WO2016088422A1 - 内視鏡 - Google Patents

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WO2016088422A1
WO2016088422A1 PCT/JP2015/075519 JP2015075519W WO2016088422A1 WO 2016088422 A1 WO2016088422 A1 WO 2016088422A1 JP 2015075519 W JP2015075519 W JP 2015075519W WO 2016088422 A1 WO2016088422 A1 WO 2016088422A1
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signal
processor
unit
optical black
pixel region
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PCT/JP2015/075519
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文行 大河
秀範 橋本
泰憲 松井
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オリンパス株式会社
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    • H04N23/555Constructional details for picking-up images in sites, inaccessible due to their dimensions or hazardous conditions, e.g. endoscopes or borescopes

Definitions

  • the present invention relates to an endoscope that employs an image sensor having only a vertical optical black pixel region.
  • endoscopes equipped with an image sensor have been widely used in the medical field and the industrial field.
  • an imaging device such as a CCD image sensor mounted on this type of endoscope has an effective pixel region that actually receives light and obtains a charge by a photoelectric effect, and a charge offset including a dark current, as is known.
  • an optical black pixel region (OB region) provided around the effective pixel region is included.
  • each pixel in an image sensor when it is heated, it has a property of storing electric charge even if it is not exposed to light, and so-called dark current noise is generated.
  • the optical black pixel region described above is arranged so as not to be exposed to light because it is optically masked and arranged in the peripheral portion of the image sensor. Therefore, by detecting the black level in the optical black pixel region, it is possible to detect only the charge offset information including dark current noise, etc., and by subtracting this black level from the pixel information in the effective pixel region, An imaging signal can be generated based on the signal level of the OB pixel.
  • the black level described above is obtained by clamping an output signal (optical black signal) from the optical black pixel region to a predetermined target level in a so-called OB clamping process, and using the clamp level as a reference, The average value of the black signal is set to the black level (see Japanese Patent Application Laid-Open No. 2011-55336).
  • CMOS image sensor As an image sensor have also been proposed.
  • This CMOS image sensor is also affected by the recent downsizing of the image sensor chip.
  • the optical black pixel region is provided only in the vertical direction in the pixel array region (only the vertical OB pixel region) due to size restrictions. There is also a type.
  • a processor (hereinafter referred to as a “CCD compatible processor”) corresponding to an endoscope equipped with a CCD image sensor as an image sensor
  • a horizontal optical black pixel region horizontal OB pixel region
  • Corresponding OB clamp processing is performed.
  • CMOS-compatible processor a processor corresponding to the CMOS image sensor
  • a processor corresponding to an endoscope adopting a conventional CCD image sensor and as described above, a processor (CCD compatible processor) that performs OB clamping processing corresponding only to the horizontal OB pixel region.
  • CCD compatible processor CCD compatible processor
  • the CCD-compatible processor is an OB corresponding to the horizontal optical black pixel region (horizontal OB pixel region). Since the clamp process is performed, when an endoscope that employs a CMOS image sensor having only a vertical OB pixel region is connected to a CCD-compatible processor, an appropriate OB clamp process cannot be performed and compatibility is impaired. There is a problem.
  • the present invention has been made in view of the above-described points, and even when connected to a processor having only an OB clamp processing circuit corresponding to a horizontal OB pixel region, appropriate image signal processing can be performed in the processor.
  • An object of the present invention is to provide an endoscope that employs an image sensor having only a vertical OB pixel region.
  • An endoscope includes an effective pixel region in which a plurality of pixels that can photoelectrically convert light to generate a photoelectric conversion signal are provided in a matrix, and an upper portion with respect to a scanning direction of the effective pixel region Or, an image sensor comprising a vertical optical black pixel region provided in at least one of the lower part, the photoelectric conversion signal generated in the effective pixel region of the image sensor, and the vertical optical black pixel region A read unit that reads an optical black signal, and a photoelectric conversion signal that is read for each row by the read unit and is generated in the effective pixel region, and is generated in the vertical optical black pixel region for each row. And an output unit for adding and outputting the optical black signal.
  • FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an endoscope according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a horizontal optical black pixel region generation processing unit that generates a horizontal optical black pixel region in the endoscope according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating another configuration example of a horizontal optical black pixel region generation processing unit that generates a horizontal optical black pixel region in the endoscope according to the first embodiment.
  • FIG. 4 is a view showing a vertical optical black pixel region in the CMOS image sensor of the endoscope according to the first embodiment.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating a newly generated horizontal optical black pixel region in the endoscope according to the first embodiment.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating a connection relationship between the endoscope according to the first embodiment, the conventional endoscope, and a CCD-compatible processor.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating a connection relationship between the endoscope, the CCD-compatible processor, and the CMOS-compatible processor according to the first embodiment.
  • FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration when the endoscope according to the first embodiment is connected to a CCD-compatible processor.
  • FIG. 9 is a diagram illustrating a configuration when the endoscope according to the first embodiment is connected to a CMOS-compatible processor.
  • FIG. 10 is a flowchart illustrating an operation of horizontal optical black pixel region generation processing in the endoscope according to the first embodiment.
  • FIG. 11 is a diagram showing a configuration when an endoscope according to a second embodiment of the present invention is connected to a CCD compatible processor.
  • FIG. 12 is a diagram illustrating a configuration when the endoscope according to the second embodiment is connected to a CMOS-compatible processor.
  • FIG. 13 is a flowchart illustrating an operation of horizontal optical black pixel region generation processing in the endoscope according to the second embodiment.
  • an endoscope 1 As shown in FIG. 1, an endoscope 1 according to a first embodiment of the present invention is provided at the distal end of an insertion portion to be inserted into a subject, captures an optical image of the subject, and obtains a predetermined digital imaging signal. Is connected to a CMOS image sensor 11 that outputs a signal, a cable 40 that is connected to the CMOS image sensor 11 and transmits the digital imaging signal, and a processor (details will be described later) as a signal processing device that performs predetermined signal processing. And a connector unit 20.
  • the CMOS image sensor 11 is a clock adapted to the operation specifications of the CMOS image sensor 11 based on a predetermined clock signal and the synchronization signals HD and VD transmitted from the clock synchronization signal generation circuit 31 (see FIG. 8) of the processor 3.
  • Signal, horizontal synchronization signal HD, vertical synchronization signal VD, and timing generator (TG) 15 that generates pulses for various signal processing, and the clock signal, horizontal synchronization signal HD, and vertical synchronization signal generated by the timing generator 15
  • An image pickup unit 12 (PD12) that picks up an optical image of a subject by VD and generates a predetermined analog image pickup signal, and performs predetermined signal processing on the image pickup unit 12 and converts it into a digital image pickup signal and outputs it.
