WO2020234944A1 - ガスレーザ装置 - Google Patents

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WO2020234944A1
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light
gas laser
laser
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PCT/JP2019/019786
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山本 達也
西前 順一
譲 田所
正史 成瀬
拓也 川島
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三菱電機株式会社
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    • H01S3/2316Cascaded amplifiers

Definitions

  • the present invention relates to a gas laser apparatus for amplifying a laser beam using a laser gas.
  • self-oscillation light may be generated by amplification of naturally emitted light generated in the gas laser device. Since the amplification gain of the gas laser device is consumed by the self-excited oscillation light, the amplification factor of the pulsed laser light output by the gas laser amplification system decreases. Therefore, the output of the pulsed laser light by the gas laser amplification system is reduced due to the generation of the self-excited oscillation light. Further, when the self-excited oscillating light irradiates a component in the gas laser amplification system, the component may be damaged by heat. Therefore, in the gas laser apparatus, it is desired to suppress the oscillation of the self-excited oscillation light.
  • Patent Document 1 discloses a gas laser apparatus having a reflector that reflects self-excited oscillating light and a light absorber that absorbs self-excited oscillating light reflected by the reflector.
  • the reflector reflects the self-excited oscillating light propagating in a direction different from the direction of the optical axis of the pulsed laser light toward the light absorber.
  • the gas laser apparatus according to Patent Document 1 removes the self-oscillating light by absorbing the self-oscillating light in the light absorber.
  • the conventional gas laser apparatus according to Patent Document 1 can remove self-oscillating light propagating in a direction different from the direction of the optical axis of the pulsed laser light, while the same optical axis as the optical axis of the pulsed laser light. There is a problem that the self-excited oscillating light oscillating in the above cannot be removed.
  • the present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to obtain a gas laser apparatus capable of suppressing the oscillation of self-excited oscillation light caused by naturally emitted light.
  • the gas laser apparatus includes a discharge electrode for exciting the laser gas supplied to the discharge region and a first laser beam which is a laser beam propagating to the discharge region.
  • a first shielding component provided with a first opening through which a second laser beam passes and a second opening through which a second laser beam, which is a laser beam reciprocating in a discharge region through the first opening, passes through.
  • a third opening through which the first laser beam propagating through the first opening and propagating through the discharge region and the second laser beam propagating through the discharge region to the second opening is provided.
  • a second shielding component facing the first shielding component across the discharge region is provided.
  • the planar shape of the third opening includes a straight portion.
  • the direction of the line segment connecting the geometric center of the planar shape of the second opening and the geometric center of the planar shape of the third opening when the planar shape of the third opening is projected onto the first shielding component Is a direction different from the direction of the perpendicular line in the straight line portion.
  • the gas laser apparatus according to the present invention has an effect of being able to suppress the oscillation of self-oscillating light caused by naturally emitted light.
  • FIG. 3 Perspective view of the gas laser apparatus according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 Block diagram of a gas laser amplification system having the gas laser apparatus according to the first embodiment.
  • FIG. 3 a perspective view of the gas laser apparatus that amplifies the laser light emitted from the gas laser apparatus according to the first embodiment.
  • the figure for demonstrating how the diffracted light is generated in the comparative example 1 of Embodiment 1.
  • the figure for demonstrating how diffracted light is generated in the gas laser apparatus which concerns on Embodiment 1.
  • the figure which shows the relationship between the azimuth angle and the intensity of the diffracted light about the diffracted light of the intensity distribution shown in FIG. The figure for demonstrating the azimuth in the relationship shown in FIG.
  • FIG. 1 is a perspective view of the gas laser apparatus according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a perspective view showing a part of the configuration provided inside the gas laser apparatus according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a block diagram of a gas laser amplification system having the gas laser apparatus according to the first embodiment.
  • the gas laser device 100 is a so-called 3-axis orthogonal gas laser device.
  • the X direction, the Y direction, and the Z direction are three directions orthogonal to each other.
  • the Y direction represents the direction of the electrode gap length
  • the X direction represents the direction in which the laser gas flows between the electrode gaps.
  • the direction of the optical axis is approximately the Z direction.
  • the direction pointed by the arrow in the X direction is defined as the plus X direction
  • the direction opposite to the direction pointed by the arrow in the X direction is defined as the minus X direction.
  • the direction pointed by the arrow in the Y direction is defined as the plus Y direction, and the direction opposite to the direction pointed by the arrow in the Y direction is defined as the minus Y direction.
  • the direction pointed by the arrow in the Z direction is defined as the plus Z direction, and the direction opposite to the direction pointed by the arrow in the Z direction is defined as the minus Z direction.
  • the gas laser apparatus 100 includes a housing 1 in which a laser gas as a laser medium is sealed, four electrode substrates 2, 3, 4, 5 housed in the housing 1, and electrodes 6, 7, 8 as discharge electrodes. , 9 and.
  • the electrode 6 is provided on the electrode substrate 2.
  • the electrode 7 is provided on the electrode substrate 3.
  • the electrode 6 and the electrode 7 form a discharge electrode pair facing each other with the discharge region 23 interposed therebetween.
  • the electrode 6 and the electrode 7 excite the laser gas supplied to the discharge region 23.
  • the electrode 8 is provided on the electrode substrate 4.
  • the electrode 9 is provided on the electrode substrate 5.
  • the electrode 8 and the electrode 9 form a pair of discharge electrodes facing each other with the discharge region 24 interposed therebetween.
  • the electrode 8 and the electrode 9 excite the laser gas supplied to the discharge region 24.
  • the electrode substrates 2, 3, 4, and 5 are formed using a dielectric material such as alumina.
  • Metallic electrodes 6, 7, 8 and 9 are formed on the surfaces of the electrode substrates 2, 3, 4 and 5 by metallizing or pasting, respectively.
  • the surfaces of the electrodes 6, 7, 8 and 9 are covered with a dielectric material such as alumina as in the case of the electrode substrates 2, 3, 4 and 5.
  • FIG. 1 the illustration of the dielectric covering the surfaces of the electrodes 6, 7, 8 and 9 is omitted.
  • silent discharge occurs.
  • a discharge region 23 is formed between the electrodes 6 and 7.
  • a discharge region 24 is formed between the electrodes 8 and 9.
  • the silent discharge is also referred to as an ozonizer discharge or a dielectric barrier discharge.
  • the blower 10 and the heat exchangers 11 and 12 are housed in the housing 1.
  • the blower 10 circulates the laser gas sealed in the housing 1.
  • the heat exchanger 11 is arranged on the side of the electrode substrate 2 opposite to the side on which the discharge region 23 is formed.
  • the blower 10 arranged to face the heat exchanger 11 generates a gas flow 13 that circulates between the heat exchanger 11 and the discharge region 23.
  • the direction of the gas flow 13 in the discharge region 23 is the plus X direction.
  • the blower 10 supplies a gas flow 13 of about 100 m / s to the discharge region 23.
  • the gas flow 13 that has passed through the discharge region 23 is cooled by the heat exchanger 11.
  • the gas flow 13 cooled by the heat exchanger 11 is supplied to the discharge region 23 again.
  • the heat exchanger 12 is arranged on the side of the electrode substrate 4 opposite to the side on which the discharge region 24 is formed.
  • the blower 10 arranged to face the heat exchanger 12 generates a gas flow 14 that circulates between the heat exchanger 12 and the discharge region 24.
  • the direction of the gas flow 14 in the discharge region 24 is the minus X direction.
  • the blower 10 supplies a gas flow 14 of about 100 m / s to the discharge region 24.
  • the gas flow 14 that has passed through the discharge region 24 is cooled by the heat exchanger 12.
  • the gas flow 14 cooled by the heat exchanger 12 is supplied to the discharge region 24 again.
  • the pressure of the laser gas in the discharge regions 23 and 24 is maintained at a pressure lower than the atmospheric pressure.
  • the gas flow 13 in the discharge region 23 and the gas flow 14 in the discharge region 24 are opposite to each other.
  • the overall gain distribution obtained by superimposing the gain distributions in the discharge regions 23 and 24 becomes symmetrical.
  • the gas laser apparatus 100 can improve the symmetry of the output laser beam.
  • the laser gas includes, for example, carbon dioxide gas and nitrogen gas.
  • a molecule or atom contained in the laser gas is excited to the upper level of the laser by silent discharge, stimulated emission when the laser light is passed through the laser gas amplifies light having a wavelength of, for example, around 10.6 ⁇ m.
  • CO, He-Cd, HF, Ar +, ArF, KrF, XeCl, XeF and the like may be used as the laser gas.
  • the gas laser apparatus 100 includes mirrors 21a, 21b, 22a, 22b that reflect the laser light propagating in the discharge regions 23 and 24, shielding plates 15 and 16 that shield the laser light, and windows 17 and 18 through which the laser light passes. Has.
  • the mirrors 21a and 21b which are the first mirrors, and the mirrors 22a, 22b, which are the second mirrors, face each other with the shielding plate 15, the discharge regions 23, 24, and the shielding plate 16 interposed therebetween.
  • the mirrors 21a, 21b, 22a, 22b form a path for optical amplification.
  • the mirrors 21a and 21b are attached to the housing 1 via a mirror holder.
  • the mirrors 22a and 22b are attached to the housing 1 via a mirror holder. Note that the mirror holder is not shown in FIGS. 1 and 2.
  • a total reflection mirror is used for each of the mirrors 21a, 21b, 22a, 22b.
  • each mirror 21a, 21b, 22a, 22b may be a flat surface, a concave surface, or a convex surface. That is, each of the mirrors 21a, 21b, 22a, and 22b may be a flat mirror, a concave mirror, or a convex mirror.
  • the window 17 is provided on the surface of the housing 1 on the side where the mirrors 21a and 21b are provided.
  • the laser light propagating from the outside of the housing 1 along the optical axis 110 and incident on the window 17 passes through the window 17 and is incident on the housing 1.
  • the window 18 is provided on the surface of the housing 1 on the side where the mirrors 22a and 22b are provided.
  • the laser beam incident on the window 18 from the housing 1 passes through the window 18.
  • the laser beam transmitted through the window 18 propagates along the optical axis 111 and is emitted to the outside of the housing 1.
  • the windows 17 and 18 have a function of transmitting the laser beam and a function of blocking the internal space of the housing 1 from the outside of the housing 1.
  • a diamond substrate having an antireflection coating is used for the windows 17 and 18, for example.
  • the shielding plate 15 which is the first shielding component, is arranged between the window 17 and the mirrors 21a and 21b and the discharge region 23.
  • the shielding plate 15 is provided with openings 19a and 19b through which the laser light from the discharge region 23 toward the mirrors 21a and 21b and the laser light reflected by the mirrors 21a and 21b pass. Further, the shielding plate 15 is provided with an opening 19c through which the laser beam transmitted through the window 17 passes.
  • the opening 19a, the opening 19b, and the opening 19c are arranged in the X direction and the Y direction.
  • the planar shapes of the openings 19a, 19b, and 19c all have a circular shape.
  • the openings 19a, 19b, and 19c are all circular openings.
  • the shielding plate 15 shields the laser beam in a region other than the openings 19a, 19b, and 19c.
  • the shielding plate 16 which is the second shielding component is arranged between the window 18 and the mirrors 22a and 22b and the discharge region 24.
  • the shielding plate 15 and the shielding plate 16 face each other with the discharge regions 23 and 24 interposed therebetween.
  • the shielding plate 16 is provided with openings 20a and 20b through which the laser light propagating from the discharge region 24 to the mirrors 22a and 22b and the laser light reflected by the mirrors 22a and 22b pass. Further, the shielding plate 16 is provided with an opening 20c through which the laser light propagating from the discharge region 24 to the window 18 passes.
  • the opening 20a, the opening 20b, and the opening 20c are arranged in the X direction and the Y direction.
  • the planar shape of the opening 20a is rectangular.
  • the planar shape of the openings 20b and 20c has a circular shape.
  • the opening 20a is a non-circular opening, and the openings 20b, 20c are circular openings.
  • the shielding plate 16 shields the laser beam in a region other than the openings 20a, 20b, and 20c.
  • the gas laser amplification system 200 shown in FIG. 3 includes a laser oscillator 101 that oscillates a laser beam, four gas laser devices 100, 102, 103, 104 that amplify the laser beam, and a processing device 105 that supplies the amplified laser beam. And have.
  • the laser oscillator 101 is a quantum cascade laser.
