CN110346375B - 电容检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种电容检测装置,包括:机架,机架上设置有多个工位;转盘,多个工位绕转盘的中心间隔设置,转盘上设置有用于支撑电容的支撑座,以使电容在转盘的带动下依次经过各个工位;转盘具有转盘初始位置和相对于转盘初始位置抬升预定高度的旋转位置,以在转盘移动至旋转位置时使转盘旋转,以在转盘完成旋转后移动至转盘初始位置;多个旋转机构,多个旋转机构与多个检测工位一一对应地设置,各个旋转机构设置在相应的检测工位上;旋转机构设置在转盘的下方,以在转盘移动至转盘初始位置时,使旋转机构通过支撑座的通孔和转盘的通孔与电容连接,以带动电容旋转。解决了现有技术中的电容检测装置检测效率较低的问题。

Description

电容检测装置
技术领域
本发明涉及电容技术领域,具体而言,涉及一种电容检测装置。
背景技术
随着工业自动化的不断发展,电容生产的自动化水平越来越高,正在逐步实现无人车间化。而电容质量检测为电容生产的重要环节影响着产品的质量和产品的生产效率。
然而,现有技术中的电容侧外观检测系统存在检测效率不高,且无法把上述缺陷整合到一个系统内实现的问题。此外,电容侧外观检测系统只能检测电容侧部的缺陷,无法检测顶端和上下边缘处的缺陷,也存在着检测效率不高的问题。并且,电子器件外观检测系统不是独立设备,需要依托于生产设备的线体,灵活性差,而且不具备检测合格产品的打包功能,存在产品下料搬运等带来的二次伤害问题。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种电容检测装置,以解决现有技术中的电容检测装置检测效率较低的问题。
为了实现上述目的,本发明提供了一种电容检测装置,电容检测装置包括:机架,机架上设置有多个工位,多个工位包括上料工位、下料工位和多个检测工位;转盘,设置在机架上且相对机架可旋转地设置,多个工位绕转盘的中心间隔设置,转盘上设置有用于支撑电容的支撑座,以使电容在转盘的带动下依次经过各个工位;其中,支撑座和转盘上均开设有通孔;转盘沿竖直方向可移动地设置,转盘具有转盘初始位置和相对于转盘初始位置抬升预定高度的旋转位置,以在转盘移动至旋转位置时使转盘旋转,以在转盘完成旋转后移动至转盘初始位置;多个旋转机构,多个旋转机构与多个检测工位一一对应地设置,各个旋转机构设置在相应的检测工位上;旋转机构设置在转盘的下方,以在转盘移动至转盘初始位置时,使旋转机构通过支撑座的通孔和转盘的通孔与电容连接,以带动电容旋转。
进一步地,多个检测工位包括第一检测工位,电容检测装置还包括第一检测组件,第一检测组件设置在第一检测工位上,第一检测组件包括:第一支撑架,设置在机架上;第一相机部件,与第一支撑架连接,第一相机部件设置在电容的上方,第一相机部件的拍摄端朝向电容的顶端设置,以对电容拍照。
进一步地,第一检测组件还包括:第一光源,与第一支撑架连接,第一光源设置在第一相机部件的下方且位于电容的上方;其中,第一光源为环形光源,第一相机部件透过环形光源的中心孔对电容进行拍照。
进一步地,第一检测组件还包括:第一移动部,第一相机部件和第一光源均设置在第一移动部上,第一移动部沿竖直方向位置可调节地设置在第一支撑架上,以带动第一相机部件和第一光源移动。
进一步地,多个检测工位包括第二检测工位,电容检测装置还包括第二检测组件,第二检测组件设置在第二检测工位上,第二检测组件包括:第二支撑架,设置在机架上;第二相机部件,与第二支撑架连接,第二相机部件设置在电容远离转盘的中心的一侧,第二相机部件的拍摄端朝向电容的侧壁设置,以在电容转动至第一预定位置和第二预定位置时,使第二相机部件对电容进行拍照;其中,第二相机部件相对第二支撑架沿水平方向位置可调节地设置。
进一步地,多个检测工位包括第三检测工位,电容检测装置还包括第三检测组件,第三检测组件设置在第三检测工位上,第三检测组件包括:第三支撑架,设置在机架上;第三相机部件,与第三支撑架连接,第三相机部件设置在电容远离转盘的中心的一侧,第三相机部件的拍摄端朝向电容的侧壁设置,以在电容转动至第三预定位置和第四预定位置时,使第三相机部件对电容进行拍照;其中,第三相机部件相对第三支撑架沿水平方向位置可调节地设置。
进一步地,多个检测工位包括第四检测工位,电容检测装置还包括第四检测组件,第四检测组件设置在第四检测工位上,第四检测组件包括:第一支撑部,设置在机架上;第四相机部件,与第一支撑部连接,第四相机部件设置在电容远离转盘的中心的一侧,第四相机部件的拍摄端朝向电容的侧壁设置,以在电容转动一圈的过程中,使第四相机部件对电容进行拍照;其中,第四相机部件相对第一支撑部沿竖直方向和水平方向均可移动地设置。
进一步地,第四检测组件还包括:第二支撑部,设置在机架上且位于第一支撑部的一侧;第四光源,与第二支撑部连接,第四光源设置在电容远离转盘的中心的一侧,第四光源朝向电容设置;其中,第四光源相对第二支撑部可旋转地设置。
进一步地,多个检测工位包括第五检测工位,电容检测装置还包括第五检测组件,第五检测组件设置在第五检测工位上,第五检测组件包括:第五支撑架,设置在机架上;第五相机部件,与第五支撑架连接,第五相机部件设置在电容靠近转盘的中心的一侧,第五相机部件的拍摄端朝向电容的侧壁设置,以在电容旋转第一预定角度的过程中,使第五相机部件对电容进行拍照;其中,第五相机部件相对第五支撑架沿水平方向位置可调节地设置。
进一步地,电容检测装置还包括上料输送线和上料机构,上料机构设置在机架上且位于上料工位,上料机构包括:上料架体;上料传动组件,设置在上料架体上;上料夹取部,上料传动组件与上料夹取部传动连接,以带动上料夹取部沿水平方向和竖直方向可移动地设置,以使上料夹取部将上料输送线上的电容移动至转盘的上料工位处的支撑座上。
进一步地,电容检测装置还包括:中转台,设置在转盘的一侧且位于下料工位;翻转机构,设置在转盘的一侧且位于下料工位,翻转机构包括翻转夹取部,翻转夹取部用于夹取电容并带动电容翻转,以在电容移动至下料工位时,翻转夹取部夹取电容后带动电容翻转第二预定角度,并将翻转后的电容放置在中转台上。
进一步地,电容检测装置还包括下料输送线和下料机构,下料机构与下料输送线连接且位于下料输送线的上方,下料机构包括:下料架体,与下料输送线连接;下料传动组件,设置在下料架体上;下料吸盘,下料传动组件与下料吸盘传动连接,以带动下料吸盘沿水平方向和竖直方向可移动地设置,以使下料吸盘将中转台上的电容输送至下料输送线上的卡盘上。