  • AFE circuit 13 including an A / D conversion unit, and the AFE circuit The digital image pickup signal from 3 to parallel / serial conversion and P / S circuit 14 to be output to the subsequent stage, and a.
  • the AFE circuit 13 performs A / D conversion on the CDS circuit that performs a predetermined correlated double sampling process on the analog image signal from the imaging unit 12 and the analog image signal that has been subjected to the correlated double sampling process. And an output A / D conversion circuit.
  • the cable 40 transmits the predetermined clock signal and the synchronization signals HD and VD transmitted from the processor 3 to the CMOS image sensor 11 and also the digital imaging signal of the serial signal converted in parallel / serial by the P / S circuit 14. Is transmitted to the S / P conversion circuit 23 provided in the connector 20.
  • a circuit for performing predetermined signal processing on the digital imaging signal is configured in the connector unit 20 by an FPGA (hereinafter referred to as FPGA 21).
  • the FPGA 21 receives the clock signal and the synchronization signals HD and VD generated by the processor 3 and outputs them to the CMOS image sensor 11.
  • the FPGA 21 is a timing generator (TG) 22 that generates pulses for various signal processing based on the clock signal generated in the processor 3, and digital imaging of the serial signal output from the CMOS image sensor 11.
  • TG timing generator
  • a CMOS processor signal processing unit 25 CMOS signal processing unit 25 connected to the S / P conversion circuit 23 is provided.
  • the CMOS image sensor 11 is assumed to have a type in which the optical black pixel area is provided only in the vertical direction in the pixel array area (only the vertical OB pixel area).
  • the FPGA 21 further includes a signal path switching unit 26 that switches output signal paths between the horizontal OB pixel region generation processing unit 24 and the CMOS processor signal processing unit 25, and the signal path switching unit 26.
  • a P / S circuit 27 for parallel / serial conversion of the output signal and output to the processor, and a processor for switching the signal path in the signal path switching unit 26 according to the type of the processor connected to the endoscope 1 And a detection circuit 28.
  • the CMOS image sensor 11 is assumed to have a type in which an optical black pixel region is provided only in the vertical direction in the pixel arrangement region (only the vertical OB pixel region) (see FIG. 4). .
  • the CMOS image sensor 11 includes an effective pixel region Ra in which a plurality of pixels that can photoelectrically convert light and generate a photoelectric conversion signal are provided in a matrix, and the effective pixel region Ra.
  • a vertical optical black pixel region Rvob that is provided above the scanning direction of the pixel region Ra and detects an offset of charges including dark current.
  • the vertical optical black pixel region Rvob in the CMOS image sensor 11 is provided above the scanning direction of the effective pixel region Ra.
  • the present invention is not limited to this, and the present invention is effective.
  • the present invention can also be applied to a CMOS image sensor provided below or both in the scanning direction of the pixel region Ra.
  • a horizontal optical black pixel region in a CCD image sensor is usually used.
  • OB clamping processing corresponding to (horizontal OB pixel region) is performed.
  • the endoscope according to the present invention includes the horizontal OB pixel region generation processing unit 24 so that proper image signal processing can be performed in the processor even when connected to the conventional CCD-compatible processor.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of the horizontal OB pixel region generation processing unit 24 that generates the horizontal optical black pixel region Rhob in the endoscope of the present embodiment.
  • the horizontal OB pixel area generation processing unit 24 detects the high luminance of the vertical OB pixel from the digital image signal of the serial signal that is parallel / serial converted in the P / S circuit 14 in the CMOS image sensor 11. Input to the unit 51 and the selector 54.
  • the high luminance detection unit 51 of the vertical OB pixel includes a photoelectric conversion signal generated in the effective pixel region Ra (see FIG. 4) in the CMOS image sensor 11 and the vertical optical black pixel region Rvob (see FIG. 4).
  • 2 is a readout unit that reads out the optical black signal generated in step 1 for each row.
  • the high luminance detection unit 51 of the vertical OB pixel reads out an appropriate optical black signal for each row by detecting white flaws or light leakage from the input imaging signal.
  • the high luminance detection unit 51 for the vertical OB pixel excludes pixels having a predetermined threshold value or more, and only the signal portion related to the pixel having no influence of white flaws or light leakage is used as a memory for the subsequent vertical OB pixel region. To 52.
  • the high luminance detection unit 51 of the vertical OB pixel sends the number of pixels that are not affected by white scratches or light leakage to the addition averaging circuit 53 as the addition pixel number.
  • the vertical OB pixel area memory 52 temporarily holds the pixel signal input from the high brightness detection unit 51 of the vertical OB pixel and has no influence of white flaws or light leakage, and then sends it to the averaging circuit 53.
  • the addition average value in the vertical optical black pixel area is calculated and sent to the selector 54 in the subsequent stage.
  • the selector 54 receives a digital image pickup signal from the CMOS image sensor 11 and a predetermined pulse signal from the timing generator 22 in the FPGA 21.
  • the selector 54 outputs a photoelectric conversion signal generated in the effective pixel region, read out for each row, by the high-intensity detection unit 51 of the vertical OB pixel that is the readout unit, in accordance with the pulse from the timing generator 22.
  • the optical black signal generated in the vertical optical black pixel area is added to a predetermined area at the head of each row in the pixel array area and output.
  • a predetermined area at the head of each row in the pixel array area is set as a horizontal optical black pixel area to be newly generated.
  • the selector 54 performs the following selection process for each row in the pixel array region in accordance with the pulse from the timing generator 22. That is, for each row, the selector 54 embeds the addition average value calculated in the addition average circuit 53 in the horizontal optical black pixel area, or an area other than the horizontal optical black pixel area (that is, an effective pixel area). ), Whether to embed the digital imaging signal input through in the selector 54 is selected.
  • the horizontal optical black pixel region Rhob is newly generated in a predetermined region at the beginning of each row in the pixel array region.
  • the present invention is not limited to this, and the end of each row in the pixel array region, etc. You may make it newly produce
  • the signal related to the vertical OB pixel detected by the high luminance detection unit 51 of the vertical OB pixel is once held in the vertical OB pixel area memory 52 and then added.
  • the average circuit 53 calculates the addition average value in the vertical optical black pixel region and sends it to the selector 54, this is not restrictive.
  • a signal related to the vertical OB pixel held in the vertical OB pixel region memory 52 is directly sent to the selector 54, and in the selector 54, for each row, in the horizontal optical black pixel region, Processing for embedding a signal related to the vertical OB pixel may be performed.
  • the CMOS processor signal processing unit 25 performs processing corresponding to the CMOS image sensor 11 (that is, a CMOS image sensor having only a vertical optical black pixel region). It works effectively when the endoscope 1 is connected to the CMOS compatible processor 3A.
  • the signal processor for CMOS processor 25 passes the image pickup signal as it is and sends it to the signal path switching unit 26 at the subsequent stage.
  • FIG. 6 is a diagram showing a connection relationship between the endoscope of the present embodiment, a conventional endoscope, and a CCD compatible processor.
  • the processor 3 is a conventional CCD-compatible processor that can be connected to an endoscope having a CCD image sensor as an image sensor.
  • the processor 3 is an endoscope that employs a CMOS image sensor (a CMOS image sensor having only a vertical optical black pixel region)
  • the processor 3 is not limited to the endoscope 1 configured as described above.
  • the processor can perform proper image signal processing.
  • the CCD compatible processor 3 digitally captures a serial signal output from a clock synchronization signal generation circuit 31 that generates a predetermined clock signal and synchronization signals HD and VD, and a connected endoscope.
  • An S / P conversion circuit 32 for serial / parallel conversion of a signal, a horizontal optical black clamp processing circuit 33 connected to the S / P conversion circuit 32, and a CPU 34 for controlling various circuits in the processor 3 are provided.
  • the CPU 34 in the processor 3 transmits ID information unique to the processor 3 (particularly, information indicating that the processor 3 is a CCD compatible processor) stored in a memory (not shown) to the connected endoscope 1. Play a role.
  • the processor detection circuit 28 in the endoscope 1 of the present embodiment determines whether or not the connected processor is a CCD compatible processor based on information from the CPU 34 in the connected processor 3. It has become.
  • the processor 3 described above is assumed to have a function of sending ID information unique to the processor 3 (information indicating that the processor is a CCD-compatible processor) to the endoscope 1, and the processor detection circuit 28 includes Although the ID information is obtained and the type of the connected processor is determined, the method for determining the processor is not limited to this.
  • the type of the processor 3 may be determined by not receiving predetermined ID information from the connected processor.
  • CMOS compatible processor always sends its own unique ID information, that is, information indicating that it is a CMOS compatible processor. If the specification is such that no ID information for determining the processor is transmitted, it can be determined that the processor 3 is a CCD-compatible processor by not receiving the ID information.
  • the horizontal optical black clamp processing in the horizontal optical black clamp processing circuit 33 is a known OB clamp processing, and the output signal (optical black signal) from the optical black pixel region is clamped to a predetermined target level. In this process, the average value of all the obtained optical black signals is set to the black level with reference to the clamp level.
  • the CCD-compatible processor 3 performs this process on the horizontal optical black signal in the CCD image sensor. Is.
  • the endoscope 1 of the present embodiment can be connected to the processor 3A in addition to the above-described conventional CCD-compatible processor.
  • FIG. 7 is a diagram showing a connection relationship between the endoscope, the CCD-compatible processor, and the CMOS-compatible processor according to this embodiment.
  • the processor 3A includes a signal processing circuit that is assumed to be connected to the endoscope 1 on which the CMOS image sensor 11 (CMOS image sensor having only a vertical optical black pixel region) is mounted.
  • CMOS image sensor 11 CMOS image sensor having only a vertical optical black pixel region
  • FIG. 8 is a diagram showing a configuration when the endoscope according to the present embodiment is connected to the CCD-compatible processor 3
  • FIG. 9 is a diagram when the endoscope according to the present embodiment is connected to the CMOS-compatible processor 3A.
  • FIG. 10 is a flowchart showing horizontal optical black pixel region generation processing in the endoscope of the present embodiment.
  • the processor detection circuit 28 in the endoscope 1 when it is first detected that the processor detection circuit 28 in the endoscope 1 is connected to a predetermined processor, the processor detection circuit 28 is predetermined from the CPU 34 (see FIGS. 8 and 9) of the connected processor. ID information is obtained (step S1).
  • the processor detection circuit 28 determines whether the processor to which the endoscope 1 is connected is the CCD compatible processor 3 or the CMOS compatible processor based on the ID information obtained by the connected processor in step S1. It is determined whether it is 3A (step S2).
  • the processor detection circuit 28 may determine whether or not the processor 3 is a CCD compatible processor by not receiving the ID information.
  • step S2 if it is determined in step S2 that the connected processor is the CCD-compatible processor 3, the processor detection circuit 28 performs the process of step S3.
  • step S3 the processor detection circuit 28 controls the signal path switching unit 26 so that the imaging signal output from the P / S circuit 27 passes through the horizontal optical black pixel region generation processing unit 24.
  • the signal path is switched (see FIG. 8).
  • the P / S circuit 27 when the selection is made so as to pass through the horizontal optical black pixel region generation processing unit 24, the P / S circuit 27 generates an imaging signal in which a new horizontal optical black pixel region Rhob is generated. Is sent to the processor 3.
  • the horizontal optical black clamp processing circuit 33 (even if the endoscope 1 having the CMOS image sensor 11 mounted thereon) is connected to the normal horizontal. OB clamping processing can be performed.
  • step S2 if it is determined in step S2 that the processor connected is the CMOS compatible processor 3A, the processor detection circuit 28 performs the process of step S4.
  • step S4 the processor detection circuit 28 controls the signal path switching unit 26 so that the imaging signal output from the P / S circuit 27 passes through the CMOS-compatible processor signal processing unit 25. The route is switched (see FIG. 9).
  • the CMOS processor signal processing unit 25 in the present embodiment, passes the image pickup signal as it is and sends it to the signal path switching unit 26 at the subsequent stage. Even in 3A, appropriate signal processing can be performed.
  • the FPGA 21 is disposed in the connector unit 20.
  • the present invention is not limited to this, and the FPGA 21 may be disposed in an operation unit or the like in the endoscope 1.
  • the vertical optical black pixel region Rvob in the CMOS image sensor 11 is provided above the scanning direction of the effective pixel region Ra.
  • the present invention can also be applied to a CMOS image sensor provided below the effective pixel region Ra in the scanning direction.
  • the horizontal optical black pixel region Rhob is newly generated in a predetermined region at the beginning of each row in the pixel array region.
  • the present invention is not limited to this, and a predetermined value at the end of each row in the pixel array region is used. A new area may be generated.
  • CMOS image sensor is assumed as the imaging element of the endoscope 1, but the present invention is not limited to a CMOS image sensor, and the present invention employs an imaging element that has only a vertical optical black pixel region. Can be applied to mirrors.
  • FIG. 11 is a diagram showing a configuration when an endoscope according to the second embodiment of the present invention is connected to a CCD-compatible processor
  • FIG. 12 is a diagram illustrating a CMOS-compatible processor according to the second embodiment. It is a figure which shows the structure at the time of being connected to.
  • FIG. 13 is a flowchart showing the operation of the horizontal optical black pixel region generation process in the endoscope of the second embodiment.
  • the basic configuration of the endoscope system of the second embodiment is the same as that of the first embodiment, and only a part of the configuration in the FPGA 21 in the connector unit 20 is different. Accordingly, only the differences from the first embodiment will be described here, and descriptions of common parts will be omitted.
  • the FPGA 21 includes the processor detection circuit 28 that switches the signal path in the signal path switching unit 26 according to the type of the processor connected to the endoscope 1 (see FIG. 1).
  • a switching instruction unit 28a for sending a switching instruction signal for switching the signal path in the signal path switching unit 26 is provided instead of the processor detection circuit 28. It is characterized by that.
  • the switching instruction unit 28a sends the switching instruction signal to the signal path switching unit 26 by an operation (not shown) or the like (for example, setting by a user).
  • the switching instruction signal includes a first signal path through which the digital imaging signal passes through the horizontal optical black pixel region generation processing unit 24 and a second signal path through which the signal processing unit for CMOS processor 25 passes (that is, It is an instruction signal for switching the digital imaging signal to a signal path that does not pass through the horizontal optical black pixel region generation processing unit.
  • the signal path switching unit 26 switches the first signal path to the second signal path in response to a switching instruction signal from the switching instruction unit 28a. .
  • the type of processor (CCD compatible processor 3B (see FIG. 11) or CMOS compatible processor 3C (see FIG. 12)) connected to the endoscope 1 is set in the endoscope 1.
  • the signal path can be switched without detection.
  • the switching instruction in the switching instruction unit 28a is the processor 3B corresponding to the CCD, or Based on whether the processor 3C is compatible with CMOS (step S12), the signal path switching unit 26 switches between the first signal path and the second signal path.
  • the switching instruction signal indicates the CCD compatible processor 3B (that is, when the horizontal optical black clamp processing circuit 33 indicates the processor that operates on the imaging signal)
  • the horizontal optical black pixel region generation processing unit 24 is set.
  • a first signal path to pass through is selected (step S13).
  • the switching instruction signal indicates the CMOS compatible processor 3C
  • the second signal path passing through the CMOS processor signal processing unit 25 is selected (step S14).
  • CMOS image sensor that can perform appropriate image signal processing in the processor can be provided.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiment as it is, and can be embodied by modifying the constituent elements without departing from the scope of the invention in the implementation stage.
  • various aspects of the invention can be formed by appropriately combining a plurality of components disclosed in the embodiment. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment.
  • constituent elements over different embodiments may be appropriately combined.

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Abstract

 オプティカルブラック画素領域として垂直OB画素領域のみを備えるCMOSイメージセンサ(11)と、CMOSイメージセンサ(11)における有効画素領域において生成される光電変換信号、および、垂直OB画素領域において生成されるOB信号を、行ごとに読み出して読み出された、前記有効画素領域において生成される光電変換信号に対して、各行の先頭または末尾に、前記垂直OB画素領域において生成される前記OB信号を付加して出力する水平OB画素領域生成処理部(24)と、を具備する。

Description

内視鏡
 本発明は、垂直オプティカルブラック画素領域のみを有する撮像素子を採用する内視鏡に関する。
 従来、医療用分野及び工業用分野において撮像素子を備えた内視鏡が広く用いられている。また、内視鏡に着脱自在に接続され、内視鏡に係る各種信号処理をプロセッサと称する信号処理装置により担い、内視鏡システムを構成する技術も知られるところにある。