  • the laser oscillator 101 may be a main oscillator output amplifier (Master Oscillator Power Amplifier: MOPA) in which a gas laser amplifier is coupled to a small gas laser oscillator which is the main oscillator.
  • MOPA Master Oscillator Power Amplifier
  • the laser light emitted from the laser oscillator 101 propagates along the optical axis 110 and is incident on the gas laser apparatus 100.
  • the laser beam amplified by the gas laser apparatus 100 is emitted from the gas laser apparatus 100 and propagates along the optical axis 111.
  • the laser light propagating along the optical axis 111 is incident on the gas laser device 102, the gas laser device 103, and the gas laser device 104 in this order, and is amplified by the gas laser devices 102, 103, 104.
  • the laser light emitted from the gas laser apparatus 104 is incident on the processing apparatus 105.
  • the processing device 105 is, for example, a device that cuts a metal work.
  • the processing device 105 collects the laser beam incident on the processing device 105 on the target 106 on the metal work.
  • the processing device 105 may be any device that processes the work using laser light, and may be a device other than the device that cuts the metal work.
  • the device to which the amplified laser light is supplied may be a device other than the processing device 105.
  • the device to which the amplified laser light is supplied may be a device that generates extreme ultraviolet light.
  • the device for generating extreme ultraviolet light generates extreme ultraviolet light by irradiating the target 106, which is a droplet of tin, with the focused laser light.
  • gas laser amplification system 200 shown in FIG. 3 four gas laser devices 100, 102, 103, and 104 are arranged in series with each other.
  • the number of gas laser devices arranged in series in the gas laser amplification system 200 is not limited to four, and may be arbitrary.
  • one gas laser device 100 shown in FIGS. 1 and 2 is provided.
  • the gas laser amplification system 200 may be provided with two or more gas laser devices 100 shown in FIGS. 1 and 2.
  • FIG. 4 is a perspective view of a gas laser apparatus that amplifies the laser light emitted from the gas laser apparatus according to the first embodiment of the gas laser amplification system shown in FIG.
  • FIG. 4 shows a perspective view of the gas laser apparatus 102.
  • the description of the configuration common to the gas laser apparatus 100 among the gas laser apparatus 102 will be omitted.
  • the configurations of the gas laser devices 103 and 104 are the same as the configurations of the gas laser devices 102.
  • the mirrors 21a, 21b, 22a, 22b provided in the gas laser apparatus 100 shown in FIGS. 1 and 2 are not provided in the gas laser apparatus 102.
  • the shielding plate 15 is provided with one opening 19d.
  • the shielding plate 16 is provided with one opening 20d.
  • the gas laser apparatus 102 has a window facing the opening 19d and a window facing the opening 20d.
  • the window has a function of blocking the internal space of the housing 1 from the outside of the housing 1. In FIG. 4, the illustration of the window is omitted.
  • the laser light propagating from the laser oscillator 101 along the optical axis 110 passes through the window 17 and enters the housing 1 as shown in FIG.
  • the laser beam incident on the housing 1 becomes the first laser beam propagating along the optical axis 31.
  • the first laser beam passes through the opening 19c, which is the first opening.
  • the first laser beam that has passed through the opening 19c propagates sequentially in the discharge region 23 and the discharge region 24 along the optical axis 31.
  • the first laser beam is a laser beam that first propagates in the discharge regions 23 and 24 after being incident on the housing 1.
  • the laser light is amplified by passing through the discharge regions 23 and 24.
  • the first laser beam passes through the discharge region 23 and the discharge region 24, passes through the opening 20a, and enters the mirror 22a.
  • the first laser beam propagating through the discharge regions 23 and 24 and incident on the mirror 22a becomes the second laser beam propagating along the optical axis 32 due to reflection by the mirror 22a.
  • the opening 20a which is a non-circular opening, is along the optical axes 31, 32, 33, 34, 35 of the six openings 19a, 19b, 19c, 20a, 20b, 20c provided in the gas laser apparatus 100. This is the opening through which the propagating laser beam reaches second.
  • the laser beam reflected by the mirror 22a passes through the opening 20a again.
  • the second laser beam passing through the opening 20a propagates sequentially in the discharge region 24 and the discharge region 23 along the optical axis 32.
  • the second laser beam passes through the discharge region 24 and the discharge region 23, passes through the opening 19a, and enters the mirror 21a.
  • the opening 19a is a second opening through which a second laser beam, which is a laser beam reciprocating between the discharge regions 23 and 24 through the opening 19c, passes through.
  • the opening 20a is a third through which the first laser light propagating through the discharge regions 23 and 24 and the second laser light propagating through the discharge regions 23 and 24 to the opening 19a passes through the opening 20a. It is an opening.
  • the laser beam reflected by the mirror 21a passes through the opening 19a again.
  • the second laser beam propagating through the discharge regions 23 and 24 and incident on the mirror 21a becomes a third laser beam propagating along the optical axis 33 due to reflection by the mirror 21a.
  • the third laser beam that has passed through the opening 19a propagates sequentially in the discharge region 23 and the discharge region 24 along the optical axis 33.
  • the third laser beam passes through the discharge region 23 and the discharge region 24, passes through the opening 20b, and enters the mirror 22b.
  • the opening 20b is a fourth opening through which the third laser beam propagating through the discharge regions 23 and 24 passes through the opening 19a.
  • the laser beam reflected by the mirror 22b passes through the opening 20b again.
  • the laser beam passing through the opening 20b propagates sequentially in the discharge region 24 and the discharge region 23 along the optical axis 34.
  • the laser beam passes through the discharge region 24 and the discharge region 23, passes through the opening 19b, and enters the mirror 21b.
  • the laser beam reflected by the mirror 21b passes through the opening 19b again.
  • the laser beam propagating along the optical axis 34 becomes a fourth laser beam propagating along the optical axis 35 due to reflection by the mirror 21b.
  • the fourth laser beam that has passed through the opening 19b propagates sequentially in the discharge region 23 and the discharge region 24 along the optical axis 35.
  • the fourth laser beam passes through the discharge region 23 and the discharge region 24, and then passes through the opening 20c.
  • the opening 20c is a fifth opening through which a fourth laser beam, which is a laser beam reciprocating between the discharge regions 23 and 24 through the opening 20b, passes through.
  • the laser beam that has passed through the opening 20c is incident on the window 18.
  • the laser beam transmitted through the window 18 propagates along the optical axis 111 and is emitted to the outside of the housing 1.
  • the laser beam is amplified each time the laser beam passes through the discharge regions 23 and 24 due to reflection by the mirrors 21a, 21b, 22a, and 22b.
  • the laser light emitted from the gas laser apparatus 100 passes through the gas laser apparatus 102, 103, 104 in sequence and enters the processing apparatus 105.
  • the laser light is amplified by passing the laser light once through the discharge regions 23, 24 of the gas laser devices 102, 103, 104.
  • the output of the pulsed laser light from the laser oscillator 101 is on the order of 10 W to 100 W, while the output of the pulsed laser light from the gas laser device 104 increases to 20 kW or more.
  • the pulse width of the pulsed laser beam emitted from the laser oscillator 101 is on the order of 1 nanosecond to 100 nanoseconds.
  • the pulse frequency of the pulsed laser light emitted from the laser oscillator 101 is on the order of 10 kHz to 100 kHz.
  • the gas laser devices 100, 102, 103, 104 continuously generate high frequency discharges. At this time, when the pulse frequency of the pulsed laser light incident on the gas laser apparatus 100 is lower than the discharge frequency, or when the incident of the pulsed laser light is temporarily stopped, the pulsed laser light is not oscillated. Even then, the discharge remains generated.
  • the gas laser amplification system 200 is required to have a high amplification factor so that laser light on the order of 10 W can be amplified to 20 kW or more.
  • the spontaneous emission light is generated in a state where the pulse laser light is not emitted by the laser oscillator 101 due to the high amplification factor of the gas laser amplification system 200, the gas laser amplification system 200 is self-excited by the amplification of the naturally emitted light. Oscillated light may be generated.
  • the naturally emitted light generated in the gas laser device 104 propagates while being amplified by the gas laser device 103 and the gas laser device 102, and is incident on the gas laser device 100.
  • the naturally emitted light propagating along the optical axis 111 is incident on the gas laser apparatus 100 from the window 18, most of the naturally emitted light propagates along the optical axes 35, 34, 33, 32, and 31 in the order of the window. It emits light from 17 to the outside of the gas laser apparatus 100.
  • the diffracted light is generated by the diffraction phenomenon when the naturally emitted light reflected by the mirror 22a passes through the opening 20a.
  • Most of the naturally emitted light propagates from the opening 20a along the optical axis 31 and passes through the opening 19c.
  • the naturally emitted light that has passed through the opening 19c passes through the window 17 and is emitted to the outside of the gas laser apparatus 100.
  • a part of the naturally emitted light propagates from the opening 20a along the optical axis 32 and passes through the opening 19a.
  • the naturally emitted light that has passed through the opening 19a is reflected by the mirror 21a and passes through the opening 19a.
  • the naturally emitted light that has passed through the opening 19a propagates along the optical axes 33, 34, and 35, and is emitted from the window 18 to the outside of the gas laser apparatus 100.
  • the naturally emitted light emitted from the gas laser apparatus 100 propagates while being amplified by the gas laser apparatus 102, 103, 104, and is incident on the processing apparatus 105.
  • the naturally emitted light incident on the processing apparatus 105 is incident on the target 106.
  • a part of the naturally emitted light incident on the target 106 is reflected by the target 106 and propagates in the opposite direction along the path when the light is incident on the target 106.
  • the naturally emitted light propagating from the target 106 is returned to the gas laser device 104 and amplified by the gas laser device 104.
  • the naturally emitted light amplified by the gas laser device 104 again passes through the gas laser device 103 and the gas laser device 102 and propagates to the gas laser device 100.
  • the gas laser amplification system 200 may generate self-excited oscillation light by amplifying the naturally emitted light due to the diffraction phenomenon when the naturally emitted light passes through the opening 20a.
  • the self-excited oscillation light generated due to the diffraction at the opening 20a oscillates on the same optical axis as the optical axis of the pulsed laser light output by the gas laser amplification system 200.
  • the same optical axis of the self-excited oscillation light and the optical axis of the pulsed laser light means that the self-excited oscillation light propagates in the same manner as the pulsed laser light, except when both coincide with each other. It shall be included even if there is a deviation of.
  • the self-oscillation light behaves differently from the original pulse laser light generated by the gas laser amplification system 200, the self-oscillation light may irradiate the target 106 at an unintended timing.
  • the self-excited oscillating light propagating along the optical axis of the pulsed laser light subsequently propagates in a direction different from that of the pulsed laser light
  • the self-oscillating light irradiates the component in the gas laser amplification system 200, whereby the component concerned. May damage the.
  • the amplification factor of the pulsed laser light decreases due to the consumption of the amplification gain by the self-excited oscillation, the output of the pulsed laser light by the gas laser amplification system 200 decreases.
  • the diffraction phenomenon of naturally emitted light may occur in openings other than the opening 20a.
  • the source of naturally emitted light may be a component of the gas laser amplification system 200 other than the gas laser apparatus 104.
  • the structural element that functions as part of the resonator is not limited to the target 106.
  • the structural element that functions as a part of the resonator may be a structure arranged in an optical path through which the pulsed laser light propagates, such as openings 19d and 20d of the gas laser device 104.
  • the gas laser apparatus 100 has a non-circular shape in the openings 19a, 19b, 19c, 20a, 20b, 20c through which the laser beam propagating along the optical axes 31, 32, 33, 34, 35 passes.
  • the opening 20a which is an opening, is included.
  • the gas laser apparatus 100 suppresses the self-excited oscillating light oscillating on the same optical axis as the optical axis of the pulsed laser light by providing the non-circular opening.
  • the self-excited oscillation light is suppressed by generating the diffracted light in the non-circular opening in a manner different from that in the case of the circular opening.
  • the appearance of diffracted light generated in the non-circular opening will be described by comparison with the appearance of diffracted light generated in the circular opening.
  • FIG. 5 is a diagram for explaining how diffracted light is generated in Comparative Example 1 of the first embodiment.
  • FIG. 6 is a diagram showing an example of the intensity distribution of the diffracted light generated in Comparative Example 1 of the first embodiment.
  • the shielding plate 16 is provided with an opening 25 which is a circular opening instead of the opening 20a.
