BRPI1010513B1 - processos de produção de um alvo por projeção térmica - Google Patents
processos de produção de um alvo por projeção térmica Download PDFInfo
- Publication number
- BRPI1010513B1 BRPI1010513B1 BRPI1010513A BRPI1010513A BRPI1010513B1 BR PI1010513 B1 BRPI1010513 B1 BR PI1010513B1 BR PI1010513 A BRPI1010513 A BR PI1010513A BR PI1010513 A BRPI1010513 A BR PI1010513A BR PI1010513 B1 BRPI1010513 B1 BR PI1010513B1
- Authority
- BR
- Brazil
- Prior art keywords
- target
- projection
- fact
- compound
- plasma
- Prior art date
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 37
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 64
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 56
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 43
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims abstract description 41
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 26
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 claims abstract description 23
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000004320 controlled atmosphere Methods 0.000 claims abstract description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 35
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 27
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 26
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 26
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 12
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 12
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 7
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 claims description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 39
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 22
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 19
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 14
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 13
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 11
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 11
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 10
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 10
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 9
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 9
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 9
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 9
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 9
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 8
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 8
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 8
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 7
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 7
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 7
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 7
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 6
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910052702 rhenium Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000001033 granulometry Methods 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- ZKATWMILCYLAPD-UHFFFAOYSA-N niobium pentoxide Chemical compound O=[Nb](=O)O[Nb](=O)=O ZKATWMILCYLAPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 5
- LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N Beryllium oxide Chemical compound O=[Be] LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N Magnesium oxide Chemical compound [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910000963 austenitic stainless steel Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 4
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 4
- GNTDGMZSJNCJKK-UHFFFAOYSA-N divanadium pentaoxide Chemical compound O=[V](=O)O[V](=O)=O GNTDGMZSJNCJKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 4
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 4
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 4
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910018565 CuAl Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910000943 NiAl Inorganic materials 0.000 description 3
- NPXOKRUENSOPAO-UHFFFAOYSA-N Raney nickel Chemical compound [Al].[Ni] NPXOKRUENSOPAO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 3
- 239000010431 corundum Substances 0.000 description 3
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 3
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 3
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 3
- -1 for example Substances 0.000 description 3
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(III) oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 3
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 3
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000007750 plasma spraying Methods 0.000 description 3
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 3
- WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N rhenium atom Chemical compound [Re] WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N vanadium Chemical compound [V]#[V] GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 3
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 3
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 3
- RUDFQVOCFDJEEF-UHFFFAOYSA-N yttrium(III) oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Y+3].[Y+3] RUDFQVOCFDJEEF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910000549 Am alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000640 Fe alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003082 abrasive agent Substances 0.000 description 2
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 2
- CXKCTMHTOKXKQT-UHFFFAOYSA-N cadmium oxide Inorganic materials [Cd]=O CXKCTMHTOKXKQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CETPSERCERDGAM-UHFFFAOYSA-N ceric oxide Chemical compound O=[Ce]=O CETPSERCERDGAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000422 cerium(IV) oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 2
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 2
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- CJNBYAVZURUTKZ-UHFFFAOYSA-N hafnium(IV) oxide Inorganic materials O=[Hf]=O CJNBYAVZURUTKZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N lanthanum oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[La+3].[La+3] MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- KTUFCUMIWABKDW-UHFFFAOYSA-N oxo(oxolanthaniooxy)lanthanum Chemical compound O=[La]O[La]=O KTUFCUMIWABKDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N palladium Substances [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Substances [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 229910000753 refractory alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010944 silver (metal) Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 2
- PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N tantalum pentoxide Inorganic materials O=[Ta](=O)O[Ta](=O)=O PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N titanium dioxide Inorganic materials O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 2
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000851 Alloy steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002535 CuZn Inorganic materials 0.000 description 1
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001182 Mo alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910015269 MoCu Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000691 Re alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000629 Rh alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002370 SrTiO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001093 Zr alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- NPNMHHNXCILFEF-UHFFFAOYSA-N [F].[Sn]=O Chemical compound [F].[Sn]=O NPNMHHNXCILFEF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DBLPTVFDQHASKI-UHFFFAOYSA-N [O-2].[O-2].[Zn+2].[Mo+2]=O Chemical compound [O-2].[O-2].[Zn+2].[Mo+2]=O DBLPTVFDQHASKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005270 abrasive blasting Methods 0.000 description 1
- 229910052833 almandine Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004645 aluminates Chemical class 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- CFEAAQFZALKQPA-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Cd+2] CFEAAQFZALKQPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 229910052729 chemical element Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007385 chemical modification Methods 0.000 description 1
- VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N chromium nickel Chemical compound [Cr].[Ni] VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 239000002361 compost Substances 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000005474 detonation Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 1
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 1
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 1
- 239000002223 garnet Substances 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910000476 molybdenum oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001120 nichrome Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 1
- WMHSAFDEIXKKMV-UHFFFAOYSA-N oxoantimony;oxotin Chemical compound [Sn]=O.[Sb]=O WMHSAFDEIXKKMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PQQKPALAQIIWST-UHFFFAOYSA-N oxomolybdenum Chemical compound [Mo]=O PQQKPALAQIIWST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 239000011819 refractory material Substances 0.000 description 1
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 1
- 239000002893 slag Substances 0.000 description 1
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 238000002411 thermogravimetry Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F7/00—Manufacture of composite layers, workpieces, or articles, comprising metallic powder, by sintering the powder, with or without compacting wherein at least one part is obtained by sintering or compression
- B22F7/06—Manufacture of composite layers, workpieces, or articles, comprising metallic powder, by sintering the powder, with or without compacting wherein at least one part is obtained by sintering or compression of composite workpieces or articles from parts, e.g. to form tipped tools
- B22F7/08—Manufacture of composite layers, workpieces, or articles, comprising metallic powder, by sintering the powder, with or without compacting wherein at least one part is obtained by sintering or compression of composite workpieces or articles from parts, e.g. to form tipped tools with one or more parts not made from powder
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F3/00—Manufacture of workpieces or articles from metallic powder characterised by the manner of compacting or sintering; Apparatus specially adapted therefor ; Presses and furnaces
- B22F3/115—Manufacture of workpieces or articles from metallic powder characterised by the manner of compacting or sintering; Apparatus specially adapted therefor ; Presses and furnaces by spraying molten metal, i.e. spray sintering, spray casting
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
- C23C14/3414—Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/35—Sputtering by application of a magnetic field, e.g. magnetron sputtering
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C4/00—Coating by spraying the coating material in the molten state, e.g. by flame, plasma or electric discharge
- C23C4/04—Coating by spraying the coating material in the molten state, e.g. by flame, plasma or electric discharge characterised by the coating material
- C23C4/06—Metallic material
- C23C4/08—Metallic material containing only metal elements
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C4/00—Coating by spraying the coating material in the molten state, e.g. by flame, plasma or electric discharge
- C23C4/04—Coating by spraying the coating material in the molten state, e.g. by flame, plasma or electric discharge characterised by the coating material
- C23C4/10—Oxides, borides, carbides, nitrides or silicides; Mixtures thereof
- C23C4/11—Oxides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C4/00—Coating by spraying the coating material in the molten state, e.g. by flame, plasma or electric discharge
- C23C4/12—Coating by spraying the coating material in the molten state, e.g. by flame, plasma or electric discharge characterised by the method of spraying
- C23C4/134—Plasma spraying
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C4/00—Coating by spraying the coating material in the molten state, e.g. by flame, plasma or electric discharge
- C23C4/12—Coating by spraying the coating material in the molten state, e.g. by flame, plasma or electric discharge characterised by the method of spraying
- C23C4/137—Spraying in vacuum or in an inert atmosphere
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/34—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
- H01J37/3411—Constructional aspects of the reactor
- H01J37/3414—Targets
- H01J37/3426—Material
- H01J37/3429—Plural materials
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/34—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
- H01J37/3488—Constructional details of particle beam apparatus not otherwise provided for, e.g. arrangement, mounting, housing, environment; special provisions for cleaning or maintenance of the apparatus
- H01J37/3491—Manufacturing of targets
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0224—Electrodes
- H01L31/022408—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/022425—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F2998/00—Supplementary information concerning processes or compositions relating to powder metallurgy
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F2999/00—Aspects linked to processes or compositions used in powder metallurgy
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02T—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO TRANSPORTATION
- Y02T50/00—Aeronautics or air transport
- Y02T50/60—Efficient propulsion technologies, e.g. for aircraft
Abstract
processos de produção de um alvo por projeção térmica processo de produção de um alvo por projeção térmica, notadamente por projeção de plasma, o referido alvo compreendendo pelo menos um composto escolhido pelos metais refratários, os óxidos resistivos, os óxidos voláteis caracterizado pelo fato de que se projeta por projeção térmica sobre pelo menos uma porção de superfície do alvo, pelo menos uma fração do referido composto sob a forma de uma composição de pó do referido composto, sob atmosfera controlada, e pelo fato de que se utilizam jatos resfriadores criogênicos potentes dirigidos para o alvo durante a sua construção.
Description
“PROCESSOS DE PRODUÇÃO DE UM ALVO POR PROJEÇÃO TÉRMICA” [0001] A presente invenção refere-se um processo de elaboração de um alvo destinado a ser utilizado nos processos de depósito sob vácuo, em atmosfera neutra ou reativa, notadamente por pulverização catódica assistida por campo magnético, por pulverização ou por fonte de íons.
[0002] De acordo com outro aspecto da invenção, ela visa igualmente um alvo suscetível de ser obtida eventualmente pela produção do referido processo, bem como a utilização de tal alvo em vista da obtenção de camadas à base do material pulverizado a partir do referido alvo, assim como uma composição do composto permitindo a elaboração do referido alvo pelo processo objeto da invenção.
