CN101097674B - 平板显示器以及控制其图像质量的方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 169
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 343
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 58
- 238000009418 renovation Methods 0.000 claims description 50
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 claims description 38
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 14
- 241001269238 Data Species 0.000 claims description 13
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 5
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 claims 1
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 50
- 239000010408 film Substances 0.000 description 31
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 23
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 23
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 22
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 20
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 18
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 15
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 15
- 101000885321 Homo sapiens Serine/threonine-protein kinase DCLK1 Proteins 0.000 description 13
- 102100039758 Serine/threonine-protein kinase DCLK1 Human genes 0.000 description 13
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 11
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 10
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 10
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 7
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 7
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 7
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 6
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 6
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 5
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 5
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 5
- 238000003698 laser cutting Methods 0.000 description 5
- 230000001915 proofreading effect Effects 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 4
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 3
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- MRNHPUHPBOKKQT-UHFFFAOYSA-N indium;tin;hydrate Chemical compound O.[In].[Sn] MRNHPUHPBOKKQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 238000012144 step-by-step procedure Methods 0.000 description 2
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004205 SiNX Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 1
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000001351 cycling effect Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 230000008676 import Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N neodymium atom Chemical compound [Nd] QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012536 packaging technology Methods 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TYHJXGDMRRJCRY-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) tin(4+) Chemical group [O-2].[Zn+2].[Sn+4].[In+3] TYHJXGDMRRJCRY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
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- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
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- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
- G09G2320/0233—Improving the luminance or brightness uniformity across the screen
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- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
- G09G2320/0242—Compensation of deficiencies in the appearance of colours
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- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
- G09G2320/0285—Improving the quality of display appearance using tables for spatial correction of display data
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- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/06—Adjustment of display parameters
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- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
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- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
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- G09G3/2051—Display of intermediate tones using dithering with use of a spatial dither pattern
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- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
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Abstract
本发明涉及适于通过在面板缺陷位置的像素上执行电补偿而完美补偿面板缺陷的平板显示器和控制其图像质量的方法。根据本发明的实施方式所述的平板显示器包括具有非缺陷区域和面板缺陷区域的显示面板、存储第一补偿数据、第二补偿数据、第三补偿数据、第四补偿数据和第五补偿数据的存储器以及;采用通过所述补偿部分调整的数据驱动显示面板的驱动器。
Description
本申请要求享有2006年6月29日提交的韩国专利申请No.P2006-0059330的优先权,在此引用其全部内容作为参考。
技术领域
本发明涉及平板显示器件,并尤其涉及用于采用补偿电路的补偿值优化要显示在面板缺陷区域的数据以及以及通过修复工艺补偿面板缺陷的平板显示器件,以及控制其图像质量的方法。
背景技术
近来,人们已经开始注意到在重量和尺寸方面都优于阴极射线管的各种平板显示器件。平板显示器件包括液晶显示器、场发射显示器、等离子体显示面板、有机发光二极管等。
平板显示器包括用于显示图像的显示面板,并且可能存在在显示面板的测试工艺中找到图像质量缺陷的情况。
在显示面板的测试工艺中发生图像质量缺陷的原因源于工艺中的缺陷,并且由于显示面板中存在缺陷,因此导致图像质量产生缺陷。该面板缺陷可能源于,例如在重叠曝光工艺中存在的曝光偏差、曝光设备中的透镜象差等。由于工艺偏差导致的面板缺陷以诸如点、线、带、环、多边形等或者图1到5所示的未定形式呈现。
为了恢复面板缺陷,执行包括薄膜形成工艺、构图工艺等的修复工艺,但是即使执行了修复工艺,对于面板缺陷的恢复仍然是有限的。并且,在面板缺陷较严重的情况,将该面板作为废品处理。此外,在大多数情况下,即使执行了修复工艺,存在面板缺陷的区域的亮度或者色度也表现出不同于无缺陷区域的特性。
对于面板缺陷中以点状示出的像素缺陷的修复工序包括将缺陷像素变为暗点的方法。但是,在该形成暗点的方法中,在如图6A所示的黑灰度级中几乎无法察觉到该暗点,而在图6B和6C的中间灰度级和白灰度级的显示屏中可以清晰地看到该暗点10。
因此,仅通过恢复面板缺陷的修复工艺改善由于面板缺陷导致的图像质量变差方面存在一定局限性。
发明内容
因此,本发明的目的在于提供一种采用补偿电路的补偿值优化显示在面板缺陷区域以及通过修复工艺补偿面板缺陷的平板显示器,以及用于控制其图像质量的方法。
为了实现本发明上述或者其他的目的,根据本发明的方案所述的平板显示器包括:具有非缺陷区域和面板缺陷区域的显示面板,并且该面板具有至少一个连接像素,在连接像素中相邻像素互连;存储器,其存储用于补偿面板缺陷区域中奇数行要显示的数据的第一补偿数据、用于补偿面板缺陷区域中偶数行要显示的数据的第二补偿数据、用于补偿面板缺陷区域和非缺陷区域之间的边界部分所包括的奇数行要显示的数据的第三补偿数据、用于补偿所述边界部分的偶数行要显示的数据的第四补偿数据和用于补偿在连接像素中要显示的数据的第五补偿数据;用所述补偿数据调整在面板缺陷区域、包括边界部分的固定区域和连接像素上要显示的数据的补偿部分;以及用于采用通过所述补偿部分调整后的数据驱动显示面板的驱动器。
