CN218298335U - 一种soc芯片测试装置 - Google Patents

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苏浩猛
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Deng Zhifeng
Original Assignee
Shanghai Soding Electronics Co ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种SOC芯片测试装置,包括测试架,所述测试架内设有安装板,所述测试架的内顶部固定连接有电机,所述电机的输出端固定连接有第一齿轮,所述第一齿轮的两侧均设有相啮合的第二齿轮,所述第二齿轮的一侧固定连接有螺纹杆,所述螺纹杆的一端与测试架转动连接,所述螺纹杆上螺纹套接有移动板,所述移动板的一端转动连接有连接板,所述连接板远离移动板的一端与安装板转动连接,所述安装板的底部固定连接有测试探针,该SOC芯片测试装置,整体操作简单,通过支撑组件易于对芯片支撑,且在测试后便于脱出芯片进行拿取,适合推广使用。

Description

一种SOC芯片测试装置
技术领域
本实用新型涉及芯片测试相关制品领域,具体为一种SOC芯片测试装置。
背景技术
芯片又称微电路、微芯片、集成电路,芯片是指内含集成电路的硅片,体积很小,常常是计算机或其他电子设备的一部分,芯片在电子学中是一种把电路小型化的方式,并通常制造在半导体晶圆表面上,SoC称为系统级芯片,也有称片上系统,意指它是一个产品,是一个有专用目标的集成电路,其中包含完整系统并有嵌入软件的全部内容。同时它又是一种技术,用以实现从确定系统功能开始,到软/硬件划分,并完成设计的整个过程,芯片测试是对芯片上的每个晶粒进行针测,利用针卡上的探针与晶粒上的接点接触,测试其电气特性。
但是目前现有的测试装置通常是将芯片放置在一个凹槽内,避免位置偏移,这种方式在芯片测试完成后不便于将芯片进行拿取,导致操作较为繁琐,具有缺陷性。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种SOC芯片测试装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种SOC芯片测试装置,包括测试架,所述测试架内设有安装板,所述测试架的内顶部固定连接有电机,所述电机的输出端固定连接有第一齿轮,所述第一齿轮的两侧均设有相啮合的第二齿轮,所述第二齿轮的一侧固定连接有螺纹杆,所述螺纹杆的一端与测试架转动连接,所述螺纹杆上螺纹套接有移动板,所述移动板的一端转动连接有连接板,所述连接板远离移动板的一端与安装板转动连接,所述安装板的底部固定连接有测试探针,所述测试探针的下方设有承载板,所述承载板的两端底部与测试架之间均通过立板固定,所述承载板上设有承载槽,所述承载槽内设有支撑板,所述支撑板的下方设有定位板,所述定位板的两端与支撑板之间通过固定杆固定连接,所述定位板的两端均滑动插设有滑杆,所述滑杆上滑动套接有弹簧,所述弹簧的两端分别与定位板和承载板固定连接。
优选的,所述立板上滑动插设有限位板,所述定位板的一端设有与限位板对应的限位槽。
优选的,所述定位板的底部固定连接有把手。
优选的,所述测试架的两侧内壁上均设有凹槽,所述凹槽内固定连接有止位杆,所述止位杆上滑动套接有牵引板,所述牵引板与安装板固定连接。
优选的,所述第一齿轮与第二齿轮均为锥齿轮。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
该SOC芯片测试装置,通过将待测试的芯片放置在支撑板上,随后控制电机启动带动第一齿轮啮合两侧的第二齿轮转动,此时第二齿轮将带动螺纹杆转动从而实现移动板的运动,移动板将带动连接板从而推动安装板使安装板底部上的测试探针接触芯片进行测试;
该SOC芯片测试装置,通过承载板对芯片支撑,在测试完成后拉动定位板从而将支撑板脱出,便于拿取芯片,拿取后松开定位板,此时呈拉伸状态的弹簧在自身回弹力的作用下自动回弹从而将支撑板回复到初始位置;
该SOC芯片测试装置,整体操作简单,通过支撑组件易于对芯片支撑,且在测试后便于脱出芯片进行拿取,适合推广使用。
附图说明
图1为本实用新型的一种SOC芯片测试装置的结构示意图;
图2为本实用新型的一种SOC芯片测试装置的A处放大图。
图中:1、测试架;2、安装板;3、电机;4、第一齿轮;5、第二齿轮;6、螺纹杆;7、移动板;8、连接板;9、牵引板;10、测试探针;11、承载板;12、立板;13、支撑板;14、定位板;15、滑杆;16、弹簧;17、限位板;18、把手;19、止位杆;20、固定杆。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。
请参阅图1-2,本实用新型提供的一种实施例:一种SOC芯片测试装置,包括测试架1,测试架1内设有安装板2,测试架1的内顶部固定连接有电机3,电机3的输出端固定连接有第一齿轮4,第一齿轮4的两侧均设有相啮合的第二齿轮5,第二齿轮5的一侧固定连接有螺纹杆6,螺纹杆6的一端与测试架1转动连接,螺纹杆6上螺纹套接有移动板7,移动板7的一端转动连接有连接板8,连接板8远离移动板7的一端与安装板2转动连接,安装板2的底部固定连接有测试探针10;
测试探针10的下方设有承载板11,承载板11的两端底部与测试架1之间均通过立板12固定,承载板11上设有承载槽,承载槽内设有支撑板13,支撑板13的下方设有定位板14,定位板14的两端与支撑板13之间通过固定杆20固定连接,定位板14的两端均滑动插设有滑杆15,滑杆15上滑动套接有弹簧16,弹簧16的两端分别与定位板14和承载板11固定连接。
本实施例中,其中一个立板12上滑动插设有限位板17,定位板14的一端设有与限位板17对应的限位槽,对定位板14进行定位,避免测试时支撑板13运动;定位板14的底部固定连接有把手18,方便拉动定位板14;测试架1的两侧内壁上均设有凹槽,凹槽内固定连接有止位杆19,止位杆19上滑动套接有牵引板9,牵引板9与安装板2固定连接,提高安装板2运动时的两端稳定性;第一齿轮4与第二齿轮5均为锥齿轮。
工作原理:首先将待测试的芯片放置在支撑板13上,随后控制电机3启动带动第一齿轮4啮合两侧的第二齿轮5转动,此时第二齿轮5将带动螺纹杆6转动从而实现移动板7的运动,移动板7将带动连接板8从而推动安装板2使安装板2底部上的测试探针10接触芯片进行测试,在测试完成后拉动定位板14从而将支撑板13脱出,便于拿取芯片,拿取后松开定位板14,此时呈拉伸状态的弹簧16在自身回弹力的作用下自动回弹从而将支撑板13回复到初始位置。
对于本领域技术人员而言,显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (5)

1.一种SOC芯片测试装置,包括测试架(1),其特征在于:所述测试架(1)内设有安装板(2),所述测试架(1)的内顶部固定连接有电机(3),所述电机(3)的输出端固定连接有第一齿轮(4),所述第一齿轮(4)的两侧均设有相啮合的第二齿轮(5),所述第二齿轮(5)的一侧固定连接有螺纹杆(6),所述螺纹杆(6)的一端与测试架(1)转动连接,所述螺纹杆(6)上螺纹套接有移动板(7),所述移动板(7)的一端转动连接有连接板(8),所述连接板(8)远离移动板(7)的一端与安装板(2)转动连接,所述安装板(2)的底部固定连接有测试探针(10),所述测试探针(10)的下方设有承载板(11),所述承载板(11)的两端底部与测试架(1)之间均通过立板(12)固定,所述承载板(11)上设有承载槽,所述承载槽内设有支撑板(13),所述支撑板(13)的下方设有定位板(14),所述定位板(14)的两端与支撑板(13)之间通过固定杆(20)固定连接,所述定位板(14)的两端均滑动插设有滑杆(15),所述滑杆(15)上滑动套接有弹簧(16),所述弹簧(16)的两端分别与定位板(14)和承载板(11)固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种SOC芯片测试装置,其特征在于:其中一个所述立板(12)上滑动插设有限位板(17),所述定位板(14)的一端设有与限位板(17)对应的限位槽。
3.根据权利要求1所述的一种SOC芯片测试装置,其特征在于:所述定位板(14)的底部固定连接有把手(18)。
4.根据权利要求1所述的一种SOC芯片测试装置,其特征在于:所述测试架(1)的两侧内壁上均设有凹槽,所述凹槽内固定连接有止位杆(19),所述止位杆(19)上滑动套接有牵引板(9),所述牵引板(9)与安装板(2)固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种SOC芯片测试装置,其特征在于:所述第一齿轮(4)与第二齿轮(5)均为锥齿轮。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN116930568A (zh) * 2023-09-14 2023-10-24 成都圣芯集成电路有限公司 一种毫米波芯片测试平台
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