[0003] Conhecem-se diversas técnicas conduzindo à fabricação de alvos das quais algumas a partir da conformação de pós. Assim, os alvos em questão podem resultar de um processo de fundição (no caso de alvos metálicos), sinterização de pós seguido por técnicas de conformação (no caso de alvos metálicos), com freqüência a quente depois de montagem sobre um suporte, ou diretamente de montagem de segmentos sinterizados, ou menos classicamente de uma técnica de projeção térmica, e mais particularmente uma técnica de projeção por maçarico de plasma (ou geralmente chamado plasma spray em inglês).
[0004] Estes alvos são destinados a ser realizados no núcleo de processos correntemente empregados em escala industrial para o depósito de camadas finas, notadamente sobre substrato vítreo, como, por exemplo, o processo de pulverização catódico assistido por campo magnético, chamado processo “magnetron”. Neste processo, um plasma é criado sob um vácuo dirigido na proximidade de um alvo compreendendo os elementos químicos a depositar. As espécies ativas do plasma, bombardeando o alvo, arrancam os referidos elementos, que se depositam sobre o substrato formando a camada fina desejada.
[0005] No caso específico de um alvo destinado ao depósito de molibdênio, utiliza-se um processo de depósito dito “não reativo” onde o plasma é composto unicamente de um gás assegurando a pulverização, preferivelmente um gás nobre de tipo Ar, Kr, Xe ou Ne. Este processo é realizado para substratos de grande
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 5/34
2/25 dimensão e pode permitir o depósito de camadas finas sobre substratos, por exemplo, folhas de vidro plano, com mais de 6 m de lado.
[0006] Estes alvos são de geometria plana ou tubular.
[0007] Os alvos planos oferecem a vantagem de poder ser integrados em cátodos de arquitetura relativamente simples em relação aos cátodos dedicados aos alvos giratórios que são muito mais complexos, em contrapartida os alvos planos têm uma taxa de utilização que é geralmente inferior ou igual a 50%, o que não é o caso dos alvos giratórios tendo uma taxa de utilização nitidamente superior a 50%.
[0008] No caso específico das camadas finas de metal refratário como, por exemplo, o tungstênio ou o molibdênio, este último sendo um metal particularmente caro, utiliza-se preferivelmente alvos giratórios, de geometria cilíndrica, como descrito na patente US4356073 porque estes alvos apresentam um rendimento de matéria (que representa a proporção de material pulverizado em relação à quantidade de material disponível sobre o alvo para realizar uma camada fina) superior a 70%, preferivelmente superior a 75%. No entanto, conhecem-se também outras geometrias variadas de alvos magnetron: planos (discos, quadrados, retangulares) e a invenção é igualmente aplicável a outras geometrias que o cilindro.
[0009] Além disso, existem igualmente outros processos de depósito sob vácuo alternativos com pulverização magnetron e utilizando um alvo: trata-se da pulverização por laser (pulsado ou não: ablação laser), da pulverização por feixe de íons, por exemplo. Estes processos podem igualmente tirar vantagem da utilização de um alvo de acordo com a invenção.
[0010] Com referência mais particularmente aos alvos magnetrons de molibdênio ou de outros metais refratários, numerosas invenções foram depositadas, relacionadas com os processos seguintes e sendo objeto dos pedidos de patente enumerados abaixo:
[0011] - Pedidos EP1784518 - US20080193798 - WO2006/041730:
[0012] Prensagem depois sinterização de um lingote ou uma preforma (sob uma pressão de 200 a 250 MPa e a uma temperatura de 1780 a 2175 °C) em seguida conformação a quente (cerca de 900°C) desta preforma por laminação ou extrusão,
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 6/34
3/25 ou trabalho de forja. Geralmente este processo compreende igualmente um tratamento térmico sob hidrogênio ou atmosfera redutora para redução da taxa de óxido no alvo, bem como eventualmente recozido de relaxação de tensões.
[0013] - Conhece-se, além disso, pelo pedido WO2006117145, a construção em totalidade ou em parte, ou a restauração de alvos por projeção de tipo “cold spray”, que consiste na projeção de uma mistura gás + pó levada a uma velocidade supersônica, o pó não sendo levado a um estado de fusão, o que difere dos processos de projeção térmica.
[0014] Nos casos específicos das camadas finas à base de óxido resistivo, estes últimos são obtidos geralmente a partir da pulverização magnetron reativa de alvos metálicos e realizando a oxidação do material in situ pela pressão parcial de oxigênio introduzido na câmara de depósito ou a partir da pulverização em modo RF de um alvo metálico ou cerâmico.
[0015] Com efeito, o processo de pulverização magnetron CC (corrente contínua) supõe que o material do alvo permita a evacuação das cargas elétricas na sua superfície. Isto exclui habitualmente os alvos cerâmicos de composições resistivas.
[0016] A invenção permite realizar alvos magnetron à base de óxidos ditos resistivos, com a vantagem de reduzir muito a sua resistividade pela introdução de lacunas de oxigênio de modo a permitir uma utilização do alvo em modo de pulverização CC (corrente contínua) e não reativo.
[0017] A pulverização em modo CC (corrente contínua) não reativa torna-se então possível e permite as vantagens seguintes:
[0018] - processo mais estável (sem histereses em pressão de oxigênio, sem instabilidade ligada à formação de um filme resistivo em superfície do alvo inicialmente condutor, fonte de arcos parasitas) [0019] - velocidades de pulverizações mais elevadas (tipicamente multiplicadas por um fator 1,3 a 3 conforme o caso) tornadas possíveis pelo modo magnetron CC não reativo.
[0020] Tais alvos podem ser realizáveis, para certas composições por
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 7/34
4/25 sinterização sob atmosfera redutora. A invenção permite realizar tais alvos com as maiores vantagens ligadas à elaboração por projeção plasma, a saber:
[0021] - possibilidade de realizar alvos cilíndricos de grandes dimensões monolíticas [0022] - possibilidade sobre estes alvos de realizar sobre-espessuras locais nas extremidades (“dog-bones”) [0023] - excelente ligação ao tubo suporte sem fase intermediária fundível o que permite a utilização dos alvos sob as potências mais fortes, portanto, velocidade de deposição de camada fina mais elevadas.
[0024] Nos casos específicos das camadas finas à base de óxido resistivo, estes últimos são obtidos geralmente a partir da pulverização de alvos elaborados a partir de um processo de sinterização. A peça monolítica sinterizada é em seguida destinada a ser brasada sobre um suporte de alvo no caso de alvos de pequenas dimensões, ou sinterização de segmentos ou de telhas as quais serão em seguida justapostas quando da operação de ligação sobre o suporte de alvo no caso de alvos de grandes tamanhos (conduzindo então a alvos com juntas).
[0025] A via da projeção térmica (notadamente de projeção plasma), utilizada para AZO (pode-se fazer referência a JP701433 e/ou JP7026373) e/ou a US20070137999 para fabricação à base de ITO, comporta no caso destes materiais, a deficiência de apresentar baixais rendimentos de matéria pelo fato de que a vaporização do material projetado traduz-se diretamente em perdas de materiais.
[0026] O processo objeto da invenção permite:
[0027] - minimizar estas perdas e tornar o processo viável para estas composições [0028] - reduzir as tensões internas nos alvos elaborados pelo processo em questão, sem necessidade de aumentar a porosidade, o que permite construir alvos tendo espessuras maiores que as do estado da arte por projeção plasma (por exemplo, 6 mm para AZO).
[0029] A presente invenção interessa-se por um processo de produção de um alvo à base de um composto escolhido notadamente entre metais refratários, ou
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 8/34
5/25 óxidos resistivos, ou óxidos voláteis, por pulverização de plasma que oferece desempenhos em utilização pelo menos iguais, ou mesmo superiores aos obtidos por processos de fabricação tradicional.
[0030] No sentido da invenção, entende-se por “óxidos resistivos” a família de óxido cuja resistividade em volume é superior a 105O.cm a 25°C, óxidos entre os quais se podem citar as famílias seguintes:
Óxidos a estrutura de tipo perovsquita de fórmula de tipo ABO3 onde A e B são elementos ou conjuntos de elementos tais que a soma de valências ou dos elementos constituindo A e de valência do ou dos elementos constituindo B seja igual a 6. Podem-se listar as famílias de elementos seguintes constituindo A e B:
• Valência de 1 (K, Rb,.) associado a um elemento de valência 5 (Nb, Ta, V, ...) • Valência de 2 (Sr, Ba, Pb,.) associado um elemento de valência 4 (Ti, Zr, Hf, Sn, Ge, Ce...) • Valência de 3 (La, Y, Sc, Bi, .) [0031] A título de exemplo, encontram-se nesta família os óxidos seguintes:
[0032] - Titanatos como BaTiO3, SrTiO3, Pb(Zr53TÍ4?)O3. O BaTiO3 apresenta um resistividade em volume da ordem de 109O.cm a temperatura ambiente.
[0033] - Niobatos como PMN (Pb (Mgi/3Nb2/3)O3),
Óxidos a estrutura de tipo columbita/Tri-rutilo de tipo AB2O6:
[0034] onde B é Nb ou Ta e A é um elemento valência 2 (Sr, Ba, Pb,.) ou uma seleção destes elementos.
[0035] A título de exemplo, pode-se citar o niobato SBN (Sr, Ba) NbO6.
