CN103389345A - 色谱质谱分析用数据处理系统 - Google Patents
色谱质谱分析用数据处理系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103389345A CN103389345A CN201310165158XA CN201310165158A CN103389345A CN 103389345 A CN103389345 A CN 103389345A CN 201310165158X A CN201310165158X A CN 201310165158XA CN 201310165158 A CN201310165158 A CN 201310165158A CN 103389345 A CN103389345 A CN 103389345A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- mass
- chromatogram
- spectrum analysis
- mass spectrum
- analysis data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/86—Signal analysis
- G01N30/8658—Optimising operation parameters
- G01N30/8662—Expert systems; optimising a large number of parameters
-
- G—PHYSICS
- G16—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR SPECIFIC APPLICATION FIELDS
- G16C—COMPUTATIONAL CHEMISTRY; CHEMOINFORMATICS; COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE
- G16C20/00—Chemoinformatics, i.e. ICT specially adapted for the handling of physicochemical or structural data of chemical particles, elements, compounds or mixtures
- G16C20/20—Identification of molecular entities, parts thereof or of chemical compositions
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0031—Step by step routines describing the use of the apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0036—Step by step routines describing the handling of the data generated during a measurement
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Immunology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
- Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
一种色谱质谱分析用数据处理系统。该系统帮助操作员高效且可靠地确定目标定量离子、碰撞能量和其它分析条件。将操作员选择的色谱图显示在MRM测量参数确定用窗口(100)的色谱图显示区域(102)中。在用户在该色谱图上选择任意时间点的情况下,将与包括所选择的时间点的时间范围关联的事件中所登记的目标化合物的名称显示在化合物名称显示区域(104)上。还将该时间点处收集到的多个质谱图以质量轴上的标度相同且强度轴上的标度相同的状态以垂直配置的形式显示在质谱图显示区域(105)中,其中质量轴的刻度在垂直方向上彼此对准。在该画面,操作员可容易地检查所选择峰是否与目标化合物正确相对应。对质谱图比较也很容易。
Description
技术领域
本发明涉及一种系统,其中该系统用于对诸如气相色谱仪(GC)或液相色谱仪(LC)等的色谱仪与质谱仪相组合的色谱质谱仪所收集到的数据进行处理并且将测量结果显示在显示画面上。
背景技术
作为用于对分子量较大的化合物进行鉴定、结构分析或定量确定的质谱技术其中之一,广泛使用被称为MS/MS分析(或串联分析)的方法。存在针对MS/MS分析所设计的具有不同结构的各种质谱仪,其中在这些质谱仪中,串联四极型质谱仪的特征在于它们的结构相对简单并且容易操作和进行处理。
在一般使用的串联四极型质谱仪中,离子源中的源自于试样成分的离子被导入第一四极滤质器(通常表示为“Q1”)内,其中在该第一四极滤质器中,选择具有特定质量电荷比(m/z)的离子作为前体离子。该前体离子被导入包含具有四根以上的极的离子引导件(通常将该离子引导件表示为“q2”)的碰撞池内。向该碰撞池供给诸如氩气等的碰撞诱导解离(CID)气体,并且碰撞池内的前体离子与该CID气体发生碰撞,从而裂解成各种产物离子。这些产物离子被导入第二四极滤质器(通常表示为“Q3”)内,其中该第二四极滤质器选择性地使得具有特定质量电荷比(m/z)的产物离子穿过该第二四极滤质器并且到达检测器,由此进行检测。
该串联四极型质谱仪可以单独使用。然而,该装置经常与诸如气相色谱仪(GC)或液相色谱仪(LC)等的色谱仪组合使用。近年来,色谱串联四极型质谱仪在诸如测试食物中的残留农药、测试环境污染物质、检查药用化学品在血液中的浓度或者筛选药物或有毒物质等的用于对包含大量化合物的试样或者混入了各种杂质的试样进行微量分析的领域内已成为重要装置。
