CN102211723A

CN102211723A - 图像形成设备

Info

Publication number: CN102211723A
Application number: CN2011100821230A
Authority: CN
Inventors: 植野史大
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2010-04-07
Filing date: 2011-04-01
Publication date: 2011-10-12
Anticipated expiration: 2031-04-01
Also published as: US20110249052A1; CN102211723B; JP5777290B2; JP2011221179A; US8632155B2

Abstract

本发明涉及一种图像形成设备，包括图像形成单元、堆叠单元、第一检测单元、第二检测单元和控制单元。图像形成单元在记录介质上形成图像。堆叠单元堆叠在其上形成了图像的记录介质。第一检测单元检测第一记录介质的后沿和在第一记录介质随后输送的第二记录介质的前沿之间的输送间隔。第二检测单元设在第一检测单元的下游，检测输送间隔，并检测堆叠在堆叠单元上的记录介质的量是否超过预先确定的量。控制单元根据比较检测的输送间隔的结果改变第二记录介质的输送定时，使由第一检测单元检测的输送间隔变宽。

Description

图像形成设备

技术领域

本发明涉及一种用于控制图像形成设备(例如激光束打印机、复印机和喷墨打印机)中在前片材和后续片材之间的片材到片材的间隔的方法。

背景技术

传统上，图像形成设备包括堆叠单元，用于堆叠在其上形成了图像的记录介质。图像形成设备检测堆叠在堆叠单元上的记录介质的量，如果检测的量超过预先确定的量，则图像形成设备确定记录介质在堆叠单元上堆满了。图像形成设备然后停止执行图像形成处理。

例如，日本专利申请公开No.2001-106426论述了在堆叠单元的排出口中设置用于检测记录介质是否已通过排出口的遮光器(flag)和传感器。如果检测到的记录介质通过排出口的时间比预先确定的时间长，则图像形成设备确定堆叠在堆叠单元上的记录介质的量已超过预先确定的量。图像形成设备因此确定堆叠单元被堆满了。

然而，近年来，每单位时间在其上形成图像的片材的数量已增大，以改进生产率。例如，通过减小片材到片材的间隔来输送片材，片材到片材的间隔为在前片材和后续片材之间的间隔。在这样的情况下，可能没有足够的时间根据传感器(即，堆叠单元的检测单元)的响应时间来确认记录介质是否在堆叠单元上堆满。结果，图像形成设备可能错误地确定堆满状态。例如，如果后续片材在在前片材通过遮光器之后、在遮光器的状态改变之前到达遮光器，则传感器的输出不改变。即使当记录介质没有堆满时，图像形成设备也因此可能错误地检测到堆叠单元处于堆满状态，并可能停止执行图像形成处理。

发明内容

本发明旨在减少检测单元对堆满状态的错误检测，该错误检测可能是由图像形成设备中在前片材和后续片材之间的片材到片材的间隔减小引起的。

根据本发明的一方面，图像形成设备包括图像形成单元、堆叠单元、第一检测单元、第二检测单元和控制单元。图像形成单元在记录介质上形成图像。堆叠单元堆叠图像形成单元在其上形成图像的记录介质。第一检测单元检测首先输送的第一记录介质的后沿和在第一记录介质随后输送的第二记录介质的前沿之间的输送间隔。第二检测单元关于记录介质的输送方向被设置在第一检测单元的下游，检测输送间隔，并检测堆叠在堆叠单元上的记录介质的量是否超过预先确定的量。控制单元根据对由第一检测单元检测的输送间隔与由第二检测单元检测的输送间隔进行比较的结果改变第二记录介质的输送定时，以使由第一检测单元检测的输送间隔变宽。

