WO2019021713A1 - シャワーヘッド及びその製造方法 - Google Patents

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shower head
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木村　功一
晃 三雲
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住友電気工業株式会社
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    • C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
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    • H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/306—Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
    • H01L21/3065—Plasma etching; Reactive-ion etching

Definitions

  • the present disclosure relates to a shower head and a method of manufacturing the same.
  • This application claims the priority based on Japanese Patent Application No. 201-146192 filed on July 28, 2017, and uses all the contents described in the Japanese Patent Application.
  • a semiconductor wafer is mounted on a wafer holder also called a susceptor mounted in a chamber, and film formation processing such as CVD or sputtering is performed on the front side while heating from the back side. And performing various thin film processing such as etching processing.
  • the thin film processing may be performed in a plasma atmosphere, and in this case, the semiconductor manufacturing apparatus embeds one of the radio frequency (RF) electrodes (lower electrode) in the wafer holder and the wafer is opposed to the lower electrode. What provided the other high frequency electrode (upper electrode) above the holding body is used. Then, by applying a radio frequency (RF) voltage between these electrodes, it becomes possible to bring the source gas present between the electrodes into a plasma state.
  • RF radio frequency
  • a shower head is provided above the wafer holder in order to introduce the above-mentioned source gas.
  • This shower head generally has a disk shape provided with a large number of gas discharge holes in a portion opposite to the wafer mounting surface so that the source gas can be uniformly supplied toward the wafer mounting surface of the wafer holder. It has a member. By embedding the conductive member for the high frequency electrode in the disc-like member, it is possible to use the role of the upper electrode described above as the shower head.
  • an upper electrode circuit for generating high frequency is embedded in a ceramic plate for a shower head having a plurality of gas discharge holes, and a metal support for holding the ceramic plate and the upper electrode circuit There is disclosed a technique of electrically connecting the two using a spring.
  • the shower head of the present disclosure is a shower head provided opposite to a wafer holder in a chamber of a semiconductor manufacturing apparatus, and is a disk-like member having a plurality of through holes penetrating in the thickness direction.
  • An electrode terminal portion having a base portion electrically connected to a conductor and a cylindrical portion provided on the base portion, and a first end portion and a first end fitted to the outside of the cylindrical portion and opposed to the conductor
  • a cylinder having an end and an opposite second end, the outer diameter of the second end being smaller than the outer diameter of the first end and the inner diameter of the second end being larger than the inner diameter of the first end
  • a sealing member filled around the first end
  • a hole is formed in the thickness direction of a disk-like member in which a high frequency conductor is embedded, and a part of the conductor is exposed; and exposed at the bottom of the hole
  • a step of connecting the electrode terminal portion to the conductor, a step of fitting a doughnut-shaped glass preform to the electrode terminal portion, and a first end opposite to the conductor to the electrode terminal portion and a side opposite to the first end Fitting a cylindrical member having a second end, the outer diameter of the second end being smaller than the outer diameter of the first end, and the inner diameter of the second end being larger than the inner diameter of the first end;
  • FIG. 1A is a schematic plan view of a shower head according to an embodiment.
  • FIG. 1B is a cross-sectional view taken along line 1B-1B in FIG. 1A.
  • FIG. 2 is a partial cross-sectional view showing a first specific example of the shower head according to the embodiment.
  • FIG. 3A is a partial cross-sectional view showing a second specific example of the shower head according to the embodiment.
  • FIG. 3B is a partial cross-sectional view showing a third specific example of the shower head according to the embodiment.
  • FIG. 4A is a partial cross-sectional view showing a fourth specific example of the shower head according to the embodiment.
  • FIG. 4B is a partial cross-sectional view showing a fifth example of the shower head according to the embodiment.
  • FIG. 5 is a schematic perspective view of a cylindrical member.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view of a semiconductor manufacturing apparatus.
  • the present disclosure has been made in view of such conventional circumstances, and provides electrical connection between a conductor such as an upper electrode embedded in a disk-like member of a shower head and an electrode terminal portion for feeding the same. It is an object of the present invention to provide a shower head having a sealing structure in which a connection failure of a part does not easily occur. [Effect of the present disclosure]
  • connection failure of the electrical connection portion between the upper electrode and the electrode terminal portion for feeding thereof is less likely to occur.
  • the shower head according to the embodiment is a shower head provided opposite to a wafer holder in a chamber of a semiconductor manufacturing apparatus, and has a disk shape and a disk shape having a plurality of through holes penetrating in a plate thickness direction.
  • a member a high frequency conductor embedded in a disc-like member, a hole extending in the thickness direction of the disc-like member and a hole provided so that a part of the conductor is exposed at the bottom, and a hole
  • An electrode terminal portion having a base portion electrically connected to the conductor and a cylindrical portion provided on the base portion; a first end portion and a first end portion fitted to the outside of the cylindrical portion and facing the conductor One end and the opposite second end, and the outer diameter of the second end is smaller than the outer diameter of the first end and the inner diameter of the second end is larger than the inner diameter of the first end
  • a cylindrical member and a sealing member filled around the first end As a result, connection failure of the electrical connection portion between the upper electrode and the power supply terminal portion is less likely to occur.
  • the connector may further include a connection portion disposed in the hole and electrically connecting the conductor and the base portion.
  • the base may have a ridge facing the conductor. This makes it possible to widen the electrical connection area and to fix the electrode terminal portion more firmly.
  • the cylindrical member may also cover at least a portion of the upper surface of the buttock by the first end.
  • the connection portion may include a conductive annular member, or may include a conductive conical cylindrical member whose diameter increases from the conductor toward the base. This enables more reliable electrical connection.
  • the sealing member further fills the gap formed between the cylindrical member and the electrode terminal portion and the gap formed between the cylindrical member and the hole portion. May be This makes it possible to reliably seal on the inner peripheral side and the outer peripheral side of the cylindrical member, and on the outer peripheral side of the cylindrical member, of a plane parallel to the plane parallel to the thickness direction of the gas release portion Since both sides can be sealed, sealing can be enhanced.
  • the cylindrical member may be made of aluminum nitride, and the sealing member may be made of glass. This makes it possible to further enhance the corrosion resistance of the connection portion between the conductor and the electrode terminal portion.
  • a hole is formed in the thickness direction of a disk-shaped member in which a high frequency conductor is embedded, and a portion of the conductor is exposed;
  • a step of connecting the electrode terminal portion to the exposed conductor, a step of fitting a doughnut-shaped glass preform to the electrode terminal portion, and a first end opposite to the conductor on the electrode terminal portion Fitting a cylindrical member having a second end, the outer diameter of the second end being smaller than the outer diameter of the first end, and the inner diameter of the second end being larger than the inner diameter of the first end
  • shower head 4 holds and heats semiconductor wafer 2 as a processing target in chamber 3 in which thin film processing is performed on semiconductor wafer 2 in a plasma atmosphere such as plasma CVD. It is provided above the wafer holder 8.
  • the shower head 4 has a disk-shaped disk-shaped member 10 having a thickness of about 3.0 to 10.0 mm and an outer diameter of about 300 to 400 mm, which serves as a gas discharge portion.
  • the shower head 4 has a gas discharge portion provided with gas discharge holes 10 a which are a plurality of through holes provided in the disk-like member 10 at a tip end facing the wafer holder 8.
  • shower head 4 has a disk shape having a thickness of about 3.0 to 10.0 mm and an outer diameter of about 300 to 400 mm for releasing a source gas of plasma toward wafer holder 8.
  • a disc-shaped member 10 is provided.
  • the disk-shaped member 10 has a plurality of gas discharge holes 10a with an inner diameter of about 0.1 to 5.0 mm.
  • the plurality of gas discharge holes 10a are formed, for example, in a concentric or radial pattern.
  • the shower head 4 is provided so as to face the wafer mounting surface 9 of the wafer holder 8 in parallel.
  • the source gas for plasma generation can be uniformly supplied toward the wafer mounting surface 9.
  • the material of the disk-shaped member 10 is formed of a ceramic such as aluminum nitride, silicon nitride, silicon carbide, or aluminum oxide in order to ensure the electrical insulation of the conductor 11 described later.
  • a ceramic such as aluminum nitride, silicon nitride, silicon carbide, or aluminum oxide in order to ensure the electrical insulation of the conductor 11 described later.
  • aluminum nitride having high thermal conductivity and excellent corrosion resistance is preferable.
  • a conductor 11 for the upper electrode having a form of, for example, a substantially circular thin film is embedded.
  • the material of the conductor 11 is not particularly limited as long as it has conductivity.
  • a metal foil such as stainless steel foil may be used, or a paste containing metal powder such as tungsten may be screen-printed and fired. Since the disk-shaped member 10 is provided with a plurality of gas release holes 10a penetrating in the thickness direction, the conductor 11 is provided with an opening at a position corresponding to each of the plurality of gas release holes 10a. .
  • one or a plurality of circular holes 10b having an inner diameter of about 5 to 20 mm are provided in the peripheral portion of the disk-like member 10.
  • An electrode terminal portion 12 having an outer diameter of about 1.5 to 10 mm is connected to the conductor 11 partially exposed from the bottom of the hole 10b.
  • the conductor 11 can be fed.
  • the reason for providing the electrode terminal part 12 in the peripheral part of the disk-shaped member 10 is as follows. If the electrode terminal portion 12 is provided at the central portion of the disk-like member 10, the gas release holes 10a can not be provided at that portion, and uniform gas release is hindered.
  • connection part of the conductor 11 and the electrode terminal part 12 is demonstrated in detail with reference to FIG. 2 further.
  • a hole 10 b having a circular shape in a plan view is provided on the disk 10 in a surface opposite to the surface facing the wafer holder 8.
  • the hole 10 b has a depth reaching the conductor 11. Therefore, the conductor 11 is partially exposed from the bottom of the hole 10b.
  • An electrode terminal portion 12 made of, for example, tungsten is directly connected to the exposed portion.
  • the shape of the electrode terminal portion 12 may be a general substantially cylindrical shape.
  • the base 12 b is provided at the end connected to the conductor 11.
  • a cylindrical portion 12c is provided on the base portion 12b.
  • a collar 12a is provided around the base 12b. The lower surfaces of the base portion 12 b and the collar portion 12 a are directly connected to the conductor 11. Thereby, a wider electrical connection area with the conductor 11 can be secured.
  • FIG. 3A A second specific example is shown in FIG. 3A in place of the structure in which the base 12 b and the collar 12 a are directly connected to the conductor 11.
  • the conductor 11 is connected via an annular member 14 made of, for example, tungsten which has an outer diameter substantially the same as the outer diameter of the collar 12a.
  • a plate-like member 13 is disposed inside the annular member 14.
  • the plate-like member 13 is preferably made of a ceramic made of the same material as the disk-like member 10.
  • the plate-like member 13 and the annular member 14 constitute a connection portion 20.
  • the annular member 14 can be produced, for example, by printing and baking a paste containing metal powder such as tungsten on the outer peripheral surface of the plate-like member 13.
  • a member made of metal such as tungsten which is formed in an annular shape in advance may be used.
  • FIG. 3B A third specific example is shown in FIG. 3B.
  • the conductor is connected to the conductor 11 through a tungsten truncated cone cylindrical member 114 having a tapered structure in which the diameter gradually decreases toward the conductor 11.
  • a frustoconical member 113 is disposed inside the truncated conical cylindrical member 114.
  • the truncated conical cylindrical member 114 is preferably made of a ceramic made of the same material as the disk-like member 10.
  • the frustoconical member 113 and the frusto-conical cylindrical member 114 constitute a connecting portion 200.
  • the truncated cone cylindrical member 114 can be produced by printing and firing a paste containing metal powder such as tungsten on the outer peripheral surface of the truncated cone member 113, for example.
  • a paste containing metal powder such as tungsten
  • As the truncated conical cylindrical member 114 a member made of metal such as tungsten which is formed into a cylindrical shape in advance may be used. The configuration shown in FIG. 3A or FIG. 3B enables more reliable electrical connection.
  • the electrode terminal portion 112 made of tungsten has a base portion 112c and a cylindrical portion 112d provided on the base portion 112c. Further, the base portion 112c is provided with a collar portion 112a. Further, a male screw portion 112 b is provided on the tip end side of the collar portion 112 a. In addition, a female screw portion 10 c is provided on the disk-shaped member 10. The male screw portion 112 b and the female screw portion 10 c may be screwed together. This makes it possible to fix the electrode terminal portion 112 more reliably.
  • the tip of the male screw portion 112 b may be directly connected to the conductor 11 as shown in FIG. 4A.
  • the conductor 11 is provided with a through hole for the male screw portion 112b, and the outer peripheral portion of the collar portion 112a and the peripheral portion of the through hole of the conductor 11 are directly connected. May be
  • each of the electrode terminal portions 12 and 112 has an inner diameter that is about 0.05 to 0.20 mm larger than the outer diameter of the electrode terminal portions 12 and 112, and 0. 0 or more than the inner diameter of the hole 10b.
  • a cylindrical member 15 having an outer diameter as small as about 05 to 0.20 mm is fitted.
  • the cylindrical member 15 is preferably made of a ceramic made of aluminum nitride.
  • the outer diameter of the collars 12 a and 112 a is smaller than the outer diameter of the cylindrical member 15. Therefore, the upper surface of the flanges 12a and 112a is covered with the inner peripheral portion of the end face of the end of the cylindrical member 15 facing the conductor 11.
  • the shape of the hole 10b may be a simple shape having no step in the thickness direction of the disk 10, or a ridge having an outer diameter smaller than the outer diameter of the cylindrical member 15 as shown in FIG.
  • a stepped portion 10d may be provided at the bottom of the hole 10b in accordance with 12a, 112a, the annular member 14, and the truncated conical cylindrical member 114.
  • a gap G1 is formed between the outer peripheral portion of the end face of one end facing the conductor 11 in the cylindrical member 15 and the bottom of the facing hole 10b or the step 10d.
  • a gap G2 is formed between the outer peripheral surface of the one end portion and the inner wall of the opposing hole 10b.
  • a gap G ⁇ b> 3 is formed between the inner peripheral surface of the one end portion and the outer peripheral surface of the opposing electrode terminal portion 12, 112.
  • the cylindrical member 15 at the other end opposite to the one end facing the conductor 11, as shown in FIG. 5, a reduced diameter portion 15a having a shape whose outer peripheral surface is reduced in diameter is formed In addition, an enlarged diameter portion 15b having a shape in which the inner peripheral surface is expanded is formed.
  • the cylindrical member 15 is fitted to the outside of the cylindrical portions 12c and 112d and has a first end 151 facing the conductor 11 and a second end 152 opposite to the first end 151.
  • the outer diameter of the second end 152 is smaller than the outer diameter of the first end 151, and the inner diameter of the second end 152 is larger than the inner diameter of the first end 151.
  • annular space S1 is formed between the reduced diameter portion 15a and the inner wall of the hole 10b which is the opposing portion.
  • annular space S2 is formed between the enlarged diameter portion 15b and the outer peripheral surface of the electrode terminal portion 12, 112 which is the opposing portion.
  • a gap is formed by pressing the glass which has been in a fluidized state (melted state) by heating with the cylindrical member 15 externally fitted to the electrode terminal portions 12 and 112. G1 to G3 can be well packed. At this time, by pressing the sealing member 16 until it protrudes from the gap G2 and the gap G3, the sealing member 16 can be reliably distributed to every corner of the gaps G1 to G3.
  • the outer annular space S1 is continuous with the gap G2.
  • the inner annular space S2 is continuous with the gap G3. Therefore, the sealing member 16 protruding from the gap G2 and the gap G3 is accommodated in the outer annular space S1 and the inner annular space S2. Therefore, the sealing member 16 can be prevented from protruding to the surface of the disk-shaped member 10. Therefore, problems such as mounting defects are less likely to occur.
  • the sealing member 16 is filled in the gaps G1 to G3 with almost no gap by causing the sealing member 16 to protrude to the outer annular space S1 and the inner annular space S2 which are wider than the gaps G2 and G3. Can be confirmed visually. Therefore, even if it is used for a long time in a corrosive environment, the highly reliable shower head 4 is less likely to have a connection failure at the electrical connection portion between the conductor 11 for the upper electrode and the electrode terminal portion 12 for feeding. It becomes possible to make without.
  • W (tungsten) paste is applied by screen printing to form the conductor 11 on one side of them. After degreasing at 700 ° C. in a nitrogen atmosphere, it is fired at 1830 ° C. in a nitrogen atmosphere. Then, an adhesive material mainly composed of aluminum nitride for adhesion is applied to one surface of the other sintered body and then degreased. These two aluminum nitride sintered bodies are superposed and joined so that the conductor 11 is on the inner side.
  • a plurality of gas discharge holes 10a having a predetermined inner diameter are formed by, for example, a drilling method such as machining on the disk-shaped bonded body thus manufactured to have an arrangement pattern as shown in FIG. 1, for example. .
  • a hole 10 b reaching the above-described conductor 11 is formed in the peripheral portion.
  • the electrode terminal portion 12 made of W (tungsten) having a ridge portion 12a at the connection side end with the conductor 11 is connected to the conductor 11 partially exposed from the bottom of the hole 10b through the connection portion 20 Do.
  • the connection portion 20 includes an annular member 14 made of W (tungsten) and a plate-like member 13.
  • connection portion 20 can be manufactured by fitting a W (tungsten) -made member (annular member 14) formed in advance in an annular shape on the outer peripheral surface of the plate-like member 13.
  • W tungsten
  • a sealing glass preform formed in a donut shape is inserted around the portion to which the electrode terminal 12 is connected at the bottom of the hole 10 b.
  • a cylindrical member 15 made of aluminum nitride as shown in FIG. 5 is fitted to the outside of the electrode terminal portion 12.
  • the cylindrical member 15 is arranged such that the end on the opposite side to the side having the diameter-reduced portion 15 a on the outer peripheral surface and the diameter-increased portion 15 b on the inner peripheral surface faces the conductor 11.
  • the above-described glass preform is melted, and the outer annular space S1 between the reduced diameter portion 15a and the inner wall surface of the hole 10b opposed thereto, the enlarged diameter portion 15b and the electrode terminal portion 12 opposed thereto
  • the sealing member 16 is filled by pressing the cylindrical member 15 against the conductor 11 until the molten glass overflows into the inner annular space S2 between the outer circumferential surface and the inner circumferential space S2. After filling, it is solidified by natural cooling. Thereby, a shower head can be produced.

Abstract

半導体製造装置のチャンバー内においてウエハ保持体に対向して設けられるシャワーヘッドであって、円板状であり板厚方向に貫通する複数の貫通孔を有する円板状部材と、円板状部材に埋設された高周波用の導電体と、円板状部材の厚み方向に延び底部に導電体の一部が露出するように設けられた穴部と、穴部に配置され導電体と電気的に接続されるベース部とベース部上に設けられた円柱形状部とを有する電極端子部と、円柱形状部の外側に嵌められ導電体に対向する第１端部と第１端部と反対側の第２端部とを有し第２端部の外径が第１端部の外径よりも小さくかつ第２端部の内径が第１端部の内径よりも大きい円筒状部材と、第１端部の周りに充填されている封止部材と、を備える。

Description

シャワーヘッド及びその製造方法
　本開示は、シャワーヘッド及びその製造方法に関する。本出願は、２０１７年７月２８日出願の日本出願２０１７－１４６１９２に基づく優先権を主張し、前記日本出願に記載された全ての記載内容を援用するものである。
　ＬＳＩなどの半導体デバイスを製造する半導体製造装置では、チャンバー内に搭載したサセプタとも称するウエハ保持体に半導体ウエハを載置し、裏面側から加熱しながら表面側にＣＶＤ、スパッタリングなどの成膜処理や、エッチング処理などの各種の薄膜処理を施すことが行われている。この薄膜処理はプラズマ雰囲気下で行う場合があり、この場合の半導体製造装置は、上記ウエハ保持体に高周波（ＲＦ）電極の一方（下部電極）を埋設し、該下部電極に対向するようにウエハ保持体の上方にもう一方の高周波電極（上部電極）を設けたものが用いられている。そして、これら電極間に高周波（ＲＦ）電圧を印加することで、電極間に存在する原料ガスをプラズマ状態にすることが可能になる。
　上記の半導体製造装置のチャンバー内には、上記原料ガスを導入するため、ウエハ保持体の上方にシャワーヘッドが設けられている。このシャワーヘッドは、一般的にウエハ保持体のウエハ載置面に向けて均等に原料ガスを供給できるように、該ウエハ載置面に対向する部分に多数のガス放出孔を備えた円板状部材を有している。この円板状部材に高周波電極用の導電性部材を埋設することで、上記した上部電極の役割をシャワーヘッドに兼用させることが可能になる。例えば特許文献１には、複数のガス放出孔を有するシャワーヘッド用のセラミックスプレートの内部に高周波発生用の上部電極回路を埋設し、このセラミックスプレートを保持する金属製支持体と該上部電極回路とをバネを用いて電気的に接続する技術が開示されている。
特開２００８－２９４０１７号公報
　本開示のシャワーヘッドは、半導体製造装置のチャンバー内においてウエハ保持体に対向して設けられるシャワーヘッドであって、円板状であり板厚方向に貫通する複数の貫通孔を有する円板状部材と、円板状部材に埋設された高周波用の導電体と、円板状部材の厚み方向に延び底部に導電体の一部が露出するように設けられた穴部と、穴部に配置され導電体と電気的に接続されるベース部とベース部上に設けられた円柱形状部とを有する電極端子部と、円柱形状部の外側に嵌められ導電体に対向する第１端部と第１端部と反対側の第２端部とを有し第２端部の外径が第１端部の外径よりも小さくかつ第２端部の内径が第１端部の内径よりも大きい円筒状部材と、第１端部の周りに充填されている封止部材と、を備える。
　本開示のシャワーヘッドの製造方法は、高周波用の導電体が埋設された円板状部材の厚み方向に穴部を形成し、導電体の一部を露出させる工程と、穴部の底部に露出した導電体に電極端子部を接続する工程と、電極端子部にドーナツ形状のガラスプリフォームを嵌める工程と、電極端子部に導電体に対向する第１端部と第１端部と反対側の第２端部とを有し第２端部の外径が第１端部の外径よりも小さくかつ第２端部の内径が第１端部の内径よりも大きい円筒状部材を嵌める工程と、ガラスプリフォームを溶融する工程と、縮径している部分と穴部の内壁との間の隙間、及び拡径している部分と電極端子部の外周面との間の隙間に溶融したガラスプリフォームがはみ出るまで円筒状部材を導電体に向けて押し付ける工程と、溶融したガラスプリフォームを固化することにより円筒状部材を封止する工程と、を備える。
図１Ａは、実施形態に係るシャワーヘッドの模式的な平面図である。 図１Ｂは、図１Ａにおける１Ｂ－１Ｂ線断面図である。 図２は、実施形態に係るシャワーヘッドの第１の具体例を示す部分断面図である。 図３Ａは、実施形態に係るシャワーヘッドの第２の具体例を示す部分断面図である。 図３Ｂは、実施形態に係るシャワーヘッドの第３の具体例を示す部分断面図である。 図４Ａは、実施形態に係るシャワーヘッドの第４の具体例を示す部分断面図である。 図４Ｂは、実施形態に係るシャワーヘッドの第５の具体例を示す部分断面図である。 図５は、円筒状部材の模式的な斜視図である。 図６は、半導体製造装置の概略断面図である。
［本開示が解決しようとする課題］
　上記したように、シャワーヘッドの円板状部材に上部電極を埋設する場合は、この上部電極に給電するため、円板状部材においてウエハ保持体に対向する面とは反対側の面に穴を設け、穴の底で露出する上部電極に電極端子部を接続することが行われている。しかしながら、チャンバー内の雰囲気は腐食環境になるため、これら上部電極と電極端子部との接続部が腐食により接続不良になることがあった。
　本開示は、このような従来の事情に鑑みてなされたものであり、シャワーヘッドの円板状部材に埋設されている上部電極等の導電体とその給電用の電極端子部との電気的接続部の接続不良が生じにくい封止構造を有するシャワーヘッドを提供することを目的としている。
［本開示の効果］
　本開示によれば、上部電極とその給電用の電極端子部との電気的接続部の接続不良が生じにくくなる。
　最初に本開示の実施形態を列記して説明する。実施形態に係るシャワーヘッドは、半導体製造装置のチャンバー内においてウエハ保持体に対向して設けられるシャワーヘッドであって、円板状であり板厚方向に貫通する複数の貫通孔を有する円板状部材と、円板状部材に埋設された高周波用の導電体と、円板状部材の厚み方向に延び底部に導電体の一部が露出するように設けられた穴部と、穴部に配置され導電体と電気的に接続されるベース部とベース部上に設けられた円柱形状部とを有する電極端子部と、円柱形状部の外側に嵌められ導電体に対向する第１端部と第１端部と反対側の第２端部とを有し第２端部の外径が第１端部の外径よりも小さくかつ第２端部の内径が第１端部の内径よりも大きい円筒状部材と、第１端部の周りに充填されている封止部材と、を備る。これにより、上部電極とその給電用の端子部との電気的接続部の接続不良が生じにくくなる。
　上記の実施形態においては、穴部に配置され導電体とベース部とを電気的に接続する接続部を、さらに有してもよい。また、ベース部は、導電体に対向する鍔部を有してもよい。これにより、電気的な接続面積を広くすることができるうえ、電極端子部をより強固に固定することが可能になる。
また、円筒状部材は、第1端部によって鍔部の上面の少なくとも一部を覆っていてもよい。これにより、電極端子部をより確実に固定することが可能になると共に、導電体と電極端子部との電気的接続部分をより確実に封止することが可能になる。また、接続部は、導電性の環状部材を含んでもよいし、導電体からベース部方向に拡径している導電性の円錐台筒状部材を含んでもよい。これにより、より確実に電気的接続を行うことが可能になる。
　また、上記の実施形態においては、封止部材は、さらに円筒状部材と電極端子部との間に形成された隙間と、円筒状部材と穴部との間に形成された隙間を充填していてもよい。これにより、円筒状部材の内周側及び外周側において確実に封止することが可能になるうえ、円筒状部材の外周側においてはガス放出部の厚み方向に平行な面と垂直な面との両方の面を封止することができるので、封止性を高めることができる。また、円筒状部材が窒化アルミニウムからなり、封止部材がガラスからなっていてもよい。これにより、導電体とその電極端子部との接続部分の耐腐食性をより一層高めることが可能になる。
　実施形態に係るシャワーヘッドの製造方法は、高周波用の導電体が埋設された円板状部材の厚み方向に穴部を形成し、導電体の一部を露出させる工程と、穴部の底部に露出した導電体に電極端子部を接続する工程と、電極端子部にドーナツ形状のガラスプリフォームを嵌める工程と、電極端子部に導電体に対向する第１端部と第１端部と反対側の第２端部とを有し第２端部の外径が第１端部の外径よりも小さくかつ第２端部の内径が第１端部の内径よりも大きい円筒状部材を嵌める工程と、ガラスプリフォームを溶融する工程と、縮径している部分と穴部の内壁との間の隙間、及び拡径している部分と電極端子部の外周面との間の隙間に溶融したガラスプリフォームがはみ出るまで円筒状部材を導電体に向けて押し付ける工程と、溶融したガラスプリフォームを固化することにより円筒状部材を封止する工程と、を備える。これにより、上部電極とその給電用の電極端子部との電気的接続部分を安定的に封止することが可能になる。
　次に、本開示に係るシャワーヘッドの実施形態について、図面を参照しながら説明する。図６を参照して、シャワーヘッド４は、半導体ウエハ２に対してプラズマＣＶＤなどのプラズマ雰囲気下での薄膜処理が行われるチャンバー３内において、処理対象物である半導体ウエハ２を保持して加熱するウエハ保持体８の上方に設けられている。図１Ａ、図１Ｂに示すようにシャワーヘッド４は、ガス放出部となる厚み３.０～１０.０ｍｍ程度、外径３００～４００ｍｍ程度の円板状の円板状部材１０を有している。シャワーヘッド４は、円板状部材１０に設けられた複数の貫通孔であるガス放出孔１０ａが設けられたガス放出部をウエハ保持体８に対向する先端部に有している。図１Ａ、図１Ｂを参照して、シャワーヘッド４は、プラズマの原料ガスをウエハ保持体８に向けて放出する厚み３.０～１０.０ｍｍ程度、外径３００～４００ｍｍ程度の円板状の円板状部材１０を有している。円板状部材１０には内径０.１～５.０ｍｍ程度の複数のガス放出孔１０ａを有している。複数のガス放出孔１０ａは、一例として同心円状、放射状等のパターンとなるように形成されている。
　シャワーヘッド４はウエハ保持体８のウエハ載置面９に対して平行に向き合うように設けられている。これによりウエハ載置面９に向けて均一にプラズマ生成用の原料ガスを供給することができる。円板状部材１０の材質は、後述する導電体１１の電気的絶縁性を確保するため、窒化アルミニウム、窒化ケイ素、炭化ケイ素、酸化アルミニウム等のセラミックスで形成されている。これらセラミックスの中では、熱伝導率が高く且つ耐腐食性にも優れた窒化アルミニウムが好ましい。
　円板状部材１０の内部に、例えば略円形の薄膜の形態を有する上部電極用の導電体１１が埋設されている。導電体１１の材質は導電性を有するものであれば特に制約はない。例えばステンレス箔などの金属箔を用いてもよいし、タングステン等の金属粉を含んだペーストをスクリーン印刷及び焼成して形成してもよい。円板状部材１０には厚み方向に貫通する複数のガス放出孔１０ａが設けられているため、導電体１１には、複数のガス放出孔１０ａそれぞれに対応する位置に開口部が設けられている。
　図２を参照して、導電体１１に給電するため、円板状部材１０の周縁部には１又は複数個の内径５～２０ｍｍ程度の円形の穴部１０ｂが設けられている。穴部１０ｂの底から部分的に露出する導電体１１に外径１.５～１０ｍｍ程度の電極端子部１２が接続されている。電極端子部１２に接続したリード線（不図示）を電源の出力端子（不図示）に接続することで、導電体１１に給電できる。なお、円板状部材１０の周縁部に電極端子部１２を設ける理由は次のとおりである。電極端子部１２を円板状部材１０の中央部に設けると、その部分ではガス放出孔１０ａを設けることができなくなるので均等なガス放出が阻害されるからである。
　導電体１１と電極端子部１２との接続部分の構造の具体例について、さらに図２を参照して詳細に説明する。平面視で円形の穴部１０ｂが、円板状部材１０においてウエハ保持体８に対向する面とは反対側の面に設けられている。穴部１０ｂは導電体１１に達する深さを有している。よって穴部１０ｂの底からは導電体１１が部分的に露出している。この露出部分に例えばタングステン製の電極端子部１２が直接接続されている。
　電極端子部１２の形状は、一般的な略円柱形状でも構わない。しかし、図２に示す第１の具体例では、導電体１１に接続する側の端部にベース部１２ｂが設けられている。ベース部１２ｂ上には円柱形状部１２ｃが設けられている。ベース部１２ｂの周囲には鍔部１２ａが設けられている。ベース部１２ｂおよび鍔部１２ａの下面が導電体１１に直接接続されている。これにより、導電体１１との電気的な接続面積をより広く確保することができる。
　ベース部１２ｂおよび鍔部１２ａが導電体１１に直接接続する構造に代えて、第２の具体例を図３Ａに示す。本例においては、鍔部１２ａの外径とほぼ同じ外径を有する例えばタングステン製の環状部材１４を介して導電体１１に接続する。環状部材１４の内側には板状部材１３が配置されている。板状部材１３は円板状部材１０と同じ材質からなるセラミックス製が好ましい。板状部材１３と環状部材１４が接続部２０を構成する。環状部材１４は、例えばタングステン等の金属粉を含んだペーストを板状部材１３の外周面に印刷及び焼成することで作製できる。環状部材１４としては、予め環状に成形したタングステン等の金属製の部材を用いても良い。
　さらに第３の具体例を図３Ｂに示す。本例では、導電体１１に近づくに従って徐々に径が小さくなるようなテーパー構造のタングステン製の円錐台筒状部材１１４を介して導電体１１に接続する。円錐台筒状部材１１４の内側には、切頭円錐部材１１３が配置されている。円錐台筒状部材１１４は、好適には円板状部材１０と同じ材質からなるセラミックス製が好ましい。切頭円錐部材１１３と円錐台筒状部材１１４が接続部２００を構成する。円錐台筒状部材１１４は、例えばタングステン等の金属粉を含んだペーストを切頭円錐部材１１３の外周面に印刷及び焼成することで作製できる。円錐台筒状部材１１４としては、予め筒状に成形したタングステン等の金属製の部材を用いても良い。図３Ａまたは図３Ｂに示す構成により、より確実に電気的接続を行うことが可能になる。
　図４Ａに第４の具体例を示す。図４Ａを参照して、タングステン製の電極端子部１１２は、ベース部１１２ｃとベース部１１２ｃ上に設けられた円柱形状部１１２ｄを有する。さらに、ベース部１１２ｃには、鍔部１１２ａが設けられている。また鍔部１１２ａよりも先端側に雄ネジ部１１２ｂが設けられている。また、円板状部材１０に雌ネジ部１０ｃが設けられている。雄ネジ部１１２ｂ及び雌ネジ部１０ｃを互いに螺合させてもよい。これにより、電極端子部１１２をより確実に固定することが可能になる。このように雄ネジ部１１２ｂを設ける場合は、図４Ａに示すように雄ネジ部１１２ｂの先端部を導電体１１に直接接続させてもよい。また、図４Ｂに示す第５の具体例では、導電体１１に雄ネジ部１１２ｂ用の貫通孔を設けて鍔部１１２ａの外周部と導電体１１の上記貫通孔の周縁部とを直接接続させてもよい。
　図２～図５を参照して、電極端子部１２、１１２に、電極端子部１２、１１２の外径より０.０５～０．２０ｍｍ程度大きい内径を有し且つ穴部１０ｂの内径より０.０５～０．２０ｍｍ程度小さい外径を有する円筒状部材１５が嵌められている。円筒状部材１５は、好適には窒化アルミニウムからなるセラミックスから構成される。鍔部１２ａ、１１２ａの外径は円筒状部材１５の外径よりも小さい。よって円筒状部材１５において導電体１１に対向する側の一端部の端面の内周部分で鍔部１２ａ、１１２ａの上面が覆われている。なお、穴部１０ｂの形状は、円板状部材１０の厚み方向に段差のない簡易な形状でもよいし、図２に示すように円筒状部材１５の外径よりも小さい外径を有する鍔部１２ａ、１１２ａや環状部材１４、円錐台筒状部材１１４に合わせて穴部１０ｂの底部に段差部１０ｄを設けてもよい。
　段差部１０ｄを設けない場合や、穴部１０ｂの底部に段差部１０ｄを設ける場合であっても、鍔部１２ａ、１１２ａは上部が段差部１０ｄからわずかに突出している。そのため、円筒状部材１５において導電体１１に対向する側の一端部の端面の外周部分は、対向する穴部１０ｂの底部又は段差部１０ｄとの間に間隙Ｇ１が形成されている。また、円筒状部材１５において上記一端部の外周面は、対向する穴部１０ｂの内壁との間に間隙Ｇ２が形成されている。更に、円筒状部材１５において上記一端部の内周面は、対向する電極端子部１２、１１２の外周面との間に隙間Ｇ３が形成されている。そして、これら間隙Ｇ１～Ｇ３を埋めるように、好適にはガラス材からなる封止部材１６が充填されている。
　一方、円筒状部材１５において、導電体１１に対向する上記一端部とは反対側の他端部には、図５に示すように、外周面が縮径した形状の縮径部１５ａが形成されていると共に内周面が拡径した形状の拡径部１５ｂが形成されている。別の観点からは、円筒状部材１５は、円柱形状部１２ｃ、１１２ｄの外側に嵌められ導電体１１に対向する第１端部１５１と第１端部１５１と反対側の第２端部１５２とを有し、第２端部１５２の外径が第１端部１５１の外径よりも小さくかつ第２端部１５２の内径が第１端部１５１の内径よりも大きい構成を備える。これにより、円筒状部材１５を電極端子部１２の外側に嵌めた時、縮径部１５ａとその対向部分である穴部１０ｂの内壁との間には外側環状空間Ｓ１が形成される。また、拡径部１５ｂとその対向部分である電極端子部１２、１１２の外周面との間には内側環状空間Ｓ２が形成される。
　封止部材１６を用いて封止する時は、例えば後述するように加熱により流動状態（溶融状態）になったガラスを電極端子部１２、１１２に外嵌した円筒状部材１５で押し付けることで間隙Ｇ１～Ｇ３に良好に充填することができる。その際、封止部材１６が間隙Ｇ２及び間隙Ｇ３からはみ出るまで押し付けることで、封止部材１６を間隙Ｇ１～Ｇ３の隅々まで確実に行き渡らせることができる。間隙Ｇ２には外側環状空間Ｓ１が連なっている。間隙Ｇ３には内側環状空間Ｓ２が連なっている。したがって、間隙Ｇ２及び間隙Ｇ３からはみ出た封止部材１６は、外側環状空間Ｓ１及び内側環状空間Ｓ２内に収められる。よって、円板状部材１０の表面に封止部材１６がはみ出るのを防ぐことができる。したがって、取付け不良等の問題が生じにくくなる。
　また、間隙Ｇ２及び間隙Ｇ３と比較して広い外側環状空間Ｓ１及び内側環状空間Ｓ２に封止部材１６をはみ出させることで、封止部材１６が間隙Ｇ１～Ｇ３にほぼ隙間なく充填されていることを目視にて確実に確認することができる。よって、腐食環境下で長期間使用しても上部電極用の導電体１１とその給電用の電極端子部１２との電気的接続部に接続不良の生じにくい信頼性の高いシャワーヘッド４を、ばらつきなく作製することが可能になる。
　次に、図３Ａに示す封止構造を備えた円板状部材１０を有するシャワーヘッド４を代表として、製造方法の一具体例について説明する。円板状部材１０を構成するセラミックスの材質が窒化アルミニウムの場合を例示する。まず、窒化アルミニウム粉末９９.５質量部に焼結助剤として酸化イットリウム０.５質量部を加え、更にバインダー、有機溶剤を加えて、ボールミル混合することにより、スラリーを作製する。このスラリーをスプレードライ法で噴霧することにより顆粒を作製し、これをプレス成形して２枚の成形体を作製する。これら成形体を窒素雰囲気中にて７００℃の条件で脱脂した後、窒素雰囲気中において１８５０℃で焼結して、２枚の窒化アルミニウム焼結体を得る。
　これら２枚の窒化アルミニウム焼結体を所定のサイズの円板状に加工した後、それらのうちの一方の片面に、導電体１１を形成すべくＷ（タングステン）ペーストをスクリーン印刷により塗布してから窒素雰囲気中にて７００℃で脱脂した後、窒素雰囲気中にて１８３０℃で焼成する。そして、もう一方の焼結体の片面に接着用の窒化アルミニウムを主成分とする接着材料を塗布してから脱脂する。これら２枚の窒化アルミニウム焼結体を導電体１１が内側となるように重ね合わせて接合する。
　このようにして作製した円板状の接合体に対して、マシニング加工等の穿孔法により所定の内径を有するガス放出孔１０ａを、例えば図１に示すような配置パターンとなるように複数形成する。次に、周縁部に上記の導電体１１に達する穴部１０ｂを形成する。穴部１０ｂの底部から部分的に露出する導電体１１に、導電体１１との接続側端部に鍔部１２ａを有するＷ（タングステン）製の電極端子部１２を、接続部２０を介して接続する。接続部２０は、Ｗ（タングステン）製の環状部材１４と板状部材１３からなる。接続部２０は、板状部材１３の外周面に予め環状に成形したＷ（タングステン）製部材（環状部材１４）を嵌めることで作製できる。これにより、電極端子部１２は環状導電部１４を介して導電体１１に電気的に接続される。
　次に、穴部１０ｂの底部において電極端子部１２が接続されている部分の周りにドーナツ形状に成形された封止用のガラスプリフォームを挿入する。そして、図５に示すような窒化アルミニウム製の円筒状部材１５を電極端子部１２の外側に嵌める。その際、円筒状部材１５において外周面に縮径部１５ａを有すると共に内周面に拡径部１５ｂを有する側とは反対側の端部が導電体１１に対向するように配置する。そして、上記のガラスプリフォームを溶解させ、縮径部１５ａとこれに対向する穴部１０ｂの内壁面との間の外側環状空間Ｓ１、及び拡径部１５ｂとこれに対向する電極端子部１２の外周面との間の内側環状空間Ｓ２に上記の溶融したガラスがはみ出るまで円筒状部材１５を導電体１１に向けて押し付けることで封止部材１６を充填させる。充填後は自然放冷により固化させる。これにより、シャワーヘッドを作製することができる。
　今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって、どのような面からも制限的なものではないと理解されるべきである。本発明の範囲は上記した意味ではなく、請求の範囲によって示され、請求の範囲およびそれと均等の範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
　１　　半導体製造装置
　２　　半導体ウエハ
　３　　チャンバー
　４　　シャワーヘッド
　８　　ウエハ保持体
　９　　ウエハ載置面
１０　　円板状部材
　１０ａ　　ガス放出孔
　１０ｂ　　穴部
　１０ｃ　　雌ネジ部
　１０ｄ　　段差部
　１１　　　導電体
　１２、１１２　　　電極端子部
　１２ａ、１１２ａ　　鍔部
　１２ｂ、１１２ｃ　　ベース部
　１２ｃ、１１２ｄ　　円柱形状部
　１３　　　板状部材
　１４　　　環状部材
　１５　　　円筒状部材
　１５１　　第１の端部
　１５２　　第２の端部
　１５ａ　　縮径部
　１５ｂ　　拡径部
　１６　　　封止部材
　２０、２００　　接続部
　１１２ｂ　雄ネジ部
　１１３　　切頭円錐部材
　１１４　　円錐台筒状部材
　Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３　　間隙
　Ｓ１　　　外側環状空間
　Ｓ２　　　内側環状空間

Claims (9)

  1. 半導体製造装置のチャンバー内においてウエハ保持体に対向して設けられるシャワーヘッドであって、
    　円板状であり板厚方向に貫通する複数の貫通孔を有する円板状部材と、
    前記円板状部材に埋設された高周波用の導電体と、
    前記円板状部材の厚み方向に延び底部に前記導電体の一部が露出するように設けられた穴部と、
    前記穴部に配置され前記導電体と電気的に接続されるベース部と前記ベース部上に設けられた円柱形状部とを有する電極端子部と、
    前記円柱形状部の外側に嵌められ前記導電体に対向する第１端部と前記第１端部と反対側の第２端部とを有し前記第２端部の外径が前記第１端部の外径よりも小さくかつ前記第２端部の内径が前記第１端部の内径よりも大きい円筒状部材と、
    前記第１端部の周りに充填されている封止部材と、を備えたシャワーヘッド。
  2. 前記穴部に配置され前記導電体と前記ベース部とを電気的に接続する接続部を、さらに有する請求項1に記載のシャワーヘッド。
  3. 　前記ベース部は、前記導電体に対向する鍔部を有する、請求項１または請求項２に記載のシャワーヘッド。
  4. 　前記円筒状部材は、前記第1端部によって前記鍔部の上面の少なくとも一部を覆っている、請求項３に記載のシャワーヘッド。
  5. 　前記接続部は、導電性の環状部材を含む、請求項２～請求項４のいずれか１項に記載のシャワーヘッド。
  6. 　前記接続部は、前記導電体から前記ベース部方向に拡径している導電性の円錐台筒状部材を含む、請求項２～請求項４のいずれか１項に記載のシャワーヘッド。
  7. 　前記封止部材は、さらに前記円筒状部材と前記電極端子部との間に形成された隙間と、前記円筒状部材と前記穴部との間に形成された隙間を充填している、請求項１～請求項６のいずれか１項に記載のシャワーヘッド。
  8. 　前記円筒状部材が窒化アルミニウムからなり、前記封止部材がガラスからなる、請求項１～請求項７のいずれか１項に記載のシャワーヘッド。
  9. 高周波用の導電体が埋設された円板状部材の厚み方向に穴部を形成し、前記導電体の一部を露出させる工程と、
    前記穴部の底部に露出した前記導電体に電極端子部を接続する工程と、
    前記電極端子部にドーナツ形状のガラスプリフォームを嵌める工程と、
    前記電極端子部に前記導電体に対向する第１端部と前記第１端部と反対側の第２端部とを有し前記第２端部の外径が前記第１端部の外径よりも小さくかつ前記第２端部の内径が前記第１端部の内径よりも大きい円筒状部材を嵌める工程と、
    前記ガラスプリフォームを溶融する工程と、
    前記縮径している部分と前記穴部の内壁との間の隙間、及び前記拡径している部分と前記電極端子部の外周面との間の隙間に前記溶融したガラスプリフォームがはみ出るまで前記円筒状部材を前記導電体に向けて押し付ける工程と、
    前記溶融したガラスプリフォームを固化することにより前記円筒状部材を封止する工程と、を備えたシャワーヘッドの製造方法。
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