进一步地,多个工位还包括不合格品下料工位,电容检测装置还包括不合格品下料输送线和不合格品下料机构,不合格品下料机构包括:不合格品下料架体;不合格品传动组件,设置在不合格品下料架体上;不合格品夹取部,不合格品传动组件与不合格品夹取部传动连接,以带动不合格品夹取部沿水平方向和竖直方向可移动地设置,以使不合格品夹取部将不合格品下料工位上的电容移动至不合格品下料输送线。
进一步地,旋转机构包括:驱动装置;安装部件,安装部件具有相对设置的第一端和第二端,驱动装置与安装部件的第二端驱动连接,以带动安装部件旋转;安装部件的第一端开设有安装槽;真空吸盘,与安装部件连接,以在安装部件的带动下旋转;真空吸盘的至少部分设置在安装槽内,真空吸盘用于吸附电容,以使旋转件抵设在安装部件的第一端。
进一步地,真空吸盘包括吸盘主体和与吸盘主体连接的吸盘连接部,安装槽的槽底设置有安装孔,吸盘连接部插设在安装孔内且与安装部件固定连接,吸盘主体设置在安装槽内。
进一步地,真空吸盘具有第一通道,旋转机构还包括:旋转定位杆,旋转定位杆的一端与驱动装置的驱动杆连接,旋转定位杆的另一端与真空吸盘连接;旋转定位杆具有第二通道,第一通道和第二通道相连通,以通过第二通道和第一通道在真空吸盘处形成负压。
进一步地,旋转定位杆上设置有第一凹槽,安装部件的至少部分设置在第一凹槽内;第一凹槽的槽底设置有第二凹槽,第二凹槽与第二通道相连通,吸盘连接部的部分设置在第二凹槽内,以使吸盘连接部远离吸盘主体的一端插设在第二通道内。
进一步地,第二通道的内壁上设置有内螺纹,吸盘连接部的外壁上设置有与内螺纹相适配的外螺纹,以使真空吸盘通过内螺纹和外螺纹与旋转定位杆固定连接。
进一步地,驱动装置包括驱动装置主体和驱动杆,旋转机构还包括:定位块,与驱动装置主体固定连接,定位块具有定位通孔,旋转定位杆插设在定位通孔内,旋转定位杆相对定位块可转动地设置。
进一步地,旋转定位杆上设置有第三通道,第三通道由旋转定位杆的外表面延伸至第二通道;定位通孔的内壁上设置有第三凹槽,第三凹槽与第三通道相连通;定位块上设置有第四通道,第四通道用于与真空发生器连接,第四通道由定位块的外表面延伸至第三凹槽,以使第四通道通过第三凹槽和第三通道与第二通道相连通。
本发明的电容检测装置通过设置转盘可以带动电容在各个工位之间转动,以进行上料、下料和检测,并通过设置多个旋转机构,可以带动各个检测工位的电容进行自转,以在电容的旋转过程中对电容进行更全面的检测,同时也提高了电容检测的节拍,提高了电容检测的灵活性,检测效率高。
附图说明
构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1示出了根据本发明的电容检测装置的实施例的结构示意图;
图2示出了根据本发明的电容检测装置的实施例的俯视图;
图3示出了根据本发明的电容检测装置的转盘的结构示意图;
图4示出了根据本发明的电容检测装置的部分结构的结构示意图;
图5示出了根据本发明的电容检测装置的上料机构的结构示意图;
图6示出了根据本发明的电容检测装置的上料机构的侧视图;
图7示出了根据本发明的电容检测装置的第一检测组件的结构示意图;
图8示出了根据本发明的电容检测装置的第二检测组件和第三检测组件的一个角度的结构示意图;
图9示出了根据本发明的电容检测装置的第二检测组件和第三检测组件的另一个角度的结构示意图;
图10示出了根据本发明的电容检测装置的第二检测组件和第三检测组件的侧视图;
图11示出了根据本发明的电容检测装置的第四检测组件的结构示意图;
图12示出了根据本发明的电容检测装置的第五检测组件的结构示意图;
图13示出了根据本发明的电容检测装置的翻转机构的结构示意图;
图14示出了根据本发明的电容检测装置的下料机构的结构示意图;
图15示出了根据本发明的电容检测装置的下料机构的侧视图;
图16示出了根据本发明的电容检测装置的下料输送线的结构示意图;
图17示出了根据本发明的电容检测装置的下料输送线的局部放大图;
图18示出了根据本发明的电容检测装置的下料输送线的正视图;
图19示出了根据本发明的电容检测装置的不合格品下料机构的结构示意图;
图20示出了根据本发明的电容检测装置的不合格品下料机构的侧视图;
图21示出了根据本发明的电容检测装置的旋转机构的实施例的结构示意图;
图22示出了图21中的旋转机构的实施例的正视图;
图23示出了图22中的旋转机构的A-A截面处的剖视图;
图24示出了图21中的旋转机构的实施例的侧视图;
图25示出了图24中的旋转机构的B-B截面处的剖视图;
图26示出了根据本发明的电容检测装置的旋转机构的一个实施例的剖视图。
其中,上述附图包括以下附图标记:
70、机架;71、转盘;711、支撑座;72、电容;721、电容主体;722、端子;73、第一检测组件;731、第一支撑架;732、第一相机部件;733、第一光源;734、第一移动部;74、第二检测组件;741、第二支撑架;742、第二相机部件;743、第二光源;75、第三检测组件;751、第三支撑架;752、第三相机部件;753、第三光源;76、第四检测组件;761、第一支撑部;762、第四相机部件;763、第二支撑部;764、第四光源;77、第五检测组件;771、第五支撑架;772、第五相机部件;773、第五光源;78、上料输送线;79、上料机构;791、上料架体;792、上料夹取部;793、上料传动组件;80、中转台;81、翻转机构;811、翻转夹取部;82、下料机构;821、下料架体;822、下料吸盘;823、下料传动组件;83、下料输送线;84、卡盘;85、不合格品下料输送线;86、不合格品下料机构;861、不合格品下料架体;862、不合格品夹取部;863、不合格品传动组件;87、分割器;88、卡盘接收部;89、卡盘止挡部;
1、旋转机构;10、驱动装置;11、驱动杆;12、驱动装置主体;20、安装部件;21、安装槽;211、安装孔;30、真空吸盘;31、吸盘主体;32、吸盘连接部;33、第一通道;40、旋转定位杆;41、第二通道;42、第一凹槽;421、第一环形槽;422、第一密封圈;43、第二凹槽;44、第三通道;50、定位块;51、定位通孔;511、第三凹槽;512、第四凹槽;513、第二密封圈;514、第五凹槽;515、第三密封圈;52、第四通道;60、安装板。
具体实施方式
需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。
应该指出,以下详细说明都是例示性的,旨在对本申请提供进一步的说明。除非另有指明,本文使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。
