KR102130144B1 - 얼룩 보상 방법과 이를 이용한 표시장치 - Google Patents

얼룩 보상 방법과 이를 이용한 표시장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 얼룩 보상 방법과 이를 이용한 표시장치에 관한 것으로, 얼룩 영역에 존재하는 N(N은 3 이상의 양의 정수)×N 개의 픽셀들을 포함하는 N×N 블록에서 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터를 생성하는 단계; 및 상기 N×N 블록 크기 보다 작은 크기의 미세 얼룩을 보상하기 위한 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 생성하는 단계; 및 상기 샘플링 픽셀들의 보상 데이터와 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 바탕으로 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 보상하기 위한 보상 데이터들을 생성하고, 상기 보상 데이터들로 상기 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하여 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 단계를 포함한다.

Description

얼룩 보상 방법과 이를 이용한 표시장치{MURA COMPENSATION METHOD AND DISPLAY DEVICE USING THE SAME}
본 발명은 블록 보간 방법을 이용하여 화면의 얼룩을 보상하기 위한 보상값을 생성하는 얼룩 보상 방법과 이를 이용한 표시장치에 관한 것이다.
평판 표시장치는 액정표시장치(Liquid Crystal Display, LCD), 유기발광 다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Diode Display, OLED Display)와 같은 전계발광 표시장치(Electroluminescence Display, ELD), 전계 방출 표시장치(Field Emission Display, FED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel, PDP), 전기영동 표시장치(Electrophoresis Display, EPD) 등이 있다.
이러한 표시장치의 화면에는 제조 방법과 공정 편차 등으로 인하여 얼룩(mura) 영역이 존재할 수 있다. 얼룩 영역의 픽셀들은 픽셀 데이터의 계조 값이 같더라도 다른 정상적인 픽셀들에 비하여 다른 휘도로 보인다.
액정표시장치의 경우에, 포토리소그래피 공정을 포함한 반도체 공정으로 TFT(Thin Film Transistor) 어레이 기판을 제작하게 된다. 포토리소그래피 공정은 일련의 노광, 현상, 식각 공정을 포함하게 된다.
포토리소그래피 공정에서 노광양의 불균일 등으로 인하여, 완성된 기판의 표시상태를 검사하는 검사공정에서 다양한 형태의 얼룩이 발견될 수 있다. 얼룩은 표시패널에서 같은 계조의 데이터들을 표시하고 그 표시패널의 화면에서 휘도를 측정한 결과를 바탕으로 측정될 수 있다. 이러한 얼룩은 다른 정상적인 픽셀들에 비하여 휘도나 색도가 다르게 보이게 된다. 얼룩들이 발생되는 원인은 포토리소그래프 공정에서 노광양의 차이로 인하여 TFT의 게이트-드레인 간의 중첩면적, 스페이서의 높이, 신호배선들 간의 기생용량, 신호배선과 화소전극 간의 기생용량 등이 얼룩이 보이는 픽셀 위치에서 다른 정상적인 표시면의 픽셀들과 달라지는 데에서 기인한다.
공정 기술의 개선이나 리페어(Repair) 공정으로 얼룩을 개선할 수 있으나 한계가 있다. 최근에는 공정 기술 개선 만으로는 제거하기 위한 얼룩을 보상하기 위하여, 보상 회로를 이용하여 얼룩 위치의 픽셀들에 표시될 데이터에 미리 설정된 보상값을 가감하여 표시 영상에서 얼룩을 제거하는 방법을 적용하여 불량 수준을 줄이는 기술이 적용되고 있다. 이러한 얼룩 보상 방법에서 하드웨어 리소스(Hardware Resource)를 줄이기 위하여 블록 보간 방법이 적용될 수 있다.
블록 보간 방법은 얼룩 영역을 다수의 블록들로 분할하고 그 블록들 내에서 샘플링된 일부 픽셀들에 한하여 휘도를 측정하여 감마 특성을 보상하기 위한 보상값들을 생성한다. 블록들 각각은 다수의 픽셀들을 포함하는 크기로 설정된다. 블록 보간 방법은 블록들 각각에서 샘플링된 픽셀들 이외의 나머지 픽셀들의 보상값을 샘플링된 픽셀의 보상값들을 이용한 선형 보간 방법으로 계산한다. 그런데, 이 블록 보간 방법은 블록에서 샘플링되지 않는 픽셀들에 선(line) 결함 형태의 얼룩 또는 점(point) 형태의 얼룩, 미세한 크기의 부정형 얼룩 등이 있다면 그 얼룩에 대한 정보를 알 수 없다. 따라서, 종래이 블록 보간 방법은 블록 크기 보다 작은 선폭 또는 크기의 얼룩이 샘플링되지 않은 픽셀들에 존재한다면 그 얼룩들을 보상할 수 없었다.