色谱串联四极型质谱仪所进行的MS/MS分析可以在诸如多反应监测(MRM)模式、前体离子扫描模式、产物离子扫描模式和中性丢失扫描模式等的各种测量模式下进行(参见专利文献1)。在MRM模式中,允许离子穿过的质量电荷比在第一四极滤质器和第二四极滤质器各自中是固定的,从而使特定种类的前体离子裂解并且测量通过该裂解而产生的特定种类的产物离子的强度(或量)。MRM测量中的两级的滤质消除了要分析成分以外的不想要成分、源自于杂质成分的离子、以及中性粒子,由此可以获得信噪比高的离子强度信号。由于该特征,MRM测量对于微量成分的定量分析而言特别有效。例如,气相色谱串联四极型质谱仪(GC/MS/MS)频繁地在MRM模式下工作,以进行要求确定极微量成分的量的针对残留农药的多成分同时定量分析。
为了确保通过MRM测量所进行的定量确定的高精度,需要设置诸如前体离子的质量电荷比、产物离子的质量电荷比和碰撞能量等的针对各化合物的适当MRM测量参数。在定量分析的情况下,选择与源自于关注化合物的离子的最大强度相对应的质量电荷比作为上述质量电荷比。将具有如此选择的质量电荷比的离子称为目标定量离子(target ion)。在质谱图上存在与目标定量离子的质量电荷比相同的质量电荷比处具有峰并且具有与目标定量离子大致相同的保留时间的异物成分的情况下,难以仅利用该目标定量离子来将目标化合物与异物成分区分开。在针对该问题的一个常用解决方案中,预先指定源自于目标化合物但具有不同的质量电荷比的离子作为辅助定性离子(qualifier ion),并且计算在表示目标定量离子的质量色谱图上出现的峰的质谱图上、与辅助定性离子相对应的峰强度相对于与目标定量离子相对应的峰强度的相对比率。在该比率(“辅助定性离子比率”)在预定范围内的情况下,可以认为质量色谱图上的峰源自于目标化合物。
为了针对各化合物确定最佳的目标定量离子、辅助定性离子或碰撞能量,在改变碰撞能量的情况下对包含目标化合物的试样进行多次使用色谱串联四极型质谱仪的MS/MS分析。然后,对在目标化合物应当出现的保留时间附近所获得的与不同碰撞能量相对应的多个质谱图(产物离子谱图)进行比较,以确定最佳的目标定量离子、辅助定性离子和碰撞能量等。这一系列的操作和判断由分析操作员来进行。
也就是说,在传统的色谱串联四极型质谱分析用数据处理系统中,在收集到通过MS/MS分析得到的测量数据之后,在操作员选择应进行再分析的一组测量数据的情况下,从存储器读取所选择的数据,并且根据这些数据来创建总离子色谱图并且显示在显示画面上。在该总离子色谱图上,操作员利用指示装置或其它类型的输入装置来选择看似与目标化合物相对应的峰或点。然后,创建在与所选择的点相对应的时间点处实际测量到的质谱图并且显示在显示画面上的不同区域中。随后,在操作员同样地选择不同量的碰撞能量下所获得的另一组测量数据的情况下,从存储器读取所选择的数据,并且根据该数据创建另一质谱图并且显示在同一显示画面上。因而,可以将不同量的碰撞能量下所获得的多个质谱图同时显示在相同的显示画面上。通过比较所显示的质谱图,操作员可以选择适当的目标定量离子和辅助定性离子以及适当的碰撞能量。
在试样仅包含目标化合物的情况下,上述处理不会引起问题。实际上,用于这些目的的试样通常包含多个化合物,以使得能够并行确定针对多个化合物的测量参数。因此,操作员需要检查总离子色谱图上出现的峰与期望的目标化合物是否相对应。为此,需要参考诸如化合物表等的其它类型的信息。在多成分同时定量分析的情况下,需要对大量化合物分别进行上述检查。该工作麻烦并且降低了工作效率。
上述问题不仅在色谱串联四极型质谱仪中所使用的MRM测量参数的确定时发生,还在诸如色谱四极型质谱仪中所使用的离子输送光学系统的电压设置的确定等的其它情形时发生。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2011-249109
发明内容
发明要解决的问题
本发明是为了解决上述问题而开发的。本发明的主要目的是提供一种系统,其中该系统便于测量参数(例如,色谱串联四极型质谱仪中的针对各化合物的目标定量离子、辅助定性离子和碰撞能量)的确定,从而减轻由于视觉检查而对操作员造成的工作负担并且在减少工作处理中的失误的同时提高工作效率。
用于解决问题的方案
目的在于解决上述问题的本发明是一种色谱质谱分析用数据处理系统,用于对色谱质谱仪随着时间的经过重复收集到的色谱质谱分析数据进行处理,并且将测量结果显示在显示单元的画面上,所述色谱质谱分析用数据处理系统包括:
a)化合物信息存储器,用于存储化合物名称,其中各化合物名称与保留时间或包括该保留时间的时间段相关联,或者与该时间段以及该时间段内要进行的质谱分析的分析条件这两者相关联;
b)第一显示处理器,用于将根据所述色谱质谱分析数据所创建的色谱图显示在所述显示单元的画面的一部分上;
c)选择器,用于使得操作员能够在所述第一显示处理器显示在所述显示单元的画面上的色谱图上选择时间位置;以及
d)第二显示处理器,用于在所述化合物信息存储器中搜索如下化合物名称,并且将该化合物名称和质谱图连同所述色谱图一起显示在画面上,其中该化合物名称与同所述色谱图上所选择的时间位置相对应的保留时间或时间段相关联或者与该时间段以及获取到用于创建该时间段内的色谱图的色谱质谱分析数据时的质谱分析的分析条件这两者相关联,以及所述质谱图是基于如下两种色谱质谱分析数据其中之一的:在所选择的时间位置处所获取到的色谱质谱分析数据;以及创建所选择的时间位置处的色谱图所使用的并且在所选择的时间位置处所获取到的色谱质谱分析数据。
在根据本发明的色谱质谱分析用数据处理系统中,在利用色谱质谱仪已收集到针对目标试样的色谱质谱分析数据的状态下,在操作员输入预定命令的情况下,第一显示处理器基于收集到的色谱质谱分析数据来创建色谱图并且将该色谱图显示在显示单元的画面的一部分上。在质谱仪是具有单个四极滤质器的四极型质谱仪的情况下,例如,通过在该质谱仪中对预定的质量电荷比范围重复扫描测量或者通过在该质谱仪中对多个预定的质量电荷比重复选择性离子监测(SIM)测量,来获得色谱质谱分析数据。在质谱仪是具有两个串联配置的四极滤质器的串联四极型质谱仪的情况下,例如,通过在该质谱仪中对预定的质量电荷比范围重复产物离子扫描测量或者通过在该质谱仪中对多个预定的质量电荷比重复MRM测量,来获得色谱质谱分析数据。在这些情况中的任意情况下,色谱图可以是通过对各测量时间点处的离子强度进行求和所获得的总离子色谱图或者以特定质量电荷比所获得的质量色谱图。
