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Schaltungsanordnung zur Prüfung des Belegungszustandes und zur Sperrung von Prüfleitungen in Fernmelde-3 insbesondere Fernsprechanlagen
Die Erfindung bezieht sich auf eine eine Schaltungsanordnung zur Prüfung des Belegungszustandes und zur Sperrung von Leitungen, in welche komplexe Widerstände geschaltet sind.
In zentral gesteuerten Vermittlungseinrichtungen besteht die Aufgabe, die zentralen, also die für mehrere individuelle Schaltglieder gemeinsamen Schalteinrichtung während möglichst kurzer Dauer anzuschalten. Die Anschaltedauer zentraler Schalteinrichtungen, durch welche über Prüfleitungen die Belegungszustände von Schaltgliedern (z. B. Wählern oder Übertragungen) geprüft und diese für andere, zufällig gleichzeitig prüfende Schalteinrichtungen gesperrt werden, kann dadurch herabgesetzt werden, dass der Prüf- und Sperrvorgang zeitlich verkürzt wird.
In bekanntenschalteinrichtungen wird der Belegungszustand von Schaltgliedern durch Prüfrelais festgestellt, deren dem Stromanstieg entsprechende Ansprechzeit wesentlich durch die Induktivität der in den zu prüfenden Schaltgliedern enthaltenen Belegungsrelais bestimmt ist.
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relais abhängt, welche aber erst nach positivem Prüfergebnis eine Sperrung der geprüften Prüfleitung veranlassen.
Ferner wurde eine Prüfschaltung vorgeschlagen, in welcher eine Parallelschaltung aus ohmschen Messwiderstand und einer hochohmigen elektronischen Spannungsmessschaltung gleichzeitig den Prüfvorgang und die Sperrung der Prüfleitung einleitet. Der für die Prüfung massgebliche Spannungsabfall am Messwiderstand ist jedoch von dem Strom in der zu prüfenden Leitung abhängig, dessen Anstieg durch die Induktivität des Belegungsrelais bestimmt ist. Diese Abhängigkeit wirkt sich insbesondere zeitlich aus und verzögert den Prüfvorgang.
Aufgabe der Erfindung ist es, bei gleichzeitiger Einleitung des Prüfvorganges und der Sperrung von Prüfleitungen den Prufvorgang von der Induktivität der Belegungsrelals in den zu prüfenden Leitungen unabhängig zu machen und ihn dadurch zu beschleunigen. Erreicht wird dies dadurch, dass der komplexe Widerstand einer Prüfleitung nach Anschaltung einer Prüfschaltung mit einem komplexen Eigenwiderstand dieser Prüfschaltung zu einem Spannungsteiler zusammengeschaltet ist, in welchem bei einem durch den komplexen Widerstand der Prüfleitung verursachten verzögerten Stromanstieg am Spannungsteilermittelpunkt ein gleichbleibendes Spannungspotential liegt.
Dadurch wird erreicht, dass der Spannungsabfall am komplexen Eigenwiderstand der Prüfschaltung, der vorzugsweise durch eine Nachbildung des komplexen Widerstandes der Prüfleitung und eine diesem parallelgeschaltetehochohmige Spannungsmessschaltung gebildet ist, unmittelbar nach Durchschaltung des Prüfstromkreises entsteht und in der hochohmigen Prüfschaltung wirksam wird.
In der Zeichnung sind in einem Ausführungsbeispiel der Erfindung nur die zum Verständnis der Erfindung notwendigen Stromkreise dargestellt.
Die Prüfschaltung besteht aus einer das Belegungsrelais C in der Prüfleitung nachbildenden RelaisdrosselDR und einer über den Widerstand R1 angeschalteten, die Spannung am Punkt J abgreifenden Span-
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nungsmessschaltung. Durch diese werden die Relais P und PH geschaltet, deren Kontakte p3, phl und ph2 den Eingang E der Prüfschaltung nach erfolgreicher Prüfung von den Prüfstromkreisen (über Punkt J verlau- fend) abtrennen und an den Belegungswiderstand R2 anschalten.
Sämtliche Prüfschaltungen, über welche gleiche Leitungen erreicht werden können, sind über die Punkte S1 und S2 so miteinander verbunden, dass das beim Aufprüfen einer Prüfschaltung am Punkt Q an- liegende Teilspannungspotential (-25 V) über Gleichrichter (G12, G13, G14,...) auf dieSperrpunkte (S2,
S3, S4,...) aller andern Prüfschaltungen durchgreift.
Die Spannungsmessschaltung arbeitet wie folgt :
Im Ruhezustand ist der Transistor Tl durch Pluspotential gesperrt, welches über die Wicklungen der das Belegungsrelais C in der Prüfleitung nachbildenden Relaisdrossel DR und den Widerstand R1 anliegt.
Am Punkt K liegt infolgedessen Minusspannungspotential, durch welches der Transistor T2 leitend ist. Am
Punkt L liegt infolgedessen Teilspannungspotential (-28 V). Die DiodeD ist durch die zwischen den Punk- ten K und M liegende Spannung noch nicht durchlässig. Am Punkt M liegt deshalb Teilspannungspotential (-20 V), durch welches der Transistor T3 nicht leitend ist. Infolgedessen liegt am Punkt N Teilspannungs- potential (-23 V), durch welches der Transistor T4 ebenfalls undurchlässig ist. Relais P ist unerregt und
Relais PH ist über Kontakt pl erregt.
Die Schaltung ist so bemessen, dass nur bei Anschaltung einer einzigen Prüfschaltung an ein unbeleg- tes Relais C mit kurzgeschlossener Wicklung II der Transistor Tl durch die am Punkt J entstehende Teil- spannung leitend wird, dagegen nicht bei gleichzeitiger Anschaltung von zwei Prüfschaltungen an ein un- belegtes Relais C-, oder bei Anschaltung einer Prüfschaltung an ein belegtes oder ein auslösendes Relais C, dessen Wicklung II noch nicht kurzgeschlossen ist.
Wird eine Prüfschaltung an eine unbelegte Prüfleitung angeschaltet, so stellt sich am Punkt J eine
Teilspannung (-30 V) ein, durch welche der Transistor Tl durchlässig wird. Das Potential von 27 V greift über den Punkt K auf den Transistor T2 durch, welcher dadurch gesperrt wird. Der Gleichrichter G3 ist nun stromlos und die Diode D wird durchlässig und durch einen über Widerstand R4, Diode D und Wider- stand R5 verlaufenden Strom wird ein Teilspannungspotential (-25 V) am Punkt M hervorgerufen, durch welches der Transistor T4 leitend wird. Relais P wird dadurch eingeschaltet und spricht an. Über Kontakt p2 wird ein Haltestromkreis gebildet und danach Relais PH ausgeschaltet. Kontakt ph2 schaltet über den zuvor geschlossenen Kontakt p3 den Belegungswiderstand R2 ein, welcher auch die Sperrfunktion über- nimmt.
Durch Schliessen des Kontaktes ph2 (noch vor Öffnen des Kontaktes phl) wird ferner die am Punkt
J liegende Teilspannung so verschoben, dass die Spannungsmessschaltung in den Ruhezustand zurückkehrt.
Durch Kontakt phl werden die über Punkt J verlaufenden Stromkreise für Prüfen und Sperren aufgetrennt.
Durch diese Anordnung ist es möglich, auch mit Relais, die mit individuellen Ankern ausgestattet sind, die Forderung zu erfüllen, den Haltekreis für das das Prüfergebnis speichernde Relais P zu bilden, bevor die Spannungsmessschaltung ausgeschaltet wird, da bei solchen Relais, für deren Kontakte zwar un- tereinander keine Schaltfolge gewährleistet ist, jedoch innerhalb ihrer Kontakte (z. B. pl, p2) eine Schalt- folge sichergestellt ist.
AnStelle der beschriebenen elektronischen Prüfschaltung können auch anders ausgebildete Prüfschal- tungen verwendet werden, die z. B. bei Fortfall der gegenseitigen Sperrung einen geringeren Aufwand er- fordern.
PATENTANSPRÜCHE :
1. Schaltungsanordnung zur Prüfung des Belegungszustandes und zur Sperrung von Prüfleitungen, in welche komplexe Widerstände geschaltet sind, in Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen, dadurch gekennzeichnet, dass der komplexe Widerstand einer Prüfleitung nach Anschaltung einer Prüfschaltung mit einem komplexen Eigenwiderstand dieser Prüfschaltung zu einem Spannungsteiler zusammengeschaltet ist, in welchem bei einem durch den komplexen Widerstand der Prüfleitung verursachten verzögerten Strom- anstieg am Spannungsteilermittelpunkt ein gleichbleibendes Spannungspotential liegt.