KR102465008B1 - 얼룩 보정 장치, 이 얼룩 보정 장치를 이용한 얼룩 보정 방법, 및 이 얼룩 보정 장치를 포함하는 디스플레이 시스템 - Google Patents

얼룩 보정 장치, 이 얼룩 보정 장치를 이용한 얼룩 보정 방법, 및 이 얼룩 보정 장치를 포함하는 디스플레이 시스템 Download PDF

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Abstract

얼룩 보정 장치는 얼룩 보정 데이터 생성부 및 얼룩 보정부를 포함한다. 얼룩 보정 데이터 생성부는 제1 영상 데이터를 기초로 하여 영상을 표시하는 디스플레이 패널에 표시되는 얼룩을 보정하기 위한 얼룩 보정 데이터를, 얼룩이 포함되는 영역으로 판단되는 제1 블록 영역에서 제1 정밀도 단위로, 얼룩이 포함되지 않는 영역으로 판단되는 제2 블록 영역에서 제1 정밀도 단위보다 낮은 제2 정밀도 단위로 생성한다. 얼룩 보정부는 얼룩 보정 데이터를 이용해, 제1 영상 데이터에 얼룩 보정을 수행하여 제2 영상 데이터를 출력한다. 따라서, 얼룩이 포함되는 영역으로 판단되는 블록 영역에서 얼룩 보정을 상대적으로 정밀하게 수행할 수 있고 얼룩 보정 데이터를 생성하는데 요구되는 메모리의 용량을 감소시킬 수 있다.

Description

얼룩 보정 장치, 이 얼룩 보정 장치를 이용한 얼룩 보정 방법, 및 이 얼룩 보정 장치를 포함하는 디스플레이 시스템{SPOT COMPENSATING APPARATUS, METHOD OF COMPENSATING SPOT, AND DISPLAY SYSTEM HAVING THE SPOT COMPENSATING APPARATUS}
본 발명은 얼룩 보정 장치, 이 얼룩 보정 장치를 이용한 얼룩 보정 방법, 및 이 얼룩 보정 장치를 포함하는 디스플레이 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 디스플레이 패널에 표시되는 얼룩을 보정하는 얼룩 보정 장치, 이 얼룩 보정 장치를 이용한 얼룩 보정 방법, 및 이 얼룩 보정 장치를 포함하는 디스플레이 시스템에 관한 것이다.
디스플레이 장치는 디스플레이 패널 및 디스플레이 패널 구동 장치를 포함한다. 상기 디스플레이 패널은 영상을 표시한다. 상기 디스플레이 패널 구동 장치는 상기 디스플레이 패널을 구동한다.
상기 디스플레이 패널에는 얼룩이 표시될 수 있다. 상기 얼룩은 상기 디스플레이 장치의 표시 품질을 저하시킨다. 따라서, 상기 얼룩은 보정될 필요가 있다.
이에, 본 발명의 기술적 과제는 이러한 점에서 착안된 것으로, 본 발명의 목적은 얼룩 보정의 정밀도를 증가시킬 수 있고 얼룩 보정 데이터의 용량을 감소시킬 수 있는 얼룩 보정 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 얼룩 보정 장치를 이용한 얼룩 보정 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 상기 얼룩 보정 장치를 포함하는 디스플레이 시스템을 제공하는 것이다.
상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 일 실시예에 따른 얼룩 보정 장치는 얼룩 보정 데이터 생성부 및 얼룩 보정부를 포함한다. 상기 얼룩 보정 데이터 생성부는 제1 영상 데이터를 기초로 하여 영상을 표시하는 디스플레이 패널에 표시되는 얼룩을 보정하기 위한 얼룩 보정 데이터를, 상기 얼룩이 포함되는 영역으로 판단되는 제1 블록 영역에서 제1 정밀도 단위로, 상기 얼룩이 포함되지 않는 영역으로 판단되는 제2 블록 영역에서 상기 제1 정밀도 단위보다 낮은 제2 정밀도 단위로 생성한다. 상기 얼룩 보정부는 상기 얼룩 보정 데이터를 이용해, 상기 제1 영상 데이터에 얼룩 보정을 수행하여 제2 영상 데이터를 출력한다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 얼룩 보정 데이터 생성부는 상기 제1 블록 영역에서 N * N(N은 자연수) 화소 단위로 상기 얼룩 보정 데이터를 생성하고 상기 제2 블록 영역에서 M * M(M은 N보다 큰 자연수) 화소들 단위로 상기 얼룩 보정 데이터를 생성할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 얼룩 보정 데이터를 보간 방식으로 생성하기 위한 시드 데이터를 수신하는 시드 데이터 수신부를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 얼룩 보정 데이터 생성부는, 상기 시드 데이터를 상기 제1 정밀도 단위로 추출하는 제1 시드 데이터 추출부, 및 상기 시드 데이터를 상기 제2 정밀도 단위로 추출하는 제2 시드 데이터 추출부를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 시드 데이터 추출부는 N * N(N은 자연수) 화소 단위로 상기 시드 데이터를 추출할 수 있고, 상기 제2 시드 데이터 추출부는 M * M(M은 N보다 큰 자연수) 화소들 단위로 상기 시드 데이터를 추출할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 디스플레이 패널은 J * K 디스플레이 블록들을 포함할 수 있고, 각각의 J * K 디스플레이 블록들은 M * M 화소들을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 디스플레이 블록들의 개수는 상기 디스플레이 패널의 해상도 및 상기 디스플레이 패널에서 상기 제1 블록 영역의 비율에 따라 결정될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 디스플레이 패널의 해상도가 1920 * 1080인 경우, 상기 디스플레이 블록들의 개수는 32 * 18이고, 상기 각각의 디스플레이 블록들은 60 * 60 화소들을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 시드 데이터 추출부는 4 * 4 화소들 단위로 상기 시드 데이터를 추출할 수 있고, 상기 제2 시드 데이터 추출부는 60 * 60 화소들 단위로 상기 시드 데이터를 추출할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 시드 데이터 추출부는 2 * 2 화소들 단위로 상기 시드 데이터를 추출할 수 있고, 상기 제2 시드 데이터 추출부는 60 * 60 화소들 단위로 상기 시드 데이터를 추출할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 얼룩 보정 데이터를 생성하기 위한 시드 데이터 블록은 상기 J * K 디스플레이 블록들에 상응하는 J * K 데이터 블록들, (J+1)번째 추가 데이터 블록들 및 (K+1)번째 추가 데이터 블록들을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 얼룩 보정 장치는, 상기 디스플레이 패널을 촬상하여 디스플레이 패널 데이터를 상기 얼룩 보정 데이터 생성부로 출력하는 촬상부를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 얼룩 보정 데이터 생성부는, 상기 디스플레이 패널 데이터를 기초로 하여, 상기 디스플레이 패널에 포함된 화소가 상기 제1 블록 영역에 포함되는지 상기 제2 블록 영역에 포함되는지 판단하여 제1 화소 위치 판단 데이터를 출력하는 제1 화소 위치 데이터 판단부를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 디스플레이 패널은 J * K 디스플레이 블록들을 포함할 수 있고, 각각의 J * K 디스플레이 블록들은 M * M 화소들을 포함할 수 있으며, 상기 얼룩 보정 데이터 생성부는, 상기 디스플레이 블록 내에서의 상기 화소의 위치를 판단하여 제2 화소 위치 판단 데이터를 출력하는 제2 화소 위치 데이터 판단부를 더 포함할 수 있다.
상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 일 실시예에 따른 얼룩 보정 방법은, 디스플레이 패널에 표시되는 얼룩을 보정하기 위한 얼룩 보정 데이터를, 상기 얼룩이 포함되는 영역으로 판단되는 제1 블록 영역에서 제1 정밀도 단위로, 상기 얼룩이 포함되지 않는 영역으로 판단되는 제2 블록 영역에서 상기 제1 정밀도 단위보다 낮은 제2 정밀도 단위로 생성하는 단계, 및 상기 얼룩 보정 데이터를 이용해 제1 영상 데이터에 얼룩 보정을 수행하여 제2 영상 데이터를 출력하는 단계를 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 얼룩 보정 데이터를 생성하는 단계는, 상기 제1 블록 영역에서 N * N(N은 자연수) 화소 단위로 상기 얼룩 보정 데이터를 생성하는 단계, 및 상기 제2 블록 영역에서 M * M(M은 N보다 큰 자연수) 화소들 단위로 상기 얼룩 보정 데이터를 생성하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 얼룩 보정 방법은 상기 얼룩 보정 데이터를 보간 방식으로 생성하기 위한 시드 데이터를 수신하는 단계를 더 포함할 수 있고, 상기 얼룩 보정 데이터를 생성하는 단계는, 상기 시드 데이터를 상기 제1 정밀도 단위로 추출하는 단계, 및 상기 시드 데이터를 상기 제2 정밀도 단위로 추출하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 시드 데이터를 상기 제1 정밀도 단위로 추출하는 단계는 N * N(N은 자연수) 화소 단위로 상기 시드 데이터를 추출하는 단계를 포함할 수 있고, 상기 시드 데이터를 상기 제2 정밀도 단위로 추출하는 단계는 M * M(M은 N보다 큰 자연수) 화소들 단위로 상기 시드 데이터를 추출하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 얼룩 보정 방법은 상기 디스플레이 패널에 포함된 화소가 상기 제1 블록 영역에 포함되는지 상기 제2 블록 영역에 포함되는지 판단하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 일 실시예에 따른 디스플레이 시스템은 디스플레이 장치 및 얼룩 보정 장치를 포함한다. 상기 디스플레이 장치는 제1 영상 데이터를 기초로 하여 영상을 표시하는 디스플레이 패널, 상기 디스플레이 패널의 스캔 라인으로 스캔 신호를 출력하는 스캔 구동부, 및 상기 디스플레이 패널의 데이터 라인으로 데이터 신호를 출력하는 데이터 구동부를 포함한다. 상기 얼룩 보정 장치는 상기 디스플레이 패널에 표시되는 얼룩을 보정하기 위한 얼룩 보정 데이터를, 상기 얼룩이 포함되는 영역으로 판단되는 제1 블록 영역에서 제1 정밀도 단위로, 상기 얼룩이 포함되지 않는 영역으로 판단되는 제2 블록 영역에서 상기 제1 정밀도 단위보다 낮은 제2 정밀도 단위로 생성하는 얼룩 보정 데이터 생성부, 및 상기 얼룩 보정 데이터를 이용해 제1 영상 데이터에 얼룩 보정을 수행하여 제2 영상 데이터를 출력하는 얼룩 보정부를 포함한다.
이와 같은 얼룩 보정 장치, 이 얼룩 보정 장치를 이용한 얼룩 보정 방법, 및 이 얼룩 보정 장치를 포함하는 디스플레이 시스템에 의하면, 얼룩이 포함되는 영역으로 판단되는 블록 영역에서 얼룩 보정을 상대적으로 정밀하게 수행할 수 있고 얼룩 보정 데이터의 용량을 감소시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 시스템을 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 화소를 나타내는 회로도이다.
도 3은 도 1의 얼룩 보정 장치를 나타내는 블록도이다.
도 4는 도 3의 촬상부에 의해 촬영되는 영상을 표시하는 도 1의 디스플레이 패널을 나타내는 평면도이다.
도 5는 도 3의 시드 데이터를 나타내는 구성도이다.
도 6은 도 3의 얼룩 보정 데이터 생성부를 나타내는 블록도이다.
도 7은 4 * 4 화소들을 나타내는 평면도이다.
도 8은 2 * 2 화소들을 나타내는 평면도이다.
도 9는 60 * 60 화소들을 나타내는 평면도이다.
도 10은 도 4의 상기 디스플레이 블록을 나타내는 평면도이다.
도 11은 도 6의 보간부에 의해 생성되는 얼룩 보정 데이터를 산출하기 위한 그래프이다.
도 12는 도 1의 얼룩 보정 장치를 이용하는 얼룩 보정 방법을 나타내는 순서도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 시스템을 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 본 실시예에 따른 상기 디스플레이 시스템(100)은 디스플레이 장치(200) 및 얼룩 보정 장치(300)를 포함한다.
상기 디스플레이 장치(200)는 디스플레이 패널(210), 스캔 구동부(220), 데이터 구동부(230) 및 타이밍 제어부(240)를 포함한다.
상기 디스플레이 패널(210)은 상기 타이밍 제어부(240)로부터 제공되는 제1 영상 데이터(DATA1)를 기초로 하는 데이터 신호(DS)를 수신하여 영상을 표시한다. 상기 디스플레이 패널(210)은 복수의 화소(PX)들을 포함한다.
도 2는 도 1의 상기 화소(PX)를 나타내는 회로도이다.
도 1 및 2를 참조하면, 상기 화소(PX)는 스위칭 트랜지스터(ST), 스토리지 커패시터(CST), 구동 트랜지스터(DT) 및 유기 발광 다이오드(OLED)를 포함할 수 있다.
상기 스위칭 트랜지스터(ST)는 데이터 라인(DL)에 연결되어 상기 데이터 신호(DS)를 수신하는 제1 전극, 상기 스토리지 커패시터(CST)에 연결된 제2 전극, 및 스캔 라인(SL)에 연결되어 스캔 신호(SS)를 수신하는 게이트 전극을 포함할 수 있다. 상기 스위칭 트랜지스터(ST)는 상기 스캔 구동부(220)로부터 인가되는 상기 스캔 신호(SS)에 응답하여 상기 데이터 구동부(230)로부터 제공되는 상기 데이터 신호(DS)를 상기 스토리지 커패시터(CST)에 전송할 수 있다.
상기 스토리지 커패시터(CST)는 고 전원 전압(ELVDD)에 연결된 제1 전극, 및 상기 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극에 연결된 제2 전극을 포함할 수 있다. 상기 스토리지 커패시터(CST)는 상기 스위칭 트랜지스터(ST)를 통하여 전송된 상기 데이터 신호(DS)의전압을 저장할 수 있다.
상기 구동 트랜지스터(DT)는 상기 고 전원 전압(ELVDD)에 연결된 제1 전극, 상기 유기 발광 다이오드(OLED)에 연결된 제2 전극, 및 상기 스토리지 커패시터(CST)에 연결된 게이트 전극을 포함할 수 있다. 상기 구동 트랜지스터(DT)는 상기 스토리지 커패시터(CST)에 저장된 상기 데이터 신호(DATA)에 따라 턴-온 또는 턴-오프될 수 있다.
상기 유기 발광 다이오드(OLED)는 상기 구동 트랜지스터(DT)에 연결된 애노드 전극, 및 저 전원 전압(ELVSS)에 연결된 캐소드 전극을 가질 수 있다. 상기 유기 발광 다이오드(OLED)는, 구동 트랜지스터(DT)가 턴-온되는 동안, 상기 고 전원 전압(ELVDD)으로부터 상기 저 전원 전압(ELVSS)으로 흐르는 전류에 기초하여 발광할 수 있다.
상기 스캔 구동부(220)는 상기 타이밍 제어부(240)로부터 제공되는 수직 개시 신호(STV) 및 제1 클럭 신호(CLK1)에 응답하여 상기 스캔 신호(SS)를 생성하고, 상기 스캔 신호(SS)를 상기 스캔 라인(SL)으로 출력한다.
예를 들면, 상기 화소(PX)는 적색 화소, 녹색 화소 및 청색 화소를 포함할 수 있다.
상기 데이터 구동부(230)는 상기 타이밍 제어부(240)로부터 제공되는 수평 개시 신호(STH) 및 제2 클럭 신호(CLK2)에 응답하여 상기 데이터 신호(DS)를상기 데이터 라인(DL)으로 출력한다.
상기 타이밍 제어부(240)는 외부로부터 상기 제1 영상 데이터(DATA1) 및 제어 신호(CON)를 수신한다. 상기 타이밍 제어부(240)는 상기 제1 영상 데이터(DATA1)를 상기 데이터 구동부(230)로 출력할 수 있다. 상기 제어 신호(CON)는 수평 동기 신호(Hsync), 수직 동기 신호(Vsync) 및 클럭 신호(CLK)를 포함할 수 있다. 상기 타이밍 제어부(240)는 상기 수평 동기 신호(Hsync)를 이용하여 상기 수평 개시 신호(STH)를 생성한 후 상기 수평 개시 신호(STH)를 상기 데이터 구동부(230)로 출력한다. 또한, 상기 타이밍 제어부(240)는 상기 수직 동기 신호(Vsync)를 이용하여 상기 수직 개시 신호(STV)를 생성한 후 상기 수직 개시 신호(STV)를 상기 게이트 구동부(220)로 출력한다. 또한, 상기 타이밍 제어부(240)는 상기 클럭 신호(CLK)를 이용하여 상기 제1 클럭 신호(CLK1) 및 상기 제2 클럭 신호(CLK2)를 생성한 후, 상기 제1 클럭 신호(CLK1)를 상기 게이트 구동부(220)로 출력하고, 상기 제2 클럭 신호(CLK2)를 상기 데이터 구동부(230)로 출력할 수있다.
상기 얼룩 보정 장치(300)는 상기 디스플레이 패널(210)에 표시되는 상기 영상의 얼룩을 보정하여 제2 영상 데이터(DATA2)를 출력한다. 따라서, 상기 얼룩 보정 장치(300)는 상기 제1 영상 데이터(DATA1)에 얼룩 보정을 수행하여 상기 제2 영상 데이터(DATA2)를출력한다. 상기 얼룩 보정 장치(300)는 상기 제2 영상 데이터(DATA2)를 상기 타이밍 제어부(240)로 출력할 수 있다. 이 경우, 상기 타이밍 제어부(240)는 상기 제2 영상 데이터(DATA2)를 상기 데이터 구동부(230)로 출력할 수 있고, 상기 데이터 구동부(230)는 상기 제2 영상 데이터(DATA2)를 기초로 하여 상기 데이터 신호(DS)를 생성할 수 있다.
도 3은 도 1의 상기 얼룩 보정 장치(300)를 나타내는 블록도이다.
도 1 및 3을 참조하면, 상기 얼룩 보정 장치(300)는 촬상부(310), 얼룩 보정 데이터 생성부(400) 및 얼룩 보정부(330)를 포함한다.
상기 촬상부(310)는 상기 디스플레이 패널(210)에 표시되는 상기 영상을 촬상하여 디스플레이 패널 데이터(DPD)를 출력한다.
도 4는 도 3의 상기 촬상부(310)에 의해 촬영되는 상기 영상을 표시하는 도 1의 상기 디스플레이 패널(210)을 나타내는 평면도이다.
도 1, 3 및 4를 참조하면, 상기 디스플레이 패널(210)은 J*K(각각의 J 및 K는 자연수)개의 디스플레이 블록(BL)들을 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 디스플레이 패널(210)의 해상도는 1920 * 1080일 수 있고, 상기 각각의 디스플레이 블록(BL)들은 60 * 60개의 화소(PX)들을 포함할 수 있다. 따라서, 상기 디스플레이 패널(210)은 32 * 18의 디스플레이 블록(BL)들을 포함할 수 있다.
또한, 상기 디스플레이 패널(210)은 얼룩(215)이 표시되는 제1 블록 영역(BLA1), 및 상기 얼룩(215)이 표시되지 않는 제2 블록 영역(BLA2)을 포함할 수 있다.
상기 얼룩 보정 데이터 생성부(400)는 상기 디스플레이 패널 데이터(DPD), 상기 제1 영상 데이터(DATA1) 및 시드 데이터(SEED)를 기초로 하여 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성하고 출력한다.
도 5는 도 3의 상기 시드 데이터(SEED)를 나타내는 구성도이다.
도 1 및 3 내지 5를 참조하면, 상기 시드 데이터(SEED)는 상기 디스플레이 블록(BL)들에 각각 대응하는 J*K개의 데이터 블록(BL)들을 포함한다. 또한, 상기 시드 데이터(SEED)는 보간을 위한 (J+1)번째 추가 데이터 블록 및 (K+1)번째 추가 데이터 블록을 더 포함할 수 있다. 예를 들면, 도 5에서, 19번째 행의 데이터 블록(DBL)들 및 33번째 열의 데이터 블록(DBL)들이 상기 추가 데이터 블록들일 수 있다.
또한, 상기 시드 데이터(SEED)는 상기 제1 블록 영역(BLA1)에 대응하는 제3 블록 영역(BLA3) 및 상기 제2 블록 영역(BLA2)에 대응하는 제4 블록 영역(BLA4)을 포함할 수 있다.
아래 [표 1] 및 [표 2]는 상기 디스플레이 블록(BL)이 포함하는 상기 화소(PX)의 개수, 상기 디스플레이 블록(BL)이 포함하는 상기 화소(PX)의 개수에 따른 상기 가로 방향으로 상기 데이터 블록(DBL)의 개수, 상기 세로 방향으로 상기 데이터 블록(DBL)의 개수, 상기 데이터 블록(DBL)에 대응하는 상기 시드 데이터(SEED)의 바이트 크기, 상기 데이터 블록(DBL)들에 대응하는 상기 바이트 크기, 상기 얼룩 보정 데이터 생성시의 바이크 크기, 및 상기 얼룩 보정 데이터 생성 시의 기준 대비 바이크 크기의 비율을 나타낸다.
Block pixel Width (ea) Height (ea) Seed byte Byte size
4 * 4 481 271 8 3128424
30 * 30 65 37 8 57720
30 * 30 65 37 8 57720
30 * 30 65 37 8 57720
60 * 60 33 19 8 15048
60 * 60 33 19 8 15048
60 * 60 33 19 8 15048
120 * 120 17 10 8 4080
120 * 120 17 10 8 4080
120 * 120 17 10 8 4080
Block
pixel		 BLA1 면적
비율		 4 * 4 화소 단위로 얼룩 보정 데이터 생성 시 Byte size Byte ratio 2 * 2 화소 단위로 얼룩 보정 데이터 생성 시 Byte size Byte ratio
4 * 4 312842 Reference 3128424 Reference
30 * 30 10 % 37662 12.0 % 1350648 43.2 %
30 * 30 20 % 69552 22.2 % 2643576 84.5 %
30 * 30 30 % 101442 32.4 % 3936504 125.8 %
60 * 60 10 % 352123 11.3 % 1367863 43.7 %
60 * 60 20 % 660168 21.1 % 2604168 83.2 %
60 * 60 30 % 1026274 32.8 % 4073494 130.2 %
120 * 120 10 % 370872 11.9 % 1472472 47.1 %
120 * 120 20 % 737664 23.6 % 2940864 94.0 %
120 * 120 30 % 1104456 35.3 % 4409256 140.9 %
예를 들면, 상기 디스플레이 패널(210)의 해상도가 1920 * 1080이고 상기 디스플레이 블록(BL)이 4 * 4개의 화소(PX)들을 포함하면, 상기 데이터 블록(DBL)들의 개수는 481 * 271이다. 상기 데이터 블록(DBL)에 대응하는 상기 시드 데이터(SEED)의 바이트 크기는 8 바이트일 수 있다. 따라서, 상기 화소(PX)가 적색 화소, 녹색 화소 및 청색 화소를 포함하는 경우, 상기 데이터 블록(DBL)들에 대응하는 상기 바이트 크기는 3128424(481*271*3*8) 바이트이다. 이 경우, 모든 디스플레이 블록(BL)들에서 4 * 4 화소(PX)들 단위로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성하면, 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성하는데 요구되는 바이트 크기는 3128424 바이트이다.
또한, 상기 디스플레이 패널(210)의 해상도가 1920 * 1080이고 상기 디스플레이 블록(BL)이 60 * 60개의 화소(PX)들을 포함하면, 상기 데이터 블록(DBL)들의 개수는 33 * 19이다. 상기 데이터 블록(DBL)에 대응하는 상기 시드 데이터(SEED)의 바이트 크기는 8 바이트일 수 있다. 따라서, 상기 화소(PX)가 적색 화소, 녹색 화소 및 청색 화소를 포함하는 경우, 상기 데이터 블록(DBL)들에 대응하는 상기 바이트 크기는 15048(33*19*3*8) 바이트이다. 예를 들면, 상기 디스플레이 패널(210)에서 상기 제1 블록 영역(BLA1)의 면적이 약 20%일 수 있다. 따라서, 상기 제1 블록 영역(BLA1)에 포함되는 상기 디스플레이 블록(BL)의 개수는 약 120개일 수 있고, 상기 제2 블록 영역(BLA2)에 포함되는 상기 디스플레이 블록(BL)의 개수는 약 507개일 수 있다.
상기 얼룩 보정 데이터 생성부(400)는, 상기 얼룩(215)이 포함되는 영역으로 판단되는 상기 제1 블록 영역(BLA1)에서 제1 정밀도 단위로, 상기 얼룩(215)이 포함되지 않는 영역으로 판단되는 상기 제2 블록 영역(BLA2)에서 상기 제1 정밀도 단위보다 낮은 제2 정밀도 단위로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성할 수 있다. 구체적으로, 상기 얼룩 보정 데이터 생성부(400)는 상기 제1 블록 영역(BLA1)에서 N*N(N은 자연수) 화소 단위로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성하고 상기 제2 블록 영역(BLA2)에서 M*M(M은 N보다 큰 자연수) 화소 단위로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성할 수 있다.
예를 들면, 상기 얼룩 보정 데이터 생성부(400)는 상기 제1 블록 영역(BLA1)에서 4 * 4 화소 단위로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성할 수 있고 상기 제2 블록 영역(BLA2)에서 60 * 60 화소 단위로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성할 수 있다. 이 경우, 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성하는데 요구되는 바이트 크기는 660168((15*15*3*8*120)+(1*1*3*8*507)) 바이트이다. 따라서, 모든 디스플레이 블록(BL)들에서 4 * 4 화소(PX)들 단위로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성하는 경우에 비해 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)의 용량을 감소시킬 수 있다.
또한, 상기 얼룩 보정 데이터 생성부(400)는 상기 제1 블록 영역(BLA1)에서 2 * 2 화소 단위로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성할 수 있고 상기 제2 블록 영역(BLA2)에서 60 * 60 화소 단위로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성할 수 있다. 이 경우, 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성하는데 요구되는 바이트 크기는 2604168((30*30*3*8*120)+(1*1*3*8*507)) 바이트이다. 따라서, 모든 디스플레이 블록(BL)들에서 4 * 4 화소(PX)들 단위로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성하는 경우에 비해 상기 얼룩 보정을 더욱 정밀하게 수행할 수 있고 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)의 용량을 감소시킬 수 있다.
여기서, 상기 디스플레이 블록(BL)들의 개수는 상기 디스플레이 패널(210)의 해상도 및 상기 디스플레이 패널(210)에서 상기 제1 블록 영역(BLA1)의 비율을 고려하여 결정될 수 있다.
상기 얼룩 보정부(330)는 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 기초로 상기 제1 영상 데이터(DATA1)에 상기 얼룩 보정을 수행하여 상기 제2 영상 데이터(DATA2)를 출력한다.
도 6은 도 3의 상기 얼룩 보정 데이터 생성부(400)를 나타내는 블록도이다.
도 1 및 3 내지 6을 참조하면, 상기 얼룩 보정 데이터 생성부(400)는 시드 데이터 수신부(410), 제1 화소 위치 판단부(420), 시드 데이터 추출부(430), 제2 화소 위치 판단부(440) 및 보간부(450)를 포함한다.
상기 시드 데이터 수신부(410)는 상기 시드 데이터(SEED)를 외부로부터 수신한다. 상기 시드 데이터 수신부(410)는 상기 시드 데이터(SEED)를 저장하는 메모리를 포함할 수 있다.
하기 [표 3]은 상기 시드 데이터(SEED)를 저장하는 상기 메모리의 맵을 나타낸다.
Start address End address
Index 0 239
BLA3, DBL #0 240 21839
BLA3, DBL #1 21840 43439
... ... ...
BLA3, DBL #118 2549040 2570639
BLA3, DBL #119 2570640 2592239
BLA4, DBL #0 2592240 2592263
BLA4, DBL #1 2592264 2592287
... ... ...
BLA4, DBL #505 2604360 2604383
BLA4, DBL #506 2604384 2604407
예를 들면, 상기 디스플레이 패널(210)의 해상도가 1920 * 1080이고, 상기 디스플레이 블록(BL)이 60 * 60개의 화소(PX)들을 포함하며, 상기 제1 블록 영역(BLA1)에 포함되는 상기 디스플레이 블록(BL)의 개수는 120개이고, 상기 제2 블록 영역(BLA2)에 포함되는 상기 디스플레이 블록(BL)의 개수는 507개일 수 있다. 또한, 상기 얼룩 보정 데이터 생성부(400)는 상기 제1 블록 영역(BLA1)에서 2 * 2 화소들 단위로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성할 수 있고 상기 제2 블록 영역(BLA2)에서 60 * 60 화소들 단위로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성할 수 있다.
이 경우, 상기 제1 블록 영역(BLA1)에 포함되는 상기 디스플레이 블록(BL)을 나타내는 인덱스 데이터는 240 바이트를 가질 수 있다. 상기 제1 블록 영역(BLA1)에 대응하는 상기 제3 블록 영역(BLA3)에 포함되는 각각의 상기 데이터 블록(DBL)들은 21600(30*30*3*8) 바이트를 가질 수 있다. 상기 제2 블록 영역(BLA2)에 대응하는 상기 제4 블록 영역(BLA4)에 포함되는 각각의 상기 데이터 블록(DBL)들은 24(1*1*3*8) 바이트를 가질 수 있다.
상기 제1 화소 위치 데이터 판단부(420)는 상기 제1 영상 데이터(DATA1) 및 상기 디스플레이 패널 데이터(DPD)를 수신하고, 상기 제1 영상 데이터(DATA1) 및 상기 디스플레이 패널 데이터(DPD)를 기초로 상기 화소(PX)가 상기 제1 블록 영역(BLA1)에 포함되는지 상기 제2 블록 영역(BLA2)에 포함되는지 판단하여 제1 화소 위치 데이터(PPD1)를 출력한다. 상기 제1 화소 위치 데이터(PPD1)는 상기 화소(PX)가 상기 제1 블록 영역(BLA1)에 포함되는지 상기 제2 블록 영역(BLA2)에 포함되는지 나타낼 수 있다.
상기 시드 데이터 추출부(430)는 제1 시드 데이터 추출부(431) 및 제2 시드데이터 추출부(432)를 포함한다. 상기 시드 데이터 추출부(430)는 상기 시드 데이터 수신부(410)로부터 상기 시드 데이터(SEED)를 수신하고 상기 제1 화소 위치 판단부(420)로부터 상기 제1 화소 위치 데이터(PPD1)를 수신한다. 상기 화소(PX)가 상기 제1 블록 영역(BLA1)에 포함되면 상기 시드 데이터 추출부(430)의 상기 제1 시드 데이터 추출부(431)는 N * N 화소 단위로 상기 시드 데이터(SEED)를 추출하고 출력한다. 또한, 상기 화소(PX)가 상기 제2 블록 영역(BLA2)에 포함되면 상기 시드 데이터 추출부(430)의 상기 제2 시드 데이터 추출부(432)는 M * M 화소들 단위로 상기 시드 데이터(SEED)를 추출하고 출력한다.
예를 들면, 상기 제1 시드 데이터 추출부(431)는 4 * 4 화소들 단위로 상기 시드 데이터(SEED)를 추출할 수 있다.
도 7은 4 * 4 화소(PX)들을 나타내는 평면도이다.
도 6 및 7을 참조하면, 상기 시드 데이터(SEED)는 4 * 4 화소(PX)들의 꼭지점(V1)들에서의 전압 및 휘도 사이의 모델로부터 획득된 얼룩 보정 값을 포함할 수 있다.
이와 달리, 상기 제1 시드 데이터 추출부(431)는 2 * 2 화소들 단위로 상기 시드 데이터(SEED)를 추출할 수 있다.
도 8은 2 * 2 화소(PX)들을 나타내는 평면도이다.
도 6 및 8을 참조하면, 상기 시드 데이터(SEED)는 2 * 2 화소(PX)들의 꼭지점(V2)들에서의 전압 및휘도 사이의 모델로부터 획득된 얼룩 보정 값을 포함할 수 있다.
또한, 예를 들면, 상기 제2 시드 데이터 추출부(431)는 60 * 60 화소들 단위로 상기 시드 데이터(SEED)를 추출할 수 있다.
도 9는 60 * 60 화소(PX)들을 나타내는 평면도이다.
도 6 및 9를 참조하면, 상기 시드 데이터(SEED)는 60 * 60 화소(PX)들의 꼭지점(V3)들에서의 전압 및휘도 사이의 모델로부터 획득된 얼룩 보정 값을 포함할 수 있다.
다시 도 1 및 3 내지 6을 참조하면, 상기 제2 화소 위치 판단부(440)는 상기 제1 영상 데이터(DATA1) 및 상기 디스플레이 패널 데이터(DPD)를 기초로 상기 디스플레이 블록(BL) 내에서 상기 화소(PX)의 위치를 판단하여 제2 화소 위치 데이터(PPD2)를 출력한다.
도 10은 도 4의 상기 디스플레이 블록(BL)을 나타내는 평면도이다.
도 1, 3 내지 6 및 10을 참조하면, 상기 디스플레이 블록(BL)이 60 * 60 화소들(PX)을 포함하는 경우, 상기 디스플레이 패널(210)에서 상기 화소(PX)의 좌표가 (126, 539)이면, 도 4에 도시된 상기 디스플레이 블록(BL)의 좌표는 (2, 9)이고, 상기 디스플레이 블록(BL) 내에서 상기 화소(PX)의 좌표는 (5, 58)이다.
다시 도 1 및 3 내지 6을 참조하면, 상기 보간부(450)는 상기 시드 데이터 추출부(430)로부터 상기 시드 데이터(SEED)를 수신하고 상기 제2 화소 위치 판단부(440)로부터 상기 제2 화소 위치 데이터(PPD2)를 수신한다. 상기 보간부(450)는 상기 제2 화소 위치 데이터(PPD2)를 기초로 하고 상기 시드 데이터(SEED)를 이용하여 보간 방식으로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성하고 출력한다.
도 11은 도 6의 상기 보간부(450)에 의해 생성되는 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 산출하기 위한 그래프이다.
도 11을 참조하면, A * A 화소들 블록에서, 좌표가 (x, y)인 화소의 얼룩 보정 데이터는 다음 [수학식 1], [수학식 2] 및 [수학식 3]에 의해 산출될 수 있다.
[수학식 1]
ΔA = (Δ1 - Δ2) / d) * (x2 - x) + Δ2
[수학식 2]
ΔB = (Δ4 - Δ3) / d) * (x - x1) + Δ3
[수학식 3]
Δ = (ΔB - ΔA) / l) * (y - y1) + ΔA
여기서, 'Δ1'은 상기 화소가 참조해야 하는 시드 데이터 중에서 A * A 화소들 블록의 왼쪽-아래 지점에서의 옵셋 값이고, 'Δ2'는 상기 화소가 참조해야 하는 상기 시드 데이터 중에서 A * A 화소들 블록의 오른쪽-아래 지점에서의 옵셋 값이며, 'Δ3'은 상기 화소가 참조해야 하는 상기 시드 데이터 중에서 A * A 화소들 블록의 왼쪽-위 지점에서의 옵셋 값이고, 'Δ4'는 상기 화소가 참조해야 하는 상기 시드 데이터 중에서 A * A 화소들 블록의 오른쪽-위 지점에서의 옵셋 값이다. 또한, 'ΔA'는 'Δ1', 'Δ2'및 A * A 화소들 블록에서 화소의 x 좌표를 이용하여 아래 지점(bottom)에서의 보간 옵셋 값이고, 'ΔB'는 'Δ3', 'Δ4'및 A * A 화소들 블록에서 화소의 x 좌표를 이용하여 위 지점(top)에서의 보간 옵셋 값이며, 'Δ'는 상기 화소의 얼룩 보정 데이터이다. 또한, 'x'는 A * A 화소들 블록에서 상기 화소의 x 좌표이고, 'y'는 A * A 화소들 블록에서 상기 화소의 'y' 좌표이며, 'x1'은 A * A 화소들 블록의 왼쪽-아래 지점의 x 좌표이고, 'y1'은 A * A 화소들 블록의 왼쪽-아래 지점의 y 좌표이고, 'x2'는 A * A 화소들 블록의 오른쪽-아래 지점의 x 좌표이고, 'y2'는 A * A 화소들 블록의 오른쪽-아래 지점의 y 좌표이고, 'd'는 A * A 화소들 블록의 x축 방향으로의 길이이고, 'l'은 A * A 화소들 블록의 y축 방향으로의 길이이다.
도 12는 도 1의 상기 얼룩 보정 장치(300)를 이용하는 얼룩 보정 방법을 나타내는 순서도이다.
도 1 및 3 내지 12를 참조하면, 상기 시드 데이터(SEED)를 수신한다(단계 S110). 구체적으로, 상기 시드 데이터 수신부(410)는 상기 시드 데이터(SEED)를 외부로부터 수신한다. 상기 시드 데이터 수신부(410)는 상기 시드 데이터(SEED)를 저장하는 메모리를 포함할 수 있다.
상기 제1 영상 데이터(DATA1) 및 상기 디스플레이 패널 데이터(DPD)를 수신한다(단계 S120). 구체적으로, 상기 제1 화소 위치 데이터 판단부(420)는 상기 제1 영상 데이터(DATA1) 및 상기 디스플레이 패널 데이터(DPD)를 수신한다.
상기 화소(PX)가 상기 제1 블록 영역(BLA1)에 포함되는지 상기 제2 블록 영역(BLA2)에 포함되는지 판단한다(단계 S130). 구체적으로, 상기 제1 화소 위치 데이터 판단부(420)는 상기 제1 영상 데이터(DATA1) 및 상기 디스플레이 패널 데이터(DPD)를 기초로 상기 화소(PX)가 상기 제1 블록 영역(BLA1)에 포함되는지 상기 제2 블록 영역(BLA2)에 포함되는지 판단하여 상기 제1 화소 위치 데이터(PPD1)를 출력한다. 상기 제1 화소 위치 데이터(PPD1)는 상기 화소(PX)가 상기 제1 블록 영역(BLA1)에 포함되는지 상기 제2 블록 영역(BLA2)에 포함되는지 나타낼 수 있다.
상기 화소(PX)가 상기 제1 블록 영역(BLA1)에 포함되면, 상기 제1 정밀도 단위로 상기 시드 데이터(SEED)를 추출한다(단계 S140). 구체적으로, 상기 화소(PX)가 상기 제1 블록 영역(BLA1)에 포함되면 상기 시드 데이터 추출부(430)의 상기 제1 시드 데이터 추출부(431)는 N * N 화소 단위로 상기 시드 데이터(SEED)를 추출하고 출력한다. 예를 들면, 상기 제1 시드 데이터 추출부(431)는 4 * 4 화소들 단위로 상기 시드 데이터(SEED)를 추출할 수 있다. 이와 달리, 상기 제1 시드 데이터 추출부(431)는 2 * 2 화소들 단위로 상기 시드 데이터(SEED)를 추출할 수 있다.
상기 화소(PX)가 상기 제2 블록 영역(BLA2)에 포함되면, 상기 제2 정밀도 단위로 상기 시드 데이터(SEED)를 추출한다(단계 S150). 구체적으로, 상기 화소(PX)가 상기 제2 블록 영역(BLA2)에 포함되면 상기 시드 데이터 추출부(430)의 상기 제2 시드 데이터 추출부(432)는 M * M 화소들 단위로 상기 시드 데이터(SEED)를 추출하고 출력한다. 예를 들면, 상기 제2 시드 데이터 추출부(431)는 60 * 60 화소들 단위로 상기 시드 데이터(SEED)를 추출할 수 있다.
상기 디스플레이 블록(BL) 내에서 상기 화소(PX)의 위치를 판단하여 상기 제2 화소 위치 데이터(PPD2)를 출력한다(단계 S160). 구체적으로, 상기 제2 화소 위치 판단부(440)는 상기 제1 영상 데이터(DATA1) 및 상기 디스플레이 패널 데이터(DPD)를 기초로 상기 디스플레이 블록(BL) 내에서 상기 화소(PX)의 위치를 판단하여 상기 제2 화소 위치 데이터(PPD2)를 출력한다.
상기 시드 데이터(SEED) 및 상기 제2 화소 위치 데이터(PPD2)를 기초로 하여 보간 방식으로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성한다(단계 S170). 구체적으로, 상기 보간부(450)는 상기 시드 데이터 추출부(430)로부터 상기 시드 데이터(SEED)를 수신하고 상기 제2 화소 위치 판단부(440)로부터 상기 제2 화소 위치 데이터(PPD2)를 수신한다. 상기 보간부(450)는 상기 제2 화소 위치 데이터(PPD2)를 기초로 하고 상기 시드 데이터(SEED)를 이용하여 보간 방식으로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성하고 출력한다.
상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 이용하여 상기 얼룩(215)을 보정한다(단계 S180). 구체적으로, 상기 얼룩 보정부(330)는 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 기초로 상기 제1 영상 데이터(DATA1)에 상기 얼룩 보정을 수행하여 상기 제2 영상 데이터(DATA2)를 출력한다.
본 실시예에 따르면, 상기 화소(PX)가 상기 얼룩(215)이 포함되는 영역으로 판단되는 상기 제1 블록 영역(BLA1)에 포함되면, 상기 얼룩 보정 장치(300)가 상기 제1 정밀도 단위로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성하고, 상기 화소(PX)가 상기 얼룩(215)이 포함되지 않는 영역으로 판단되는 상기 제2 블록 영역(BLA2)에 포함되면, 상기 얼룩 보정 장치(300)가 상기 제1 정밀도 단위보다 낮은 제2 정밀도 단위로 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)를 생성한다. 따라서, 상기 얼룩(215)이 포함되는 영역으로 판단되는 상기 제1 블록 영역(BLA1)에서 상기 얼룩 보정을 상대적으로 정밀하게 수행할 수 있고 상기 얼룩 보정 데이터(SCD)의 용량을 감소시킬 수 있다.
이상에서 설명된 바와 같이, 얼룩 보정 장치, 이 얼룩 보정 장치를 이용한 얼룩 보정 방법, 및 이 얼룩 보정 장치를 포함하는 디스플레이 시스템에 의하면, 얼룩이 포함되는 영역으로 판단되는 블록 영역에서 얼룩 보정을 상대적으로 정밀하게 수행할 수 있고 얼룩 보정 데이터의 용량을 감소시킬 수 있다.
이상에서는 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100: 디스플레이 시스템 200: 표시 장치
210: 디스플레이 패널 220: 스캔 구동부
230: 데이터 구동부 240: 타이밍 제어부
300: 얼룩 보정 장치 310: 촬상부
330: 얼룩 보정부 400: 얼룩 보정 데이터 생성부
410: 시드 데이터 수신부 420, 440: 화소 위치 판단부
430: 시드 데이터 추출부 450: 보간부

Claims (20)

  1. 제1 영상 데이터를 기초로 하여 영상을 표시하는 디스플레이 패널에 표시되는 얼룩을 보정하기 위한 얼룩 보정 데이터를, 상기 얼룩이 포함되는 영역으로 판단되는 제1 블록 영역에서 제1 정밀도 단위로, 상기 얼룩이 포함되지 않는 영역으로 판단되는 제2 블록 영역에서 상기 제1 정밀도 단위보다 낮은 제2 정밀도 단위로 생성하는 얼룩 보정 데이터 생성부; 및
    상기 얼룩 보정 데이터를 이용해, 상기 제1 영상 데이터에 얼룩 보정을 수행하여 제2 영상 데이터를 출력하는 얼룩 보정부를 포함하고,
    상기 얼룩 보정 데이터 생성부는, 상기 얼룩 보정 데이터를 보간 방식으로 생성하기 위한 시드 데이터를 수신하는 시드 데이터 수신부를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 얼룩 보정 데이터 생성부는 상기 제1 블록 영역에서 N * N(N은 자연수) 화소 단위로 상기 얼룩 보정 데이터를 생성하고 상기 제2 블록 영역에서 M * M(M은 N보다 큰 자연수) 화소들 단위로 상기 얼룩 보정 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 장치.
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서, 상기 얼룩 보정 데이터 생성부는,
    상기 시드 데이터를 상기 제1 정밀도 단위로 추출하는 제1 시드 데이터 추출부; 및
    상기 시드 데이터를 상기 제2 정밀도 단위로 추출하는 제2 시드 데이터 추출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 제1 시드 데이터 추출부는 N * N(N은 자연수) 화소 단위로 상기 시드 데이터를 추출하고, 상기 제2 시드 데이터 추출부는 M * M(M은 N보다 큰 자연수) 화소들 단위로 상기 시드 데이터를 추출하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 디스플레이 패널은 J * K 디스플레이 블록들을 포함하고, 각각의 J * K 디스플레이 블록들은 M * M 화소들을 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 장치.
  7. 제6항에 있어서, 상기 디스플레이 블록들의 개수는 상기 디스플레이 패널의 해상도 및 상기 디스플레이 패널에서 상기 제1 블록 영역의 비율에 따라 결정되는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 장치.
  8. 제7항에 있어서, 상기 디스플레이 패널의 해상도가 1920 * 1080인 경우, 상기 디스플레이 블록들의 개수는 32 * 18이고, 상기 각각의 디스플레이 블록들은 60 * 60 화소들을 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 장치.
  9. 제8항에 있어서, 상기 제1 시드 데이터 추출부는 4 * 4 화소들 단위로 상기 시드 데이터를 추출하고, 상기 제2 시드 데이터 추출부는 60 * 60 화소들 단위로 상기 시드 데이터를 추출하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 장치.
  10. 제8항에 있어서, 상기 제1 시드 데이터 추출부는 2 * 2 화소들 단위로 상기 시드 데이터를 추출하고, 상기 제2 시드 데이터 추출부는 60 * 60 화소들 단위로 상기 시드 데이터를 추출하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 장치.
  11. 제6항에 있어서, 상기 얼룩 보정 데이터를 생성하기 위한 시드 데이터 블록은 상기 J * K 디스플레이 블록들에 상응하는 J * K 데이터 블록들, (J+1)번째 추가 데이터 블록들 및 (K+1)번째 추가 데이터 블록들을 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 장치.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널을 촬상하여 디스플레이 패널 데이터를 상기 얼룩 보정 데이터 생성부로 출력하는 촬상부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 장치.
  13. 제12항에 있어서, 상기 얼룩 보정 데이터 생성부는, 상기 디스플레이 패널 데이터를 기초로 하여, 상기 디스플레이 패널에 포함된 화소가 상기 제1 블록 영역에 포함되는지 상기 제2 블록 영역에 포함되는지 판단하여 제1 화소 위치 판단 데이터를 출력하는 제1 화소 위치 데이터 판단부를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 장치.
  14. 제13항에 있어서, 상기 디스플레이 패널은 J * K 디스플레이 블록들을 포함하고, 각각의 J * K 디스플레이 블록들은 M * M 화소들을 포함하며,
    상기 얼룩 보정 데이터 생성부는, 상기 디스플레이 블록 내에서의 상기 화소의 위치를 판단하여 제2 화소 위치 판단 데이터를 출력하는 제2 화소 위치 데이터 판단부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 장치.
  15. 디스플레이 패널에 표시되는 얼룩을 보정하기 위한 얼룩 보정 데이터를, 상기 얼룩이 포함되는 영역으로 판단되는 제1 블록 영역에서 제1 정밀도 단위로, 상기 얼룩이 포함되지 않는 영역으로 판단되는 제2 블록 영역에서 상기 제1 정밀도 단위보다 낮은 제2 정밀도 단위로 생성하는 단계;
    상기 얼룩 보정 데이터를 이용해 제1 영상 데이터에 얼룩 보정을 수행하여 제2 영상 데이터를 출력하는 단계; 및
    상기 얼룩 보정 데이터를 보간 방식으로 생성하기 위한 시드 데이터를 수신하는 단계를 포함하는 얼룩 보정 방법.
  16. 제15항에 있어서, 상기 얼룩 보정 데이터를 생성하는 단계는,
    상기 제1 블록 영역에서 N * N(N은 자연수) 화소 단위로 상기 얼룩 보정 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 제2 블록 영역에서 M * M(M은 N보다 큰 자연수) 화소들 단위로 상기 얼룩 보정 데이터를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 방법.
  17. 제15항에 있어서, 상기 얼룩 보정 데이터를 생성하는 단계는,
    상기 시드 데이터를 상기 제1 정밀도 단위로 추출하는 단계; 및
    상기 시드 데이터를 상기 제2 정밀도 단위로 추출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 방법.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 시드 데이터를 상기 제1 정밀도 단위로 추출하는 단계는 N * N(N은 자연수) 화소 단위로 상기 시드 데이터를 추출하는 단계를 포함하고, 상기 시드 데이터를 상기 제2 정밀도 단위로 추출하는 단계는 M * M(M은 N보다 큰 자연수) 화소들 단위로 상기 시드 데이터를 추출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 방법.
  19. 제15항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널에 포함된 화소가 상기 제1 블록 영역에 포함되는지 상기 제2 블록 영역에 포함되는지 판단하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 보정 방법.
  20. 제1 영상 데이터를 기초로 하여 영상을 표시하는 디스플레이 패널, 상기 디스플레이 패널의 스캔 라인으로 스캔 신호를 출력하는 스캔 구동부, 및 상기 디스플레이 패널의 데이터 라인으로 데이터 신호를 출력하는 데이터 구동부를 포함하는 디스플레이 장치; 및
    상기 디스플레이 패널에 표시되는 얼룩을 보정하기 위한 얼룩 보정 데이터를, 상기 얼룩이 포함되는 영역으로 판단되는 제1 블록 영역에서 제1 정밀도 단위로, 상기 얼룩이 포함되지 않는 영역으로 판단되는 제2 블록 영역에서 상기 제1 정밀도 단위보다 낮은 제2 정밀도 단위로 생성하는 얼룩 보정 데이터 생성부, 및 상기 얼룩 보정 데이터를 이용해 제1 영상 데이터에 얼룩 보정을 수행하여 제2 영상 데이터를 출력하는 얼룩 보정부를 포함하는 얼룩 보정 장치를 포함하고,
    상기 얼룩 보정 데이터 생성부는, 상기 얼룩 보정 데이터를 보간 방식으로 생성하기 위한 시드 데이터를 수신하는 시드 데이터 수신부를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 시스템.
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