KR20220056931A - 표시 장치의 휘도 보상 방법 및 장치 - Google Patents

표시 장치의 휘도 보상 방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 휘도 보상 방법은, 표시 장치를 촬상하고, 촬상 데이터를 생성하는 단계; 상기 표시 장치의 표시 화소들 각각에 대응하는 각각의 단위 매핑 영역이, 촬상 장치에 구비된 복수의 이미지 화소들에 대한 휘도 값들을 포함하도록 상기 표시 화소들과 상기 촬상 데이터를 1차 매핑하는 단계; 상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 휘도 값들 중 최대 휘도 값이 상기 단위 매핑 영역의 중앙에 위치되도록 상기 촬상 데이터의 오프셋 값을 설정하는 단계; 상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 오프셋 값에 따라 상기 촬상 데이터를 2차 매핑하고, 휘도 대표 값을 산출하는 단계; 및 상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 휘도 대표 값에 대응하는 휘도 보정 값을 설정하는 단계를 포함한다.

Description

표시 장치의 휘도 보상 방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR COMPENSATING LUMINANCE OF DISPLAY DEVICE}
본 발명의 실시예는 표시 장치의 휘도 보상 방법 및 장치에 관한 것이다.
최근, 정보 디스플레이에 대한 관심이 고조되고 있다. 이에 따라, 표시 장치와 관련한 기술 분야의 연구 개발이 지속적으로 이루어지고 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 표시 장치의 얼룩을 보상하기 위한 표시 장치의 휘도 보상 방법 및 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 휘도 보상 방법은, 표시 장치를 촬상하고, 촬상 데이터를 생성하는 단계; 상기 표시 장치의 표시 화소들 각각에 대응하는 각각의 단위 매핑 영역이, 촬상 장치에 구비된 복수의 이미지 화소들에 대한 휘도 값들을 포함하도록 상기 표시 화소들과 상기 촬상 데이터를 1차 매핑하는 단계; 상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 휘도 값들 중 최대 휘도 값이 상기 단위 매핑 영역의 중앙에 위치되도록 상기 촬상 데이터의 오프셋 값을 설정하는 단계; 상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 오프셋 값에 따라 상기 촬상 데이터를 2차 매핑하고, 휘도 대표 값을 산출하는 단계; 및 상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 휘도 대표 값에 대응하는 휘도 보정 값을 설정하는 단계를 포함한다.
일 실시예에서, 상기 표시 장치를 촬상하는 단계는, 상기 표시 장치를 구동하여 테스트 이미지를 표시하는 단계; 및 상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 복수의 이미지 화소들이 정렬되도록 상기 표시 장치의 정면에 상기 촬상 장치를 배치하고, 상기 테스트 이미지를 촬상하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 촬상 데이터를 생성하는 단계는, 상기 복수의 이미지 화소들로부터 상기 휘도 값들을 검출하고, 상기 검출된 휘도 값들을 상기 복수의 이미지 화소들 각각에 대응하는 위치 코드에 따라 정렬하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 표시 화소들과 상기 촬상 데이터를 1차 매핑하는 단계는, 각각의 표시 화소에 대하여 정렬된 상기 복수의 이미지 화소들에 대한 위치 코드를 기준으로 할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 촬상 데이터의 오프셋 값을 설정하는 단계는, 상기 단위 매핑 영역의 중앙에 위치한 수평 라인의 휘도 값들을 대상으로 수평 방향의 최대 휘도 값 및 위치를 검출하고, 상기 수평 방향의 최대 휘도 값이 상기 수평 라인의 중앙에 위치하도록 상기 수평 방향에 대한 오프셋 값을 설정하는 단계; 및 상기 단위 매핑 영역의 중앙에 위치한 수직 라인의 휘도 값들을 대상으로 수직 방향의 최대 휘도 값 및 위치를 검출하고, 상기 수직 방향의 최대 휘도 값이 상기 수직 라인의 중앙에 위치하도록 상기 수직 방향에 대한 오프셋 값을 설정하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 촬상 데이터의 오프셋 값을 설정하는 단계는, 상기 단위 매핑 영역에 배열된 상기 휘도 값들 전체를 대상으로 상기 최대 휘도 값 및 위치를 검출하는 단계; 및 상기 최대 휘도 값이 상기 단위 매핑 영역의 중앙에 위치하도록 상기 촬상 데이터에 포함된 휘도 값들을 이동하기 위한 상기 오프셋 값을 설정하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 오프셋 값에 따라 상기 촬상 데이터를 2차 매핑하는 단계는, 상기 오프셋 값에 따라 상기 촬상 데이터의 휘도 값들을 이동시켜 상기 단위 매핑 영역에 대한 상기 촬상 데이터의 휘도 값들을 재정렬하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 휘도 대표 값을 산출하는 단계는, 상기 단위 매핑 영역에 재정렬된 상기 휘도 값들의 합산 값 또는 가중치 합산 값을 산출하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 휘도 보정 값을 설정하는 단계는, 상기 휘도 대표 값을 기준 값과 비교하여 휘도 편차를 검출하는 단계; 및 상기 휘도 편차가 보상되도록 상기 휘도 보정 값을 설정하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 휘도 보정 값을 상기 표시 장치의 메모리에 저장하는 단계; 및 상기 휘도 보정 값에 따라 입력 이미지 데이터를 변환하여 보상 이미지 데이터를 생성하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 표시 장치의 휘도 보상 방법은, 상기 보상 이미지 데이터에 대응하는 데이터 신호를 생성하는 단계; 및 상기 데이터 신호에 대응하여 상기 표시 화소들을 구동하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 휘도 보상 장치는, 이미지 화소들을 포함하며, 표시 장치에서 표시되는 테스트 이미지를 촬상하여 촬상 데이터를 생성하는 촬상 장치; 상기 촬상 데이터를 이용하여 상기 표시 장치에 구비된 표시 화소들 각각에 대한 휘도 대표 값을 산출하는 이미지 전처리부; 및 상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 휘도 대표 값에 대응하는 휘도 보정 값을 생성하는 보정 값 생성부를 포함한다. 상기 이미지 전처리부는, 상기 표시 화소들 각각에 대응하는 단위 매핑 영역이 상기 이미지 화소들 중 복수의 이미지 화소들에 대한 휘도 값들을 포함하도록 상기 표시 화소들과 상기 촬상 데이터를 1차 매핑하고, 상기 휘도 값들 중 최대 휘도 값이 상기 단위 매핑 영역의 중앙에 위치하도록 상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 촬상 데이터를 2차 매핑하여 상기 휘도 대표 값을 산출한다.
일 실시예에서, 상기 이미지 전처리부는, 상기 이미지 화소들의 위치 코드에 기초하여 상기 표시 화소들과 상기 촬상 데이터를 1차 매핑하는 1차 매핑부; 상기 단위 매핑 영역에 대하여 상기 최대 휘도 값의 위치를 검출하는 최대 휘도 검출부; 상기 최대 휘도 값을 상기 단위 매핑 영역의 중앙으로 이동시키기 위한 상기 촬상 데이터의 오프셋 값을 설정하는 오프셋 값 설정부; 상기 오프셋 값에 따라 상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 촬상 데이터를 2차 매핑하는 2차 매핑부; 및 상기 단위 매핑 영역에 2차 매핑된 휘도 값들에 기초하여 상기 휘도 대표 값을 산출하는 대표 값 산출부를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 최대 휘도 검출부는, 상기 단위 매핑 영역의 중앙에 위치한 수평 라인의 휘도 값들을 대상으로 수평 방향의 최대 휘도 값 및 위치를 검출하고, 상기 단위 매핑 영역의 중앙에 위치한 수직 라인의 휘도 값들을 대상으로 수직 방향의 최대 휘도 값 및 위치를 검출할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 최대 휘도 검출부는, 상기 단위 매핑 영역에 위치한 상기 휘도 값들 전체를 대상으로 상기 최대 휘도 값 및 위치를 검출할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 촬상 장치는, 상기 이미지 화소들에 대한 휘도 값들을 검출하고, 상기 이미지 화소들의 위치에 대응하여 상기 이미지 화소들의 휘도 값들을 정렬하여 상기 촬상 데이터를 생성할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 표시 장치의 휘도 보상 장치는, 상기 표시 장치로 테스트 이미지 신호를 공급하기 위한 테스트 이미지 공급부를 더 포함할 수 있다.
기타 실시예의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 휘도 보상 방법 및 장치에 의하면, 표시 화소들 각각의 휘도 특성에 따라 휘도 보정 값을 보다 정확하게 설정할 수 있다. 이에 따라, 표시 장치의 얼룩을 효과적으로 보상하고, 화질을 개선할 수 있다.
실시예들에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 의한 휘도 보상 시스템을 나타낸다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타낸다.
도 3 및 도 4는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 화소를 나타낸다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 촬상한 이미지의 영역별 휘도 차이를 나타낸다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 의한 이미지 전처리부를 나타낸다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 화소와 촬상 데이터의 매핑 방법을 나타낸다.
도 8 및 도 9는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 최대 휘도 검출 방법을 나타낸다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치의 휘도 보상 방법을 나타낸다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예를 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 아래의 설명에서, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 단수만을 포함하지 않는 한, 복수의 표현도 포함한다.