 また、この種の内視鏡に搭載される、たとえばCCDイメージセンサ等の撮像素子は、既知のように実際に光を受け光電効果によって電荷を得る有効画素領域と、暗電流を含む電荷のオフセット検出を行うため、当該有効画素領域の周囲に設けられたオプティカルブラック画素領域(OB領域)とを有する。
 一般に、撮像素子における各画素は熱を帯びると、光が当たっていなくとも電荷を貯める性質を有し、いわゆる暗電流ノイズを生じる。
 一方で上述したオプティカルブラック画素領域は、撮像素子における周辺部に光学的にマスクされて配置されていることから光が当たらないようになっている。したがって、オプティカルブラック画素領域における黒レベルを検出することで、暗電流ノイズ等を含む電荷のオフセット情報のみを検出することができ、この黒レベルを前記有効画素領域の画素情報から減算することによって、OB画素の信号レベルを基準として撮像信号を生成することができる。
 ここで、上述した黒レベルは、いわゆるOBクランプ処理において、オプティカルブラック画素領域からの出力信号(オプティカルブラック信号)を所定の目標レベルにクランプし、そのクランプレベルを基準として、得られた全てのオプティカルブラック信号の平均値を黒レベルとする(日本国特開2011-55336号公報参照)。
 一方、近年、撮像素子としてCMOSイメージセンサを採用する内視鏡も提案されている。このCMOSイメージセンサは、近年の撮像素子チップ小型化の影響もあり、その種類によってはサイズの制約から、オプティカルブラック画素領域が画素配列領域における垂直方向にのみ(垂直OB画素領域のみ)設けられたタイプも存在する。
 さらに一方では、撮像素子としてCCDイメージセンサを搭載する内視鏡に対応するプロセッサ(以下、CCD対応プロセッサと称す)においては、通常、CCDイメージセンサにおける水平オプティカルブラック画素領域(水平OB画素領域)に対応したOBクランプ処理を行っている。
 しかしながら、上述した、垂直OB画素領域のみを有するCMOSイメージセンサを採用する内視鏡を、係るCMOSイメージセンサに対応するプロセッサ(以下、本明細書においてはCMOS対応プロセッサと称する)に接続する場合は特に問題は生じないが、従来のCCDイメージセンサを採用する内視鏡に対応したプロセッサであって、上述した如く、水平OB画素領域のみに対応したOBクランプ処理を行うプロセッサ(CCD対応プロセッサ)に接続する場合は、以下に示す不都合を生じる虞がある。
 すなわち、システム構成要素の互換性の観点から、オプティカルブラック画素として水平オプティカルブラック画素領域(水平OB領域)を有する撮像素子を採用した内視鏡と、垂直オプティカルブラック画素領域(垂直OB領域)のみを有する撮像素子を採用した内視鏡との双方が共通のプロセッサに接続可能であることが望ましいが、上述したようにCCD対応プロセッサは、水平オプティカルブラック画素領域(水平OB画素領域)に対応したOBクランプ処理を行っているため、垂直OB画素領域のみを有するCMOSイメージセンサを採用する内視鏡がCCD対応プロセッサに接続された場合は、適切なOBクランプ処理が行えないため、互換性が損なわれるという問題がある。
 本発明は上述した点に鑑みてなされたもので、水平OB画素領域に対応したOBクランプ処理回路のみを備えるプロセッサに接続された場合であっても、当該プロセッサにおいて適正な画像信号処理を行い得る、垂直OB画素領域のみを有する撮像素子を採用する内視鏡を提供することを目的とする。
 本発明の一態様の内視鏡は、光を光電変換して光電変換信号を生成可能な複数の画素が行列状に設けられた有効画素領域と、前記有効画素領域の走査方向に対して上部または下部の少なくとも一方に設けられた垂直オプティカルブラック画素領域と、を備える撮像素子と、前記撮像素子における前記有効画素領域において生成される前記光電変換信号、および、前記垂直オプティカルブラック画素領域において生成されるオプティカルブラック信号を読み出す読み出し部と、前記読み出し部によって行ごとに読み出された、前記有効画素領域において生成される光電変換信号に対して、各行ごとに、前記垂直オプティカルブラック画素領域において生成される前記オプティカルブラック信号を付加して出力する出力部と、を具備する。
図1は、本発明の第1の実施形態の内視鏡の構成を示す図。 図2は、第1の実施形態の内視鏡における水平オプティカルブラック画素領域を生成する水平オプティカルブラック画素領域生成処理部の構成を示した図。 図3は、第1の実施形態の内視鏡における水平オプティカルブラック画素領域を生成する水平オプティカルブラック画素領域生成処理部の他の構成例を示した図。 図4は、第1の実施形態の内視鏡のCMOSイメージセンサにおける垂直オプティカルブラック画素領域を示した図。 図5は、第1の実施形態の内視鏡における新たに生成された水平オプティカルブラック画素領域を示した図。 図6は、第1の実施形態の内視鏡、従来の内視鏡およびCCD対応プロセッサの接続関係を示した図。 図7は、第1の実施形態の内視鏡、CCD対応プロセッサおよびCMOS対応プロセッサとの接続関係を示した図。 図8は、第1の実施形態の内視鏡がCCD対応プロセッサに接続された際の構成を示す図。 図9は、第1の実施形態の内視鏡がCMOS対応プロセッサに接続せれた際の構成を示す図。 図10は、第1の実施形態の内視鏡における水平オプティカルブラック画素領域生成処理の作用を示したフローチャート。 図11は、本発明の第2の実施形態の内視鏡がCCD対応プロセッサに接続された際の構成を示す図。 図12は、第2の実施形態の内視鏡がCMOS対応プロセッサに接続された際の構成を示す図。 図13は、第2の実施形態の内視鏡における水平オプティカルブラック画素領域生成処理の作用を示したフローチャート。
 以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。
 図1に示すように本発明の第1の実施形態である内視鏡1は、被検体に挿入される挿入部の先端に設けられ、被検体の光学像を撮像して所定のデジタル撮像信号を出力するCMOSイメージセンサ11と、前記CMOSイメージセンサ11に接続され前記デジタル撮像信号を伝送するケーブル40と、所定の信号処理を行う信号処理装置としてのプロセッサ(詳しくは後述する)に接続されるコネクタ部20と、を備える。
 前記CMOSイメージセンサ11は、プロセッサ3のクロック同期信号生成回路31(図8参照)から送信される所定のクロック信号および同期信号HD,VDに基づいて当該CMOSイメージセンサ11の動作仕様に合わせたクロック信号、水平同期信号HDおよび垂直同期信号VD並びに各種信号処理のためのパルスを生成するタイミングジェネレータ(TG)15と、当該タイミングジェネレータ15において生成された前記クロック信号、水平同期信号HDおよび垂直同期信号VDにより、被検体の光学像を撮像して所定のアナログ撮像信号を生成する撮像部12(PD12)と、当該撮像部12に対して所定の信号処理を施すと共にデジタル撮像信号に変換して出力するA/D変換部を備えるAFE回路13と、当該AFE回路13からのデジタル撮像信号をパラレル/シリアル変換して後段に出力するP/S回路14と、を有して構成される。
 なお、AFE回路13は、撮像部12からのアナログ撮像信号に対して所定の相関2重サンプリング処理を施すCDS回路と、この相関2重サンプリング処理が施されたアナログ撮像信号をA/D変換して出力するA/D変換回路とを備えて構成される。
 前記ケーブル40は、プロセッサ3から送信される所定のクロック信号および同期信号HD,VDをCMOSイメージセンサ11に伝送すると共に、P/S回路14においてパラレル/シリアル変換されたシリアル信号の前記デジタル撮像信号をコネクタ20の内部に設けられたS/P変換回路23に伝送する。
 本実施形態においては、前記コネクタ部20の内部に、前記デジタル撮像信号に対して所定の信号処理を施すための回路をFPGA(以下、FPGA21)にて構成する。
 前記FPGA21は、プロセッサ3において生成された前記クロック信号および同期信号HD,VDを受けてCMOSイメージセンサ11に向けて出力する。
 一方、前記FPGA21は、プロセッサ3において生成された前記クロック信号に基づいて各種信号処理のためのパルスを生成するタイミングジェネレータ(TG)22と、CMOSイメージセンサ11から出力された前記シリアル信号のデジタル撮像信号をシリアル/パラレル変換するS/P変換回路23と、S/P変換回路23に接続された水平オプティカルブラック画素領域生成処理部24(以下、水平OB画素領域生成処理部24と称す)と、同じくS/P変換回路23に接続されたCMOSプロセッサ用信号処理部25(CMOS用信号処理部25)を具備する。
 なお、本実施形態においては、前記CMOSイメージセンサ11は、オプティカルブラック画素領域が画素配列領域における垂直方向にのみ(垂直OB画素領域のみ)設けられたタイプを想定する。
 図1に戻って前記FPGA21は、さらに、前記水平OB画素領域生成処理部24と、CMOSプロセッサ用信号処理部25との出力信号経路を切り替える信号経路切替部26と、当該信号経路切替部26からの出力信号をパラレル/シリアル変換してプロセッサに向けて出力するP/S回路27と、当該内視鏡1に接続されたプロセッサの種別に応じて前記信号経路切替部26における信号経路を切り替えるプロセッサ検知回路28と、を備える。
 ここで、前記水平OB画素領域生成処理部24およびCMOSプロセッサ用信号処理部25について説明する。
 上述したように、本実施形態においては、前記CMOSイメージセンサ11として、オプティカルブラック画素領域が画素配列領域における垂直方向にのみ(垂直OB画素領域のみ)設けられたタイプを想定する(図4参照)。
 すなわち、図4に示すように、本実施形態におけるCMOSイメージセンサ11は、光を光電変換して光電変換信号を生成可能な複数の画素が行列状に設けられた有効画素領域Raと、当該有効画素領域Raの走査方向に対して上部に設けられ、暗電流を含む電荷のオフセット検出を行うための垂直オプティカルブラック画素領域Rvobと、を備える。
 なお、本実施形態においては、CMOSイメージセンサ11における前記垂直オプティカルブラック画素領域Rvobは、有効画素領域Raの走査方向に対して上部に設けられるとしたが、これに限らず、本願発明は、有効画素領域Raの走査方向に対して下部または双方に設けられるCMOSイメージセンサにも適用できる。
 一方で、上述したように、従来の、撮像素子としてCCDイメージセンサを搭載する内視鏡に対応するプロセッサ(以下、CCD対応プロセッサと称す)においては、通常、CCDイメージセンサにおける水平オプティカルブラック画素領域(水平OB画素領域)に対応したOBクランプ処理を行っている。
 本願発明に係る内視鏡は、係る従来のCCD対応プロセッサに接続された場合でも当該プロセッサにおいて適正な画像信号処理を行い得るよう前記水平OB画素領域生成処理部24を備えることを特徴とする。
 図2は、本実施形態の内視鏡における、水平オプティカルブラック画素領域Rhobを生成する水平OB画素領域生成処理部24の構成を示した図である。
 図2に示すように、水平OB画素領域生成処理部24は、CMOSイメージセンサ11における前記P/S回路14においてパラレル/シリアル変換されたシリアル信号のデジタル撮像信号は、垂直OB画素の高輝度検出部51およびセレクタ54に入力される。
 前記垂直OB画素の高輝度検出部51は、前記CMOSイメージセンサ11における前記有効画素領域Ra(図4参照)において生成される光電変換信号、および、前記垂直オプティカルブラック画素領域Rvob(図4参照)において生成されるオプティカルブラック信号を行ごとに読み出す読み出し部である。
 また垂直OB画素の高輝度検出部51は、入力した撮像信号から白キズまたは光漏れを検出することにより行ごとに適正なオプティカルブラック信号を読み出すようになっている。
 そして垂直OB画素の高輝度検出部51は、設定された所定の閾値以上の画素を除外して、白キズまたは光漏れの影響がない画素に係る信号部分のみを後段の垂直OB画素領域用メモリ52に出力する。
 一方、垂直OB画素の高輝度検出部51は、白キズまたは光漏れの影響がない画素の数を加算画素数として、加算平均回路53に送出する。
 前記垂直OB画素領域用メモリ52は、垂直OB画素の高輝度検出部51から入力した前記白キズまたは光漏れの影響がない画素信号を一旦保持した後、加算平均回路53に送出する。
 前記加算平均回路53においては、垂直オプティカルブラック画素領域における加算平均値を演算し、後段のセレクタ54に送出する。
 前記セレクタ54には、上述したように、CMOSイメージセンサ11からのデジタル撮像信号が入力される一方で、前記FPGA21におけるタイミングジェネレータ22から所定のパルス信号が入力される。
 そしてセレクタ54は、タイミングジェネレータ22からのパルスに応じて、前記読み出し部である垂直OB画素の高輝度検出部51によって行ごとに読み出された、前記有効画素領域において生成される光電変換信号に対して、画素配列領域における各行先頭の所定領域に、前記垂直オプティカルブラック画素領域において生成される前記オプティカルブラック信号を付加して出力する。
 ここで、本実施形態においては、画素配列領域における各行先頭の所定領域を新たに生成する水平オプティカルブラック画素領域として設定する。
 そしてセレクタ54は、タイミングジェネレータ22からのパルスに応じて画素配列領域における各行ごとに以下の選択処理を行う。すなわち、セレクタ54は各行ごとに、前記水平オプティカルブラック画素領域に、前記加算平均回路53において演算された前記加算平均値を埋め込むか、または、前記水平オプティカルブラック画素領域以外の領域(すなわち有効画素領域)に、当該セレクタ54にスルーで入力した前記デジタル撮像信号を埋め込むかを選択する。
 前記セレクタ54の選択処理により図5に示す如き、新たに水平オプティカルブラック画素領域Rhobが生成された撮像信号が生成される。
 なお、本実施形態においては、水平オプティカルブラック画素領域Rhobは、画素配列領域における各行先頭の所定領域に新たに生成されるものとしたが、これに限らず、画素配列領域における各行末尾等、内視鏡が接続されることが想定されるプロセッサに適合するよう任意の所定領域に新たに生成するようにしてもよい。
 さらに、本実施形態においては、上述したように前記垂直OB画素の高輝度検出部51において検出された垂直OB画素に係る信号を一旦、前記垂直OB画素領域用メモリ52に保持した後、前記加算平均回路53に送出し、当該加算平均回路53においては、垂直オプティカルブラック画素領域における加算平均値を演算してからセレクタ54に送出したが、これに限らない。
 例えば、図3に示すように、前記垂直OB画素領域用メモリ52に保持した垂直OB画素に係る信号を直接セレクタ54に送出し、当該セレクタ54において各行ごとに、前記水平オプティカルブラック画素領域に、当該垂直OB画素に係る信号を埋め込む処理をしてもよい。
 一方、前記CMOSプロセッサ用信号処理部25は、前記水平OB画素領域生成処理部24とは異なり、当該CMOSイメージセンサ11(すなわち垂直オプティカルブラック画素領域のみを有するCMOSイメージセンサ)に対応した処理を行うCMOS対応プロセッサ3Aに当該内視鏡1が接続された際に有効に働くようになっている。
 すなわち、CMOSプロセッサ用信号処理部25は、本実施形態においては、撮像信号をそのままスルーして後段の信号経路切替部26に送出するようになっている。
 次に、内視鏡1が接続され得る前記プロセッサ3およびプロセッサ3Aについて詳しく説明する。
 図6は本実施形態の内視鏡、従来の内視鏡およびCCD対応プロセッサとの接続関係を示した図である。
