TWI726672B - 電容器外觀檢測裝置及方法 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種電容器外觀檢測裝置,包含第一圓盤主體及複數個影
像檢測設備。第一圓盤主體上具有複數個位置,所述複數個位置用於承載複數個待測電容器;複數個影像檢測設備,用於分別對應該些位置承載之待測電容器,以擷取對應的待測電容器的影像,所述複數個影像檢測設備中的任一者所擷取的影像以及所述複數個影像檢測設備中的另一者所擷取的另一影像具有不同的待測電容器外觀特徵。
Description
本發明是有關於一種製造電容器的電容器外觀檢測裝置,特別是一種具有複數個影像檢測設備的電容器外觀檢測裝置。
電容器的製程生產過程中,待測電容器的套管標示、待測電容器的極性、待測電容器的的頭部和尾部超出套管高度與否、待測電容器的尾部套管正確包覆與否、待測電容器的頭部套管正確包覆與否、待測電容器的尾部套管平整與否、待測電容器的頭部套管平整與否等檢測等,在過去需要透過人工目測的方式來檢驗每一個成品的外觀,既耗時又費工,還可能有人為檢測上的疏漏,因此可能測試結果的準確度具有誤差,存在品質隱患。
因此,需要一種電容器的檢測裝置和檢測方法,來解決上述的檢測精準度和效率等問題。
本發明提供一種電容器外觀檢測裝置,以解決缺乏效率以及提高檢測結果的準確度。
根據本發明揭露的一實施方式,本發明的一種電容器外觀檢測裝置,包含第一圓盤主體及複數個影像檢測設備,其中第一圓盤主體上具有複數個位置,所述複數個位置用於承載複數個待測電容器;其中複數個影像檢測設備,用於分別對應該些位置承載之待測電容器,以擷取對應的待測電容器的影像,所述複數個影像檢測設備中的任一者所擷取的影像以及所述複數個影像檢測設備中的另一者所擷取的另一影像具有不同的待測電容器外觀特徵(拍攝角度/顯示比例/局部內容之類的差異)。
在一實施例中,電容器外觀檢測裝置更包含第二圓盤主體,第二圓盤主體與第一圓盤主體之間提供有過渡平台,過渡平台用於將第一圓盤主體的電容傳遞至第二圓盤主體。
在一實施例中,所述複數個影像檢測設備具有第一影像檢測設備,以擷取對應的待測電容器的影像獲得第一影像,其中第一影像具有一第一外觀特徵,第一外觀特徵為待測電容器的套管標示,第一影像檢測設備根據第一外觀特徵和第一判斷標準決定待測電容器的套管標示的一致性,即「混料檢測」。
在一實施例中,所述複數個影像檢測設備具有第二影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得第二影像,其中第二影像具有第二外觀特徵,第二外觀特徵關聯於待測電容器的負極導針和負極白色標識的相對關係,第二影像檢測設備根據第二外觀特徵和第二判斷標準決定待測電容器的極性,即「極偏檢測」。
在一實施例中,所述複數個影像檢測設備具有第三影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得第三影像,其中第三影像具有第三外觀
特徵,第三外觀特徵為待測電容器的頭部和尾部,第三影像檢測設備根據第三外觀特徵和第三判斷標準決定待測電容器的頭部和尾部是否超出套管高度,其中第三判斷標準關聯於一電容器頭部和尾部的參考影像,即「頭凸和尾凸檢測」。
在一實施例中,所述複數個影像檢測設備具有第四影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得第四影像,其中第四影像具有第四外觀特徵,第四外觀特徵為待測電容器的尾部套管,第四影像檢測設備根據第四外觀特徵和第四判斷標準決定待測電容器的尾部套管是否正確包覆,即「尾長和尾短檢測」。
在一實施例中,所述複數個影像檢測設備具有第五影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得第五影像,其中第五影像具有第五外觀特徵,第五外觀特徵為待測電容器的頭部套管,第五影像檢測設備根據第五外觀特徵和第五判斷標準決定待測電容器的頭部套管是否正確包覆,即「頭長和頭短檢測」。
在一實施例中,所述複數個影像檢測設備具有第六影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得第六影像,其中第六影像具有第六外觀特徵,第六外觀特徵為待測電容器的尾部套管,第六影像檢測設備根據第六外觀特徵和第六判斷標準決定待測電容器的尾部套管是否平整,其中第六判斷標準關聯於一電容器的尾部套管參考影像,即「尾翹檢測」。
在一實施例中,所述複數個影像檢測設備具有第七影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得第七影像,其中第七影像具有第七外觀特徵,第七外觀特徵為待測電容器的頭部套管,第七影像檢測設備根據第七外
觀特徵和第七判斷標準決定待測電容器的頭部套管是否為平整,其中第七判斷標準關聯於一電容器的頭部套管參考影像,即「頭翹檢測」。
根據本發明揭露的一實施方式,本發明的一種電容器外觀檢測方法,包含提供至少一第一圓盤主體,第一圓盤主體上具有複數個位置,所述複數個位置用於承載複數個待測電容器;提供複數個影像檢測設備,分別對應所述複數個位置承載之所述複數個待測電容器,以擷取對應的待測電容器的影像,所述複數個影像檢測設備中的任一者所擷取的影像以及所述複數個影像檢測設備中的另一者所擷取的另一影像具有不同的待測電容器外觀特徵;提供一處理器基於由所述複數個影像檢測設備擷取的一待測電容器的多個影像的多個外觀特徵以及預定的多個判斷標準,決定該待測電容器是否為良品。
在一實施例中,電容器外觀檢測方法更包含提供第二圓盤主體,第二圓盤主體與第一圓盤主體之間提供有過渡平台,過渡平台用於將第一圓盤主體的電容傳遞至第二圓盤主體。
在一實施例中,所述複數個影像檢測設備具有一第一影像檢測設備,以擷取對應的待測電容器的影像獲得第一影像,其中第一影像具有第一外觀特徵,第一外觀特徵為待測電容器的套管標示,第一影像檢測設備根據第一外觀特徵和第一判斷標準決定待測電容器的套管標示的一致性,即「混料檢測」。
在一實施例中,所述複數個影像檢測設備具有一第二影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第二影像,其中該第二影像具有一第二外觀特徵,該第二外觀特徵關聯於待測電容器的負極導針和負極白色標識
的相對關係,該第二影像檢測設備根據該第二外觀特徵和一第二判斷標準決定待測電容器的極性,即「極偏檢測」。
在一實施例中,所述複數個影像檢測設備具有一第三影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第三影像,其中該第三影像具有一第三外觀特徵,該第三外觀特徵為待測電容器的頭部和尾部,該第三影像檢測設備根據該第三外觀特徵和一第三判斷標準決定待測電容器的頭部和尾部是否超出套管高度,其中該第三判斷標準關聯於一電容器頭部和尾部的參考影像,即「頭凸和尾凸檢測」。
在一實施例中,所述複數個影像檢測設備具有一第四影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第四影像,其中該第四影像具有一第四外觀特徵,該第四外觀特徵為待測電容器的尾部套管,該第四影像檢測設備根據該第四外觀特徵和一第四判斷標準決定待測電容器的尾部套管是否正確包覆,即「尾長和尾短檢測」。
在一實施例中,所述複數個影像檢測設備具有一第五影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第五影像,其中該第五影像具有一第五外觀特徵,該第五外觀特徵為待測電容器的頭部套管,該第五影像檢測設備根據該第五外觀特徵和一第五判斷標準決定待測電容器的頭部套管是否正確包覆,即「頭長和頭短檢測」。
在一實施例中,所述複數個影像檢測設備具有一第六影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第六影像,其中該第六影像具有一第六外觀特徵,該第六外觀特徵為待測電容器的尾部套管,該第六影像檢測設備根據該第六外觀特徵和一第六判斷標準決定待測電容器的尾部套管是否平
整,其中該第六判斷標準關聯於一電容器的尾部套管參考影像,即「尾翹檢測」。
在一實施例中,所述複數個影像檢測設備具有一第七影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第七影像,其中該第七影像具有一第七外觀特徵,該第七外觀特徵為待測電容器的頭部套管,該第七影像檢測設備根據該第七外觀特徵和一第七判斷標準決定待測電容器的頭部套管是否為平整,其中該第七判斷標準關聯於一電容器的頭部套管參考影像,即「頭翹檢測」。
對於相關領域一般技術者而言這些與其他的觀點與實施例在參考後續詳細描述與伴隨圖式之後將變得容易明白。
100:電容器外觀檢測裝置
110:第一圓盤主體
111a、112a、114a、115a、116a、117a、118a:位置
114b、115b、116b:影像檢測設備
120:第二圓盤主體
121a、122a、123a、124a、125a、126a、127a、128a、129a:位置
122b、123b、124b、125b、126b、127b:影像檢測設備
130:過渡平台
140:定位輪
202、204、206、208、209、210、212:步驟
L1、L2:間距
圖式所示之結構大小比例並不限制本發明的實際實施。
第一圖為一種根據本揭露一實施例之電容器外觀檢測裝置之示意圖。
第二圖為根據本揭露一實施例之電容器外觀檢測方法的步驟流程圖。
第三A圖顯示一實施例之待測電容器之極性的檢測規範示意圖。
第三B圖顯示一實施例之待測電容器之極性的檢測規範示意圖。
第三C圖顯示一實施例之待測電容器之極性的檢測規範示意圖。
第三D圖顯示一實施例之待測電容器之極性的檢測規範示意圖。
第四圖顯示一實施例之待測電容器之頭凸檢測的檢測規範示意圖。
第五A圖顯示一實施例之待測電容器之尾凸檢測的檢測規範示意圖。
第五B圖顯示一實施例之待測電容器之尾凸檢測的檢測規範示意圖。
第六A圖顯示一實施例之待測電容器之尾翹檢測的檢測規範示意圖。
第六B圖顯示一實施例之待測電容器之尾翹檢測的檢測規範示意圖。
第七A圖顯示一實施例之待測電容器之頭翹檢測的檢測規範示意圖。
第七B圖顯示一實施例之待測電容器之頭翹檢測的檢測規範示意圖。
本發明提供一種電容器外觀檢測裝置,特別是一種具有複數個影像檢測設備的電容器外觀檢測裝置。
現在將參考本發明之伴隨圖式詳細描述實施例。在該伴隨圖式中,相同及/或對應元件係以相同參考符號表示。
在此將揭露各種實施例;然而,要瞭解到所揭露之實施例只用於作為可體現為各種形式之例證。此外,連接各種實施例所給予之每一範例都預期作為例示,而非用於限制。進一步的,該圖式並不一定符合尺寸比例,一些特徵係被放大以顯示特定元件之細節(且該圖式中所示之任何尺寸、材料與類似細節都預期僅為例示而非限制)。因此,在此揭露之特定結構與功能細節並不被解釋做為限制,而只是用於教導相關領域技術人員實作所揭露之實施例的基礎。
第一圖顯示本發明一種根據本揭露一實施例之一種電容器外觀檢測裝置100,包含第一圓盤主體110及影像檢測設備114b、115b和116b,其中第一圓盤主體110上有位置111a、112a、114a、115a、116a、117a和118a,位置111a、112a、114a、115a、116a、117a和118a用於承載複數個待測電容器;其中影像檢測設備114b、115b和116b,用於分別對應位置114a、115a和116a承載之待測電容器,以擷取對應的待測電容器的影像,影像檢測設備114b、115b和116b中的任一者所擷取的影像以及影像檢測設備114b、115b和116b中的另一者所擷取的另一影像可具有不同的待測電容器外觀特徵(如拍攝角度/顯示比例/局部內容之類的差異),以下將詳述。在第一圓盤主體110上的待測電容器將依序自位置111a、112a、114a、115a、116a、117a至118a沿著D1方向輸送。在一實施例中,所述位置可包含真空吸附手段和轉動手段,藉此待測電容器可被吸附於所述位置並可在位置中轉動。所述待測電容在這些位置之間的輸送可由已知手段達成,本文不具體描述,以達簡潔之目的。
第一圖顯示根據本揭露一實施例之一種電容器外觀檢測裝置100,更包含了第二圓盤主體120及影像檢測設備、122b、123b、124b、125b、126b和127b,第二圓盤主體120與該第一圓盤主體110之間提供有過渡平台130,過度平台130用於將第一圓盤主體110的電容傳遞至第二圓盤主體120。
如同第一圖所示的第二圓盤主體120,其中第二圓盤主體120上具有位置121a、122a、123a、124a、125a、126a、127a、128a和129a,位置121a、122a、123a、124a、125a、126a、127a、128a和129a用於承載複數個待測電容器;其中影像檢測設備122b、123b、124b、125b、126b和127b,用於分別對應位置122a、123a、124a、125a、126a和127a承載之待測電容器,以擷取對應的待測電容器的影像,影像檢測設備122b、123b、124b、125b、126b和127b中的任一者所擷取的影像以及影像檢測設備122b、123b、124b、125b、126b和127b中的另一者所擷取的另一影像可具有不同的待測電容器外觀特徵(如拍攝角度/顯示比例/局部內容之類的差異),以下將詳述。在第二圓盤主體120上的待測電容器將自位置121a、122a、123a、124a、125a、126a、127a、128a和129a沿著D2方向輸送。由於待測電容器在檢測過程中需要旋轉定位,因此使用圓盤可以較有效率的進行輸送,但本發明並不限於圓盤輸送的形式。
第二圖為根據本揭露一實施例之電容器外觀檢測方法的步驟流程圖。以下將先介紹主要的電容器外觀檢測方法,首先在步驟202,提供至少一圓盤主體,該圓盤主體上具有複數個位置,所述複數個位置用於承載複數個待測電容器。在步驟204,提供至少一影像檢測設備,其中該影像檢測設備之鏡頭對應所述複數個位置承載之所述複數個待測電容器,其中該影像檢測設備包含一測量基準作為標準尺。待測物的特徵會經由檢測軟體所測量出後,再與
測量基準比對,方得判定是良品抑或不良品。在一實施例中,某些特徵的「測量基準」,是以一個目視為良品的待測物作為「標準樣品」,檢測軟體將該標準樣品的特徵測量出值後,再以該值作為後續檢測的測量基準。在步驟206,截取與該影像檢測設備對應的待測電容器的影像。在步驟208,測量該待測電容器影像的複數個選定區域尺寸大小。在步驟209,該影像檢測設備根據測量結果和判斷標準以決定該待測電容器是否為為良品,若是不良品,則進入步驟210,排除該不良品;若是良品,則進入步驟212,繼續下一製造流程。
以下將配合第一圖至第七B圖詳細說明本發明電容器外觀檢測方法。在一實施例中,位置111a為進料工位,為待測電容器的進料後放置的位置,待測電容器在進料工位中可使用一機械手段校正電容器的兩支導線棒的位置,兩支導線必須平行,不可交叉(圖未示出)。接著,待測電容器第一圓盤主體110帶動移動到位置112a,112a為校正工位,將待測電容器定位於其上圓盤吸嘴上的旋轉中心位置(圖未示出),所述旋轉中心配置成轉動對應的待測電容器至一較佳的位置,以利後續檢測。
接著,待測電容器移動到位置114a,114a為製品旋轉定位,相對應影像檢測設備114b,以檢查待測電容器的混料和極性。影像檢測設備114b截取了待測電容器的影像,並可使用一影像辨識手段以確認待測電容器的套管印字內容如規格、系列、容量範圍、使用溫度、標識要完全一致,若不一致則為不良品(圖未示出)。
第三A圖顯示為一實施例之待測電容器之影像檢測設備114b對於極性的檢測規範示意圖(包含虛線辨識框),其中短的負極導針要對應負極白色標識,且不能超出負極白色標識範圍,因此判定第三A圖為符合判斷標準
的良品。第三B圖顯示為一實施例之待測電容器之極性的檢測規範示意圖(包含虛線辨識框),如圖中所示,長的正極導針對應負極白色標識,因此判定第三B圖的待測電容器為不符合判斷標準的不良品。第三C圖顯示為一實施例之待測電容器之極性的檢測規範示意圖(包含虛線辨識框),如圖中所示,短的負極導針超出負極白色標識範圍,因此判定第三C圖的待測電容器為不符合判斷標準的不良品。第三D圖顯示為一實施例之待測電容器之極性的檢測規範示意圖(包含虛線辨識框),如圖中所示,短的負極導針邊緣與負極白色標識範圍間距(L1及/或L2)≦0.2mm時,待測電容器為不符合判斷標準的不良品。
接著,待測電容器移動到位置115a和116a,分別相對應影像檢測設備115b和116b,用以作為旋轉檢查待測電容器的壓傷、套管破洞、電傷等的預留工位。待測電容器移動到位置117a,如上述的檢測過程中有任一項不符合判斷標準,皆視為不良品,由此位置排出。其餘檢查後的良品將由位置118a經由過渡平台130傳送至第二圓盤主體120。由於工位數量較多,因此使用二個圓盤主體作為輸送載具,而不用隨工位數量而調整圓盤主體大小以及機台尺寸。關於檢測設備115b和116b的壓傷、套管破洞、電傷等檢測亦可由類似的影像辨識手段完成,本文不在此詳述。
在一實施例中,第二圓盤主體120還具有一定位手段,如一或多個定位輪140,用於定位待測電容器,以避免拍照時因為待測物的前後位置偏差使得影像模糊的情況發生。在一實施例中,待測電容器移動到位置121a,此時需透過光纖檢測確認位置121a內是否具有待測電容器。
待測電容器移動到位置122a,相對應影像檢測設備122b,影像檢測設備122b截取了待測電容器的影像,以確認待測電容器頭部塑膠套管長度
是否正常包覆,避免過多或過少包覆的情況,橡皮是否有破損等。若待測電容器頭部塑膠套管沒有正常包覆或橡皮破損,則為不良品。
第四圖顯示為一實施例之待測電容器之頭凸檢測的檢測規範示意圖(包含虛線辨識框)。如第四圖所示,待測電容器的頭部橡皮超出了套管高度,因此判定該待測電容器為不符合判斷標準的不良品。第五A圖和第五B圖顯示為一實施例之待測電容器之尾凸檢測的檢測規範示意圖(包含虛線辨識框)。待測電容器移動到位置123a,相對應影像檢測設備123b,影像檢測設備123b截取了待測電容器的影像,以確認待測電容器尾部是否平整無凸起的情況。如第五A圖所示,待測電容器尾部外殼平整無凸起,因此判定該待測電容器為符合判斷標準的良品。如第五B圖所示,待測電容器尾部外殼凸起,因此判定該待測電容器為不符合判斷標準的不良品。
第六A圖和第六B圖顯示一實施例之待測電容器之尾翹檢測的檢測規範示意圖(包含辨識參考線)。待測電容器移動到位置124a,相對應影像檢測設備124b,影像檢測設備124b截取了待測電容器的影像,以確認待測電容器尾部塑膠套管是否平整無凸起或翹起的情況。如第六A圖所示,待測電容器尾部塑膠套管沒有凸起或翹起,因此判定該待測電容器為符合判斷標準的良品。如第六B圖所示,待測電容器尾部塑膠套管翹起,且超出判斷標準,因此判定該待測電容器為不符合判斷標準的不良品。
第七A圖和第七B圖顯示一實施例之待測電容器之頭翹檢測的檢測規範示意圖(包含辨識參考線)。待測電容器移動到位置125a,相對應影像檢測設備125b,影像檢測設備125b截取了待測電容器的影像,以確認待測電容器頭部塑膠套管是否平整無凸起或翹起的情況。如第七A圖所示,待測電容器
頭部塑膠套管沒有凸起或翹起,因此判定該待測電容器為符合判斷標準的良品。如第七B圖所示,待測電容器頭部塑膠套管翹起,且套管翹起高度大於所訂判斷標準,因此判定該待測電容器為不符合判斷標準的不良品。
接下來,待測電容器移動到位置126a,相對應影像檢測設備126b,影像檢測設備126b截取了待測電容器的影像,以確認待測電容器尾部塑膠套管是否平整無凸起或翹起的情況。(圖未示出)
接著,待測電容器移動到位置127a,相對應影像檢測設備127b,影像檢測設備127b截取了待測電容器的影像,以確認待測電容器尾部塑膠套管是否正常包覆,避免無過多或過少的情況,若待測電容器尾部塑膠套管沒有正常包覆,則為不良品。
接著,待測電容器移動到位置128a,如上述的檢測過程中有任一項不符合判斷標準,皆視為不良品,由此位置排出至不良品集中處。其餘檢查後的良品將由位置129a排出至良品集中處,此為良品出料。所述排除可由一已知的機械手段達成。
在另一實施例中,電容器外觀檢測裝置可以僅具有一個圓盤主體及複數個影像檢測設備,該圓盤主體上具有複數個位置,該些位置用於承載複數個待測電容器;其中影像檢測設備,用於分別對應該些位置承載之待測電容器,以擷取對應的待測電容器的影像,所述複數個影像檢測設備中的任一者所擷取的影像以及所述複數個影像檢測設備中的另一者所擷取的另一影像具有不同的待測電容器外觀特徵(拍攝角度/顯示比例/局部內容之類的差異)。在另一實施例中,檢測項目的順序並不限制於本發明所揭露的實施例。
雖然已經以一或多個實施例描述本發明電容器外觀檢測裝置以及電容器外觀檢測方法,但要瞭解到本發明揭露內容並不限制於所揭露的實施例,例如本發明檢測項目的順序並不限制於所揭露的實施例。本發明涵蓋在申請專利範圍之精神與觀點中所包含的各種修改與類似配置,應給予最廣泛的詮釋,以包含所有之修改與類似結構。本發明揭露內容也包含下述申請專利範圍中的所有任何實施例。
100:電容器外觀檢測裝置
110:第一圓盤主體
111a、112a、114a、115a、116a、117a、118a:位置
114b、115b、116b:影像檢測設備
120:第二圓盤主體
121a、122a、123a、124a、125a、126a、127a、128a、129a:位置
122b、123b、124b、125b、126b、127b:影像檢測設備
130:過渡平台
140:定位輪
Claims (16)
- 一種電容器外觀檢測裝置,包含:一第一圓盤主體,該第一圓盤主體上具有複數個位置,所述複數個位置用於承載複數個待測電容器;及複數個影像檢測設備,用於分別對應該些位置承載之待測電容器,以擷取對應的待測電容器的影像,所述複數個影像檢測設備中的任一者所擷取的一影像以及所述複數個影像檢測設備中的另一者所擷取的另一影像具有不同的待測電容器外觀特徵,其中,所述複數個影像檢測設備具有一第一影像檢測設備,以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第一影像,其中該第一影像具有一第一外觀特徵,該第一外觀特徵為待測電容器的套管標示,該第一影像檢測設備根據該第一外觀特徵和一第一判斷標準決定待測電容器的套管標示的一致性;其中,所述複數個影像檢測設備具有一第二影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第二影像,其中該第二影像具有一第二外觀特徵,該第二外觀特徵關聯於待測電容器的負極導針和負極標識的相對關係,該第二外觀特徵包含該負極導針與該負極標識的其中一側邊緣的一橫向間距,該第二影像檢測設備根據該第二外觀特徵和一第二判斷標準決定待測電容器的極性。
- 如請求項1所述的電容器外觀檢測裝置,更包含一第二圓盤主體,該第二圓盤主體與該第一圓盤主體之間提供有一過渡平台,該過渡平台用於將該第一圓盤主體的電容傳遞至該第二圓盤主體。
- 如請求項1所述的電容器外觀檢測裝置,其中該第二判斷標準為小於0.2mm。
- 如請求項2所述的電容器外觀檢測裝置,其中所述複數個影像檢測設備具有一第三影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第三影像,其中該第三影像具有一第三外觀特徵,該第三外觀特徵為待測電容器的頭部和尾部,該第三影像檢測設備根據該第三外觀特徵和一第三判斷標準決定待測電容器的頭部和尾部是否超出套管高度,其中該第三判斷標準關聯於一電容器頭部和尾部的參考影像。
- 如請求項2所述的電容器外觀檢測裝置,其中所述複數個影像檢測設備具有一第四影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第四影像,其中該第四影像具有一第四外觀特徵,該第四外觀特徵為待測電容器的尾部套管,該第四影像檢測設備根據該第四外觀特徵和一第四判斷標準決定待測電容器的尾部套管是否正確包覆。
- 如請求項2所述的電容器外觀檢測裝置,其中所述複數個影像檢測設備具有一第五影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第五影像,其中該第五影像具有一第五外觀特徵,該第五外觀特徵為待測電容器的頭部套管,該第五影像檢測設備根據該第五外觀特徵和一第五判斷標準決定待測電容器的頭部套管是否正確包覆。
- 如請求項2所述的電容器外觀檢測裝置,其中所述複數個影像檢測設備具有一第六影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第六影像,其中該第六影像具有一第六外觀特徵,該第六外觀特徵為待測電容器的尾部套管,該第六影像檢測設備根據該第六外觀特徵和一第六判斷標準決 定待測電容器的尾部套管是否平整,其中該第六判斷標準關聯於一電容器的尾部套管參考影像。
- 如請求項2所述的電容器外觀檢測裝置,其中所述複數個影像檢測設備具有一第七影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第七影像,其中該第七影像具有一第七外觀特徵,該第七外觀特徵為待測電容器的頭部套管,該第七影像檢測設備根據該第七外觀特徵和一第七判斷標準決定待測電容器的頭部套管是否為平整,其中該第七判斷標準關聯於一電容器的頭部套管參考影像。
- 一種電容器外觀檢測方法,包含:提供一第一圓盤主體,該第一圓盤主體上具有複數個位置,所述複數個位置用於承載複數個待測電容器;提供複數個影像檢測設備,分別對應所述複數個位置承載之所述複數個待測電容器,以擷取對應的待測電容器的影像,所述複數個影像檢測設備中的任一者所擷取的一影像以及所述複數個影像檢測設備中的另一者所擷取的另一影像具有不同的待測電容器外觀特徵;提供一處理器基於由所述複數個影像檢測設備擷取的該些待測電容器的多個影像的多個外觀特徵以及預定的多個判斷標準,決定該待測電容器是否為良品,其中,所述複數個影像檢測設備具有一第一影像檢測設備,以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第一影像,其中該第一影像具有一第一外觀特徵,該第一外觀特徵為待測電容器的套管標示,該第一影像檢測設備根據該第一外觀特徵和一第一判斷標準決定待測電容器的套管標示的一致性; 其中,所述複數個影像檢測設備具有一第二影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第二影像,其中該第二影像具有一第二外觀特徵,該第二外觀特徵關聯於待測電容器的負極導針和負極標識的相對關係,該第二外觀特徵包含該負極導針與該負極標識的其中一側邊緣的一橫向間距,該第二影像檢測設備根據該第二外觀特徵和一第二判斷標準決定待測電容器的極性。
- 如請求項9所述的電容器外觀檢測方法,更包含提供一第二圓盤主體,該第二圓盤主體與該第一圓盤主體之間提供有一過渡平台,該過渡平台用於將該第一圓盤主體的電容傳遞至該第二圓盤主體。
- 如請求項9所述的電容器外觀檢測方法,其中該第二判斷標準為小於0.2mm。
- 如請求項10所述的電容器外觀檢測方法,所述複數個影像檢測設備具有一第三影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第三影像,其中該第三影像具有一第三外觀特徵,該第三外觀特徵為待測電容器的頭部和尾部,該第三影像檢測設備根據該第三外觀特徵和一第三判斷標準決定待測電容器的頭部和尾部是否超出套管高度,其中該第三判斷標準關聯於一電容器頭部和尾部的參考影像。
- 如請求項10所述的電容器外觀檢測方法,其中所述複數個影像檢測設備具有一第四影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第四影像,其中該第四影像具有一第四外觀特徵,該第四外觀特徵為待測電容 器的尾部套管,該第四影像檢測設備根據該第四外觀特徵和一第四判斷標準決定待測電容器的尾部套管是否正確包覆。
- 如請求項10項所述的電容器外觀檢測方法,其中所述複數個影像檢測設備具有一第五影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第五影像,其中該第五影像具有一第五外觀特徵,該第五外觀特徵為待測電容器的頭部套管,該第五影像檢測設備根據該第五外觀特徵和一第五判斷標準決定待測電容器的頭部套管是否正確包覆。
- 如請求項10所述的電容器外觀檢測方法,其中所述複數個影像檢測設備具有一第六影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第六影像,其中該第六影像具有一第六外觀特徵,該第六外觀特徵為待測電容器的尾部套管,該第六影像檢測設備根據該第六外觀特徵和一第六判斷標準決定待測電容器的尾部套管是否平整,其中該第六判斷標準關聯於一電容器的尾部套管參考影像。
- 如請求項10所述的電容器外觀檢測方法,其中所述複數個影像檢測設備具有一第七影像檢測設備以擷取對應的待測電容器的影像獲得一第七影像,其中該第七影像具有一第七外觀特徵,該第七外觀特徵為待測電容器的頭部套管,該第七影像檢測設備根據該第七外觀特徵和一第七判斷標準決定待測電容器的頭部套管是否為平整,其中該第七判斷標準關聯於一電容器的頭部套管參考影像。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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TWI726672B true TWI726672B (zh) | 2021-05-01 |
TW202138792A TW202138792A (zh) | 2021-10-16 |
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Citations (3)
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---|---|---|---|---|
TWM273713U (en) * | 2004-11-23 | 2005-08-21 | Nat Pingtung University Of Sci | Quality inspection device of electronic component |
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