본 발명은 블록 보간 방법에서 블록 크기 보다 작은 미세 얼룩을 보상할 있는 얼룩 보상 방법과 이를 이용한 표시장치를 제공한다.
본 발명의 얼룩 보상 방법은 얼룩 영역에 존재하는 N(N은 3 이상의 양의 정수)×N 개의 픽셀들을 포함하는 N×N 블록에서 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터를 생성하는 단계; 및 상기 N×N 블록 크기 보다 작은 크기의 미세 얼룩을 보상하기 위한 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 생성하는 단계; 및 상기 샘플링 픽셀들의 보상 데이터와 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 바탕으로 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 보상하기 위한 보상 데이터들을 생성하고, 상기 보상 데이터들로 상기 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하여 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 단계를 포함한다.
본 발명의 표시장치는 픽셀들이 매트릭스 형태로 배치된 표시패널; N(N은 3 이상의 양의 정수)×N 개의 픽셀들을 포함한 N×N 블록에서 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터와, 상기 N×N 블록 크기 보다 작은 크기의 미세 얼룩을 보상하기 위한 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 메모리로부터 읽어 들이고, 상기 샘플링 픽셀들의 보상 데이터와 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 바탕으로 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 보상하기 위한 보상 데이터들을 생성하고, 상기 보상 데이터들로 상기 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하여 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 보상 회로; 및 상기 보상 회로로부터 출력된 데이터를 상기 표시패널의 픽셀들에 기입하는 구동부를 포함한다.
본 발명은 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터와 함께 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 바탕으로 블록 보간 방법을 실시한다. 그 결과, 본 발명은 블록 보간 방법에서 얼룩 영역과 그 얼룩 영역 내의 미세 얼룩을 동시에 제거할 수 있다.
도 1은 얼룩 측정 방법과 그 결과를 바탕으로 얼룩을 보상하는 방법을 보여 주는 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 얼룩 측정 시스템과 보상 회로를 보여 주는 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 블록 보간 방법을 보여 주는 도면이다.
도 4는 미세 얼룩의 보상값을 이용한 블록 보간 방법을 보여 주는 도면이다.
도 5는 블록 내에 존재하는 선 결함, 점 결함, 작은 부정형 얼룩 등의 미세 얼룩과 그 블록의 글로벌 데이터와 선 결함의 에러 데이터를 보여 주는 도면이다.
도 6은 도 5와 같은 선 결함의 광 프로파일을 보여 주는 도면이다.
도 7은 블록 내에 존재하는 점 결함(또는 작은 부정형 얼룩)과 그 블록의 글로벌 데이터와 점 결함의 에러 데이터를 보여 주는 도면이다.
도 8은 미세 얼룩을 보상하기 위항 블록을 더 작은 크기의 서브 블록들로 분할한 예를 보여 주는 도면이다.
도 9는 미세 얼룩 관련 보상 데이터 포맷의 일 예를 보여 주는 도면이다.
도 10 및 도 11은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치를 나타내는 블록도이다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다. 이하의 설명에서 사용되는 구성요소 명칭은 명세서 작성의 용이함을 고려하여 선택된 것일 수 있는 것으로서, 실제 제품의 부품 명칭과는 상이할 수 있다.
본 발명의 표시장치는 액정표시장치(LCD), 전계 방출 표시장치(FED), 유기발광 다이오드 표시장치(OLED Display), 플라즈마 디스플레이 패널(PDP), 전기영동 표시장치(Electrophoresis Display, EPD) 등 어떠한 평판 표시장치에도 적용 가능하다.
도 1 및 도 2는 표시패널의 얼룩을 측정하고 그 얼룩을 보상하기 위한 보상값을 보여 주는 도면들이다.