根据本发明的另一方案所述的一种平板显示器的图像质量控制方法,包括:确定第一补偿数据、第二补偿数据、第三补偿数据、第四补偿数据和第五补偿数据的步骤,第一补偿数据用于补偿面板缺陷区域中奇数行要显示的数据,第二补偿数据用于补偿面板缺陷区域中偶数行要显示的数据,第三补偿数据用于补偿面板缺陷区域和非缺陷区域之间的边界部分所包括的奇数行要显示的数据,第四补偿数据用于补偿所述边界部分的偶数行要显示的数据,第五补偿数据用于补偿在连接像素中要显示的数据,其中连接像素中显示面板的相邻像素互连;在存储器中存储补偿数据的步骤;用存储在存储器上的补偿数据调整在面板缺陷区域、包括边界部分的固定区域和连接像素上要显示的数据的补偿步骤;以及采用通过所述补偿步骤调整后的数据驱动显示面板的驱动步骤。
附图说明
参照附图,通过如下对本发明实施方式的详细描述将使得本发明的所述或者其他目的更加显而易见。在附图中:
图1至图5所示为显示面板的面板缺陷区域的各种形式的示意图;
图6A到6C为对于每个灰度级察觉到变为黑点的缺陷像素的程度的示意图;
图7A和7B为表示根据本发明的实施方式的液晶显示器的制造方法的分步流程图;
图8所示为伽马特性曲线的图;
图9A到9C为用于描述在显示面板的面板缺陷区域和非缺陷区域之间的边界部分出现的亮度特性的示意图;
图10所示为根据本发明的修复工艺的实施例的简化示意图;
图11A到11C为根据本发明所述的TN模式液晶显示器的修复工艺的实施例的示意图;
图12A到12C示出根据本发明的TN模式液晶显示器的修复工艺的另一实施例的示意图;
图13A和13B示出根据本发明的IPS模式液晶显示器的修复工艺的实施例的示意图;
图14A到14C示出根据本发明的IPS模式液晶显示器的修复工艺的另一实施例的示意图;
图15到19E为根据本发明所述的补偿数据确定方法的各种实施方式的示意图;
图20为用于说明根据本发明的帧频控制(frame rate control)方法的图像质量控制方法的示意图;
图21为用于说明根据本发明的抖动方法的图像质量控制方法的示意图;
图22为用于说明根据本发明的帧频控制/抖动方法的图像质量控制方法的示图;
图23为根据采用本发明的8×8抖动图案的帧频控制方法的图像质量控制方法的示意图;
图24A到24C为根据采用本发明的8×32抖动图案的帧频控制方法的图像质量控制方法的示意图;
图25A到25D为设置在图24A所示的1/8抖动图案中的子抖动图案的示意图;
图26A到26D为根据采用本发明的8×32抖动图案的帧频控制方法的图像质量控制方法的示意图;
图27为表示根据本发明的液晶显示器的方框图;
图28为更具体表示图27所示补偿电路结构的方框图;
图29为更具体表示图28所示补偿部分的第一实施方式的方框图;
图30为更具体表示图28所示补偿部分的第二实施方式的方框图;
图31为更具体表示图28所示补偿部分的第三实施方式的方框图;
图32为具体描述图31所示的第一FRC控制器的方框图;
图33为更具体表示图28所示补偿部分的第四实施方式的方框图;
图34为具体描述图33所示的第一抖动控制器的方框图;
图35为更具体表示图28所示补偿部分的第五实施方式的方框图:以及
图36为表示图35所示的第一FRC/抖动控制器的方框图。
具体实施方式
现将详细参照在附图中示出了其实施例描述本发明的优选实施方式。
参照图7A到36,下面将说明本发明的实施方式。以平板显示器中的液晶显示器为例描述如下实施方式。
首先,参照图7A和7B,描述根据本发明的实施方式的液晶显示器的制造方法。图7A和7B为表示根据本发明的实施方式的液晶显示器的制造方法的分步流程图。
参照图7A和7B,首先,分别制造液晶显示面板的上基板(滤色片基板)和下基板(TFT阵列基板)(S1)。该步骤S1包括基板清洗工艺,基板构图工艺、定向膜形成/研磨工艺等。在基板清洗工艺中,通过清洗溶液去除上、下基板表面上的杂质。在上基板构图工艺中,形成滤色片、公共电极、黑矩阵等。在下基板构图工艺中,形成诸如数据线和栅线的信号线,在数据线和栅线的交叉部分形成TFT,并且在通过数据线和栅线的交叉部分限定的像素区域中形成像素电极。另一方面,下基板构图工艺可以包括形成孔径图案(aperture pattem)或者在以后描述的修复工艺中应用的虚拟图案的工艺,在该孔径图案中从栅线上去除栅金属。
随后,将每个灰度级的测试数据施加给显示面板的下基板以显示测试图像,并通过对图像进行电/磁检测检查面板缺陷(S2)。
根据步骤S2的检测结果,如果没检测到面板缺陷(步骤S3中的No),该工艺执行步骤S5,并且如果检测到面板缺陷,则在检测计算机中存储表示面板缺陷位置的位置信息,同时执行用于补偿面板缺陷的数据校正(S4)。
在图7B中更详细地示出步骤S4的校正过程。参照图7B,为了校正与非缺陷区域不同的面板缺陷区域的亮度和色度,在校正步骤S4中,确定第一和第二补偿数据(S41)。这里,该第一补偿数据用于补偿在面板缺陷区域的奇数行要显示的数据,而第二补偿数据用于补偿在面板缺陷区域的偶数行要显示的数据。该第一和第二补偿数据根据面板缺陷的位置在面板缺陷区域和非缺陷区域之间具有亮度差或者色差,因此应该对于每一个位置优化所述第一和第二补偿数据。此外,考虑到伽马特性,因此应该对于每个灰度级优化所述第一和第二补偿数据。图8所示为包括多个灰度级段的伽马特性曲线的示图。对于在各R、G和B像素的每个灰度级有区别地确定补偿值,或者可以对于如图8所示的包括多个灰度级的每个灰度级段(A,B,C,D)有区别地确定补偿值。例如,可以根据面板缺陷区域的位置有区别地优化补偿值,即在第一面板缺陷位置为‘+1’,在第二面板缺陷位置为‘一1’等,并还可以对每个灰度级段有区别地优化补偿值,即在‘低灰度级段A’为‘0’、在‘低灰度级段B’为‘0’、‘高灰度级段C’为‘1’、‘高灰度级段D’为‘1’,如图8所示。此外,对于要在边缘部分显示的数据,由于在面板缺陷区域和非缺陷区域之间的边缘部分亮度会发生微小变化,因此应该可以精密调整补偿值。因此,对于同一像素的各灰度级补偿值可以不同,并且即使灰度级数据相同但是如果对应的像素位置改变,则也要对补偿值进行改变。当校正亮度时,对于各R、G和B数据确定补偿值具有一样的数值,并且在校正色差时对于各R、G和B数据确定不同的补偿值。例如,如果红色在特定位置的面板缺陷区域比非缺陷区域更为明显,则对应于面板缺陷区域的R补偿值会低于G、B补偿值。
平板显示器的驱动电路通过数字视频数据灰度级值在显示面板中表示数据的亮度差。假设通过校正灰度级值在显示面板中表示的最小亮度差为‘ΔL’,该ΔL可以通过各种图像处理技术或者平板显示器的驱动电路的数据处理能力随着平板显示器而变化。通常,具有8-位数据处理能力的驱动电路的平板显示器的ΔL低于具有6-位数据处理能力的驱动电路的平板显示器的ΔL,并且ΔL还可以根据是否应用图像处理技术在相同位处理能力的平板显示器之间变化。
当同一灰度级数据在面板缺陷区域和非缺陷区域之间出现亮度差时,本发明通过上述方法确定的补偿值调整数据值,从而通过间隙值ΔL调整面板缺陷区域的亮度使其接近非缺陷区域的亮度。
通过数据校正在面板缺陷区域和非缺陷区域之间的亮度差可能低于ΔL。
如图9A所示,假设在面板缺陷区域和非缺陷区域之间的亮度差为‘d’。此外,假设d=3ΔL+Δ1,其中Δ1<ΔL。在该亮度差,向数据中添加补偿值‘3’,从而面板缺陷区域的亮度增加为3ΔL从而接近非缺陷区域的亮度,如图9B所示。但是面板缺陷区域的亮度比非缺陷区域的亮度略低Δ1。如果向数据中添加补偿值‘4’以执行该校正,与图9B所示的情况相反,如图9C所示,面板缺陷区域的亮度比非缺陷区域的亮度略高Δ2。这里,Δ2<ΔL并且Δ1+Δ2=ΔL。
在数据调整后留下的微小亮度偏差在面板缺陷区域和非缺陷区域之间的边界线以及包括边界线附近的固定区域的边界部分表现为线状或者块状。
因此,根据本发明的实施方式所述的液晶显示器的制造方法采用在步骤S41中确定的第一和第二补偿数据调整测试数据,并对下基板应用该调整后的测试数据,从而通过电/磁检测检查边界噪声。换句话说,采用第一和第二补偿数据调整要显示在面板缺陷区域中的测试数据以校正面板缺陷区域的亮度和色度,并且对于校正色度和亮度后的面板缺陷区域和非缺陷区域之间的边界部分执行边界噪声检查(S42)。
如果在步骤S42检查到边界噪声(步骤S43中的是),则在检测计算机上存储关于表现出噪声的边界部分的信息,并且计算用于补偿边界噪声的第三和第四补偿数据(S44)。这里,该第三补偿数据用于补偿要施加给边界部分中奇数行的数据,而第四补偿数据用于补偿要施加给边界部分中偶数行的数据。同样应该以和优化第一和第二补偿数据一样的方式对每个位置和每个灰度级优化第三和第四补偿数据。
随后,在步骤S41到S44的同时或者步骤S41到S44之前或之后,对于像素缺陷执行修复工艺(S46)。图10所示为根据本发明的修复工艺的实施例的示图。如表示修复工艺原理的图10所示,通过导电连接图案12将缺陷像素10和正常像素11电连接以形成连接像素13,从而执行修复工艺。
如图10所示,通过电短接或者连接缺陷像素10和与其相邻并和缺陷像素10具有同样色彩的正常像素11的方法执行修复工艺S46。该修复工艺S31包括阻挡将数据电压施加给缺陷像素10的像素电极所经由的路径的工艺以及采用导电连接图案12将缺陷像素10和正常像素11短接或者电连接的工艺。
在缺陷像素10和正常像素11电连接的连接像素13中,同时通过连接后的正常像素11a的数据电压对连接后的缺陷像素10a充电。但是,由于通过一个薄膜晶体管将电荷施加给包括在两个像素10a和11a的像素电极中,连接像素13与未连接的正常像素具有不同的电荷特性。例如,假设将同样的数据电压施加给连接像素13和未连接的正常像素14,在连接像素13中将电荷分散给两个像素10a和11a,因此其电荷量低于未连接的正常像素14。从而,如果向连接像素13和未连接的正常像素14施加同样的数据电压,则在常白模式下连接像素13表现的比未连接的正常像素14更亮。另一方面,在常黑模式下,连接像素13表现的比未连接的正常像素14更暗。在常白模式下,透光率或者灰度级随着数据电压变低而增加。并且,在常黑模式下,透光率或者灰度级随着数据电压变高而增加。
通常,以常白模式驱动扭曲向列模式(以下,称之为“TN”模式)液晶显示器。在TN模式液晶显示器中,在彼此相对的两个基板上分别形成像素电极和公共电极,在两个基板之间夹有液晶层,并且在像素电极和公共电极之间施加垂直电场。相反,以常黑模式驱动共平面模式(以下,称之为“IPS”模式)液晶显示器。在IPS模式液晶显示器中,在同一基板上形成像素电极和公共电极并且在像素电极和公共电极之间施加水平电场。
在修复工艺S46以后,在检测计算机上存储连接像素13的位置信息和电荷特性,并且计算用于补偿连接像素13的电荷特性的第五补偿数据(S47)。连接像素13的电荷特性根据连接像素13的位置在亮度差或色度差方面不同于未连接的正常像素14,因此应该以和优化第一到第四补偿数据一样的方式对每个位置和每个灰度级优化第五补偿数据。
以下,参照图11A到14C,说明根据本发明所述的修复工艺的各种实施方式。
图11A到11C示出了根据本发明的第一实施方式所述的TN模式液晶显示器的修复工艺。
参照图11A和11B,根据本发明所述的修复工艺通过W-CVD(钨化学汽相沉积)工艺直接在彼此相邻的缺陷像素10的像素电极23A和正常像素11的像素电极23B中形成连接图案24。
在下基板25中,栅线21和数据线22彼此交叉并且在其交叉部分形成薄膜晶体管TFT。TFT的栅极与栅线21电连接并且其源极与数据线22电连接。并且,TFT的漏极通过接触孔与像素电极23A、23B电连接。
通过诸如铝Al、钕化铝AlNd等的栅金属的沉积工艺、光刻工艺和蚀刻工艺在下基板25上形成包括栅线21、TFT的栅极等的栅金属图案。
通过诸如铬Cr、钼Mo、钛Ti等的源/漏金属的沉积工艺、光刻工艺和蚀刻工艺在栅绝缘膜26上形成包括数据线22、TFT的源极和漏极等的源/漏金属图案。
用于将栅金属图案与源/漏金属图案电绝缘的栅绝缘膜26由诸如氮化硅SiNx、氧化硅SiOx等的无机绝缘膜形成。并且,覆盖TFT、栅线21和数据线22的钝化膜由无机绝缘层或者有机绝缘层形成。
通过沉积诸如ITO(氧化铟锡)、TO(氧化锡)、IZO(氧化铟锌)、ITZO(氧化铟锡锌)等透明导电金属的工艺、光刻工艺和蚀刻工艺在钝化膜27上形成像素电极23A和23B。通过TFT将来自数据线22的数据电压在TFT导通时的扫描周期施加给像素电极23A和23B。
在基板粘合/液晶注入工艺之前对下基板执行修复工艺。该修复工艺首先包括通过激光切割工艺断开TFT源极和数据线22之间的电流路径或者TFT的漏极和像素电极23A之间的电流路径从而阻断缺陷像素10的像素电极23A和数据线22之间的电流路径。此外,该修复工艺包括通过采用W-CVD工艺在像素电极23A和23B之间的钝化膜27上直接沉积钨W在缺陷像素10的像素电极23A和与其相邻并具有一样颜色的正常像素11的像素电极23B之间形成连接图案24的步骤。另一方面,连线断开工艺和W-CVD工艺可以互换。
如图11C所示,W-CVD工艺包括在W(CO)6环境下在任意一个像素电极23A、23B上聚集激光以及将聚集的激光移动或者扫描至另一像素电极的步骤。然后,通过激光从W(CO)6中分离出钨W并且沿激光的扫描方向在像素电极23A的一端、钝化膜27的暴露部分和像素电极23B的一端沉积钨W。
图12A到12C示出根据本发明的TN模式液晶显示器的修复工艺的另一实施例。
参照图12A和12B,根据本发明的液晶显示器的下基板45包括与缺陷像素10的部分像素电极43A和与其相邻的正常像素11的部分像素电极43B重叠的导电虚拟图案44,其中钝化膜47位于两个电极之间。
在下基板45中,栅线41和数据线42彼此交叉并且在其交叉部分形成薄膜晶体管TFT。TFT的栅极与栅线41电连接并且其源极与数据线42电连接。并且,TFT的漏极通过接触孔与像素电极43A、43B电连接。
通过栅金属的沉积工艺、光刻工艺和蚀刻工艺在下基板45上形成包括栅线41、TFT的栅极等的栅金属图案。
栅线41包括不与在随后工艺中形成的虚拟图案重叠但是包围虚拟图案44的凹进图案48。