  • FIG. 5 shows a state in which naturally emitted light propagating along the optical axis 31 through the opening 25 is incident on the opening 19c, and diffraction generated on the shielding plate 15 when the naturally emitted light passes through the opening 25.
  • the pattern 41 is shown.
  • FIG. 6 shows the diffraction pattern 41 and the intensity distribution 42 of the diffracted light on the shielding plate 15.
  • the intensity of light is represented by light and dark. The brighter the part, the stronger the light intensity.
  • the intensity distribution 42 is a three-dimensional display of the distribution of light intensity on the shielding plate 15.
  • the center of the diffraction pattern 41 is the position of the optical axis 31.
  • the light passing through the opening 25 forms a concentric diffraction pattern 41 that repeats light and dark while becoming weaker as the distance from the center of the diffraction pattern 41 increases.
  • the diffraction pattern 41 becomes an annular pattern that becomes darker as the distance from the center increases.
  • FIG. 7 is a diagram for explaining how diffracted light is generated in the gas laser apparatus according to the first embodiment.
  • FIG. 8 is a diagram showing an example of the intensity distribution of diffracted light generated in the gas laser apparatus according to the first embodiment.
  • FIG. 9 is an explanatory diagram of the arrangement of openings in the two shielding plates of the gas laser apparatus according to the first embodiment.
  • FIG. 7 shows a state in which the laser light propagating along the optical axis 31 passing through the opening 20a is incident on the opening 19c, and a diffraction pattern 43 generated on the shielding plate 15 when the laser light passes through the opening 20a. It shows that.
  • FIG. 8 shows the diffraction pattern 43 and the intensity distribution 44 of the diffracted light on the shielding plate 15.
  • the intensity of light is represented by light and dark. The brighter the part, the stronger the light intensity.
  • the intensity distribution 44 is a three-dimensional display of the distribution of light intensity on the shielding plate 15.
  • the center of the diffraction pattern 43 is the position of the optical axis 31. It is assumed that the planar shape of the opening 20a is square. The planar shape of the opening 20a has four straight portions corresponding to the sides of the square.
  • FIG. 9 shows a state in which the openings 20a, 20b, 20c provided in the shielding plate 16 are projected onto the shielding plate 15, and a diffraction pattern 43.
  • the openings 20a, 20b, and 20c projected on the shielding plate 15 are shown by broken lines.
  • the diffraction pattern 43 is a line-symmetrical pattern whose axis of symmetry is the diagonal line.
  • the intensity of light around the opening 19c is increased in the direction of the perpendiculars on each side of the square presented by the opening 20a. In addition, the light intensity is weakened in the diagonal direction of the rectangle.
  • the line segment 26 shown in FIG. 9 is a perpendicular line on one side of the square presented by the opening 20a.
  • the line segment 27 is a line segment connecting the geometric center of the planar shape of the opening 20a and the geometric center of the planar shape of the opening 19a in the state shown in FIG.
  • the center position of each opening 19a, 19b, 19c, 20a, 20b, 20c is assumed to be the geometric center of the planar shape of each opening 19a, 19b, 19c, 20a, 20b, 20c. ..
  • the distance between the center position of the opening 19a and the center position of the opening 19b, the distance between the center position of the opening 19b and the center position of the opening 19c, and the center position of the opening 19c and the opening 19a The distance from the center position of is the same.
  • the distance between the center position of the opening 20a and the center position of the opening 20b, the distance between the center position of the opening 20b and the center position of the opening 20c, and the center position of the opening 20c and the opening 20a The distance from the center position of is the same.
  • FIG. 10 is a diagram showing the relationship between the azimuth angle and the intensity of the diffracted light with respect to the diffracted light of the intensity distribution shown in FIG. 6 and the diffracted light of the intensity distribution shown in FIG.
  • FIG. 11 is a diagram for explaining the azimuth angle in the relationship shown in FIG. FIG. 11 shows the relationship between the intensity and the azimuth in the first bright ring of the diffraction patterns 41 and 43.
  • the first bright ring is the bright ring closest to the Airy disk among the bright rings formed on the outside of the Airy disk.
  • the Airy disk is a region inside the dark ring located on the center side of the diffraction patterns 41 and 43 with respect to the first bright ring.
  • the axis along one diagonal line in the square formed by the opening 20a is defined as the X'axis, and the axis along the other diagonal line in the square is defined as the Y'axis.
  • the angle ⁇ which is the azimuth, is an angle with respect to the X'axis in the first quadrant.
  • Graph 36 shown in FIG. 10 shows the relationship between the azimuth angle and the light intensity of the diffraction pattern 43 shown in FIG.
  • Graph 37 shown in FIG. 10 shows the relationship between the azimuth angle and the light intensity of the diffraction pattern 41 shown in FIG. In the diffraction pattern 41, the light intensity is constant regardless of the azimuth angle. Therefore, the graph 37 is a linear graph showing a constant intensity.
  • the diffracted light is generated evenly regardless of the orientation.
  • Most of the naturally emitted light propagating along the optical axis 31 is incident on the opening 19c, while a part of the naturally emitted light enters the opening 19a or 19b.
  • the naturally emitted light is amplified in the resonator composed of the mirror 21a and the target 106 as described above.
  • the light intensity in the diffraction pattern 43 is strengthened in the direction of the perpendicular on each side of the square and weakened in the direction of the diagonal.
  • the light intensity is the minimum value in the direction corresponding to the diagonal line
  • the light intensity is the maximum value in the direction corresponding to the perpendicular line on each side of the square.
  • the light intensity in the diagonal direction is reduced as compared with the case of the diffraction pattern 41.
  • the direction of the line segment 27 connecting the center position of the opening 19a and the center position of the opening 20a is the direction of the opening 20a.
  • the direction is different from the direction of the line segment 26, which is a perpendicular line on the side of the square presented by.
  • the central position of the opening 19a is a position other than the position on the perpendicular line on the side of the square exhibited by the opening 20a.
  • the direction in which the light intensity is strengthened in the diffraction pattern 43 is the direction of the opening 19a seen from the center position of the opening 20a. It is different from the direction of the center position.
  • the XY plane is a plane parallel to the X direction and the Y direction. Since the direction of the center position of the opening 19a as seen from the center position of the opening 20a and the direction in which the light intensity is enhanced are different from each other, the naturally emitted light propagating to the opening 19a due to the diffraction phenomenon in the opening 20a. Is reduced.
  • the diagonal line of the square and the line segment 27 exhibited by the opening 20a coincide with each other. That is, when the square presented by the opening 20a is projected onto the shielding plate 15, the center position of the opening 19a and the center position of the opening 20a are aligned with each other in the diagonal direction of the square. In other words, the opening 19a and the opening 20a are aligned with each other in the direction of one angle viewed from the center position of the opening 20a.
  • the direction in which the light intensity of the diffraction pattern 43 is weakened is the center position of the opening 19a as seen from the center position of the opening 20a. It is adjusted to the direction of.
  • the direction of the center position of the opening 19a viewed from the center position of the opening 20a and the direction in which the light intensity is weakened match each other, the naturally emitted light propagating to the opening 19a due to the diffraction phenomenon of the opening 20a is generated. It will be reduced.
  • the spontaneous emission light propagating to the opening 19a due to the diffraction phenomenon of the opening 20a is reduced as compared with the case where the opening 25 which is a circular opening is provided.
  • the naturally emitted light propagating to the opening 19a the naturally emitted light propagating between the mirror 21a and the target 106 can be reduced. Since the amplification of the naturally emitted light is suppressed by reducing the naturally emitted light propagating between the mirror 21a and the target 106, the gas laser apparatus 100 suppresses the oscillation of the self-excited oscillation light in the gas laser amplification system 200. Is possible.
  • the laser light of the optical axis 31 is the laser light that first propagates in the discharge regions 23 and 24 after being incident on the housing 1. Therefore, in the opening 20a through which the laser light of the optical axis 31 passes, the amplification action of the naturally emitted light due to the diffraction phenomenon appears most strongly among the openings 19a, 19b, 19c, 20a, 20b, 20c.
  • the gas laser apparatus 100 can effectively reduce the naturally emitted light by including the linear portion in the planar shape of the opening 20a.
  • FIG. 12 is an explanatory diagram of an arrangement of openings in Comparative Example 2 of the first embodiment.
  • the shielding plate 16 is provided with an opening 28 instead of the opening 20a.
  • the openings 28, 20b, 20c provided in the shielding plate 16 are projected onto the shielding plate 15, and the diffraction pattern 46 generated on the shielding plate 15 when the laser beam passes through the opening 28. Is shown.
  • the openings 28, 20b, and 20c projected on the shielding plate 15 are shown by broken lines.
  • the planar shape of the opening 28 is square.
  • the square presented by the opening 28 is the same as the square presented by the opening 20a rotated by 45 degrees in the direction of the azimuth angle.
  • the diffraction pattern 46 is the same as the diffraction pattern 43 rotated by 45 degrees in the direction of the azimuth angle.
  • the line segment 26 is a perpendicular line on one side of the square presented by the opening 28.
  • the line segment 26 coincides with the line segment connecting the center position of the opening 28 and the center position of the opening 19a. That is, when the planar shape of the opening 28 is projected onto the shielding plate 15, the center position of the opening 19a is a position on a perpendicular line on the side of the square exhibited by the opening 28. In this case, the direction in which the light intensity of the diffraction pattern 46 is strengthened is the same as the direction of the center position of the opening 19a as seen from the center position of the opening 28.
  • the direction of the line segment 27 connecting the center position of the opening 19a and the center position of the opening 20a is the direction of the opening.
  • the direction of the planar shape of the opening 20a on the XY plane is determined so as to be in a direction different from the direction of the line segment 26 which is a perpendicular line in the straight line portion of 20a.
  • the planar shape of the opening 20a is not limited to a square, but may be a rectangle.
  • the gas laser apparatus 100 is provided with an opening 20a having a planar shape including a straight line portion.
  • the direction of the line segment 27 connecting the geometric center of the planar shape of the opening 19a and the geometric center of the planar shape of the opening 20a is the direction of the perpendicular line in the straight line portion.
  • the direction is different from the direction.
  • FIG. 13 is a perspective view showing a part of the configuration provided inside the gas laser apparatus according to the second embodiment of the present invention.
  • the gas laser apparatus 100 according to the second embodiment is provided with two openings 20a and 50 which are non-circular openings.
  • the gas laser apparatus 100 according to the second embodiment is the same as the gas laser apparatus 100 according to the first embodiment, except that the opening 50 is provided in place of the opening 19a shown in FIG.
  • the same components as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals, and the configurations different from those in the first embodiment will be mainly described.
  • the naturally emitted light reflected by the mirror 22a is diffracted by the diffraction phenomenon when passing through the opening 20a
  • the naturally emitted light propagating from the opening 20a along the optical axis 32 passes through the opening 50. It passes through and enters the mirror 21a.
  • Most of the naturally emitted light reflected by the mirror 21a and passed through the opening 50 propagates along the optical axis 33 and enters the opening 20b.
  • the diffracted light generated by the diffraction phenomenon at the opening 20a propagates along the optical axis 32 and further propagates along the optical axis 33, so that a part of the naturally emitted light passing through the opening 50 is opened. It may be incident on the opening 20c next to the portion 20b.
  • the naturally emitted light that has passed through the opening 20c passes through the window 18 and is emitted to the outside of the gas laser apparatus 100.
  • the gas laser amplification system 200 may generate self-excited oscillation light by emitting naturally emitted light from the gas laser apparatus 100 in this way.
  • FIG. 14 is a diagram for explaining a state of diffracted light propagating in the gas laser apparatus according to the second embodiment.
  • FIG. 14 shows a state in which the laser light propagating along the optical axis 33 passing through the opening 50 is incident on the opening 20b, and a diffraction pattern 47 generated on the shielding plate 16 when the laser light passes through the opening 50. It shows that.
  • the opening 50 is a second opening through which the laser beam reciprocating in the discharge regions 23 and 24 passes through the opening 19c.
  • the planar shape of the opening 50 is the same square as the square presented by the opening 20a. In the following description, the center position of the opening 50 is assumed to be the geometric center of the planar shape of the opening 50.
  • the distance between the center position of the opening 50 and the center position of the opening 19b, the distance between the center position of the opening 19b and the center position of the opening 19c, and the center position of the opening 19c and the opening 50 The distance from the center position of is the same.
  • the diffraction pattern 47 is the same as the diffraction pattern 43 shown in FIG.