需要注意的是,这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式,而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的,除非上下文另外明确指出,否则单数形式也意图包括复数形式,此外,还应当理解的是,当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时,其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
本发明提供了一种电容检测装置,请参考图1至图26,包括:机架70,机架70上设置有多个工位,多个工位包括上料工位、下料工位和多个检测工位;转盘71,设置在机架70上且相对机架70可旋转地设置,多个工位绕转盘71的中心间隔设置,转盘71上设置有用于支撑电容72的支撑座711,以使电容72在转盘71的带动下依次经过各个工位;其中,支撑座711和转盘71上均开设有通孔;转盘71沿竖直方向可移动地设置,转盘71具有转盘初始位置和相对于转盘初始位置抬升预定高度的旋转位置,以在转盘71移动至旋转位置时使转盘71旋转,以在转盘71完成旋转后移动至转盘初始位置;多个旋转机构1,多个旋转机构1与多个检测工位一一对应地设置,各个旋转机构1设置在相应的检测工位上;旋转机构1设置在转盘71的下方,以在转盘71移动至转盘初始位置时,使旋转机构1通过支撑座711的通孔和转盘71的通孔与电容72连接,以带动电容72旋转。
本发明的电容检测装置通过设置转盘71可以带动电容在各个工位之间转动,以进行上料、下料和检测,并通过设置多个旋转机构1,可以带动各个检测工位的电容进行自转,以在电容的旋转过程中对电容进行更全面的检测,同时也提高了电容检测的节拍,提高了电容检测的灵活性,检测效率高。
其中,电容72包括电容主体721和设置在电容主体721上的端子722。
在本实施例中,多个检测工位包括第一检测工位,电容检测装置还包括第一检测组件73,第一检测组件73设置在第一检测工位上,第一检测组件73包括:第一支撑架731,设置在机架70上;第一相机部件732,与第一支撑架731连接,第一相机部件732设置在电容72的上方,第一相机部件732的拍摄端朝向电容72的顶端设置,以对电容72拍照。
为了保证电容的拍照亮度,第一检测组件73还包括第一光源733,与第一支撑架731连接,第一光源733设置在第一相机部件732的下方且位于电容72的上方;其中,第一光源733为环形光源,第一相机部件732透过环形光源的中心孔对电容72进行拍照。
为了保证对各个型号的电容进行拍照,即满足不同高度的电容的检测,第一检测组件73还包括第一移动部734,第一相机部件732和第一光源733均设置在第一移动部734上,第一移动部734沿竖直方向位置可调节地设置在第一支撑架731上,以带动第一相机部件732和第一光源733移动。
在本实施例中,多个检测工位包括第二检测工位,电容检测装置还包括第二检测组件74,第二检测组件74设置在第二检测工位上,第二检测组件74包括:第二支撑架741,设置在机架70上;第二相机部件742,与第二支撑架741连接,第二相机部件742设置在电容72远离转盘71的中心的一侧,第二相机部件742的拍摄端朝向电容72的侧壁设置,以在电容72转动至第一预定位置和第二预定位置时,使第二相机部件742对电容72进行拍照。
其中,第二相机部件742相对第二支撑架741沿水平方向位置可调节地设置。这样的设置可以满足不同外径的电容检测。
具体实施时,第二检测组件74包括第二光源743,第二光源743与第二支撑架741连接,第二光源743位于第二相机部件742靠近转盘的中心的一侧,第二光源743为环形光源,第二相机部件742透过环形光源的中心孔对电容72进行拍照。
在本实施例中,多个检测工位包括第三检测工位,电容检测装置还包括第三检测组件75,第三检测组件75设置在第三检测工位上,第三检测组件75包括:第三支撑架751,设置在机架70上;第三相机部件752,与第三支撑架751连接,第三相机部件752设置在电容72远离转盘71的中心的一侧,第三相机部件752的拍摄端朝向电容72的侧壁设置,以在电容72转动至第三预定位置和第四预定位置时,使第三相机部件752对电容72进行拍照。
其中,第三相机部件752相对第三支撑架751沿水平方向位置可调节地设置。这样的设置可以满足不同外径的电容检测。
具体实施时,第三检测组件75包括第三光源753,第三光源753与第三支撑架751连接,第三光源753位于第三相机部件752靠近转盘的中心的一侧,第三光源753为环形光源,第三相机部件752透过环形光源的中心孔对电容72进行拍照。
在本实施例中,多个检测工位包括第四检测工位,电容检测装置还包括第四检测组件76,第四检测组件76设置在第四检测工位上,第四检测组件76包括:第一支撑部761,设置在机架70上;第四相机部件762,与第一支撑部761连接,第四相机部件762设置在电容72远离转盘71的中心的一侧,第四相机部件762的拍摄端朝向电容72的侧壁设置,以在电容72转动一圈的过程中,使第四相机部件762对电容72进行拍照。其中,第四相机部件762相对第一支撑部761沿竖直方向和水平方向均可移动地设置。这样的设置可以满足不同外径的电容检测。
优选地,第四相机部件762为线扫相机。
在本实施例中,第四检测组件76还包括:第二支撑部763,设置在机架70上且位于第一支撑部761的一侧;第四光源764,与第二支撑部763连接,第四光源764设置在电容72远离转盘71的中心的一侧,第四光源764朝向电容72设置;其中,第四光源764相对第二支撑部763可旋转地设置。这样的设置可以满足不同外径的电容检测。
在本实施例中,多个检测工位包括第五检测工位,电容检测装置还包括第五检测组件77,第五检测组件77设置在第五检测工位上,第五检测组件77包括:第五支撑架771,设置在机架70上;第五相机部件772,与第五支撑架771连接,第五相机部件772设置在电容72靠近转盘71的中心的一侧,第五相机部件772的拍摄端朝向电容72的侧壁设置,以在电容72旋转第一预定角度的过程中,使第五相机部件772对电容72进行拍照;其中,第五相机部件772相对第五支撑架771沿水平方向位置可调节地设置。这样的设置可以满足不同外径的电容检测。
具体实施时,第五检测组件77包括第五光源773,第五光源773设置在第五支撑架771上,第五光源773和第五相机部件772相对设置在位于第五检测工位上的电容的两侧。
优选地,第五支撑架771在机架上位置上可移动地设置。这样的设置可以满足不同外径的电容检测。