从以下参照附图对示例性实施例的详细描述，本发明的进一步的特征和方面将变得清楚。

附图说明

并入本说明书中且构成本说明书的一部分的附图示出本发明的示例性实施例、特征和方面，并与描述一起用于解释本发明的原理。

图1是示出根据示例性实施例的图像形成设备的示意性截面图。

图2是示出根据示例性实施例的图像形成设备的控制单元的框图。

图3是示出由输送路径传感器和堆满检测传感器检测的片材到片材的间隔与检测的片材到片材的间隔之间的差值的曲线图。

图4是示出使用输送路径传感器检测片材到片材的间隔的方法的流程图。

图5是示出使用堆满检测传感器检测片材到片材的间隔的方法的流程图。

图6是示出根据第一示例性实施例的确定是否使片材到片材的间隔变宽以减少堆满检测传感器的错误检测的处理的流程图。

图7是示出在其中堆满检测传感器还用作片材排出传感器的图像形成设备的配置的示意图。

图8是示出根据第二示例性实施例的确定是否使片材到片材的间隔变宽以减少堆满检测传感器的错误检测的处理的流程图。

图9是示出根据第三示例性实施例的确定是否使片材到片材的间隔变宽以减少堆满检测传感器的错误检测的处理的流程图。

图10是示出根据第四示例性实施例的确定是否使片材到片材的间隔变宽以减少堆满检测传感器的错误检测的处理的流程图。

具体实施方式

以下将参照附图对本发明的各种示例性实施例、特征和方面进行详细描述。

图1是示出根据示例性实施例的图像形成设备的示意性截面图。图像形成设备可包括可将视觉表示传达到片材的任何机器，例如激光束打印机、复印机、喷墨打印机、数字影印机和多功能打印机。参照图1，片材S为记录介质。记录介质可包括具有将保持标记物质的表面的物理器件，例如片材。以下，首先输送的记录介质S将被称为在前片材S1，在在前片材S1随后输送的记录介质S将被称为后续片材S2。记录介质传感器101检测记录介质S是否堆叠在片材馈送盒上。例如，如果记录介质S在片材馈送盒上布置成整齐的一堆，则可认为记录介质S堆叠在片材馈送盒上。如果记录介质传感器101检测到记录介质S堆叠在片材馈送盒上，则片材馈送辊102开始馈送片材。输送辊103和对齐辊104输送由片材馈送辊102馈送的记录介质S。输送路径传感器105检测输送的记录介质S的前沿和输送的记录介质S的后沿，以使得片材到片材的间隔(即，在前片材S1的后沿和后续片材S2的前沿的检测之间的输送间隔)可被检测。

输送通过输送路径传感器105的记录介质S被输送到图像形成单元，图像形成单元包括转印辊106、反射镜107、光扫描装置108、盒120、显影辊121、感光鼓122和充电辊123。图像形成单元通过使充电辊123以均匀的电势对感光鼓122的表面充电来执行图像形成处理。光扫描装置108用根据图像信息的激光束经由反射镜107照射感光鼓122的表面。光扫描装置108因此在感光鼓122上形成潜像。显影辊121然后使潜像显影，并形成调色剂图像。当记录介质S通过感光鼓122和转印辊106之间时，所形成的调色剂图像被转印到记录介质S。

定影装置130包括检测加热器132的温度的热敏电阻131、加热器132、定影膜133和加压辊134。在转印辊106在记录介质S上转印调色剂图像之后，记录介质S通过定影膜133和加压辊134之间，以使得调色剂图像被热压和定影到记录介质S。调色剂图像被定影在其上的记录介质S被输送到定影片材排出传感器109，然后被输送到定影片材排出辊110和片材排出辊111，并被排到片材排出盘113。如果片材排出盘112打开，则记录介质S可被排到片材排出盘112。

堆满检测传感器160固定在片材排出盘113的排出口上。堆满检测传感器160关于记录介质的输送方向被设置在输送路径传感器105的下游，并包括遮光器161和光斩波器162。遮盖光斩波器162的遮光器161可检测片材排出盘113中的记录介质S的堆叠状态。例如，如果检测到遮光器161遮盖了光斩波器162预先确定的时间，则确定记录介质S在片材排出盘113上堆满。此外，堆满检测传感器160可检测片材到片材的间隔。根据本示例性实施例，可基于堆叠在片材排出盘113上的记录介质S的高度是否达到了预先确定的高度来确定记录介质是否堆满。所述预先确定的高度低于片材排出口的位置。

图2是示出图像形成设备100的控制单元的框图。参照图2，主机200将打印命令发送给控制器单元201。控制器单元201根据从主机200接收的打印命令将打印预约命令或打印开始命令发送给引擎控制单元202。

引擎控制单元202通过视频接口单元210接收命令和图像形成信息，例如从控制器单元201发送的数据。引擎控制单元202然后基于接收的图像形成信息，使用中央处理器单元(CPU)203控制图像形成设备100的操作。CPU 203包括存储控制程序的只读存储器(ROM)(未示出)、存储数据的随机存取存储器(RAM)(未示出)和门元件(未示出)。CPU 203根据ROM中存储的控制过程控制引擎的每个部分。此外，CPU 203基于图像形成信息控制驱动单元205、定影单元206、片材馈送/输送单元207和片材排出/输送单元208，驱动单元205驱动图像形成设备100中的每个部件，片材馈送/输送单元207馈送并输送记录介质S，片材排出/输送单元208输送并排出记录介质S。此外，CPU 203从输送路径传感器105和堆满检测传感器160接收检测片材到片材的间隔的结果。CPU 203将接收的检测结果存储在存储单元204中。

图3是示出所检测的片材到片材的间隔(即，由输送路径传感器105和堆满检测传感器160检测的在前片材S1的后沿和后续片材S2的前沿之间的间隔)的值的曲线图。此外，图3示出由每个传感器检测的片材到片材的间隔之间的差值。当执行连续打印并且片材到片材的间隔短(被检测到间隔为例如56mm)时，检测这些值。在垂直轴上指示宽度(单位：mm)，并在水平轴上指示连续打印片材的数量(单位：片材)。

参照图3，当片材排出盘113上的记录介质S的堆叠量小时，记录介质S的堆叠量不影响堆满检测传感器160中的遮光器161的动作(operation)。因此，由输送路径传感器105和堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔变成几乎相同的值(即，差值为0)，误差容限(margin)小。另一方面，如果片材排出盘113上的记录介质S的堆叠量变大，则由于记录介质S的卷曲，导致在记录介质S通过堆满检测传感器160之后，遮光器161可能延迟返回到原始位置。在这样的情况下，由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔通常变为比由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔短(即，差值变为大于0)。

由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔的减小是由记录介质S的堆叠量的影响引起的。因此当片材排出盘113上的记录介质S的堆叠量变为接近堆满状态(即，堆叠了预先确定的量的记录介质S的状态)时，这样的现象更频繁地发生。如果由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔的值小，则遮光器161的停止时间变短。堆满检测传感器160通过检测遮光器161已停止移动预先确定的时间来确定记录介质S是否在片材排出盘113上堆满。如果检测的片材到片材的间隔的值短，则不能保证检测堆满状态所需的时间。为了解决这样的问题，如果检测到由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔正变短，则控制片材馈送定时以使片材到片材的间隔变宽，以使得可保证检测堆满状态所需的时间。以下将对用于使片材馈送间隔变宽的定时控制进行描述。

图4是示出由输送路径传感器105执行的检测片材到片材的间隔的方法的流程图。在步骤S1101中，CPU 203开始图像形成处理。在步骤S1102中，CPU 203重置存储单元204中用于存储数据的存储编号。在步骤S1103中，CPU 203确定输送路径传感器105是否已检测到在前片材S1的前沿。如果CPU 203确定输送路径传感器105没有检测到在前片材S1的前沿(在步骤S1103中为否)，则所述处理返回到步骤S1103。如果CPU 203确定输送路径传感器105检测到了在前片材S1的前沿(在步骤S1103中为是)，则所述处理进行到步骤S1104。在步骤S1104中，CPU 203确定是否存在连续执行图像形成处理的命令。如果CPU 203确定不连续执行图像形成处理(在步骤S1104中为否)，则不能检测片材到片材的间隔。所述处理因此进行到步骤S1111，片材到片材的间隔检测结束。

另一方面，如果CPU 203确定要连续执行图像形成处理(在步骤S1104中为是)，则所述处理进行到步骤S1105。在步骤S1105中，CPU 203确定输送路径传感器105是否已检测到在前片材S1的后沿。如果CPU 203确定输送路径传感器105没有检测到在前片材S1的后沿(在步骤S1105中为否)，则所述处理返回到步骤S1105。如果CPU 203确定输送路径传感器105已检测到在前片材S1的后沿(在步骤S1105中为是)，则所述处理进行到步骤S1106。在步骤S1106中，CPU 203开始测量片材到片材的间隔。在步骤S1107中，CPU 203确定输送路径传感器105是否已检测到后续片材S2的前沿。如果CPU 203确定输送路径传感器105没有检测到后续片材S2的前沿(在步骤S1107中为否)，则所述处理返回到步骤S1107。如果CPU 203确定输送路径传感器105已检测到后续片材S2的前沿(在步骤S1107中为是)，则所述处理进行到步骤S1108。在步骤S1108中，CPU 203结束测量片材到片材的间隔。在步骤S1109中，CPU 203将测量的片材到片材的间隔的值存储在存储单元204中的存储区1中的存储编号N处。在步骤S1110中，CPU 203将存储编号N加1。所述处理从步骤S1110返回到步骤S1104。CPU 203在连续执行图像形成处理的同时通过重复步骤S1104至步骤S1110的处理来检测片材到片材的间隔。换句话讲，当CPU 203在S1104中确定存在连续执行图像形成处理的命令(在步骤S1104中为是)时，CPU 203检测片材到片材的间隔。存储区和存储编号可任意设置。

图5是示出由堆满检测传感器160执行的检测片材到片材的间隔的方法的流程图。在步骤S1201中，CPU 203开始图像形成处理。在步骤S1202中，CPU 203重置存储单元204中用于存储数据的存储编号。在步骤S1203中，CPU 203确定堆满检测传感器160是否已经开启，即，是否检测到在前片材S1。

如果CPU 203确定堆满检测传感器160没有开启(在步骤S1203中为否)，则所述处理返回到步骤S1203。如果CPU 203确定堆满检测传感器160已检测到在前片材S1(在步骤S1203中为是)，则所述处理进行到步骤S1204。在步骤S1204中，CPU 203确定堆满检测传感器160是否已关闭，即，是否已结束检测在前片材S1。如果CPU 203确定堆满检测传感器160没有关闭(在步骤S1204中为否)，则所述处理返回到步骤S1204。如果CPU 203确定堆满检测传感器160已结束检测在前片材S1(在步骤S1204中为是)，则所述处理进行到步骤S1205。在步骤S1205中，CPU 203开始测量片材到片材的间隔。在步骤S1206中，CPU 203确定堆满检测传感器160是否已检测到后续片材S2。如果CPU 203确定堆满检测传感器160没有检测到后续片材S2(在步骤S1206中为否)，则所述处理返回到步骤S1206。如果CPU 203确定堆满检测传感器160已检测到后续片材S2(在步骤S1206中为是)，则所述处理进行到步骤S1207。在步骤S1207中，CPU 203结束测量片材到片材的间隔。在步骤S1208中，CPU 203将测量的片材到片材的间隔的值存储在存储单元204中的存储区1’中的存储编号N’处。在步骤S1209中，CPU 203将存储编号N’加1。存储区和存储编号可任意设置。

在步骤S1210中，CPU 203将其中存储有由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔的存储编号N与其中存储有由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔的存储编号N’进行比较。如果存储编号N’小于存储编号N(在步骤S1210中为是)，则所述处理返回到步骤S1204，重复步骤S1204至步骤S1209的处理。另一方面，如果存储编号N和N’相同，或者存储编号N’大于存储编号N(在步骤S1210中为否)，则所述处理进行到步骤S1211。在步骤S1211中，CPU 203将由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔与由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔进行比较。CPU 203然后确定是否使片材到片材的间隔变宽。从步骤S1211到步骤S1212，所述处理结束。以下将对确定处理进行详细描述。