 図6に示すように、プロセッサ3は、従来の、撮像素子としてCCDイメージセンサを備えた内視鏡に対して接続可能なCCD対応プロセッサである。一方でプロセッサ3は、CMOSイメージセンサ(垂直オプティカルブラック画素領域のみを有するCMOSイメージセンサ)を採用した内視鏡であっても、上述した本実施形態の如き構成をなす内視鏡1であれば、接続された際に当該プロセッサにおいて適正な画像信号処理を行い得る。
 図8に示すように当該CCD対応プロセッサ3は、所定のクロック信号および同期信号HD,VDを生成する前記クロック同期信号生成回路31と、接続された内視鏡から出力されるシリアル信号のデジタル撮像信号をシリアル/パラレル変換するS/P変換回路32と、S/P変換回路32に接続された水平オプティカルブラッククランプ処理回路33と、プロセッサ3内の各種回路を制御するCPU34と、を備える。
 また、当該プロセッサ3におけるCPU34は、図示しないメモリに格納された当該プロセッサ3固有のID情報(特に、当該プロセッサ3がCCD対応プロセッサであるとの情報)を接続された内視鏡1に伝送する役目を果たす。
 一方、本実施形態の内視鏡1における前記プロセッサ検知回路28は、接続されたプロセッサ3における前記CPU34からの情報に基づいて当該接続されたプロセッサがCCD対応プロセッサであるか否かを判別するようになっている。
 なお、上述したプロセッサ3としては、当該プロセッサ3固有のID情報(CCD対応プロセッサであるとの情報)を内視鏡1に対して送出する機能を有するものを想定し、前記プロセッサ検知回路28は当該ID情報を入手して接続されたプロセッサの種別を判別するものとしたが、プロセッサの判別方法はこれに限られない。
 たとえば、接続されたプロセッサから所定のID情報を受信しないことをもって当該プロセッサ3の種別を判別するようにしてもよい。
 より具体的には、後述するように「CMOS対応プロセッサ」からは自身の固有のID情報、すなわちCMOS対応プロセッサであるとの情報を必ず送出することを前提とし、当該プロセッサ3の如きCCD対応プロセッサからはプロセッサ判別用のID情報を何ら送出しない仕様にすれば、ID情報を受信しないことをもって当該プロセッサ3がCCD対応プロセッサであるとの判断をすることができる。
 図8に戻って、前記水平オプティカルブラッククランプ処理回路33における水平オプティカルブラッククランプ処理は、既知のOBクランプ処理であり、オプティカルブラック画素領域からの出力信号(オプティカルブラック信号)を所定の目標レベルにクランプし、そのクランプレベルを基準として、得られた全てのオプティカルブラック信号の平均値を黒レベルとする処理であり、当該CCD対応プロセッサ3では、これをCCDイメージセンサにおける水平オプティカルブラッククに対して行うものである。
 一方、本実施形態の内視鏡1は、上述した従来のCCD対応プロセッサの他に、前記プロセッサ3Aに接続可能である。
 図7は本実施形態の内視鏡、CCD対応プロセッサおよびCMOS対応プロセッサとの接続関係を示した図である。
 このプロセッサ3Aは、CMOSイメージセンサ11(垂直オプティカルブラック画素領域のみを有するCMOSイメージセンサ)を搭載する内視鏡1が接続されることを想定した信号処理回路を備える。
 次に、本実施形態の内視鏡1がCCD対応プロセッサ3またはCMOS対応のプロセッサ3Aに接続された際の作用についてそれぞれ説明する。
 図8は、本実施形態の内視鏡がCCD対応プロセッサ3に接続された際の構成を示す図であり、図9は、本実施形態の内視鏡がCMOS対応プロセッサ3Aに接続された際の構成を示す図である。さらに、図10は、本実施形態の内視鏡における水平オプティカルブラック画素領域生成処理を示したフローチャートである。
 図10示すように、まず内視鏡1におけるプロセッサ検知回路28が所定のプロセッサに接続されたことを検知すると、プロセッサ検知回路28は接続されたプロセッサのCPU34(図8,図9参照)から所定のID情報を入手する(ステップS1)。
 この後、プロセッサ検知回路28は、接続されたプロセッサが、ステップS1で入手したID情報に基づいて、当該内視鏡1が接続されたプロセッサがCCD対応プロセッサ3であるか、またはCMOS対応のプロセッサ3Aであるかを判定する(ステップS2)。
 なお、上述したようにプロセッサ検知回路28は、ID情報を受信しないことをもって当該プロセッサ3がCCD対応プロセッサであるか否かの判別をしてもよい。
 その後、ステップS2において接続されたプロセッサがCCD対応プロセッサ3であると判定された場合は、プロセッサ検知回路28は、ステップS3の処理を行う。
 すなわち、ステップS3においてプロセッサ検知回路28は、前記信号経路切替部26を制御して前記P/S回路27から出力される撮像信号が、前記水平オプティカルブラック画素領域生成処理部24を経由するように信号経路を切り替える(図8参照)。
 ここで、上述したように、水平オプティカルブラック画素領域生成処理部24を経由するように選択された場合は、P/S回路27からは、新たな水平オプティカルブラック画素領域Rhobが生成された撮像信号がプロセッサ3に対して送出される。
 これにより、この撮像信号を入力したCCD対応プロセッサ3においては、水平オプティカルブラッククランプ処理回路33において、(接続されたのがCMOSイメージセンサ11を搭載する内視鏡1であっても)通常の水平OBクランプ処理を行うことができる。
 一方、ステップS2において接続されたプロセッサがCMOS対応のプロセッサ3Aであると判定された場合は、プロセッサ検知回路28は、ステップS4の処理を行う。
 すなわち、ステップS4においてプロセッサ検知回路28は、前記信号経路切替部26を制御して前記P/S回路27から出力される撮像信号が、前記CMOS対応プロセッサ用信号処理部25を経由するように信号経路を切り替える(図9参照)。
 ここで、上述したように、CMOSプロセッサ用信号処理部25は、本実施形態においては、撮像信号をそのままスルーして後段の信号経路切替部26に送出するようになっているため、CMOS対応プロセッサ3Aにおいても、適正な信号処理を行うことができる。
 以上説明したように本実施形態によると、水平オプティカルブラック画素領域に対応したOBクランプ処理回路のみを備えるプロセッサに接続された場合であっても、当該プロセッサにおいて適正な画像信号処理を行い得る、垂直OB画素領域のみを有するCMOSイメージセンサを採用する内視鏡を提供することができる。
 なお、本実施形態においては、前記FPGA21はコネクタ部20に配設するものとしたが、これに限らず、内視鏡1における操作部等に配設されてもよい。
 また、上述したように、本実施形態においては、CMOSイメージセンサ11における前記垂直オプティカルブラック画素領域Rvobは、有効画素領域Raの走査方向に対して上部に設けられるとしたが、これに限らず、本願発明は、有効画素領域Raの走査方向に対して下部に設けられるCMOSイメージセンサにも適用できる。
 さらに、本実施形態においては、前記水平オプティカルブラック画素領域Rhobは、画素配列領域における各行先頭の所定領域に新たに生成されるものとしたが、これに限らず、画素配列領域における各行末尾の所定領域に新たに生成するようにしてもよい。
 また、本実施形態においては、内視鏡1の撮像素子としてCMOSイメージセンサを想定したが、CMOSイメージセンサに限らず、本願発明は、垂直オプティカルブラック画素領域のみを有する撮像素子を採用する内視鏡に適用することができる。
 次に本発明の第2の実施形態について説明する。
 図11は、本発明の第2の実施形態の内視鏡がCCD対応プロセッサに接続された際の構成を示す図であり、図12は、第2の実施形態の内視鏡がCMOS対応プロセッサに接続された際の構成を示す図である。また、図13は、第2の実施形態の内視鏡における水平オプティカルブラック画素領域生成処理の作用を示したフローチャートである。