도 1 내지 도 2를 참조하면, 얼룩 측정 시스템(300)은 표시패널(display panel)의 모든 픽셀들에 같은 계조의 데이터를 기입하고 그 때의 휘도를 카메라로 촬상한 다음, 카메라의 이미지를 분석하여 픽셀들의 휘도를 측정한다. 이어서, 얼룩 측정 시스템은 카메라에 의해 촬상된 이미지를 분석하여 미리 각 픽셀마다 표시패널의 화면 중앙(center) 대비 휘도 차이를 측정하여 그 결과를 바탕으로 얼룩의 휘도 특성과 형태를 판정한다.
얼룩 측정 시스템(300)은 얼룩 부분에서 샘플링된 픽셀들 각각의 휘도를 표시패널의 화면 중앙 픽셀과 같은 감마 특성을 갖도록 얼룩 위치의 픽셀의 휘도를 조정하기 위한 보상값을 계산한다.(S21) 이 픽셀 보상은 픽셀들 각각에 보상값을 계산하므로 블록 크기가 최소인 1×1(=픽셀) 보상 방법이라 할 수 있다. 보상값은 수학식 1과 같이 나타낼 수 있다. 얼룩 측정 시스템(300)은 계조를 변화시키면서 휘도 측정과 보상값을 계산한다.
Figure 112013121148432-pat00001
여기서, C는 n(n은 양의 정수) 번째 픽셀의 보상값(compensation value)이다. Lpn은 n 번째 픽셀의 휘도이고, Lpc는 화면의 중앙 픽셀의 휘도이다. gainp는 픽셀별 감마 특성 편차를 반영한 게인이다.
얼룩 측정 시스템(300)은 하드웨어 리소스를 줄이기 위하여 S21 단계에서 계산된 픽셀들 각각의 보상값들 중에서 도 2와 같이 화면의 얼룩 영역을 다수의 N(N은 3 이상의 양의 정수)×N 블록들로 구획한다. N×N 블록 각각에는 N×N 개의 픽셀들을 포함한다. 얼룩 측정 시스템(300)은 N×N 블록에서 샘플링된 일부 픽셀들의 보상값을 생성한다.(S22) 여기서, 샘플링된 픽셀들은 N×N 블록의 4 꼭지점 위치(X1, Y1)의 픽셀들(이하, "꼭지점 픽셀"이라 함)과, N×N 블록의 4 변 중 하나 이상의 변에 존재하는 픽셀들(이하, "경계 픽셀"이라 함)을 포함한다.
얼룩 측정 시스템(300)은 S21 단계에서 N×N 블록 크기 보다 작은 크기의 미세 얼룩이 검출되면 그 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 생성한다.(S231) 미세 얼룩 관련 보상 데이터는 미세 얼룩의 위치 정보, 형태, 보상값 등의 정보를 포함한다.
얼룩 측정 시스템(300)은 블록 단위로 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터를 표시장치의 메모리에 저장한다.(S232) 보상 데이터는 전술한 바와 같이 블록 보간을 위해 필요한 기준 데이터들(꼭지점 픽셀의 보상 데이터)와 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 포함한다.
보상 회로(200)는 블록 단위로 샘플링된 꼭지점 픽셀들의 보상 데이터와, 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 분리한다.(S40) 보상 회로(200)는 블록 보간 방법을 실시하여 꼭지점 픽셀들의 보상 데이터를 이용한 선형 보간 방법으로 블록 내의 모든 픽셀들 각각의 보상 데이터를 생성한다.(S41)
보상 회로(200)는 메모리로부터 읽어 들인 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터를 입력 받아 선형 보간 방법으로 N×N 블록 내의 모든 픽셀들의 보상 데이터를 포함한 글로벌 데이터(도 4 및 도 6, Global data)를 생성하고, 미세 얼룩의 보상값과 글로벌 데이터의 차를 글로벌 데이터에 가산하여 최종 보상 데이터를 생성한다. 최종 보상 데이터는 얼룩 영역과, 그 얼룩 영역 내의 미세 얼룩을 픽셀 단위로 보상할 수 있는 픽셀별 보상 데이터이다. 보상 회로(200)는 픽셀들 각각의 최종 보상 데이터로 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하여 얼룩 영역과 미세 얼룩을 동시에 보상한다.
보상 회로(200)는 도 8과 같이 미세 얼룩의 중심을 기준으로 N×N 블록을 다수의 서브 블록들로 분할하고, 서브 블록들 각각에서 선형 보간 방법으로 서브 블록들 내의 모든 픽셀들에 대한 보상 데이터들을 생성할 수도 이다. 그리고 보상 회로(200)는 서브 블록들 내의 모든 픽셀들에 대한 보상 데이터들을 이용하여 상기 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조함으로써 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상할 수 있다.
