CN219915848U - 一种半导体芯片的检测器 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种半导体芯片的检测器，包括检测台，所述检测台的内侧活动连接有转接台，所述检测台的前端固定有显示屏，所述转接台的前侧开设有检测槽，所述检测槽内腔的后壁开设有多个圆孔，所述检测台内侧的顶部固定有检测电路板，所述检测电路板的顶部固定有多个触块，所述转接台的前端铰接连接有限位板，所述检测台的内部设有更换组件，所述更换组件包括与检测台内侧顶部开设的两个凹槽，所述更换组件还包括与转接台下端固定的两个插板。该半导体芯片的检测器，通过设置有更换组件，能够对转接台进行更换，以便能够适用与不同规格尺寸的半导体芯片，可对不同芯片进行检测，从而可提高检测器的实用性。

Description

一种半导体芯片的检测器

技术领域

本实用新型涉及半导体技术领域，具体为一种半导体芯片的检测器。

背景技术

半导体芯片，在半导体片材上进行浸蚀，布线，制成的能实现某种功能的半导体器件，半导体芯片是高精密的元器件，被广泛应用于手机、电脑、汽车、航天等领域中。

半导体芯片在产线生产时需要进行检验，中国专利(公告号：CN210604875U)中公开了半导体芯片电性检测装置，能够有效提高检测准确度，还不便对不同尺寸的芯片进行检测，上述文件中压板与支撑板之间尺寸的固定，只便对于单一尺寸的半导体芯片进行电性检测处理，面对尺寸不同的半导体芯片检测范围存在一定局限性，且适用范围较小。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种半导体芯片的检测器，具备便于对不同尺寸的芯片进行检测等优点，解决了不便对不同尺寸的芯片进行检测的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体芯片的检测器，包括检测台，所述检测台的内侧活动连接有转接台，所述检测台的前端固定有显示屏，所述转接台的前侧开设有检测槽，所述检测槽内腔的后壁开设有多个圆孔，所述检测台内侧的顶部固定有检测电路板，所述检测电路板的顶部固定有多个触块，所述转接台的前端铰接连接有限位板，所述检测台的内部设有更换组件；

所述更换组件包括与检测台内侧顶部开设的两个凹槽，所述更换组件还包括与转接台下端固定的两个插板，前后两个所述插板相背的一侧均卡接有限位块，前后两个所述限位块相背的一侧均固定有移动板，两个所述移动板的左侧固定有移板，所述移动板的内部滑动连接有两个滑杆，所述滑杆的左右两端均铰接连接有铰接杆，前后两个所述移动板相背的一侧均固定有两个弹簧。

进一步，所述插板位于凹槽的内部，所述插板与凹槽为活动连接。

进一步，前后两个所述插板相背的一侧均开设有限位槽，所述限位块位于限位槽的内部且与其卡接。

进一步，两个所述移动板的左侧开设有两个滑动槽，所述滑杆位于滑动槽的内部且与其滑动连接。

进一步，所述检测台的左侧开设有两个滑孔，所述移板贯穿滑孔至检测台的外部且与其滑动连接。

进一步，所述移动板的上下两端均固定有滑块，所述凹槽内腔的上下两端均开设有滑槽，所述滑块位于凹槽的内部且与其滑动连接。

进一步，所述检测台内侧的顶部开设有安装槽，所述检测电路板位于安装槽的内部且与其固定。

与现有技术相比，本申请的技术方案具备以下有益效果：

该半导体芯片的检测器，通过设置有更换组件，能够对转接台进行更换，以便能够适用与不同规格尺寸的半导体芯片，可对不同芯片进行检测，从而可提高检测器的实用性。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型检测台的侧视结构示意图；

图3为本实用新型更换组件的结构示意图。

图中：1检测台、2转接台、3显示屏、4检测槽、5圆孔、6检测电路板、7触块、8限位板、9更换组件、901凹槽、902插板、903限位块、904移动板、905移板、906滑杆、907铰接杆、908弹簧。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-2，本实施例中的一种半导体芯片的检测器，包括检测台1，检测台1的内侧活动连接有转接台2，检测台1的前端固定有显示屏3，转接台2的前侧开设有检测槽4，以便将半导体芯片放置在检测槽4内，可对芯片进行检测，检测槽4内腔的后壁开设有多个圆孔5，检测台1内侧的顶部固定有检测电路板6，检测电路板6的顶部固定有多个触块7，使触块7通过转接台2的圆孔5贯穿至检测槽4内，使检测电路板6可与半导体芯片接触连接，从而可对半导体芯片检测，转接台2的前端铰接连接有限位板8，以便对半导体芯片进行压住固定，检测台1的内部设有更换组件9。

