CN105652620B - 电子照相用构件、处理盒和图像形成设备 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及电子照相用构件、处理盒和图像形成设备。欲提供可抑制污垢粘附到外表面的电子照相用构件。电子照相用构件具有基体、在基体上的弹性层和在弹性层上的表面层。表面层包含粘结剂树脂和第一颗粒,表面层的表面具有源于第一颗粒的第一凸部,产生第一凸部的第一颗粒具有50nm以下的平均颗粒表面间距离,第一颗粒具有200nm以上且1000nm以下的数均粒径,和表面层的表面具有1.0N/mm2以上且7.0N/mm2以下的通用硬度。
Description
技术领域
本发明涉及电子照相用构件、处理盒和图像形成设备。
背景技术
在基于电子照相法的图像形成设备中,电子照相用构件被用于各种用途,例如,充电构件、显影构件和转印构件。在使电子照相用构件长期应用在这些用途的情况下,在图像承载构件上残留的如外部添加剂或调色剂等粉末作为污物粘附到电子照相用构件的表面。例如,关于充电构件,当此类污物粘附到充电构件表面时,污物粘附的该区域部分地高电阻化,导致充电不良。结果,由于污垢可引起图像浓度不均匀。
近年来,已要求图像形成设备更高的图像品质、更高的速度和更高耐久性。为应对这些要求,有减小调色剂粒径和使用各种类型的外部添加剂的趋势。结果,在充电构件上沉积大量污物。
从简化图像形成设备或消除废物的观点已提出无清洁器系统(调色剂循环系统)。该方法无需作为在转印步骤之后的图像承载构件上的清洁单元的清洁器。所述方法使用显影设备通过“显影同时清洁”从图像承载构件除去转印后图像承载构件上的残余色调剂,并将调色剂回收到显影设备中用于循环使用。显影同时清洁为在随后步骤或之后的显影期间通过利用除雾偏压(fog removing bias)(作为施加到显影设备的直流电压和图像承载构件的表面电位之间的电位差的除雾电位差Vback)回收转印后图像承载构件上残留的残余调色剂的方法。在将接触充电方法的充电构件应用到无清洁器系统的情况下,图像承载构件上残留的污物特别是调色剂的量与具有清洁器的情况相比增加。因此,污物向充电构件的粘附是更加显著的问题。
作为用于减少污物例如外部添加剂或调色剂粘附的手段,日本专利第5455336号和日本专利申请特开第2008-083404号公开了一种充电构件,其通过经表面层中所含的颗粒控制表面粗糙度,来减少污物粘附的量。
根据本发明人的研究,如日本专利第5455336号和日本专利申请特开第2008-083404号中所公开的,已确认到使用通过在表面上设置源于颗粒的凸部控制表面粗糙度的充电构件通过降低表面层的摩擦系数而具有减少污物粘附的量的效果。然而,在输出图像数量增加的一些情况下,会降低污物粘附的抑制效果。
本发明人已观察了对污物的粘附的抑制效果降低的该充电构件的表面,并由此确认到污物沉积在颗粒来源的凸部之间的谷部。
特别地,在基于无清洁器系统的电子照相设备中使用此类充电构件的情况下,由于图像承载构件上的残余调色剂与充电构件接触而使污物特别明显地沉积在谷部上。
本发明涉及提供能够更好地抑制污物粘附至表面的电子照相用构件。
本发明还涉及提供能够形成高品质图像的处理盒和图像形成设备。
发明内容
根据本发明的一方面,提供具有基体、在基体上的弹性层以及在弹性层上的表面层的电子照相用构件,其中表面层包含粘结剂树脂和第一颗粒,表面层的表面具有源于第一颗粒的第一凸部,产生第一凸部的第一颗粒的平均颗粒表面间距离为50nm以下,第一颗粒的数均粒径为200nm以上且1000nm以下,且表面层的表面的通用硬度为1.0N/mm2以上且7.0N/mm2以下。
根据本发明可选的方面,提供一种处理盒,其构造为可拆卸地安装至图像形成设备的主体,其中处理盒包括图像承载构件和与图像承载构件接触配置的充电构件,充电构件为电子照相用构件。
根据本发明另外可选的方面,提供一种图像形成设备,其具有图像承载构件、使图像承载构件带电的充电设备、通过使用显影剂使形成于图像承载构件上的静电潜像显影的显影设备以及使由图像承载构件支承的显影剂转印至转印介质的转印构件,其中充电设备具有作为电子照相用构件的充电构件。
参考附图从示例性实施方案的以下说明中,本发明另外的特征将变得显而易见。
附图说明
图1为说明根据本发明的图像形成设备的一个实例的截面图。
图2为根据本发明的电子照相用构件中表面层的一个实例的扫描电子显微镜(SEM)照片。
图3为在具有辊状的实施方案中根据本发明的电子照相用构件的截面图。
图4为根据本发明的电子照相用构件的一个实例的表面附近的示意性截面图。
图5为说明用于评价的半色调图像的图。
具体实施方式
现在将根据附图详细描述本发明的优选实施方案。
下文中,通过将具有辊状的充电构件(下文中也称作"充电辊")作为根据本发明的电子照相用构件的用途的代表实例来详细描述本发明。然而,本发明并不欲局限于该实施方案。根据本发明的电子照相用构件还可用作任何其它构件或用作具有任何其它形状的充电构件。
本发明根据该常规构造而进行,并涉及能够进一步抑制污垢粘附至外表面的电子照相用构件。
图3示出根据本发明的电子照相用构件一个实施方案的充电辊沿垂直于轴方向的方向的截面。图3所示的充电辊300具有基体301、配置于基体301的外周面上的弹性层303,和配置于弹性层303的外周面上的表面层305。表面层305在面向弹性层303的其表面相对侧上的表面构成充电辊300的外表面。本发明中,表面层的"表面"指构成电子照相用构件的外表面的表面,除非另作说明。
<表面层>
图4为根据本发明的一个实施方案的电子照相用构件300中表面层305的表面附近的示意性截面图。图4中,表面层305包含粘结剂树脂307和第一颗粒309。第一颗粒309在表面层305的表面,即电子照相用构件300的外表面上产生第一凸部311。
从与电子照相用构件300相对的位置观察的第一颗粒309的平均的颗粒表面间距离(下文称为平均颗粒表面间距离)为50nm以下。具体地,从与电子照相用构件300相对的位置观察的电子照相用构件300的表面填充有彼此接近配置的第一颗粒309以使第一颗粒309的平均颗粒表面间距离为50nm以下。
图2为电子照相用构件300的外表面的扫描电子显微镜(SEM)照片。
