CN218099282U - 一种便于使用的半导体检测探针平台 - Google Patents

一种便于使用的半导体检测探针平台 Download PDF

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Abstract

本实用新型涉及半导体检测技术领域,且公开了一种便于使用的半导体检测探针平台,底板顶部固定连接有支撑块,底板顶部和工作台面底部均固定连接有升降机构,工作台面顶部固定连接有调节机构,连接杆固定连接于底板顶部和限位板底部,第二转动杆表面固定连接有第三齿轮,第三齿轮表面啮合连接有半齿轮,半齿轮轴心处固定连接有第一转动杆,第一转动杆表面和支撑块内部转动连接。该便于使用的半导体元件检测探针平台,第二转动杆带动第三齿轮,第三齿轮和半齿轮啮合连接时,转杆和第一连接块进行铰接时,连接杆带动支撑杆将工作台面进行向上推动即可使得工作台面能随之配合不同工作人员内的身高进行调节,减小工作人员的疲劳感。

Description

一种便于使用的半导体检测探针平台
技术领域
本实用新型涉及半导体元件检测技术领域,具体为一种便于使用的半导体检测探针平台。
背景技术
半导体元件指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料,半导体元件在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用。
传统的探针平台在检测半导体元件元件时,在由于工作平台的高度固定,不能配合不同身高的工作人员进行检测工作,而且在对半导体元件元件进行检测时,也不能对半导体元件元件的不同位置进行检测。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种便于使用的半导体检测探针平台,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种便于使用的半导体检测探针平台,包括底板、限位板和工作台面,所述底板顶部固定连接有支撑块,所述底板顶部和工作台面底部均固定连接有升降机构,所述工作台面顶部固定连接有调节机构。
所述升降机构包括连接杆,所述连接杆固定连接于底板顶部和限位板底部,两个所述支撑块背面固定连接有电机,所述电机前侧固定连接有第二转动杆,所述第二转动杆表面固定连接有第三齿轮,所述第三齿轮表面啮合连接有半齿轮,所述半齿轮轴心处固定连接有第一转动杆,所述第一转动杆表面和支撑块内部转动连接,所述底板顶部和限位板底部均固定连接有固定板,所述固定板数量为两个,两个所述固定板设置于连接杆左右两侧,所述固定板内部开设有滑槽,所述连接杆表面滑动连接有第二连接块,所述第二连接块左右两侧均固定连接有第一伸缩杆,所述第二连接块左右两侧均固定连接有弹簧,所述弹簧内部和第一伸缩杆表面套接。
优选的,所述第一伸缩杆和弹簧另一侧均固定连接有第一连接块,所述第一连接块另一侧铰接有转杆,设置第一伸缩杆和弹簧在第一连接块受到转杆铰接推动时,第一伸缩杆和弹簧能被带动进行收缩。
优选的,所述转杆内部和第一转动杆表面固定连接,所述转杆内部转动连接有长杆,设置长杆,在转杆铰接过程中,转杆在长杆表面转动时,长杆带动滑块在滑槽内滑动。
优选的,所述长杆表面固定连接有滑块,所述滑块表面和滑槽内部滑动连接。
优选的,所述第二连接块顶部两侧和工作台面底部均固定连接有支撑杆,所述支撑块顶部和工作台面底部均固定连接有第二伸缩杆,所述限位板内部对应第二伸缩杆开设有通孔,设置第二伸缩杆,在工作台面被带动进行上升时,第二伸缩杆能随之被带动进行拉伸。
优选的,所述调节机构包括圆板,所述圆板固定连接于工作台面顶部,所述圆板顶部固定连接有齿环,所述工作台面顶部左右两侧均固定连接有支撑板,所述支撑板顶部固定连接有回型板,所述回型板设置于齿环上方,所述圆板内部开设有矩形槽,所述矩形槽顶部设置为开口,所述矩形槽正面下端固定连接有伺服电机,所述伺服电机顶部固定连接有第二转轴,所述第二转轴表面固定连接有第二齿轮,设置检测针,在检测针被转板带动下进行转动时,检测针能对放置在回型板上的半导体元件的不同位置进行检测。
优选的,所述第二齿轮表面啮合连接有第一齿轮,所述第一齿轮表面和齿环内部啮合连接,设置第二齿轮和第一齿轮,在第二齿轮转动时能带动第一齿轮啮合转动,这时第一齿轮在齿环内啮合转动做圆周转动。
优选的,所述第一齿轮轴心处固定连接有第一转轴,所述第一转轴表面转动连接有转板。
优选的,所述转板内部和第二转轴表面固定连接,所述转板设置于第二齿轮和第一齿轮上方,所述转板顶部固定连接有检测针,设置转板,在第二转轴的带动下转板转动时,转板能在第一转轴表面转动。
与现有技术相比,本实用新型提供了一种便于使用的半导体检测探针平台,具备以下有益效果:
1、该便于使用的半导体元件检测探针平台,通过设置升降机构,启动电机开关,电机带动第二转动杆转动,第二转动杆带动第三齿轮,第三齿轮和半齿轮啮合连接时,半齿轮带动第一转动杆在支撑块内部转动,这时第一转动杆带动转杆转动,转杆和第一连接块进行铰接时,第一连接块被转杆带动时将第一伸缩杆和弹簧进行收缩,这时转杆在长杆表面转动,长杆带动滑块在滑槽内滑动,这时第二连接块被带动在连接杆表面滑动,连接杆带动支撑杆将工作台面进行向上推动,第二伸缩杆同时也能进行拉伸,即可使得工作台面能随之配合不同工作人员内的身高进行调节,减小工作人员的疲劳感。
2、该便于使用的半导体元件检测探针平台,通过设置调节机构,启动伺服电机开关,伺服电机带动第二转轴转动,第二转轴带动第二齿轮转动,第二齿轮和第一齿轮进行啮合转动,在第一齿轮被带动进行啮合连接时,第一齿轮和齿环进行啮合连接,这时第一齿轮能在齿环内做圆周运动,这时第二转轴带动转板,转板在第一转轴表面转动,在转板转动时带动检测针对半导体元件的不同位置进行检测。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图:
图1为本实用新型结构示意图;
图2为本实用新型结构剖示图;
图3为图2中A处放大示意图;
图4为工作台面俯视结构示意图。
图中:1、底板;2、限位板;3、工作台面;4、升降机构;41、第二转动杆;42、第一转动杆;43、第二伸缩杆;44、固定板;45、第三齿轮;46、半齿轮;47、支撑杆;48、连接杆;411、滑槽;412、滑块;413、长杆;414、第二连接块;415、第一伸缩杆;416、弹簧;417、第一连接块;418、转杆;5、调节机构;51、矩形槽;52、伺服电机;53、支撑板;54、圆板;55、第二转轴;56、回型板;57、齿环;58、第一转轴;59、检测针;511、第二齿轮;512、第一齿轮;513、转板;6、支撑块。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
本实用新型提供以下技术方案:
实施例一
请参阅图1-3,一种便于使用的半导体检测探针平台,包括底板1、限位板2和工作台面3,底板1顶部固定连接有支撑块6,底板1顶部和工作台面3底部均固定连接有升降机构4,工作台面3顶部固定连接有调节机构5。
升降机构4包括连接杆48,连接杆48固定连接于底板1顶部和限位板2底部,两个支撑块6背面固定连接有电机,电机前侧固定连接有第二转动杆41,第二转动杆41表面固定连接有第三齿轮45,第三齿轮45表面啮合连接有半齿轮46,半齿轮46轴心处固定连接有第一转动杆42,第一转动杆42表面和支撑块6内部转动连接,底板1顶部和限位板2底部均固定连接有固定板44,固定板44数量为两个,两个固定板44设置于连接杆48左右两侧,固定板44内部开设有滑槽411,连接杆48表面滑动连接有第二连接块414,第二连接块414左右两侧均固定连接有第一伸缩杆415,第二连接块414左右两侧均固定连接有弹簧416,弹簧416内部和第一伸缩杆415表面套接,第一伸缩杆415和弹簧416另一侧均固定连接有第一连接块417,第一连接块417另一侧铰接有转杆418,转杆418内部和第一转动杆42表面固定连接,转杆418内部转动连接有长杆413,长杆413表面固定连接有滑块412,滑块412表面和滑槽411内部滑动连接,第二连接块414顶部两侧和工作台面3底部均固定连接有支撑杆47,支撑块6顶部和工作台面3底部均固定连接有第二伸缩杆43,限位板2内部对应第二伸缩杆43开设有通孔。
进一步的,通过设置升降机构4,启动电机开关,电机带动第二转动杆41转动,第二转动杆41带动第三齿轮45,第三齿轮45和半齿轮46啮合连接时,半齿轮46带动第一转动杆42在支撑块6内部转动,这时第一转动杆42带动转杆418转动,转杆418和第一连接块417进行铰接时,第一连接块417被转杆418带动时将第一伸缩杆415和弹簧416进行收缩,这时转杆418在长杆413表面转动,长杆413带动滑块412在滑槽411内滑动,这时第二连接块414被带动在连接杆48表面滑动,连接杆48带动支撑杆47将工作台面3进行向上推动,第二伸缩杆43同时也能进行拉伸,即可使得工作台面3能随之配合不同工作人员内的身高进行调节,减小工作人员的疲劳感。
实施例二
结合图1-4,在实施例一的基础上,进一步得到调节机构5包括圆板54,圆板54固定连接于工作台面3顶部,圆板54顶部固定连接有齿环57,工作台面3顶部左右两侧均固定连接有支撑板53,支撑板53顶部固定连接有回型板56,回型板56设置于齿环57上方,圆板54内部开设有矩形槽51,矩形槽51顶部设置为开口,矩形槽51正面下端固定连接有伺服电机52,伺服电机52顶部固定连接有第二转轴55,第二转轴55表面固定连接有第二齿轮511,第二齿轮511表面啮合连接有第一齿轮512,第一齿轮512表面和齿环57内部啮合连接,第一齿轮512轴心处固定连接有第一转轴58,第一转轴58表面转动连接有转板513,转板513内部和第二转轴55表面固定连接,转板513设置于第二齿轮511和第一齿轮512上方,转板513顶部固定连接有检测针59。
进一步的,通过设置调节机构5,启动伺服电机52开关,伺服电机52带动第二转轴55转动,第二转轴55带动第二齿轮511转动,第二齿轮511和第一齿轮512进行啮合转动,在第一齿轮512被带动进行啮合连接时,第一齿轮512和齿环57进行啮合连接,这时第一齿轮512能在齿环57内做圆周运动,这时第二转轴55带动转板513,转板513在第一转轴58表面转动,在转板513转动时带动检测针59对半导体元件的不同位置进行检测。
在实际操作过程中,当此装置使用时,在需要对工作台面3的高度进行调节时,启动电机开关,电机带动第二转动杆41转动,第二转动杆41带动第三齿轮45,第三齿轮45和半齿轮46啮合连接时,半齿轮46带动第一转动杆42在支撑块6内部转动,这时第一转动杆42带动转杆418转动,转杆418和第一连接块417进行铰接时,第一连接块417被转杆418带动时将第一伸缩杆415和弹簧416进行收缩,这时转杆418在长杆413表面转动,长杆413带动滑块412在滑槽411内滑动,这时第二连接块414被带动在连接杆48表面滑动,连接杆48带动支撑杆47将工作台面3进行向上推动,第二伸缩杆43同时也能进行拉伸,即可使得工作台面3能随之配合不同工作人员内的身高进行调节,减小工作人员的疲劳感;
将半导体元件放置在回型板56上时,启动伺服电机52开关,伺服电机52带动第二转轴55转动,第二转轴55带动第二齿轮511转动,第二齿轮511和第一齿轮512进行啮合转动,在第一齿轮512被带动进行啮合连接时,第一齿轮512和齿环57进行啮合连接,这时第一齿轮512能在齿环57内做圆周运动,这时第二转轴55带动转板513,转板513在第一转轴58表面转动,在转板513转动时带动检测针59对半导体元件的不同位置进行检测。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个......”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

Claims (9)

1.一种便于使用的半导体检测探针平台,包括底板(1)、限位板(2)和工作台面(3),其特征在于:所述底板(1)顶部固定连接有支撑块(6),所述底板(1)顶部和工作台面(3)底部均固定连接有升降机构(4),所述工作台面(3)顶部固定连接有调节机构(5);
所述升降机构(4)包括连接杆(48),所述连接杆(48)固定连接于底板(1)顶部和限位板(2)底部,两个所述支撑块(6)背面固定连接有电机,所述电机前侧固定连接有第二转动杆(41),所述第二转动杆(41)表面固定连接有第三齿轮(45),所述第三齿轮(45)表面啮合连接有半齿轮(46),所述半齿轮(46)轴心处固定连接有第一转动杆(42),所述第一转动杆(42)表面和支撑块(6)内部转动连接,所述底板(1)顶部和限位板(2)底部均固定连接有固定板(44),所述固定板(44)数量为两个,两个所述固定板(44)设置于连接杆(48)左右两侧,所述固定板(44)内部开设有滑槽(411),所述连接杆(48)表面滑动连接有第二连接块(414),所述第二连接块(414)左右两侧均固定连接有第一伸缩杆(415),所述第二连接块(414)左右两侧均固定连接有弹簧(416),所述弹簧(416)内部和第一伸缩杆(415)表面套接。
2.根据权利要求1所述的一种便于使用的半导体检测探针平台,其特征在于:所述第一伸缩杆(415)和弹簧(416)另一侧均固定连接有第一连接块(417),所述第一连接块(417)另一侧铰接有转杆(418)。
3.根据权利要求2所述的一种便于使用的半导体检测探针平台,其特征在于:所述转杆(418)内部和第一转动杆(42)表面固定连接,所述转杆(418)内部转动连接有长杆(413)。
4.根据权利要求3所述的一种便于使用的半导体检测探针平台,其特征在于:所述长杆(413)表面固定连接有滑块(412),所述滑块(412)表面和滑槽(411)内部滑动连接。
5.根据权利要求1所述的一种便于使用的半导体检测探针平台,其特征在于:所述第二连接块(414)顶部两侧和工作台面(3)底部均固定连接有支撑杆(47),所述支撑块(6)顶部和工作台面(3)底部均固定连接有第二伸缩杆(43),所述限位板(2)内部对应第二伸缩杆(43)开设有通孔。
6.根据权利要求1所述的一种便于使用的半导体检测探针平台,其特征在于:所述调节机构(5)包括圆板(54),所述圆板(54)固定连接于工作台面(3)顶部,所述圆板(54)顶部固定连接有齿环(57),所述工作台面(3)顶部左右两侧均固定连接有支撑板(53),所述支撑板(53)顶部固定连接有回型板(56),所述回型板(56)设置于齿环(57)上方,所述圆板(54)内部开设有矩形槽(51),所述矩形槽(51)顶部设置为开口,所述矩形槽(51)正面下端固定连接有伺服电机(52),所述伺服电机(52)顶部固定连接有第二转轴(55),所述第二转轴(55)表面固定连接有第二齿轮(511)。
7.根据权利要求6所述的一种便于使用的半导体检测探针平台,其特征在于:所述第二齿轮(511)表面啮合连接有第一齿轮(512),所述第一齿轮(512)表面和齿环(57)内部啮合连接。
8.根据权利要求7所述的一种便于使用的半导体检测探针平台,其特征在于:所述第一齿轮(512)轴心处固定连接有第一转轴(58),所述第一转轴(58)表面转动连接有转板(513)。
9.根据权利要求8所述的一种便于使用的半导体检测探针平台,其特征在于:所述转板(513)内部和第二转轴(55)表面固定连接,所述转板(513)设置于第二齿轮(511)和第一齿轮(512)上方,所述转板(513)顶部固定连接有检测针(59)。
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