한편, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되지는 않으며, 다양한 형태로 변경되어 실시될 수 있을 것이다. 또한, 이하에서 개시되는 각각의 실시예는 단독으로 실시되거나, 또는 적어도 하나의 다른 실시예와 결합되어 복합적으로 실시될 수 있을 것이다.
도면에서 본 발명의 특징과 직접적으로 관계되지 않은 일부 구성 요소는 본 발명을 명확하게 나타내기 위하여 생략되었을 수 있다. 또한, 도면 상의 일부 구성 요소는 그 크기나 비율 등이 다소 과장되어 도시되었을 수 있다. 도면 전반에서 동일 또는 유사한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면 상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 참조 번호 및 부호를 부여하고, 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 의한 휘도 보상 시스템(10)을 나타낸다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치(100)를 나타낸다. 예를 들어, 도 2는 도 1의 휘도 보상 시스템(10)에서 광학 보상의 대상이 될 수 있는 표시 장치(100)의 일 예를 나타낸다. 도 3 및 도 4는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 화소(DPX)를 나타낸다. 예를 들어, 도 3 및 도 4는 도 2의 표시 패널(110)에 배열될 수 있는 표시 화소(DPX)에 대한 서로 다른 실시예들을 나타낸다. 도 5는 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치(100)를 촬상한 이미지의 영역별 휘도 차이를 나타낸다. 예를 들어, 도 5는 표시 장치(100)의 일부 표시 화소들(DPX)에서 표시되는 테스트 이미지(즉, 테스트 이미지의 일 영역)에 대한 촬상 이미지의 영역별 휘도를 명암 및 높이로 표현한 3차원 그래프를 나타낸다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 의한 휘도 보상 시스템(10)은, 표시 장치(100)와, 휘도 보상 장치(200)를 포함할 수 있다.
이하에서는, 도 2 내지 도 4를 참조하여 표시 장치(100)의 기본 구성을 먼저 설명하고, 이후 휘도 보상 장치(200)의 구성을 설명하기로 한다.
도 2를 참조하면, 표시 장치(100)는 표시 패널(110), 타이밍 제어부(120), 주사 구동부(130), 데이터 구동부(140), 메모리(150), 및 보상부(160)를 포함할 수 있다.
표시 패널(110)은 복수의 주사 라인들(SL1 내지 SLn), 복수의 데이터 라인들(DL1 내지 DLm), 및 복수의 표시 화소들(DPX)을 포함할 수 있다. 도 2의 표시 패널(110)은 도 1의 표시 장치(100)의 화면을 구성하기 위하여 소정의 표시 영역에 배열되는 표시 화소들(DPX)을 포함하는 구성으로서, 도 2에서는 표시 패널(110)을 타이밍 제어부(120), 주사 구동부(130), 데이터 구동부(140), 메모리(150), 및 보상부(160)와 별개의 구성으로 도시하기로 한다. 다만, 실시예에 따라서는 타이밍 제어부(120), 주사 구동부(130), 데이터 구동부(140), 메모리(150), 및 보상부(160) 중 적어도 하나(일 예로, 주사 구동부(130) 및/또는 데이터 구동부(140))가 표시 패널(110)에 형성 또는 실장될 수도 있다.
표시 화소들(DPX)은 주사 라인들(SL1 내지 SLn) 중 적어도 하나 및 데이터 라인들(DL1 내지 DLm) 중 적어도 하나에 연결될 수 있다. 한편, 표시 화소들(DPX)은 외부로부터 제1 전원(VDD) 및 제2 전원(VSS)의 전압들을 공급받을 수 있다. 여기서, 제1 전원(VDD)과 제2 전원(VSS)은 표시 화소들(DPX)의 동작에 필요한 구동 전원으로서, 표시 화소들(DPX)로 서로 다른 레벨의 전압을 공급할 수 있다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 표시 화소(DPX)는 적어도 하나의 발광 소자(LD)를 포함한 발광부(EMU)와, 상기 발광부(EMU)를 구동하기 위한 화소 회로(PXC)를 포함할 수 있다.
화소 회로(PXC)는 제1 전원(VDD)과 발광부(EMU)의 사이에 연결될 수 있다. 또한, 화소 회로(PXC)는 해당 표시 화소(DPX)의 주사 라인(SL) 및 데이터 라인(DL)에 연결되어, 상기 주사 라인(SL) 및 데이터 라인(DL)으로부터 공급되는 주사 신호 및 데이터 신호에 대응하여 발광부(EMU)의 동작을 제어할 수 있다.
본 발명의 실시예들을 설명함에 있어서, "연결(또는, 접속)"이라 함은 물리적 및/또는 전기적인 연결(또는, 접속)을 포괄적으로 의미할 수 있다. 또한, 이는 직접적 또는 간접적인 연결(또는, 접속)과, 일체형 또는 비일체형 연결(또는, 접속)을 포괄적으로 의미할 수 있다.
화소 회로(PXC)는 적어도 하나의 트랜지스터 및 커패시터를 포함할 수 있다. 예를 들어, 화소 회로(PXC)는 제1 트랜지스터(M1), 제2 트랜지스터(M2) 및 스토리지 커패시터(Cst)를 포함할 수 있다.
제1 트랜지스터(M1)는 제1 전원(VDD)이 공급되는 제1 전원 라인(PL1)과 발광부(EMU)의 제1 전극(ELT1)(일 예로, 애노드 전극) 사이에 연결된다. 그리고, 제1 트랜지스터(M1)의 게이트 전극은 제1 노드(N1)에 연결된다. 이러한 제1 트랜지스터(M1)는 제1 노드(N1)의 전압에 대응하여 발광부(EMU)로 공급되는 구동 전류를 제어한다. 즉, 제1 트랜지스터(M1)는 표시 화소(DPX)의 구동 전류를 제어하는 구동 트랜지스터일 수 있다.
제2 트랜지스터(M2)는 데이터 라인(DL)과 제1 노드(N1)의 사이에 연결된다. 그리고, 제2 트랜지스터(M2)의 게이트 전극은 주사 라인(SL)에 연결된다. 이러한 제2 트랜지스터(M2)는, 주사 라인(SL)으로부터 턴-온 레벨(일 예로, 하이 레벨)의 펄스를 갖는 주사 신호가 공급될 때 턴-온되어, 데이터 라인(DL)과 제1 노드(N1)를 연결한다.
각각의 프레임 기간마다 데이터 라인(DL)으로는 해당 프레임의 데이터 신호가 공급되고, 상기 데이터 신호는 턴-온 레벨의 주사 신호가 공급되는 기간 동안 턴-온된 제2 트랜지스터(M2)를 통해 제1 노드(N1)로 전달된다. 즉, 제2 트랜지스터(M2)는 각각의 데이터 신호를 표시 화소(DPX)의 내부로 전달하기 위한 스위칭 트랜지스터일 수 있다.
스토리지 커패시터(Cst)의 일 전극은 제1 노드(N1)에 연결되고, 다른 전극은 제1 트랜지스터(M1)의 제2 전극에 연결된다. 이러한 스토리지 커패시터(Cst)는 각각의 프레임 기간 동안 제1 노드(N1)로 공급되는 데이터 신호에 대응하는 전압을 충전한다.
한편, 도 3 및 도 4에서는 설명의 편의를 위해 비교적 단순한 형태의 표시 화소(DPX)를 도시한 것이며, 화소 회로(PXC)의 구조 및 이에 따른 구동 방식은 실시예에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 일 예로, 화소 회로(PXC)는, 제1 트랜지스터(M1) 및/또는 발광부(EMU)의 특성 정보를 센싱하기 위한 센싱 트랜지스터, 제1 트랜지스터(M1)의 문턱전압을 보상하기 위한 보상 트랜지스터, 제1 노드(N1)를 초기화하기 위한 초기화 트랜지스터, 및/또는 발광부(EMU)의 발광 시간(또는 발광 기간)을 제어하기 위한 발광 제어 트랜지스터 등과 같은 적어도 하나의 다른 트랜지스터를 더 포함할 수도 있다. 또한, 화소 회로(PXC)는 제1 노드(N1)의 전압을 부스팅하기 위한 부스팅 커패시터 등과 같은 다른 회로 소자들을 추가적으로 더 포함할 수도 있다.
또한, 도 3 및 도 4에서는 화소 회로(PXC)에 포함되는 트랜지스터들(일 예로, 제1 및 제2 트랜지스터들(M1, M2))을 모두 N타입의 트랜지스터들로 도시하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 즉, 화소 회로(PXC)에 포함되는 트랜지스터들 중 적어도 하나는 P타입의 트랜지스터로 변경될 수도 있다.
또 다른 실시예에서, 표시 화소(DPX)가 수동형 발광 표시 장치의 화소일 경우, 화소 회로(PXC)는 생략될 수 있다. 이 경우, 발광부(EMU)는 주사 라인(SL), 데이터 라인(DL), 제1 전원 라인(PL1), 제2 전원 라인(PL2), 및/또는 이외의 다른 신호 라인이나 전원 라인 등에 직접 연결될 수 있다.