本发明中,从与电子照相用构件相对的位置观察的电子照相用构件的外表面基本上填充有第一颗粒的状态通过作为第一颗粒的平均颗粒表面间距离的参数来表示。测定平均颗粒表面间距离的方式将在随后详细描述。
表面基本上填充有在外表面上产生第一凸部的第一颗粒的电子照相用构件有效地抑制污垢粘附至在表面上具有凸部的常规电子照相用构件中第一凸部之间的谷部。这大概是因为根据本发明的多个第一凸部之间的谷部在尺寸上比一般的污物小。平均颗粒表面间距离特别优选45nm以下,进一步优选40nm以下。平均颗粒表面间距离的下限不特别限定,并且可为例如,10nm以上。
粘附至长期进行电子照相图像输出的充电构件的表面的主要污物特别地为调色剂来源的物质,例如变形的调色剂或粉碎的调色剂。由此,本发明人认为特别是防止调色剂的变形和粉碎对于降低污物粘附至充电构件的表面是有效的。为此,充电构件需要满足以下条件1。
<条件1>表面层的表面具有1.0N/mm2以上且7.0N/mm2以下的通用硬度。
当充电构件具有高硬度时调色剂来源的污物的量增加。这大概是因为,当充电构件的表面具有高硬度时,通过充电构件和图像承载构件(电子照相感光构件)之间的辊隙的调色剂(转印残余调色剂)趋于破裂或碎裂。对于无清洁器系统该现象更加突出。然而,满足条件1的表面层抑制调色剂被充电构件破裂或碎裂。
表面层的表面具有1.0N/mm2以上且7.0N/mm2以下的通用硬度。通用硬度优选为6.0N/mm2以下,更优选5.0N/mm2以下。由于作为对象污物的外部添加剂和调色剂具有亚微米至几微米数量级的大小,所以需要控制表面层的最上表面的硬度。通用硬度可设定为1.0N/mm2以上,由此抑制在长期静置状态下源于由充电构件和图像承载构件之间的接触导致的充电构件变形的图像浓度不均匀的发生。另外,通用硬度可设定为7.0N/mm2以下,从而抑制调色剂变形和破裂以使残留于图像承载构件上的变形的调色剂和粉碎的调色剂的绝对量能够降低。特别地,通用硬度可设定为5.0N/mm2以下,由此即使形成的图像的数量增加也充分保持抑制调色剂变形和破裂的效果。
通用硬度为通过在载荷下压头进入测量对象的压痕,并根据(试验载荷)/(压头在试验载荷下的表面积)(N/mm2)求得的物理性质值。在预定相对小的试验载荷下将压头例如四角锥压入被测量物。当压头到达预定的压痕深度时,由压痕深度测定与压头接触的表面积,从而求得通用硬度。本发明中,表面层的表面的通用硬度为通过随后所提及的方法测量的值。
<第一颗粒>
第一凸部的存在抑制污物向电子照相用构件外表面的物理粘附。关于产生第一凸部的第一颗粒的大小,它们的数均粒径为200nm以上且1000nm以下,从而当第一颗粒存在于表面层时源于第一颗粒的凸部之间的间隔在尺寸上比污物小,以便平均颗粒表面间距离为50nm以下。
作为污物的外部添加剂以聚集形式而非各自单独地粘附。因此,数均粒径可设定为200nm以上,由此形成用作抑制外部添加剂物理粘附的起点的第一凸部。如果数均粒径大于1000nm,虽然可抑制调色剂的物理性粘附,但不能抑制外部添加剂的物理性粘附。数均粒径优选为900nm以下,更优选800nm以下。
数均粒径为通过使用扫描电子显微镜(SEM)以×40000倍率拍摄3.0μm正方形的任意区域的图像,并测量从获得的图像随机选择的30个第一颗粒的单向直径而获得的算术平均粒径。
对于表面层满足与上述<条件1>相关的通用硬度的数值范围的一个重要因素是第一颗粒。
具体地,可使用柔软颗粒作为用于调节表面层的通用硬度至1.0N/mm2以上且7.0N/mm2以下的第一颗粒。
具体地,可适当地使用包含橡胶例如天然橡胶、天然橡胶的硫化物或合成橡胶的颗粒,和包含树脂的颗粒作为第一颗粒。
其中,从例如,确保表面层和图像承载构件之间的均匀接触并抑制调色剂的变形和破裂的观点,可使用橡胶颗粒。
橡胶颗粒用材料并不特别限定,只要材料在使用温度下显示像橡胶的物理性质,具体地,具有0℃以下的玻璃化转变温度即可。其实例包括硅橡胶、丁二烯橡胶、苯乙烯-丁二烯橡胶、丁腈橡胶和丙烯酸类橡胶。可使用这些橡胶颗粒的一种,或者可组合使用其两种以上。橡胶颗粒可具有核壳结构。可使用对于在形成表面层时使用的涂布液中的溶剂具有亲和性的树脂作为构成壳的材料,由此在从由在弹性层上的涂布液形成的涂膜蒸发溶剂的过程期间使橡胶颗粒有效地移动到涂膜的表面侧。
构成壳的此类材料的实例包括聚甲基丙烯酸甲酯、聚苯乙烯及它们的混合物,以及丙烯腈。可使用这些材料之一,或者可组合使用其两种以上。
商购可得的可适合用作第一颗粒的含橡胶颗粒的实例包括含丁二烯橡胶的颗粒"Metablen C-223A"、含硅橡胶的颗粒"Metablen S-2001"和含丙烯酸类橡胶的颗粒"Metablen W-450A"(均为商品名,由Mitsubishi Rayon Co.,Ltd.制造),Staphyloid(商品名,由Aica Kogyo Co.,Ltd.(原Ganz Chemical Co.,Ltd.)制造)和Paraloid(商品名,由Dow Chemical Company(原Rohm and Haas Company)制造)。通常可得的第一颗粒的粒径分布通常是正态分布。
<粘结剂树脂>
可使用本领域已知的粘结剂树脂作为粘结剂树脂。其实例可包括树脂和橡胶例如天然橡胶、硫化天然橡胶和合成橡胶。作为树脂可使用例如,氟树脂、聚酰胺树脂、丙烯酸类树脂、聚氨酯树脂、硅酮树脂、丁缩醛树脂、苯乙烯-乙烯/丁烯-烯烃共聚物和烯烃-乙烯/丁烯-烯烃共聚物。这些粘结剂树脂可各自单独使用,或者可作为混合物使用其两种以上。可选地,可使用共聚物。这些树脂中,从控制表面层的表面的通用硬度和表面层的体积电阻率的观点,可使用聚氨酯树脂。从上述第一颗粒例如橡胶颗粒的分散性或表面凸部形成的观点,聚氨酯树脂可以是聚碳酸酯聚氨酯、聚酯聚氨酯或聚烯烃聚氨酯。
粘结剂树脂是对于表面层具有与条件1相关的通用硬度的一个重要因素。
具体地,为了调节表面层的通用硬度至1.0N/mm2以上且7.0N/mm2以下,需要使用柔软的粘结剂树脂。
聚氨酯树脂的具体实例包括如后面提到的实施例中所述的,通过使聚酯多元醇(商品名:P-3010,由Kuraray Co.,Ltd.制造)与通过聚合的MDI(商品名:Millionate MR200,由Tosoh Corporation(原Nippon Polyurethane Industry Co.,Ltd.)制造)和聚酯多元醇(商品名:P-3010,由Kuraray Co.,Ltd.制造)之间的反应获得的异氰酸酯基末端预聚物(异氰酸酯基含量:4.3%)反应得到的聚氨酯树脂。
其可选的实例包括通过使聚酯多元醇(商品名:P-3010,由Kuraray Co.,Ltd.制造)与通过聚合的MDI(商品名:Millionate MR200,由Tosoh Corporation制造)和聚碳酸酯多元醇(商品名:T-5652,由Asahi Kasei Chemicals Corp.制造)之间的反应获得的异氰酸酯基末端预聚物(异氰酸酯基含量:4.3%)反应得到的聚氨酯树脂。
其进一步可选的实例包括通过使蓖麻油多元醇(商品名:URIC-H 1823,由Itohoil Chemicals Co.,Ltd.制造)与通过聚合的MDI(商品名:Millionate MR200,由TosohCorporation制造)和聚酯多元醇(商品名:P-2050,由Kuraray Co.,Ltd.制造)之间的反应获得的异氰酸酯基末端预聚物(异氰酸酯基含量:4.3%)反应得到的聚氨酯树脂。
其进一步可选的实例包括通过使聚烯烃多元醇(商品名:G2000,由Nippon SodaCo.,Ltd.制造)与通过聚合的MDI(商品名:Millionate MR200,由Tosoh Corporation制造)和聚烯烃多元醇(商品名:G2000,由Nippon Soda Co.,Ltd.制造)之间的反应获得的异氰酸酯基末端预聚物(异氰酸酯基含量:4.3%)反应得到的聚氨酯树脂。
其进一步可选的实例包括通过使聚醚多元醇(商品名:Exenol 3020,由AsahiGlass Co.,Ltd.制造)与通过聚合的MDI(商品名:Millionate MR200,由TosohCorporation制造)和聚丙二醇多元醇(商品名:Exenol 1030,由Asahi Glass Co.,Ltd.制造)之间的反应获得的异氰酸酯基末端预聚物(异氰酸酯基含量:4.3%)反应得到的聚氨酯树脂。
随着表面层硬度的降低,表面通常趋于具有更高的粘性。尽管如此,根据本发明的电子照相用构件基本上没有归因于表面层降低的硬度的此类粘性的提高,这是因为在外表面上产生第一凸部的第一颗粒在上述表面层的表面附近几乎不存在间隙。
表面层还可满足以下条件2。
<条件2>表面层具有1.0×1010Ω·cm以上且1.0×1016Ω·cm以下的体积电阻率。
根据本发明人的研究,在一些情况下已确认满足条件1的充电构件特别是,在高温和高湿环境,例如,30℃和80%相对湿度中在实心图像中引起微小的白点。这是因为在充电构件和图像承载构件之间接触时发生电荷的直接注入而没有放电(以下,也称作"注入带电"),从而使图像承载构件带电超过预定的带电量。
因此,本发明人对即使在高温和高湿环境中也防止此类现象的表面层的特性进行了研究。结果,已发现可将表面层的体积电阻率设定至1.0×1010Ω·cm以上且1.0×1016Ω·cm以下,由此抑制由注入带电引起的图像缺陷至不可检测的水平。
在该情况下,即使在最倾向于引起注入带电的高温和高湿环境中表面层的体积电阻率也可落入前述数值范围内。
表面层的体积电阻率特别优选为2.0×1010Ω·cm以上且1.0×1015Ω·cm以下,进一步优选3.0×1010Ω·cm以上且1.0×1014Ω·cm以下。表面层的体积电阻率的测量以及注入带电量的评价通过下述方法进行。
表面层可包含具有比第一颗粒更大的粒径的第二颗粒,从而使电子照相用构件的外表面具有源于第二颗粒的凸部。
具体地,图4所示的表面层305包含第二颗粒409并具有源于第二颗粒的第二凸部411。如图4中所示,第二凸部411具有在表面上的第一凸部311。
这样的构造可防止用作第一颗粒的柔软颗粒在辊隙处的充电构件和图像承载构件之间的接触面积增加,并抑制在充电构件和图像承载构件之间的辊隙处第一凸部的塌陷。结果,可抑制长期使用时第一凸部的变形。
另外,具有在第二凸部表面上有第一凸部的第二凸部的这样的构造可使充电构件和图像承载构件之间的辊隙前后使从充电构件表面向图像承载构件表面的放电稳定化,并因此有助于使充电性能更稳定。
<第二颗粒>
第二颗粒的数均粒径需要比第一颗粒的大。具体地,数均粒径可为3μm以上且30μm以下。这可容易地使第二凸部比第一凸部更高。这还可防止第二凸部使电子照相用构件的外表面过度粗糙化。第二颗粒的数均粒径特别优选为5μm以上且20μm以下,进一步优选7μm以上且15μm以下。第二颗粒的数均粒径通过使用FIB-SEM(Focused Ion-Beam ScanningElectron Microscope)来测量。具体测量方法如下所示。
使切割器的刀片向表面层接触,切出截面使得x轴方向(辊的长度方向)的长度和y轴方向(辊的与x轴垂直的截面中圆形截面的切线方向)的长度各为5mm。通过使用FIB-SEM设备在加速电压为10kV且放大倍率为1000倍的条件下,从z方向(辊的垂直于x轴的截面中的直径方向)观察切出的截面。然后,使用镓离子束用20nA的离子束电流拍摄从表面至沿z方向以200nm间隔的20μm深度的总计100个截面图像。对于在截面图像中观察的各第二颗粒,颗粒的最大直径定义为颗粒的直径,且20个颗粒的直径的平均值定义为平均粒径。
为了将表面层的通用硬度设定在与条件1相关的范围内,不应将高硬度颗粒例如金属颗粒用作第二颗粒。具体地,作为第二颗粒可使用树脂例如丙烯酸类树脂、聚碳酸酯树酯、苯乙烯树脂、聚氨酯树脂、氟树脂或硅酮树脂的颗粒。可使用这些第二颗粒的一种,或者可组合使用其两种以上。作为第二颗粒特别优选柔软性优异的聚氨酯树脂颗粒。
当表面层包含第二颗粒时,在表面层中源于第二颗粒的第二凸部可具有1.0N/mm2以上且10.0N/mm2以下的马氏硬度。马氏硬度更优选为8.0N/mm2以下,进一步优选5.0N/mm2以下。马氏硬度可设定为1.0N/mm2以上,由此抑制源于充电构件的变形的图像浓度不均匀的发生,该充电构件的变形由在长期静置时充电构件和图像承载构件之间的接触而引起。另外,马氏硬度可设定为10.0N/mm2以下,从而抑制由第二凸部引起的调色剂的变形。马氏硬度为通过后面提及的方法测量的值。
<导电剂>
表面层可包含导电剂并由此具有导电性。然而,表面层的体积电阻率可调节在与条件2相关的范围内。
导电剂的实例包括离子导电剂和导电性颗粒。从廉价和具有电阻的很小的环境变动的观点,可使用导电性颗粒。导电性颗粒的实例可包括炭黑、金属氧化物例如氧化钛、氧化锡和氧化锌的导电性颗粒,和金属例如铝、铁、铜和银的导电性颗粒。这些导电性颗粒可单独或者以其两种以上的组合使用。具有用导电性颗粒覆盖的二氧化硅颗粒的复合颗粒也可用作导电性颗粒。导电性颗粒可为炭黑。炭黑具有低比重和高导电性,并因此可通过向粘结剂树脂少量添加而确保表面层足够的导电性。另外,炭黑可保持低的表面层硬度。
<其它添加剂>
表面层可包含除前述组分之外的其它添加剂。从改善表面层的表面电阻的观点,表面层可包含有机硅添加剂作为另外的添加剂。在不损害本发明的效果的情况下,表面层可进行例如改性、引入官能团或分子链、涂布或用脱模剂等表面处理。
表面层可通过涂布法例如静电喷涂、浸渍涂布或环涂来形成。可选地,表面层可通过粘附具有预先形成的预定膜厚度的片状或管状的表面层或用该表面层覆盖来形成。还可使用在模具中将材料固化并成型为预定形状的方法。其中,表面层可通过涂布方法经施涂含表面层用材料的涂布液,随后干燥来形成。
表面层的物理性质例如动态摩擦系数和表面自由能可通过表面层的表面处理来调节。其具体实例包括用活性能量束照射表面层的方法。活性能量束的实例包括紫外线、红外线和电子束。
<表面层的厚度>
表面层的厚度优选为0.1μm以上且100μm以下,更优选1μm以上且50μm以下。表面层的厚度为通过后面提及的方法测量的值。
<表面层的生产方法>
对于表面层的生产,例如,在弹性层的表面上由包含在溶剂中溶解或分散或者溶解且分散的粘结剂树脂或粘结剂树脂的原料、以及第一颗粒的涂布液形成涂膜。然后,干燥形成的涂膜从而在弹性层上形成表面层。
在这种情况下,作为溶剂可使用甲基乙基酮,作为第一颗粒可使用具有由丁二烯系橡胶制成的核和覆盖核的移植层(graft layer)的核壳结构橡胶颗粒("Metablen C-223A",商品名,由Mitsubishi Rayon Co.,Ltd.制造),由此在从涂膜干燥溶剂期间使橡胶颗粒移动到涂膜表面侧。结果,可形成从与电子照相用构件相对的位置观察的第一颗粒309的其各自的平均的颗粒表面间距离(以下,称作平均颗粒表面间距离)为50nm以下的电子照相用构件。在这种情况下,可通过涂布液中第一颗粒的含量来控制平均颗粒表面间距离。
涂膜的干燥时间可为5(五)分钟以上,以确保第一颗粒移动到涂膜表面侧所需的时间。
<电子照相用构件的其它构成要素>
<基体>
作为基体可使用导电性基体,并且可使用例如,由铁、铜、不锈钢、铝、铝合金或镍制成的金属(合金)支承体(例如,圆柱状金属)。
<弹性层>
作为弹性层可使用导电性弹性层。导电性弹性层可包含例如,高分子弹性体和导电剂。高分子弹性体的实例包括:合成橡胶例如表氯醇橡胶、丙烯腈-丁二烯橡胶、氯丁橡胶、聚氨酯橡胶和硅橡胶;和热塑性弹性体例如苯乙烯-丁二烯-苯乙烯嵌段共聚物和苯乙烯-乙烯/丁烯-苯乙烯嵌段共聚物。可使用这些高分子弹性体之一,或者可组合使用其两种以上。弹性层可具有离子导电性。因此,作为高分子弹性体可使用表氯醇橡胶。即使当补充少量导电剂时表氯醇橡胶也可发挥有利的导电性,这是因为聚合物本身在中值电阻区域具有导电性。另外,作为高分子弹性体可适当地使用表氯醇橡胶,这是因为还可降低电阻的位置变化。
表氯醇橡胶的实例包括表氯醇均聚物、表氯醇-环氧乙烷共聚物、表氯醇-烯丙基缩水甘油醚共聚物和表氯醇-环氧乙烷-烯丙基缩水甘油醚三元共聚物。可使用这些表氯醇橡胶之一,或者可组合使用其两种以上。这些橡胶中,由于在中值电阻区域显示稳定的导电性,因此可使用表氯醇-环氧乙烷-烯丙基缩水甘油醚三元共聚物。可通过任意调节聚合度或组成比来控制表氯醇-环氧乙烷-烯丙基缩水甘油醚三元共聚物的导电性或加工性。
弹性层可包含例如单独的表氯醇橡胶作为高分子弹性体,或可包含表氯醇橡胶作为主要成分以及任选的另外的橡胶。另外的橡胶的实例包括EPM(乙丙橡胶)、EPDM(乙烯-丙烯-二烯橡胶)、NBR(丁腈橡胶)、氯丁橡胶、天然橡胶、异戊二烯橡胶、丁二烯橡胶、苯乙烯-丁二烯橡胶、聚氨酯橡胶和硅橡胶。可选地,弹性层可包含热塑性弹性体例如SBS(苯乙烯-丁二烯-苯乙烯嵌段共聚物)或SEBS(苯乙烯-乙烯/丁烯-苯乙烯嵌段共聚物)。可使用这些另外的橡胶之一,或者可组合使用其两种以上。在包含另外的橡胶的情况下,另外的橡胶的含量相对于100质量份弹性层可为1至50质量份。
作为导电剂可使用离子导电剂或电子导电剂。从降低弹性层的电阻率不均匀的观点,可使用离子导电剂作为导电剂。离子导电剂可均匀地分散于高分子弹性体中从而实现弹性层的均匀电阻。另外在为了仅将直流电压施加到用作充电构件的电子照相用构件中而使用离子导电剂的情况下,可使图像承载构件均匀带电。
离子导电剂并不特别限定,只要离子导电剂显示离子导电性即可。离子导电剂的实例包括:无机离子物质例如高氯酸锂、高氯酸钠和高氯酸钙;季铵盐例如月桂基三甲基氯化铵、硬脂基三甲基氯化铵和四丁基高氯酸铵;和有机酸的无机盐例如三氟甲烷磺酸锂和全氟丁烷磺酸钾。可单独或组合其两种以上使用这些离子导电剂。这些离子导电剂中,由于具有抵抗环境变化的稳定电阻而可使用高氯酸季铵盐。
电子导电剂并不特别限定,只要电子导电剂是显示电子导电性的导电性颗粒即可。其实例包括:炭黑例如炉黑、热裂炭黑、乙炔黑和科琴黑;金属氧化物例如氧化钛、氧化锡和氧化锌的导电性颗粒;和金属例如铝、铁、铜和银的导电性颗粒。这些电子导电剂可单独或组合其两种以上使用。
导电剂的含量可为其中弹性层的体积电阻率在低温和低湿环境(15℃和10%RH)、常温和常湿环境(23℃和50%RH)以及高温和高湿环境(30℃和80%RH)下为1×103至1×109Ω·cm的量。这是因为所得电子照相用构件发挥有利的充电性能。另外,弹性层可任选地包含例如增塑剂、填料、硫化剂、硫化促进剂、抗氧化剂、抗焦剂、分散剂和脱模剂等成分。弹性层的体积电阻率是使用通过将弹性层中使用的材料成形为1mm厚度的片材并将金属沉积到片材两表面上从而形成电极和保护电极而获得的体积电阻率测量样品,以与后面提及的测量表面层的体积电阻率的方法相同的方式测量的值。
弹性层的硬度以显微硬度(MD-1型)计优选为50°以上且70°以下,更优选50°以上且60°以下。显微硬度(MD-1型)可设定为50°以上,由此抑制源于充电构件变形的图像浓度不匀的发生,该充电构件的变形由长期静置时充电构件和图像承载构件之间的接触而引起。显微硬度(MD-1型)可设定为70°以下,由此充分确保充电构件和图像承载构件之间的辊隙宽度,并防止调色剂由于接触压力增加而引起的变形或破裂。
"显微硬度(MD-1型)"为使用ASKER显微橡胶硬度试验仪型号MD-1(商品名,由Kobunshi Keiki Co.,Ltd.制造)测量的硬度。具体地,显微硬度(MD-1)为在10N峰值保持模式下使用硬度试验仪对于在常温和常湿(23℃和50%RH)环境中放置12小时以上的样品测量的值。
可通过在密封混合器中混合弹性层用起始原料,并通过例如挤出成形、注射成形或压缩成形等方法使混合物成形来制备弹性层。可选地,弹性层可直接成形于基体上,或将基体用预先成型为管状的弹性层来覆盖。由此制备的弹性层的表面可抛光以整理其形状。
<处理盒和图像形成设备>
处理盒具有图像承载构件和与图像承载构件接触配置的充电构件。处理盒还构造为可拆卸地安装到图像形成设备的主体。充电构件为根据本发明的电子照相用构件。
图像形成设备具有图像承载构件、使图像承载构件带电的充电设备、通过使用显影剂使形成于图像承载构件上的静电潜像显影的显影设备以及将由图像承载构件支持的显影剂转印到转印介质的转印构件。充电设备具有作为根据本发明的电子照相用构件的充电构件。充电设备还可具有向充电构件施加电压的电压施加装置。充电设备在与图像承载构件接触时可使图像承载构件的表面带电,同时在将由图像承载构件支持的显影剂转印到转印介质的转印步骤之后回收残留在图像承载构件上的显影剂。根据本发明的图像形成设备的一个实例如图1所示。
图1所示的图像形成设备包括在图1中顺时针旋转的图像承载构件5、作为根据本发明的电子照相用构件的充电构件6、转印构件10、清洁器容器11、清洁刮板12、定影设备13、和拾取辊14等。图像承载构件5借助于电压施加装置(未示出)通过向其施加电压由充电构件6而带电。然后,用激光束通过激光产生装置16照射图像承载构件5以曝光从而在图像承载构件5的带电表面上形成对应于期望图像的静电潜像。图像承载构件5上的静电潜像经由调色剂承载构件7和调色剂供给构件8通过作为显影设备9中的显影剂的调色剂而显影,从而获得调色剂图像。调色剂图像通过经由转印介质15与图像承载构件5接触并已施加有与调色剂极性相反的极性的电压的转印构件10转印到转印介质15例如纸上。承载调色剂图像的转印介质15被输送到定影装置13,从而将调色剂图像定影到转印介质15上。部分地残留于图像承载构件5上的调色剂通过清洁刮板12刮掉并收容于清洁器容器11中。
根据本发明的充电设备可为向通过与图像承载构件5接触而形成接触部分的充电构件6施加预定的充电偏压,使图像承载构件5的表面带电至预定极性和电位的接触充电设备。使用所述设备的接触充电实现稳定且均匀的充电,并可进一步降低臭氧的产生。可使用以与图像承载构件5相反方向旋转的充电构件6来保持与图像承载构件5的接触均匀并实施均匀充电。即,在电子照相感光构件5沿顺时针方向旋转的情况下,充电构件优选沿逆时针方向旋转。另外,充电构件6可以与图像承载构件5的速度差移动。充电构件6可构造为沿相对于图像承载构件5的移动方向的正方向保持的速度差移动。在无清洁器图像形成设备中采用该构造可防止在图像承载构件5上的残余调色剂被移动至充电构件6的表面上。
根据一方面,本发明可提供电子照相用构件。电子照相用构件可用作例如,充电构件、显影构件或转印构件。本发明还可提供能够形成高品质图像的处理盒和图像形成设备。
实施例
以下,将参考实施例更详细地描述本发明。然而,本发明不意欲被这些实施例以任何手段所限定。单位"份"指"质量份"。
<实施例1>
<1.未硫化橡胶组合物的制备>
使用加压式混炼机将表1所示种类和量的各材料混合从而获得混炼的橡胶组合物A。此外,使用开炼机将183.0质量份混炼的橡胶组合物A与下表2所示种类和量的各材料混合从而获得未硫化橡胶组合物。
表1
表2
<2.弹性构件的制备>
用热固性粘合剂(Metalock N-33,由ToyoKagaku Kenkyusho Co.,Ltd.制造)涂布直径6mm和长度252.5mm的圆柱形钢基体(具有镀镍表面)。将所得物在80℃下干燥30分钟,然后进一步在120℃下干燥1小时。
接下来,使用十字头挤出机在基体上将未硫化橡胶组合物同轴地挤出为外径8.75至8.90mm的圆筒形,从而获得未硫化橡胶构件。随后,将未硫化橡胶构件投入160℃的热风硫化炉并加热60分钟以硫化未硫化橡胶组合物层,从而获得未研磨的弹性构件。然后,切断橡胶的两端以调节弹性层的长度为232mm。然后,用旋转砂轮将弹性层的表面研磨成外径8.5mm的辊状,从而获得在基体上具有弹性层的弹性构件。弹性构件的凸起量(中心部和距中心部90mm距离的位置之间的外径之差)为110μm。
<3.涂布液1的制备>
在表面层的形成中使用的涂布液1通过以下方式制备:在氮气氛中,在反应容器中将100质量份聚酯多元醇(商品名:P3010,由Kuraray Co.,Ltd.制造)逐滴添加到27质量份聚合的MDI(聚亚甲基聚苯基多异氰酸酯)(商品名:Millionate MR 200,由TosohCorporation制造),同时使反应容器的内部温度保持于65℃。在逐滴添加完成后,使混合物在65℃下反应2小时。使获得的反应混合物冷却至室温,从而获得异氰酸酯基含量为4.3质量%的异氰酸酯基末端预聚物1。
将54.9质量份异氰酸酯基末端预聚物1、41.52质量份聚酯多元醇(商品名:P2010,由Kuraray Co.,Ltd.制造)和23质量份炭黑(MA 230,由Mitsubishi Chemical Corp.制造)添加到甲基乙基酮(MEK)。使该混合物的固成分调节至27质量%以制备混合液1。将270质量份混合液1、15质量份作为第一颗粒的数均粒径为200nm的橡胶颗粒(商品名:Metablen C-223A,由Mitsubishi Rayon Co.,Ltd.制造)以及200质量份平均粒径为0.8mm的玻璃珠放置于450mL玻璃瓶中。使用油漆搅拌器分散机分散该混合物12小时。然后,向其添加作为第二颗粒的30质量份数均粒径为7.0μm的聚氨酯树脂颗粒(商品名:DAIMICBEAZ UCN-5070D,由Dainichi Seika Color Chemical Mfg.Co.,Ltd.制造)。然后,进一步分散混合物15分钟,除去玻璃珠从而获得涂布液1。
<4.电子照相用构件1的制备>
将弹性构件一次浸渍于涂布液1中,然后在23℃下风干30分钟。随后,将所得物在设为80℃的热风循环干燥器中干燥1小时,并在设为160℃的热风循环干燥器中进一步干燥1小时,从而在弹性构件的外周面上形成表面层。浸涂的浸渍时间为9秒。浸涂的拉起速度调节作为初始速度为20mm/秒和作为最终速度为2mm/秒,并且相对于时间从20mm/秒至2mm/秒线性地变化。以这种方式,获得具有在弹性层上形成的表面层的电子照相用构件1。
<5.物理性质评价>
接下来,评价获得的电子照相用构件1的以下物理性质。
<评价5-1.表面层的厚度>
用锋利的刀切出共计9个截面(沿轴向的3个部位×沿圆周方向的3个部位)。通过在光学显微镜或电子显微镜下观察来测量这些部位的各厚度,并采用其平均值。测量结果示于表9-1至9-6。
<评价5-2.表面层的表面的通用硬度>
使用通用硬度试验仪测量距表面层的表面1μm位置处的通用硬度。测量结果示于表9-1至9-6中。
该测量中,使用显微硬度试验仪(商品名:FISCHERSCOPE HM-2000,由HelmutFischer GmbH制造)。具体测量条件如下。
测量压头:维氏压头,面间角:136°,杨氏模量:1140Gpa,泊松比:0.07;测量环境:温度:23℃,
相对湿度:50%
最大试验载荷:1.0mN
载荷条件:以30秒载荷达到最大试验载荷的速度以与时间的比例施加载荷。
在该评价中,使用当压头压入距表面层表面1μm深度的时间点的载荷F以及此时压头和表面层之间的接触面积根据以下等式(1)计算通用硬度。
等式(1)
通用硬度(N/mm2)=F/A
<评价5-3.表面层的第二凸部的马氏硬度>
在表面层中源于第二颗粒(聚氨酯树脂颗粒)的第二凸部的马氏硬度使用显微硬度试验仪(商品名:PICODENTOR HM-500,由Helmut Fischer GmbH制造)来测量。测量结果示于表9-1至9-6。
测量条件如下。
测量压头:维氏压头,面间角:136°,杨氏模量:1140Gpa,泊松比:0.07;
压头材料:金钢石
测量环境:温度:23℃,
相对湿度:50%
加载速度和卸载速度:1mN/50秒
在该评价中,使压头的尖端与电子照相用构件表面上的第二凸部接触,并且以与前述条件中所述的速度向其施加载荷。当载荷达到0.04mN时,将该载荷保持前述条件中所述的时间。然后,测定压痕深度h,并根据下列等式(2)计算马氏硬度。
等式(2)
马氏硬度HM(N/mm2)=F(N)/试验载荷下压头的表面积(mm2)
<评价5-4.表面的算术平均粗糙度(Ra)>
基于JIS B0601:1982使用表面粗糙度试验仪(商品名:Surfcorder SE 3400,由Kosaka Laboratory Ltd.制造)测量表面的算术平均粗糙度(Ra)。该测量中,使用尖端半径为2μm的的金钢石探针。测量速度为0.5mm/s;截止频率λc为0.8mm;基准长度为0.8mm;和评价长度为8.0mm。对于电子照相用构件1表面上的共计9个点(沿轴向的3点×沿圆周方向的3点)测量各粗糙度曲线,从而计算Ra。求出这9个点的平均Ra。使用该平均值用作电子照相用构件1的Ra值。测量结果示于表9-1至9-6中。
<评价5-5.表面层的体积电阻率>
使用原子力显微镜(AFM)(商品名:Q-scope 250,由Quesant Instrument Corp.制造)在导电性模式下测量表面层的体积电阻率。具体地,使用机械手将表面层切出2mm宽度和2mm长度的片,并将铂沉积于其一个表面上。接下来,将直流电源(商品名:6614C,由Agilent Technologies,Inc.制造)连接到沉积铂的表面并使得向其施加10V。将悬臂的自由端与另一表面接触,从而通过AFM主体获得电流图像。随机测量表面层中的100个部位,由10个最低电流值部的平均电流值和厚度计算体积电阻率。测量条件如下。测量结果示于表9-1至9-6中。
[测量条件]
测量模式:接触
悬臂:CSC17
测量范围:10nm×10nm
扫描速率:4Hz
施加的电压:10V
<评价5-6.产生第一凸部的第一颗粒的平均颗粒表面间距离>
在电子照相用构件表面层的表面上产生第一凸部的第一颗粒(橡胶颗粒)的平均颗粒表面间距离通过以下方法测量。
首先,从电子照相用构件切出包括表面层的表面的样品(尺寸:10mm长,10mm宽和3mm厚)。以10nm的厚度将铂沉积到样品的表面(对应于表面层的表面)上。随后,使用扫描电子显微镜(商品名:S-4800,由Hitachi High-Technologies Corp.制造)将样品的沉积铂的表面暴露于电子束。在×40000倍率下观察3.0μm长×3.0μm宽的区域,并拍照。
使用图像分析软件(商品名:image-Pro Plus,由Roper Technologies,Inc.(原PlanEtron)制造)分析获得的图像。具体地,在拍摄期间由微米条(micron bar)校准每单位长度的像素数。随机选择照片中的20个第一颗粒,测量各颗粒距其相邻颗粒的颗粒表面间距离。然后,将各颗粒距其相邻颗粒的颗粒表面间距离中最大的颗粒表面间距离定义为该颗粒的颗粒表面间距离。其算术平均值用作平均颗粒表面间距离。
如果在3.0μm长×3.0μm宽的区域中不能观察到20个第一颗粒,则通过连续地移动区域直至能够识别20个待测量的第一颗粒及其相邻的第一颗粒来测定颗粒表面间距离。
<6.图像评价>
接下来,将获得的电子照相用构件1用于以下图像评价。
<评价6-1.污垢评价>
准备激光束打印机(商品名:HP LaserJet P1505 Printer,由HP Inc.制造)作为图像形成设备。该激光束打印机能够沿长度方向输出A4大小的纸。激光打印机具有23张/分钟的打印速度和600dpi的图像分辨率。将电子照相用构件1作为充电构件装入激光束打印机用处理盒(商品名:"HP 36A(CB 436A",由HP Inc.制造)中。将所得处理盒装载到激光束打印机中。
在低温和低湿(温度:15℃,相对湿度:10%)环境中使用激光束打印机形成在A4大小纸上以1%打印率打印的具有4点的字母表的字母"E"的2000张图像。该图像形成以涉及每输出一张后图像承载构件的旋转停止7秒的所谓间歇模式来进行。与连续图像形成相比,间歇模式下的图像形成增加了充电构件和图像承载构件之间的摩擦次数,因此,用作充电构件的更加严苛的评价条件。在以这种方式完成2000张图像的输出后,输出如图5所示的其中以2点间隔沿与图像承载构件的旋转方向垂直的方向绘制具有1点宽度的线的半色调图像。根据下面给出的基准评价获得的图像。评价结果示于表9-1至9-6中。
A:在输出图像上没有发现由于调色剂或外部添加剂粘附到充电构件的表面而引起的充电不均匀。
B:在输出图像上几乎没有发现由于调色剂或外部添加剂粘附到在充电构件的表面上的不均匀涂布的或条纹的部分而引起的充电不均匀。
C:在输出图像上发现由于调色剂或外部添加剂粘附到在充电构件的表面上的不均匀涂布的或条纹的部分而引起的充电不均匀。
D:在输出图像上发现由于调色剂或外部添加剂粘附到在充电构件的表面上的不均匀涂布的或条纹的部分而引起的充电不均匀,并且该充电不匀程度大,具体地,发现充电不均匀为白色纵向条纹状。
<评价6-2.放电特性>
以与评价6-1相同的方式输出图像,并且根据下面给出的基准评价。评价结果示于表9-1至9-6中。
A:在输出图像上未目视观察到白点。
B:在输出图像上略微观察到白点。
C:在整个输出图像上观察到白点。
<评价6-3.注入带电量的评价>
将电子照相用构件1作为充电构件装入处理盒(商品名:"HP 36A(CB 436A)",由HPInc.制造)。将表面电位计探针(商品名:MODEL 555P-1,由TREK Japan K.K.制造)放于从充电构件的位置沿圆周方向向图像承载构件的显影设备侧旋转90度并且距离图像承载构件2mm的位置。将处理盒插入激光束打印机(商品名:HP LaserJet P1505 Printer,由HP Inc.制造)。在高温和高湿(温度:30℃,相对湿度:80%)的环境中,以图像承载构件一半的转速当施加DC-500V电压至充电构件时测量距离图像承载构件中心部90mm位置的表面电位(注入带电量)。将测量的图像承载构件的第一周的波形的平均值定义为注入带电量。评价结果示于表9-1至9-6中。
注入带电量是在DC-500V没有充电构件放电的条件下测量的值。在此评价的注入带电量是由于除放电之外的因素而添加到图像承载构件的注入带电量。因此,注入带电量的值越大意味着图像承载构件的表面电位越难以控制实际图像输出。在高温和高湿环境中该现象特别显著。作为指导,可保持具有稳定浓度的图像输出的注入带电量为50[-V]以下。
<评价6-4.污垢评价(无清洁器)>
接下来,使用无清洁器机构实施污垢评价。将齿轮安装于电子照相用构件上,从而使电子照相用构件沿相对于图像承载构件的旋转的正方向以5%的圆周速度差旋转。将带齿轮的电子照相用构件1作为充电构件并入从中除去清洁刮板的处理盒(商品名:HP 36A(CB 436A),由HP Inc.制造)。在低温和低湿(温度:15℃,相对湿度:10%)环境中使用处理盒和激光束打印机(商品名:HP LaserJet P1505 Printer,由HP Inc.制造)在A4大小纸上输出100张图像,在各图像中,沿垂直于图像承载构件旋转方向的方向以100点间隔绘制具有2点宽度的线。然后,从处理盒除去电子照相用构件1。通过以下带着色评价实施"污垢评价(无清洁器)5%"。
如下实施带着色评价:将粘合聚酯带(商品名:No.31B,由Nitto Denko Corp.制造)附着到电子照相用构件1的表面。然后,将粘合带与粘附到电子照相用构件1表面的调色剂一起剥离,并附着到白纸。在电子照相用构件1表面上对整个图像打印区域进行该操作。然后,使用光伏反射浓度计(商品名:TC-6DS/A,由Tokyo Denshoku Co.,Ltd.制造)测量粘合带的反射浓度,从而测定其最大值(A)。接下来,以与上述相同的方式测量附着于白纸的新聚酯粘合带的反射浓度,从而测定其最小值(B)。使用最小值(B)和最大值(A)之差作为着色浓度的值。着色浓度的值越小意味着具有越小污垢量的电子照相用构件的有利结果。因此,所述值被用作电子照相用构件上污垢程度的指数。评价结果示于表9-1至9-6中。
接下来,将齿轮安装到电子照相用构件1上,使得电子照相用构件1沿相对于图像承载构件的旋转的正方向以10%的圆周速度差旋转。以与"污垢评价(无清洁器)5%"中相同的方式输出图像。通过带着色评价来实施电子照相用构件1的"污垢评价(无清洁器)10%"。评价结果示于表9-1至9-6中。
<评价6-5.注入带电量的评价(无清洁器)>
以与评价6-4中相同的方式将沿相对于图像承载构件的旋转的正方向以5%的圆周速度差设置的电子照相用构件1作为充电构件并入从中除去清洁刮板的处理盒(商品名:"HP 36A(CB 436A)",由HP Inc.制造)。将表面电位计探针(商品名:MODEL 555P-1,由TREK Japan K.K.制造)放入从充电构件的位置沿圆周方向向图像承载构件的显影设备侧旋转90度并且距离图像承载构件2mm的位置。将处理盒插入激光束打印机(商品名:HPLaserJet P1505 Printer,由HP Inc.制造)。以与评价6-3中相同的方式,当施加DC-500V电压到充电构件时测量距离图像承载构件的中心部90mm位置的表面电位(注入带电量)。将测量的图像承载构件的第一周的波形的平均值定义为"注入带电量(无清洁器)5%"。评价结果示于表9-1至9-6。
接下来,将以沿相对于图像承载构件的旋转的正方向10%的圆周速度差设置的电子照相用构件1作为充电构件并入从中除去清洁刮板的处理盒。以与"注入带电量(无清洁器)5%"的测量中相同的方式测量"注入带电量(无清洁器)10%"。评价结果示于表9-1至9-6中。
<实施例2至37>
<涂布液2至33的制备>
除了如表3-1至3-4中所示改变组成以外,以与涂布液1中相同的方式制备涂布液2至33。表3-1至3-4中所描述的以下成分(A)至(E)的种类示于表4中。
(A)多元醇(羟基末端预聚物),
(B)异氰酸酯(异氰酸酯基末端预聚物),
(C)第二颗粒,
(D)有机硅添加剂,和
(E)第一颗粒
借助于多元醇和聚合的MDI(商品名:Millionate MR 200,由Tosoh Corporation制造)之间的预先反应通过调节异氰酸酯基含量至4.3质量%以与实施例1中相同的方式制备使用异氰酸酯基末端预聚物的某些部分。
<电子照相用构件2至37的制备>
除了如表9-1至9-6中所述改变表面层形成中使用的涂布液以外,以与实施例1相同的方式来生产和评价电子照相用构件2至37。
关于实施例35、36和37,分别以与实施例1、18和31中相同的方式生产电子照相用构件,随后紫外线处理其表面层。通过使用低压汞灯(由Toshiba Lighting TechnologyCorp.(原HARISON TOSHIBA LIGHTING Corp.)制造)用波长为254nm的紫外线以9000mJ/cm2的累积光量照射来进行紫外线处理。评价结果示于表9-1至9-6中。
表3-1
表3-2
表3-3
表3-4
涂布液31 | 涂布液32 | 涂布液33 | |
多元醇(A) | A-4 | A-5 | A-6 |
异氰酸酯(B) | B-4 | B-5 | B-6 |
A/B添加量(份) | 43/57 | 59/41 | 41/59 |
第二颗粒(C) | C-4 | C-1 | C-1 |
C的添加量(份) | 30 | 30 | 30 |
有机硅添加剂(D) | - | - | - |
D的添加量(份) | - | - | - |
第一颗粒(E) | E-1 | E-1 | E-1 |
E的添加量(份) | 15 | 15 | 15 |
表4
<实施例38>
除了使用表5中所描述的材料代替在混炼的橡胶组合物A的制备中的EpichlomerCG-102(也称为CG 102)以外,以与实施例1中相同的方式生产和评价电子照相用构件38。评价结果示于表9-6中。
表5
<实施例39>
使用加压式混炼机将表6所示种类和量的各材料混合从而获得混炼的橡胶组合物A。此外,使用开炼机将混炼的橡胶组合物A与表7所示种类和量的各材料混合,从而获得未硫化的橡胶组合物。除了使用未硫化的橡胶组合物以外,以与实施例1中相同的方式生产和评价电子照相用构件39。评价结果示于表9-6中。
表6
表7
<实施例40>
用底涂料(商品名:DY35-051,由Dow Corning Toray Co.,Ltd.制造)涂布与实施例1中使用的相同的基体,并在150℃温度下烘烤30分钟。使用所得物作为基体。将该基体放入模具中,并将具有表8所述的材料的混合物的加成型硅橡胶组合物注入模具形成的模腔中。
表8
接下来,在120℃下加热模具8分钟,然后冷却至室温,随后脱模。然后,在200℃下加热所得物60分钟,硫化和固化,从而获得在基体外周面上具有2.5mm厚度的弹性层。通过与实施例1中相同的随后的步骤来生产和评价电子照相用构件40。评价结果示于表9-6中。
表9-1
表9-2
表9-3
表9-4
表9-5
表9-6
<比较例1>
除了在制备涂布液1时不添加作为第一颗粒的橡胶颗粒以外,以与实施例1中相同的方式生产和评价电子照相用构件41。评价结果示于表10中。
<比较例2>
除了使用涂布液32作为涂布液以外,以与实施例1中相同的方式生产和评价电子照相用构件42。评价结果示于表10中。
<比较例3>
除了在涂布液1制备时添加作为第一颗粒的15质量份数均粒径为300nm的氧化钛(商品名:JR301,由TAYCA Corp.制造)来代替橡胶颗粒以外,以与实施例1中相同的方式生产和评价电子照相用构件43。评价结果示于表10中。源于填充有氧化钛的细微凹凸未形成于电子照相用构件43的表面上。
<比较例4>
除了在涂布液1制备时添加作为第一颗粒的60质量份数均粒径为300nm的氧化钛(商品名:JR301,由TAYCA Corp.制造)来代替橡胶颗粒以外,以与实施例1中相同的方式生产和评价电子照相用构件44。评价结果示于表10中。
表10
虽然参考示例性实施方案已描述了本发明,但应理解本发明并不局限于公开的示例性实施方案。权利要求书的范围符合最宽的解释以便涵盖所有此类改进以及等同的结构和功能。
Claims (9)
1.一种电子照相用构件,其包括基体、在所述基体上的弹性层和在所述弹性层上的表面层,其特征在于:
所述表面层包含粘结剂树脂和第一颗粒,
所述表面层的表面具有源于所述第一颗粒的第一凸部,
产生所述第一凸部的所述第一颗粒具有50nm以下的平均颗粒表面间距离,
所述第一颗粒具有200nm以上且1000nm以下的数均粒径,和
所述表面层的在距离其表面的深度为1μm处的通用硬度为1.0N/mm2以上且7.0N/mm2以下。
2.根据权利要求1所述的电子照相用构件,其中所述第一颗粒为橡胶颗粒。
3.根据权利要求1或2所述的电子照相用构件,其中所述表面层具有1.0×1010Ω·cm以上且1.0×1016Ω·cm以下的体积电阻率。
4.根据权利要求1或2所述的电子照相用构件,其中
所述表面层进一步包含第二颗粒,
所述表面层的表面具有源于所述第二颗粒的第二凸部,和
所述第二颗粒具有3μm以上且30μm以下的数均粒径。
5.根据权利要求4所述的电子照相用构件,其中所述表面层的所述第二凸部的当以1mN/50秒的加载速度达到0.04mN的载荷时的马氏硬度为1.0N/mm2以上且10.0N/mm2以下。
6.根据权利要求4所述的电子照相用构件,其中所述第二颗粒为聚氨酯树脂颗粒。
7.一种处理盒,其构造为可拆卸地安装到图像形成设备的主体,所述处理盒包括图像承载构件和与所述图像承载构件接触设置的充电构件,其特征在于:
所述充电构件为根据权利要求1至6任一项所述的电子照相用构件。
8.一种图像形成设备,其包括图像承载构件、使所述图像承载构件带电的充电设备、通过使用显影剂使在所述图像承载构件上形成的静电潜像显影的显影设备和使由所述图像承载构件支持的显影剂转印到转印介质的转印构件,其特征在于:
所述充电设备包括充电构件,
所述充电构件为根据权利要求1至6任一项所述的电子照相用构件。
9.根据权利要求8所述的图像形成设备,其中所述充电构件以与所述图像承载构件不同的速度移动。
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