通过源/漏金属的沉积工艺、光刻工艺和蚀刻工艺在栅绝缘膜46上形成包括数据线42、TFT的源极和漏极等的源/漏金属图案。
在修复工艺前,将虚拟图案44形成为不与栅线41、数据线42和像素电极43A、43B连接的岛状图案。虚拟图案44的两端通过激光焊接工艺分别与像素电极43A、43B连接从而与垂直相邻的像素电极43A、43B交叠。
栅绝缘膜46将栅金属图案与源/漏金属图案电绝缘,并且钝化膜47将源/漏金属图案与像素电极43A、43B电绝缘。
通过透明导电金属的沉积工艺、光刻工艺和蚀刻工艺在钝化膜47上形成像素电极43A、43B。像素电极43A、43B包括延伸自上部的一端的延伸部分49。像素电极43A、43B通过延伸部分49与虚拟图案44的一端充分重叠。来自数据线42的数据电压通过TFT在该TFT导通的扫描周期施加给像素电极43A、43B。
在基板粘合/液晶注入工艺前对下基板执行修复工艺或者在基板粘合/液晶注入工艺后对面板执行修复工艺。该修复工艺首先包括通过激光切割工艺断开TFT源极和数据线42之间的电流路径或者TFT的漏极和像素电极43A之间的电流路径从而阻断缺陷像素10的像素电极43A和数据线42之间的电流路径的步骤。此外,该修复工艺包括通过采用激光焊接工艺在与虚拟图案44的两端相邻的像素电极43A和43B上照射激光束的步骤,如图12B所示。然后,通过激光融化像素电极43A和43B和钝化膜47,并因此,像素电极43A和43B与虚拟图案44连接。另一方面,连线断开工艺和激光焊接工艺可以互换。图12C示出了在激光焊接工艺前通过钝化膜47电隔离的像素电极43A、43B和虚拟图案44。
图13A和13B示出根据本发明的IPS模式液晶显示器的修复工艺的实施例。
参照图13A和13B。根据本发明所述的修复工艺包括采用W-CVD(钨化学汽相沉积)工艺在缺陷像素10的像素电极63A和与其相邻的正常像素11的像素电极63B上直接形成连接图案24的步骤。
在下基板65中,栅线61和数据线62彼此交叉并且在其交叉部分形成薄膜晶体管TFT。TFT的栅极与栅线61电连接并且其源极与数据线62电连接。并且,TFT的漏极通过接触孔与像素电极63A、63B电连接。
通过栅金属的沉积工艺、光刻工艺和蚀刻工艺在下基板65上形成包括栅线61、TFT的栅极等的栅金属图案。公共电极68与所有的液晶单元连接以向这些液晶单元施加公共电压Vcom。通过施加给公共电极68的公共电压Vcom以及施加给像素电极63A、63B的数据电压向液晶单元施加水平电场。
通过源/漏金属沉积工艺、光刻工艺和蚀刻工艺在栅绝缘膜66上形成包括数据线62、TFT的源极和漏极等的源/漏金属图案。
通过沉积透明导电金属的工艺、光刻工艺和蚀刻工艺在钝化膜67上形成像素电极63A和63B。通过TFT将来自数据线62的数据电压在TFT导通时的扫描周期施加给像素电极63A和63B。
在基板粘合/液晶注入工艺之前对下基板执行修复工艺。该修复工艺首先包括通过激光切割工艺断开TFT源极和数据线62之间的电流路径或者TFT的漏极和像素电极63A之间的电流路径从而阻断缺陷像素10的像素电极63A和数据线62之间的电流路径。随后,该修复工艺包括通过采用W-CVD工艺在像素电极63A和63B之间的钝化膜67上直接沉积钨W在缺陷像素10的像素电极63A和与其相邻并具有一样颜色的正常像素11的像素电极63B之间形成连接图案64的步骤。另一方面,连线断开工艺和W-CVD工艺可以互换。
图14A到14C示出根据本发明的IPS模式液晶显示器的修复工艺的另一实施例。在图14A到14C中,省略对于诸如数据线等的数据金属图案、TFT、用于与像素电极一起向液晶单元施加水平电场的公共电极等的描述。
参照图14A和14B,根据本发明的液晶显示器的栅线81包括颈部92、与该颈部92及与颈部92连接的头部93以及围绕颈部92和头部93呈‘C’形去除的孔径图案91,其中头部91的区域扩展。
通过栅金属沉积工艺、光刻工艺和蚀刻工艺在下基板85上形成包括栅线81、TFT的栅极(未示出)、公共电极等的栅金属图案。
通过沉积透明导电金属的工艺、光刻工艺和蚀刻工艺在钝化膜87上形成像素电极83A、83B。
在栅线81中,通过修复工艺中的激光切割工艺断开颈部92。头部93的一端与缺陷像素10的像素电极83A重叠,在二者之间设置有栅绝缘膜86和钝化膜87,头部93的另一端与临近缺陷像素10的正常像素11的像素电极83B重叠,在二者之间设置栅绝缘膜86和钝化膜87。
在基板粘合/液晶注入工艺前对下基板执行修复工艺或者在基板粘合/液晶注入工艺后对面板执行修复工艺。该修复工艺包括通过激光切割工艺断开TFT源极和数据线之间的电流路径或者TFT的漏极和像素电极83A之间的电流路径从而阻断缺陷像素的像素电极83A和数据线之间的电流路径的步骤和断开栅线的颈部的步骤。随后,该修复工艺包括通过采用激光焊接工艺在与头部93的两端相邻的像素电极83A和83B上照射激光束,如图14B所示。然后,通过激光融化像素电极83A和83B、钝化膜87和栅绝缘膜86,并因此,头部93变为与栅线81分离的独立图案,像素电极83A和83B与头部93连接。另一方面,连线断开工艺和激光焊接工艺的顺序可以互换。图14C示出了在激光焊接工艺前通过钝化膜87和栅绝缘膜86电隔离的像素电极43A、43B和头部93。
根据本发明所述的修复工艺在栅线81的构图工艺中提前去除颈部92以形成诸如图12A的虚拟图案44的独立图案,从而可能省略在修复工艺中切割颈部92的工艺。
另一方面,如前面实施方式所述,可以通过每个像素形成一个图12A的虚拟图案44或者图14A中的头部93、颈部92和孔径图案91,或者通过每个像素形成上述多个图案,从而降低连接像素的电接触特性,例如接触电阻。
参照图7A,在上述步骤S3或S4以后,本发明采用密封剂或者熔块玻璃(frit glass)将上/下基板粘合在一起(S5)。步骤S5包括定向膜形成/研磨工艺和基板粘合/液晶注入工艺。在定向膜形成/研磨工艺中,在显示面板的每个上和下基板的上方涂覆定向膜并且通过研磨布和类似装置研磨该定向膜。在基板粘合/液晶注入工艺中,采用密封剂将上基板和下基板粘合在一起,并且通过液晶注入孔注入液晶和衬垫料,然后密封该液晶注入孔。
随后,在基板粘合/液晶注入工艺后,通过向显示面板施加各灰度级的测试数据显示测试图像,并通过对该图像的电/磁检测和/或视频检测检查面板缺陷(S6)。这里,视频检测包括采用诸如摄像头等类似设备的光学设备执行检测。
如果在步骤S6检查到面板缺陷(S7为是),本发明在检测计算机中存储该面板缺陷的位置信息,并执行用于补偿面板缺陷的校正(S8)。步骤S8除了在上述修复工艺的实施方式中采用W-CVD工艺以外和上述步骤S4基本一样。
在步骤S7或者S8以后,在经历了基板粘合/液晶注入工艺后的显示面板上安装驱动电路,并且将安装有驱动电路的显示面板、背光等组件放入一壳体中以执行显示面板的模块组装工艺(S9)。在驱动电路的安装工艺中,其上安装有诸如栅驱动IC和数据驱动IC的多个IC的载带封装(以下称之为‘TCP’)的输出端子与基板上的焊盘部分连接,并且载带封装的输入端子与其上安装有时序控制器的印刷电路板(以下称之为‘PCB’)连接。在PCB上安装有其上存储有补偿数据的存储器和补偿电路,其中该补偿电路采用存储在存储器上的数据调整要施加给显示面板的数据并向驱动电路提供该调整后的数据。该存储器为数据可以更新以及擦除的非易失性存储器,诸如EEPROM(可擦除可编程只读存储器)。另一方面,通过将补偿电路与时序控制器制造成一个芯片而将该补偿电路嵌在时序控制器中。并且,还可以通过COG(玻上芯片)的方法替代采用载带封装的TAB(自动载带焊)的方法直接在基板上安装驱动IC。
随后,通过向显示面板施加各灰度级的测试数据显示测试图像,并通过对该图像的电/磁检测和/或视频检测检查面板缺陷(S10)。这里,视频检测包括采用诸如摄像头等类似设备的光学设备执行检测。
如果在步骤S10中检查到面板缺陷(S11为是),则在检测计算机中存储该面板缺陷的位置信息,并执行用于补偿面板缺陷的校正(S12)。步骤S12除了在上述修复工艺的实施方式中采用W-CVD工艺以外和上述步骤S4基本一样。
在步骤S 11或者S 12以后,在EEPROM上存储通过上述检测和校正步骤确定的面板缺陷的位置数据和补偿数据(S13)。检测计算机采用ROM记录器将位置数据和补偿数据提供给EEPROM。ROM记录器可以通过用户连接器将位置数据和补偿数据传送给EEPROM。通过用户连接器以串行方式发送补偿数据,并且通过用户连接器向EEPROM发送串行时钟、电源、接地源等。
另一方面,其上存储有位置数据和补偿数据以调整面板缺陷区域的数据的存储器可以是替代EEPROM的EDID ROM(扩展显示识别ROM)。EDID ROM存储诸如卖家/买家识别信息、基本显示器件的变量和特性等的的监控信息数据。并且,EDID ROM在与存储监控信息数据的存储空间分离的存储空间存储位置数据和补偿数据。在EDID ROM代替EEPROM存储补偿数据的情况,ROM记录器通过DDC(数据显示通道)发送补偿数据。因此,如果采用EDIDROM则可以去除EEPROM和用户连接器,因此有利于明显降低附加开发成本。以下,假设存储位置数据和补偿数据的存储器为EEPROM。当然,可以通过EDID ROM和DDC替代EEPROM和用户连接器。用于存储位置数据和补偿数据的存储器可以是其它类型的可更新和擦除的非易失性存储器以及EEPROM和EDID ROM。
在步骤S13后,采用存储在EEPROM中的第一到第五补偿数据调整所述测试数据,并且通过向显示面板提供调整后的测试数据由电/磁检测和/或视频检测检查面板缺陷(S14)。这里,视频检测包括采用诸如摄像头等类似设备的光学设备执行检测。
在检测到面板缺陷超出良好产品参考容限作为步骤S14的检测结果的情况(S15为是),执行校正步骤(S16)。步骤16的校正对象包括在上述检测中没有发现的面板缺陷,以及由于在上述校正步骤中计算的补偿值非最优值而没有恢复的缺陷。例如,在没有优化补偿数据的情况,重新计算补偿数据以更新存储在EEPROM中的补偿数据。并且,在新检测到缺陷像素的情况,对此执行修复工艺以形成连接像素,并且对于该情况计算要存储在EEPROM上的补偿数据。此时,在修复工艺中不包括W-CVD工艺。
另一方面,由于来自背光的光以不均匀的方式入射在液晶显示面板的整个表面上导在显示屏上出现亮线的情况,并且即使在由背光引起的亮线情况下以针对上述面板缺陷一样的方式通过调整补偿数据解决该问题。
在步骤S14的检查结果中没发现图像质量缺陷的情况(S15为否),即如果发现图像质量缺陷程度不高于良好产品容限参考值,则判断该液晶显示器为可出货的好产品(S17)。
对于诸如简化制造工艺等的合理工艺,上述检测步骤和校正步骤可以具有简化的工艺或者省略指定的步骤。
以下,参照图15到19E,详细说明确定补偿数据的方法。
根据本发明第一实施方式的补偿数据确定方法如下。首先,第一和第二补偿数据为用于当面板缺陷区域和非缺陷区域的亮度差d在A×ΔL(A为正整数)和(A+1)×ΔL之间时补偿要显示在缺陷区域的数据,并且确定补偿值为±A×ΔL。同时,在面板缺陷区域和非缺陷区域的边界部分将第三补偿数据确定为0,对于与边界部分相邻的像素和位于偶数行的像素按每隔一个像素确定第四补偿数据的补偿值为±K×ΔL(K为不大于A的正整数),所述位于偶数行的像素包括在面板缺陷区域中的那些像素。向处于与边界相邻的缺陷区域的第一像素到距离边界线最大为边界线和面板缺陷区域的一端之间距离的1/2处的像素的范围中的像素施加第四补偿数据。另一方面,‘+’表示亮度增加,而‘-’表示亮度降低。
例如,如图15所示,假设面板缺陷区域的亮度比非缺陷区域的亮度低‘d’,并且‘d’位于3ΔL和4ΔL之间,确定根据本发明第一实施方式确定补偿值的方法如下。
参照图16A,在面板缺陷区域确定第一补偿数据311a为3ΔL,并在面板缺陷区域和非缺陷区域将第三补偿数据312a确定为0。将用于边界部分的奇数行和面板缺陷区域的奇数行的补偿数据的补偿值确定为第一补偿数据311a和第三补偿数据312a的和313a。
参照图16B,以与第一补偿数据相同的方式,在面板缺陷区域确定为第二补偿数据311b为3ΔL。在非缺陷区域将第四补偿数据确定为0和对于面板缺陷区域中邻近边界线的像素第四补偿数据确定为+k×ΔL,例如,+ΔL。针对包括邻近边界线的像素和离边界线最大为边界线和面板缺陷区域的一端之间的距离的1/2的那些像素以每隔一像素为单位确定第四补偿数据312b。将用于边界部分的偶数行和面板缺陷区域的偶数行的补偿数据的补偿值确定为第二补偿数据311b和第四补偿数据312b的和313b。
当在面板缺陷区域和边界部分通过以这种方式确定的第一到第四补偿数据调整数字视频数据时,在图16C中示出边界部分和面板缺陷区域的亮度补偿结果。在面板缺陷区域和非缺陷区域中,如果在相邻奇数线和偶数线测量的亮度如300a和300b,将以和图16A一样的方式确定的奇数行的补偿数据313a加到数字视频数据以补偿奇数行的亮度,如314a。并且,将以和图16B一样的方式确定的偶数行的补偿数据313b加到数字视频数据以补偿偶数行的亮度314b。因此,相邻两条行的平均亮度如315所示。
图16D到16F示出将补偿数据与在边界部分和面板缺陷区域设置的像素的每个位置相对应的具体实施例。
在图16D到16F中排列的方形空间表示显示面板上的像素,并且这里所述的‘A’、‘+’和‘ΔL’和上面定义所述。
参照图16D,在面板缺陷区域确定第一补偿数据311a为补偿值‘+A×3ΔL’。这里,在面板缺陷区域和非缺陷区域之间的亮度差为图15所示的情况时,A为3。并且,在边界部分和面板缺陷区域确定第三补偿数据312a为补偿值0。313a为第一补偿数据311a和第三补偿数据312a的和,并且是对于边界部分的奇数行和面板缺陷区域的奇数行的补偿数据的最终补偿值。
