KR101457962B1 - 반도체소자 검사용 인서트 소켓 - Google Patents

반도체소자 검사용 인서트 소켓 Download PDF

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KR101457962B1
KR101457962B1 KR1020130132410A KR20130132410A KR101457962B1 KR 101457962 B1 KR101457962 B1 KR 101457962B1 KR 1020130132410 A KR1020130132410 A KR 1020130132410A KR 20130132410 A KR20130132410 A KR 20130132410A KR 101457962 B1 KR101457962 B1 KR 101457962B1
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Abstract

본 발명은 반도체칩 검사용 인서트 소켓에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 제1레치와 제2레치로 구성되어 절첩되는 레치부재 이용하여 유니케리어에 안착되는 반도체소자를 견고하게 압착함과 아울러 유니케리어의 충격을 흡수하는 충격흡수부재를 부가하여 반도체 소자의 정상적인 테스트가 이루어지도록 하는 동시에 검사 시나 이동시에 이탈되지 않도록 하여 정확한 검사를 행할 수 있는 반도체소자 검사용 인서트 소켓에 관한 것이다.
본 발명은 전체적인 구성은 중앙에 유니케리어를 삽입하기 위한 수용부가 형성되고, 이 수용부의 양측에 부설된 레버장착부와, 상기 레버장착부의 저면에 로킹부재를 고정하는 설치홈과, 일측에 유니케리어를 고정하는 래치부재를 부설하기위한 장착홈이 형성되어 있는 본체와; 상기 레버장착부에 일체로 결합되는 레버부재와; 이 레버부재의 하부에 장착되어 이의 작동을 제어하는 로킹부재와; 상기 수용부에 안착되는 유니케리어를 고정 및 해제하는 래치부재와; 전측장착홈과 후측장착홈이 형성된 링크와, 상기 전측장착홈의 내측에 핀에 의해 결합되어 유니케리어의 저면을 지지하는 유니케리어지지편과, 상기 후측장착홈의 내측에 핀에 의해 결합되어 상부에 부가되는 코일스프링의 탄성을 부여하는 버든으로 구성되어 고정핀에 의해 본체에 구비된 장착홈에 일체로 결합되어 상기 유니케리어에 가해지는 충격을 흡수하는 충격흡수부재와; 본체에 형성된 수용부에 안착되는 유니케리어로 구성된 것이다.