在本实施例中,电容检测装置还包括上料输送线78和上料机构79,上料机构79设置在机架70上且位于上料工位,上料机构79包括:上料架体791;上料传动组件793,设置在上料架体791上;上料夹取部792,上料传动组件793与上料夹取部792传动连接,以带动上料夹取部792沿水平方向和竖直方向可移动地设置,以使上料夹取部792将上料输送线78上的电容72移动至转盘71的上料工位处的支撑座711上。
具体实施时,上料传动组件793包括丝杠传动组件和气动滑台,丝杠传动组件带动气动滑台沿水平方向移动,气动滑台带动上料夹取部792沿竖直方向移动。上料夹取部792包括气缸和夹爪,气缸带动夹爪可开合地设置。
为了实现电容的翻转,电容检测装置还包括:中转台80,设置在转盘71的一侧且位于下料工位;翻转机构81,设置在转盘71的一侧且位于下料工位,翻转机构81包括翻转夹取部811,翻转夹取部811用于夹取电容72并带动电容72翻转,以在电容72移动至下料工位时,翻转夹取部811夹取电容72后带动电容72翻转第二预定角度,并将翻转后的电容72放置在中转台80上。其中,第二预定角度为180度。
具体实施时,翻转机构81包括气动滑台、旋转气缸和夹爪,气动滑台带动旋转气缸和夹爪上下移动,旋转气缸带动夹爪旋转抓取产品并放置于中转台80。
在本实施例中,电容检测装置还包括下料输送线83和下料机构82,下料机构82与下料输送线83连接且位于下料输送线83的上方,下料机构82包括:下料架体821,与下料输送线83连接;下料传动组件823,设置在下料架体821上;下料吸盘822,下料传动组件823与下料吸盘822传动连接,以带动下料吸盘822沿水平方向和竖直方向可移动地设置,以使下料吸盘822将中转台80上的电容72输送至下料输送线83上的卡盘84上。这样的设置保证良品下料时准确进入卡盘84内。
具体实施时,下料传动组件823包括丝杠螺母传动组件和气动滑台,丝杠螺母传动组件带动气动滑台和下料吸盘822沿水平方向移动,气动滑台带动下料吸盘822沿竖直方向移动。其中,丝杠由电机驱动旋转,螺母与气动滑台连接。
具体实施时,下料机构82还包括导轨和滑块,导轨设置在下料架体上,滑块与气动滑台连接,滑块卡设在导轨上并沿导轨移动。
优选地,下料吸盘822为真空吸盘。
在本实施例中,电容检测装置还包括卡盘运送机构,卡盘运送机构包括卡盘止挡部89和卡盘接收部88,卡盘接收部88沿下料输送线83的延伸方向和竖直方向均可移动地设置,卡盘接收部用于承载卡盘84并带动卡盘84移动;卡盘止挡部89上堆叠放置有多个卡盘84,多个卡盘84位于下料输送线83的上方,卡盘止挡部89沿水平方向可移动地设置,卡盘止挡部89具有止挡位置和避让位置,以在一个卡盘装满电容由下料输送线输送走后,卡盘接收部88沿下料输送线83的延伸放向移动至多个空载的卡盘84的下方,此时卡盘止挡部89由止挡位置移动至避让位置,位于最下方的空载的卡盘84落在卡盘接收部88上后卡盘止挡部89移动至止挡位置,以止挡其余的空载的卡盘84;然后,卡盘接收部88带动其上的一个空载的卡盘移动至接料位置;并且,卡盘接收部88由气缸带动沿竖直方向移动,以使卡盘接收部88带动空载的卡盘移动至预定结接料高度。这样的设置使卡盘精准定位。
具体实施时,下料输送线设置在下料输送线架体上,卡盘接收部88和卡盘止挡部89均与下料输送线架体连接。
具体实施时,卡盘止挡部由气缸驱动实现水平方向的移动。
在本实施例中,多个工位还包括不合格品下料工位,电容检测装置还包括不合格品下料输送线85和不合格品下料机构86,不合格品下料机构86包括:不合格品下料架体861;不合格品传动组件863,设置在不合格品下料架体861上;不合格品夹取部862,不合格品传动组件863与不合格品夹取部862传动连接,以带动不合格品夹取部862沿水平方向和竖直方向可移动地设置,以使不合格品夹取部862将不合格品下料工位上的电容72移动至不合格品下料输送线85。其中,不合格品下料机构86与上料机构79的结构相同。
在本实施例中,旋转机构1包括:驱动装置10;安装部件20,安装部件20具有相对设置的第一端和第二端,驱动装置10与安装部件20的第二端驱动连接,以带动安装部件20旋转;安装部件20的第一端开设有安装槽21;真空吸盘30,与安装部件20连接,以在安装部件20的带动下旋转;真空吸盘30的至少部分设置在安装槽21内,真空吸盘30用于吸附电容,以使旋转件抵设在安装部件20的第一端。
具体实施时,旋转机构1通过设置安装部件20和真空吸盘30,可以吸附电容,使电容跟随安装部件20和真空吸盘30旋转,实现了电容的独自转动,进而实现对电容的全面检测;且通过真空吸盘30吸附电容稳定性高。
优选地,驱动装置10为步进电机。
在本实施例中,真空吸盘30包括吸盘主体31和与吸盘主体31连接的吸盘连接部32,安装槽21的槽底设置有安装孔211,吸盘连接部32插设在安装孔211内且与安装部件20固定连接,吸盘主体31设置在安装槽21内。这样的设置便于真空吸盘30的固定。
在本实施例中,真空吸盘30具有第一通道33,旋转机构1还包括旋转定位杆40,旋转定位杆40的一端与驱动装置10的驱动杆11连接,旋转定位杆40的另一端与真空吸盘30连接;旋转定位杆40具有第二通道41,第一通道33和第二通道41相连通,以通过第二通道41和第一通道33在真空吸盘30处形成负压。
为了便于定位安装部件20,旋转定位杆40上设置有第一凹槽42,安装部件20的至少部分设置在第一凹槽42内。
为了实现吸盘连接部32与旋转定位杆40的连接,第一凹槽42的槽底设置有第二凹槽43,第二凹槽43与第二通道41相连通,吸盘连接部32的部分设置在第二凹槽43内,以使吸盘连接部32远离吸盘主体31的一端插设在第二通道41内。
具体实施时,第二通道41的内壁上设置有内螺纹,吸盘连接部32的外壁上设置有与内螺纹相适配的外螺纹,以使真空吸盘30通过内螺纹和外螺纹与旋转定位杆40固定连接。这样的设置便于真空吸盘30的安装与拆卸。
在本实施例中,安装部件20的第二端的端面与第一凹槽42的槽底相贴合,第一凹槽42的槽底设置有第一环形槽421,第一环形槽421内设置有第一密封圈422。这样的设置起到了密封真空吸盘30的吸气通道的作用,保证真空吸盘30的吸附效果。
在本实施例中,驱动装置10包括驱动装置主体12和驱动杆11,旋转机构1还包括定位块50,与驱动装置主体12固定连接,定位块50具有定位通孔51,旋转定位杆40插设在定位通孔51内,旋转定位杆40相对定位块50可转动地设置。这样的设置起到了对旋转定位杆40的限位作用,使得旋转定位杆40的转动更稳定,进而使得电容的转动更稳定。这样的设置避免电容旋转出现打滑,跑偏,定位不准的现象,避免误检,提高检测合格率,满足了生产要求。