参照图16E,在面板缺陷区域以和所述第一补偿数据311a一样的方式确定第二补偿数据311b的补偿值为‘+A×ΔL’。第四补偿数据在非缺陷区域的补偿值确定为0,第四补偿数据在与边界线相邻的像素区域,例如边界部分的像素的补偿值确定为‘ΔL’。313b为第二补偿数据311b和第四补偿数据312b的和,并且是对于边界部分的偶数行和面板缺陷区域的偶数行的补偿数据的最终补偿值。
将在边界部分和面板缺陷区域确定的奇数行和偶数行的最终补偿值313a和313b应用给补偿数据,并且该补偿数据映射到如图16F所示的每个像素。
根据本发明第二实施方式的补偿数据确定方法如下。首先,在显示面板中测量到的面板缺陷区域和非缺陷区域的亮度差d在A×ΔL(A为正整数)和(A+1)×ΔL之间时,第一和第二补偿数据用于补偿要显示在面板缺陷区域的数据,并且确定补偿值为±A×ΔL。对于包括与边界线相邻的面板缺陷区域的部分像素和与非缺陷区域相邻的部分像素的像素,每隔一个像素确定要施加给边界部分的奇数行的数据的第三补偿数据为补偿值±K×ΔL。对于包括与边界线相邻的面板缺陷区域的部分像素和与非缺陷区域相邻的部分像素的像素,每隔一个像素确定要施加给边界部分的偶数行的数据的第四补偿数据为补偿值±K×ΔL。对于在奇数行用±K×ΔL补偿的像素和在与奇数行相邻的偶数行用±K×ΔL补偿的像素以交替方式排列第三补偿数据和第四补偿数据。也就是说,当第三和第四补偿数据被映射到所述像素时,第三补偿数据和第四补偿数据以检查图案(check pattem)排列。在从与非缺陷区域和面板缺陷区域的边界线相邻的一个像素到与该边界线相距最大为在边界线和面板缺陷区域的端部之间距离的1/2处的像素范围的像素应用第三补偿数据和第四补偿数据。
例如,如图15所示,假设面板缺陷区域的亮度比非缺陷区域的亮度低‘d’,并且‘d’位于3ΔL和4ΔL之间,确定根据本发明第二实施方式所述的补偿值的方法如下。
参照图17A,在面板缺陷区域确定第一补偿数据321a为+3ΔL的补偿值,并对于位于和面板缺陷区域和非缺陷区域的边界线相邻的非缺陷区域的像素以及在面板缺陷区域中与上述像素相距一个像素且其间具有边界线的像素确定第三补偿数据322a为补偿值ΔL。在从与边界线相邻的像素到与边界线相距离最大为边界线和面板缺陷区域的端部之间距离的1/2处的像素范围内每隔一个像素应用第三补偿数据。将边界部分的奇数行和面板缺陷区域的奇数行的补偿数据的补偿值确定为第一补偿数据321a和第三补偿数据322a的和323a。
参照图17B,在面板缺陷区域确定第二补偿数据321b为补偿值+3ΔL,对和面板缺陷区域和非缺陷区域的边界线相邻的面板缺陷区域的像素以及非缺陷区域中与上述像素相距一个像素且其间具有边界线的像素,确定第四补偿数据322b为补偿值+ΔL。在从与边界线相邻的像素到与该边界线相距最大为边界线和面板缺陷区域的端部之间距离的1/2处的像素范围内每隔一个像素应用第四补偿数据。将边界部分的偶数行和面板缺陷区域的偶数行的补偿数据的补偿值确定为第二补偿数据321b和第四补偿数据322b的和323b。
当在面板缺陷区域和边界部分通过以这种方式确定的第一到第四补偿数据调整数字视频数据时,在图17C中示出边界部分和面板缺陷部分的亮度补偿结果。在面板缺陷区域的非缺陷区域中,如果在相邻奇数行和偶数行测量的亮度为300a和300b,将以和图17A一样的方式确定的奇数行的补偿数据323a加到数字视频数据以补偿奇数行的亮度如324a。并且,将以和图17B一样的方式确定的偶数行的补偿数据323b加到数字视频数据以补偿偶数线的亮度如324b。因此,两行的平均亮度如325所示。
图17D到17F示出确定补偿数据以与在边界部分和面板缺陷区域设置的像素的每个位置相对应的具体实施例。
参照图17D,在面板缺陷区域确定第一补偿数据321a为补偿值‘+A×ΔL’。这里,在面板缺陷区域和非缺陷区域之间的亮度差为图15所示的情况时,A为3。并且,对于与边界线相邻的非缺陷区域的像素以及面板缺陷区域中与上述像素相距一个像素且其间具有边界线的像素确定第三补偿数据322a为补偿值ΔL。323a代表对于非缺陷区域的奇数行和面板缺陷区域的奇数行的补偿数据的补偿值,其可以通过对第一补偿数据321a和第三补偿数据322a求和得到。
参照图17E,确定非缺陷区域的第二补偿数据321b为‘0’,而以和所述第一补偿数据321a在面板缺陷区域一样的方式确定面板缺陷区域的第二补偿数据321b为‘+A×ΔL’。并且对于面板缺陷区域中与边界线相邻的像素以及非缺陷区域中与上述像素相距一个像素且其间具有边界线的像素确定第四补偿数据为‘ΔL’。323b为代表非缺陷区域的偶数行和面板缺陷区域的偶数行的补偿数据的补偿值,其可以通过对第二补偿数据321b和第四补偿数据322b求和得到。
将诸如323b和323b的补偿数据应用到非缺陷区域和面板缺陷区域的奇数行和偶数行的结果如图17F所示。
在根据本发明第三实施方式的补偿数据确定方法中。当面板缺陷区域和非缺陷区域的亮度差d在A×ΔL和(A+1)×ΔL之间时,将第一补偿数据确定为在面板缺陷区域补偿值为+A×ΔL,并将第二补偿数据确定为在面板缺陷区域补偿值为+(A+1)×ΔL。并且,在面板缺陷区域,对于与边界相邻的像素确定第三补偿数据为补偿值-K×ΔL,并且对于远离上述像素并且彼此间隔一个像素的每个像素确定其补偿值增加ΔL。并且,在非缺陷区域,对于离面板缺陷区域中与边界相邻的像素一个像素且其间具有边界线的像素确定第三补偿数据为补偿值+K×ΔL,并且对于远离上述像素且彼此间隔一个像素的每个像素确定其补偿值减少ΔL。同时,在非缺陷区域,对于与边界相邻的像素确定第四补偿数据为补偿值+K×ΔL,并且在非缺陷区域对于远离上述像素且间隔一个像素的每个像素确定其补偿值减少ΔL。在面板缺陷区域,对于与面板缺陷区域的边界相距一个像素的像素确定第四补偿数据为补偿值-K×ΔL,并且对于远离上述像素且间隔一个像素的每个像素确定其补偿增加ΔL。此时,在从与边界线相邻的一个像素到距离边界线为面板缺陷区域的两端之间距离的1/2处的像素范围内,确定其第三和第四补偿数据的补偿值。另一方面,K可以是(1/2)A。相反,可以将第三和第四补偿数据确定为在面板缺陷区域从+K×ΔL降低并且在非缺陷区域从-K×ΔL增加的补偿值。
例如,如图9A所示,面板缺陷区域的亮度比非缺陷区域的亮度低‘d’,并且‘d’位于3ΔL和4ΔL之间,确定根据本发明第三实施方式所述的补偿值的方法如下。
参照图18A,在面板缺陷区域确定第一补偿数据331a为补偿值+3ΔL,并在面板缺陷区域对于和边界线相邻的像素确定第三补偿数据332a为补偿值-2ΔL以及对于远离上述像素且间隔一个像素的各像素确定其补偿值增加ΔL。并且,在非缺陷区域,对于离面板缺陷区域中邻近边界的像素一个像素且其间具有边界线的像素确定第三补偿数据为补偿值+2ΔL,并且对于远离上述像素且间隔一个像素的每个像素确定第三补偿数据的补偿值减少ΔL。对于包括上述像素以及与边界相距最大为面板缺陷区域两端之间距离一半的像素,每隔一个像素确定第三补偿数据332a。第一补偿数据331a和第三补偿数据332a的补偿位置重叠从而使得由333a表示非缺陷区域的奇数行和面板缺陷区域的奇数行的补偿数据,该33a通过第一补偿数据331a和第三补偿数据332a求和计算。
参照图18B,在面板缺陷区域确定第二补偿数据331b为补偿值+4ΔL,其不同于第一补偿数据331a。在非缺陷区域,对和边界线相邻的像素确定第四补偿数据332b为补偿值+2ΔL,并且对于远离上述像素且间隔一个像素的每个像素确定第四补偿数据的补偿值降低ΔL。并且,在面板缺陷区域,对于离与非缺陷区域与边界相邻的像素一个像素且其间具有边界线的像素确定第四补偿数据332b为补偿值-2ΔL,并且对于远离上述像素且彼此间隔一个像素的每个像素确定补偿值增加ΔL。对于包括上述像素并且与边界相距最大为面板缺陷区域两端之间距离一半的像素,每隔一个像素确定第四补偿数据332b。第二补偿数据331b和第四补偿数据332b重叠从而使得由333b表示非缺陷区域的偶数行和面板缺陷区域的偶数行的补偿数据,该数据333b通过第二补偿数据331b和第四补偿数据332b求和计算。
在图18C中示出边界部分和面板缺陷部分的亮度补偿结果,该结果可以通过以类似方式确定的第一到第四补偿数据预测。也就是说,在面板缺陷区域和非缺陷区域中,如果在相邻奇数行和偶数行测量到的亮度为300a和300b,如果采用计算的补偿数据如333a补偿后奇数行的亮度如334a并采用计算的补偿数据如333b补偿偶数行后的亮度如334b,则相邻两行的平均亮度如335所示。
图18D到18F示出确定补偿数据以与在边界部分和面板缺陷区域设置的像素的每个位置相对应的具体实施例。
参照图18D,在面板缺陷区域确定第一补偿数据331a为补偿值‘+A×ΔL’。这里,在面板缺陷区域和非缺陷区域之间的亮度差为图9所示的情况时,A为3。并且,在面板缺陷区域,对于与边界线相邻的像素确定第三补偿数据332a为补偿值‘-(1/2)A×ΔL’,并且对于远离上述像素且彼此间隔一个像素的每个像素确定第三补偿数据的补偿值增加ΔL。在非缺陷区域,对于离面板缺陷区域中与边界相邻的像素一个像素且其间具有边界线的像素确定第三补偿数据332a为补偿值‘+(1/2)A×ΔL’,并且对于远离上述像素且彼此间隔一个像素的每个像素确定第三补偿数据的补偿值减少ΔL。对于包括上述像素的像素以及与边界相距最大为面板缺陷区域两端之间距离一半的像素,每隔一个像素确定第三补偿数据332a。333a表示非缺陷区域的奇数行和面板缺陷区域的奇数行的补偿数据,该数据333a通过第一补偿数据331a和第三补偿数据332a求和计算。
参照图18E,在面板缺陷区域确定第二补偿数据331b为补偿值‘+(A+1)×ΔL’,其不同于第一补偿数据331a。并且在非缺陷区域,对和边界线相邻的像素确定第四补偿数据332b为补偿值‘+(1/2)A×ΔL’,并且对于远离上述像素且彼此间隔一个像素的每个像素确定第四补偿数据的补偿值降低ΔL。并且,在面板缺陷区域,对于离非缺陷区域中与边界相邻的像素一个像素且其间具有边界的像素确定第四补偿数据332b为补偿值‘-(1/2)A×ΔL’,并且对于远离上述像素且彼此间隔一个像素的每个像素确定第四补偿数据的补偿值增加ΔL。对于包括上述像素且与边界相距最大为面板缺陷区域两端之间距离一半的像素,每隔一个像素确定第四补偿数据332b。333b表示非缺陷区域的偶数行和面板缺陷区域的偶数行的补偿数据,该数据333b通过第二补偿数据331b和第四补偿数据332b求和计算。
将诸如333a和333a的补偿数据应用到非缺陷区域和面板缺陷区域的奇数行和偶数行的结果如图18F所示。
图19A到19E表示根据本发明的第三实施方式对于确定补偿数据方法采用任意数值的实施例。
例如,如图19A所示,如果当非缺陷区域的亮度为120时面板缺陷区域的亮度为116.5,即如果非缺陷区域的面板缺陷区域之间的亮度差为3.5并且ΔL值为1时,在非缺陷区域将第一补偿数据331a确定为补偿值‘0’,并在面板缺陷区域将第一补偿数据331a确定为补偿值‘+3’,如图19B所示。并且在面板缺陷区域,对于与边界相邻的像素确定第三补偿数据为-2,并远离上述像素且彼此间隔一个像素的每个像素确定第三补偿数据的补偿值增加1。在非缺陷区域,对于离面板缺陷区域中与边界相邻的像素一个像素且其间具有边界线的像素确定第三补偿数据332a为+2,并且对于远离上述像素且彼此间隔一个像素的每个像素确定第三补偿数据的补偿值减少1。333a表示非缺陷区域的奇数行和面板缺陷区域的奇数行的补偿数据,该数据333a通过第一补偿数据331a和第三补偿数据332a求和计算。
参照图19C,在非缺陷区域以和所述第一补偿数据一样的方式确定第二补偿数据331b为补偿值‘0’,在面板缺陷区域确定第二补偿数据331b为补偿值‘+4’。并且,在非缺陷区域,对与边界线相邻的像素区域确定其第四补偿数据为补偿值+2×ΔL,并对于远离上述像素且彼此间隔一个像素的每个像素确定第四补偿数据的补偿值减少1。同时,在面板缺陷区域,对于与面板缺陷区域的边界相邻的像素分离设置的像素确定第四补偿数据332b为-2,并且对于与上述像素间隔一个像素的像素确定其补偿增加1。对于包括上述像素的像素以及最大与边界相距面板缺陷区域两端之间距离一半的像素,每隔一个像素确定第四补偿数据332b。333b表示非缺陷区域的偶数行和面板缺陷区域的偶数行的补偿数据,该数据333b通过第二补偿数据331b和第四补偿数据332b求和计算。
将诸如333a和333b的补偿数据施加给非缺陷区域的奇数行和偶数行以及缺陷区域的奇数行和偶数行的结果如图19D所示,在图19E中示出通过以此方式确定的第一到第四补偿数据预测到的边界部分和面板缺陷部分的亮度补偿结果。
并且,本发明的补偿数据确定方法对于所述连接像素将第五补偿数据确定为补偿值±K×ΔL。在连接像素的位置与上述边界部分或者面板缺陷区域的位置重叠的情况,以和上述第一和第三补偿数据或者第二和第四补偿数据一样的方式,将该补偿数据与重叠位置的其他补偿数据求和。
另一方面,在上述实施方式中,集中于通过顺序经历上述步骤的方式计算补偿数据进行描述,但是,为了诸如简化制造工艺等合理化工艺,通过在实际大批量生产工艺中重复实验将对应于边界噪声和缺陷的各种图案的多个标准补偿数据的图案放入数据库,因此在经过简单检查工艺后可以通过在标准图案中选择对应于边界区域和缺陷区域的亮度差类型的优化补偿数据图案同时计算优化补偿数据。
以下,将描述根据本发明实施方式的图像质量控制方法。
根据本发明实施方式的图像质量控制方法包括采用在通过上述步骤计算后存储在存储器上的补偿数据调整要显示在面板缺陷区域、边界部分和连接像素的数据的补偿步骤。
