CN108474892A - 偏振片保护膜、其制造方法及偏振片 - Google Patents
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Abstract
本发明的课题在于,提供一种偏振片保护膜及其制造方法,该偏振片保护膜具有降冰片烯类树脂,且在贴合于起偏镜而制作偏振片的情况下,能够制成即使实施热循环试验也不易产生裂纹的偏振片,且在贴合于起偏镜而制成偏振片并进一步将该偏振片贴合于玻璃基板的情况下,能够制成在高温环境下不易从玻璃基板剥离的偏振片。该偏振片保护膜含有降冰片烯类树脂,上述降冰片烯类树脂为氢化降冰片烯树脂、且含有具有特定的化学结构的聚合性化合物。
Description
技术领域
本发明涉及一种偏振片保护膜、其制造方法及偏振片。更详细而言,本发明涉及贴合于起偏镜上而制作偏振片时即使在热循环试验这样的高温/低温环境下重复的使用条件下也不易产生裂纹的偏振片保护膜等。
背景技术
以往,液晶显示装置用于台式计算机、电子手表等。此外,最近,无论图像尺寸如何,液晶显示装置被用于从手机等移动设备至大型电视,其用途急剧扩大。
另外,作为除液晶显示装置以外的图像显示装置,特别是有机电致发光(有机EL)显示装置,以移动用途为中心,存在需求增加的倾向。
在液晶显示装置中,通常在液晶单元的表背面配置一对偏振片而构成液晶面板。
在有机EL显示装置中,多使用在有机EL元件的可视侧配置偏振片、特别是椭圆或圆偏振片、且具有防反射功能的有机EL面板。需要说明的是,椭圆或圆偏振片是在直线偏振片上将1/4波长相位差板(即λ/4板)以两者的滞相轴以给定的角度交叉的方式层叠而成的偏振片。
关于在这些图像显示装置中使用的偏振片,随着发展,不仅需求增大,而且要求适用于各用途的性能。
广泛用于如上所述的图像显示装置的偏振片(直线偏振片)以在聚乙烯醇类树脂膜上吸附有二色性色素并取向的起偏镜的两面上通过液态的粘接剂粘接透明保护膜、典型地为三乙酰纤维素膜的构成而制造。使用压敏粘接剂(也称为粘合剂。),将其直接、或根据需要以贴合有具有光学特性的相位差膜等光学层的形态贴合于液晶单元、有机EL元件等图像显示元件上,制成显示面板、以及图像显示装置。
作为相位差膜,广泛使用将由耐热性、光学特性、透明性、电特性等方面具有优异性能的加氢(以下称为氢化。)降冰片烯类树脂制成的膜进行拉伸取向而得到的相位差膜。
然而,假设将使用氢化降冰片烯类树脂制造的膜进一步用于液晶面板,将该膜面贴合于起偏镜而制作偏振片,实施重复高温环境下的放置和低温环境下的放置的热循环试验时,有时膜会产生裂纹。
接下来,将偏振片中的偏振片保护膜面贴合于玻璃基板时,在高温环境下,有时偏振片会从玻璃基板剥离。
作为改善这样的热循环试验时的氢化降冰片烯类树脂的裂纹产生的方法,专利文献1中公开了将氢化降冰片烯类树脂和橡胶成分在溶剂中溶解或分散,并通过流延(浇铸)法而形成的膜。该膜是通过对氢化降冰片烯类树脂配合橡胶成分从而改善延展性的膜。然而,得到的膜的平行光透射率等光学特性差、不能作为偏振片保护膜使用。
此外,本发明人发现:对使用了氢化降冰片烯类树脂膜作为偏振片保护膜的偏振片在用粘合剂贴合于液晶单元的玻璃基板上的状态下进行耐久试验(暴露于高温条件下后,在常温下放置)时,耐久试验后,存在与液晶单元的相反侧的空气接触的面的偏振片保护膜产生裂纹的问题。即使膜的残留应力小,也会产生这样的裂纹。
以往,已知由含有氢化降冰片烯类树脂的环状烯烃类树脂制成的注射成型品产生裂纹(例如参照专利文献2。),作为其原因,列举了在注射成型中产生的大的残留应力,但通过像浇铸制膜那样的制膜时的残留应力小的制法得到的偏振片保护膜会产生裂纹尚未为人所知。
专利文献3中记载了:为了改善裂纹,重要的是防止应力下的膜的强度降低,恒定负荷拉伸试验前后的拉伸强度的变化小。另外,加入橡胶也是有效,但仅添加是不充分的,需要将橡胶微细且均匀地微分散等操作。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开平5-148413号公报
专利文献2:日本特开平11-178690号公报
专利文献2:日本特开2005-242171号公报
发明内容
发明所要解决的问题
本发明鉴于上述问题而成,其解决问题在于,提供一种偏振片保护膜及其制造方法,该偏振片保护膜在将含有氢化降冰片烯类树脂的偏振片保护膜贴合于起偏镜而制作偏振片的情况下,可以制成即使实施热循环试验也不易产生裂纹的偏振片。另外,提供一种具备该偏振片保护膜的偏振片。
解决问题的方法
本发明人等为了解决上述问题,对上述问题的原因等进行了研究,其结果发现,将含有氢化降冰片烯类树脂的偏振片保护膜用于偏振片的情况下的上述裂纹、剥离等问题起因于随着环境温度变化的起偏镜的收缩应力变化,且通过在该偏振片保护膜中含有特定的化合物并与起偏镜膜配合,从而能够解决上述问题,完成了本发明。
即,本发明的上述问题能通过以下的方法解决。
1.一种偏振片保护膜,其含有降冰片烯类树脂,上述降冰片烯类树脂为氢化降冰片烯类树脂,且含有具有下述通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物,
[化学式1]
通式(1)
式中,R1及R2各自独立地表示氢原子、甲基或卤原子,
环A1、环A2及环A3各自独立地表示苯环、环己烷环、环己烯环、萘环、四氢萘环、十氢萘环、蒽环或菲环,这些环中,-CH=任选被-N=替换,-CH2-任选被-S-或-O-替换,
X、Y及Z各自独立地表示任选具有取代基的碳原子数1~8的烷基、任选具有取代基的碳原子数1~8的烷氧基、任选具有取代基的碳原子数2~6的烯基、卤原子、氰基或具有下述通式(2)所示的化学结构的基团,
L1、L2及L3表示键合键,各自独立地表示单键、-COO-、-OCO-、-(CH2)d-、-CH=CH-、-(CH2)eO-、-O(CH2)f-、-O(CH2)gO-、-OCOO(CH2)h-、-(CH2)iOCOO-、-(CH2)jO(CH2)k-、-O(CH2)l-[Si(CH3)2O]m-Si(CH3)2(CH2)o-、-(OCH2CH2)p-、-(CH2CH2O)q-、-(OCH2CH(CH3))r-、-(CH(CH3)CH2)s-、-CH=CHCH2O-、-OCH2CH=CH-、-CH=CH-COO-、-OCO-CH=CH-、-C≡C-、-(CH2)2COO-、-OCO(CH2)2-、-CF=CF-、-OCF2-、-CF2O-、-C≡C-COO-、-OCO-C≡C-或-O-,其中,一部分碳原子任选被替换为硅原子,
d~m及o各自独立地表示1~8的整数,p~s各自独立地表示1~3的整数,n表示0或1,
a、b及c分别为环A1、环A2及环A3中的取代基的数量,将各个被取代的单环或稠环中所含的六元环的数量设为t时,a、b及c各自独立地表示2t+2以下的整数,n为0时,至少a及b中的任一个为1以上,n为1时,至少a、b及c中的任一个为1以上,
[化学式2]
通式(2)
式中,R3表示氢原子、甲基或卤原子。
2.根据第1项所述的偏振片保护膜,其中,相对于上述氢化降冰片烯类树脂,在5~25质量%的范围内含有上述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物。
3.根据第1项或第2项所述的偏振片保护膜,其中,上述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物是具有下述通式(3)所示的化学结构的化合物,
[化学式3]
通式(3)
式中,X1及X3分别独立地表示氢原子、任选具有取代基的碳原子数1~8的烷基、任选具有取代基的碳原子数1~8的烷氧基、任选具有取代基的碳原子数2~6的烯基、卤原子、氰基或上述通式(2)所示的基团,X2、X4、Y1~Y4及Z1~Z4分别独立地表示氢原子、任选具有取代基的碳原子数1~8的烷基、任选具有取代基的碳原子数1~8的烷氧基、任选具有取代基的碳原子数2~6的烯基、卤原子或氰基,X1~X4、Y1~Y4及Z1~Z4中的至少一个表示除氢以外的取代基,环A1、A2及A3分别独立地表示苯环或环己烷环,这些环中,-CH=任选被-N=替换,-CH2-任选被-S-或-O-替换,R1、R2、f及n与上述通式(1)的R1、R2、f及n的含义相同。
4.根据第1项或第2项所述的偏振片保护膜,其中,上述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物是具有下述通式(4)所示的化学结构的化合物,
[化学式4]
通式(4)
式中,R1、R2、X1、X2、X3、X4、Y1~Y4、Z1~Z4、A1、A2及A3与上述通式(3)的R1、R2、X1、X2、X3、X4、Y1~Y4、Z1~Z4、A1、A2及A3的含义相同,f与上述通式(1)的f的含义相同。
