KR102441479B1 - 표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법 - Google Patents

표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법 Download PDF

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Abstract

표시 장치는 복수의 영역들에 대응되는 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널, 복수의 영역들에 대응하는 복수의 샘플링(sampling) 보정 동작들을 각각 수행함으로써 화소들에 대한 보정 데이터를 생성하고, 보정 데이터에 기초하여 입력 영상 데이터를 보정함으로써 보정 영상 데이터를 생성하는 영상 보정부, 및 보정 영상 데이터에 상응하는 영상이 표시 패널에 표시되도록 표시 패널을 구동하는 패널 구동부를 포함한다. 복수의 샘플링 보정 동작들 중 적어도 둘은 서로 다른 크기로 샘플링 동작을 수행함으로써 보정 데이터를 각각 산출한다.

Description

표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법{DISPLAY DEVICE AND METHOD OF DRIVING THE SAME}
본 발명은 표시 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 얼룩을 보정하는 표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 표시 장치는 표시 패널 및 패널 구동 장치를 포함한다. 표시 패널은 영상을 표시하고, 제1 방향으로 연장하는 게이트 라인, 제1 방향과 수직한 제2 방향으로 연장하는 데이터 라인, 및 게이트 라인 및 데이터 라인에 연결된 화소들을 포함한다. 패널 구동 장치는 표시 패널을 구동하고, 게이트 라인으로 게이트 신호를 출력하는 게이트 구동부 및 데이터 라인으로 데이터 신호를 출력하는 데이터 구동부를 포함한다.
화소들의 공정 상 편차에 의해 표시 패널에 얼룩이 표시될 수 있다. 표시 장치는 화소들의 보정 데이터에 기초하여 얼룩을 보정할 수 있다. 고해상도 표시 장치에서, 계조에 따른 모든 화소들에 대한 보정 데이터를 저장하기 위해 매우 큰 메모리 용량이 요구되므로, 샘플링 화소에 대한 보정 데이터에 기초하여 보간법(interpolation) 방식으로 화소들의 보정 데이터가 도출될 수 있다. 이 경우, 직선 또는 그리드 형상의 얼룩이 적절하게 보정되지 않는 문제가 발생한다.
본 발명의 일 목적은 얼룩을 보정할 수 있는 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 표시 장치의 구동 방법을 제공하는 것이다.
다만, 본 발명의 목적은 상기 목적들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 복수의 영역들에 대응되는 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널, 상기 복수의 영역들에 대응하는 복수의 샘플링(sampling) 보정 동작들을 각각 수행함으로써 상기 화소들에 대한 보정 데이터를 생성하고, 상기 보정 데이터에 기초하여 입력 영상 데이터를 보정함으로써 보정 영상 데이터를 생성하는 영상 보정부, 및 상기 보정 영상 데이터에 상응하는 영상이 상기 표시 패널에 표시되도록 상기 표시 패널을 구동하는 패널 구동부를 포함할 수 있다. 상기 복수의 샘플링 보정 동작들 중 적어도 둘은 서로 다른 크기로 샘플링 동작을 수행함으로써 상기 보정 데이터를 각각 산출할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 복수의 영역들은 제1 영역, 제2 영역, 제3 영역, 및 제4 영역을 포함할 수 있다. 상기 제4 영역은 제1 방향으로 연장되는 제1 라인 및 상기 제1 방향과 다른 제2 방향으로 연장되는 제2 라인의 교차 영역의 적어도 일부에 상응하며, 상기 제3 영역은 상기 제2 라인에 상응하는 영역의 적어도 일부에 상응하고, 상기 제2 영역은 상기 제1 라인에 상응하는 영역의 적어도 일부에 상응하며, 상기 제1 영역은 상기 제2 영역, 상기 제3 영역, 및 상기 제4 영역 이외의 영역 중 적어도 일부에 상응할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 샘플링 보정 동작들은 제1 샘플링 보정 동작, 제2 샘플링 보정 동작, 제3 샘플링 보정 동작, 및 제4 샘플링 보정 동작을 포함할 수 있다. 상기 제1 샘플링 보정 동작은 R1 (단, R1은 1보다 큰 정수) 화소행 및 C1 (단, C1은 1보다 큰 정수) 화소열 크기의 제1 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제1 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출하고, 상기 제2 샘플링 보정 동작은 R2 (단, R2은 R1 이상인 정수) 화소행 및 C2 (단, C2는 1 이상 C1 미만인 정수) 화소열 크기의 제2 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제2 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출하며, 상기 제3 샘플링 보정 동작은 R3 (단, R3은 1 이상 R1 미만인 정수) 화소행 및 C3 (단, C3는 C1 이상인 정수) 화소열 크기의 제3 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제3 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출하고, 상기 제4 샘플링 보정 동작은 R4 (단, R4는 1 이상 R1 미만인 정수) 화소행 및 C4 (단, C4는 1이상 C1 미만인 정수) 화소열 크기의 제4 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제4 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 샘플링 보정 동작, 상기 제2 샘플링 보정 동작, 상기 제3 샘플링 보정 동작, 및 상기 제4 샘플링 보정 동작은 순차적으로 수행될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 R2 화소행은 상기 R1 화소행의 정수배이고, 상기 C3 화소열은 상기 C1 화소열의 정수배일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제4 샘플링 매트릭스는 1 화소행 및 1 화소열 크기일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 패널 구동부는 상기 복수의 샘플링 보정 동작들 각각에 대응하는 서로 다른 복수의 룩-업 테이블들을 저장하는 보정 데이터 저장부, 및 상기 복수의 룩-업 테이블들에 기초하여 상기 샘플링 보정 동작들을 각각 수행하는 데이터 보정부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 보정부는 상기 샘플링 매트릭스들의 크기가 큰 순서대로 상기 샘플링 보정 동작들을 수행할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 패널 구동부는 상기 표시 패널의 촬영 영상에 기초하여 상기 복수의 룩-업 테이블들을 생성하는 보정 데이터 생성부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 보정 데이터 생성부는 상기 촬영 영상으로부터 상기 화소들의 적어도 일부의 휘도 프로파일을 도출하는 휘도 프로파일 도출부, 기준 계조에 상응하는 휘도 목표값을 도출하는 휘도 목표값 도출부, 상기 휘도 프로파일 및 상기 휘도 목표값에 기초하여 휘도 보정값을 산출하는 휘도 보정값 산출부, 및 상기 휘도 보정값에 기초하여 상기 보정 데이터를 산출하는 보정 데이터 산출부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널은 편광층이 형성된 제1 기판을 포함하고, 상기 복수의 영역들은 상기 편광층의 경계에 기초하여 구분될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 편광층의 상기 경계는 직선 형태를 가질 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널은 상기 제1 기판과 대향하는 제2 기판을 더 포함할 수 있다. 상기 편광층은 상기 제1 기판 및 상기 제2 기판 사이에 배치될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 편광층은 와이어 그리드 편광층일 수 있다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 발명의 실시예들에 따른 복수의 영역들에 대응되는 복수의 화소들을 포함하는 표시 장치의 구동 방법은 상기 화소들에 대한 보정 데이터에 기초하여 입력 영상 데이터를 보정함으로써 보정 영상 데이터를 생성하는 단계, 및 상기 보정 영상 데이터에 상응하는 영상을 표시하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 보정 데이터는 상기 복수의 영역들에 대응하는 복수의 샘플링(sampling) 보정 동작들을 각각 수행함으로써 생성될 수 있다. 상기 복수의 샘플링 보정 동작들 중 적어도 둘은 서로 다른 크기로 샘플링 동작을 수행함으로써 상기 보정 데이터를 각각 산출할 수 있다
일 실시예에 의하면, 상기 복수의 영역들은 제1 영역, 제2 영역, 제3 영역, 및 제4 영역을 포함할 수 있다. 상기 제4 영역은 제1 방향으로 연장되는 제1 라인 및 상기 제1 방향과 다른 제2 방향으로 연장되는 제2 라인의 교차 영역의 적어도 일부에 상응하며, 상기 제3 영역은 상기 제2 라인에 상응하는 영역의 적어도 일부에 상응하고, 상기 제2 영역은 상기 제1 라인에 상응하는 영역의 적어도 일부에 상응하며, 상기 제1 영역은 상기 제2 영역, 상기 제3 영역, 및 상기 제4 영역 이외의 영역 중 적어도 일부에 상응할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 샘플링 보정 동작들은 제1 샘플링 보정 동작, 제2 샘플링 보정 동작, 제3 샘플링 보정 동작, 및 제4 샘플링 보정 동작을 포함할 수 있다. 상기 제1 샘플링 보정 동작은 R1 (단, R1은 1보다 큰 정수) 화소행 및 C1 (단, C1은 1보다 큰 정수) 화소열 크기의 제1 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제1 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출하고, 상기 제2 샘플링 보정 동작은 R2 (단, R2은 R1 이상인 정수) 화소행 및 C2 (단, C2는 1 이상 C1 미만인 정수) 화소열 크기의 제2 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제2 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출하며, 상기 제3 샘플링 보정 동작은 R3 (단, R3은 1 이상 R1 미만인 정수) 화소행 및 C3 (단, C3는 C1 이상인 정수) 화소열 크기의 제3 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제3 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출하고, 상기 제4 샘플링 보정 동작은 R4 (단, R4는 1 이상 R1 미만인 정수) 화소행 및 C4 (단, C4는 1이상 C1 미만인 정수) 화소열 크기의 제4 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제4 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 샘플링 보정 동작, 상기 제2 샘플링 보정 동작, 상기 제3 샘플링 보정 동작, 및 상기 제4 샘플링 보정 동작은 순차적으로 수행될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 샘플링 보정 동작들은 복수의 룩-업 테이블들 기초하여 각각 수행될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 장치는 편광층이 형성된 기판을 포함할 수 있다. 상기 복수의 영역들은 상기 편광층의 경계에 기초하여 구분될 수 있다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 발명의 실시예들에 따른 제1 및 제2 영역들에 대응되는 복수의 화소들을 포함하는 표시 장치의 구동 방법은 제1 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제1 영역에 대응하는 제1 보정 데이터를 산출하는 제1 샘플링 보정 동작을 수행하는 단계, 상기 제1 보정 데이터에 기초하여 상기 제1 영역에 대응하는 입력 영상 데이터를 보정함으로써 제1 보정 영상 데이터를 생성하는 단계, 제2 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제2 영역에 대응하는 제2 보정 데이터를 산출하는 제2 샘플링 보정 동작을 수행하는 단계, 상기 제2 보정 데이터에 기초하여 상기 제2 영역에 대응하는 입력 영상 데이터를 보정함으로써 제2 보정 영상 데이터를 생성하는 단계, 및 상기 제1 및 제2 보정 영상 데이터에 상응하는 영상을 표시하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 제1 샘플링 매트릭스의 제1 크기는 상기 제2 샘플링 매트릭스의 제2 크기보다 클 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 샘플링 보정 동작은 제1 룩-업 테이블에 기초하여 수행될 수 있다. 상기 제2 샘플링 보정 동작은 상기 제1 룩-업 테이블과 다른 제2 룩-업 테이블에 기초하여 수행될 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 화소들을 얼룩이 형성된 위치에 기초하여 복수의 영역들로 구분하고 복수의 영역들 각각에 대해 서로 다른 샘플링 보정 동작을 이용하여 영상 데이터를 보정함으로써, 라인 또는 그리드 형상의 얼룩(예를 들어, 편광층 형성을 위한 마스터 몰드(master mold)에 의해 형성되는 블록간 경계의 얼룩)을 효과적으로 보정할 수 있다. 또한, 상기 표시 장치는 얼룩을 보정하기 위한 샘플링 매트릭스 크기를 다양하게 적용함으로써 메모리 용량 및 시스템 부하를 감소시킬 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법은 서로 다른 크기의 샘플링 매트릭스들에 기초하여 복수의 영역들에 대응하는 보정 데이터를 각각 산출함으로써 표시 품질을 향상시킬 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상기 효과들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 표시 패널에서 라인 또는 그리드 형상의 얼룩이 표시되는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3는 도 1의 표시 장치에 포함된 화소들을 복수의 영역들로 구분하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 4는 도 1의 표시 장치에 포함된 영상 보정부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 5은 도 4의 영상 보정부에 포함된 보정 데이터 생성부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 6은 제1 샘플링 보정 동작에 의해 제1 영역에 대한 제1 보정 데이터를 도출하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 7a 및 도 7b는 제2 샘플링 보정 동작에 의해 제2 영역에 대한 제2 보정 데이터를 도출하는 예들을 나타내는 도면이다.
도 8a 및 도 8b는 제3 샘플링 보정 동작에 의해 제3 영역에 대한 제3 보정 데이터를 도출하는 예들을 나타내는 도면이다.
도 9는 제4 샘플링 보정 동작에 의해 제4 영역에 대한 제4 보정 데이터를 도출하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 10a 및 도 10b는 제2 샘플링 보정 동작의 효과를 설명하기 위한 도면이다.
도 11a 및 도 11b는 제3 샘플링 보정 동작의 효과를 설명하기 위한 도면이다.
도 12a 및 도 12b는 제4 샘플링 보정 동작의 효과를 설명하기 위한 도면이다.
도 13은 도 1의 표시 장치에 포함된 표시 패널의 구조의 일 예를 나타내는 단면도이다.
도 14 내지 도 16은 도 1의 표시 장치의 효과를 설명하기 위한 도면이다.
도 17은 제1 샘플링 보정 동작에 의해 제1 영역에 대한 제1 보정 데이터를 도출하는 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 18 및 도 19는 제2 샘플링 보정 동작에 의해 제2 영역에 대한 제2 보정 데이터를 도출하는 다른 예들을 나타내는 도면이다.
도 20 및 도 21은 제3 샘플링 보정 동작에 의해 제3 영역에 대한 제3 보정 데이터를 도출하는 다른 예들을 나타내는 도면이다.
도 22는 도 1의 표시 장치에 포함된 영상 보정부의 다른 예를 나타내는 블록도이다.
도 23은 도 1의 표시 장치에 포함된 영상 보정부의 또 다른 예를 나타내는 블록도이다.
도 24는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 25는 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예들을 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성 요소에 대해서는 동일하거나 유사한 참조 부호를 사용한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(1000)는 표시 패널(100), 스캔 구동부(200), 데이터 구동부(300), 타이밍 제어부(400), 및 영상 보정부 (500)를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 표시 장치(1000)는 유기 발광 표시 장치일 수 있다. 이 경우, 표시 장치(1000)는 화소(PX)들에 발광 제어 신호를 제공하는 발광 제어 구동부를 더 포함할 수 있다. 다른 실시예에서, 표시 장치(1000)는 액정 표시 장치일 수 있다. 이 경우, 표시 장치(1000)는 백라이트 어셈블리를 더 포함할 수 있다.
표시 패널(100)는 영상을 표시하기 위해 복수의 화소(PX)들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 표시 패널(100)은 스캔 라인들(SL1 내지 SLn) 및 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)의 교차부마다 위치되는 n*m 개의 화소(PX)들을 포함할 수 있다. 표시 패널(100)의 화소(PX)들 각각은 복수의 영역들 중 하나에 대응될 수 있다. 일 실시예에서, 복수의 영역들은 표시 패널(100)에서 얼룩이 발생하는 위치에 기초하여 구분될 수 있다. 예를 들어, 표시 패널(100)은 편광층이 형성된 제1 기판을 포함하고, 복수의 영역들은 편광층의 경계에 기초하여 구분될 수 있다. 표시 패널(100)의 영역을 구분하는 방법에 대해서는 도 2 및 도 3를 참조하여 자세히 설명하기로 한다.
스캔 구동부(200)는 제1 제어 신호(CTL1)에 기초하여 스캔 라인들(SL1 내지 SLn)을 통해 화소(PX)들에 스캔 신호를 제공할 수 있다.
데이터 구동부(300)는 제2 제어 신호(CTL2) 및 타이밍 제어부(400)로부터 수신한 영상 데이터(ODATA)에 기초하여 데이터 신호를 생성하고, 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)을 통해 화소(PX)들에 데이터 신호를 제공할 수 있다.
타이밍 제어부(400)는 보정 영상 데이터(ADATA)에 상응하는 영상이 표시 패널(100)에 표시되도록 스캔 구동부(200) 및 데이터 구동부(300)를 제어할 수 있다. 예를 들어, 타이밍 제어부(500)는 스캔 구동부(200) 및 데이터 구동부(300)를 각각 제어하기 위해 제1 및 제2 제어 신호들(CTL1 및 CTL2)을 생성할 수 있다. 스캔 구동부(200)를 제어하기 위한 제1 제어 신호(CTL1)는 스캔 개시 신호, 스캔 클럭 신호, 등을 포함할 수 있다. 데이터 구동부(300)를 제어하기 위한 제2 제어 신호(CTL2)는 수평 개시 신호, 데이터 클럭 신호, 로드 신호, 등을 포함할 수 있다. 타이밍 제어부(500)는 보정 영상 데이터(ADATA)에 기초하여 표시 패널(100)의 동작 조건에 맞는 디지털 영상 데이터(ODATA)를 생성하여 데이터 구동부(300)에 제공할 수 있다.
영상 보정부(500)는 복수의 영역들에 대응하는 복수의 샘플링(sampling) 보정 동작들을 각각 수행함으로써 화소(PX)들에 대한 보정 데이터를 생성하고, 보정 데이터에 기초하여 입력 영상 데이터(IDATA)를 보정함으로써 보정 영상 데이터(ADATA)를 생성할 수 있다. 복수의 샘플링 보정 동작들 중 적어도 둘은 서로 다른 크기로 샘플링 동작을 수행함으로써 보정 데이터를 각각 산출할 수 있다. 즉, 샘플링 보정 동작들은 보정 데이터를 생성하기 위해 서로 다른 크기의 샘플링 매트릭스들을 사용할 수 있다. 여기서, 샘플링 보정 동작은 대상 영역을 샘플링 매트릭스 크기의 블록들 나누고, 각각의 블록에 포함된 화소들 중 하나(예를 들어, 각 블록의 (1행,1열) 위치의 화소)를 샘플링 화소로 결정하며, 샘플링 화소의 보정 데이터를 룩-업 테이블로부터 도출하고, 샘플링 화소가 아닌 화소(이하, 일반 화소)의 보정 데이터를 주변의 샘플링 화소들의 보정 데이터에 기초하여 도출하는 동작을 나타낸다. 특히, 고 해상도 표시 장치에서 계조에 따른 모든 화소들에 대한 보정 데이터를 저장하기 위해 매우 큰 메모리 용량이 요구되므로, 샘플링 보정 동작을 통해 메모리 용량을 감소시킬 수 있다.
영상 보정부(500)는 얼룩이 표시되는 영역에 배치된 화소의 경우, 상대적으로 작은 크기의 샘플링 매트릭스를 이용하여 화소에 대한 보정 데이터를 생성할 수 있다. 반면에, 영상 보정부(500)는 얼룩이 표시되지 않는 영역에 배치된 화소의 경우, 상대적으로 큰 크기의 샘플링 매트릭스를 이용하여 화소에 대한 보정 데이터를 생성할 수 있다. 영역들 각각에 대응하는 보정 데이터를 생성하는 방법에 대해서는 도 6 내지 도 9 및 도 17 내지 도 21을 참조하여 자세히 설명하기로 한다.
따라서, 표시 장치(1000)는 화소들을 얼룩이 형성된 위치에 기초하여 복수의 영역들로 구분하고 복수의 영역들 각각에 대해 서로 다른 샘플링 보정 동작을 통해 영상 데이터를 보정함으로써, 라인 또는 그리드 형상의 얼룩을 효과적으로 보정할 수 있다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 표시 패널에서 라인 또는 그리드 형상의 얼룩이 표시되는 일 예를 나타내는 도면이다. 도 3는 도 1의 표시 장치에 포함된 화소들을 복수의 영역들로 구분하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 화소들은 표시 패널(100)에 얼룩이 표시되는 위치에 기초하여 제1 내지 제4 영역(R1 내지 R4)들로 구분될 수 있다.
도 2에 도시된 바와 같이, 표시 패널(100)의 제조 공정 상의 편차에 의해 그리드 형상의 얼룩이 시인될 수 있다. 예를 들어, 표시 패널(100)은 편광층이 형성된 제1 기판을 포함할 수 있다. 복수의 영역들은 편광층의 경계에 기초하여 구분될 수 있다. 구체적으로, 편광층은 마스터 몰드(master mold)를 이용하여 임프린트(imprint) 방식으로 형성될 수 있다. 마스터 몰드가 표시 패널(100)의 크기보다 작은 경우, 그리드 형상의 얼룩이 시인될 수 있다. 하나의 표시 패널에 대응하여 제1 방향(D1)으로 4개의 서브 블록이 형성되고 제2 방향(D2)으로 3개의 블록이 형성되는 경우, 제1 방향(D1)으로 연장되는 2개의 직선 형상의 얼룩 및 제2 방향(D2)으로 연장되는 3개의 직선 형상의 얼룩이 시인될 수 있다.
도 3에 도시된 바와 같이, 화소들은 얼룩이 표시되는 위치에 기초하여 제1 내지 제4 영역(R1 내지 R4)들로 구분될 수 있다. 제1 영역(R1)은 얼룩이 표시되지 않는 위치에 상응할 수 있다. 제2 영역(R2)은 제1 방향(D1)으로 연장되는 제1 라인을 따라 표시되는 제1 얼룩(ST1)의 위치 및 그 주변 영역에 상응할 수 있다. 제3 영역(R3)은 제2 방향(D2)으로 연장되는 제2 라인을 따라 형성되는 제2 얼룩(ST2)의 위치 및 그 주변 영역에 상응할 수 있다. 제4 영역(R4)은 제1 방향(D1)으로 연장되는 제1 얼룩(ST1) 및 제2 방향(D2)으로 연장되는 제2 얼룩(ST2)의 교차 위치 및 그 주변 영역에 상응할 수 있다.
도 4는 도 1의 표시 장치에 포함된 영상 보정부의 일 예를 나타내는 블록도이다. 도 5은 도 4의 영상 보정부에 포함된 보정 데이터 생성부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 4 및 도 5를 참조하면, 영상 보정부(500A)는 제1 내지 제4 영역들 각각에 대해 서로 다른 샘플링 보정 동작을 통해 영상 데이터를 보정할 수 있다. 일 실시예에서, 영상 보정부(500A)는 보정 데이터 저장부(510A) 및 데이터 보정부(530)를 포함할 수 있다.
보정 데이터 저장부(510A)는 복수의 샘플링 보정 동작들 각각에 대응하는 서로 다른 복수의 룩-업 테이블들을 저장할 수 있다. 일 실시예에서, 보정 데이터 저장부(510A)는 비휘발성 메모리 장치에 저장되는 제1 내지 제4 룩-업 테이블들(511 내지 514)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 내지 제4 룩-업 테이블들(511 내지 514)은 플래시 메모리(flash memory)에 저장될 수 있다.
제1 내지 제4 룩-업 테이블들(511 내지 514)은 샘플링 화소의 계조값에 따른 보정값을 저장할 수 있다. 예를 들어, 제1 내지 제4 룩-업 테이블들(511 내지 514) 각각의 속성(attribute)들은 화소 위치값, 계조값, 보정값, 등을 포함할 수 있다.
화소 위치값은 샘플링 화소의 위치를 나타내는 값을 나타낸다. 일 실시예에서, 화소 위치값은 (화소행, 화소열)에 대응하는 데이터일 수 있다. 다른 실시예에서, 화소 위치값은 화소의 인덱스 값이 저장될 수 있다.