根据本发明第一实施方式的补偿步骤通过补偿数据增加或者减小要提供给面板缺陷区域、边界部分和连接像素的数据。例如,在用于用于面板缺陷区域、边界部分和连接像素的每个位置和每个灰度级的电荷特性补偿数据如表1所示方式确定的情况,例如,根据本发明第一实施方式的补偿步骤,如果提供给‘位置1’的数据为对应于‘灰度级段2’的‘01000000(64)’,则通过将‘00000110(6)’加到‘01000000(64)’调整要施加给‘位置1’的数据为‘01000110(70)’,并且如果提供给‘位置2’的数据为对应于‘灰度级段3’的‘10000000(128)’,则通过将‘00000110(6)’加到‘10000000(128)’调整要施加给‘位置2’的数据为‘10000110(134)’。
[表1]
类别 | 灰度级区域 | 位置1 | 位置2 |
灰度级段1 | 00000000(0)~00110010(50) | 00000100(4) | 00000010(2) |
灰度级段2 | 00110011(51)~01110000(112) | 00000110(6) | 00000100(4) |
灰度级段3 | 01110001(113)~10111110(190) | 00001000(8) | 00000110(6) |
根据本发明第二实施方式的补偿步骤将要显示在面板缺陷区域、边界部分和连接像素中的包括红R、绿G和蓝B信息的m/m/m位R/G/B数据转换为包括亮度Y和色差U/V信息的n/n/n位(这里,n是大于m的正整数)的Y/U/V数据;通过提高或者降低所述Y数据用所述补偿数据调整转换后的n/n/n位Y/U/V数据中要显示在面板缺陷区域和边界部分的Y数据;然后将n/n/n位Y/U/V数据转换回包括红R、绿G和蓝B信息的m/m/m位R/G/B数据。例如,将8/8/8位R/G/B数据转换为10/10/10位Y/U/V数据;在将R/G/B数据转换为Y/U/V数据时将补偿数据加和到Y数据的扩展位或者从Y数据的扩展位中减去补偿数据;然后将具有增加或者减小后的Y数据的10/10/10位Y/U/V数据转换回8/8/8位R/G/B数据。
例如,在用于面板缺陷区域、边界部分和连接像素的每个位置和每个灰度级的补偿数据如表2所示方式确定的情况,将要提供给‘位置1’的8/8/8位R/G/B数据转换为10/10/10位Y/U/V数据;如果转换后Y数据的前8位为对应于‘灰度级段2’的‘01000000(64)’,则通过将‘10(2)’加和到Y数据的后2位调整Y数据;并且将包括调整后Y数据的Y/U/V数据转换回8/8/8位R/G/B数据,从而调整该数据。并且,将要提供给‘位置4’的8/8/8位R/G/B数据转换为10/10/10位Y/U/V数据;如果转换后Y数据的前8位为对应于‘灰度级段3’的‘10000000(128)’,则通过将‘11(3)’加和到Y数据的后2位调整Y数据;并且将包括调整后Y数据的Y/U/V数据转换回8/8/8位R/G/B数据,从而调整该数据。另一方面,在后续对于根据本发明实施方式所述的液晶显示器图像质量控制方法的说明中将详细描述R/G/B数据和Y/U/V数据的转换。
[表2]
类别 | 灰度级区域 | 位置1 | 位置2 | 位置3 | 位置4 |
灰度级段1 | 00000000(0)~00110010(50) | 01(1) | 00(0) | 01(1) | 01(1) |
灰度级段2 | 00110011(51)~01110000(112) | 10(2) | 00(0) | 01(1) | 10(2) |
灰度级段3 | 01110001(113)~10111110(190) | 11(3) | 01(1) | 10(2) | 11(3) |
灰度级段4 | 10111111(191)~11111010(250) | 00(0) | 01(1) | 10(2) | 11(3) |
如上所述,根据本发明第二实施方式所述的补偿步骤通过注意到肉眼对于亮度差比色调差更加敏感,因此将要显示在面板缺陷区域、边界部分和连接像素的视频数据转换为亮度分量和色调分量;扩展其中包括亮度信息的Y数据的位数;并调整面板缺陷区域、边界部分和连接像素的亮度,从而这样的优点在于能够更加详细地调整亮度。
根据本发明第三实施方式所述的补偿步骤采用帧频控制FRC方法将补偿数据分散到多个帧上,并且通过分散到多个帧上的所述补偿数据提高或者降低要显示在面板缺陷区域、边界部分和连接像素上的视频数据。这里,所述帧频控制为采用视觉的积分效应(integration effect)的图像控制方法,并且是一种图像质量控制方法,在其中时间方式地排列表示不同色调或者灰度级的像素从而形成表示所述色调和灰度级的图像。并且,像素的时间方式地排列采用帧周期作为单位。该帧周期也被称为一个屏幕的场周期并且是在将数据应用到一个屏幕上所有像素时的一个屏幕显示周期,并且在NTSC系统中标准化帧周期为1/60秒,而在PAL系统中为1/50秒。
根据本发明第四实施方式所述的补偿步骤采用抖动方法(dithering method)将补偿数据分散到多个相邻像素中,并且采用分散到多个像素上的所述补偿数据提高或者降低要提供给面板缺陷区域、边界部分和连接像素上的数据。这里,所述抖动方法为采用视觉的积分效应的图像控制方法,并且是一种图像质量控制方法,在其中以空间方式排列表示不同色调或者灰度级的像素从而形成表示所述色调和灰度级的图像。
根据本发明第五实施方式所述的补偿步骤采用帧频控制方法将补偿数据分散到多个帧中;采用抖动方法将补偿数据分散到多个相邻像素中,并且采用分散到帧和像素上的所述补偿数据提高或者降低要提供给面板缺陷区域、边界部分和连接像素上的数据。
以下将参照图20到23描述帧频控制方法和抖动方法。
在由只能显示0灰度级和1灰度级的像素构成的屏幕中要显示诸如1/4灰度级、1/2灰度级、3/4灰度级等中间灰度级的情况;在帧频控制方法中,如图20中(a)所示,如果在四个帧周期的一个帧周期内将‘1’加和到对应于任意一个像素的数值数据上,其中上述四个帧周期以连续方式构成一个帧组,在该像素中观察人员可感觉到+1/4灰度级的数字数据。如图20中(b)所示,如果在四个帧周期的两个帧周期内将‘1’加和到对应于任意一个像素的数字数据上,则在该像素中观察人员可感觉到+1/2灰度级的数字数据。如图20中(c)所示,如果在四个帧周期的三个帧周期内将‘1’加和到对应于任意一个像素的数字数据上,则在该像素中观察人员可感觉到+3/4灰度级的数字数据。
在所述抖动方法中,如图21中(a)所示,如果在具有2×2像素结构(即采用四个像素作为一个像素组)的抖动图案Pw中向对应于四个像素中的一个像素的数字数据加和‘1’,则观察人员可从该抖动图案Pw中感觉到+1/4灰度级的数字数据。如图21中(b)所示,如果在抖动图案Pw中向对应于四个像素中的两个像素的数字数据加和‘1’,则观察人员可从该抖动图案Pw中感觉到+1/2灰度级的数字数据。如图21中(c)所示,如果在抖动图案Pw中向对应于四个像素中的三个像素的数字数据加和‘1’,则观察人员可从该抖动图案Pw中感觉到+3/4灰度级的数字数据。
作为一起采用帧频控制方法和抖动方法的方法,图22示出同时应用采用2×2像素结构作为一个像素组的抖动图案和对于所述抖动图案采用四个帧周期作为一个单元的帧频控制所显示的中间灰度级。如图22中(a)所示,如果2×2抖动图案Pw和采用四个帧周期作为一个单元的帧频控制如本文所述,则在四个帧周期通过2×2抖动图案显示的灰度级为1/4灰度级,因此观察人员可在四个帧周期内从2×2抖动图案中感觉到1/4灰度级。如图22中(b)所示,在四个帧周期通过2×2抖动图案显示的灰度级为1/2灰度级,因此观察人员可在四个帧周期内从2×2抖动图案中感觉到1/2灰度级。如图22中(c)所示,在四个帧周期通过2×2抖动图案显示的灰度级为3/4灰度级,因此观察人员可在四个帧周期内从2×2抖动图案中感觉到3/4灰度级。
一起采用帧频控制方法和抖动方法的图像质量控制方法的优势在于可以解决在抖动时出现的分辨率降低和在帧频控制时出现的闪烁问题。
可以通过各种方式调整在帧频控制中构成帧组的帧数或者抖动图案的尺寸以及在抖动图案内所述补偿像素的数量和位置。图23为描述对采用8帧为一个单位的8(像素)×8(像素)的抖动图案执行帧频控制的方法的示例性示图。
例如,在用于面板缺陷区域、边界部分和连接像素的每个位置和每个灰度级的补偿数据确定为如表3所示的情况下,如果要提供给‘位置1’的数字视频数据为对应于‘灰度级段2’的‘01000000(64)’,则通过采用补偿数据‘11(3)’,对图23中(d)所示的图案执行帧频控制和抖动处理调整要提供给‘位置1’的数字视频数据;并且如果要提供给‘位置4’的数字视频数据为对应于‘灰度级段3’的‘10000000(128)’,则通过采用补偿数据‘110(6)’对图23中(g)所示的图案执行帧频控制和抖动处理调整要提供给‘位置4’的数字视频数据。
[表3]
类别 | 灰度级区域 | 位置1 | 位置2 | 位置3 | 位置4 |
灰度级段1 | 00000000(0)~00110010(50) | 010(2) | 011(3) | 010(2) | 100(4) |
灰度级段2 | 00110011(51)~01110000(112) | 011(3) | 100(4) | 010(2) | 101(5) |
灰度级段3 | 01110001(113)~10111110(190) | 100(4) | 101(5) | 011(3) | 110(6) |
灰度级段4 | 10111111(191)~11111010(250) | 101(5) | 110(6) | 011(3) | 111(7) |
图24A到26D示出采用抖动图案的帧频控制方法的实施例。
图24A到24C示出具有补偿值1/8、2/8、3/8、4/8、5/8、6/8、7/8和1的采用8(像素)×32(像素)的抖动图案执行帧频控制的方法,这些补偿数据可以加和到输入数字视频数据中或者从输入数字视频数据中减去。在每个抖动图案中的黑色表示要加上“1”或者减去‘1’的像素,并且灰色表示要加上或者减去‘0’的像素。在该实施例中,通过许多实验确定8×32抖动图案的尺寸,并且在该尺寸的抖动图案中,即使重复同一图案,观察者也几乎不能察觉到重复循环并且在表达彼此不同补偿值的抖动图案之间不会出现边界。因此,本发明的抖动图案可以应用到表达每个补偿值以及尺寸大于8×32的抖动图案上,例如,16×32、24×32、32×32、16×40和16×44的抖动图案。
每个抖动图案包括其补偿值与其自身补偿值一样并且以不同方式确定像素位置的4个子抖动图案,其中补偿值彼此相加或者从彼此中减掉。图25A到25D示出每个抖动图案包括4个子抖动图案的实施例。例如,补偿值1/8的抖动图案包括如图25A所示的补偿值1/8的第一子抖动图案;如图25B所示的补偿值1/8的第二子抖动图案;如图25C所示的补偿值1/8的第三子抖动图案;如图25D所示的补偿值1/8的第四子抖动图案。
假设‘x’为从左到右增加1的水平方向,‘y’是从上到下增加1的垂直方向,并且‘P[x,y]’是施加补偿值的像素;如图25A所示,在第一子抖动图案中加和或者减去补偿值‘1’的像素为P[1,1]、P[1,5]、P[2,2]、P[2,6]、P[5,3]、P[5,7]、P[6,4]和P[6,8]。如图25B所示,在第二子抖动图案中加和或者减去补偿值‘1’的像素为P[3,3]、P[3,7]、P[4,4]、P[4,8]、P[7,1]、P[7,5]、P[8,2]和P[8,6]。如图25C所示,在第三子抖动图案中加和或者减去补偿值‘1’的像素为P[1,3]、P[1,7]、P[2,4]、P[2,8]、P[5,1]、P[5,5]、P[6,2]和P[6,6]。并且,如图25D所示,在第四子抖动图案中加和或者减去补偿值‘1’的像素为P[3,1]、P[3,5]、P[4,2]、P[4,6]、P[7,3]、P[7,7]、P[8,4]和P[8,8]。
在第一帧周期,补偿值1/8的抖动图案具有从上到下排列的第一子抖动图案、第二子抖动图案、第三子抖动图案和第四子抖动图案;并且在每个子抖动图案中左右或者上下改变要加上或者减去补偿值的像素的位置使得在左、右、上和下位于以不同方式重复要加上或者减去补偿值的像素的图案。如图24A和图25A到25D所示,在每个帧周期执行不同的子抖动图案排列。也就是说,在第二帧周期,补偿值1/8的抖动图案具有从上到下排列的第二子抖动图案、第三子抖动图案、第四子抖动图案和第一子抖动图案;并且在每个子抖动图案中从左到右或者从上到下改变要加上或者减去补偿值的像素的位置。在第三帧周期,补偿值1/8的抖动图案具有上到下排列的第三子抖动图案、第四子抖动图案、第一子抖动图案和第二子抖动图案;并且在每个子抖动图案中从左到右或者从上到下改变要加上或者减去补偿值的像素的位置。在第四帧周期,补偿值1/8的抖动图案具有上到下排列的第四子抖动图案、第一子抖动图案、第二子抖动图案和第三子抖动图案;并且在每个子抖动图案中从左到右或者从上到下改变要加上或者减去补偿值的像素的位置。在第五到第六帧周期,以和第一到第四帧周期一样的方式重复补偿值1/8的抖动图案。
如图24A到24C和图25A到25D所示,当假设所述补偿值为‘I’并且子抖动图案的数量为‘J’时,通过和补偿值1/8的抖动图案一样的方式,2/8的抖动图案、3/8的抖动图案、4/8的抖动图案、5/8的抖动图案、6/8的抖动图案和7/8的抖动图案包括补偿值为I(I为正实数)的J(J为正整数)个子抖动图案,并且要加上或者减去补偿值的像素的图案彼此不同。该抖动图案具有在J个帧的各帧中以不同方式排列的子抖动图案,并且具有同样补偿值的抖动图案每J+1个帧周期出现一次。
图26A到26D为通过和图24A到24D一样条件设计的抖动图案的其他实施例。