为了便于定位块50的安装,旋转机构1还包括安装板60,设置在驱动装置主体12上,驱动杆11伸出安装板60设置,定位块50与安装板60固定连接。
具体实施时,旋转定位杆40上设置有第三通道44,第三通道44由旋转定位杆40的外表面延伸至第二通道41;定位通孔51的内壁上设置有第三凹槽511,第三凹槽511与第三通道44相连通;定位块50上设置有第四通道52,第四通道52用于与真空发生器连接,第四通道52由定位块50的外表面延伸至第三凹槽511,以使第四通道52通过第三凹槽511和第三通道44与第二通道41相连通。这样的设置保证了旋转过程中连接第四通道52和真空发生器的气管不出现打结的情况。
具体实施时,第三凹槽511绕定位通孔51的周向设置,第三凹槽511为环形凹槽;第三通道44为多个,多个第三通道44绕第二通道41的周向间隔设置,各个第三通道44的一端与第三凹槽511连通,各个第三通道44的另一端与第二通道41相连通。这样的设置保证了在真空吸盘30处快速形成负压,且吸附能力强。
在本实施例中,定位通孔51的内壁上设置有第四凹槽512,第四凹槽512和第三凹槽511沿旋转定位杆40的延伸方向间隔设置,第四凹槽512内设置有第二密封圈513。这样的设置起到了密封真空吸盘30的吸气通道的作用,保证真空吸盘30的吸附效果。
在本实施例中,定位通孔51的内壁上设置有第五凹槽514,第五凹槽514和第四凹槽512相对设置在第三凹槽511的两侧,第五凹槽514内设置有第三密封圈515。这样的设置起到了密封真空吸盘30的吸气通道的作用,保证真空吸盘30的吸附效果。
优选地,真空吸盘30的吸附端朝向远离驱动装置10的方向凸出于安装部件20的第一端设置。这样的设置便于吸附待吸附件。
该旋转机构1能实现电容的稳定旋转,定位精准,也可提高生产效率;当电容放置稳定后,能保证电容稳定不晃动,给设备自动检测大大提高生产效率。旋转机构自动定位,随转随停;大大提高了生产节拍;解决了人工带来的误检,漏检问题,为电容外观检测提供了必要条件。旋转机构不损伤电容,安全有效稳定性强;也保证了旋转过程中气管不出现打结的情况。
在本实施例中,转盘由分割器87带动转动和沿竖直方向移动。
该电容检测装置上料定位精准、稳定,各个工位通过分割器“公转”与旋转机构1共同带动电容转动。其中焊片电容的缺陷主要有:极性反、印字不良、破套管、划伤套管、套管箭头反向、露白、端子歪、端子打焦、夹扁、喷码不良等。旋转机构1带动电容自转,与检测工位衔接流畅,实现多个检测工位同时运动拍照,互不干扰,不同工位快准稳的切换。实现焊片电容的全方位的高效率检测。检测效率达24-30个/分钟。该电容检测装置是独立的检测设备,与产线无缝对接,灵活性强,检测完成后良品与不良品自动分类;合格品自动装盘,不良品剔除。规避了产品搬运造成的二次伤害风险。
其中,焊片电容为上述的电容。
该电容检测装置包括上料机构79,各个工位通过分割器的“公转”与旋转机构的“自转”配合,互不干扰,不同工位切换不会造成产品角度偏移,通过旋转机构使产品“自转”不会偏心。根据检测内容分多个检测工位同时进行检测,检测内容全面同时软件处理具有高效率,检测效率达24-30个/分钟,设备独立可与产线无缝对接,具备良品装盘功能。
该电容检测装置的运动控制部分动作流程介绍如下:
1、上料工位:采用皮带线(即上料输送线78)的方式与生产线对接,传感器检测产品到位信号,上料夹取部792下降抓取产品,然后旋转180°再下降,将产品放置于上料工位处的转盘的支撑座711。
2、检测部分:此部分分为分度盘的“公转”和产品(即电容,下述产品均为电容)的“自转”。以一个产品(即电容)在设备内的过程为例,动作流程控制如下:
产品从上料工位,转盘旋转到第一检测工位,上方第一相机部件732拍照,视觉定位完成后则给出旋转角度,控制产品旋转此角度,然后上方第一相机部件732再次拍照一张;第一检测工位检查端子歪和露白。
转盘旋转使产品到第二检测工位,控制产品旋转90°,第二相机部件742同步触发拍照两张(在0°和90°的时候分别触发拍照);第二检测工位检查端子歪和端子打焦等。
转盘旋转使产品到第三检测工位,控制产品旋转180°,第三相机部件752同步触发拍照两张(在90°和180°的时候分别触发拍照);第三检测工位检查端子歪和端子打焦等。
转盘旋转使产品到第四检测工位,控制产品自转旋转一圈,第四相机部件762同步拍照;第四检测工位检查极性反、印字不良、破套管、划伤套管、套管箭头反向、喷码不良等。
转盘旋转使产品到第五检测工位,控制产品自转旋转180°,第五相机部件772同步触发拍照120张(一次触发相机连续取图,图像两帧间隔1.5°),转盘旋转使产品到下料工位。
3、下料工位:设置有一个下料定位视觉。翻转机构81将产品从转盘上夹取到中转台,下方相机拍照,给出旋转角度,控制翻转机构81夹取产品然后矫正角度后装盘。
4、不合格品下料工位:设置有不合格品下料输送线85和不合格品下料机构86,不合格品下料输送线85具有储存不合格品的功能。不合格品分类,按工位和检测内容分为三类:顶端类(检测结果1);端子类(综合结果2);铝壳类(综合结果3)。根据最终结果分类剔除不合格品到三个通道,另外设置一个通道用于放置复检品(由于信号丢失、某部件故障等问题导致没有检测出此产品是否合格)。
从以上的描述中,可以看出,本发明上述的实施例实现了如下技术效果:
本发明的电容检测装置通过设置转盘71可以带动电容在各个工位之间转动,以进行上料、下料和检测,并通过设置多个旋转机构1,可以带动各个检测工位的电容进行自转,以在电容的旋转过程中对电容进行更全面的检测,同时也提高了电容检测的节拍,提高了电容检测的灵活性,检测效率高。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (18)

1.一种电容检测装置,其特征在于,所述电容检测装置包括:
机架(70),所述机架(70)上设置有多个工位,所述多个工位包括上料工位、下料工位和多个检测工位;
转盘(71),设置在所述机架(70)上且相对所述机架(70)可旋转地设置,多个所述工位绕所述转盘(71)的中心间隔设置,所述转盘(71)上设置有用于支撑电容(72)的支撑座(711),以使所述电容(72)在所述转盘(71)的带动下依次经过各个所述工位;