도 4 및 도 6에서, 글로벌 데이터(Global data)는 N×N 블록에 대한 블록 보간 방법으로 계산된 보상 데이터로서, 기준 데이터들을 입력 받아 선형 보간 방법으로 생성된 N×N 블록 내의 모든 픽셀들의 보상 데이터를 포함한다. 블록 보간 방법은 수학식 2와 같은 이중 선형 보간 방법(Bilinear Interpolation)을 적용할 수 이다. 에러 데이터(Error data)는 기존 블록 보간 방법에서 제거할 수 없는 미세 얼룩을 나타낸다. 보상 회로(200)는 글로벌 데이터와 에러 데이터를 이용하여 픽셀별로 얼룩을 보상한다.
도 3은 블록 보간 방법을 보여 주는 도면이다.
도 3을 참조하면, N×N 블록에서 샘플링된 꼭지점 픽셀들의 보상값을 P1, P2, P3, P4라 할 때, 블록 보간 방법은 수직 방향(y)을 따라 샘플링된 픽셀들의 보상값들을 이용하여 그 사이의 픽셀에 적용될 보상값을 선형 보간 방법으로 계산한다. 도 3에서 (x1,y1), (x2,y1), (x1,y2), (x2,y2)는 꼭지점 픽셀들의 위치이다. 블록 보간 방법은 수평 방향(x)을 따라 샘플링된 픽셀들의 보상값들을 이용하여 그 사이의 보상값을 선형 보간 방법으로 계산한다. C 위치의 픽셀의 보상값은 P1과 P3의 중간값으로 생성되고, D 위치의 보상값은 P2과 P4의 중간값으로 생성될 수 있다. A 위치의 픽셀에 적용될 보상값은 P1과 P2의 중간값으로 생성되고, B 위치의 픽셀에 적용될 보상값은 P3과 P4의 중간값으로 생성될 수 있다. 블록 내의 중심에 위치한 P(x, y) 위치의 보상값은 A 및 B의 중간값 또는 C 및 D의 중간값으로 생성될 수 있다.
블록 보간 방법은 수학식 2와 같은 이중 선형 보간 방법(Bilinear Interpolation)을 적용할 수 있다. 수학식 2는 N×N 블록의 중앙(x,y)에 위치하는 픽셀의 보상값 P를 계산한 경우이다.
Figure 112013121148432-pat00002
이러한 블록 보간 방법은 블록 크기 보다 작은 미세 얼룩이 블록 내에 존재하는 경우에 그 미세 얼룩을 제거할 수 없다. 예를 들어, A를 지나는 강한 미세 얼룩이 있다면 P1과 P2의 중간값으로 A의 보상값으로 생성하면 A 위치의 미세 얼룩을 제거할 수 없을 뿐 아니라 오히려 잘못된 보상값 선정으로 인하여 그 얼룩을 더 강하게 보이게 할 수 있다.
본 발명의 블록 보간 방법은 도 3에서 A, B, C, D 위치의 보상 데이터를 이용하여 미세 얼룩들을 제거할 수 있다. 본 발명의 블록 보간 방법은 선형 보간 방법으로 생성된 글로벌 데이터에, 미세 얼룩의 보상값에 글로벌 데이터의 차이를 더하여 블록 크기 보다 작은 어떠한 형태의 미세 얼룩도 제거할 수 있다.
도 4는 미세 얼룩의 보상값을 이용한 블록 보간 방법을 보여 주는 도면이다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 블록 보간 방법은 A와 B를 가로 지르는 선 결함 (line defect) 형태의 미세 얼룩이 존재할 때, A 위치의 보상 데이터와 B 위치의 보상 데이터를 선형 보간 방법으로 선 결함의 미세 얼룩을 제거할 수 있다. A 위치의 보상 데이터와 B 위치의 보상 데이터는 미세 얼룩의 보상값을 포함한다.
본 발명의 블록 보간 방법은 블록 내에 점 결함(point defect) 형태의 미세 얼룩이 존재할 때 그 점 결함을 지나는 A-B, 및 C-D 위치의 보상 데이터들을 균등하게 나누는 선형 보간 방법으로 점 결함의 미세 얼룩을 제거할 수 있다.