在显示画面上示出的色谱图上,操作员经由选择器来选择时间位置(例如,时间点或时间范围)。例如,在需要观察表现目标化合物的特征的质谱图的情况下,操作员通常推测色谱图上的哪个峰与目标化合物相对应并且选择该峰的最大强度的时间位置处或附近的点。响应于该选择,第二显示处理器访问化合物信息存储器以获得如下化合物名称,其中该化合物名称与对应于所选择的时间位置的保留时间或时间段相关联,或者与该时间段以及获取到用于创建该时间段内的色谱图的色谱质谱分析数据时的质谱分析的分析条件相关联。同时,第二显示处理器获得所选择的时间位置处获取到的色谱质谱分析数据、或者创建所选择的时间位置处的色谱图所使用的并且在所选择的时间位置处获取到的色谱质谱分析数据,并且基于所获得的数据来创建质谱图。然后,第二显示处理器将化合物名称和质谱图以连同色谱图一起的方式或者以与色谱图分开的方式显示在该画面上。化合物名称可以叠加在色谱图的显示框上。
因而,将与操作员在色谱图上选择的峰相对应的化合物名称立即显示在画面上。操作员可以容易且确定地判断所选择的峰是否与需要选择目标定量离子和辅助定性离子的正确化合物相对应。
在根据本发明的色谱质谱分析用数据处理系统中,“质谱分析的分析条件”的一个示例是后面将说明的本发明的一个实施例中的“事件编号”。
在根据本发明的色谱质谱分析用数据处理系统的一个优选模式中,在针对多次测量中的各次测量获得了一组色谱质谱分析数据的情况下,所述第二显示处理器显示分别基于所选择的时间位置处所获得的多组色谱质谱分析数据的多个质谱图,其中所述多个质谱图中的质量轴的标度相同且强度轴的标度相同并且所述多个质谱图连同所述色谱图一起垂直地配置在画面上
针对多次测量中的各次测量所获得的色谱质谱分析数据的一个示例是在上述碰撞能量和/或其它参数方面不同的各种测量条件下针对同一试样中的同一化合物所获得的色谱质谱分析数据。在上述模式中,根据在相同时间位置处获得的多个色谱质谱分析数据所创建的多个质谱图以质量轴的标度相同且强度轴的标度相同的状态垂直地配置,以使得操作员可以从视觉上直观地比较所显示的质谱图上的同一质量电荷比处的峰强度。
在本发明的另一优选模式中,所述第二显示处理器连动地进行垂直配置的多个质谱图的质量轴和/或强度轴的调整大小操作。也就是说,在操作员进行用于对所显示的质谱图中的一个质谱图的质量轴和/或强度轴调整大小的操作的情况下,还将以相同方式自动对其它质谱图的相应轴调整大小。这种连动式调整大小使得操作员能够在无论以任何方式进行调整大小的情况下,始终比较多个质谱图上的同一质量电荷比处的峰强度。这对于防止由于操作员的误操作或对数据的误解所引起的误判断而言是有效的。
发明的效果
利用根据本发明的色谱质谱分析用数据处理系统,可以通过非常简单的操作来检查色谱图上的任意时间位置处具有保留时间的化合物的名称。因此,例如,在色谱串联四极型质谱仪中需要选择色谱图上的峰并且检查实际测量到的与该峰相对应的质谱图以针对各化合物确定目标定量离子、辅助定性离子、碰撞能量或其它测量参数的情况下,操作员可以容易地检查到色谱图上的峰是与目标化合物正确相对应的峰,由此提高了工作效率并且减少了误操作的次数。
附图说明
图1是具有根据本发明的色谱质谱分析用数据处理系统的GC/MS/MS的一个实施例的示意结构图。
图2是示出本实施例的GC/MS/MS中用于确定MRM测量参数的处理中示出的显示画面的一个示例的图。
图3是本实施例的GC/MS/MS中为了进行测量所指定的区段和事件的概念图。
附图标记说明
1…气相色谱(GC)单元
10…试样气化室
11…微量注射器
12…载气通路
13…管柱恒温器
14…管柱
2…接口单元
3…质谱仪(MS)单元
30…真空室
31…离子化室
32…离子透镜
33…第一四极滤质器
34…碰撞池
35…多极型离子引导件
36…第二四极滤质器
37…离子检测器
38…模数(A/D)转换器
4…数据处理单元
41…测量数据存储器
42…测量条件信息存储器
43…显示处理器
5…分析控制器
6…中央控制器
7…输入单元
8…显示单元
100…MRM测量参数确定用窗口
101…色谱图选择输入区域
102…色谱图显示区域
103…标记
104…化合物名称显示区域
105…质谱图显示区域
具体实施方式
以下将参考附图来详细说明具有根据本发明的色谱质谱分析用数据处理系统的气相色谱串联四极型质谱仪(GC/MS/MS)的一个实施例。
图1是根据本实施例的GC/MS/MS的示意结构图。在气相色谱(GC)单元1中,在由管柱恒温器13加热至适当温度的管柱14的入口端处设置有试样气化室10。按预定流量经由载气通路12向试样气化室10供给载气,并且该载气被导入管柱14内。在这种状态下,在从微量注射器11向试样气化室10注入微量的液体试样的情况下,该液体试样立即气化并且通过载气的流动被送入管柱14内。在通过管柱14期间,该试样气体在到达管柱14的出口之前随着时间的经过分离成多种化合物。在从管柱14排出之后,这些化合物穿过包括加热器和其它元件的接口单元2,从而被导入到质谱仪(MS)单元3中的真空室30内所配备的离子化室31中。
利用诸如电子电离(EI)法或化学电离(CI)法等的适当方法使导入离子化室31内的化合物分子发生离子化。所产生的离子被引出至离子化室31的外侧并且由离子透镜32所会聚,从而被导入到沿着包括四根杆电极的第一四极滤质器(Q1)33的轴延伸的空间内。从电源(未示出)向第一四极滤质器33施加通过将DC(直流)电压叠加在AC(交流)电压上所产生的电压,由此仅使得质量电荷比与所施加电压相对应的特定种类的离子沿着第一四极滤质器33的轴方向穿过该第一四极滤质器33,从而被导入碰撞池34内。
碰撞池34包含用于通过射频电场的作用来会聚离子的多极型离子引导件(q2)35。从外部向碰撞池34内连续或间歇地导入诸如氩气等的碰撞诱导解离(CID)气体。被导入碰撞池34内的离子与CID气体相接触,从而裂解成产物离子。在进行会聚的情况下,裂解所产生的离子被导入沿着第二四极滤质器(Q3)36的轴延伸的空间内。与第一四极滤质器33相同,第二四极滤质器36也包括四根杆电极。从电源(未示出)向这些杆电极施加通过将DC电压叠加在AC电压上所产生的电压。仅使得质量电荷比与所施加电压相对应的特定种类的产物离子沿着第二四极滤质器36的轴方向穿过该第二四极滤质器36,并且到达离子检测器37。
离子检测器37所产生的检测信号由模数(A/D)转换器38转换成数字数据并且发送至数据处理单元4。数据处理单元4包括测量数据存储器41、测量条件信息存储器42、显示处理器43和其它功能块,以进行本发明的特征处理。GC单元1、接口单元2、以及MS单元3所包括的各组件的操作由分析控制器5来个别控制。连接有(包括键盘和鼠标等的指示装置的)输入单元7和显示单元8的中央控制器6负责对输入/输出操作以及分析控制器5的上层的基本系统操作进行控制。可以通过使用个人计算机作为硬件资源并且在该个人计算机上执行预先安装的专用控制和处理软件程序来实现数据处理单元4、分析控制器5和中央控制器6。