Óxidos refratários e resistivos:
[0036] Outros óxidos tais como Ta2O5, Nb2O5, V2O5, ZrO2, HfO2, CeO2, Y2O3, Al2O3, La2O3, MgO, BeO,. apresentam igualmente uma elevada resistividade em volume em temperatura ambiente, superior a 105O.cm a 25°C.
[0037] Compostos mistos destes óxidos são referidos igualmente como:
[0038] - soluções sólidas (Ta2O5-Nb2O5), [0039] - compostos (ALO3-Y2O3), YAG, por exemplo, LaAO3 (aluminato de
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 9/34
6/25 lantânio).
[0040] - compostos de tipo DxTyOz onde D = Zr, Hf, Ce, Ti e onde T= Al, Y, La, por exemplo, titanato de lantânio (LaTiOx) [0041] - compostos DxTyVvOz onde D = Zr, Hf, Ce, onde T= Al, Y, e onde V = Ta,
Nb, ou V, por exemplo, (ZrAlNb)Ox [0042] No sentido da invenção, entende-se por “óxidos voláteis” a família de óxidos cujas temperaturas de início de vaporização Tvap e de fusão Tf respondem ao critério seguinte:
Tvap < Tf + 400 °C [0043] Entre estes óxidos, podem-se citar os óxidos puros seguintes, com os valores das temperaturas de fusão (proveniente da literatura) e início de vaporização (provenientes da literatura ou determinados por análise termogravimétrica ATG):
Óxidos | Tf (oC) | Tvap (oC) |
ZnO | 1975 | - 1430 |
SnO2 | 1630 | - 1800-1900 |
BaO | 1918 | - 2000 |
CdO | 1500 | - 1000 |
In2O3 | 1910 | - 850 |
MoOs | 795 | - 1155 |
Compostos | ||
ITO | 1900 | - 2000 |
[0044] Podem-se citar igualmente os compostos derivados dos óxidos puros seguintes como:
[0045] - AZO (óxido de zinco dopado com alumina) [0046] - MZO (óxido de zinco - óxido de molibdênio) [0047] - GZO (óxido de zinco dopado com Gálio) [0048] - ATO (óxido de estanho - óxido de antimônio) [0049] - FTO (óxido de estanho - Flúor)
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 10/34
7/25 [0050] Bem como as misturas destes óxidos como, por exemplo, o óxido misto de estanho e de zinco.
[0051] No sentido da invenção, entende-se por metais refratários, os metais escolhidos entre a lista dos metais refratários: tungstênio, tântalo, nióbio, titânio, vanádio, háfnio, zircônio, rênio, ródio [0052] bem como as ligas refratárias definidas pelo fato de que são constituídos de uma liga AB onde:
[0053] A e B pertencem à lista de elementos seguinte: Mo, W, Ta, Nb, Ti, V, Hf, Zr, Re, Rh [0054] Bem como às ligas de tipo AM onde:
[0055] A pertence à lista: Mo, W, Ta, Nb, Ti, V, Hf, Zr, Re [0056] M pertence à lista: Co, Ni, Rh, Pd, Pt, Cu, Ag, Au [0057] Para esse efeito, o processo de produção, objeto da invenção, de um alvo por projeção térmica, notadamente por projeção plasma por meio de um maçarico de plasma, o referido alvo compreendendo pelo menos um composto escolhido entre metais refratários, ou óxidos resistivos, ou óxidos voláteis, caracterizado pelo fato de que se projeta por projeção térmica sobre pelo menos uma porção de superfície do alvo, pelo menos uma fração do referido composto sob a forma de uma composição de pó do referido composto, sob atmosfera controlada, e pelo fato de que se utiliza jatos resfriadores eventualmente criogênicos potentes dirigidos para o alvo durante a sua construção e divididos em torno do maçarico.
[0058] Lembra-se que são, por definição, considerados como criogênicos os fluidos cuja temperatura é inferior ou igual a -150°C.
[0059] A utilização durante a projeção a plasma de jatos resfriadores criogênicos (jatos de líquido criogênicos ou jatos mistos gás/líquido criogênicos ou jatos de gases criogênicos) permite melhorar a qualidade do alvo assegurando uma tripla função:
[0060] - resfriamento imediato da zona projetada destruindo, por si mesmo, qualquer possibilidade de modificação química para os compostos refratários e para os óxidos resistivos, do material projetado,
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 11/34
8/25 [0061] - uma limpeza potente da superfície projetada a fim de assegurar uma excelente coesão limpa entre as partículas e as passagens sucessivas, [0062] - em reduzir as tensões internas aumentando ao mesmo tempo o rendimento de material.
[0063] Além disso, a utilização de um maçarico de plasma e de uma mistura de gás plasmagênico permite obter uma forte redução em vôo das partículas de pó projetadas, reduzindo assim a taxa de oxigênio presente no alvo em comparação com a presente no pó (Toc < Top onde Toc é a taxa de oxigênio presente no alvo e Top é a taxa de oxigênio presente no pó), para os compostos refratários ou os compostos resistivos.
[0064] Por outro lado, o processo objeto da invenção comporta os aspectos seguintes, mais clássicos:
[0065] - realiza-se um movimento relativo entre o maçarico de plasma e o alvo, [0066] - realiza-se uma preparação de superfície do alvo previamente ao depósito do composto, [0067] - a preparação de superfície comporta uma etapa de jato de abrasivos (geralmente chamado jato de areia) sobre a porção de superfície do alvo em questão ou alternativamente uma etapa de usinagem de estrias adaptadas à fixação da sub-camada, [0068] - a preparação de superfície comporta em seguida da projeção de uma camada de um material de fixação (sub-camada) ao nível da porção de superfície do alvo em questão, [0069] Em outros modos de produção da invenção, pode-se eventualmente ter recurso, além disso, a uma e/ou a outra das disposições seguintes:
[0070] - a projeção do composto refratário e resistivo é realizada no núcleo de uma câmara purgada ou enxaguada depois cheia com um gás inerte, até a uma pressão podendo ir de 50 mbars a 1.100 mbars, de modo a criar no seu núcleo uma atmosfera empobrecida em oxigênio, [0071] - a totalidade ou parte dos jatos resfriadores são de caráter oxidante, [0072] - utiliza-se uma sub-camada de fixação, esta última sendo depositada
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 12/34
9/25 antes de projeção térmica do referido composto ao nível da porção de superfície do alvo em questão, [0073] - procede-se a uma regulação térmica do alvo quando da projeção de plasma, [0074] - utiliza-se uma composição de pó do referido composto projetada comportando pós de granulometria 5 < D10 <50 pm; 25 pm < D50 < 100 pm e 40 pm < D90 < 200 pm, [0075] - ele comporta uma etapa subsequente de tratamento térmico sob atmosfera redutora visando reduzir a taxa de oxigênio presente no alvo proveniente da etapa de projeção térmica, [0076] - utilizam-se vários injetores do referido composto para injetar em diferentes pontos do jato térmico diferentes materiais para os quais se ajustam independentemente os parâmetros de injeção em função dos materiais injetados em cada injetor.
[0077] De acordo com outro aspecto da invenção, esta visa um alvo suscetível de ser elaborado eventualmente pelo processo objeto da invenção e destinado a ser utilizado em um dispositivo de pulverização catódica, notadamente assistida por campo magnético, ou em qualquer outro dispositivo de pulverização sob vácuo a partir de um alvo, o referido alvo compreendendo na maior parte um composto escolhido entre os metais refratários, os óxidos resistivos de metais, os óxidos voláteis.
[0078] Para esse efeito, o alvo, objeto da invenção, de espessura nominal (e), compreendendo pelo menos um composto à base de um composto escolhido entre os metais refratários, os óxidos resistivos de metais, os óxidos voláteis, caracterizase pelo fato de que apresenta:
[0079] - uma microestrutura lamelar.
[0080] No caso dos metais refratários, o alvo apresenta [0081] - uma taxa de oxigênio inferior a 1000 ppm, preferivelmente inferior a 600 ppm, e especialmente preferivelmente inferior a 450 ppm, [0082] - uma resistividade elétrica inferior a 5 vezes, preferivelmente 3 vezes,
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 13/34
10/25 preferivelmente ainda a 2 vezes a resistividade elétrica teórica do composto.
[0083] Esta medida de resistividade é realizada pelo método Van der Pauw (ASTM F76), a medida relativa da resistividade é calculada em relação ao valor teórico a 20°C, do composto maciço (ou dos dados bibliográficos) (lembrete: para o molibdênio, o valor teórico é de 5,34 pOhm.cm) [0084] No caso dos compostos de óxidos resistivos, o alvo apresenta uma resistividade em volume do alvo inferior à resistividade nominal do óxido de um fator 1000, preferivelmente de um fator 10.000, ainda preferivelmente de um fator 100.000.
[0085] No caso dos compostos de óxidos voláteis, o alvo apresenta:
[0086] - uma espessura nominal superior a 3 mm, preferivelmente superior a 6 mm, [0087] - uma densidade superior a 85% preferivelmente superior a 90% da densidade nominal.