본 발명의 블록 보간 방법은 기존의 블록 보간 방법으로 생성된 글로벌 데이터에, 미세 얼룩의 보상값과 글로벌 데이터의 차이를 더하여 1×1 보상 효과를 얻을 수 있다.
도 5는 블록 내에 존재하는 선 결함(line defect), 점 결함(point defect), 작은 부정형 얼룩 등의 미세 얼룩과 그 블록의 글로벌 데이터와 선 결함의 에러 데이터를 보여 주는 도면이다. 도 6은 도 5와 같은 선 결함의 광 프로파일을 보여 주는 도면이다.
도 5 및 도 6을 참조하면, A와 B를 가로 지르는 선 결함에서 피크 휘도를 제거하기 위하여 그 선 결함의 데이터는 선 결함 위치의 보상 데이터에 글로벌 데이터(보간 데이터)의 차이를 글로벌 데이터에 더해 주어야 한다.
A와 B를 가로 지르는 선 결함을 보상하기 위해서 A 위치의 보상 데이터와 글로벌 데이터의 차이를 Pa라 하고, B 위치의 보상 데이터와 글로벌 데이터의 차이를 Pb라 할 때, 본 발명의 블록 보간 방법은 수학식 3과 같이 글로벌 데이터에 미세 얼룩의 보상값을 더하여 (x,y) 위치의 보상 데이터 P를 생성한다. 가로 방향의 선 결함을 제거하기 위한 보상 데이터도 위와 같은 방법으로 생성할 수 있다. 수학식 3에서
Figure 112013121148432-pat00003
는 세로 선 결함 A-B 의 휘도와 글로벌 데이터의 휘도 차이를 나타낸다.
Figure 112013121148432-pat00004
도 7은 블록 내에 존재하는 점 결함(또는 작은 부정형 얼룩)과 그 블록의 글로벌 데이터와 점 결함의 에러 데이터를 보여 주는 도면이다.
도 7을 참조하면, N×N 블록에서 점 결함 (x,y)의 얼룩을 제외한 다른 얼룩은 수학식 2와 같은 글로벌 데이터를 보상 데이터로 제거할 수 있다. 점 결함 (x,y)의 보상값 P는 점 결함의 보상 데이터와 글로벌 데이터의 차이를 Ppeak라 할 때 수학식 4와 같은 선형 보간 방법으로 계산될 수 있다.
Figure 112013121148432-pat00005
본 발명의 블록 보간 방법은 미세 얼룩의 크기나 형상 등을 고려하여 도 8과 같이 N×N 블록을 그 보다 작은 크기의 서브 블록들(SB1~SB4)로 분할하여 서브 블록 단위로 블록 보간 방법을 적용할 수 있다.
도 8을 참조하면, 본 발명의 블록 보간 방법은 미세한 크기의 부정형 얼룩이 이 존재하는 N×N 블록에서 그 부정형 얼룩의 중심좌표 기준으로 N×N 블록을 4 분할하여 4 개의 서브 블록들(SB1~SB4)로 분할한다.
블록 분할 방법은 서브 블록들(SB1~SB4) 각각에서 샘플링된 꼭지점 픽셀의 보상 데이터를 이용한 블록 보간 방법을 실시한다. 이 블록 분할 방법은 미세 얼룩의 보상 데이터를 이용할 수 있고 또한, 서브 블록들을 세분화할수록 다양한 형태의 미세 얼룩을 제거할 수 있으므로 미세 얼룩의 보상 데이터 없이 미세 얼룩을 제거할 수도 있다.
도 9는 미세 얼룩 관련 보상 데이터 포맷의 일 예를 보여 주는 도면이다.
도 9를 참조하면, 미세 얼룩 관련 보상 데이터는 시작 블록의 위치 정보, 얼룩의 형태, 얼룩 추가 정보 등을 포함한다. 시작 블록의 위치 정보는 미세 얼룩이 포함된 N×N 블록의 시작점 정보, 미세 얼룩의 위치 정보 등을 포함하여 9~10 bit 데이터로 코딩될 수 있다. 미세 얼룩의 형태를 정의하며 1~2 bit 데이터로나타내 코딩될 수 있다. 얼룩 추가 정보는 미세 얼룩의 감마 특성을 보상하기 위한 보상값과, 그 밖의 미세 얼룩의 보상에 필요한 정보를 포함하며 60~70 bit 데이터로 코딩될 수 있다.