5.根据第1项或第2项所述的偏振片保护膜,其中,上述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物是具有下述通式(5)所示的化学结构的化合物,
[化学式5]
通式(5)
式中,R1、R2、X1、X2、X3、X4、Y1~Y4、A1及A2与上述通式(4)的R1、R2、X1、X2、X3、X4、Y1~Y4、A1及A2的含义相同。
6.第1项~第5项中任一项所述的偏振片保护膜,其中,上述偏振片保护膜的恒定负荷拉伸试验前后的拉伸强度为0.6以上。
7.一种偏振片保护膜的制造方法,其制造第1项~第6项中任一项所述的偏振片保护膜,该制造方法具有:制备至少将上述氢化降冰片烯类树脂和上述聚合性化合物溶解于溶剂而成的浆料的工序;使上述浆料流延至支撑体上而形成流延膜的工序;及将上述流延膜从上述支撑体剥离的工序。
8.一种偏振片,其在起偏镜上贴合有第1项~第6项中任一项所述的偏振片保护膜,所述起偏镜是在聚乙烯醇类树脂上吸附有二色性色素并取向的起偏镜。
发明的效果
通过本发明的上述方法,可以提供一种偏振片保护膜及其制造方法,该偏振片保护膜在将含有氢化降冰片烯类树脂的偏振片保护膜贴合于起偏镜而制作偏振片的情况下,可以制成即使实施热循环试验也不易产生裂纹的偏振片。另外,可以提供一种具备该偏振片保护膜的偏振片。
关于本发明的效果的显现机理和作用机理,尚未明确,但推测由以下的理由所导致。
本发明人等为了解决上述问题,对上述问题的原因等进行了研究,其结果发现,在将含有氢化降冰片烯类树脂的偏振片保护膜用于偏振片的情况下的上述裂纹、剥离等问题起因于伴随环境温度变化的起偏镜收缩应力变化,并通过使该偏振片保护膜中含有特定的化合物、使由温度变化导致的偏振片保护膜的膨胀/收缩与起偏镜膜配合,从而能够解决上述问题。
即,起偏镜的收缩应力非常大,在例如90℃下长期放置起偏镜时,其收缩应力为每10mm宽20N。起偏镜的收缩应力大与偏振片的收缩应力变大相关,因此,为了防止裂纹的产生,收缩应力小的情况为宜。
实际上,对膜模拟地施加与上述应力相当的拉伸应力时,观测到膜的强度降低的现象。
构成偏振片时,偏振片保护膜以与起偏镜粘接的状态存在,如上所述地在90℃放置条件下,通常产生大的收缩力。在恒定负荷拉伸试验中再现上述收缩力的情况下,可知偏振片保护膜的强度降低。
推测该膜强度降低对裂纹产生造成影响。原本推测偏振片的偏振片保护膜的裂纹由切割时的刀的冲击而产生,可以考虑分离成(1)膜中产生肉眼不能看见的程度的极微细裂纹、(2)裂纹成长为肉眼能看见的水平这两个阶段。阶段(1)中,主要以切割时的刀的冲击为主要原因,阶段(2)中,切割后的热耐久下构成偏振片的各膜的强度、尺寸变化之差为主要原因。
在为含氢化降冰片烯类树脂的膜的情况下,在阶段(1)中,常温时的强度成为问题,但起偏镜的强度比较低,不能耐受冲击,容易产生裂纹。阶段(2)中,邻接的起偏镜热收缩,同时膜强度降低,裂纹扩大。另外,认为在起偏镜的吸收轴方向上,起偏镜与氢化降冰片烯类树脂膜同样地进行热膨胀,该部分的差越大,裂纹越扩大。
由此,认为为了抑制偏振片的裂纹的产生,使偏振片保护膜的热膨胀与起偏镜接近,防止起偏镜引起的应力下的膜强度降低是最重要的。
因此,本发明人等推测通过在含有氢化降冰片烯类树脂的偏振片保护膜中含有具有通式(1)所示的化学结构的化合物能够防止强度降低是因以下机理所致。
即,通式(1)所示的化学结构中的环A1、A2、及A3因L1、L2及L3而受到旋转限制,环并排而形成刚直的平面结构。该刚直的平面结构与氢化降冰片烯类树脂的流延方向平行地混入/排列,在降冰片烯类树脂的间隙致密地取向。另外,与刚直的平面结构的两端键合的乙烯基在通式(1)所示的聚合性化合物间键合,增强了上述致密的取向的保持。这样一来,推测能够防止切割时产生的极微细的裂纹产生、起偏镜的收缩应力导致的裂纹扩大。
附图说明
图1是偏振片的示意性剖面图。
符号说明
10 起偏镜
20、30 偏振片保护膜
101 偏振片
具体实施方式
本发明的偏振片保护膜含有降冰片烯类树脂,其特征在于,上述降冰片烯类树脂为氢化降冰片烯类树脂,且含有上述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物。该特征是各权利要求的发明中共通或对应的技术特征。
作为本发明的实施方式,从显现出本发明的效果的观点出发,相对于氢化降冰片烯类树脂,优选在5~25重量%的范围内含有上述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物。
在本发明中,从解决本发明的问题的观点出发,上述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物优选为具有上述通式(3)所示的化学结构的化合物、具有上述通式(4)所示的化学结构的化合物、或具有上述通式(5)所示的化学结构的化合物。
在本发明中,从解决本发明的问题的观点出发,优选上述偏振片保护膜的恒定负荷拉伸试验前后的拉伸强度为0.6以上。
作为本发明的偏振片保护膜的制造方法,优选的实施方式具有:制备至少将上述氢化降冰片烯类树脂和上述聚合性化合物溶解于溶剂而成的浆料的工序;使上述浆料流延至支撑体上而形成流延膜的工序;及将上述流延膜从上述支撑体剥离的工序。
本发明的偏振片保护膜贴合于在聚乙烯醇类树脂上吸附有二色性色素并取向的起偏镜,且可以合适地用于偏振片。
以下,对本发明及其构成要素、及用于实施本发明的方案/方式进行详细的说明。需要说明的是,本发明中示出的“~”以包含记载于其前后的数值作为下限值及上限值的含义使用。
(偏振片保护膜的概要)
本发明的偏振片保护膜含有降冰片烯类树脂,上述降冰片烯类树脂为氢化降冰片烯类树脂,且含有上述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物。
以下,对构成要素进行详细的说明。
<氢化降冰片烯类树脂>
本发明中使用的“氢化降冰片烯类树脂”是指,对通过使用易位聚合催化剂使降冰片烯衍生物(单体)单独地开环聚合、或使该降冰片烯衍生物及能与其共聚的不饱和环状化合物开环聚合而得到的聚合物进一步氢化而得到的氢化降冰片烯类树脂。
氢化降冰片烯类树脂优选为来自具有下述通式(I)所示的化学结构的降冰片烯单体的树脂。需要说明的是,在本发明中,来自具有通式(I)所示的化学结构的降冰片烯单体的树脂是指,将具有通式(I)所示的化学结构的降冰片烯单体作为成分进行聚合而衍生的树脂。
[化学式6]
通式(I)
式中,A、B、X及Y分别独立地表示氢原子、碳原子数1~10的烃基、及选自卤原子、烷氧基、羟基、酯基、氰基、酰胺基、酰亚胺基及甲硅烷基的原子或基团。m表示0或1。
作为能与上述通式(I)所示的降冰片烯类单体共聚的共聚性单体,没有特殊限定,可列举例如不具有降冰片烯骨架的环状烯烃类单体。
作为上述不具有降冰片烯骨架的环状烯烃类单体,可列举例如:环辛二烯、环辛烯、环己烯、环十二碳烯、环十二碳三烯等。
在上述降冰片烯类单体或共聚性单体中,在单体结构中具有除卤原子以外的极性基团能对得到的树脂赋予一定的透湿度,因而优选。
作为使上述通式(I)所示的降冰片烯类单体聚合的方法或使上述通式(I)所示的降冰片烯类单体和能够与其共聚的共聚性单体共聚的方法,可以采用例如开环易位聚合、加成聚合等以往公知的方法。
上述降冰片烯类树脂在分子内具有不饱和键时,优选通过氢化使其饱和,氢化率优选为95%以上,更优选为99%以上。氢化率小于95%时,得到的偏振片保护膜的耐光性、耐热劣化性差。
上述降冰片烯类树脂的采用苯乙烯换算的数均分子量优选为1万~100万。小于1万时,得到的偏振片保护膜的力学强度有时会不足,相反大于100万时,熔融挤出成型性有时会显著降低。更优选为1.5万~70万。
作为上述降冰片烯类树脂中的市售品,可列举例如:日本ZEON株式会社制“ZEONOR”系列、“ZEONEX”系列、日立化成工业株式会社制“Optrets”系列、JSR株式会社制“ARTON”系列等。这些中,特别是由于在分子骨架中具有极性基团,优选具有使用水性粘合剂制作偏振片时所需的适度的透湿性的“ARTON”系列。
<聚合性化合物>
本发明的偏振片保护膜含有下述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物。
[化学式7]
通式(1)
式中,R1及R2各自独立地表示氢原子、甲基或卤原子。
环A1、环A2及环A3各自独立地表示苯环、环己烷环、环己烯环、萘环、四氢萘环、十氢萘环、蒽环或菲环。这些环中,-CH=任选被-N=替换,-CH2-任选被-S-或-O-替换。
X、Y及Z各自独立地表示任选具有取代基的碳原子数1~8的烷基、任选具有取代基的碳原子数1~8的烷氧基、任选具有取代基的碳原子数2~6的烯基、卤原子、氰基或具有下述通式(2)所示的化学结构的基团。