其中，检测台1内侧的顶部开设有安装槽，检测电路板6位于安装槽的内部且与其固定，能够将其安装在检测台1上。

请参阅图3，本实施例中的更换组件9包括与检测台1内侧顶部开设的两个凹槽901，更换组件9还包括与转接台2下端固定的两个插板902，前后两个插板902相背的一侧均卡接有限位块903，前后两个限位块903相背的一侧均固定有移动板904，移动板904的上下两端均固定有滑块，凹槽901内腔的上下两端均开设有滑槽，滑块位于凹槽901的内部且与其滑动连接，便于移动板904能够在凹槽901内进行滑动，使其移动至更为顺畅，两个移动板904的左侧固定有移板905，移动板904的内部滑动连接有两个滑杆906，滑杆906的左右两端均铰接连接有铰接杆907，前后两组铰接杆907相背的一侧与两个凹槽901内腔相背的一壁相铰接连接，且一组铰接杆907有四个，前后两个移动板904相背的一侧均固定有两个弹簧908，前后两组弹簧908相背的一侧与两个凹槽901内腔相背的一壁相固定，便于对其进行挤压。

其中，插板902位于凹槽901的内部，插板902与凹槽901为活动连接，插板902位于凹槽901内，使转接台2能够位于检测台1的内侧，以便对其进行限位固定。

同时，前后两个插板902相背的一侧均开设有限位槽，限位块903位于限位槽的内部且与其卡接，使限位块903移出或移进限位槽内，从而便于对转接台2进行更换，以便能够适配不同的半导体芯片，提高检测器的适用。

另外，两个移动板904的左侧开设有两个滑动槽，滑杆906位于滑动槽的内部且与其滑动连接，使滑杆906能够在移动板904内进行滑动，以便推动铰接杆907。

且，检测台1的左侧开设有两个滑孔，移板905贯穿滑孔至检测台1的外部且与其滑动连接，以便使用者通过移板905带动移动板904进行移动，便于更换转接台2。

需要说明的是，显示屏3、检测电路板6、触块7均为现有技术中公众所常知的，文中出现的电器元件均为现有技术中公众所常知的，并且本申请控制方法是通过主控端进行控制，主控端为计算器等控制的常规已知设备，且现有的电力连接技术与电源提供也属于本领域的公知常识，本领域技术人员可简单的编程实施，文中不在对其工作原理、电路连接和控制方法进行赘述。

本实施例中的更换组件9，通过限位块903移出或移进插板902内，从而便于更换转接台2，以便能够适配不同的半导体芯片，提高检测器的适用性。

上述实施例的工作原理为：

在使用时，当需对不同尺寸半导体芯片进行检测时，使用者通过移动两个移板905，使其相背移动，可使两个移动板904相背移动，使移动板904对铰接杆907与弹簧908进行挤压，使上下两组滑杆906在移动板904内相背移动，且弹簧908呈压缩状，同时，限位块903移动出插板902的限位槽内，即可对转接台2进行更换，以便能够对不同尺寸的半导体芯片进行检测，从而可提高检测器的适用性，进行检测时，多个触块7贯穿至多个圆孔5，使触块7能够位于检测槽4内，以便检测电路板6能够与半导体芯片接触，并通过翻转限位板8，使限位板8对芯片进行压住固定，即可对半导体芯片进行检测。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种半导体芯片的检测器，包括检测台(1)，其特征在于：所述检测台(1)的内侧活动连接有转接台(2)，所述检测台(1)的前端固定有显示屏(3)，所述转接台(2)的前侧开设有检测槽(4)，所述检测槽(4)内腔的后壁开设有多个圆孔(5)，所述检测台(1)内侧的顶部固定有检测电路板(6)，所述检测电路板(6)的顶部固定有多个触块(7)，所述转接台(2)的前端铰接连接有限位板(8)，所述检测台(1)的内部设有更换组件(9)；

所述更换组件(9)包括与检测台(1)内侧顶部开设的两个凹槽(901)，所述更换组件(9)还包括与转接台(2)下端固定的两个插板(902)，前后两个所述插板(902)相背的一侧均卡接有限位块(903)，前后两个所述限位块(903)相背的一侧均固定有移动板(904)，两个所述移动板(904)的左侧固定有移板(905)，所述移动板(904)的内部滑动连接有两个滑杆(906)，所述滑杆(906)的左右两端均铰接连接有铰接杆(907)，前后两个所述移动板(904)相背的一侧均固定有两个弹簧(908)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体芯片的检测器，其特征在于：所述插板(902)位于凹槽(901)的内部，所述插板(902)与凹槽(901)为活动连接。

3.根据权利要求1所述的一种半导体芯片的检测器，其特征在于：前后两个所述插板(902)相背的一侧均开设有限位槽，所述限位块(903)位于限位槽的内部且与其卡接。

4.根据权利要求1所述的一种半导体芯片的检测器，其特征在于：两个所述移动板(904)的左侧开设有两个滑动槽，所述滑杆(906)位于滑动槽的内部且与其滑动连接。

5.根据权利要求1所述的一种半导体芯片的检测器，其特征在于：所述检测台(1)的左侧开设有两个滑孔，所述移板(905)贯穿滑孔至检测台(1)的外部且与其滑动连接。

6.根据权利要求1所述的一种半导体芯片的检测器，其特征在于：所述移动板(904)的上下两端均固定有滑块，所述凹槽(901)内腔的上下两端均开设有滑槽，所述滑块位于凹槽(901)的内部且与其滑动连接。

7.根据权利要求1所述的一种半导体芯片的检测器，其特征在于：所述检测台(1)内侧的顶部开设有安装槽，所述检测电路板(6)位于安装槽的内部且与其固定。