미세 얼룩 관련 데이터는 기존의 샘플링된 픽셀의 보상 데이터와 함께 표시장치의 메모리(도 11, 120)에 저장된다. 미세 얼룩 관련 데이터는 도 4 내지 도 7과 같이 샘플링된 픽셀들 중에서 경계 픽셀의 보상 데이터 형태로 생성될 수 있다.
미세 얼룩 관련 데이터는 N×N 블록에서 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터들의 최하위 비트(Least Significant Bit, LSB)에 분산 코딩될 있다. 이 경우에 미세 얼룩 관련 보상 데이터가 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터에 분산되므로 미세 얼룩 관련 보상 데이터 저장을 위하여 메모리 용량이 추가될 필요가 없다.
도 10 및 도 11은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치를 나타내는 블록도이다.
도 10 및 도 11을 참조하면, 본 발명의 표시장치는 보상 회로(200), 구동부(110), 및 표시패널(100)을 포함한다.
표시패널(100)은 입력 영상이 표시되는 픽셀 어레이를 포함한다. 픽셀 어레이는 데이터 전압이 공급되는 데이터 라인들(DL), 데이터 라인들(DL)과 직교되고 게이트 펄스(또는 스캔펄스)가 공급되는 게이트 라인들(또는 스캔 라인들, GL), 및 데이터 라인들(DL)과 게이트 라인들(GL)의 교차에 의해 정의된 매트릭스 형태로 배치되는 픽셀들을 포함한다. 픽셀들 각각은 하나 이상의 TFT와 커패시터를 포함할 수 있다.
보상 회로(200)에는 표시장치에 전원이 공급되면 ROM(Read Only Memory)(120)로부터 샘플링된 픽셀들 보상 데이터들이 입력된다. 보상 데이터들은 블록 보간 방법에서 글로벌 데이터를 얻기 위하여 필요한 보상 데이터와, 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 포함한다. 보상 회로(200)는 블록 보간 방법으로 얼룩 영역의 픽셀들 각각의 보상값을 생성한다. 그리고 보상 회로(200)는 보상값(C)을 픽셀 데이터에 가감하여 픽셀 데이터를 변조함으로써 무라 영역의 감마 특성을 이상적인 비선형 감마 커브로 구현한다.
구동부(110)는 보상 회로(200)에 의해 변조된 데이터(RGB')를 표시패널(100)의 픽셀들(PIX)에 기입한다. 구동부(110)는 데이터 구동부(101), 게이트 구동부(또는 스캔 구동부)(102), 및 타이밍 콘트롤러(103)를 포함한다. 보상 회로(200)는 타이밍 콘트롤러(103)에 내장될 수 있다.
데이터 구동부(101)는 타이밍 콘트롤러(103)로부터 입력되는 입력 영상의 픽셀 데이터(RGB')를 아날로그 감마 보상 전압으로 변환하여 데이터 전압을 발생하고, 그 데이터 전압을 데이터 라인들(DL)에 공급한다. 데이터 구동부(101)에 수신되는 픽셀 데이터는 디지털 비디오 데이터이다. 게이트 구동부(102)는 데이터 전압에 동기되는 게이트 펄스를 발생하고, 그 게이트 펄스를 시프트시키면서 게이트 라인들(GL)에 순차적으로 공급한다.
타이밍 콘트롤러(103)는 도시하지 않은 호스트 시스템으로부터 입력 영상의 픽셀 데이터(RGB)를 입력 받고, 또한 수직/수평 동기 신호(Vsync, Hsync), 데이터 인에이블 신호(DE), 메인 클럭(DCLK) 등의 타이밍 신호들을 입력 받는다. 타이밍 콘트롤러(103)는 보상 회로(200)에 의해 변조된 픽셀 데이터(RGB')를 데이터 구동부(101)로 전송한다. 그리고 타이밍 콘트롤러(103)는 타이밍 신호들(Vsync, Hsync, DE, CLK)을 이용하여 데이터 구동부(101)와 게이트 구동부의 동작 타이밍을 제어하기 위한 타이밍 제어신호들(DDC, GDC)를 생성한다.
