CH268200A - Atztiefen-Prüfapparat für Buchdruckklischees. - Google Patents

Atztiefen-Prüfapparat für Buchdruckklischees.

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CH268200A
CH268200A CH268200DA CH268200A CH 268200 A CH268200 A CH 268200A CH 268200D A CH268200D A CH 268200DA CH 268200 A CH268200 A CH 268200A
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CH
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etching depth
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needle
depth test
luminous element
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Inventor
Christen Josef
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Christen Josef
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/18Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring depth

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description


  
 



  Ätztiefen-Prüfapparat für   Buchdruckklischees.   



   Es sind Ätztiefen-Prüfapparate bekannt, welche eine   zuni    Abtasten des Klischees bestimmte, mit einer Messuhr zusammenwirkende Nadel und eine Sammellinse aufweisen, deren optische Achse auf die Nadelspitze gerichtet ist.



   Bei den hohen Anforderungen, die an die visuelle   Beobachümg    beim Anvisieren der Ätztiefe gestellt werden, steht im Arbeitsraum nicht immer die nötige Beleuchtungsstärke an der Beobachtungsstelle zur Verfügung.



     Der    Gegenstand der   Erfindung    betrifft nun einen Ätztiefen-Prüfapparat, bei dessen Anwendung man von der   Beleuchtung    im Ar  beitsraume    unabhängig ist   iiiid    der eine   znm    Abtasten der Ätztiefe des Klischees bestimmte, mit einer Messuhr zusammenwirkende Nadel aufweist, und eine an dem Apparat   angeord-    nete Sammellinse, deren optische   Aehse    auf die Nadelspitze gerichtet ist, wenn sieh letztere in der Prüflage befindet. Der Ätztiefen-Prüfapparat   na eh    der Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass er mit einer Beleuchtungs- einrichtung zur Beleuchtung der Nadelspitze wenigstens in der Prüflage derselben ausgerüstet ist.



     Die      Sammellinse    kann   beispielsweise    an dem Gestell des Prüfapparates angeordnet sein.



   In der   Zeichnung    ist eine Ausführungsform des Erfindungsgegenstandes beispielsweise dargestellt, und   nvar    zeigt:
Fig. 1 den Seitenriss eines Ätztiefen-Prüfapparates,   zuin    Teil im Schnitt nach der Schnittlinie   I-I    in Fig. 3,
Fig. 2 die Ansieht des Apparates von vorn und
Fig. 3 den Grundriss im Schnitt nach der Schnittlinie III-III in Fig. 1.



   Eine   Messuhr    1 ist mittels eines Halses 2 in einer auf Tragbolzen 3 ruhenden Platte 4 befestigt. An der Messuhr ist ein Arm 5 angebracht, der an seinem freien Ende gegabelt ist.   In    der Gabelung ist ein Hebel 6   sehwenk-    bar gelagert, mit   welchem    die Messspindel 7 der Messuhr angehoben werden kann. Der Hebel 6 kann in der angehobenen Stellung der Messspindel mittels eines in dem Arm 5 geführten Stützstiftes 8, dessen   abgebogenes    Ende über die an dem Apparat vorgesehene Raste 9 verschwenkt werden kann, arretiert werden.



   Am unten Ende der Messspindel 7 ist ein Klemmkopf 10 für die Prüfnadel 11 vorgesehen. Die Messspindel 7 steht nnter dem Einfluss ihres Eigengewichtes und ist deshalb bestrebt, sieh nach   lunten    zu bewegen, wobei sie den Hebel 6 in die strichpunktiert   angedeu-    tete Lage zieht. Die Spitze der Nadel 11 dringt bei der Abwärtsbewegung durch einen Schlitz 12 im Fuss 13, welch letzterer z. B. aus einem durchsichtigen Kunststoff hergestellt sein kann. Der Fuss ist auf das strichpunktiert dargestellte Klischee 14 aufgesetzt. Die Nadel  befindet sieh in der Prüflage, wenn ihre Spitze das Klischee berührt.



   Die Lupe 15 besteht   aus    einer einfachen   Sammellinse,    deren optische Achse auf die Spitze der Nadel 11 gerichtet ist, wenn sich letztere in der Prüflage befindet. Die Lupe ist mittels eines Tragarmes 20 an der Platte 4 be  festigt;    sie könnte beispielsweise auch an der beweglichen Messspindel 7 angeordnet sein.



   Der Ätstiefen-Prüfapparat weist eine Bcleuchtungseinrichtung zur   Beleuehtlng    der Nadelspitze in der Prüflage auf; sie besteht aus dem an dem Apparat angeordneten Leuchtkörper 16, einer in den Röhren 17 und 18 untergebrachten elektrischen Batterie und dem als Druekknopfschalter 19 ausgebildeten Schaltorgan.



   Es könnten auch mehrere   Leuchtkörper    vorgesehen sein. Es wäre auch denkbar, das Licht des Leuchtkörpers mittels einer Linse oder mittels eines Reflektors auf die Spitze der Nadel 11   zti    werfen.



   Bei der Benützung des vorbeschriebenen Apparates wird derselbe vorerst mit hochgezogener,   arretierter    Messspindel. 7 auf das zu prüfende Klischee aufgesetzt, hierauf wird die Arretierung gelöst und die Messspindel ver  mittels    des   HelJels    6 sorgfältig   heruntergelas-    sen, bis die Nadelspitze z. B. auf die obere Grenzschicht des Klischees auftrifft. Hierauf wird auf der Messuhr abgelesen. Mit Hilfe der Lupe 15 und der Beleuchtungseinrichtung werden alsdann die verschiedenen Ätztiefen   mit    der Nadel abgetastet, wobei die jeweiligen Zeigerstellungen auf der Messuhr abgelesen werden. Die Differenz dieser   Ablesungen    mit der Ablesung auf der Grenzschicht ergibt   dann    die örtliche Ätztiefe.   

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH: Ätztiefen-Prüfapparat für Buchdruckklischees, welcher eine zum Abtasten der Ätztiefe des Klischees bestimmte, mit einer Messuhr zusammenwirkende Nadel und eine an dem Xp- parat angeordnete Sammellinse aufweist, deren optische Achse auf die Nadelspitze gerichtet ist, wenn sich letztere in der Prüflage befindet, dadurch gekennzeichnet, dass eine Beleuchtungseinrichtung zur Beleuchtung der Nadelspitze wenigstens in der Prüflage deren selben vorgesehen ist.
    UNTERANSPRÜCHE: 1. Ätztiefen-Prüfapparat nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Sammellinse an dem Gestell des Prüfapparates angeordnet ist.
    2. Ätztiefen-Prüfapparat nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Beleuchtungseinrichtung aus mindestens einem an den Prüfapparat angeordneten Leuchtkör- per, einer elektrischen Batterie und einem Schaltorgan besteht.
    3. Ätztiefen-Prüfapparat nach Patentanspruch und Unteranspruch 2, dadurch gelSelln zeichnet, dass der Leuchtkörper mit einer Sammellinse zusammenwirkt, deren optische Achse in der Prüflage der Nadel auf die Nadelspitze gerichtet ist.
    4. Ätztiefen-Prüfapparat nach Patenten- spruch und Unteranspruch 2, dadurch gekenn- zeichnet, dass der Leuchtkörper mit einem Reflektor zusanuuemvirkt, der das Licht des Lenchtkörpers in der Prüflage der Nadel auf die Nadelspitze wirft.
    5. Ätztiefen-Prüfapparat nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das Gestell einen Fuss zum Aufstellen des Apparates auf das zu prüfende Klischee aufweist, weleher mit einem Sehlitz für den Durchtritt der Prüfnadel versehen ist.
    6. Ätztiefen-Prüfapparat nach Patentanspruch und Unteransruch 5, dadurch gekenn- zeichnet, dass der Fuss aus einer durebsicli- tigen Platte besteht.
CH268200D 1949-09-19 1949-09-19 Atztiefen-Prüfapparat für Buchdruckklischees. CH268200A (de)

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ID=4476786

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CH (1) CH268200A (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2976615A (en) * 1957-05-15 1961-03-28 Arnold L Imshaug Apparatus for checking dimensional characteristics of printing plates
FR2722282A1 (fr) * 1994-07-06 1996-01-12 Sorem Industrie Detecteur d'engravement mecanique pour bassins de dessablement

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2976615A (en) * 1957-05-15 1961-03-28 Arnold L Imshaug Apparatus for checking dimensional characteristics of printing plates
FR2722282A1 (fr) * 1994-07-06 1996-01-12 Sorem Industrie Detecteur d'engravement mecanique pour bassins de dessablement

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