 本第2の実施形態の内視鏡システムは、その基本的な構成は第1の実施形態と同様であり、前記コネクタ部20におけるFPGA21内の一部の構成のみを異にするものである。したがって、ここでは第1の実施形態との差異のみの説明にとどめ、共通する部分の説明については省略する。
 上述した第1の実施形態においては、前記FPGA21は、内視鏡1に接続されたプロセッサの種別に応じて信号経路切替部26における信号経路を切り替えるプロセッサ検知回路28を備えるが(図1参照)、第2の実施形態においては、図11、図12に示すように、当該プロセッサ検知回路28に代えて、信号経路切替部26における信号経路を切り替える切替指示信号を送出する切替指示部28aを備えることを特徴とする。
 この切替指示部28aは、図示しない操作等(例えばユーザーによる設定)により前記切替指示信号を信号経路切替部26に送出する。この切替指示信号は、前記デジタル撮像信号が前記水平オプティカルブラック画素領域生成処理部24を通過する第1の信号経路と、前記CMOSプロセッサ用信号処理部25を通過する第2の信号経路(すなわち、前記デジタル撮像信号が前記水平オプティカルブラック画素領域生成処理部を通過しない信号経路)とを切り替えるための指示信号である。
 また、本第2の実施形態において信号経路切替部26は、切替指示部28aからの切替指示信号に応じて、前記第1の信号経路を前記第2の信号経路とを切り替えるようになっている。
 このように本第2の実施形態においては、内視鏡1に接続されるプロセッサの種別(CCD対応プロセッサ3B(図11参照)またはCMOS対応プロセッサ3C(図12参照))を内視鏡1においては検知することなく、上述した信号経路の切替を行うことができる。
 次に、本実施形態の内視鏡1がCCD対応プロセッサまたはCMOS対応プロセッサに接続された際の作用についてそれぞれ説明する。
 図13に示すように、内視鏡1における切替指示部28aから前記切替指示信号が送出されると(ステップS11)、当該切替指示部28aにおける切替指示がCCD対応のプロセッサ3Bであるか、またはCMOS対応のプロセッサ3Cであるかに基づいて(ステップS12)、信号経路切替部26は前記第1の信号経路と前記第2の信号経路とを切り替える。
 すなわち、前記切替指示信号がCCD対応プロセッサ3Bを示す場合(すなわち、撮像信号に対して前記水平オプティカルブラッククランプ処理回路33が働くプロセッサを示す場合)は、前記水平オプティカルブラック画素領域生成処理部24を通過する第1の信号経路を選択する(ステップS13)。
 一方、前記切替指示信号がCMOS対応のプロセッサ3Cを示す場合は、CMOSプロセッサ用信号処理部25を通過する第2の信号経路を選択する(ステップS14)。
 以上説明したように本実施形態によると、接続されるプロセッサの種別検知をすることなく、水平オプティカルブラッククランプ処理回路を備えるプロセッサに接続された場合であっても、当該プロセッサにおいて適正な画像信号処理を行い得る、CMOSイメージセンサを搭載する内視鏡を提供することができる。
 以上説明したように本実施形態によると、接続されるプロセッサの種別検知をすることなく、撮像信号に対して高域周波数成分を強調する信号処理回路を備えるプロセッサに接続された場合であっても、当該プロセッサにおいて適正な画像信号処理を行い得る、CMOSイメージセンサを搭載する内視鏡を提供することができる。
 なお、本発明は、上述した実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化することができる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明の態様を形成することができる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせても良い。
 このように、発明の趣旨を逸脱しない範囲内において種々の変更または応用が可能であることは勿論である。
 本出願は、2014年12月4日に日本国に出願された特願2014-246137号を優先権主張の基礎として出願するものであり、上記の開示内容は、本願明細書、請求の範囲、図面に引用されたものとする。

Claims (7)

  1.  光を光電変換して光電変換信号を生成可能な複数の画素が行列状に設けられた有効画素領域と、前記有効画素領域の走査方向に対して上部または下部の少なくとも一方に設けられた垂直オプティカルブラック画素領域と、を備える撮像素子と、
     前記撮像素子における前記有効画素領域において生成される前記光電変換信号、および、前記垂直オプティカルブラック画素領域において生成されるオプティカルブラック信号を読み出す読み出し部と、
     前記読み出し部によって行ごとに読み出された、前記有効画素領域において生成される光電変換信号に対して、各行ごとに、前記垂直オプティカルブラック画素領域において生成される前記オプティカルブラック信号を付加して出力する出力部と、
     を具備することを特徴とする内視鏡。
  2.  前記垂直オプティカルブラック画素領域から読み出される前記オプティカルブラック信号の値と所定の閾値とを比較する比較部と、
     前記比較部における比較結果に基づいて、前記所定の閾値より小さい値を有する前記オプティカルブラック信号を抽出する抽出部と、
     を具備し、
     前記出力部は、前記抽出部により抽出された、所定の閾値よりも小さい値を有する前記オプティカルブラック信号を、前記光電変換信号の行ごとに付加する
     ことを特徴とする請求項1に記載の内視鏡。
  3.  前記抽出部により抽出された、前記所定の閾値よりも小さい値を有する前記オプティカルブラック信号を加算平均する加算平均部をさらに具備し、
     前記出力部は、前記加算平均部において生成される前記オプティカルブラック信号の加算平均値を、前記光電変換信号の行ごとに付加する
     ことを特徴とする請求項2に記載の内視鏡。
  4.  水平オプティカルブラック画素領域に対応したクランプ処理を行うクランプ回路を設けた第1のプロセッサに接続可能であることを特徴とする請求項1-3のいずれか1項に記載の内視鏡。
  5.  さらに、前記クランプ回路が設けられていない、前記第1のプロセッサとは異なる第2のプロセッサに接続可能であって、
     当該内視鏡が前記第1のプロセッサに接続されているか、または、前記第2のプロセッサに接続されているかを識別可能な識別部と、
     前記識別部の識別結果に応じて、前記撮像素子からの撮像信号が、少なくとも前記読み出し部および前記出力部を通過する第1の信号経路と、前記読み出し部および前記出力部を通過しない第2の信号経路とを切り替える信号経路切替部と、
     をさらに具備することを特徴とする請求項4に記載の内視鏡。
  6.  前記信号経路切替部は、前記識別部の識別結果により前記内視鏡が前記第1のプロセッサに接続されている場合には前記撮像信号の信号経路を前記第1の信号経路に切り替え、一方、前記内視鏡が前記第2のプロセッサに接続されている場合には、前記撮像信号の信号経路を前記第2の信号経路に切り替える
     ことを特徴とする請求項5に記載の内視鏡。
  7.  さらに、前記クランプ回路が設けられていない、前記第1のプロセッサとは異なる第2のプロセッサに接続可能であって、
     前記撮像素子からの撮像信号が、少なくとも前記読み出し部および前記出力部を通過する第1の信号経路と、前記読み出し部および前記出力部を通過しない第2の信号経路とを切り替えるための切替指示信号を出力する切替指示部と、
     前記切替指示部からの前記切替指示信号に応じて、前記第1の信号経路と前記第2の信号経路とを切り替える信号経路切替部と、
     をさらに具備することを特徴とする請求項4に記載の内視鏡。
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