CN212160009U - 一种带限位结构的芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种带限位结构的芯片测试装置，包括测试设备，所述测试设备的表面固定连接有定位板，所述定位板的内壁固定连接有拉杆机构，所述拉杆机构的数量为两个，所述拉杆机构的顶部贯穿至定位板的顶部。通过设置测试设备、拉杆机构、活动块、手柄、拉簧、复位机构、滑套、滑杆、弹簧、定位板、限位杆、防护垫、卡块、活动孔、连接块、滑块、滑槽、活动槽、凹槽和限位孔的配合使用，解决了现有的测试装置在限位芯片时，一般都是使用模具进行限位，当使用者需要检测不同的芯片时，需要更换模具，使用者需要耗费大量的时间进行更换，极大的减少了便捷性，特别不方便使用者使用的问题。

Description

一种带限位结构的芯片测试装置

技术领域

本实用新型属于芯片技术领域，尤其涉及一种带限位结构的芯片测试装置。

背景技术

芯片，半导体元件产品的统称，称微电路、微芯片、晶片、芯片在电子学中是一种把电路小型化的方式，主要包括半导体设备，也包括被动组件等，并时常制造在半导体晶圆表面上。

现在的生活中，科技越来越发达，芯片也是用途广泛，芯片在生产时需要对其进行检测，检测芯片的质量，在检测时需要使用到测试设备，综上所述，现有的测试装置在限位芯片时，一般都是使用模具进行限位，当使用者需要检测不同的芯片时，需要更换模具，使用者需要耗费大量的时间进行更换，极大的减少了便捷性，特别不方便使用者的使用。

实用新型内容

针对现有技术存在的问题，本实用新型提供了一种带限位结构的芯片测试装置，具备快速对芯片进行限位的优点，解决了现有的测试装置在限位芯片时，一般都是使用模具进行限位，当使用者需要检测不同的芯片时，需要更换模具，使用者需要耗费大量的时间进行更换，极大的减少了便捷性，特别不方便使用者使用的问题。

本实用新型是这样实现的，一种带限位结构的芯片测试装置，包括测试设备，所述测试设备的表面固定连接有定位板，所述定位板的内壁固定连接有拉杆机构，所述拉杆机构的数量为两个，所述拉杆机构的顶部贯穿至定位板的顶部，两个拉杆机构相对的一侧均固定连接有连接块，两个连接块相对的一侧均贯穿至定位板的外侧并固定连接有限位杆，所述定位板顶部的两侧均开设有凹槽，所述凹槽的内壁固定连接有复位机构，所述复位机构的顶部固定连接有卡块。

作为本实用新型优选的，所述拉杆机构包括活动块，两个活动块相对的一侧均固定连接有拉簧，两个拉簧相对的一侧均与定位板的内壁固定连接，所述活动块的顶部固定连接有手柄，所述手柄的顶部贯穿至定位板的顶部，两个活动块相对的一侧均与连接块固定连接。

作为本实用新型优选的，所述复位机构包括滑杆，所述滑杆的两侧均与凹槽的内壁固定连接，所述滑杆的表面套设有滑套，所述滑套的右侧固定连接有弹簧，所述弹簧的右侧与定位板的内壁固定连接，所述弹簧套设于滑杆的表面，所述滑套的顶部与卡块固定连接。

作为本实用新型优选的，两个活动块相对的一侧均固定连接有滑块，所述定位板的内壁开设有与滑块配合使用的滑槽。

作为本实用新型优选的，所述定位板的顶部开设有与手柄配合使用的活动孔，所述定位板的内壁开设有与连接块配合使用的活动槽。

作为本实用新型优选的，两个限位杆相对的一侧均固定连接有防护垫，两个卡块相对的一侧均开设有与手柄配合使用的限位孔。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过设置测试设备、拉杆机构、活动块、手柄、拉簧、复位机构、滑套、滑杆、弹簧、定位板、限位杆、防护垫、卡块、活动孔、连接块、滑块、滑槽、活动槽、凹槽和限位孔的配合使用，当使用者在对芯片进行检测需要对芯片进行限位时，使用者将芯片安装到定位板的表面，此时，使用者拉动卡板，使手柄脱离限位孔的内腔，当手柄脱离限位孔的内腔后，通过拉簧的反作用力使限位杆与芯片接触，从而对芯片进行限位，实现了在芯片进行检测时对芯片进行限位的目的，解决了现有的测试装置在限位芯片时，一般都是使用模具进行限位，当使用者需要检测不同的芯片时，需要更换模具，使用者需要耗费大量的时间进行更换，极大的减少了便捷性，特别不方便使用者使用的问题。

2、本实用新型通过设置拉杆机构，方便了使用者需要对芯片限位进行检测时，使用者只需通过拉动手柄，使限位杆不会阻碍芯片的安装。

3、本实用新型通过设置复位机构，能够通过弹簧的反作用力使卡块移动，使手柄进入限位孔的内腔，从而手柄进行限位，使限位杆不会因拉簧的反作用力阻碍芯片的安装。

4、本实用新型通过设置滑块和滑槽的配合使用，能够使活动块在移动时减少与定位板之间的摩擦和碰撞，同时还可使活动块在移动时不会发生偏移的现象。

5、本实用新型通过设置活动孔，能够为手柄和连接块提供移动轨迹，使手柄和连接块在移动时减少与定位板之间的摩擦和碰撞，同时还可避免卡死的现象。

6、本实用新型通过设置防护垫，能够使限位杆通过拉簧的反作用力对芯片进行限位时不会因夹紧的力对芯片造成损坏，通过设置限位孔，能够使手柄进入限位孔的内腔后，从而对手柄进行限位，使限位杆不会因拉簧的反作用力反弹。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的结构示意图；

图2是本实用新型实施例提供定位板的俯视剖视图；

图3是本实用新型实施例提供定位板的剖视图；

图4是本实用新型实施例提供图1中A处的局部放大图；

图5是本实用新型实施例提供图2中B处的局部放大图；

图6是本实用新型实施例提供图3中C处的局部放大图；

图7是本实用新型实施例提供卡块的立体图。

图中：1、测试设备；2、拉杆机构；201、活动块；202、手柄；203、拉簧；3、复位机构；301、滑套；302、滑杆；303、弹簧；4、定位板；5、限位杆；6、防护垫；7、卡块；8、活动孔；9、连接块；10、滑块；11、滑槽；12、活动槽；13、凹槽；14、限位孔。

具体实施方式

为能进一步了解本实用新型的发明内容、特点及功效，兹例举以下实施例，并配合附图详细说明如下。

下面结合附图对本实用新型的结构作详细的描述。

如图1至图7所示，本实用新型实施例提供的一种带限位结构的芯片测试装置，包括测试设备1，测试设备1的表面固定连接有定位板4，定位板4的内壁固定连接有拉杆机构2，拉杆机构2的数量为两个，拉杆机构2的顶部贯穿至定位板4的顶部，两个拉杆机构2相对的一侧均固定连接有连接块9，两个连接块9相对的一侧均贯穿至定位板4的外侧并固定连接有限位杆5，定位板4顶部的两侧均开设有凹槽13，凹槽13的内壁固定连接有复位机构3，复位机构3的顶部固定连接有卡块7。

参考图5，拉杆机构2包括活动块201，两个活动块201相对的一侧均固定连接有拉簧203，两个拉簧203相对的一侧均与定位板4的内壁固定连接，活动块201的顶部固定连接有手柄202，手柄202的顶部贯穿至定位板4的顶部，两个活动块201相对的一侧均与连接块9固定连接。

采用上述方案：通过设置拉杆机构2，方便了使用者需要对芯片限位进行检测时，使用者只需通过拉动手柄202，使限位杆5不会阻碍芯片的安装。

参考图6，复位机构3包括滑杆302，滑杆302的两侧均与凹槽13的内壁固定连接，滑杆302的表面套设有滑套301，滑套301的右侧固定连接有弹簧303，弹簧303的右侧与定位板4的内壁固定连接，弹簧303套设于滑杆302的表面，滑套301的顶部与卡块7固定连接。

采用上述方案：通过设置复位机构3，能够通过弹簧303的反作用力使卡块7移动，使手柄202进入限位孔14的内腔，从而手柄202进行限位，使限位杆5不会因拉簧203的反作用力阻碍芯片的安装。