발광부(EMU)는 제2 전원(VSS)이 공급되는 제2 전원 라인(PL2)과 화소 회로(PXC)의 사이에 연결된 적어도 하나의 발광 소자(LD)를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 발광부(EMU)는 도 3에 도시된 바와 같이 서로 병렬로 연결된 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 각각의 발광 소자(LD)는 나노 내지 마이크로 스케일의 크기를 가질 수 있으나 이에 한정되지 않는 크기의 초소형 무기 발광 다이오드일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 또한, 각각의 발광 소자(LD)는 질화물계 반도체를 성장시켜 제조된 막대형 또는 코어-쉘 구조의 무기 발광 다이오드일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.
예를 들어, 발광부(EMU)는, 화소 회로(PXC) 및 제1 전원 라인(PL1)을 경유하여 제1 전원(VDD)에 연결되는 제1 전극(ELT1)("제1 화소 전극" 또는 "제1 정렬 전극"이라고도 함), 제2 전원 라인(PL2)을 통해 제2 전원(VSS)에 연결되는 제2 전극(ELT2)("제2 화소 전극" 또는 "제2 정렬 전극"이라고도 함), 및 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 연결된 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 발광부(EMU)의 제1 전극(ELT1)은 애노드 전극이고, 제2 전극(ELT2)은 캐소드 전극일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.
일 실시예에서, 발광부(EMU)는, 제1 전극(ELT1)과 제2 전극(ELT2)의 사이에서 서로 동일한 방향으로 병렬 연결되는 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 각각의 발광 소자(LD)는, 제1 전극(ELT1) 및/또는 화소 회로(PXC)를 통해 제1 전원(VDD)에 연결되는 제1 단부(EP1)(일 예로, P형 단부), 및 제2 전극(ELT2)을 통해 제2 전원(VSS)에 연결되는 제2 단부(EP2)(일 예로, N형 단부)를 포함할 수 있다. 즉, 발광 소자들(LD)은 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 순방향으로 병렬 연결될 수 있다.
한편, 도 3에서는 표시 화소(DPX)가 병렬 구조의 발광부(EMU)를 포함하는 실시예를 개시하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 표시 화소(DPX)는 직렬 구조 또는 직/병렬 구조의 발광부(EMU)를 포함할 수도 있다. 이 경우, 발광부(EMU)는, 제1 전극(ELT1)과 제2 전극(ELT2)의 사이에 직렬 구조 또는 직/병렬 구조로 연결된 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 일 예로, 발광부(EMU)는, 도 4의 실시예에서와 같이 두 개의 직렬 단에 나뉘어 연결된 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다.
도 4를 참조하면, 발광부(EMU)는, 제1 전극(ELT1) 및 제2 전극(ELT2)과 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 직/병렬 구조로 연결된 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다.
일 예로, 발광부(EMU)는, 제1 전극(ELT1) 및 제2 전극(ELT2)과, 상기 제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 연결되는 적어도 하나의 중간 전극(IET)을 포함할 수 있다. 발광 소자들(LD) 중 일부는 제1 전극(ELT1)과 중간 전극(IET)의 사이에 순방향으로 연결되고, 상기 발광 소자들(LD) 중 다른 일부는 중간 전극(IET)과 제2 전극(ELT2)의 사이에 순방향으로 연결될 수 있다. 이에 따라, 발광 소자들(LD)은 제1 전극(ELT1)과 제2 전극(ELT2)의 사이에서 서로 직/병렬로 연결될 수 있다.
예를 들어, 제1 전극(ELT1)과 중간 전극(IET)의 사이에는 적어도 하나의 제1 발광 소자(LD1)가 연결될 수 있다. 제1 발광 소자(LD1)는 제1 전극(ELT1)에 연결된 P형의 제1 단부(EP1)와, 중간 전극(IET)에 연결된 N형의 제2 단부(EP2)를 포함할 수 있다.
중간 전극(IET)과 제2 전극(ELT2)의 사이에는 적어도 하나의 제2 발광 소자(LD2)가 연결될 수 있다. 제2 발광 소자(LD2)는 중간 전극(IET)에 연결된 P형의 제1 단부(EP1)와, 제2 전극(ELT2)에 연결된 N형의 제2 단부(EP2)를 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 제2 발광 소자(LD2)의 개수는 제1 발광 소자(LD1)의 개수와 동일하거나 상이할 수 있다.
한편, 도 4에서는 2단 직/병렬 구조의 발광부(EMU)를 개시하였지만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 발광부(EMU)는 3단 이상의 직렬 구조 및/또는 직/병렬 혼합 구조로 구성될 수도 있을 것이다.
이와 같이 제1 전원(VDD)과 제2 전원(VSS)의 사이에 순방향으로 연결된 각각의 발광 소자(LD)는 각각의 유효 광원을 구성할 수 있다. 그리고, 이러한 유효 광원들이 모여 표시 화소(DPX)의 발광부(EMU)를 구성할 수 있다.
발광 소자들(LD)은 해당 화소 회로(PXC)를 통해 구동 전류가 공급될 때 상기 구동 전류에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다. 예를 들어, 각각의 프레임 기간 동안 화소 회로(PXC)는 해당 프레임에서 표현할 계조 값에 대응하는 구동 전류를 발광부(EMU)로 공급할 수 있다. 이에 따라, 발광 소자들(LD)이 구동 전류에 의해 발광하면서, 발광부(EMU)가 구동 전류에 대응하는 휘도를 표현할 수 있게 된다.
이와 같이, 표시 패널(110)에 포함되는 표시 화소들(DPX)은 데이터 신호에 따라 발광부(EMU)로 공급되는 구동 전류의 크기를 제어하여 이미지를 표시하게 된다.
일반적으로 동일 제조 공정을 거친 표시 패널(110)의 경우 동일한 휘도 특성을 가져야 하지만, 실제로는 제조 공정 상의 편차에 의해 모든 표시 패널(110)이 동일한 휘도 특성을 나타내지는 않을 수 있다. 또한, 표시 화소(DPX)의 휘도 특성은 최초 설계한 시점과 제조가 완료된 이후의 시점에서 다르게 설정될 수 있다. 이러한, 휘도 특성의 편차는 표시 패널(110)마다 다를 수 있고, 하나의 표시 패널(110) 내에 포함된 표시 화소들(DPX)마다 다를 수도 있다. 이로 인해, 표시 화소들(DPX)에 동일한 데이터 신호를 공급하더라도 표시 화소들(DPX) 간 휘도 편차가 발생할 수 있다. 이에 따라, 무라(Mura) 등과 같은 표시 패널(110) 상의 화질 왜곡 현상이 발생할 수 있다. 따라서, 화질 왜곡 현상을 보상하기 위해, 표시 패널(110)의 출하 전 휘도 보상 공정을 거칠 필요가 있다.
또한, 도 3 및 도 4의 실시예들에서와 같이 표시 화소들(DPX) 각각이 복수의 발광 소자들(LD)을 포함할 경우, 각각의 발광부(EMU)에 순방향으로 연결되는 발광 소자들(LD)의 개수 편차, 및/또는 상기 발광 소자들(LD)의 분포 특성이 표시 화소들(DPX)마다 상이할 수 있다. 예를 들어, 발광 소자들(LD)은 표시 장치(100)의 화소 공정에서, 각 표시 화소(DPX)의 발광 영역에 형성된 전극들(제1 및 제2 전극들(ELT1, ELT2) 및/또는 적어도 하나의 중간 전극(IET))의 사이에 형성된 전계에 의해 상기 전극들의 사이에 자가 정렬할 수 있다. 이때, 표시 화소들(DPX)의 전극들이 각각의 발광 영역 내에서 실질적으로 동일한 위치에 형성된다고 하더라도, 상기 전극들의 사이에 순방향으로 정렬 및 연결되는 발광 소자들(LD)의 개수 편차가 발생할 수 있고, 또한 각각의 발광 소자(LD)의 정렬 위치에 따라 표시 화소들(DPX)마다 발광 소자들(LD)의 분포 특성이 상이할 수 있다. 이로 인해, 표시 화소들(DPX)마다 휘도 분포 특성이 다를 수 있다. 일 예로, 도 5에 도시된 바와 같이 서로 인접한 복수의 표시 화소들(DPX)이 서로 다른 휘도 분포 특성을 나타낼 수 있다.
도 1 내지 도 5를 참조하면, 수평 방향(X 축 방향) 및 수직 방향(Y 축 방향)을 따라 각각 4개의 표시 화소들(DPX)에서 표시되는 테스트 이미지의 휘도는 표시 화소들(DPX)마다 상이할 수 있다. 또한, 각각의 표시 화소(DPX)에 대응하는 테스트 이미지의 일 영역 내에서도, 표시 화소들(DPX)마다 휘도 분포 특성이 상이할 수 있다.
일 예로, 4개의 표시 화소들(DPX)이 동일한 X 코드(또는 X 좌표)를 가지도록 수직 방향(Y축 방향)을 따라 일렬로 배열된다고 하더라도, 도 5에서 점선으로 표시된 바와 같이 상기 4개의 표시 화소들(DPX) 각각의 피크 휘도 지점의 위치는 서로 다른 X 코드를 가질 수 있다.
도 5에서는 각각의 표시 화소(DPX) 내에서의 영역별 휘도 분포 특성을 보여주기 위하여 하나의 표시 화소(DPX)당, 촬상 장치(220)에 구비된 복수의 이미지 화소들을 정렬하고, 상기 이미지 화소들 각각으로부터 검출된 휘도 값을 명암 및 높이로 표현함으로써, 표시 화소들(DPX)의 휘도 분포를 영역별로 정밀하게 촬상한 이미지를 나타내었다. 일 예로, 도 5에서는 각각의 표시 화소(DPX)에 대하여, 수평 방향 및 수직 방향으로 각각 11개의 이미지 화소들(즉, 총 121개의 이미지 화소들)을 정렬하고, 상기 이미지 화소들 각각으로부터 검출된 휘도 값을 명암 및 높이로 표현하였다.
이와 같이 표시 화소들(DPX)의 휘도 분포 특성이 상이한 표시 장치(100)에서, 표시 화소들(DPX)의 휘도 편차를 효과적으로 보상하기 위해서는 각각의 표시 화소(DPX)가 나타내는 휘도 분포 특성을 반영하여 표시 화소(DPX)의 휘도를 보상해주어야 할 것이다. 이를 위해, 본 발명의 실시예에 의한 휘도 보상 장치(200)는 표시 화소들(DPX)에 대한 촬상 데이터(CID)를 전처리하는 과정을 거쳐 각각의 표시 화소(DPX)에 대한 휘도 보정 값(LCV)을 보다 정확하게 생성한다. 휘도 보상 장치(200)의 세부 구성 및 동작에 대한 상세한 설명은 후술하기로 한다.
다시 도 2를 참조하면, 타이밍 제어부(120)는 외부(예를 들어, 그래픽 프로세서)로부터 제어 신호를 수신하고, 보상부(160)로부터 보상 이미지 데이터(CGD)를 수신할 수 있다. 타이밍 제어부(120)는 제어 신호에 기초하여 주사 제어 신호(SCS) 및 데이터 제어 신호(DCS)를 생성하며, 보상 이미지 데이터(CGD)를 재정렬하고 재정렬된 이미지 데이터(DATA)를 생성할 수 있다. 여기서, 제어 신호는 수직 동기 신호, 수평 동기 신호, 및 클럭 신호 등을 포함할 수 있다.
주사 구동부(130)는 타이밍 제어부(120)로부터 제공되는 주사 제어 신호(SCS)에 기초하여 주사 신호들을 생성할 수 있다. 여기서, 주사 제어 신호(SCS)는 주사 개시 신호, 주사 클럭 신호 등을 포함할 수 있다. 주사 구동부(130)는 주사 라인들(SL1 내지 SLn)에 순차적으로 턴-온 레벨의 펄스를 갖는 주사 신호들을 공급할 수 있다.
데이터 구동부(140)는 타이밍 제어부(120)로부터 공급되는 이미지 데이터(DATA) 및 데이터 제어 신호(DCS)에 기초하여 데이터 신호들(일 예로, 데이터 전압들)을 생성하고, 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)에 데이터 신호들을 공급할 수 있다. 데이터 구동부(140)는 디지털 형태의 이미지 데이터(DATA)에 기초하여 아날로그 형태의 데이터 신호들을 생성할 수 있다. 예를 들어, 데이터 구동부(140)는 이미지 데이터(DATA)에 포함되는 계조 값들을 샘플링하고, 계조 값들에 대응하는 데이터 전압들을 데이터 신호들로서 생성하여, 화소행 단위로 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)에 데이터 신호들을 공급할 수 있다. 여기서, 데이터 제어 신호(DCS)는 데이터 클럭 신호 및 데이터 인에이블 신호 등을 포함할 수 있다.
메모리(150)는 표시 화소들(DPX)의 휘도 편차에 따른 표시 패널(110) 상의 화질 왜곡 현상을 보상하기 위한 휘도 보정 값(LCV)을 저장할 수 있다. 휘도 보정 값(LCV)은 도 1의 휘도 보상 장치(200)에 의해 생성될 수 있다.
여기서, 휘도 보정 값(LCV)은 표시 화소들(DPX) 각각에 대해 생성되어 메모리(150) 상에 저장되어 있을 수도 있고, 일정 개수의 표시 화소들(DPX)이 블록으로 구성되어 각 블록 단위별로 휘도 보정 값(LCV)이 생성되어 메모리(150) 상에 저장되어 있을 수도 있다. 이하에서는 휘도 보정 값(LCV)이 표시 화소들(DPX) 각각에 대해 생성되는 실시예를 설명하기로 한다.
메모리(150)는 표시 장치(100) 내에서 독립적인 구성으로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 메모리(150)는 타이밍 제어부(120) 또는 데이터 구동부(140) 등에 내장될 수도 있다.
보상부(160)는 외부(예를 들어, 그래픽 프로세서)로부터 입력 이미지 데이터를 수신하고, 메모리(150)에 저장된 휘도 보정 값(LCV)을 독출할 수 있다. 보상부(160)는 휘도 보정 값(LCV)에 기초하여, 입력 이미지 데이터를 변환한 보상 이미지 데이터(CGD)를 생성하고, 이를 타이밍 제어부(120)에 공급할 수 있다. 한편, 도 2에서는 타이밍 제어부(120)와 보상부(160)가 별도의 구성인 것으로 도시되었으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 타이밍 제어부(120)와 보상부(160)는 일체로 구성될 수도 있는 것으로서, 일 예로, 보상부(160)는 타이밍 제어부(120)에 내장될 수 있다.
표시 화소들(DPX)의 휘도 보정 값(LCV)에 기초하여 생성된 보상 이미지 데이터(CGD)에 따라, 표시 화소들(DPX)의 휘도가 보정될 수 있다. 이에 따라, 표시 패널(110) 상의 화질 왜곡 현상이 보상될 수 있다.
도 2 내지 도 5와 결부하여 다시 도 1을 참조하면, 휘도 보상 시스템(10)은, 광학 보상의 대상이 되는 표시 장치(100)와, 상기 표시 장치(100)의 얼룩을 광학 보상하기 위한 휘도 보정 값(LCV)을 생성하는 휘도 보상 장치(200)를 포함할 수 있다.
표시 장치(100)는 표시 패널(110)에 제공되는 표시 화소들(DPX)을 포함하며, 외부로부터 공급되는 이미지 데이터(DATA)에 대응하여 표시 패널(110)(특히, 표시 화소들(DPX)이 제공되는 표시 영역)에서 이미지를 표시한다. 또한, 표시 장치(100)는 광학 보상 단계에서, 휘도 보상 장치(200)로부터 공급되는 테스트 이미지 데이터(TID)에 대응하여 표시 영역(DA)에서 테스트 이미지를 표시할 수 있다.
일 실시예에서, 표시 장치(100)는 각각의 표시 화소(DPX)에 적어도 하나의 발광 소자(LD)(일 예로, 유기 발광 다이오드 또는 무기 발광 다이오드)를 배치한 자발광형 표시 장치일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 표시 장치(100)는 액정 표시 장치나 전기 영동 표시 장치와 같은 다른 종류의 표시 장치일 수도 있다.
표시 장치(100)는 제조 후 무라(mura) 등과 같은 표시 패널의 얼룩을 검출하는 검사 공정을 거친다. 검사 공정에서 얼룩이 검출된 경우, 표시 장치(100)에 대한 휘도 보상 공정을 통해 얼룩을 제거한다.
일 예로, 표시 장치(100)에서 테스트 이미지가 표시되도록 표시 장치(100)를 구동한 후, 촬상 장치(220)를 이용하여 표시 장치(100)(특히 표시 패널(110)에서 표시 화소들(DPX)에 의해 표시되는 테스트 이미지)를 촬상하고, 촬상된 이미지를 분석하여 얼룩을 제거하기 위한 휘도 보정 값(LCV)을 표시 장치(100)에 저장하는 광학 보상을 실시할 수 있다. 저장된 휘도 보정 값(LCV)은 표시 장치(100)의 구동 시에 입력 이미지 데이터를 변환하여 보상 이미지 데이터(CGD)를 생성하는 데에 이용되며, 이에 따라 표시 장치(100)에서 얼룩이 제거된 이미지가 표시될 수 있다.
휘도 보상 장치(200)는, 표시 장치(100)로 테스트 이미지 데이터(TID)를 공급하고, 이에 따라 표시 장치(100)의 표시 패널(110)(특히, 표시 화소들(DPX)이 배열된 표시 영역)에서 표시되는 테스트 이미지를 촬상하여 촬상 데이터(CID)를 생성한다. 또한, 휘도 보상 장치(200)는 상기 촬상 데이터(CID)에 대응하는 휘도 보정 값(LCV)(일 예로, 각각의 표시 화소(DPX)에 대한 계조 변경 값 또는 보상 계조)을 생성할 수 있다. 이를 위해, 휘도 보상 장치(200)는, 테스트 이미지 공급부(210), 촬상 장치(220), 이미지 전처리부(230) 및 보정 값 생성부(240)를 포함할 수 있다.
한편, 도 1에서는 테스트 이미지 공급부(210)와 촬상 장치(220)를 휘도 보상 장치(200)에 포함시켰으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 테스트 이미지 공급부(210)와 촬상 장치(220) 중 적어도 하나는, 휘도 보상 장치(200)의 나머지 구성과 별도로 마련될 수도 있다.
테스트 이미지 공급부(210)는 표시 장치(100)로 테스트 이미지 데이터(TID)를 공급한다. 예를 들어, 테스트 이미지 공급부(210)는 표시 장치(100)의 광학 보상 단계에서, 적어도 하나의 기준 계조에 대응하는 적어도 하나의 테스트 이미지 데이터(TID)를 표시 장치(100)에 공급할 수 있다.
촬상 장치(220)는 다수의 이미지 화소들(일 예로, CMOS 이미지 화소들)을 포함하며, 표시 장치(100)(특히, 표시 장치(100)에서 표시되는 테스트 이미지)를 촬상하여 촬상 데이터(CID)를 생성할 수 있다. 일 실시예에서, 촬상 장치(220)는 영역 스캔 카메라 및 프레임 카메라와 같은 2차원 전하 결합 소자(Charge Coupled Device: CCD) 카메라일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.
촬상 데이터(CID)는 표시 장치(100)에서 표시되는 테스트 이미지의 휘도 정보를 포함할 수 있다. 일 예로, 촬상 데이터(CID)는 테스트 이미지의 촬상에 이용된 이미지 화소들(일 예로, 촬상 장치(220)에 구비된 CMOS 이미지 화소들) 각각에 대응하는 휘도 정보를 포함한 휘도 맵 데이터를 포함할 수 있다. 또한, 촬상 데이터(CID)는 이미지 화소들의 휘도 정보 외에도 추가적인 정보를 더 포함할 수도 있다. 일 예로, 촬상 데이터(CID)는 색상(또는 색도) 정보를 더 포함할 수도 있다.
일 실시예에서, 표시 장치(100)의 표시 화소들(DPX) 각각에 대하여, 촬상 장치(220)의 복수의 이미지 화소들을 정렬시켜 표시 장치(100)를 촬상함에 의해 고해상도의 촬상 데이터(CID)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 촬상 장치(220)는 이미지 화소들의 출력 신호들에 따라 상기 이미지 화소들 각각의 휘도 값들을 검출하고, 상기 이미지 화소들의 위치에 대응하여 휘도 값들을 정렬함으로써 촬상 데이터(CID)를 생성할 수 있다. 이 경우, 촬상 데이터(CID)는 표시 화소들(DPX) 각각에 대응하는 각각의 단위 매핑 영역에 배열된 복수의 휘도 값들을 포함하며, 상기 복수의 휘도 값들은 각각의 표시 화소(DPX)에 대응하여 정렬된 복수의 이미지 화소들 각각의 휘도 값들에 대응할 수 있다. 한편, 다른 실시예에서는 촬상 장치(220)가 단순히 이미지 화소들의 출력 신호들만을 이미지 전처리부(230)로 공급할 수도 있다. 이 경우, 이미지 전처리부(230)가 이미지 화소들의 위치에 따라 각각의 휘도 값들을 정렬하여 촬상 데이터(CID)를 생성할 수도 있다.
촬상 장치(220)에서 생성된 촬상 데이터(CID)는 이미지 전처리부(230)로 입력될 수 있다.
이미지 전처리부(230)는, 촬상 데이터(CID)를 이용하여 표시 화소들(DPX) 각각에 대한 휘도 대표 값(RLV)을 산출한다. 본 발명의 일 실시예에서, 이미지 전처리부(230)는, 각각의 표시 화소(DPX)에 대하여 1차 매핑(또는 1차 정렬)된 촬상 데이터(CID)를 각각의 표시 화소(DPX)의 휘도 분포 특성에 따라 보다 정밀하게 2차 매핑(또는 2차 정렬)함으로써, 각각의 표시 화소(DPX)가 나타내는 휘도 분포 특성을 반영할 수 있도록 보다 정확하게 휘도 대표 값(RLV)을 산출한다. 이에 따라, 표시 화소들(DPX)에 대한 휘도 보상 성능을 개선할 수 있다. 이미지 전처리부(230)의 세부 구성 및 동작에 대한 상세한 설명은 후술하기로 한다.
표시 화소들(DPX)에 대하여 이미지 전처리부(230)에서 생성된 휘도 대표 값들(RLV)은 보정 값 생성부(240)로 입력될 수 있다.
보정 값 생성부(240)는 표시 화소들(DPX) 각각에 대하여 해당 휘도 대표 값(RLV)에 대응하는 휘도 보정 값(LCV)을 생성한다. 예를 들어, 보정 값 생성부(240)는 각각의 표시 화소(DPX)에 대한 휘도 대표 값(RLV)을 소정의 기준 값(또는 표시 화소들(DPX)의 휘도 대표 값들(RLV)의 평균 값, 중간 값, 또는 최대 값 등)과 비교하고, 비교 결과에 따라 표시 화소들(DPX)의 휘도 편차가 보상될 수 있도록 각각의 표시 화소(DPX)에 대한 휘도 보정 값(LCV)을 생성할 수 있다. 일 실시예에서, 휘도 보정 값(LCV)은 표시 화소들(DPX) 각각에 대한 계조 변화 값 또는 보상 계조일 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 의한 이미지 전처리부(230)를 나타낸다. 예를 들어, 도 6은 도 1의 휘도 보상 장치(200)에 구비될 수 있는 이미지 전처리부(230)의 일 실시예를 나타낸다. 도 7은 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 화소(DPX)와 촬상 데이터(CID)의 매핑 방법을 나타낸다. 예를 들어, 도 7은 도 6의 이미지 전처리부(230)에 의해, 촬상 데이터(CID)를 각각의 표시 화소(DPX)에 대응하는 단위 매핑 영역(UMA)에 매핑하는 방법의 실시예를 나타낸다. 도 8 및 도 9는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 최대 휘도 검출 방법을 나타낸다.
도 7에서는 어느 하나의 표시 화소(DPX)에 대응하는 단위 매핑 영역(UMA)을 중심으로 상기 표시 화소(DPX) 및 그 주변을 촬상한 이미지 화소들의 휘도 값들(L(x, y))을 포함한 촬상 데이터(CID)의 실시예를 나타내기로 한다. 일 실시예에서, 촬상 데이터(CID)에 포함된 이미지 화소들의 휘도 값들(L(x, y))은, 각각의 이미지 화소에 대응하는 위치(일 예로, 상기 이미지 화소에 부여된 X 코드 및 Y 코드에 대응하는 위치)에 배열되어 그 휘도에 따른 명암으로 표현될 수 있다. 추가적으로, 촬상 데이터(CID)는 테스트 이미지의 각 영역에 대한 색상 정보를 선택적으로 더 포함할 수도 있다. 일 예로, 촬상 데이터(CID)는 컬러-휘도 맵 데이터의 형태로 형성될 수도 있다.
편의상, 도 7에서는 하나의 표시 화소(DPX)에 대하여 수평 방향(X 방향) 및 수직 방향(Y 방향)을 따라 각각 5개씩 배열된 25개의 이미지 화소들을 정렬시켜 표시 장치(100)를 촬상하고, 이에 따라 생성된 촬상 데이터(CID)를 각각의 표시 화소(DPX)에 대응하는 단위 매핑 영역(UMA)에 매핑한 것으로 가정하기로 한다. 다만, 하나의 표시 화소(DPX)에 대응하는 정렬되는 이미지 화소들의 개수는 실시예에 따라 다양하게 변경될 수 있다.
먼저 도 1 내지 도 5와 결부하여 도 6 및 도 7을 참조하면, 이미지 전처리부(230)는 표시 화소들(DPX) 각각에 대응하는 단위 매핑 영역(UMA)이 복수의 이미지 화소들에 대한 복수의 휘도 값들(L(x, y))을 포함하도록 표시 화소들(DPX)과 촬상 데이터(CID)를 1차 매핑한 이후, 상기 단위 매핑 영역(UMA)의 중앙에 최대 휘도 값(P_L(x, y))이 위치하도록 각각의 표시 화소(DPX)와 촬상 데이터(CID)를 2차 매핑(리매핑 또는 재정렬)하여 각각의 표시 화소(DPX)에 대한 휘도 대표 값(RLV)을 산출한다.
이를 위해, 이미지 전처리부(230)는 1차 매핑부(231), 최대 휘도 검출부(232), 오프셋 값 설정부(233), 2차 매핑부(234) 및 대표 값 산출부(235)를 포함할 수 있다.
1차 매핑부(231)는 이미지 화소들의 위치 코드(또는 좌표)(x, y)에 기초하여, 표시 화소들(DPX)과 촬상 데이터(CID)를 1차 매핑한다. 예를 들어, 1차 매핑부(231)는 각각의 이미지 화소에 대하여 수평 위치에 따라 부여된 X-코드(또는 X 좌표), 및 수직 위치에 따라 부여된 Y-코드(또는 Y 좌표)에 기초하여, 표시 화소들(DPX)과 촬상 데이터(CID)를 1차 매핑할 수 있다.
최대 휘도 검출부(232)는 1차 매핑부(231)에 의해라 각각의 단위 매핑 영역(UMA)에 배열된 복수의 휘도 값들(L(x, y)) 중, 최대 휘도 값(P_L(x, y)) 및 그 위치를 검출한다.
일 실시예에서, 최대 휘도 검출부(232)는 도 8에 도시된 바와 같이, 수평 방향(X축 방향) 및 수직 방향(Y축 방향)에 대하여 각각 하나의 수평 라인(HL) 및 수직 라인(VL)의 휘도 값들(L(x, y))을 비교함으로써, 최대 휘도 값(P_L(x, y)) 및/또는 그 위치를 검출할 수 있다.
예를 들어, 최대 휘도 검출부(232)는 수평 방향 상에서는 상기 수평 방향을 따라 연장된 수평 라인들(HL)(일 예로, 5개의 수평 라인들) 중 단위 매핑 영역(UMA)의 중앙에 위치한 수평 라인(일 예로, 3번째 수평 라인(HL3))의 휘도 값들(L(x, y))(일 예로, L(3,5), L(4,5), L(5,5), L(6,5), L(7,5))을 대상으로 하여, 상기 휘도 값들(L(x, y))을 서로 비교함으로써 수평 방향의 최대 휘도 값 및 그 위치(일 예로, 위치 코드)를 검출할 수 있다. 그리고, 상기 수평 방향의 최대 휘도 값이 배열된 위치의 X-코드를 최대 휘도 값의 X-코드로 선정할 수 있다.
또한, 최대 휘도 검출부(232)는 수직 방향 상에서는 상기 수직 방향을 따라 연장된 수직 라인들(VL)(일 예로, 5개의 수직 라인들) 중 단위 매핑 영역(UMA)의 중앙에 위치한 수직 라인(일 예로, 3번째 수직 라인(VL3))의 휘도 값들(L(x, y))(일 예로, L(5,3), L(5,4), L(5,5), L(5,6), L(5,7))을 대상으로 하여, 상기 휘도 값들(L(x, y))을 서로 비교함으로써 수직 방향의 최대 휘도 값 및 그 위치(일 예로, 위치 코드)를 검출할 수 있다. 그리고, 상기 수직 방향의 최대 휘도 값이 배열된 위치의 Y-코드를 최대 휘도 값의 Y-코드로 선정할 수 있다.
이후, 최대 휘도 검출부(232)는 검출된 X-코드 및 Y-코드를 조합하여 최대 휘도 값(P_L(x, y))의 위치를 검출할 수 있다.
다른 실시예에서, 최대 휘도 검출부(232)는 도 9에 도시된 바와 같이, 각각의 단위 매핑 영역(UMA)에 위치한 휘도 값들(L(x, y)) 전체를 대상으로 하여, 상기 휘도 값들(L(x, y))을 서로 비교함으로써 최대 휘도 값(P_L(x, y)) 및 그 위치(일 예로, 위치 코드)를 검출할 수 있다.
다시 도 6 및 도 7을 참조하면, 최대 휘도 검출부(232)에서 검출된 최대 휘도 값(P_L(x, y))에 대한 정보, 특히 위치 코드는 오프셋 값 설정부(233)로 입력될 수 있다.
오프셋 값 설정부(233)는 최대 휘도 값(P_L(x, y))을 해당 단위 매핑 영역(UMA)의 중앙으로 이동시키기 위한 촬상 데이터(CID)의 오프셋 값을 설정할 수 있다. 일 예로, 오프셋 값은, 각각의 단위 매핑 영역(UMA)에 배열된 최대 휘도 값(P_L(x, y))이 상기 단위 매핑 영역(UMA)의 중앙에 위치하도록, 촬상 데이터(CID)에 포함된 휘도 값들(L(x, y))의 위치 코드를 변경하기 쉬프트 오프셋 값일 수 있다.
예를 들어, 도 7에 도시된 바와 같이 최대 휘도 값(P_L(x, y))이 수평 방향 상에서는 단위 매핑 영역(UMA)의 중앙에 위치하고 수직 방향 상에서는 단위 매핑 영역(UMA)의 중앙보다 한 라인 이전에 위치하였을 경우, 수평 오프셋 값은 0으로 설정되고 수직 오프셋 값은 1로 설정될 수 있다. 이에 따라, 촬상 데이터(CID)의 이동(일 예로, 수평 및/또는 수직 방향을 따른 쉬프트)에 적용될 오프셋 값은 (0, 1)로 설정될 수 있다.
일 실시예에서, 수평 방향의 최대 휘도 값 및 그 위치와, 수직 방향의 최대 휘도 값 및 그 위치를 개별적으로 검출하였을 경우, 수평 방향의 최대 휘도 값이 해당 수평 라인의 중앙에 위치하도록 수평 방향에 대한 오프셋 값을 설정하고, 수직 방향의 최대 휘도 값이 해당 수직 라인의 중앙에 위치하도록 수직 방향에 대한 오프셋 값을 설정할 수 있다. 그리고, 수평 방향 및 수직 방향에 대하여 개별적으로 검출된 오프셋 값들을 조합하여, 최종 오프셋 값을 설정할 수 있다.
오프셋 값 설정부(233)에서 설정된 오프셋 값은 2차 매핑부(234)로 입력될 수 있다.
2차 매핑부(234)는 표시 화소들(DPX) 각각에 대하여 설정된 오프셋 값에 따라 촬상 데이터(CID)를 2차 매핑할 수 있다. 이에 따라, 각각의 표시 화소(DPX)의 휘도 분포 특성에 따라 표시 화소들(DPX)과 촬상 데이터(CID)를 보다 정밀하게 매핑(또는 정렬)할 수 있다.
일 예로, 어느 하나의 표시 화소(DPX)에 대하여 (O, 1)의 오프셋 값이 설정된 경우, 2차 매핑부(234)는 도 7 에 도시된 바와 같이 상기 표시 화소(DPX)에 대응하는 단위 매핑 영역(UMA)에 대하여 촬상 데이터(CID)의 휘도 값들(L(x, y))에 대응하는 위치 코드에서, Y-코드를 +1만큼 변경함으로써, 촬상 데이터(CID)를 Y 축 방향으로 +1 라인만큼 이동시킬 수 있다. 이에 따라, 각각의 단위 매핑 영역(UMA)에서 검출된 최대 휘도 값(P_L(x, y))이 해당 단위 매핑 영역(UMA)의 중앙에 위치할 수 있게 된다.
각각의 단위 매핑 영역(UMA)에 대하여 2차 매핑부(234)에서 2차 매핑된 휘도 값들(L(x, y))은 대표 값 산출부(235)로 입력될 수 있다.
대표 값 산출부(235)는 각각의 단위 매핑 영역(UMA)에 2차 매핑된 휘도 값들(L(x, y))에 기초하여 각각의 표시 화소(DPX)에 대한 휘도 대표 값(RLV)을 산출할 수 있다. 일 예로, 대표 값 산출부(235)는 각각의 단위 매핑 영역(UMA)에 포함된 휘도 값들(L(x, y)) 모두를 합산한 값, 또는 적어도 피크 휘도 값(P_L(x, y))을 포함한 일부의 휘도 값들(L(x, y))을 합산한 값을, 각각의 표시 화소(DPX)에 대한 휘도 대표 값(RLV)으로 설정할 수 있다. 또한, 대표 값 산출부(235)는 주변 표시 화소들(DPX)에 의한 노이즈를 저감 또는 제거하기 위하여, 가우시안 필터(Gaussian Filter) 등을 이용한 가중치 합산 방식을 적용하여, 각각의 표시 화소(DPX)에 대한 휘도 대표 값(RLV)을 설정할 수도 있다. 이외에도 대표 값 산출부(235)는 다른 방식의 대표 값 산출 방식을 이용하여 각각의 표시 화소(DPX)에 대한 휘도 대표 값(RLV)을 산출할 수 있다.
대표 값 산출부(235)에서 생성된 휘도 대표 값(RLV)은 보정 값 생성부(240)로 입력되어, 표시 화소들(DPX)의 특성 편차를 보상하기 위한 휘도 보정 값(LCV)의 생성에 이용될 수 있다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치(100)의 휘도 보상 방법을 나타낸다. 예를 들어, 도 10은 표시 화소들(DPX)의 휘도 편차를 보상하기 위한 휘도 보정 값(LCV)을 설정하는 광학 보상 방법을 단계적으로 나타낸다.
이하에서는, 도 10을 도 1 내지 도 9와 결부하여 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치(100)의 휘도 보상 방법을 설명하기로 한다.
<ST10: 테스트 이미지 표시 단계>
광학 보상을 위하여 먼저 표시 장치(100)를 구동하여 테스트 이미지를 표시한다. 이를 위해, 휘도 보상 장치(200)는 표시 장치(100)로 테스트 이미지 데이터(TID)를 공급할 수 있다. 다른 실시예에서, 표시 장치(100)의 내부에 소정의 테스트 이미지 데이터(TID)가 저장되어 있을 수도 있다.
<ST20: 테스트 이미지 촬상, 및 촬상 데이터 생성 단계>
표시 장치(100)가 테스트 이미지를 표시하는 중에, 표시 장치(100)를 촬상하고, 이에 따라 촬상 데이터(CID)를 생성한다. 예를 들어, 표시 화소들(DPX) 각각에 대하여 복수의 이미지 화소들이 정렬되도록 표시 장치(100)의 정면에 촬상 장치(220)를 배치하고, 표시 장치(100)에서 표시되는 테스트 이미지를 촬상함으로써, 촬상 데이터(CID)를 생성할 수 있다.
일 실시예에서, 촬상 데이터(CID)는, 복수의 이미지 화소들로부터 휘도 값들(L(x, y))을 검출하고, 검출된 휘도 값들(L(x, y))을 상기 복수의 이미지 화소들 각각에 대응하는 위치 코드에 따라 정렬함에 의해 생성될 수 있다. 일 실시예에서, 촬상 데이터(CID)는 촬상 장치(220)에서 생성될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 촬상 데이터(CID)는 이미지 전처리부(230) 또는 별도의 촬상 데이터 생성부에 의해 생성될 수도 있다.
<ST30: 표시 화소와 촬상 데이터 1차 매핑 단계>
촬상 데이터(CID)가 생성되면, 표시 화소들(DPX) 각각에 대응하는 단위 매핑 영역(UMA)이 복수의 이미지 화소들에 대한 휘도 값들(L(x, y))을 포함하도록 표시 화소들(DPX)(또는, 표시 화소들(DPX)에 대응하는 각각의 단위 매핑 영역들(UMA))과 촬상 데이터(CID)를 1차 매핑할 수 있다. 예를 들어, 각각의 표시 화소(DPX)에 대하여 정렬된 복수의 이미지 화소들에 대한 위치 코드를 기준으로 하여, 각각의 단위 매핑 영역(UMA)이 상기 복수의 이미지 화소들에 대한 휘도 값들(L(x, y))을 포함하도록 표시 화소들(DPX)과 이에 대응하는 촬상 데이터(CID)를 1차 매핑할 수 있다.
<ST40: 최대 휘도 값 위치 검출 단계>
1차 매핑이 완료되면, 표시 화소들(DPX) 각각에 대하여 단위 매핑 영역(UMA)에 배열된 휘도 값들(L(x, y)) 중 최대 휘도 값(P_L(x, y)) 및/또는 그 위치를 검출한다.
일 실시예에서, 도 8에 도시된 바와 같이 어느 하나의 수평 라인(HL) 및 수직 라인(VL)에 배열된 휘도 값들(L(x, y))을 대상으로 하여, 수평 방향의 최대 휘도 값 및 수직 방향의 최대 휘도 값을 검출하고, 이에 기초하여 해당 단위 매핑 영역(UMA)에서의 최대 휘도 값(P_L(x, y))의 위치를 검출할 수 있다. 일 예로, 상기 최대 휘도 값(P_L(x, y))의 위치는 수평 방향의 최대 휘도 값의 X-코드 및 수직 방향의 최대 휘도 값의 Y-코드를 가지는 위치 코드에 의해 정의될 수 있다.
다른 실시예에서, 도 9에 도시된 바와 같이 각각의 단위 매핑 영역(UMA)에 배열된 휘도 값들(L(x, y)) 전체를 대상으로 하여 최대 휘도 값(P_L(x, y))을 검출하고, 상기 최대 휘도 값(P_L(x, y))이 배열된 지점의 위치 코드를 검출할 수 있다.
<ST50: 촬상 데이터 오프셋 값 설정 단계>
각각의 단위 매핑 영역(UMA)에 대한 최대 휘도 값(P_L(x, y)) 및/또는 그 위치가 검출되면, 각각의 표시 화소(DPX)에 대한 촬상 데이터(CID)의 오프셋 값을 설정한다. 예를 들어, 표시 화소들(DPX) 각각에 대하여, 해당 단위 매핑 영역(UMA)에 포함된 휘도 값들(L(x, y)) 중 최대 휘도 값(P_L(x, y))이 상기 단위 매핑 영역(UMA)의 중앙에 위치하도록 촬상 데이터(CID)의 오프셋 값을 설정할 수 있다. 일 실시예에서, 오프셋 값은 촬상 데이터(CID)에 포함된 휘도 값들(L(x, y))을 수평 방향 및/또는 수직 방향으로 일정량 이동하기 위한 이동량에 대응하는 값일 수 있다. 한편, 적어도 하나의 단위 매핑 영역(UMA)에서, 최대 휘도 값(P_L(x, y))이 중앙에 위치된 것으로 확인될 경우, 해당 단위 매핑 영역(UMA)에 대응하는 촬상 데이터(CID)가 1차 매핑된 위치에서 이동하지 않도록 오프셋 값이 (0, 0)으로 설정될 수 있다.
<ST60: 표시 화소와 촬상 데이터 2차 매핑 단계>
표시 화소들(DPX) 각각에 대한 오프셋 값이 설정되면, 설정된 오프셋 값에 따라 각각의 표시 화소(DPX)(또는, 이에 대응하는 단위 매핑 영역(UMA))와 촬상 데이터(CID)를 2차 매핑(리매핑 또는 미세 정렬)한다. 예를 들어, 각각의 단위 매핑 영역(UMA)을 중심으로 각각의 오프셋 값에 따라 촬상 데이터(CID)의 휘도 값들(L(x, y))을 이동시켜 상기 단위 매핑 영역(UMA)에 대한 촬상 데이터(CID)의 휘도 값들(L(x, y))을 재정렬할 수 있다.
<ST70: 휘도 대표 값 산출 단계>
2차 매핑이 완료되면, 표시 화소들(DPX) 각각에 대한 휘도 대표 값(RLV)을 산출한다. 예를 들어, 각각의 표시 화소(DPX)에 대응하는 단위 매핑 영역(UMA)에 재정렬된 휘도 값들(L(x, y))의 합산 값 또는 가중치 합산 값을 산출함으로써, 각각의 표시 화소(DPX)에 대한 휘도 대표 값(RLV)을 산출할 수 있다.
<ST80: 휘도 보정 값 설정 단계>
표시 화소들(DPX)에 대한 휘도 대표 값들(RLV)이 산출되면, 표시 화소들(DPX)에 대하여 각각의 휘도 대표 값(RLV)에 대응하는 휘도 보정 값(LCV)을 설정한다. 예를 들어, 각각의 표시 화소(DPX)에 대하여, 휘도 대표 값(RLV)을 소정의 기준 값과 비교하여 휘도 편차를 검출하고, 상기 휘도 편차가 보상되도록 휘도 보정 값(LCV)을 설정할 수 있다.
<ST90: 휘도 보정 값 저장 단계>
표시 화소들(DPX)에 대한 휘도 보정 값들(LCV)이 설정되면, 상기 휘도 보정 값들(LCV)을 표시 장치(100)의 메모리(150)에 저장한다.
표시 장치(100)는, 실 구동 중에 메모리(150)에 저장된 휘도 보정 값들(LCV)에 따라 입력 이미지 데이터를 변환하여 보상 이미지 데이터(CGD)를 생성한다. 또한, 표시 장치(100)는 상기 보상 이미지 데이터(CGD)에 대응하여 데이터 신호를 생성하고, 상기 데이터 신호에 대응하여 표시 화소들(DPX)을 구동한다. 이에 따라, 표시 화소들(DPX)의 휘도를 보정할 수 있다.
특히, 본 발명의 실시예에 따르면, 표시 화소들(DPX) 각각의 휘도 특성에 따라 표시 장치(100)의 광학 보상을 위한 촬상 데이터(CID)를 전처리함으로써, 각각의 표시 화소(DPX)에 대한 광학 보상 값(일 예로, 휘도 보정 값(LCV))을 보다 정확하게 설정할 수 있다. 예를 들어, 본 발명의 실시예에서는 각각의 표시 화소(DPX)(또는, 이에 대응하는 단위 매핑 영역(UMA))에 대하여, 1차 매핑된 이미지 화소들의 휘도 값들(L(x, y))을 상기 표시 화소(DPX)의 휘도 특성(일 예로, 휘도 분포 특성)을 반영하여 보다 정밀하게 매핑(또는 정렬)하기 위한 2차 매핑을 진행함으로써, 각각의 표시 화소(DPX)의 휘도 분포 특성을 반영한 휘도 보정 값(LCV)을 설정할 수 있다.
이에 따라, 표시 화소들(DPX)마다 휘도 분포 특성이 상이할 수 있는 표시 장치(100)(일 예로, 도 3 및 도 4의 실시예들에서와 같이, 각 표시 화소(DPX)의 발광 영역에 복수의 발광 소자들(LD)이 불균일하게 분포될 수 있는 표시 장치)에 대해서도, 표시 장치(100)의 얼룩을 보상하기 위한 광학 보상 성능을 개선할 수 있다. 이에 따라, 표시 장치(100)의 얼룩을 효과적으로 보상하고, 화질을 개선할 수 있다.
본 발명의 기술 사상은 전술한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 변형 예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.
본 발명의 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라, 특허 청구범위에 의해 정해져야만 할 것이다. 또한, 특허 청구범위의 의미 및 범위, 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
10: 휘도 보상 시스템 100: 표시 장치
110: 표시 패널 120: 타이밍 제어부
130: 주사 구동부 140: 데이터 구동부
150: 메모리 160: 보상부
200: 휘도 보상 장치 210: 테스트 이미지 공급부
220: 촬상 장치 230: 이미지 전처리부
231: 1차 매핑부 232: 최대 휘도 검출부
233: 오프셋 값 설정부 234: 2차 매핑부
235: 대표 값 산출부 240: 보정 값 생성부
CID: 촬상 데이터 DPX: 표시 화소
LD: 발광 소자 L(x, y): 이미지 화소의 휘도 값
LCV: 휘도 보정 값 P_L(x, y): 최대 휘도 값
RLV: 휘도 대표 값 UMA: 단위 매핑 영역

Claims (17)

  1. 표시 장치를 촬상하고, 촬상 데이터를 생성하는 단계;
    상기 표시 장치의 표시 화소들 각각에 대응하는 각각의 단위 매핑 영역이, 촬상 장치에 구비된 복수의 이미지 화소들에 대한 휘도 값들을 포함하도록 상기 표시 화소들과 상기 촬상 데이터를 1차 매핑하는 단계;
    상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 휘도 값들 중 최대 휘도 값이 상기 단위 매핑 영역의 중앙에 위치되도록 상기 촬상 데이터의 오프셋 값을 설정하는 단계;
    상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 오프셋 값에 따라 상기 촬상 데이터를 2차 매핑하고, 휘도 대표 값을 산출하는 단계; 및
    상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 휘도 대표 값에 대응하는 휘도 보정 값을 설정하는 단계를 포함하는, 표시 장치의 휘도 보상 방법.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 표시 장치를 촬상하는 단계는,
    상기 표시 장치를 구동하여 테스트 이미지를 표시하는 단계; 및
    상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 복수의 이미지 화소들이 정렬되도록 상기 표시 장치의 정면에 상기 촬상 장치를 배치하고, 상기 테스트 이미지를 촬상하는 단계를 포함하는, 표시 장치의 휘도 보상 방법.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 촬상 데이터를 생성하는 단계는, 상기 복수의 이미지 화소들로부터 상기 휘도 값들을 검출하고, 상기 검출된 휘도 값들을 상기 복수의 이미지 화소들 각각에 대응하는 위치 코드에 따라 정렬하는 단계를 포함하는, 표시 장치의 휘도 보상 방법.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 표시 화소들과 상기 촬상 데이터를 1차 매핑하는 단계는, 각각의 표시 화소에 대하여 정렬된 상기 복수의 이미지 화소들에 대한 위치 코드를 기준으로 하는, 표시 장치의 휘도 보상 방법.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 촬상 데이터의 오프셋 값을 설정하는 단계는,
    상기 단위 매핑 영역의 중앙에 위치한 수평 라인의 휘도 값들을 대상으로 수평 방향의 최대 휘도 값 및 위치를 검출하고, 상기 수평 방향의 최대 휘도 값이 상기 수평 라인의 중앙에 위치하도록 상기 수평 방향에 대한 오프셋 값을 설정하는 단계; 및
    상기 단위 매핑 영역의 중앙에 위치한 수직 라인의 휘도 값들을 대상으로 수직 방향의 최대 휘도 값 및 위치를 검출하고, 상기 수직 방향의 최대 휘도 값이 상기 수직 라인의 중앙에 위치하도록 상기 수직 방향에 대한 오프셋 값을 설정하는 단계를 포함하는, 표시 장치의 휘도 보상 방법.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 촬상 데이터의 오프셋 값을 설정하는 단계는,
    상기 단위 매핑 영역에 배열된 상기 휘도 값들 전체를 대상으로 상기 최대 휘도 값 및 위치를 검출하는 단계; 및
    상기 최대 휘도 값이 상기 단위 매핑 영역의 중앙에 위치하도록 상기 촬상 데이터에 포함된 휘도 값들을 이동하기 위한 상기 오프셋 값을 설정하는 단계를 포함하는, 표시 장치의 휘도 보상 방법.
  7. 제1 항에 있어서,
    상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 오프셋 값에 따라 상기 촬상 데이터를 2차 매핑하는 단계는, 상기 오프셋 값에 따라 상기 촬상 데이터의 휘도 값들을 이동시켜 상기 단위 매핑 영역에 대한 상기 촬상 데이터의 휘도 값들을 재정렬하는 단계를 포함하는, 표시 장치의 휘도 보상 방법.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 휘도 대표 값을 산출하는 단계는, 상기 단위 매핑 영역에 재정렬된 상기 휘도 값들의 합산 값 또는 가중치 합산 값을 산출하는 단계를 포함하는, 표시 장치의 휘도 보상 방법.
  9. 제1 항에 있어서,
    상기 휘도 보정 값을 설정하는 단계는,
    상기 휘도 대표 값을 기준 값과 비교하여 휘도 편차를 검출하는 단계; 및
    상기 휘도 편차가 보상되도록 상기 휘도 보정 값을 설정하는 단계를 포함하는, 표시 장치의 휘도 보상 방법.
  10. 제1 항에 있어서,
    상기 휘도 보정 값을 상기 표시 장치의 메모리에 저장하는 단계; 및
    상기 휘도 보정 값에 따라 입력 이미지 데이터를 변환하여 보상 이미지 데이터를 생성하는 단계를 더 포함하는, 표시 장치의 휘도 보상 방법.
  11. 제10 항에 있어서,
    상기 보상 이미지 데이터에 대응하는 데이터 신호를 생성하는 단계; 및
    상기 데이터 신호에 대응하여 상기 표시 화소들을 구동하는 단계를 더 포함하는, 표시 장치의 휘도 보상 방법.
  12. 이미지 화소들을 포함하며, 표시 장치에서 표시되는 테스트 이미지를 촬상하여 촬상 데이터를 생성하는 촬상 장치;
    상기 촬상 데이터를 이용하여 상기 표시 장치에 구비된 표시 화소들 각각에 대한 휘도 대표 값을 산출하는 이미지 전처리부; 및
    상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 휘도 대표 값에 대응하는 휘도 보정 값을 생성하는 보정 값 생성부를 포함하며,
    상기 이미지 전처리부는,
    상기 표시 화소들 각각에 대응하는 단위 매핑 영역이 상기 이미지 화소들 중 복수의 이미지 화소들에 대한 휘도 값들을 포함하도록 상기 표시 화소들과 상기 촬상 데이터를 1차 매핑하고,
    상기 휘도 값들 중 최대 휘도 값이 상기 단위 매핑 영역의 중앙에 위치하도록 상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 촬상 데이터를 2차 매핑하여 상기 휘도 대표 값을 산출함을 특징으로 하는, 표시 장치의 휘도 보상 장치.
  13. 제12 항에 있어서,
    상기 이미지 전처리부는,
    상기 이미지 화소들의 위치 코드에 기초하여 상기 표시 화소들과 상기 촬상 데이터를 1차 매핑하는 1차 매핑부;
    상기 단위 매핑 영역에 대하여 상기 최대 휘도 값의 위치를 검출하는 최대 휘도 검출부;
    상기 최대 휘도 값을 상기 단위 매핑 영역의 중앙으로 이동시키기 위한 상기 촬상 데이터의 오프셋 값을 설정하는 오프셋 값 설정부;
    상기 오프셋 값에 따라 상기 표시 화소들 각각에 대하여 상기 촬상 데이터를 2차 매핑하는 2차 매핑부; 및
    상기 단위 매핑 영역에 2차 매핑된 휘도 값들에 기초하여 상기 휘도 대표 값을 산출하는 대표 값 산출부를 포함하는, 표시 장치의 휘도 보상 장치.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 최대 휘도 검출부는,
    상기 단위 매핑 영역의 중앙에 위치한 수평 라인의 휘도 값들을 대상으로 수평 방향의 최대 휘도 값 및 위치를 검출하고,
    상기 단위 매핑 영역의 중앙에 위치한 수직 라인의 휘도 값들을 대상으로 수직 방향의 최대 휘도 값 및 위치를 검출하는, 표시 장치의 휘도 보상 장치.
  15. 제13 항에 있어서,
    상기 최대 휘도 검출부는, 상기 단위 매핑 영역에 위치한 상기 휘도 값들 전체를 대상으로 상기 최대 휘도 값 및 위치를 검출하는, 표시 장치의 휘도 보상 장치.
  16. 제12 항에 있어서,
    상기 촬상 장치는, 상기 이미지 화소들에 대한 휘도 값들을 검출하고, 상기 이미지 화소들의 위치에 대응하여 상기 이미지 화소들의 휘도 값들을 정렬하여 상기 촬상 데이터를 생성하는, 표시 장치의 휘도 보상 장치.
  17. 제12 항에 있어서,
    상기 표시 장치로 테스트 이미지 신호를 공급하기 위한 테스트 이미지 공급부를 더 포함하는, 표시 장치의 휘도 보상 장치.
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