其中,所述支撑座(711)和所述转盘(71)上均开设有通孔;所述转盘(71)沿竖直方向可移动地设置,所述转盘(71)具有转盘初始位置和相对于所述转盘初始位置抬升预定高度的旋转位置,以在所述转盘(71)移动至所述旋转位置时使所述转盘(71)旋转,以在所述转盘(71)完成旋转后移动至所述转盘初始位置;
多个旋转机构(1),多个所述旋转机构(1)与多个所述检测工位一一对应地设置,各个所述旋转机构(1)设置在相应的所述检测工位上;所述旋转机构(1)设置在所述转盘(71)的下方,以在所述转盘(71)移动至所述转盘初始位置时,使所述旋转机构(1)通过所述支撑座(711)的通孔和所述转盘(71)的通孔与所述电容(72)连接,以带动所述电容(72)旋转;
所述多个检测工位包括第四检测工位,所述电容检测装置还包括第四检测组件(76),所述第四检测组件(76)设置在所述第四检测工位上,所述第四检测组件(76)包括:
第一支撑部(761),设置在所述机架(70)上;
第四相机部件(762),与所述第一支撑部(761)连接,所述第四相机部件(762)设置在所述电容(72)远离所述转盘(71)的中心的一侧,所述第四相机部件(762)的拍摄端朝向所述电容(72)的侧壁设置,以在所述电容(72)转动一圈的过程中,使所述第四相机部件(762)对所述电容(72)进行拍照;
其中,所述第四相机部件(762)相对所述第一支撑部(761)沿竖直方向和水平方向均可移动地设置;
所述电容检测装置还包括中转台(80),设置在所述转盘(71)的一侧且位于所述下料工位;
所述电容检测装置还包括下料输送线(83)和下料机构(82),所述下料机构(82)与所述下料输送线(83)连接且位于所述下料输送线(83)的上方,所述下料机构(82)包括:
下料架体(821),与所述下料输送线(83)连接;
下料传动组件(823),设置在所述下料架体(821)上;
下料吸盘(822),所述下料传动组件(823)与所述下料吸盘(822)传动连接,以带动所述下料吸盘(822)沿水平方向和竖直方向可移动地设置,以使所述下料吸盘(822)将所述中转台(80)上的所述电容(72)输送至所述下料输送线(83)上的卡盘(84)上。
2.根据权利要求1所述的电容检测装置,其特征在于,所述多个检测工位包括第一检测工位,所述电容检测装置还包括第一检测组件(73),所述第一检测组件(73)设置在所述第一检测工位上,所述第一检测组件(73)包括:
第一支撑架(731),设置在所述机架(70)上;
第一相机部件(732),与所述第一支撑架(731)连接,所述第一相机部件(732)设置在所述电容(72)的上方,所述第一相机部件(732)的拍摄端朝向所述电容(72)的顶端设置,以对所述电容(72)拍照。
3.根据权利要求2所述的电容检测装置,其特征在于,所述第一检测组件(73)还包括:
第一光源(733),与所述第一支撑架(731)连接,所述第一光源(733)设置在所述第一相机部件(732)的下方且位于所述电容(72)的上方;其中,所述第一光源(733)为环形光源,所述第一相机部件(732)透过所述环形光源的中心孔对所述电容(72)进行拍照。
4.根据权利要求3所述的电容检测装置,其特征在于,所述第一检测组件(73)还包括:
第一移动部(734),所述第一相机部件(732)和所述第一光源(733)均设置在所述第一移动部(734)上,所述第一移动部(734)沿竖直方向位置可调节地设置在所述第一支撑架(731)上,以带动所述第一相机部件(732)和所述第一光源(733)移动。
5.根据权利要求1所述的电容检测装置,其特征在于,所述多个检测工位包括第二检测工位,所述电容检测装置还包括第二检测组件(74),所述第二检测组件(74)设置在所述第二检测工位上,所述第二检测组件(74)包括:
第二支撑架(741),设置在所述机架(70)上;
第二相机部件(742),与所述第二支撑架(741)连接,所述第二相机部件(742)设置在所述电容(72)远离所述转盘(71)的中心的一侧,所述第二相机部件(742)的拍摄端朝向所述电容(72)的侧壁设置,以在所述电容(72)转动至第一预定位置和第二预定位置时,使所述第二相机部件(742)对所述电容(72)进行拍照;
其中,所述第二相机部件(742)相对所述第二支撑架(741)沿水平方向位置可调节地设置。
6.根据权利要求1所述的电容检测装置,其特征在于,所述多个检测工位包括第三检测工位,所述电容检测装置还包括第三检测组件(75),所述第三检测组件(75)设置在所述第三检测工位上,所述第三检测组件(75)包括:
第三支撑架(751),设置在所述机架(70)上;
第三相机部件(752),与所述第三支撑架(751)连接,所述第三相机部件(752)设置在所述电容(72)远离所述转盘(71)的中心的一侧,所述第三相机部件(752)的拍摄端朝向所述电容(72)的侧壁设置,以在所述电容(72)转动至第三预定位置和第四预定位置时,使所述第三相机部件(752)对所述电容(72)进行拍照;
其中,所述第三相机部件(752)相对所述第三支撑架(751)沿水平方向位置可调节地设置。
7.根据权利要求1所述的电容检测装置,其特征在于,所述第四检测组件(76)还包括:
第二支撑部(763),设置在所述机架(70)上且位于所述第一支撑部(761)的一侧;
第四光源(764),与所述第二支撑部(763)连接,所述第四光源(764)设置在所述电容(72)远离所述转盘(71)的中心的一侧,所述第四光源(764)朝向所述电容(72)设置;
其中,所述第四光源(764)相对所述第二支撑部(763)可旋转地设置。
8.根据权利要求1所述的电容检测装置,其特征在于,所述多个检测工位包括第五检测工位,所述电容检测装置还包括第五检测组件(77),所述第五检测组件(77)设置在所述第五检测工位上,所述第五检测组件(77)包括:
第五支撑架(771),设置在所述机架(70)上;
第五相机部件(772),与所述第五支撑架(771)连接,所述第五相机部件(772)设置在所述电容(72)靠近所述转盘(71)的中心的一侧,所述第五相机部件(772)的拍摄端朝向所述电容(72)的侧壁设置,以在所述电容(72)旋转第一预定角度的过程中,使所述第五相机部件(772)对所述电容(72)进行拍照;
其中,所述第五相机部件(772)相对所述第五支撑架(771)沿水平方向位置可调节地设置。
9.根据权利要求1所述的电容检测装置,其特征在于,所述电容检测装置还包括上料输送线(78)和上料机构(79),所述上料机构(79)设置在所述机架(70)上且位于所述上料工位,所述上料机构(79)包括:
上料架体(791);
上料传动组件(793),设置在所述上料架体(791)上;
