WO2020022156A1 - 放射冷却装置 - Google Patents

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WO2020022156A1
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layer
metal layer
radiation
cooling device
thickness
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末光真大
齋藤禎
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大阪瓦斯株式会社
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Definitions

  • the present invention provides an emission layer in which an infrared emission layer that emits infrared light from an emission surface, and a light reflection layer that is located on a side of the infrared emission layer opposite to the side where the emission surface exists are provided in a stacked state. It relates to a cooling device.
  • Such a radiation cooling device transmits infrared light emitted from the radiation surface of the infrared radiation layer through a window of the atmosphere (for example, a wavelength range where the atmosphere having a wavelength of 8 ⁇ m or more and 14 ⁇ m or less transmits infrared light well). It is used for cooling various cooling objects such as cooling the cooling object located on the side opposite to the side where the infrared radiation layer exists in the light reflection layer.
  • the light reflection layer reflects light (visible light, ultraviolet light, infrared light) transmitted through the infrared radiation layer and emits the light from the radiation surface, so that light transmitted through the infrared radiation layer (visible light, UV light or infrared light) is projected onto the object to be cooled, so that the object to be cooled is prevented from being heated.
  • the light reflection layer has an effect of reflecting infrared light emitted from the infrared emission layer to the side where the light reflection layer is present toward the infrared emission layer in addition to the light transmitted through the infrared emission layer.
  • the light reflecting layer is provided to reflect light (visible light, ultraviolet light, and infrared light) transmitted through the infrared radiation layer.
  • the infrared radiation layer is composed of a layered body composed of a layer of SiO 2, a layer of MgO, and a layer of Si 3 N 4 , or glass (optical glass),
  • the reflection layer is composed of a diffuse reflector or a multilayer body in which a metal layer made of silver and a multi-layered layer in which TiO 2 layers and SiO 2 layers are alternately arranged are stacked. (For example, see Patent Document 1).
  • the radiation cooling device has a reflectance in a state in which the infrared radiation layer and the light reflection layer are laminated, and is suitable for a wavelength range where the intensity of sunlight energy is high (for example, a wavelength of 400 nm or more and 1800 nm or less, see FIG. 26). High state.
  • the infrared radiation layer has a high transmittance in a wavelength range where the intensity of sunlight energy is high, but the light reflection layer has a reflectance so that the light transmitted through the infrared radiation layer is sufficiently reflected. Is set to be high.
  • a wavelength region where the intensity of sunlight energy is high includes a visible light region (400 nm or more and 800 nm or less).
  • the radiation cooling device does not feel a colored state, for example, a state similar to a mirror surface.
  • the inventor of the present invention configured the infrared radiation layer with any of alkali-free glass, crown glass, and borosilicate glass (white plate glass), and formed the light reflection layer with a thickness of 300 nm or more.
  • a radiant cooling device that can be properly cooled by cooling the object to be cooled by appropriately reflecting the light transmitted through the infrared radiation layer with the light reflection layer by configuring it as a metal layer made of silver.
  • the radiation cooling device when the radiation cooling device was viewed from the side where the radiation surface of the infrared radiation layer was present, the back surface felt the same state as the silver mirror surface, and the colored state could not be perceived.
  • the radiation cooling device when the radiation cooling device is viewed from the side where the radiation surface of the infrared radiation layer is present, it is desired that the radiation cooling device be colored in various colors such as blue and pink. . That is, for example, the radiant cooling device is assumed to be installed and used on a roof of a house or a roof of an automobile. In such a case, the radiant cooling device is used from the side of the radiation surface of the infrared radiation layer. It is desirable that the radiant cooling device be colored when the radiant cooling device is viewed from the side where the radiating surface of the infrared radiating layer is present, for the purpose of, for example, making the color when viewing the device match the surrounding color. May be In the following description, when the radiant cooling device is viewed from the side where the radiating surface of the infrared radiating layer exists, the colored state is abbreviated to the state where the radiating surface is colored.
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a radiation cooling device in which a radiation surface is colored while avoiding a decrease in radiation cooling performance due to absorption of sunlight as much as possible. The point is to provide.
  • an infrared radiation layer that emits infrared light from a radiation surface, and a light reflection layer that is located on a side of the infrared radiation layer opposite to a side where the radiation surface is present are stacked. It is provided, and its characteristic configuration is
  • the light reflection layer has a thickness of 10 nm or more and 100 nm or less, a first metal layer made of silver or a silver alloy, a transparent dielectric layer, and light transmitted through the first metal layer and the transparent dielectric layer.
  • the first metal layer, the transparent dielectric layer, and the second metal layer are stacked in a form in which the second metal layer to be reflected is positioned closer to the infrared radiation layer in the order of the second metal layer,
  • the point is that the thickness of the transparent dielectric layer is set to a thickness such that the resonance wavelength of the light reflecting layer is any one of wavelengths from 400 nm to 800 nm.
  • the thickness of the first metal layer made of silver or silver alloy to be in a range of 10 nm or more and 100 nm or less, it is possible to appropriately control visible light while appropriately performing optical control (resonance of resonance wavelength). Can be transmitted.
  • optical control resonance of resonance wavelength
  • the thickness of the first metal layer is made larger than 100 nm, The visible light transmitted through the infrared radiation layer cannot be appropriately transmitted, and the radiation surface cannot be colored by absorption of light using resonance of the resonance wavelength, and the thickness of the first metal layer is If the thickness is less than 10 nm, light cannot be appropriately reflected, so that optical control (resonance at resonance wavelength) cannot be performed properly. It cannot be done.
  • the visible light transmitted through the first metal layer is basically transmitted through the transparent dielectric layer, is reflected by the second metal layer, and is emitted to the atmosphere again from the radiation surface of the infrared radiation layer.
  • the first metal Of the visible light that is, light having a wavelength of 400 nm or more and 800 nm or less
  • the first metal Of the visible light that is, light having a wavelength of 400 nm or more and 800 nm or less
  • light of a narrow band centered on one of the resonance wavelengths is reflected by optical control (resonance of the resonance wavelength).
  • optical control resonance of the resonance wavelength
  • the visible light reflected by the light reflecting layer and emitted into the atmosphere from the radiation surface of the infrared emitting layer does not include the narrow band light absorbed by the light reflecting layer.
  • the radiation cooling device is viewed from the side where the radiation surface of the outer radiation layer exists, it is colored. Then, by changing the thickness of the transparent dielectric layer, the wavelength of the resonance wavelength among the wavelengths of 400 nm or more and 800 nm or less is changed, and the radiation cooling device is viewed from the side where the radiation surface of the infrared radiation layer exists. Can be changed (see FIG. 27).
  • the light reflecting layer absorbs light in a narrow band around any resonance wavelength of visible light (that is, light having a wavelength of 400 nm or more and 800 nm or less), the temperature due to the absorption of sunlight Even if the radiation cooling performance decreases due to the rise, the radiation cooling performance decreases little because of absorption of light in a narrow band.
  • the characteristic configuration of the present invention it is possible to provide a radiation cooling device in which a radiation surface is colored while avoiding a decrease in radiation cooling performance due to absorption of sunlight as much as possible.
  • a further characteristic configuration of the radiation cooling device of the present invention is that the second metal layer is made of silver or silver alloy having a thickness of 100 nm or more.
  • the reflectance of silver or silver alloy increases as the thickness (film thickness) increases.
  • the thickness is 100 nm or more, infrared light or visible light (wavelength of 400 nm or more and 800 nm or less) is used.
  • the thickness of the second metal layer made of silver or silver alloy is 100 nm or more, by appropriately reflecting infrared light or visible light transmitted through the first metal layer and the transparent dielectric layer, The infrared light or the visible light reaching the cooling target located on the side opposite to the side where the infrared radiation layer is present in the light reflecting layer can be accurately blocked, and the cooling target can be satisfactorily cooled.
  • the cooling object can be favorably cooled by appropriately reflecting the infrared light or the visible light by the second metal layer.
  • a further characteristic configuration of the radiant cooling device of the present invention is that the second metal layer is made of aluminum or aluminum alloy having a thickness of 30 nm or more.
  • aluminum or an aluminum alloy has a higher visible light absorptivity than silver or a silver alloy (see FIG. 31). Therefore, when the second metal layer is made of aluminum or an aluminum alloy having a thickness of 30 nm or more, the light having the resonance wavelength of the visible light that has passed through the first metal layer and reached the transparent dielectric layer is transmitted to the second metal layer. Since the second metal layer can appropriately absorb the color, a clearer coloring can be obtained than when the second metal layer is made of silver or a silver alloy.
  • aluminum or an aluminum alloy has a higher ultraviolet light reflectance than silver or a silver alloy. For this reason, since the ultraviolet light transmitted through the first metal layer can be appropriately reflected, it is ensured that the ultraviolet light reaches the cooling target located on the side opposite to the side where the infrared radiation layer exists in the light reflection layer. By properly shutting off, the cooling target can be cooled well.
  • a further characteristic configuration of the radiant cooling device of the present invention is that the second metal layer is closer to the transparent dielectric layer in the order of a first layer made of silver or a silver alloy and a second layer made of aluminum or an aluminum alloy. This is characterized in that the first layer and the second layer are configured to be stacked in a form in which they are positioned.
  • the first layer made of silver or a silver alloy and the second layer made of aluminum or an aluminum alloy are laminated in such a manner that the first layer is located on the side closer to the transparent dielectric layer, the first layer While the thickness (film thickness) is thinner than the case where the second metal layer is made of silver or a silver alloy, optical characteristics almost the same as those of the case where the second metal layer is made of silver or a silver alloy are obtained. Therefore, the amount of expensive silver or silver alloy used can be reduced.
  • the entire thickness of the second metal layer is made of silver or a silver alloy by making the thickness of the first layer larger than 2 nm and making the second layer 30 nm or more, and making the entire thickness about 60 nm.
  • a second metal layer having optical characteristics almost the same as the case of forming the second metal layer can be formed, and the thickness of the second metal layer is set to the thickness when the entire second metal layer is formed of silver or a silver alloy (for example, 100 nm), the manufacturing cost of the second metal layer can be reduced.
  • the amount of expensive silver or silver alloy used can be reduced, and the manufacturing cost can be reduced, so that the cost of the second metal layer can be reduced.
  • a further characteristic configuration of the radiation cooling device of the present invention is that the transparent dielectric layer is a transparent nitride film.
  • a transparent nitride film as a transparent dielectric layer and adjusting the thickness thereof, color adjustment in a state where the radiation surface is colored can be favorably performed.
  • Specific examples of the transparent nitride film include Si 3 N 4 and AlN.
  • the transparent nitride film is formed by sputtering, vapor deposition, or the like, when the first metal layer is made of silver or a silver alloy, the silver or silver alloy does not discolor, so that productivity is reduced. There is an advantage that it is easily improved.
  • the transparent nitride film is made of silver or a silver alloy of the first metal layer and a second metal layer.
  • the metal layer functions as a transparent alloying prevention layer that suppresses alloying with aluminum or an aluminum alloy. That is, it is possible to suppress the alloying of silver and aluminum, and to maintain the state in which light is appropriately reflected by the light reflecting layer over a long period of time while avoiding light absorption of the light reflecting layer. .
  • the radiation cooling device of the present invention it is possible to favorably adjust the color in a state where the radiation surface is colored.
  • a further characteristic configuration of the radiation cooling device of the present invention is that the transparent dielectric layer is a transparent oxide film.
  • a transparent oxide film as the transparent dielectric layer and adjusting the thickness thereof, color adjustment in a state where the radiation surface is colored can be favorably performed.
  • the transparent oxide film can be applied, but as specific examples, Al 2 O 3 , SiO 2 , TiO 2 , ZrO 2 , HfO 2 , and Nb, which are easily formed by vapor deposition or sputtering, etc. 2 O 5 and Ta 2 O 5 can be mentioned.
  • the transparent oxide film is made of silver or a silver alloy of the first metal layer and the second metal layer.
  • the metal layer functions as a transparent alloying prevention layer that suppresses alloying with aluminum or an aluminum alloy. That is, it is possible to suppress the alloying of silver and aluminum, and to maintain the state in which light is appropriately reflected by the light reflecting layer over a long period of time while avoiding light absorption of the light reflecting layer. .
  • the radiation cooling device of the present invention it is possible to favorably adjust the color in a state where the radiation surface is colored.
  • a further characteristic configuration of the radiant cooling device of the present invention is that the infrared radiation layer is made of any one of alkali-free glass, crown glass, and borosilicate glass.
  • the alkali-free glass, the crown glass, and the borosilicate glass have relatively high transmittance at a wavelength of 400 nm or more and 1800 nm or less (for example, 95% or more) where the intensity of sunlight energy is large, while being relatively inexpensive.
  • it has a high radiation intensity to emit infrared light having a wavelength corresponding to an atmospheric window (for example, a window transmitting infrared light having a wavelength of 8 ⁇ m to 14 ⁇ m).
  • the infrared radiation layer with any one of alkali-free glass, crown glass, and borosilicate glass, it is possible to reduce the overall configuration while improving the cooling capacity. .
  • a further characteristic configuration of the radiation cooling device of the present invention resides in that the first metal layer, the transparent dielectric layer, and the second metal layer are laminated with the infrared radiation layer as a substrate.
  • the overall configuration can be simplified and the overall configuration can be made thinner. it can.
  • the first metal layer, the transparent dielectric layer, and the second metal layer are laminated with the infrared radiation layer as a substrate
  • the first metal layer, the transparent dielectric layer, and the second metal layer are thin,
  • the first metal layer, the transparent dielectric layer, and the second metal layer are sequentially stacked by sputtering or the like.
  • a lamination substrate is provided, a second metal layer, a transparent dielectric layer, and a first metal layer are sequentially laminated on the lamination substrate by sputtering or the like, and then the second metal layer of the first metal layer is formed.
  • a separately manufactured infrared radiation layer is placed and laminated, or at the side opposite to the side where the transparent dielectric layer of the first metal layer is present, by sputtering or the like.
  • the overall configuration can be simplified and the overall configuration can be made thinner.
  • a further characteristic configuration of the radiation cooling device of the present invention is that an adhesion layer is laminated between the infrared radiation layer and the first metal layer.
  • the adhesion layer is laminated between the infrared radiation layer and the first metal layer of the light reflection layer, the first metal layer of the light reflection layer is made of glass or the like due to a temperature change or the like. Since it is possible to suppress the occurrence of damage such as peeling of the infrared radiation layer to be constituted, the durability can be improved.
  • the durability can be improved.
  • a further characteristic configuration of the radiant cooling device of the present invention is that an oxidation preventing layer is laminated on the second metal layer on the side opposite to the side where the transparent dielectric layer exists.
  • the antioxidant layer is laminated on the second metal layer on the side opposite to the side where the transparent dielectric layer is present, the second metal layer can be prevented from being oxidized and deteriorated, so that the durability is improved. it can.
  • the radiation cooling device of the present invention it is possible to suppress deterioration of the second metal layer and improve durability.
  • a further characteristic configuration of the radiation cooling device of the present invention resides in that the radiation surface of the infrared radiation layer is formed to have unevenness for light scattering.
  • the radiation surface of the infrared radiation layer has irregularities for light scattering, the radiation surface of the infrared radiation layer is colored, that is, radiation cooling is performed from the side where the radiation surface of the infrared radiation layer exists.
  • the colored state when the device is viewed can be appropriately obtained even when the emitting surface is viewed from various directions.
  • the radiant cooling device of the present invention it is possible to appropriately obtain a state in which the radiating surface is colored even when the radiating surface is viewed from various directions.
  • FIG. 2 is a diagram showing a basic configuration of a radiation cooling device.
  • FIG. 3 is a diagram showing a specific configuration of a radiation cooling device.
  • FIG. 3 is a diagram showing a first structure of the radiation cooling device.
  • 4 is a graph showing a reflectance and an absorptance of the radiation cooling device of the first structure.
  • FIG. 3 is a view showing a second structure of the radiation cooling device.
  • 4 is a graph showing the reflectance and the absorptance of the radiation cooling device of the second structure.
  • FIG. 4 is a view showing a third structure of the radiation cooling device.
  • 6 is a graph showing the reflectance and the absorptance of the radiation cooling device having the third structure.
  • FIG. 8 is a view showing a fourth structure of the radiation cooling device.
  • FIG. 4 is a graph showing a reflectance and an absorptance of a radiation cooling device having a fourth structure.
  • 6 is a graph showing the reflectance of the fourth structure and the conventional radiation cooling device.
  • 4 is a graph showing the cooling capacity of the first to fourth structures and the conventional radiant cooling device.
  • FIG. 9 is a view showing a fifth structure of the radiation cooling device. 9 is a graph showing a reflectance and an absorptance of a radiation cooling device having a fifth structure.
  • FIG. 8 is a view showing a sixth structure of the radiation cooling device. 6 is a graph showing the reflectance and the absorptance of the radiation cooling device of the sixth structure.
  • FIG. 4 is a view showing a radiation cooling device having a comparative structure.
  • FIG. 3 is a diagram showing an XY chromaticity diagram.
  • FIG. 3 is a diagram showing a reference relationship between the thickness of a transparent dielectric layer and a resonance wavelength.
  • FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the thickness of a transparent dielectric layer and the resonance wavelength.
  • FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the thickness of silver and the transmittance.
  • FIG. 4 is a diagram showing a relationship between the thickness of the first metal layer and the reflectance of the light reflection layer.
  • FIG. 4 is a diagram showing a relationship between the thickness of the first metal layer and the reflectance of the light reflection layer.
  • FIG. 14 is a diagram showing the reflectance of the radiant cooling device of the eighth structure.
  • FIG. 4 is a view showing a radiation cooling device according to another embodiment.
  • the basic configuration of the radiation cooling device CP is such that an infrared radiation layer A that emits infrared light IR from the radiation surface H and a side where the radiation surface H exists in the infrared radiation layer A are opposite to each other.
  • the light reflecting layer B is composed of a first metal layer B1, a transparent dielectric layer B2, and a second metal layer B3 that reflects light transmitted through the first metal layer B1 and the transparent dielectric layer B2.
  • the first metal layer B1, the transparent dielectric layer B2, and the second metal layer B3 are stacked in such a manner that the first metal layer B1, the transparent dielectric layer B2, and the second metal layer B3 are stacked.
  • the thickness of the transparent dielectric layer B2 is set to a thickness (30 nm or more and 230 nm or less) for setting the resonance wavelength of the light reflection layer B to any one of the wavelengths of 400 nm or more and 800 nm or less. .
  • the infrared radiation layer A has a high transmittance (for example, 95% or more) at a wavelength of 400 nm or more and 1800 nm or less (see FIG. 26) where the intensity of sunlight energy is large, and a large heat in a wavelength range of 8 ⁇ m or more and 14 ⁇ m or less.
  • Materials that produce radiation are preferred. Specific examples thereof include any glass (white plate glass) of non-alkali glass, crown glass, and borosilicate glass.
  • OA10G manufactured by Nippon Electric Glass
  • B270 registered trademark, the same applies hereinafter
  • borosilicate glass can be used, for example.
  • Tempax registered trademark, hereinafter the same
  • the infrared radiation layer A is described as being formed of “Tempax”.
  • the thickness of the tempax constituting the infrared emitting layer A needs to be 10 ⁇ m or more and 10 cm or less, preferably 20 ⁇ m or more and 10 cm or less, and more preferably 100 ⁇ m or more and 1 cm or less. That is, the infrared radiation layer A shows a large heat radiation in the infrared region of 8 ⁇ m or more and 14 ⁇ m or less, and the heat radiation is absorbed by the infrared radiation layer A and the light reflection layer B, respectively.
  • the radiation cooling device CP that exhibits the radiation cooling action of lowering the temperature than the surrounding atmosphere day or night.
  • the infrared radiation layer A is composed of Tempax
  • the thickness be 10 ⁇ m or more and 10 cm or less, preferably 20 ⁇ m or more and 10 cm or less, more preferably , 100 ⁇ m or more and 1 cm or less. In the present embodiment, it is assumed that the thickness of Tempax is 1 mm.
  • the first metal layer B1 is made of silver or a silver alloy having a thickness of 10 nm or more and 100 nm or less.
  • the “silver alloy” an alloy obtained by adding any one of copper, palladium, gold, zinc, tin, magnesium, nickel, and titanium to silver, for example, about 0.4% by mass to 4.5% by mass or less is used. Can be used.
  • APC-TR manufactured by Fluya Metal
  • the first metal layer B1 will be described as being formed using silver.
  • FIG. 3, FIG. 5, FIG. 7, FIG. 9, FIG. 13 and FIG. 15 illustrate specific examples (specific structures) of the radiation cooling device CP.
  • the thickness is 35 nm.
  • specific examples (specific structures) of the radiation cooling device CP shown in FIG. 3, FIG. 5, FIG. 7, FIG. 9, FIG. 13 and FIG. Call it.
  • the transmittance of silver of the first metal layer B1 changes due to a change in thickness as shown in FIG. 22, and as a result, as shown in FIGS.
  • the reflectance of the radiation cooling device CP (the light reflecting layer B) changes due to the change in the thickness of silver, and the details will be described later.
  • the second metal layer B3 is made of silver or a silver alloy as shown in the first to fourth structures (see FIGS. 3, 5, 7, and 9), it is shown in the fifth structure.
  • the first dielectric layer is made of aluminum or an aluminum alloy (see FIG. 13)
  • the first layer b1 made of silver or a silver alloy and the second layer b2 made of aluminum or an aluminum alloy are arranged in this order.
  • the first layer b1 and the second layer b2 are arranged in a state of being stacked on the side closer to the body layer B2 (see FIG. 15), and other configurations using copper or gold are not illustrated. May be.
  • the thickness is preferably 80 nm or more, more preferably 100 nm or more.
  • the thickness is preferably 30 nm or more, more preferably 50 nm or more.
  • the second metal layer B3 is made of copper, its thickness is preferably 80 nm or more, and more preferably 100 nm or more.
  • the second metal layer B3 is made of gold, it can be made similarly to copper.
  • the thickness (film thickness) of the first layer b1 is set to be larger than 2 nm and the thickness of the second layer b2 (
  • the optical properties are almost the same as those in the case where the entire second metal layer B3 is formed of silver or a silver alloy having a thickness of about 100 nm.
  • FIG. 15 illustrates a case where the first layer b1 is silver with a thickness of 10 nm and the second layer b2 is aluminum with a thickness of 60 nm.
  • the second metal layer B3 is composed of the first layer b1 made of silver or a silver alloy and the second layer b2 made of aluminum or an aluminum alloy, the illustration is omitted.
  • a transparent nitride film or a transparent oxide film similar to the transparent dielectric layer B2 may be laminated between the first layer b1 and the second layer b2 as a transparent alloying prevention layer.
  • aluminum alloy an alloy obtained by adding copper, manganese, silicon, magnesium, zinc, carbon steel for machine structure, yttrium, lanthanum, gadolinium, and terbium to aluminum can be used.
  • the transparent dielectric layer B2 is composed of a transparent nitride film or a transparent oxide film.
  • the transparent nitride film include Si 3 N 4 and AlN.
  • the transparent oxide film include a large number of oxides. Examples of oxides that can be easily formed by vapor deposition or sputtering include Al 2 O 3 , SiO 2 , ZrO 2 , TiO 2 , HfO 2 , and Nb 2 O. 5 , Ta 2 O 5 , the details of which will be described later.
  • the transparent dielectric layer B2 is made of a transparent nitride film (Si 3 N 4 ).
  • the thickness of the transparent dielectric layer B2 is colored when the radiation surface H is colored, that is, when the radiation cooling device CP is viewed from the side where the radiation surface H of the infrared radiation layer A exists.
  • the thickness is such that the resonance wavelength of the light reflection layer B is any one of the wavelengths of 400 nm or more and 800 nm or less in order to make the state, and the details will be described later.
  • the transparent dielectric layer B2 is made of an alloy of silver or silver alloy of the first metallic layer B1 and aluminum or aluminum alloy of the second metallic layer B3. It also functions as a transparent alloying prevention layer for preventing the formation of the alloy.
  • the radiation cooling device CP is configured by stacking a first metal layer B1, a transparent dielectric layer B2, and a second metal layer B3 with the infrared radiation layer A as a substrate, and the specific configuration is shown in FIG. As shown, the adhesion layer 3 is laminated between the infrared radiation layer A as a substrate and the first metal layer B1, and the second metal layer B3 is on the side opposite to the side where the transparent dielectric layer B2 exists. And an antioxidant layer 4 is laminated thereon.
  • the radiation cooling device CP sequentially forms the adhesion layer 3, the first metal layer B1, the transparent dielectric layer B2, the second metal layer B3, and the antioxidant layer 4 by, for example, sputtering using the infrared radiation layer A as a substrate. It is configured to form a film.
  • the adhesion layer 3 is formed in a form in which aluminum oxide (Al 2 O 3 ) is formed to a thickness of 1 nm or more and 100 nm or less.
  • the antioxidant layer 4 is configured to form silicon dioxide (SiO 2 ) or aluminum oxide (Al 2 O 3 ) to a thickness of 1 nm to several hundreds nm. In the first to sixth structures, description will be made assuming that silicon dioxide (SiO 2 ) is formed.
  • the radiation cooling device CP reflects a part of the light L incident on the radiation cooling device CP on the radiation surface H of the infrared radiation layer A, and reflects the light L incident on the radiation cooling device CP.
  • a part of the light (for example, visible light, ultraviolet light, or the like) transmitted through the infrared radiation layer A is reflected by the first metal layer B1 of the light reflection layer B and transmitted through the first metal layer B1. Is reflected by the second metal layer B3 of the light reflection layer B.
  • the heat input (for example, heat input by heat conduction from the cooling target D) from the cooling target D located on the side opposite to the light reflection layer B in the oxidation prevention layer 4 from the cooling target D to red
  • the cooling target D is cooled by being converted into infrared light IR by the outer radiation layer A and radiated.
  • the light L refers to an electromagnetic wave having a wavelength of 10 nm or more and 20000 nm or less. That is, the light L includes ultraviolet light, infrared light IR, and visible light.
  • the thickness of the transparent dielectric layer B2 is set to a thickness that makes the resonance wavelength of the light reflection layer B any wavelength of 400 nm or more and 800 nm or less. Therefore, the radiation surface H is colored, that is, is colored when the radiation cooling device CP is viewed from the side where the radiation surface H of the infrared radiation layer A exists.
  • the relationship between the resonance wavelength and the color to be colored is as shown in FIG.
  • the resonance wavelength when the resonance wavelength is 400 nm, the color becomes pale yellow.
  • the resonance wavelength When the resonance wavelength is 600 nm, the color becomes light blue.
  • the resonance wavelength is 700 nm or more and 750 nm or less, the color becomes white.
  • the resonance wavelength is 800 nm, as shown in FIG. 28, the wavelength of 400 nm, which is a half wavelength of 800 nm, also becomes the resonance wavelength.
  • light yellow described in the table of FIG. 27 may be described as “light yellow” in the following description, and “light blue” may be described as “light blue”.
  • the radiation cooling device CP of the present invention resonates light having a resonance frequency (resonance wavelength) in the transparent dielectric layer B2 to form a color. That is, to resonate the light of the resonance frequency (resonance wavelength) in the light reflection layer B means that the resonance frequency (the resonance frequency (resonance wavelength)) in the first metal layer B1 and the second metal layer B3 which are like a mirror.
  • the first metal layer B1 and the second metal layer B3 absorb only narrow-band light including (resonance wavelength) light in a pinpoint manner, and as a result, develop color.
  • the silver thickness (film thickness) of the first metal layer B1 when the silver thickness (film thickness) of the first metal layer B1 is too large, most of the light is reflected by the silver of the first metal layer B1, and the light hardly transmits to the transparent dielectric layer B2. In other words, "resonance" which is important for optical control cannot be caused. Conversely, if the silver thickness (film thickness) of the first metal layer B1 is too thin, the transmittance of silver becomes too high, and light is absorbed by the metal while sufficiently confining the light (resonance). Therefore, the light absorption rate decreases, and the wavelength range (absorption peak) absorbed by the metal tends to be widened by weakening the resonance action.
  • the thickness (film thickness) of silver of the first metal layer B1 is set so that the light reflecting layer B has a high reflectance in the range of the sunlight spectrum and has a sharp absorption peak for coloring. Is neither too thick nor too thin. That is, the thickness (thickness) of silver of the first metal layer B1 is such that light is confined (while having a certain degree of reflectivity) at a place where light is confined (within the transparent dielectric layer B2). That is, a thickness (film thickness) that can obtain an appropriate balance, that is, the thickness can be obtained (transmitted).
  • FIG. 23 shows that the thickness (film thickness) of Tempax constituting the infrared radiation layer A is 1 mm, the thickness (film thickness) of Si 3 N 4 constituting the transparent dielectric layer B2 is 100 nm, When the thickness (film thickness) of silver constituting the metal layer B3 is 100 nm, the reflectance of the radiation cooling device CP when the thickness of the first metal layer B1 is changed in a range of 40 nm or more and 100 nm or less. Shows the change in
  • FIG. 24 similarly shows that the thickness (film thickness) of Tempax constituting the infrared radiation layer A is 1 mm, and the thickness (film thickness) of Si 3 N 4 constituting the transparent dielectric layer B2 is 100 nm.
  • the radiation cooling device CP is used when the thickness of the first metal layer B1 is changed in the range of 1 nm or more and 40 nm or less. 3 shows the change in the reflectance.
  • the thickness (film thickness) of silver of the first metal layer B1 when the thickness (film thickness) of silver of the first metal layer B1 is reduced from 100 nm to 40 nm, the silver becomes transparent as the transmittance of silver of the first metal layer B1 increases. A lot of light enters the dielectric layer B2, and more light of the resonance wavelength is absorbed. Further, as shown in FIG. 24, when the thickness (film thickness) of silver of the first metal layer B1 is reduced from 40 nm to 10 nm, the reflectance of silver of the first metal layer B1 decreases. As a result, the effect of confining light in the transparent dielectric layer B2 (resonance) is weakened, the absorption peak is reduced, and the absorption peak is broadened.
  • the thickness (film thickness) of silver of the first metal layer B1 is set to about 40 nm.
  • the suitable silver thickness (film thickness) changes depending on the wavelength to be resonated.
  • the wavelength to be resonated is in the visible light region (400 nm or more and 800 nm or less), and the first metal suitable for control in this wavelength region.
  • the thickness (film thickness) of silver of the layer B1 falls within the range of 10 nm or more and 100 nm or less.
  • the wavelength of light transmitted through the first metal layer B1 becomes 500 nm or less, so that controllable resonance can be achieved.
  • the range of the controllable resonance wavelength varies depending on the thickness (film thickness) of silver of the first metal layer B1, such as a wavelength of 500 nm or less.
  • the thickness (film thickness) of silver of the first metal layer B1 is in the range of 25 nm or more and 80 nm or less, the entire wavelength range of 400 nm or more and 800 nm or less can be controlled as the resonance wavelength.
  • the thickness (film thickness) of the transparent dielectric layer B2 is a thickness at which the resonance wavelength of the light reflecting layer B is any wavelength of 400 nm or more and 800 nm or less, specifically, 30 nm or more and 230 nm or more.
  • the thickness is as follows (see FIG. 21).
  • is the resonance wavelength
  • L is the thickness of the transparent dielectric layer
  • n is a typical refractive index.
  • FIG. 20 shows the relationship between a typical refractive index n of a group (part) of materials usable as the transparent dielectric layer B2, a thickness (film thickness) L of the transparent dielectric layer B2, and a resonance wavelength ⁇ . .
  • the reason why the “representative” refractive index n is described is that the refractive index of a material changes depending on the wavelength. In this drawing, the average of each material in the visible light region (400 nm or more and 800 nm or less) is shown. The typical refractive index is described.
  • the resonance wavelength ⁇ shown in FIG. 20 is the resonance wavelength when only one film is present, and is the resonance wavelength when the transparent dielectric layer B2 is sandwiched between metals such as silver, aluminum, and copper. Is different. That is, this value is a reference value for optical design.
  • FIG. 21 shows the relationship between the thickness (film thickness) and the resonance wavelength when the transparent dielectric layer B2 is sandwiched between silver.
  • the resonance wavelength ⁇ at the same thickness (film thickness) L shifts to a shorter wavelength side than when only one layer shown in FIG. 20 is used. This is a phenomenon that occurs when a metal causes the electromagnetic field of the transparent dielectric layer B2 to concentrate near the center of the transparent dielectric layer B2.
  • FIG. 29 shows that the infrared radiation layer A is made of Tempax having a thickness of 1 mm, the first metal layer B1 is made of silver of 55 nm, and the transparent dielectric layer B2 is made of aluminum nitride (AlN) having a thickness of 80 nm.
  • AlN aluminum nitride
  • FIG. 30 shows that the infrared radiation layer A is made of Tempax having a thickness of 1 mm, the first metal layer B1 is made of silver of 55 nm, and the transparent dielectric layer B2 is made of aluminum nitride (AlN) having a thickness of 80 nm.
  • the graph shows the reflectance when the second metal layer B3 is made of 100 nm gold and 100 nm copper. For gold and copper, the magnitude at which the resonance wavelength ⁇ shifts to the shorter wavelength side is about the same.
  • the infrared radiation layer A is made of Tempax having a thickness of 1 mm
  • the adhesion layer 3 is made of aluminum oxide (Al 2 O 3 ) of 5 nm
  • the first metal layer B1 is made of silver of 35 nm.
  • the transparent dielectric layer B2 is made of silicon nitride (Si 3 N 4 )
  • the second metal layer B3 is made of 100 nm silver
  • the antioxidant layer 4 is made of 10 nm silicon dioxide (SiO 2 )
  • the color when the radiation surface H in the fourth structure is colored will be described.
  • the color in which the emission surface H is colored Becomes light blue
  • the second structure in which the thickness (film thickness) of the silicon nitride (Si 3 N 4 ) forming the transparent dielectric layer B2 is 80 nm the emission surface H is colored.
  • the color of the state is light pink.
  • the radiation surface H is colored. Becomes light red
  • the emission surface H Is colored light yellow.
  • FIG. 4 shows the reflectance and absorptance of the first structure
  • FIG. 6 shows the reflectance and absorptance of the second structure
  • FIG. 8 shows the reflectance and absorptance of the third structure
  • FIG. 10 shows the reflectance and the absorptance in the fourth structure.
  • FIG. 11 shows the reflectivity of the fourth structure and the reflectivity of the comparative structure.
  • the infrared radiation layer A was made of Tempax having a thickness of 1 mm
  • the adhesion layer 3 was made of aluminum oxide (Al 2 O 3 ) of 5 nm
  • the light reflection layer B was made of silver of 300 nm
  • the oxidation prevention layer 4 was made of 10 nm of silicon dioxide (SiO 2 ).
  • the reflectivity of the fourth structure is low in the region of the resonance wavelength
  • the reflectivity of the comparative structure which is the conventional radiation cooling device CP, is 95% in the region of visible light (400 nm or more and 800 nm or less). The above state is high.
  • the infrared radiation layer A is made of Tempax having a thickness of 1 mm
  • the adhesion layer 3 is made of aluminum oxide (Al 2 O 3 ) of 5 nm
  • the first metal layer B1 is made of 35 nm.
  • the transparent dielectric layer B2 is made of 100 nm silicon nitride (Si 3 N 4 )
  • the second metal layer B3 is made of 30 nm of aluminum
  • the antioxidant layer 4 is made of 10 nm of silicon dioxide (SiO 2 ).
  • the color of the radiation surface H is colored blue.
  • FIG. 14 shows the reflectance and the absorptance of the fifth structure. As shown in FIG. 31, aluminum or aluminum alloy has a higher visible light absorptivity than silver or silver alloy. Turns blue.
  • the infrared radiation layer A is made of Tempax having a thickness of 1 mm
  • the adhesion layer 3 is made of aluminum oxide (Al 2 O 3 ) of 5 nm
  • the first metal layer B1 is formed of 35 nm.
  • a laminated structure in which silver is used the transparent dielectric layer B2 is 100 nm silicon nitride (Si 3 N 4 ), and the second metal layer B3 is a 10 nm silver first layer b1 and a 60 nm aluminum second layer b2.
  • the antioxidant layer 4 is made of silicon dioxide (SiO 2 ) having a thickness of 10 nm
  • the color of the emission surface H is colored blue.
  • FIG. 16 shows the reflectance and the absorptance of the sixth structure, and the reflectance and the absorptance of the comparative structure shown in FIG.
  • the infrared radiation layer A is made of Tempax having a thickness of 1 mm
  • the adhesion layer 3 is made of aluminum oxide (Al 2 O 3 ) having a thickness of 5 nm to 100 nm
  • the first metal layer B 1 Is 35 nm of silver
  • the transparent dielectric layer B2 is 100 nm of silicon nitride (Si 3 N 4 )
  • the second metal layer B3 is 10 nm of silver.
  • the second metal layer B ⁇ b> 3 does not include aluminum, the reflectance in the region of the resonance wavelength does not significantly decrease as compared with the sixth structure.
  • the first structure has an x-axis coordinate value of 0.285 and a y-axis coordinate value of 0.330, and thus is blue in a region close to white, that is, light blue (light blue).
  • the second to sixth structures are actually “light pink” (light pink), “light red” (light red), and “light yellow” (light yellow). It is shown.
  • the table of FIG. 18 illustrates the XY chromaticity of the seventh to eleventh structures in addition to the first to sixth structures.
  • the infrared radiation layer A is made of Tempax having a thickness of 1 mm
  • the adhesion layer 3 is made of aluminum oxide (Al 2 O 3 ) of 5 nm
  • the first metal layer B1 is made of silver of 30 nm
  • a transparent dielectric material is used.
  • the layer B2 is made of silicon nitride (Si 3 N 4 ) of 90 nm and the second metal layer B3 is made of aluminum of 30 nm, the color in which the radiation surface H is colored becomes light pink.
  • the infrared radiation layer A is made of Tempax having a thickness of 1 mm
  • the adhesion layer 3 is made of aluminum oxide (Al 2 O 3 ) of 5 nm
  • the first metal layer B1 is made of silver of 55 nm
  • a transparent dielectric material is used.
  • the layer B2 is made of 90 nm silicon nitride (Si 3 N 4 ) and the second metal layer B3 is made of 100 nm copper
  • the color in which the radiation surface H is colored is light blue (light blue).
  • FIG. 25 shows the reflectance of the eighth structure.
  • the infrared radiation layer A is made of Tempax having a thickness of 1 mm
  • the adhesion layer 3 is made of aluminum oxide (Al 2 O 3 ) of 5 nm
  • the first metal layer B1 is made of silver of 55 nm
  • the transparent dielectric In the case where the layer B2 is made of 90 nm silicon nitride (Si 3 N 4 ) and the second metal layer B3 is made of 100 nm gold, the color in which the radiation surface H is colored becomes light blue (light blue). .
  • the infrared radiation layer A is made of Tempax having a thickness of 1 mm
  • the adhesion layer 3 is made of aluminum oxide (Al 2 O 3 ) of 5 nm
  • the first metal layer B1 is made of silver of 35 nm
  • a transparent dielectric material is used.
  • the layer B2 is made of 100 nm of silicon oxide (SiO 2 ) and the second metal layer B3 is made of 100 nm of silver
  • the color in which the emission surface H is colored is light yellow.
  • the infrared radiation layer A is made of Tempax having a thickness of 1 mm
  • the adhesion layer 3 is made of aluminum oxide (Al 2 O 3 ) of 5 nm
  • the first metal layer B1 is made of silver of 35 nm
  • a transparent dielectric material is used.
  • the layer B2 has a structure in which 50 nm of silicon nitride (Si 3 N 4 ) and 70 nm of silicon oxide (SiO 2 ) are stacked, and the second metal layer B3 is made of 100 nm of silver. The colored state becomes light blue (light blue).
  • FIG. 12 shows the cooling capacity of the radiant cooling devices CP having the first to fourth structures and the comparative structure which is the conventional radiant cooling device CP described with reference to FIG.
  • each of the radiant cooling devices CP having the first to fourth structures is described as light blue, light pink, light red, and light yellow, and the conventional radiant cooling device CP is described as normal. I do.
  • the illustrated cooling capacity is obtained by calculating the radiant cooling capacity under an atmosphere in an average summertime in Osaka in the middle of the south when the outside temperature is 30 ° C. and the solar radiation of AM1.5G is applied. That is, for example, the solar energy is set to 1000 W / m 2 , the outside air temperature is set to 30 ° C., and the radiation energy of the atmosphere is 387 W / m 2 in late August as a model.
  • the temperature on the horizontal axis is the temperature of the bottom surface of the radiation cooling device CP (the bottom surface opposite to the radiation surface H), and does not consider convection.
  • the colored radiant cooling device CP of the present invention when the outside air temperature and the bottom of the radiant cooling device CP are equal to 30 ° C., the colored radiant cooling device CP of the present invention also has a radiant cooling capacity of about 40 W / m 2 . That is, the colored radiant cooling device CP of the present invention has a lower radiant cooling capability than the conventional radiant cooling device CP, but exerts the radiant cooling capability even in the middle and south of summer. Note that the radiation cooling capacities of light pink (second structure) and light red (third structure) are substantially the same.
  • the transparent dielectric layer B2 can be composed of a transparent nitride film or a transparent oxide film, and specific examples of the transparent nitride film include Si 3 N 4 and AlN as described above. Further, specific examples of the transparent oxide film include the following. In the following description, those which can be used as the transparent dielectric layer B2 of the present invention will be described by classifying them by group.
  • Group 1 element oxide Li 2 O, Na 2 O, K 2 O
  • Group 2 element oxide BeO, MgO, CaO, SrO, BaO
  • element oxide TiO 2 , ZrO 2 , HfO 2
  • Group 5 element oxide Nb 2 O 5 , Ta 2 O 5
  • Group 13 element oxide B 2 O 3 , Al 2 O 3 , Ga 2 O 3
  • Group 14 element oxide SiO 2 , GeO 2 , SnO 2
  • a material formed by sputtering or the like there are Al 2 O 3 , SiO 2 , TiO 2 , ZrO 2 , HfO 2 , Nb 2 O 5 , and Ta 2 O 5 , and these materials are easy to form a film. And is superior to other oxides.
  • the first metal layer B1 and the second metal layer B3 are formed of silver has been described in detail, but the first metal layer B1 and the second metal layer B3 are formed of a silver alloy.
  • the film thickness (thickness) in this case can be made equal to the film thickness (thickness) when the first metal layer B1 and the second metal layer B3 are formed of silver.
  • the second metal layer B3 is formed of aluminum has been described.
  • the film thickness (thickness) when the layer B3 is formed of aluminum can be made equal.
  • the radiation surface H of the infrared radiation layer A was described as being formed as a flat surface. However, as shown in FIG. May be formed in a state having irregularities.
  • the unevenness for light scattering can be formed by embossing or the like, and when the infrared radiation layer A is made of glass (white plate glass), it can be formed by ground glass processing. In FIG. 32, the unevenness for light scattering is exaggeratedly described.

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Abstract

放射冷却性能の低下を極力回避しながら、放射面が着色されている状態となる放射冷却装置を提供する。 放射面Hから赤外光IRを放射する赤外放射層Aと、当該赤外放射層Aにおける放射面Hの存在側とは反対側に位置させる光反射層Bとが積層状態で設けられ、光反射層Bが、厚さが10nm以上100nm以下の範囲の銀あるいは銀合金からなる第1金属層B1、透明誘電体層B2、及び、第1金属層B1及び透明誘電体層B2を透過した光を反射する第2金属層B3の順に赤外放射層Aに近い側に位置させる形態で、第1金属層B1、透明誘電体層B2及び第2金属層B3を積層した状態に構成され、透明誘電体層B2の厚さが、光反射層Bの共鳴波長を400nm以上800nm以下の波長のうちのいずれかの波長とする厚さに設定されている。

Description

放射冷却装置
 本発明は、放射面から赤外光を放射する赤外放射層と、当該赤外放射層における前記放射面の存在側とは反対側に位置させる光反射層とが積層状態で設けられた放射冷却装置に関する。
 かかる放射冷却装置は、赤外放射層の放射面から放射される赤外光を大気の窓(例えば、波長が8μm以上14μm以下の大気が赤外光をよく透過させる波長域等)を通して透過させて、光反射層における赤外放射層の存在側とは反対側に位置する冷却対象を冷却する等、各種の冷却対象の冷却に用いられるものである。
 ちなみに、光反射層は、赤外放射層を透過した光(可視光、紫外光、赤外光)を反射して放射面から放射させることにより、赤外放射層を透過した光(可視光、紫外光、赤外光)が冷却対象に投射されて、冷却対象が加温されることを回避することになる。
 尚、光反射層は、赤外放射層を透過した光に加えて、赤外放射層から光反射層の存在側に放射される赤外光を赤外放射層に向けて反射する作用も有することになるが、以下の説明においては、光反射層が、赤外放射層を透過した光(可視光、紫外光、赤外光)を反射するために設けられるものであるとして説明する。
 このような放射冷却装置の従来例として、赤外放射層が、SiOの層とMgOの層とSiの層とからなる層状体や、ガラス(光学ガラス)にて構成され、光反射層が、拡散反射体や、銀からなる金属層と、TiOの層とSiOの層とを交互に並べた多段層とを積層した状態にする多層状体にて構成されたものがある(例えば、特許文献1参照。)。
米国特許出願公開第2015/0338175号明細書
 放射冷却装置は、赤外放射層と光反射層とを積層した状態での反射率が、太陽光のエネルギーの強度が高い波長域(例えば、400nm以上1800nm以下の波長、図26参照)に対して高い状態となるよう構成されることになる。
 つまり、赤外放射層は、太陽光のエネルギーの強度が高い波長域に対する透過率が高いものであるが、光反射層が、赤外放射層を透過した光を十分に反射するように反射率が高い状態に構成されることになる。
 太陽光のエネルギーの強度が高い波長域(例えば、400nm以上1800nm以下)には、可視光の領域(400nm以上800nm以下)が含まれることになるが、光反射層が可視光の領域の光を高い反射率で反射する状態に構成される結果、赤外放射層の放射面の存在側から放射冷却装置を見ると、例えば、鏡面と同様な状態を感じる等、着色状態を感じ取れないものであった。
 すなわち、本発明の発明者は、赤外放射層を、無アルカリガラス、クラウンガラス、ホウケイ酸ガラスのいずれかのガラス(白板ガラス)にて構成し、光反射層を、厚さが300nm以上の銀からなる金属層として構成して、赤外放射層を透過した光を光反射層にて適切に反射させることにより、冷却対象を適切に冷却できる放射冷却装置を研究開発したが、当該放射冷却装置においては、赤外放射層の放射面の存在側から放射冷却装置を見ると、背面が銀色の鏡面と同様な状態を感じるものとなり、着色状態を感じ取れないものであった。
 しかしながら、意匠性を向上するため、赤外放射層の放射面の存在側から放射冷却装置を見たときに、ブルー、ピンク等、種々の色に着色されていることが望まれるものであった。
 つまり、放射冷却装置は、例えば、家屋の屋根や自動車の屋根等に設置して使用することが想定されるが、そのような場合において、赤外放射層の放射面の存在側から放射冷却装置を見たときの色を、周囲の色と調和する色にする等の目的のために、赤外放射層の放射面の存在側から放射冷却装置を見たときに着色されていることが望まれる場合がある。
 尚、以下の記載においては、赤外放射層の放射面の存在側から放射冷却装置を見たときに着色されていることを、放射面が着色されている状態と略称する。
 本発明は、上記実情に鑑みて為されたものであって、その目的は、太陽光の吸収による放射冷却性能の低下を極力回避しながら、放射面が着色されている状態となる放射冷却装置を提供する点にある。
 本発明の放射冷却装置は、放射面から赤外光を放射する赤外放射層と、当該赤外放射層における前記放射面の存在側とは反対側に位置させる光反射層とが積層状態で設けられたものであって、その特徴構成は、
 前記光反射層が、厚さが10nm以上100nm以下の範囲の銀あるいは銀合金からなる第1金属層、透明誘電体層、及び、前記第1金属層及び前記透明誘電体層を透過した光を反射する第2金属層の順に前記赤外放射層に近い側に位置させる形態で、前記第1金属層、前記透明誘電体層及び前記第2金属層を積層した状態に構成され、
 前記透明誘電体層の厚さが、前記光反射層の共鳴波長を400nm以上800nm以下の波長のうちのいずれかの波長とする厚さに設定されている点にある。
 すなわち、銀あるいは銀合金からなる第1金属層の厚さを、10nm以上100nm以下の範囲とすることにより、光学的な制御(共鳴波長の共鳴)を適切に行いながらも、可視光を適切に透過させることができる。
 つまり、銀あるいは銀合金は、薄くなるほど太陽光を透過する透過率が高くなり、これに反して、反射率が低下するものであるから、第1金属層の厚さを、100nmよりも厚くすると、赤外放射層を透過した可視光を適切に透過できなくなって、共鳴波長の共鳴を利用した光の吸収による放射面の着色を行えないものとなり、又、第1金属層の厚さを、10nmよりも薄くすると、光を適切に反射できないため、光学的な制御(共鳴波長の共鳴)を適切に行えないものとなって、共鳴波長の共鳴を利用した光の吸収による放射面の着色を行えないものとなる。
 そして、第1金属層を透過した可視光は、基本的には、透明誘電体層を透過して第2金属層にて反射されて、再び、赤外放射層の放射面から大気中に放出されることになるが、透明誘電体層の厚さが、光反射層の共鳴波長を400nm以上800nm以下の波長のうちのいずれかの波長を共鳴波長とする厚さであるため、第1金属層を透過した可視光(つまり、400nm以上800nm以下の波長の光)のうちのいずれかの共鳴波長を中心とする狭帯域の光が、光学的な制御(共鳴波長の共鳴)により、光反射層に吸収されることになる。
 つまり、第1金属層を透過して透明誘電体層に到達した可視光のうちの共鳴波長を中心とする狭帯域の光が、第1金属層と第2金属層との間で繰り返し反射されながら、第1金属層や第2金属層に吸収されることになる。
 その結果、光反射層にて反射されて、赤外放射層の放射面から大気中に放出される可視光は、光反射層に吸収された狭帯域の光を含まないものとなるため、赤外放射層の放射面の存在側から放射冷却装置を見ると、着色されている状態となる。
 そして、透明誘電体層の厚さを変化させることにより、400nm以上800nm以下の波長のうちの共鳴波長とする波長を変化させて、赤外放射層の放射面の存在側から放射冷却装置を見たときの色を変化させることができる(図27参照)。
 しかも、可視光(つまり、400nm以上800nm以下の波長の光)のうちのいずれかの共鳴波長を中心とする狭帯域の光を光反射層に吸収させるものであるから、太陽光の吸収による温度上昇により、放射冷却性能の低下があるにしても、狭帯域の光の吸収であるため、放射冷却性能の低下は小さなものである。
 要するに、本発明の特徴構成によれば、太陽光の吸収による放射冷却性能の低下を極力回避しながら、放射面が着色されている状態となる放射冷却装置を提供できる。
 本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成は、前記第2金属層が、厚さが100nm以上の銀あるいは銀合金である点にある。
 すなわち、銀あるいは銀合金は、厚さ(膜厚)が大きくなるほど反射率が大きくなるものであり、特に、厚さが100nm以上になると、赤外光や可視光(400nm以上800nm以下の波長)の反射率が、90%を超える程度に大きくなる。
 したがって、銀あるいは銀合金からなる第2金属層の厚さが、100nm以上であるから、第1金属層及び透明誘電体層を透過してきた赤外光や可視光を適切に反射することにより、光反射層における赤外放射層の存在側とは反対側に位置する冷却対象に赤外光や可視光が到達することを的確に遮断して、冷却対象の冷却を良好に行うことができる。
 要するに、本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成によれば、第2金属層にて赤外光や可視光を適切に反射して、冷却対象の冷却を良好に行うことができる。
 本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成は、前記第2金属層が、厚さが30nm以上のアルミニウムあるいはアルミニウム合金である点にある。
 すなわち、アルミニウムあるいはアルミニウム合金は、銀あるいは銀合金に較べて、可視光の吸収率が高い(図31参照)。
 したがって、第2金属層を、厚さが30nm以上のアルミニウムあるいはアルミニウム合金とすることにより、第1金属層を透過して透明誘電体層に到達した可視光のうちの共鳴波長の光を、第2金属層にて適切に吸収させることができるため、銀あるいは銀合金にて第2金属層を構成する場合よりも、はっきりとした着色を得ることができる。
 ちなみに、アルミニウムあるいはアルミニウム合金は、銀あるいは銀合金に較べて、紫外光の反射率が高いものである。
 このため、第1金属層を透過した紫外光を適切に反射することができるため、光反射層における赤外放射層の存在側とは反対側に位置する冷却対象に紫外光が到達することを的確に遮断して、冷却対象の冷却を良好に行うことができる。
 要するに、本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成によれば、はっきりとした着色を得ることができる。
 本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成は、前記第2金属層が、銀あるいは銀合金である第1層及びアルミニウムあるいはアルミニウム合金である第2層の順に前記透明誘電体層に近い側に位置させる形態で、前記第1層と前記第2層とを積層した状態に構成されている点にある。
 すなわち、銀あるいは銀合金である第1層とアルミニウムあるいはアルミニウム合金である第2層とを、第1層を透明誘電体層に近い側に位置させる形態で積層した場合には、第1層の厚さ(膜厚)を、第2金属層を銀あるいは銀合金にて構成する場合よりも薄くしながら、第2金属層を銀あるいは銀合金にて構成する場合とほとんど変わらない光学特性を得ることができるため、高価な銀あるいは銀合金の使用量を減少できる。
 しかも、例えば、第1層の厚みを2nmよりも大きくし且つ第2層を30nm以上としながら、全体の厚みを60nm程度にすることにより、第2金属層の全体を銀あるいは銀合金にて構成する場合とほとんど変わらない光学特性を備える第2金属層を構成できる等、第2金属層の膜厚を、第2金属層の全体を銀あるいは銀合金にて構成する場合の厚さ(例えば、100nm)よりも薄くできるので、第2金属層の製作コストの低下を図ることができる。
 要するに、本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成によれば、高価な銀あるいは銀合金の使用量を減少し且つ製作コストの低下により、第2金属層の低廉化を図ることができる。
 本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成は、前記透明誘電体層が、透明窒化膜である点にある。
 すなわち、透明誘電体層として、透明窒化膜を設けて、その厚さを調整することにより、放射面が着色された状態における色の調整を良好に行うことができる。
 透明窒化膜の具体例としては、Si、AlNを挙げることができる。
 ちなみに、透明窒化膜は、スパッタリングや蒸着等を用いて製膜する際に、第1金属層が銀あるいは銀合金にて構成されている場合において、銀あるいは銀合金が変色しないため、生産性を向上し易い利点がある。
 尚、透明窒化膜は、第1金属層が銀あるいは銀合金にて構成され、第2金属層がアルミニウムあるいはアルミニウム合金にて構成される場合において、第1金属層の銀あるいは銀合金と第2金属層のアルミニウムあるいはアルミニウム合金とが合金化することを抑制する透明合金化防止層として機能することになる。
 つまり、銀とアルミニウムとが合金化することを抑制して、光反射層の光の吸収を回避しながら、光反射層により光を適切に反射する状態を長期間に亘って維持させることができる。
 要するに、本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成によれば、放射面が着色された状態における色の調整を良好に行うことができる。
 本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成は、前記透明誘電体層が、透明酸化膜である点にある。
 すなわち、透明誘電体層として、透明酸化膜を設けて、その厚さを調整することにより、放射面が着色された状態における色の調整を良好に行うことができる。
 透明酸化膜の具体例としては、多数のものが適用できるが、具体例の一例として、蒸着やスパッタリング等で製膜しやすいAl、SiO、TiO、ZrO、HfO、Nb、Taを挙げることができる。
 尚、透明酸化膜は、第1金属層が銀あるいは銀合金にて構成され、第2金属層がアルミニウムあるいはアルミニウム合金にて構成される場合において、第1金属層の銀あるいは銀合金と第2金属層のアルミニウムあるいはアルミニウム合金とが合金化することを抑制する透明合金化防止層として機能することになる。
 つまり、銀とアルミニウムとが合金化することを抑制して、光反射層の光の吸収を回避しながら、光反射層により光を適切に反射する状態を長期間に亘って維持させることができる。
 要するに、本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成によれば、放射面が着色された状態における色の調整を良好に行うことができる。
 本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成は、前記赤外放射層が、無アルカリガラス、クラウンガラス、ホウケイ酸ガラスのうちのいずれかのガラスにて構成されている点にある。
 すなわち、無アルカリガラス、クラウンガラス、ホウケイ酸ガラスは、比較的に安価でありながらも、太陽光のエネルギーの強度が大きな400nm以上1800nm以下の波長についての透過率が高く(例えば、95%以上)、しかも、大気の窓(例えば、波長が8μm以上14μm以下の赤外光を透過させる窓等)に相当する波長の赤外光を放射する輻射強度が高い性質を有する。
 したがって、赤外放射層を、無アルカリガラス、クラウンガラス、ホウケイ酸ガラスのうちのいずれかのガラスにて構成することにより、冷却能力を向上させながらも、全体構成の低廉化を図ることができる。
 要するに、本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成によれば、冷却能力を向上させながらも、全体構成の低廉化を図ることができる。
 本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成は、前記赤外放射層を基板として、前記第1金属層、前記透明誘電体層及び前記第2金属層が積層されている点にある。
 すなわち、赤外放射層を基板として、第1金属層、透明誘電体層及び第2金属層が積層されているから、全体構成の簡素化を図り、しかも、全体構成の薄膜化を図ることができる。
 ちなみに、赤外放射層を基板として、第1金属層、透明誘電体層及び第2金属層を積層する際に、第1金属層、透明誘電体層及び第2金属層が薄い場合には、例えば、スパッタリング等により、第1金属層、透明誘電体層及び第2金属層を順次積層することになる。
 つまり、積層用基板を設けて、その積層用基板に対して、スパッタリング等により、第2金属層、透明誘電体層及び第1金属層を順次積層し、その後、第1金属層の第2金属層の存在側とは反対側箇所に、別途製作した赤外放射層を載置して積層する、又は、第1金属層の透明誘電体層の存在側とは反対側箇所に、スパッタリング等により、赤外放射層を積層する場合に較べて、積層用基板を設ける必要が無いため、全体構成の簡素化を図り、しかも、全体構成の薄膜化を図ることができる。
 要するに、本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成によれば、全体構成の簡素化を図り、しかも、全体構成の薄膜化を図ることができる。
 本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成は、前記赤外放射層と前記第1金属層との間に、密着層が積層されている点にある。
 すなわち、赤外放射層と光反射層の第1金属層との間に密着層が積層されているから、温度変化等に起因して、光反射層の第1金属層が、ガラス等にて構成される赤外放射層に対して剥離する等の損傷が生じることを抑制できるため、耐久性を向上できる。
 要するに、本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成によれば、耐久性の向上を図ることができる。
 本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成は、前記第2金属層における前記透明誘電体層の存在側とは反対側に、酸化防止層が積層されている点にある。
 すなわち、第2金属層における透明誘電体層の存在側とは反対側に、酸化防止層が積層されているから、第2金属層が酸化して劣化することを抑制できるため、耐久性を向上できる。
 要するに、本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成によれば、第2金属層の劣化を抑制して、耐久性を向上できる。
 本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成は、前記赤外放射層の前記放射面が、光散乱用の凹凸を備える状態に形成されている点にある。
 すなわち、赤外放射層の放射面が光散乱用の凹凸を備えているから、赤外放射層の放射面が着色されている状態、つまり、赤外放射層の放射面の存在側から放射冷却装置を見たときに着色されている状態を、放射面を様々な方向から見ても、適切に得ることができる。
 要するに、本発明の放射冷却装置の更なる特徴構成によれば、放射面を様々な方向から見ても、放射面が着色されている状態を適切に得ることができる。
は、放射冷却装置の基本構成を示す図である。 は、放射冷却装置の具体構成を示す図である。 は、放射冷却装置の第1構造を示す図である。 は、第1構造の放射冷却装置の反射率及び吸収率を示すグラフである。 は、放射冷却装置の第2構造を示す図である。 は、第2構造の放射冷却装置の反射率及び吸収率を示すグラフである。 は、放射冷却装置の第3構造を示す図である。 は、第3構造の放射冷却装置の反射率及び吸収率を示すグラフである。 は、放射冷却装置の第4構造を示す図である。 は、第4構造の放射冷却装置の反射率及び吸収率を示すグラフである。 は、第4構造及び従来の放射冷却装置の反射率を示すグラフである。 は、第1から第4構造及び従来の放射冷却装置の冷却能力を示すグラフである。 は、放射冷却装置の第5構造を示す図である。 は、第5構造の放射冷却装置の反射率及び吸収率を示すグラフである。 は、放射冷却装置の第6構造を示す図である。 は、第6構造の放射冷却装置の反射率及び吸収率を示すグラフである。 は、比較構造の放射冷却装置を示す図である。 は、放射冷却装置の第1から第11構造とXY色度との関係を示す表である。 は、XY色度図を示す図である。 は、透明誘電体層の厚さと共鳴波長との参考関係を示す図である。 は、透明誘電体層の厚さと共鳴波長との関係を示す図である。 は、銀の膜厚と透過率との関係を示す図である。 は、第1金属層の厚さと光反射層の反射率との関係を示す図である。 は、第1金属層の厚さと光反射層の反射率との関係を示す図である。 は、第8構造の放射冷却装置の反射率を示す図である。 は、太陽光エネルギーの強度を示すグラフである。 は、共鳴波長と着色される色との関係を示す表である。 は、共鳴波長が800nmのときの反射率を示すグラフである。 は、第2金属層を構成する金属を変えたときの反射率を示すグラフである。 は、第2金属層を金と銅とに構成するときの反射率を示すグラフである。 は、銀とアルミニウムとの吸収率を示すグラフである。 は、別実施形態の放射冷却装置を示す図である。
 以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
〔放射冷却装置の基本構成〕
 図1に示すように、放射冷却装置CPの基本構成は、放射面Hから赤外光IRを放射する赤外放射層Aと、当該赤外放射層Aにおける放射面Hの存在側とは反対側に位置させる光反射層Bとが積層状態に設けられている構成である。
 光反射層Bが、第1金属層B1、透明誘電体層B2、及び、第1金属層B1及び透明誘電体層B2を透過した光を反射する第2金属層B3の順に赤外放射層Aに近い側に位置させる形態で、第1金属層B1、透明誘電体層B2及び第2金属層B3を積層した状態に構成されている。
 そして、透明誘電体層B2の厚さが、光反射層Bの共鳴波長を400nm以上800nm以下の波長のうちのいずれかの波長とするための厚さ(30nm以上230nm以下)に設定されている。
 赤外放射層Aは、太陽光のエネルギーの強度が大きい400nm以上1800nm以下の波長(図26参照)についての透過率が高く(例えば、95%以上)、8μm以上14μm以下の波長範囲で大きな熱輻射を生じる材料がよい。
 その具体例としては、無アルカリガラス、クラウンガラス、ホウケイ酸ガラスのうちのいずれかのガラス(白板ガラス)を挙げることができ、その他、オレフィン系樹脂、PET系樹脂、フッ素系樹脂、シリコン系樹脂、アクリル系樹脂、塩化ビニル系樹脂、塩化ビニリデン系樹脂等の樹脂を挙げることができる。
 ちなみに、無アルカリガラスとしては、例えば、OA10G(日本電気硝子製)を用いることができ、クラウンガラスとしては、例えば、B270(登録商標、以下同じ)を用いることができ、ホウケイ酸ガラスとしては、例えば、テンパックス(登録商標、以下同じ)を用いることができる。
 以下の記載においては、赤外放射層Aが「テンパックス」にて形成されているとして説明する。
 ちなみに、赤外放射層Aを構成するテンパックスの厚さは、10μm以上で10cm以下である必要があり、好ましくは、20μm以上で10cm以下、より好ましくは、100μm以上で1cm以下が良い。
 つまり、赤外放射層Aを、8μm以上14μm以下の赤外域で大きな熱輻射を示し、当該熱輻射が、赤外放射層A及び光反射層Bの夫々にて吸収されるAM1.5Gの太陽光及び大気の熱輻射よりも大きくなるようにすることにより、昼夜を問わず周囲の大気よりも温度が低下する放射冷却作用を発揮する放射冷却装置CPを構成することができる。
 そして、そのようにするにあたり、赤外放射層Aをテンパックスにて構成する場合には、厚さを10μm以上で10cm以下にする必要があり、好ましくは、20μm以上で10cm以下、より好ましくは、100μm以上で1cm以下が良い。
 本実施形態においては、テンパックスの厚さが1mmであるとする。
 第1金属層B1が、厚さが10nm以上100nm以下の範囲の銀あるいは銀合金から構成されている。
 「銀合金」としては、銀に、銅、パラジウム、金、亜鉛、スズ、マグネシウム、ニッケル、チタンのいずれかを、例えば、0.4質量%以上4.5質量%以下程度を添加した合金を用いることができる。具体例としては、銀に銅とパラジウムを添加して作成した銀合金である「APC-TR(フルヤ金属製)」を用いることができる。
 以下の記載においては、第1金属層B1を、銀を用いて構成するものとして説明する。
 ちなみに、図3、図5、図7、図9、図13及び図15に、放射冷却装置CPの具体例(具体構造)を例示するが、いずれの具体例においても、第1金属層B1の厚さは、35nmである。
 尚、以下の記載において、図3、図5、図7、図9、図13及び図15にて示す放射冷却装置CPの具体例(具体構造)の夫々を、第1構造から第6構造と呼称する。
 また、第1金属層B1の銀は、図22に示すように、厚さの変化により透過率が変化することになり、その結果、図23及び図24に示すように、第1金属層B1の銀の厚さの変化により、放射冷却装置CP(光反射層B)の反射率が変動することになるが、その詳細は後述する。
 第2金属層B3としては、第1構造から第4構造にて示す如く、銀あるいは銀合金にて構成する場合(図3、図5、図7、図9参照)、第5構造にて示す如く、アルミニウムあるいはアルミニウム合金にて構成する場合(図13参照)、第6構造にて示す如く、銀あるいは銀合金である第1層b1及びアルミニウムあるいはアルミニウム合金である第2層b2の順に透明誘電体層B2に近い側に位置させる形態で、第1層b1及び第2層b2を積層した状態に構成する場合(図15参照)があり、その他、例示はしないが銅や金を用いて構成する場合がある。
 第2金属層B3を、銀あるいは銀合金にて構成する場合において、その厚さとしては、80nm以上が良く、100nm以上が一層よい。
 第2金属層B3を、アルミニウムあるいはアルミニウム合金にて構成する場合において、その厚さとしては、30nm以上が良く、50nm以上が一層よい。
 第2金属層B3を、銅にて構成する場合において、その厚さとしては、80nm以上が良く、100nm以上が一層よい。
 第2金属層B3を、金にて構成する場合においては、銅と同様に構成することができる。
 第2金属層B3を第1層b1及び第2層b2を積層した状態に構成する場合においては、第1層b1の厚み(膜厚)を2nmよりも大きくし且つ第2層b2の厚み(膜厚)を30nm以上としながら、全体の厚みを60nm程度にすることにより、第2金属層B3の全体を、100nm程度の厚さの銀あるいは銀合金にて構成する場合とほとんど変わらない光学特性を備えさせることができる。
 尚、図15には、第1層b1を厚さが10nmの銀、第2層b2を厚さが60nmのアルミニウムである場合を例示する。
 ちなみに、第6構造にて示す如く、第2金属層B3を、銀あるいは銀合金である第1層b1及びアルミニウムあるいはアルミニウム合金である第2層b2から構成する場合には、図示は省略するが、透明誘電体層B2と同様の透明窒化膜や透明酸化膜を、透明合金化防止層として、第1層b1と第2層b2との間に積層するとよい。
 「アルミ合金」としては、アルミニウムに、銅、マンガン、ケイ素、マグネシウム、亜鉛、機械構造用炭素鋼、イットリウム、ランタン、ガドリニウム、テルビウムを添加した合金を用いることができる。
 透明誘電体層B2は、透明窒化膜や透明酸化膜にて構成される。
 透明窒化膜としては、Si、AlNを挙げることができる。
 透明酸化膜としては、多数の酸化物を挙げることができるが、蒸着やスパッタリングなどで製膜し易い酸化物として、Al、SiO、ZrO、TiO、HfO、Nb、Taを挙げることができ、その詳細は後述する。
 尚、第1構造から第6構造においては、透明誘電体層B2が、透明窒化膜(Si)で構成されているものとして説明する。
 また、透明誘電体層B2の厚さは、放射面Hが着色されている状態、つまり、赤外放射層Aの放射面Hの存在側から放射冷却装置CPを見たときに着色されている状態とするために、光反射層Bの共鳴波長を400nm以上800nm以下の波長のうちのいずれかの波長とする厚さであり、その詳細は後述する。
 ちなみに、透明誘電体層B2は、第2金属層B3をアルミニウムあるいはアルミニウム合金にて構成する場合において、第1金属層B1の銀あるいは銀合金と第2金属層B3のアルミニウムあるいはアルミニウム合金との合金化を防止する透明合金化防止層としても機能することになる。
 〔放射冷却装置の具体構成〕
 放射冷却装置CPは、赤外放射層Aを基板として、第1金属層B1、透明誘電体層B2及び第2金属層B3を積層することにより構成されるが、その具体構成は、図2に示すように、基板としての赤外放射層Aと第1金属層B1との間に、密着層3が積層され、かつ、第2金属層B3における透明誘電体層B2の存在側とは反対側に、酸化防止層4が積層されている構成である。
 つまり、放射冷却装置CPが、赤外放射層Aを基板として、例えばスパッタリングにより、密着層3、第1金属層B1、透明誘電体層B2、第2金属層B3及び酸化防止層4を順次製膜する形態に構成されている。
 密着層3は、酸化アルミニウム(Al)を1nm以上100nm以下に製膜する形態に構成されている。
 酸化防止層4が、二酸化ケイ素(SiO)又は酸化アルミニウム(Al)を、1nm以上数100nm以下に製膜する形態に構成されている。尚、第1構造から第6構造においては、二酸化ケイ素(SiO)が製膜されているとして説明する。
 従って、放射冷却装置CPは、放射冷却装置CPに入射した光Lのうちの一部の光を、赤外放射層Aの放射面Hにて反射し、放射冷却装置CPに入射した光Lのうちで赤外放射層Aを透過した光(例えば、可視光、紫外光等)の一部を、光反射層Bの第1金属層B1にて反射し、第1金属層B1を透過した光を、光反射層Bの第2金属層B3にて反射するように構成されている。
 そして、酸化防止層4における光反射層Bの存在側とは反対側に位置する冷却対象Dから放射冷却装置CPへの入熱(例えば、冷却対象Dからの熱伝導による入熱)を、赤外放射層Aによって赤外光IRに変換して放射することにより、冷却対象Dを冷却するように構成されている。
 尚、本実施形態において光Lとは、その波長が10nm以上20000nm以下の範囲の電磁波のことを言う。つまり、光Lには、紫外光、赤外光IRおよび可視光が含まれる。
 又、本発明の放射冷却装置CPは、透明誘電体層B2の厚さが、光反射層Bの共鳴波長を400nm以上800nm以下の波長のうちのいずれかの波長とする厚さに設定されているから、放射面Hが着色されている状態、つまり、赤外放射層Aの放射面Hの存在側から放射冷却装置CPを見たときに着色されている状態となる。
 共鳴波長と着色される色との関係は、図27に示す通りである。例えば、共鳴波長が400nmときには、薄い黄色になり、共鳴波長が600nmのときには、水色になり、共鳴波長が700nm以上750nm以下のときには、白色になる。
 尚、共鳴波長が800nmのときには、図28に示すように、800nmの半波長である400nmの波長も共鳴波長となるため、共鳴波長が400nmときと同様に、薄い黄色になる。
 ちなみに、図27の表に記載した「薄い黄色」を、以下の記載では「ライトイエロー」と記載することがあり、「水色」を「ライトブルー」と記載することがある。
 〔第1金属層と厚さと透過率との関係について〕
 図22に示すように、第1金属層B1の銀の厚さ(膜厚)を、100nmから順に薄くしていったとき、10nm以下となると、銀の透過率がかなり大きくなる。
 本発明の放射冷却装置CPは、共鳴周波数(共鳴波長)の光を透明誘電体層B2の中で共鳴させて、発色させるものである。
 つまり、共鳴周波数(共鳴波長)の光を光反射層Bの中で共鳴させるとは、合わせ鏡のようになっている第1金属層B1と第2金属層B3との中で、共鳴周波数(共鳴波長)の光を、第1金属層B1及び第2金属層B3にて反射しながら何度も往復させて、つまり、光を透明誘電体層B2の中にできるだけ長時間閉じ込めて、共鳴周波数(共鳴波長)の光を含む狭帯域の光だけを、ピンポイントで第1金属層B1及び第2金属層B3に吸収させるものであり、その結果、発色させるものである。
 したがって、第1金属層B1の銀の厚さ(膜厚)が厚すぎると、殆どの光が第1金属層B1の銀にて反射されて、透明誘電体層B2まで光が殆ど透過せず、光学制御に重要な“共鳴”を起こすことができないことになる。
 逆に、第1金属層B1の銀の厚さ(膜厚)が薄くなりすぎると、銀の透過率が高くなりすぎて、十分に光を閉じ込めながら、光を金属に吸収させること(共鳴)ができなくなるので、光吸収率が下がることになり、また、共鳴作用が弱まることによって、金属に吸収される波長域(吸収ピーク)が拡がる傾向となる。
 すなわち、第1金属層B1の銀の厚さ(膜厚)は、光反射層Bが太陽光スペクトルの範囲において高い反射率を持ちながら、着色のための急峻な吸収ピークを持つようにするためには、厚すぎても、薄すぎてもよくない。
 つまり、第1金属層B1の銀の厚さ(膜厚)には、光を閉じ込めながらも(ある程度の反射率を持ちながらも)、光を閉じ込める場所(透明誘電体層B2の中)に光を入れる(透過させる)ことができるという、適切なバランスを得られることができる厚さ(膜厚)が求められることになる。
 〔第1金属層の厚さと反射率との関係について〕
 図23は、赤外放射層Aを構成するテンパックスの厚さ(膜厚)を1mmとし、透明誘電体層B2を構成するSiの厚さ(膜厚)を100nmとし、第2金属層B3を構成する銀の厚さ(膜厚)を100nmとする場合において、第1金属層B1の厚さを40nm以上100nm以下の範囲で変化させたときの、放射冷却装置CPの反射率の変化を示す。
 図24は、同様に、赤外放射層Aを構成するテンパックスの厚さ(膜厚)を1mmとし、透明誘電体層B2を構成するSiの厚さ(膜厚)を100nmとし、第2金属層B3を構成する銀の厚さ(膜厚)を100nmとする場合において、第1金属層B1の厚さを1nm以上40nm以下の範囲で変化させたときの、放射冷却装置CPの反射率の変化を示す。
 図23に示すように、第1金属層B1の銀の厚さ(膜厚)を、100nmから40nmに向けて薄くしていくと、第1金属層B1の銀の透過率の増加に従い、透明誘電体層B2に光がたくさん入るようになり、共鳴波長の光がより多く吸収されるようになる。
 また、図24に示すように、第1金属層B1の銀の厚さ(膜厚)を、40nmから10nmに向けて薄くしていくと、第1金属層B1の銀の反射率が下がることになり、その結果、透明誘電体層B2の中に光を閉じ込める作用(共鳴)が弱くなり、吸収ピークが小さくなり、しかも、吸収ピークがブロードになる。
 さらに、両図を比較すると、600nm付近に共振のピーク(共鳴波長)を作る場合には、第1金属層B1の銀の厚さ(膜厚)を、40nm程度にすることが適していることがわかる。
 つまり、図22に示すように、銀の透過率は波長によって変化するので、共鳴させる波長によって、適した銀の厚さ(膜厚)は変わることになる。
 但し、放射冷却装置CPの放射面Hを着色された状態にする場合、共鳴させるべき波長は可視光の領域(400nm以上800nm以下)であり、この波長域で制御する場合に適した第1金属層B1の銀の厚さ(膜厚)は10nm以上100nm以下の範囲内に収まる。
 ちなみに、図22に示すように、第1金属層B1の銀の厚さ(膜厚)を100nm程度にすると、第1金属層B1を透過する光の波長が500nm以下となるため、制御できる共鳴波長が500nm以下になる等、第1金属層B1の銀の厚さ(膜厚)によっては、制御可能な共鳴波長の範囲が変動する。
 そして、第1金属層B1の銀の厚さ(膜厚)を、25nm以上80nm以下の範囲にした場合には、400nm以上800nm以下の全範囲の波長を共鳴波長として制御できることになる。
 〔透明誘電体層の厚さについて〕
 透明誘電体層B2の厚さ(膜厚)は、光反射層Bの共鳴波長を400nm以上800nm以下の波長のうちのいずれかの波長とする厚さであり、具体的には、30nm以上230nm以下の厚さである(図21参照)。
 説明を加えると、プラズモン共鳴による共鳴波長は、第1金属層B1、透明誘電体層B2及び第2金属層B3の屈折率分布によって正確に決まるが、下記の(1)式にて、概算することができる。
 λ=L*4*n--------(1)
 なお、λは共鳴波長、Lは透明誘電体層の厚さ、nは代表的な屈折率である。
 図20は、透明誘電体層B2として使える材料群(一部)の代表的な屈折率nと、透明誘電体層B2の厚さ(膜厚)Lと、共鳴波長λの関係を示している。
 なお、「代表的な」屈折率nと表記している理由は、材料の屈折率は波長によって変化するためであり、本図では、可視光領域(400nm以上800nm以下)におけるそれぞれの材料の平均的な屈折率を記している。
 また、図20に示す共鳴波長λは、それぞれの膜が1層だけ存在する際の共鳴波長であり、透明誘電体層B2が銀、アルミニウム、銅等の金属で挟まれた際の共鳴波長とは異なる。つまり、この値は、光学設計する際の参考的値である。
 図21に、透明誘電体層B2が銀に挟まれている場合の、厚さ(膜厚)と共鳴波長との関係を示す。
 透明誘電体層B2が銀にて挟まれた場合、図20に示す一層のみのときよりも、同じ厚さ(膜厚)Lでの共鳴波長λが短波長側にシフトすることになる。これは、金属によって、透明誘電体層B2の電磁界が透明誘電体層B2の中心付近に集中することによりおこる現象である。
 短波長側へシフトする度合いは挟む金属種によって異なるが、図29に示すように、アルミニウム、銀、銅の順に、共鳴波長λが短波長側に大きくシフトすることになる。
 すなわち、図29は、赤外放射層Aを厚さが1mmのテンパックスとし、第1金属層B1を55nmの銀とし、透明誘電体層B2を厚さが80nmの窒化アルミニウム(AlN)として、第2金属層B3を、100nmのアルミニウム、100nmの銀、100nmの銅とする場合における反射率を示すものであり、アルミニウム、銀、銅の順に、共鳴波長λが短波長側に大きくシフトすることになる。
 ちなみに、図30は、赤外放射層Aを厚さが1mmのテンパックスとし、第1金属層B1を55nmの銀とし、透明誘電体層B2を厚さが80nmの窒化アルミニウム(AlN)として、第2金属層B3を、100nmの金、100nmの銅とする場合における反射率を示すものであり、金と銅については、共鳴波長λが短波長側にシフトする大きさは同程度である。
 〔放射面の着色の具体例〕
 第1構造から第4構造において、赤外放射層Aを厚さが1mmのテンパックスとし、密着層3を5nmの酸化アルミニウム(Al)とし、第1金属層B1を35nmの銀とし、透明誘電体層B2を窒化シリコン(Si)とし、第2金属層B3を100nmの銀とし、酸化防止層4を10nmの二酸化ケイ素(SiO)とする場合に、第1構造から第4構造における放射面Hが着色されている状態の色を説明する。
 図3に示すように、透明誘電体層B2を形成する窒化シリコン(Si)の厚さ(膜厚)を100nmにする第1構造では、放射面Hが着色されている状態の色がライトブルーになり、図5に示すように、透明誘電体層B2を形成する窒化シリコン(Si)の厚さ(膜厚)を80nmにする第2構造では、放射面Hが着色されている状態の色がライトピンクになる。
 又、図7に示すように、透明誘電体層B2を形成する窒化シリコン(Si)の厚さ(膜厚)を65nmにする第3構造では、放射面Hが着色されている状態の色がライトレッドになり、図9に示すように、透明誘電体層B2を形成する窒化シリコン(Si)の厚さ(膜厚)を50nmにする第4構造では、放射面Hが着色されている状態の色がライトイエローになる。
 ちなみに、図4には、第1構造における反射率及び吸収率を示し、図6には、第2構造における反射率及び吸収率を示し、図8には、第3構造における反射率及び吸収率を示し、図10には、第4構造における反射率及び吸収率を示している。
 尚、図11には、第4構造の反射率と比較構造の反射率とを示している。
 比較構造は、赤外放射層Aを厚さが1mmのテンパックスとし、密着層3を5nmの酸化アルミニウム(Al)とし、光反射層Bを300nmの銀とし、酸化防止層4を10nmの二酸化ケイ素(SiO)とするものである。
 第4構造の反射率が、共鳴波長の領域で低くなっているのに対して、従来の放射冷却装置CPである比較構造の反射率は、可視光(400nm以上800nm以下)の領域において95%以上の高い状態となる。
 また、図13に示す第5構造において、赤外放射層Aを厚さが1mmのテンパックスとし、密着層3を5nmの酸化アルミニウム(Al)とし、第1金属層B1を35nmの銀とし、透明誘電体層B2を100nmの窒化シリコン(Si)とし、第2金属層B3を30nmのアルミニウムとし、酸化防止層4を10nmの二酸化ケイ素(SiO)とする場合においては、放射面Hが着色されている状態の色が青になる。
 ちなみに、図14には、第5構造の反射率と吸収率とを示す。
 尚、図31に示すように、アルミニウムあるいはアルミニウム合金は、銀あるいは銀合金に較べて、可視光の吸収率が高いものであるから、放射面Hが着色されている状態の色が、はっきりした青になる。
 また、図15に示す第6構造において、赤外放射層Aを厚さが1mmのテンパックスとし、密着層3を5nmの酸化アルミニウム(Al)とし、第1金属層B1を35nmの銀とし、透明誘電体層B2を100nmの窒化シリコン(Si)とし、第2金属層B3を、10nmの銀の第1層b1と60nmのアルミニウムの第2層b2とからなる積層構成とし、酸化防止層4を10nmの二酸化ケイ素(SiO)とする場合においては、放射面Hが着色されている状態の色が青になる。
 ちなみに、図16には、第6構造の反射率と吸収率、及び、図17に示す比較構造の反射率と吸収率とを示す。
 比較構造は、図17に示すように、赤外放射層Aを厚さが1mmのテンパックスとし、密着層3を5nm以上100nm以下の酸化アルミニウム(Al)とし、第1金属層B1を35nmの銀とし、透明誘電体層B2を100nmの窒化シリコン(Si)とし、第2金属層B3を10nmの銀とする構成である。
 図16に示すように、比較構造は、第2金属層B3にアルミニウムがないため、共鳴波長の領域の反射率が、第6構造に較べて大きく低下することがない。
 〔XY色度図について〕
 放射面Hが着色されている状態の色は、図19に示すXY色度図にて表示することができ、第1構造から第6構造のXY色度図におけるx軸座標値及びy軸座標値を、図18の表に示す。
 尚、例示するXY色度は、D65ライト照射に対応するものである。
 例えば、第1構造については、x軸座標値が0.285で、y軸座標値0.330であるので、白に近い領域の青、つまり、ライトブルー(水色)である。
 第2構造から第6構造についても同様である。
 尚、図18の表に記載の「ピンク」「赤色」「黄色」の夫々は、実際は、「薄いピンク」(ライトピンク)、「薄い赤」(ライトレッド)、「薄い黄色」(ライトイエロー)を示すものである。
 ちなみに、図18の表には、第1構造から第6構造に加えて、第7構造から第11構造のXY色度を例示する。
 第7構造は、赤外放射層Aを厚さが1mmのテンパックスとし、密着層3を5nmの酸化アルミニウム(Al)とし、第1金属層B1を30nmの銀とし、透明誘電体層B2を90nmの窒化シリコン(Si)とし、第2金属層B3を30nmのアルミニウムとする場合であって、放射面Hが着色されている状態の色がライトピンクになる。
 第8構造は、赤外放射層Aを厚さが1mmのテンパックスとし、密着層3を5nmの酸化アルミニウム(Al)とし、第1金属層B1を55nmの銀とし、透明誘電体層B2を90nmの窒化シリコン(Si)とし、第2金属層B3を100nmの銅とする場合であって、放射面Hが着色されている状態の色がライトブルー(水色)になる。
 尚、図25に、第8構造の反射率を示す。
 第9構造は、赤外放射層Aを厚さが1mmのテンパックスとし、密着層3を5nmの酸化アルミニウム(Al)とし、第1金属層B1を55nmの銀とし、透明誘電体層B2を90nmの窒化シリコン(Si)とし、第2金属層B3を100nmの金とする場合であって、放射面Hが着色されている状態の色がライトブルー(水色)になる。
 第10構造は、赤外放射層Aを厚さが1mmのテンパックスとし、密着層3を5nmの酸化アルミニウム(Al)とし、第1金属層B1を35nmの銀とし、透明誘電体層B2を100nmの酸化シリコン(SiO)とし、第2金属層B3を100nmの銀とする場合であって、放射面Hが着色されている状態の色がライトイエローになる。
 第11構造は、赤外放射層Aを厚さが1mmのテンパックスとし、密着層3を5nmの酸化アルミニウム(Al)とし、第1金属層B1を35nmの銀とし、透明誘電体層B2を、50nmの窒化シリコン(Si)と70nmの酸化シリコン(SiO)とを積層した構成とし、第2金属層B3を100nmの銀とする場合であって、放射面Hが着色されている状態の色がライトブルー(水色)になる。
 〔放射冷却装置の冷却能力〕
 図12に、第1構造から第4構造の放射冷却装置CP、及び、図11に関連して説明した従来の放射冷却装置CPである比較構造の冷却能力を示す。
 尚、図12においては、第1構造から第4構造の放射冷却装置CPの夫々を、ライトブルー、ライトピンク、ライトレッド、ライトイエローと記載し、従来の放射冷却装置CPをノーマル(Normal)と記載する。
 例示する冷却能力は、外気温30℃、AM1.5Gの日射が照射されている、南中時の大阪の平均的な夏場の大気下における放射冷却能力を計算したものである。
 すなわち、例えば、太陽光エネルギーを1000W/mとし、外気温を30℃とし、大気の輻射エネルギーが387W/mの8月下旬をモデルとして計算したものである。
 横軸の温度は、放射冷却装置CPの底面部(放射面Hとは反対側の底面部)の温度であり、対流は考慮していない。
 図示の通り、外気温と放射冷却装置CPの底面部が30℃と同じ場合、本発明の色付きの放射冷却装置CPでも40W/m近くの放射冷却能力を持つ。
 つまり、本発明の色付きの放射冷却装置CPは、従来の放射冷却装置CPよりも放射冷却能力が低下することになるが、夏場の南中時においても放射冷却能力を発揮することになる。
 尚、ライトピンク(第2構造)とライトレッド(第3構造)との放射冷却能力は、略同じである。
 〔透明誘電体層の具体例〕
 透明誘電体層B2は、透明窒化膜や透明酸化膜にて構成でき、透明窒化膜の具体例としては、上述の通り、Si、AlNを挙げることができる。
 また、透明酸化膜の具体例としては、下記のものを挙げることができる。尚、以下の説明では、本発明の透明誘電体層B2として使用できるものを、族で分類して記載する。
 第1族元素酸化物:LiO、NaO、K
 第2族元素酸化物:BeO、MgO、CaO、SrO、BaO
 第4族元素酸化物:TiO、ZrO、HfO
 第5族元素酸化物:Nb、Ta
 第13族元素酸化物:B、Al、Ga
 第14族元素酸化物:SiO、GeO、SnO
 ちなみに、スパッタリング等で製膜される材料としては、Al、SiO、TiO、ZrO、HfO、Nb、Taがあり、これら材料は製膜し易い点で他の酸化物よりも優れている。
 〔別実施形態〕
 以下、別実施形態を列記する。
(1)上記実施形態では、赤外放射層Aを基板として、第1金属層B1、透明誘電体層B2及び第2金属層B3を積層する場合を例示したが、赤外放射層Aとは異なる他の基板に対して、第2金属層B3、透明誘電体層B2及び第1金属層B1を積層する形態で光反射層Bを形成して、赤外放射層Aと光反射層Bとを重ね合わせる形態で積層してもよい。この場合、赤外放射層Aと光反射層Bとの間に、伝熱可能であれば多少の隙間が存在してもよい。
(2)上記実施形態では、酸化防止層4を備える場合を例示したが、アルミにて形成される第2金属層B3の膜厚(厚さ)が十分に厚い場合等においては、酸化防止層4を省略してもよい。
(3)上記実施形態では、第1金属層B1及び第2金属層B3を銀にて形成する場合を詳細に説明したが、第1金属層B1や第2金属層B3を銀合金で形成する場合における膜厚(厚さ)は、第1金属層B1や第2金属層B3を銀にて形成する場合の膜厚(厚さ)と同等にすることができる。
(4)上記実施形態では、第2金属層B3をアルミニウムにて形成する場合をも説明したが、第2金属層B3をアルミ合金で形成する場合における膜厚(厚さ)は、第2金属層B3をアルミにて形成する場合の膜厚(厚さ)と同等にすることができる。
(5)上記実施形態では、赤外放射層Aの放射面Hを平坦面に形成するものとして説明したが、図32に示すように、赤外放射層Aの放射面Hを、光散乱用の凹凸を備える状態に形成してもよい。
 光散乱用の凹凸は、エンボス加工等により形成でき、赤外放射層Aをガラス(白板ガラス)にて構成する場合には、すりガラス加工により形成できる。
 尚、図32は、光散乱用の凹凸を、実際よりも誇張して記載するものである。
 なお、上記実施形態(別実施形態を含む、以下同じ)で開示される構成は、矛盾が生じない限り、他の実施形態で開示される構成と組み合わせて適用することが可能であり、また、本明細書において開示された実施形態は例示であって、本発明の実施形態はこれに限定されず、本発明の目的を逸脱しない範囲内で適宜改変することが可能である。
3    密着層
4    酸化防止層
A    赤外放射層
B    光反射層
B1   第1金属層
B2   透明誘電体層
B3   第2金属層

Claims (11)

  1.  放射面から赤外光を放射する赤外放射層と、当該赤外放射層における前記放射面の存在側とは反対側に位置させる光反射層とが積層状態で設けられた放射冷却装置であって、
     前記光反射層が、厚さが10nm以上100nm以下の範囲の銀あるいは銀合金からなる第1金属層、透明誘電体層、及び、前記第1金属層及び前記透明誘電体層を透過した光を反射する第2金属層の順に前記赤外放射層に近い側に位置させる形態で、前記第1金属層、前記透明誘電体層及び前記第2金属層を積層した状態に構成され、
     前記透明誘電体層の厚さが、前記光反射層の共鳴波長を400nm以上800nm以下の波長のうちのいずれかの波長とする厚さに設定されている放射冷却装置。
  2.  前記第2金属層が、厚さが100nm以上の銀あるいは銀合金である請求項1に記載の放射冷却装置。
  3.  前記第2金属層が、厚さが30nm以上のアルミニウムあるいはアルミニウム合金である請求項1に記載の放射冷却装置。
  4.  前記第2金属層が、銀あるいは銀合金である第1層及びアルミニウムあるいはアルミニウム合金である第2層の順に前記透明誘電体層に近い側に位置させる形態で、前記第1層と前記第2層とを積層した状態に構成されている請求項1に記載の放射冷却装置。
  5.  前記透明誘電体層が、透明窒化膜である請求項1~4のいずれか1項に記載の放射冷却装置。
  6.  前記透明誘電体層が、透明酸化膜である請求項1~4のいずれか1項に記載の放射冷却装置。
  7.  前記赤外放射層が、無アルカリガラス、クラウンガラス、ホウケイ酸ガラスのうちのいずれかのガラスにて構成されている請求項1~6のいずれか1項に記載の放射冷却装置。
  8.  前記赤外放射層を基板として、前記第1金属層、前記透明誘電体層及び前記第2金属層が積層されている請求項1~7のいずれか1項に記載の放射冷却装置。
  9.  前記赤外放射層と前記第1金属層との間に、密着層が積層されている請求項8に記載の放射冷却装置。
  10.  前記第2金属層における前記透明誘電体層の存在側とは反対側に、酸化防止層が積層されている請求項8又は9に記載の放射冷却装置。
  11.  前記赤外放射層の前記放射面が、光散乱用の凹凸を備える状態に形成されている請求項1~10のいずれか1項に記載の放射冷却装置。
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