KR101259264B1 - 가압 레버유닛을 갖는 반도체 소자 검사소켓 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 가압 레버유닛을 갖는 반도체 소자 검사소켓을 개시한다. 본 발명은 상측부와 하측부가 각각 개방되고 상부 양측에 각각 래치(10a)를 포함하는 래치어세이(10)가 장착되는 베이스(2); 복수의 슬라이더 스프링을 사이에 두고 상기 베이스의 상부에 장착되고 다수 개의 접속핀(6)을 위한 구멍들이 형성되며, 상기 각 구멍의 내벽에 확장돌기(3a)가 형성된 슬라이더(3); 상기 슬라이더 보다 위에 장착되고 반도체 소자를 수용하는 어댑터(4); 복수의 커버 스프링을 사이에 두고 상기 베이스(2)의 상부 둘레에 장착되고 양측에 각각 상기 래치어세이(10)의 각 래치(10a)의 잠금상태를 해제시키는 래치해제부재(5a)를 갖는 커버(5); 상기 베이스(2)의 저부에 장착되고 상기 다수 개의 접속핀을 위한 구멍들이 형성되며, 상기 베이스와 상기 슬라이더의 구멍들을 통해 끼워지는 상기 다수 개의 접속핀(6)을 상기 베이스(2)에 고정시키는 스토퍼(8); 및 상기 베이스(2)의 양측에 각각 그룹별로 상호 크로스되는 형태로 배치되는 두 개의 레버(22)를 포함하고 상기 각 레버의 하단부가 상기 베이스(2)에 회전 가능하게 장착되며, 외부에서 상기 커버(5)를 통해 입력되는 외력을 증대시켜 상기 슬라이더(3)에 전달하는 가압 레버유닛(21);을 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

가압 레버유닛을 갖는 반도체 소자 검사소켓{Test socket for semiconductor device with Pressing lever unit}
본 발명은 가압 레버유닛을 갖는 반도체 소자 검사소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 다수 개의 접속핀의 리드를 중앙을 중심으로 좌우로 확장시키거나 복귀시키는 슬라이더의 수직운동을 가압 레버유닛을 통해 보다 용이하게 하여 피검사 반도체 소자에 대한 번인 테스트를 편리하게 수행할 수 있는 가압 레버유닛을 갖는 반도체 소자 검사소켓에 관한 것이다.
일반적으로, IC 소자(Integrated Circuit Device)나 IC 패키지 등과 같은 표면 실장형 반도체 소자는 LGA(Land Grid Array), BGA(Ball Grid Array), CSP(Chip Sized Package) 타입 등으로 이루어져 있으며, 이들은 고객에게 출하되기 전에 신뢰성 보장을 위해 번인 테스트(burn-in test)를 거치게 된다.
번인 테스트는 전술한 바와 같은 반도체 소자가 해당 전자기기에 적용되기 전에 해당 반도체 소자에 대해 평상시의 작동조건보다 높은 온도와 전압을 가했을 경우 해당 반도체 소자가 그러한 조건을 만족시키는 지의 여부를 가리는 과정을 말한다.
따라서, 전술한 바와 같은 각 반도체 소자는 고객에게 출하되기 전에 번인보드 상에 서브보드를 매개로 하여 장착된 해당 검사소켓에 각각 삽입되어 번인 테스트를 거치게 된다.
도 1은 종래 기술에 따른 번인 테스트용 검사소켓을 보여주는 개략 사시도이다. 또한 도 2(a)는 검사소켓의 커버에 외력이 가해지지 않은 상태를 보여주는 개략 단면도이고, 도 2(b)는 검사소켓의 커버에 외력이 가해져 상기 커버에 의해 슬라이더가 수직 하강된 상태를 보여주는 개략 단면도이다.
일반적으로, 번인 테스트용 검사소켓(1)은 도 1에 도시된 바와 같이, 크게 베이스(2), 슬라이더(3), 어댑터(4), 커버(5), 스토퍼(미도시), 2개의 래치어세이(10) 및 다수 개의 접속핀(미도시)을 포함한다.
여기에서, 상기 베이스(2)의 상면에는 슬라이더(3)가 배치되고 상기 베이스(2)의 코너부들과 상기 슬라이더(3)의 대응부분에는 4개의 슬라이더 스프링(미도시)이 개재되어 있다. 도 2(a)와 도 2(b)에 도시된 바와 같이, 상기 슬라이더(3)는 상기 다수 개의 접속핀(6)을 위한 구멍들이 형성되어 있고 상기 각 구멍의 내벽에는 확장돌기(3a)가 형성되어 있다. 또한 상기 각 접속핀(6)은 상측부에 양측으로 뻗는 두 개의 리드(6a)와, 하측부에 상기 두 리드(6a)의 하단부를 일체로 연결하는 스템단자(stem terminal)(6b)로 구성된다. 따라서 상기 슬라이더(3)는 수직운동 시 상기 각 확장돌기(3a)를 통해 다수 개의 접속핀(6)의 리드(6a)를 중앙을 중심으로 좌우로 확장시키거나 복귀시키는 역할을 한다.
상기 베이스(2)의 상부에는 상기 슬라이더(3) 보다 위에 어댑터(4)가 장착되며, 상기 어댑터(4)는 내벽이 상측에서 하측으로 갈수록 상기 슬라이더(3)의 중앙측으로 경사져 있어 전술한 바와 같은 반도체 소자(미도시)를 상기 베이스(2)의 중앙부분으로 안내한다.
또한 상기 베이스(2)의 상부 둘레에는 상기 어댑터(4) 보다 위에 커버(5)가 배치되고 상기 베이스(2)의 상부 일부분들과 상기 커버(5)의 대응부분에는 4개의 커버 스프링(7)이 개재되어 있다. 상기 커버(5)는 2개의 래치어세이(10)를 사이에 두고 상기 베이스(2) 상에 장착되고 상부 양측에 각각 래치해제부재(5a)가 구비되며, 상기 베이스(2)에 대해 상하 방향으로 슬라이딩 이동 가능하게 구비되어 있다.
상기 각 래치어세이(10)의 래치(10a)는 상기 커버(5)가 베이스(2)에 대해 가압될 때 상기 커버(5)의 해당 래치해제부재(5a)를 통해 잠금상태가 해제되고 그 반대로 가압이 해제될 때 원래의 위치로 복귀된다.
도 2(a)와 도 2(b)에 도시된 바와 같이, 상기 베이스(2)의 저부에는 스토퍼(8)가 장착되며, 상기 스토퍼(8)는 다수 개의 구멍을 가져 상기 구멍들을 통해 상기 다수 개의 접속핀(6)을 외부로 안내하며, 상기 다수 개의 접속핀(6)이 상기 베이스(2)로부터 이탈되지 않도록 상기 다수 개의 접속핀(6)을 상기 베이스(2)측에 고정시키는 역할을 한다.
전술한 바와 같이 구성된 종래 기술에 따른 번인 테스트용 검사소켓의 작동을 도 1과 도 2를 참조하여 설명한다.
먼저 번인보드 상에 서브보드를 매개로 하여 검사소켓(1)을 장착한 상태에서, 반도체 소자(미도시)를 상기 검사소켓(1)의 어댑터(4) 상에 장착시키기 위해 커버(5)를 누르면 상기 베이스(2)의 양측 래치어세이(10)의 래치(10a)가 후방으로 회전되면서 개방되고 상기 반도체 소자는 상기 어댑터(4) 상에 장착된다. 이때, 상기 커버(5)의 가압작용에 의해 슬라이더(3)가 하강되고 상기 슬라이더(3)의 구멍들 내의 각 확장돌기(3a)가 접속핀(6)의 두 리드(6a)를 좌우로 확장시킨다.
이어서 상기 커버(5)에 대한 가압상태를 해제하면 상기 커버(5)와 상기 슬라이더(3)는 각각 커버 스프링(7)과 슬라이더 스프링(미도시)에 의해 상승하여 원래위치로 복귀되고 상기 래치어세이(10)의 래치(10a)는 상기 반도체 소자를 상기 어댑터(4)에 잠근다. 또한 상기 각 접속핀(6)의 두 리드(6a)는 상기 어댑터(4) 상에 장착되어 있는 반도체 소자의 접속단자, 예컨대 솔더볼을 그립(grip)함으로써, 검사소켓(1)에 대한 반도체 소자의 장착준비가 완료되어 번인 테스트를 할 수 있게 된다.
그러나, 종래 기술에 따른 번인 테스트용 검사소켓은 반도체 소자(미도시)를 상기 검사소켓(1)의 어댑터(4) 상에 장착시키기 위해 커버 스프링(7)의 탄성력과 슬라이더 스프링(미도시)의 탄성력의 합력 보다 큰 힘을 커버(5)에 직접적으로 가해야 하는 불편이 수반되었다. 이러한 검사소켓(1)의 커버(5)에 가해지는 과도한 힘은 반도체 소자의 장착작업을 어렵게 하고 검사 능률을 떨어뜨리며, 고객의 주요 불만사항이 되고 있다.
이에, 본 발명은 전술한 바와 같은 문제점들을 해소하기 위해 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 비교적 큰 힘을 들이지 않고 반도체 소자를 검사소켓의 어댑터 상에 용이하게 장착할 수 있는 가압 레버유닛을 갖는 반도체 소자 검사소켓을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 전술한 바와 같은 기능을 완벽히 수행하고 구조적인 측면에서 콤팩트하며, 취급이 용이하고 베이스와 슬라이더에 각각 대응되게 설치 또는 조립하기 편리한 가압 레버유닛을 갖는 반도체 소자 검사소켓을 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 장기간 동안 사용하더라도 부품들이 파손되거나 이탈되는 현상이 발생하지 않는 가압 레버유닛을 갖는 반도체 소자 검사소켓을 제공하는 것이다.
전술한 목적을 달성하기 위해, 본 발명은 상측부와 하측부가 각각 개방되고 상부 양측에 각각 래치를 포함하는 래치어세이가 장착되는 베이스;
복수의 슬라이더 스프링을 사이에 두고 상기 베이스의 상부에 장착되고 다수 개의 접속핀을 위한 구멍들이 형성되며, 상기 각 구멍의 내벽에 확장돌기가 형성된 슬라이더;
상기 슬라이더 보다 위에 장착되고 반도체 소자를 수용하는 어댑터;
복수의 커버 스프링을 사이에 두고 상기 베이스의 상부 둘레에 장착되고 양측에 각각 상기 래치어세이의 각 래치의 잠금상태를 해제시키는 래치해제부재를 갖는 커버;
상기 베이스의 저부에 장착되고 상기 다수 개의 접속핀을 위한 구멍들이 형성되며, 상기 베이스와 상기 슬라이더의 구멍들을 통해 끼워지는 상기 다수 개의 접속핀을 상기 베이스에 고정시키는 스토퍼; 및
상기 베이스의 양측에 각각 그룹별로 상호 크로스되는 형태로 배치되는 두 개의 레버를 포함하고 상기 각 레버의 하단부가 상기 베이스에 회전 가능하게 장착되며, 외부에서 상기 커버를 통해 입력되는 외력을 증대시켜 상기 슬라이더에 전달하는 가압 레버유닛;을 포함하는 반도체 소자 검사소켓을 제공한다.
또한, 본 발명은 위의 본 발명의 일실시예에 대하여 다음의 구체적인 실시예들을 더 제공한다.
본 발명의 일실시예에 따르면, 상기 각 레버는 선단부에 상부로 경사지게 제공되는 경사부와 하단부에 제공되는 피벗 지지부를 포함하고, 상기 각 피벗 지지부는 상기 베이스에 고정되는 피벗핀에 회전 가능하게 연결된 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일실시예에 따르면, 상기 가압 레버유닛은 상기 레버의 하단부의 일부분과 마주하고 상기 슬라이더의 양측에 각각 부분적으로 인서트 몰딩되거나 상기 슬라이더의 양측을 관통하는 형태로 끼워져 고정되는 강성재질의 슬라이더 샤프트와, 상기 슬라이더 샤프트가 상기 베이스에 대해 일정범위 내에서 상하이동 가능하도록 상기 베이스의 양측에 각각 형성되는 슬롯을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일실시예에 따르면, 상기 슬라이더 샤프트와 마주하는 상기 각 레버의 일부분에는 오목부가 형성된 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일실시예에 따르면, 상기 반도체 소자 검사소켓은 상기 슬라이더로부터 상기 슬라이더 샤프트의 이탈을 방지하는 샤프트 고정유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일실시예에 따르면, 상기 샤프트 고정유닛은 상기 슬라이더 샤프트의 적어도 한 개소에 제공되는 고정핀 홈과, 상기 슬라이더에 형성되고 상기 슬라이더 샤프트의 고정핀 홈과 대응되는 결합공과, 상기 슬라이더 샤프트의 고정핀 홈과 상기 슬라이더의 결합공에 공통적으로 끼워지는 샤프트 고정핀으로 구성된 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일실시예에 따르면, 상기 샤프트 고정유닛은 상기 슬라이더 샤프트의 두 개소에 각각 제공되는 고정핀 홈과, 상기 슬라이더에 형성되고 상기 슬라이더 샤프트의 각 고정핀 홈과 대응되는 결합공과, 상기 슬라이더 샤프트의 고정핀 홈과 상기 슬라이더의 결합공에 공통적으로 끼워지는 샤프트 고정핀으로 구성된 것을 특징으로 한다.
본 발명은 종래에 비해 베이스의 양측에 각각 가압 레버유닛을 더 구비하여, 비교적 큰 힘을 들이지 않고 반도체 소자를 검사소켓의 어댑터 상에 용이하게 장착할 수 있게 한다.
또한 본 발명의 가압 레버유닛은 양측에 각각 그룹별로 상호 크로스되는 형태의 두 개의 레버를 포함하는 형태로 제공되어, 구조적인 측면에서 콤팩트하고 취급이 용이하며, 베이스와 슬라이더에 각각 대응되게 설치 또는 조립하기 편리한 이점이 있다.
또한 본 발명은 가압 레버유닛에 슬라이더 샤프트 구조를 조합시킨 형태로 제공되어, 커버를 통해 상기 가압 레버유닛의 각 그룹별 레버로 입력되는 외력을 슬라이더로 고르게 그리고 안정적으로 전달할 수 있게 한다.
도 1은 종래 기술에 따른 번인 테스트용 검사소켓을 보여주는 개략 사시도.
도 2(a)는 검사소켓의 커버에 외력이 가해지지 않은 상태를 보여주는 개략 단면도.
도 2(b)는 검사소켓의 커버에 외력이 가해져 상기 커버에 의해 슬라이더가 수직 하강된 상태를 보여주는 개략 단면도.
도 3은 본 발명에 따른 가압 레버유닛을 갖는 반도체 소자 검사소켓을 보여주는 개략 분해 사시도.
도 4는 본 발명에 따른 가압 레버유닛을 갖는 반도체 소자 검사소켓의 개략 사시도.
도 5는 본 발명에 따른 반도체 소자 검사소켓에 적용되는 가압 레버유닛의 개략 사시도.
도 6은 본 발명에 따른 반도체 소자 검사소켓에 장착된 가압 레버유닛의 결합관계를 보여주는 개략 단면도.
도 7은 본 발명에 따른 반도체 소자 검사소켓에 적용되는 샤프트 고정유닛을 보여주는 개략 사시도.
도 8은 본 발명에 따른 반도체 소자 검사소켓에 적용되는 샤프트 고정유닛의 개략 횡단면도.
이하, 본 발명에 따른 가압 레버유닛을 갖는 반도체 소자 검사소켓의 실시예를 도 3 내지 도 8을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
본 발명에 따른 반도체 소자 검사소켓(20)은 도 3과 도 4에 도시된 바와 같이, 베이스(2), 슬라이더(3), 어댑터(4), 커버(5), 스토퍼(8) 및 가압 레버유닛(21)을 포함한다.
여기서, 상기 베이스(2)는 상측부와 하측부가 각각 개방되고 상부 양측에 각각 래치(10a)를 포함하는 래치어세이(10)가 장착된다. 상기 슬라이더(3)는 복수의 슬라이더 스프링(11)을 사이에 두고 상기 베이스(2)의 상부에 장착되고 다수 개의 접속핀(6)을 위한 구멍들이 형성된다. 또한 상기 슬라이더(3)는 상기 각 구멍의 내벽에 접속핀(6)의 두 리드(6a)를 중앙을 중심으로 좌우로 확장시키기 위한 확장돌기(3a)가 형성되어 있다. 상기 어댑터(4)는 상기 슬라이더(3) 보다 위에 장착되고 반도체 소자(미도시)를 수용한다.
상기 커버(5)는 복수의 커버 스프링(7)을 사이에 두고 상기 베이스(2)의 상부 둘레에 장착되고 양측에 각각 상기 래치어세이(10)의 각 래치(10a)의 잠금상태를 해제시키는 래치해제부재(5a)를 갖는다.
상기 스토퍼(8)는 상기 베이스(2)의 저부에 장착되고 상기 다수 개의 접속핀(6)을 위한 구멍들이 형성되며, 상기 베이스(2)와 상기 슬라이더(3)의 구멍들을 통해 끼워지는 상기 다수 개의 접속핀(6)을 상기 베이스(2)에 고정시키는 역할을 한다.
상기 가압 레버유닛(21)은 상기 베이스(2)의 양측에 각각 그룹별로 상호 크로스되는 형태로 배치되는 두 개의 레버(22)를 포함하고 상기 각 레버(22)의 하단부가 상기 베이스(2)에 회전 가능하게 장착된다. 또한 상기 가압 레버유닛(21)은 반도체 소자(미도시)를 상기 어댑터(4)에 장착할 때 외부에서 상기 커버(5)로 입력되는 외력을 증대시켜 상기 슬라이더(3)에 전달하는 역할을 한다.
전술한 바와 같이 본 발명에 따른 반도체 소자 검사소켓(20)은 종래에 비해 위와 같은 구성의 가압 레버유닛(21)을 더 구비하여 비교적 큰 힘을 들이지 않고 반도체 소자(미도시)를 검사소켓(20)의 어댑터(4) 상에 용이하게 장착할 수 있게 한다. 또한 본 발명에 따른 반도체 소자 검사소켓(20)은 위와 같은 구조의 가압 레버유닛(21)을 포함하여 구조적인 측면에서 콤팩트하고 취급이 용이하며, 상기 베이스(2)와 상기 슬라이더(3)에 각각 대응되게 설치 또는 조립하기 편리한 이점이 있다.
또한, 본 발명에 따른 가압 레버유닛을 갖는 반도체 소자 검사소켓은 전술한 바와 같은 기본구성에 다음의 구체적인 실시예들로 더 한정되는 형태로 이루어질 수 있다.
일실시예로, 도 5와 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 각 레버(22)는 선단부에 상부로 경사지게 제공되는 경사부(22a)와 하단부에 제공되는 피벗 지지부(22b)를 포함하고, 상기 각 피벗 지지부(22b)는 상기 베이스(2)에 고정되는 피벗핀(23)에 회전 가능하게 연결되는 구조로 이루어질 수 있다. 상기 레버(22)의 경사부 구조는 상기 경사부(22a)로부터 상기 피벗 지지부(22b)로 외력의 전달을 용이하게 하고 상기 가압 레버유닛(21)의 콤팩트한 구성을 가능하게 한다.
일실시예로, 도 4 내지 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 가압 레버유닛(21)은 상기 레버(22)의 하단부의 일부분과 마주하고 상기 슬라이더(3)의 양측에 각각 부분적으로 인서트 몰딩되거나 상기 슬라이더(3)의 양측을 관통하는 형태로 끼워져 고정되는 강성재질의 슬라이더 샤프트(24)와, 상기 슬라이더 샤프트(24)가 상기 베이스(2)에 대해 일정범위 내에서 상하이동 가능하도록 상기 베이스(2)의 양측에 각각 형성되는 슬롯(2a)을 더 포함하는 형태로 제공될 수 있다. 상기 슬라이더 샤프트(24)는 반도체 소자 검사소켓(20)의 유효 수명을 보장할 수 있는 것이면 금속재질 외에도 강화 플라스틱으로 이루어지는 것도 가능하다. 상기 가압 레버유닛(21)의 슬라이더 샤프트 구조는 상기 커버(5)를 통해 상기 가압 레버유닛(21)의 각 그룹별 레버(22)로 입력되는 외력을 상기 슬라이더(3)로 고르게 그리고 안정적으로 전달하는 역할을 한다.
일실시예로, 도 5와 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 슬라이더 샤프트(24)와 마주하는 상기 각 레버(22)의 일부분에는 오목부(22c)가 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 오목부(22c)는 상기 레버(22)로부터 전달되는 외력이 상기 슬라이더 샤프트(24)에 잘 전달될 수 있는 것이면 반원형, 또는 반타원형 등 어떤 형태로 이루어져도 무방하다.
일실시예로, 도 7과 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 반도체 소자 검사소켓(20)은 상기 슬라이더(3)로부터 상기 슬라이더 샤프트(24)의 이탈을 방지하는 샤프트 고정유닛(25)을 더 포함하는 형태로 제공될 수 있다. 상기 샤프트 고정유닛(25)은 장기간 동안 상기 반도체 소자 검사소켓(20)을 반복적으로 사용하더라도 상기 슬라이더 샤프트(24)가 상기 슬라이더(3)로부터 이탈하는 것을 구조적으로 미연에 방지할 수 있게 하는 이점이 있다.
일실시예로, 도 7과 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 샤프트 고정유닛(25)은 상기 슬라이더 샤프트(24)의 적어도 한 개소에 제공되는 고정핀 홈(25a)과, 상기 슬라이더(3)에 형성되고 상기 슬라이더 샤프트(24)의 고정핀 홈(25a)과 대응되는 결합공(25b)과, 상기 슬라이더 샤프트(24)의 고정핀 홈(25a)과 상기 슬라이더(3)의 결합공(25b)에 공통적으로 끼워지는 샤프트 고정핀(25c)으로 구성될 수 있다. 상기 슬라이더 샤프트(24)의 고정핀 홈(25a)은 상기 슬라이더 샤프트(24)의 외주상의 일부분 또는 외주상의 전체 둘레를 따라 형성될 수 있다.
다른 실시예로, 도 7과 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 샤프트 고정유닛(25)은 상기 슬라이더 샤프트(24)의 두 개소에 각각 제공되는 고정핀 홈(25a)과, 상기 슬라이더(3)에 형성되고 상기 슬라이더 샤프트(24)의 각 고정핀 홈(25a)과 대응되는 결합공(25b)과, 상기 슬라이더 샤프트(24)의 고정핀 홈(25a)과 상기 슬라이더(3)의 결합공(25b)에 공통적으로 끼워지는 샤프트 고정핀(25c)으로 구성될 수 있다. 상기 슬라이더 샤프트(24)의 고정핀 홈(25a)은 상기 슬라이더 샤프트(24)의 외주상의 일부분 또는 외주상의 전체 둘레를 따라 형성될 수 있다.
전술한 바와 같이 구성된 본 발명에 따른 가압 레버유닛을 갖는 반도체 소자 검사소켓의 작동을 도 2 내지 도 6을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
상기 반도체 소자(미도시)를 검사소켓(20)의 어댑터(4) 상에 장착시키기 위해 커버(5)를 누르면, 베이스(2)의 양측 래치어세이(10)의 래치(10a)가 후방으로 회전되면서 개방되고 상기 반도체 소자는 상기 어댑터(4) 상에 장착된다. 이때, 외부에서 상기 커버(5)를 통해 가해지는 외력은 가압 레버유닛(21)의 각 그룹별 레버(22)의 지렛대 작용에 의해 증대되어 슬라이더(3)에 전달된다(도 3 내지 도 6 참조).
따라서, 상기 슬라이더(3)와 상기 베이스(2) 사이에 위치한 복수의 슬라이더 스프링(미도시)이 종래의 경우 보다 용이하게 상기 슬라이더(3)의 하방으로 눌리게 된다. 또한 그와 동시에 상기 커버(5)의 가압작용에 의해 상기 슬라이더(3)의 하강으로 상기 슬라이더(3)의 구멍들 내의 각 확장돌기(3a)가 접속핀(6)의 두 리드(6a)를 중앙을 중심으로 좌우로 확장시킨다(도 2 참조).
이후, 도 3, 도 4 및 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 커버(5)에 대한 가압상태를 해제하면 상기 커버(5)와 상기 슬라이더(3)는 각각 커버 스프링(7), 슬라이더 스프링(11) 및 가압 레버유닛(21)에 의해 상승하여 원래위치로 복귀되고 상기 래치어세이(10)의 래치(10a)는 상기 반도체 소자(미도시)를 상기 어댑터(4)에 잠그며, 이어서 상기 각 접속핀(6)의 두 리드(6a)는 상기 어댑터(4) 상에 장착되어 있는 반도체 소자의 접속단자를 그립하여 번인 테스트의 실시를 가능하게 한다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상 내에서의 단순 치환, 변형 및 변경은 당 분야에서의 통상의 지식을 가진 자에게 명백한 것이다.
2: 베이스 2a: 슬롯
3: 슬라이더 3a: 확장돌기
4: 어댑터 5: 커버
5a: 래치해제부재 6: 접속핀
6a: 리드 6b: 스템단자
7: 커버 스프링 8: 스토퍼
10: 래치 어세이 10a: 래치
11: 슬라이더 스프링 20: 검사소켓
21: 가압 레버유닛 22: 레버
22a: 경사부 22b: 피벗 지지부
22c: 오목부 23: 피벗핀
24: 슬라이더 샤프트 25: 샤프트 고정유닛
25a: 고정핀 홈 25b: 결합공
25c: 샤프트 고정핀

Claims (7)

  1. 상측부와 하측부가 각각 개방되고 상부 양측에 각각 래치를 포함하는 래치어세이가 장착되는 베이스;
    복수의 슬라이더 스프링을 사이에 두고 상기 베이스의 상부에 장착되고 다수 개의 접속핀을 위한 구멍들이 형성되며, 상기 각 구멍의 내벽에 확장돌기가 형성된 슬라이더;
    상기 슬라이더 보다 위에 장착되고 반도체 소자를 수용하는 어댑터;
    복수의 커버 스프링을 사이에 두고 상기 베이스의 상부 둘레에 장착되고 양측에 각각 상기 래치어세이의 각 래치의 잠금상태를 해제시키는 래치해제부재를 갖는 커버;
    상기 베이스의 저부에 장착되고 상기 다수 개의 접속핀을 위한 구멍들이 형성되며, 상기 베이스와 상기 슬라이더의 구멍들을 통해 끼워지는 상기 다수 개의 접속핀을 상기 베이스에 고정시키는 스토퍼; 및
    상기 베이스의 양측에 각각 그룹별로 상호 크로스되는 형태로 배치되는 두 개의 레버를 포함하고 상기 각 레버의 하단부가 상기 베이스에 회전 가능하게 장착되며, 외부에서 상기 커버를 통해 입력되는 외력을 증대시켜 상기 슬라이더에 전달하는 가압 레버유닛;
    을 포함하는 반도체 소자 검사소켓.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 각 레버는 선단부에 상부로 경사지게 제공되는 경사부와 하단부에 제공되는 피벗 지지부를 포함하고, 상기 각 피벗 지지부는 상기 베이스에 고정되는 피벗핀에 회전 가능하게 연결된 것인 반도체 소자 검사소켓.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 가압 레버유닛은 상기 레버의 하단부의 일부분과 마주하고 상기 슬라이더의 양측에 각각 부분적으로 인서트 몰딩되거나 상기 슬라이더의 양측을 관통하는 형태로 끼워져 고정되는 강성재질의 슬라이더 샤프트와, 상기 슬라이더 샤프트가 상기 베이스에 대해 일정범위 내에서 상하이동 가능하도록 상기 베이스의 양측에 각각 형성되는 슬롯을 더 포함하는 것인 반도체 소자 검사소켓.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 슬라이더 샤프트와 마주하는 상기 각 레버의 일부분에는 오목부가 형성된 것인 반도체 소자 검사소켓.
  5. 제 3 항에 있어서,
    상기 슬라이더로부터 상기 슬라이더 샤프트의 이탈을 방지하는 샤프트 고정유닛을 더 포함하는 것인 반도체 소자 검사소켓.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 샤프트 고정유닛은 상기 슬라이더 샤프트의 적어도 한 개소에 제공되는 고정핀 홈과, 상기 슬라이더에 형성되고 상기 슬라이더 샤프트의 고정핀 홈과 대응되는 결합공과, 상기 슬라이더 샤프트의 고정핀 홈과 상기 슬라이더의 결합공에 공통적으로 끼워지는 샤프트 고정핀으로 구성된 것인 반도체 소자 검사소켓.
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 샤프트 고정유닛은 상기 슬라이더 샤프트의 두 개소에 각각 제공되는 고정핀 홈과, 상기 슬라이더에 형성되고 상기 슬라이더 샤프트의 각 고정핀 홈과 대응되는 결합공과, 상기 슬라이더 샤프트의 고정핀 홈과 상기 슬라이더의 결합공에 공통적으로 끼워지는 샤프트 고정핀으로 구성된 것인 반도체 소자 검사소켓.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101593634B1 (ko) * 2014-12-31 2016-02-18 주식회사 아이에스시 전기적 검사소켓
KR20230174707A (ko) 2022-06-20 2023-12-28 이영이 자수정에 온열파동과 it를 접목하여 뜸과 마사지 기능을 갖는 셀프케어 및 마사지기기
KR102641973B1 (ko) 2023-03-31 2024-02-29 보이드코리아유한회사 컨텍트핀안전정렬삽입부가 적용된 반도체 패키지 검사용 소켓 장치
KR20240132908A (ko) 2023-02-27 2024-09-04 보이드코리아유한회사 패키지 스크래치 방지용 미끄럼 래치

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101432449B1 (ko) * 2013-08-30 2014-09-29 아주야마이찌전기공업(주) 반도체 장치 검사용 소켓 장치
KR101940677B1 (ko) * 2017-05-26 2019-01-21 주식회사 마이크로컨텍솔루션 반도체 칩 테스트 소켓
KR102012439B1 (ko) * 2018-05-28 2019-08-20 주식회사 마이크로컨텍솔루션 반도체 칩 테스트 소켓
KR102059094B1 (ko) * 2018-08-02 2019-12-24 주식회사 마이크로컨텍솔루션 반도체 칩 테스트 소켓
KR102122975B1 (ko) * 2019-08-08 2020-06-16 주식회사 마이크로컨텍솔루션 반도체 칩 테스트 소켓
KR102172376B1 (ko) * 2019-08-23 2020-10-30 (주)마이크로컨텍솔루션 반도체 칩 테스트 소켓
KR102144806B1 (ko) * 2020-04-24 2020-08-14 티씨에스 주식회사 전자부품 검사장치용 소켓
KR102435505B1 (ko) * 2020-09-29 2022-08-24 (주)마이크로컨텍솔루션 반도체 칩 테스트 소켓

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100910889B1 (ko) * 2007-07-12 2009-08-05 센싸타테크놀러지스코리아 주식회사 전자부품용 소켓

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100910889B1 (ko) * 2007-07-12 2009-08-05 센싸타테크놀러지스코리아 주식회사 전자부품용 소켓

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101593634B1 (ko) * 2014-12-31 2016-02-18 주식회사 아이에스시 전기적 검사소켓
KR20230174707A (ko) 2022-06-20 2023-12-28 이영이 자수정에 온열파동과 it를 접목하여 뜸과 마사지 기능을 갖는 셀프케어 및 마사지기기
KR20240132908A (ko) 2023-02-27 2024-09-04 보이드코리아유한회사 패키지 스크래치 방지용 미끄럼 래치
KR102641973B1 (ko) 2023-03-31 2024-02-29 보이드코리아유한회사 컨텍트핀안전정렬삽입부가 적용된 반도체 패키지 검사용 소켓 장치

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