如上所述,根据本发明所述的补偿步骤的第三到第五实施方式通过诸如帧频控制和/或可以细分表示色调或者灰度级的抖动处理补偿所述边界部分和面板缺陷区域的亮度,从而其优势在于可以实现自然而且优良的图像质量,其中显示器的屏幕可以根据该显示器的处理性能表示色调和灰度级。
以下,将对于用于实现本发明图像质量控制方法的液晶显示器进行说明。图27为表示根据本发明的液晶显示器的方框图。如图27所示,本发明的液晶显示器包括接收数据、调整数据并向驱动液晶显示面板103的驱动器提供数据的补偿电路105。
参照图27,根据本发明实施方式所述的液晶显示器包括具有数据线106和与数据线106交叉的栅线108和形成在数据线和栅线的各交叉部分以驱动液晶显示单元Clc的薄膜晶体管的显示面板;调整要施加给显示面板103的面板缺陷位置的输入数据Ri、Gi和Bi以产生校正数据Rc/Gc/Bc的补偿电路105;用于向数据线106提供校正数据Rc/Gc/Bc的数据驱动电路101;用于向栅线108施加扫描信号的栅驱动电路102以及用于控制驱动电路101和102的时序控制器104。
显示面板103包括两个基板以及夹入在两个基板之间的液晶分子,即TFT基板和滤色片基板。在TFT基板上形成的数据线106和栅线108彼此呈直角。形成在数据线和栅线的各交叉部分的TFT响应于来自栅线108的扫描信号从数据线106向液晶显示单元Clc的像素电极施加数据电压。在滤色片基板上形成黑矩阵、滤色片和公共电极(未示出)。另一方面,根据电场施加方法形成在滤色片基板上的公共电极也可以形成在TFT基板上。具有相对于彼此垂直的偏振轴的偏振片分别粘结到TFT基板和滤色片基板上。
补偿电路105接收来自系统接口的输入数据Ri/Gi/Bi以调整要施加给面板缺陷位置即,面板缺陷区域、边界部分和连接像素的输入数据Ri/Gi/Bi,从而产生校正数据Rc/Gc/Bc。并且,省略对于要施加给非缺陷区域的输入数据的校正从而输出其原始值。以下详细说明补偿电路105。
时序控制器104采用垂直/水平同步信号Vsync、Hsync、数据使能信号DE和点时钟DCLK根据点时钟DCLK向数据驱动电路101施加通过补偿电路105提供的校正数字视频数据Rc/Gc/Bc并产生用于控制栅驱动电路102的栅控制信号GDC以及用于控制数据驱动电路101的数据控制信号DDC。
数据驱动电路101接收校正数据Rc/Gc/Bc作为来自时序控制器104的数字信号并将校正数据Rc/Gc/Bc转换为模拟伽马补偿电压(数据电压)以施加给数据线106。
栅驱动电路102顺序向栅线108施加扫描信号,以选择要施加数据电压的水平行。来自数据线106的数据电压与扫描信号同步施加给一条水平行的液晶单元。
以下,参照图28到36,将对于补偿电路105进行详细描述。
图28为更具体表示图27所示补偿电路结构的方框图。参照图28,根据本发明的实施方式所述的补偿电路105包括存储显示面板103的面板缺陷区域、边界部分和连接像素的位置数据PD和补偿数据CD的EEPROM 122;用于采用存储在EEPROM 122的位置数据PD和补偿数据CD调整来自外部系统的输入数据Ri/Gi/Bi以产生校正数据Rc/Gc/Bc的补偿部分121;用于补偿电路105和外部系统之间通信的接口电路124;以及用于通过接口电路124临时存储要存储在EEPROM 122上的数据的寄存器123。
EEPROM 122存储表示液晶显示面板103的面板缺陷区域、边界部分和连接像素的每个位置的位置数据PD以及用于每个面板缺陷区域、边界部分和连接像素的补偿数据CD。补偿数据CD包括第一到第五补偿数据。EEPROM 122可以通过来自外部系统的电信号更新位置数据PD和补偿数据CD。
接口电路124是用于补偿电路105和外部系统之间通信的结构,并且根据IIC(国际通信机构)通信标准协议以及类似协议设计该接口电路124。该外部系统可以通过接口电路124读取存储在EEPROM 122上的数据或者修改该数据。也就是说,由于工艺改变、应用模型之间的差异等原因需要更新存储在EEPROM 122的位置数据PD和补偿数据CD。并且,用户可以通过提供来自外部系统的想要更新的位置数据UPD和补偿数据UCD修改存储在EEPROM122上的数据。
寄存器123临时存储用于想要更新且通过接口电路124发送的位置数据UPD和补偿数据UCD,从而更新存储在EEPROM 122上的位置数据PD和补偿数据CD。
补偿部分121采用存储在EEPROM 122上的位置数据PD和补偿数据CD调整要提供给面板缺陷区域、边界部分和连接像素的输入数据Ri/Gi/Bi,从而产生校正数据Rc/Gc/Bc。
图29到36示出图28所示的补偿部分121的各种实施方式。
图29为表示图28所示补偿部分的第一实施方式的方框图。参照图29,根据本发明第一实施方式所述的补偿部分121包括位置判断部分281,灰度级判断部分282R、282G和282B,地址产生部分283R、283G和283B,运算器285R、285G和285B。另一方面,R、G和B表示在图29到图36中各红R、绿G和蓝B的排列方式。
位置判断部分281采用垂直/水平同步信号Vsync、Hsync、数据使能信号DE和点时钟DCLK判断输入数据Ri/Gi/Bi在液晶显示面板103上的显示位置。
灰度级判断部分282R、282G和282B分析输入数据Ri/Gi/Bi的灰度级或者包括输入数据Ri/Gi/Bi的灰度级的灰度级段。
地址产生部分283R、283G和283B采用存储在EEPROM 122R、122G和122B上的位置数据产生用于从EEPROM122R、122G和122B读取补偿数据CDR、CDG和CDB的读取地址,并且由位置判断部分281和灰度级判断部分282R、282G和282B提供的输入数据Ri/Gi/Bi的显示位置和灰度级信息,同时向EEPROM 122R、122G和122B提供所述读取地址。根据读取地址从EEPROM 122R、122G和122B输出的补偿数据CDR、CDG和CDB提供给运算器285R、285G和285B。
运算器285R、285G和285B通过用补偿数据CDR、CDG和CDB增加或者降低输入数据Ri/Gi/Bi产生校正数据Rc/Gc/Bc。另一方面,除了加法器和减法器之外,运算器285R、285G和285B还可以包括用于对输入数据Ri/Gi/Bi和补偿数据CDR、CDG和CDB执行乘法运算或者除法运算的乘法器或者除法器。
图30示出28所示补偿部分的第二实施方式的方框图。参照图30,根据本发明第二实施方式所述的补偿部分121包括RGB到YUV转换器206、位置判断部分201,灰度级判断部分202,地址产生部分203,运算器205和YUV到RGB转换器207。补偿部分121将包括红R、绿G和蓝B信息的m/m/m位R/G/B输入数据Ri/Gi/Bi转换为包括亮度(Y)和色度(U,V)信息的n/n/n(n为大于m的正整数)位Y/U/V数据Yi、Ui和Vi;通过用存储在EEPROM122Y的第一补偿数据CDY增加或者降低n位Y数据Yi产生校正Y数据Yc;然后将校正Y数据Yc和未校正U/V数据Ui、Vi转化为包括红R、绿G和蓝B信息的m/m/m位校正数据Rc/Gc/Bc。
RGB到YUV转换器206采用如下等式1到3计算n/n/n位亮度信息Yi和色度信息Ui/Vi,所述等式采用具有m/m/m位R/G/B输入数据Ri/Gi/Bi作为变量。
[等式1]
Yi=0.299Ri+0.587Gi+0.114Bi
[等式2]
Ui=-0.147Ri-0.289Gi+0.436Bi=0.492(Bi-Y)
[等式3]
Vi=0.615Ri-0.515Gi-0.100Bi=0.877(Ri-Y)
位置判断部分201采用垂直/水平同步信号Vsync、Hsync、数据使能信号DE和点时钟DCLK判断在液晶显示面板103上输入数据Ri/Gi/Bi的显示位置。
灰度级判断部分202基于来自RGB到YUV转换器206的亮度信息Yi分析输入数据Ri/Gi/Bi的灰度级。
地址产生部分203采用由位置判断部分201和灰度级判断部分202提供的输入数据Ri/Gi/Bi的显示位置和灰度级信息以及存储在EEPROM 122Y上的面板缺陷区域的位置数据产生用于从EEPROM 122Y读取第一补偿数据的读取地址,并且向EEPROM 122Y提供读取地址。根据读取地址将由EEPROM 122Y输出的补偿数据CDY提供给运算器205。
运算器205将由EEPROM 122Y提供的补偿数据CDY加到由RGB到YUV转换器206提供的n位亮度信息Yi或者从由RGB到YUV转换器206提供的n位亮度信息Yi中减去补偿数据CDY,从而调整要显示在面板缺陷区域的输入数据Ri/Gi/Bi的亮度。这里,运算器205除了加法器和减法器之外还可以包括用于对n位亮度信息Yi和补偿数据CDY执行乘积或者除法运算的乘法器或者除法器。
YUV到RGB转换器207采用如下等式4到6计算m/m/m校正数据Rc、Gc和Bc,所述等式采用由运算器205调整后的亮度信息Yc和来自RGB到YUV转换器206的色差信息Ui、Vi作为变量。
[等式4]
Rm=Yc+1.140Vi
[等式5]
Gm=Yc-0.395Ui-0.581Vi
[等式6]
Bm=Yc+2.032Ui
如上所述,根据本发明第二实施方式的补偿部分用补偿数据增加或者减少n位亮度信息Yi,其中扩展该亮度信息的位数从而包括更详细的灰度级信息,从而精细地调整显示在输入数据Ri/Gi/Bi的面板缺陷区域、边界部分和连接像素的亮度。
图31表示图28所示补偿部分的第三实施方式的方框图。参照图31,根据本发明第三实施方式所述的补偿部分121包括位置判断部分141,灰度级判断部分142R、142G和142B,地址产生部分143R、143G和143B,FRC控制器145R、145G和145B。补偿部分121采用存储在EEPROM 122R、122G和122B上的补偿数据CDR、CDG和CDB通过帧频控制方法调整要施加给面板缺陷区域、边界部分和连接像素的输入数据Ri/Gi/Bi。
位置判断部分141采用垂直/水平同步信号Vsync、Hsync、数据使能信号DE和点时钟DCLK判断输入数据Ri/Gi/Bi在液晶显示面板103上的显示位置。并且向地址产生部分143R、143G和143B提供输入数据Ri/Gi/Bi的显示位置的信息。
灰度级判断部分142R、142G和142B分析输入数据Ri/Gi/Bi的灰度级或者包括输入数据Ri/Gi/Bi的灰度级的灰度级段,并且向地址产生部分143R、143G和143B提供该信息。
地址产生部分143R、143G和143B基于灰度级判断部分142R、142G和142B的灰度级判断结果和位置判断部分141的位置判断结果以及存储在EEPROM 122R、122G和122B上的面板缺陷区域的位置数据产生从EEPROM122R、122G和122B读取补偿数据CDR、CDG和CDB的读取地址,同时向EEPROM 122R、122G和122B提供所述读取地址。将根据读取地址由EEPROM122R、122G和122B输出的补偿数据CDR、CDG和CDB提供给FRC控制器145R、145G和145B。
FRC控制器145R、145G和145B将来自EEPROM 122R、122G和122B的补偿数据CDR、CDG和CDB分散给多个帧,并用分散补偿数据CDR、CDG和CDB增加或者减少要显示在面板缺陷区域的输入数据Ri/Gi/Bi。FRC控制器145R、145G和145B包括用于校正红数据的第一FRC控制器145R、用于校正绿数据的第二FRC控制器145G、用于校正蓝数据的第三FRC控制器145B。
图32为具体描述图31所示的补偿部分的第一FRC控制器145R的方框图。参照图32,第一FRC控制器145R包括补偿值判断部分153、帧数感测部分151和运算器154。
补偿值判断部分153判断判断R补偿值并通过将补偿值与帧数执行除法运算得到的值产生FRC数据FD。编程补偿值判断部分153使其根据R补偿数据CDR自动输出FRC数据FD。例如,预先编程补偿值判断部分153从而将通过二进制数据表示的R补偿数据CDR认识为用于指定灰度级的补偿值,例如如果R补偿数据CDR为‘00’,则该补偿值用于0灰度级,如果R补偿数据CDR为‘01’,则该补偿值用于1/4灰度级,如果R补偿数据CDR为‘10’,则该补偿值用于1/2灰度级,如果R补偿数据CDR为‘11’,则该补偿值用于3/4灰度级。如图20所示,在帧频控制中将四个帧作为一个单位帧的情况,如果施加的R补偿数据CDR为‘01’,则补偿值判断部分153对于第一到第四帧中的一帧产生为“1”的FRC数据FD,对该帧增加1个灰度级,并对其余3个帧产生为“0”的FRC数据FD,如图20中(a)所示。此时,补偿值判断部分153可以确定多个FRC图案,所述多个FRC图案以不同方式表示要分散R补偿数据CDR的帧。
帧数感测部分151采用垂直/水平同步信号Vsync、Hsync、数据使能信号DE和点时钟DCLK中至少任意一个感测帧数。例如,帧数感测部分151通过计算垂直同步信号Vsync感测帧数。
运算器154采用FRC数据FD增加或者减少要施加给面板缺陷区域的R输入数据Ri,从而产生校正R数据Rc。
另一方面,可以通过不同的数据传输线将要校正的R输入数据Ri和R补偿数据CDR分别提供给第一FRC控制器145R,或者将要校正的R输入数据Ri和R补偿数据CDR组合在一起以通过同一条线提供给第一FRC控制器145R。例如,在要校正的R输入数据Ri为8位数据‘01000000’并且R补偿数据CDR为3位数据‘011’的情况,可以通过不同的数据传输线分别将‘01000000’和‘011’提供给第一FRC控制器145R或者可以将‘01000000’和‘011’组合为要提供给第一FRC控制器145R的11位数据‘01000000011’。以这种方式,在要校正的R输入数据Ri和R补偿数据CDR组合为11位数据并将其提供给第一FRC控制器145R的情况,第一FRC控制器145R将11位数据的前8位视作要校正的R输入数据Ri,并将后3位视作R补偿数据CDR,从而执行帧率控制。另一方面,作为通过组合‘01000000’和‘011’产生数据‘01000000011’的方法,将虚拟位‘000’附加到‘01000000’的最低位,从而使其变为‘01000000000’,并且‘011’与其求和从而得到数据‘01000000011’。
