CN109979402B - 显示设备 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及显示设备。该显示设备包括:显示面板,包括与多个区域对应的多个像素;图像补偿器,配置为:通过针对区域执行相应的采样补偿操作来获得用于像素的补偿数据,以及通过基于补偿数据对输入图像数据进行补偿来生成经补偿图像数据,补偿数据通过基于具有不同尺寸的相应采样矩阵执行采样补偿操作中的至少两个来生成;以及显示面板驱动器,配置为驱动显示面板以在显示面板上显示与经补偿图像数据对应的图像。
Description
技术领域
本发明构思的方面大体涉及显示设备。
背景技术
通常,显示设备包括显示图像的显示面板以及驱动显示面板的显示面板驱动器。显示面板包括在第一方向上延伸的多条栅极线、在垂直于第一方向的第二方向上延伸的多条数据线以及连接至栅极线和数据线的多个像素。显示面板驱动器包括向栅极线输出栅极信号的栅极驱动器以及向数据线输出数据信号的数据驱动器。
由于在制造过程中像素的偏差,在显示面板上可能显示(或生成)瑕疵(例如,颜色不均匀、污点等)。然而,显示设备可利用像素的补偿数据来消除显示面板的瑕疵。这里,为了存储根据灰度值的用于全部像素的补偿数据,高分辨率显示设备可包括大容量的存储设备。然而,因为对于增大显示设备中所包括的存储设备的容量存在限制,所以可通过对补偿数据执行插值从而对像素采样来生成用于像素的补偿数据。然而,具有线(例如直线)形状或网格形状的瑕疵可能不会被适当地消除。
该背景部分中披露的以上信息用于增强对本发明的背景的理解,并且因此,它可包括不构成现有技术的信息。
发明内容
本发明构思的一些实施方式的方面在于可消除显示面板的瑕疵(例如,颜色不均匀、污点等)的显示设备。
一些实施方式的方面在于驱动显示设备的方法。
根据一些示例性实施方式,提供了这样的显示设备,该显示设备包括显示面板、图像补偿器和显示面板驱动器,其中,显示面板包括与多个区域对应的多个像素,图像补偿器配置为通过针对区域执行相应的采样补偿操作来获得用于像素的补偿数据以及通过基于补偿数据对输入图像数据进行补偿而生成经补偿图像数据,补偿数据通过基于具有不同尺寸的相应采样矩阵执行采样补偿操作中的至少两个来生成,显示面板驱动器配置为驱动显示面板以在显示面板上显示与经补偿图像数据对应的图像。
在一些实施方式中,区域包括第一区域、第二区域、第三区域和第四区域,其中,第四区域与第一瑕疵和第二瑕疵交叉的区域的至少一部分对应,第一瑕疵在位置上与在第一方向上延伸的第一线对应,第二瑕疵与在位置上与在不同于第一方向的第二方向上延伸的第二线对应,其中,第三区域与对应于第二线的区域的至少一部分对应,其中,第二区域与对应于第一线的区域的至少一部分对应,以及其中第一区域与除了第二区域、第三区域和第四区域之外的区域的至少一部分对应。
在一些实施方式中,采样补偿操作包括第一采样补偿操作、第二采样补偿操作、第三采样补偿操作和第四采样补偿操作,其中,第一采样补偿操作基于具有L1个像素行和C1个像素列的尺寸的第一采样矩阵生成用于第一区域的补偿数据,其中,L1和C1是大于1的整数;其中,第二采样补偿操作基于具有L2个像素行和C2个像素列的尺寸的第二采样矩阵生成用于第二区域的补偿数据,其中,L2是大于或等于L1的整数且C2是大于或等于1且小于C1的整数;其中,第三采样补偿操作基于具有L3个像素行和C3个像素列的尺寸的第三采样矩阵生成用于第三区域的补偿数据,其中L3是大于或等于1且小于L1的整数且C3是大于或等于C1的整数;以及其中,第四采样补偿操作基于具有L4个像素行和C4个像素列的尺寸的第四采样矩阵生成用于第四区域的补偿数据,其中,L4是大于或等于1且小于L1的整数且C4是大于或等于1且小于C1的整数。
在一些实施方式中,图像补偿器配置为相继地执行第一采样补偿操作、第二采样补偿操作、第三采样补偿操作和第四采样补偿操作。
在一些实施方式中,L2个像素行的数值是L1个像素行的数值的整数倍,且C3个像素列的数值是C1个像素列的数值的整数倍。
在一些实施方式中,第四采样矩阵具有一个像素行和一个像素列的尺寸。
在一些实施方式中,显示面板驱动器包括补偿数据储存器和数据补偿器,其中,补偿数据储存器配置为存储用于执行采样补偿操作的不同查找表,数据补偿器配置为基于查找表执行采样补偿操作。
在一些实施方式中,数据补偿器配置为按照采样矩阵的尺寸下降的顺序执行采样补偿操作。
在一些实施方式中,显示面板驱动器还包括补偿数据生成器,该补偿数据生成器配置为基于所拍摄的显示面板的图像生成查找表。
在一些实施方式中,补偿数据生成器包括亮度配置文件获得器、亮度目标值获得器、亮度补偿值生成器和补偿数据生成器,其中,亮度配置文件获得器配置为从所拍摄的显示面板的图像获得像素的至少一部分的亮度配置文件,亮度目标值获得器配置为获得与参考灰度值对应的亮度目标值,亮度补偿值生成器配置为基于亮度配置文件和亮度目标值生成亮度补偿值,补偿数据生成器配置为基于亮度补偿值生成补偿数据。
在一些实施方式中,显示面板包括其上形成有偏振层的第一衬底,以及区域基于偏振层的边界进行划分。
在一些实施方式中,偏振层的边界具有线形状。
在一些实施方式中,显示面板还包括与第一衬底相对的第二衬底,以及偏振层在第一衬底和第二衬底之间。
在一些实施方式中,偏振层是线栅偏振层。
根据一些示例性实施方式,提供了驱动显示设备的方法,该显示设备包括与多个区域对应的多个像素,该方法包括:通过基于用于像素的补偿数据对输入图像数据进行补偿来生成经补偿图像数据;以及显示与经补偿图像数据对应的图像,其中补偿数据通过针对区域执行相应的采样补偿操作来获得,以及其中补偿数据通过基于具有不同尺寸的相应采样矩阵执行采样补偿操作中的至少两个来生成。
在一些实施方式中,区域包括第一区域、第二区域、第三区域和第四区域,其中,第四区域与第一瑕疵和第二瑕疵交叉的区域的至少一部分对应,第一瑕疵在位置上与在第一方向上延伸的第一线对应,第二瑕疵与在位置上与在不同于第一方向的第二方向上延伸的第二线对应,其中,第三区域与对应于第二线的区域的至少一部分对应,其中,第二区域与对应于第一线的区域的至少一部分对应,以及其中,第一区域与除了第二区域、第三区域和第四区域之外的区域的至少一部分对应。
在一些实施方式中,采样补偿操作包括第一采样补偿操作、第二采样补偿操作、第三采样补偿操作和第四采样补偿操作,其中,第一采样补偿操作基于具有L1个像素行和C1个像素列的尺寸的第一采样矩阵生成用于第一区域的补偿数据,其中,L1和C1是大于1的整数;其中,第二采样补偿操作基于具有L2个像素行和C2个像素列的尺寸的第二采样矩阵生成用于第二区域的补偿数据,其中,L2是大于或等于L1的整数且C2是大于或等于1且小于C1的整数;其中,第三采样补偿操作基于具有L3个像素行和C3个像素列的尺寸的第三采样矩阵生成用于第三区域的补偿数据,其中,L3是大于或等于1且小于L1的整数且C3是大于或等于C1的整数;以及其中,第四采样补偿操作基于具有L4个像素行和C4个像素列的尺寸的第四采样矩阵生成用于第四区域的补偿数据,其中,L4是大于或等于1且小于L1的整数且C4是大于或等于1且小于C1的整数。
在一些实施方式中,第一采样补偿操作、第二采样补偿操作、第三采样补偿操作和第四采样补偿操作相继地执行。
在一些实施方式中,采样补偿操作基于相应的查找表来执行。
在一些实施方式中,显示设备包括其上形成有偏振层的衬底,以及区域基于偏振层的边界进行划分。
根据一些示例性实施方式,提供了驱动显示设备的方法,该显示设备包括与第一区域和第二区域对应的多个像素,该方法包括:执行第一采样补偿操作,该第一采样补偿操作基于第一采样矩阵生成用于第一区域的第一补偿数据;通过基于第一补偿数据针对第一区域对输入图像数据进行补偿来生成第一经补偿图像数据;执行第二采样补偿操作,该第二采样补偿操作基于第二采样矩阵生成用于第二区域的第二补偿数据;通过基于第二补偿数据针对第二区域对输入图像数据进行补偿来生成第二经补偿图像数据;以及显示与第一经补偿图像数据和第二经补偿图像数据对应的图像,其中,第一采样矩阵的第一尺寸大于第二采样矩阵的第二尺寸。
在一些实施方式中,基于第一查找表执行第一采样补偿操作,以及基于不同于第一查找表的第二查找表执行第二采样补偿操作。
因此,根据示例性实施方式的显示设备可通过基于瑕疵的位置将多个像素分类为多个区域以及通过针对区域利用不同的采样补偿操作对图像数据进行补偿而有效地消除具有线形状或网格形状的瑕疵(例如,定位在块之间的边界处的瑕疵,所述瑕疵由用于形成偏振层的母模而形成)。这里,显示设备可通过不同地确定用于消除瑕疵的采样矩阵尺寸来减少存储设备的已用容量和系统负载。
此外,根据示例性实施方式的驱动显示设备的方法可通过基于具有不同尺寸的相应采样矩阵生成与相应区域对应的相应补偿数据来提高显示质量。
附图说明
根据结合附图做出的以下详细描述,将更清楚地理解说明性的、非限制性的示例性实施方式。
图1是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的显示设备的框图。
图2是示出具有线形状或网格形状的瑕疵显示在图1的显示设备中所包括的显示面板上的示例的图形。
图3是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的图1的显示设备中所包括的像素分类为多个区域的示例的图形。
图4是示出图1的显示设备中所包括的图像补偿器的示例的框图。
图5是示出图4的图像补偿器中所包括的补偿数据生成器的示例的框图。
图6是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的通过第一采样补偿操作生成用于第一区域的第一补偿数据的示例的图形。
图7A至图7B是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的通过第二采样补偿操作生成用于第二区域的第二补偿数据的示例的图形。
图8A至图8B是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的通过第三采样补偿操作生成用于第三区域的第三补偿数据的示例的图形。
图9是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的通过第四采样补偿操作生成用于第四区域的第四补偿数据的示例的图形。
图10A至图10B是用于示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的第二采样补偿操作的效果的图形。
图11A至图11B是用于示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的第三采样补偿操作的效果的图形。
图12A至图12B是用于示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的第四采样补偿操作的效果的图形。
图13是示出图1的显示设备中所包括的显示面板的结构的示例的剖视图。
图14至图16是示出图1的显示设备的效果的图形。
图17是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的通过第一采样补偿操作生成用于第一区域的第一补偿数据的另一示例的图形。
图18至图19是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的通过第二采样补偿操作生成用于第二区域的第二补偿数据的另一示例的图形。
图20至图21示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的通过第三采样补偿操作生成用于第三区域的第三补偿数据的另一示例的图形。
图22是示出图1的显示设备中所包括的图像补偿器的另一示例的框图。
图23是示出图1的显示设备中所包括的图像补偿器的又一示例的框图。
图24是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的驱动显示设备的方法的流程图。
图25是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的驱动显示设备的方法的流程图。
具体实施方式
在下文中,将参照附图详细说明本发明构思的实施方式。
图1是示出根据本发明构思的示例性实施方式的显示设备的框图。
参考图1,显示设备1000可包括显示面板100、扫描驱动器200、数据驱动器300、时序控制器400和图像补偿器500。在示例性实施方式中,显示设备1000可以是有机发光显示(OLED)设备。在这种情况中,显示设备1000还可包括向显示面板100的像素PX提供发射控制信号的发射控制驱动器。在另一示例性实施方式中,显示设备1000可以是液晶显示(LCD)设备。在这种情况中,显示设备1000还可包括背光部件。
显示面板100可包括像素PX以显示图像。例如,显示面板100可包括定位在扫描线SL1至SLn和数据线DL1至DLm的交叉部分处的n×m个像素PX。显示面板100的像素PX中的每一个可包括在多个区域之一中。在示例性实施方式中,所述区域可基于瑕疵(例如,颜色不均匀、污点等)显示在显示面板100上的位置进行分类。例如,显示面板100可包括其上形成偏振层的第一衬底,并且所述区域可基于偏振层的边界进行划分。将参考图2和图3详细描述划分显示面板100的区域的方法。
扫描驱动器200可基于第一控制信号CTL1经由扫描线SL1至SLn向显示面板100的像素PX提供扫描信号。
数据驱动器300可基于从时序控制器400接收的第二控制信号CTL2和数字图像数据ODATA生成数据信号,并且可经由数据线DL1至DLm向显示面板100的像素PX提供数据信号。
时序控制器400可控制扫描驱动器200和数据驱动器300,以在显示面板100上显示与经补偿图像数据ADATA对应的图像。例如,时序控制器400可生成分别用于控制扫描驱动器200和数据驱动器300的第一控制信号CTL1和第二控制信号CTL2。用于控制扫描驱动器200的第一控制信号CTL1可包括扫描启动信号、扫描时钟信号等。用于控制数据驱动器300的第二控制信号CTL2可包括水平启动信号、数据时钟信号、负载信号等。时序控制器400可基于经补偿图像数据ADATA生成适用于显示面板100的操作条件的数字图像数据ODATA,并且可向数据驱动器300提供数字图像数据ODATA。
图像补偿器500可通过针对区域执行相应的采样补偿操作来生成用于像素PX的补偿数据,并且可通过基于补偿数据对输入图像数据IDATA进行补偿来生成经补偿图像数据ADATA。在一些示例性实施方式中,可以以不同的尺寸执行采样补偿操作中的至少两个以生成相应补偿数据。换言之,采样补偿操作可使用具有不同尺寸的采样矩阵来生成补偿数据。这里,采样补偿操作表示这样的操作,其中,该操作:将目标区域划分成各自具有采样矩阵尺寸的块;确定块中的每一个中所包括的像素之一(例如块中的每一个的定位在(1,1)处的像素)为采样像素;从查找表获得用于采样像素的补偿数据;以及基于用于相邻的采样像素的补偿数据来获得用于除了采样像素之外的像素的补偿数据(在下文中,称为常规采样像素或非采样像素)。此处,常规像素的“相邻(adjacent)”采样像素或者“邻近(adjacent)”常规像素的采样像素表示与常规像素的块邻近的块中针对其确定补偿数据的采样像素(也称为目标像素)。如上所述,为了存储根据用于全部像素的灰度值的补偿数据,高分辨率显示设备需要包括大容量的存储设备。因此,显示设备1000可通过执行采样补偿操作来减少显示设备1000中所包括的存储设备的已用容量。
图像补偿器500可通过使用具有相对小的尺寸的采样矩阵来生成用于定位在观察到瑕疵的区域中的像素的补偿数据。图像补偿器500可通过使用具有相对大的尺寸的采样矩阵来生成用于定位在未观察到瑕疵的区域中的像素的补偿数据。将参考图6至图9以及图17至图21详细描述针对区域生成相应的补偿数据的方法。
因此,显示设备1000可通过基于瑕疵的位置将像素PX分类成区域以及通过针对所述区域利用不同的采样补偿操作对图像数据进行补偿,来有效地消除具有线形状或网格形状的瑕疵。此外,显示设备1000可通过不同地确定用于消除瑕疵的采样矩阵尺寸来减少存储设备的已用容量和系统负载。
图2是示出在图1的显示设备中所包括的显示面板上显示具有线形状或网格形状的瑕疵的示例的图形。图3是示出图1的显示设备中所包括的像素分类为多个区域的示例的图形。
参考图2和图3,像素可基于瑕疵显示在显示面板100上的位置分为第一区域R1至第四区域R4。
如图2中所示,由于例如在显示面板100的制造过程中像素的偏差,可能在显示面板100上显示具有网格形状的瑕疵。例如,显示面板100可包括其上形成有偏振层的第一衬底。这里,多个区域可基于偏振层的边界而区分开。偏振层可通过压印方法利用母模来形成。当母模的尺寸小于显示面板100的尺寸时,可能在显示面板100上显示具有网格形状的瑕疵。例如,当在第一方向d1上形成四个块时以及当在第二方向d2上形成三个块时,可能在显示面板100上显示具有在第一方向d1上延伸的线形状(例如直线形状)的两个瑕疵以及具有在第二方向d2上延伸的线形状的三个瑕疵。
如图3中所示,像素可基于观察到瑕疵的位置分为第一区域R1至第四区域R4。第一区域R1可以是未观察到瑕疵的位置。第二区域R2可以是沿着在第一方向d1上延伸的第一线形成(或显示)的第一瑕疵ST1的位置以及第一瑕疵ST1的位置的周边区域(即,围绕第一瑕疵ST1的区域)。第三区域R3可以是沿着在第二方向d2上延伸的第二线形成的第二瑕疵ST2的位置以及第二瑕疵ST2的位置的周边区域(即,围绕第二瑕疵ST2的区域)。第四区域R4可以是与在第一方向d1上延伸的第一瑕疵ST1和在第二方向d2上延伸的第二瑕疵ST2的交叉部对应的位置以及与交叉部对应的位置的周边区域(即,围绕第一瑕疵ST1和第二瑕疵ST2的交叉部的区域)。
图4是示出图1的显示设备中所包括的图像补偿器的示例的框图。
图5是示出图4的图像补偿器中所包括的补偿数据生成器的示例的框图。
参考图4和图5,图像补偿器500A可利用不同的采样补偿操作对用于第一区域至第四区域的图像数据进行补偿(或校正)。在示例性实施方式中,图像补偿器500A可包括补偿数据存储部(例如,补偿数据储存器)510A和数据补偿部(例如,数据补偿器)530。
补偿数据存储部510A可存储用于相应采样补偿操作的不同查找表。在示例性实施方式中,补偿数据存储部510A可包括存储在非易失性存储设备中的第一查找表511至第四查找表514。例如,第一查找表511至第四查找表514可存储在闪速存储设备中。
第一查找表511至第四查找表514可存储根据用于采样像素的灰度值的补偿值。例如,第一查找表511至第四查找表514中的每一个的属性可包括像素位置值、灰度值、补偿值等。
像素位置值表示指示采样像素的位置的值。在示例性实施方式中,像素位置值可为与像素的行和像素的列对应的数据。在另一示例性实施方式中,像素位置值可以是像素的索引值。
灰度值表示参考灰度值。在示例性实施方式中,第一查找表511至第四查找表514中的每一个可仅包括与预设参考灰度值(例如,4、8、16、24、32、64、96、128、160、192、224和255)对应的补偿数据。在这种情况中,可通过对与预设参考灰度值对应的补偿值执行线性插值来获得用于除了预设参考灰度值之外的灰度值的补偿值。在另一示例性实施方式中,第一查找表511至第四查找表514中的每一个可包括与全部灰度值(例如,0至255)对应的数据。
当采样像素的图像数据与灰度值对应时,补偿值表示用于对图像数据进行补偿的值。在示例性实施方式中,补偿值可以是用于对图像数据进行补偿的偏移量。在另一示例性实施方式中,补偿值可以是图像数据被补偿之后的灰度值。
第一查找表511可用于第一采样补偿操作,该第一采样补偿操作生成用于第一区域的补偿数据。第一查找表511可存储根据用于第一区域中所包括的第一采样像素的灰度值的补偿值,以获得用于与第一区域对应的像素的补偿数据。
第二查找表512可用于第二采样补偿操作,该第二采样补偿操作生成用于第二区域的补偿数据。第二查找表512可存储根据用于第二区域中所包括的第二采样像素的灰度值的补偿值,以获得用于与第二区域对应的像素的补偿数据。
第三查找表513可用于第三采样补偿操作,该第三采样补偿操作生成用于第三区域的补偿数据。第三查找表513可存储根据用于第三区域中所包括的第三采样像素的灰度值的补偿值,以获得用于与第三区域对应的像素的补偿数据。
第四查找表514可用于第四采样补偿操作,该第四采样补偿操作生成用于第四区域的补偿数据。第四查找表514可存储根据用于第四区域中所包括的第四采样像素的灰度值的补偿值,以获得用于与第四区域对应的像素的补偿数据。
数据补偿部530可基于多个查找表执行相应采样补偿操作。在示例性实施方式中,数据补偿部530可包括第一区域补偿部至第四区域补偿部(例如,第一区域补偿电路至第四区域补偿电路)531至534。
第一区域补偿部531可通过基于第一查找表511执行第一采样补偿操作来获得第一补偿数据,并且可基于第一补偿数据对与第一区域对应的像素的图像数据进行补偿。第一采样补偿操作可基于具有L1个像素行和C1个像素列的尺寸的采样矩阵(在下文中,称为L1×C1采样矩阵或第一采样矩阵)来产生用于第一区域的补偿数据,其中,L1和C1是大于1的整数。在示例性实施方式中,第一区域补偿部531可通过针对显示面板100的全部区域基于第一查找表511对输入图像数据IDATA进行补偿来生成第一数据DD1。在另一示例性实施方式中,第一区域补偿部531可通过仅针对显示面板100的第一区域基于第一查找表511对输入图像数据IDATA进行补偿来生成第一数据DD1。
第二区域补偿部532可通过基于第二查找表512执行第二采样补偿操作来获得第二补偿数据,并且可基于第二补偿数据对与第二区域对应的像素的图像数据进行补偿。第二采样补偿操作可基于具有L2个像素行和C2个像素列的尺寸的采样矩阵(在下文中,称为L2×C2采样矩阵或第二采样矩阵)产生用于第二区域的补偿数据,其中,L2是大于或等于L1的整数,并且C2是大于或等于1且小于C1的整数。在示例性实施方式中,第二区域补偿部532可通过针对与在第一方向d1上延伸的瑕疵对应的区域(例如,图3中的第二区域R2和第四区域R4)基于第二查找表512对第一数据DD1进行补偿来生成第二数据DD2。第一数据DD1中第二区域和第四区域的图像数据可被重写。在另一示例性实施方式中,第二区域补偿部532可通过仅针对第二区域基于第二查找表512对第一数据DD1进行补偿来生成第二数据DD2。
第三区域补偿部533可通过基于第三查找表513执行第三采样补偿操作来获得第三补偿数据,并且可基于第三补偿数据对与第三区域对应的像素的图像数据进行补偿。第三采样补偿操作可基于具有L3个像素行和C3个像素列的尺寸的采样矩阵(在下文中,称为L3×C3采样矩阵或第三采样矩阵)产生用于第三区域的补偿数据,其中,L3是大于或等于1且小于L1的整数且C3是大于或等于C1的整数。在示例性实施方式中,第三区域补偿部533可通过针对与在第二方向d2上延伸的瑕疵对应的区域(例如,图3中的第三区域R3和第四区域R4)基于第三查找表513对第二数据DD2进行补偿来生成第三数据DD3。第二数据DD2中第三区域和第四区域的图像数据可被重写。在另一示例性实施方式中,第三区域补偿部533可通过仅针对第三区域基于第三查找表513对第二数据DD2进行补偿来生成第三数据DD3。
第四区域补偿部534可通过基于第四查找表514执行第四采样补偿操作来获得第四补偿数据,并且可基于第四补偿数据对与第四区域对应的像素的图像数据进行补偿。第四采样补偿操作可基于具有L4个像素行和C4个像素列的尺寸的采样矩阵(在下文中,称为L4×C4采样矩阵或第四采样矩阵)来产生用于第四区域的补偿数据,其中,L4是大于或等于1且小于L1的整数且C4是大于或等于1且小于C1的整数。在示例性实施方式中,第四区域补偿部534可通过针对与在第一方向d1上延伸的瑕疵和在第二方向d2上延伸的瑕疵的交叉部对应的位置以及该位置的周边区域(例如,图3中的第四区域R4)基于第四查找表514对第三数据DD3进行补偿来生成经补偿图像数据ADATA。第三数据DD3中第四区域的图像数据可被重写。
总之,图像补偿器500A可通过以按照采样矩阵的尺寸下降的顺序执行采样补偿操作并且对图像数据进行重写的方式消除瑕疵,来由相对简单的硬件结构来实现。
图像补偿器500A的第一查找表511至第四查找表514可由补偿数据生成部(例如,补偿数据生成器)50生成。在示例性实施方式中,补偿数据生成部50可定位在显示设备1000外部,并且可在显示设备1000的制造阶段设定第一查找表511至第四查找表514。在另一示例性实施方式中,补偿数据生成部50可定位在显示设备1000内部,并且可在显示设备1000的制造阶段、初始设定阶段和驱动阶段中的至少之一中设定第一查找表511至第四查找表514。补偿数据生成部50可基于显示面板100的拍摄图像数据CI生成第一查找表511至第四查找表514的数据。例如,补偿数据生成部50可在显示设备1000的初始设定阶段或制造阶段生成存储在第一查找表511至第四查找表514中的补偿数据。
如图5中所示,补偿数据生成部50可包括亮度配置文件获得部(例如,亮度配置文件获得器)51、区域确定部(例如,区域确定器)52、亮度补偿值生成部(例如,亮度补偿值生成器)53、亮度目标值获得部(例如,亮度目标值获得器)54以及补偿数据生成部55。
亮度配置文件获得部51可从显示面板100的拍摄图像数据CI获得像素的至少一部分的亮度配置文件LP。例如,拍摄图像数据CI可通过拍摄显示其中全部像素具有相同的灰度值(即,参考灰度值)的图像的显示面板100来生成。亮度配置文件获得部51可通过从拍摄图像数据CI获得用于像素的亮度值来生成用于参考灰度值的亮度配置文件LP。
区域确定部52可基于亮度配置文件LP输出用于将第一区域至第四区域区分开的区域数据RD。
亮度目标值获得部54可获得与参考灰度值对应的亮度目标值LT。例如,亮度目标值获得部54可从存储根据参考灰度值的亮度目标值LT的存储设备获得与参考灰度值对应的亮度目标值LT。
亮度补偿值生成部53可基于亮度配置文件LP和亮度目标值LT生成亮度补偿值LA。例如,亮度补偿值生成部53可计算亮度配置文件LP和亮度目标值LT之间的差异作为亮度补偿值LA。
补偿数据生成部55可基于亮度补偿值LA生成补偿数据AD。例如,补偿数据生成部55可利用伽玛曲线输出与亮度补偿值LA对应的补偿数据AD。此外,补偿数据生成部55可基于补偿数据AD和区域数据RD将数据存储在第一查找表511至第四查找表514中。例如,补偿数据生成部55可将根据用于显示面板100的全部区域的采样像素的灰度值的补偿值存储在第一查找表511中。补偿数据生成部55可确定第二区域至第四区域,并且可分别将根据用于第二区域至第四区域中所包括的采样像素的灰度值的补偿值存储在第二至第四查找表512、513和514中。
虽然上面描述了图像补偿器500A利用补偿数据生成部50设定补偿数据存储部510A的数据,但是补偿数据存储部510A的数据可以以各种合适的方式进行设定。
图6是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的通过第一采样补偿操作生成用于第一区域的第一补偿数据的示例的图形。
参考图6,可通过在与未观察到瑕疵的位置对应的第一区域R1中进行第一采样补偿操作来生成用于像素的第一补偿数据。
根据一些示例,用于第一采样补偿操作的第一采样矩阵SM1可以是4×4采样矩阵。第一采样补偿操作可将第一区域R1划分为各自具有4×4采样矩阵尺寸的块,并且可确定块中的每一个中所包括的16个像素之一(例如,块中的每一个中在第一像素行和第一像素列处的像素)为采样像素。例如,每个采样矩阵中(第一像素行,第一像素列)的像素,例如,(1,1)像素、(1,5)像素、(5,1)像素、(5,5)像素等可被选为采样像素。可从第一查找表获得用于采样像素的补偿值。可基于用于邻近常规像素的采样像素(例如,(1,1)像素、(5,1)像素、(1,5)像素和(5,5)像素)的补偿值,来获得用于除了采样像素之外的常规(即,非采样)像素(例如,(3,4)像素)的补偿值。例如,可通过对用于邻近常规像素的采样像素的补偿值执行双线性插值来获得用于常规像素的补偿值。
在示例性实施方式中,可通过利用用于邻近目标像素的采样像素的补偿值和采样像素的权重来计算加权平均值,以生成用于目标像素(例如,(3,4)像素)的补偿值。例如,(1,1)像素(即,第一采样像素)的权重W′1可与(1,1)像素和(3,4)像素之间的第一距离D1成反比。(1,5)像素(即,第二采样像素)的权重W′2可与(1,5)像素和(3,4)像素之间的第二距离D2成反比。(5,1)像素(即,第三采样像素)的权重W′3可与(5,1)像素和(3,4)像素之间的第三距离D3成反比。(5,5)像素(即,第四采样像素)的权重W′4可与(5,5)像素和(3,4)像素之间的第四距离D4成反比。例如,采样像素的权重可利用如下【公式1】来计算:
其中,W′k表示第k采样像素的权重,以及Dk表示第k采样像素和目标像素之间的距离。
此外,权重的总和可设定为1,以将用于目标像素的补偿值设定为用于采样像素的补偿值的加权平均值。因此,采样像素的权重可利用如下【公式2】重新计算:
其中,Wk表示第k采样像素的重新计算的权重,以及W′k表示第k采样像素的权重,∑W'i是权重的总和。
因此,用于常规像素的补偿值可利用如下【公式3】来计算:
其中,AV表示用于常规像素的补偿值,AVi表示用于采样像素的补偿值,以及Wi表示采样像素的权重。
虽然图6中示出第一采样矩阵SM1是4×4采样矩阵,但是第一采样矩阵SM1不限于此。换言之,第一采样矩阵SM1可设定成具有各种合适的尺寸。
图7A和图7B是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的通过第二采样补偿操作生成用于第二区域的第二补偿数据的示例的图形。
参考图7A和图7B,可通过在第二区域R2中进行第二采样补偿操作来生成用于像素的第二补偿数据,其中,第二区域R2包括沿着在第一方向d1上延伸的第一线显示的第一瑕疵ST1。
根据一些示例,用于第二采样补偿操作的第二采样矩阵SM2可以是1×4采样矩阵。因此,在第二采样补偿操作中,可在四个像素之中选择一个采样像素。例如,定位在第二区域R2中所包括的第一像素列、第五像素列等中的像素可被选为采样像素。可从第二查找表获得用于采样像素的补偿值。可基于用于邻近常规像素的采样像素(例如,(3,1)像素和(3,5)像素)的补偿值来获得用于除了采样像素之外的常规(非采样)像素(例如,(3,4)像素)的补偿值。例如,可通过对用于邻近常规像素的采样像素的补偿值执行线性插值来获得用于常规像素的补偿值。
如图7A中所示,在第二区域R2中,可通过利用用于邻近(3,4)像素的采样像素(例如,(3,1)像素和(3,5)像素)的补偿值以及采样像素的权重来计算加权平均值,以生成用于(3,4)像素的补偿值。(3,1)像素的权重可与(3,1)像素和(3,4)像素之间的第五距离D5成反比。这里,(3,5)像素的权重可与(3,5)像素和(3,4)像素之间的第六距离D6成反比。由于以上描述了生成用于常规像素的补偿值的方法,因此将不提供重复的描述。
如图7B中所示,在第二区域R2中,可通过利用用于邻近(4,3)像素的采样像素(例如,(4,1)像素和(4,5)像素)的补偿值以及采样像素的权重来计算加权平均值,以生成用于(4,3)像素的补偿值。这里,(4,1)像素的权重可与(4,1)像素和(4,3)像素之间的第七距离D7成反比。(4,5)像素的权重可与(4,5)像素和(4,3)像素之间的第八距离D8成反比。
在图7A中,因为基于用于(3,1)像素和(3,5)像素((3,1)像素和(3,5)像素是定位在第一瑕疵ST1上的采样像素)的补偿值来生成用于定位在第一瑕疵ST1上的(3,4)像素的补偿值,所以所生成的补偿值的误差可相对小。在图7B中,因为基于用于(4,1)像素和(4,5)像素((4,1)像素和(4,5)像素是定位在第一瑕疵ST1外部的采样像素)的补偿值来生成用于定位在第一瑕疵ST1外部的(4,3)像素的补偿值,所以所生成的补偿值的误差可相对小。
虽然图7A和图7B中示出第二采样矩阵SM2是1×4采样矩阵,但是第二采样矩阵SM2不限于此。换言之,第二采样矩阵SM2可设定成具有各种合适的尺寸。
图8A和图8B是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的通过第三采样补偿操作生成用于第三区域的第三补偿数据的示例的图形。
参考图8A和图8B,可通过在第三区域R3中进行第三采样补偿操作来生成用于像素的第三补偿数据,其中,第三区域R3包括沿着在第二方向d2上延伸的第二线显示的第二瑕疵ST2。
根据一些示例,用于第三采样补偿操作的第三采样矩阵SM3可以是4×1采样矩阵。因此,在第三采样补偿操作中,可在四个像素之中选择一个采样像素。例如,定位在第三区域R3中所包括的第一像素行、第五像素行等中的像素可被选为采样像素。可从第三查找表获得用于采样像素的补偿值。可基于用于邻近常规像素的采样像素(例如,(1,4)像素和(5,4)像素)的补偿值来获得用于除了采样像素之外的常规像素(例如,(3,4)像素)的补偿值。例如,可通过对用于邻近常规像素的采样像素的补偿值执行线性插值来获得用于常规像素的补偿值。
如图8A中所示,在第三区域R3中,可通过利用用于邻近(3,4)像素的采样像素(例如,(1,4)像素和(5,4)像素)的补偿值以及采样像素的权重来计算加权平均值,以生成用于(3,4)像素的补偿值。(1,4)像素的权重可与(1,4)像素和(3,4)像素之间的第九距离D9成反比。(5,4)像素的权重可与(5,4)像素和(3,4)像素之间的第十距离D10成反比。
如图8B中所示,在第三区域R3中,可通过利用用于邻近(4,3)像素的采样像素(例如,(1,3)像素和(5,3)像素)的补偿值以及采样像素的权重来计算加权平均值,以生成用于(4,3)像素的补偿值。这里,(1,3)像素的权重可与(1,3)像素和(4,3)像素之间的第十一距离D11成反比。(5,3)像素的权重可与(5,3)像素和(4,3)像素之间的第十二距离D12成反比。
在图8A中,因为基于用于(1,4)像素和(5,4)像素((1,4)像素和(5,4)像素是定位在第二瑕疵ST2上的采样像素)的补偿值来生成用于定位在第二瑕疵ST2上的(3,4)像素的补偿值,所以所生成的补偿值的误差可相对小。在图8B中,因为基于用于(1,3)像素和(5,3)像素((1,3)像素和(5,3)像素是定位在第二瑕疵ST2外部的采样像素)的补偿值来生成用于定位在第二瑕疵ST2外部的(4,3)像素的补偿值,所以所生成的补偿值的误差可相对小。