계조값은 기준 계조를 나타낸다. 일 실시예에서, 제1 내지 제4 룩-업 테이블(511 내지 514)들 각각은 기 지정된 기준 계조값들(예를 들어, 4G, 8G, 16G, 24G, 32G, 64G, 96G, 128G, 160G, 192G, 224G, 255G)에 대응하는 보상 데이터만을 포함할 수 있다. 이 경우, 기 지정된 기준 계조값 이외의 계조에 대한 보정값은 기 지정된 기준 계조값에 대응하는 보정값에 기초하여 선형 보간법(linear interpolation) 방식으로 도출될 수 있다. 다른 실시예에서, 제1 내지 제4 룩-업 테이블(511 내지 514)들 각각은 모든 계조값(예를 들어, 0 내지 255)에 대응하는 데이터를 포함할 수 있다.
보정값은 샘플링 화소의 영상 데이터가 계조값에 상응하는 경우, 영상 데이터가 보정되어야 하는 값을 나타낸다. 일 실시예에서, 보정값은 영상 데이터가 보정되어야 할 오프셋(offset)일 수 있다. 다른 실시예에서, 보정값은 영상 데이터의 보정된 후의 계조값일 수 있다.
제1 룩-업 테이블(511)은 제1 영역에 대응하는 보정 데이터를 산출하는 제1 샘플링 보정 동작을 위한 것일 수 있다. 제1 룩-업 테이블(511)은 제1 영역에 상응하는 화소들에 대한 보정 데이터를 도출하기 위해 제1 영역에 포함된 제1 샘플링 화소들의 계조에 따른 보정값을 저장할 수 있다.
제2 룩-업 테이블(512)은 제2 영역에 대응하는 보정 데이터를 산출하는 제2 샘플링 보정 동작을 위한 것일 수 있다. 제2 룩-업 테이블(512)은 제2 영역에 상응하는 화소들에 대한 보정 데이터를 도출하기 위해 제2 영역에 포함된 제2 샘플링 화소들의 계조에 따른 보정값을 저장할 수 있다.
제3 룩-업 테이블(513)은 제3 영역에 대응하는 보정 데이터를 산출하는 제3 샘플링 보정 동작을 위한 것일 수 있다. 제3 룩-업 테이블(513)은 제3 영역에 상응하는 화소들에 대한 보정 데이터를 도출하기 위해 제3 영역에 포함된 제3 샘플링 화소들의 계조에 따른 보정값을 저장할 수 있다.
제4 룩-업 테이블(514)은 제4 영역에 대응하는 보정 데이터를 산출하는 제4 샘플링 보정 동작을 위한 것일 수 있다. 제4 룩-업 테이블(514)은 제4 영역에 상응하는 화소들에 대한 보정 데이터를 도출하기 위해 제4 영역에 포함된 제4 샘플링 화소들의 계조에 따른 보정값을 저장할 수 있다.
데이터 보정부(530)는 복수의 룩-업 테이블들에 기초하여 샘플링 보정 동작들을 각각 수행할 수 있다. 일 실시예에서, 데이터 보정부(530)는 제1 내지 제4 영역 보정부들(531 내지 534)을 포함할 수 있다.
제1 영역 보정부(531)는 제1 룩-업 테이블(511)에 기초하여 제1 샘플링 보정 동작을 수행함으로써 제1 보정 데이터를 도출하고, 제1 보정 데이터에 기초하여 제1 영역에 상응하는 화소들의 영상 데이터를 보정할 수 있다. 제1 샘플링 보정 동작은 R1 (단, R1은 1보다 큰 정수) 화소행 및 C1 (단, C1은 1보다 큰 정수) 화소열 크기의 샘플링 매트릭스 (이하, R1*C1 샘플링 매트릭스라 함) (즉, 제1 샘플링 매트릭스)에 기초하여 제1 영역에 대응하는 보정 데이터를 산출할 수 있다. 일 실시예에서, 제1 영역 보정부(531)는 표시 패널 전체에 대해 제1 룩-업 테이블(511)에 기초하여 입력 영상 데이터(IDATA)를 보정함으로써 제1 데이터(D1)를 생성할 수 있다. 다른 실시예에서, 제1 영역 보정부(531)는 제1 영역에 대해서만 제1 룩-업 테이블(511)에 기초하여 입력 영상 데이터(IDATA)를 보정함으로써 제1 데이터(D1)를 생성할 수 있다.
제2 영역 보정부(532)는 제2 룩-업 테이블(512)에 기초하여 제2 샘플링 보정 동작을 수행함으로써 제2 보정 데이터를 도출하고, 제2 보정 데이터에 기초하여 제2 영역에 상응하는 화소들의 영상 데이터를 보정할 수 있다. 제2 샘플링 보정 동작은 R2(단, R2는 R1 이상인 정수) * C2 (단, C2는 1 이상 C1 미만인 정수) 샘플링 매트릭스(즉, 제2 샘플링 매트릭스)에 기초하여 제2 영역에 대응하는 보정 데이터를 산출할 수 있다. 일 실시예에서, 제2 영역 보정부(532)는 제1 방향(D1)으로 연장되는 얼룩에 대응하는 영역(도 3의 제2 영역 및 제4 영역)에 대해 제2 룩-업 테이블(512)에 기초하여 제1 데이터(D1)를 보정함으로써 제2 데이터(D2)를 생성할 수 있다. 제1 데이터(D1)의 제2 영역 및 제4 영역의 영상 데이터는 덮어 쓰여질(overwrite) 수 있다. 다른 실시예에서, 제2 영역 보정부(532)는 제2 영역에 대해서만 제2 룩-업 테이블(512)에 기초하여 제1 데이터(D1)를 보정함으로써 제2 데이터(D2)를 생성할 수 있다.
제3 영역 보정부(533)는 제3 룩-업 테이블(513)에 기초하여 제3 샘플링 보정 동작을 수행함으로써 제3 보정 데이터를 도출하고, 제3 보정 데이터에 기초하여 제3 영역에 상응하는 화소들의 영상 데이터를 보정할 수 있다. 제3 샘플링 보정 동작은 R3 (단, R3은 1 이상 R1 미만인 정수) * C3 (단, C3는 C1 이상인 정수) 샘플링 매트릭스 (즉, 제3 샘플링 매트릭스)에 기초하여 제3 영역에 대응하는 보정 데이터를 산출할 수 있다. 일 실시예에서, 제3 영역 보정부(533)는 제2 방향(D2)으로 연장되는 얼룩에 대응하는 영역(도 3의 제3 영역 및 제4 영역)에 대해 제3 룩-업 테이블(513)에 기초하여 제2 데이터(D2)를 보정함으로써 제3 데이터(D3)를 생성할 수 있다. 제2 데이터(D2)의 제3 영역 및 제4 영역의 영상 데이터는 덮어 쓰여질 수 있다. 다른 실시예에서, 제3 영역 보정부(533)는 제3 영역에 대해서만 제3 룩-업 테이블(513)에 기초하여 제2 데이터(D2)를 보정함으로써 제3 데이터(D3)를 생성할 수 있다.
제4 영역 보정부(534)는 제4 룩-업 테이블(514)에 기초하여 제4 샘플링 보정 동작을 수행함으로써 제4 보정 데이터를 도출하고, 제4 보정 데이터에 기초하여 제4 영역에 상응하는 화소들의 영상 데이터를 보정할 수 있다. 제4 샘플링 보정 동작은 R4 (단, R4는 1 이상 R1 미만인 정수) * C4 (단, C4는 1이상 C1 미만인 정수) 샘플링 매트릭스 (즉, 제4 샘플링 매트릭스)에 기초하여 제4 영역에 대응하는 보정 데이터를 산출할 수 있다. 일 실시예에서, 제4 영역 보정부(534)는 제1 방향(D1)으로 연장되는 얼룩 및 제2 방향(D2)으로 연장되는 얼룩이 교차하는 위치 및 그 주변 영역(예를 들어, 도 3의 제4 영역)에 대해 제4 룩-업 테이블(514)에 기초하여 제3 데이터(D3)를 보정함으로써 보정 영상 데이터(ADATA)를 생성할 수 있다. 제3 데이터(D3)의 제4 영역의 영상 데이터는 덮어 쓰여질 수 있다.
이와 같이, 샘플링 매트릭스들의 크기가 큰 순서대로 샘플링 보정 동작들을 수행하고 영상 데이터를 덮어쓰는 방식으로 얼룩을 보정함으로써, 상대적으로 간단한 하드웨어 구조로 구현될 수 있다.
영상 보정부(500A)의 제1 내지 제4 룩-업 테이블들(511 내지 514)은 보정 데이터 생성부(50)에 의해 생성될 수 있다. 일 실시예에서, 보정 데이터 생성부(50)는 표시 장치 외부에 위치하고, 표시 장치의 제조 단계에서 제1 내지 제4 룩-업 테이블들(511 내지 514)을 설정할 수 있다. 다른 실시예에서, 데이터 생성부(50)의 내부에 위치하고, 표시 장치의 제조 단계, 초기 설정 단계, 구동 단계 중 적어도 하나에서 제1 내지 제4 룩-업 테이블들(511 내지 514)을 설정할 수 있다. 보정 데이터 생성부(50)는 표시 패널(100)의 촬영 영상 데이터(CI)에 기초하여 제1 내지 제4 룩-업 테이블들(511 내지 514)의 데이터를 생성할 수 있다. 예를 들어, 보정 데이터 생성부(50)는 표시 장치의 초기 설정 단계 또는 제조 단계에서 제1 내지 제4 룩-업 테이블들(511 내지 514)에 저장되는 보상 데이터를 생성할 수 있다.
도 5에 개시된 바와 같이, 보정 데이터 생성부(50)는 휘도 프로파일 도출부(51), 영역 판단부(52), 휘도 보정값 산출부(53), 휘도 목표값 도출부(54), 및 보정 데이터 산출부(55)를 포함할 수 있다.
휘도 프로파일 도출부(51)는 표시 패널의 촬영 영상 데이터(CI)으로부터 화소들의 적어도 일부의 휘도 프로파일(LP)을 도출할 수 있다. 예를 들어, 촬영 영상 데이터(CI)는 모든 화소가 동일한 계조(즉, 기준 계조)를 갖는 영상을 표시하는 표시 패널을 촬영하여 생성되고, 휘도 프로파일 도출부(51)는 촬영 영상 데이터(CI)으로부터 화소들에 대한 휘도값을 도출함으로써 상기 기준 계조에 대한 휘도 프로파일(LP)을 생성할 수 있다.
영역 판단부(52)는 휘도 프로파일(LP)에 기초하여 제1 내지 제4 영역들의 구분하기 위한 영역 데이터(RD)를 출력할 수 있다.
휘도 목표값 도출부(54)는 기준 계조에 상응하는 휘도 목표값(LT)을 도출할 수 있다. 예를 들어, 휘도 목표값 도출부(54)는 기준 계조에 따른 휘도 목표값을 저장한 메모리를 이용하여 기준 계조에 상응하는 휘도 목표값(LT)을 도출할 수 있다.
휘도 보정값 산출부(53)는 휘도 프로파일(LP) 및 휘도 목표값(LT)에 기초하여 휘도 보정값(LA)을 산출할 수 있다. 예를 들어, 휘도 보정값 산출부(53)는 휘도 프로파일(LP) 및 휘도 목표값(LT)의 차이를 휘도 보정값(LA)으로 산출할 수 있다.
보정 데이터 산출부(55)는 휘도 보정값(LA)에 기초하여 보정 데이터(AD)를 산출할 수 있다. 예를 들어, 보정 데이터 산출부 (55)는 감마 곡선을 이용하여 제1 휘도 보정값(LA)에 대응하는 보정 데이터(AD)를 출력할 수 있다. 또한, 보정 데이터 산출부(55)는 생성된 보정 데이터(AD) 및 영역 데이터(RD)에 기초하여 제1 내지 제4 룩-업 테이블들(511 내지 514)에 데이터를 저장할 수 있다. 예를 들어, 보정 데이터 산출부(55)는 패널 전체의 샘플링 화소들의 계조에 따른 보정값을 제1 룩-업 테이블(511)에 저장할 수 있다. 보정 데이터 산출부(55)는 제2 영역 내지 제4 영역을 판단하고, 제2 영역 내지 제4 영역 각각에 포함된 샘플링 화소들의 계조에 따른 보정값을 제2 내지 제4 룩-업 테이블(512, 513, 514)에 각각 저장할 수 있다.
비록, 상기에서는 영상 보정부(500A)는 보정 데이터 생성부(50)를 이용하여 보정 데이터 저장부(510A)의 데이터를 설정하는 것으로 설명하였으나, 보정 데이터 저장부(510A)의 데이터는 다양한 방법으로 설정될 수 있다.
도 6은 제1 샘플링 보정 동작에 의해 제1 영역에 대한 제1 보정 데이터를 도출하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 6을 참조하면, 얼룩이 표시되지 않는 위치에 상응하는 제1 영역(R1)에서, 제1 샘플링 보정 동작에 의해 화소들의 제1 보정 데이터가 생성될 수 있다.
제1 샘플링 보정 동작의 제1 샘플링 매트릭스(SM1)는 4*4 샘플링 매트릭스일 수 있다. 제1 샘플링 보정 동작은 제1 영역(R1)을 4*4 샘플링 매트릭스 크기의 블록들로 나누고, 각각의 블록에 포함된 16개의 화소들 중 하나(예를 들어, 각 블록 내 (1행, 1열) 위치의 화소)를 샘플링 화소로 결정할 수 있다. 예를 들어, (제1 화소행, 제1 화소열)에 위치하는 화소(이하, (1,1)화소라 함), (1,5)화소, (5,1)화소, (5,5)화소, 등이 샘플링 화소로 선택될 수 있다. 샘플링 화소들의 보정값은 제1 룩-업 테이블로부터 도출될 수 있다. 샘플링 화소가 아닌 일반 화소(예를 들어, (3, 4)화소)의 보정값은 일반 화소 주변의 샘플링 화소들(즉, (1,1) 화소, (5,1)화소, (1,5)화소, 및 (5,5)화소)의 보정값에 기초하여 도출될 수 있다. 예를 들어, 일반 화소의 보정값은 주변 샘플링 화소들의 보정값에 기초한 이중 선형 보간법(bilinear interpolation) 방식으로 도출될 수 있다.
일 실시예에서, (3, 4)화소(즉, 대상 화소)의 보정값은 주변의 샘플링 화소들의 보정값과 가중치들을 이용한 가중 평균으로 산출될 수 있다. (1, 1)화소(즉, 제1 샘플링 화소)의 가중치(W'1)는 (1, 1)화소와 (3, 4)화소 사이의 제1 거리(D1)에 반비례할 수 있다. (1, 5)화소(즉, 제2 샘플링 화소)의 가중치(W'2)는 (1, 5)화소와 (3, 4)화소 사이의 제2 거리(D2)에 반비례할 수 있다. (5, 1)화소(즉, 제3 샘플링 화소)의 가중치(W'3)는 (5, 1)화소와 (3, 4)화소 사이의 제3 거리(D3)에 반비례할 수 있다. (5, 5)화소(즉, 제4 샘플링 화소)의 가중치(W'4)는 (5, 5)화소와 (3, 4)화소 사이의 제4 거리(D4)에 반비례할 수 있다. 예를 들어, 샘플링 화소의 가중치는 [수학식1]에 의해 계산될 수 있다.
[수학식1]
Figure 112017130040178-pat00001
여기서, W'k는 제k 샘플링 화소의 가중치, Dk는 제k 샘플링 화소와 대상 화소의 거리를 나타낸다.
또한, 대상 화소의 보정값을 샘플링 화소들의 보정값의 가중 평균값으로 설정하기 위해 가중치들의 합은 1이 되도록 설정될 수 있다. 따라서, 샘플링 화소들의 가중치는 [수학식2]에 의해 재계산될 수 있다.
[수학식2]
Figure 112017130040178-pat00002
여기서, Wk는 제k 샘플링 화소의 재계산된 가중치, W'k는 제k 샘플링 화소의 가중치를 나타낸다.
따라서, 일반 화소의 보정값은 [수학식3]에 의해 계산될 수 있다.
[수학식3]
Figure 112017130040178-pat00003
여기서, AV는 일반 화소의 보정값, AVi은 샘플링 화소의 보정값, Wi은 샘플링 화소의 가중치를 나타낸다.
비록, 도 6에서는 제1 샘플링 매트릭스(SM1)는 4*4 샘플링 매트릭스인 것으로 설명하였으나, 제1 샘플링 매트릭스는 다양한 크기로 설정될 수 있다.
도 7a 및 도 7b는 제2 샘플링 보정 동작에 의해 제2 영역에 대한 제2 보정 데이터를 도출하는 예들을 나타내는 도면이다.
도 7a 및 도 7b를 참조하면, 제1 방향(D1)으로 연장되는 제1 라인을 따라 표시되는 제1 얼룩(ST1)을 포함하는 제2 영역(R2)에서, 제2 샘플링 보정 동작에 의해 화소들의 제2 보정 데이터가 생성될 수 있다.
제2 샘플링 보정 동작의 제2 샘플링 매트릭스(SM2)는 1*4 샘플링 매트릭스일 수 있다. 이에 따라, 제2 샘플링 보정 동작에서 4개의 화소들 중 하나의 샘플링 화소가 선택될 수 있다. 예를 들어, 제2 영역(R2)에 포함되고 1 화소열, 5 화소열, 등에 위치하는 화소들이 샘플링 화소로 선택될 수 있다. 샘플링 화소들의 보정값은 제2 룩-업 테이블로부터 도출될 수 있다. 샘플링 화소가 아닌 일반 화소(예를 들어, (3, 4) 화소)의 보정값은 일반 화소 주변의 샘플링 화소들(즉, (3,1) 화소, (3,5) 화소)의 보정값에 기초하여 도출될 수 있다. 예를 들어, 일반 화소의 보정값은 주변 샘플링 화소들의 보정값에 기초한 선형 보간법(linear interpolation) 방식으로 도출될 수 있다.
도 7a에 도시된 바와 같이, 제2 영역(R2)에서 (3, 4)화소의 보정값은 주변의 샘플링 화소(즉, (3, 1)화소 및 (3, 5)화소)들의 보정값과 가중치들을 이용한 가중 평균으로 산출될 수 있다. (3, 1)화소의 가중치는 (3, 1)화소와 (3, 4)화소 사이의 제5 거리(D5)에 반비례할 수 있다. 여기서, (3, 5)화소의 가중치는 (3, 5)화소와 (3, 4)화소 사이의 제6 거리(D6)에 반비례할 수 있다. 일반 화소의 보정값을 산출하는 방법은 상술하였으므로, 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 7b에 도시된 바와 같이, 제2 영역(R2)에서 (4, 3)화소의 보정값은 주변의 샘플링 화소(즉, (4, 1)화소 및 (4, 5)화소)들의 보정값과 가중치들을 이용한 가중 평균으로 산출될 수 있다. 여기서, (4, 1)화소의 가중치는 (4, 1)화소와 (4, 3)화소 사이의 제7 거리(D7)에 반비례할 수 있다. (4, 5)화소의 가중치는 (4, 5)화소와 (4, 3)화소 사이의 제8 거리(D8)에 반비례할 수 있다.
따라서, 도 7a에서, 제1 얼룩(ST1) 상에 위치하는 (3, 4)화소의 보정값은 제1 얼룩(ST1) 상에 위치하는 샘플링 화소인 (3, 1)화소 및 (3, 5)화소의 보정값에 기초하여 생성되므로, 생성된 보정값의 오차가 상대적으로 작을 수 있다. 도 7b에서, 제1 얼룩(ST1)의 외부에 위치하는 (4, 3)화소의 보정값은 제1 얼룩(ST1)의 외부에 위치하는 샘플링 화소인 (4, 1)화소 및 (4, 5)화소의 보정값에 기초하여 생성되므로, 생성된 보정값의 오차가 상대적으로 작을 수 있다.
비록, 도 7a 및 도 7b에서는 제2 샘플링 매트릭스(SM2)는 1*4 샘플링 매트릭스인 것으로 설명하였으나, 제2 샘플링 매트릭스는 다양한 크기로 설정될 수 있다.
도 8a 및 도 8b는 제3 샘플링 보정 동작에 의해 제3 영역에 대한 제3 보정 데이터를 도출하는 예들을 나타내는 도면이다.
도 8a 및 도 8b를 참조하면, 제2 방향(D2)으로 연장되는 제2 라인을 따라 표시되는 제2 얼룩(ST2)을 포함하는 제3 영역(R3)에서, 제3 샘플링 보정 동작에 의해 화소들의 제3 보정 데이터가 생성될 수 있다.
제3 샘플링 보정 동작의 제3 샘플링 매트릭스(SM3)는 4*1 샘플링 매트릭스일 수 있다. 이에 따라, 제3 샘플링 보정 동작에서 4개의 화소들 중 하나의 샘플링 화소가 선택될 수 있다. 예를 들어, 제3 영역(R3)에 포함되고 1 화소행, 5 화소행, 등에 위치하는 화소들이 샘플링 화소로 선택될 수 있다. 샘플링 화소들의 보정값은 제3 룩-업 테이블로부터 도출될 수 있다. 샘플링 화소가 아닌 일반 화소(예를 들어, (3, 4) 화소)의 보정값은 일반 화소 주변의 샘플링 화소들(즉, (1,4) 화소, (5,4) 화소)의 보정값에 기초하여 도출될 수 있다. 예를 들어, 일반 화소의 보정값은 주변 샘플링 화소들의 보정값에 기초한 선형 보간법 방식으로 도출될 수 있다.
도 8a에 도시된 바와 같이, (3, 4)화소의 보정값은 주변의 샘플링 화소(즉, (1, 4)화소 및 (5, 4)화소)들의 보정값과 가중치들을 이용한 가중 평균으로 산출될 수 있다. 여기서, (1, 4)화소의 가중치는 (1, 4)화소와 (3, 4)화소 사이의 제9 거리(D9)에 반비례할 수 있다. (5, 4)화소의 가중치는 (5, 4)화소와 (3, 4)화소 사이의 제10 거리(D10)에 반비례할 수 있다.
도 8b에 도시된 바와 같이, (4, 3)화소의 보정값은 주변의 샘플링 화소(즉, (1, 3)화소 및 (5, 3)화소)들의 보정값과 가중치들을 이용한 가중 평균으로 산출될 수 있다. 여기서, (1, 3)화소의 가중치는 (1, 3)화소와 (4, 3)화소 사이의 제11 거리(D11)에 반비례할 수 있다. (5, 3)화소의 가중치는 (5, 3)화소와 (4, 3)화소 사이의 제12 거리(D12)에 반비례할 수 있다.
따라서, 도 8a에서 제2 얼룩(ST2) 상에 위치하는 (3, 4)화소의 보정값은 제2 얼룩(ST2)에 위치하는 샘플링 화소인 (1, 4)화소 및 (5, 4)화소의 보정값에 기초하여 생성되므로, 생성된 보정값의 오차가 상대적으로 작을 수 있다. 마찬가지로, 도 8b에서 제2 얼룩(ST2)의 외부에 위치하는 (4, 3)화소의 보정값은 제2 얼룩(ST2)의 외부에 위치하는 샘플링 화소인 (1, 3)화소 및 (5, 3)화소의 보정값에 기초하여 생성되므로, 생성된 보정값의 오차가 상대적으로 작을 수 있다.
비록, 도 8a 및 도 8b에서는 제3 샘플링 매트릭스(SM3)는 4*1 샘플링 매트릭스인 것으로 설명하였으나, 제3 샘플링 매트릭스는 다양한 크기로 설정될 수 있다.
도 9는 제4 샘플링 보정 동작에 의해 제4 영역에 대한 제4 보정 데이터를 도출하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 9를 참조하면, 제1 얼룩(ST1)과 제2 얼룩(ST2)이 교차되는 영역을 포함하는 제4 영역(R4)에서, 제4 샘플링 보정 동작에 의해 화소들의 제4 보정 데이터가 생성될 수 있다.
제4 샘플링 보정 동작의 제4 샘플링 매트릭스(SM4)는 1*1 샘플링 매트릭스일 수 있다. 즉, 제4 영역(R4)에 포함되는 모든 화소에 대한 보정값을 제4 룩-업 테이블로부터 도출할 수 있으므로, 제4 영역(R4)에 대해 오차 없이 보정할 수 있다.
비록, 도 9에서는 제4 샘플링 보정 동작은 모든 화소에 대한 보정값을 제4 룩-업 테이블로부터 도출하는 것으로 도시하였으나, 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 제4 샘플링 보정 동작은 메모리 용량 및 표시 장치의 부하를 줄이기 위해 2*2 샘플링 매트릭스를 이용하여 제4 영역(R4)에 포함된 화소들의 보상 데이터를 도출할 수 있다.
도 10a 및 도 10b는 제2 샘플링 보정 동작의 효과를 설명하기 위한 도면이다.
도 10a, 및 도 10b를 참조하면, 제2 샘플링 보정 동작은 상대적으로 작은 높이를 갖는 샘플링 매트릭스(예를 들어, 1*4 샘플링 매트릭스)를 이용하므로, 제2 방향(D2)으로 이동함에 따라 보정값의 변화가 큰 경우 제2 샘플링 보정 동작을 적용함으로써 보정값의 오차를 효율적으로 줄일 수 있다.
도 10a에 도시된 바와 같이, 제2 영역에서, 얼룩은 제1 방향(D1)으로 연장되므로, 제1 방향(D1)으로 이동함에 따른 보정값의 변화는 상대적으로 작을 수 있다.
도 10b에 도시된 바와 같이, 제2 영역에서, 제2 방향(D2)으로 이동함에 따라 얼룩을 가로지르므로, 제2 방향(D2)으로 이동함에 따른 보정값의 변화는 상대적으로 클 수 있다.
따라서, 제2 영역에서 제2 샘플링 보정 동작을 적용함으로써, 상대적으로 적은 오차를 갖는 보정값을 도출할 수 있다. 제2 영역에 포함된 모든 화소들에 대한 보정값을 메모리(즉, 룩-업 테이블)에 저장하지 않아도 되므로, 얼룩 보정을 위한 메모리 용량을 감소하고 효율을 높일 수 있다.
도 11a 및 도 11b는 제3 샘플링 보정 동작의 효과를 설명하기 위한 도면이다.
도 11a 및 도 11b를 참조하면, 제3 샘플링 보정 동작은 상대적으로 작은 너비를 갖는 샘플링 매트릭스(예를 들어, 4*1 샘플링 매트릭스)를 이용하므로, 제1 방향(D1)으로 이동함에 따라 보정값의 변화가 큰 경우 제3 샘플링 보정 동작을 적용함으로써 보정값의 오차를 효율적으로 줄일 수 있다.
도 11a에 도시된 바와 같이, 제3 영역에서, 제1 방향(D1)으로 이동함에 따라 얼룩을 가로지르게 되므로, 제1 방향(D1)으로 이동함에 따른 보정값의 변화는 상대적으로 클 수 있다.
도 11b에 도시된 바와 같이, 제3 영역에서, 얼룩은 제2 방향(D2)으로 연장되므로, 제2 방향(D2)으로 이동함에 따른 보정값의 변화는 상대적으로 작을 수 있다.
따라서, 제3 영역에서 제3 샘플링 보정 동작을 적용함으로써, 상대적으로 적은 오차를 갖는 보정값을 도출할 수 있다. 제3 영역에 포함된 모든 화소들에 대한 보정값을 메모리(즉, 룩-업 테이블)에 저장하지 않아도 되므로, 얼룩 보정을 위한 메모리 용량을 감소하고 효율을 높일 수 있다.
도 12a 및 도 12b는 제4 샘플링 보정 동작의 효과를 설명하기 위한 도면이다.
도 12a 및 도 12b를 참조하면, 제4 샘플링 보정 동작은 상대적으로 작은 높이 및 너비를 갖는 샘플링 매트릭스(예를 들어, 1*1 샘플링 매트릭스)를 이용하므로, 인접한 화소들간의 보정값의 변화가 상대적으로 큰 제4 영역에서 제4 샘플링 보정 동작을 적용함으로써 보정값의 오차를 줄일 수 있다.
제4 영역은 제1 방향으로 연장되는 제1 얼룩 및 제2 방향으로 연장되는 제2 얼룩이 교차하는 위치와 그에 인접한 영역에 해당하며, 보정값의 변화가 크기 때문에 제1 내지 제3 샘플링 보정 동작을 수행하는 경우 보정 오차가 크게 발생할 수 있다. 따라서, 제1 얼룩과 제2 얼룩이 교차하는 제4 영역서만 제4 샘플링 보정 동작을 적용함으로써 부하가 크게 증가하지 않는 범위에서 보정값의 오차를 줄일 수 있다.
도 13은 도 1의 표시 장치에 포함된 표시 패널의 구조의 일 예를 나타내는 단면도이다.
도 13을 참조하면, 표시 패널은 인셀(in-cell) 구조를 형성하는 와이어 그리드(Wire Grid) 편광층을 포함할 수 있다.
표시 패널은 제1 기판(S1), 제1 기판(S1)과 대향하는 제2 기판(S2), 및 제1 기판(S1)과 제2 기판(S2) 사이에 배치된 액정층을 포함할 수 있다. 표시 패널은 하부에 배치된 광원 모듈(LS) 광(LIGHT)을 제공받아 영상을 표시할 수 있다.
제1 기판(S1)은 제1 베이스 기판(110), 제1 버퍼 부재(111), 제1 편광층(114), 게이트 전극(GE), 게이트 절연층(115), 액티브 패턴(AP), 소스 전극(SE), 드레인 전극(DE), 패시베이션층(116), 유기 절연층(117) 및 화소 전극(PE)을 포함할 수 있다.
제1 버퍼 부재(111)는 제1 베이스 기판(110) 및 제1 편광층(114) 사이에 배치될 수 있다.
제1 편광층(114)은 편광 기능을 수행하는 와이어 그리드 어레이를 포함할 수 있다. 와이어 그리드 어레이는 제1 방향을 따라 연장되고, 제1 방향과 교차하는 제2 방향을 따라 서로 평행하게 배열된 복수의 선형 금속 패턴을 포함할 수 있다.
게이트 전극(GE), 액티브 패턴(AP), 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)은 박막 트랜지스터를 구성할 수 있다. 박막 트랜지스터는 화소 전극(PE)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제1 베이스 기판(110) 상에 제1 편광층(114)이 형성된 후, 박막 트랜지스터 어레이가 제1 편광층(114) 상에 형성될 수 있다.
게이트 전극(GE)은 제1 편광층(114) 상에 배치될 수 있다. 게이트 전극(GE)은 베이스 기판(110) 위에서 일 방향으로 연장되는 게이트 라인과 전기적으로 연결될 수 있다.
게이트 절연층(115)는 게이트 전극(GE)을 커버할 수 있다.
액티브 패턴(AP)은 게이트 절연층(114) 상에 배치되어, 게이트 전극(GE)과 중첩할 수 있다. 액티브 패턴(AP)은 소스 전극(SE)와 드레인 전극(DE) 사이에 채널을 형성할 수 있다.
소스 전극(SE)은 데이터 라인과 전기적으로 연결될 수 있다. 데이터 라인, 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)은 동일한 금속층으로부터 형성될 수 있다.
패시베이션층(116)은 소스 전극(SE), 드레인 전극(DE), 및 게이트 절연층(115)을 커버할 수 있다.
유기 절연층(117)은 패시베이션층(116) 위에 배치되어, 기판을 평탄화할 수 있다.
화소 전극(PE)은 유기 절연층(117) 상에 배치될 수 있다. 화소 전극(PE)은 드레인 전극(DE)과 전기적으로 연결될 수 있다. 화소 전극(PE)은 패시베이션층(116) 및 유기 절연층(117)을 관통하여, 드레인 전극(DE)과 접촉할 수 있다. 화소 전극(PE)에는 박막 트랜지스터를 통하여, 화소 전압이 인가되어, 공통 전극(CE)에 인가되는 공통 전압과의 전압차에 의해 전계를 형성할 수 있다.
제2 기판(S2)은, 제2 베이스 기판(120), 제2 버퍼 부재(121), 제2 편광층(124), 차광 부재(BM), 컬러 필터(CF), 오버코팅층(OC) 및 공통 전극(CE)을 포함한다.
제2 버퍼 부재(121)는 제2 베이스 기판(120) 및 제2 편광층(124) 사이에 배치될 수 있다.
제2 편광층(124)은 편광 기능을 수행하는 와이어 그리드 어레이를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 제2 편광층(124)은 제1 편광층(114)의 금속 패턴과 수직하는 방향의 금속 패턴을 포함할 수 있다.
차광 부재(BM) 제2 편광층(124) 상에 배치될 수 있다. 차광 부재(BM)는 매트릭스 형상을 가질 수 있다. 차광 부재(BM)는, 박막 트랜지스터와 중첩할 수 있다.
컬러 필터(CF)는 제2 편광층(124) 상에 배치될 수 있다. 컬러 필터(CF)는 화소 전극(PE)에 대향할 수 있다
오버코팅층(OC)은 차광 부재(BM) 및 컬러 필터(CF)를 커버할 수 있다.
공통 전극(CE)은 오버코팅층(OC) 상에 형성되어, 화소 전극(PE)과 중첩할 수 있다.
제1 편광층(114) 및/또는 제2 편광층(124)는 마스터 몰드(master mold)를 이용하여 임프린트 방식으로 형성될 수 있다. 마스터 몰드가 표시 패널의 크기보다 작은 경우 제1 편광층(114) 및/또는 제2 편광층(124)는 한번의 임프린트 공정에 의해 생성되지 못하므로, 마스터 몰드의 경계를 따라 편차가 발생할 수 있다. 따라서, 표시 장치가 영상을 표시하는 경우, 편광층의 경계를 따라 그리드 형상의 얼룩이 시인될 수 있다.
도 14 내지 도 16은 도 1의 표시 장치의 효과를 설명하기 위한 도면이다.
도 14 내지 도 16을 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 화소들을 얼룩이 시인되는 위치에 기초하여 4종류의 영역들로 구분하고 영역들 각각에 대해 서로 다른 샘플링 보정 방식을 이용하여 그리드 형상의 얼룩을 효과적으로 보정할 수 있다.
도 14에 도시된 바와 같이, 영상 데이터에 대한 얼룩 보정을 수행하지 않는 경우(예를 들어, 룩-업 테이블이 저장된 플래시 메모리를 비활성화하는 경우), 편광층의 공정상 편차 또는 그 밖의 원인에 의해 그리드 형상의 얼룩이 시인될 수 있다.
도 15에 도시된 바와 같이, 비교 실시예에 따른 표시 장치에서, 표시 패널 전체에 대해 상대적으로 큰 샘플링 매트릭스를 이용한 제1 샘플링 보정 동작을 적용한 경우, 라인 또는 그리드 형상의 얼룩이 표시되는 지점에서 보정 오차가 발생하고 그리드 형상의 얼룩이 흐리게(blur) 시인되었다.
도 16에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치에서, 표시 패널이 제1 내지 제4 영역들로 구분되고, 얼룩이 표시되지 않는 제1 영역에 대해 상대적으로 큰 크기의 샘플링 매트릭스를 이용하여 보정 데이터가 도출되며, 얼룩이 표시되는 제2 내지 제4 영역들에 대해 상대적으로 작은 크기의 샘플링 매트릭스를 이용하여 보정 데이터가 도출될 수 있다. 이에 따라, 부하가 크게 증가하지 않는 범위에서 그리드 형상의 얼룩이 효과적으로 제거됨을 확인하였다.
도 17은 제1 샘플링 보정 동작에 의해 제1 영역에 대한 제1 보정 데이터를 도출하는 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 17을 참조하면, 얼룩이 표시되지 않는 위치에 상응하는 제1 영역(R1)에서, 제1 샘플링 보정 동작에 의해 화소들의 제1 보정 데이터가 생성될 수 있다.
제1 샘플링 보정 동작의 제1 샘플링 매트릭스(SM1')는 6*4 샘플링 매트릭스일 수 있다. 제1 샘플링 보정 동작은 제1 영역(R1)을 6*4 샘플링 매트릭스 크기의 블록들로 나누고, 각각의 블록에 포함된 24개의 화소들 중 하나를 샘플링 화소로 결정할 수 있다. 예를 들어, (1,1)화소, (1, 5)화소, (7, 1)화소, (7, 5) 화소, 등이 샘플링 화소로 선택될 수 있다.
샘플링 화소들의 보정값은 제1 룩-업 테이블로부터 도출될 수 있다. 샘플링 화소가 아닌 일반 화소(예를 들어, (3, 4) 화소)의 보정 데이터는 일반 화소 주변의 샘플링 화소들(예를 들어, (1,1)화소, (1, 5)화소, (7, 1)화소, (7, 5)화소)의 보정 데이터 및 샘플링 화소들과의 거리(D13, D14, D15, D16)에 기초하여 도출될 수 있다. 일반 화소의 보정 데이터를 도출하는 방법에 대해서는 상술한 바 있으므로, 이하 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 17의 6*4 샘플링 매트릭스는 도 6의 4*4 샘플링 매트릭스보다 크므로, 보정값의 편차가 크지 않는 경우 표시 장치의 부하를 줄일 수 있다.
도 18 및 도 19는 제2 샘플링 보정 동작에 의해 제2 영역에 대한 제2 보정 데이터를 도출하는 다른 예들을 나타내는 도면이다.
도 18 및 도 19를 참조하면, 제1 방향(D1)으로 연장되는 제1 라인을 따라 표시되는 제1 얼룩(ST1 또는 ST1')을 포함하는 제2 영역(R2)에서, 제2 샘플링 보정 동작에 의해 화소들의 제2 보정 데이터가 생성될 수 있다.
도 18에 도시된 바와 같이, 제2 샘플링 보정 동작의 제2 샘플링 매트릭스(SM2')는 1*8 샘플링 매트릭스일 수 있다. 제2 샘플링 보정 동작은 제2 영역(R2)을 1*8 샘플링 매트릭스 크기의 블록들로 나누고, 각각의 블록에 포함된 8개의 화소들 중 하나를 샘플링 화소로 결정할 수 있다. 예를 들어, 제2 영역(R2)에 포함되고 1 화소열, 9 화소열, 등에 위치하는 화소들이 샘플링 화소로 선택될 수 있다.
샘플링 화소들의 보정값은 제2 룩-업 테이블로부터 도출될 수 있다. 샘플링 화소가 아닌 일반 화소(예를 들어, (3, 4)화소)의 보정 데이터는 일반 화소 주변의 샘플링 화소들(예를 들어, (3,1)화소, (3, 9)화소)의 보정 데이터 및 샘플링 화소들과의 거리(D17, D18)에 기초하여 도출될 수 있다.
도 18의 1*8 샘플링 매트릭스는 도 7a의 1*4 샘플링 매트릭스보다 크므로, 제1 방향(D1)으로 이동함에 따른 보정값의 편차가 크지 않는 경우 표시 장치의 부하를 줄일 수 있다. 일 실시예에서, 제2 샘플링 매트릭스의 너비는 제1 샘플링 매트릭스의 너비의 정수배로 설정될 수 있다.
도 19에 도시된 바와 같이, 제2 샘플링 보정 동작의 제2 샘플링 매트릭스(SM2'')는 2*8 샘플링 매트릭스일 수 있다. 제2 샘플링 보정 동작은 제2 영역(R2)을 2*8 샘플링 매트릭스 크기의 블록들로 나누고, 각각의 블록에 포함된 16개의 화소들 중 하나를 샘플링 화소로 결정할 수 있다. 예를 들어, 제2 영역(R2)에 포함되고 1 화소열의 홀수행, 9 화소열의 홀수행, 등에 위치하는 화소들이 샘플링 화소로 선택될 수 있다.
샘플링 화소들의 보정값은 제2 룩-업 테이블로부터 도출될 수 있다. 샘플링 화소가 아닌 일반 화소(예를 들어, (4, 3)화소)의 보정 데이터는 일반 화소 주변의 샘플링 화소들(예를 들어, (3,1)화소, (3, 9)화소, (5, 1)화소, (5, 9)화소)의 보정 데이터 및 샘플링 화소들과의 거리(D19, D20, D21, D22)에 기초하여 도출될 수 있다.
제1 방향(D1)으로 연장되는 제1 얼룩(ST1')의 폭이 상대적으로 넓은 경우, 도 18의 1*8 샘플링 매트릭스(SM2')와 비교하여 도 19의 2*8 샘플링 매트릭스(SM2'')를 이용하여 보정 데이터를 도출하는 경우 표시 장치의 부하를 줄일 수 있다.
도 20 및 도 21은 제3 샘플링 보정 동작에 의해 제3 영역에 대한 제3 보정 데이터를 도출하는 다른 예들을 나타내는 도면이다.
도 20 및 도 21을 참조하면, 제2 방향(D2)으로 연장되는 제2 라인을 따라 표시되는 제2 얼룩(ST2 또는 ST2')을 포함하는 제3 영역(R3)에서, 제3 샘플링 보정 동작에 의해 화소들의 제3 보정 데이터가 생성될 수 있다.
도 20에 도시된 바와 같이, 제3 샘플링 보정 동작의 제3 샘플링 매트릭스(SM3')는 8*1 샘플링 매트릭스일 수 있다. 제3 샘플링 보정 동작은 제3 영역(R3)을 8*1 샘플링 매트릭스 크기의 블록들 나누고, 각각의 블록에 포함된 8개의 화소들 중 하나를 샘플링 화소로 결정할 수 있다. 예를 들어, 제3 영역(R3)에 포함되고 1 화소행, 9 화소행, 등에 위치하는 화소들이 샘플링 화소로 선택될 수 있다.
샘플링 화소들의 보정값은 제3 룩-업 테이블로부터 도출될 수 있다. 샘플링 화소가 아닌 일반 화소(예를 들어, (3, 4)화소)의 보정 데이터는 일반 화소 주변의 샘플링 화소들(예를 들어, (1,4)화소, (9, 4)화소)의 보정 데이터 및 샘플링 화소들과의 거리(D23, D24)에 기초하여 도출될 수 있다.
도 20의 8*1 샘플링 매트릭스는 도 8a의 4*1 샘플링 매트릭스보다 크므로, 제2 방향(D2)으로 이동함에 따른 보정값의 편차가 크지 않는 경우 표시 장치의 부하를 줄일 수 있다. 일 실시예에서, 제2 샘플링 매트릭스의 높이는 제1 샘플링 매트릭스의 높이의 정수배로 결정될 수 있다.
도 21에 도시된 바와 같이, 제3 샘플링 보정 동작의 제3 샘플링 매트릭스(SM3'')는 8*2 샘플링 매트릭스일 수 있다. 제3 샘플링 보정 동작은 제3 영역(R3)을 8*2 샘플링 매트릭스 크기의 블록들 나누고, 각각의 블록에 포함된 16개의 화소들 중 하나를 샘플링 화소로 결정할 수 있다. 예를 들어, 제3 영역(R3)에 포함되고 1 화소행의 홀수열, 9 화소행의 홀수열, 등에 위치하는 화소들이 샘플링 화소로 선택될 수 있다.
샘플링 화소들의 보정값은 제3 룩-업 테이블로부터 도출될 수 있다. 샘플링 화소가 아닌 일반 화소(예를 들어, (3, 4)화소)의 보정 데이터는 일반 화소 주변의 샘플링 화소들(예를 들어, (1, 3)화소, (1, 5)화소, (9, 3)화소, (9, 5)화소)의 보정 데이터 및 샘플링 화소들과의 거리(D25, D26, D27, D28)에 기초하여 도출될 수 있다.
제2 방향(D2)으로 연장되는 제2 라인을 따라 표시되는 제2 얼룩(ST2')의 폭이 상대적으로 넓은 경우, 도 21의 8*2 샘플링 매트릭스를 이용하여 보정 데이터를 도출함으로써 도 20의 8*1 샘플링 매트릭스에 비해 표시 장치의 부하를 줄일 수 있다.
도 22는 도 1의 표시 장치에 포함된 영상 보정부의 다른 예를 나타내는 블록도이다.
도 22를 참조하면, 영상 보정부(500B)는 제1 내지 제4 영역들 각각에 대해 서로 다른 샘플링 보정 동작을 통해 영상 데이터를 보정할 수 있다. 일 실시예에서, 영상 보정부(500B)는 보정 데이터 저장부(510B), 영역 데이터 저장부(520), 및 데이터 보정부(530)를 포함할 수 있다.
보정 데이터 저장부(510B)는 샘플링 보정 동작들을 수행하기 위해 샘플링 화소들의 보상 데이터를 저장하는 룩-업 테이블을 저장할 수 있다. 일 실시예에서, 보정 데이터 저장부(510B)는 제5 룩-업 테이블(515)을 포함할 수 있다.
보정 데이터 저장부(510B)는 샘플링 보정 동작들을 수행하기 위해 샘플링 화소들의 보상 데이터를 저장하는 룩-업 테이블을 저장할 수 있다. 일 실시예에서, 보정 데이터 저장부(510B)는 제5 룩-업 테이블(515)을 포함할 수 있다. 다만, 룩-업 테이블의 구조에 대해서는 상술한 바 있으므로, 그에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
데이터 보정부(530)는 영역 데이터(RD) 및 제5 룩-업 테이블에 저장된 샘플링 화소의 보상 데이터(AV)에 기초하여 복수의 샘플링 보정 동작들을 각각 수행할 수 있다. 일 실시예에서, 데이터 보정부(530)는 제1 내지 제4 영역 보정부들(531 내지 534)을 포함할 수 있다.
제1 영역 보정부(531)는 영역 데이터(RD) 및 제5 룩-업 테이블(515)에 기초하여 제1 샘플링 보정 동작을 수행함으로써 제1 보정 데이터를 도출하고, 제1 보정 데이터에 기초하여 제1 영역에 상응하는 화소들의 영상 데이터를 보정할 수 있다. 예를 들어, 제1 영역 보정부(531)는 영역 데이터(RD)에 기초하여 제1 영역을 결정하고, 제1 영역에 포함되는 샘플링 화소의 보정 데이터를 제5 룩-업 테이블(515)로부터 도출함으로써 제1 영역의 일반 화소의 보정 데이터를 산출할 수 있다. 일 실시예에서, 제1 영역 보정부(531)는 제1 영역에 대해 제5 룩-업 테이블(515)들에 기초하여 입력 영상 데이터(IDATA)를 보정함으로써 제1 데이터(D1)를 생성할 수 있다.
제2 영역 보정부(532)는 영역 데이터(RD) 및 제5 룩-업 테이블(515)에 기초하여 제2 샘플링 보정 동작을 수행함으로써 제2 보정 데이터를 도출하고, 제2 보정 데이터에 기초하여 제2 영역에 상응하는 화소들의 영상 데이터를 보정할 수 있다. 일 실시예에서, 제2 영역 보정부(532)는 제2 영역에 대해 제5 룩-업 테이블(515)에 기초하여 제1 데이터(D1)를 보정함으로써 제2 데이터(D2)를 생성할 수 있다.
제3 영역 보정부(533)는 영역 데이터(RD) 및 제5 룩-업 테이블(515)에 기초하여 제3 샘플링 보정 동작을 수행함으로써 제3 보정 데이터를 도출하고, 제3 보정 데이터에 기초하여 제3 영역에 상응하는 화소들의 영상 데이터를 보정할 수 있다. 일 실시예에서, 제3 영역 보정부(533)는 제3 영역에 대해 제5 룩-업 테이블(515)에 기초하여 제2 데이터(D2)를 보정함으로써 제3 데이터(D3)를 생성할 수 있다.
제4 영역 보정부(534)는 영역 데이터 저장부(520)에 저장된 영역 데이터(RD) 및 제5 룩-업 테이블(515)에 기초하여 제4 샘플링 보정 동작을 수행함으로써 제4 보정 데이터를 도출하고, 제4 보정 데이터에 기초하여 제4 영역에 상응하는 화소들의 영상 데이터를 보정할 수 있다. 일 실시예에서, 제4 영역 보정부(534)는 제4 영역에 대해 제5 룩-업 테이블(515)에 기초하여 제3 데이터(D3)를 보정함으로써 보정 영상 데이터(ADATA)를 생성할 수 있다.
영상 보정부(500B)의 제5 룩-업 테이블(515)은 표시 장치 내부 또는 외부에 위치하는 보정 데이터 생성부(50)에 의해 생성될 수 있다. 예를 들어, 보정 데이터 생성부(50)는 표시 패널(100)의 촬영 영상에 기초하여 제5 룩-업 테이블(515)의 데이터를 생성할 수 있다. 다만, 본 실시예에 따른 보정 데이터 생성부(50)는 도 4에서 기술된 보정 데이터 생성부와 실질적으로 동일하므로, 그에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
이와 같이, 영역 데이터 저장부(520)에 저장된 영역 데이터(RD)을 이용함으로써, 복수의 영역들 각각에 대한 샘플링 보정 동작들은 제5 룩-업 테이블(515)에 기초하여 수행될 수 있다. 따라서, 도 22의 영상 보정부(500B)는 도 4의 영상 보정부(500A)에 비해 상대적으로 적은 메모리로 구현될 수 있는 장점이 있다.
도 23은 도 1의 표시 장치에 포함된 영상 보정부의 또 다른 예를 나타내는 블록도이다.
도 23을 참조하면, 영상 보정부(500C)는 제1 내지 제4 영역들 각각에 대해 서로 다른 샘플링 보정 동작을 통해 영상 데이터를 보정할 수 있다. 일 실시예에서, 영상 보정부(500C)는 보정 데이터 저장부(510C), 영역 데이터 저장부(520), 및 데이터 보정부(540)를 포함할 수 있다.
보정 데이터 저장부(510C)는 샘플링 보정 동작들을 수행하기 위해 샘플링 화소들의 보상 데이터를 저장하는 룩-업 테이블(511 내지 514)을 저장할 수 있다. 다만, 룩-업 테이블의 구조에 대해서는 상술한 바 있으므로, 그에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
데이터 보정부(540)는 영역 데이터(RD) 및 제1 내지 제4 룩-업 테이블들(511 내지 514)에 저장된 샘플링 화소의 보상 데이터(AV1 내지 AV4)에 기초하여 복수의 샘플링 보정 동작들을 각각 수행할 수 있다. 일 실시예에서, 데이터 보정부(540)는 제1 영역 보정부(541), 영역 결정부(542), 및 부분 영역 보정부(545)를 포함할 수 있다.
제1 영역 보정부(541)는 제1 룩-업 테이블(511)에 기초하여 제1 샘플링 보정 동작을 수행함으로써 제1 보정 데이터를 도출하고, 제1 보정 데이터에 기초하여 제1 영역에 상응하는 화소들의 영상 데이터를 보정할 수 있다. 예를 들어, 제1 영역 보정부(541)는 전체 표시 패널에 포함되는 샘플링 화소의 보정 데이터를 제1 룩-업 테이블(511)로부터 도출함으로써 전체 표시 패널에 포함된 일반 화소의 보정 데이터를 산출할 수 있다. 제1 영역 보정부(541)는 전체 표시 패널에 대해 제1 룩-업 테이블(511)들에 기초하여 입력 영상 데이터(IDATA)를 보정함으로써 제1 데이터(D1)를 생성할 수 있다.
영역 결정부(542)는 영역 데이터 저장부(520)에 저장된 영역 데이터(RD)에 기초하여 입력 영상 데이터(IDATA)를 제1 내지 제4 영역들로 구분하기 위한 영역 데이터 값(RV)을 출력할 수 있다.
부분 영역 보정부(545)는 제1 영역 보정부(541)에서 보정된 제1 데이터(D1)를 영역 데이터 값(RV)에 따라 구분된 제2 내지 제4 영역들에 각각 대응하는 제2 내지 제4 샘플링 보정 동작들을 수행함으로써 보정 영상 데이터(ADATA)를 생성할 수 있다. 일 실시예에서, 부분 영역 보정부(545)는 제2 내지 제4 영역 보정부들(546, 547, 548)을 포함할 수 있다. 제2 영역 보정부(546)는 제2 룩-업 테이블(514)에 기초하여 제2 샘플링 보정 동작을 수행함으로써 제2 보정 데이터를 도출하고, 제2 보정 데이터에 기초하여 제2 영역에 상응하는 화소들의 영상 데이터를 보정할 수 있다. 제3 영역 보정부(547)는 제3 룩-업 테이블에 기초하여 제3 샘플링 보정 동작을 수행함으로써 제3 보정 데이터를 도출하고, 제3 보정 데이터에 기초하여 제3 영역에 상응하는 화소들의 영상 데이터를 보정할 수 있다. 제4 영역 보정부(548)는 제4 룩-업 테이블에 기초하여 제4 샘플링 보정 동작을 수행함으로써 제4 보정 데이터를 도출하고, 제4 보정 데이터에 기초하여 제4 영역에 상응하는 화소들의 영상 데이터를 보정할 수 있다.
비록, 도 23에서는 보정 데이터 저장부(510C)와 영역 데이터 저장부(520)가 분리된 것으로 도시하였으나, 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 영역 데이터(RD)는 보정 데이터 저장부(510C)에 저장되거나, 보정 데이터 저장부(510C)의 제1 내지 제4 룩-업 테이블들(511 내지 514)에 통합하여 저장될 수 있다.
도 24는 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 24를 참조하면, 표시 장치의 구동 방법은 화소들을 얼룩이 형성된 위치에 기초하여 제1 내지 제4 영역들로 구분하고 제1 내지 제4 영역들 각각에 대해 서로 다른 샘플링 보정 방식을 이용하여 얼룩을 보정할 수 있다. 제1 내지 제4 영역들을 구분하는 방법에 대해서는 상술한 바 있으므로, 그에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
구체적으로, 제1 영역에 포함된 화소들의 보정 데이터를 도출하기 위해 제1 룩-업 테이블에 기초하여 제1 샘플링 보정 동작이 수행(S110)되고, 제1 영역에 포함된 화소들의 보정 데이터에 기초하여 입력 영상 데이터를 보정함으로써 제1 보정 영상 데이터가 생성(S115)될 수 있다. 일 실시예에서, 제1 샘플링 보정 동작의 제1 샘플링 매트릭스는 R1(단, R1은 1보다 큰 정수)*C1(단, C1은 1보다 큰 정수) 샘플링 매트릭스일 수 있다. 즉, 얼룩이 표시되지 않는 제1 영역에 대해 상대적으로 큰 크기의 샘플링 매트릭스를 이용하여 화소들의 보정 데이터가 생성될 수 있다.
제2 영역에 포함된 화소들의 보정 데이터를 도출하기 위해 제2 룩-업 테이블에 기초하여 제2 샘플링 보정 동작이 수행(S120)되고, 제2 영역에 포함된 화소들의 보정 데이터에 기초하여 입력 영상 데이터(또는 제1 보정 영상 데이터)를 보정함으로써 제2 보정 영상 데이터가 생성(S125)될 수 있다. 일 실시예에서, 제2 샘플링 보정 동작의 제2 샘플링 매트릭스는 R2(단, R2는 R1 이상인 정수)*C2 (단, C2는 1 이상 C1 미만인 정수) 샘플링 매트릭스일 수 있다. 즉, 제1 방향(D1)으로 연장되는 얼룩이 표시되는 제2 영역에 대해 상대적으로 작은 크기의 샘플링 매트릭스를 이용하여 화소들의 보정 데이터가 생성될 수 있다.
제3 영역에 포함된 화소들의 보정 데이터를 도출하기 위해 제3 룩-업 테이블에 기초하여 제3 샘플링 보정 동작이 수행(S130)되고, 제3 영역에 포함된 화소들의 보정 데이터에 기초하여 입력 영상 데이터(또는 제2 보정 영상 데이터)를 보정함으로써 제3 보정 영상 데이터가 생성(S135)될 수 있다. 일 실시예에서, 제3 샘플링 보정 동작의 제3 샘플링 매트릭스는 R3(단, R3은 1 이상 R1 미만인 정수)* C3 (단, C3는 C1 이상인 정수) 샘플링 매트릭스일 수 있다. 즉, 제2 방향(D2)으로 연장되는 얼룩이 표시되는 제3 영역에 대해 상대적으로 작은 크기의 샘플링 매트릭스를 이용하여 화소들의 보정 데이터가 생성될 수 있다.
제4 영역에 포함된 화소들의 보정 데이터를 도출하기 위해 제4 룩-업 테이블에 기초하여 제4 샘플링 보정 동작이 수행(S140)되고, 제4 영역에 포함된 화소들의 보정 데이터에 기초하여 입력 영상 데이터(또는 제3 보정 영상 데이터)를 보정함으로써 제4 보정 영상 데이터가 생성(S145)될 수 있다. 일 실시예에서, 제4 샘플링 보정 동작의 제4 샘플링 매트릭스는 R4(단, R3은 1 이상 R1 미만인 정수)* C4 (단, C4는 1이상 C1 미만인 정수) 샘플링 매트릭스일 수 있다. 즉, 제1 방향(D1)으로 연장되는 얼룩과 제2 방향(D2)으로 연장되는 얼룩이 교차되는 제4 영역에 대해 가장 작은 크기의 샘플링 매트릭스를 이용하여 화소들의 보정 데이터가 생성될 수 있다.
제1 내지 제4 영상 데이터에 기초하여 영상이 표시(S150)될 수 있다.
따라서, 표시 장치의 구동 방법은 단계적으로 얼룩의 위치에 따라 구분되는 영역들에 대해 샘플링 매트릭스들의 크기가 큰 순서대로 샘플링 보정 동작들을 단계적으로 수행함으로써 표시 장치의 얼룩을 효율적으로 보정할 수 있다.
도 25는 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 25를 참조하면, 표시 장치의 구동 방법은 화소들을 얼룩이 형성된 위치에 기초하여 제1 내지 제4 영역들로 구분하고 제1 내지 제4 영역들 각각에 대해 서로 다른 샘플링 보정 방식을 이용하여 얼룩을 보정할 수 있다. 다만, 본 실시예에 따른 표시 장치의 구동 방법은 제2 내지 제4 샘플링 보정 동작들이 병렬적으로 수행되는 점을 제외하면, 도 24의 표시 장치의 구동 방법과 실질적으로 동일하므로, 동일 또는 유사한 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호를 사용하고, 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
구체적으로, 전체 표시 패널에 포함된 화소들의 보정 데이터를 도출하기 위해 제1 룩-업 테이블에 기초하여 제1 샘플링 보정 동작이 수행(S210)되고, 제1 영역에 포함된 화소들의 보정 데이터에 기초하여 입력 영상 데이터를 보정함으로써 제1 보정 영상 데이터가 생성(S215)될 수 있다.
제1 보정 영상 데이터가 속하는 제2 내지 제4 영역을 판단(S217)하고, 제1 보정 영상 데이터가 속하는 영역에 따라 제2 샘플링 보정 동작 내지 제4 샘플링 보정 동작들이 수행될 수 있다.
제1 보정 영상 데이터가 제2 영역에 상응하는 경우, 제2 영역에 포함된 화소들의 보정 데이터를 갱신하기 위해 제2 룩-업 테이블에 기초하여 제2 샘플링 보정 동작이 수행(S220)되고, 제2 영역에 포함된 화소들의 보정 데이터에 기초하여 제1 보정 영상 데이터를 갱신할 수 있다.
제1 보정 영상 데이터가 제3 영역에 상응하는 경우, 제3 영역에 포함된 화소들의 보정 데이터를 갱신하기 위해 제3 룩-업 테이블에 기초하여 제3 샘플링 보정 동작이 수행(S230)되고, 제3 영역에 포함된 화소들의 보정 데이터에 기초하여 제1 보정 영상 데이터를 갱신할 수 있다.
제1 보정 영상 데이터가 제4 영역에 상응하는 경우, 제4 영역에 포함된 화소들의 보정 데이터를 갱신하기 위해 제4 룩-업 테이블에 기초하여 제4 샘플링 보정 동작이 수행(S240)되고, 제4 영역에 포함된 화소들의 보정 데이터에 기초하여 제1 보정 영상 데이터를 갱신할 수 있다.
이에 따라, 제2 내지 제4 샘플링 보정 동작들에 의해 제1 보정 영상 데이터로부터 보정 영상 데이터(S245)가 생성되고, 보정 영상 데이터에 기초하여 영상이 표시(S250)될 수 있다.
이상, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법에 대하여 도면을 참조하여 설명하였지만, 상기 설명은 예시적인 것으로서 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 수정 및 변경될 수 있을 것이다. 예를 들어, 상기에서는 표시 장치가 액정 표시 장치 또는 유기 발광 표시 장치인 것으로 설명하였으나, 표시 장치의 종류는 이에 한정되는 것이 아니다.
본 발명은 표시 장치를 구비한 전자 기기에 다양하게 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 컴퓨터, 노트북, 휴대폰, 스마트폰, 스마트패드, 피엠피(PMP), 피디에이(PDA), MP3 플레이어, 디지털 카메라, 비디오 캠코더 등에 적용될 수 있다.
상기에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 것이다.
100: 표시 패널 200: 스캔 구동부
300: 데이터 구동부 400: 타이밍 제어부
500, 500A, 500B: 영상 보정부 510A, 510B: 보정 데이터 저장부
511 내지 514: 제1 내지 제4 룩-업 테이블들
531 내지 534: 제1 내지 제4 영역 보정부들
530: 데이터 보정부 1000: 표시 장치

Claims (22)

  1. 복수의 영역들에 대응되는 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널;
    상기 복수의 영역들에 대응하는 복수의 샘플링(sampling) 보정 동작들을 각각 수행함으로써 상기 화소들에 대한 보정 데이터를 도출하고, 상기 보정 데이터에 기초하여 입력 영상 데이터를 보정함으로써 보정 영상 데이터를 생성하는 영상 보정부; 및
    상기 보정 영상 데이터에 상응하는 영상이 상기 표시 패널에 표시되도록 상기 표시 패널을 구동하는 패널 구동부를 포함하고,
    상기 복수의 샘플링 보정 동작들 중 적어도 둘은 서로 다른 크기로 샘플링 동작을 수행함으로써 상기 보정 데이터를 각각 산출하고, 상기 영역들은 상기 표시 패널 상에서 표시되는 얼룩의 위치를 기초하여 구분되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 복수의 영역들은 제1 영역, 제2 영역, 제3 영역, 및 제4 영역을 포함하고,
    상기 제4 영역은 제1 방향으로 연장되는 제1 라인 및 상기 제1 방향과 다른 제2 방향으로 연장되는 제2 라인의 교차 영역의 적어도 일부에 상응하며,
    상기 제3 영역은 상기 제2 라인에 상응하는 영역의 적어도 일부에 상응하고,
    상기 제2 영역은 상기 제1 라인에 상응하는 영역의 적어도 일부에 상응하며,
    상기 제1 영역은 상기 제2 영역, 상기 제3 영역, 및 상기 제4 영역 이외의 영역 중 적어도 일부에 상응하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  3. 제2 항에 있어서, 상기 샘플링 보정 동작들은 제1 샘플링 보정 동작, 제2 샘플링 보정 동작, 제3 샘플링 보정 동작, 및 제4 샘플링 보정 동작을 포함하고,
    상기 제1 샘플링 보정 동작은 R1 (단, R1은 1보다 큰 정수) 화소행 및 C1 (단, C1은 1보다 큰 정수) 화소열 크기의 제1 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제1 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출하고,
    상기 제2 샘플링 보정 동작은 R2 (단, R2은 R1 이상인 정수) 화소행 및 C2 (단, C2는 1 이상 C1 미만인 정수) 화소열 크기의 제2 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제2 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출하며,
    상기 제3 샘플링 보정 동작은 R3 (단, R3은 1 이상 R1 미만인 정수) 화소행 및 C3 (단, C3는 C1 이상인 정수) 화소열 크기의 제3 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제3 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출하고,
    상기 제4 샘플링 보정 동작은 R4 (단, R4는 1 이상 R1 미만인 정수) 화소행 및 C4 (단, C4는 1이상 C1 미만인 정수) 화소열 크기의 제4 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제4 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  4. 제3 항에 있어서, 상기 제1 샘플링 보정 동작, 상기 제2 샘플링 보정 동작, 상기 제3 샘플링 보정 동작, 및 상기 제4 샘플링 보정 동작은 순차적으로 수행되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  5. 제3 항에 있어서, 상기 R2 화소행은 상기 R1 화소행의 정수배이고,
    상기 C3 화소열은 상기 C1 화소열의 정수배인 것을 특징으로 하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  6. 제3 항에 있어서, 상기 제4 샘플링 매트릭스는 1 화소행 및 1 화소열 크기인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  7. 제3 항에 있어서, 상기 패널 구동부는,
    상기 복수의 샘플링 보정 동작들 각각에 대응하는 서로 다른 복수의 룩-업 테이블들을 저장하는 보정 데이터 저장부; 및
    상기 복수의 룩-업 테이블들에 기초하여 상기 샘플링 보정 동작들을 각각 수행하는 데이터 보정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  8. 제7 항에 있어서, 상기 데이터 보정부는 상기 샘플링 매트릭스들의 크기가 큰 순서대로 상기 샘플링 보정 동작들을 수행하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  9. 제7 항에 있어서, 상기 패널 구동부는,
    상기 표시 패널의 촬영 영상에 기초하여 상기 복수의 룩-업 테이블들을 생성하는 보정 데이터 생성부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  10. 제9 항에 있어서, 상기 보정 데이터 생성부는
    상기 촬영 영상으로부터 상기 화소들의 적어도 일부의 휘도 프로파일을 도출하는 휘도 프로파일 도출부;
    기준 계조에 상응하는 휘도 목표값을 도출하는 휘도 목표값 도출부;
    상기 휘도 프로파일 및 상기 휘도 목표값에 기초하여 휘도 보정값을 산출하는 휘도 보정값 산출부; 및
    상기 휘도 보정값에 기초하여 상기 보정 데이터를 산출하는 보정 데이터 산출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  11. 제1 항에 있어서, 상기 표시 패널은 편광층이 형성된 제1 기판을 포함하고,
    상기 복수의 영역들은 상기 편광층의 경계에 기초하여 구분되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  12. 제11 항에 있어서, 상기 편광층의 상기 경계는 직선 형태를 갖는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  13. 제11 항에 있어서, 상기 표시 패널은 상기 제1 기판과 대향하는 제2 기판을 더 포함하고,
    상기 편광층은 상기 제1 기판 및 상기 제2 기판 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  14. 제13 항에 있어서, 상기 편광층은 와이어 그리드 편광층인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  15. 복수의 영역들에 대응되는 복수의 화소들을 포함하는 표시 장치의 구동 방법에 있어서,
    상기 화소들에 대한 보정 데이터에 기초하여 입력 영상 데이터를 보정함으로써 보정 영상 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 보정 영상 데이터에 상응하는 영상을 표시하는 단계를 포함하고,
    상기 보정 데이터는 상기 복수의 영역들에 대응하는 복수의 샘플링(sampling) 보정 동작들을 각각 수행함으로써 도출되고, 상기 영역들은 표시 패널 상에서 표시되는 얼룩의 위치를 기초하여 구분되며,
    상기 복수의 샘플링 보정 동작들 중 적어도 둘은 서로 다른 크기로 샘플링 동작을 수행함으로써 상기 보정 데이터를 각각 산출하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  16. 제15 항에 있어서, 상기 복수의 영역들은 제1 영역, 제2 영역, 제3 영역, 및 제4 영역을 포함하고,
    상기 제4 영역은 제1 방향으로 연장되는 제1 라인 및 상기 제1 방향과 다른 제2 방향으로 연장되는 제2 라인의 교차 영역의 적어도 일부에 상응하며,
    상기 제3 영역은 상기 제2 라인에 상응하는 영역의 적어도 일부에 상응하고,
    상기 제2 영역은 상기 제1 라인에 상응하는 영역의 적어도 일부에 상응하며,
    상기 제1 영역은 상기 제2 영역, 상기 제3 영역, 및 상기 제4 영역 이외의 영역 중 적어도 일부에 상응하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  17. 제16 항에 있어서, 상기 샘플링 보정 동작들은 제1 샘플링 보정 동작, 제2 샘플링 보정 동작, 제3 샘플링 보정 동작, 및 제4 샘플링 보정 동작을 포함하고,
    상기 제1 샘플링 보정 동작은 R1 (단, R1은 1보다 큰 정수) 화소행 및 C1 (단, C1은 1보다 큰 정수) 화소열 크기의 제1 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제1 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출하고,
    상기 제2 샘플링 보정 동작은 R2 (단, R2은 R1 이상인 정수) 화소행 및 C2 (단, C2는 1 이상 C1 미만인 정수) 화소열 크기의 제2 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제2 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출하며,
    상기 제3 샘플링 보정 동작은 R3 (단, R3은 1 이상 R1 미만인 정수) 화소행 및 C3 (단, C3는 C1 이상인 정수) 화소열 크기의 제3 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제3 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출하고,
    상기 제4 샘플링 보정 동작은 R4 (단, R4는 1 이상 R1 미만인 정수) 화소행 및 C4 (단, C4는 1이상 C1 미만인 정수) 화소열 크기의 제4 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제4 영역에 대응하는 상기 보정 데이터를 산출하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  18. 제17 항에 있어서, 상기 제1 샘플링 보정 동작, 상기 제2 샘플링 보정 동작, 상기 제3 샘플링 보정 동작, 및 상기 제4 샘플링 보정 동작은 순차적으로 수행되는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  19. 제15 항에 있어서, 상기 샘플링 보정 동작들은 복수의 룩-업 테이블들 기초하여 각각 수행되는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  20. 제15 항에 있어서, 상기 표시 장치는 편광층이 형성된 기판을 포함하고,
    상기 복수의 영역들은 상기 편광층의 경계에 기초하여 구분되는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  21. 표시 패널 상에서 표시되는 얼룩의 위치를 기초하여 구분되는 제1 및 제2 영역들에 대응되는 복수의 화소들을 포함하는 표시 장치의 구동 방법에 있어서,
    제1 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제1 영역에 대응하는 제1 보정 데이터를 산출하는 제1 샘플링 보정 동작을 수행하는 단계;
    상기 제1 보정 데이터에 기초하여 상기 제1 영역에 대응하는 입력 영상 데이터를 보정함으로써 제1 보정 영상 데이터를 생성하는 단계;
    제2 샘플링 매트릭스에 기초하여 상기 제2 영역에 대응하는 제2 보정 데이터를 산출하는 제2 샘플링 보정 동작을 수행하는 단계;
    상기 제2 보정 데이터에 기초하여 상기 제2 영역에 대응하는 입력 영상 데이터를 보정함으로써 제2 보정 영상 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 제1 및 제2 보정 영상 데이터에 상응하는 영상을 표시하는 단계를 포함하고,
    상기 제1 샘플링 매트릭스의 제1 크기는 상기 제2 샘플링 매트릭스의 제2 크기보다 큰 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  22. 제21 항에 있어서, 상기 제1 샘플링 보정 동작은 제1 룩-업 테이블에 기초하여 수행되고,
    상기 제2 샘플링 보정 동작은 상기 제1 룩-업 테이블과 다른 제2 룩-업 테이블에 기초하여 수행되는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
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