发明内容
因此,本发明的一个目的在于提供实质上减轻或客服上述问题的一种用于加热食品的加热器,一种用于加热食品的装置以及一种操作用于加热在容器中接收的食品的加热器的方法。
因此本发明提供了一种用于加热在容器中接收的食品的加热器,其包括加热元件和被配置为以预定操作温度设置来操作该加热元件的控制单元,其中,该控制单元被配置为初始地操作该加热元件以加热到较高初始温度设置从而当容器被设置为与该加热元件相邻时快速增加所述容器的温度,并且当到达该较高初始温度设置时将该加热元件的该温度设置降低到该操作温度设置。
以上配置的一个优点在于最小化该容器的加热时间而不会过度加热该容器中放置的食品。
该控制单元有利地被配置为响应于用户输入来确定该加热元件的该操作温度设置。
该配置的优点在于响应于用户的希望食品加热温度设置来确定该加热元件的该操作温度设置。
在一个实施方式中,该控制单元可以被配置为响应于用户输入确定该较高初始温度设置。
该用户输入可以是烹饪该容器中接收的食品的温度值。
该加热器还方便地包括用于检测该加热元件的温度的传感器。
因此,没有必要检测该容器的温度或者该容器中的食品的温度。
该控制单元有利地被配置为当由该传感器检测到该较高初始温度时将该加热元件的该温度设置降低到该操作温度设置。
因此,正确地检测该加热元件的温度以防止由于过热烧焦该容器中的食品。
因此,由于空气缝隙由加热器间接加热该容器中的食品。
根据本发明的另一个方面,提供了一种用于操作包括容器和用于加热该容器中接收的食品的加热器的装置的方法,该加热器包括加热元件并且该容器被设置为与该加热器相邻但相隔,该方法包括以下步骤:以较高初始温度设置来初始地操作该加热元件从而将该容器的温度快速增加到容器操作温度;并且随后当达到该较高初始温度设置时将该加热元件的该温度设置降低到较低预定操作温度设置,从而保持该容器的温度处于它的容器操作温度上。
该方法还可以包括响应于用户输入来确定该加热元件的该操作温度设置的步骤。
该方法还可以包括响应于用户输入来确定该初始温度设置的步骤。
根据另一个方面,本发明提供了一种加热设备,包括:加热器元件;与该加热器元件热接触并且根据该加热器元件的温度来提供温度信号的温度传感器;以及控制设备,其被配置为在该加热器元件被操作为执行给定的温度改变之后将该温度信号与给定参考进行比较,并且作为响应提供该温度传感器与该加热器元件之间的热接触的质量的指示。
因此,根据本发明,当该控制设备指示该加热器元件与该传感器之间的可能引起过热的差的热接触时,关闭到该加热器元件的电力。
在一个实施方式中,该控制设备被配置为将在将该加热器供电预定测试持续时间之后发生该温度信号并且将由该温度信号指示的该温度与在所述测试持续时间的结束时的预定值进行比较。该控制设备可以被配置为如果在该预定测试持续时间的该结束时该温度信号的该值小于该预定值则发警报信号。
该测试持续时间(Dtest)可以从该加热器元件的通电开始计算,从而当接通该设备时可以执行测试以降低在使用期间过度加热的风险。
该预定测试持续时间可以对应于对该加热器元件的供电以达到小于这样一种温度的阈值温度,例如小于100℃,其中在该温度上将发生该加热设备的不安全操作。
本发明还包括用于测试加热器元件与被配置为根据该加热器元件的温度来提供温度信号的温度传感器之间的热接触的方法,包括:导致该加热器元件略微加热以经历预定温度改变;在该温度改变之后将该温度信号与给定参考进行比较;并且根据该比较提供该传感器与该加热器元件之间的热接触的质量的指示。
具体实施方式
现在参考附图,具体而言在图1中,显示了用于加热食品的装置1,其包括具备食品接收空间3的容器2和盖子4。装置1还包括底座单元5,容器2位于底座单元5上并且将加热器6设置在底座单元5中。底座单元5还具有电动机7和由电动机7驱动以驱动设置在容器2中的搅拌元件(未显示)的旋转轴7a。将容器2设置为与加热器6相邻但相隔,从而在加热器6与容器2之间形成缝隙8。将要认识到由于空气缝隙和/或设置于其间的容器,由加热器6间接加热容器2的食品接收空间3中放置的食品。
加热器6包括加热元件9、控制单元(未显示)和传感器(未显示)。加热元件9被设置为当控制单元操作加热元件9时发出热量。控制单元被配置为以图2中所示的图中所示的不同的温度设置来操作加热元件9。在该图中,上虚线显示由控制单元确定的加热元件9的温度设置,并且下虚线显示容器2的希望的加热温度。分别将加热元件9和容器2的实际温度趋势线表示为“TH”和“TC”。传感器(未显示)被设置为检测加热元件9的温度。
控制单元被配置为最初将加热元件9设置为处于第一高温度设置T1,T1高于加热元件9的第二希望操作温度设置T2、T3。结果控制单元向加热元件9供应电力,从而加热元件9的温度以大体上线性方式增加直到传感器检测到加热元件9以达到初始高温度T1为止。因此,加热元件9和容器2快速加热,并且降低加热和烹饪时间。当传感器检测到加热元件9已达到初始高温度T1时,控制单元停止向加热元件9供应电力并且将加热元件9的温度设置改变到较低希望操作温度。结果,加热元件9的温度降低到该较低希望操作温度。当由传感器检测到该较低希望操作温度时,控制单元操作该加热元件以维持该希望操作温度。
控制单元通过设置上操作温度值T2和略低于上操作温度值T2的下操作温度值T3,在希望操作温度设置上操作加热元件。控制单元被配置为当由传感器检测到下操作温度值T3时向加热元件供应电力,并且当由传感器检测到上操作温度值T2时停止向加热元件供应电力。因此,加热元件的检测温度在该上与该下操作温度值T2、T3之间滞后,并且加热元件9的操作温度的变化被控制在特定温度范围之内。上操作温度值T2和下操作温度值T3可以是相等的但不仅限于相等的。在上操作温度值T2与下操作温度值T3相等的情况中,将操作温度的变化最小化。
在图2中由TC所表示的趋势线显示了随着加热元件9加热到它的初始高温度T1容器2的对应的温度趋势。由下虚线显示了容器2的希望温度。由于容器2的间接加热,容器2的操作温度T4低于加热元件9的第一和第二操作温度T2、T3。但是,由于容器2接近加热元件9,所以维持容器2的操作温度T4与加热元件9的第一和第二操作温度T2、T3之间的线性相关。
在加热元件9的较高初始温度设置阶段期间随着加热元件9的温度增加,容器2快速地加热到它的对应的操作温度T4。由加热元件9发出的热量间接地加热在容器2中的食品接收空间3并且快速达到食品接收空间3和容器2的希望温度。因此,简单的ON/OFF加热算法的应用允许显著减小食品接收空间3和容器2的加热时间。
当传感器检测到加热元件9已达到初始高温度设置T1时,控制单元停止向加热元件9供应电力并且将加热元件9的温度设置改为较低希望操作温度。但是将认识到,在下降之前,加热元件9的实际温度超过该初始高温度设置。但是由于容器2的间接加热,将容器2的温度的对应的超调最小化。因此,防止了由于高于容器2的希望温度而导致的食物的任何烧焦。应该理解,加热元件9的温度超调被配置为足够高,从而缩短加热时间,但是该温度超调还应该足够低以避免容器2中容纳的食物可能烧焦的显著的温度超调。由控制单元参考由控制单元存储的值的查找表来确定该温度设置,如从下文将变得显而易见的。
将要认识到,在食品接收空间3中容纳的食物将吸收并且传递由加热元件9向食品接收空间3供应的热量。设置在食品接收空间3中的搅拌元件(未显示)通过搅拌在食品接收空间3中接收的食品来助于最小化温度超调。搅拌元件(未显示)遍及整个食品接收空间3分配热量。因此,在使用期间,搅拌元件的旋转减低了食品的烧焦并且这可以进一步受到用于控制该搅拌元件的旋转速度的控制单元的控制,因为该搅拌元件的旋转速度将影响在食品接收空间中分配并且分散热量的速率。
在本实施方式中,当操作该装置时控制单元操作该搅拌元件以在恒定的速度上旋转,从而将影响容器和食品接收空间的操作温度的参数的数量最小化,并且可以简单地控制容器和食品接收空间的温度。
控制单元被配置为基于容器2的希望操作温度设置T4来确定初始高温度T1和加热元件9的第二操作温度设置T2、T3。控制单元参考用于与具体操作温度T4相对应的T1、T2和T3的预定值的存储集合。以下表格中显示了操作温度T4和它们的对应初始高温度设置T1以及加热元件的第二操作温度设置T2的示例。
T4[℃] |
T1[℃] |
T2[℃] |
40 |
60 |
47 |
70 |
105 |
83 |
90 |
132 |
108 |
110 |
164 |
135 |
130 |
192 |
162 |
175 |
230 |
228 |
230 |
230 |
235 |
因此,在使用中,用户仅需要向控制单元输入希望容器操作温度T4,并且控制单元被配置为基于由控制单元保持的值的预定集合,确定必要的温度设置T1、T2和T3。
将要认识到,在本实施方式中,由于该装置的选择的温度范围和最小化了由于辐射或对流而损失的能量的配置,食品接收空间3和容器2的最终温度随着加热元件9的温度的增加而线性增加。
此外,虽然在图2中没有显示,但是应该理解在容器2与食品接收空间3之间存在附加的温度差异。食品接收空间3的操作温度将略低于容器2的操作温度T4,但是食品接收空间3的温度趋势将接近地遵循容器2的温度趋势TC。
现在将讨论用于加热食品的装置的操作。用户使用受用户控制的输入(未显示)来选择和输入容器2的希望操作温度T4例如40℃。控制单元确定操作温度设置T1、T2和T3。控制单元然后向加热元件9供应电力以加热加热元件,并且容器2中的食品接收空间3被快速加热直到传感器检测到加热元件已达到初始高温度设置T1例如60℃为止。控制单元然后停止向加热元件供应电力并且将加热元件9的温度设置改变为较低操作温度T2、T3例如47℃。因此,将食品接收空间3和容器2中的温度的超调最小化,并且在其中包含的食品不烧焦。控制单元然后通过控制加热元件来维持容器2的操作温度T4。
虽然在以上配置中由于容器的底座和设置在该食品接收空间中的食品与该加热元件之间的空气缝隙,间接地加热食品接收空间中的食品,但是将要认识到该配置不限于此并且例如当将容器直接放置在加热器上时可以由具有盖子的加热器和/或容器的低的热传导确定食品的间接加热。
现在将参考图3到7来描述另一个方面。
现在参考图3,形式为电气烹饪器具的加热设备包括加热器元件101,加热器元件101包括具有相关电气加热线圈103的金属盘102。盘102可以是盘子形的并且被配置为在如虚线所述的它的上表面上接收烹饪器皿104。在该示例中从供应给加热器驱动电路106的家用AC电源105驱动加热线圈103,加热器驱动电路106控制经过线缆106a向加热线圈103供应的AC电源的开启周期,以便允许它的操作温度的控制。
由温度传感器107检测加热器元件101的操作温度,温度传感器107通常包括热敏电阻如PTC、NTC、PT100等等。但是,可以使用其他温度传感器例如热电偶、自动调温器或热延长传感器。由传感器驱动器和控制电路108驱动传感器107,控制电路108根据加热器元件101的传感器温度来得到电气信号T。
通常在由例如陶瓷材料或例如金属做成的热传导外罩之中接收传感器107中的热敏电阻,以与形成在加传感器107的下侧的凹处109之中的加热器盘102紧密接触。
控制处理器110通常包括微处理器,其重复地抽样来自传感器电子器件108的信号T以得到根据基于时间的传感器温度的抽样信号Tread。控制处理器110还接收来自用户接口111的设置温度Tset。控制处理器110因此控制加热器驱动电路106的工作周期,以维持抽样温度Tread等于反馈环路中的Tset。控制处理器110具有相关的程序存储器112,其存储用于在可选择的不同温度Tset上控制加热器元件101对于不同的烹饪配方执行不同的加热例程的程序。用户接口111还允许由用户设置烹饪持续时间Dcook,以控制由该设备执行的烹饪的持续时间。
控制处理器110具有相关的程序存储器112、用于存储数据的非易失性存储器如EEPROM和错误显示器114如用于指示错误条件的警示灯。
程序存储器112包括用于检查传感器107与加热器元件紧密接触即紧密接收在加热器盘102的凹处109中的程序。可以在该设备的启动时方便地运行该程序,以便避免由于传感器107与盘102的不良热接触导致的超调。该程序配置为检查在加热器元件103加电之后在测试持续时间Dtest期间传感的温度Tread增加的速度。如果传感器107与盘子102的热接触不良,则传感器107将不完全报告加热器元件101的实际温度。这可以从图4和5的图中看出。
图4显示了在加热器元件101启动之后加热器元件101的温度的升高。在时间t=0时,加热器元件101处于环境温度Ta,并且当初始接通到加热器元件101的电力时它的温度随时间增加,如曲线115所示的。在图4中所示的示例中,在时间t=28秒后元件101达到功能温度Tf=60℃。并且可以从图4看出在t=40秒时元件101的温度达到阈值温度Tth,在该温度处装置是安全的。在图3中所示的示例中,阈值温度Tth可以等于90℃即刚刚低于水的沸点即100℃。
在图4的图表中,由于传感器与加热器元件101处于良好热接触,所以用数据Tread从传感器107正确地抽样温度的值。但是如果传感器107处于不良热接触,则Tread的值不完全报告如图5中的曲线116所示的实际温度。在这里,直到t=64秒为止,未达到由Tread的值所报告的功能温度Tf,其中在t=64秒时加热器元件101的实际温度T达到150℃,150℃显著高于如曲线115所示的阈值温度Tth,这可能导致设备的危险的过度加热。
为了避免该过度加热,控制处理器110运行保持在存储器112中的程序以检查由传感器107提供的数据质量。在图6中示出了该例程的一个示例。
该过程在步骤S4.1处开始,在步骤S4.1处控制器110命令加热器驱动器106在测试周期Dtest期间在完全工作周期上经过线缆106a向加热器元件101应用主电源。在该示例中,周期Dtest对应于加热器元件101用于达到预定测试温度Ttest所花费的时间。在该示例中,测试温度Ttest的值可以对应于用于加热器元件101的阈值温度Tth,在高于阈值温度Tth时可能发生不安全操作。但是,通过合适地调整测试周期Dtest的持续时间,Ttest的值可以被选择为除了Tth之外的一些其他值。因此,在图4和5中所示的示例中,测试周期Dtest对应于40秒。如果在传感器107与盘102之间建立了紧密热接触,则在如图5中的曲线115所示的示例中,在40秒钟的测试周期Dtest的结束时Tread的值将超过60℃的温度Ttest。
但是,如果在传感器107与盘102之间热接触不良,则在Dtest的结束时Tread的值将由曲线116表示并且小于Ttest的值。
在图6中所示的步骤S4.4处,将在周期Dtest的结束时Tread的值与对应于Ttest的参考值进行比较。为了方便起见,在该示例中,Ttest的值对应于功能温度Tf,但是无需是该情况,并且Ttest可以被选择为与Tf独立。
如果Tread的值小于Ttest,这指示传感温度遵循图5中所示的曲线116并且指示传感器107与加热器元件101之间的不良热接触,如步骤S4.5处所指示的。
作为用于检查该制造设备运作完整的质量控制程序的一部分,可以在制造期间在该设备的初始加电期间运行该例程。响应于在步骤S4.5处指示的故障条件,在步骤S4.6处可以禁止该设备的其他方面的其他质量检查。可以将该故障条件记录在图3中所示的EEPROM113中并且可以由显示器114提供错误显示器。
但是如果在步骤S4.4处执行的测试指示Tread大于Ttest,则这指示Tread的值大体上如图5的曲线115所示地改变,对应于在传感器107与盘102之间良好的热接触,并且因此认为该设备通过测试,从而对设备值得执行如步骤S4.7处所示的进一步的质量控制检查。
如前所述,可以执行图6中所示的过程以作为加热设备的制造时的质量控制过程。在图7中示出了保持在程序存储器112中的可以在设备启动的正常使用期间运行的程序的另一个版本。
该过程在步骤S5.1处开始,并且在步骤S5.2处初始化控制参数N。在步骤S5.3处控制器110抽样传感器温度读数Tread。
然后,在步骤S5.4处检查参数N被初始化之后,该过程在步骤S5.5处检查Tread的抽样值是否小于相对低的起始温度Tstart,Tstart可以例如对应于图4中所示的初始环境温度Ta。这样,可以确定设备是否已从以前的使用中被充分冷却,以成功地运行程序并且检查发生在设备的加电时的温度改变。
如果Tread小于Tstart,则在步骤S5.6处启动定时器并且运行与持续时间Dtest相对应的周期。并且在步骤S5.7处将控制参数N设置为值1。
在步骤S5.8处,执行检查以确定定时器是否到期。当这发生时,该过程回到步骤S5.3并且由处理器110进行Tread的另一个读取。在此时,N>0并且因此该过程前进到与图7中的步骤S4.4相对应的步骤S5.9以确定Tread的值是否小于在测试周期Dtest的结束时的温度Ttest。如果温度Tread超过值Ttest,则执行以前参考图3所述的正常反馈环路控制过程,以在烹饪期间控制加热器元件101的操作温度,如在步骤S5.10处所示的。
但是,如果在步骤S5.9处Tread的值不超过温度Ttest,则在传感器107与加热器元件101之间出现不良热接触,因此在步骤S5.11处在图3中所示的显示器114上提供警报,并且在步骤S5.12处将错误消息写入EEPROM113中。此时,控制处理器指示加热器驱动器106从加热器元件断开主电源105,以便避免过度加热。处理器110可能不允许恢复到加热器元件101的电力直到服务工程师已修复该设备并且消除了EEPROM103中存储的错误消息为止。
对于本领域熟练技术人员而言,所述系统的许多修改和变化可以是显然的并且将理解可以将前述示例中给出的具体温度改为与前述不同的值。
并且将要理解在前述示例中在两个固定点之间及时地(即设备加电以及测试周期Dtest结束的时刻)测量温度信号Tread随着加热器元件被赋能的改变。但是,本领域熟练技术人员将认识到可以使用用于确定该改变的其他方法。例如,可以例如通过使用基于这样一种时间的多个测试抽样点,测量图4和5中所显示的图的斜度,其中在该时间上成功地测量到温度。
并且,当加热器元件冷却时的时期期间而非初始加热期间可以执行测试对于本领域熟练技术人员而言许多其他修改和变化将是明显的。
方面:
1.一种加热设备,包括:
加热器元件(101);
与该加热器元件热接触并且根据该加热器元件的温度来提供温度信号(Tread)的温度传感器(107);以及
控制设备(110),其被配置为在该加热器元件被操作为执行给定的温度改变之后将该温度信号(Tread)与给定参考(Ttest)进行比较,并且作为响应提供该温度传感器与该加热器元件之间的热接触的质量的指示。
2.根据方面1的加热设备,其中,该控制设备(110)被配置为将在将该加热器元件(101)供电预定测试持续时间(Dtest)之后发生该温度信号并且将由该温度信号指示的该温度与在所述测试持续时间的结束时的预定值(Ttest)进行比较。
3.根据方面2的加热设备,其中,该控制设备(110)被配置为如果在该预定测试持续时问的该结束时该温度信号的该值小于该预定值(Ttest)则发警报条件。
4.根据方面2或3的加热设备,其中,该控制设备(110)被配置为从该加热器元件(101)的通电开始计算该测试持续时间(Dtest)。
5.根据方面2、3或4的加热设备,其中,该预定持续时间(Dtest)对应于对该加热器元件(101)供电以达到小于这样一种温度的阈值温度(Tth),其中在该温度上将发生该加热设备的不安全操作。
6.根据方面5的加热设备,其中,该阈值温度小于100℃。
7.根据任意一个前述方面所述的加热设备,其中,该控制设备包括电气处理器(110)。
8.根据任意一个前述方面所述的加热设备,其中,电气驱动该加热器元件(101)并且该控制设备(110)可进行操作以根据温度信号(Tread)来控制向该加热器元件供应的电气加热电力,从而趋于将该加热器元件的温度维持在设置温度(Tset)上。
9.根据方面8的加热设备,包括加热器驱动器(106),其可进行操作以控制向该加热器元件(101)供应的电气交流电源的工作周期。
10.一种包括根据任意一个前述方面的加热设备的电气器具。
11.一种用于测试加热器元件(101)与被配置为根据该加热器元件的温度来提供温度信号(Tread)的温度传感器(107)之间的热接触的方法,包括:
导致该加热器元件略微加热以经历预定温度改变;在该温度改变之后将该温度信号(Tread)与给定参考(Ttest)进行比较;并且
根据该比较提供该传感器与该加热器元件之间的热接触的质量的指示。
12.在该设备的制造的质量检查程序期间执行的根据方面11的方法,包括在指示热接触充分的情况下禁止预定质量控制检查。
13.一种由处理器运行的用于测试加热器元件(101)与被配置为根据该加热器元件的温度来提供温度信号(Tread)的温度传感器(107)之间的热接触的计算机程序,当由处理器运行该程序时该处理器可进行操作以:
导致该加热器元件略微加热以经历预定温度改变;在该温度改变之后将该温度信号(Tread)与给定参考(Ttest)进行比较;并且
根据该比较提供该传感器与该加热器元件之间的热接触的质量的指示。
将要认识到术语“包括”不排除其他元件或步骤并且不定冠词“一”或“一个”不排除多个。单个处理器可以实现权利要求中所述的多个项的功能。在相互依赖的权利要求中阐述特定措施的简单事实并非指示不能有利地使用这些措施的组合。权利要求中的任意附图标记不应被解释为用于限制权利要求的范围。
虽然在本申请中将权利要求表述为具体的特征组合,但是应该理解本发明的公开的范围还包括本文明确地或隐含地公开的特征的任意新颖组合或它们的任意概括,无论其是否与任意权利要求中所当前要求的本发明相关或早或晚无论其是否如本发明一样解决了相同的技术问题。申请人因此注意到在本申请以及源于本申请的任意其他申请的诉讼期间可以用新的权利要求表达该特征和/或特征的组合。