CN212872757U - 一种带限位结构的芯片测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用公开的一种带限位结构的芯片测试装置,包括底板,所述底板的顶部设有第一支撑板,所述第一支撑板的底部与底板的顶部固定连接,所述底板的上方设有顶板,所述顶板的一侧与第一支撑板的一侧固定连接,所述顶板的底部设有芯片测试探针,所述芯片测试探针与第一支撑板之间设有调节组件,所述底板的底部固定连接有若干支撑腿,所述支撑腿的底部固定连接有固定板,所述底板和芯片测试探针之间设有测试板,所述测试板与底板之间设有升降组件,所述测试板上设有限位机构。本实用所述的一种带限位结构的芯片测试装置,芯片测试探针可以探到芯片上不同位置的测试点,提高了测试范围,操作简单,便于实际使用。
Description
技术领域
本实用涉及芯片测试设备技术领域,特别涉及一种带限位结构的芯片测试装置。
背景技术
芯片封装不但为芯片提供隔离周围环境的保护,更进一步为芯片提供一个连接界面。芯片的封装方式比较常见的有以下三种方式:QFN、BGA和LQFP。封装后的芯片需要用Handler(处理器)来对芯片进行测试,同种型号的 Handler(处理器)可以测试不同封装形式的芯片。芯片是一种将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路,集成电路芯片的测试分类包括:晶圆测试、芯片测试和封装测试,芯片测试是在晶圆经过切割、减薄工序,成为一片片独立的片之后的测试,其一般是将芯片放在测试平台上,用探针探到芯片中事先确定的测试点,探针上可以通过直流电流和交流信号,可以对其进行各种电气参数测试,然而,现有的芯片测试装置一般不具备限位机构,而部分有限位机构的测试装置,也不便于快速固定芯片,以及便捷的完成芯片位置的调节,不便于实际操作。
实用新型内容
本实用的主要目的在于提供一种带限位结构的芯片测试装置,可以有效解决背景技术中问题。
为实现上述目的,本实用采取的技术方案为:
一种带限位结构的芯片测试装置,包括底板,所述底板的顶部设有第一支撑板,所述第一支撑板的底部与底板的顶部固定连接,所述底板的上方设有顶板,所述顶板的一侧与第一支撑板的一侧固定连接,所述顶板的底部设有芯片测试探针,所述芯片测试探针与第一支撑板之间设有调节组件,所述底板的底部固定连接有若干支撑腿,所述支撑腿的底部固定连接有固定板,所述底板和芯片测试探针之间设有测试板,所述测试板与底板之间设有升降组件,所述测试板上设有限位机构,所述限位机构包括开设于测试板顶部的凹槽,所述凹槽内设有滑板,所述凹槽内设有与滑板相配合的驱动组件,所述滑板的顶部固定连接有两个第二支撑板,两个所述第二支撑板相靠近的一侧均设有夹板,所述夹板与第二支撑板通过若干弹簧连接。
优选的,所述调节组件包括开设于第一支撑板一侧的第一螺纹孔,所述第一螺纹孔内设有第一丝杆,所述第一支撑板远离芯片测试探针的一侧设有旋转块,所述第一丝杆的一端与旋转块固定连接,所述第一丝杆的另一端与芯片测试探针通过第一轴承连接,所述顶板的底部开设有第一滑槽,所述第一滑槽内设有第一滑块,所述第一滑块的底部与芯片测试探针的顶部固定连接。
优选的,所述第一滑槽和第一滑块的横截面均为T形结构,所述旋转块的底部固定连接有第一握把。
优选的,所述升降组件包括开设于底板顶部的第二螺纹孔,所述第二螺纹孔内设有第二丝杆,所述第二丝杆的顶部与测试板的底部通过第二轴承连接,所述第二丝杆的底部与位于底板下方的第一转盘固定连接,所述底板的顶部固定连接有两个套管,所述套管内设有限位杆,所述限位杆的顶端延伸至套管的外部,且所述限位杆的顶部与测试板的底部固定连接。
优选的,所述第一转盘的一侧固定连接有第二握把。
优选的,所述驱动组件包括开设于滑板一侧的第三螺纹孔,所述第三螺纹孔内设有第三丝杆,所述第三丝杆的一端与凹槽的一侧内壁通过第三轴承连接,所述第三丝杆的另一端与位于测试板一侧的第二转盘固定连接。
优选的,所述凹槽的底部内壁开设有第二滑槽,所述第二滑槽内设有第二滑块,所述第二滑块的顶部与滑板的底部固定连接,所述第二转盘远离测试板的一侧固定连接有手柄。
优选的,所述滑板的顶部开设有第三滑槽,所述第三滑槽内设有第三滑块,所述第三滑块的顶部与夹板的底部固定连接,所述第三滑槽和第三滑块的横截面均为T形结构。
优选的,两个所述夹板相靠近的一侧均固定连接有防滑垫。
与现有技术相比,本实用具有如下有益效果:
