ATE240550T1 - Integrierte schaltung mit kalibriermitteln zur kalibrierung eines elektronischen moduls und verfahren zum kalibrieren eines elektronischen moduls in einer integrierten schaltung - Google Patents

Integrierte schaltung mit kalibriermitteln zur kalibrierung eines elektronischen moduls und verfahren zum kalibrieren eines elektronischen moduls in einer integrierten schaltung

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ATE240550T1
ATE240550T1 AT99125741T AT99125741T ATE240550T1 AT E240550 T1 ATE240550 T1 AT E240550T1 AT 99125741 T AT99125741 T AT 99125741T AT 99125741 T AT99125741 T AT 99125741T AT E240550 T1 ATE240550 T1 AT E240550T1
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integrated circuit
electronic module
calibrating
calibration
integrated
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AT99125741T
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Fabrice Walter
Christophe Ratajczak
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Em Microelectronic Marin Sa
Advanced Tech Materials
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    • G—PHYSICS
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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4124557B2 (ja) * 2000-10-05 2008-07-23 松下電器産業株式会社 半導体集積回路装置及びその制御方法
JP4278325B2 (ja) * 2001-12-19 2009-06-10 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置
EP1378998B1 (de) * 2002-07-05 2005-09-14 Stmicroelectronics SA Verfahren zum Betreiben eines Mikrokontrollerchips mit einem internen RC-Oszillator, und Mikrokontrollerchip zur Durchführung des Verfahrens
US7814350B2 (en) * 2002-10-03 2010-10-12 Via Technologies, Inc. Microprocessor with improved thermal monitoring and protection mechanism
US7774627B2 (en) * 2002-10-03 2010-08-10 Via Technologies, Inc. Microprocessor capable of dynamically increasing its performance in response to varying operating temperature
US7770042B2 (en) * 2002-10-03 2010-08-03 Via Technologies, Inc. Microprocessor with improved performance during P-state transitions
US20050006726A1 (en) * 2003-04-01 2005-01-13 Infineon Technologies Ag Apparatus and method for testing semiconductor nodules on a semiconductor substrate wafer
US20050185769A1 (en) * 2004-02-25 2005-08-25 Pickerd John J. Calibration method and apparatus
KR100609930B1 (ko) 2004-07-30 2006-08-08 (주)테라빛 검사용 패턴이 형성된 회로기판 및 이를 이용한 메모리카드 제조 방법
US7433790B2 (en) * 2005-06-06 2008-10-07 Standard Microsystems Corporation Automatic reference voltage trimming technique
US7289924B2 (en) * 2005-07-20 2007-10-30 Honeywell International Inc. Self-calibrating sensor
US7498891B2 (en) * 2005-10-18 2009-03-03 Stmicroelectronics Pvt. Ltd. Method for calibration of an oscillator for a microcontroller chip operation
US7460983B2 (en) * 2006-08-23 2008-12-02 Tektronix, Inc. Signal analysis system and calibration method
US7414411B2 (en) * 2006-08-23 2008-08-19 Tektronix, Inc. Signal analysis system and calibration method for multiple signal probes
US7405575B2 (en) * 2006-08-23 2008-07-29 Tektronix, Inc. Signal analysis system and calibration method for measuring the impedance of a device under test
US7408363B2 (en) * 2006-08-23 2008-08-05 Tektronix, Inc. Signal analysis system and calibration method for processing acquires signal samples with an arbitrary load
US7888955B2 (en) * 2007-09-25 2011-02-15 Formfactor, Inc. Method and apparatus for testing devices using serially controlled resources
US9588188B1 (en) * 2008-10-17 2017-03-07 Steril-Aire, Inc. System and method of monitoring an electronic discharge device in an air purfication system
TWI441270B (zh) * 2008-12-17 2014-06-11 Ind Tech Res Inst 三維積體電路之直通矽晶穿孔製程監控方法及裝置
US8386829B2 (en) 2009-06-17 2013-02-26 Macronix International Co., Ltd. Automatic internal trimming calibration method to compensate process variation
EP2363960B1 (de) * 2010-03-01 2012-08-22 Austriamicrosystems AG Integrierte Schaltung mit internem RC-Oszillator und Verfahren zur Kalibrierung eines RC-Oszillators
WO2012023211A1 (ja) * 2010-08-20 2012-02-23 富士通株式会社 半導体装置
US9041422B2 (en) * 2011-03-31 2015-05-26 Intel Mobile Communications GmbH Circuit arrangement with a plurality of on-chip monitor circuits and a control circuit and corresponding methods
CN103048530A (zh) * 2011-10-12 2013-04-17 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 数字电源电流校准装置
TWI550285B (zh) * 2013-12-27 2016-09-21 And a storage device and electronic device for electrically correcting parameters of the wafer
KR20170066082A (ko) 2015-12-04 2017-06-14 삼성전자주식회사 Bist 회로, 이를 포함하는 메모리 장치 및 이의 동작방법
US10180486B2 (en) * 2016-03-16 2019-01-15 Formfactor Beaverton, Inc. Test standards and methods for impedance calibration of a probe system, and probe systems that include the test standards or utilize the methods
DE102018110252A1 (de) * 2018-04-27 2019-10-31 Infineon Technologies Ag Transceiver, System mit Transceivern und Signal
EP3933638A1 (de) 2020-06-29 2022-01-05 Siemens Aktiengesellschaft Konsensusverfahren für eine verteilte datenbank
CN113253787A (zh) * 2021-06-17 2021-08-13 苏州裕太微电子有限公司 一种芯片内电阻校正电路
CN114115427A (zh) * 2021-11-26 2022-03-01 中国电子科技集团公司第五十八研究所 一种SoC中基于EFLASH加载的LDO校准方法
EP4224178A1 (de) * 2022-02-03 2023-08-09 Siemens Aktiengesellschaft Kalibrierung einer elektronischen baugruppe während eines fertigungsprozesses

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5070297A (en) * 1990-06-04 1991-12-03 Texas Instruments Incorporated Full wafer integrated circuit testing device
US5319370A (en) * 1992-08-31 1994-06-07 Crystal Semiconductor, Inc. Analog-to-digital converter with a continuously calibrated voltage reference
JPH06148279A (ja) * 1992-10-30 1994-05-27 Yokogawa Hewlett Packard Ltd 電子デバイス試験・測定装置、およびそのタイミングならびに電圧レベル校正方法
JPH06152549A (ja) * 1992-11-05 1994-05-31 Fujitsu Ltd 動作レベル測定装置
JP3098897B2 (ja) * 1993-07-23 2000-10-16 三菱電機株式会社 オフセット調整装置
JPH07113829A (ja) * 1993-10-18 1995-05-02 Advantest Corp 時間・周波数測定装置
US5382922A (en) * 1993-12-23 1995-01-17 International Business Machines Corporation Calibration systems and methods for setting PLL gain characteristics and center frequency
JPH09172143A (ja) * 1995-12-19 1997-06-30 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置及びそのテスト方法
JPH09172370A (ja) * 1995-12-19 1997-06-30 Toshiba Corp Ｐｌｌ回路
US5699312A (en) * 1996-04-18 1997-12-16 Altera Corporation Programmable voltage supply circuitry
JPH10260742A (ja) * 1997-03-19 1998-09-29 Advantest Corp 精密電圧発生装置
US6064947A (en) * 1997-08-27 2000-05-16 Texas Instruments Incorporated Time base generator internal voltage-controlled oscillator calibration system and method
JP3842879B2 (ja) * 1997-10-20 2006-11-08 松下電器産業株式会社 ウェハ一括型プローブカードおよび半導体装置の検査方法
US6157198A (en) * 1998-06-10 2000-12-05 Anritsu Company Automatic timebase calibration for synchronizing a timebase frequency with a frequency reference standard
US6151238A (en) * 1999-02-23 2000-11-21 Microchip Technology, Inc. Calibrating functions of an integrated circuit and storing calibration parameters thereof in a programmable fuse array

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US6691055B2 (en) 2004-02-10

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