L1、L2及L3表示键合键,各自独立地表示单键、-COO-、-OCO-、-(CH2)d-、-CH=CH-、-(CH2)eO-、-O(CH2)f-、-O(CH2)gO-、-OCOO(CH2)h-、-(CH2)iOCOO-、-(CH2)jO(CH2)k-、-O(CH2)l-[Si(CH3)2O]m-Si(CH3)2(CH2)o-、-(OCH2CH2)p-、-(CH2CH2O)q-、-(OCH2CH(CH3))r-、-(CH(CH3)CH2)s-、-CH=CHCH2O-、-OCH2CH=CH-、-CH=CH-COO-、-OCO-CH=CH-、-C≡C-、-(CH2)2COO-、-OCO(CH2)2-、-CF=CF-、-OCF2-、-CF2O-、-C≡C-COO-、-OCO-C≡C-或-O-。其中,一部分碳原子任选被替换为硅原子。
d~m及o各自独立地表示1~8的整数。p~s各自独立地表示1~3的整数。n表示0或1。
a、b及c分别为环A1、环A2及环A3中的取代基的数量,将各个被取代的单环或稠环中所含的六元环的数量设为t时,a、b及c各自独立地表示2t+2以下的整数,n为0时,至少a及b中的任一个为1以上。n为1时,至少a、b及c中的任一个为1以上。)
上述通式(1)中,作为R1、R2、X、Y及Z所示的卤原子,可列举氟原子、氯原子、溴原子、碘原子。
作为X、Y及Z所示的任选具有取代基的碳原子数1~8的烷基,可列举甲基、氯甲基、三氟甲基、氰甲基、乙基、二氯乙基、丙基、异丙基、丁基、仲丁基、叔丁基、异丁基、戊基、异戊基、叔戊基、己基、2-己基、3-己基、环己基、1-甲基环己基、庚基、2-庚基、3-庚基、异庚基、叔庚基、正辛基、异辛基、叔辛基、2-乙基己基等,作为任选具有取代基的碳原子数1~8的烷氧基,可列举甲氧基、氯甲氧基、三氟甲氧基、氰甲基氧基、乙氧基、二氯乙氧基、丙氧基、异丙氧基、丁氧基、仲丁氧基、叔丁氧基、异丁氧基、戊氧基、异戊氧基、叔戊氧基、己氧基、环己氧基、庚氧基、异庚氧基、叔庚氧基、正辛氧基、异辛氧基、叔辛氧基、2-乙基己基氧基等,作为任选具有取代基的碳原子数2~6的烯基,可列举乙烯基、1-甲基乙烯基、丙烯基、丁烯基、异丁烯基、戊烯基、己烯基等。
上述通式(2)中,作为R3所示的卤原子,可列举作为上述R1等例示的卤原子。
上述通式(1)中,对于环A1、环A2或环A3为稠环的情况下的取代基的位置而言,例如,环A1为萘环时,以萘环的1位上键合有CH2=CR1-COO基时、L1在5位键合,2位上键合有CH2=CR1-COO基时、L1在6位键合的方式,CH2=CR1-COO基和L1在平行的位置与环A1键合。
环A1为十氢萘环或四氢萘环的情况下也按照环A1为萘环的情况,但为四氢萘环的情况下,可以在饱和环及不饱和环的一者上键合有CH2=CR1-COO基,在另一者上键合有L1。环A1为蒽环的情况下,在蒽环的1位上键合有CH2=CR1-COO基时,L1在6位键合,在2位上键合有CH2=CR1-COO基时,L1在7位键合,在3位上键合有CH2=CR1-COO基时,L1在8位键合。
环A1为菲环的情况下,以在菲环的1位上键合有CH2=CR1-COO基时,L1在6位键合,在2位上键合有CH2=CR1-COO基时,L1在7位键合,在3位上键合有CH2=CR1-COO基时,L1在8位键合,而在环A1中,CH2=CR1-COO基和L1以聚合性化合物的分子结构保持直线性的方式与环A1键合。
对于环A2及环A3而言,L1、L2或L3的键合键以聚合性化合物的分子结构保持直线性的方式按照环A1而键合。
另外,作为上述具有通式(1)所示的化学结构的本发明的聚合性化合物,可列举具有下述通式(3)所示的化学结构的聚合性化合物。通式(3)的聚合性化合物在分子结构上的旋转限制大。因此,本发明的裂纹防止的效果大,因而更优选。
[化学式8]
通式(3)
式中,X1及X3分别独立地表示氢原子、任选具有取代基的碳原子数1~8的烷基、任选具有取代基的碳原子数1~8的烷氧基、任选具有取代基的碳原子数2~6的烯基、卤原子、氰基或上述通式(2)所示的基团。X2、X4、Y1~Y4及Z1~Z4分别独立地表示氢原子、任选具有取代基的碳原子数1~8的烷基、任选具有取代基的碳原子数1~8的烷氧基、任选具有取代基的碳原子数2~6的烯基、卤原子或氰基。X1~X4、Y1~Y4及Z1~Z4中的至少一者表示除氢以外的取代基。环A1、A2及A3分别独立地表示苯环或环己烷环。这些环中,-CH=任选被-N=替换,-CH2-任选被-S-或-O-替换。R1、R2、f及n与上述通式(1)的R1、R2、f及n的含义相同。
另外,作为上述通式(1)所示的本发明的聚合性化合物,可列举下述通式(4)所示的聚合性化合物。通式(4)的聚合性化合物的分子结构上的平面刚直性大。因此,本发明的裂纹防止的效果大,因而更优选。
[化学式9]
通式(4)
式中,R1、R2、X1、X2、X3、X4、Y1~Y4、Z1~Z4、A1、A2及A3与上述通式(3)的R1、R2、X1、X2、X3、X4、Y1~Y4、Z1~Z4、A1、A2及A3的含义相同。F与上述通式(1)的f的含义相同。
另外,作为上述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物,也可列举下述通式(5)所示的聚合性化合物。通式(5)的聚合性化合物的分子结构小,可得到密度提高的效果。因此,本发明的裂纹防止的效果大,因而更优选。
[化学式10]
通式(5)
式中,R1、R2、X1、X3、X2、X4、Y1~Y4、A1及A2与上述通式(4)的R1、R2、X1、X2、X3、X4、Y1~Y4、A1及A2的含义相同。
作为上述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物的具体例,可列举下述化合物No.1~29。其中,本发明不受以下的化合物的限制。
[化学式11]
[化学式12]
[化学式13]
具有上述通式(4)所示的化学结构的聚合性化合物例如可以按照下述反应途径制造。
[化学反应式14]
本发明的偏振片保护膜中,相对于氢化降冰片烯类树脂,在5~25质量%的范围内含有上述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物,从本发明的效果的显现性的观点出发优选。
在本发明中,相对于氢化降冰片烯类树脂,更优选在10~20质量%的范围内含有上述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物。在这样的范围内,容易进行用于使由偏振片保护膜的温度变化导致的膨胀/收缩与起偏镜片配合的控制。
<偏振片保护膜的各种添加剂>
本发明的偏振片保护膜可以以赋予各种功能的目的含有各种添加剂。
以下,示出能在本发明的偏振片保护膜中适用的代表性的添加剂。
能在本发明中使用的添加剂没有特殊限制,在不损害本发明的目的效果的范围,可使用例如:紫外线吸收剂、增塑剂、劣化抑制剂、消光剂、相位差提高剂、波长分散改良剂等。
以下,示出能在本发明的偏振片保护膜中使用的代表性的添加剂。
<紫外线吸收剂>
本发明的偏振片保护膜中也可以含有紫外线吸收剂。
作为紫外线吸收剂,可列举例如:氧基二苯甲酮类化合物、苯并三唑类化合物、水杨酸酯类化合物、二本甲酮类化合物、丙烯酸氰基酯类化合物、镍络合盐类化合物等,但优选着色少的苯并三唑类化合物。另外,也优选使用日本特开平10-182621号公报、日本特开平8-337574号公报中记载的紫外线吸收剂、日本特开平6-148430号公报中记载的高分子紫外线吸收剂。作为紫外线吸收剂,从起偏镜、有机EL元件的抗裂化的观点出发,波长370nm以下的紫外线的吸收能优异,且从有机EL元件的显示性的观点出发,优选具备波长400nm以上的可见光的吸收少的特性。
作为在本发明中有用的苯并三唑系紫外线吸收剂,可列举例如:2-(2′-羟基-5′-甲基苯基)苯并三唑、2-(2′-羟基-3′,5′-二叔丁基苯基)苯并三唑、2-(2′-羟基-3′-叔丁基-5′-甲基苯基)苯并三唑、2-(2′-羟基-3′,5′-二叔丁基苯基)-5-氯苯并三唑、2-[2′-羟基-3′-(3″,4″,5″,6″-四氢邻苯二甲酰亚胺甲基)-5′-甲基苯基]苯并三唑、2,2-亚甲基双[4-(1,1,3,3-四甲基丁基)-6-(2H-苯并三唑-2-基)酚]、2-(2′-羟基-3′-叔丁基-5′-甲基苯基)-5-氯苯并三唑、2-(2H-苯并三唑-2-基)-6-(直链及侧链十二烷基)-4-甲基酚、辛基-3-[3-叔丁基-4-羟基-5-(氯-2H-苯并三唑-2-基)苯基]丙酸酯与2-乙基己基-3-[3-叔丁基-4-羟基-5-(5-氯-2H-苯并三唑-2-基)苯基]丙酸酯的混合物等,但不限定于此。
另外,作为市售品,可以优选使用“TINUVIN109”、“TINUVIN171”、“TINUVIN326”、“TINUVIN328”(以上、BASF日本株式会社制(注册商标))。
相对于纤维素衍生物,紫外线吸收剂的添加量优选为0.1~5.0质量%的范围内,进一步优选为0.5~5.0质量%的范围内。
<增塑剂>