第二FRC控制器145G和第三FRC控制器145B具有和第一FRC控制器145R基本上一样的电路结构。因此,这里省略对于第二FRC控制器145G和第三FRC控制器145B的详细描述。
如上所述,在根据本发明的第三实施方式所述的补偿部件121中,假设R、G和B数据均为8位并且通过将帧频控制的单位帧配置为4帧以时间方式地分配补偿值,可以通过对各R、G和B数据各细分为1021个灰度级的补偿值精细调整要显示在面板缺陷区域的数据。
图33为具体描述图28所示的补偿部件的第四实施方式的方框图。参照图33,根据本发明第四实施方式所述的补偿部分包括位置判断部分161,灰度级判断部分162R、162G和162B,地址产生部分163R、163G和163B,以及抖动控制器165R、165G和165B。补偿部分121采用存储在EEPROM 122R、122G和122B上的补偿数据CDR、CDG和CDB通过抖动方法调整要施加给面板缺陷区域的输入数据Ri/Gi/Bi。
位置判断部分161采用垂直/水平同步信号Vsync、Hsync、数据使能信号DE和点时钟DCLK判断输入数据Ri/Gi/Bi在液晶显示面板上的的显示位置。
灰度级判断部分162R、162G和162B分析输入数据Ri/Gi/Bi的灰度级或者包括输入数据Ri/Gi/Bi的灰度级的灰度级段。
地址产生部分163R、163G和163B采用从灰度级判断部分162R、162G和162B和位置判断部分141提供的输入数据Ri/Gi/Bi的显示位置和灰度级信息以及存储在EEPROM 122R、122G和122B上的面板缺陷区域的位置数据产生用于从EEPROM 122R、122G和122B读取补偿数据CDR、CDG和CDB的读取地址,同时向EEPROM 122R、122G和122B提供所述读取地址。根据读取地址将由EEPROM 122R、122G和122B输出补偿数据CDR、CDG和CDB提供给抖动控制器165R、165G和165B。
抖动控制器165R、165G和165B将来自EEPROM 122R、122G和122B的补偿数据CDR、CDG和CDB分配给在包括多个像素的单位窗口内的各个像素,并采用分配的补偿数据CDR、CDG和CDB增加或者减少要显示在面板缺陷区域的输入数据Ri/Gi/Bi。抖动控制器165R、165G和165B包括用于校正红色数据的第一抖动控制器165R、用于校正绿色数据的第二抖动控制器165G、用于校正蓝色数据的第三抖动控制器165B。
图34为具体描述图33所示的第一抖动控制器165R的方框图。参照图34,第一抖动控制器165R包括补偿值判断部分173、像素位置感测部分172和运算器174。
补偿值判断部分173判断R补偿值并通过将补偿值作为分配给单位窗口内的像素的数值产生抖动数据DD。编程补偿值判断部分173使其根据R补偿数据CDR自动输出抖动数据DD。例如,预先编程补偿值判断部分173从而将通过二进制数据表示的R补偿数据CDR视作用于指定灰度级的补偿值,例如如果R补偿数据CDR为‘00’,则该补偿值用于0灰度级,如果R补偿数据CDR为‘01’,则该补偿值用于1/4灰度级,如果R补偿数据CDR为‘10’,则该补偿值用于1/2灰度级,如果R补偿数据CDR为‘11’,则该补偿值用于3/4灰度级。如图21所示,在对于包括四个帧作为一个单位窗口执行抖动的情况,如果施加的R补偿数据CDR为‘01’,则补偿值判断部分173在单位窗口中的一个像素位置产生‘1’作为抖动数据DD,并在其余3个像素位置产生‘0’作为抖动数据DD,如图21中(a)所示。此时,补偿值判断部分173可以确定以不同方式表示要在单元窗口分配R补偿数据CDR的像素位置的多个抖动图案。
像素位置感测部分172采用垂直/水平同步信号Vsync、Hsync、数据使能信号DE和点时钟DCLK中任意一个或多个感测像素位置。例如,像素位置感测部分172通过对水平同步信号Hsync和点时钟DCLK进行计数感测像素位置。
运算器174采用抖动数据DD增加或者减少输入数据Ri/Gi/Bi,从而产生校正后的R数据Rc。
另一方面,可以通过不同的数据传输线将要校正的R输入数据Ri和R补偿数据CDR分别提供给第一抖动控制器165R,或者将要校正的R输入数据Ri和R补偿数据CDR组合以通过同一条线提供给第一抖动控制器165R。例如,在要校正的R输入数据Ri为8位数据‘01000000’并且R补偿数据CDR为3位数据‘011’的情况,可以通过不同的数据传输线分别将‘01000000’和‘011’提供给第一抖动控制器165R或者可以将‘01000000’和‘011’组合为要提供给第一抖动控制器165R的11位数据‘01000000011’。以这种方式,在将要校正的R输入数据Ri和R补偿数据CDR组合为11位数据并将其提供给第一抖动控制器165R的情况,第一抖动控制器165R将11位数据的前8位视作要校正的R输入数据Ri,并将后3位视作R补偿数据CDR,从而执行抖动控制。另一方面,作为一种通过组合‘01000000’和‘011’产生数据‘01000000011’的方法的实施例,将虚拟位‘000’附加到‘01000000’的最低位,从而使其变为‘01000000000’,并且‘011’与其求和从而得到数据‘01000000011’。
第二抖动控制器165G和第三抖动控制器165B具有和第一抖动控制器165R基本上一样的电路结构。因此,这里省略对于第二抖动控制器165G和第三抖动控制器165B的详细描述。
如上所述,在根据本发明的第四实施方式所述的补偿部件121中,假设R、G和B数据均为8位并且通过将用于抖动的单位窗口配置为4个像素从而以空间方式分配补偿值,可以通过对各R、G和B数据细分为1021个灰度级的补偿值精细调整显示在面板缺陷区域的数据。
图35为具体描述图28所示的补偿部件的第五实施方式的方框图。参照图35,根据本发明第五实施方式所述的补偿部分包括位置判断部分181,灰度级判断部分182R、182G和182B,地址产生部分183R、183G和183B,以及FRC/抖动控制器185R、185G和185B。补偿部分121采用存储在EEPROM 122R、122G和122B上的补偿数据CDR、CDG和CDB通过帧频控制和抖动方法调整要施加给面板缺陷区域的输入数据Ri/Gi/Bi。
位置判断部分181采用垂直/水平同步信号Vsync、Hsync、数据使能信号DE和点时钟DCLK判断输入数据Ri/Gi/Bi在液晶显示面板103上的显示位置。
灰度级判断部分182R、182G和182B分析输入数据Ri/Gi/Bi的灰度级或者包括输入数据Ri/Gi/Bi的灰度级的灰度级段。
地址产生部分183R、183G和183B采用从灰度级判断部分182R、182G和182B和位置判断部分181提供的输入数据Ri/Gi/Bi的显示位置和灰度级信息以及存储在EEPROM 122R、122G和122B上的面板缺陷区域的位置数据产生用于从EEPROM 122R、122G和122B上读取补偿数据CDR、CDG和CDB的读取地址,同时向EEPROM 122R、122G和122B提供所述读取地址。根据读取地址将由EEPROM 122R、122G和122B输出的补偿数据CDR、CDG和CDB提供给FRC/抖动控制器185R、185G和185B。
FRC/抖动控制器185R、185G和185B采用图23到26的抖动图案向抖动图案内的多个像素分配来自EEPROM 122R、122G和122B的补偿数据CDR、CDG和CDB,并向多个帧周期分配该补偿数据CDR、CDG和CDB。此外,FRC/抖动控制器185R、185G和185B采用分配后的补偿数据CDR、CDG和CDB增加或者减少要显示在面板缺陷区域的输入数据Ri/Gi/Bi。FRC/抖动控制器185R、185G和185B包括用于校正红色数据的第一FRC/抖动控制器185R、用于校正绿色数据的第二FRC/抖动控制器185G、用于校正蓝色数据的第三FRC/抖动控制器185B。
图36为具体描述图35所示的第一FRC/抖动控制器185R的方框图。参照图36,第一FRC/抖动控制器185R包括补偿值判断部分193、帧数感测部分191、像素位置感测部分192和运算器194。
补偿值判断部分193判断R补偿值并通过采用补偿值作为要分配给单位窗口内的多个像素以及要分配给多个帧周期的数值产生FRC/抖动数据FDD。编程补偿值判断部分193使其根据R补偿数据CDR自动输出FRC/抖动数据FDD。例如,预先编程补偿值判断部分193从而将通过二进制数据表示的R补偿数据CDR视作用于指定灰度级的补偿值,例如如果R补偿数据CDR为‘00’,则该补偿值用于0灰度级,如果R补偿数据CDR为‘01’,则该补偿值用于1/4灰度级,如果R补偿数据CDR为‘10’,则该补偿值用于1/2灰度级,如果R补偿数据CDR为‘11’,则该补偿值用于3/4灰度级。此外,在通过采用包括四个帧的单位帧作为帧频控制单位和通过采用包括四个像素的单位窗口作为抖动单位执行帧频控制和抖动的情况,如果施加的R补偿数据CDR为‘01’,则补偿值判断部分193对于4个帧周期产生‘1’作为在单位窗口中一个像素位置的FRC/抖动数据FDD,并产生‘0’作为在其余3个像素位置的FRC/抖动数据FDD,但是对于各帧改变在其产生‘1’的像素位置,如图22中(a)所示。此时,补偿值判断部分193可以确定多个各以不同方式表示要在单位窗口分配R补偿数据CDR的像素位置的多个抖动图案,以及确定多个以不同方式表示要分配R补偿数据CDR的帧的FRC图案。
帧数感测部分191采用垂直/水平同步信号Vsync、Hsync、数据使能信号DE和点时钟DCLK任意一个感测帧数。例如,帧数感测部分191通过对垂直同步信号Vsync进行计数感测帧数。
像素位置感测部分192采用垂直/水平同步信号Vsync、Hsync、数据使能信号DE和点时钟DCLK中至少之一感测像素位置。例如,像素位置感测部分192通过对水平同步信号Hsync和点时钟DCLK进行计数感测像素位置。
运算器194采用FRC/抖动数据FDD增加或者减少输入数据Ri,从而产生校正后的R数据Rc。
另一方面,可以通过不同的数据传输线将要校正的R输入数据Ri和R补偿数据CDR分别提供给第一FRC/抖动控制器185R,或者将要校正的R输入数据Ri和R补偿数据CDR组合以通过同一条线提供给第一FRC/抖动控制器185R。例如,在要校正的R输入数据Ri为8位数据‘01000000’并且R补偿数据CDR为3位数据‘011’的情况,可以通过不同的数据传输线分别将‘01000000’和‘011’提供给第一FRC/抖动控制器185R或者可以将‘01000000’和‘011’组合为要提供给第一FRC/抖动控制器185R的11位数据‘01000000011’。以这种方式,在将要校正的R输入数据Ri和R补偿数据CDR组合为11位数据并将其提供给第一FRC/抖动控制器185R的情况,第一FRC/抖动控制器185R将11位数据的前8位视作要校正的R输入数据Ri,并将后3位视作R补偿数据CDR,从而执行FRC和抖动控制。另一方面,作为一种通过组合‘01000000’和‘011’产生数据‘01000000011’的方法的实施例,将虚拟位‘000’附加到‘01000000’的最低位,从而使其变为‘01000000000’,并且‘011’与其求和从而得到数据‘01000000011’。
第二FRC/抖动控制器185G和第三FRC/抖动控制器185B具有和第一FRC/抖动控制器185R基本上一样的电路结构。因此,这里省略对于第二FRC/抖动控制器185G和第三FRC/抖动控制器185B的详细描述。
如上所述,在根据本发明的第五实施方式所述的补偿部件121中,假设R、G和B数据均为8位并且通过配置4帧为帧频控制的单位帧并且配置4个像素为用于抖动的单位窗口从而通过时间方式(temporally)以及空间方式(spatially)分配该补偿值,可以通过对各R、G和B数据细分为1021个灰度级的补偿值在没有闪烁和分辨率降低的情况下精细调整要显示在面板缺陷区域的数据。
通过时序控制器104和数据驱动电路101将通过上述补偿部分121校正后的数据Rc/Gc/Bc提供给液晶显示面板103,从而显示图像质量已经得到校正的图像。
另一方面,这里主要针对液晶显示器描述根据本发明上述实施方式所述的平板显示器和图像质量控制方法,但是该图像质量控制方法还可以通过类似方式应用于诸如有源矩阵发光二极管的其它平板显示器中。
如上所述,根据本发明的实施方式所述的平板显示器和图像质量控制方法通过对于显示面板的面板缺陷区域进行电补偿以及对于面板缺陷区域和非缺陷区域的边界部分执行电补偿实现类自然(natural-like)的图像质量补偿,并可以通过对于通过修复工艺形成的连接缺陷像素和正常像素的连接像素执行电补偿明显降低察觉缺陷像素的程度,因此本发明的优势在于可以完美补偿面板缺陷。
尽管已经通过上述附图所示的实施方式对本发明进行了描述,但是应该理解对本领域的普通技术人员来说本发明不限于此,在不脱离本发明的构思或范围的情况下,可以对本发明做出各种改进和变型。因此,本发明的保护范围仅由所附权利要求书和其等效物决定。
Claims (42)
1.一种平板显示器,包括:
显示面板,具有非缺陷区域和面板缺陷区域,并且具有将相邻的缺陷像素和正常像素互连形成的至少一个连接像素;
