KR102144806B1 - 전자부품 검사장치용 소켓 - Google Patents

Abstract

본 발명은 전자부품 검사장치용 소켓이 개시된다. 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 전자부품 검사장치용 소켓은 전자부품에 있는 제1 단자들과 전기적으로 접촉되는 제2 단자들이 구비된 소켓보드; 상기 소켓보드 측에 진퇴 가능하게 결합되며, 전자부품이 안착될 수 있는 안착홈을 구비한 인서트; 및 상기 인서트의 진퇴를 안내하기 위한 안내기를 포함하여 구성된다.

Description

전자부품 검사장치용 소켓 {SOCKET FOR ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS}

본 발명은 전자부품 검사장치용 소켓에 관한 것이다.

반도체 소자의 집적화 기술의 발달과 소형화 추세에 따라 반도체 소자의 단자 즉, 리드의 크기 및 간격도 미세화되는 추세이고, 반도체 장비 또는 전자기기에 설치되기 전에 전자부품에 대한 불량검사를 실시하여 상태를 확인하기 위한 작업을 수행한다.

그에 따라 테스트 소켓의 도전 패턴 상호간의 간격도 미세하게 형성하는 방법이 요구되고 있고, 그에 대한 검사도 이루어지고 있다.

테스트 소켓으로는 포고-핀(Pogo-pin) 타입의 반도체 테스트 소켓 타입 또는 탄성 재질의 실리콘 소재로 제작되는 실리콘 본체 상에 수직 방향으로 타공 패턴을 형성한 후, 타공된 패턴 내부에 도전성 분말을 충진하여 도전 패턴을 형성하는 PCR(Pressure Conductive Rubber) 소켓 타입이 있다.

전자부품의 불량검사에서는 소켓과 디바이스간의 정교한 접촉에 대한 담보가 요구된다. 그러나 종래에는 소켓과 디바이스간의 접촉에 대한 정확성이 낮아 검사 신뢰성이 낮다는 단점이 있으며, 이로 인한 정확성 및 경제성이 저하되는 문제가 있다.

본 발명의 일 실시 예는 상기 종래 기술의 문제점을 극복하기 위하여 전자부품의 검사 소켓에 대한 접촉 정확도를 향상시켜 검사를 정확하고 신속하게 수행할 수 있는 전자부품 검사장치용 소켓을 제공하고자 한다.

본 발명의 일 측면에 따르면, 전자부품에 있는 제1 단자들과 전기적으로 접촉되는 제2 단자들이 구비된 소켓보드; 상기 소켓보드 측에 진퇴 가능하게 결합되며, 전자부품이 안착될 수 있는 안착홈을 구비한 인서트; 및 상기 인서트의 진퇴를 안내하기 위한 안내기; 를 포함한다.

상기 인서트는, 상기 안착홈이 형성된 몰드 바디; 및 상기 몰드 바디의 일측에 결합되어서 상기 안착홈의 일측을 폐쇄시킴으로써 상기 안착홈에 안착된 전자부품이 일측 방향으로 이탈되는 것을 방지하되, 상기 제1 단자들 및 상기 제2 단자들에 대응하는 위치와 개수만큼의 접촉구멍들을 가지는 지지판; 을 포함한다.

상기 몰드 바디의 내측면은 경사져 안착홈이 형성된 내부 공간이 상광하협 형상을 이룬다.

상기 안내기는, 상기 인서트의 진퇴를 안내하기 위한 안내핀; 상기 소켓보드에 고정 결합되며, 상기 안내핀이 설치되는 설치바디; 및 상기 설치바디에 대하여 상기 인서트를 탄성 지지하는 탄성부재를 포함한다.

상기 설치바디는 상기 인서트가 진퇴될 수 있는 진퇴공간을 가지며, 상기 안내핀을 일측단은 상기 설치바디에 고정하고, 타측단은 상기 인서트에 결합한다.

상기 설치바디는 내부 공간에 단차면이 형성되어 상기 인서트의 과도한 하강을 방지하고, 상기 단차면에 상기 안내핀이 설치된다.

상기 설치바디의 타측에 결합되어서 상기 인서트가 상기 탄성부재의 탄성력에 의해 타측으로 이탈되는 것을 방지하는 방지판을 더 포함한다.

본 발명에 따른 전자부품 검사장치용 소켓은 다음과 같은 효과가 있다.

첫째, 전자부품의 검사에 대한 소켓과 전자부품간의 접촉 정확도를 향상시킬 수 있다.

둘째, 소켓과 전자부품간의 접촉 정확도를 향상시켜 전자부품의 검사를 정확하게 수행함으로써 검사 신뢰성을 향상시키고 비용 및 시간을 단축할 수 있다.

도 1은 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 전자부품 검사장치의 분해 사시도를 나타내는 모식도이다.
도 2는 본 발명의 하나의 실시 예에 전자부품 검사장치를 나타내는 모식도이다.
도 3은 도 2의 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 전자부품 검사장치용 소켓의 작동 상태를 나타내는 모식도이다.
도 4는 도 3의 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 전자부품 검사장치용 소켓의 A부분의 확대 모식도이다.

이하 설명하는 실시 예들은 본 발명의 기술 사상을 작업자가 용이하게 이해할 수 있도록 제공되는 것으로 이에 의해 본 발명이 한정되지는 않는다. 또한, 첨부된 도면에 표현된 사항들은 본 발명의 실시 예들을 쉽게 설명하기 위해 도식화된 도면으로 실제로 구현되는 형태와 상이할 수 있다.

어떤 구성요소가 다른 구성요소에 연결되어 있거나 접속되어 있다고 언급될 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 한다.

도 1은 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 전자부품 검사장치의 분해 사시도를 나타내는 모식도이고, 도 2는 본 발명의 하나의 실시 예에 전자부품 검사장치를 나타내는 모식도이다.

도 1 및 도 2를 함께 참조하면 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 전자부품 검사장치는 전자부품(10)에 있는 제1 단자들(11)과 전기적으로 접촉되는 소켓(111)의 제2 단자들(112)이 구비된 소켓보드(110), 상기 소켓보드(110) 측에 진퇴 가능하게 결합되며, 전자부품(10)이 안착될 수 있는 안착홈(122-4)을 구비한 인서트(120) 및 상기 인서트(120)의 진퇴를 안내하기 위한 안내기(130)를 포함하여 구성된다.

보다 상세하게 전자부품(10)과 접촉하여 검사를 수행하는 소켓(111)이 구비된 소켓보드(110), 상기 전자부품(10)이 안착되는 인서트(120) 및 상기 전자부품(10)이 안착된 인서트(120)가 승강되는 안내기(130)를 포함하고, 상기 전자부품(10)이 상기 인서트(120)의 내부에 형성되어 있는 안착홈(122-4)에 안착되고, 푸셔(150)가 상기 인서트(120)를 하방으로 가압하여 상기 인서트(120)에 안착된 상기 전자부품(10)을 상기 소켓보드(110)의 소켓(111)에 접속시켜 전기적 검사를 수행한다.

하나의 구체적인 예에서 상기 인서트(120)의 내측면(122-2)은 경사져 안착홈(122-4)이 형성되어 있는 내부공간이 상광하협 형상을 이루어 전자부품(10)이 상기 인서트(120)의 내부 공간의 안착홈(122-4)으로의 삽입을 용이하게 한다.

또한 상기 인서트(120)의 내측면(122-2)의 외면인 외측면(122-3)은 수직한 면이며 걸림턱(121)에 의해 단차를 이루고 있다. 이러한 구조에 의해 상기 인서트(120)가 하강하는 경우에 전자부품(10)이 상기 소켓보드(110)의 소켓(111)과 접속을 이루게 된다. 여기서 상기 설치바디(132)는 중앙 부위에 상기 인서트(120)가 진퇴될 수 있는 진퇴공간을 가지며, 내부 공간에 내측 계단 형상의 단차면(132-2)이 형성되어 걸림턱(121)과 함께 상기 인서트(120)의 추가 하강을 방지하여 전자부품(10)의 파손을 방지한다. 즉 상기 걸림턱(121)이 상기 안내기(130)에 걸려 승강이 제한되며, 여기서 소켓(111)은 PCR 소켓 타입이 바람직하다.

상기 인서트(120)는 상기 안착홈(122-4)이 형성된 몰드 바디(122) 및 상기 몰드 바디(122)의 일측에 결합되어서 상기 안착홈(122-4)의 일측을 폐쇄시킴으로써 상기 안착홈(122-4)에 안착된 전자부품(10)이 일측 방향으로 이탈되는 것을 방지하되, 상기 제1 단자들(11) 및 상기 제2 단자들(112)에 대응하는 위치와 개수만큼의 접촉구멍들(124-1)을 가지는 지지판(124)을 포함하여 구성된다.