一般而言,偏振片保护膜的柔性欠缺,对膜施加弯曲应力、剪切应力时,膜容易产生裂缝等。另外,作为偏振片保护膜进行加工时,裂缝容易进入切断部,容易产生切屑。产生的切屑污染偏振片保护膜,成为光学缺陷的原因。为了改良这些问题,可以在偏振片保护膜中含有增塑剂。
作为增塑剂,具体而言,可列举例如:邻苯二甲酸酯类、偏苯三酸酯类、脂肪族二元酸酯类、正磷酸酯类、乙酸酯类、聚酯-环氧化酯类、蓖麻油酸酯类、聚烯烃类、聚乙二醇类化合物等。
作为能在本发明的偏振片保护膜中使用的增塑剂,优选从在常温、常压下为液态、且沸点为200℃以上的化合物中选择。作为具体的化合物名,可列举例如:脂肪族二元酸酯类、邻苯二甲酸酯类、聚烯烃类化合物。
作为增塑剂的添加量,相对于氢化降冰片烯类树脂,优选为0.5~40.0质量%的范围内,更优选为1.0~30.0质量%的范围内,特别优选为3.0~20.0质量%的范围内。增塑剂的添加量为0.5质量%以上时,增塑效果充分、加工适应性提高。另外,为40质量%以下时,能够抑制增塑剂在长时间经时的情况下的分离溶出,能够可靠地抑制光学不均、对其它部件的污染等。
<抗劣化剂>
也可以在本发明的偏振片保护膜中含有抗劣化剂,可含有例如:抗氧化剂、过氧化物分解剂、自由基阻聚剂、金属钝化剂、酸捕获剂、胺类等。
对于抗劣化剂而言,在例如日本特开平3-199201号公报、日本特开平5-197073号公报、日本特开平5-194789号公报、日本特开平5-271471号公报、日本特开平6-107854号公报等中有记载。
从显现添加抗劣化剂带来的效果、抑制抗劣化剂向膜表面的渗出(Bleedout)的观点出发,抗劣化剂的添加量优选为在偏振片保护膜的制作中使用的浆料(氢化降冰片烯类树脂溶液)的0.01~1质量%的范围内,进一步优选为0.01~0.2质量%的范围内。
作为特别优选的抗劣化剂的实例,可列举丁基化羟基甲苯(简称:BHT)、三苄基胺(简称:TBA)。
<消光剂微粒>
本发明的偏振片保护膜中可以含有微粒作为消光剂。
作为该消光剂微粒,可列举例如:二氧化硅、二氧化钛、氧化铝、氧化锆、碳酸钙、碳酸钙、滑石、黏土、烧结二氧化硅、烧结硅酸钙、水合硅酸钙、硅酸铝、硅酸镁及磷酸钙等。这些消光剂微粒中,含有硅的微粒在浑浊度(雾度)降低的方面优选,特别优选二氧化硅。二氧化硅的微粒优选一次平均粒子尺寸为1~20nm的范围内、且表观比重为70g/升以上的微粒。从能够降低偏振片保护膜的雾度的观点出发,进一步优选一次平均粒子尺寸为5~16nm的范围内的微粒。表观比重进一步优选为90~200g/升的范围内,特别优选为100~200g/升的范围内。表观比重越大,越能够制备高浓度的分散液,雾度、凝聚物变得良好,因此优选。
通常这些微粒形成平均粒子尺寸成为0.05~2.0μm的范围内的二次粒子。这些二次粒子在偏振片保护膜中,以一次粒子的凝聚体的形式存在,在光学膜表面形成0.05~2.0μm的凹凸。二次平均粒子尺寸优选为0.05~1.0μm的范围内,进一步优选为0.1~0.7μm的范围内,特别优选为0.1~0.4μm的范围内。对于一次粒子及二次粒子尺寸而言,用扫描型电子显微镜观察偏振片保护膜中的微粒,将与粒子外接的圆的直径作为粒子尺寸。另外,改变位置观察200个粒子,将其平均值设为平均粒子尺寸。
二氧化硅的微粒可使用例如:Aerosil R972、R972V、R974、R812、200、200V、300、R202、OX50、TT600(以上为日本Aerosil株式会社制、商品名)等市售品。氧化锆的微粒可以使用例如作为Aerosil R976及R811(以上、日本Aerosil株式会社制、注册商标)的市售品。
这些中,Aerosil 200V及Aerosil R812V是一次平均粒子尺寸为20nm以下、且表观比重为70g/升以上的二氧化硅的微粒,将偏振片保护膜的雾度保持为较低水平、并且降低摩擦系数的效果大,因此特别优选。
上述消光剂微粒优选通过以下的方法制备,并适用于偏振片保护膜。即,优选预先制备对溶剂和消光剂微粒进行了搅拌混合的消光剂微粒分散液,将该消光剂微粒分散液添加于另行准备的氢化降冰片烯类树脂浓度小于5质量%的各种添加剂溶液中并进行搅拌溶解后,进一步与主要的氢化降冰片烯类树脂浆料混合的方法。
由于对消光剂微粒的表面实施了疏水化处理,因此添加具有疏水性的添加剂时,在消光剂微粒表面吸附有添加剂,容易以其为核而产生添加剂的凝聚物。因此,预先将相对亲水的添加剂与消光剂微粒分散液混合后,混合疏水的添加剂,由此,能够抑制消光剂表面的添加剂的凝聚,能制作雾度低、装入液晶显示装置时在黑显示下的漏光少的偏振片保护膜,因而优选。
消光剂微粒分散剂与添加剂溶液的混合、及与氢化降冰片烯类树脂浆料的混合中,优选使用在线混合器。本发明不限定于这些方法,但将二氧化硅微粒与溶剂等混合并进行分散时的二氧化硅的浓度优选为5~30质量%的范围内,更优选为10~25质量%的范围内,特别优选为15~20质量%的范围内。分散浓度高的情况下,相对于等量的添加量的浑浊度变低,能够抑制雾度、凝聚物的产生,因而优选。最终的氢化降冰片烯类树脂的浆料中的消光剂的添加量优选为0.001~1.0质量%的范围内,进一步优选为0.005~0.5质量%的范围内,特别优选为0.01~0.1质量%的范围内。接下来,对本发明的偏振片保护膜的制造方法进行说明。本发明的偏振片保护膜优选为通过溶液流延法或熔融流延制造的偏振片保护膜。在此,对采用溶液流延法的制造方法进行叙述。
本发明的偏振片保护膜的制造通过下述工序进行:将氢化降冰片烯类树脂、及上述聚合性化合物溶解于溶剂从而制备浆料的工序;使浆料流延至环状移动的无接头金属支撑体上的工序;将流延的浆料制成网并进行干燥的工序;从金属支撑体剥离的工序;拉伸或保持宽度的工序;进一步进行干燥的工序;及将经抛光的膜卷绕的工序。
对制备浆料的工序进行叙述。浆料中的氢化降冰片烯类树脂、上述聚合性化合物的溶解浓度浓的情况能降低流延至金属支撑体后的干燥负荷而优选,但浓度过浓时,过滤时的负荷增加,过滤精度变差。
作为兼顾这些的浓度,优选为10~35质量%,进一步优选为15~25质量%。
在浆料中使用的溶剂可以单独使用,也可以组合使用2种以上,但混合纤维素酯的良溶剂和不良溶剂而使用在生产效率的方面优选,良溶剂多的情况在氢化降冰片烯类树脂的溶解性的方面优选。
良溶剂与不良溶剂的混合比率的优选范围为:良溶剂为70~98质量%、不良溶剂为2~30质量%。良溶剂、不良溶剂是指,将单独能够溶解使用的氢化降冰片烯类树脂的溶剂定义为良溶剂,将单独仅能溶胀或无法溶解的溶剂定义为不良溶剂。
在本发明中使用的良溶剂没有特殊限定,但可列举二氯甲烷等有机卤素化合物、二氧戊环类、丙酮、乙酸甲酯、乙酰乙酸甲酯等。特别优选列举二氯甲烷或乙酸甲酯。
另外,在本发明中使用的不良溶剂没有特殊限定,但优选使用例如:甲醇、乙醇、正丁醇、环己烷、环己酮等。另外,浆料中优选含有0.01~2质量%的水。
另外,在氢化降冰片烯类树脂、上述聚合性化合物以及添加剂的溶解中使用的溶剂可以将在膜制造工序中通过干燥而从膜中除去的溶剂回收、并将其再利用而使用。
作为制备上述记载的浆料时的氢化降冰片烯类树脂的溶解方法,可以使用一般方法。组合加热和加压时,能够加热至常压下的沸点以上。
在边以溶剂在常压下的沸点以上、且加压下溶剂不沸腾的范围的温度进行加热边搅拌溶解的情况下,由于防止凝胶、被称作团块的块状未溶解物的产生而优选。另外,将氢化降冰片烯类树脂与不良溶剂混合并使其湿润或溶胀后,进一步添加良溶剂并溶解的方法也优选使用。
接下来,使用滤纸等适当的过滤材料对该氢化降冰片烯类树脂、上述聚合性化合物以及添加剂溶液进行过滤。
作为过滤材料,为了除去不溶物等而优选绝对过滤精度小的情况,但绝对过滤精度过小时,存在容易发生过滤材料的堵塞的问题。
因此,优选绝对过滤精度为0.008mm以下的过滤材料,更优选0.001~0.008mm的过滤材料,进一步优选0.003~0.006mm的过滤材料。
过滤材料的材质没有特殊限定,可以使用通常的过滤材料,但聚丙烯、Teflon(注册商标)等塑料制的过滤材料、不锈钢等金属制的过滤材料因不会发生纤维的脱落等而优选。
优选通过过滤将原料的氢化降冰片烯类树脂中含有的杂质、特别是亮点异物除去、减少。
亮点异物是指,将两块偏振片以正交偏振状态配置,在其间配置偏振片保护膜,从一偏振片的一侧照射光,从另一偏振片的一侧观察时,来自相反侧的光泄露而能看到的点(异物),直径为0.01mm以上的亮点数优选为200个/cm2以下。
更优选为100个/cm2以下,进一步优选为50个/m2以下,进一步优选为0~10个/cm2以下。另外,优选0.01mm以下的亮点少的情况。
浆料的过滤可以通过通常的方法进行,但边以溶剂在常压下的沸点以上、且加压下溶剂不沸腾的范围的温度加热边过滤的方法由于过滤前后的滤压的差(成为压差)的升高小而优选。
优选的温度为45~120℃,更优选为45~70℃,进一步优选为45~55℃。
优选滤压小的情况。优选滤压为1.6MPa以下,更优选为1.2MPa以下,进一步优选为1.0MPa以下。
接下来,对浆料的流延进行说明。
流延(浇铸)工序中的金属支撑体优选表面经镜面抛光的金属支撑体,作为金属支撑体,优选用不锈钢带或铸件对表面进行了镀敷抛光而得到的转筒。可以将浇铸的宽度设为1~4m。
流延工序的金属支撑体的表面温度为-50℃~小于溶剂的沸点的温度,温度高的情况由于能够提高网的干燥速度而优选,但过高时,存在网发泡、平面性劣化的情况。优选的支撑体温度为0~40℃→0~50℃,进一步优选为5~30℃。
或者通过冷却而使网凝胶化、并以大量含有残留溶剂的状态从转筒剥离也是优选的方法。
控制金属支撑体的温度的方法没有特殊限定,存在吹送暖风或冷风的方法、使温水与金属支撑体的内侧接触的方法。
使用温水的情况由于热的传递有效地进行、金属支撑体的温度达到给定温度为止的时间短而优选。使用暖风的情况下,有时会使用温度高于目标温度的风。
为了使辊状偏振片保护膜示出良好的平面性,将网从金属支撑体剥离时的残留溶剂量优选为10~150质量%。
在本发明中,残留溶剂量由下式定义。
残留溶剂量(质量%)={(M-N)/N}×100
需要说明的是,M是在制造网或膜中、或制造网或膜后的任意时刻采取的试样的质量,N是将M在115℃下加热1小时后的质量。
另外,在辊状偏振片保护膜的干燥工序,将网从金属支撑体剥离,进一步进行干燥,优选使残留溶剂量为1质量%以下,进一步优选为0.1质量%以下,特别优选为0~0.01质量%以下。
在膜干燥工序中,通常采用边通过辊干燥方式(使上下配置的多个辊交替通过网而使其干燥的方式)、拉幅方式输送网边进行干燥的方式。
为了制作本发明的偏振片保护膜,特别优选在刚从金属支撑体剥离后的网的残留溶剂量多的位置向输送方向(=长度方向)拉伸,进一步通过用夹具等把持网的两端的拉幅方式向宽度方向进行拉伸。
<表面处理>
可以对上述偏振片保护膜中配置于外侧的偏振片保护膜(外侧偏振片保护膜)的表面实施任意适当的表面处理。作为表面处理,可列举防眩处理、扩散处理(防眩处理)、抗反射处理(防反射处理)、硬涂处理、抗静电处理等。作为防眩处理方法,可以使用任意适当的方法。例如,可以通过压花加工、喷砂加工、蚀刻加工等适宜的方式在表面赋予微细凹凸结构等,由此以表面反射光扩散的适宜方式形成。
<偏振片保护膜的特性>
作为本发明的偏振片保护膜,其特征在于使用含有氢化降冰片烯类树脂的膜,但可以是未拉伸的膜,也可以是经单向拉伸的膜。通过将以下记载的聚合性化合物添加至树脂中,使树脂的取向度增加。由此,拉伸弹性模量上升,改良了裂纹产生的主要原因之一即对切割时的刀的冲击差。
另外,通过进行取向,该膜的线膨胀系数也降低。对于取向而言,通过浇铸制膜,因其溶剂扩散过程而在制膜带上与对膜(网)产生的收缩力,结合膜输送中的输送张力而发生。
<取向度的测定>
按照下述方法测定了偏振片保护膜的取向系数。
首先,对取向系数进行说明。
在本发明中,取向系数的测定采用了单轴取向系数(取向系数fxy)。
取向系数fxy可以按照下式求出。需要说明的是,关于fxy的详细情况,可以参考P.A.Floumoy,and W.J.Schaffers,Spectrochimica Acta,22,5(1966)。
fxy=(Dxy-1)/(Dxy+2)·(Dxy+2)/(Dxy-1)
fxz=(Dxz-1)/(Dxz+2)·(Dxz+2)/(Dxz-1)
fxy表示面内方向的取向系数。另外,fxz表示膜厚方向的取向系数。Dxy、Dxz表示红外二色性比,空间上各向同性的完全无取向试样,都取1.00的值。
此处,
D0=cot2δ,
δ是通过分子振动而形成的跃迁矩矢量与分子轴所成的角度。严密地对其进行计算时,需要研究分子振动的力矩的方向,但通常,选择与分子轴平行的振动模式和垂直的模式,将其分别作为0°、90°而进行计算时,能得到关于充分取向性的信息。
该取向系数在无取向的情况下理论上为0,在观测方向上完全取向的情况下为1.0,相反,在与观测方向正交的情况下为-0.5。
对于偏振片保护膜,将氢化降冰片烯类树脂骨架部的乙烯链C-C伸缩振动(1273cm-1±10cm-1的最大峰值)作为与分子轴平行的振动模式(δ=0°)而进行计算。
红外二色性比的测定使用衰减全反射红外分光法(ATR-IR法)而测定。需要说明的是,关于具体的计算方法,参考J.P.Hobbs,C.S.P.Sung(J.P.Hobbs,C.S.P.Sung,K.Krishan,and,S.Hill,Macromolecules,16,193(1983))。
红外二色性比的求出方法中,测定来自氢化降冰片烯类树脂骨架的乙烯链C-C伸缩振动的峰(1273cm-1±10cm-1间出现的最强的峰)的强度。峰强度通过下述方法求出:连接将峰顶的波数(设为xcm-1)、与x~x+50cm-1中吸光度最小的点和x~x-50cm-1中吸光度最小的点,将其作为基线,测定基于该基线的峰强度而求出。
首先,在长度方向平行地入射光,求出偏光与入射面垂直时的吸光度(ATEx)及偏光面与入射面平行时的吸光度(ATMx),接下里,在宽度方向平行地入射,同样地测定ATEy和ATMy,使用上述式,计算红外二色性比fxy、fxz。
本发明中的具体取向系数fxy使用偏光ATR法按照下述的测定条件测定。
测定装置:Thermo株式会社制 NICOLET380
棱镜:锗
棱镜与试样之间的压力:30cN·m
将试样按压于棱镜的治具面积:1cm2
入射角:45°
反射次数:1次
分解能:4cm-1
数据内插:0.5cm-1
对于试样的折射率而言,在本发明的纤维素衍生物中,设为1.477而进行计算。另外,棱镜(锗)设为4.00。使用线栅起偏镜,入射相对于由在样品表面入射的光与反射的光构成的入射面垂直的偏光及水平的偏光,测定了FTIR-ATR光谱。上述测定将MD方向设定为x轴、将垂直方向(宽度方向TD)设定为y轴、将厚度方向设定为z轴而测定。
<线膨胀系数>
偏振片保护膜的线膨胀系数α优选为4.5×10-5/℃以下(PVA的值),更优选为-5.0×10-5~4.5×10-5/℃,进一步优选为-4.5×10-5~4.0×10-5/℃。如果线膨胀系数α为上述的范围内,则可得到裂纹耐久性优异的偏振片。
上述起偏镜的透射轴方向的线膨胀系数与上述偏振片保护膜的线膨胀系数α之差优选大于0、为4×10-5/℃以下,更优选为0.5×10-5~4.0×10-5/℃。起偏镜的透射轴方向的线膨胀系数与上述偏振片保护膜的线膨胀系数α之差为上述的范围内时,可得到裂纹耐久性优异的偏振片。
<起偏镜>
作为在本发明中使用的起偏镜,可以使用任意适当的起偏镜。可举例例如使碘、二色性染料等二色性物质吸附于聚乙烯醇类膜、部分缩甲醛化聚乙烯醇类膜、乙烯-乙酸乙烯酯共聚物类部分皂化膜等亲水性高分子膜并进行单向拉伸而得到的膜、聚乙烯醇的脱水处理物、聚氯乙烯的脱盐酸处理物等多烯类取向膜等,这些当中,使碘等二色性物质吸附于聚乙烯醇类膜并进行单向拉伸而成的起偏镜的偏振二色性比高,而特别优选。这些起偏镜的厚度没有特殊限定,一般为1~80μm左右。
使碘吸附于聚乙烯醇类膜并进行单向拉伸而成的起偏镜例如可以通过将聚乙烯醇浸渍于碘的水溶液中来染色、并拉伸至原长的3~7倍而制作。根据需要,也可以包含硼酸、硫酸锌、氯化锌等,也可以浸渍于碘化钾等的水溶液中。进一步,也可以根据需要而在染色前将聚乙烯醇类膜浸渍于水中并进行水洗。
通过对聚乙烯醇类膜进行水洗,除了可以洗去聚乙烯醇类膜表面的污垢、抗粘连剂以外,还具有使聚乙烯醇类膜溶胀而防止染色不均等不均的效果。拉伸可以在利用碘进行染色之后进行,也可以边染色边拉伸,另外还可以在进行拉伸之后利用碘进行染色。在硼酸、碘化钾等的水溶液或水浴中也可以进行拉伸。
在本发明中使用的起偏镜优选满足0.030≤Rpva≤0.040。此处,对于Rpva而言,在波长1000nm下,将在起偏镜的面内折射率成为最大的方向的折射率设为nx、并将与该折射率成为最大的方向正交的方向的折射率设为ny时,由Rpva=nx-ny表示。Rpva进一步优选为0.030≤Rpva≤0.039,特别优选为0.030≤Rpva≤0.035。推定通过增加不对起偏镜中的取向产生影响的(代表性地,取向性低的)结晶量,从而满足这样的特性。如果是Rpva为这样的范围的起偏镜,则在高温高湿环境下可具有优异的尺寸稳定性及光学耐久性。其结果,该起偏镜即使是在用于仅在起偏镜的单侧设置有偏振片保护膜的偏振片的情况下,也不易引起尺寸变化及光学特性的劣化,能够实现能在实际使用上允许的尺寸稳定性及光学耐久性。
本发明中使用的起偏镜的二色性比DR优选为160以上,进一步优选为160~220,特别优选为170~210,最优选为175~185。如果二色性比DR为这样的范围,则通过使用本发明的偏振片,能够得到正面对比度高的液晶面板及液晶显示装置。这样的液晶面板及液晶显示装置适于例如电视用途。需要说明的是,二色性比DR可以通过下式求出。