针对现有存在的弊端,通过设置底板、第一支撑板和升降组件的配合作用,可以自由调节测试板的高度,进而便于调节位于两个夹板之间芯片的高度,便于对芯片进行测试,通过设置第一支撑板、顶板、芯片测试探针和调节组件的配合作用,可以左右调节芯片测试探针的位置,通过设置测试板、凹槽、滑板、第二支撑板、夹板、弹簧和驱动组件的配合作用,可以前后调节滑板的位置,当两个夹板之间固定芯片时,芯片可以前后位置调节,进而芯片测试探针可以探到芯片上不同位置的测试点,提高了测试范围,操作简单,便于实际使用,通过设置第三滑槽和第三滑块的配合作用,使得夹板平稳的移动,避免夹板倾斜晃动,便于对芯片的夹持固定,通过设置的防滑垫,减少芯片相对夹板滑动的可能,进一步的使得芯片较为稳定的固定在两个夹板之间。
附图说明
图1为本实用一种带限位结构的芯片测试装置的整体结构示意图;
图2为本实用一种带限位结构的芯片测试装置调节组件的结构示意图;
图3为本实用一种带限位结构的芯片测试装置升降组件的结构示意图;
图4为本实用一种带限位结构的芯片测试装置限位机构的结构示意图;
图5为图4中A处的局部放大示意图。
图中:1、底板;2、第一支撑板;3、顶板;4、芯片测试探针;5、支撑腿;6、固定板;7、测试板;8、凹槽;9、滑板;10、第二支撑板;11、夹板;12、第一螺纹孔;13、第一丝杆;14、第一滑槽;15、第一滑块;16、第一轴承;17、旋转块;18、第一握把;19、第二螺纹孔;20、第二丝杆;21、第二轴承;22、第一转盘;23、第二握把;24、套管;25、限位杆;26、第三螺纹孔;27、第三丝杆;28、第三轴承;29、第二转盘;30、手柄;31、第二滑槽;32、第二滑块;33、弹簧;34、第三滑槽;35、第三滑块;36、防滑垫。
具体实施方式
为使本实用实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本实用。
在本实用的描述中,需要说明的是,术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在实用的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“设置有”、“连接”等,应做广义理解,例如“连接”,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用中的具体含义。
如图1-5所示,一种带限位结构的芯片测试装置,包括底板1,底板1的顶部设有第一支撑板2,第一支撑板2的底部与底板1的顶部固定连接,底板 1的上方设有顶板3,顶板3的一侧与第一支撑板2的一侧固定连接,顶板3 的底部设有芯片测试探针4,芯片测试探针4与第一支撑板2之间设有调节组件,底板1的底部固定连接有若干支撑腿5,支撑腿5的底部固定连接有固定板6,底板1和芯片测试探针4之间设有测试板7,测试板7与底板1之间设有升降组件,测试板7上设有限位机构,限位机构包括开设于测试板7顶部的凹槽8,凹槽8内设有滑板9,凹槽8内设有与滑板9相配合的驱动组件,滑板9的顶部固定连接有两个第二支撑板10,两个第二支撑板10相靠近的一侧均设有夹板11,夹板11与第二支撑板10通过若干弹簧33连接;
调节组件包括开设于第一支撑板2一侧的第一螺纹孔12,第一螺纹孔12 内设有第一丝杆13,第一支撑板2远离芯片测试探针4的一侧设有旋转块17,第一丝杆13的一端与旋转块17固定连接,第一丝杆13的另一端与芯片测试探针4通过第一轴承16连接,顶板3的底部开设有第一滑槽14,第一滑槽 14内设有第一滑块15,第一滑块15的底部与芯片测试探针4的顶部固定连接,通过转动第一丝杆13,通过第一丝杆13和第一螺纹孔12的配合,改变第一丝杆13的位置,进而通过第一丝杆13驱动芯片测试探针4移动,芯片测试探针4移动时,第一滑块15在第一滑槽14内滑动,通过第一滑槽14和第一滑块15的配合,使得芯片测试探针4平稳的移动,进而左右调节芯片测试探针4的位置,芯片测试探针4可以探到芯片上不同位置的测试点,通过设置第一支撑板2、顶板3、芯片测试探针4和调节组件的配合作用,可以左右调节芯片测试探针4的位置;第一滑槽14和第一滑块15的横截面均为T 形结构,旋转块17的底部固定连接有第一握把18,通过第一握把18便于驱动旋转块17转动;升降组件包括开设于底板1顶部的第二螺纹孔19,第二螺纹孔19内设有第二丝杆20,第二丝杆20的顶部与测试板7的底部通过第二轴承21连接,第二丝杆20的底部与位于底板1下方的第一转盘22固定连接,底板1的顶部固定连接有两个套管24,套管24内设有限位杆25,限位杆25 的顶端延伸至套管24的外部,且限位杆25的顶部与测试板7的底部固定连接,转动第一转盘22,通过第二丝杆20和第二螺纹孔19的配合,改变第二丝杆20的高度,同时限位杆25可以在套管24内滑动,通过套管24和限位杆25的配合,使得测试板7可以平稳的升降,进而第二丝杆20转动时,第二丝杆20驱动测试板7上下移动,改变测试板7的高度,从而调节待测试的芯片的高度,便于对芯片进行测试,通过设置底板1、第一支撑板2和升降组件的配合作用,可以自由调节测试板7的高度,进而便于调节位于两个夹板 11之间芯片的高度,便于对芯片进行测试;第一转盘22的一侧固定连接有第二握把23,便于驱动第一转盘22转动;驱动组件包括开设于滑板9一侧的第三螺纹孔26,第三螺纹孔26内设有第三丝杆27,第三丝杆27的一端与凹槽 8的一侧内壁通过第三轴承28连接,第三丝杆27的另一端与位于测试板7一侧的第二转盘29固定连接;凹槽8的底部内壁开设有第二滑槽31,第二滑槽 31内设有第二滑块32,第二滑块32的顶部与滑板9的底部固定连接,第二转盘29远离测试板7的一侧固定连接有手柄30,通过转动第二转盘29,进而第三丝杆27转动,且滑板9移动时,第二滑块32在第二滑槽31内移动,通过第二滑块32和第二滑槽31的配合,使得滑板9平稳的移动,进而第三丝杆27转动时,滑板9在凹槽8内移动,可以前后调节滑板9的位置,进而使得芯片可以前后位置调节,通过设置测试板7、凹槽8、滑板9、第二支撑板10、夹板11、弹簧33和驱动组件的配合作用,可以前后调节滑板9的位置,当两个夹板11之间固定芯片时,芯片可以前后位置调节,进而芯片测试探针4可以探到芯片上不同位置的测试点,提高了测试范围,操作简单,便于实际使用;滑板9的顶部开设有第三滑槽34,第三滑槽34内设有第三滑块 35,第三滑块35的顶部与夹板11的底部固定连接,第三滑槽34和第三滑块 35的横截面均为T形结构,通过设置第三滑槽34和第三滑块35的配合作用,使得夹板11平稳的移动,避免夹板11倾斜晃动,便于对芯片的夹持固定;两个夹板11相靠近的一侧均固定连接有防滑垫36,通过设置的防滑垫36,减少芯片相对夹板11滑动的可能,进一步的使得芯片较为稳定的固定在两个夹板11之间。
需要说明的是,本实用为一种带限位结构的芯片测试装置,在使用时,驱动两个夹板11相远离运动,弹簧33处于压缩状态,进而把芯片放置于两个夹板11之间,通过弹簧33的弹力,对芯片进行固定,夹板11移动时,第三滑块35在第三滑槽34内移动,通过设置第三滑槽34和第三滑块35的配合作用,使得夹板11平稳的移动,避免夹板11倾斜晃动,便于对芯片的夹持固定,通过设置的防滑垫36,减少芯片相对夹板11滑动的可能,进一步的使得芯片较为稳定的固定在两个夹板11之间,通过转动第二转盘29,进而第三丝杆27转动,且滑板9移动时,第二滑块32在第二滑槽31内移动,通过第二滑块32和第二滑槽31的配合,使得滑板9平稳的移动,进而第三丝杆 27转动时,滑板9在凹槽8内移动,可以前后调节滑板9的位置,进而使得芯片可以前后位置调节,通过转动第一丝杆13,通过第一丝杆13和第一螺纹孔12的配合,改变第一丝杆13的位置,进而通过第一丝杆13驱动芯片测试探针4移动,芯片测试探针4移动时,第一滑块15在第一滑槽14内滑动,通过第一滑槽14和第一滑块15的配合,使得芯片测试探针4平稳的移动,进而左右调节芯片测试探针4的位置,芯片测试探针4可以探到芯片上不同位置的测试点,芯片测试探针4可对待测试的芯片进行检测,芯片测试探针4为现有技术,芯片测试探针4可探到待测试的芯片中事先确定的测试点,芯片测试探针4上可以通过直流电流和交流信号,可以对待测试的芯片进行各种电气参数测试,提高了测试范围,操作简单,便于实际使用,转动第一转盘22,通过第二丝杆20和第二螺纹孔19的配合,改变第二丝杆20的高度,同时限位杆25可以在套管24内滑动,通过套管24和限位杆25的配合,使得测试板7可以平稳的升降,进而第二丝杆20转动时,第二丝杆20驱动测试板7上下移动,改变测试板7的高度,从而调节待测试的芯片的高度,便于对芯片进行测试。
以上显示和描述了本实用的基本原理和主要特征和本实用的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用的原理,在不脱离本实用精神和范围的前提下,本实用还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用范围内。本实用要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (9)
1.一种带限位结构的芯片测试装置,其特征在于:包括底板(1),所述底板(1)的顶部设有第一支撑板(2),所述第一支撑板(2)的底部与底板(1)的顶部固定连接,所述底板(1)的上方设有顶板(3),所述顶板(3)的一侧与第一支撑板(2)的一侧固定连接,所述顶板(3)的底部设有芯片测试探针(4),所述芯片测试探针(4)与第一支撑板(2)之间设有调节组件,所述底板(1)的底部固定连接有若干支撑腿(5),所述支撑腿(5)的底部固定连接有固定板(6),所述底板(1)和芯片测试探针(4)之间设有测试板(7),所述测试板(7)与底板(1)之间设有升降组件,所述测试板(7)上设有限位机构,所述限位机构包括开设于测试板(7)顶部的凹槽(8),所述凹槽(8)内设有滑板(9),所述凹槽(8)内设有与滑板(9)相配合的驱动组件,所述滑板(9)的顶部固定连接有两个第二支撑板(10),两个所述第二支撑板(10)相靠近的一侧均设有夹板(11),所述夹板(11)与第二支撑板(10)通过若干弹簧(33)连接。
2.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置,其特征在于:所述调节组件包括开设于第一支撑板(2)一侧的第一螺纹孔(12),所述第一螺纹孔(12)内设有第一丝杆(13),所述第一支撑板(2)远离芯片测试探针(4)的一侧设有旋转块(17),所述第一丝杆(13)的一端与旋转块(17)固定连接,所述第一丝杆(13)的另一端与芯片测试探针(4)通过第一轴承(16)连接,所述顶板(3)的底部开设有第一滑槽(14),所述第一滑槽(14)内设有第一滑块(15),所述第一滑块(15)的底部与芯片测试探针(4)的顶部固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置,其特征在于:所述第一滑槽(14)和第一滑块(15)的横截面均为T形结构,所述旋转块(17)的底部固定连接有第一握把(18)。
4.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置,其特征在于:所述升降组件包括开设于底板(1)顶部的第二螺纹孔(19),所述第二螺纹孔(19)内设有第二丝杆(20),所述第二丝杆(20)的顶部与测试板(7)的底部通过第二轴承(21)连接,所述第二丝杆(20)的底部与位于底板(1)下方的第一转盘(22)固定连接,所述底板(1)的顶部固定连接有两个套管(24),所述套管(24)内设有限位杆(25),所述限位杆(25)的顶端延伸至套管(24)的外部,且所述限位杆(25)的顶部与测试板(7)的底部固定连接。
5.根据权利要求4所述的一种带限位结构的芯片测试装置,其特征在于:所述第一转盘(22)的一侧固定连接有第二握把(23)。
6.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置,其特征在于:所述驱动组件包括开设于滑板(9)一侧的第三螺纹孔(26),所述第三螺纹孔(26)内设有第三丝杆(27),所述第三丝杆(27)的一端与凹槽(8)的一侧内壁通过第三轴承(28)连接,所述第三丝杆(27)的另一端与位于测试板(7)一侧的第二转盘(29)固定连接。
7.根据权利要求6所述的一种带限位结构的芯片测试装置,其特征在于:所述凹槽(8)的底部内壁开设有第二滑槽(31),所述第二滑槽(31)内设有第二滑块(32),所述第二滑块(32)的顶部与滑板(9)的底部固定连接,所述第二转盘(29)远离测试板(7)的一侧固定连接有手柄(30)。
8.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置,其特征在于:所述滑板(9)的顶部开设有第三滑槽(34),所述第三滑槽(34)内设有第三滑块(35),所述第三滑块(35)的顶部与夹板(11)的底部固定连接,所述第三滑槽(34)和第三滑块(35)的横截面均为T形结构。
9.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置,其特征在于:两个所述夹板(11)相靠近的一侧均固定连接有防滑垫(36)。
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