CN219391288U - 一种芯片测试震动控制装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种芯片测试震动控制装置,包括震动箱,所述震动箱上端面前侧固定有控制箱,并且后侧固定有控制平台,所述控制箱内设有贯穿左右箱壁轴承连接的丝杠,并且箱内设有移动杆滑动连接,所述移动杆上设有与丝杠螺纹啮合的螺纹块,所述移动杆上设有套杆穿过滑槽箱侧壁,所述滑槽箱固定在控制箱内上侧,并且其内设有夹持机构滑动连接,所述套杆自由端接触夹持机构下端,所述移动杆上端固定有限制机构。本实用新型的优点在于:使芯片震动检测时不晃动,使芯片的震动检测结果精准,继而提高了装置实用性的问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域,具体是指一种芯片测试震动控制装置。
背景技术
芯片就是半导体元件产品的统称,指内含集成电路的硅片,体积很小,常常是计算机或其他设备的一部分。集成电路实体往往要以芯片的形式存在,依托芯片来发挥它的作用。它是电子设备中最重要的部分,承担着完成运算,处理任务和控制存储的功能。一般在芯片制作过程中需要经过许多工序,其中就包括芯片的震动检测,所以需要使用测试震动控制装置,然而市面上出现的震动控制装置仍存在各种各样的不足,不能够满足生产的需求。现有的震动控制装置在使用过程中,由于同种芯片产品的规格不统一,装置在对其进行夹持过程中,由于夹持结构调节不便,从而导致了芯片容易晃动甚至掉落,影响了芯片的震动检测结果,继而降低了装置实用性的问题。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是:克服上述问题,提供一种芯片测试震动控制装置。
为解决上述技术问题,本实用新型提供的技术方案为:一种芯片测试震动控制装置,包括震动箱,所述震动箱上端面前侧固定有控制箱,并且后侧固定有控制平台,所述控制箱内设有贯穿左右箱壁轴承连接的丝杠,并且箱内设有移动杆滑动连接,所述移动杆上设有与丝杠螺纹啮合的螺纹块,所述移动杆上设有套杆穿过滑槽箱侧壁,所述滑槽箱固定在控制箱内上侧,并且其内设有夹持机构滑动连接,所述移动杆上端固定有限制机构。
进一步地,所述控制箱侧壁设有丝杠穿过的通孔,所述丝杠上设有与通孔对应的限位槽,所述限位槽与通孔之间设有轴承,所述丝杠两端各固定有旋钮一。
进一步地,所述移动杆下端固定有滑块一,并且上端设有连接座,所述控制箱内底壁设有滑块一滑动连接的滑槽,并且上端设有连接座滑动连接的通槽。
进一步地,所述夹持机构包括在滑槽箱内滑动连接的滑块二,所述滑块二上端固定有F型连接杆,并且右端固定有限位杆,所述F型连接杆上端设有第一横杆、第二横杆,所述两个横杆之间设有限制板,所述限制板固定在丝杠二下端,所述丝杠二穿过第一横杆并丝杠连接,并且上端固定有旋钮二,所述限位杆上、两个滑块二之间固定有复位弹簧。
进一步地,所述套杆左端设有移动杆穿过的通孔二,并且右端接触滑块二左端。
进一步地,所述限制机构包括固定在移动杆上端的连接座,所述连接座上端铰接有L型板,所述L型板上横板设有齿一,所述控制箱上端前侧设有两个矩形通孔,所述矩形通孔后壁设有与齿一啮合的齿二。
进一步地,所述震动箱前端铰接有箱盖,所述箱盖上固定有把手。
本实用新型与现有技术相比的优点在于:
通过旋转旋钮二使丝杠二带动限制板上下移动,使限制板、第二横杆可以上下夹持芯片,旋转丝杠使两个套杆推动使两个夹持机构向中心移动,可以对芯片左右两端进行夹持;
通过转动L型板,使其上横板的齿一与矩形通孔后壁的齿二啮合,可以限制整体装置移动,使芯片震动检测时不晃动,使芯片的震动检测结果精准,继而提高了装置实用性的问题;
当芯片震动检测结束,先将一侧夹持机构打开,放出芯片一端,再反向旋转旋钮一,使丝杠带动套杆向两侧移动,在复位弹簧的作用下,两个夹持机构分开,这时可取出芯片;
通过限位槽、轴承限制丝杠移动并且只能转动;
通过滑块一、连接座与控制箱滑动连接,并通过套接套杆,限制移动杆只能左右移动,防止其前后晃动,增强装置稳定性;
所述限位杆防止复位弹簧受压弹出。
附图说明
图1是本实用新型一种芯片测试震动控制装置的整体正视结构图。
图2是本实用新型一种芯片测试震动控制装置的图1中A图。
图3是本实用新型一种芯片测试震动控制装置的夹持机构图。
图4是本实用新型一种芯片测试震动控制装置的整体俯视结构图。
图5是本实用新型一种芯片测试震动控制装置的控制箱俯视结构图。
如图所示:震动箱1,控制箱2,通孔201,滑槽202,通槽203,矩形通孔204,齿二205,控制平台3,丝杠4,移动杆5,螺纹块6,套杆7,通孔二701,滑槽箱8,夹持机构9,限制机构10,轴承11,连接座12,滑块二13,F型连接杆14,第一横杆1401,第二横杆1402,限位杆15,限制板16,丝杠二17,旋钮二1701,复位弹簧18,L型板19,齿一1901,箱盖20,把手21。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步的详细说明。
结合附图1,一种芯片测试震动控制装置,包括震动箱1,所述震动箱1上端面前侧固定有控制箱2,并且后侧固定有控制平台3,所述控制箱2内设有贯穿左右箱壁轴承连接的丝杠4,并且箱内设有移动杆5滑动连接,所述移动杆5上设有与丝杠4螺纹啮合的螺纹块6,所述移动杆5上设有套杆7穿过滑槽箱8侧壁,所述滑槽箱8固定在控制箱2内上侧,并且其内左右各设有一个夹持机构9滑动连接,所述移动杆5上端固定有限制机构10。
本实用新型在具体实施时,先将芯片一端用一个夹持机构9夹持,旋转丝杠4使螺纹块6带动移动杆5移动,从而使套杆7一端推动夹持机构9移动,使另一侧夹持机构9能够夹持芯片另一端,使用限制机构10限制移动杆5移动,使夹持机构9无法移动,使芯片震动检测使不晃动,使芯片的震动检测结果精准,继而提高了装置实用性的问题。
结合附图1-2,所述控制箱2侧壁设有丝杠4穿过的通孔201,所述丝杠4上设有与通孔201对应的限位槽401,所述限位槽401与通孔201之间设有轴承11,所述丝杠4两端各固定有旋钮一402。
所述限位槽401、轴承11限制丝杠4移动,并且只能转动。
结合附图1,所述移动杆5下端固定有滑块一501,并且上端设有连接座12,所述控制箱2内底壁设有滑块一501滑动连接的滑槽202,并且上端设有连接座12滑动连接的通槽203。
所述滑块一501、连接座12与控制箱2内、通槽203滑动连接,并通过套接套杆7,限制移动杆5只能左右移动,防止其前后晃动,增强装置稳定性。
结合附图3,所述夹持机构9包括在滑槽箱8内滑动连接的滑块二13,所述滑块二13上端固定有F型连接杆14,并且右端固定有限位杆15,所述F型连接杆14上端设有第一横杆1401、第二横杆1402,所述两个横杆之间设有限制板16,所述限制板16固定在丝杠二17下端,所述丝杠二17穿过第一横杆1401并丝杠连接,并且上端固定有旋钮二1701,所述限位杆15上、两个滑块二13之间固定有复位弹簧18。
结合附图1,所述套杆7左端设有移动杆5穿过的通孔二701,并且右端接触滑块二13左端。
旋转旋钮二1701使丝杠二17带动限制板16上下移动,使限制板16、第二横杆1402可以上下夹持芯片,当两个套杆7推动使两个夹持机构9向中心移动使,可以对芯片左右两端进行夹持;
当芯片震动检测结束,先将一侧夹持机构9打开,放出芯片一端,再反向旋转旋钮一402,使丝杠4带动套杆7向两侧移动,在复位弹簧18的作用下,两个夹持机构9分开,这时可取出芯片;
所述限位杆15防止复位弹簧18受压弹出。
结合附图1与附图5,所述限制机构10包括固定在移动杆5上端的连接座12,所述连接座12上端铰接有L型板19,所述L型板19上横板设有齿一1901,所述控制箱2上端前侧设有两个矩形通孔204,所述矩形通孔204后壁设有与齿一1901啮合的齿二205。