参考图5，两个活动块201相对的一侧均固定连接有滑块10，定位板4的内壁开设有与滑块10配合使用的滑槽11。

采用上述方案：通过设置滑块10和滑槽11的配合使用，能够使活动块201在移动时减少与定位板4之间的摩擦和碰撞，同时还可使活动块201在移动时不会发生偏移的现象。

参考图4和图5，定位板4的顶部开设有与手柄202配合使用的活动孔8，定位板4的内壁开设有与连接块9配合使用的活动槽12。

采用上述方案：通过设置活动孔8，能够为手柄202和连接块9提供移动轨迹，使手柄202和连接块9在移动时减少与定位板4之间的摩擦和碰撞，同时还可避免卡死的现象。

参考图2、图4、图5和图7，两个限位杆5相对的一侧均固定连接有防护垫6，两个卡块7相对的一侧均开设有与手柄202配合使用的限位孔14。

采用上述方案：通过设置防护垫6，能够使限位杆5通过拉簧203的反作用力对芯片进行限位时不会因夹紧的力对芯片造成损坏，通过设置限位孔14，能够使手柄202进入限位孔14的内腔后，从而对手柄202进行限位，使限位杆5不会因拉簧203的反作用力反弹。

本实用新型的工作原理：

在使用时，当使用者在对芯片进行检测需要对芯片进行限位时，使用者将芯片安装到定位板4的表面，此时，使用者拉动卡块7带动滑套301挤压弹簧303，使手柄202脱离限位孔14的内腔，当手柄202脱离限位孔14的内腔后，通过拉簧203的反作用力带动活动块201移动，活动块201的移动带动连接块9移动，连接块9的移动带动两个限位杆5向相对的方向移动，限位杆5的移动带动防护垫6移动，使防护垫6与芯片进行接触，从而对芯片进行限位，实现了在芯片进行检测时对芯片进行限位的目的，方便了使用者的使用。

综上所述：该带限位结构的芯片测试装置，通过设置测试设备1、拉杆机构2、活动块201、手柄202、拉簧203、复位机构3、滑套301、滑杆302、弹簧303、定位板4、限位杆5、防护垫6、卡块7、活动孔8、连接块9、滑块10、滑槽11、活动槽12、凹槽13和限位孔14的配合使用，解决了现有的测试装置在限位芯片时，一般都是使用模具进行限位，当使用者需要检测不同的芯片时，需要更换模具，使用者需要耗费大量的时间进行更换，极大的减少了便捷性，特别不方便使用者使用的问题。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括测试设备(1)，其特征在于：所述测试设备(1)的表面固定连接有定位板(4)，所述定位板(4)的内壁固定连接有拉杆机构(2)，所述拉杆机构(2)的数量为两个，所述拉杆机构(2)的顶部贯穿至定位板(4)的顶部，两个拉杆机构(2)相对的一侧均固定连接有连接块(9)，两个连接块(9)相对的一侧均贯穿至定位板(4)的外侧并固定连接有限位杆(5)，所述定位板(4)顶部的两侧均开设有凹槽(13)，所述凹槽(13)的内壁固定连接有复位机构(3)，所述复位机构(3)的顶部固定连接有卡块(7)。

2.如权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述拉杆机构(2)包括活动块(201)，两个活动块(201)相对的一侧均固定连接有拉簧(203)，两个拉簧(203)相对的一侧均与定位板(4)的内壁固定连接，所述活动块(201)的顶部固定连接有手柄(202)，所述手柄(202)的顶部贯穿至定位板(4)的顶部，两个活动块(201)相对的一侧均与连接块(9)固定连接。

3.如权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述复位机构(3)包括滑杆(302)，所述滑杆(302)的两侧均与凹槽(13)的内壁固定连接，所述滑杆(302)的表面套设有滑套(301)，所述滑套(301)的右侧固定连接有弹簧(303)，所述弹簧(303)的右侧与定位板(4)的内壁固定连接，所述弹簧(303)套设于滑杆(302)的表面，所述滑套(301)的顶部与卡块(7)固定连接。

4.如权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：两个活动块(201)相对的一侧均固定连接有滑块(10)，所述定位板(4)的内壁开设有与滑块(10)配合使用的滑槽(11)。

5.如权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述定位板(4)的顶部开设有与手柄(202)配合使用的活动孔(8)，所述定位板(4)的内壁开设有与连接块(9)配合使用的活动槽(12)。

6.如权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：两个限位杆(5)相对的一侧均固定连接有防护垫(6)，两个卡块(7)相对的一侧均开设有与手柄(202)配合使用的限位孔(14)。

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