上料夹取部(792),所述上料传动组件(793)与所述上料夹取部(792)传动连接,以带动所述上料夹取部(792)沿水平方向和竖直方向可移动地设置,以使所述上料夹取部(792)将所述上料输送线(78)上的所述电容(72)移动至所述转盘(71)的上料工位处的支撑座(711)上。
10.根据权利要求1所述的电容检测装置,其特征在于,所述电容检测装置还包括:
翻转机构(81),设置在所述转盘(71)的一侧且位于所述下料工位,所述翻转机构(81)包括翻转夹取部(811),所述翻转夹取部(811)用于夹取所述电容(72)并带动所述电容(72)翻转,以在所述电容(72)移动至所述下料工位时,所述翻转夹取部(811)夹取所述电容(72)后带动所述电容(72)翻转第二预定角度,并将翻转后的所述电容(72)放置在所述中转台(80)上。
11.根据权利要求1所述的电容检测装置,其特征在于,所述多个工位还包括不合格品下料工位,所述电容检测装置还包括不合格品下料输送线(85)和不合格品下料机构(86),所述不合格品下料机构(86)包括:
不合格品下料架体(861);
不合格品传动组件(863),设置在所述不合格品下料架体(861)上;
不合格品夹取部(862),所述不合格品传动组件(863)与所述不合格品夹取部(862)传动连接,以带动所述不合格品夹取部(862)沿水平方向和竖直方向可移动地设置,以使所述不合格品夹取部(862)将所述不合格品下料工位上的所述电容(72)移动至所述不合格品下料输送线(85)。
12.根据权利要求1至11中任一项所述的电容检测装置,其特征在于,所述旋转机构(1)包括:
驱动装置(10);
安装部件(20),所述安装部件(20)具有相对设置的第一端和第二端,所述驱动装置(10)与所述安装部件(20)的第二端驱动连接,以带动所述安装部件(20)旋转;所述安装部件(20)的第一端开设有安装槽(21);
真空吸盘(30),与所述安装部件(20)连接,以在所述安装部件(20)的带动下旋转;所述真空吸盘(30)的至少部分设置在所述安装槽(21)内,所述真空吸盘(30)用于吸附所述电容,以使旋转件抵设在所述安装部件(20)的第一端。
13.根据权利要求12所述的电容检测装置,其特征在于,所述真空吸盘(30)包括吸盘主体(31)和与所述吸盘主体(31)连接的吸盘连接部(32),所述安装槽(21)的槽底设置有安装孔(211),所述吸盘连接部(32)插设在所述安装孔(211)内且与所述安装部件(20)固定连接,所述吸盘主体(31)设置在所述安装槽(21)内。
14.根据权利要求13所述的电容检测装置,其特征在于,所述真空吸盘(30)具有第一通道(33),所述旋转机构(1)还包括:
旋转定位杆(40),所述旋转定位杆(40)的一端与所述驱动装置(10)的驱动杆(11)连接,所述旋转定位杆(40)的另一端与所述真空吸盘(30)连接;所述旋转定位杆(40)具有第二通道(41),所述第一通道(33)和所述第二通道(41)相连通,以通过所述第二通道(41)和所述第一通道(33)在所述真空吸盘(30)处形成负压。
15.根据权利要求14所述的电容检测装置,其特征在于,所述旋转定位杆(40)上设置有第一凹槽(42),所述安装部件(20)的至少部分设置在所述第一凹槽(42)内;所述第一凹槽(42)的槽底设置有第二凹槽(43),所述第二凹槽(43)与所述第二通道(41)相连通,所述吸盘连接部(32)的部分设置在所述第二凹槽(43)内,以使所述吸盘连接部(32)远离所述吸盘主体(31)的一端插设在所述第二通道(41)内。
16.根据权利要求14所述的电容检测装置,其特征在于,所述第二通道(41)的内壁上设置有内螺纹,所述吸盘连接部(32)的外壁上设置有与所述内螺纹相适配的外螺纹,以使所述真空吸盘(30)通过所述内螺纹和所述外螺纹与所述旋转定位杆(40)固定连接。
17.根据权利要求14所述的电容检测装置,其特征在于,所述驱动装置(10)包括驱动装置主体(12)和驱动杆(11),所述旋转机构(1)还包括:
定位块(50),与所述驱动装置主体(12)固定连接,所述定位块(50)具有定位通孔(51),所述旋转定位杆(40)插设在所述定位通孔(51)内,所述旋转定位杆(40)相对所述定位块(50)可转动地设置。
18.根据权利要求17所述的电容检测装置,其特征在于,所述旋转定位杆(40)上设置有第三通道(44),所述第三通道(44)由所述旋转定位杆(40)的外表面延伸至所述第二通道(41);所述定位通孔(51)的内壁上设置有第三凹槽(511),所述第三凹槽(511)与所述第三通道(44)相连通;所述定位块(50)上设置有第四通道(52),所述第四通道(52)用于与真空发生器连接,所述第四通道(52)由所述定位块(50)的外表面延伸至所述第三凹槽(511),以使所述第四通道(52)通过所述第三凹槽(511)和所述第三通道(44)与所述第二通道(41)相连通。
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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110961372A (zh) * 2019-12-17 2020-04-07 苏州江奥光电科技有限公司 一种用于磁性材料零件外观检测的装置
CN110895250B (zh) * 2019-12-18 2022-12-06 广州市顶丰自动化设备有限公司 电容检测机
CN111022853B (zh) * 2019-12-18 2022-03-29 广州市顶丰自动化设备有限公司 旋转机构及电容检测机
CN110918481A (zh) * 2019-12-27 2020-03-27 湖南莱塞智能装备有限公司 一种电容不良品视觉检测机构及检测方法
CN111157545B (zh) * 2019-12-30 2022-11-01 广东正业科技股份有限公司 一种x-ray检测设备
CN111208145A (zh) * 2020-01-18 2020-05-29 广东捷创智能装备有限公司 一种自动化电容钉卷检测机及其检测方法
CN111282849A (zh) * 2020-03-24 2020-06-16 无锡创驰电气有限公司 电容全表面瑕疵自动检测装置
TWI726672B (zh) * 2020-04-06 2021-05-01 台灣電容器製造廠股份有限公司 電容器外觀檢測裝置及方法
CN111380496A (zh) * 2020-04-07 2020-07-07 东莞市沃德精密机械有限公司 安装座检测机