二色性比DR=log(0.919/k2)/log(0.919/k1)
此处,k1为起偏镜的透射轴方向的透射率,k2为起偏镜的吸收轴方向的透射率,常数0.919为界面反射率。
在本发明中使用的起偏镜的透射率(单体透射率)Ts优选为42%以上,进一步优选为42.~44.0%的范围,特别优选为42.5~43.0%的范围。如果透射率Ts为这样的范围,则通过使用本发明的偏振片,能够得到亮度高的液晶面板或液晶显示装置。这样的液晶面板及液晶显示装置适于例如电视用途。需要说明的是,偏振片的透射率可以通过下式求出。
透射率=(k1+k2)/2×100[%]
此处,k1为起偏镜的透射轴方向的透射率,k2为起偏镜的吸收轴方向的透射率。
如上所述,本发明中使用的起偏镜可使用将含有碘或二色性染料等二色性物质的聚乙烯醇(PVA)类树脂作为主成分的起偏镜。
在本发明中使用的起偏镜的碘含量优选为1.8~5.0质量%,进一步优选为2.0~4.0质量%。通过使碘含量为上述范围,能够得到优选范围的透射率的偏振片,能够得到正面方向的对比度比高的液晶显示装置。
在本发明中使用的起偏镜的硼酸含量以硼换算优选为0.5质量~3.0质量%,进一步优选为1.0~2.8质量%,特别优选为1.5~2.6质量%。如上所述,根据本发明,能够得到不增加硼酸量而在加湿环境下具有优异的尺寸稳定性及光学耐久性的起偏镜。
优选在本发明中使用的起偏镜可优选进一步含有钾。上述钾含量优选为0.2~1.0质量%,进一步优选为0.3~0.9质量%,特别优选为0.4~0.8质量%。通过使钾含量为上述范围,能得到具有优选范围的透射率、且偏振度高的偏振片。
上述起偏镜的透射轴方向的线膨胀系数没有特殊限定,可成为任意适当的值。例如,在使用以含有二色性物质的聚乙烯醇(PVA)类树脂为主成分的起偏镜的情况下,起偏镜的透射轴方向的线膨胀系数可达到4.0×10-5~5.0×10-5/℃。
<偏振片>
图1是根据本发明的优选实施方式的偏振片的概要剖面图。图1的实施方式中,偏振片101具备起偏镜10和配置于该起偏镜10的两个面的偏振片保护膜20、30。该起偏镜10与该偏振片保护膜20、30通过任意的粘接层(未图示)贴合在一起。
对于与上述偏振片保护膜20的起偏镜10的透射轴平行方向的线膨胀系数α(以下,也简称为线膨胀系数α)小于起偏镜的透射轴方向的线膨胀系数。一般而言,在起偏镜中,其制造过程中的膜的拉伸方向与吸收轴方向一致。因此,与起偏镜的吸收轴正交的方向即透射轴方向存在非常脆且容易断裂的倾向。通过使用线膨胀系数α小于起偏镜自身的透射轴方向的线膨胀系数的偏振片保护膜,从而能得到裂纹耐久性优异的偏振片。
在图1所例示的偏振片101中,偏振片保护膜20、30中至少一者的线膨胀系数α小于起偏镜的透射轴方向的线膨胀系数即可,偏振片保护膜20、30这两者的线膨胀系数α可以都是小于起偏镜的透射轴方向的线膨胀系数的值。代表性地,偏振片101的外侧的偏振片保护膜的线膨胀系数α是小于起偏镜的透射轴方向的线膨胀系数的值。偏振片保护膜20、30可以是相同的材料且具有相同的线膨胀系数α的偏振片保护膜,也可以各自使用不同的偏振片保护膜。
一般而言,起偏镜有温度越高则越膨胀的倾向。在本发明的偏振片中,优选使用具有温度越低而越膨胀的性质的偏振片保护膜。
因此,对于本发明的偏振片而言,放置环境的温度变高时,上述起偏镜与上述偏振片保护膜在起偏镜的透射轴方向上的尺寸变化之差变大,通过使用这样的偏振片保护膜,从而能够提高裂纹耐久性。
在现有的偏振片中,为了抑制起偏镜与偏振片保护膜的界面处应力的产生,设计为减小起偏镜与保护膜的线膨胀系数之差、且随着温度变化的尺寸变化之差变小。
另一方面,本发明中,如上所述,通过将偏振片保护膜的线膨胀系数α设为小于起偏镜的透射轴方向的线膨胀系数的值,从而能够进一步提高裂纹耐久性。
在本发明中,需要使取向方向的尺寸变化、及其垂直方向的尺寸变化中的至少一者的尺寸变化小于起偏镜的透射轴方向的尺寸变化。
即,将在上述记载的氢化降冰片烯类树脂中添加了以下记载的聚合性化合物而成的膜以相对于起偏镜的透射轴平行的方向的尺寸变化小于起偏镜的透射轴方向的尺寸变化的方式配置,从而制成偏振片保护膜,由此可得到本发明的偏振片。
另外,在本发明中,由于如上所述地提高裂纹耐久性,因此在与起偏镜贴合而制成偏振片、进一步将该偏振片贴合于玻璃基板的情况下,能够制成在高温环境下不易从玻璃基板剥离的偏振片。
<其它层>
本发明的偏振片也可以进一步具有其它层。作为其它层,可列举例如:防反射层、抗静电层、相位差层、亮度提高膜层、粘合剂层等。一个实施方式中,本发明的偏振片通过该粘合剂层与液晶单元贴合在一起。该粘合剂层的在23℃下的储能弹性模量优选为8.0×104以上且小于1.0×107,更优选为1.0×105~8.0×106。其它层根据目的、用途、使用了本发明的偏振片的液晶显示装置的构成等选择任意适当的层即可,数量、种类、位置、配置等可以适当设定。
<液晶显示装置>
本发明的液晶显示装置具备液晶单元、及配置于液晶单元的至少一侧的上述本发明的偏振片。通过使用本发明的偏振片,从而能够提供裂纹的产生导致的显示性能的降低得以抑制的液晶显示装置。
作为上述液晶单元的驱动模式,可列举垂直取向(VA)模式、扭转向列(TN)模式、面内切换(IPS)模式、垂直取向型电场控制双折射(ECB)模式、光学补偿双折射(OCB)模式等。
上述液晶显示装置可以是从液晶面板的背面照射光而观看画面的透射型,也可以是从液晶面板的可视侧照射光而观看画面的反射型。或者,上述液晶显示装置也可以是兼具透射型和反射型这两者的性质的半透射型。
本发明的液晶显示装置被用于任意合适的用途中。该用途为例如:计算机监视器、笔记本电脑、复议机等OA设备、手机、时钟表、数码相机、移动信息终端(PDA)、便携游戏机等移动设备、摄像机、电视、微波炉等家用电器、后监视器、汽车导航系统用监视器、汽车音响等车载设备、商店用信息用监视器等展示设备、监视用监视器等警备设备、护理用监视器、医疗用监视器等护理/医疗设备等。
实施例
以下,列举实施例对本发明进行具体说明,但本发明不受这些实施例的限定。需要说明的是,在实施例中,使用了“%”的表示,在没有特殊说明的情况下表示“质量%”。
〔合成例1〕化合物A-1的合成
按照以下的步骤1~4的顺序合成了化合物A-1。
<步骤1>丙烯酸酯的合成
按照下述途径所示的反应式,如下所述地合成了下述丙烯酸酯。
[化学反应式15]
加入3-(4-羟基苯基)丙酸18.36g(110mmol)、氢氧化钠11.05g(280mmol)及水100g,在20℃下边搅拌边滴加丙烯酰氯10g(110mmol),反应2小时。反应后,滴加4mol/l盐酸成为酸性后,过滤取得析出物并进行风干。将该析出物从甲醇/水=3/4混合溶剂中再结晶,得到了白色固体(产量11.68g、收率48%)。
得到的白色固体的红外吸收光谱(IR)测定结果如下所述,确认了该白色固体为目标产物丙烯酸酯。
[IR](cm-1)
2920、1740、1697、1508、1447、1408、1366、1296、1254、1200、1173、1150、1018
<步骤2>苄基醚的合成
按照下述途径所示的反应式,如下所述地合成了下述苄基醚。
[化学反应式16]
加入通过步骤1而得到的丙烯酸酯1.20g(5.6mmol)、4-苄基氧基-2-甲基酚1.00g(4.7mmol)、N,N-二甲基氨基吡啶(DMAP)0.171g(1.4mmol)及氯仿12g,在20℃下边搅拌边滴加将二环己基碳化二酰亚胺1.16g(5.6mmol)溶解于氯仿12g而成的溶液,搅拌3小时。将析出物滤出,从滤液中馏去溶剂,通过柱色谱(乙酸乙酯:正己烷=1:3、SiO2)对残渣纯化,得到了作为白色结晶的目标产物苄基醚(1.83g、收率94%)。
<步骤3>酚的合成
按照下述反应途径,如下所述地合成了下述酚。
[化学反应式17]
将无水氯化铝1.76g(13mmol)溶解于苯甲醚9g并进行冰水冷却后,滴加将通过步骤2而得到的苄基醚1.83g(4.4mmol)溶解于苯甲醚9g而成的溶液。搅拌30分钟后,滴加盐酸而使析出物溶解,进行水洗。将溶剂馏去,通过柱色谱(乙酸乙酯:正己烷=1:5、SiO2)对残渣进行纯化,得到了作为白色结晶的目标产物酚(1.00g、收率70%)。
<步骤4>化合物A-1的合成
按照下述反应途径如下所述地合成了化合物A-1。
[化学反应式18]
将4-(6-丙烯酰基氧基-六-1-氧基)苯甲酸0.90g(3.1mmol)溶解于四氢呋喃(THF)10g并进行冰水冷却后,添加甲磺酰氯0.42g(3.7mmol),在10℃以下滴加三乙胺0.74g(7.4mmol)。搅拌30分钟后,添加38mg(0.31mmol)的DMAP,滴加将通过步骤3而得到的酚1.00g(3.1mmol)溶解于10g的THF中而成的溶液,搅拌30分钟。将析出物过滤出,从滤液中馏去溶剂,通过柱色谱(乙酸乙酯:正己烷=1:3、SiO2)对残渣进行纯化后,溶解于氯仿并投入至冷却的甲醇中,得到了白色结晶(0.18g、收率10%)。对得到的白色结晶进行分析,其结果确认了该白色结晶为目标产物化合物A-1。以下示出分析结果。
另外,确认了制造得到的化合物A-1的均聚物时,该聚合物的折射率因方向而异,作为光学各向异性体发挥功能。
(分析结果)
(1)IR(cm-1)
2939、2866、1728、1605、1508、1408、1300、1246、1165、1080、1007
(2)NMR(ppm)
8.2(d;2H),7.3-6.9(m;9H)、6.6-5.7(m;6H)、4.3-3.9(m;4H)、3.2-2.8(m;4H)、2.1(s;3H)、1.7-1.4(m;8H)
〔合成例2〕化合物A-29的合成
按照以下的步骤1~3的顺序合成了化合物A-29。
<步骤1>苄基醚的合成
按照下述反应途径如下所述地合成了下述苄基醚。
[化学反应式19]
将6-丙烯酰基氧基-2-萘甲酸1.90g(7.86mmol)溶解于10g的THF,冷却至-30℃后,添加甲磺酰氯0.99g(8.65mmol),滴加了三乙胺(TEA)1.91g(18.87mmol)。搅拌1小时后,添加4-二甲基氨基吡啶(DMAP)10mg(0.08mmol),滴加将4-苄基氧基-2-丙基酚2.00g(8.25mmol)溶解于7g的THF而成的溶液,搅拌1小时。将析出物过滤出,对滤液进行水洗。将溶剂馏去,通过柱色谱(二氯甲烷、SiO2)对残渣进行了纯化后,用丙酮溶剂进行再结晶,得到了作为白色固体的目标产物苄基醚(产量2.27g、收率61.9%)。
<步骤2>酚的合成
按照下述所示的反应途径,如下所述地合成了下述酚。
[化学反应式20]
将无水氯化铝2.01g(15.08mmol)溶解于苯甲醚9g,进行了冰水冷却后,滴加将通过步骤1而得到的苄基醚2.27g(4.87mmol)溶解于苯甲醚9g中而成的溶液。搅拌1小时后,滴加盐酸而使析出物溶解,进行了水洗。将溶剂馏去,通过柱色谱(洗脱溶剂:乙酸乙酯/甲苯=1/5、SiO2)对残渣进行纯化后,用丙酮/甲醇混合溶剂进行再结晶,得到了作为白色固体的目标产物酚(1.20g、收率65.6%)。
<步骤3>化合物A-29的合成
按照下述反应途径如下所述地合成了化合物A-29。
[化学反应式21]
将6-(6-丙烯酰基氧基-己基氧基)-2-萘甲酸1.04g(3.04mmol)溶解于12g的THF中,冷却至-30℃后,添加甲磺酰氯0.38g(3.34mmol),滴加了三乙胺0.74g(7.29mmol)。搅拌一小时后,添加4mg(0.03mmol)的DMAP,滴加将通过步骤2而得到的酚1.20g(3.19mmol)溶解于8g的THF中而成的溶液,搅拌1小时。将析出物过滤出,对滤液进行水洗,馏去溶剂,通过柱色谱(洗脱溶剂:乙酸乙酯/甲苯=1/5、SiO2)对残渣进行纯化后,用乙酸乙酯/己烷的混合溶剂进行再结晶,得到了白色固体(0.67g、收率31.5%)。对得到的白色固体进行分析,其结果,确认了该白色固体为目标产物化合物A-29。分析结果如下所示。
另外,确认了制造得到的化合物A-29的均聚物时,该聚合物的折射率因方向而异,作为光学各向异性体发挥功能。
(分析结果)
(1)IR(cm-1)
2936,2866,1624,1474,1404,1339,1273,1246,1200,1169,1150,1065,1022
(2)1H-NMR(ppm)
0.9(t;3H),1.5-1.9(m;10H),2.6(q;2H),3.9-4.3(m;4H),5.7-6.6(m;6H),7.1-7.5(m;6H),7.7-8.3(m;7H),8.7(s;1H),8.9(s;1H)
实施例1[偏振片保护膜(以下,简称为“保护膜”。)]
<保护膜101的制作>
〈微粒分散液1〉
微粒(Aerosil R812V日本Aerosil株式会社制) 11质量份
乙醇 89质量份
用溶解器将以上物质搅拌混合50分钟后,用Manton Gaulin进行了分散。
〈微粒添加液1〉
在加入了二氯甲烷的溶解槽中边充分搅拌,边缓慢地添加微粒分散液1。进一步,以二次粒子的粒径成为给定的大小的方式用超微磨碎机进行分散。用日本精线株式会社制的Finemet NF对其进行过滤,制备了微粒添加液1。
二氯甲烷 95质量份
微粒分散液1 5质量份
制备了下述组成的主浆料。首先,在加压溶解槽中添加二氯甲烷和乙醇。在加入了溶剂的加压溶解槽中边搅拌边投入氢化降冰片烯类树脂I。对其进行加热,边搅拌边完全溶解。使用安积滤纸株式会社制的安积滤纸No.244对其进行过滤,制备了主浆料。
〈主浆料的组成〉
将以上物质投入密闭容器中,边搅拌边溶解,制备了浆料。接下来,使用无接头带流延装置,使浆料在温度33℃下、以1500mm的宽度均匀地流延至不锈钢带支撑体上。将不锈钢带的温度控制为30℃。
在不锈钢带支撑体上,使溶剂蒸发至流延(浇铸)的膜中的残留溶剂量成为100%为止,接下来以剥离张力130N/m从不锈钢带支撑体上剥离。
对剥离的保护膜边施加180℃的热边使用拉幅机向宽度方向拉伸5%。拉伸开始时的残留溶剂为30%。
接下来,边用多个辊输送干燥区域边结束干燥。干燥温度设为130℃,输送张力设为90N/m。
如上所述地得到了干燥膜厚20μm的保护膜101。以下,将氢化降冰片烯类树脂的种类、聚合性化合物的种类、聚合性化合物的添加量、增塑剂及增塑剂的添加量如表1所示地进行了变更,除此以外,与保护膜101同样地制作了偏振片保护膜102~123。
(树脂)
氢化降冰片烯类树脂I:JSR株式会社制ARTON(注册商标)(G7810)
氢化降冰片烯类树脂II:JSR株式会社制ARTON(注册商标)(RX4500)(增塑剂A的制备)
将乙二醇62g、己二酸144g、苯甲酸30g、作为酯化催化剂的四异丙基钛酸酯0.181g加入至具备温度计、搅拌器、缓急冷却管的2L的四口烧瓶中,在氮气气流中边搅拌边缓慢升温至230℃。进行15小时的脱水缩合反应,反应结束后,在200℃下将未反应的1,2-丙二醇减压馏去,由此得到了作为增塑剂的聚酯。酸值0.10mgKOH/g、数均分子量1900。
(增塑剂B的制备)
将1,6-己烷二醇60g、癸二酸101g、苯甲酸122g、作为酯化催化剂的四异丙基钛酸酯0.191g加入至具备温度计、搅拌器、缓急冷却管的2L的四口烧瓶中,在氮气气流中边搅拌边缓慢升温至230℃。进行了15小时的脱水缩合反应,反应结束后,在200℃下将未反应的1,2-丙二醇减压馏去,由此得到了作为增塑剂的聚酯。酸值0.10mgKOH/g、数均分子量600。
[化学式22]
增塑剂C
[评价]
<断裂强度(保护膜)>
将使用通过上述各实施例及各比较例而得到的偏振片保护膜在流延方向(MD)切取宽度20mm×长度250mm,使用拉伸试验机,在该切取膜上悬挂与9.8N的荷重相当的砝码的状态下,在23℃-55%RH的条件下放置24小时,由此进行了恒定负荷拉伸试验。
接下来,对于上述恒定负荷拉伸试验前及恒定负荷拉伸试验后(恒定负荷拉伸试验后12小时以内)的偏振片保护膜,使用拉伸试验机(TENSILONUTA-500、ORIENTEC株式会社制),按照JIS K 7127测定了膜的拉伸强度。
该情况下,使试验片的尺寸全部为宽度20mm×长度150mm,在23℃-50%RH的条件下、将卡盘(chuck)间距离设为100mm、将拉伸速度设为13.3mm/分而进行测定,将断裂点强度与击穿点强度中高的强度作为拉伸强度。
将上述恒定负荷拉伸试验前的拉伸强度评价为断裂强度(MPa)。
另外,根据这些等的测定值,算出拉伸强度比=恒定负荷拉伸试验后的拉伸强度(B)/恒定负荷拉伸试验前的拉伸强度(A)。
将上述拉伸强度比评价为断裂强度比率(耐久前后)。
需要说明的是,测定分别以各个样品各5片进行,采取平均值。
<线膨胀系数(保护膜)>
从长方体形状的成型品的单端部和中央部分别以纵×横×厚=10mm×4mm×0.04mm切取试验片各3个,在25℃、55%RH下调节状态12小时后,使用线膨胀系数测定机[型号“TMA/SS7100”、精工仪器株式会社制],按照JIS K7197进行了测定。测定25~80℃下的尺寸变化,其中,算出30~60℃中每1℃的平均尺寸变化率。对各试验片的端部3个、中央部3个进行该测定,求出平均值。进一步求出3个各试验片的平均值,将其作为成型品的线膨胀系数。
<储能弹性模量的测定法(保护膜)>
保护膜的储能弹性模量通过下述方法测定:将直径8mm、厚度1mm的圆柱作为试验片,使用TA Instrument株式会社制的测定器“RSA III”,以频率1Hz的扭转剪断法测定23℃及80℃下的储能弹性模量(G′)、损耗弹性模量(G″)、tanδ。
<裂纹产生率(保护膜)>
重合保护膜5片(同样构成的保护膜),用10cm见方的汤姆逊刀对100片进行冲压,用检测出裂纹、裂缝、缺损等冲压不良的角的数量(n)除以所观察的角的数量(m),作为冲压不良发生率,如下所述地用百分率表示。
冲压不良发生率(%)=100×(n/m)
<取向度>
按照上述记载的方法测量。
对于偏振片保护膜101~123,测定了这些评价项目及上述取向度。
将偏振片保护膜的组成和上述评价结果结合示于表1。
根据表1的结果可知,在本发明中,裂纹产生率少、取向度大。
实施例2
[偏振片1]
<偏振片301的制作>
在起偏镜1的一面(以下称为A面侧。)上,通过PVA类粘接剂,以成为与起偏镜的透射轴平行的方向的方式贴合保护膜101,在起偏镜1的另一面(以下称为B面侧。)上,贴合下述保护膜205,得到了偏振片301。如表2所记载地组合保护膜及起偏镜,除此以外,与偏振片301同样地制作了偏振片302~偏振片336。
保护膜201
(聚萘二甲酸乙二醇酯膜、TEONEX Q83(商品名)(帝人杜邦株式会社制)、厚度:40μm)
保护膜202
(聚酰亚胺膜的拉伸膜、Kapton(商品名)(东丽制)厚度:50μm)保护膜203
(聚对苯二甲酸乙二醇酯膜、MRF50(商品名)(三菱树脂株式会社制)、厚度:50μm)
保护膜204
(聚对苯二甲酸乙二醇酯膜、MRF25(商品名)(三菱树脂株式会社制)、厚度:25μm)
保护膜205
(三乙酰纤维素膜、KC4UAW(商品名)(柯尼卡美达能株式会社制)、厚度:40μm)
保护膜206
(三乙酰纤维素膜、KC2UAW(商品名)(柯尼卡美达能株式会社制)、厚度:25μm)
[起偏镜1]
准备了聚合度2400、皂化度99.7摩尔%、厚度75μm的PVA类树脂膜。将该膜边在30℃的碘水溶液中染色边向膜输送方向拉伸3倍,接下来,在60℃的4质量%硼酸、5质量%的碘化钾水溶液中以总拉伸倍率成为原长的6倍的方式进行了拉伸。进一步,将拉伸后的膜在30℃的2质量%的碘化钾水溶液中浸渍几秒,由此洗净。对得到的拉伸膜在90℃下进行干燥,得到了起偏镜1。得到的起偏镜1的透射轴方向的线膨胀系数为4.5×10-5/℃。
[起偏镜2]
以总拉伸倍率成为原长的5倍的方式进行拉伸,除此以外,与起偏镜1同样地得到了起偏镜2。得到的起偏镜2的透射轴方向的线膨胀系数为4.8×10-5/℃。
对如上所述地得到的偏振片301~偏振片335进行了下述的评价。
[评价]
<裂纹产生率(冲压)>(偏振片)
用10cm见方的汤姆逊刀对偏振片100片进行冲压,用检测出裂纹、裂缝、缺损等冲压不良的角的数量(n)除以所观察的角落的数量(m),如下所述地用百分率表示冲压不良发生率,作为偏振片裂纹产生率。
偏振片裂纹产生率(%)=100×(n/m)
<裂纹产生率(耐久)>(偏振片)
(3-3)热冲击加速试验(偏振片)
对于用上述的10cm见方的汤姆逊刀冲压的偏振片,使用冷热冲击试验机(ESPEC制)进行了评价。
将用10cm见方的汤姆逊刀冲压后的偏振片放入冷热冲击试验机的测试区域,从室温用30分钟将测试区域内降温至-40℃。接下来,用30分钟将测试区域内升温至85℃后,用30分钟再次降温至-40℃。将该从-40℃升温至85℃、再度降温至-40℃的工序作为1循环,重复了20循后,取出偏振片,用检测出裂纹、裂缝、缺损等不良的角的数量(n)除以所观察的角的数量(m),如下所述地用百分率表示。
如此地通过热冲击加速试验测定不良发生率,并评价为裂纹产生率(耐久)(偏振片)。
裂纹产生率(耐久)(%)=100×(n/m)
对于偏振片301~335,评价了这些项目。
将偏振片的构成和上述评价结果组合示于表2。
[表2]
根据表2的结果,本发明的偏振片即使在热冲击加速试验后,也不产生裂纹,具有良好的裂纹耐久性。
如表1及表2的结果所示,可知本发明的试样能得到裂纹产生率小的偏振片保护膜及偏振片。
工业实用性
本发明在贴合于起偏镜而制作偏振片的情况下,能够作为偏振片保护膜而利用,该偏振片保护膜能够制成即使实施热循环试验下也不易产生裂纹的偏振片。另外,可以作为具备该偏振片保护膜的偏振片利用。
Claims (8)
1.一种偏振片保护膜,其含有降冰片烯类树脂,
所述降冰片烯类树脂为氢化降冰片烯类树脂,并且,
所述偏振片保护膜含有具有下述通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物,
通式(1)
式中,R1及R2各自独立地表示氢原子、甲基或卤原子,
环A1、环A2及环A3各自独立地表示苯环、环己烷环、环己烯环、萘环、四氢萘环、十氢萘环、蒽环或菲环,在这些环中,-CH=任选被-N=替换,-CH2-任选被-S-或-O-替换,
X、Y及Z各自独立地表示任选具有取代基的碳原子数1~8的烷基、任选具有取代基的碳原子数1~8的烷氧基、任选具有取代基的碳原子数2~6的烯基、卤原子、氰基或具有下述通式(2)所示的化学结构的基团,
L1、L2及L3表示键合键,各自独立地表示单键、-COO-、-OCO-、-(CH2)d-、-CH=CH-、-(CH2)eO-、-O(CH2)f-、-O(CH2)gO-、-OCOO(CH2)h-、-(CH2)iOCOO-、-(CH2)jO(CH2)k-、-O(CH2)l-[Si(CH3)2O]m-Si(CH3)2(CH2)o-、-(OCH2CH2)p-、-(CH2CH2O)q-、-(OCH2CH(CH3))r-、-(CH(CH3)CH2)s-、-CH=CHCH2O-、-OCH2CH=CH-、-CH=CH-COO-、-OCO-CH=CH-、-C≡C-、-(CH2)2COO-、-OCO(CH2)2-、-CF=CF-、-OCF2-、-CF2O-、-C≡C-COO-、-OCO-C≡C-或-O-,其中,一部分碳原子任选被替换为硅原子,
d~m及o各自独立地表示1~8的整数,p~s各自独立地表示1~3的整数,n表示0或1,
a、b及c分别表示环A1、环A2及环A3中的取代基的数量,将各个被取代的单环或稠环中所含的六元环的数量设为t时,a、b及c各自独立地表示2t+2以下的整数,n为0时,至少a及b中的任一个为1以上,n为1时,至少a、b及c中的任一个为1以上,
通式(2)
式中,R3表示氢原子、甲基或卤原子。
2.根据权利要求1所述的偏振片保护膜,其中,相对于所述氢化降冰片烯类树脂,在5~25质量%的范围内含有所述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物。
3.根据权利要求1或2所述的偏振片保护膜,其中,所述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物是具有下述通式(3)所示的化学结构的化合物,
通式(3)
式中,X1及X3分别独立地表示氢原子、任选具有取代基的碳原子数1~8的烷基、任选具有取代基的碳原子数1~8的烷氧基、任选具有取代基的碳原子数2~6的烯基、卤原子、氰基或上述通式(2)所示的基团,X2、X4、Y1~Y4及Z1~Z4分别独立地表示氢原子、任选具有取代基的碳原子数1~8的烷基、任选具有取代基的碳原子数1~8的烷氧基、任选具有取代基的碳原子数2~6的烯基、卤原子或氰基,X1~X4、Y1~Y4及Z1~Z4中的至少一者表示除氢以外的取代基,环A1、A2及A3分别独立地表示苯环或环己烷环,在这些环中,-CH=任选被-N=替换,-CH2-任选被-S-或-O-替换,R1、R2、f及n与所述通式(1)的R1、R2、f及n的含义相同。
4.根据权利要求1或2所述的偏振片保护膜,其中,所述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物是具有下述通式(4)所示的化学结构的化合物,
通式(4)
式中,R1、R2、X1、X2、X3、X4、Y1~Y4、Z1~Z4、A1、A2及A3与所述通式(3)的R1、R2、X1、X2、X3、X4、Y1~Y4、Z1~Z4、A1、A2及A3的含义相同,f与所述通式(1)的f的含义相同。
5.根据权利要求1或2所述的偏振片保护膜,其中,所述具有通式(1)所示的化学结构的聚合性化合物是具有下述通式(5)所示的化学结构的化合物,
通式(5)
式中,R1、R2、X1、X2、X3、X4、Y1~Y4、A1及A2与所述通式(4)的R1、R2、X1、X2、X3、X4、Y1~Y4、A1及A2的含义相同。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的偏振片保护膜,其中,所述偏振片保护膜的恒定负荷拉伸试验前后的拉伸强度为0.6以上。
7.一种偏振片保护膜的制造方法,其制造权利要求1~6中任一项所述的偏振片保护膜,该制造方法具有:制备至少使所述氢化降冰片烯类树脂和所述聚合性化合物溶解于溶剂而成的浆料的工序;使所述浆料流延至支撑体上而形成流延膜的工序;及将所述流延膜从所述支撑体剥离的工序。
8.一种偏振片,其在起偏镜上贴合有权利要求1~6中任一项所述的偏振片保护膜,所述起偏镜是在聚乙烯醇类树脂中吸附有二色性色素并取向的起偏镜。
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