[0088] Em modos de produção preferidos da invenção, pode-se eventualmente ter recurso, por outro lado, a uma e/ou a outra das disposições seguintes:
[0089] - o óxido resistivo formando o alvo é escolhido entre um pelo menos dos óxidos com estrutura de tipo perovsquita de fórmula de tipo ABO3 onde A e B são elementos ou conjuntos de elementos tais que a soma das valências do ou dos elementos constituindo A e da valência do ou dos elementos constituindo B seja igual a 6, ou entre os óxidos com estrutura de tipo columbita/Tri-rutilo de tipo AB2O6: onde B é Nb ou Ta e A é um elemento de valência 2 como, por exemplo, Sr, Ba, Pb,...) ou ainda é escolhido entre a lista Ta2O5, Nb2O5, V2O5, ZrO2, HfO2, CeO2, Y2O3, Al2O3, La2O3, MgO, BeO, [0090] - o alvo à base de óxido resistivo é constituído de uma composição consistindo em uma mistura ou montagem de pelo menos 2 óxidos resistivos ou mais entre a lista acima ou comporta na maior parte um óxido resistivo , [0091] - o metal refratário formando o alvo é escolhido entre o tungstênio, o tântalo, o nióbio, o titânio, o vanádio, o háfnio, o zircônio, o rênio, o ródio bem como as ligas refratárias definidas pelo fato de que são constituídas de uma liga AB onde
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 14/34
11/25
A e B pertencem à lista de elementos seguinte: Mo, W, Ta, Nb, Ti, V, Hf, Zr, Re, Rh, bem como às ligas de tipo AM onde: A pertence à lista: Mo, W, Ta, Nb, Ti, V, Hf, Zr, Re e M pertence à lista: Co, Ni, Rh, Pd, Pt, Cu, Ag, Au.
[0092] -o alvo de metal refratário comporta igualmente pelo menos um elemento de adição escolhido entre um composto refratário, um composto de óxido volátil, um composto de óxido resistivo, o alvo tendo 0,5 a 30% em peso do elemento de adição ou dos elementos de adição, [0093] - o óxido volátil formando o alvo responde ao critério Tvap < Tf + 400°C tal como foi definido previamente, este óxido podendo notadamente ser o óxido de zinco, o óxido de estanho, o óxido de bário, o óxido de cádmio, o óxido de índio, o óxido de molibdênio, o óxido de zinco dopado com alumínio, com molibdênio, com gálio, com estanho, com flúor, com índio, o óxido misto de estanho e de índio, o alvo à base de óxido volátil é constituído de uma composição consistindo em uma mistura ou montagem de 2 óxidos voláteis ou mais respondendo ao critério acima ou comporta na maior parte um óxido volátil tal como foi definido acima.
[0094] Em variante, o alvo pode ser composto de um metal refratário escolhido entre o molibdênio, o tungstênio, o tântalo, o nióbio, o titânio, o vanádio, o háfnio, o zircônio, o rênio, o ródio por um lado e silício por outro lado em proporções molares podendo ir de 1 mol de metal refratário para 5 mols de silício até 5 mols de metal refratário para 1 mol de silício, preferivelmente 1 mol de metal refratário para 2 mols de silício. Neste caso, a microestrutura lamelar do alvo é compósita e comporta lamelas de metal refratário adjacente às lamelas de silício puro.
[0095] No caso em que o alvo comporta um elemento de adição ou uma montagem de vários materiais, os diferentes elementos podem ser supridos por um dos meios seguintes:
[0096] - utilização de um pó pré-ligado no qual cada grão de pó é de composição desejada para o alvo, eventualmente ligeiramente diferente para levar em conta eventuais perdas desiguais por volatilização quando da projeção térmica do pó, [0097] - utilização de 2 ou vários pós, cada sendo injetado por um canal diferente no jato térmico quando da etapa de projeção térmica,
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 15/34
12/25 [0098] - o alvo é de geometria plana, [0099] - o alvo é de geometria tubular, [00100] - o alvo comporta sobre-espessuras de material em cada uma das suas extremidades, [00101] - o alvo compreende uma ou várias peças sobre as quais o composto é depositado, a referida ou as referidas peça(s) é ou são quer um suporte plano adaptável sobre uma máquina de pulverização quer peças intermediárias ligadas em seguida sobre este suporte, [00102] - as sobre-espessuras são da ordem de 25 a 50% da espessura nominal da camada de composto, [00103] - o alvo apresenta uma densidade superior a 85%, preferivelmente superior a 90%, [00104] - a espessura nominal (e) está compreendida entre 1 e 25 mm, preferivelmente compreendida entre 6 e 14 mm, [00105] - o alvo apresenta uma pureza de pelo menos 99,5%, [00106] - o alvo é construído sobre um material suporte que oferece características compatíveis com as propriedades esperadas de um alvo magnetron em utilização (resistência mecânica suficiente, condutividade térmica suficiente, resistência à corrosão pela água de resfriamento em utilização do alvo,...), como, por exemplo, cobre ou liga cuprosa, ou de aço inoxidável austenítico, como, por exemplo, X2CrNi18-9 ou X2CrNiMo17-12-2.
[00107] A título de exemplos não limitativos, a invenção pode ser ilustrada pelas figuras seguintes:
[00108] - figuras 1a 1b e 1c são vistas mostrando a microestrutura em corte de um alvo Mo obtido pelo processo de elaboração de acordo com a invenção, [00109] - figuras 1d e 1e são vistas ilustrando a microestrutura em corte de um alvo de tungstênio obtido pelo processo de elaboração de acordo com a invenção [00110] - a figura 2 é uma vista ilustrando a microestrutura em corte de um alvo de titanato de bário (óxido resistivo) obtido pelo processo de elaboração de acordo com a invenção
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 16/34
13/25 [00111] - a figura 3 é uma vista ilustrando a microestrutura em corte de um alvo de óxido misto de alumínio e de zinco (óxido volátil) obtido pelo processo de elaboração de acordo com invenção [00112] Outras características e vantagens da invenção aparecerão durante a descrição que segue.
DESCRIÇÃO DETALHADA DA INVENÇÃO:
[00113] O suporte sobre o qual será construído o alvo pode ser constituído de cobre, de liga cuprosa, de aço inoxidável ou outra liga habitualmente compatível com a produção de alvos magnetron.
[00114] Na presente invenção, nenhuma exigência particular ligada ao processo descrito na invenção é necessária com relação ao suporte, salvo se apenas deveria responder às exigências habituais com relação aos alvos magnetron, exigências em termos de geometria, resistência mecânica, inércia química frente à água de resfriamento.
Preparação de superfície do suporte [00115] Após ter sido desengordurada, a superfície do suporte é preparada por jato de grãos abrasivos. Estes grãos podem ser de natureza diversa: grãos de corindo (alumina branca fundida), corindo marrom, abrasivo alumina-zircônia, abrasivos elaborados a partir de escórias de fusão (tipo Vasilgrit), granada Almandina, ou ainda granalha de aço ou de fundente angular (lista não exaustiva).
[00116] De preferência, os abrasivos seguintes são utilizados: corindo (alumina branca fundida), alumina-zircônia (por exemplo, AZ 24 de Saint-Gobain Coating Solutions) (este material é preferido para a sua alta tenacidade que limita o fraturamento dos grãos e consequentemente a inclusão de frações de grãos na superfície, inclusões nefastas para a aderência do revestimento). Os diâmetros médios dos grãos de abrasivos estão compreendidos preferivelmente entre 180 e 800 pm de acordo com o tipo de abrasivo. A finalidade desta operação é assegurar uma rugosidade de superfície apta a assegurar uma aderência correta da subcamada de ligação ou do material constitutivo do alvo.
[00117] Um método alternativo consiste em realizar uma usinagem de estrias que
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 17/34
14/25 permitirá igualmente uma boa aderência da sub-camada depois da camada funcional ou do material constitutivo do alvo.
Produção de uma sub-camada de ligação por projeção térmica [00118] A fim de otimizar a aderência mecânica da camada funcional do alvo, uma sub-camada de ligação pode ser realizada por projeção térmica. Esta operação pode recorrer aos processos clássicos de projeção térmica entre os processos seguintes: projeção plasma (de pó), projeção ao arco elétrico (de fios), projeção com chama oxi-gás (fio ou pó de acordo com equipamentos), projeção por processo HVOF (High Velocity Oxy Fuel), processo de projeção por canhão de detonação, processo de projeção por gás eventualmente pré-aquecido carregado de pó (cold spray). Esta operação pode ser realizada ao ar ambiente sem que prejudique a invenção.
[00119] O material da sub-camada de ligação pode ser escolhido entre os materiais clássicos utilizados correntemente como sub-camada:
[00120] - Ni ou ligas à base de níquel: NiAl, NiCr, NiCrAl, Fe ou ligas ferrosas: FeCrAl, aços FeCrC, FeMnC, aço inoxidável austenítico X2CrNi18-9 ou X2CrNiMo 17-12 -2, etc.
[00121] - Cu ou ligas cuprosas como CuAl, CuAlFe, CuZn,....
[00122] - Mo ou ligas de Mo: MoCu, etc.
[00123] A lista acima não é exaustiva, a escolha do material de sub-camada podendo depender do material do tubo suporte e o equipamento de projeção (e da disponibilidade do material de suprimento sob a forma adequada).
Construção da camada funcional do alvo objeto da invenção, preferivelmente por projeção plasma [00124] A camada funcional do alvo é construída por projeção térmica, preferivelmente por projeção plasma (plasma spraying), nas condições específicas seguintes: para 1 e 2 [00125] - Projeção plasma realizada em uma câmara cuja atmosfera é controlada, ou seja, por exemplo, cuja taxa de oxigênio e de nitrogênio é baixa, a atmosfera sendo constituída na maior parte de gás neutro e cuja pressão está compreendida entre 50 mbars e 1.100 mbars,
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 18/34
15/25 [00126] - Projeção plasma utilizando uma mistura de gases plasmagênicos neutro ou mais ou menos redutor que permitirá abaixar a taxa de oxigênio inicialmente presente em superfície das partículas de pó quando da sua fusão e cursos de vôo para o substrato, que é o caso, por exemplo, quando o composto é um material refratário, ou quando o composto é um óxido resistivo.
[00127] - Utilização de bicos permitindo o sopro de jatos potentes, criogênicos líquidos ou gasosos, de um fluido inerte (caso dos metais refratários ou óxidos resistivos) ou de um fluido inerte ou oxidante (caso dos óxidos voláteis), os jatos sendo divididos em torno do maçarico, [00128] - Movimentos relativos do maçarico - alvo permitindo modular eventualmente as espessuras construídas sobre o alvo e notadamente nas extremidades deste último pela produção de sobre-espessuras comumente chamadas em inglês “dog-bone”, [00129] - Recursos a um ou mesmo vários injetores de pó permitindo uma melhor distribuição do pó em jato de plasma, [00130] - Maçarico plasma podendo ser:
[00131] - um maçarico de plasma soprado de corrente contínua disponível no mercado [00132] - um maçarico de plasma RF de acoplamento indução [00133] O pó utilizado para realizar o alvo apresenta as características típicas seguintes:
[00134] Granulometria definida como:
[00135] o D10% (diâmetro como 10% das partículas são de tamanho inferior a este diâmetro) compreendido entre 5 e 50 pm, [00136] o D50% (diâmetro mediano) compreendido entre 25 e 100 pm, [00137] o D90% (diâmetro como 90% das partículas são de tamanho inferior a este diâmetro) compreendido entre 40 e 200 pm, [00138] - Pureza conforme os objetivos de pureza do alvo, preferivelmente superiores a 99,5%, [00139] - Taxas de oxigênio: <Ppm 1500, preferivelmente <1000 ppm, ou <500
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 19/34
16/25 ppm, para os metais refratários.
[00140] O processo objeto da invenção permite a obtenção de uma qualidade de alvo superior à obtida classicamente pela projeção e apresenta uma microestrutura lamelar: pode-se fazer referência às figuras 1a, 1b e 1c para o molibdênio; às figuras 1d, 1e, para o tungstênio, à figura 2 para o óxido resistivo, e à figura 3 para o óxido volátil, [00141] - obtenção de um alvo de metal refratário tendo uma taxa de oxigênio inferior a 500 ppm diretamente, sem etapa subsequente como um tratamento térmico sob atmosfera redutora em temperatura elevada.
[00142] O fato de não utilizar uma etapa posterior de tratamento térmico oferece a vantagem de utilizar qualquer tipo de material suporte (tubo para alvo tubular ou suporte plano para alvos planos) incluídos ai os suportes tendo um coeficiente de dilatação nitidamente diferente do material constitutivo do alvo (metal refratário ou óxido resistivo), como os aços inoxidáveis austeníticos, que seria proscrito no caso de um tratamento térmico subsequente visando reduzir a taxa de oxigênio.
[00143] Como evidente, um tratamento térmico pode igualmente ser realizado de maneira opcional a fim de reduzir ainda a taxa de oxigênio no alvo assim realizado. Caso de alvos planos:
[00144] A presente invenção permite realizar alvos planos de acordo com o procedimento seguinte:
[00145] - Suporte de alvo plano, adaptado à montagem para a utilização no magnetron [00146] - No caso em que o suporte de alvo é de forma complexa e deve ser reciclável após uso do alvo, a construção do material alvo não será realizada diretamente sobre o suporte de alvo, mas sobre uma ou várias placas intermediárias (chamados “telhas”) as quais serão brasadas sobre o suporte.
[00147] - A construção do material alvo (por exemplo, à base de molibdênio) sobre o suporte ou sobre a ou as telha(s) será realizada seguindo o mesmo processo que acima.
[00148] - A ligação da ou das telha(s) poderá ser efetuada antes de construção do
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 20/34
17/25 material alvo (se a rigidez mecânica do suporte for elevada) ou após construção do material alvo para as telhas no caso em que o suporte não oferece uma rigidez suficiente. Neste último caso, as dimensões das telhas serão determinadas de modo a minimizar os riscos de deformação destas quando da operação de construção do material alvo por projeção plasma.
EXEMPLOS DE PRODUÇÃO:
[00149] Este exemplo 1 (figuras 1a, 1b e 1c) de produção refere-se a um alvo tubular à base de um metal refratário, notadamente à base de molibdênio, destinado a ser utilizado em pulverização magnetron com cátodo giratório. O processo seguinte foi realizado:
[00150] - Tubo suporte de aço inox austenítico como, por exemplo, X2CrNi18-9 ou X2CrNiMo17-12-2, [00151] - Preparação de superfície do tubo suporte por projeção de abrasivo alumina-zircônia AZ tipo 24, [00152] - Produção da sub-camada de fixação pelo processo de arco elétrico (Twin Arc wire spraying), realizado sob ar, sub-camada de fixação de composição NiAl (95% níquel - 5% alumínio). No exemplo descrito, a espessura da sub-camada de fixação é de 200 pm nominal, [00153] - Elaboração da camada ativa de molibdênio sobre o alvo por projeção plasma nas condições seguintes:
[00154] o Maçarico de plasma conferindo características particulares de velocidade de jato de plasma e, portanto, de partículas projetadas, [00155] o Alvo disposto em uma câmara, [00156] o Criação de uma atmosfera inerte na câmara, por exemplo, por bombeamento depois enchimento, [00157] o Utilização de jatos resfriadores criogênicos dirigidos para o alvo e divididos em torno do maçarico, [00158] o Pó utilizado para a produção do alvo é pó de molibdênio apresentando as características seguintes:
[00159] - Pó de tipo aglomerado-sinterizado de molibdênio
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 21/34
18/25 [00160] - Granulometria d50 = 80 pm [00161] - Pureza 99, 95% com notadamente: 20 ppm de Fe e 600 ppm de oxigênio [00162] o Projeção plasma efetuada com os parâmetros seguintes:
[00163] - Um maçarico de plasma com os parâmetros seguintes foi utilizado para a produção do alvo do exemplo:
Parâmetros | Taxa de fluxo de ar (Nlpm) | Taxa de fluxo H2 (slpm) | Intensidade de arco (A) | Distância projeção (mm) | Taxa de fluxo de pó (g/min) |
Valores utilizados | 50 | 15 | 600 | 160 | 160 |
[00164] o Acabamento de superfície por polimento ou usinagem para obtenção de uma rugosidade como Rmax< 15 pm.
[00165] Como indicado previamente, graças ao processo específico objeto da presente invenção, a taxa de oxigênio no alvo obtido é de 450 ppm, inferior à taxa de 600 ppm inicialmente presente no pó.
[00166] Resultados complementares de acordo com este protocolo de produção de um alvo de molibdênio, com composições diferentes de pó e comparados com um resultado sem jato criogênico de acordo com a invenção são apresentados na tabela abaixo:
Ref Teste | Processo | Taxa de O no pó | Taxa de N no pó | Taxa de O no alvo | Taxa de N no alvo |
A | De acordo com a invenção | 657 | 18 | 340 | 20 |
B | De acordo com a invenção | 657 | 18 | 240 | 20 |
C | De acordo com a invenção | 922 | 26 | 340 | 23 |
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 22/34
19/25
D | De acordo com a invenção | 526 | 29 | 360 | 18 |
E | De acordo com a invenção | 526 | 29 | 360 | 19 |
F | De acordo com a invenção | 706 | 31 | 580 | 30 |
G | Sem jatos resfriadores | 560 | 29 | 960 | 83 |
[00167] Como mostram os resultados, o processo de pulverização plasma com jatos resfriadores criogênicos divididos em torno do maçarico de plasma permite reduzir a taxa de oxigênio no alvo em relação à taxa de oxigênio no pó de partida. É assim inútil escolher um pó de partida muito puro, tanto mais que é possível, na prática, evitar que o pó só contenha certa quantidade de oxigênio. O processo de acordo com a invenção é assim particularmente vantajoso.
[00168] Apresenta-se a seguir um exemplo 2 de produção de um alvo à base de um composto refratário. Trata-se aqui do tungstênio (fazer referência às figuras 1d, 1e).
[00169] O exemplo de produção refere-se a um alvo plano de tungstênio destinado a ser utilizado em pulverização magnetron em modo CC (corrente contínua).
[00170] O processo seguinte foi realizado:
[00171] - Construção do alvo sobre placa suporte intermediária de cobre, destinada a ser brasada em seguida sobre o suporte de alvo, [00172] - Preparação de superfície da placa suporte por projeção de abrasivo alumina-zircônia AZ tipo 36, [00173] - Produção da sub-camada de fixação por projeção plasma de uma mistura CuAl (90 10), sub-camada de espessura 150 pm.
[00174] - Elaboração da camada ativa de tungstênio sobre o alvo por projeção plasma nas condições seguintes:
[00175] o Maçarico plasma conferindo características particulares de velocidade de jato de plasma e, portanto, de partículas projetadas,
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 23/34
20/25 [00176] o Alvo disposto em uma câmara, [00177] o Ciclo de bombeamento (até a obtenção de um vácuo de 5.102kPa) seguido de enchimento de argônio da câmara (até 1 atm) de modo a obter uma atmosfera inerte (composta de argônio com pressão parcial de oxigênio < 1,10-2 kPa) na câmara, [00178] o Utilização de jatos resfriadores criogênicos dirigidos para o alvo e divididos em torno do maçarico, [00179] o O pó utilizado para a produção do alvo é pó de tungstênio apresentando as características seguintes:
[00180] - Granulometria d50 = 25 pm [00181] - Pureza 99,95% [00182] o Projeção de plasma efetuada com os parâmetros seguintes:
[00183] - Um maçarico de plasma com os parâmetros seguintes foi utilizado para a produção do alvo do exemplo:
Parâmetros | Taxa de fluxo de ar (slpm) | Taxa de fluxo H2 (slpm) | Intensidade de arco (A) | Distância projeção (mm) | Taxa de fluxo de pó (g/min) |
Valores utilizados | 60 | 14 | 550 | 130 | 120 |
[00184] o Acabamento de superfície por polimento ou usinagem para obtenção de uma rugosidade como Rmax< 15 pm.
[00185] O alvo obtido apresenta as outras características notáveis seguintes: Densidade = 88%
Resistividade elétrica:
Resistividade em volume teórica de W a 20oC | 5.5 pQ.cm |
Resistividade em volume medida sobre o alvo pelo método ASTM F76 (Van der Pauw) a 20oC | 9.55 pQ.cm |
Exemplo 3 de produção de um alvo magnetron de óxido resistivo (fazer referência à figura 2) [00186] O exemplo de produção refere-se a um alvo, plano, de titanato de bário
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 24/34
21/25
BaTiOs-x destinado a ser utilizado em pulverização magnetron em modo CC (corrente contínua).
[00187] O processo seguinte foi realizado:
[00188] - Construção do alvo sobre placa suporte intermediária de cobre, destinada a ser brasada em seguida sobre o suporte de alvo, [00189] - Preparação de superfície da placa suporte por projeção de abrasivo alumina-zircônia AZ tipo 36, [00190] - Produção da sub-camada de fixação por projeção plasma de uma liga CuAl (90 10), sub-camada de espessura 150 pm, [00191] - Elaboração da camada ativa de BaTiO3-x sobre o alvo por projeção plasma nas condições seguintes:
[00192] o Maçarico de plasma conferindo características particulares de velocidade de jato de plasma e, portanto, de partículas projetadas, [00193] o Alvo disposto em uma câmara, [00194] o Ciclo de bombeamento (até a obtenção de um vácuo de 5.10-2 kPa) seguido de enchimento com argônio da câmara (até 1 atm) de modo a obter uma atmosfera inerte (composta de argônio com pressão parcial de oxigênio < 1,10-2 kPa) na câmara, [00195] o Utilização de jatos resfriadores criogênicos dirigidos para o alvo e divididos em torno do maçarico, [00196] o O pó utilizado para a produção do alvo é pó de titanato de bário apresentando as características seguintes:
[00197] - Pó de tipo aglomerado [00198] - Granulometria d50 = 70 pm [00199] - Pureza 99,5% (impureza SrO excluída) [00200] o Projeção de plasma efetuada com os parâmetros seguintes:
[00201] - Um maçarico de plasma com os parâmetros seguintes foi utilizado para a produção do alvo do exemplo:
Parâmetros | Taxa de fluxo de ar | Taxa de fluxo H2 | Intensidade de arco (A) | Distância projeção | Taxa de fluxo de pó |
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 25/34
22/25
(slpm) | (slpm) | (mm) | (g/min) | ||
Valores utilizados | 35 | 15 | 500 | 120 | 35 |
[00202] o Acabamento de superfície por polimento ou usinagem para obtenção de uma rugosidade como Rmax< 15 pm.
Característica essencial e vantagem do alvo assim produzido:
Resistividade em volume teórica de BaTiO3 | 109 O.cm |
Resistividade em volume medida sobre alvo a 20°C | 4,5 kO.cm |
[00203] O processo objeto da invenção permite uma redução muito forte resistividade do material do alvo via a criação de lacunas de oxigênio.
[00204] Deste fato, o alvo objeto do exemplo pode ser utilizado em modo magnetron CC, e permitiu realizar camadas de BaTiO3 estequiométricas por utilização de uma pressão parcial moderada em magnetron (não produzindo os mesmos inconvenientes que em magnetron reativo com forte valor de pressão parcial, por exemplo, os fenômenos de histerese em pO2).
Exemplo 4: Exemplo de produção de alvo magnetron em óxido volátil (fazer referência à figura 3) [00205] O exemplo de produção refere-se a um alvo tubular destinado a ser utilizado em pulverização magnetron com cátodo giratório. O processo seguinte foi realizado:
[00206] - Tubo suporte de aço inox austenítico como, por exemplo, X2CrNi18-9 ou oX2CrNiMo17-12-2, [00207] - Preparação de superfície do tubo suporte por projeção de abrasivo alumina-zircônia AZ tipo 24, [00208] - Produção da sub-camada de fixação pelo processo plasma spray (projeção plasma), realizado sob ar, sub-camada de fixação de composição NiAl (80% níquel - 20% alumínio). No exemplo descrito, a espessura da sub-camada de fixação é de 150 pm nominal.
[00209] - Elaboração da camada ativa de AZO (ZnO-2% ALO3) sobre o alvo por projeção de plasma nas condições seguintes:
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 26/34
23/25 [00210] o O maçarico de plasma conferindo características particulares de velocidade de jato de plasma e, portanto, de partículas projetadas, [00211] o Alvo disposto em uma câmara, [00212] o Utilização de jatos resfriadores, [00213] o O pó utilizado para a produção do alvo é um pó de AZO apresentando as características seguintes:
[00214] - Granulometria d50 = 50 pm [00215] - Pureza 99,9% [00216] o Projeção de plasma efetuada com os parâmetros seguintes:
[00217] o Um maçarico de plasma com os parâmetros seguintes foi utilizado para a produção do alvo do exemplo:
Parâmetros | Taxa de fluxo de ar (slpm) | Taxa de fluxo de H2 (slpm) | Intensidade de arco (A) | Distância projeção (mm) | Taxa de fluxo de pó (g/min) |
Valores utilizados | 45 | 15 | 700 | 70-110 | 45 |
[00218] o Acabamento de superfície por polimento ou usinagem para obtenção de uma rugosidade como Rmax< 15 pm.
[00219] O processo objeto da invenção permitiu realizar um alvo de AZO de espessura de 6 mm, sem fissuração, e monolítico, sem juntas entre os segmentos.
[00220] O alvo obtido apresentava uma densidade de 92% (5,15 g/cm3 para uma densidade teórica de AZO de 5,57).
PROPRIEDADES E VANTAGENS DA INVENÇÃO [00221] - Os alvos objeto da presente invenção apresentam as propriedades e vantagens seguintes:
[00222] o melhor taxa de utilização do material dos alvos tubulares obtidos por maçarico de plasma em relação aos obtidos pelos processos de sinterização (e/ou conformação a quente) pelo fato de que o processo objeto da presente invenção oferece a possibilidade de depositar uma sobre-espessura em extremidade de alvos para compensar a sobre-erosão localizada nas zonas correspondendo às curvas de
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 27/34
24/25 baixo raio de curvatura do campo magnético criado pelos cátodos e seus ímãs. Isto permite atingir rendimentos de material de alvos superiores a 75%, ou mesmo, 80% enquanto que os rendimentos continuam a ser inferiores a 75% sobre alvos com perfil plano. Em corolário devido à utilização deste tipo de alvo, notadamente no caso particular do molibdênio puro, obtém-se camadas, cujo perfil de homogeneidade do Rquadrado de acordo com uma dimensão característica do substrato na superfície da qual a camada é depositada não se desvia em mais de +/de 2% (por exemplo, sobre um substrato de largura de 3,20 m). Esta medida é realizada por meio de um aparelho de tipo “nagy” por medida sem contato.
[00223] o Larga gama de espessura de material sobre o alvo entre 1 e 25 mm: pode-se escolher a espessura do alvo em função da duração de vida desejada deste (esta espessura sendo com efeito determinada pela duração de produção esperada sem parada de linha), [00224] o No caso de alvos tubulares, é possível polarizar o alvo em modo de CA (corrente alternada) ou de CC (corrente direta) com potências superiores a 30 kW/m (ganho em velocidade de depósito), sem risco de fissuração por gradiente térmico entre o tubo suporte e o alvo) ou de fusão de brasagem.
[00225] o Devido à espessura de material reduzida ao valor estritamente necessário para o usuário, é possível limitar a tensão necessária para sustentar a descarga em elevada potência e tornar assim este alvo compatível com as alimentações elétricas magnetron correntes.
[00226] No caso dos alvos à base de óxido resistivo de acordo com a invenção, as vantagens são as seguintes:
[00227] - possibilidade de realizar alvos cerâmicos permitindo a obtenção de camadas finas resistivas por pulverização magnetron não reativa, necessitando a utilização de pressão parcial de oxigênio moderada (sem efeito de histerese em utilização). Os alvos cerâmicos obtidos pelo processo objeto da invenção apresentam uma resistividade muito reduzida em relação à resistividade teórico do composto, [00228] - possibilidade de realizar alvos cilíndricos de grandes dimensões
Petição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 28/34
25/25 monolíticas, [00229] - possibilidade sobre estes alvos de realizar sobre-espessuras locais nas extremidades (“dog-bones”) [00230] - excelente ligação ao tubo suporte sem fase intermediária fundível.
[00231] No caso dos alvos à base de óxido volátil de acordo com a invenção, eles oferecem as vantagens seguintes:
[00232] - minimizar as perdas ligadas ao rendimento de material e de tornar processo viável para este tipo de composição, [00233] - reduzir as tensões internas nos alvos elaborados pelo processo em questão, sem necessidade de aumentar a porosidade, o que permite construir alvos tendo espessuras maiores que o estado da arte por projeção de plasma (por exemplo, 6 mm para AZO).
[00234] No caso de alvos tubulares ou planos monolíticos realizados graças à presente invenção, e por contraste com os alvos comportando segmentos montados, os riscos seguintes são consideravelmente reduzidos:
[00235] o risco de aparecimento de fenômeno de formação de arco que gera partículas parasitas, bem como o risco de dessolidarização de fragmentos do material alvo do seu suporte, que é conhecido como sendo uma fonte de poluição das camadas de molibdênio, [00236] o risco de pulverização do material de brasagem ou do material do suporte de alvo via os interstícios entre segmentos, e [00237] risco de insuficiência térmico ou mecânica da ligação (brasagem ou cola condutora) sobre o suporte.
Claims (9)
- REIVINDICAÇÕES1. Processo de produção de um alvo por projeção térmica por projeção plasma por meio de um maçarico de plasma, o referido alvo compreendendo pelo menos um composto escolhido pelos metais refratários, os óxidos resistivos, os óxidos voláteis, caracterizado pelo fato de que se projeta por projeção térmica sobre pelo menos uma porção de superfície do alvo, pelo menos uma fração do referido composto sob a forma de uma composição de pó do referido composto, sob atmosfera controlada, e pelo fato de que se utiliza jatos resfriadores criogênicos potentes dirigidos para o alvo durante sua construção e divididos em torno do maçarico de plasma.
- 2. Processo de produção de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a projeção do composto é realizada no núcleo de uma câmara tendo sido purgada ou enxaguada depois cheia com gás inerte, até a uma pressão podendo ir de 50 mbars a 1.100 mbars, de modo a criar no seu núcleo uma atmosfera empobrecida em oxigênio.
- 3. Processo de produção de acordo com a reivindicação 1 ou 2, caracterizado pelo fato de que a projeção térmica é realizada por um maçarico de plasma e pelo fato de que a mistura de gás plasmagênico utilizada é redutora (apta a reduzir a taxa de composto oxidado inicialmente presente no pó), preferivelmente a composição da mistura plasmagênica comportando mais de 10% de hidrogênio ou outro gás plasmagênico redutor.
- 4. Processo de produção de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a totalidade ou parte dos jatos resfriadores são de caráter oxidante.
- 5. Processo de produção de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 4, caracterizado pelo fato de que se utiliza uma sub-camada de fixação, esta última sendo depositada antes de projeção térmica do referido composto ao nível da porção de superfície do alvo em questão.
- 6. Processo de produção de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 5, caracterizado pelo fato de que se procede a uma regulaçãoPetição 870190107889, de 24/10/2019, pág. 30/342/2 térmica do alvo quando da projeção de plasma.
- 7. Processo de produção de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 6, caracterizado pelo fato de que se utiliza uma composição de pó do referido composto projetada comportando pós de granulometria 5 < D10 <50 pm; 25 pm < D50 < 100 pm e 40 pm < D90 < 200 pm.
- 8. Processo de produção de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 3 e 5 a 7, caracterizado pelo fato de comportar uma etapa subsequente de tratamento térmico sob atmosfera redutora visando reduzir a taxa de oxigênio presente no alvo procedente da etapa de projeção térmica.
- 9. Processo de produção de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 8, caracterizado pelo fato de que se utilizam vários injetores do referido composto para injetar em diferentes pontos do jato térmico diferentes materiais para os quais se ajusta independentemente os parâmetros de injeção em função dos materiais injetados em cada injetor.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0952394A FR2944293B1 (fr) | 2009-04-10 | 2009-04-10 | Procede d'elaboration par projection thermique d'une cible |
PCT/FR2010/050704 WO2010116112A2 (fr) | 2009-04-10 | 2010-04-12 | Procédé d'élaboration par projection thermique d'une cible |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
BRPI1010513A2 BRPI1010513A2 (pt) | 2016-03-15 |
BRPI1010513B1 true BRPI1010513B1 (pt) | 2020-05-05 |
Family
ID=41212209
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
BRPI1010513A BRPI1010513B1 (pt) | 2009-04-10 | 2010-04-12 | processos de produção de um alvo por projeção térmica |
Country Status (17)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9156089B2 (pt) |
EP (1) | EP2417280B1 (pt) |
JP (1) | JP5635589B2 (pt) |
KR (1) | KR101728923B1 (pt) |
CN (1) | CN102395701A (pt) |
AU (1) | AU2010233526B2 (pt) |
BR (1) | BRPI1010513B1 (pt) |
CA (1) | CA2757903C (pt) |
EA (1) | EA026548B1 (pt) |
ES (1) | ES2444948T3 (pt) |
FR (1) | FR2944293B1 (pt) |
MX (1) | MX2011010533A (pt) |
MY (1) | MY156586A (pt) |
PL (1) | PL2417280T3 (pt) |
SG (1) | SG175161A1 (pt) |
UA (1) | UA106984C2 (pt) |
WO (1) | WO2010116112A2 (pt) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2944295B1 (fr) * | 2009-04-10 | 2014-08-15 | Saint Gobain Coating Solutions | Cible a base de molybdene et procede d'elaboration par projection thermique d'une cible |
JP2012149321A (ja) * | 2011-01-20 | 2012-08-09 | Taiheiyo Cement Corp | スパッタリングターゲットおよびその製造方法 |
EP2584062A1 (de) * | 2011-10-19 | 2013-04-24 | Heraeus Materials Technology GmbH & Co. KG | Sputtertarget und seine Verwendung |
CN104005018A (zh) * | 2014-05-29 | 2014-08-27 | 耿荣献 | 高抗磨耐火材料模具表面的耐磨涂层工艺 |
CN104831210A (zh) * | 2015-05-09 | 2015-08-12 | 安徽鼎恒再制造产业技术研究院有限公司 | 一种Co-ZrO2-HfO2涂层材料及其制备方法 |
CN104827027B (zh) * | 2015-06-05 | 2017-01-18 | 哈尔滨工程大学 | 用于等离子熔覆的Ni‑(Ta/Zr/Hf)‑Re合金粉末的制备方法 |
CN104947051A (zh) * | 2015-06-10 | 2015-09-30 | 深圳市威勒达科技开发有限公司 | 一种矾铝合金靶材及其制备方法 |
DE102015213896A1 (de) * | 2015-07-23 | 2017-01-26 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Verfahren zur Beschichtung eines metallischen Werkzeugs und Bauteil |
WO2017105488A1 (en) * | 2015-12-18 | 2017-06-22 | Intel Corporation | Refractory metal alloy targets for physical vapor deposition |
US9609874B1 (en) * | 2016-07-21 | 2017-04-04 | Kuwait Institute For Scientific Research | Metallic glassy alloy powders for antibacterial coating |
KR102630654B1 (ko) * | 2017-05-01 | 2024-01-29 | 더 존스 홉킨스 유니버시티 | 나노트위닝된 니켈-몰리브덴-텅스텐 합금을 증착시키는 방법 |
RU178216U1 (ru) * | 2017-06-14 | 2018-03-28 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского" | Настроечная шкала составной магнетронной мишени |
RU183138U1 (ru) * | 2018-03-20 | 2018-09-12 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук | Составная мишень для получения нанокомпозитов при магнетронном распылении |
BE1026683B1 (nl) | 2018-10-05 | 2020-05-07 | Soleras Advanced Coatings Bvba | Sputterdoel |
BE1026850B1 (nl) | 2018-11-12 | 2020-07-07 | Soleras Advanced Coatings Bv | Geleidende sputter doelen met silicium, zirkonium en zuurstof |
CN109881162A (zh) * | 2018-11-29 | 2019-06-14 | 芮瑛 | 一种基于等离子喷涂技术的溅射用靶材制备工艺 |
BE1028481B1 (nl) * | 2020-07-14 | 2022-02-14 | Soleras Advanced Coatings Bv | Sputterdoel met grote densiteit |
BE1028482B1 (nl) * | 2020-07-14 | 2022-02-14 | Soleras Advanced Coatings Bv | Vervaardiging en hervullen van sputterdoelen |
CN112475676B (zh) * | 2020-11-11 | 2022-11-15 | 宁波江丰电子材料股份有限公司 | 一种钽靶材焊接面的处理方法 |
CN112695286A (zh) * | 2020-12-15 | 2021-04-23 | 株洲火炬安泰新材料有限公司 | 一种低电阻率ito靶材粉末的成型方法 |
CN113308671A (zh) * | 2021-05-28 | 2021-08-27 | 矿冶科技集团有限公司 | 一种高纯钽旋转靶材及其制备方法 |
Family Cites Families (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4356073A (en) | 1981-02-12 | 1982-10-26 | Shatterproof Glass Corporation | Magnetron cathode sputtering apparatus |
US4692305A (en) * | 1985-11-05 | 1987-09-08 | Perkin-Elmer Corporation | Corrosion and wear resistant alloy |
DE4031489A1 (de) * | 1990-10-05 | 1992-04-09 | Ver Glaswerke Gmbh | Verfahren zum beschichten von glasscheiben mit hilfe eines thermischen spritzverfahrens |
FR2672648B1 (fr) | 1991-02-08 | 1993-04-16 | Mure Ets | Dispositif pour le maintien, provisoire d'un organe de levage sur une surface metallique de coffrage pendant les phases de coulee et de prise du beton d'un element en beton prefabrique. |
JP3241153B2 (ja) * | 1993-04-02 | 2001-12-25 | 株式会社フジクラ | 溶射装置 |
JPH0726373A (ja) | 1993-07-09 | 1995-01-27 | Asahi Glass Co Ltd | 回転カソードターゲットとその製造方法および該ターゲットを用いて形成される膜 |
JPH0736373A (ja) * | 1993-07-16 | 1995-02-07 | Omron Corp | プログラマブルコントローラ |
JPH08199372A (ja) * | 1995-01-26 | 1996-08-06 | Nisshin Steel Co Ltd | 傾斜機能材料の製法および装置 |
CZ289688B6 (cs) * | 1995-08-31 | 2002-03-13 | Innovative Sputtering Technology | Způsob výroby produktů na bázi ITO-slitin |
GB9600210D0 (en) * | 1996-01-05 | 1996-03-06 | Vanderstraeten E Bvba | Improved sputtering targets and method for the preparation thereof |
JPH09272965A (ja) * | 1996-04-09 | 1997-10-21 | Toshiba Corp | 真空成膜装置用部品とそれを用いた真空成膜装置、およびターゲット、バッキングプレート |
US6056857A (en) * | 1997-08-13 | 2000-05-02 | Praxair S.T. Technology, Inc. | Cryogenic annealing of sputtering targets |
EP0960955A1 (en) * | 1998-05-26 | 1999-12-01 | Universiteit Gent | Method and apparatus for flame spraying to form a tough coating |
US20080213496A1 (en) * | 2002-02-14 | 2008-09-04 | Applied Materials, Inc. | Method of coating semiconductor processing apparatus with protective yttrium-containing coatings |
FR2845078B1 (fr) * | 2002-09-26 | 2004-10-29 | Alstom | PROCEDE DE FABRICATION D'UN SUBSTRAT EN NITRURE D'ALUMINIUM AlN |
JP4637819B2 (ja) * | 2003-02-24 | 2011-02-23 | テクナ・プラズマ・システムズ・インコーポレーテッド | スパッタリングターゲットを製造するための方法および装置 |
US7897067B2 (en) | 2003-05-20 | 2011-03-01 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | Amorphous transparent conductive film, sputtering target as its raw material, amorphous transparent electrode substrate, process for producing the same and color filter for liquid crystal display |
KR101084553B1 (ko) * | 2003-10-17 | 2011-11-17 | 토소가부시키가이샤 | 진공장치용 부품과 그 제조방법 및 그것을 이용한 장치 |
EP1725696A1 (en) | 2004-03-15 | 2006-11-29 | Bekaert Advanced Coatings | Method to reduce thermal stresses in a sputter target |
US20060042728A1 (en) | 2004-08-31 | 2006-03-02 | Brad Lemon | Molybdenum sputtering targets |
US8088232B2 (en) | 2004-08-31 | 2012-01-03 | H.C. Starck Inc. | Molybdenum tubular sputtering targets with uniform grain size and texture |
WO2006041730A2 (en) | 2004-10-07 | 2006-04-20 | Atmel Corporation | Method and system for a programming approach for a nonvolatile electronic device |
US20060184251A1 (en) * | 2005-01-07 | 2006-08-17 | Zongtao Zhang | Coated medical devices and methods of making and using |
FR2881757B1 (fr) * | 2005-02-08 | 2007-03-30 | Saint Gobain | Procede d'elaboration par projection thermique d'une cible a base de silicium et de zirconium |
US8715772B2 (en) * | 2005-04-12 | 2014-05-06 | Air Products And Chemicals, Inc. | Thermal deposition coating method |
JP4904341B2 (ja) | 2005-05-05 | 2012-03-28 | ハー.ツェー.スタルク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | スパッタターゲット及びx線アノードを製造又は再処理するための被覆方法 |
US7662253B2 (en) * | 2005-09-27 | 2010-02-16 | Lam Research Corporation | Apparatus for the removal of a metal oxide from a substrate and methods therefor |
US7644872B2 (en) * | 2006-03-23 | 2010-01-12 | United Technologies Corporation | Powder port blow-off for thermal spray processes |
JP4762062B2 (ja) * | 2006-06-22 | 2011-08-31 | 出光興産株式会社 | 焼結体、膜及び有機エレクトロルミネッセンス素子 |
US7737383B2 (en) * | 2006-08-25 | 2010-06-15 | Thermal Dynamics Corporation | Contoured shield orifice for a plasma arc torch |
US8097105B2 (en) * | 2007-01-11 | 2012-01-17 | Lam Research Corporation | Extending lifetime of yttrium oxide as a plasma chamber material |
US9279178B2 (en) * | 2007-04-27 | 2016-03-08 | Honeywell International Inc. | Manufacturing design and processing methods and apparatus for sputtering targets |
US8197894B2 (en) * | 2007-05-04 | 2012-06-12 | H.C. Starck Gmbh | Methods of forming sputtering targets |
-
2009
- 2009-04-10 FR FR0952394A patent/FR2944293B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-04-12 KR KR1020117023564A patent/KR101728923B1/ko active IP Right Grant
- 2010-04-12 ES ES10723660.6T patent/ES2444948T3/es active Active
- 2010-04-12 AU AU2010233526A patent/AU2010233526B2/en not_active Ceased
- 2010-04-12 JP JP2012504064A patent/JP5635589B2/ja active Active
- 2010-04-12 CA CA2757903A patent/CA2757903C/fr not_active Expired - Fee Related
- 2010-04-12 US US13/259,991 patent/US9156089B2/en active Active
- 2010-04-12 MY MYPI2011004833A patent/MY156586A/en unknown
- 2010-04-12 WO PCT/FR2010/050704 patent/WO2010116112A2/fr active Application Filing
- 2010-04-12 EP EP10723660.6A patent/EP2417280B1/fr active Active
- 2010-04-12 MX MX2011010533A patent/MX2011010533A/es active IP Right Grant
- 2010-04-12 PL PL10723660T patent/PL2417280T3/pl unknown
- 2010-04-12 BR BRPI1010513A patent/BRPI1010513B1/pt not_active IP Right Cessation
- 2010-04-12 SG SG2011073947A patent/SG175161A1/en unknown
- 2010-04-12 CN CN2010800160871A patent/CN102395701A/zh active Pending
- 2010-04-12 UA UAA201113242A patent/UA106984C2/uk unknown
- 2010-04-12 EA EA201171236A patent/EA026548B1/ru not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5635589B2 (ja) | 2014-12-03 |
FR2944293B1 (fr) | 2012-05-18 |
AU2010233526A1 (en) | 2011-11-17 |
KR20120024538A (ko) | 2012-03-14 |
CA2757903A1 (fr) | 2010-10-14 |
JP2012523498A (ja) | 2012-10-04 |
EA026548B1 (ru) | 2017-04-28 |
MY156586A (en) | 2016-03-15 |
EA201171236A1 (ru) | 2012-04-30 |
CA2757903C (fr) | 2014-09-23 |
CN102395701A (zh) | 2012-03-28 |
WO2010116112A3 (fr) | 2011-03-10 |
PL2417280T3 (pl) | 2014-04-30 |
MX2011010533A (es) | 2011-11-04 |
EP2417280B1 (fr) | 2013-11-06 |
US9156089B2 (en) | 2015-10-13 |
AU2010233526B2 (en) | 2016-07-28 |
EP2417280A2 (fr) | 2012-02-15 |
KR101728923B1 (ko) | 2017-04-20 |
US20120055783A1 (en) | 2012-03-08 |
UA106984C2 (uk) | 2014-11-10 |
FR2944293A1 (fr) | 2010-10-15 |
BRPI1010513A2 (pt) | 2016-03-15 |
SG175161A1 (en) | 2011-11-28 |
ES2444948T3 (es) | 2014-02-27 |
WO2010116112A2 (fr) | 2010-10-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
BRPI1010513B1 (pt) | processos de produção de um alvo por projeção térmica | |
KR101754430B1 (ko) | 몰리브덴을 기재로 한 타겟 및 열 투사에 의한 타겟의 제조 방법 | |
US7597971B2 (en) | Thermal barrier coating material | |
JP3124966B2 (ja) | 熱防御膜の製造方法 | |
US20200024718A1 (en) | Cmas resistant thermal barrier coatings | |
EP2799588B1 (en) | Method of making high temperature TBCs with ultra low thermal conductivity and abradability | |
JP4607914B2 (ja) | セラミックス被覆部材およびその製造方法 | |
US20040043261A1 (en) | Material for thermally loaded substrates | |
KR100677956B1 (ko) | 비정질 금속층을 포함하는 열용사 코팅막 및 그 제조 방법 | |
KR101136907B1 (ko) | 금속이온 주입법을 이용한 열차폐 코팅층 및 이의 제조방법 | |
US20230272520A1 (en) | Manufacture and refill of sputtering targets | |
CN108917401B (zh) | 用于冶炼设备的喷口砖组件 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
B06F | Objections, documents and/or translations needed after an examination request according [chapter 6.6 patent gazette] | ||
B06U | Preliminary requirement: requests with searches performed by other patent offices: procedure suspended [chapter 6.21 patent gazette] | ||
B09A | Decision: intention to grant [chapter 9.1 patent gazette] | ||
B16A | Patent or certificate of addition of invention granted [chapter 16.1 patent gazette] |
Free format text: PRAZO DE VALIDADE: 10 (DEZ) ANOS CONTADOS A PARTIR DE 05/05/2020, OBSERVADAS AS CONDICOES LEGAIS. |
|
B21F | Lapse acc. art. 78, item iv - on non-payment of the annual fees in time |
Free format text: REFERENTE A 13A ANUIDADE. |
|
B24J | Lapse because of non-payment of annual fees (definitively: art 78 iv lpi, resolution 113/2013 art. 12) |
Free format text: EM VIRTUDE DA EXTINCAO PUBLICADA NA RPI 2718 DE 07-02-2023 E CONSIDERANDO AUSENCIA DE MANIFESTACAO DENTRO DOS PRAZOS LEGAIS, INFORMO QUE CABE SER MANTIDA A EXTINCAO DA PATENTE E SEUS CERTIFICADOS, CONFORME O DISPOSTO NO ARTIGO 12, DA RESOLUCAO 113/2013. |