存储器,其存储用于补偿在面板缺陷区域中奇数行要显示的数据的第一补偿数据、用于补偿要在面板缺陷区域中偶数行显示的数据的第二补偿数据、用于补偿要在面板缺陷区域和非缺陷区域之间的边界部分所包括的奇数行显示的数据的第三补偿数据、用于补偿要在所述边界部分的偶数行显示的数据的第四补偿数据和用于补偿要在连接像素中显示的数据的第五补偿数据;
补偿部分,用于通过所述补偿数据调整在面板缺陷区域、包括边界部分的固定区域和连接像素上显示的数据;以及
驱动器,用于采用通过所述补偿部分调整后的数据驱动显示面板。
2.根据权利要求1所述的平板显示器,其特征在于,所述第三补偿数据确定为在相邻像素之间具有彼此不同的补偿值,所述第四补偿数据确定为在相邻像素之间具有彼此不同的补偿值,并且所述第三补偿数据和第四补偿数据确定为在沿垂直于奇数行和偶数行的方向上的相邻像素之间具有彼此不同的补偿值。
3.根据权利要求2所述的平板显示器,其特征在于,所述边界部分包括形成在面板缺陷区域一侧的端部的第一边界部分和形成在面板缺陷区域另一侧的端部的第二边界部分;并且所述第三补偿数据和第四补偿数据施加给多个像素,所述多个像素与边界部分相邻,其中从所述边界部分到所述像素的距离为在所述第一边界部分和第二边界部分之间距离的1/2内。
4.根据权利要求2所述的平板显示器,其特征在于,将第三补偿数据和第四补偿数据确定为降低包括在边界部分中的面板缺陷区域的边缘亮度并提高包括在边界部分中的非缺陷区域的边缘亮度的补偿值。
5.根据权利要求2所述的平板显示器,其特征在于,将第三补偿数据和第四补偿数据确定为提高包括在边界部分中的面板缺陷区域的边缘亮度并降低包括在边界部分中的非缺陷区域的边缘亮度的补偿值。
6.根据权利要求2所述的平板显示器,其特征在于,第三补偿数据和第四补偿数据的补偿值随着其远离所述边界部分逐渐变小。
7.根据权利要求1所述的平板显示器,其特征在于,在面板缺陷区域、边界部分和连接像素重叠的位置将第一到第五补偿数据求和。
8.根据权利要求1所述的平板显示器,其特征在于,在面板缺陷区域和边界部分重叠的部分,各个第三补偿数据和第四补偿数据的补偿值都小于第一和第二补偿数据的补偿值。
9.根据权利要求1所述的平板显示器,其特征在于,在面板缺陷区域、边界部分和连接像素重叠的位置第一到第四补偿数据的补偿值小于第五补偿数据的补偿值。
10.根据权利要求1所述的平板显示器,其特征在于,第一和第二补偿数据根据要显示在面板缺陷区域的数据的灰度级值和面板缺陷区域的位置而不同。
11.根据权利要求1所述的平板显示器,其特征在于,第三和第四补偿数据根据要显示在边界部分的数据的灰度级值和所述边界部分中像素位置而不同。
12.根据权利要求1所述的平板显示器,其特征在于,第五补偿数据根据要显示在所述连接像素的数据的灰度级和连接像素的位置而不同。
13.根据权利要求1所述的平板显示器,其特征在于,所述补偿部分用所述补偿数据增加或者减小要显示在面板缺陷区域、边界部分和连接像素中的数据。
14.根据权利要求1所述的平板显示器,其特征在于,所述补偿部分在要显示在面板缺陷区域、边界部分和连接像素中的m位红数据、m位绿数据和m位蓝数据中提取n位亮度信息和n位色度信息;通过用所述补偿数据增加或者降低n位亮度信息产生n位调整后的亮度信息;以及采用n位调整后的亮度信息和n位未调整的色度信息产生m位调整后的红数据、m位调整后的绿数据和m位调整后的蓝数据,其中m为正整数,n为大于m的整数。
15.根据权利要求1所述的平板显示器,其特征在于,所述补偿部分以帧周期为单位分配所述补偿值;并用分配的补偿数据增大或者减小要提供给面板缺陷区域、包括边界部分的固定区域和连接像素的数据。
16.根据权利要求1所述的平板显示器,其特征在于,所述补偿部分向抖动图案中的像素分配补偿数据;并用分配的补偿数据增大或者减小要提供给面板缺陷区域、包括边界部分的固定区域和连接像素的数据。
17.根据权利要求1所述的平板显示器,其特征在于,所述补偿部分向多个帧周期分配抖动图案并且向所述抖动图案中的像素分配所述补偿数据;并用分配的补偿数据增大或者减小提供给面板缺陷区域、包括边界部分的固定区域和连接像素的数据。
18.根据权利要求17所述的平板显示器,其特征在于,所述抖动图案的补偿值彼此不同;并且每个抖动图案都具有补偿值一样而补偿像素位置彼此不同的多个子抖动图案。
19.根据权利要求17所述的平板显示器,其特征在于,假设所述补偿值为I并且子抖动图案的数量为J,补偿值为I的抖动图案具有补偿值均为I而补偿像素的位置彼此不同的J个子抖动图案,子抖动图案的排列方式在J个帧中的各帧不同,其中I为正实数,J为正整数。
20.根据权利要求19所述的平板显示器,其特征在于,所述抖动图案的子抖动图案的排列方式以J+1个帧周期为单位是相同的。
21.根据权利要求17所述的平板显示器,其特征在于,每个抖动图案的大小为8个像素×32个像素或者更多。
22.一种平板显示器的图像质量控制方法,包括:
确定第一补偿数据、第二补偿数据、第三补偿数据、第四补偿数据和第五补偿数据的步骤,所述第一补偿数据用于补偿要在面板缺陷区域中奇数行显示的数据,所述第二补偿数据用于补偿要在面板缺陷区域中偶数行显示的数据,所述第三补偿数据用于补偿要在显示面板的缺陷区域和非缺陷区域之间的边界部分所包括的奇数行显示的数据,所述第四补偿数据用于补偿要在所述边界部分的偶数行显示的数据,所述第五补偿数据用于补偿要显示在连接像素中的数据,其中在所述连接像素中通过显示面板的检测工艺和修复工艺在显示面板中将相邻的缺陷像素和正常像素互连在一起;
在存储器中存储补偿数据的步骤;
用存储在存储器上的补偿数据调整要在面板缺陷区域、包括边界部分的固定区域和连接像素上显示的数据的补偿步骤;以及
采用通过所述补偿部分调整后的数据驱动显示面板的驱动步骤。
23.根据权利要求22所述的图像质量控制方法,其特征在于,所述第三补偿数据确定为在奇数行中相邻像素之间具有彼此不同的补偿值,所述第四补偿数据确定为在偶数行中相邻像素之间具有彼此不同的补偿值,并且所述第三补偿数据和第四补偿数据确定为在沿垂直于奇数行和偶数行的方向上的相邻像素之间具有彼此不同的补偿值。
24.根据权利要求23所述的图像质量控制方法,其特征在于,所述边界部分包括形成在面板缺陷区域一侧的端部的第一边界部分和形成在面板缺陷区域另一侧的端部的第二边界部分;并且所述第三补偿数据和第四补偿数据施加到多个像素,所述多个像素与所述第一和第二边界部分相邻,其中,从第一或第二边界部分到所述多个像素的距离为在所述第一边界部分和第二边界部分之间距离的1/2内。
25.根据权利要求24所述的图像质量控制方法,其特征在于,将第三补偿数据和第四补偿数据确定为降低包括在边界部分中的面板缺陷区域的边缘亮度并提高包括在边界部分中的非缺陷区域的边缘亮度的补偿值。
26.根据权利要求24所述的图像质量控制方法,其特征在于,将第三补偿数据和第四补偿数据确定为提高包括在边界部分中的面板缺陷区域的边缘亮度并降低包括在边界部分中的非缺陷区域的边缘亮度的补偿值。
27.根据权利要求24所述的图像质量控制方法,其特征在于,第三补偿数据和第四补偿数据确定补偿值随着其远离所述边界部分逐渐变小。
28.根据权利要求22所述的图像质量控制方法,其特征在于,在面板缺陷区域、边界部分和连接像素重叠的位置将第一到第五补偿数据求和。
29.根据权利要求22所述的图像质量控制方法,其特征在于,在面板缺陷区域和边界部分重叠的位置,将各个第三补偿数据和第四补偿数据都确定为在亮度补偿程度上比第一和第二补偿数据小的补偿值。
30.根据权利要求22所述的图像质量控制方法,其特征在于,在面板缺陷区域、边界部分和连接像素重叠的位置,第一到第四补偿数据确定为在亮度补偿程度上比第五补偿数据小的补偿值。
31.根据权利要求22所述的图像质量控制方法,其特征在于,第一和第二补偿数据根据要在面板缺陷区域显示的数据的灰度级值和面板缺陷区域的显示位置而不同。
32.根据权利要求22所述的图像质量控制方法,其特征在于,第三和第四补偿数据根据要在边界部分区域显示的数据的灰度级值和在所述边界部分的显示位置而不同。
33.根据权利要求22所述的图像质量控制方法,其特征在于,第五补偿数据确定为根据要在所述连接像素显示的数据的灰度级和连接像素的位置而不同。
34.根据权利要求22所述的图像质量控制方法,其特征在于,所述补偿步骤用所述补偿数据调整要显示在面板缺陷区域、边界部分和连接像素中的数据。
35.根据权利要求27所述的图像质量控制方法,其特征在于,所述补偿步骤包括如下步骤:
计算要显示在面板缺陷区域、边界部分和连接像素中的m位红数据、m位绿数据和m位蓝数据中的n位亮度信息和n位色度信息,其中m为正整数,n为大于m的整数;
通过用所述补偿数据调整n位亮度信息产生n位调整后的亮度信息;以及
采用n位调整后的亮度信息和n位未调整的色度信息产生m位调整后的红数据、m位调整后的绿数据和m位调整后的蓝数据。
36.根据权利要求22所述的图像质量控制方法,其特征在于,所述补偿步骤包括如下步骤:
以帧周期为单位分配所述补偿数据;以及
用分配的补偿数据增大或者减小要提供给面板缺陷区域、边界部分和连接像素的数据。
37.根据权利要求22所述的图像质量控制方法,其特征在于,所述补偿步骤包括如下步骤:
向抖动图案中的像素分配补偿数据;以及
用分配的补偿数据增大或者减小提供给面板缺陷区域、边界部分和连接像素的数据。
38.根据权利要求22所述的图像质量控制方法,其特征在于,所述补偿步骤包括如下步骤:
向多个帧周期分配抖动图案并且向所述抖动图案中的像素分配所述补偿数据;以及
用补偿数据增大或者减小要提供给面板缺陷区域、边界部分和连接像素的数据。
39.根据权利要求38所述的图像质量控制方法,其特征在于,所述抖动图案的补偿值彼此不同;并且每个抖动图案都具有补偿值一样而补偿像素的位置不同的多个子抖动图案。
40.根据权利要求39所述的图像质量控制方法,其特征在于,假设所述补偿值为I,I为正实数,并且子抖动图案的数量为J,J为正整数,补偿值为I的抖动图案具有补偿值均为I而补偿像素的位置彼此不同的J个子抖动图案,子抖动图案的排列方式在J个帧的各帧中不同。
41.根据权利要求40所述的图像质量控制方法,其特征在于,所述抖动图案的子抖动图案的排列方式按J+1个帧周期为单位是相同的。
42.根据权利要求38所述的图像质量控制方法,其特征在于,每个抖动图案的大小为8个像素×32个像素或者更多。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060059330 | 2006-06-29 | ||
KR10-2006-0059330 | 2006-06-29 | ||
KR1020060059330A KR101243800B1 (ko) | 2006-06-29 | 2006-06-29 | 평판표시장치와 그 화질제어 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101097674A CN101097674A (zh) | 2008-01-02 |
CN101097674B true CN101097674B (zh) | 2010-10-27 |
Family
ID=39011472
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2007101260167A Active CN101097674B (zh) | 2006-06-29 | 2007-06-29 | 平板显示器以及控制其图像质量的方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7889188B2 (zh) |
JP (1) | JP5361150B2 (zh) |
KR (1) | KR101243800B1 (zh) |
CN (1) | CN101097674B (zh) |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101147083B1 (ko) * | 2006-03-29 | 2012-05-18 | 엘지디스플레이 주식회사 | 화질제어 방법 |
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-
2006
- 2006-06-29 KR KR1020060059330A patent/KR101243800B1/ko active IP Right Grant
-
2007
- 2007-06-28 US US11/819,751 patent/US7889188B2/en active Active
- 2007-06-29 JP JP2007172972A patent/JP5361150B2/ja active Active
- 2007-06-29 CN CN2007101260167A patent/CN101097674B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080036797A1 (en) | 2008-02-14 |
KR20080001168A (ko) | 2008-01-03 |
KR101243800B1 (ko) | 2013-03-18 |
JP5361150B2 (ja) | 2013-12-04 |
CN101097674A (zh) | 2008-01-02 |
JP2008009438A (ja) | 2008-01-17 |
US7889188B2 (en) | 2011-02-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |