CN106157858B - 液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路及其工作方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路及其工作方法，涉及液晶面板测试技术领域。上述测试电路中针对左右两侧栅极驱动电路所提供的控制信号均相互独立，并使得测试一个栅极驱动电路时关闭另一个栅极驱动电路内的所有开关元件，并使得在HVA固化制程期间使两个栅极驱动电路均正常工作。本发明实现了针对两个栅极驱动电路的分时测试，从而避免了漏检现象的出现。此外，本发明在HVA固化期间采用双驱动模式，避免了现有技术中由于单边GOA电路驱动面板导致的RC负载较重、出现比较严重的信号衰减的问题，进而有利于提升HVA固化的效果。

Description

液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路及其工作方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路，还涉及该栅极驱动电路的工作方法。

背景技术

栅极驱动阵列技术现在已经在液晶面板中被广泛采用，它可以节省栅极电路(Gate IC)的成本，也能够缩减面板边框的宽度，对现在流行的窄边框设计非常有利，是未来面板设计的一个重要技术。

由于非晶硅(a-Si)制作的薄膜晶体管(TFT)器件驱动能力较弱，因此大尺寸的GOA(栅极驱动)面板一般采用双驱架构。面板两侧的两个GOA电路连接至同一条栅极线。当面板正常工作时，两个GOA电路输出同样的信号。传统的GOA架构面板中，两侧的GOA电路都是连接至同一组GOA测试线路。在GOA制程阶段的测试制程中，面板两侧的GOA电路同时打开工作，输出栅极脉冲信号将面板内部的像素点亮。当一侧的GOA电路不能正常工作时，另外一侧的GOA电路仍然能够输出栅极脉冲信号。该栅极脉冲信号也可以使得面板内部的像素正常工作。这样就会带来漏检的风险，对提升制程的良率是非常不利的。

为了解决漏检的问题，现有的做法是将两侧的GOA电路分离开来。在对GOA电路进行测试时对两侧的GOA电路分别进行测试。其中一组GOA电路连接高垂直排列(HighVertical Alignment，HVA)制程线路。在HVA固化制程时进行单边送信号的方法。这种设计虽然可以避免在对GOA电路进行测试时GOA电路漏检的风险，但是在HVA固化制程时，由于面板尺寸较大，单边的GOA电路驱动面板会因为RC负载较重而导致比较严重的信号衰减。这样对HVA固化制程的效果是有一定影响的。

发明内容

为了现有技术中存在的上述技术缺陷，本发明提供了一种液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路及其工作方法。

根据本发明的一个方面，提供了一种液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路，所述液晶显示面板采用双驱动模式，所述测试电路包括：

测试芯片；

时钟信号连接引线组，所述测试芯片通过所述时钟信号连接引线组分别向第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路传输时钟信号集合；

第一连接引线组，所述测试芯片通过所述第一连接引线组向所述第一栅极驱动电路发送第一测试信号集合；以及

第二连接引线组，所述测试芯片通过所述第二连接引线组向所述第二栅极驱动电路发送第二测试信号集合；

通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在测试所述第一栅极驱动电路时关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件，并使得在测试所述第二栅极驱动电路时关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件。

优选的是，在测试所述第一栅极驱动电路时，所述测试芯片向所述第二栅极驱动电路发送低压直流信号集合，以关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件。

优选的是，在测试所述第二栅极驱动电路时，所述测试芯片向所述第一栅极驱动电路发送低压直流信号集合，以关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件。

优选的是，通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在HVA固化期间使所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路正常工作。

优选的是，所述第一测试信号集合包括第一Q点电位提升信号、第一下拉电路控制信号和第二下拉电路控制信号中的一种或多种；

所述第二测试信号集合包括第二Q点电位提升信号、第三下拉电路控制信号和第四下拉电路控制信号中的一种或多种。

根据本发明的另一个方面，提供了上述栅极驱动电路的测试电路的工作方法，其包括：

判断当前是否对第一栅极驱动电路进行测试；

在判断出当前对所述第一栅极驱动电路进行测试时，所述测试电路的测试芯片通过第一连接引线组向所述第一栅极驱动电路发送第一测试信号集合，并通过第二连接引线组向所述第二栅极驱动电路发送第二测试信号集合；

其中，通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在测试所述第一栅极驱动电路时关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件。

优选的是，关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件，包括：

所述测试芯片向所述第一栅极驱动电路发送低压直流信号集合，以关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件。