상기 지지판(124)의 접촉구멍들(124-1)은 격자 형상으로서 상기 전자부품(10)의 핀, 즉 제1 단자들(11)을 가이드하도록 구성되어 있다. 즉 상기 지지판(124)의 접촉구멍들(124-1)은 복수개의 구멍으로 상기 전자부품(10)의 제1 단자들(11)이 각각 삽입된다.

본 발명에 따르면 상기 안내기(130)는 상기 인서트(120)의 진퇴를 안내하기 위한 안내핀(131), 상기 소켓보드(110)에 고정 결합되며, 상기 안내핀(131)이 설치되는 설치바디(132) 및 상기 설치바디(132)에 대하여 상기 인서트(120)를 탄성 지지하는 탄성부재(133)를 포함하여 구성되어 있다.

여기서 상기 안내핀(131)의 일측단은 상기 설치바디(132)에 고정되고, 타측단은 상기 인서트(120)에 결합되어 방지판(140)에 고정 결합되되, 상기 인서트(120)의 내부 공간에 형성되어 있는 단차면(132-2)에 상기 안내핀(131)이 설치된다.

상기 안내기(130)에는 수직 방향을 향하고 있는 상기 안내핀(131)이 상호 대향하여 구비되어 있다. 보다 상세하게 상기 안내기(130)의 내측 단차면(132-2)에 안내핀 결합구멍(132-1)이 형성되어 있고, 상기 안내핀 결합구멍(132-1)은 상기 인서트(120)의 걸림턱(121)에 형성되어 있는 걸림턱 결합구멍(122-1)에 대응하는 위치에 형성되어 있어 안내핀(131)이 결합된다.

여기서 상기 안내핀(131)은 수직 방향을 향하며 복수개가 상호 대향하도록 되어 있고, 상기 안내핀(131)에는 탄성부재(133)가 각각 결합되어 있다. 상기 안내핀(131)에는 탄성부재(133)가 각각 구비되어 상기 인서트(120)가 상승하는 경우에 상기 인서트(120)에 탄성을 제공한다.

본 발명에 따른 전자부품 검사장치용 소켓은 상기 설치바디(132)의 타측에 결합되어서 상기 인서트(120)가 상기 탄성부재의 탄성력에 의해 타측으로 이탈되는 것을 방지하는 방지판(140)을 더 포함하여 구성되어 있다.

또한 상기 방지판(140)은 인서트(120)가 상기 안내기(130) 내부에 위치한 상태에서 안내기(130)를 덮는 구조이다. 상기 방지판(140)의 하면에는 커버 결합구멍이 형성되어 있어 안내핀(131)이 인서트(120)를 관통한 상태에서 상기 방지판(140)에 고정되는 구조이다.

본 발명에 따르면 상기 푸셔(150)는 하면의 중앙 부위에 볼록부(151)가 형성되어 볼록부(151)가 전자부품(10)을 하방으로 가압하게 된다. 즉 상기 푸셔(150)의 작동시에 상기 볼록부(151)가 전자부품(10)을 가압하고, 상기 볼록부(151)와 단차 형태를 이루는 외주부(152)가 인서트(120)를 가압하게 된다.

도 3은 도 2의 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 전자부품 검사장치용 소켓의 실시 예를 나타내는 모식도이고, 도 4는 도 3의 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 전자부품 검사장치용 소켓의 A부분의 확대 모식도이다.

도 3 및 도 4를 도 1 및 도 2와 함께 참조하여 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 전자부품 검사장치용 소켓의 작동 관계를 설명하면, 먼저 푸셔(150)가 작동하여 인서트(120)를 하방으로 가압하게 된다. 즉 상기 푸셔(150)의 볼록부(151)가 전자부품(10)을 가압하고, 볼록부(151)의 외주부(152)는 인서트(120)를 가압하게 된다.

이어서 상기 인서트(120)가 안내기(130)의 안내핀(131)에 의해 하방으로 이동하여 전자부품(10)을 하방으로 가압하게 된다. 상기 안내핀(131)은 상기 인서트(120)를 관통한 상태이므로 상기 인서트(120)가 상기 안내핀(131)을 따라 하방으로 이동된다.

계속해서 상기 전자부품(10)이 소켓보드(110)의 소켓(111)과 접속하게 된다. 이때 상기 인서트(120)의 하면에는 지지판(124)이 구비되어 있어 상기 지지판(124)에 형성되어 있는 격자 형상의 접촉구멍들(124-1)로 복수개의 상기 전자부품(10)의 제1 단자들(11)이 각각 삽입된다. 상기 전자부품(10)의 제1 단자들(11)은 상기 지지판(124)에 형성되어 있는 격자 형상의 접촉구멍들(124-1)로 가이드되면서 소켓보드(110)의 소켓(111)과 정위치에서 각각 접속이 이루어진다.

상기 전자부품(10)이 상기 소켓보드(110)의 소켓(111)과 접속이 이루어지게 되면 상기 전자부품(10)의 검사를 수행하게 된다. 즉 도 2의 화살표에 도시된 1, 2, 3 순서대로 가압이 순차적으로 이루어지게 된다.

이에 추가하여 상기 전자부품(10)의 검사를 수행한 후에 상기 푸셔(150)의 가압을 해제하여 상방으로 이동시키고, 상기 안내기(130)의 안내핀(131)에 구비되어 있는 탄성부재(133)에 의해 상기 인서트(120)가 상방으로 이동되게 된다.

따라서 본 발명에 따른 전자부품 검사장치용 소켓은 전자부품의 검사를 정확하게 수행할 수 있으며, 전자부품의 검사를 정확하게 수행하여 검사 신뢰성을 향상시키고 비용 및 시간을 단축할 수 있는 효과를 제공한다.

본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 여러 가지 실시 가능한 예 중에서 작업자의 이해를 돕기 위하여 가장 바람직한 실시 예를 선정하여 제시한 것일 뿐, 이 발명의 기술적 사상이 반드시 제시된 실시 예에만 의해서 한정되거나 제한되는 것은 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변화와 부가 및 변경이 가능함은 물론, 균등한 타의 실시 예가 가능함을 밝혀둔다.

10: 전자부품
11: 제1 단자들
110: 소켓보드
111: 소켓
112: 제2 단자들
120: 인서트
121: 걸림턱
122-1: 걸림턱 결합구멍
122-2: 내측면
122-3: 외측면
122-4: 안착홈
124: 지지판
124-1: 접촉구멍들
130: 안내기
132-1: 안내핀 결합구멍
132-2: 단차면
131: 안내핀
133: 탄성부재
140: 방지판
150: 푸셔
151: 볼록부
152: 외주부

Claims (7)

1. 전자부품에 있는 제1 단자들과 전기적으로 접촉되는 제2 단자들이 구비된 소켓보드;
   상기 소켓보드 측에 진퇴 가능하게 결합되며, 전자부품이 안착될 수 있는 안착홈을 구비한 인서트; 및
   상기 인서트의 진퇴를 안내하기 위한 안내기; 를 포함하고,
   상기 인서트는,
   상기 안착홈이 형성된 몰드 바디; 및
   상기 몰드 바디의 일측에 결합되어서 상기 안착홈의 일측을 폐쇄시킴으로써 상기 안착홈에 안착된 전자부품이 일측 방향으로 이탈되는 것을 방지하되, 상기 제1 단자들 및 상기 제2 단자들에 대응하는 위치와 개수만큼의 접촉구멍들을 가지는 지지판; 을 포함하며,
   상기 안내기는,
   상기 인서트의 진퇴를 안내하기 위한 안내핀; 및
   상기 소켓보드에 고정 결합되며, 상기 안내핀이 설치되는 설치바디; 및
   상기 설치바디에 대하여 상기 인서트를 탄성 지지하는 탄성부재; 를 포함하고,
   상기 설치바디는 상기 인서트가 진퇴될 수 있는 진퇴공간을 가지며, 상기 안내핀을 일측단은 상기 설치바디에 고정하고, 타측단은 상기 인서트에 결합하며,
   상기 안내핀에는 상기 탄성부재가 각각 구비되어 상기 인서트가 상승하는 경우에 상기 인서트에 탄성을 제공하는 것을 특징으로 하는
   전자부품 검사장치용 소켓.
2. 삭제
3. 제 1 항에 있어서,
   상기 몰드 바디의 내측면은 경사져 안착홈이 형성된 내부 공간이 상광하협 형상을 이루는 것을 특징으로 하는
   전자부품 검사장치용 소켓.
4. 삭제
5. 삭제
6. 제 1 항에 있어서,
   상기 설치바디는 내부 공간에 단차면이 형성되어 상기 인서트의 과도한 하강을 방지하고, 상기 단차면에 상기 안내핀이 설치되는 것을 특징으로 하는
   전자부품 검사장치용 소켓.
7. 제 1 항에 있어서,
   상기 설치바디의 타측에 결합되어서 상기 인서트가 상기 탄성부재의 탄성력에 의해 타측으로 이탈되는 것을 방지하는 방지판을 더 포함하는 것을 특징으로 하는
   전자부품 검사장치용 소켓.

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