当夹持好芯片后,转动L型板19,使其上横板的齿一1901与矩形通孔204后壁的齿二205啮合,可以限制整体装置移动,使芯片震动检测使不晃动,使芯片的震动检测结果精准,继而提高了装置实用性的问题。
结合附图1,所述震动箱1前端铰接有箱盖20,所述箱盖20上固定有把手21。
以上对本实用新型及其实施方式进行了描述,这种描述没有限制性,附图中所示的也只是本实用新型的实施方式之一,实际的结构并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示,在不脱离本实用新型创造宗旨的情况下,不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例,均应属于本实用新型的保护范围。
Claims (7)
1.一种芯片测试震动控制装置,包括震动箱(1),其特征在于:所述震动箱(1)上端面前侧固定有控制箱(2),并且后侧固定有控制平台(3),所述控制箱(2)内设有贯穿左右箱壁轴承连接的丝杠(4),并且箱内设有移动杆(5)滑动连接,所述移动杆(5)上设有与丝杠(4)螺纹啮合的螺纹块(6),所述移动杆(5)上设有套杆(7)穿过滑槽箱(8)侧壁,所述滑槽箱(8)固定在控制箱(2)内上侧,并且其内设有夹持机构(9)滑动连接,所述套杆(7)自由端与夹持机构(9)下端接触,所述移动杆(5)上端固定有限制机构(10)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置,其特征在于:所述控制箱(2)侧壁设有丝杠(4)穿过的通孔(201),所述丝杠(4)上设有与通孔(201)对应的限位槽(401),所述限位槽(401)与通孔(201)之间设有轴承(11),所述丝杠(4)两端各固定有旋钮一(402)。
3.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置,其特征在于:所述移动杆(5)下端固定有滑块一(501),并且上端设有连接座(12),所述控制箱(2)内底壁设有滑块一(501)滑动连接的滑槽(202),并且上端设有连接座(12)滑动连接的通槽(203)。
4.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置,其特征在于:所述夹持机构(9)包括在滑槽箱(8)内滑动连接的滑块二(13),所述滑块二(13)上端固定有F型连接杆(14),并且右端固定有限位杆(15),所述F型连接杆(14)上端设有第一横杆(1401)、第二横杆(1402),所述两个横杆之间设有限制板(16),所述限制板(16)固定在丝杠二(17)下端,所述丝杠二(17)穿过第一横杆(1401)并丝杠连接,并且上端固定有旋钮二(1701),所述限位杆(15)上、两个滑块二(13)之间固定有复位弹簧(18)。
5.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置,其特征在于:所述套杆(7)左端设有移动杆(5)穿过的通孔二(701),并且右端接触滑块二(13)左端。
6.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置,其特征在于:所述限制机构(10)包括固定在移动杆(5)上端的连接座(12),所述连接座(12)上端铰接有L型板(19),所述L型板(19)上横板设有齿一(1901),所述控制箱(2)上端前侧设有两个矩形通孔(204),所述矩形通孔(204)后壁设有与齿一(1901)啮合的齿二(205)。
7.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置,其特征在于:所述震动箱(1)前端铰接有箱盖(20),所述箱盖(20)上固定有把手(21)。
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