虽然图8A和图8B中示出第三采样矩阵SM3是4×1采样矩阵,但是第三采样矩阵SM3不限于此。换言之,第三采样矩阵SM3可设定成具有各种合适的尺寸。
图9是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的通过第四采样补偿操作生成用于第四区域的第四补偿数据的示例的图形。
参考图9,可通过在包括第一瑕疵ST1与第二瑕疵ST2交叉(或重叠)的区域的第四区域R4中进行第四采样补偿操作来生成用于像素的第四补偿数据。
根据一些示例,用于第四采样补偿操作的第四采样矩阵SM4可以是1×1采样矩阵。因为可从第四查找表获得用于第四区域R4中所包括的全部像素的补偿值,所以可在没有任何误差的情况下执行对第四区域R4的补偿。
虽然图9中示出在第四采样补偿操作中从第四查找表获得用于第四区域R4中所包括的全部像素的补偿值,但是第四采样补偿操作不限于此。例如,为了减少存储设备的容量和显示设备的负载,第四采样补偿操作可利用2×2采样矩阵来获得用于第四区域R4中所包括的像素的补偿值。
图10A和图10B是用于描述根据本发明构思的一些示例性实施方式的第二采样补偿操作的效果的图形。
参考图10A和图10B,第二采样补偿操作可使用具有相对低的高度的采样矩阵(诸如,1×4采样矩阵)。因此,当在第二方向d2上移动时而补偿值的变化相对大时,可应用(或执行)第二采样补偿操作以有效地减少补偿值的误差。
如图10A中所示,因为在第二区域中瑕疵在第一方向d1上延伸,所以当在第一方向d1上移动(沿x轴改变位置)时补偿值的变化可能相对小。
如图10B中所示,因为在第二区域中瑕疵在第一方向d1上延伸,所以当在第二方向d2上移动(沿y轴改变位置)时补偿值的改变可相对大(这里,在第二方向d2上移动意味着越过在第一方向d1上延伸的瑕疵)。
因此,在第二区域中,可通过应用第二采样补偿操作来生成具有相对小的误差的补偿值。因此,因为不需要将用于第二区域中所包括的全部像素的补偿值存储在存储设备(即,查找表)中,所以可减少补偿瑕疵的存储设备的容量,且可提高显示设备的效率。
图11A和图11B是用于描述根据本发明构思的一些示例性实施方式的第三采样补偿操作的效果的图形。
参考图11A和图11B,第三采样补偿操作可使用具有相对窄的宽度的采样矩阵(诸如,4×1采样矩阵)。因此,当在第一方向d1上移动而补偿值的改变相对大时,可应用(或执行)第三采样补偿操作以有效地减少补偿值的误差。
如图11A中所示,因为在第三区域中瑕疵在第二方向d2上延伸,所以当在第一方向d1上移动(沿x轴改变位置)时补偿值的改变可能相对大(这里,在第一方向d1上移动意味着越过在第二方向d2上延伸的瑕疵)。
如图10B中所示,因为在第三区域中瑕疵在第二方向d2上延伸,所以当在第二方向d2上移动(沿y轴改变位置)时补偿值的改变可能相对小。
因此,在第三区域中,可通过应用第三采样补偿操作来生成具有相对小的误差的补偿值。因此,因为不需要将用于第三区域中所包括的全部像素的补偿值存储在存储设备(即,查找表)中,所以可减少补偿瑕疵的存储设备的容量且可提高显示设备的效率。
图12A和图12B是用于描述根据本发明构思的一些示例性实施方式的第四采样补偿操作的效果的图形。
参考图12A和图12B,第四采样补偿操作可使用具有相对低的高度和相对窄的宽度的采样矩阵(诸如1×1采样矩阵)。因此,在相邻像素之间的补偿值的改变相对大的第四区域中,可应用(或执行)第四采样补偿操作以减少补偿值的误差。
第四区域包括在第一方向d1(例如,沿着x轴的方向)上延伸的第一瑕疵与在第二方向d2(例如,沿着y轴的方向)上延伸的第二瑕疵交叉(或重叠)的位置(或区域)以及所述位置的周边区域。因为补偿值的改变相对大,所以当执行第一采样补偿操作至第三采样补偿操作时可能出现大的补偿误差。因此,可在不使得显示设备的负载显著增大的程度上仅在第一瑕疵与第二瑕疵交叉(或重叠)的第四区域中应用第四采样补偿操作。
图13是示出图1的显示设备中所包括的显示面板的结构的示例的剖视图。
参考图13,显示面板可包括线栅偏振层以形成In-cell结构。
显示面板可包括第一衬底S1、与第一衬底S1相对的第二衬底S2以及设置在第一衬底S1和第二衬底S2之间的液晶层。显示面板可通过从设置在显示面板下方的光源模块LS接收光(在图13中由LIGHT指示)来显示图像。
第一衬底S1可包括第一基衬底110、第一缓冲构件111、第一偏振层114、栅电极GE、栅绝缘层115、有源图案AP、源电极SE、漏电极DE、钝化层116、有机绝缘层117以及像素电极PE。
第一缓冲构件111可设置在第一基衬底110和第一偏振层114之间。
第一偏振层114可包括执行偏振功能的线栅阵列。线栅阵列可在第一方向上延伸。线栅阵列可包括在第二方向上彼此平行地布置的多个线性金属图案,其中第一方向与第二方向交叉。
栅电极GE、有源图案AP、源电极SE和漏电极DE可构成薄膜晶体管。薄膜晶体管可电连接至像素电极PE。当在第一基衬底110上形成第一偏振层114之后,可在第一偏振层114上形成薄膜晶体管阵列。
栅电极GE可设置在第一偏振层114上。栅电极GE可电连接至在第一基衬底110上在一个方向上延伸的栅极线。
栅绝缘层115可覆盖栅电极GE。
有源图案AP可设置在栅绝缘层115上。有源图案AP可与栅电极GE重叠。有源图案AP可在源电极SE和漏电极DE之间形成沟道。
源电极SE可电连接至数据线。数据线、源电极SE和漏电极DE可由相同的金属层形成。
钝化层116可覆盖源电极SE、漏电极DE和栅绝缘层115。
有机绝缘层117可设置在钝化层116上。有机绝缘层117可使第一衬底S1平坦化。
像素电极PE可设置在有机绝缘层117上。像素电极PE可电连接至漏电极DE。像素电极PE可经由钝化层116和有机绝缘层117接触漏电极DE。像素电压可经由薄膜晶体管施加到像素电极PE。可通过施加至像素电极PE的像素电压和施加至公共电极CE的公共电压之间的电压差来形成电场。
第二衬底S2可包括第二基衬底120、第二缓冲构件121、第二偏振层124、遮蔽构件BM、滤色器CF、涂覆层OC以及公共电极CE。
第二缓冲构件121可设置在第二基衬底120和第二偏振层124之间。
第二偏振层124可包括执行偏振功能的线栅阵列。在示例性实施方式中,第二偏振层124可包括与第一偏振层114的金属图案垂直的金属图案。
遮蔽构件BM可设置在第二偏振层124上。遮蔽构件BM可具有矩阵形状。遮蔽构件BM可与薄膜晶体管重叠。
滤色器CF可设置在第二偏振层124上。滤色器CF可与像素电极PE相对。
涂覆层OC可覆盖遮蔽构件BM和滤色器CF。
公共电极CE可形成在涂覆层OC上。公共电极CE可与像素电极PE重叠。
第一偏振层114和/或第二偏振层124可通过压印方法利用母模来形成。当母模的尺寸小于显示面板的尺寸时,第一偏振层114和/或第二偏振层124可不在单个压印过程中形成。因此,沿着母模的边界可能存在偏差。因此,当显示设备显示图像时,可能沿着偏振层的边界观察到(或视觉上识别出)具有网格形状的瑕疵。
图14至图16是用于描述图1的显示设备的效果的图形。
参考图14至图16,根据示例性实施方式的显示设备可通过基于瑕疵视觉上被识别的位置将像素分类为四个区域以及通过针对各区域执行不同的采样补偿操作来有效地补偿具有网格形状的瑕疵。
如图14中所示,当没有对图像数据执行瑕疵补偿时(例如,当存储查找表的闪速存储设备被禁用时),具有网格形状的瑕疵可能因在显示设备的制造过程中偏振层的偏差或者其它原因而在视觉上被识别(例如,被用户识别)。
如图15中所示,当针对显示面板的全部区域应用(或执行)使用具有相对大的尺寸的采样矩阵的第一采样补偿操作时,在具有线形状或网格形状的瑕疵被显示的位置处可能存在补偿误差,并且可能观察到具有网格形状的模糊或脏的瑕疵。
如图16中所示,可将显示面板(即,像素)划分成四个区域,可利用具有相对大的尺寸的采样矩阵针对未观察到瑕疵的第一区域生成补偿数据,并且可利用具有相对小的尺寸的采样矩阵针对观察到瑕疵的第二区域至第四区域生成补偿数据。因此,可以肯定的是,在显示设备的负载没有显著地增加的情况下,有效地消除了具有网格形状的瑕疵。
图17是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的通过第一采样补偿操作生成用于第一区域的第一补偿数据的另一示例的图形。
参考图17,可通过在与未观察到瑕疵的位置对应的第一区域R1中进行第一采样补偿操作来生成用于像素的第一补偿数据。