Description

반도체소자 검사용 인서트 소켓 {Insert socket for semiconductor component inspection}
본 발명은 반도체소자 검사용 인서트 소켓에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 제1레버와 제2레버로 구성되어 절첩되는 레버부재를 이용하여 유니케리어에 안착되는 반도체소자를 견고하게 압착함과 아울러 유니케리어의 충격과 진동을 흡수하는 충격흡수부재를 부가하여 반도체소자의 정상적인 테스트가 이루어지도록 하는 동시에 검사나 반송시에 이탈되지 않도록하여 정확한 검사를 행할 수 있는 반도체소자 검사용 인서트 소켓에 관한 것이다.
인서트 소켓은 반도체소자를 검사하는데 트레이에 안착되어 반도체소자를 안착시키는 용도로 사용되는 것으로, 이는 인서트소켓은 내측에 반도체소자를 안정적으로 안착시켜 핸들러에 의해서 정상적인 테스트를 행하기 위하여 사용되는 것이다.
이러한 기능을 갖는 종래 인서트 소켓(200)의 개략적인 구성은 도 11 및 도12에 도시한 바와 같은 구조로 이루어진 것이다.
즉 본체(210)의 중앙에 반도체소자(230)를 적재하기 위하여 마련된 수용부(212)의 양측에 힌지핀(213)에 의해 레버(215)가 장착된다.
또한 상기 레버(215)의 상면에는 충격이나 진동으로부터 레버(215)가 오픈되는 것을 방지하기 위하여 상부에 마련된 돌기(216)에 코일스프링(218)이 결합된 버든(219)이 안치된 것으로, 상기 레버(215)는 버든(222)의 상면에 부설되어있는 코일스프링(218)의 탄성에 의해 작동되면서 반도체소자(230)를 압압하므로서 핸들러에 의해서 안정적인 검사가 진행되는 것이다.
상기의 구조를 갖는 종래의 인서트소켓(200)은 반도체소자(230)를 압압하는 레버(215)의 길이가 짧고, 이 레버(215)에 가해지는 탄성이 약하여 반도체소자(230)가 요동 없이 견고하게 고정되지 않아 정확한 검사가 행해지지 않을 뿐만이 아니라 반도체소자와 인서트소켓이 파손되는 문제가 발생되고 있는 것이다.
.특허등록 제0702587호
본 발명은 상기와 같은 제반의 문제점을 감안해서 제안된 것으로서, 본 발명은 레버를 절첩식으로 하여 반도체소자를 압착하는 면을 넓게 확보하여 반도체소자의 견고한 고정을 도모하여 신속하고 정확한 검사를 행할 수 있는 반도체소자 검사용 인서트 소켓을 제공하는데 주목적이 있는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 레버부재를 제어하기 위한 로킹부재를 더 부가하여 레버의 안정적인 작동을 도모할 수 있는 반도체소자 검사용 인서트 소켓을 제공하는데 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 충격흡수부재를 더 부가하여 운반도중에 유니케리어에 가해지는 외부 충격에 의한 반도체소자의 외부이탈을 방지할 수 있는 반도체 소자 검사용 인서트 소켓을 제공하는데 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 반도체소자의 크기에 따라 별도로 제작된 유니케리어를 범용으로 적용이 가능토록 한 반도체소자 검사용 인서트 소켓을 제공하는데 있다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 전체적인 구성은 중앙에 유니케리어를 삽입하기 위한 수용부가 형성되고, 이 수용부의 양측에 부설된 레버장착부와, 상기 레버장착부의 저면에 로킹부재를 고정하는 설치홈과, 일측에 유니케리어를 고정하는 래치부재를 부설하기위한 장착홈이 형성되어 있는 본체와; 상기 레버장착부에 일체로 결합되는 레버부재와; 이 레버부재의 하부에 장착되어 이의 작동을 제어하는 로킹부재와; 상기 수용부에 안착되는 유니케리어를 고정 및 해제하는 래치부재와; 전측장착홈과 후측장착홈이 형성된 링크와, 상기 전측장착홈의 내측에 핀에 의해 결합되어 유니케리어의 저면을 지지하는 유니케리어지지편과, 상기 후측장착홈의 내측에 핀에 의해 결합되어 상부에 부가되는 코일스프링의 탄성을 부여하는 버든으로 구성되어 고정핀에 의해 본체에 구비된 장착홈에 일체로 결합되어 상기 유니케리어에 가해지는 충격을 흡수하는 충격흡수부재와; 본체에 형성된 수용부에 안착되는 유니케리어 구조로 이루어진 것이다.
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그리고 상기 유니케리어는 반도체소자의 크기에 맞춰 각기 다른 크기의 적재부를 갖도록 별도 제작하여 범용할 수 있는 구조로 이루어진 것이다.
상술한 바와 같이 본 발명에 의하면 절첩되는 레버부재는 로킹부재에 의해 작동이 제어되면서 반도체소자의 상면을 견고하게 고정시킬 수 있어 외부충격이나 진동에 의해 가해지는 충격을 흡수할 수 있고, 더욱이 후크부재에 의해 반도체소자가 안착된 유니케리어를 안정적으로 지지하게 되어 반도체소자의 검사시에 반도체소자가 이탈되거나 에러의 발생되는 것을 미연에 방지할 수 있는 유용한 발명인 것이다.
도 1은 본 발명의 전체적인 구성을 예시한 분해사시도
도 2는 본 발명을 결합한 상태의 사시도
도 3은 본 발명의 저면사시도
도 4는 본 발명의 구성상태를 예시한 종단면도
도 5는 본 발명을 구성하는 래치부재의 구성상태를 예시한 단면도
도 6은 본 발명을 구성하는 로킹부재의 구성상태를 예시한 단면도
도 7 내지 도 12는 본 발명의 작동상태를 예시한 도면으로,
도 7(a)(b) 및 도 8은 자동전의 상태를 예시한 단면도
도 8(a)(b)은 레버부재가 절첩된 상태를 예시한 상태의 단면도
도 9(a)(b) 및 도 10은 레버부재와 래치부재가 확개된 상태를 예시한 단면도
도 11(a)(b) 및 도12는 레버부재와 래치부재가 하강한 상태를 예시한 단면도
도 13은 종래의 인서트소켓의 구성상태를 예시한 사시도
도 14는 종래 인서트소켓의 종단면도
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명의 전체적인 구성을 예시한 분해사시도이고, 도 2는 본 발명을 결합한 상태의 사시도, 도 3은 본 발명의 저면사시도, 도 4는 본 발명의 구성상태를 예시한 종단면도, 도 5는 본 발명을 구성하는 래치부재의 구성상태를 예시한 단면도, 도 6은 본 발명을 구성하는 로킹부재의 구성상태를 예시한 단면도이다.
본 발명에서 제안하는 인서트 소켓(100)은 도 1 및 도2에 도시한 바와 같이, 본체(10)와, 상기 본체(10)에 일체로 결합되어 반도체소자(70)를 압착하는 레버부재(20)와, 이 레버부재(20)의 작동을 제어하는 로킹부재(30)와, 상기 본체(10)의 중앙에 형성된 수용부(2)에 안착되는 유니케리어(60)의 상면을 압착하여 고정시키는 래치부재(40)와, 상기 유니케리어(60)의 요동을 흡수하는 충격흡수부재(50) 및 본체(10)에 형성된 수용부(2)에 안착되는 유니케리어(6)로 구성된 것이다.
상기 본체(10)의 구성은 중앙에 유니케리어(60)를 삽입하기 위한 수용부(2)가 형성되고, 이 수용부(2)의 양측에는 후술하는 레버부재(20)를 결합하기 위한 레버장착부(4)가 배설된 것이다.
또한 상기 레버장착부(4)의 저면에는 로킹부재(30)를 결합하는 설치홈(8)이 형성된다.
그리고 상기 레버장착부(4)의 일측에는 래치부재(40)와 충격흡수부재(50)가 조립되는 장착홈(6)이 형성되어 있다.
한편, 본체(10)를 구성하는 레버장착부(4)에 결합되는 레버부재(20)는 제1레버(12)와, 제2레버(14) 및 상기 제1레버(12)와 제2레버(14)에 탄성을 부여하는 제1토션스프링(15)과 제2토션스프링(16)으로 이루어진 것이다.
이를 좀 더 세부적으로 살펴보면, 상기 제1레버(12)는 핀(11)을 이용하는 제2레버(14)를 결합하기 위한 체결편(12a)과, 일측면에 제1레버(12)에 탄성을 부여하는 제1토션스프링(15)을 고정하는 체결돌기(12b) 및 횡방향으로 로커(23)를 결합 및 분리하는 체결홈(12c)이 형성된 것이다.
또 상기 제1레버(12)를 구성하는 체결편(12a)에 일체로 결합되어지는 제2레버(14)는 전측에는 반도체소자(70)의 상면을 압압하는 압착부(14a)와, 후측에는 제2토션스프링(16)을 결합하기 위한 안착홈(14b)이 형성된 구조이다.
또한 상기 제1레버(12)에 텐션을 부여하는 제1토션스프링(15)의 내측단부는 제1레버(12)의 상면에 지지되고, 타측단부는 레버장착부(4)의 외측면에 지지된다.
그리고 제2레버(14)에 탄성을 부여하는 제2토션스프링(16)은 전측은 제1레버(12)에 지지되고, 타측은 제2레버(14)에 각각 지지된 것이다.
상기한 레버부재(20)의 작동을 제어하는 로킹부재(30)는 로커(23)와 코일스프링(26)으로 이루어져 본체(10)의 저면에 마련되어 있는 설치홈(8)에 횡방향으로 고정된 것이다.
이러한 로킹부재(30)를 구성하는 로커(23)는 코일스프링(26)을 삽입하기 위한 삽입홈(21a)과 외측면에 테이퍼부(21b)가 형성된 두부(21)와, 이 두부(21)에서외부로 길게 연장되는 지지편(22)이 일체로 성형된 것이다.
상기 지지편(22)은 상술한 제1레버(12)에 횡방향으로 마련된 체결홈(12c)에 결합 및 분리되면서 레버부재(20)의 작동을 제어하게 되는 것이다.
한편, 본체(10)의 중앙에 형성된 수용부(2)에 안착되는 유니케리어(60)의 이탈을 방지하기 위하여 상부에서 압착하는 래치부재(40)의 구성은 링크래치(33)와, 토션스프링(36)으로 구성된다.
상기 래치(33)는 외측단부는 유니케리어(60)의 상면을 지지하는 압착편(33a)이 형성되고, 내측의 일측면을 절취하여 이에 마련된 돌기(33b)에 토션스프링(36)을 결합하여 이를 힌지핀(37)을 이용하여 본체(10)에 마련된 장착홈(6)에 결합되어지는 것으로서, 상기 토션스프링(36)의 일측단부는 후크(33)의 외측면에 타측은 장착홈(6)의 외벽에 지지되는 것이다.
또 상기 유니케리어(60)의 상,하요동을 흡수하는 기능을 갖는 충격흡수부재(50)는 링크(42)와, 이 링크(42)의 전측에 결합되는 유니케리어지지편(44) 및 상기 링크(42)의 후측에 결합되는 버든(46)으로 구성된다.
상기 링크(42)는 전측장착홈(41a)과 후측장착홈(41b)이 형성되어 전측장착홈(41a)의 내측에 핀(42a)에 의해 결합되어 유니케리어(60)의 저면을 지지하는 유니케리어지지편(44)이 결합된다.
또한 상기 후측장착홈(41b)의 내측에 핀(42b)에 의해 결합되며, 상부에 부가되는 코일스프링(46a)의 탄성을 부여하는 버든(46)이 결합된다.
이러한 충격흡수부재(50)는 고정핀(48)에 의해 본체(10)에 일체로 결합되는 것이다.
또 상기 링크(42)는 이를 구성하는 코일스프링(48)의 탄성에 의해 외부에서 가해지는 충격을 흡수하여 유니케리어(60)가 안정적으로 정위치가 유지되도록 하는 기능을 수행하게 되는 것이다.
한편, 본체(10)를 구성하는 수용부(2)에 안착되어 내부에 반도체소자(70)를 적재하는 유니케리어(60)는 가이드부(52)를 포함하는 적재부(54)와 외측의 대각선방향으로 플렌지부(56)가 일체로 형성된 것이다.
상기 유니케리어(60)를 구성하는 적재부(56)는 본체(10)를 구성하는 수용부(2)에 삽입되고, 외측에 부가되어있는 플렌지부(54)는 본체(10)의 장착홈(6)에 안착되는 것이다.
이러한 유니케리어(60)는 적재부(56)의 크기를 반도체소자(70)의 크기가 동일하게 성형하여 이를 반도체소자(70)의 크기에 맞춰서 선택적으로 사용가능하여 하나의 인서트 소켓에 적재부의 크기가 다른 여러 개의 유니케리어(60)를 범용사용이 가능하게 되는 것이다.
상기와 같이 구성된 본 발명의 작동상태를 도면을 참조하여 살펴보면 하기와 같다.
먼저 인서트 소켓(100)을 구성하는 본체(10)에 마련된 수용부(2)에 유니케리어(60)와 반도체소자(70)의 결합 및 재치상태를 살펴보면 하기와 같다.
먼저 도7 내지 도 10에 도시한 바와 같이, 트레이에 배설되어있는 인서트 소켓(100)의 하부에서 레버오픈판(150)을 상승시키면, 이 레버오픈판(150)의 양측에 배설되어 있는 레버락오픈돌기(130)에 의해서 로킹부재(30)를 구성하며, 제1레버(12)에 형성된 체결홈(12c)에 정합되어있는 로커(23)를 일측으로 이동하여 레버부재(20)을 해제하게 된다.
이 상태에서 레버오픈판(150)이 계속 상승하여 레버오픈돌기(140)가 레버부재(20)를 구성하는 제1레버(12)의 저면을 상부로 밀어주게 되는 것이다.
상기 레버오픈돌기(140)에 의해서 상부로 이동되는 레버부재(20)를 구성하는 제1레버(12)는 유니케리어(60)에 부설되어있는 스토퍼(57)에 의해 차단되어 핀(11)을 중심으로 절곡되면서 도 9(a)(b) 및 도 10과 같이 절첩이 완료됨과 동시에 레치부재(40)도 개방이 완료되는 것이다.
상기 레버부재(20)의 절첩이 완료되면 반도체소자(70)가 인서트 소켓(100)의 상부로 이동하여 유니케리어(60)의 하부로 하강하는데 아무런 간섭을 받지 아니하고 안정적으로 안착되는 것이다.
위와 같이 반도체소자(70)가 유니케리어(60)의 내측에 안착된 상태에서 레버오픈판(150)을 하강시키면, 절첩되어있던 제2레버(14)가 토션스프링(16)의 탄성에 의해서 제1레버(12)와 제2레버(14)가 도 11(a)(b) 및 도 12에 예시한 바와 같이, 평행상태로 복귀하게 된다.
제1레버(12)와 제2레버(14)가 평행상태를 유지한 상태에서 레버오픈판(150)이 계속하강하면 도 10과 같이 레버부재(20)가 하부로 이동되어 제1레버(12)가 반도체칩(70)의 상면을 압착하는 상태를 유지하게 되는 것이다.
상기 레버부재(20)를 구성하는 제1레버(12)가 유니케리어(60)에 수용되어 있는 반도체소자(70)는 제1토션스프링(15)의 복원력에 의해 계속해서 압착한 상태를 유지하게 되는 것이다.
이때 유니케리어(60)를 지지하는 텐션핀(44)에 결합되어 있는 코일스프링(48)이 원상태로 돌아가려는 복원력의 중간위치에서 힘의 평형을 유지하게 되며, 또 로킹부재(30)를 구성하는 로커(23)가 해제되어 일정한 범위내에서만 동작이 가능하게 되는 것이다.
한편, 반도체소자(70)의 테스트를 진행하고져 하는 경우, 테스트가 진행될 수 있도록 상부에서 푸셔(미도시)가 서서히 하강하여 유니케리어(60)를 밀어주어 반도체소자(70)를 테스트할 위치까지 유도하게 되는 것이다.
이때 레버부재(20)는 반도체소자(70)와 함께 하부로 연동하여 반도체소자(70)의 상면을 지속적으로 압착하므로서 반도체소자(70)의 안정적이고 정확한 테스트가 이루어지도록 가이드하게 되는 것이다.
이와 같이 반도체소자(70)를 테스트하는 과정에서 유니케리어(6)에 안착되어있는 반도체소자(7)를 레버부재(20)에 의해 견고하게 압착하여주고, 또 작동과정에서 발생되는 충격이나 진동을 충격흡수부재(50)에 의해 완화시키므로서 안정적인 검사를 행할 수 있게 되는 것이다.
이상에서 설명한 본 발명의 실시예에서 설명한 구조에 의해서만 구현되는 것이 아니며, 본 발명의 실시예의 구성에 대응하는 기능을 실현하는 다른 구조를 통해 구현될 수 있으며, 이러한 구성은 앞서 설명한 실시예의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야의 전문가라면 용이하게 구현할 수 있는 것이며, 이 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것임은 자명한 것이다.
10 : 본체 20 : 레버부재 30 : 로킹부재 40 : 래치부재
50 : 충격흡수부재 60 : 유니케리어 70 : 반도체소자 100 : 인서트소켓