图6是示出确定是否使片材到片材的间隔变宽以减少堆满检测传感器160的错误检测的处理的流程图。在步骤S1301中，CPU 203开始比较片材到片材的间隔。在步骤S1302中，CPU 203将存储单元204中存储的片材到片材的间隔之中存储在存储区1中的存储编号N处的片材到片材的间隔的值与存储在存储区1’中的存储编号N’处的片材到片材的间隔的值进行比较。

在步骤S1303中，CPU 203确定由输送路径传感器105检测的、存储在存储编号N处的片材到片材的间隔的值是否大于由堆满检测传感器160检测的、存储在存储编号N’处的片材到片材的间隔的值。如果CPU 203确定由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔的值大于由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔的值(在步骤S1303中为是)，则所述处理进行到步骤S1304。在步骤S1304中，CPU 203将比较结果计数器的值加1。如果由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔的值小于或等于由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔的值(在步骤S1303中为否)，则所述处理进行到步骤S1305。在步骤S1305中，CPU 203清除比较结果计数器的值，所述处理进行到步骤S1308。

在步骤S1306中，CPU 203确定比较结果计数器的值是否大于预先确定的阈值T1。例如，阈值T1设为20。在这样的情况下，如果连续20次检测到由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔比由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔短，则CPU 203确定不能保证堆满检测传感器160检测堆满状态的预先确定的时间。阈值T1设为20的情况是一个示例。可根据条件(例如，堆满检测传感器160的精度、执行堆满检测所要求的精度和配置)来任意改变阈值T1。

如果CPU 203确定比较结果计数器的值不大于预先确定的阈值T1(在步骤S1306中为否)，则所述处理进行到步骤S1308。如果CPU 203确定比较结果计数器的值大于预先确定的阈值T1(在步骤S1306中为是)，则所述处理进行到步骤S1307。在步骤S1307中，CPU 203通过将记录介质S的输送定时延迟预先确定的时间来保证堆满检测传感器160检测堆满状态所需的时间。例如，假设堆满检测传感器160检测堆满状态所需的时间为50ms，由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔为30ms。在这样的情况下，可通过将记录介质S的输送定时延迟20ms或更长来保证检测堆满状态所需的时间。上述值为示例，记录介质S的输送定时延迟的时间可根据条件(例如，堆满检测传感器160的精度、执行堆满检测所要求的精度和配置)任意设置。从步骤S1305、S1306或S1307到步骤S1308，所述处理结束。

此外，当CPU 203确定使片材到片材的间隔变宽以保证检测堆满状态所需的时间时，记录介质S仍可保留在图像形成设备中。在这样的情况下，CPU 203可在排出保留在图像形成设备中的所有记录介质S之后使片材到片材的间隔变宽，而不是立即增大片材到片材的间隔。当保留在图像形成设备中的记录介质S将被排出时，堆满检测传感器160也可被设置为不检测堆满状态。堆满检测传感器160则从在使片材到片材的间隔变宽之后输送的记录介质S重新开始检测堆满状态。用户可选择性地设置当排出保留的记录介质S时是否检测堆满状态。

如上所述，如果基于由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔确定堆满检测传感器160可能执行堆满状态的错误检测，则对片材到片材的间隔进行控制。结果，可减少堆满检测传感器160的错误检测。

堆满检测传感器160的控制方法可应用于其中堆满检测传感器160也用作片材排出传感器109的图像形成设备中。图7示出在其中堆满检测传感器160用作片材排出传感器109的图像形成设备。参照图7，基本配置与图1中所示的图像形成设备类似。然而，图7中所示的图像形成设备不包括片材排出传感器109，堆满检测传感器160执行片材排出传感器109的功能。在这样的配置中，可通过根据堆满检测传感器160检测在前片材S1和后续片材S2之间的间隔的结果控制片材到片材的间隔来减少堆满检测传感器160的错误检测。