  • the line segment connecting the center position of the opening 50, which is the second opening, and the center position of the opening 20c, which is the fifth opening is ,
  • the direction is different from the direction of the perpendicular line on the side of the square exhibited by the opening 50.
  • the line segment connecting the center position of the opening 50 and the center position of the opening 20c coincides with the diagonal line of the square presented by the opening 50. ing. That is, when the square presented by the opening 50 is projected onto the shielding plate 16, the center position of the opening 20c and the stop position of the opening 50 are aligned with each other in the diagonal direction of the square.
  • the direction in which the light intensity of the diffraction pattern 47 is weakened is the direction of the opening 20c seen from the center position of the opening 50. It is adjusted to the direction of the center position.
  • the naturally emitted light propagating from the opening 50 to the opening 20c is reduced.
  • the naturally emitted light propagating to the opening 20c it is possible to reduce the naturally emitted light propagating between the mirror 21a and the target 106.
  • the naturally emitted light propagating to the opening 50 due to the diffraction phenomenon at the opening 20a is reduced as in the first embodiment.
  • the reduction of the naturally emitted light propagating between the mirror 21a and the target 106 suppresses the amplification of the naturally emitted light. Therefore, the gas laser apparatus 100 is self-oscillated in the gas laser amplification system 200. It is possible to suppress the oscillation of light.
  • the gas laser device 100 may be provided with three or more non-circular openings. In this case as well, the gas laser apparatus 100 can suppress the oscillation of the self-excited oscillation light.
  • FIG. 15 is an explanatory diagram of an arrangement of openings provided in the gas laser apparatus according to the third embodiment of the present invention.
  • the planar shape of the opening 20a is inclined as compared with the planar shape of the opening 20a in the first embodiment.
  • the gas laser apparatus 100 according to the third embodiment is the same as the gas laser apparatus 100 according to the first embodiment, except that the planar shape of the opening 20a is inclined as compared with the case of the first embodiment.
  • the same components as those in the first and second embodiments are designated by the same reference numerals, and the configurations different from those of the first and second embodiments will be mainly described.
  • the openings 20a, 20b, 20c provided in the shielding plate 16 are projected onto the shielding plate 15, and the diffraction pattern 48 generated on the shielding plate 15 when the laser light passes through the opening 20a. Is shown.
  • the intensity of light is represented by light and dark. The brighter the part, the stronger the light intensity.
  • the openings 20a, 20b, and 20c projected on the shielding plate 15 are shown by broken lines.
  • the line segment 27 is a line segment connecting the center position of the opening 19a and the center position of the opening 20a when the planar shape of the opening 20a is projected onto the shielding plate 15.
  • the line segment 52 is one diagonal line in the square exhibited by the opening 20a.
  • the line segment 52 is a line segment that coincides with the X'axis shown in FIG.
  • the angle formed by the line segment 52 and the line segment 27 is ⁇ , the relationship between the angle ⁇ and the intensity of the diffracted light is the same as in the case of graph 36 shown in FIG.
  • n is an arbitrary integer. n ( ⁇ / 2) ⁇ 0.14 ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ n ( ⁇ / 2) + 0.14 ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ (1)
  • the range of the angle ⁇ represented by the above equation (1) is generated by the spontaneous emission light passing through the square opening 20a rather than the intensity of the diffracted light generated by the spontaneous emission light passing through the circular opening. This is the range of the angle ⁇ at which the intensity of the diffracted light becomes weaker.
  • the angle ⁇ formed by the line segment 52 and the line segment 27 is included in the range represented by the above equation (1), the gas laser apparatus 100 emits naturally emitted light propagating to the opening 19a by a diffraction phenomenon. , It can be reduced as compared with the case of a circular opening.
  • FIG. 16 is an explanatory view of an opening provided in the gas laser apparatus according to the fourth embodiment of the present invention.
  • the planar shape of the opening 60 provided in the gas laser apparatus 100 according to the fourth embodiment is a regular hexagon.
  • the same components as those in the first to third embodiments are designated by the same reference numerals, and the configurations different from those in the first to third embodiments will be mainly described.
  • FIG. 16 shows the planar shape of the opening 60 and the diffraction pattern 61 generated by the laser light passing through the opening 60.
  • the intensity of light is represented by light and dark. The brighter the part, the stronger the light intensity.
  • the planar shape of the opening 60 has six straight portions corresponding to the sides of a regular hexagon.
  • the intensity of light around the opening 60 is increased in the direction of the perpendiculars on each side of the regular hexagon presented by the opening 60. Further, the light intensity is weakened in the direction of each corner of the regular hexagon. That is, in the diffraction pattern 61, among the diagonal lines of the regular hexagon, the light intensity is weakened in the direction of the diagonal line which is the axis of symmetry of the regular hexagon.
  • the planar shape of the opening 60 is not limited to a regular hexagon.
  • the planar shape may be a polygon having one or more pairs of sides parallel to each other.
  • a polygon having a planar shape is a polygon having four or more and an even number of corners. Considering the symmetry of the diffraction pattern 61, the polygon is preferably a regular polygon.
  • the planar shape of the opening 50 provided in the shielding plate 15 in the second embodiment may be a polygon similar to the opening 60 of the fourth embodiment.
  • FIG. 17 is an explanatory view of an opening provided in the gas laser apparatus according to the fifth embodiment of the present invention.
  • the planar shape of the opening 62 provided in the gas laser apparatus 100 according to the fifth embodiment is a shape having a curved portion.
  • the same components as those in the first to fourth embodiments are designated by the same reference numerals, and the configurations different from those in the first to fourth embodiments will be mainly described.
  • FIG. 17 shows the planar shape of the opening 62 and the diffraction pattern 63 generated by the laser light passing through the opening 62.
  • the intensity of light is represented by light and dark. The brighter the part, the stronger the light intensity.
  • the planar shape of the opening 62 is a shape in which one of the squares has a rounded corner.
  • the intensity of light around the opening 62 is increased in the direction of the perpendicular in one of the straight portions across the corner. Further, in the direction of the line segment connecting the geometric center and the angle in the planar shape of the opening 62, the light intensity is weakened in the direction of the angle between the two straight line portions.
  • the geometric center in the planar shape of the opening 62 is the center of gravity of the area of the planar shape of the opening 62.
  • the center position of the opening 19a and the center of gravity of the opening 62 are set.
  • the direction of the connecting line segment is different from the direction of the perpendicular line in the straight line portion.
  • the center position of the opening 19a and the center of gravity of the opening 62 connect the center of gravity of the planar shape of the opening 62 and the corner of the planar shape. They are lined up with each other in the direction of the line segment. As a result, the spontaneously emitted light propagating to the opening 19a due to the diffraction phenomenon at the opening 62 is reduced.
  • planar shape of the opening 62 is not limited to the planar shape described in the fifth embodiment.
  • the planar shape may have at least two straight portions sandwiching the corner.
  • the planar shape may be a shape in which at least one corner of a polygon having one or more pairs of sides parallel to each other is rounded.
  • the planar shape of the opening 50 provided in the shielding plate 15 in the second embodiment may be the same as the planar shape of the opening 62 of the fifth embodiment.
  • FIG. 18 is a perspective view showing a main part of the gas laser apparatus according to the sixth embodiment of the present invention.
  • suppression of self-excited oscillation light by providing the gas laser apparatus 100 with a mirror 70 which is a concave mirror will be described.
  • the same components as those in the first to fifth embodiments are designated by the same reference numerals, and the configurations different from those in the first to fifth embodiments will be mainly described.
  • FIG. 19 is an explanatory diagram of a diffraction pattern in the gas laser apparatus according to the sixth embodiment.
  • FIG. 19 shows a plane wave diffraction pattern 71 passing through the circular opening and a focused beam diffraction pattern 72 passing through the circular opening.
  • the light intensity is represented by light and dark. The brighter the part, the stronger the light intensity.
  • the spread of diffracted light is suppressed by the focused beam rather than the plane wave.
  • the naturally emitted light reflected by the mirror 70 becomes a focused beam, propagates through the discharge regions 23 and 24, and passes through the opening 20b.
  • the naturally emitted light passes through the opening 20b, the spread of the diffracted light on the surface of the shielding plate 16 is suppressed, so that the naturally emitted light propagating to the opening 20c is reduced.
  • the spontaneous emission light propagating to the opening 20c due to the diffraction phenomenon at the opening 20a is reduced.
  • the gas laser apparatus 100 is not limited to the three-axis orthogonal gas laser apparatus, and may be a gas laser apparatus such as a high-speed axial flow system or a wall surface cooling system.
  • the configuration shown in the above-described embodiment shows an example of the content of the present invention, can be combined with another known technique, and is one of the configurations without departing from the gist of the present invention. It is also possible to omit or change the part.

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Abstract

ガスレーザ装置は、放電領域(23,24)へ伝搬するレーザ光が通る第1の開口部である開口部(19c)と、第1の開口部を通って放電領域(23,24)を往復したレーザ光が通る第2の開口部である開口部(19a)とが設けられている第1の遮蔽部品である遮蔽板(15)と、第1の開口部を通って放電領域(23,24)を伝搬したレーザ光と、放電領域(23,24)を経て第2の開口部へ伝搬するレーザ光とが通る第3の開口部である開口部(20a)が設けられており、放電領域(23,24)を挟んで第1の遮蔽部品と対向する第2の遮蔽部品である遮蔽板(16)と、を備える。第3の開口部の平面形状には、直線部位が含まれている。第3の開口部の平面形状を第1の遮蔽部品に投影した場合において、第2の開口部の平面形状の幾何中心と第3の開口部の平面形状の幾何中心とを結ぶ線分の方向は、直線部位における垂線の方向とは異なる方向である。

Description

ガスレーザ装置
 本発明は、レーザガスを用いてレーザ光を増幅するためのガスレーザ装置に関する。
 ガスレーザ装置を有するガスレーザ増幅システムでは、ガスレーザ装置において発生した自然放出光の増幅によって自励発振光が発生することがある。自励発振光によってガスレーザ装置の増幅ゲインが消費されることで、ガスレーザ増幅システムによって出力されるパルスレーザ光の増幅率は低下する。このため、自励発振光が発生することによって、ガスレーザ増幅システムによるパルスレーザ光の出力が低下する。また、ガスレーザ増幅システム内の部品へ自励発振光が照射することによって、当該部品が熱による損傷を受けるといった不具合が起きる場合がある。このため、ガスレーザ装置では、自励発振光の発振を抑制することが望まれている。
 特許文献1には、自励発振光を反射する反射体と、反射体で反射した自励発振光を吸収する光吸収体とを有するガスレーザ装置が開示されている。特許文献1にかかるガスレーザ装置において、反射体は、パルスレーザ光の光軸の方向とは異なる方向へ伝搬した自励発振光を光吸収体へ向けて反射する。特許文献1にかかるガスレーザ装置は、光吸収体における自励発振光の吸収によって自励発振光を除去する。
特許第6215334号公報
 しかしながら、上記特許文献1にかかる従来のガスレーザ装置は、パルスレーザ光の光軸の方向とは異なる方向へ伝搬する自励発振光を除去可能である一方、パルスレーザ光の光軸と同じ光軸において発振する自励発振光を除去することができないという問題があった。
 本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、自然放出光に起因する自励発振光の発振を抑制可能とするガスレーザ装置を得ることを目的とする。
 上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかるガスレーザ装置は、放電領域へ供給されるレーザガスを励起させる放電電極と、放電領域へ伝搬するレーザ光である第1のレーザ光が通る第1の開口部と、第1の開口部を通って放電領域を往復したレーザ光である第2のレーザ光が通る第2の開口部とが設けられている第1の遮蔽部品と、第1の開口部を通って放電領域を伝搬した第1のレーザ光と、放電領域を経て第2の開口部へ伝搬する第2のレーザ光とが通る第3の開口部が設けられており、放電領域を挟んで第1の遮蔽部品と対向する第2の遮蔽部品と、を備える。第3の開口部の平面形状には、直線部位が含まれている。第3の開口部の平面形状を第1の遮蔽部品に投影した場合において、第2の開口部の平面形状の幾何中心と第3の開口部の平面形状の幾何中心とを結ぶ線分の方向は、直線部位における垂線の方向とは異なる方向である。
 本発明にかかるガスレーザ装置は、自然放出光に起因する自励発振光の発振を抑制することができるという効果を奏する。
本発明の実施の形態1にかかるガスレーザ装置の斜視図 実施の形態1にかかるガスレーザ装置の内部に設けられている構成の一部を示す斜視図 実施の形態1にかかるガスレーザ装置を有するガスレーザ増幅システムのブロック図 図3に示すガスレーザ増幅システムのうち、実施の形態1にかかるガスレーザ装置から出射されたレーザ光を増幅させるガスレーザ装置の斜視図 実施の形態1の比較例1における回折光が発生する様子を説明するための図 実施の形態1の比較例1において発生する回折光の強度分布の例を示す図 実施の形態1にかかるガスレーザ装置において回折光が発生する様子を説明するための図 実施の形態1にかかるガスレーザ装置において発生する回折光の強度分布の例を示す図 実施の形態1にかかるガスレーザ装置が有する2つの遮蔽板における開口部の配置についての説明図 図6に示す強度分布の回折光と図8に示す強度分布の回折光とについて、方位角と回折光の強度との関係を示す図 図10に示す関係における方位角について説明するための図 実施の形態1の比較例2における開口部の配置についての説明図 本発明の実施の形態2にかかるガスレーザ装置の内部に設けられている構成の一部を示す斜視図 実施の形態2にかかるガスレーザ装置において伝搬する回折光の様子を説明するための図 本発明の実施の形態3にかかるガスレーザ装置に設けられている開口部の配置についての説明図 本発明の実施の形態4にかかるガスレーザ装置に設けられている開口部についての説明図 本発明の実施の形態5にかかるガスレーザ装置に設けられている開口部についての説明図 本発明の実施の形態6にかかるガスレーザ装置の要部を示す斜視図 実施の形態6にかかるガスレーザ装置における回折パターンについての説明図
 以下に、本発明の実施の形態にかかるガスレーザ装置を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。
実施の形態1.
 図1は、本発明の実施の形態1にかかるガスレーザ装置の斜視図である。図2は、実施の形態1にかかるガスレーザ装置の内部に設けられている構成の一部を示す斜視図である。図3は、実施の形態1にかかるガスレーザ装置を有するガスレーザ増幅システムのブロック図である。
 実施の形態1にかかるガスレーザ装置100は、いわゆる3軸直交型ガスレーザ装置である。図1および図2において、X方向、Y方向およびZ方向は、互いに直交する3つの方向とする。Y方向は電極ギャップ長さの方向、X方向は電極ギャップ間においてレーザガスが流れる方向を表す。ガスレーザ装置100内において、光軸の方向はおおよそZ方向である。図1および図2において、X方向のうち矢印が指す方向をプラスX方向、X方向のうち矢印が指す方向とは逆の方向をマイナスX方向とする。Y方向のうち矢印が指す方向をプラスY方向、Y方向のうち矢印が指す方向とは逆の方向をマイナスY方向とする。Z方向のうち矢印が指す方向をプラスZ方向、Z方向のうち矢印が指す方向とは逆の方向をマイナスZ方向とする。
 ガスレーザ装置100は、レーザ媒質であるレーザガスが封入される筐体1と、筐体1に収容されている4つの電極基板2,3,4,5と、放電電極である電極6,7,8,9とを有する。電極6は、電極基板2に設けられている。電極7は、電極基板3に設けられている。電極6と電極7とは、放電領域23を挟んで互いに対向する放電電極対を構成する。電極6と電極7とは、放電領域23へ供給されるレーザガスを励起する。電極8は、電極基板4に設けられている。電極9は、電極基板5に設けられている。電極8と電極9とは、放電領域24を挟んで互いに対向する放電電極対を構成する。電極8と電極9とは、放電領域24へ供給されるレーザガスを励起する。
 電極基板2,3,4,5は、アルミナなどの誘電体を用いて形成されている。電極基板2,3,4,5の各々の表面には、メタライズまたはペースト等によって金属製の電極6,7,8,9がそれぞれ形成されている。電極6,7,8,9の表面は、電極基板2,3,4,5と同様にアルミナなどの誘電体によって覆われている。図1において、電極6,7,8,9の表面を覆う誘電体の図示を省略している。
 高周波電源からの交流電圧が電極6および電極7の間と電極8および電極9の間とに印加されると、無声放電が発生する。これにより、電極6および電極7の間には、放電領域23が形成される。電極8および電極9の間には、放電領域24が形成される。無声放電は、オゾナイザ放電あるいは誘電体バリア放電とも称される。
 筐体1には、ブロワ10および熱交換器11,12が収容されている。ブロワ10は、筐体1内に封入されたレーザガスを循環させる。熱交換器11は、電極基板2のうち放電領域23が形成される側とは逆側に配置されている。熱交換器11に対向して配置されているブロワ10は、熱交換器11と放電領域23との間を循環するガス流13を発生させる。放電領域23におけるガス流13の方向はプラスX方向である。ブロワ10は、100m/s程度のガス流13を放電領域23へ供給する。放電領域23を通り抜けたガス流13は熱交換器11によって冷却される。熱交換器11によって冷却されたガス流13は再び放電領域23へ供給される。
 熱交換器12は、電極基板4のうち放電領域24が形成される側とは逆側に配置されている。熱交換器12に対向して配置されているブロワ10は、熱交換器12と放電領域24との間を循環するガス流14を発生させる。放電領域24におけるガス流14の方向はマイナスX方向である。ブロワ10は、100m/s程度のガス流14を放電領域24へ供給する。放電領域24を通り抜けたガス流14は熱交換器12によって冷却される。熱交換器12によって冷却されたガス流14は再び放電領域24へ供給される。放電領域23,24におけるレーザガスの圧力は、大気圧よりも低い圧力に維持される。
 放電領域23におけるガス流13と放電領域24におけるガス流14とは、互いに逆向きである。ガスレーザ装置100において、各放電領域23,24における利得分布が重ね合わせられることによって得られる全体利得分布は対称になる。これにより、ガスレーザ装置100は、出力されるレーザビームの対称性を向上させることができる。
 レーザガスは、例えば、炭酸ガスおよび窒素ガスを含む。レーザガスに含まれる分子または原子が無声放電によってレーザ上準位へ励起されると、レーザガスへレーザ光が通されたときにおける誘導放出によって、例えば10.6μm付近の波長の光が増幅される。なお、ガスレーザ装置100では、レーザガスとして、CO,He-Cd,HF,Ar+,ArF,KrF,XeClおよびXeFなどが使用されても良い。
 ガスレーザ装置100は、放電領域23,24を伝搬するレーザ光を反射するミラー21a,21b,22a,22bと、レーザ光を遮蔽する遮蔽板15,16と、レーザ光が透過するウィンドウ17,18とを有する。
 第1のミラーであるミラー21a,21bと第2のミラーであるミラー22a,22bとは、遮蔽板15、放電領域23,24および遮蔽板16を挟んで互いに対向する。ミラー21a,21b,22a,22bは、光増幅の経路を構成する。ミラー21a,21bは、ミラーホルダーを介して筐体1に取り付けられている。ミラー22a,22bは、ミラーホルダーを介して筐体1に取り付けられている。なお、図1および図2では、ミラーホルダーの図示を省略している。各ミラー21a,21b,22a,22bには、全反射ミラーが使用される。各ミラー21a,21b,22a,22bの反射面は、平面、凹面および凸面のいずれであっても良い。すなわち、ミラー21a,21b,22a,22bの各々は、平面ミラー、凹面ミラーおよび凸面ミラーのいずれであっても良い。
 ウィンドウ17は、筐体1のうちミラー21a,21bが設けられている側の面に設けられている。筐体1の外から光軸110に沿って伝搬してウィンドウ17へ入射したレーザ光は、ウィンドウ17を透過して、筐体1の中へ入射する。ウィンドウ18は、筐体1のうちミラー22a,22bが設けられている側の面に設けられている。筐体1の中からウィンドウ18へ入射したレーザ光は、ウィンドウ18を透過する。ウィンドウ18を透過したレーザ光は、光軸111に沿って伝搬して筐体1の外へ出射する。ウィンドウ17,18は、レーザ光を透過させる機能のほかに、筐体1の内部空間を筐体1の外から遮断する機能を有する。ウィンドウ17,18には、例えば、ダイヤモンド基板に無反射コーティングが施されたものが使用される。
 第1の遮蔽部品である遮蔽板15は、ウィンドウ17およびミラー21a,21bと放電領域23との間に配置されている。遮蔽板15には、放電領域23からミラー21a,21bへ向かうレーザ光とミラー21a,21bで反射したレーザ光とが通る開口部19a,19bが設けられている。また、遮蔽板15には、ウィンドウ17を透過したレーザ光が通る開口部19cが設けられている。開口部19aと開口部19bと開口部19cとは、X方向およびY方向において並べられている。開口部19a,19b,19cの平面形状は、いずれも円形状を呈している。開口部19a,19b,19cは、いずれも円形開口部である。遮蔽板15は、開口部19a,19b,19c以外の領域にてレーザ光を遮蔽する。
 第2の遮蔽部品である遮蔽板16は、ウィンドウ18およびミラー22a,22bと放電領域24との間に配置されている。遮蔽板15と遮蔽板16とは、放電領域23,24を挟んで互いに対向する。遮蔽板16には、放電領域24からミラー22a,22bへ伝搬するレーザ光とミラー22a,22bで反射したレーザ光とが通る開口部20a,20bが設けられている。また、遮蔽板16には、放電領域24からウィンドウ18へ伝搬するレーザ光が通る開口部20cが設けられている。開口部20aと開口部20bと開口部20cとは、X方向およびY方向において並べられている。開口部20aの平面形状は、矩形を呈している。開口部20b,20cの平面形状は、円形状を呈している。開口部20a,20b,20cのうち、開口部20aは非円形開口部であって、開口部20b,20cは円形開口部である。遮蔽板16は、開口部20a,20b,20c以外の領域にてレーザ光を遮蔽する。
 図3に示すガスレーザ増幅システム200は、レーザ光を発振するレーザ発振器101と、レーザ光を増幅する4つのガスレーザ装置100,102,103,104と、増幅されたレーザ光が供給される加工装置105とを有する。
 レーザ発振器101は、量子カスケードレーザである。レーザ発振器101は、主発振器である小型のガスレーザ発振器にガスレーザ増幅器が結合されている主発振器出力増幅器(Master Oscillator Power Amplifier:MOPA)であっても良い。
 レーザ発振器101から出射されたレーザ光は、光軸110に沿って伝搬して、ガスレーザ装置100へ入射する。ガスレーザ装置100によって増幅されたレーザ光は、ガスレーザ装置100から出射されて、光軸111に沿って伝搬する。光軸111に沿って伝搬したレーザ光は、ガスレーザ装置102、ガスレーザ装置103およびガスレーザ装置104の順に入射して、各ガスレーザ装置102,103,104によって増幅される。ガスレーザ装置104から出射されたレーザ光は、加工装置105へ入射する。
 加工装置105は、例えば金属ワークの切断加工を行う装置である。加工装置105は、加工装置105へ入射したレーザ光を金属ワーク上のターゲット106へ集光させる。加工装置105は、レーザ光を用いてワークの加工を行う装置であれば良く、金属ワークの切断加工を行う装置以外の装置であっても良い。
 なお、ガスレーザ増幅システム200において、増幅されたレーザ光が供給される装置は、加工装置105以外の装置であっても良い。増幅されたレーザ光が供給される装置は、極紫外光を発生させる装置であっても良い。極紫外光を発生させる装置は、集光させたレーザ光を、錫の液滴であるターゲット106へ照射することによって極紫外光を発生させる。
 図3に示すガスレーザ増幅システム200では、4つのガスレーザ装置100,102,103,104が互いに直列に配置されている。ガスレーザ増幅システム200において直列に配置されるガスレーザ装置の数は4つに限られず任意であるものとする。図3に示すガスレーザ増幅システム200では、図1および図2に示すガスレーザ装置100が1つ設けられている。ガスレーザ増幅システム200には、図1および図2に示すガスレーザ装置100が2つ以上設けられていても良い。
 ここで、ガスレーザ増幅システム200のうち、ガスレーザ装置100から出射されたレーザ光を増幅させるガスレーザ装置102,103,104の構成について説明する。図4は、図3に示すガスレーザ増幅システムのうち、実施の形態1にかかるガスレーザ装置から出射されたレーザ光を増幅させるガスレーザ装置の斜視図である。図4には、ガスレーザ装置102の斜視図を示している。ここでは、ガスレーザ装置102のうち、ガスレーザ装置100と共通の構成については説明を省略する。なお、ガスレーザ装置103,104の構成は、ガスレーザ装置102の構成と同様である。
 図1および図2に示すガスレーザ装置100に設けられているミラー21a,21b,22a,22bは、ガスレーザ装置102には設けられていない。また、ガスレーザ装置102において、遮蔽板15には1つの開口部19dが設けられている。遮蔽板16には、1つの開口部20dが設けられている。ガスレーザ装置102は、開口部19dに対向するウィンドウと、開口部20dに対向するウィンドウとを有する。ウィンドウは、レーザ光を透過させる機能のほかに、筐体1の内部空間を筐体1の外から遮断する機能を有する。図4では、ウィンドウの図示を省略している。
 レーザ発振器101から光軸110に沿って伝搬したレーザ光は、図2に示すようにウィンドウ17を透過して、筐体1の中へ入射する。筐体1の中へ入射したレーザ光は、光軸31に沿って伝搬する第1のレーザ光となる。第1のレーザ光は、第1の開口部である開口部19cを通る。開口部19cを通った第1のレーザ光は、光軸31に沿って、放電領域23と放電領域24とを順次伝搬する。第1のレーザ光は、筐体1へ入射してから最初に放電領域23,24を伝搬するレーザ光である。レーザ光は、放電領域23,24を通ることによって増幅される。第1のレーザ光は、放電領域23と放電領域24とを通り抜けてから、開口部20aを通り、ミラー22aへ入射する。放電領域23,24を伝搬してミラー22aへ入射した第1のレーザ光は、ミラー22aでの反射によって、光軸32に沿って伝搬する第2のレーザ光となる。非円形開口部である開口部20aは、ガスレーザ装置100に設けられている6つの開口部19a,19b,19c,20a,20b,20cのうち、光軸31,32,33,34,35に沿って伝搬するレーザ光が2番目に到達する開口部である。ミラー22aで反射したレーザ光は、再び開口部20aを通る。
 開口部20aを通った第2のレーザ光は、光軸32に沿って、放電領域24と放電領域23とを順次伝搬する。第2のレーザ光は、放電領域24と放電領域23とを通り抜けてから、開口部19aを通り、ミラー21aへ入射する。開口部19aは、開口部19cを通って放電領域23,24を往復したレーザ光である第2のレーザ光が通る第2の開口部である。開口部20aは、開口部19cを通って放電領域23,24を伝搬した第1のレーザ光と、放電領域23,24を経て開口部19aへ伝搬する第2のレーザ光とが通る第3の開口部である。
 ミラー21aで反射したレーザ光は、再び開口部19aを通る。放電領域23,24を伝搬してミラー21aへ入射した第2のレーザ光は、ミラー21aでの反射によって、光軸33に沿って伝搬する第3のレーザ光となる。開口部19aを通った第3のレーザ光は、光軸33に沿って、放電領域23と放電領域24とを順次伝搬する。第3のレーザ光は、放電領域23と放電領域24とを通り抜けてから、開口部20bを通り、ミラー22bへ入射する。開口部20bは、開口部19aを通って放電領域23,24を伝搬した第3のレーザ光が通る第4の開口部である。
 ミラー22bで反射したレーザ光は、再び開口部20bを通る。開口部20bを通ったレーザ光は、光軸34に沿って、放電領域24と放電領域23とを順次伝搬する。レーザ光は、放電領域24と放電領域23とを通り抜けてから、開口部19bを通り、ミラー21bへ入射する。
 ミラー21bで反射したレーザ光は、再び開口部19bを通る。光軸34に沿って伝搬したレーザ光は、ミラー21bでの反射によって、光軸35に沿って伝搬する第4のレーザ光となる。開口部19bを通った第4のレーザ光は、光軸35に沿って、放電領域23と放電領域24とを順次伝搬する。第4のレーザ光は、放電領域23と放電領域24とを通り抜けてから、開口部20cを通る。開口部20cは、開口部20bを通って放電領域23,24を往復したレーザ光である第4のレーザ光が通る第5の開口部である。
 開口部20cを通ったレーザ光は、ウィンドウ18へ入射する。ウィンドウ18を透過したレーザ光は、光軸111に沿って伝搬して筐体1の外へ出射する。ガスレーザ装置100では、各ミラー21a,21b,22a,22bでの反射によってレーザ光が放電領域23,24を通り抜けるごとに、レーザ光は増幅される。
 ガスレーザ装置100から出射したレーザ光は、ガスレーザ装置102,103,104を順次通り抜けて、加工装置105へ入射する。ガスレーザ装置102,103,104では、各ガスレーザ装置102,103,104の放電領域23,24をレーザ光が1回ずつ通り抜けることによって、レーザ光は増幅される。
 ここで、ガスレーザ増幅システム200における自励発振光の発生について説明する。レーザ発振器101によるパルスレーザ光の出力は10Wオーダーから100Wオーダーであるのに対し、ガスレーザ装置104によるパルスレーザ光の出力は20kW以上にまで増加する。レーザ発振器101から出射されるパルスレーザ光のパルス幅は、1ナノ秒オーダーから100ナノ秒オーダーである。レーザ発振器101から出射されるパルスレーザ光のパルス周波数は、10kHzオーダーから100kHzオーダーである。ガスレーザ装置100,102,103,104は、高周波放電を連続して発生させる。この際、ガスレーザ装置100へ入射するパルスレーザ光のパルス周波数が放電周波数よりも低い場合、あるいはパルスレーザ光の入射が一時的に休止される場合に、パルスレーザ光が発振されていない状態であるときも放電は発生したままとなる。
 ガスレーザ増幅システム200には、10Wオーダーのレーザ光を20kW以上にまで増幅可能とするための高い増幅率が必要とされる。ガスレーザ増幅システム200の増幅率が高いために、レーザ発振器101によってパルスレーザ光が出射されていない状態において自然放出光が発生した場合に、ガスレーザ増幅システム200には、自然放出光の増幅によって自励発振光が発生することがある。
 一例として、ガスレーザ装置104において発生した自然放出光がガスレーザ装置103とガスレーザ装置102において増幅しながら伝搬して、ガスレーザ装置100へ入射したとする。光軸111に沿って伝搬した自然放出光がウィンドウ18からガスレーザ装置100へ入射した場合、自然放出光の大半は、光軸35,34,33,32,31の順に沿って伝搬して、ウィンドウ17からガスレーザ装置100の外へ出射する。
 仮に、ミラー22aで反射した自然放出光が開口部20aを通るときの回折現象によって、回折光が生じたとする。自然放出光の大半は、開口部20aから光軸31に沿って伝搬して、開口部19cを通る。開口部19cを通った自然放出光は、ウィンドウ17を透過して、ガスレーザ装置100の外へ出射する。また、自然放出光の一部は、開口部20aから光軸32に沿って伝搬して、開口部19aを通る。開口部19aを通った自然放出光は、ミラー21aで反射して開口部19aを通る。開口部19aを通った自然放出光は、光軸33,34,35の順に沿って伝搬して、ウィンドウ18からガスレーザ装置100の外へ出射する。このようにして、ガスレーザ装置100から出射した自然放出光は、ガスレーザ装置102,103,104において増幅しながら伝搬して、加工装置105へ入射する。
 加工装置105へ入射した自然放出光は、ターゲット106へ入射する。ターゲット106へ入射した自然放出光の一部は、ターゲット106で反射することによって、ターゲット106へ入射するときの経路を逆に伝搬する。ターゲット106から伝搬した自然放出光は、ガスレーザ装置104へ戻されて、ガスレーザ装置104で増幅される。ガスレーザ装置104で増幅された自然放出光は、再びガスレーザ装置103とガスレーザ装置102とを通って、ガスレーザ装置100へ伝搬する。
 自然放出光がミラー21aとターゲット106との間を伝搬することによって、自然放出光は、放電領域23,24を通るごとに増幅される。かかる自然放出光の増幅において、ミラー21aとターゲット106とは、共振器として機能する。このように、ガスレーザ増幅システム200は、自然放出光が開口部20aを通るときの回折現象が要因となって自然放出光が増幅されることによって、自励発振光を発生させることがある。
 開口部20aでの回折に起因して発生する自励発振光は、ガスレーザ増幅システム200によって出力されるパルスレーザ光の光軸と同じ光軸において発振する。なお、自励発振光の光軸とパルスレーザ光の光軸とが同じであるとは、双方が一致する場合のほか、自励発振光がパルスレーザ光と同様に伝搬するものとみなし得る程度のずれがある場合も含まれるものとする。
 自励発振光は、ガスレーザ増幅システム200が発生させる本来のパルスレーザ光とは異なる挙動を示すことから、意図しないタイミングで自励発振光がターゲット106へ照射することがある。パルスレーザ光の光軸に沿って伝搬した自励発振光が、その後パルスレーザ光とは異なる方向へ伝搬した場合、ガスレーザ増幅システム200内の部品へ自励発振光が照射することによって、当該部品を損傷させることがある。また、自励発振による増幅ゲインの消費によってパルスレーザ光の増幅率が減少するため、ガスレーザ増幅システム200によるパルスレーザ光の出力が低下する。
 なお、自然放出光の回折現象は、開口部20a以外の開口部においても発生し得る。自然放出光の発生源は、ガスレーザ増幅システム200のうちガスレーザ装置104以外の構成要素である場合もある。共振器の一部として機能する構造要素は、ターゲット106に限られない。共振器の一部として機能する構造要素は、ガスレーザ装置104の開口部19d,20dなど、パルスレーザ光が伝搬する光路中に配置されている構造物であっても良い。
 上述するように、ガスレーザ装置100には、光軸31,32,33,34,35に沿って伝搬するレーザ光が通る開口部19a,19b,19c,20a,20b,20cの中に、非円形開口部である開口部20aが含まれている。実施の形態1では、ガスレーザ装置100は、非円形開口部が設けられていることにより、パルスレーザ光の光軸と同じ光軸において発振する自励発振光を抑制する。
 以下に、実施の形態1にかかるガスレーザ装置100による自励発振光の抑制について説明する。実施の形態1では、非円形開口部において、円形開口部の場合とは異なる態様で回折光が発生することによって、自励発振光が抑制される。ここでは、非円形開口部において回折光が発生する様子について、円形開口部において回折光が発生する様子との比較によって説明する。
 図5は、実施の形態1の比較例1における回折光が発生する様子を説明するための図である。図6は、実施の形態1の比較例1において発生する回折光の強度分布の例を示す図である。比較例1において、遮蔽板16には、上記の開口部20aに代えて、円形開口部である開口部25が設けられている。
 図5には、開口部25を通り光軸31に沿って伝搬した自然放出光が開口部19cへ入射する様子と、自然放出光が開口部25を通ることによって遮蔽板15上に発生する回折パターン41とを示している。図6には、回折パターン41と、遮蔽板15上における回折光の強度分布42とを示している。回折パターン41では、明暗により光の強度を表している。明るく示している部分ほど光の強度が強い。強度分布42は、遮蔽板15上における光の強度の分布を3次元表示したものである。回折パターン41の中心は、光軸31の位置である。
 開口部25を通った光は、回折パターン41の中心から離れるにしたがって弱くなりながら明暗を繰り返す同心円状の回折パターン41を形成する。回折パターン41は、中心から離れるにしたがって暗くなる環状のパターンとなる。
 図7は、実施の形態1にかかるガスレーザ装置において回折光が発生する様子を説明するための図である。図8は、実施の形態1にかかるガスレーザ装置において発生する回折光の強度分布の例を示す図である。図9は、実施の形態1にかかるガスレーザ装置が有する2つの遮蔽板における開口部の配置についての説明図である。
 図7には、開口部20aを通り光軸31に沿って伝搬したレーザ光が開口部19cへ入射する様子と、レーザ光が開口部20aを通ることによって遮蔽板15上に発生する回折パターン43とを示している。図8には、回折パターン43と、遮蔽板15上における回折光の強度分布44とを示している。回折パターン43では、明暗により光の強度を表している。明るく示している部分ほど光の強度が強い。強度分布44は、遮蔽板15上における光の強度の分布を3次元表示したものである。回折パターン43の中心は、光軸31の位置である。開口部20aの平面形状は正方形であるものとする。開口部20aの平面形状は、正方形の辺に相当する4つの直線部位を有する。
 図9には、遮蔽板16に設けられている開口部20a,20b,20cを遮蔽板15に投影した様子と回折パターン43とを示している。図9では、遮蔽板15に投影された各開口部20a,20b,20cを破線により示している。
 回折パターン43は、対角線を対称軸とする線対称なパターンである。開口部19cの周囲における光の強度は、開口部20aが呈する正方形の各辺における垂線の方向において強められている。また、矩形の対角線の方向においては、光の強度は弱められている。
 図9に示す線分26は、開口部20aが呈する正方形のうちの1つの辺における垂線である。線分27は、図9に示す状態において、開口部20aの平面形状の幾何中心と開口部19aの平面形状の幾何中心とを結ぶ線分である。図9において、円形開口部である各開口部19a,19b,19c,20b,20cは、いずれも同じ面積の円形状を呈する。以下の説明において、各開口部19a,19b,19c,20a,20b,20cの中心位置とは、各開口部19a,19b,19c,20a,20b,20cの平面形状の幾何中心であるものとする。
 遮蔽板15において、開口部19aの中心位置と開口部19bの中心位置との距離、開口部19bの中心位置と開口部19cの中心位置との距離、ならびに開口部19cの中心位置と開口部19aの中心位置との距離は、いずれも同じである。遮蔽板16において、開口部20aの中心位置と開口部20bの中心位置との距離、開口部20bの中心位置と開口部20cの中心位置との距離、ならびに開口部20cの中心位置と開口部20aの中心位置との距離は、いずれも同じである。
 図10は、図6に示す強度分布の回折光と図8に示す強度分布の回折光とについて、方位角と回折光の強度との関係を示す図である。図11は、図10に示す関係における方位角について説明するための図である。図11には、回折パターン41,43のうちの第1明環における強度と方位角との関係を示している。第1明環は、エアリーディスクの外側に形成される明環のうちエアリーディスクに最も近い明環である。エアリーディスクは、第1明環よりも回折パターン41,43の中心側に位置する暗環の内側の領域である。
 図11において、開口部20aがなす正方形における1つの対角線に沿った軸をX’軸、当該正方形における他方の対角線に沿った軸をY’軸とする。方位角である角度θは、第1象限におけるX’軸を基準とする角度とする。
 図10に示すグラフ36は、図8に示す回折パターン43についての方位角と光の強度との関係を表している。図10に示すグラフ37は、図6に示す回折パターン41についての方位角と光の強度との関係を表している。回折パターン41において、光の強度は、方位角に関わらず一定である。このため、グラフ37は、一定の強度を示す直線状のグラフとなる。
 図5および図6に示す比較例1の場合、回折光は、方位に関わらず均等に発生する。光軸31に沿って伝搬した自然放出光の大半が開口部19cへ入射する一方、自然放出光の一部は、開口部19aまたは開口部19bに入り込む。自然放出光の一部が開口部19aへ入り込むことによって、自然放出光は、上述するように、ミラー21aとターゲット106とによって構成される共振器において増幅される。
 一方、回折パターン43において、光の強度は、上述するように、正方形の各辺における垂線の方向において強められており、かつ対角線の方向において弱められている。グラフ36では、対角線に一致する方位において光の強度は極小値となり、かつ正方形の各辺における垂線に一致する方位において光の強度は極大値となる。このように、回折パターン43では、対角線の方位における光の強度が、回折パターン41の場合よりも低減される。
 図9に示すように、開口部20aの平面形状を遮蔽板15に投影させた場合において、開口部19aの中心位置と開口部20aの中心位置とを結ぶ線分27の方向は、開口部20aが呈する正方形の辺における垂線である線分26の方向とは異なる方向である。言い換えると、開口部19aの中心位置は、開口部20aが呈する正方形の辺における垂線上の位置以外の位置である。
 このように、XY面における開口部20aの平面形状の向きが定められていることによって、回折パターン43のうち光の強度が強められる方向は、開口部20aの中心位置から見た開口部19aの中心位置の方向とは異なる。XY面とは、X方向とY方向とに平行な面とする。開口部20aの中心位置から見た開口部19aの中心位置の方向と、光の強度が強められる方向とが互いに異なることで、開口部20aでの回折現象によって開口部19aへ伝搬する自然放出光が低減される。
 さらに、図9において、開口部20aが呈する正方形の対角線と線分27とは、互いに一致している。すなわち、開口部20aが呈する正方形を遮蔽板15へ投影させた場合において、開口部19aの中心位置と開口部20aの中心位置とは、当該正方形の対角線の方向において互いに並べられている。言い換えると、開口部19aと開口部20aとは、開口部20aの中心位置から見た1つの角の方向において互いに並べられている。
 このように、XY面における開口部20aの平面形状の向きが定められることによって、回折パターン43のうち光の強度が弱められる方向は、開口部20aの中心位置から見た開口部19aの中心位置の方向に合わせられる。開口部20aの中心位置から見た開口部19aの中心位置の方向と、光の強度が弱められる方向とが互いに合うことによって、開口部20aの回折現象によって開口部19aへ伝搬する自然放出光が低減される。
 実施の形態1にかかるガスレーザ装置100では、開口部20aの回折現象によって開口部19aへ伝搬する自然放出光が、円形開口部である開口部25が設けられる場合と比べて低減される。開口部19aへ伝搬する自然放出光の低減により、ミラー21aとターゲット106との間を伝搬する自然放出光が低減可能となる。ミラー21aとターゲット106との間で伝搬する自然放出光の低減によって、自然放出光の増幅が抑制されることから、ガスレーザ装置100は、ガスレーザ増幅システム200における自励発振光の発振を抑制することが可能となる。
 光軸31のレーザ光は、筐体1へ入射してから最初に放電領域23,24を伝搬したレーザ光である。このため、光軸31のレーザ光が通る開口部20aでは、各開口部19a,19b,19c,20a,20b,20cの中で、回折現象による自然放出光の増幅作用が最も強く表れる。ガスレーザ装置100は、開口部20aの平面形状に直線部位を含めたことによって、自然放出光を効果的に低減できる。
 次に、実施の形態1の比較例2として、XY面における開口部20aの平面形状の向きが図9に示すように定められていない場合の例について説明する。図12は、実施の形態1の比較例2における開口部の配置についての説明図である。比較例2において、遮蔽板16には、開口部20aに代えて、開口部28が設けられている。図12には、遮蔽板16に設けられている開口部28,20b,20cを遮蔽板15に投影した様子と、レーザ光が開口部28を通ることによって遮蔽板15上に発生する回折パターン46とを示している。図12では、遮蔽板15に投影された各開口部28,20b,20cを破線により示している。
 開口部28の平面形状は、正方形を呈している。開口部28が呈する正方形は、開口部20aが呈する正方形を方位角の方向へ45度回転させたものと同じである。回折パターン46は、上記の回折パターン43を方位角の方向へ45度回転させたものと同じである。線分26は、開口部28が呈する正方形のうちの1つの辺における垂線である。
 図12において、線分26は、開口部28の中心位置と開口部19aの中心位置とを結ぶ線分と一致する。すなわち、開口部28の平面形状を遮蔽板15へ投影させた場合において、開口部19aの中心位置は、開口部28が呈する正方形の辺における垂線上の位置である。この場合、回折パターン46のうち光の強度が強められる方向は、開口部28の中心位置から見た開口部19aの中心位置の方向と同じとなる。開口部28の中心位置から見た開口部19aの中心位置の方向と、光の強度が強められる方向とが互いに同じであることで、開口部28での回折現象によって開口部19aへ伝搬する自然放出光が多くなる。
 したがって、実施の形態1では、開口部20aの平面形状を遮蔽板15へ投影させた場合において、開口部19aの中心位置と開口部20aの中心位置とを結ぶ線分27の方向が、開口部20aの直線部位における垂線である線分26の方向とは異なる方向となるように、XY面における開口部20aの平面形状の向きが定められる。なお、開口部20aの平面形状は、正方形に限られず、長方形であっても良い。
 実施の形態1によると、ガスレーザ装置100には、直線部位を含む平面形状を呈する開口部20aが設けられている。遮蔽板15に開口部20aの平面形状を投影した場合において、開口部19aの平面形状の幾何中心と開口部20aの平面形状の幾何中心とを結ぶ線分27の方向は、直線部位における垂線の方向とは異なる方向である。このように、XY面における開口部20aの平面形状の向きが定められることによって、ガスレーザ装置100は、開口部20aの回折現象によって開口部19aへ伝搬する自然放出光を低減できる。これにより、ガスレーザ装置100は、自然放出光に起因する自励発振光の発振を抑制することができるという効果を奏する。
実施の形態2.
 図13は、本発明の実施の形態2にかかるガスレーザ装置の内部に設けられている構成の一部を示す斜視図である。実施の形態2にかかるガスレーザ装置100には、非円形開口部である2つの開口部20a,50が設けられている。実施の形態2にかかるガスレーザ装置100は、図2に示す開口部19aに代えて開口部50が設けられているほかは、実施の形態1にかかるガスレーザ装置100と同様である。実施の形態2では、上記の実施の形態1と同一の構成要素には同一の符号を付し、実施の形態1とは異なる構成について主に説明する。
 仮に、ミラー22aで反射した自然放出光が開口部20aを通るときの回折現象によって回折光が生じた場合において、開口部20aから光軸32に沿って伝搬した自然放出光は、開口部50を通ってミラー21aへ入射する。ミラー21aで反射して開口部50を通った自然放出光の大半は、光軸33に沿って伝搬して、開口部20bへ入射する。開口部20aでの回折現象によって発生した回折光が、光軸32に沿って伝搬し、さらに光軸33に沿って伝搬することによって、開口部50を通った自然放出光の一部は、開口部20bの隣にある開口部20cへ入射する場合がある。開口部20cを通った自然放出光は、ウィンドウ18を透過して、ガスレーザ装置100の外へ出射する。このようにしてガスレーザ装置100から自然放出光が出射することによって、ガスレーザ増幅システム200は、自励発振光を発生させることがある。
 図14は、実施の形態2にかかるガスレーザ装置において伝搬する回折光の様子を説明するための図である。図14には、開口部50を通り光軸33に沿って伝搬したレーザ光が開口部20bへ入射する様子と、レーザ光が開口部50を通ることによって遮蔽板16上に発生する回折パターン47とを示している。開口部50は、開口部19cを通って放電領域23,24を往復したレーザ光が通る第2の開口部である。開口部50の平面形状は、開口部20aが呈する正方形と同じ正方形である。以下の説明において、開口部50の中心位置とは、開口部50の平面形状の幾何中心であるものとする。
 遮蔽板15において、開口部50の中心位置と開口部19bの中心位置との距離、開口部19bの中心位置と開口部19cの中心位置との距離、ならびに開口部19cの中心位置と開口部50の中心位置との距離は、いずれも同じである。回折パターン47は、図9に示す回折パターン43と同様である。
 開口部50の平面形状を遮蔽板16へ投影させた場合において、第2の開口部である開口部50の中心位置と第5の開口部である開口部20cの中心位置とを結ぶ線分は、開口部50が呈する正方形の辺における垂線の方向とは異なる方向である。このように、XY面における開口部50の平面形状の向きが定められていることによって、回折パターン47のうち光の強度が強められる方向は、開口部50の中心位置から見た開口部20cの中心位置の方向とは異なる。開口部50の中心位置から見た開口部20cの中心位置の方向と、光の強度が強められる方向とが互いに異なることで、開口部20aでの回折現象によって開口部20cへ伝搬する自然放出光が低減される。
 さらに、開口部50の平面形状を遮蔽板16へ投影させた場合において、開口部50の中心位置と開口部20cの中心位置とを結ぶ線分は、開口部50が呈する正方形の対角線と一致している。すなわち、開口部50が呈する正方形を遮蔽板16へ投影させた場合において、開口部20cの中心位置と開口部50の中止位置とは、当該正方形の対角線の方向において互いに並べられている。このように、XY面における開口部50の平面形状の向きが定められていることによって、回折パターン47のうち光の強度が弱められる方向は、開口部50の中心位置から見た開口部20cの中心位置の方向に合わせられる。開口部50の中心位置から見た開口部20cの中心位置の方向と、光の強度が弱められる方向とが互いに合うことによって、開口部50から開口部20cへ伝搬する自然放出光が低減される。
 実施の形態2にかかるガスレーザ装置100では、開口部50から開口部20cへ伝搬する自然放出光が低減される。開口部20cへ伝搬する自然放出光の低減により、ミラー21aとターゲット106との間を伝搬する自然放出光の低減が可能となる。なお、実施の形態2においても、開口部20aでの回折現象によって開口部50へ伝搬する自然放出光は、実施の形態1と同様に低減される。実施の形態2によると、ミラー21aとターゲット106との間を伝搬する自然放出光の低減によって、自然放出光の増幅が抑制されることから、ガスレーザ装置100は、ガスレーザ増幅システム200における自励発振光の発振を抑制することが可能となる。
 なお、ガスレーザ装置100には、3つ以上の非円形開口部が設けられていても良い。この場合も、ガスレーザ装置100は、自励発振光の発振を抑制することができる。
実施の形態3.
 図15は、本発明の実施の形態3にかかるガスレーザ装置に設けられている開口部の配置についての説明図である。実施の形態3では、開口部20aの平面形状が、実施の形態1における開口部20aの平面形状と比べて傾いている。実施の形態3にかかるガスレーザ装置100は、開口部20aの平面形状が実施の形態1の場合と比べて傾いているほかは、実施の形態1にかかるガスレーザ装置100と同様である。実施の形態3では、上記の実施の形態1および2と同一の構成要素には同一の符号を付し、実施の形態1および2とは異なる構成について主に説明する。
 図15には、遮蔽板16に設けられている開口部20a,20b,20cを遮蔽板15に投影した様子と、レーザ光が開口部20aを通ることによって遮蔽板15上に発生する回折パターン48とを示している。回折パターン48では、明暗により光の強度を表している。明るく示している部分ほど光の強度が強い。図15では、遮蔽板15に投影された各開口部20a,20b,20cを破線により示している。
 線分27は、遮蔽板15に開口部20aの平面形状を投影した場合において、開口部19aの中心位置と開口部20aの中心位置とを結ぶ線分である。線分52は、開口部20aが呈する正方形における1つの対角線である。ここで、線分52は、図11に示すX’軸と一致する線分とする。線分52と線分27とがなす角度をθとした場合に、角度θと回折光の強度との関係は、図10に示すグラフ36の場合と同じとなる。
 実施の形態3において、角度θは、次の式(1)を満足する。式(1)において、nは任意の整数とする。
n(π/2)-0.14π≦θ≦n(π/2)+0.14π  ・・・(1)
 上記の式(1)によって表される角度θの範囲は、円形開口部を自然放出光が通ることによって生じる回折光の強度よりも、正方形を呈する開口部20aを自然放出光が通ることによって生じる回折光の強度のほうが弱くなる角度θの範囲である。線分52と線分27とがなす角度θが、上記の式(1)によって表される範囲に包含されることによって、ガスレーザ装置100は、回折現象によって開口部19aへ伝搬する自然放出光を、円形開口部の場合に比べて低減することができる。
実施の形態4.
 図16は、本発明の実施の形態4にかかるガスレーザ装置に設けられている開口部についての説明図である。実施の形態4にかかるガスレーザ装置100に設けられている開口部60の平面形状は、正六角形である。実施の形態4では、上記の実施の形態1から3と同一の構成要素には同一の符号を付し、実施の形態1から3とは異なる構成について主に説明する。
 図16には、開口部60の平面形状と、レーザ光が開口部60を通ることによって発生する回折パターン61とを示している。回折パターン61では、明暗により光の強度を表している。明るく示している部分ほど光の強度が強い。
 開口部60の平面形状は、正六角形の辺に対応する6つの直線部位を有する。開口部60の周囲における光の強度は、開口部60が呈する正六角形の各辺における垂線の方向において強められている。また、正六角形の各角の方向においては、光の強度は弱められている。すなわち、回折パターン61では、正六角形の対角線のうち、正六角形の対称軸である対角線の方向において、光の強度が弱められている。
 図9において、開口部20aに代えて開口部60が設けられているとして、開口部60の平面形状を遮蔽板15に投影した場合において、開口部19aの平面形状の幾何中心と開口部60の平面形状の幾何中心とを結ぶ線分の方向は、開口部60が呈する正六角形の辺における垂線の方向とは異なる方向である。また、開口部60が呈する正六角形を遮蔽板15へ投影させた場合において、開口部19aの中心位置と開口部60の中心位置とは、正六角形の対称軸である対角線の方向において互いに並べられている。これにより、開口部60での回折現象によって開口部19aへ伝搬する自然放出光が低減される。
 なお、開口部60の平面形状は、正六角形に限られない。平面形状は、互いに平行な1対以上の辺を有する多角形であれば良い。平面形状である多角形は、4つ以上かつ偶数個の角を持つ多角形である。回折パターン61の対称性を考慮すると、多角形は、正多角形であることが望ましい。上記の実施の形態2において遮蔽板15に設けられる開口部50の平面形状は、本実施の形態4の開口部60と同様の多角形であっても良い。
実施の形態5.
 図17は、本発明の実施の形態5にかかるガスレーザ装置に設けられている開口部についての説明図である。実施の形態5にかかるガスレーザ装置100に設けられている開口部62の平面形状は、曲線部位を有する形状である。実施の形態5では、上記の実施の形態1から4と同一の構成要素には同一の符号を付し、実施の形態1から4とは異なる構成について主に説明する。
 図17には、開口部62の平面形状と、レーザ光が開口部62を通ることによって発生する回折パターン63とを示している。回折パターン63では、明暗により光の強度を表している。明るく示している部分ほど光の強度が強い。
 開口部62の平面形状は、正方形のうち1つの角が丸く変形された形状である。開口部62の周囲における光の強度は、角を挟む直線部位同士のうちの1つにおける垂線の方向において強められている。また、開口部62の平面形状における幾何中心と当該角とを結ぶ線分の方向においては、2つの直線部位間の角の方向においては、光の強度は弱められている。実施の形態5において、開口部62の平面形状における幾何中心は、開口部62の平面形状の面積の重心とする。
 図9において、開口部20aに代えて開口部62が設けられているとして、遮蔽板15に開口部62の平面形状を投影した場合において、開口部19aの中心位置と開口部62の重心とを結ぶ線分の方向は、直線部位における垂線の方向とは異なる方向である。また、遮蔽板15に開口部62の平面形状を投影した場合において、開口部19aの中心位置と開口部62の重心とは、開口部62の平面形状の重心と当該平面形状の角とを結ぶ線分の方向において互いに並べられている。これにより、開口部62での回折現象によって開口部19aへ伝搬する自然放出光が低減される。
 なお、開口部62の平面形状は、本実施の形態5で説明する平面形状に限られない。平面形状は、角を挟む2つの直線部位を少なくとも有するものであれば良い。平面形状は、互いに平行な1対以上の辺を有する多角形のうち少なくとも1つの角が丸く変形された形状であっても良い。上記の実施の形態2において遮蔽板15に設けられる開口部50の平面形状は、本実施の形態5の開口部62の平面形状と同様であっても良い。
実施の形態6.
 図18は、本発明の実施の形態6にかかるガスレーザ装置の要部を示す斜視図である。実施の形態6では、ガスレーザ装置100に凹面ミラーであるミラー70が設けられることによる自励発振光の抑制について説明する。実施の形態6では、上記の実施の形態1から5と同一の構成要素には同一の符号を付し、実施の形態1から5とは異なる構成について主に説明する。
 図19は、実施の形態6にかかるガスレーザ装置における回折パターンについての説明図である。図19では、円形開口部を通った平面波の回折パターン71と、円形開口部を通った集光ビームの回折パターン72とを示している。回折パターン71,72では、明暗により光の強度を表している。明るく示している部分ほど光の強度が強い。
 図19に示すように、平面波より集光ビームのほうが、回折光の広がりが抑えられる。ミラー70にて反射した自然放出光は、集光ビームとなって放電領域23,24を伝搬して開口部20bを通る。自然放出光が開口部20bを通るときに、遮蔽板16の表面における回折光の広がりが抑制されることによって、開口部20cへ伝搬する自然放出光が低減される。これにより、開口部20aでの回折現象によって開口部20cへ伝搬する自然放出光が低減される。
 なお、実施の形態1から6にかかるガスレーザ装置100は、3軸直交型ガスレーザ装置に限られず、高速軸流方式あるいは壁面冷却方式等のガスレーザ装置であっても良い。
 以上の実施の形態に示した構成は、本発明の内容の一例を示すものであり、別の公知の技術と組み合わせることも可能であるし、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、構成の一部を省略、変更することも可能である。
 1 筐体、2,3,4,5 電極基板、6,7,8,9 電極、10 ブロワ、11,12 熱交換器、13,14 ガス流、15,16 遮蔽板、17,18 ウィンドウ、19a,19b,19c,19d,20a,20b,20c,20d,25,28,50,60,62 開口部、21a,21b,22a,22b,70 ミラー、23,24 放電領域、26,27,52 線分、31,32,33,34,35,110,111 光軸、36,37 グラフ、41,43,46,47,48,61,63,71,72 回折パターン、42,44 強度分布、100,102,103,104 ガスレーザ装置、101 レーザ発振器、105 加工装置、106 ターゲット、200 ガスレーザ増幅システム。

Claims (7)

  1.  放電領域へ供給されるレーザガスを励起させる放電電極と、
     前記放電領域へ伝搬するレーザ光である第1のレーザ光が通る第1の開口部と、前記第1の開口部を通って前記放電領域を往復した前記レーザ光である第2のレーザ光が通る第2の開口部とが設けられている第1の遮蔽部品と、
     前記第1の開口部を通って前記放電領域を伝搬した前記第1のレーザ光と、前記放電領域を経て前記第2の開口部へ伝搬する前記第2のレーザ光とが通る第3の開口部が設けられており、前記放電領域を挟んで前記第1の遮蔽部品と対向する第2の遮蔽部品と、
     を備え、
     前記第3の開口部の平面形状には、直線部位が含まれており、
     前記第3の開口部の平面形状を前記第1の遮蔽部品に投影した場合において、前記第2の開口部の平面形状の幾何中心と前記第3の開口部の平面形状の幾何中心とを結ぶ線分の方向は、前記直線部位における垂線の方向とは異なる方向であることを特徴とするガスレーザ装置。
  2.  前記第3の開口部の平面形状には、角を挟む2つの直線部位が含まれており、
     前記第3の開口部の平面形状を前記第1の遮蔽部品に投影した場合において、前記第2の開口部の平面形状の幾何中心と前記第3の開口部の平面形状の幾何中心とは、前記第3の開口部の平面形状の幾何中心と前記角とを結ぶ線分の方向において互いに並べられていることを特徴とする請求項1に記載のガスレーザ装置。
  3.  前記第3の開口部の平面形状には、角を挟む2つの直線部位が含まれており、
     前記第3の開口部の平面形状を前記第1の遮蔽部品に投影した場合において、前記第2の開口部の平面形状の幾何中心と前記第3の開口部の平面形状の幾何中心とを結ぶ線分と前記角とを結ぶ線分とがなす角度θは、次の式を満足することを特徴とする請求項1に記載のガスレーザ装置。
    n(π/2)-0.14π≦θ≦n(π/2)+0.14π
  4.  前記第2の開口部の平面形状には、直線部位が含まれており、
     前記第2の遮蔽部品には、前記第2の開口部を通って前記放電領域を伝搬した前記レーザ光である第3のレーザ光が通る第4の開口部と、前記第4の開口部を通って前記放電領域を往復した前記レーザ光である第4のレーザ光が通る第5の開口部とが設けられており、
     前記第2の遮蔽部品に前記第2の開口部の平面形状を投影した場合において、前記第2の開口部の平面形状の幾何中心と前記第5の開口部の平面形状の幾何中心とを結ぶ線分の方向は、前記第2の開口部の前記直線部位における垂線の方向とは異なる方向であることを特徴とする請求項1から3のいずれか1つに記載のガスレーザ装置。
  5.  前記第3の開口部の平面形状は、互いに平行な辺が1対以上含まれている多角形であることを特徴とする請求項1または2に記載のガスレーザ装置。
  6.  前記放電電極と前記第1の遮蔽部品と前記第2の遮蔽部品とを収容する筐体を備え、
     前記筐体へ入射してから最初に前記放電領域を伝搬した前記レーザ光である前記第1のレーザ光が前記第3の開口部を通ることを特徴とする請求項1から5のいずれか1つに記載のガスレーザ装置。
  7.  前記第1の遮蔽部品、前記放電領域および前記第2の遮蔽部品を挟んで互いに対向して配置され、前記レーザ光を反射する複数のミラーを備え、
     前記複数のミラーのうちの少なくとも1つは、凹面ミラーであることを特徴とする請求項1から6のいずれか1つに記載のガスレーザ装置。
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