CN111687063A (zh) * 2020-06-10 2020-09-22 重庆市机电设计研究院 一种全方位视觉检测系统及其工作方法
CN111957604B (zh) * 2020-08-27 2024-02-09 江苏顺航电子科技有限公司 一种卡托检测摆盘装置
CN112697802A (zh) * 2020-12-15 2021-04-23 株洲硬质合金集团有限公司 产品表面缺陷检测装置
CN113953192A (zh) * 2021-10-26 2022-01-21 珠海格力智能装备有限公司 检测装置
CN114130691A (zh) * 2021-11-19 2022-03-04 珠海格力智能装备有限公司 供料装置
CN114850072A (zh) * 2022-05-10 2022-08-05 苏州天准科技股份有限公司 电极外圈检测装置、检测方法和电极综合检测设备
CN115041418A (zh) * 2022-05-20 2022-09-13 珠海格力智能装备有限公司 电器元件检测装置及检测方法
CN115356353A (zh) * 2022-07-18 2022-11-18 广州超音速自动化科技股份有限公司 一种电池成品外观检测机
CN115672768A (zh) * 2022-11-10 2023-02-03 长园半导体设备(珠海)有限公司 一种芯片检测装置
CN116944072B (zh) * 2023-07-19 2024-02-06 华南理工大学 一种横摆率传感器的测试系统及测试方法

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100841899B1 (ko) * 2007-03-05 2008-06-27 주식회사 이라이콤 액정표시장치의 백라이트유닛 조립 및 검사시스템
JP2009168589A (ja) * 2008-01-16 2009-07-30 Mitsutech Kk ワーク外観検査装置
WO2012015173A2 (ko) * 2010-07-30 2012-02-02 주식회사 서울금속 부품 공급장치 및 부품 검사장비
CN103801518A (zh) * 2014-01-29 2014-05-21 洛阳久德轴承模具技术有限公司 一种用于轴承滚动体的检测系统
CN204295430U (zh) * 2014-12-01 2015-04-29 慈溪市西西那提机械科技有限公司 一种旋转拍照双面检测装置
KR101697119B1 (ko) * 2016-07-07 2017-01-18 에스에스오트론 주식회사 반도체소자의 비전검사장치
CN107218972A (zh) * 2017-06-01 2017-09-29 深圳市凯中精密技术股份有限公司 多功能外观检测装置
CN107262380A (zh) * 2017-07-18 2017-10-20 深圳中天云创科技有限公司 一种手机背光源视觉自动检测设备及检测方法
CN107768725A (zh) * 2017-09-28 2018-03-06 海目星(江门)激光智能装备有限公司 一种电芯保持架安装设备
CN208195985U (zh) * 2018-05-17 2018-12-07 深圳市博智达机器人有限公司 一种自动焊接装置
CN110038817A (zh) * 2019-05-17 2019-07-23 南京微伽自动化技术有限公司 一种电子元器件的自动检测缺陷设备
CN110039748A (zh) * 2019-04-17 2019-07-23 德玛克(长兴)自动化系统有限公司 一种瓶壁自动化拍照检测设备
CN209192324U (zh) * 2018-12-19 2019-08-02 华兆鼎泰科技(天津)有限公司 转塔式检测镭射编带一体机
CN211235571U (zh) * 2019-08-19 2020-08-11 珠海格力智能装备有限公司 电容检测装置

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100841899B1 (ko) * 2007-03-05 2008-06-27 주식회사 이라이콤 액정표시장치의 백라이트유닛 조립 및 검사시스템
JP2009168589A (ja) * 2008-01-16 2009-07-30 Mitsutech Kk ワーク外観検査装置
WO2012015173A2 (ko) * 2010-07-30 2012-02-02 주식회사 서울금속 부품 공급장치 및 부품 검사장비
CN103801518A (zh) * 2014-01-29 2014-05-21 洛阳久德轴承模具技术有限公司 一种用于轴承滚动体的检测系统
CN204295430U (zh) * 2014-12-01 2015-04-29 慈溪市西西那提机械科技有限公司 一种旋转拍照双面检测装置
KR101697119B1 (ko) * 2016-07-07 2017-01-18 에스에스오트론 주식회사 반도체소자의 비전검사장치
CN107218972A (zh) * 2017-06-01 2017-09-29 深圳市凯中精密技术股份有限公司 多功能外观检测装置
CN107262380A (zh) * 2017-07-18 2017-10-20 深圳中天云创科技有限公司 一种手机背光源视觉自动检测设备及检测方法
CN107768725A (zh) * 2017-09-28 2018-03-06 海目星(江门)激光智能装备有限公司 一种电芯保持架安装设备
CN208195985U (zh) * 2018-05-17 2018-12-07 深圳市博智达机器人有限公司 一种自动焊接装置
CN209192324U (zh) * 2018-12-19 2019-08-02 华兆鼎泰科技(天津)有限公司 转塔式检测镭射编带一体机
CN110039748A (zh) * 2019-04-17 2019-07-23 德玛克(长兴)自动化系统有限公司 一种瓶壁自动化拍照检测设备
CN110038817A (zh) * 2019-05-17 2019-07-23 南京微伽自动化技术有限公司 一种电子元器件的自动检测缺陷设备
CN211235571U (zh) * 2019-08-19 2020-08-11 珠海格力智能装备有限公司 电容检测装置

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