固定杆(1003)，所述固定杆(1003)的表面套设有第二弹簧(1004)，所述固定杆(1003)的底部贯穿定位架(1001)并固定连接有与定位槽(11)配合使用的定位块(1005)。
4.如权利要求1所述的一种芯片测试机的翻转机构，其特征在于：所述固定架(2)的底部与工作台(1)接触，所述伸缩架(3)的底部与工作台(1)固定连接，所述活动杆(7)的左侧套设有轴承座，轴承座的左侧与固定架(2)固定连接，所述旋转杆(8)的表面与固定架(2)的连接处通过轴承活动连接，所述旋钮(9)的右侧固定连接有把手(13)。
5.如权利要求2所述的一种芯片测试机的翻转机构，其特征在于：所述壳体(501)的底部与工作台(1)固定连接，所述限位板(502)的顶部和底部均固定连接有滑块(14)，所述壳体(501)的内壁开设有与滑块(14)配合使用的滑槽(15)，所述滑块(14)靠近滑槽(15)内壁的一侧与滑槽(15)的内壁接触，所述第一弹簧(503)远离限位板(502)的一侧与壳体(501)的内壁固定连接，所述壳体(501)靠近固定套(4)的一侧开设有与固定柱(504)配合使用的通口(16)，所述固定柱(504)靠近固定套(4)内壁的一侧与固定套(4)的内壁接触。
6.如权利要求3所述的一种芯片测试机的翻转机构，其特征在于：所述定位架(1001)的左侧与固定架(2)固定连接，所述固定杆(1003)的表面与第二弹簧(1004)的内壁接触，所述定位架(1001)的顶部开设有与固定杆(1003)配合使用的通孔(17)，所述定位块(1005)靠近定位槽(11)内壁的一侧与定位槽(11)的内壁接触。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN113567470A (zh) * | 2021-07-13 | 2021-10-29 | 安徽科惠微电子有限公司 | 一种光学芯片测试装置 |
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