根据一些示例,第一采样补偿操作的第一采样矩阵SM1′可以是6×4采样矩阵。第一采样补偿操作可将第一区域R1划分成各自具有6×4采样矩阵尺寸的块,并且可确定块中的每一个中所包括的24个像素之一作为用于该块的采样像素。例如,可选择(1,1)像素、(1,5)像素、(7,1)像素、(7,5)像素等作为采样像素。
可从第一查找表获得用于采样像素的补偿值。可基于用于邻近常规像素的采样像素(例如,(1,1)像素、(1,5)像素、(7,1)像素和(7,5)像素)的补偿数据以及采样像素和常规像素之间的距离D13、D14、D15和D16来获得用于除了采样像素之外的常规像素(例如,(3,4)像素)的补偿数据。由于上文描述了获得用于常规像素的补偿数据的方法,因此将不提供重复的描述。
因为图17中所示的6×4采样矩阵尺寸大于图6中所示的4×4采样矩阵尺寸,所以当补偿值偏差相对不大时,可减少显示设备的负载。
图18和图19是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的通过第二采样补偿操作生成用于第二区域的第二补偿数据的另一示例的图形。
参考图18和图19,可通过在包括沿着在第一方向d1上延伸的第一线显示的第一瑕疵ST1或ST1′的第二区域R2中进行第二采样补偿操作来生成用于像素的第二补偿数据。
如图18中所示,根据一些示例,第二采样补偿操作的第二采样矩阵SM2′可以是1×8采样矩阵。第二采样补偿操作可将第二区域R2划分为各自具有1×8采样矩阵尺寸的块,并且可确定块中的每一个中所包括的八个像素之一作为采样像素。例如,定位在第二区域R2中所包括的第一像素列、第九像素列等中的像素可被选为采样像素。
可从第二查找表获得用于采样像素的补偿值。可基于用于邻近常规像素的采样像素(例如,(3,1)像素和(3,9)像素)的补偿数据以及采样像素和常规像素之间的距离D17和D18来获得用于除了采样像素之外的常规像素(例如,(3,4)像素)的补偿数据。
因为图18中所示的1×8采样矩阵尺寸大于图7A中所示的1×4采样矩阵尺寸,所以当在第一方向d1上移动而补偿值偏差相对不大时,可减少显示设备的负载。在示例性实施方式中,第二采样矩阵的宽度可设定成第一采样矩阵的宽度的整数倍。
如图19中所示,第二采样补偿操作的第二采样矩阵SM2″可以是2×8采样矩阵。第二采样补偿操作可将第二区域R2划分成各自具有2×8采样矩阵尺寸的块,并且可确定块中的每一个中所包括的十六个像素之一作为采样像素。例如,定位在第二区域R2中所包括的第一像素列的奇数行、第九像素列的奇数行等中的像素可被选为采样像素。
可从第二查找表获得用于采样像素的补偿值。可基于用于邻近常规像素的采样像素(例如,(3,1)像素、(3,9)像素、(5,1)像素和(5,9)像素)的补偿数据以及采样像素和常规像素之间的距离D19、D20、D21和D22来获得用于除了采样像素之外的常规像素(例如,(4,3)像素)的补偿数据。
当在第一方向d1上延伸的第一瑕疵ST1′的宽度相对宽时,与利用图18中所示的1×8采样矩阵SM2′获得补偿数据相比,通过利用图19中所示的2×8采样矩阵SM2″获得补偿数据可减少显示设备的负载。
图20和图21示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的通过第三采样补偿操作生成用于第三区域的第三补偿数据的另一示例的图形。
参考图20和图21,可通过在包括沿着在第二方向d2上延伸的第二线显示的第二瑕疵ST2或ST2′的第三区域R3中进行第三采样补偿操作来生成用于像素的第三补偿数据。
如图20中所示,根据一些示例,第三采样补偿操作的第三采样矩阵SM3′可以是8×1采样矩阵。第三采样补偿操作可将第三区域R3划分成各自具有8×1采样矩阵尺寸的块,并且可确定块中的每一个中所包括的八个像素之一作为采样像素。例如,定位在第三区域R3中所包括的第一像素行、第九像素行等中的像素可被选为采样像素。
可从第三查找表获得用于采样像素的补偿值。可基于用于邻近常规像素的采样像素(例如,(1,4)像素和(9,4)像素)的补偿数据以及采样像素和常规像素之间的距离D23和D24来获得用于除了采样像素之外的常规像素(例如,(3,4)像素)的补偿数据。
因为图20中所示的8×1采样矩阵尺寸大于图8A中所示的4×1采样矩阵尺寸,所以当在第二方向d2上移动而补偿值偏差相对不大时,可减少显示设备的负载。在示例性实施方式中,第三采样矩阵的高度可设定成第一采样矩阵的高度的整数倍。
如图21中所示,根据一些示例,第三采样补偿操作的第三采样矩阵SM3″可以是8×2采样矩阵。第三采样补偿操作可将第三区域R3划分成各自具有8×2采样矩阵尺寸的块,并且可确定块中的每一个中所包括的十六个像素之一作为采样像素。例如,定位在第三区域R3中所包括的第一像素行的奇数列、第九像素行的奇数列等中的像素可被选为采样像素。
可从第三查找表获得用于采样像素的补偿值。可基于用于邻近常规像素的采样像素(例如,(1,3)像素、(1,5)像素、(9,3)像素和(9,5)像素)的补偿数据以及采样像素和常规像素之间的距离D25、D26、D27和D28来获得用于除了采样像素之外的常规像素(例如,(4,3)像素)的补偿数据。
当沿着在第二方向d2上延伸的第二线显示的第二瑕疵ST2′的宽度相对宽时,与利用图20中所示的8×1采样矩阵获得补偿数据相比,通过利用图21中所示的8×2采样矩阵获得补偿数据,可减少显示设备的负载。
图22是示出图1的显示设备中所包括的图像补偿器的另一示例的框图。
参考图22,图像补偿器500B可通过针对第一区域至第四区域执行不同的采样补偿操作来对图像数据进行补偿。在示例性实施方式中,图像补偿器500B可包括补偿数据存储部510B、区域数据存储部(例如,区域数据储存器)520以及数据补偿部530。
补偿数据存储部510B可包括查找表,该查找表存储用于采样像素的补偿数据以执行采样补偿操作。在示例性实施方式中,补偿数据存储部510B可包括第五查找表515。因为以上描述了查找表的结构,所以将不重复其描述。
数据补偿部530可基于区域数据RD和存储在第五查找表515中用于采样像素的补偿数据AV执行相应的采样补偿操作。在示例性实施方式中,数据补偿部530可包括第一区域补偿部531至第四区域补偿部534。
第一区域补偿部531可通过基于区域数据RD和第五查找表515执行第一采样补偿操作来获得第一补偿数据,并且可基于第一补偿数据对与第一区域对应的像素的图像数据进行补偿。例如,第一区域补偿部531可通过基于区域数据RD确定第一区域以及通过从第五查找表515获得用于第一区域中所包括的采样像素的补偿数据,来生成用于第一区域的常规像素的补偿数据。在示例性实施方式中,第一区域补偿部531可通过基于第五查找表515针对第一区域对输入图像数据IDATA进行补偿来生成第一数据DD1。
第二区域补偿部532可通过基于区域数据RD和第五查找表515执行第二采样补偿操作来获得第二补偿数据,并且可基于第二补偿数据对与第二区域对应的像素的图像数据进行补偿。在示例性实施方式中,第二区域补偿部532可通过基于第五查找表515针对第二区域对第一数据DD1进行补偿来生成第二数据DD2。
第三区域补偿部533可通过基于区域数据RD和第五查找表515执行第三采样补偿操作来获得第三补偿数据,并且可基于第三补偿数据对与第三区域对应的像素的图像数据进行补偿。在示例性实施方式中,第三区域补偿部533可通过基于第五查找表515针对第三区域对第二数据DD2进行补偿来生成第三数据DD3。
第四区域补偿部534可通过基于第五查找表515和存储在区域数据存储部520中的区域数据RD执行第四采样补偿操作来获得第四补偿数据,并且可基于第四补偿数据对与第四区域对应的像素的图像数据进行补偿。在示例性实施方式中,第四区域补偿部534可通过基于第五查找表515针对第四区域对第三数据DD3进行补偿来生成经补偿图像数据ADATA。
可通过定位在显示设备内部或外部的补偿数据生成部50来生成图像补偿器500B的第五查找表515。例如,补偿数据生成部50可基于所拍摄的显示面板100的图像生成第五查找表515的数据。因为补偿数据生成部50与参考图4描述的补偿数据生成部相同或基本相同,所以将不重复其描述。
如上所述,可通过使用存储在区域数据存储部520中的区域数据RD,基于第五查找表515来执行针对各区域的采样补偿操作。因此,与图4的图像补偿器500A相比,图22的图像补偿器500B可实现为包括具有相对小的容量的存储设备。
图23是示出图1的显示设备中所包括的图像补偿器的又一示例的框图。
参考图23,图像补偿器500C可通过针对第一区域至第四区域执行不同的采样补偿操作来对图像数据进行补偿。在示例性实施方式中,图像补偿器500C可包括补偿数据存储部(例如,补偿数据储存器)510C、区域数据存储部(例如,区域数据储存器)520以及数据补偿部(例如,数据补偿器)540。
补偿数据存储部510C可包括查找表511至514,所述查找表511至514存储用于采样像素的补偿数据以执行采样补偿操作。因为上文描述了查找表的结构,因此将不提供重复的描述。
数据补偿部540可基于区域数据RD以及存储在第一查找表511至第四查找表514中的用于采样像素的补偿数据AV1至AV4执行相应的采样补偿操作。在示例性实施方式中,数据补偿部540可包括第一区域补偿部(例如,第一区域补偿器)541、区域确定部(例如,区域确定器)542以及局部区域补偿部(例如,局部区域补偿器)545。
第一区域补偿部541可通过基于第一查找表511执行第一采样补偿操作来获得第一补偿数据,并且可基于第一补偿数据对与第一区域对应的像素的图像数据进行补偿。例如,第一区域补偿部541可通过从第一查找表511获得用于显示面板的全部区域中所包括的采样像素的补偿数据来生成用于显示面板的全部区域中所包括的常规像素的补偿数据。第一区域补偿部541可通过基于第一查找表511针对显示面板的全部区域对输入图像数据IDATA进行补偿来生成第一数据DD1。
区域确定部542可基于存储在区域数据存储部520中的区域数据RD输出用于针对第一区域至第四区域来划分输入图像数据IDATA的区域数据值RV。
局部区域补偿部545可通过针对第二区域至第四区域对由第一区域补偿部541生成的第一数据DD1分别执行第二采样补偿操作至第四采样补偿操作来生成经补偿图像数据ADATA,其中,第二区域至第四区域基于区域数据值RV进行划分。在示例性实施方式中,局部区域补偿部545可包括第二区域补偿部至第四区域补偿部(例如,第二区域补偿器至第四区域补偿器)546、547和548。第二区域补偿部546可通过基于第二查找表512执行第二采样补偿操作来获得第二补偿数据,并且可基于第二补偿数据对用于与第二区域对应的像素的图像数据进行补偿。第三区域补偿部547可通过基于第三查找表513执行第三采样补偿操作来获得第三补偿数据,并且可基于第三补偿数据对用于与第三区域对应的像素的图像数据进行补偿。第四区域补偿部548可通过基于第四查找表514执行第四采样补偿操作来获得第四补偿数据,并且可基于第四补偿数据对用于与第四区域对应的像素的图像数据进行补偿。
虽然图23中示出补偿数据存储部510C与区域数据存储部520分离,但是本发明构思不限于此。例如,区域数据RD可存储在补偿数据存储部510C中。例如,区域数据RD可存储在补偿数据存储部510C的第一查找表511至第四查找表514中。
图24是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的驱动显示设备的方法的流程图。
参考图24,图24的方法可基于瑕疵所形成(或被观察到)的位置将像素分类为第一区域至第四区域,并且可通过针对第一区域至第四区域执行不同的采样补偿操作来补偿瑕疵。因为上文描述了将像素分类为第一区域至第四区域的方法,因此将不提供重复的描述。
例如,基于第一查找表执行第一采样补偿操作(S110),以获得用于第一区域中所包括的像素的补偿数据。此外,可通过基于用于第一区域中所包括的像素的补偿数据对输入图像数据进行补偿来生成第一经补偿图像数据(S115)。在示例性实施方式中,第一采样补偿操作的第一采样矩阵可以是L1×C1采样矩阵,其中L1和C1是大于1的整数。换言之,可通过使用具有相对大的尺寸的采样矩阵来生成用于第一区域中所包括的像素的补偿数据,其中,在所述第一区域中未观察到瑕疵。
基于第二查找表执行第二采样补偿操作(S120),以获得用于第二区域中所包括的像素的补偿数据。此外,可通过基于用于第二区域中所包括的像素的补偿数据对输入图像数据(或第一经补偿图像数据)进行补偿来生成第二经补偿图像数据(S125)。在示例性实施方式中,第二采样补偿操作的第二采样矩阵可以是L2×C2采样矩阵,其中,L2是大于或等于L1的整数,且C2是大于或等于1且小于C1的整数。换言之,可通过使用具有相对小的尺寸的采样矩阵来生成用于第二区域中所包括的像素的补偿数据,其中,在所述第二区域中观察到在第一方向d1上延伸的瑕疵。
基于第三查找表执行第三采样补偿操作(S130),以获得用于第三区域中所包括的像素的补偿数据。此外,可通过基于用于第三区域中所包括的像素的补偿数据对输入图像数据(或第二经补偿图像数据)进行补偿来生成第三经补偿图像数据(S135)。在示例性实施方式中,第三采样补偿操作的第三采样矩阵可以是L3×C3采样矩阵,其中,L3是大于或等于1且小于L1的整数,且C3是大于或等于C1的整数。换言之,可通过使用具有相对小的尺寸的采样矩阵来生成用于第三区域中所包括的像素的补偿数据,其中,在第三区域中观察到在第二方向d2上延伸的瑕疵。
基于第四查找表执行第四采样补偿操作(S140),以获得用于第四区域中所包括的像素的补偿数据。此外,可通过基于用于第四区域中所包括的像素的补偿数据对输入图像数据(或第三经补偿图像数据)进行补偿来生成第四经补偿图像数据(S145)。在示例性实施方式中,第四采样补偿操作的第四采样矩阵可以是L4×C4采样矩阵,其中,L4是大于或等于1且小于L1的整数,且C4是大于或等于1且小于C1的整数。换言之,可通过使用具有最小尺寸的采样矩阵来生成用于第四区域中所包括的像素的补偿数据,其中,在第四区域中,在第一方向d1上延伸的瑕疵与在第二方向d2上延伸的瑕疵交叉(或重叠)。
可基于第一经补偿图像数据至第四经补偿图像数据来显示图像(S150)。
因此,图24的方法可通过针对基于瑕疵的位置进行划分的区域按照采样矩阵的尺寸下降的顺序相继地执行采样补偿操作来有效地消除显示设备的瑕疵。
图25是示出根据本发明构思的一些示例性实施方式的驱动显示设备的方法的流程图。
参考图25,图25的方法可基于形成(或观察到)瑕疵的位置将像素分类为第一区域至第四区域,并且可通过针对第一区域至第四区域执行不同的采样补偿操作来补偿瑕疵。除了并行地执行的第二采样补偿操作至第四采样补偿操作之外,图25的方法与图24的方法基本相同。因此,相同的附图标记将用于相同的或相似的部件,并且将不提供重复的描述。
例如,基于第一查找表执行第一采样补偿操作(S210),以获得用于显示面板的第一区域中所包括的像素的补偿数据。此外,可通过基于用于第一区域中所包括的像素的补偿数据对输入图像数据进行补偿来生成第一经补偿图像数据(S215)。
可确定第一经补偿图像数据所属的第二区域至第四区域(S217)。此外,可根据第一经补偿图像数据所属的区域来执行第二采样补偿操作至第四采样补偿操作。
当第一经补偿图像数据与第二区域对应时,可基于第二查找表执行第二采样补偿操作(S220),以更新用于第二区域中所包括的像素的补偿数据。可基于用于第二区域中所包括的像素的补偿数据来更新第一经补偿图像数据。
当第一经补偿图像数据与第三区域对应时,可基于第三查找表执行第三采样补偿操作(S230),以更新用于第三区域中所包括的像素的补偿数据。可基于用于第三区域中所包括的像素的补偿数据来更新第一经补偿图像数据。
当第一经补偿图像数据与第四区域对应时,可基于第四查找表执行第四采样补偿操作(S240),以更新用于第四区域中所包括的像素的补偿数据。可基于用于第四区域中所包括的像素的补偿数据来更新第一经补偿图像数据。
因此,可通过第二采样补偿操作至第四采样补偿操作由第一经补偿图像数据生成经补偿图像数据(S245)。因此,可基于经补偿图像数据显示图像(S250)。
虽然上面参考附图描述了根据示例性实施方式的显示设备和驱动显示设备的方法,但是本领域技术人员将容易想到,在实质上不脱离本发明构思的新颖教导和有益效果的情况下,可以在示例性实施方式中进行诸多修改。例如,虽然上文描述显示设备是液晶显示设备或有机发光显示设备,但是显示设备的类型不限于此。
本发明构思可应用于包括显示设备的电子设备。例如,本发明构思可应用于计算机显示器、膝上型电脑、蜂窝电话、智能电话、智能板、智能手表、平板PC、便携式多媒体播放器(PMP)、个人数字助理(PDA)、MP3播放器、数字相机、视频摄像机等。
应理解,虽然术语“第一”、“第二”、“第三”等可在本文中用于描述各种元件、组件、区域、层和/或区段,但是这些元件、组件、区域、层和/或区段不应受这些术语限制。这些术语用于将一个元件、一个组件、一个区域、一个层或一个区段与另一元件、另一组件、另一区域、另一层或另一区段区分开。因此,在不脱离发明构思的精神和范围的情况下,上面讨论的第一元件、第一组件、第一区域、第一层或第一区段可被称为第二元件、第二组件、第二区域、第二层或第二区段。
为了便于描述,本文可使用诸如“下部”、“下方”、“上方”、“上部”等空间相对术语来描述如附图中所示的一个元件或特征与另外的元件(多个元件)或特征(多个特征)的关系。应理解,除了附图中所绘制的定向之外,空间相对术语还旨在涵盖设备在使用中或在操作中的不同定向。例如,如果附图中的设备翻转,则描述为在其它元件或特征“下方”的元件将定向成在所述其它元件或特征“上方”。因此,示例性术语“下方”可涵盖上方和下方两个定向。设备可以以其它方式定向(例如旋转90度或处于其它定向),并且本文使用的空间相对描述语应相应地进行解释。此外,还应理解,当层或块被称为在两个层或块“之间”时,它可为所述两个层或块之间的仅有层或块,或者还可存在一个或多个介于中间的层或块。
本文使用的术语是出于描述具体实施方式的目的,而并非旨在限制发明构思。除非上下文清楚地另行指出,否则如本文所使用的那样,单数形式“一”和“一个”旨在还包括复数形式。还应理解,术语“包括(include)”、“包括(including)”、“包括(comprises)”和/或“包括(comprising)”当在该说明书中使用时指出所阐述的特征、整体、步骤、操作、元件和/或组件的存在,但是不排除一个或多个其它的特征、整体、步骤、操作、元件、组件和/或其组合的存在或添加。如本文所使用的那样,术语“和/或”包括相关所列项目中的一个或多个的任何和全部组合。
出于本公开的目的,“X、Y和Z中至少之一”以及“从由X、Y和Z构成的群组中选择的至少之一”可解释为仅X、仅Y、仅Z,或者解释为诸如X、Y和Z中的两者或更多的任意组合,例如,XYZ、XYY、YZ和ZZ。
此外,当描述发明构思的实施方式时,“可”的使用表示“发明构思的一个或多个实施方式”。另外,术语“示例性”旨在表示示例或例示。
应理解,当元件或层被称为在另一元件或层“上”、“连接至”、“联接至”或“邻近”另一元件或层时,它可直接地在所述另一元件或层上、直接连接至、直接联接至或直接邻近所述另一元件或层,或者可存在一个或多个介于中间的元件或层。当元件或层被称为“直接在”另一元件或层“上”、“直接连接至”、“直接联接至”或“紧邻”另一元件或层时,不存在介于中间的元件或层。
如本文所使用的那样,术语“基本”、“约”及类似术语用作近似术语而不用作程度术语,并且旨在为会由本领域普通技术人员意识到的测量值或计算值中的固有偏差留出余量。
如本文所使用的那样,术语“使用(use)”、“使用(using)”和“使用(used)”可解释为分别与术语“利用(utilize)”、“利用(utilizing)”和“利用(utilized)”同义。
根据本文描述的本发明的实施方式的显示设备和/或任何其它相关设备或组件,诸如图像补偿器和时序控制器,可利用任何合适的硬件、固件(例如,专用集成电路)、软件或者软件、固件和硬件的合适组合来实现。例如,显示设备的各种组件可形成在一个集成电路(IC)芯片上或者可形成在单独的IC芯片上。此外,显示设备的各种组件可在柔性印刷电路膜、带载封装(TCP)、印刷电路板(PCB)上实现,或者可形成在同一衬底上。此外,显示设备的各种组件可以是这样的进程或线程,所述进程或线程在一个或多个计算设备中在一个或多个处理器上运行、执行计算机程序指令并且与其它系统组件交互以用于执行本文描述的各种功能。计算机程序指令存储在可例如利用标准存储设备(诸如,随机存取存储器(RAM))在计算设备中实现的存储器中。计算机程序指令还可例如存储在诸如CD-ROM、闪速驱动等其它非暂时性计算机可读介质中。另外,本领域技术人员应意识到,在不脱离本发明的示例性实施方式的范围的情况下,各种计算设备的功能可组合或集成到单个计算设备中,或者特定计算设备的功能可跨越一个或多个其它计算设备分布。
上文是对示例性实施方式的说明,并且不应解释为对示例性实施方式的限制。虽然已经描述了几个示例性实施方式,但是本领域技术人员将容易想到,在实质上不脱离本发明构思的新颖教导和有益效果的情况下,可在示例性实施方式中进行诸多修改。因此,所有这样的修改旨在包括在如权利要求中限定的本发明构思的范围内。因此,要理解,上文是对各示例性实施方式的说明并且不应解释为局限于所公开的特定示例性实施方式,且要理解,对所公开的示例性实施方式的合适修改以及其它示例性实施方式旨在包括在如由所附权利要求及其等同限定的本发明的范围内。
Claims (14)
1.显示设备,包括:
显示面板,包括与多个区域对应的多个像素,其中,所述区域基于瑕疵显示在所述显示面板上的位置进行分类;
图像补偿器,配置为:通过针对所述区域执行相应的采样补偿操作来获得用于所述像素的补偿数据,以及通过基于所述补偿数据对输入图像数据进行补偿来生成经补偿图像数据,所述补偿数据通过基于具有不同尺寸的相应采样矩阵执行所述采样补偿操作中的至少两个来生成;以及
显示面板驱动器,配置为驱动所述显示面板以在所述显示面板上显示与所述经补偿图像数据对应的图像,
其中,所述图像补偿器通过使用具有相对小的尺寸的所述采样矩阵来生成用于定位在观察到所述瑕疵的区域中的所述像素的所述补偿数据,并且通过使用具有相对大的尺寸的所述采样矩阵来生成用于定位在未观察到所述瑕疵的区域中的所述像素的所述补偿数据。
2.如权利要求1所述的显示设备,
其中,所述区域包括第一区域、第二区域、第三区域和第四区域,
其中,所述第四区域与第一瑕疵和第二瑕疵交叉的区域的至少一部分对应,其中,所述第一瑕疵在位置上与在第一方向上延伸的第一线对应,所述第二瑕疵在位置上与在不同于所述第一方向的第二方向上延伸的第二线对应,
其中,所述第三区域与对应于所述第二线的区域的至少一部分对应,
其中,所述第二区域与对应于所述第一线的区域的至少一部分对应,以及
其中,所述第一区域与除了所述第二区域、所述第三区域和所述第四区域之外的区域的至少一部分对应。
3.如权利要求2所述的显示设备,其中,所述采样补偿操作包括第一采样补偿操作、第二采样补偿操作、第三采样补偿操作和第四采样补偿操作,
其中,所述第一采样补偿操作基于具有L1个像素行和C1个像素列的尺寸的第一采样矩阵生成用于所述第一区域的所述补偿数据,其中,L1和C1是大于1的整数,
其中,所述第二采样补偿操作基于具有L2个像素行和C2个像素列的尺寸的第二采样矩阵生成用于所述第二区域的所述补偿数据,其中,L2是大于或等于L1的整数以及C2是大于或等于1且小于C1的整数,
其中,所述第三采样补偿操作基于具有L3个像素行和C3个像素列的尺寸的第三采样矩阵生成用于所述第三区域的所述补偿数据,其中,L3是大于或等于1且小于L1的整数以及C3是大于或等于C1的整数,以及
其中,所述第四采样补偿操作基于具有L4个像素行和C4个像素列的尺寸的第四采样矩阵生成用于所述第四区域的所述补偿数据,其中,L4是大于或等于1且小于L1的整数以及C4是大于或等于1且小于C1的整数。
4.如权利要求3所述的显示设备,其中,所述图像补偿器配置为相继地执行所述第一采样补偿操作、所述第二采样补偿操作、所述第三采样补偿操作和所述第四采样补偿操作。
5.如权利要求3所述的显示设备,其中,所述L2个像素行的数值是所述L1个像素行的数值的整数倍,以及
其中,所述C3个像素列的数值是所述C1个像素列的数值的整数倍。
6.如权利要求3所述的显示设备,其中,所述第四采样矩阵具有一个像素行和一个像素列的尺寸。
7.如权利要求1所述的显示设备,其中,所述显示面板驱动器包括:
补偿数据储存器,配置为存储用于执行所述采样补偿操作的不同查找表;以及
数据补偿器,配置为基于所述查找表执行所述采样补偿操作。
8.如权利要求7所述的显示设备,其中,所述数据补偿器配置为按照所述采样矩阵的尺寸下降的顺序执行所述采样补偿操作。
9.如权利要求7所述的显示设备,其中,所述显示面板驱动器还包括:
补偿数据生成器,配置为基于所拍摄的所述显示面板的图像生成所述查找表。
10.如权利要求9所述的显示设备,其中,所述补偿数据生成器包括:
亮度配置文件获得器,配置为从所拍摄的所述显示面板的图像获得所述像素的至少一部分的亮度配置文件;
亮度目标值获得器,配置为获得与参考灰度值对应的亮度目标值;
亮度补偿值生成器,配置为基于所述亮度配置文件和所述亮度目标值生成亮度补偿值;以及
补偿数据生成器,配置为基于所述亮度补偿值生成所述补偿数据。
11.如权利要求1所述的显示设备,
其中,所述显示面板包括第一衬底,所述第一衬底上形成有偏振层,以及
其中,所述区域基于所述偏振层的边界进行划分。
12.如权利要求11所述的显示设备,其中,所述偏振层的所述边界具有线形状。
13.如权利要求11所述的显示设备,
其中,所述显示面板还包括与所述第一衬底相对的第二衬底,以及
其中,所述偏振层在所述第一衬底和所述第二衬底之间。
14.如权利要求13所述的显示设备,其中,所述偏振层是线栅偏振层。
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