根据第一示例性实施例，如果预先确定的次数或更多次数检测到由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔比由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔短，则将馈送记录介质S的定时延迟预先确定的时间。根据第二示例性实施例，确定检测次数在阈值T2内。在这样的情况下，如果等于或超过阈值T3的次数检测到由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔比由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔短，则将馈送记录介质S的定时延迟预先确定的时间。将省略对与第一示例性实施例类似的配置的描述。

图8是示出确定是否使片材到片材的间隔变宽以减少堆满检测传感器160的错误检测的处理的流程图。与根据第一示例性实施例的图6中所示的流程图类似的处理将被分配相同的步骤编号，并将省略描述。

由于步骤S1301至步骤S1302的处理与图6中所示的处理类似，所以将省略描述。如果由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔的值小于或等于由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔的值(在步骤S1303中为否)，则所述处理进行到步骤S1402。如果CPU 203确定由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔的值大于由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔的值(在步骤S1303中为是)，则所述处理进行到步骤S1401。在步骤S1401中，在CPU 203在步骤S1303中确定由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔的值大于由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔的值之后，CPU 203将比较结果计数器的值加1，并且所述处理进行到步骤S1402。在步骤S1402中，CPU 203将片材计数器的值加1。在步骤S1403中，CPU 203确定片材计数器的值是否已达到阈值T2。如果计数器的值没有达到阈值T2(在步骤S1403中为否)，则所述处理进行到步骤S1404。在步骤S1404中，CPU 203分别将存储编号N和存储编号N’加1。所述处理然后返回到步骤S1303，CPU203继续比较片材到片材的间隔。另一方面，如果片材计数器的值已达到阈值T2(在步骤S1403中为是)，则所述处理进行到步骤S1405。在步骤S1405中，CPU 203清除片材计数器。

在步骤S1406中，CPU 203将比较结果计数器的值与阈值T3进行比较，以确定比较结果计数器的值是否等于或大于阈值T3。如果CPU 203确定比较结果计数器的值不“等于或大于”阈值T3，则所述处理进行到步骤S1408。如果比较结果计数器的值等于或大于阈值T3(在步骤S1406中为是)，则所述处理进行到步骤S1407。在步骤S1407中，CPU 203将记录介质S的输送定时延迟预先确定的时间，以使得可保证堆满检测传感器160检测堆满状态所需的时间，并且所述处理进行到步骤S1408。在步骤S1408中，CPU 203清除比较结果计数器的值。从步骤S1408到步骤S1308，所述处理结束。

可使用图3中所示的曲线图适当地设置上述流程图中与片材计数器的值进行比较的阈值T2和与比较结果计数器的值进行比较的阈值T3。如上所述，图3中所示的曲线图指示由输送路径传感器105和堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔之间的差值。例如，参照图3中所示的差值的结果，假设当在10次检测片材到片材的间隔中有8次检测到由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔的值变为比由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔的值大时，堆满检测传感器160可能执行错误检测。在这样的情况下，阈值T2被设为10，阈值T3被设为8。那么，如果在10次检测片材到片材的间隔中有8次检测到由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔的值变为比由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔大，则将记录介质S的输送定时延迟预先确定的时间，比如，20ms或更多。因此可保证检测堆满状态所需的时间。上述数值被取作示例，记录介质S的输送定时延迟的时间可根据条件(例如，堆满检测传感器160的精度、执行堆满检测所要求的精度和配置)任意设置。

如上所述，当堆满检测传感器160检测间隔预先确定的次数时，可能预先确定的次数或更多次数由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔比由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔短。在这样的情况下，可对片材到片材的间隔进行控制，以使得可减少由于堆叠故障和噪声而导致的堆满检测传感器160的未预料到的错误检测。

根据第三示例性实施例，计算由输送路径传感器105和堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔之间的差值的平均值。如果平均差值变为等于或大于阈值T4，则如下所述将记录介质S的馈送定时延迟预先确定的时间。将省略与第一示例性实施例类似的配置的描述。

图9是示出确定是否使片材到片材的间隔变宽以减少堆满检测传感器160的错误检测的处理的流程图。在步骤S1501中，CPU 203计算由输送路径传感器105检测的、存储在存储编号N处的片材到片材的间隔与由堆满检测传感器160检测的、存储在存储编号N’处的片材到片材的间隔之间的差值。在步骤S1502中，CPU 203读出先前计算的存储在存储单元中的由输送路径传感器105和堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔之间的差值。在步骤S1503中，CPU 203计算在步骤S1501中计算的差值与在步骤S1502中读出的先前计算的差值的平均值，并将该平均值存储在存储区中。由于可通过将计算的差值相加并将和(sum)除以计算次数来计算差值的平均值，所以将省略详细描述。

在步骤S1504中，CPU 203将平均差值与阈值T4进行比较，以确定平均差值是否等于或大于阈值T4。如果平均差值小于阈值T4(在步骤S1504中为否)，则所述处理进行到步骤S1505。在步骤S1505中，CPU 203将存储编号N和存储编号N’分别加1。所述处理然后返回到步骤S1501，CPU 203继续计算片材到片材的间隔之间的差值。另一方面，如果平均差值等于或大于阈值T4(在步骤S1504中为是)，则所述处理进行到步骤S1506。在步骤S1506中，CPU 203将记录介质S的输送定时延迟预先确定的时间。因此可保证堆满检测传感器160检测堆满状态所需的时间。所述处理可从步骤S1506结束。

可使用图3中所示的指示由输送路径传感器105和堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔之间的差值的曲线图适当地设置与平均差值进行比较的阈值T4。例如，参照图3中所示的差值的结果，假设当由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔变为比由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔短10mm或更多时，堆满检测传感器160可能执行错误检测。在这样的情况下，阈值T4被设为10mm。那么，如果平均差值变为等于或大于阈值T4，则将记录介质S的输送定时延迟预先确定的时间，比如20ms或更长。结果，可保证堆满检测传感器160检测堆满状态所需的时间。上述数值取作示例，记录介质S的输送定时延迟的时间可根据条件(例如堆满检测传感器160的精度、执行堆满检测所要求的精度和配置)任意设置。

如上所述，基于由输送路径传感器105和堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔之间的差的平均值控制片材到片材的间隔。因此可减少由于堆叠故障和噪声而导致的堆满检测传感器160的未预料的错误检测。

根据第三示例性实施例，计算由输送路径传感器105和堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔之间的差值的平均值。当平均差值变为等于或大于阈值T4时，将记录介质S的馈送定时延迟预先确定的时间。以下将对根据第四示例性实施例的方法进行描述，该方法用于：当平均差值变为等于或大于阈值T4时并且当由输送路径传感器105和堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔之间的最大差值变为等于或大于阈值T5时，将馈送记录介质S的定时延迟预先确定的时间。将省略与第一示例性实施例类似的配置的描述。

图10是示出确定是否使片材到片材的间隔变宽以减少堆满检测传感器160的错误检测的处理的流程图。与根据第三示例性实施例的图9中所示的流程图类似的处理将被分配相同的步骤编号，并将省略描述。

步骤S1501进行到步骤S1601。在步骤S1601中，CPU 203将在步骤S1501中计算的片材到片材的间隔之间的差值与存储在存储单元中的差值进行比较。CPU 203然后将较大的差值作为差值的峰值存储在存储单元中。所述处理然后从步骤S1601进行到步骤S1502，从步骤S1502进行到步骤S1503，从步骤S1503进行到步骤S1504。如果平均差值等于或大于阈值T4(在步骤S1504中为是)，则所述处理进行到步骤S1602。在步骤S1602中，如果CPU 203在步骤S1504中确定平均差值等于或大于阈值T4，则CPU 203将存储在存储单元中的片材到片材的间隔的峰值差值与阈值T5进行比较。如果峰值差值小于阈值T5(在步骤S1602中为否)，则所述处理进行到步骤S1505。在步骤S1505中，CPU 203将存储编号N和存储编号N’分别加1。所述处理然后返回到步骤S1501，CPU 203继续计算片材到片材的间隔之间的差值。另一方面，如果峰值差值等于或大于阈值T5(在步骤S1602中为是)，则所述处理进行到步骤S1506。在步骤S1506中，CPU 203将记录介质S的输送定时延迟预先确定的时间。因此可保证堆满检测传感器160检测堆满状态所需的时间。所述处理从步骤S1506结束。

可使用图3中的示出由输送路径传感器105和堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔之间的差值的曲线图适当地设置与平均差值进行比较的阈值T4和与差值的峰值进行比较的阈值T5。例如，参照图3中所示的差值的结果，假设当由堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔变为比由输送路径传感器105检测的片材到片材的间隔短10mm或更大时，堆满检测传感器160可能执行错误检测。在这样的情况下，阈值T4设为10mm。此外，假设当由输送路径传感器105和堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔之间的差值变为15mm或更大时，堆满检测传感器160可能执行错误检测。在这样的情况下，阈值T5设为15mm。那么，如果平均差值变为等于或大于阈值T4，并且峰值差值变为等于或大于阈值T5，则将记录介质S的输送定时延迟预先确定的时间，比如20ms或更长。结果，可保证堆满检测传感器160检测堆满状态所需的时间。上述数值取作示例，记录介质S的输送定时延迟的时间可根据条件(例如堆满检测传感器160的精度、执行堆满检测所要求的精度和配置)任意设置。

如上所述，基于由输送路径传感器105和堆满检测传感器160检测的片材到片材的间隔之间的平均差值以及片材到片材的间隔之间的峰值差值，对片材到片材的间隔进行控制。因此，可减少由于堆叠故障和噪声而导致的堆满检测传感器160的未预料的错误检测。

尽管已参照示例性实施例对本发明进行了描述，但是应该理解本发明不限于所公开的示例性实施例。应该赋予权利要求的范围以最宽泛的解释，以涵盖所有变型、等同结构和功能。

Claims

1.一种图像形成设备，包括：

图像形成单元，所述图像形成单元被配置为在记录介质上形成图像；

堆叠单元，所述堆叠单元被配置为堆叠由图像形成单元在其上形成图像的记录介质；

第一检测单元，第一检测单元被配置为检测首先输送的第一记录介质的后沿和在第一记录介质随后输送的第二记录介质的前沿之间的输送间隔；

第二检测单元，第二检测单元关于记录介质的输送方向被设置在第一检测单元的下游，并被配置为检测所述输送间隔和检测堆叠在堆叠单元上的记录介质的量是否超过预先确定的量；和

控制单元，所述控制单元被配置为根据对由第一检测单元检测的输送间隔与由第二检测单元检测的输送间隔进行比较的结果改变第二记录介质的输送定时，使得由第一检测单元检测的输送间隔变宽。

2.根据权利要求1所述的图像形成设备，其中，所述第二检测单元为检测记录介质是否在堆叠单元上堆满的传感器。

3.根据权利要求2所述的图像形成设备，其中，在第二检测单元检测到记录介质在堆叠单元上堆满的情况下，所述控制单元停止由图像形成单元执行的图像形成处理。

4.根据权利要求1-3中的任何一个所述的图像形成设备，其中，在以超过第一阈值的连续次数检测到由第二检测单元检测的输送间隔比由第一检测单元检测的输送间隔短的情况下，所述控制单元使输送间隔变宽。

5.根据权利要求1-3中的任何一个所述的图像形成设备，其中，在以被确定为第二阈值的次数检测输送间隔、并且以等于或超过第三阈值的次数检测到由第二检测单元检测的输送间隔比由第一检测单元检测的输送间隔短的情况下，控制单元使输送间隔变宽。

6.根据权利要求1-3中的任何一个所述的图像形成设备，其中，在计算由第一检测单元检测的输送间隔和由第二检测单元检测的输送间隔的差值的平均值、并且平均差值等于或大于第四阈值的情况下，所述控制单元使输送间隔变宽。

7.根据权利要求6所述的图像形成设备，其中，在由第一检测单元检测的输送间隔和由第二检测单元检测的输送间隔之间的差值的最大值等于或大于第五阈值的情况下，所述控制单元使输送间隔变宽。