优选的是，上述工作方法还包括：

在判断出当前对所述第二栅极驱动电路进行测试时，所述测试电路的测试芯片通过第一连接引线组向所述第一栅极驱动电路发送第一测试信号集合，并通过第二连接引线组向所述第二栅极驱动电路发送第二测试信号集合；

其中，通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在测试所述第二栅极驱动电路时关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件。

优选的是，关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件，包括：

所述测试芯片向所述第二栅极驱动电路发送低压直流信号集合，以关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件。

优选的是，上述工作方法还包括：

判断当前液晶显示面板是否处于HVA固化期间；

在判断出当前所述液晶显示面板处于HVA固化期间时，通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在所述HVA固化期间使所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路正常工作。

与现有技术相比，上述方案中的一个或多个实施例可以具有如下优点或有益效果：

本发明重新设计了双边驱动的液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路。具体地，本发明为各个栅极驱动电路构造相对应的连接引线组。一方面，本发明能够利用各自的连接引线组对各个栅极驱动电路进行分时测试，避免了在栅极驱动电路测试时存在的漏检风险。另一方面，在HVA固化制程期间，本发明能够利用各自的连接引线组同时向各个栅极驱动电路发送相同的HVA固化所需要的控制信号集合，实现了针对液晶显示面板的双驱动，从而避免了现有技术中由于单边GOA电路驱动面板导致的RC负载较重、出现比较严重的信号衰减的问题，进而有利于提升HVA固化的效果。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

图1示出了现有技术中双边驱动GOA面板架构的示意图；

图2示出了现有技术中双边驱动GOA面板在制作过程中的外围电路结构示意图；

图3示出了现有技术中一级GOA单元的等效电路图；

图4示出了对图2和图3中的GOA电路在GOA测试时输出的波形图；

图5示出了采用图2所示电路对左侧GOA电路进行测试时，左右两侧的GOA测试面板与HVA线路的连接关系；

图6示出了本发明实施例液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路的结构示意图；

图7示出了利用图6所示的测试电路对第一栅极驱动电路(即上述的左侧栅极驱动电路)进行测试时采用的第一测试信号集合的波形示意图；

图8示出了利用图6所示的测试电路进行HVA固化制程时相应控制信号的波形示意图；

图9示出了为配合本发明实施例的测试电路而改进的GOA单元的等效电路图；

图10示出了利用图6所示的测试电路进行HVA固化制程后输出信号的波形示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

首先，结合图1至图5详细地描述现有技术中测试电路存在的缺陷。

在现有的面板技术中，GOA(Gate-driver On Array)技术因为能够减小面板边框的尺寸，具有降低成本的优势，已经在液晶面板设计中得到了广泛的应用。

由于GOA电路是由a-Si TFT器件构成，而a-Si TFT器件的驱动能力相对较弱，因此大尺寸的GOA面板一般都采用双边驱动的设计。图1是一个双边驱动GOA面板的架构示意图，这是一个具有四路时钟信号(CK1至CK4)的GOA电路示意图。位于图1中间的虚线框表示液晶显示面板的显示区域。图中第1级至第7级分别表示第一级GOA单元至第一级GOA单元。G1至G7分别表示第一级GOA单元的栅极线至第七级GOA单元的栅极线。ST1表示第一级GOA单元发给第三级GOA单元的信号，该信号用于将第三级GOA单元的Q点电位提升，ST3表示第三级GOA单元发给第一级GOA单元的信号，该信号用于将第一级GOA单元的Q点电位拉低。GOA电路位于面板显示区的左右两侧，两侧的GOA电路关于显示区是对称的。从图中可以看到，每侧的GOA电路包含多级GOA单元。每条栅极线同时连接左右两个GOA电路。例如图中的栅极线G1同时连接左右两侧的第一级GOA单元，栅极线G2同时连接左右两侧的第二级GOA单元。

当面板正常工作时，左右两侧GOA电路中的第一级GOA单元输出相同的栅极脉冲波形，左右两侧GOA电路中的第二级GOA单元输出相同的栅极脉冲波形。以此类推，左右两侧GOA电路中的第n级GOA单元输出相同的栅极脉冲波形。采用双边驱动设计后，栅极线的最大RC负载会减小至单边驱动情况下的1/4，这样对提升液晶显示器的显示品质是非常有利的。

图2是图1中的面板在生产制作时的外围线路连接示意图。最外围的是HVA面板和HVA制程线路。在进行液晶像素的HVA制程时，信号源的探针(Probe)扎在HVA面板上，通过HVA制程线路给面板内部加信号以完成HVA制程。位于HVA制程线路内侧的是GOA测试板和GOA短路棒。同样地，在GOA测试制程时，信号源的探针扎在GOA测试面板上，向GOA测试面板内部施加信号进行检查。两组GOA测试面板分别对应两侧的GOA电路。另外，HVA制程线路和GOA测试面板是连通的。这样设计的优点在于通过对GOA制程段的检查就可以测试出HVA线路是否发生了异常，对后续制程良率的提升是非常有帮助的。

采用图2中的线路设计后，两组GOA测试面板并不是独立的，而是通过HVA制程线路连接在一起。这样会导致在GOA测试制程时，任何情况下两侧的GOA电路都会被加上信号并输出栅极脉冲波形。这种测试方式的局限性就在于，当左右两侧中某一侧的GOA电路失效不能工作时，另外一侧的GOA电路仍然能够输出栅极脉冲信号。而GOA测试是通过液晶面板内部的像素来进行检查的。这样，一侧GOA失效后，只要另外一侧的GOA电路正常输出栅极脉冲波形，液晶面板内的像素也能够工作，这样就无法检出其中一侧的GOA电路失效，造成漏检或者误检，对制程的良率会造成不利的影响。

图3是图2中一级GOA单元的等效电路图，该电路和常规的GOA电路是完全相同的。在图3中，Q(n)表示第n级GOA单元的Q点。Q点表示第n级GOA单元与第n+2级GOA单元的连接点。

图4是对图2和图3中的GOA电路在GOA测试时输出的波形图。信号STV用于将第一级GOA单元和第二级GOA单元的的Q点电位提升。四个CK信号(即CK1、CK2、CK3和CK4)均是时钟信号。LC1和LC2分别是第一下拉电路控制信号和第二下拉电路控制信号。可以看出，LC1和LC2均为低频方波信号，并且LC1和LC2每隔100帧切换一次极性。

为了解决前面提到的GOA测试中的漏检问题，做法是将一侧的GOA测试面板与HVA制程线路的连接处断开。如图5所示，测试左侧的GOA电路时，将右侧的GOA测试面板与HVA制程线路的连接处断开。这样在测试左侧的GOA电路时就可以针对每一级的GOA电路进行检查，解决了GOA测试阶段的漏检问题。但是这种测试方法所产生的弊端就是：在进行HVA制程时整个液晶面板只能通过单边送信号进行制程。当面板尺寸较大时，RC延时非常严重，从而对HVA制程会造成不利的影响。

针对上述问题，本实施例重新对液晶面板的GOA测试线路进行了设计，以使得在GOA测试时能够对每一侧的GOA电路进行检查，也可以在HVA制程时对液晶面板两侧同时加信号进行制程(从而可降低RC负载)，提升制程的良率。

实施例一

图6是本发明的第一个实施例，与图2中的线路设计类似。图6中的GOA测试面板也全部和HVA制程线路连接。但与图2中不同的是：外围线路中除了四个时钟信号外，STV信号、LC1信号和LC2信号都按照左右两侧进行了拆分。具体地，STV拆分成Q点电位提升信号左STVL和Q点电位提升信号右STVR，用于分别向左右两侧的GOA电路提供STV信号。LC1拆分成第一下拉电路控制信号左LC1L和第一下拉电路控制信号右LC1R，用于分别向左右两侧的GOA电路提供LC1信号。LC2拆分成第二下拉电路控制信号左LC2L和第二下拉电路控制信号右LC2R，用于分别向左右两侧的GOA电路提供LC2信号。与左侧的GOA电路和GOA测试面板相对应第一测试信号集(STVL、LC1L和LC2L)，分别独立于，与右侧的GOA电路和GOA测试面板相对应第二测试信号集(STVR、LC1R和LC2R)。具体地，STVL和STVR之间相互独立，LC1L和LC1R之间相互独立，LC2L和LC2R之间相互独立。相应地，HVA线路由图2中的七条走线增加至图6中的十条走线。阵列短路棒线路由图2中的七条走线增加至图6中的九条走线。各走线之间的具体连接关系如图6所示。

HVA线路共包含十条走线，从上向下分别分第一条至第十条。左右两侧GOA测试面板的CK1走线均连接HVA线路的第1条走线，左右两侧GOA测试面板的CK2走线均连接HVA线路的第2条走线，左右两侧GOA测试面板的CK3走线均连接HVA线路的第3条走线，左右两侧GOA测试面板的CK4走线均连接HVA线路的第4条走线。左侧GOA测试面板的STVL走线连接HVA线路的第5条走线，右侧GOA测试面板的STVR走线连接HVA线路的第6条走线，左侧GOA测试面板的LC1L走线连接HVA线路的第7条走线，右侧GOA测试面板的LC1R走线连接HVA线路的第8条走线，左侧GOA测试面板的LC2L走线连接HVA线路的第9条走线，右侧GOA测试面板的LC2R走线连接HVA线路的第10条走线。

左右两侧的HVA面板均包含十个功能键。这十个功能键分别为：CK1键、CK2键、CK键、CK4键、STVL键、STVR键、LC1L键、LC1R键、LC2L键和LC2R键。CK1键与HVA线路的第1条走线连接，CK2键与HVA线路的第2条走线连接，CK3键与HVA线路的第3条走线连接，CK4键与HVA线路的第4条走线连接，STVL键与HVA线路的第5条走线连接，STVR键与HVA线路的第6条走线连接，LC1L键与HVA线路的第7条走线连接，LC1R键与HVA线路的第8条走线连接，LC2L键与HVA线路的第9条走线连接，LC2R键与HVA线路的第10条走线连接。

阵列短路棒线路共包含九条走线。按照从上向下的顺序，阵列短路棒线路的第1条走线同时连接左右两侧GOA测试面板的CK1走线，阵列短路棒线路的第2条走线同时连接左右两侧GOA测试面板的CK2走线，阵列短路棒线路的第3条走线同时连接左右两侧GOA测试面板的CK3走线，阵列短路棒线路的第4条走线同时连接左右两侧GOA测试面板的CK4走线，阵列短路棒线路的第5条走线同时连接左侧GOA测试面板的STVL走线和右侧GOA测试面板的STVR走线；阵列短路棒线路的第6条走线连接左侧GOA测试面板的LC1L走线，阵列短路棒线路的第7条走线连接右侧GOA测试面板的LC1R走线，阵列短路棒线路的第8条走线连接左侧GOA测试面板的LC2L走线，阵列短路棒线路的第9条走线连接右侧GOA测试面板的LC2R走线。

本实施例提供的液晶面板测试电路的使用方法如下：

在GOA测试制程时，只需要通过左右两侧的GOA测试面板对左右两侧GOA电路加不同的信号就可以实现左右两侧的GOA电路分别检查。

当进行HVA制程时，需要采取双边驱动模式，此时只需要通过HVA面板将STVL、LC1L、LC2L分别和对应的STVR，LC1R和LC2R信号设置成相同的即可。

上述液晶面板测试电路既能够实现左右两侧的GOA电路分别检查，又能够在HVA制程时进行双边加信号。避免了在GOA测试时存在漏检风险，以及影响HVA制程效果的问题。

实施例二

采用实施例一提供的液晶面板测试电路进行GOA测试制程时，只需要通过左右两侧的GOA测试面板对左右两侧GOA电路加不同的信号就可以实现两侧的GOA电路分别检查。

例如，在检查左侧的GOA电路时，可以通过左侧的GOA测试面板向左侧GOA电路加相应的信号，并将右侧的GOA电路关闭即可。此时所需要的信号波形如图7所示。从图7中可以看到，此时的四个时钟信号分别与图4中的的四个时钟信号相同，STVL与图4中的STV相同，LC1L和LC2L也分别与图4中的LC1和LC2相同。四个时钟信号、STVL、LC1L以及LC2L能够保证左侧GOA电路正常工作。如果左侧GOA电路中的某一级失效，则不会有栅极脉冲输出，通过液晶面板内的像素就能够检查出来。而右侧对应的STVR、LC1R和LC2R信号都是低压直流信号，这种设置能够保证右侧GOA电路中的所有TFT都处于关闭状态，右侧GOA电路不会输出任何信号，从而能够避免对左侧GOA电路检查带来的影响。

采用实施例一提供的液晶面板测试电路进行HVA制程时，需要采取双边驱动模式。此时只需要通过HVA面板将STVL、LC1L、LC2L分别和对应的STVR，LC1R和LC2R信号设置成相同的即可，各信号波形如图8所示。从图8中可以看到，只需要将STVL/R，LC1L/R和LC2L/R信号设置为与图4中对应的信号相同，就可以让两侧的GOA电路同时工作，共同输出栅极脉冲信号。这样即可避免了由RC负载较大对HVA制程效果造成的不利影响。

上述液晶面板测试电路的使用方法既能够实现左右两侧的GOA电路分别检查，又能够在HVA制程时进行双边加信号。避免了在GOA测试时存在漏检风险，以及影响HVA制程效果的问题。

实施例三

如图9所示，本实施例对GOA电路作出了改进。图9所示的GOA电路与图3相比，在每一级GOA单元中增加了薄膜晶体管Tx。其中，薄膜晶体管Tx的栅极用于接收新增加的复位信号，薄膜晶体管Tx的源极和漏极分别连接栅极线Gn和低电压信号Vss。

改进后的GOA电路的外围线路连接与图6完全相同，STV、LC1和LC2仍然按照左右两侧分别拆分为STVL/R、LC1L/R和LC2L/R这六个信号，四个CK信号两侧共用，新增加的复位信号Resst也是两侧共用。

在进行GOA测试时，Resst为低电位直流信号，其他信号与图7相同。这样，就能够实现对左右两侧的GOA电路进行分别检查。

与实施例二不同的是，在进行HVA制程时，双边驱动模式所需要的信号有所改变。本实施例中HVA制程的输出波形如图10所示，此时复位信号切换为高电压直流信号，薄膜晶体管Tx导通，栅极线Gn接入低电压信号Vss。只需要将Vss设置成方波脉冲，就可以向栅极线Gn输出栅极脉冲信号。这种方法的最大优点就在于HVA制程的双驱模式开启时，所有栅极线的输出信号全部一致，均与Vss信号的波形相同。这样在HVA制程过程中，对栅极线信号Gn的控制更加方便。

虽然本发明所公开的实施方式如上，但所述的内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属技术领域内的技术人员，在不脱离本发明所公开的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本发明的保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (9)

1.一种液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路，其特征在于，所述液晶显示面板采用双驱动模式，所述测试电路包括：

测试芯片；

时钟信号连接引线组，所述测试芯片通过所述时钟信号连接引线组分别向第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路传输时钟信号集合；

第一连接引线组，所述测试芯片通过所述第一连接引线组向所述第一栅极驱动电路发送第一测试信号集合；以及

第二连接引线组，所述测试芯片通过所述第二连接引线组向所述第二栅极驱动电路发送第二测试信号集合，所述第二测试信号集合与所述第一测试信号集合相互独立；

在GOA测试制程时，通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在测试所述第一栅极驱动电路时关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件，并使得在测试所述第二栅极驱动电路时关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件，以对所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路进行分时测试；

在HVA固化制程期间，所述第一连接引线组和所述第二连接引线组同时向所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路发送相同的HVA固化所需要的控制信号集合，所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路同时工作并共同输出栅极脉冲信号。

2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，在测试所述第一栅极驱动电路时，所述测试芯片向所述第二栅极驱动电路发送低压直流信号集合，以关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件。

3.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，在测试所述第二栅极驱动电路时，所述测试芯片向所述第一栅极驱动电路发送低压直流信号集合，以关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件。

4.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，

通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在HVA固化期间使所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路正常工作。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的测试电路，其特征在于，所述第一测试信号集合包括Q点电位提升信号左、第一下拉电路控制信号和第二下拉电路控制信号中的一种或多种；

所述第二测试信号集合包括Q点电位提升信号右、第三下拉电路控制信号和第四下拉电路控制信号中的一种或多种；其中，Q点表示第n级GOA单元与第n+2级GOA单元的连接点，Q点电位为所述第n级GOA单元与所述第n+2级GOA单元的连接点的电位。

6.一种如权利要求1至5中任一项所述的测试电路的工作方法，其特征在于，包括：

判断当前是否对第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路进行测试；

在判断出当前对所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路进行测试时，所述测试电路的测试芯片通过第一连接引线组向所述第一栅极驱动电路发送第一测试信号集合，并通过第二连接引线组向所述第二栅极驱动电路发送第二测试信号集合，其中，所述第二测试信号集合与所述第一测试信号集合相互独立；

其中，通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在测试所述第一栅极驱动电路时关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件，并使得在测试所述第二栅极驱动电路时关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件，以对所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路进行分时测试；

在HVA固化制程期间，通过所述第一连接引线组和所述第二连接引线组同时向所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路发送相同的HVA固化所需要的控制信号集合，所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路同时工作并共同输出栅极脉冲信号。

7.根据权利要求6所述的工作方法，其特征在于，关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件，包括：

所述测试芯片向所述第一栅极驱动电路发送低压直流信号集合，以关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件。

8.根据权利要求6所述的工作方法，其特征在于，关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件，包括：

所述测试芯片向所述第二栅极驱动电路发送低压直流信号集合，以关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件。

9.根据权利要求6至8中任一项所述的工作方法，其特征在于，还包括：

判断当前液晶显示面板是否处于HVA固化期间；

在判断出当前所述液晶显示面板处于HVA固化期间时，通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在所述HVA固化期间使所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路正常工作。

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