该GC/MS/MS的MS单元3可以进行各种模式的测量。例如,作为伴随着碰撞池34内所进行的CID操作的MS/MS分析的测量模式,可以使用MRM模式、前体离子扫描模式、产物离子扫描模式或中性丢失扫描模式。对于不进行碰撞池34内的CID操作的分析,可利用Q1SIM模式、Q3SIM模式、Q1扫描模式和Q3扫描模式。
在本实施例的GC/MS/MS中,可以按后面所述的方式指定测量的模式和条件,以使得可以在适当地切换上述各种测量模式的情况下进行测量、或者可以在适当地改变测量条件(测量参数)的情况下进行相同模式的测量。图3是相对于时间的经过所指定的区段和事件的概念图。
如图3所示,将从分析开始(试样注入)到分析结束的时间范围划分成操作员可以自由设置的被称为“区段”的时间单位。这些区段可以是以连续方式或不连续方式设置的,只要这些区段彼此不重叠即可。将使各区段与相应的时间范围关联的信息汇集为区段信息数据。用户可以任意设置各区段的时间范围(开始时间点和结束时间点)。然而,在使用MRM或SIM测量的定量分析的情况下,优选以向分离地配置在质量色谱图上的各目标化合物分配一个区段的方式来指定各区段的时间范围。
将要进行的各测量模式和针对该测量模式的测量条件(例如,针对MRM模式,这些条件包括第一四极滤质器33要选择的m/z值和第二四极滤质器36要选择的m/z值)指定为“事件”。可以针对各区段设置一个或多个事件。除了测量模式(例如,MRM模式)和执行该测量模式所需的测量条件(参数值)以外,还可以针对各区段设置包括利用该事件要分析的化合物的名称的其它类型的信息。在图3所示的示例中,针对覆盖t1~t2的时间范围的区段#1,设置如表#1所述的一组事件信息。更具体地,针对区段#1设置如表#1所述的两个事件#1和#2。在区段#1中,被指定为事件#1中的测量目标的化合物的名称为“aaaa”,而事件#2中所指定的化合物名称为“bbbb”。当然,“aaaa”和“bbbb”这两者应当为如下化合物,其中这些化合物具有已知的保留时间(或保留指标),并且期望这些化合物在如由区段#1所定义的t1~t2的时间范围内从管柱14溶出且在该时间范围内在色谱图上产生单个峰或多个峰。因而,在图3的示例中,根据分别被指定为表#1中的事件#1和#2的条件所进行的两个分析在t1~t2的时间范围内周期性地(交替地)重复,以收集针对两个化合物“aaaa”和“bbbb”各自的定量信息。
以下以利用本实施例的GC/MS/MS确定针对特定化合物的MRM测量的最佳参数为例来说明表现本发明的特征的显示处理。
为了确定针对给定化合物的MRM测量的最佳参数(具体包括前体离子的质量电荷比、产物离子的质量电荷比、以及碰撞能量),例如,在使前体离子的质量电荷比固定为预定值的状态下,通过在逐级改变碰撞能量的情况下针对各碰撞能量级对包含目标化合物的试样进行产物离子扫描测量,来收集色谱质谱分析数据。对于该测量,操作员应考虑到目标化合物的已知保留时间来预先设置区段,并且指定事件,以使得在与该区段相对应的时间段内将使用如下测量参数来进行产物离子扫描测量并且选择上述目标化合物作为要分析的化合物,其中在这些测量参数中,前体离子的质量电荷比被设置为预定值,产物离子的质量电荷比范围被设置为预定范围。
考虑如下情况:通过不同的碰撞能量下所进行的标记为“A”、“B”和“C”的三个不同测量分别获得了三组测量数据。将这些测量数据作为数据文件单独存储在测量数据存储器41中。将与以上述方式指定的区段和事件有关的信息存储在测量条件信息存储器42中。
在操作员经由输入单元7进行预定操作以确定针对给定化合物的MRM测量的最佳参数的情况下,显示处理器43经由中央控制器6接收到输入命令并且将如图2所示的MRM测量参数确定用窗口100显示在显示单元8的画面上。MRM测量参数确定用窗口100包括色谱图选择输入区域101,其中该色谱图选择输入区域101具有操作员输入要显示在色谱图显示区域102上的色谱图的选择所用的按钮和文本框。这些按钮的其中之一用于选择事件编号。例如,在操作员选择事件#1的情况下,根据各区段内通过事件#1中指定的测量所收集到的数据来创建色谱图,并且将该色谱图显示在色谱图显示区域102上。还可以以不同方式实现要显示的色谱图的选择,例如,通过使得操作员能够选择或指定包含期望的色谱质谱分析数据的数据文件的名称。要显示的色谱图的类型依赖于测量模式;通常,该色谱图的类型是总离子色谱图或质谱图。在针对多个质量电荷比各自进行了SIM或MRM测量的情况下,还可以显示通过仅对在这些质量电荷比处观察到的离子强度进行求和所获得的色谱图。
在操作员在色谱图选择输入区域101中进行了适当的选择输入的情况下,显示处理器43从测量数据存储器41读出选择输入数据,根据该读取数据创建色谱图,并且将该色谱图绘制在色谱图显示区域102上。在适当进行了选择输入从而显示基于针对包含目标化合物的试样所进行的测量的结果的色谱图的情况下,在由此得到的色谱图上应出现源自于该目标化合物的峰。因此,操作员应适当地调节时间轴的显示范围,以使得在该目标化合物的保留时间处或附近出现的峰将被包括在显示框内。
在如图2所示显示极有可能是源自于目标化合物的色谱峰的状态下,操作员利用指示装置来选择色谱图上的期望时间点。在该操作时,显示处理器43按以下方式显示色谱图:在该色谱图上在所选择的时间点处示出标记103。对与包括所选择的时间点的时间范围相对应的区段进行识别。然后,参考如图3所示的区段信息和事件信息,读出与如下事件编号相对应的化合物名称,其中该事件编号与识别出的区段相关联并且是为了显示当前所选择的时间范围内的色谱图所指定的。将由此读取的化合物名称以文字显示在MRM测量参数确定用窗口100的化合物名称显示区域104中。从测量数据存储器41中所存储的各数据文件内读取在所选择的时间点处根据所选择的事件所获得的质谱数据,并且根据所读取的各组数据来创建质谱图。将所创建的质谱图以质量轴(m/z轴)上的标度相同且强度轴上的标度相同的状态垂直地配置在位于色谱图显示区域102下方的质谱图显示区域105中,其中这些质量轴的标度在垂直方向上彼此对准。