호스트 시스템은 텔레비젼 시스템, 셋톱박스, 네비게이션 시스템, DVD 플레이어, 블루레이 플레이어, 개인용 컴퓨터(PC), 홈 시어터 시스템, 폰 시스템(Phone system) 중 어느 하나일 수 있다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위 내에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명은 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
100 : 표시패널 110 : 구동부
200 : 보상 회로

Claims (13)

  1. 얼룩 영역에 존재하는 N(N은 3 이상의 양의 정수)×N 개의 픽셀들을 포함하는 N×N 블록에서 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 N×N 블록 크기 보다 작은 크기의 미세 얼룩을 보상하기 위한 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 생성하는 단계; 및 상기 샘플링 픽셀들의 보상 데이터와 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 바탕으로 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 보상하기 위한 보상 데이터들을 생성하고, 상기 보상 데이터들로 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하여 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보상 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 단계는,
    상기 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터와 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 이용한 선형 보간 방법으로 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 보상하기 위한 최종 보상 데이터을 생성하는 단계; 및
    상기 최종 보상 데이터들로 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하여 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보상 방법.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 생성하는 단계는,
    상기 미세 얼룩의 위치 정보, 상기 미세 얼룩의 형태, 및 상기 미세 얼룩의 보상값을 포함한 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보상 방법.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 최종 보상 데이터들을 생성하는 단계는,
    상기 샘플링된 일부 픽셀들의 보상 데이터를 입력 받아 선형 보간 방법으로 N×N 블록 내의 모든 픽셀들의 보상 데이터를 포함한 글로벌 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 미세 얼룩의 보상값과 상기 글로벌 데이터의 차를 상기 글로벌 데이터에 가산하여 상기 최종 보상 데이터를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보상 방법.
  5. 제 2 항에 있어서,
    상기 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터는
    최하위 비트(LSB)에 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터의 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보상 방법.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 단계는,
    상기 미세 얼룩의 중심을 기준으로 상기 N×N 블록을 다수의 서브 블록들로 분할하는 단계;
    상기 서브 블록들 각각에서 선형 보간 방법으로 서브 블록들 내의 모든 픽셀들에 대한 보상 데이터들을 생성하는 단계; 및
    상기 서브 블록들 내의 모든 픽셀들에 대한 보상 데이터들로 상기 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하여 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보상 방법.
  7. 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 미세 얼룩은 선 결함, 점 결함, 부정형 얼룩 중 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보상 방법.
  8. 픽셀들이 매트릭스 형태로 배치된 표시패널;
    얼룩 영역에 존재하는 N(N은 3 이상의 양의 정수)×N 개의 픽셀들을 포함한 N×N 블록에서 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터와, 상기 N×N 블록 크기 보다 작은 크기의 미세 얼룩을 보상하기 위한 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 메모리로부터 읽어 들이고, 상기 샘플링 픽셀들의 보상 데이터와 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 바탕으로 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 보상하기 위한 보상 데이터들을 생성하고, 상기 보상 데이터들로 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하여 상기 얼룩 영역과 상기 미세 얼룩을 동시에 보상하는 보상 회로; 및
    상기 보상 회로로부터 출력된 데이터를 상기 표시패널의 픽셀들에 기입하는 구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 보상 회로는,
    상기 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터와 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 이용한 선형 보간 방법으로 최종 보상 데이터들을 생성하고, 상기 최종 보상 데이터들을 이용하여 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터는,
    상기 미세 얼룩의 위치 정보, 상기 미세 얼룩의 형태, 및 상기 미세 얼룩의 보상값을 포함한 미세 얼룩 관련 보상 데이터를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 보상 회로는,
    상기 샘플링된 일부 픽셀들의 보상 데이터를 입력 받아 선형 보간 방법으로 N×N 블록 내의 모든 픽셀들의 보상 데이터를 포함한 글로벌 데이터를 생성하고,
    상기 미세 얼룩의 보상값과 상기 글로벌 데이터의 차를 상기 글로벌 데이터에 가산하여 상기 최종 보상 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  12. 제 9 항에 있어서,
    상기 샘플링된 픽셀들의 보상 데이터는,
    최하위 비트(LSB)에 상기 미세 얼룩 관련 보상 데이터의 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
  13. 제 8 항에 있어서,
    상기 보상 회로는,
    상기 미세 얼룩의 중심을 기준으로 상기 N×N 블록을 다수의 서브 블록들로 분할하고, 상기 서브 블록들 각각에서 선형 보간 방법으로 서브 블록들 내의 모든 픽셀들에 대한 보상 데이터들을 생성하고, 상기 서브 블록들 내의 모든 픽셀들에 대한 보상 데이터들로 상기 입력 영상의 픽셀 데이터를 변조하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
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