Claims (6)

  1. 중앙에 유니케리어를 삽입하기 위한 수용부가 형성되고, 이 수용부의 양측에 부설된 레버장착부와, 상기 레버장착부의 저면에 로킹부재를 고정하는 설치홈과, 일측에 유니케리어를 고정하는 래치부재를 부설하기위한 장착홈이 형성되어 있는 본체와; 상기 레버장착부에 일체로 결합되는 레버부재와; 이 레버부재의 하부에 장착되어 이의 작동을 제어하는 로킹부재와; 상기 수용부에 안착되는 유니케리어를 고정 및 해제하는 래치부재와; 전측장착홈과 후측장착홈이 형성된 링크와, 상기 전측장착홈의 내측에 핀에 의해 결합되어 유니케리어의 저면을 지지하는 유니케리어지지편과, 상기 후측장착홈의 내측에 핀에 의해 결합되어 상부에 부가되는 코일스프링의 탄성을 부여하는 버든으로 구성되어 고정핀에 의해 본체에 구비된 장착홈에 일체로 결합되어 상기 유니케리어에 가해지는 충격을 흡수하는 충격흡수부재와; 본체에 형성된 수용부에 안착되는 유니케리어로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 검사용 인서트 소켓.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서, 상기 유니케리어는 반도체소자의 크기에 맞춰 각기 다른 크기의 적재부를 갖도록 별도 제작하여 범용할 수 있는 구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체소자 검사용 인서트 소켓.
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KR1020130132410A KR101457962B1 (ko) 2013-11-01 2013-11-01 반도체소자 검사용 인서트 소켓

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KR102047252B1 (ko) 2018-12-06 2019-11-21 (주) 나노에이스 회동레버를 이용한 반도체칩의 리드 고정식 지지체
KR102060083B1 (ko) 2019-06-27 2019-12-27 (주) 나노에이스 자동 리턴 레버를 이용한 반도체칩 고정용 지지체
KR20200046974A (ko) 2018-10-26 2020-05-07 (주) 나노에이스 회동 레버를 이용한 반도체칩의 두 코너 고정식 지지체

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