如上所述,本系统将预先与色谱图上所选择的时间点以及同该时间点处的色谱图有关的事件相关联的化合物名称显示在化合物名称显示区域104中。该信息使得操作员能够迅速判断当前为了研究所选择的色谱峰是否与目标化合物正确相对应。显示在画面上的不正确的化合物名称表明发生了某种错误,诸如源自于不同化合物的色谱峰的选择或者区段或事件的不正确设置等。在这种情况下,操作员可以通过进行诸如搜索其它峰的色谱图等的适当作业或操作来查找该问题的原因。
在图2所示的示例中,在质谱图显示区域105中垂直地配置三个质谱图。在一些情况下,要显示的质谱图的数量较多。用于应对这种情形的一个方法是缩小各质谱图的垂直大小,以使得可以同时观看到所有的质谱图。另一方法是使用可垂直滚动的显示区域,以使得操作员可以在无需改变所有质谱图的垂直大小的情况下浏览这些质谱图。
在操作员通过拖动或类似操作沿着时间轴移动标记103的情况下,显示处理器43在标记103的时间轴上的新位置处进行上述处理。结果,适当更新了化合物名称显示区域104中所显示的化合物名称以及质谱图显示区域105中所显示的质谱图。
例如,可以通过从菜单列表中选择大小或者进行拖动操作来适当地对质谱图显示区域105中示出的质谱图的质量轴和强度轴调整大小。在对一个质谱图进行这种操作的情况下,显示处理器43对该画面上示出的其它质谱图的相应轴进行相同的调整大小操作。因而,使质谱图显示区域105中示出的多个质谱图的质量轴和强度轴在标度方面保持相同。这使得操作员能够直观地检查相同时间点处所获得的多个质谱图上的峰是否与相同的质量电荷比相对应。在不同的质谱图之间对峰强度进行比较也很容易。
通过以上述方式对多个质谱图进行比较,操作员可以针对目标化合物确定最佳量的碰撞能量。还可以基于该碰撞能量下已获得的质谱图来选择最佳的目标定量离子和辅助定性离子。
在一些情况下,在一个试样中包含两个以上的化合物,并且需要针对这些化合物各自确定MRM测量参数。在这些情况下,可以通过设置新的事件编号并且适当地调整色谱图的时间轴来显示与下一化合物相对应的色谱峰,之后可以重复上述这些操作和处理。
应当注意,上述实施例仅是示例,并且在本发明的精神内适当进行的任何改变、修改或添加显然将落在本专利申请的权利要求书的范围内。
例如,与将目标化合物的名称登记作为针对覆盖特定时间范围的区段所指定的事件的一个项的上述实施例不同,可以使用用于使得目标化合物的名称能够登记作为如下事件的一个项的列表或表,其中该事件与特定保留时间或者包括该保留时间的时间范围直接关联。还可以将区段与事件集成以创建扩展版本的事件,其中在该扩展版本的事件中,可以将用以执行该事件的时间范围、测量模式、测量条件、目标化合物的名称、以及其它类型的信息登记作为事件信息。
尽管上述实施例是将根据本发明的色谱质谱分析用数据处理系统应用于GC/MS/MS的示例,但显而易见,本发明除了GC/MS/MS以外,还可应用于LC/MS/MS。同样,显而易见,作为上述实施例中的串联四极型质谱仪的MS单元3可以是具有单个四极滤质器的四极型质谱仪。
Claims (3)
1.一种色谱质谱分析用数据处理系统,用于对色谱质谱仪随着时间的经过重复收集到的色谱质谱分析数据进行处理,并且将测量结果显示在显示单元的画面上,所述色谱质谱分析用数据处理系统包括:
a)化合物信息存储器,用于存储化合物名称,其中各化合物名称与保留时间或包括该保留时间的时间段相关联,或者与该时间段以及该时间段内要进行的质谱分析的分析条件这两者相关联;
b)第一显示处理器,用于将根据所述色谱质谱分析数据所创建的色谱图显示在所述显示单元的画面的一部分上;
c)选择器,用于使得操作员能够在所述第一显示处理器显示在所述显示单元的画面上的色谱图上选择时间位置;以及
d)第二显示处理器,用于在所述化合物信息存储器中搜索如下化合物名称,并且将该化合物名称和如下质谱图连同所述色谱图一起显示在画面上,其中该化合物名称与同所述色谱图上所选择的时间位置相对应的保留时间或时间段相关联、或者与该时间段以及获取到用于创建该时间段内的色谱图的色谱质谱分析数据时的质谱分析的分析条件这两者相关联,以及所述质谱图是基于如下两种色谱质谱分析数据其中之一的:在所选择的时间位置处所获取到的色谱质谱分析数据;以及创建所选择的时间位置处的色谱图所使用的并且在该所选择的时间位置处所获取到的色谱质谱分析数据。
2.根据权利要求1所述的色谱质谱分析用数据处理系统,其中,
在针对多次测量中的各次测量获得了一组色谱质谱分析数据的情况下,所述第二显示处理器显示分别基于所选择的时间位置处所获得的多组色谱质谱分析数据的多个质谱图,其中所述多个质谱图中的质量轴的标度相同且强度轴的标度相同并且所述多个质谱图连同所述色谱图一起垂直地配置在画面上。
3.根据权利要求2所述的色谱质谱分析用数据处理系统,其中,
所述第二显示处理器连动地进行垂直配置的多个质谱图的质量轴和/或强度轴的调整大小操作。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012-105687 | 2012-05-07 | ||
JP2012105687A JP5811023B2 (ja) | 2012-05-07 | 2012-05-07 | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN103389345A true CN103389345A (zh) | 2013-11-13 |
CN103389345B CN103389345B (zh) | 2015-03-04 |
Family
ID=49513247
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201310165158.XA Active CN103389345B (zh) | 2012-05-07 | 2013-05-07 | 色谱质谱分析用数据处理系统 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10607722B2 (zh) |
JP (1) | JP5811023B2 (zh) |
CN (1) | CN103389345B (zh) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106662551A (zh) * | 2014-07-03 | 2017-05-10 | 株式会社岛津制作所 | 质谱分析数据处理装置 |
CN106922172A (zh) * | 2014-11-17 | 2017-07-04 | 株式会社岛津制作所 | 色谱质谱联用仪 |
CN107076713A (zh) * | 2014-11-13 | 2017-08-18 | Dh科技发展私人贸易有限公司 | 确定被修饰化合物的身份 |
CN108027345A (zh) * | 2015-09-09 | 2018-05-11 | 株式会社岛津制作所 | 分析数据解析装置以及分析数据解析用程序 |
US10288589B2 (en) | 2014-03-05 | 2019-05-14 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometry method and mass spectrometer |
CN110692118A (zh) * | 2017-06-01 | 2020-01-14 | 萨默费尼根有限公司 | 质谱仪碰撞能量的自动测定 |
CN111462842A (zh) * | 2020-03-02 | 2020-07-28 | 江苏天瑞精准医疗科技有限公司 | 一种液相色谱串联质谱平台临床应用评估系统及方法 |
CN112888943A (zh) * | 2018-08-28 | 2021-06-01 | Abb瑞士股份有限公司 | 用于检测与过程工厂中的气体色谱装置关联的故障的方法和控制系统 |
CN115516302A (zh) * | 2020-05-25 | 2022-12-23 | 株式会社岛津制作所 | 色谱质量分析数据处理方法、色谱质量分析装置以及色谱质量分析数据处理用程序 |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9443706B2 (en) * | 2011-06-24 | 2016-09-13 | Micromass Uk Limited | Method and apparatus for generating spectral data |
US9548190B2 (en) * | 2012-12-20 | 2017-01-17 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Scheduled MS3 for quantitation |
JP6273785B2 (ja) * | 2013-11-12 | 2018-02-07 | 東ソー株式会社 | クロマトグラムの表示方法及びクロマトデータ処理装置 |
JP6221800B2 (ja) * | 2014-02-12 | 2017-11-01 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析装置用データ処理装置 |
JP6295910B2 (ja) * | 2014-09-30 | 2018-03-20 | 株式会社島津製作所 | 質量分析データ処理装置 |
JP6308107B2 (ja) * | 2014-11-17 | 2018-04-11 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析データ処理装置 |
GB2532430B (en) * | 2014-11-18 | 2019-03-20 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Method for time-alignment of chromatography-mass spectrometry data sets |
WO2016125271A1 (ja) * | 2015-02-04 | 2016-08-11 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法、クロマトグラフ質量分析装置、及び質量分析用プログラム |
JP6540298B2 (ja) * | 2015-07-10 | 2019-07-10 | 株式会社島津製作所 | 質量分析を用いた多成分一斉分析方法及び質量分析装置 |
EP3382384A4 (en) * | 2015-09-15 | 2019-08-28 | Shimadzu Corporation | MASS SPECTROMETER, MASS SPECTROMETRY METHOD, AND MASS SPECTROMETRY PROGRAM |
US10665442B2 (en) | 2016-02-29 | 2020-05-26 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
EP3431980A4 (en) * | 2016-03-16 | 2019-03-27 | Shimadzu Corporation | MASS SPECTROMETRY |
EP3605077B1 (en) * | 2017-03-23 | 2023-04-26 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer and chromatographic mass spectrometer |
US10444206B2 (en) | 2017-05-04 | 2019-10-15 | Shimadzu Corporation | Chromatography/mass spectrometry data processing device |
JP6465190B2 (ja) * | 2017-10-31 | 2019-02-06 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
US10593526B2 (en) | 2018-01-18 | 2020-03-17 | Shimadzu Corporation | Method for simultaneous multicomponent analysis using mass spectrometry and mass spectrometer |
US11361955B2 (en) * | 2018-01-26 | 2022-06-14 | Shimadzu Corporation | Probe electrospray ionization mass spectrometer |
JP6969441B2 (ja) * | 2018-02-26 | 2021-11-24 | 株式会社島津製作所 | 測定データ処理方法、測定データ処理装置、及び測定データ処理用プログラム |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20090001261A1 (en) * | 2007-06-29 | 2009-01-01 | Shimadzu Corporation | Chromatograph mass analysis data processing apparatus |
CN101384898A (zh) * | 2006-06-08 | 2009-03-11 | 株式会社岛津制作所 | 色谱质谱分析用数据处理装置 |
JP2010164527A (ja) * | 2009-01-19 | 2010-07-29 | Shimadzu Corp | クロマトグラフデータ処理装置 |
CN102194640A (zh) * | 2010-03-05 | 2011-09-21 | 株式会社岛津制作所 | 质量分析数据处理方法和质量分析数据处理设备 |
JP2011242255A (ja) * | 2010-05-18 | 2011-12-01 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3798930B2 (ja) * | 1999-12-10 | 2006-07-19 | 株式会社日立製作所 | クロマトグラフ質量分析装置 |
WO2003095978A2 (en) * | 2002-05-09 | 2003-11-20 | Surromed, Inc. | Methods for time-alignment of liquid chromatography-mass spectrometry data |
JP4393270B2 (ja) * | 2004-05-21 | 2010-01-06 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置および異性体分析方法 |
US7653496B2 (en) * | 2006-02-02 | 2010-01-26 | Agilent Technologies, Inc. | Feature selection in mass spectral data |
CN101400995B (zh) * | 2006-03-07 | 2012-05-09 | 株式会社岛津制作所 | 色谱仪质量分析装置 |
JP2011237311A (ja) * | 2010-05-12 | 2011-11-24 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
JP5327138B2 (ja) | 2010-05-26 | 2013-10-30 | 株式会社島津製作所 | タンデム四重極型質量分析装置 |
JP5821767B2 (ja) * | 2012-04-20 | 2015-11-24 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置 |
JP5757270B2 (ja) * | 2012-04-26 | 2015-07-29 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
US9429549B2 (en) * | 2012-09-28 | 2016-08-30 | Shimadzu Corporation | Chromatograph mass spectrometer |
US9582909B2 (en) * | 2012-11-15 | 2017-02-28 | Shimadzu Corporation | Chromatograph mass spectrometry data processing device |
CN110068639A (zh) * | 2013-03-04 | 2019-07-30 | 株式会社岛津制作所 | 色谱数据处理装置以及处理方法 |
JP6037040B2 (ja) * | 2013-10-16 | 2016-11-30 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラムデータ処理装置 |
JP6191772B2 (ja) * | 2014-07-03 | 2017-09-06 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析装置及びプログラム |
-
2012
- 2012-05-07 JP JP2012105687A patent/JP5811023B2/ja active Active
-
2013
- 2013-04-30 US US13/874,156 patent/US10607722B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2013-05-07 CN CN201310165158.XA patent/CN103389345B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101384898A (zh) * | 2006-06-08 | 2009-03-11 | 株式会社岛津制作所 | 色谱质谱分析用数据处理装置 |
US20090001261A1 (en) * | 2007-06-29 | 2009-01-01 | Shimadzu Corporation | Chromatograph mass analysis data processing apparatus |
JP2010164527A (ja) * | 2009-01-19 | 2010-07-29 | Shimadzu Corp | クロマトグラフデータ処理装置 |
CN102194640A (zh) * | 2010-03-05 | 2011-09-21 | 株式会社岛津制作所 | 质量分析数据处理方法和质量分析数据处理设备 |
JP2011242255A (ja) * | 2010-05-18 | 2011-12-01 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10288589B2 (en) | 2014-03-05 | 2019-05-14 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometry method and mass spectrometer |
CN106662551A (zh) * | 2014-07-03 | 2017-05-10 | 株式会社岛津制作所 | 质谱分析数据处理装置 |
CN106662551B (zh) * | 2014-07-03 | 2019-09-03 | 株式会社岛津制作所 | 质谱分析数据处理装置 |
CN107076713A (zh) * | 2014-11-13 | 2017-08-18 | Dh科技发展私人贸易有限公司 | 确定被修饰化合物的身份 |
CN107076713B (zh) * | 2014-11-13 | 2018-12-28 | Dh科技发展私人贸易有限公司 | 确定被修饰化合物的身份 |
CN106922172B (zh) * | 2014-11-17 | 2019-11-05 | 株式会社岛津制作所 | 色谱质谱联用仪 |
CN106922172A (zh) * | 2014-11-17 | 2017-07-04 | 株式会社岛津制作所 | 色谱质谱联用仪 |
CN108027345A (zh) * | 2015-09-09 | 2018-05-11 | 株式会社岛津制作所 | 分析数据解析装置以及分析数据解析用程序 |
CN108027345B (zh) * | 2015-09-09 | 2021-02-09 | 株式会社岛津制作所 | 分析数据解析装置以及分析数据解析用程序 |
CN110692118A (zh) * | 2017-06-01 | 2020-01-14 | 萨默费尼根有限公司 | 质谱仪碰撞能量的自动测定 |
CN112888943A (zh) * | 2018-08-28 | 2021-06-01 | Abb瑞士股份有限公司 | 用于检测与过程工厂中的气体色谱装置关联的故障的方法和控制系统 |
CN111462842A (zh) * | 2020-03-02 | 2020-07-28 | 江苏天瑞精准医疗科技有限公司 | 一种液相色谱串联质谱平台临床应用评估系统及方法 |
CN115516302A (zh) * | 2020-05-25 | 2022-12-23 | 株式会社岛津制作所 | 色谱质量分析数据处理方法、色谱质量分析装置以及色谱质量分析数据处理用程序 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013234859A (ja) | 2013-11-21 |
JP5811023B2 (ja) | 2015-11-11 |
US10607722B2 (en) | 2020-03-31 |
CN103389345B (zh) | 2015-03-04 |
US20130297230A1 (en) | 2013-11-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN103389345B (zh) | 色谱质谱分析用数据处理系统 | |
CN103376301B (zh) | 色谱串联四极型质谱仪 | |
CN103376299B (zh) | 色谱质谱分析用数据处理系统 | |
CN106062548B (zh) | 质谱分析方法及质谱分析装置 | |
EP1995593B1 (en) | Chromatograph mass spectrometer | |
US20090020693A1 (en) | Chromatograph mass analysis data processing apparatus | |
CN105793701B (zh) | 质量分析方法和质量分析装置 | |
JP5327388B2 (ja) | 分析データ処理方法及び装置 | |
WO2015059753A1 (ja) | 包括的2次元クロマトグラフ用データ処理装置 | |
CN105745534A (zh) | 使用色谱仪的多组分定量分析方法 | |
JP2011237311A (ja) | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 | |
CN105981130A (zh) | 质谱分析装置及质谱分析方法 | |
JP7173293B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析装置 | |
CN103282768A (zh) | 色谱质量分析装置 | |
JP6132073B2 (ja) | 包括的2次元クロマトグラフ用データ処理装置 | |
CN108027345B (zh) | 分析数据解析装置以及分析数据解析用程序 | |
US20170115261A1 (en) | Control device for analysis device | |
CN110506205A (zh) | 质谱分析装置和色谱质谱联用仪 | |
JP5315025B2 (ja) | スペクトル解析および表示 | |
WO2012004847A1 (ja) | クロマトグラム表示処理装置 | |
JP2019148455A5 (zh) | ||
CN105659077B (zh) | 色谱质谱仪 | |
JP2018136266A (ja) | 質量分析装置 | |
US20230273162A1 (en) | Preparative Liquid Chromatograph Apparatus and Method for Assisting Determination of Preparative Separation Conditions | |
WO2020100182A1 (ja) | クロマトグラフ装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |