WO2015166920A1 - 表示装置 - Google Patents

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WO2015166920A1
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clock signal
line
potential
signal
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隆之 西山
耕平 田中
健史 野間
諒 米林
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シャープ株式会社
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    • G09G2330/02Details of power systems and of start or stop of display operation
    • G09G2330/021Power management, e.g. power saving

Definitions

  • the present invention relates to a display device, and more particularly to noise countermeasures for signals that contribute to image display.
  • a display device having a display area other than a rectangle has been proposed.
  • An example of such a display device is a surface display device described in Japanese Patent No. 5299730.
  • the display device elements are continuously arranged on the display device substrate in the manner of one-stroke writing.
  • the display device element includes a unit circuit and a pixel circuit.
  • the unit circuit constitutes a scanning circuit.
  • the pixel circuit is connected to the output node of the unit circuit.
  • intersection point forms a parasitic capacitance.
  • the data signal is affected by the parasitic capacitance. That is, in the surface display device, noise is easily superimposed on the data signal.
  • An object of the present invention is to provide a display device in which noise is hardly superimposed on a signal that contributes to image display.
  • the display device includes a plurality of signal lines, a plurality of gate lines, and a driving unit.
  • a plurality of signal lines are supplied with potentials that contribute to image display.
  • the plurality of gate lines are provided separately from the plurality of signal lines.
  • the driving unit is connected to the plurality of gate lines and controls the potentials of the plurality of gate lines.
  • the drive unit includes a plurality of gate drivers and a plurality of wirings.
  • the plurality of gate drivers are arranged in the display area and are connected to at least one of the plurality of gate lines.
  • a potential for operating any of the plurality of gate drivers is applied to the plurality of wirings.
  • the plurality of wirings intersect with any of the plurality of signal lines.
  • the plurality of wirings include a first wiring and a second wiring.
  • the second wiring intersects with the signal line intersecting with the first wiring at a position different from the first wiring.
  • the drive unit switches the potential of the first wiring at a predetermined timing.
  • the drive unit switches the potential of the second wiring in a direction opposite to the direction of switching the potential of the first wiring at the timing of switching the potential of the first wiring.
  • noise is difficult to be superimposed on a signal contributing to image display.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing an arrangement of the gate driver shown in FIG. 4 in a display area. It is a schematic diagram which expands and shows a part of FIG. It is a schematic diagram which expands and shows a part which is a part of FIG. 5, and is different from FIG. 5A.
  • FIG. 6 is a schematic diagram showing a part of FIG. 5 that is different from FIGS. 5A and 5B in an enlarged manner.
  • FIG. 5 is a timing chart when the gate driver shown in FIG. 4 controls the potential of the gate line. It is a mimetic diagram showing the state where a plurality of source lines and a plurality of wirings cross.
  • FIG. 8 is a schematic diagram illustrating a state where a jth source line among a plurality of source lines illustrated in FIG. 7 intersects with a plurality of wirings. It is a schematic diagram which shows the state which only the wiring extended from the wiring which transmits the clock signal CKA cross
  • 10 is a timing chart showing the relationship between clock signals CKA and CKB and noise in the state shown in FIG. FIG.
  • FIG. 6 is a schematic diagram showing a state in which a wiring extending from a wiring transmitting a clock signal CKA and a wiring extending from a wiring transmitting a clock signal CKB intersect with a source line.
  • 12 is a timing chart showing the relationship between clock signals CKA and CKB and noise in the state shown in FIG.
  • FIG. 7 is a timing chart when the gate driver shown in FIG. 4 controls the potential of the gate line, and is a timing chart when control different from the case shown in FIG. 6 is performed. It is a timing chart which shows the relationship between 4-phase clock signal CKA, CKB, CKC, CKD and noise.
  • FIG. 16 is a schematic diagram showing an arrangement of the gate driver shown in FIG. 15 in a display area.
  • FIG. 17 is a schematic diagram showing an arrangement of the gate driver shown in FIG. 16 in a display area. It is a schematic diagram which expands and shows a part of FIG. 17A.
  • FIG. 18B is a schematic diagram illustrating a part of FIG.
  • FIG. 18B is a schematic diagram illustrating a part of FIG. 17A that is different from FIGS. 18A and 18B in an enlarged manner. It is a schematic diagram which expands and shows a part of FIG. 17B.
  • FIG. 19B is a schematic diagram showing a part of FIG. 17B different from FIG. 19A in an enlarged manner. It is a schematic diagram which expands and shows a part which is a part of FIG. 17B, and is different from FIG. 19A and FIG. 19B.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing an arrangement of the gate driver shown in FIG. 4 in a display area. It is a schematic diagram which expands and shows a part of FIG.
  • FIG. 22 is a timing chart showing the relationship between the potential of netA (k ⁇ 1), netA (k), and netA (k + 1) and noise in the state shown in FIG. 21.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing an arrangement of the gate driver shown in FIG. 4 in a display area. It is a schematic diagram which expands and shows a part of FIG. It is a schematic diagram which shows the state in which several netB cross
  • FIG. 25 is a timing chart showing the relationship between the potential of netB (k ⁇ 1), netB (k), netB (k + 1), and netB (k + 2) and noise in the state shown in FIG. 24.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing an arrangement of the gate driver shown in FIG. 4 in a display area. It is a schematic diagram which expands and shows a part of FIG.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing an arrangement of the gate driver shown in FIG. 4 in a display area. It is a schematic diagram which expands and shows a part of FIG.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing a state where netB (k) and netB (k + 2) intersect with a source line, and a wiring extending from a wiring for transmitting a clock signal intersects with the source line.
  • FIG. 29 is a timing chart showing the relationship between the potentials of netB (k + 2) and netB (k), the clock signal, and noise in the state shown in FIG. 28.
  • FIG. 29 is a timing chart showing the relationship between the potentials of netB (k + 2) and netB (k), the clock signal, and noise in the state shown in FIG. 28.
  • FIG. 6 is a schematic diagram showing a state where a plurality of netBs cross a source line and a wiring extending from a wiring transmitting a clock signal CKA intersects the source line.
  • FIG. 6 is a schematic diagram showing a state in which a plurality of netBs intersect with a source line, and wirings extending from a wiring for transmitting a clock signal CKB intersect with the source line.
  • 6 is a timing chart showing the relationship between the potential of netB (1) to netB (8), a clock signal, and noise. It is a schematic diagram which shows the example of arrangement
  • FIG. 6 is a diagram illustrating an equivalent circuit of a pixel when an operation mode of a liquid crystal is a VA mode. 6 is a diagram illustrating an equivalent circuit of a pixel when an operation mode of a liquid crystal is an IPS method or an FFS method. It is explanatory drawing which shows the case where a common wiring consists only of a transparent conductive layer. It is explanatory drawing which shows the case where the fluctuation
  • the display device includes a plurality of signal lines, a plurality of gate lines, and a driving unit.
  • a plurality of signal lines are supplied with potentials that contribute to image display.
  • the plurality of gate lines are provided separately from the plurality of signal lines.
  • the driving unit is connected to the plurality of gate lines and controls the potentials of the plurality of gate lines.
  • the drive unit includes a plurality of gate drivers and a plurality of wirings.
  • the plurality of gate drivers are arranged in the display area and are connected to at least one of the plurality of gate lines.
  • a potential for operating any of the plurality of gate drivers is applied to the plurality of wirings.
  • the plurality of wirings intersect with any of the plurality of signal lines.
  • the plurality of wirings include a first wiring and a second wiring.
  • the second wiring intersects with the signal line intersecting with the first wiring at a position different from the first wiring.
  • the drive unit switches the potential of the first wiring at a predetermined timing.
  • the drive unit switches the potential of the second wiring in a direction opposite to the direction of switching the potential of the first wiring at the timing of switching the potential of the first wiring.
  • parasitic capacitance is formed at the intersection between the first wiring and the signal line and at the intersection between the second wiring and the signal line.
  • the parasitic capacitance affects the potential applied to the signal line. This point will be described in detail below.
  • the potential that contributes to the display of the image may indicate, for example, the gradation of the pixel, or may be given to maintain the gradation of the pixel.
  • Such a potential is output, for example, as a signal contributing to image display. That is, a signal contributing to image display is defined by, for example, a potential applied to a signal line. The potential applied to the signal line changes due to the parasitic capacitance. That is, noise is superimposed on the signal. Therefore, for example, in the case where the potential contributing to image display indicates the gradation of the pixel, when the potential changes, the gradation of the pixel does not become the intended gradation. As a result, luminance unevenness occurs.
  • the second wiring intersects the signal line intersecting the first wiring.
  • the potential of the first wiring and the potential of the second wiring are switched at the same timing.
  • the potential of the first wiring and the potential of the second wiring are switched in opposite directions. For example, if the potential of the first wiring increases, the potential of the second wiring decreases. If the potential of the first wiring is lowered, the potential of the second wiring is increased. Therefore, the signal noise caused by the parasitic capacitance formed at the intersection of the first wiring and the signal line and the signal noise caused by the parasitic capacitance formed at the intersection of the second wiring and the signal line are mutually Acts to counteract each other. That is, it becomes difficult to superimpose noise on the signal.
  • the signal line intersecting with the first wiring and the second wiring may be, for example, a data line for transmitting a data signal used for displaying an image.
  • the display device may further include a plurality of pixels, a thin film transistor, a pixel electrode, and a storage capacitor line.
  • the plurality of pixels are formed in the display area.
  • the thin film transistor is disposed in each of the plurality of pixels.
  • the pixel electrode is connected to the thin film transistor.
  • the auxiliary capacitance line forms an auxiliary capacitance with the pixel electrode.
  • the signal line that intersects the first wiring and the second wiring may be, for example, an auxiliary capacitance wiring.
  • the display device may further include a plurality of pixels, a thin film transistor, a pixel electrode, and a common wiring.
  • the plurality of pixels are formed in the display area.
  • the thin film transistor is disposed in each of the plurality of pixels.
  • the pixel electrode is connected to the thin film transistor.
  • the common wiring is disposed on the same substrate as the substrate on which the pixel electrode is formed, and forms a pixel capacitance with the pixel electrode.
  • the signal line that intersects the first wiring and the second wiring may be a common wiring, for example.
  • the common wiring preferably includes a transparent conductive layer and a plurality of metal wirings.
  • the plurality of metal wirings are formed on the transparent conductive layer.
  • the plurality of metal wirings extend along the common wiring.
  • the plurality of metal wirings are arranged at a predetermined interval in the width direction of the common wiring.
  • the common wiring is formed only of the transparent conductive layer, the sheet resistance of the common wiring is increased, and the potential fluctuation is locally retained. Therefore, there is a possibility that noises having opposite phases cannot be reduced.
  • the sheet resistance of the common wiring can be reduced. Therefore, it is possible to avoid the potential fluctuation from staying locally. As a result, noises having opposite phases can be reduced.
  • a first parasitic capacitance and a second parasitic capacitance may be formed.
  • the first parasitic capacitance is formed at the intersection of the first wiring and the data line.
  • the second parasitic capacitance is formed at the intersection of the data line intersecting the first wiring and the second wiring.
  • the absolute value of the sum of the product of the first parasitic capacitance and the potential variation in the first wiring and the product of the second parasitic capacitance and the potential variation in the second wiring is the first parasitic capacitance and the first The absolute value of the product of the potential change amount in the wiring or the absolute value of the product of the second parasitic capacitance and the potential change amount in the second wiring is smaller.
  • the said sum total is zero or substantially zero.
  • the plurality of wirings include the same number of second wirings as the first wirings.
  • the number of parasitic capacitances formed at the intersection between the first wiring and the signal line can be made the same as the number of parasitic capacitances formed at the intersection between the second wiring and the signal line. Therefore, noise caused by parasitic capacitance can be reduced.
  • the drive unit may further include a signal supply unit, a plurality of first clock signal lines, and a plurality of second clock signal lines.
  • the signal supply unit supplies a first clock signal and a second clock signal having an opposite phase to the first clock signal to each of the plurality of gate drivers.
  • the plurality of first clock signal lines transmit the first clock signal.
  • the plurality of second clock signal lines transmit the second clock signal.
  • the first clock signal line connected to any of the plurality of gate drivers includes a first wiring portion that intersects with any of the plurality of signal lines.
  • the second clock signal line connected to any one of the plurality of gate drivers includes a second wiring portion that intersects with a signal line intersecting with the first wiring portion at a position different from the first wiring portion.
  • the first wiring part is the first wiring.
  • the second wiring part is the second wiring.
  • the signal supply unit is preferably a generation unit, a first signal supply line, a first switch, a second signal supply line, a second switch, a connection line, a resistor, and a third switch. And a control unit.
  • the generation unit generates a first clock signal and a second clock signal.
  • the first signal supply line connects any one of the plurality of first clock signal lines and the generation unit, and transmits the first clock signal.
  • the first switch is disposed on the first signal supply line, and switches between a state where the first clock signal line and the generation unit are electrically connected and a state where they are not connected.
  • the second signal supply line connects any of the plurality of second clock signal lines and the generation unit, and transmits the second clock signal.
  • the second switch is disposed on the second signal supply line and switches between a state in which the second clock signal line and the generation unit are electrically connected and a state in which the second clock signal line is not connected.
  • the connection line connects the first signal supply line and the second signal supply line.
  • the resistor is disposed on the connection line.
  • the third switch is disposed on the connection line, and switches between a state where the first signal supply line and the second signal supply line are electrically connected and a state where they are not connected.
  • the control unit controls operations of the first switch, the second switch, and the third switch. At the timing of switching the phases of the first clock signal and the second clock signal, the first clock signal line and the second clock signal line are not electrically connected to the generation unit, and the first signal supply line is the second signal.
  • the first clock signal line and the second clock signal line are electrically connected to the generation unit, and the first signal supply line is the second signal supply. It is assumed that it is not electrically connected to the wire.
  • the phase of the first clock signal and the second clock signal can be switched by moving the charge between the first signal supply line and the second signal supply line. Therefore, power consumption can be suppressed.
  • the plurality of wirings may further include a third wiring.
  • the third wiring intersects with the signal line where the first wiring and the second wiring intersect at a position different from the first wiring and the second wiring.
  • the display device may include a first parasitic capacitor, a second parasitic capacitor, and a third parasitic capacitor.
  • the first parasitic capacitance is formed at the intersection of the first wiring and the signal line.
  • the second parasitic capacitance is formed at the intersection of the signal line intersecting the first wiring and the second wiring.
  • the third parasitic capacitance is formed at the intersection of the signal line intersecting the first wiring and the third wiring.
  • the plurality of gate drivers include a first gate driver, a second gate driver, and a third gate driver.
  • the first gate driver is connected to any one of the plurality of gate lines and includes a first wiring.
  • the second gate driver is connected to a gate line different from the gate line to which the first gate driver is connected, and includes a second wiring.
  • the third gate driver is connected to a gate line different from the gate line to which the first gate driver is connected and the gate line to which the second gate driver is connected, and includes a third wiring.
  • the drive unit lowers the potential of the first wiring.
  • the drive unit raises the potential of the second wiring at the timing of lowering the potential of the first wiring.
  • the drive unit raises the potential of the third wiring at the timing of lowering the potential of the first wiring.
  • the product of the first parasitic capacitance and the potential change amount in the first wiring, the product of the second parasitic capacitance and the potential change amount in the second wiring, the potential change amount in the third parasitic capacitance and the third wiring is smaller.
  • the said sum total is zero or substantially zero.
  • the plurality of wirings may include a wiring group.
  • the wiring group includes N first wirings and (N ⁇ 1) second wirings.
  • the driving unit does not switch the potential of any of the N first wirings at the timing of switching the potential in the remaining first wiring and second wiring.
  • the drive unit may include a signal supply unit and a plurality of clock signal lines.
  • the signal supply unit supplies a clock signal to each of the plurality of gate drivers.
  • the plurality of clock signal lines transmit a clock signal.
  • the plurality of data lines are arranged side by side in a predetermined direction.
  • Each of the plurality of clock signal lines includes a signal line portion.
  • the signal line portion is disposed between two signal lines adjacent in a predetermined direction.
  • the separation distance between one of the two adjacent signal lines and the signal line portion is the same as the separation distance between the other of the two adjacent signal lines and the signal line portion.
  • the parasitic capacitance formed between one signal line and the signal line portion can be made the same as the parasitic capacitance formed between the other signal line and the signal line portion. Therefore, it becomes difficult to superimpose noise on the signal.
  • FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a liquid crystal display device 1.
  • the liquid crystal display device 1 includes a display panel 2, a source driver 3, a display control circuit 4, and a power source 5.
  • the display panel 2 includes an active matrix substrate 20a, a counter substrate 20b, and a liquid crystal layer (not shown) sealed between these substrates.
  • the active matrix substrate 20a is electrically connected to the source driver 3.
  • the source driver 3 is formed on a flexible substrate, for example.
  • the display control circuit 4 is electrically connected to the display panel 2, the source driver 3, and the power source 5.
  • the display control circuit 4 outputs control signals to the source driver 3 and the gate driver 11 (see FIG. 3).
  • the gate driver 11 is formed on the active matrix substrate 20a.
  • the control signal includes, for example, a reset signal (CLR), a clock signal (CKA, CKB), a data signal, and the like.
  • the power source 5 is electrically connected to the display panel 2, the source driver 3, and the display control circuit 4.
  • the power supply 5 supplies a power supply voltage (VSS) to the display panel 2, the source driver 3, and the display control circuit 4.
  • VSS power supply voltage
  • FIG. 2 is a diagram showing a schematic configuration of the active matrix substrate 20a.
  • FIG. 3 is a diagram showing a schematic configuration of the active matrix substrate 20a, in which the source lines SL are not shown, and each part connected to the active matrix substrate 20a.
  • a plurality (n in this embodiment) of gate lines GL are formed at substantially constant intervals in the Y direction.
  • a plurality of source lines SL as a plurality of data lines are formed at substantially constant intervals in the X direction.
  • the plurality of source lines SL intersect with the plurality of gate lines GL.
  • a region surrounded by two gate lines GL adjacent in the Y direction and two source lines SL adjacent in the X direction forms one pixel.
  • the counter substrate 20b includes, for example, three color filters of red (R), green (G), and blue (B)
  • each pixel is arranged corresponding to any color of the color filter. That is, the display area is defined by the plurality of gate lines GL and the plurality of source lines SL.
  • the gate driver 11 is formed between two gate lines GL adjacent in the Y direction.
  • Four gate drivers 11 are connected to each gate line GL.
  • the four gate drivers 11 are arranged at substantially equal intervals.
  • a terminal portion 12g is formed in the frame region of the active matrix substrate 20a.
  • the terminal portion 12g is connected to the control circuit 4 and the power source 5.
  • a control signal output from the control circuit 4 and a power supply voltage output from the power supply 5 are input to the terminal portion 12g.
  • the control signal and the power supply voltage input to the terminal portion 12g are supplied to each gate driver 11 via the wiring 15L.
  • the gate driver 11 outputs a status signal to the connected gate line GL according to the supplied control signal.
  • the status signal indicates whether or not the gate line GL connected to the gate driver 11 is selected.
  • the gate driver 11 outputs the state signal to the next-stage gate line GL.
  • the operations of the four gate drivers 11 connected to one gate line GL are synchronized.
  • a terminal portion 12s that connects the source driver 3 and the source line SL is formed.
  • the source driver 3 outputs a data signal to each source line SL in accordance with a control signal input from the display control circuit 4.
  • FIG. 4 shows a gate driver 11 (hereinafter referred to as a gate driver 11 (k)) disposed between the gate line GL (k) and the gate line GL (k ⁇ 1) and connected to the gate line GL (k). It is a figure which shows an example of the equivalent circuit of ().
  • k is an arbitrary integer from 1 to n.
  • the gate driver 11 includes thin film transistors (hereinafter referred to as TFT-A to TFT-J) indicated by alphabets A to J as a plurality of switching elements.
  • the gate driver 11 further includes a capacitor Cbst and netA and netB as internal wiring.
  • netA connects the drain of TFT-A, the drain of TFT-B, the drain of TFT-C, one electrode of capacitor Cbst, and the gate of TFT-F.
  • netB connects the gate of TFT-C, the drain of TFT-G, the drain of TFT-H, the drain of TFT-I, and the drain of TFT-J.
  • a reset signal CLR is input to the gate.
  • NetA is connected to the drain.
  • the power supply voltage VSS is input to the source.
  • TFT-B the gate line GL (k ⁇ 1) of the previous stage is connected to the gate and the source. That is, the set signal SS is input to the gate and the source. Note that the gate start pulse signal output from the display control circuit 4 is input as the set signal SS to the TFT-B of the gate driver 11 that drives the gate line GL (1). In TFT-B, netA is connected to the drain.
  • netB is connected to the gate.
  • NetA is connected to the drain.
  • the power supply voltage VSS is input to the source.
  • the clock signal CKB is input to the gate.
  • a gate line GL (k) is connected to the drain.
  • the power supply voltage VSS is input to the source.
  • a reset signal CLR is input to the gate.
  • a gate line GL (k) is connected to the drain.
  • the power supply voltage VSS is input to the source.
  • netA is connected to the gate.
  • a gate line GL (k) is connected to the drain.
  • a clock signal CKA is input to the source.
  • the clock signal CKB is input to the gate and source.
  • NetB is connected to the drain.
  • the clock signal CKA is input to the gate.
  • NetB is connected to the drain.
  • the power supply voltage VSS is input to the source.
  • a reset signal CLR is input to the gate.
  • NetB is connected to the drain.
  • the power supply voltage VSS is input to the source.
  • the previous gate line GL (k ⁇ 1) is connected to the gate. That is, the set signal SS is input to the gate. NetB is connected to the drain. The power supply voltage VSS is input to the source.
  • the capacity of the TFT-J is set larger than that of the TFT-G. Specifically, for example, it is one of the following (1) to (3).
  • the channel width of TFT-J is larger than the channel width of TFT-G.
  • the channel length of TFT-J is shorter than the channel length of TFT-G.
  • the channel width of TFT-J is larger than the channel width of TFT-G, and the channel length of TFT-J is shorter than the channel length of TFT-G.
  • one electrode is connected to netA.
  • the other electrode is connected to the gate line GL (k).
  • the clock signal CKA and the clock signal CKB are two-phase clock signals whose phases are inverted every horizontal scanning period (see FIG. 6).
  • FIG. 4 shows the gate driver 11 (k).
  • the clock signal input to the gate of the TFT-D is This is the clock signal CKA.
  • the clock signal input to the source of the TFT-F is the clock signal CKB.
  • the clock signal input to the gate and source of the TFT-G is the clock signal CKA.
  • the clock signal input to the gate of the TFT-H is the clock signal CKB.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing the arrangement of the gate driver 11 in the display area. Note that alphabets A to J in FIG. 5 correspond to TFT-A to TFT-J shown in FIG.
  • the elements constituting the gate driver 11 are distributed between two adjacent gate lines GL.
  • Each element constituting 11 (k + 2) is arranged in the pixel PIX in the same column.
  • the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k-1) are connected to the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k) and the gate driver 11 (k + 1) via the wiring 15L.
  • the wirings L, netA, and netB are formed in, for example, a layer in which the source line SL is formed and a layer different from the layer in which the source line SL is formed, via an interlayer contact. Thereby, an electrical short circuit between the wirings L, netA, and netB and the source line SL is avoided.
  • FIG. 6 is a timing chart when the gate driver 11 (k) controls the potential of the gate line GL (k).
  • the gate driver 11 (k) receives clock signals CKA and CKB that are supplied from the display control circuit 4 and whose phases are inverted every horizontal scanning period (1H). Although not shown in FIG. 6, the gate driver 11 (k) is supplied with a reset signal CLR that is supplied from the display control circuit 4 and is at a H (High) level for a certain period every vertical scanning period. Is done. When the reset signal CLR is input, the potentials of netA, netB and the gate line GL (k) become L (Low) level.
  • the L level clock signal CKA is input to the source of TFT-F and the gate of TFT-H.
  • the H level clock signal CKB is input to the gate of the TFT-D and the gate and source of the TFT-G.
  • the TFT-G is turned on and the TFT-H is turned off.
  • the potential of netB becomes H level.
  • the potential of the netA becomes L level.
  • the potential of the gate line GL (k) becomes L level. That is, the gate line GL (k) is not selected.
  • the clock signal CKA becomes H level and the clock signal CKB becomes L level.
  • the TFT-G is turned off and the TFT-H is turned on.
  • the potential of netB becomes L level.
  • the potential of netA is maintained at the L level.
  • the potential of the gate line GL (k) is maintained at the L level.
  • the clock signal CKA becomes L level and the clock signal CKB becomes H level.
  • the set signal SS is input to the gate and source of the TFT-B and the gate of the TFT-J via the gate line GL (k ⁇ 1).
  • the TFT-B is turned on, and the potential of the netA becomes a level obtained by subtracting the threshold voltage Vth of the TFT-B from the H level.
  • TFT-J and TFT-G are turned on, and TFT-H is turned off.
  • the capability of TFT-J is greater than that of TFT-G. Therefore, the potential of netB is maintained at the L level.
  • TFT-C and TFT-F are turned off. Thereby, the potential of netA is maintained.
  • the TFT-D is on.
  • the potential of the gate line GL (k) is maintained at the L level.
  • the clock signal CKA becomes H level and the clock signal CKB becomes L level.
  • the TFT-F is turned on and the TFT-D is turned off.
  • a capacitor Cbst is disposed between the netA and the gate line GL (k). Therefore, as the drain potential of the TFT-F increases, the potential of netA becomes higher than the H level of the clock signal CKA.
  • TFT-G and TFT-J are turned off, and TFT-H is turned on.
  • the potential of netB is maintained at the L level.
  • TFT-C is off.
  • the potential of the gate line GL (k) becomes H level. That is, the gate line GL (k) is selected.
  • the clock signal CKA becomes L level and the clock signal CKB becomes H level.
  • the TFT-G is turned on and the TFT-H is turned off.
  • the potential of netB becomes H level.
  • the TFT-C is turned on, and the potential of netA becomes L level.
  • the TFT-D is turned on and the TFT-F is turned off.
  • the potential of the gate line GL (k) becomes L level. That is, the gate line GL (k) is not selected.
  • the gate signal GL (k) is selected by outputting the set signal SS from the gate driver 11 (k) to the gate line GL (k).
  • the liquid crystal display device 1 displays an image on the display panel 2 by sequentially scanning a plurality of gate lines GL by a plurality of gate drivers 11 and supplying a data signal to each source line SL by a source driver 3.
  • FIG. 5A is a schematic diagram illustrating a part of FIG. 5 in an enlarged manner.
  • FIG. 5B is a schematic diagram showing a part of FIG. 5 that is different from FIG. 5A in an enlarged manner.
  • FIG. 5C is a schematic diagram illustrating a part of FIG. 5 in an enlarged manner, which is different from FIGS. 5A and 5B.
  • the wiring 17A extends in the X direction from the wiring 15L that transmits the clock signal CKA.
  • the wiring 17B extends from the wiring 15L that transmits the clock signal CKB in the X direction.
  • a parasitic capacitance C s-cl (A) is formed at the intersection of the wiring 17A and the source line SL.
  • a parasitic capacitance C s-cl (B) is formed at the intersection of the wiring 17B and the source line SL.
  • the amplitude of the clock signal CKA that is, the potential change ⁇ V (A) in the wiring 17A and the amplitude of the clock signal CKB, that is, the following equation (1) is satisfied.
  • the change amount ⁇ V (B) of the potential in the wiring 17B, the parasitic capacitance C s-cl (A), and the parasitic capacitance C s-cl (B) are set.
  • ⁇ V (A) and ⁇ V (B) are the same size.
  • C s-cl (A) and C s-cl (B) have the same size. Therefore, the number of parasitic capacitances C s-cl (A) and the number of parasitic capacitances C s-cl (B) , that is, the number of times the wiring 17A intersects the number of times the wiring 17B intersects one source line SL , The noise caused by the parasitic capacitance C s-cl (A) and the noise caused by the parasitic capacitance C s-cl (B) cancel each other. As a result, it is difficult for noise to be superimposed on the data signal transmitted by the source line SL that intersects the wiring 17A and the wiring 17B among the plurality of source lines SL. The reason will be described below.
  • FIG. 7 is a schematic diagram showing a state where a plurality of source lines SL and a plurality of wirings 17L intersect.
  • FIG. 8 is a schematic diagram illustrating a state in which the jth source line SL (hereinafter, referred to as source line SL (j)) among the plurality of source lines SL illustrated in FIG. 7 intersects with the plurality of wirings 17L.
  • the wiring 17L is a wiring whose potential is switched at a predetermined timing. Specifically, for example, the wiring 17A or the wiring 17B described above.
  • a parasitic capacitance C j i is formed at the intersection with each wiring 17L.
  • a parasitic capacitance C paraj is formed between the source line SL (j) and the common electrode disposed on the counter substrate 20b.
  • the parasitic capacitance of the source line SL (j) excluding the parasitic capacitance with the i-th wiring 17L (hereinafter referred to as wiring 17L (i)) is expressed by the following equation (2).
  • FIG. 9 is a schematic diagram showing a state in which only the wiring 17A intersects the source line SL.
  • FIG. 10 is a timing chart showing the relationship between the clock signals CKA and CKB and noise in the state shown in FIG.
  • FIG. 11 is a schematic diagram illustrating a state in which the wiring 17A and the wiring 17B intersect with the source line SL.
  • FIG. 12 is a timing chart showing the relationship between the clock signals CKA and CKB and noise in the state shown in FIG.
  • the data signal transmitted through the source line SL includes noise caused by the parasitic capacitance C s-cl (A) and noise caused by the parasitic capacitance C s-cl (B).
  • the data signal transmitted through the source line SL includes noise caused by the parasitic capacitance C s-cl (A) and noise caused by the parasitic capacitance C s-cl (B).
  • the parasitic capacitance C s-cl (A) and the parasitic capacitance C s-cl (B) are the same size.
  • the number of parasitic capacitances C s-cl (A) and the number of parasitic capacitances C s-cl (B) are the same. Therefore, the sum of the noise caused by the parasitic capacitance C s-cl (A) and the noise caused by the parasitic capacitance C s-cl (B) becomes zero as shown in FIG.
  • the wiring 17A is extended to intersect the source line SL, and the wiring 17B is extended to the source line SL.
  • Cross As a result, as shown in a portion surrounded by a two-dot chain line in FIGS. 5A, 5B, and 5C, the number of times the wiring 17A intersects the number of times the wiring 17B intersects in one source line SL is the same. be able to. That is, the number of parasitic capacitances C s-cl (A) and the number of parasitic capacitances C s-cl (B) on one source line SL can be made the same.
  • the potentials of the clock signals CKA and CKB are only H level and L level.
  • the H level and L level. May be set to an intermediate potential.
  • each of the clock signals CKA, CKB, CKC, CKD repeats H level and L level every two horizontal periods (2H).
  • the clock signal CKA and the clock signal CKB are in opposite phases.
  • the clock signal CKC and the clock signal CKD are in opposite phases.
  • the clock signal CKA and the clock signal CKC are out of phase by a quarter.
  • the phases of the clock signal CKB and the clock signal CKD are shifted by 1 ⁇ 4.
  • FIG. 15 shows a gate driver 11 (k) that is driven by input of clock signals CKA and CKB and controls the potential of the gate line GL (k).
  • the gate driver 11 (k) shown in FIG. 15 receives the set signal SS from the gate line GL (k ⁇ 2). That is, the set signal SS is input from the gate line GL two stages before to the gate driver that is driven by the input of the clock signals CKA and CKB.
  • FIG. 16 shows a gate driver 11 (k + 1) that is driven by input of clock signals CKC and CKD and controls the potential of the gate line GL (k + 1).
  • the gate driver 11 (k + 1) illustrated in FIG. 16 receives the clock signal CKC instead of the clock signal CKA, as compared with the gate driver 11 illustrated in FIG.
  • a clock signal CKD is input instead of the clock signal CKB.
  • a set signal SS is input from the gate line GL (k ⁇ 1). That is, the set signal SS is input from the gate line GL two stages before to the gate driver driven by the input of the clock signals CKC and CKC.
  • FIG. 17A shows the arrangement in the display area of the gate drivers 11 (k) and 11 (k + 2) driven by the input of clock signals CKA and CKB. Note that alphabets A to J in FIG. 17A correspond to TFT-A to TFT-J shown in FIG.
  • the gate driver 11 (k) controls the potential of the gate line GL (k).
  • the gate driver 11 (k + 2) controls the potential of the gate line GL (k + 2). Between the two adjacent gate lines GL (k) and the gate line GL (k ⁇ 1), each element constituting the gate driver 11 (k) is distributed. Between the two adjacent gate lines GL (k + 2) and the gate line GL (k + 1), each element constituting the gate driver 11 (k + 2) is distributed. Each element constituting the gate driver 11 (k) and each element constituting the gate driver 11 (k + 2) are arranged in the pixels PIX in the same column.
  • the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k) are connected to the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k + 2) through the wiring 15L.
  • FIG. 17B shows the arrangement of the gate drivers 11 (k ⁇ 1) and 11 (k + 1) in the display area that are driven by the input of the clock signals CKC and CKD. Note that alphabets A to J in FIG. 17B correspond to TFT-A to TFT-J shown in FIG.
  • the gate driver 11 (k-1) controls the potential of the gate line GL (k-1).
  • the gate driver 11 (k + 1) controls the potential of the gate line GL (k + 1).
  • the elements constituting the gate driver 11 (k ⁇ 1) are arranged in a distributed manner.
  • the elements constituting the gate driver 11 (k + 1) are arranged in a distributed manner.
  • Each element constituting the gate driver 11 (k ⁇ 1) and each element constituting the gate driver 11 (k + 1) are arranged in the pixels PIX in the same column.
  • the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k-1) are connected to the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k + 1) through the wiring 15L.
  • each element constituting the gate driver 11 that is driven by the input of the clock signals CKA and CKB is a gate driver that is driven by the input of the clock signals CKC and CKD. 11 are arranged in pixels PIX in different columns.
  • FIG. 18A is a schematic diagram showing an enlarged part of FIG. 17A.
  • 18B is a schematic diagram illustrating a part of FIG. 17A that is different from FIG. 18A in an enlarged manner.
  • FIG. 18C is a schematic diagram showing a part of FIG. 17A in an enlarged manner, which is different from FIGS. 18A and 18B.
  • FIG. 19A is a schematic diagram illustrating a part of FIG. 17B in an enlarged manner.
  • FIG. 19B is a schematic diagram showing a part of FIG. 17B different from FIG. 19A in an enlarged manner.
  • FIG. 19C is a schematic view showing a part of FIG. 17B, which is different from FIGS. 19A and 19B, in an enlarged manner.
  • the wiring 17A is extended to intersect the source line SL, and the wiring 17B is extended to the source line SL.
  • Cross As a result, as shown in a portion surrounded by a two-dot chain line in FIGS. 18A, 18B, and 18C, the number of times the wiring 17A intersects the number of times the wiring 17B intersects in one source line SL is made the same. be able to. That is, the number of parasitic capacitances C s-cl (A) and the number of parasitic capacitances C s-cl (B) on one source line SL can be made the same.
  • the amplitude of the clock signal CKA that is, the potential change amount ⁇ V (A) in the clock signal CKA and the amplitude of the clock signal CKB, that is, the potential change in the clock signal CKB so as to satisfy the above-described equation (1).
  • the amount ⁇ V (B) the parasitic capacitance C s-cl (A), and the parasitic capacitance C s-cl (B) , noise caused by the parasitic capacitance C s-cl (A) Noise due to the capacitance C s-cl (B) cancels out.
  • the wiring 17C is extended to intersect the source line SL, and the wiring 17D is extended to the source line SL.
  • Cross The wiring 17C extends from the wiring 15L that transmits the clock signal CKC in the X direction.
  • the wiring 17D extends in the X direction from the wiring 15L that transmits the clock signal CKD.
  • a parasitic capacitance C s-cl (C) is formed at the intersection of the wiring 17C and the source line SL.
  • a parasitic capacitance C s-cl (D) is formed at the intersection of the wiring 17D and the source line SL.
  • the wiring 17C is extended to intersect with the source line SL
  • the wiring 17D is extended to intersect with the source line SL so as to be surrounded by a two-dot chain line in FIGS. 19A, 19B, and 19C.
  • the number of times the wiring 17C intersects and the number of times the wiring 17D intersects can be made the same. That is, the number of parasitic capacitances C s-cl (C) and the number of parasitic capacitances C s-cl (D) on one source line SL can be made the same.
  • the amplitude of the clock signal CKC that is, the potential change ⁇ V (C) in the wiring 17C and the amplitude of the clock signal CKD, that is, the following equation (12) is satisfied.
  • the change amount ⁇ V (D) of the potential in the wiring 17D, the parasitic capacitance C s-cl (C), and the parasitic capacitance C s-cl (D) are set.
  • ⁇ V (C) and ⁇ V (D) have the same size.
  • C s-cl (C) and C s-cl (D) have the same size.
  • the number of parasitic capacitances C s-cl (C) and the number of parasitic capacitances C s-cl (D) that is, the number of times the wiring 17C intersects one source line SL is the same as the number of times the wiring 17D intersects. It is. Therefore, the noise caused by the parasitic capacitance C s-cl (C) and the noise caused by the parasitic capacitance C s-cl (D) cancel each other. As a result, it is difficult for noise to be superimposed on the data signal transmitted by the source line SL that intersects the wiring 17C and the wiring 17D among the plurality of source lines SL.
  • FIG. 20 is a schematic diagram showing the arrangement of the gate driver 11 in the display area. Note that alphabets A to J in FIG. 20 correspond to TFT-A to TFT-J shown in FIG.
  • the elements constituting the gate driver 11 are distributed between two adjacent gate lines GL.
  • Each element constituting 11 (k + 2) is arranged in the pixel PIX in the same column.
  • the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k-1) are connected to the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k) and the gate driver 11 (k + 1) via the wiring 15L.
  • netA (k-1)) of the gate driver 11 (k-1) intersects with the source line SL.
  • the netA (hereinafter referred to as netA (k)) of the gate driver 11 (k) intersects the source line SL.
  • the netA (hereinafter referred to as netA (k + 1)) of the gate driver 11 (k + 1) intersects the source line SL.
  • the netA (hereinafter referred to as netA (k + 2)) of the gate driver 11 (k + 2) intersects the source line SL. That is, in the present embodiment, as shown in FIG. 21, the parasitic capacitance C s-netA is formed at the intersection of the netA of each gate driver 11 and the source line SL.
  • the parasitic capacitance C s-netA is formed at the intersection of the netA of each gate driver 11 and the source line SL. Therefore, in this state , noise caused by the parasitic capacitance C s-netA is added to the data signal transmitted by the source line SL.
  • the potential of the other two netA is increased at the timing when the potential of one netA is decreased in three netA.
  • the potential of netA (k) is increased at the timing when the potential of netA (k ⁇ 1) is decreased (time t2 in FIG. 22).
  • the potential of netA (k + 1) is increased.
  • the sum of the potential change amount of netA (k ⁇ 1), the potential change amount of netA (k), and the potential change amount of netA (k + 1) is set to zero. That is, the sum of the potential change amount of netA with the lowered potential and the potential change amount of netA with the raised potential is set to zero.
  • parasitic capacitance C s-netA formed at the intersection of each of the three netA and the source line SL is made the same.
  • parasitic capacitance C s-netA hereinafter referred to as parasitic capacitance C s-netA (k ⁇ 1)
  • parasitic capacitance C s-netA (k ⁇ 1)) formed at the intersection of netA (k ⁇ 1) and source line SL.
  • parasitic capacitance C s-netA The magnitude of parasitic capacitance C s-netA (hereinafter referred to as parasitic capacitance C s-netA (k)) formed at the intersection of netA (k) and source line SL, netA (k + 1) and source
  • parasitic capacitance C s-netA (k + 1) The size of the parasitic capacitance C s-netA (hereinafter referred to as parasitic capacitance C s-netA (k + 1)) formed at the intersection with the line SL is made the same.
  • the noise caused by the parasitic capacitance C s-netA (k) and the parasitic capacitance C s are compared with the noise caused by the parasitic capacitance C s-netA (k ⁇ 1).
  • the noise caused by s-netA (k + 1) works to cancel each other.
  • noise caused by the parasitic capacitance C s-netA cancels out at other times . Therefore, in the present embodiment, even if netA and the source line SL cross each other, it is difficult for noise to be applied to the data signal transmitted by the source line SL.
  • FIG. 23 is a schematic diagram showing the arrangement of the gate driver 11 in the display area. Note that alphabets A to J in FIG. 23 correspond to TFT-A to TFT-J shown in FIG.
  • the elements constituting the gate driver 11 are distributed between two adjacent gate lines GL.
  • Each element constituting 11 (k + 2) is arranged in the pixel PIX in the same column.
  • the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k-1) are connected to the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k) and the gate driver 11 (k + 1) via the wiring 15L.
  • netB of the gate driver 11 (k-1) intersects with the source line SL.
  • the netB (hereinafter referred to as netB (k)) of the gate driver 11 (k) intersects the source line SL.
  • the netB (hereinafter referred to as netB (k + 1)) of the gate driver 11 (k + 1) intersects the source line SL.
  • the netB (hereinafter referred to as netB (k + 2)) of the gate driver 11 (k + 2) intersects the source line SL. That is, in the present embodiment, as shown in FIG. 24, the parasitic capacitance C s-netB is formed at the intersection between the netB of each gate driver 11 and the source line SL.
  • the parasitic capacitance C s-netB is formed at the intersection between the netB of each gate driver 11 and the source line SL. Therefore, in this state , noise caused by the parasitic capacitance C s-netB is added to the data signal transmitted by the source line SL.
  • the sum of the potential change amount of one and the potential change amount of the other is zero.
  • the parasitic capacitance C s-netB (hereinafter referred to as parasitic capacitance C s-netB (k ⁇ 1)) formed at the intersection of netB (k ⁇ 1) and the source line SL, and netB (k) Is formed at the intersection of netB (k + 1) and the source line SL, and the parasitic capacitance C s-netB (hereinafter referred to as parasitic capacitance C s-netB (k)) formed at the intersection between the source line SL and the source line SL.
  • parasitic capacitance C s-netB (hereinafter referred to as parasitic capacitance C s-netB (k + 1)) and parasitic capacitance C s-netB (hereinafter, referred to as intersection capacitance between netB (k + 2) and source line SL)
  • the parasitic capacitance C s-netB (k + 2)) is made the same.
  • the noise caused by one parasitic capacitance C s-netB and the noise caused by the other parasitic capacitance C s-netB cancel each other. For example, at time t1 in FIG.
  • each element constituting the gate driver 11 (k) is dispersed between two adjacent gate lines GL (k) and GL (k ⁇ 1). Are arranged.
  • the elements constituting the gate driver 11 (k + 2) are distributed and arranged between the two adjacent gate lines GL (k + 2) and the gate line GL (k + 1).
  • alphabets A to C and F to J in FIG. 26 correspond to TFT-A to TFT-C and TFT-F to TFT-J shown in FIG.
  • illustration of TFT-D and TFT-E is omitted.
  • Each element constituting the gate driver 11 (k) and each element constituting the gate driver 11 (k + 2) are arranged in the pixel PIX in the same column.
  • the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k) are connected to the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k + 2) through the wiring 15L.
  • the elements constituting the gate driver 11 (k-1) are distributed and arranged between two adjacent gate lines GL (k-1) and the gate line GL (k-2). ing. Between the two adjacent gate lines GL (k + 1) and the gate line GL (k), the elements constituting the gate driver 11 (k + 1) are arranged in a distributed manner.
  • Each element constituting the gate driver 11 (k ⁇ 1) and each element constituting the gate driver 11 (k + 1) are arranged in the pixels PIX in the same column.
  • the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k-1) are connected to the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k + 1) through the wiring 15L.
  • the elements constituting the gate drivers 11 (k) and 11 (k + 2) and the elements constituting the gate drivers 11 (k ⁇ 1) and 11 (k + 1) are arranged in pixels PIX in different columns.
  • netB (k ⁇ 1), netB (k), netB (k + 1), and netB (k + 2) are as shown in FIG. Therefore, the parasitic capacitance C s-netB formed at the intersection of netB (k + 2) and the source line SL with respect to the data signal transmitted by the source line SL intersecting with netB (k + 2) and netB (k) is kept as it is. And the noise caused by the parasitic capacitance C s-netB formed at the intersection of netB (k) and the source line SL act to strengthen each other.
  • netB (k ⁇ 1) and netB (k + 1) are extended, and netB (k) and netB (k + 2) are shown as shown in a portion surrounded by a one-dot chain line. Intersect with the source line SL that intersects. netB (k) and netB (k + 2) are extended and intersected with the source line SL where netB (k ⁇ 1) and netB (k + 1) intersect, as shown in the portion surrounded by the one-dot chain line. That is, as shown in FIG. 24, netB (k ⁇ 1), netB (k), netB (k + 1), and netB (k + 2) are crossed with respect to one source line SL. As a result, as in the third embodiment, even if netB and the data line SL cross each other, it is difficult for noise to be applied to the data signal transmitted by the data line SL.
  • FIG. 27 is a schematic diagram showing the arrangement of the gate driver 11 in the display area. Note that alphabets A to C and F to J in FIG. 27 correspond to TFT-A to TFT-C and TFT-F to TFT-J shown in FIG. In FIG. 27, the illustration of TFT-D and TFT-E is omitted.
  • each element constituting the gate driver 11 (k) is distributed.
  • the elements constituting the gate driver 11 (k + 2) are distributed and arranged between the two adjacent gate lines GL (k + 2) and the gate line GL (k + 1).
  • Each element constituting the gate driver 11 (k) and each element constituting the gate driver 11 (k + 2) are arranged in the pixel PIX in the same column.
  • the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k) are connected to the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k + 2) through the wiring 15L.
  • each element constituting the gate driver 11 (k-1) is dispersed between two adjacent gate lines GL (k-1) and GL (k-2). Has been placed. Between the two adjacent gate lines GL (k + 1) and the gate line GL (k), the elements constituting the gate driver 11 (k + 1) are arranged in a distributed manner.
  • each element constituting the gate driver 11 (k ⁇ 1) and each element constituting the gate driver 11 (k + 1) are arranged in the pixel PIX in the same column.
  • the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k-1) are connected to the TFT-A to TFT-J constituting the gate driver 11 (k + 1) through the wiring 15L.
  • the elements constituting the gate drivers 11 (k) and 11 (k + 2) and the elements constituting the gate drivers 11 (k ⁇ 1) and 11 (k + 1) are arranged in pixels PIX in different columns.
  • netB (k) of the gate driver 11 (k) intersects the source line SL.
  • the netB (hereinafter referred to as netB (k + 2)) of the gate driver 11 (k + 2) intersects the source line SL. That is, in this embodiment, as shown in FIG. 28, parasitic capacitance C s-netB is formed at the intersection of netB (k) and source line SL and at the intersection of netB (k + 2) and source line SL. ing.
  • netB of the gate driver 11 (k-1) (hereinafter referred to as netB (k-1)) intersects the source line SL.
  • the netB (hereinafter referred to as netB (k + 1)) of the gate driver 11 (k + 1) intersects the source line SL. That is, in the present embodiment, the parasitic capacitance C s-netB is formed at the intersection between netB (k ⁇ 1) and the source line SL and at the intersection between netB (k + 1) and the source line SL.
  • the potentials of netB (k) and netB (k + 2) are as shown in FIG. Therefore, the parasitic capacitance C s-netB formed at the intersection of netB (k + 2) and the source line SL with respect to the data signal transmitted by the source line SL intersecting with netB (k + 2) and netB (k) is kept as it is. And the noise caused by the parasitic capacitance C s-netB formed at the intersection of netB (k) and the source line SL act to strengthen each other.
  • the noise caused by the parasitic capacitance C s-netB formed at the intersection of netB (k ⁇ 1) and the source line SL act to strengthen each other.
  • the wiring 19A is formed between two adjacent gate lines GL (k), GL (k + 1) and between two adjacent gate lines GL (k ⁇ 1), GL (k -2).
  • the wiring 19A extends from the wiring 15L that transmits the clock signal CKA.
  • the wiring 19A intersects the source line SL where netB (k + 2) and netB (k) intersect.
  • netB (k + 2) and netB (k) intersect.
  • only noise caused by one wiring 19A is carried on the data signal transmitted by the source line SL intersecting with netB (k + 2) and netB (k). . That is, in this embodiment, even if netB and the data line SL cross each other, it is difficult for noise to be applied to the data signal transmitted by the data line SL.
  • a wiring 19A is formed between the two.
  • the wiring 19A extends from the wiring 15L that transmits the clock signal CKA and intersects the source line SL that transmits the data signal.
  • the netB (1), netB (3), netB (5), netB (7), and three wirings 19A form one wiring group 21A.
  • a wiring 19B is formed between the two.
  • the wiring 19B extends from the wiring 15L that transmits the clock signal CKB, and intersects the source line SL that transmits the data signal.
  • the netB (1), netB (3), netB (5), netB (7), and the three wirings 19B form one wiring group 21B.
  • the source lines SL are the same. That is, in this application example, eight netBs, three wirings 19A, and three wirings 19B intersect with one source line SL.
  • FIG. 31 is a timing chart showing the relationship between the potential of netB and the clock signals CKA and CKB. Note that the upper part of FIG. 31 shows the relationship between the potential of netB in the wiring group 21A and the clock signal CKA. The lower part of FIG. 31 shows the relationship between the potential of netB in the wiring group 21B and the clock signal CKB.
  • the potential of netB (3) does not change at time t1 and time t2 in the display period. Therefore, noise is canceled at time t1 and time t2.
  • the potential of netB (5) does not change. Therefore, noise is canceled at time t3 and time t4.
  • the potential of netB (7) does not change. Therefore, noise is canceled at time t5 and time t6.
  • the timing t7 and t8 as shown in the portion surrounded by the broken line, only noise due to the potential change of netB (7) is carried on the data signal transmitted by the source line SL.
  • the potential of netB (2) does not change at time t1 in the display period. Therefore, noise is canceled at time t1.
  • the potential of netB (4) does not change. Therefore, noise is canceled at time t2 and time t3.
  • the potential of netB (6) does not change. Therefore, noise is canceled at time t4 and time t5.
  • the potential of netB (8) does not change. Therefore, noise is canceled out.
  • time t8 as indicated by the portion surrounded by the broken line, only noise due to the potential change of netB (8) is carried on the data signal transmitted by the source line SL.
  • FIG. 32 is a schematic diagram illustrating an arrangement example of the wiring 15L.
  • the wiring 15L is disposed at a position where the distance from two adjacent source lines SL is substantially the same.
  • the parasitic capacitance formed between one source line SL and the wiring 15L can be made the same as the parasitic capacitance formed between the other source line SL and the wiring 15L. Therefore, noise caused by these parasitic capacitances can be reduced.
  • the source line SL and the wiring 15L may be bent as shown in FIG.
  • FIG. 34 shows an equivalent circuit of a pixel when the liquid crystal operation mode is the VA system.
  • an auxiliary capacitance wiring 70 is formed in the VA system.
  • the auxiliary capacitance wiring 70 forms an auxiliary capacitance 74 between the pixel electrode 72.
  • the auxiliary capacitor 74 stores charges for maintaining the potential of the pixel electrode 72 at a desired potential when displaying an image.
  • a potential for storing charges in the auxiliary capacitor 74 is applied to the auxiliary capacitor line 70.
  • the auxiliary capacitance wiring 70 intersects the wiring 15L that transmits the clock signal CKA and the wiring 15L that transmits the clock signal CKB.
  • a parasitic capacitance C sl-cl (A) is formed at the intersection of the wiring 15L for transmitting the clock signal CKA and the auxiliary capacitance wiring 70.
  • a parasitic capacitance C sl-cl (B) is formed at the intersection of the wiring 15L for transmitting the clock signal CKB and the auxiliary capacitance wiring 70.
  • the amplitude of the clock signal CKA that is, the potential change ⁇ V (A) in the wiring 15L that transmits the clock signal CKA and the clock so as to satisfy the following expression (13):
  • the amplitude of the signal CKB that is, the potential change ⁇ V (B) in the wiring 15B that transmits the clock signal CKB, the parasitic capacitance C sl-cl (A), and the parasitic capacitance C sl-cl (B) are set. .
  • ⁇ V (A) and ⁇ V (B) are the same size.
  • C sl-cl (A) and C sl-cl (B) have the same size. Therefore, the number of parasitic capacitances C sl-cl (A) and the number of parasitic capacitances C sl-cl (B) , that is, the number of times the wiring 15L for transmitting the clock signal CKA intersects one auxiliary capacitance wiring 70, By making the number of times the wiring 15L for transmitting the clock signal CKB intersects, the noise caused by the parasitic capacitance C sl-cl (A) and the noise caused by the parasitic capacitance C sl-cl (B) are reduced. Counteract each other. As a result, noise is less likely to be superimposed on the potential applied to the wiring 15L that transmits the clock signal CKA and the auxiliary capacitance wiring 70 that intersects the wiring 15L that transmits the clock signal CKB.
  • the potential of the auxiliary capacitance line 70 affects the potential of the pixel electrode 72 via the auxiliary capacitance 74. For this reason, if it becomes difficult for noise to be superimposed on the potential of the auxiliary capacitance wiring 70, the potential of the pixel electrode 72 is less likely to be affected by noise. That is, the voltage applied to the liquid crystal layer is hardly affected by noise.
  • FIG. 35 shows an equivalent circuit of a pixel when the operation mode of the liquid crystal is the IPS method or the FFS method. In these methods, as shown in FIG. 35, a common wiring 80 is formed.
  • the common wiring 80 is formed on the active matrix substrate 20a.
  • the common wiring 80 is electrically connected to the common electrode.
  • the common electrode forms a lateral electric field with the pixel electrode 84.
  • a pixel capacitor 86 is formed between the common wiring 80 and the pixel electrode 84.
  • the pixel capacitor 86 stores charges for maintaining the potential of the pixel electrode 84 at a desired potential when displaying an image. A potential for storing charges in the pixel capacitor 86 is applied to the common wiring 80.
  • the common wiring 80 intersects the wiring 15L that transmits the clock signal CKA and the wiring 15L that transmits the clock signal CKB.
  • a parasitic capacitance C c-cl (A) is formed at the intersection of the wiring 15L for transmitting the clock signal CKA and the common wiring 80.
  • a parasitic capacitance C c-cl (B) is formed at the intersection of the wiring 15L for transmitting the clock signal CKB and the common wiring 80.
  • the amplitude of the clock signal CKA that is, the potential change ⁇ V (A) in the wiring 15L that transmits the clock signal CKA and the clock signal so that the common wiring 80 satisfies the following expression (14):
  • the amplitude of CKB that is, the potential change ⁇ V (B) in the wiring 15B that transmits the clock signal CKB, the parasitic capacitance C c-cl (A), and the parasitic capacitance C c-cl (B) are set.
  • ⁇ V (A) and ⁇ V (B) are the same size.
  • C c-cl (A) and C c-cl (B) have the same size. Therefore, the number of parasitic capacitances C c-cl (A) and the number of parasitic capacitances C c-cl (B) , that is, the number of times the wiring 15L for transmitting the clock signal CKA intersects one common wiring 80, By making the number of crossings of the wiring 15L that transmits the clock signal CKB the same, noise caused by the parasitic capacitance C c-cl (A) and noise caused by the parasitic capacitance C c-cl (B) are canceled out. meet. As a result, noise is less likely to be superimposed on the potential applied to the common wiring 80 that intersects the wiring 15L that transmits the clock signal CKA and the wiring 15L that transmits the clock signal CKB.
  • the potential of the common wiring 80 affects the potential of the pixel electrode 84 via the liquid crystal layer 82 and the pixel capacitor 86. For this reason, if it becomes difficult for noise to be superimposed on the potential of the common wiring 80, the potential of the pixel electrode 84 becomes difficult to be affected by noise. That is, the voltage applied to the liquid crystal layer 82 is hardly affected by noise.
  • the common wiring 80 is formed on the active matrix substrate 20a, and forms a pixel capacitor 86 with the pixel electrode 84. Therefore, the common wiring 80 is formed of a transparent conductive film.
  • the common wiring 80 includes a transparent conductive layer 80A and a plurality of metal wirings 80B.
  • the conductive layer 80A is, for example, an indium tin oxide film.
  • the metal wiring 80B is formed in contact with the conductive layer 80A.
  • the metal wiring 80B has a higher conductivity than the conductive layer 80A, and is made of a metal such as aluminum, for example.
  • the metal wiring 80 ⁇ / b> B extends along the common wiring 80. That is, the metal wiring 80B extends along the conductive layer 80A.
  • the plurality of metal wirings 80B are arranged at a predetermined interval in the width direction of the conductive layer 80A (width direction of the common wiring 80).
  • the sheet resistance of the common wiring 80 can be lowered.
  • the common wiring 80 it is possible to avoid the fluctuation of the potential locally and to cancel out the noises having the opposite phases.
  • FIG. 39 The waveform when switching between the clock signal CKA and the clock signal CKB may be as shown in FIG. Such a waveform is realized by a circuit 90 shown in FIG. 39, for example.
  • the circuit 90 is disposed in the display control circuit 4 (see FIG. 3).
  • the circuit 90 includes a generation unit 92, a signal supply line 941, a signal supply line 942, a switch 94A, a switch 94B, a terminal 94C, a terminal 94D, a connection line 98, a resistor 98A, a switch 98B, Control unit 100.
  • the generation unit 92 generates a clock signal CKA and a clock signal CKB.
  • a signal supply line 941 and a signal supply line 942 are connected to the generation unit 92.
  • the terminal 94C is connected to the signal supply line 941.
  • the terminal 94C is connected to the wiring 15L that transmits the clock signal CKA.
  • a switch 94A is disposed on the signal supply line 941. The switch 94A switches between a state where the wiring 15L for transmitting the clock signal CKA and the generation unit 92 are electrically connected and a state where they are not connected.
  • the terminal 94D is connected to the signal supply line 942.
  • the terminal 94D is connected to the wiring 15L that transmits the clock signal CKB.
  • a switch 94B is disposed on the signal supply line 942. The switch 94B switches between a state where the wiring 15L for transmitting the clock signal CKB and the generation unit 92 are electrically connected and a state where they are not connected.
  • connection line 98 connects the signal supply line 941 and the signal supply line 942.
  • the connection line 98 is provided with a resistor 98A and a switch 98B.
  • the switch 98B switches between a state where the signal supply line 941 and the signal supply line 942 are electrically connected and a state where they are not connected.
  • the control unit 100 controls the operation of the switch 94A, the switch 94B, and the switch 98B. Specifically, it is as follows.
  • the wiring 15L that transmits the clock signal CKA and the wiring 15L that transmits the clock signal CKB are not electrically connected to the generation unit 92.
  • the signal supply line 941 is electrically connected to the signal supply line 942.
  • the wiring 15L that transmits the clock signal CKA and the wiring 15L that transmits the clock signal CKB are electrically connected to the generation unit 92. Further, the signal supply line 941 is not electrically connected to the signal supply line 942.
  • the phase of the clock signal CKA and the clock signal CKB can be switched by moving the charge between the signal supply line 941 and the signal supply line 942. Therefore, power consumption can be suppressed.

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Abstract

 信号にノイズが重畳しにくい表示装置を提供する。表示装置(10)は、複数の信号線(SL)と、複数のゲート線(GL)と、駆動部とを備える。複数のゲート線は、複数の信号線と交差する。駆動部は、複数のゲート線に接続され、複数のゲート線の電位を制御する。駆動部は、複数のゲートドライバ(11)と、複数の配線とを含む。複数のゲートドライバは、表示領域内に配置され、複数のゲート線の各々に少なくとも1つ接続される。複数の配線には、複数のゲートドライバの何れかを動作させるための電位が与えられる。複数の配線は、複数の信号線の何れかと交差し、第1配線(17A)と、第2配線(17B)とを含む。駆動部は、所定のタイミングで、第1配線の電位を切り替える。駆動部は、第1配線の電位を切り替えるタイミングで、第1配線の電位を切り替える方向とは反対の方向に、第2配線の電位を切り替える。

Description

表示装置
 本発明は、表示装置に関し、詳しくは、画像の表示に寄与する信号のノイズ対策に関する。
 近年、例えば、意匠性を向上させる観点から、表示領域が矩形以外の形状を有する表示装置が提案されている。このような表示装置として、例えば、特許第5299730号に記載の面表示装置がある。
 上記面表示装置においては、表示装置要素が、一筆書きの要領で、表示装置基板上に連続して配置されている。表示装置要素は、単位回路と、画素回路とを含む。単位回路は、走査回路を構成する。画素回路は、単位回路の出力ノードに接続されている。
 上記面表示装置においては、走査回路を駆動するためのクロック信号を伝送する配線と、画素の階調を示すデータ信号を伝送する配線との交点が多数存在する。当該交点は、寄生容量を形成する。当該寄生容量により、データ信号が影響を受ける。つまり、上記面表示装置においては、データ信号にノイズが重畳しやすい。
 本発明の目的は、画像の表示に寄与する信号にノイズが重畳しにくい表示装置を提供することである。
 本発明の実施の形態による表示装置は、複数の信号線と、複数のゲート線と、駆動部とを備える。複数の信号線には、画像の表示に寄与する電位が与えられる。複数のゲート線は、複数の信号線とは別に設けられている。駆動部は、複数のゲート線に接続され、複数のゲート線の電位を制御する。駆動部は、複数のゲートドライバと、複数の配線とを含む。複数のゲートドライバは、表示領域内に配置され、複数のゲート線の各々に少なくとも1つ接続される。複数の配線には、複数のゲートドライバの何れかを動作させるための電位が与えられる。複数の配線は、複数の信号線の何れかと交差する。複数の配線は、第1配線と、第2配線とを含む。第2配線は、第1配線と交差する信号線に対して、第1配線とは異なる位置で交差する。駆動部は、所定のタイミングで、第1配線の電位を切り替える。駆動部は、第1配線の電位を切り替えるタイミングで、第1配線の電位を切り替える方向とは反対の方向に、第2配線の電位を切り替える。
 本発明の実施の形態による表示装置は、画像の表示に寄与する信号にノイズが重畳しにくい。
第1の実施の形態による液晶表示装置の概略構成を示す模式図である。 図1に示すアクティブマトリクス基板の概略構成を示す模式図である。 図1に示すアクティブマトリクス基板の概略構成を示す模式図である。 ゲートドライバの等価回路の一例を示す図である。 図4に示すゲートドライバの表示領域内での配置を示す模式図である。 図5の一部を拡大して示す模式図である。 図5の一部であって、図5Aとは異なる部分を拡大して示す模式図である。 図5の一部であって、図5A及び図5Bとは異なる部分を拡大して示す模式図である。 図4に示すゲートドライバがゲート線の電位を制御するときのタイミングチャートである。 複数のソース線と、複数の配線とが交差している状態を示す模式図である。 図7に示す複数のソース線のうちj番目のソース線と、複数の配線とが交差している状態を示す模式図である。 クロック信号CKAを伝送する配線から延びだす配線のみがソース線と交差する状態を示す模式図である。 図9に示す状態でのクロック信号CKA、CKBとノイズとの関係を示すタイミングチャートである。 クロック信号CKAを伝送する配線から延びだす配線、及び、クロック信号CKBを伝送する配線から延びだす配線が、ソース線と交差する状態を示す模式図である。 図11に示す状態でのクロック信号CKA、CKBとノイズとの関係を示すタイミングチャートである。 図4に示すゲートドライバがゲート線の電位を制御するときのタイミングチャートであって、図6に示す場合とは異なる制御をするときのタイミングチャートである。 4相のクロック信号CKA、CKB、CKC、CKDとノイズとの関係を示すタイミングチャートである。 クロック信号CKA、CKBが入力されることで駆動され、ゲート線GL(k)の電位を制御するゲートドライバ11(k)の等価回路の一例を示す図である。 クロック信号CKC、CKDが入力されることで駆動され、ゲート線GL(k+1)の電位を制御するゲートドライバ11(k+1)の等価回路の一例を示す図である。 図15に示すゲートドライバの表示領域内での配置を示す模式図である。 図16に示すゲートドライバの表示領域内での配置を示す模式図である。 図17Aの一部を拡大して示す模式図である。 図17Aの一部であって、図18Aとは異なる部分を拡大して示す模式図である。 図17Aの一部であって、図18A及び図18Bとは異なる部分を拡大して示す模式図である。 図17Bの一部を拡大して示す模式図である。 図17Bの一部であって、図19Aとは異なる部分を拡大して示す模式図である。 図17Bの一部であって、図19A及び図19Bとは異なる部分を拡大して示す模式図である。 図4に示すゲートドライバの表示領域内での配置を示す模式図である。 図20の一部を拡大して示す模式図である。 複数のnetAがソース線と交差する状態を示す模式図である。 図21に示す状態でのnetA(k-1)、netA(k)及びnetA(k+1)の電位とノイズとの関係を示すタイミングチャートである。 図4に示すゲートドライバの表示領域内での配置を示す模式図である。 図23の一部を拡大して示す模式図である。 複数のnetBがソース線と交差する状態を示す模式図である。 図24に示す状態でのnetB(k-1)、netB(k)、netB(k+1)及びnetB(k+2)の電位とノイズとの関係を示すタイミングチャートである。 図4に示すゲートドライバの表示領域内での配置を示す模式図である。 図26の一部を拡大して示す模式図である。 図4に示すゲートドライバの表示領域内での配置を示す模式図である。 図27の一部を拡大して示す模式図である。 netB(k)及びnetB(k+2)がソース線と交差し、且つ、クロック信号を伝送する配線から延びだす配線がソース線と交差する状態を示す模式図である。 図28に示す状態でのnetB(k+2)及びnetB(k)の電位と、クロック信号と、ノイズとの関係を示すタイミングチャートである。 複数のnetBがソース線と交差し、且つ、クロック信号CKAを伝送する配線から延びだす配線がソース線と交差する状態を示す模式図である。 複数のnetBがソース線と交差し、且つ、クロック信号CKBを伝送する配線から延びだす配線がソース線と交差する状態を示す模式図である。 netB(1)~netB(8)の電位と、クロック信号と、ノイズとの関係を示すタイミングチャートである。 画素内における配線の配置例を示す模式図である。 画素内における配線の配置例を示す模式図である。 液晶の動作モードがVA方式である場合の画素の等価回路を示す図面である。 液晶の動作モードがIPS方式又はFFS方式である場合の画素の等価回路を示す図面である。 コモン配線が透明な導電層のみからなる場合を示す説明図である。 コモン配線における電位の変動が局所的にとどまり、互いに逆位相のノイズを相殺できない場合を示す説明図である。 コモン配線が透明な導電層及び金属配線からなる場合を示す説明図である。 コモン配線において互いに逆位相のノイズを相殺できる場合を示す説明図である。 本発明の第8の実施の形態でのクロック信号の位相の切替を示すタイミングチャートである。 図38に示すクロック信号の位相の切替を実現するための回路の一例を示す図面である。
 本発明の実施の形態による表示装置は、複数の信号線と、複数のゲート線と、駆動部とを備える。複数の信号線には、画像の表示に寄与する電位が与えられる。複数のゲート線は、複数の信号線とは別に設けられている。駆動部は、複数のゲート線に接続され、複数のゲート線の電位を制御する。駆動部は、複数のゲートドライバと、複数の配線とを含む。複数のゲートドライバは、表示領域内に配置され、複数のゲート線の各々に少なくとも1つ接続される。複数の配線には、複数のゲートドライバの何れかを動作させるための電位が与えられる。複数の配線は、複数の信号線の何れかと交差する。複数の配線は、第1配線と、第2配線とを含む。第2配線は、第1配線と交差する信号線に対して、第1配線とは異なる位置で交差する。駆動部は、所定のタイミングで、第1配線の電位を切り替える。駆動部は、第1配線の電位を切り替えるタイミングで、第1配線の電位を切り替える方向とは反対の方向に、第2配線の電位を切り替える。
 上記表示装置においては、第1配線と信号線との交点、及び、第2配線と信号線との交点に、寄生容量が形成される。当該寄生容量は、信号線に与えられる電位に影響を及ぼす。この点について、以下に詳しく説明する。
 画像の表示に寄与する電位は、例えば、画素の階調を示すものであってもよいし、画素の階調を維持するために与えられるものであってもよい。このような電位は、例えば、画像の表示に寄与する信号として出力される。つまり、画像の表示に寄与する信号は、例えば、信号線に与えられる電位によって規定される。上記寄生容量により、信号線に与えられる電位が変化する。つまり、信号にノイズが重畳する。そのため、例えば、画像の表示に寄与する電位が画素の階調を示すものである場合、当該電位が変化すると、画素の階調が、所期の階調とならない。その結果、輝度ムラが発生する。
 上記表示装置においては、第1配線と交差する信号線に対して、第2配線が交差する。第1配線の電位と第2配線の電位とが同じタイミングで切り替わる。第1配線の電位と第2配線の電位とは、反対の方向に切り替わる。例えば、第1配線の電位が高くなれば、第2配線の電位が低くなる。第1配線の電位が低くなれば、第2配線の電位が高くなる。そのため、第1配線と信号線との交点に形成される寄生容量に起因する信号のノイズと、第2配線と信号線との交点に形成される寄生容量に起因する信号のノイズとが、互いに打ち消しあうように作用する。つまり、信号にノイズが重畳し難くなる。
 上記第1配線及び第2配線と交差する信号線は、例えば、画像の表示に用いられるデータ信号を伝送するデータ線であってもよい。
 本発明の実施の形態による表示装置は、さらに、複数の画素と、薄膜トランジスタと、画素電極と、補助容量配線とを備えていてもよい。複数の画素は、表示領域内に形成されている。薄膜トランジスタは、複数の画素の各々に配置されている。画素電極は、薄膜トランジスタに接続されている。補助容量配線は、画素電極との間で補助容量を形成する。この場合、第1配線及び第2配線と交差する信号線は、例えば、補助容量配線であってもよい。
 本発明の実施の形態による表示装置は、さらに、複数の画素と、薄膜トランジスタと、画素電極と、コモン配線とを備えていてもよい。複数の画素は、表示領域内に形成されている。薄膜トランジスタは、複数の画素の各々に配置されている。画素電極は、薄膜トランジスタに接続されている。コモン配線は、画素電極が形成された基板と同じ基板に配置され、画素電極との間に画素容量を形成する。この場合、第1配線及び第2配線と交差する信号線は、例えば、コモン配線であってもよい。
 上記態様において、コモン配線は、好ましくは、透明導電層と、複数の金属配線とを含む。複数の金属配線は、透明導電層上に形成されている。複数の金属配線は、コモン配線に沿って延びている。複数の金属配線は、コモン配線の幅方向に所定の間隔で並んでいる。
 この場合、コモン配線が透明導電層のみで形成される場合と比べて、互いに逆位相のノイズを低減することができる。その理由は、以下のとおりである。
 コモン配線が透明導電層のみで形成される場合、コモン配線のシート抵抗が大きくなり、電位変動が局所的に留まる。そのため、互いに逆位相のノイズを低減できないおそれがある。
 これに対して、上記態様では、コモン配線のシート抵抗を下げることができる。そのため、電位変動が局所的に留まるのを回避できる。その結果、互いに逆位相のノイズを低減することができる。
 本発明の実施の形態による表示装置には、第1寄生容量と、第2寄生容量とが形成されていてもよい。第1寄生容量は、第1配線とデータ線との交点に形成される。第2寄生容量は、第1配線が交差するデータ線と、第2配線との交点に形成される。好ましくは、第1寄生容量と第1配線における電位変化量との積と、第2寄生容量と第2配線における電位変化量との積との総和の絶対値が、第1寄生容量と第1配線における電位変化量との積の絶対値、又は、第2寄生容量と第2配線における電位変化量との積の絶対値よりも小さい。
 この場合、寄生容量に起因するノイズを低減することができる。なお、上記総和は、ゼロ又は略ゼロであることが好ましい。
 本発明の実施の形態による表示装置において、好ましくは、複数の配線は、第1配線と同じ数の第2配線を含む。この場合、第1配線と信号線との交点に形成される寄生容量の数と、第2配線と信号線との交点に形成される寄生容量の数とを同じにすることができる。そのため、寄生容量に起因するノイズを低減することができる。
 本発明の実施の形態による表示装置において、駆動部は、信号供給部と、複数の第1クロック信号線と、複数の第2クロック信号線とをさらに含んでいてもよい。信号供給部は、複数のゲートドライバの各々に対して、第1クロック信号と、第1クロック信号とは逆位相の第2クロック信号とを供給する。複数の第1クロック信号線は、第1クロック信号を伝送する。複数の第2クロック信号線は、第2クロック信号を伝送する。複数のゲートドライバの何れかに接続された第1クロック信号線は、複数の信号線の何れかと交差する第1配線部を含む。複数のゲートドライバの何れかに接続された第2クロック信号線は、第1配線部が交差する信号線に対して、第1配線部とは異なる位置で交差する第2配線部を含む。第1配線部が、第1配線である。第2配線部が、第2配線である。
 上記態様において、信号供給部は、好ましくは、生成部と、第1信号供給線と、第1スイッチと、第2信号供給線と、第2スイッチと、接続線と、抵抗と、第3スイッチと、制御部とを備える。生成部は、第1クロック信号及び第2クロック信号を生成する。第1信号供給線は、複数の第1クロック信号線の何れかと生成部とを接続し、第1クロック信号を伝送する。第1スイッチは、第1信号供給線に配置され、第1クロック信号線と生成部とが電気的に接続された状態と接続されていない状態とを切り替える。第2信号供給線は、複数の第2クロック信号線の何れかと生成部とを接続し、第2クロック信号を伝送する。第2スイッチは、第2信号供給線に配置され、第2クロック信号線と生成部とが電気的に接続された状態と接続されていない状態とを切り替える。接続線は、第1信号供給線と第2信号供給線とを接続する。抵抗は、接続線に配置されている。第3スイッチは、接続線に配置され、第1信号供給線と第2信号供給線とが電気的に接続された状態と接続されていない状態とを切り替える。制御部は、第1スイッチ、第2スイッチ及び第3スイッチの動作を制御する。第1クロック信号及び第2クロック信号の位相を切り替えるタイミングでは、第1クロック信号線及び第2クロック信号線が生成部と電気的に接続されておらず、且つ、第1信号供給線が第2信号供給線と電気的に接続された状態とする。第1クロック信号及び第2クロック信号の位相を切り替えるタイミング以外では、第1クロック信号線及び第2クロック信号線が生成部と電気的に接続され、且つ、第1信号供給線が第2信号供給線と電気的に接続されていない状態とする。
 この場合、第1信号供給線と第2信号供給線との間で電荷を移動させることにより、第1クロック信号及び第2クロック信号の位相の切替を補助することができる。そのため、電力の消費を抑えることができる。
 本発明の実施の形態による表示装置において、複数の配線は、第3配線をさらに含んでいてもよい。第3配線は、第1配線及び第2配線が交差する信号線に対して、第1配線及び第2配線とは異なる位置で交差する。表示装置には、第1寄生容量、第2寄生容量及び第3寄生容量が形成されていてもよい。第1寄生容量は、第1配線と信号線との交点に形成される。第2寄生容量は、第1配線が交差する信号線と、第2配線との交点に形成される。第3寄生容量は、第1配線が交差する信号線と、第3配線との交点に形成される。複数のゲートドライバは、第1ゲートドライバと、第2ゲートドライバと、第3ゲートドライバとを含む。第1ゲートドライバは、複数のゲート線の何れかに接続され、第1配線を含む。第2ゲートドライバは、第1ゲートドライバが接続されたゲート線とは異なるゲート線に接続され、第2配線を含む。第3ゲートドライバは、第1ゲートドライバが接続されたゲート線、及び、第2ゲートドライバが接続されたゲート線とは異なるゲート線に接続され、第3配線を含む。駆動部は、第1配線の電位を低くする。駆動部は、第1配線の電位を低くするタイミングで、第2配線の電位を高くする。駆動部は、第1配線の電位を低くするタイミングで、第3配線の電位を高くする。好ましくは、第1寄生容量と第1配線における電位変化量との積と、第2寄生容量と第2配線における電位変化量との積と、第3寄生容量と第3配線における電位変化量との積との総和の絶対値が、第1寄生容量と第1配線における電位変化量との積の絶対値、第2寄生容量と第2配線における電位変化量との積の絶対値、及び、第3寄生容量と第3配線における電位変化量との積の絶対値の何れかよりも小さい。
 この場合、寄生容量に起因するノイズを低減することができる。なお、上記総和は、ゼロ又は略ゼロであることが好ましい。
 本発明の実施の形態による表示装置において、複数の配線は、配線群を含んでいてもよい。配線群は、N本の第1配線と、(N-1)本の第2配線とからなる。好ましくは、駆動部は、N本の第1配線の何れかについては、残りの第1配線及び第2配線において電位を切り替えるタイミングで、電位を切り替えない。
 この場合、寄生容量に起因するノイズを低減することができる。
 駆動部は、信号供給部と、複数のクロック信号線とを含んでいてもよい。信号供給部は、複数のゲートドライバの各々に対して、クロック信号を供給する。複数のクロック信号線は、クロック信号を伝送する。複数のデータ線は、所定の方向に並んで配置される。複数のクロック信号線の各々は、信号線部を含む。信号線部は、所定の方向で隣り合う2つの信号線の間に配置される。好ましくは、所定の方向において、隣り合う2つの信号線の一方と信号線部との離隔距離が、隣り合う2つの信号線の他方と信号線部との離隔距離と同じである。
 この場合、一方の信号線と信号線部との間に形成される寄生容量と、他方の信号線と信号線部との間に形成される寄生容量とを同じにすることができる。そのため、信号にノイズが重畳しにくくなる。
 以下、図面を参照し、本発明の実施の形態を詳しく説明する。図中同一又は相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。
 [第1の実施の形態]
 [液晶表示装置]
 図1を参照しながら、本発明の第1の実施の形態による表示装置としての液晶表示装置1について説明する。図1は、液晶表示装置1の概略構成を示す図面である。
 液晶表示装置1は、表示パネル2、ソースドライバ3、表示制御回路4及び電源5を備える。表示パネル2は、アクティブマトリクス基板20aと、対向基板20bと、これらの基板間に封入された液晶層(図示略)とを含む。
 アクティブマトリクス基板20aは、ソースドライバ3に対して、電気的に接続されている。ソースドライバ3は、例えば、フレキシブル基板に形成されている。表示制御回路4は、表示パネル2、ソースドライバ3及び電源5に対して、電気的に接続されている。表示制御回路4は、ソースドライバ3と、ゲートドライバ11(図3参照)とに対して、制御信号を出力する。ゲートドライバ11は、アクティブマトリクス基板20aに形成されている。制御信号には、例えば、リセット信号(CLR)、クロック信号(CKA,CKB)、データ信号等が含まれる。電源5は、表示パネル2、ソースドライバ3及び表示制御回路4に対して、電気的に接続されている。電源5は、表示パネル2、ソースドライバ3及び表示制御回路4に対して、電源電圧(VSS)を供給する。
 [アクティブマトリクス基板]
 図2及び図3を参照しながら、アクティブマトリクス基板20aについて説明する。図2は、アクティブマトリクス基板20aの概略構成を示す図面である。図3は、ソース線SLの図示を省略したアクティブマトリクス基板20aと、アクティブマトリクス基板20aに接続されている各部の概略構成を示す図面である。
 図2に示すように、アクティブマトリクス基板20aにおいては、複数(本実施形態では、n本)のゲート線GLがY方向に略一定の間隔で形成されている。アクティブマトリクス基板20aにおいては、複数のデータ線としての複数のソース線SLがX方向に略一定の間隔で形成されている。複数のソース線SLは、複数のゲート線GLと交差する。Y方向で隣り合う2つのゲート線GLと、X方向で隣り合う2つのソース線SLとで囲まれる領域が、1つの画素を形成している。対向基板20bが、例えば、赤(R)、緑(G)、青(B)の3色のカラーフィルタを含む場合、各画素は、カラーフィルタのいずれかの色に対応して配置される。つまり、複数のゲート線GL及び複数のソース線SLにより、表示領域が規定されている。
 図3に示すように、ゲートドライバ11は、Y方向で隣り合う2つのゲート線GLの間に形成されている。各ゲート線GLに対して、4つのゲートドライバ11が接続されている。4つのゲートドライバ11は、略等間隔に配置されている。
 アクティブマトリクス基板20aの額縁領域には、端子部12gが形成されている。端子部12gは、制御回路4及び電源5と接続されている。端子部12gには、制御回路4から出力される制御信号や、電源5から出力される電源電圧が入力される。端子部12gに入力された制御信号及び電源電圧は、配線15Lを介して各ゲートドライバ11に供給される。
 ゲートドライバ11は、供給される制御信号に応じて、接続されているゲート線GLに対し、状態信号を出力する。状態信号は、ゲートドライバ11に接続されているゲート線GLが選択された状態であるか否かを示す。また、ゲートドライバ11は、次段のゲート線GLに対し、上記状態信号を出力する。1つのゲート線GLに接続されている4つのゲートドライバ11の動作は、同期している。
 アクティブマトリクス基板20aの額縁領域には、ソースドライバ3とソース線SLとを接続する端子部12sが形成されている。ソースドライバ3は、表示制御回路4から入力される制御信号に応じて、各ソース線SLにデータ信号を出力する。
 [ゲートドライバの構成]
 図4を参照しながら、ゲートドライバ11の構成について説明する。図4は、ゲート線GL(k)とゲート線GL(k-1)の間に配置され、ゲート線GL(k)に接続されているゲートドライバ11(以下、ゲートドライバ11(k)とする)の等価回路の一例を示す図である。ここで、kは、1~nまでの任意の整数である。
 ゲートドライバ11は、複数のスイッチング素子として、アルファベットA~Jで示す薄膜トランジスタ(以下、TFT-A~TFT-J)を含む。ゲートドライバ11は、キャパシタCbstと、内部配線としてのnetA及びnetBをさらに含む。ここで、netAは、TFT-Aのドレインと、TFT-Bのドレインと、TFT-Cのドレインと、キャパシタCbstの一方の電極と、TFT-Fのゲートとを接続する。netBは、TFT-Cのゲートと、TFT-Gのドレインと、TFT-Hのドレインと、TFT-Iのドレインと、TFT-Jのドレインとを接続する。
 TFT-Aにおいて、ゲートには、リセット信号CLRが入力される。ドレインには、netAが接続されている。ソースには、電源電圧VSSが入力される。
 TFT-Bにおいて、ゲート及びソースには、前段のゲート線GL(k-1)が接続されている。つまり、ゲート及びソースには、セット信号SSが入力される。なお、ゲート線GL(1)を駆動するゲートドライバ11のTFT-Bにおいては、セット信号SSとして、表示制御回路4から出力されるゲートスタートパルス信号が入力される。TFT-Bにおいて、ドレインには、netAが接続されている。
 TFT-Cにおいて、ゲートには、netBが接続されている。ドレインには、netAが接続されている。ソースには、電源電圧VSSが入力される。
 TFT-Dにおいて、ゲートには、クロック信号CKBが入力される。ドレインには、ゲート線GL(k)が接続されている。ソースには、電源電圧VSSが入力される。
 TFT-Eにおいて、ゲートには、リセット信号CLRが入力される。ドレインには、ゲート線GL(k)が接続されている。ソースには、電源電圧VSSが入力される。
 TFT-Fにおいて、ゲートには、netAが接続されている。ドレインには、ゲート線GL(k)が接続されている。ソースには、クロック信号CKAが入力される。
 TFT-Gにおいて、ゲート及びソースには、クロック信号CKBが入力される。ドレインには、netBが接続されている。
 TFT-Hにおいて、ゲートには、クロック信号CKAが入力される。ドレインには、netBが接続されている。ソースには、電源電圧VSSが入力される。
 TFT-Iにおいて、ゲートには、リセット信号CLRが入力される。ドレインには、netBが接続されている。ソースには、電源電圧VSSが入力される。
 TFT-Jにおいて、ゲートには、前段のゲート線GL(k-1)が接続されている。つまり、ゲートには、セット信号SSが入力される。ドレインには、netBが接続されている。ソースには、電源電圧VSSが入力される。
 ここで、TFT-Jは、TFT-Gよりも能力が大きく設定されている。具体的には、例えば、以下の(1)~(3)の何れかである。
(1)TFT-Jのチャネル幅がTFT-Gのチャネル幅より大きい。
(2)TFT-Jのチャネル長がTFT-Gのチャネル長より短い。
(3)TFT-Jのチャネル幅がTFT-Gのチャネル幅より大きく、且つ、TFT-Jのチャネル長がTFT-Gのチャネル長より短い。
 キャパシタCbstにおいて、一方の電極は、netAと接続されている。他方の電極は、ゲート線GL(k)と接続されている。
 クロック信号CKAとクロック信号CKBは、一水平走査期間毎に位相が反転する2相のクロック信号である(図6参照)。図4は、ゲートドライバ11(k)を示しているが、後段のゲートドライバ11(k+1)及び前段のゲートドライバ11(k-1)では、TFT-Dのゲートに入力されるクロック信号は、クロック信号CKAである。TFT-Fのソースに入力されるクロック信号は、クロック信号CKBである。TFT-Gのゲート及びソースに入力されるクロック信号は、クロック信号CKAである。TFT-Hのゲートに入力されるクロック信号は、クロック信号CKBである。
 [ゲートドライバの配置]
 図5を参照しながら、表示領域内でのゲートドライバ11の配置について説明する。図5は、表示領域内でのゲートドライバ11の配置を示す模式図である。なお、図5におけるアルファベットA~Jは、図4に示すTFT-A~TFT-Jに対応している。
 隣り合う2つのゲート線GLの間には、ゲートドライバ11を構成する各素子が分散して配置されている。図5に示す例では、ゲートドライバ11(k-1)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k+1)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k+2)を構成する各素子とは、同じ列の画素PIXに配置されている。ゲートドライバ11(k-1)を構成するTFT-A~TFT-Jは、配線15Lを介して、ゲートドライバ11(k)を構成するTFT-A~TFT-Jと、ゲートドライバ11(k+1)を構成するTFT-A~TFT-Jと、ゲートドライバ11(k+2)を構成するTFT-A~TFT-Jとに接続されている。配線L、netA及びnetBは、例えば、層間コンタクトを介して、ソース線SLが形成された層と、ソース線SLが形成された層とは異なる層とに形成される。これにより、配線L、netA及びnetBと、ソース線SLとの電気的な短絡が回避される。
 [ゲートドライバの動作]
 図4及び図6を参照しながら、ゲートドライバ11の動作について説明する。図6は、ゲートドライバ11(k)がゲート線GL(k)の電位を制御するときのタイミングチャートである。
 ゲートドライバ11(k)には、表示制御回路4から供給され、一水平走査期間(1H)毎に位相が反転するクロック信号CKA、CKBが入力される。なお、図6では図示を省略しているが、ゲートドライバ11(k)には、表示制御回路4から供給され、一垂直走査期間毎に一定期間H(High)レベルとなるリセット信号CLRが入力される。リセット信号CLRが入力されることにより、netA、netB及びゲート線GL(k)の電位は、L(Low)レベルになる。
 図6の時刻t0からt1において、Lレベルのクロック信号CKAがTFT-Fのソース及びTFT-Hのゲートに入力される。また、Hレベルのクロック信号CKBがTFT-Dのゲート、及び、TFT-Gのゲート及びソースに入力される。これにより、TFT-Gがオンになり、TFT-Hがオフになる。その結果、netBの電位がHレベルになる。また、TFT-Cがオンになることで、netAの電位がLレベルになる。さらに、TFT-Dがオンになり、且つ、TFT-Fがオフになることで、ゲート線GL(k)の電位がLレベルになる。つまり、ゲート線GL(k)が非選択の状態となる。
 図6の時刻t1において、クロック信号CKAがHレベルとなり、クロック信号CKBがLレベルになる。これにより、TFT-Gがオフになり、TFT-Hがオンになる。その結果、netBの電位がLレベルになる。また、TFT-Cがオフになることで、netAの電位がLレベルに維持される。さらに、TFT-Dがオフになることで、ゲート線GL(k)の電位がLレベルに維持される。
 図6の時刻t2において、クロック信号CKAがLレベル、クロック信号CKBがHレベルになる。このタイミングで、ゲート線GL(k-1)を介して、セット信号SSが、TFT-Bのゲート及びソースと、TFT-Jのゲートとに、入力される。その結果、TFT-Bがオンになり、netAの電位がHレベルからTFT-Bの閾値電圧Vthを差し引いたレベルになる。また、TFT-J及びTFT-Gがオンになり、TFT-Hがオフになる。ここで、TFT-Jは、TFT-Gよりも能力が大きい。そのため、netBの電位がLレベルに維持される。また、TFT-C及びTFT-Fはオフになる。これにより、netAの電位が維持される。このとき、TFT-Dはオンになっている。これにより、ゲート線GL(k)の電位がLレベルに維持される。
 図6の時刻t3において、クロック信号CKAがHレベルとなり、クロック信号CKBがLレベルとなる。これにより、TFT-Fがオンになり、TFT-Dがオフになる。netAとゲート線GL(k)との間には、キャパシタCbstが配置されている。そのため、TFT-Fのドレインの電位が上昇するのに伴って、netAの電位はクロック信号CKAのHレベルよりも高くなる。このとき、TFT-G及びTFT-Jがオフになり、TFT-Hがオンになる。これにより、netBの電位がLレベルに維持される。また、TFT-Cはオフである。これにより、ゲート線GL(k)の電位がHレベルになる。つまり、ゲート線GL(k)が選択された状態となる。
 図6の時刻t4において、クロック信号CKAがLレベルとなり、クロック信号CKBがHレベルになる。これにより、TFT-Gがオンになり、TFT-Hがオフになる。その結果、netBの電位がHレベルになる。netBの電位がHレベルになることにより、TFT-Cがオンになり、netAの電位がLレベルになる。このとき、TFT-Dがオンになり、TFT-Fがオフになる。これにより、ゲート線GL(k)の電位がLレベルになる。つまり、ゲート線GL(k)が選択されていない状態となる。
 このようにして、ゲートドライバ11(k)からセット信号SSがゲート線GL(k)に出力されることにより、ゲート線GL(k)が選択された状態となる。液晶表示装置1は、複数のゲートドライバ11によって複数のゲート線GLを順次走査し、ソースドライバ3によって各ソース線SLにデータ信号を供給することにより表示パネル2に画像を表示する。
 [データ信号のノイズ対策]
 図5Aは、図5の一部を拡大して示す模式図である。図5Bは、図5の一部であって、図5Aとは異なる部分を拡大して示す模式図である。図5Cは、図5の一部であって、図5A及び図5Bとは異なる部分を拡大して示す模式図である。
 ゲートドライバ11を表示領域内に配置する場合、図5A、図5B及び図5Cにおいて破線で囲んだ部分に示すように、クロック信号CKAを伝送する配線17A、及び、クロック信号CKBを伝送する配線17Bは、ソース線SLと交差する。配線17Aは、クロック信号CKAを伝送する配線15LからX方向に延び出している。配線17Bは、クロック信号CKBを伝送する配線15LからX方向に延び出している。配線17Aとソース線SLとの交点には、寄生容量Cs-cl(A)が形成されている。配線17Bとソース線SLとの交点には、寄生容量Cs-cl(B)が形成されている。
 本実施形態では、各ソース線SLについて、以下の式(1)を満たすように、クロック信号CKAの振幅、つまり、配線17Aにおける電位の変化量ΔV(A)と、クロック信号CKBの振幅、つまり、配線17Bにおける電位の変化量ΔV(B)と、寄生容量Cs-cl(A)と、寄生容量Cs-cl(B)とを設定する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 本実施形態では、ΔV(A)と、ΔV(B)とは同じ大きさである。Cs-cl(A)と、Cs-cl(B)とは同じ大きさである。したがって、寄生容量Cs-cl(A)の数と寄生容量Cs-cl(B)の数、つまり、1つのソース線SLに対して、配線17Aが交わる回数と、配線17Bが交わる回数とを同じにすることにより、寄生容量Cs-cl(A)に起因するノイズと、寄生容量Cs-cl(B)に起因するノイズとが打ち消しあう。その結果、複数のソース線SLのうち、配線17A及び配線17Bと交差するソース線SLが伝送するデータ信号にノイズが重畳しにくくなる。以下、その理由について説明する。
 図7は、複数のソース線SLと、複数の配線17Lとが交差している状態を示す模式図である。図8は、図7に示す複数のソース線SLのうちj番目のソース線SL(以下、ソース線SL(j)とする)と、複数の配線17Lとが交差している状態を示す模式図である。ここで、配線17Lは、所定のタイミングで電位が切り替わる配線である。具体的には、例えば、上記の配線17A又は配線17Bである。
 図8に示すように、ソース線SLにおいては、各配線17Lとの交点に、寄生容量C が形成される。ソース線SL(j)と、対向基板20bに配置される共通電極との間に、寄生容量Cparajが形成される。ソース線SL(j)の寄生容量のうち、i番目の配線17L(以下、配線17L(i)とする)との寄生容量を除いたものは、以下の式(2)で表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
  ソース線SL(j)において、配線17L(i)に起因するノイズは、以下の式(3)で表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
 ソース線SL(j)において、複数の配線17Lに起因するノイズは、以下の式(4)で表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
 配線17Lの数が多い場合や、共通電極との寄生容量が大きい場合には、任意のiに対して、以下の式(5)が成立する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005
 このとき、寄生容量をiに因らないものとすることが近似できる。その結果、以下の式(6)が成立する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000006
 このとき、ソース線SL(j)において、複数の配線17Lに起因するノイズは、以下の式(7)で表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000007
 つまり、ノイズを低減するためには、以下の式(8)が成立すればよい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000008
 ここで、全てのiについて、ソース線SLと各配線17Lとの交点に形成される寄生容量の大きさが等しい場合には、以下の式(9)が成立する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000009
 このとき、ソース線SL(j)において、複数の配線17Lに起因するノイズは、以下の式(10)で表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000010
 つまり、ノイズを低減するためには、以下の式(11)が成立すればよい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000011
 図9は、配線17Aのみがソース線SLと交差する状態を示す模式図である。図10は、図9に示す状態でのクロック信号CKA、CKBとノイズとの関係を示すタイミングチャートである。図11は、配線17A及び配線17Bがソース線SLと交差する状態を示す模式図である。図12は、図11に示す状態でのクロック信号CKA、CKBとノイズとの関係を示すタイミングチャートである。
 図9に示すように、配線17Aのみがソース線SLと交差する場合を想定する。この場合、図10に示すように、ソース線SLが伝送するデータ信号には、寄生容量Cs-cl(A)に起因するノイズだけがのる。当該ノイズは、クロック信号CKAが切り替わるときに発生する。
 続いて、図11に示すように、配線17A及び配線17Bがソース線SLと交差する場合を想定する。この場合図12に示すように、ソース線SLが伝送するデータ信号には、寄生容量Cs-cl(A)に起因するノイズと、寄生容量Cs-cl(B)に起因するノイズとがのる。
 ここで、クロック信号CKAの電位が高くなるときには、クロック信号CKBの電位が低くなる。クロック信号CKAの電位が低くなるときには、クロック信号CKBの電位が高くなる。寄生容量Cs-cl(A)に起因するノイズは、クロック信号CKAが切り替わるときに発生する。寄生容量Cs-cl(B)に起因するノイズは、クロック信号CKBが切り替わるときに発生する。したがって、寄生容量Cs-cl(A)に起因するノイズと、寄生容量Cs-cl(B)に起因するノイズとは、同じタイミングで発生し、一方が他方を打ち消すように作用する。
 上述のように、本実施形態では、クロック信号CKAの振幅ΔV(A)と、クロック信号CKBの振幅ΔV(B)とは同じ大きさである。寄生容量Cs-cl(A)と、寄生容量Cs-cl(B)とは同じ大きさである。寄生容量Cs-cl(A)の数と寄生容量Cs-cl(B)の数とが同じである。したがって、寄生容量Cs-cl(A)に起因するノイズと、寄生容量Cs-cl(B)に起因するノイズとの総和は、図12に示すように、ゼロになる。
 本実施形態では、図5A、図5B及び図5Cにおいて一点鎖線で囲んだ部分に示すように、配線17Aを延長してソース線SLと交差させ、且つ、配線17Bを延長してソース線SLと交差させる。これにより、図5A、図5B及び図5Cにおいて二点鎖線で囲んだ部分に示すように、1つのソース線SLにおいて、配線17Aが交差する回数と、配線17Bが交差する回数とを同じにすることができる。つまり、1つのソース線SL上における寄生容量Cs-cl(A)の数と寄生容量Cs-cl(B)の数とを同じにすることができる。
 [第1の実施の形態の応用例1]
 第1の実施の形態では、クロック信号CKA、CKBの電位は、HレベルとLレベルしかなかったが、例えば、図13に示すように、Hレベル及びLレベルに加えて、HレベルとLレベルとの中間の電位に設定されてもよい。
 [第1の実施の形態の応用例2]
 第1の実施の形態では、2相のクロック信号CKA、CKBをゲートドライバ11に供給する場合について説明したが、例えば、4相のクロック信号CKA、CKB、CKC、CKDをゲートドライバ11に供給してもよい。
 この場合、図14に示すように、各クロック信号CKA、CKB、CKC、CKDは、2水平期間(2H)ごとにHレベルとLレベルとを繰り返す。クロック信号CKAと、クロック信号CKBとは、互いに逆位相となる。クロック信号CKCと、クロック信号CKDとは、互いに逆位相となる。クロック信号CKAと、クロック信号CKCとは、位相が1/4ずれている。クロック信号CKBと、クロック信号CKDとは、位相が1/4ずれている。
 図15には、クロック信号CKA、CKBが入力されることで駆動され、ゲート線GL(k)の電位を制御するゲートドライバ11(k)が示されている。図15に示すゲートドライバ11(k)は、図4に示すゲートドライバと比べて、セット信号SSがゲート線GL(k-2)から入力される。つまり、クロック信号CKA、CKBが入力されることで駆動されるゲートドライバには、2段前のゲート線GLからセット信号SSが入力される。
 図16には、クロック信号CKC、CKDが入力されることで駆動され、ゲート線GL(k+1)の電位を制御するゲートドライバ11(k+1)が示されている。図16に示すゲートドライバ11(k+1)は、図4に示すゲートドライバ11と比べて、クロック信号CKAの代わりに、クロック信号CKCが入力される。クロック信号CKBの代わりに、クロック信号CKDが入力される。セット信号SSがゲート線GL(k-1)から入力される。つまり、クロック信号CKC、CKCが入力されることで駆動されるゲートドライバには、2段前のゲート線GLからセット信号SSが入力される。
 図17Aには、クロック信号CKA、CKBが入力されることで駆動されるゲートドライバ11(k)、11(k+2)の表示領域内での配置が示されている。なお、図17AにおけるアルファベットA~Jは、図15に示すTFT-A~TFT-Jに対応している。
 ゲートドライバ11(k)は、ゲート線GL(k)の電位を制御する。ゲートドライバ11(k+2)は、ゲート線GL(k+2)の電位を制御する。隣り合う2つのゲート線GL(k)とゲート線GL(k-1)との間には、ゲートドライバ11(k)を構成する各素子が分散して配置されている。隣り合う2つのゲート線GL(k+2)とゲート線GL(k+1)との間には、ゲートドライバ11(k+2)を構成する各素子が分散して配置されている。ゲートドライバ11(k)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k+2)を構成する各素子とは、同じ列の画素PIXに配置されている。ゲートドライバ11(k)を構成するTFT-A~TFT-Jは、配線15Lを介して、ゲートドライバ11(k+2)を構成するTFT-A~TFT-Jと接続されている。
 図17Bには、クロック信号CKC、CKDが入力されることで駆動されるゲートドライバ11(k-1)、11(k+1)の表示領域内での配置が示されている。なお、図17BにおけるアルファベットA~Jは、図16に示すTFT-A~TFT-Jに対応している。
 ゲートドライバ11(k-1)は、ゲート線GL(k-1)の電位を制御する。ゲートドライバ11(k+1)は、ゲート線GL(k+1)の電位を制御する。隣り合う2つのゲート線GL(k-1)とゲート線GL(k-2)との間には、ゲートドライバ11(k-1)を構成する各素子が分散して配置されている。隣り合う2つのゲート線GL(k+1)とゲート線GL(k)との間には、ゲートドライバ11(k+1)を構成する各素子が分散して配置されている。ゲートドライバ11(k-1)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k+1)を構成する各素子とは、同じ列の画素PIXに配置されている。ゲートドライバ11(k-1)を構成するTFT-A~TFT-Jは、配線15Lを介して、ゲートドライバ11(k+1)を構成するTFT-A~TFT-Jと接続されている。
 図17A及び図17Bに示すように、クロック信号CKA、CKBが入力されることで駆動されるゲートドライバ11を構成する各素子は、クロック信号CKC、CKDが入力されることで駆動されるゲートドライバ11を構成する各素子とは、異なる列の画素PIXに配置されている。
 図18Aは、図17Aの一部を拡大して示す模式図である。図18Bは、図17Aの一部であって、図18Aとは異なる部分を拡大して示す模式図である。図18Cは、図17Aの一部であって、図18A及び図18Bとは異なる部分を拡大して示す模式図である。図19Aは、図17Bの一部を拡大して示す模式図である。図19Bは、図17Bの一部であって、図19Aとは異なる部分を拡大して示す模式図である。図19Cは、図17Bの一部であって、図19A及び図19Bとは異なる部分を拡大して示す模式図である。
 本応用例では、図18A、図18B及び図18Cにおいて一点鎖線で囲んだ部分に示すように、配線17Aを延長してソース線SLと交差させ、且つ、配線17Bを延長してソース線SLと交差させる。これにより、図18A、図18B及び図18Cにおいて二点鎖線で囲んだ部分に示すように、1つのソース線SLにおいて、配線17Aが交差する回数と、配線17Bが交差する回数とを同じにすることができる。つまり、1つのソース線SL上における寄生容量Cs-cl(A)の数と寄生容量Cs-cl(B)の数とを同じにすることができる。したがって、上述の式(1)を満たすように、クロック信号CKAの振幅、つまり、クロック信号CKAにおける電位の変化量ΔV(A)と、クロック信号CKBの振幅、つまり、クロック信号CKBにおける電位の変化量ΔV(B)と、寄生容量Cs-cl(A)と、寄生容量Cs-cl(B)とを設定することにより、寄生容量Cs-cl(A)に起因するノイズと、寄生容量Cs-cl(B)に起因するノイズとが打ち消しあう。その結果、複数のソース線SLのうち、配線17A及び配線17Bと交差するソース線SLが伝送するデータ信号にノイズが重畳しにくくなる。
 本応用例では、図19A、図19B及び図19Cにおいて一点鎖線で囲んだ部分に示すように、配線17Cを延長してソース線SLと交差させ、且つ、配線17Dを延長してソース線SLと交差させる。配線17Cは、クロック信号CKCを伝送する配線15LからX方向に延び出している。配線17Dは、クロック信号CKDを伝送する配線15LからX方向に延び出している。配線17Cとソース線SLとの交点には、寄生容量Cs-cl(C)が形成されている。配線17Dとソース線SLとの交点には、寄生容量Cs-cl(D)が形成されている。上述のように、配線17Cを延長してソース線SLと交差させ、且つ、配線17Dを延長してソース線SLと交差させることにより、図19A、図19B及び図19Cにおいて二点鎖線で囲んだ部分に示すように、1つのソース線SLにおいて、配線17Cが交差する回数と、配線17Dが交差する回数とを同じにすることができる。つまり、1つのソース線SL上における寄生容量Cs-cl(C)の数と寄生容量Cs-cl(D)の数とを同じにすることができる。
 本応用例では、各ソース線SLについて、以下の式(12)を満たすように、クロック信号CKCの振幅、つまり、配線17Cにおける電位の変化量ΔV(C)と、クロック信号CKDの振幅、つまり、配線17Dにおける電位の変化量ΔV(D)と、寄生容量Cs-cl(C)と、寄生容量Cs-cl(D)とを設定する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000012
 本応用例では、ΔV(C)と、ΔV(D)とは同じ大きさである。Cs-cl(C)と、Cs-cl(D)とは同じ大きさである。寄生容量Cs-cl(C)の数と寄生容量Cs-cl(D)の数、つまり、1つのソース線SLに対して、配線17Cが交わる回数と、配線17Dが交わる回数とは同じである。そのため、寄生容量Cs-cl(C)に起因するノイズと、寄生容量Cs-cl(D)に起因するノイズとが打ち消しあう。その結果、複数のソース線SLのうち、配線17C及び配線17Dと交差するソース線SLが伝送するデータ信号にノイズが重畳しにくくなる。
 [第2の実施の形態]
 第1の実施の形態では、クロック信号CKA、CKBを伝送する配線15Lから延びだす配線17A、17Bとソース線SLとが交差する場合について説明した。第2の実施の形態では、netAがソース線SLと交差する場合のノイズ対策について説明する。
 [ゲートドライバの配置]
 図20を参照しながら、表示領域内でのゲートドライバ11の配置について説明する。図20は、表示領域内でのゲートドライバ11の配置を示す模式図である。なお、図20におけるアルファベットA~Jは、図4に示すTFT-A~TFT-Jに対応している。
 隣り合う2つのゲート線GLの間には、ゲートドライバ11を構成する各素子が分散して配置されている。図20に示す例では、ゲートドライバ11(k-1)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k+1)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k+2)を構成する各素子とは、同じ列の画素PIXに配置されている。ゲートドライバ11(k-1)を構成するTFT-A~TFT-Jは、配線15Lを介して、ゲートドライバ11(k)を構成するTFT-A~TFT-Jと、ゲートドライバ11(k+1)を構成するTFT-A~TFT-Jと、ゲートドライバ11(k+2)を構成するTFT-A~TFT-Jと接続されている。
 図20Aに示すように、ゲートドライバ11(k-1)のnetA(以下、netA(k-1)とする)は、ソース線SLと交差する。ゲートドライバ11(k)のnetA(以下、netA(k)とする)は、ソース線SLと交差する。ゲートドライバ11(k+1)のnetA(以下、netA(k+1)とする)は、ソース線SLと交差する。ゲートドライバ11(k+2)のnetA(以下、netA(k+2)とする)は、ソース線SLと交差する。つまり、本実施形態では、図21に示すように、各ゲートドライバ11のnetAとソース線SLとの交点に、寄生容量Cs-netAが形成されている。
 [データ信号のノイズ対策]
 上述のように、本実施形態では、各ゲートドライバ11のnetAとソース線SLとの交点に、寄生容量Cs-netAが形成されている。そのため、このままでは、ソース線SLが伝送するデータ信号に対して、寄生容量Cs-netAに起因するノイズがのる。
 そこで、本実施形態では、1つのソース線SLと交差する複数のnetAのうち、3つのnetAにおいて、1つのnetAの電位が低くなるタイミングで、他の2つのnetAの電位を高くする。具体的には、例えば、図22において破線で囲んだ部分に示すように、netA(k-1)の電位が低くなるタイミング(図22中の時刻t2)で、netA(k)の電位を高くし、且つ、netA(k+1)の電位を高くする。このとき、netA(k-1)の電位変化量と、netA(k)の電位変化量と、netA(k+1)の電位変化量との総和をゼロにする。つまり、電位を低くしたnetAの電位変化量と、電位を高くしたnetAの電位変化量との総和をゼロにする。
 また、上記3つのnetAの各々とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netAの大きさを同じにする。具体的には、上記の例では、netA(k-1)とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netA(以下、寄生容量Cs-netA(k-1)とする)の大きさと、netA(k)とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netA(以下、寄生容量Cs-netA(k)とする)の大きさと、netA(k+1)とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netA(以下、寄生容量Cs-netA(k+1)とする)の大きさとを同じにする。
 これにより、図22中の時刻t2の時点では、寄生容量Cs-netA(k-1)に起因するノイズに対して、寄生容量Cs-netA(k)に起因するノイズと、寄生容量Cs-netA(k+1)に起因するノイズとが打ち消しあうように作用する。同様に、他の時刻においても、寄生容量Cs-netAに起因するノイズが打ち消しあう。したがって、本実施形態では、netAとソース線SLとが交差していても、ソース線SLが伝送するデータ信号にノイズがのり難くなる。
 [第3の実施の形態]
 第1の実施の形態では、クロック信号CKA、CKBを伝送する配線15Lから延びだす配線17A、17Bとソース線SLとが交差する場合について説明した。第3の実施の形態では、netBがソース線SLと交差する場合のノイズ対策について説明する。
 [ゲートドライバの配置]
 図23を参照しながら、表示領域内でのゲートドライバ11の配置について説明する。図23は、表示領域内でのゲートドライバ11の配置を示す模式図である。なお、図23におけるアルファベットA~Jは、図4に示すTFT-A~TFT-Jに対応している。
 隣り合う2つのゲート線GLの間には、ゲートドライバ11を構成する各素子が分散して配置されている。図23に示す例では、ゲートドライバ11(k-1)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k+1)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k+2)を構成する各素子とは、同じ列の画素PIXに配置されている。ゲートドライバ11(k-1)を構成するTFT-A~TFT-Jは、配線15Lを介して、ゲートドライバ11(k)を構成するTFT-A~TFT-Jと、ゲートドライバ11(k+1)を構成するTFT-A~TFT-Jと、ゲートドライバ11(k+2)を構成するTFT-A~TFT-Jとに接続されている。
 図23Aに示すように、ゲートドライバ11(k-1)のnetB(以下、netB(k-1)とする)は、ソース線SLと交差する。ゲートドライバ11(k)のnetB(以下、netB(k)とする)は、ソース線SLと交差する。ゲートドライバ11(k+1)のnetB(以下、netB(k+1)とする)は、ソース線SLと交差する。ゲートドライバ11(k+2)のnetB(以下、netB(k+2)とする)は、ソース線SLと交差する。つまり、本実施形態では、図24に示すように、各ゲートドライバ11のnetBとソース線SLとの交点に、寄生容量Cs-netBが形成されている。
 [データ信号のノイズ対策]
 上述のように、本実施形態では、各ゲートドライバ11のnetBとソース線SLとの交点に、寄生容量Cs-netBが形成されている。そのため、このままでは、ソース線SLが伝送するデータ信号に対して、寄生容量Cs-netBに起因するノイズがのる。
 そこで、本実施形態では、図25に示すように、netB(k-1)、netB(k)、netB(k+1)及びnetB(k+2)の何れか2つにおいて、一方の電位が高くなるタイミングで、他方の電位を低くする。例えば、図25の時刻t1では、netB(k-1)及びnetB(k+1)の電位が低くなり、netB(k)及びnetB(k+2)の電位が高くなる。例えば、図25の時刻t6では、netB(k-1)の電位が高くなり、netB(k+2)の電位が低くなる。
 本実施形態では、netB(k-1)、netB(k)、netB(k+1)及びnetB(k+2)の何れか2つにおいて、一方の電位変化量と、他方の電位変化量との総和をゼロにする。また、netB(k-1)とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netB(以下、寄生容量Cs-netB(k-1)とする)の大きさと、netB(k)とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netB(以下、寄生容量Cs-netB(k)とする)の大きさと、netB(k+1)とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netB(以下、寄生容量Cs-netB(k+1)とする)の大きさと、netB(k+2)とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netB(以下、寄生容量Cs-netB(k+2)とする)の大きさとを同じにする。
 これにより、寄生容量Cs-netB(k-1)、寄生容量Cs-netB(k)、寄生容量Cs-netB(k+1)及び寄生容量Cs-netB(k+2)のうちの何れか2つにおいて、一方の寄生容量Cs-netBに起因するノイズと、他方の寄生容量Cs-netBに起因するノイズとが打ち消しあうように作用する。例えば、図25の時刻t1では、寄生容量Cs-netB(k-1)に起因するノイズと、寄生容量Cs-netB(k)に起因するノイズとが打ち消しあい、寄生容量Cs-netB(k+1)に起因するノイズと、寄生容量Cs-netB(k+2)に起因するノイズとが打ち消しあう。したがって、本実施形態では、netBとデータ線SLとが交差していても、データ線SLが伝送するデータ信号にノイズがのり難くなる。
 [第3の実施の形態の応用例1]
 本応用例では、図26に示すように、隣り合う2つのゲート線GL(k)とゲート線GL(k-1)との間に、ゲートドライバ11(k)を構成する各素子が分散して配置されている。隣り合う2つのゲート線GL(k+2)とゲート線GL(k+1)との間に、ゲートドライバ11(k+2)を構成する各素子が分散して配置されている。なお、図26におけるアルファベットA~C、F~Jは、図4に示すTFT-A~TFT-C、TFT-F~TFT-Jに対応している。図26では、TFT-D及びTFT-Eの図示は省略している。
 ゲートドライバ11(k)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k+2)を構成する各素子とは、同じ列の画素PIXに配置されている。ゲートドライバ11(k)を構成するTFT-A~TFT-Jは、配線15Lを介して、ゲートドライバ11(k+2)を構成するTFT-A~TFT-Jと接続されている。
 本応用例では、隣り合う2つのゲート線GL(k-1)とゲート線GL(k-2)との間に、ゲートドライバ11(k-1)を構成する各素子が分散して配置されている。隣り合う2つのゲート線GL(k+1)とゲート線GL(k)との間に、ゲートドライバ11(k+1)を構成する各素子が分散して配置されている。
 ゲートドライバ11(k-1)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k+1)を構成する各素子とは、同じ列の画素PIXに配置されている。ゲートドライバ11(k-1)を構成するTFT-A~TFT-Jは、配線15Lを介して、ゲートドライバ11(k+1)を構成するTFT-A~TFT-Jと接続されている。
 ゲートドライバ11(k)、11(k+2)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k-1)、11(k+1)を構成する各素子とは、異なる列の画素PIXに配置されている。
 本応用例において、netB(k-1)、netB(k)、netB(k+1)及びnetB(k+2)の電位は、図25に示すとおりである。そのため、このままでは、netB(k+2)及びnetB(k)と交差するソース線SLが伝送するデータ信号に対して、netB(k+2)とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netBに起因するノイズと、netB(k)とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netBに起因するノイズとが、互いに強めあうように作用する。netB(k+1)及びnetB(k-1)と交差するソース線SLが伝送するデータ信号に対して、netB(k+1)とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netBに起因するノイズと、netB(k-1)とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netBに起因するノイズとが、互いに強めあうように作用する。
 そこで、本応用例では、図26Aに示すように、netB(k-1)及びnetB(k+1)を延長して、一点鎖線で囲んだ部分に示すように、netB(k)及びnetB(k+2)が交差するソース線SLと交差させる。netB(k)及びnetB(k+2)を延長して、一点鎖線で囲んだ部分に示すように、netB(k-1)及びnetB(k+1)が交差するソース線SLと交差させる。つまり、図24に示すように、1つのソース線SLに対して、netB(k-1)、netB(k)、netB(k+1)及びnetB(k+2)を交差させる。これにより、第3の実施の形態と同様に、netBとデータ線SLとが交差していても、データ線SLが伝送するデータ信号にノイズがのり難くなる。
 [第4の実施の形態]
 第1の実施の形態では、クロック信号CKA、CKBを伝送する配線15Lから延びだす配線17A、17Bとソース線SLとが交差する場合について説明した。第4の実施の形態では、netBがソース線SLと交差する場合のノイズ対策について説明する。
 [ゲートドライバの配置]
 図27を参照しながら、表示領域内でのゲートドライバ11の配置について説明する。図27は、表示領域内でのゲートドライバ11の配置を示す模式図である。なお、図27におけるアルファベットA~C、F~Jは、図4に示すTFT-A~TFT-C、TFT-F~TFT-Jに対応している。図27では、TFT-D及びTFT-Eの図示は省略している。
 隣り合う2つのゲート線GL(k)とゲート線GL(k-1)との間に、ゲートドライバ11(k)を構成する各素子が分散して配置されている。隣り合う2つのゲート線GL(k+2)とゲート線GL(k+1)との間に、ゲートドライバ11(k+2)を構成する各素子が分散して配置されている。
 ゲートドライバ11(k)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k+2)を構成する各素子とは、同じ列の画素PIXに配置されている。ゲートドライバ11(k)を構成するTFT-A~TFT-Jは、配線15Lを介して、ゲートドライバ11(k+2)を構成するTFT-A~TFT-Jと接続されている。
 図示はしていないが、隣り合う2つのゲート線GL(k-1)とゲート線GL(k-2)との間に、ゲートドライバ11(k-1)を構成する各素子が分散して配置されている。隣り合う2つのゲート線GL(k+1)とゲート線GL(k)との間に、ゲートドライバ11(k+1)を構成する各素子が分散して配置されている。
 図示はしていないが、ゲートドライバ11(k-1)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k+1)を構成する各素子とは、同じ列の画素PIXに配置されている。ゲートドライバ11(k-1)を構成するTFT-A~TFT-Jは、配線15Lを介して、ゲートドライバ11(k+1)を構成するTFT-A~TFT-Jと接続されている。
 ゲートドライバ11(k)、11(k+2)を構成する各素子と、ゲートドライバ11(k-1)、11(k+1)を構成する各素子とは、異なる列の画素PIXに配置されている。
 図27Aに示すように、ゲートドライバ11(k)のnetB(以下、netB(k)とする)は、ソース線SLと交差する。ゲートドライバ11(k+2)のnetB(以下、netB(k+2)とする)は、ソース線SLと交差する。つまり、本実施形態では、図28に示すように、netB(k)とソース線SLとの交点、及び、netB(k+2)とソース線SLとの交点に、寄生容量Cs-netBが形成されている。
 図示はしていないが、ゲートドライバ11(k-1)のnetB(以下、netB(k-1)とする)は、ソース線SLと交差する。ゲートドライバ11(k+1)のnetB(以下、netB(k+1)とする)は、ソース線SLと交差する。つまり、本実施形態では、netB(k-1)とソース線SLとの交点、及び、netB(k+1)とソース線SLとの交点に、寄生容量Cs-netBが形成されている。
 本実施形態において、netB(k)及びnetB(k+2)の電位は、図29に示すとおりである。そのため、このままでは、netB(k+2)及びnetB(k)と交差するソース線SLが伝送するデータ信号に対して、netB(k+2)とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netBに起因するノイズと、netB(k)とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netBに起因するノイズとが、互いに強めあうように作用する。同様に、netB(k+1)及びnetB(k-1)と交差するソース線SLが伝送するデータ信号に対して、netB(k+1)とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netBに起因するノイズと、netB(k-1)とソース線SLとの交点に形成される寄生容量Cs-netBに起因するノイズとが、互いに強めあうように作用する。
 そこで、本実施形態では、図27Aに示すように、隣り合う2つのゲート線GL(k)、GL(k+1)の間、及び、隣り合う2つのゲート線GL(k-1)、GL(k-2)の間に、配線19Aを形成する。配線19Aは、クロック信号CKAを伝送する配線15Lから延びだす。配線19Aは、netB(k+2)及びnetB(k)が交差するソース線SLと交差する。これにより、図29において破線で囲んだ部分に示すように、1つの配線19Aに起因するノイズのみが、netB(k+2)及びnetB(k)と交差するソース線SLが伝送するデータ信号にのる。つまり、本実施形態では、netBとデータ線SLとが交差していても、データ線SLが伝送するデータ信号にノイズがのり難くなる。
 [第4の実施の形態の応用例]
 本応用例では、図30Aに示すように、netB(1)とnetB(3)との間、netB(3)とnetB(5)との間、及び、netB(5)とnetB(7)との間に、配線19Aが形成されている。配線19Aは、クロック信号CKAを伝送する配線15Lから延び、データ信号を伝送するソース線SLと交差する。netB(1)と、netB(3)と、netB(5)と、netB(7)と、3つの配線19Aとにより、1つの配線群21Aが形成されている。
 本応用例では、図30Bに示すように、netB(2)とnetB(4)との間、netB(4)とnetB(6)との間、及び、netB(6)とnetB(8)との間に、配線19Bが形成されている。配線19Bは、クロック信号CKBを伝送する配線15Lから延び、データ信号を伝送するソース線SLと交差する。netB(1)と、netB(3)と、netB(5)と、netB(7)と、3つの配線19Bとにより、1つの配線群21Bが形成されている。
 なお、図30A及び図30Bにおいて、ソース線SLは同じものを示している。つまり、本応用例では、1つのソース線SLに対して、8つのnetB、3つの配線19A及び3つの配線19Bが交差している。
 図31は、netBの電位と、クロック信号CKA、CKBとの関係を示すタイミングチャートである。なお、図31の上段には、配線群21AにおけるnetBの電位とクロック信号CKAとの関係を示している。図31の下段には、配線群21BにおけるnetBの電位とクロック信号CKBとの関係を示している。
 図31に示すように、配線群21Aにおいては、表示期間のうち、時刻t1及び時刻t2において、netB(3)の電位が変化しない。そのため、時刻t1及び時刻t2においては、ノイズが相殺される。時刻t3及び時刻t4において、netB(5)の電位が変化しない。そのため、時刻t3及び時刻t4においては、ノイズが相殺される。時刻t5及び時刻t6において、netB(7)の電位が変化しない。そのため、時刻t5及び時刻t6においては、ノイズが相殺される。時刻t7及びt8においては、破線で囲んだ部分に示すように、netB(7)の電位変化に起因するノイズのみが、ソース線SLが伝送するデータ信号にのる。
 図31に示すように、配線群21Bにおいては、表示期間のうち、時刻t1において、netB(2)の電位が変化しない。そのため、時刻t1においては、ノイズが相殺される。時刻t2及び時刻t3において、netB(4)の電位が変化しない。そのため、時刻t2及び時刻t3においては、ノイズが相殺される。時刻t4及び時刻t5において、netB(6)の電位が変化しない。そのため、時刻t4及び時刻t5においては、ノイズが相殺される。時刻t6及びt7においては、netB(8)の電位が変化しない。そのため、ノイズが相殺される。時刻t8においては、破線で囲んだ部分に示すように、netB(8)の電位変化に起因するノイズのみが、ソース線SLが伝送するデータ信号にのる。
 したがって、本応用例においては、第4の実施の形態と同様に、netBとデータ線SLとが交差していても、データ線SLが伝送するデータ信号にノイズがのり難くなる。
 [第5の実施の形態]
 第1の実施の形態では、クロック信号CKA、CKBを伝送する配線15Lから延びだす配線17A、17Bとソース線SLとが交差する場合について説明した。第5の実施の形態では、ソース線SLと配線15Lとの間に形成される寄生容量に起因するノイズの対策について説明する。
 図32は、配線15Lの配置例を示す模式図である。配線15Lは、隣り合う2つのソース線SLからの距離が略同じとなる位置に配置される。この場合、一方のソース線SLと配線15Lとの間に形成される寄生容量と、他方のソース線SLと配線15Lとの間に形成される寄生容量とを同じにすることができる。そのため、これらの寄生容量に起因するノイズを低減することができる。なお、ソース線SL及び配線15Lは、図33に示すように、屈曲していてもよい。
 [第6の実施の形態]
 第1の実施の形態では、クロック信号CKA、CKBを伝送する配線15Lから延びだす配線17A、17Bとソース線SLとが交差する場合について説明した。第6の実施の形態では、クロック信号CKA、CKBを伝送する配線15Lと補助容量配線とが交差する場合について説明する。
 図34は、液晶の動作モードがVA方式である場合の画素の等価回路を示す。VA方式では、図34に示すように、補助容量配線70が形成されている。
 補助容量配線70は、画素電極72との間に、補助容量74を形成する。補助容量74は、画像を表示するときに、画素電極72の電位を所望の電位に維持するための電荷を蓄える。補助容量配線70には、補助容量74に電荷を蓄えるための電位が与えられる。
 補助容量配線70は、クロック信号CKAを伝送する配線15Lと、クロック信号CKBを伝送する配線15Lと交差する。クロック信号CKAを伝送する配線15Lと、補助容量配線70との交点には、寄生容量Csl-cl(A)が形成される。クロック信号CKBを伝送する配線15Lと、補助容量配線70との交点には、寄生容量Csl-cl(B)が形成される。
 本実施形態では、補助容量配線70について、以下の式(13)を満たすように、クロック信号CKAの振幅、つまり、クロック信号CKAを伝送する配線15Lにおける電位の変化量ΔV(A)と、クロック信号CKBの振幅、つまり、クロック信号CKBを伝送する配線15Bにおける電位の変化量ΔV(B)と、寄生容量Csl-cl(A)と、寄生容量Csl-cl(B)とを設定する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000013
 本実施形態では、ΔV(A)と、ΔV(B)とは同じ大きさである。Csl-cl(A)と、Csl-cl(B)とは同じ大きさである。したがって、寄生容量Csl-cl(A)の数と寄生容量Csl-cl(B)の数、つまり、1つの補助容量配線70に対して、クロック信号CKAを伝送する配線15Lが交わる回数と、クロック信号CKBを伝送する配線15Lが交わる回数とを同じにすることにより、寄生容量Csl-cl(A)に起因するノイズと、寄生容量Csl-cl(B)に起因するノイズとが打ち消しあう。その結果、クロック信号CKAを伝送する配線15L及びクロック信号CKBを伝送する配線15Lと交差する補助容量配線70に印加される電位にノイズが重畳しにくくなる。
 ここで、補助容量配線70の電位は、補助容量74を介して、画素電極72の電位に影響を与える。そのため、補助容量配線70の電位にノイズが重畳しにくくなると、画素電極72の電位がノイズの影響を受け難くなる。つまり、液晶層に印加される電圧がノイズの影響を受け難くなる。
 [第7の実施の形態]
 第1の実施の形態では、クロック信号CKA、CKBを伝送する配線15Lから延びだす配線17A、17Bとソース線SLとが交差する場合について説明した。第7の実施の形態では、クロック信号CKA、CKBを伝送する配線15Lとコモン配線とが交差する場合について説明する。
 図35は、液晶の動作モードがIPS方式又はFFS方式である場合の画素の等価回路を示す。これらの方式では、図35に示すように、コモン配線80が形成されている。
 コモン配線80は、アクティブマトリクス基板20aに形成されている。コモン配線80は、コモン電極と電気的に接続されている。コモン電極は、画素電極84との間で横電界を形成する。コモン配線80は、画素電極84との間に、画素容量86を形成する。画素容量86は、画像を表示するときに、画素電極84の電位を所望の電位に維持するための電荷を蓄える。コモン配線80には、画素容量86に電荷を蓄えるための電位が与えられる。
 コモン配線80は、クロック信号CKAを伝送する配線15Lと、クロック信号CKBを伝送する配線15Lと交差する。クロック信号CKAを伝送する配線15Lと、コモン配線80との交点には、寄生容量Cc-cl(A)が形成される。クロック信号CKBを伝送する配線15Lと、コモン配線80との交点には、寄生容量Cc-cl(B)が形成される。
 本実施形態では、コモン配線80について、以下の式(14)を満たすように、クロック信号CKAの振幅、つまり、クロック信号CKAを伝送する配線15Lにおける電位の変化量ΔV(A)と、クロック信号CKBの振幅、つまり、クロック信号CKBを伝送する配線15Bにおける電位の変化量ΔV(B)と、寄生容量Cc-cl(A)と、寄生容量Cc-cl(B)とを設定する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000014
 本実施形態では、ΔV(A)と、ΔV(B)とは同じ大きさである。Cc-cl(A)と、Cc-cl(B)とは同じ大きさである。したがって、寄生容量Cc-cl(A)の数と寄生容量Cc-cl(B)の数、つまり、1つのコモン配線80に対して、クロック信号CKAを伝送する配線15Lが交わる回数と、クロック信号CKBを伝送する配線15Lが交わる回数とを同じにすることにより、寄生容量Cc-cl(A)に起因するノイズと、寄生容量Cc-cl(B)に起因するノイズとが打ち消しあう。その結果、クロック信号CKAを伝送する配線15L及びクロック信号CKBを伝送する配線15Lと交差するコモン配線80に印加される電位にノイズが重畳しにくくなる。
 ここで、コモン配線80の電位は、液晶層82及び画素容量86を介して、画素電極84の電位に影響を与える。そのため、コモン配線80の電位にノイズが重畳しにくくなると、画素電極84の電位がノイズの影響を受け難くなる。つまり、液晶層82に印加される電圧がノイズの影響を受け難くなる。
 [第7の実施の形態の応用例]
 図35に示すように、コモン配線80は、アクティブマトリクス基板20aに形成され、画素電極84との間で画素容量86を形成する。そのため、コモン配線80は、透明な導電膜で形成される。
 ここで、図36Aに示すように、コモン配線80が透明な導電層80Aのみからなる場合、コモン配線80のシート抵抗が大きくなる。そのため、図36Bに示すように、電位の変動が局所的にとどまり、互いに逆位相のノイズを相殺できない場合がある。
 そこで、本応用例では、図37Aに示すように、コモン配線80は、透明な導電層80Aと、複数の金属配線80Bとを備える。導電層80Aは、例えば、インジウム酸化錫膜である。金属配線80Bは、導電層80Aに接して形成されている。金属配線80Bは、導電層80Aよりも高い導電率を有しており、例えば、アルミニウム等の金属からなる。金属配線80Bは、コモン配線80に沿って延びている。つまり、金属配線80Bは、導電層80Aに沿って延びている。複数の金属配線80Bは、導電層80Aの幅方向(コモン配線80の幅方向)に所定の間隔で並んでいる。
 本応用例では、コモン配線80のシート抵抗を下げることができる。その結果、コモン配線80において、電位の変動が局所的にとどまるのを回避して、互いに逆位相のノイズを相殺することができる。
 [第8の実施の形態]
 図38及び図39を参照しながら、本発明の第8の実施の形態について説明する。クロック信号CKA及びクロック信号CKBを切り替えるときの波形は、図38に示すものであってもよい。このような波形は、例えば、図39に示す回路90によって実現される。
 回路90は、表示制御回路4(図3参照)内に配置される。回路90は、生成部92と、信号供給線941と、信号供給線942と、スイッチ94Aと、スイッチ94Bと、端子94Cと、端子94Dと、接続線98と、抵抗98Aと、スイッチ98Bと、制御部100とを含む。
 生成部92は、クロック信号CKA及びクロック信号CKBを生成する。生成部92には、信号供給線941及び信号供給線942が接続されている。
 信号供給線941には、端子94Cが接続されている。端子94Cは、クロック信号CKAを伝送する配線15Lに接続されている。信号供給線941には、スイッチ94Aが配置されている。スイッチ94Aは、クロック信号CKAを伝送する配線15Lと生成部92とが電気的に接続された状態と接続されていない状態とを切り替える。
 信号供給線942には、端子94Dが接続されている。端子94Dは、クロック信号CKBを伝送する配線15Lに接続されている。信号供給線942には、スイッチ94Bが配置されている。スイッチ94Bは、クロック信号CKBを伝送する配線15Lと生成部92とが電気的に接続された状態と接続されていない状態とを切り替える。
 接続線98は、信号供給線941と信号供給線942とを接続する。接続線98には、抵抗98Aと、スイッチ98Bとが配置されている。スイッチ98Bは、信号供給線941と信号供給線942とが電気的に接続された状態と接続されていない状態とを切り替える。
 制御部100は、スイッチ94A、スイッチ94B及びスイッチ98Bの動作を制御する。具体的には、以下のとおりである。
 クロック信号CKA及びクロック信号CKBの位相を切り替えるタイミングでは、クロック信号CKAを伝送する配線15L及びクロック信号CKBを伝送する配線15Lが生成部92と電気的に接続されていない状態にする。また、信号供給線941が信号供給線942と電気的に接続されている状態にする。
 クロック信号CKA及びクロック信号CKBの位相を切り替えるタイミング以外では、クロック信号CKAを伝送する配線15L及びクロック信号CKBを伝送する配線15Lが生成部92と電気的に接続されている状態にする。また、信号供給線941が信号供給線942と電気的に接続されていない状態にする。
 本実施の形態では、信号供給線941と信号供給線942との間で電荷を移動させることにより、クロック信号CKA及びクロック信号CKBの位相の切替を補助することができる。そのため、電力の消費を抑えることができる。
 以上、本発明の実施の形態を説明したが、上述した実施の形態は本発明を実施するための例示に過ぎない。よって、本発明は上述した実施の形態に限定されることなく、その趣旨を逸脱しない範囲内で上述した実施の形態を適宜変形、又は組み合わせて実施することが可能である。

Claims (12)

  1.  表示領域に画像を表示する表示装置であって、
     前記画像の表示に寄与する電位が与えられる複数の信号線と、
     前記複数の信号線とは別に設けられた複数のゲート線と、
     前記複数のゲート線に接続され、前記複数のゲート線の電位を制御する駆動部とを備え、
     前記駆動部は、
     前記表示領域内に配置され、前記複数のゲート線の各々に少なくとも1つ接続される複数のゲートドライバと、
     前記複数のゲートドライバの何れかを動作させるための電位が与えられ、前記複数の信号線の何れかと交差する複数の配線とを含み、
     前記複数の配線は、
     第1配線と、
     前記第1配線と交差する信号線に対して、前記第1配線とは異なる位置で交差する第2配線とを含み、
     前記駆動部は、
     所定のタイミングで、前記第1配線の電位を切り替え、
     前記第1配線の電位を切り替えるタイミングで、前記第1配線において電位を切り替える方向とは反対の方向に、前記第2配線の電位を切り替える、表示装置。
  2.  請求項1に記載の表示装置であって、
     前記第1配線及び前記第2配線と交差する信号線は、画像の表示に用いられるデータ信号を伝送するデータ線である、表示装置。
  3.  請求項1又は2に記載の表示装置であって、さらに、
     前記表示領域内に形成された複数の画素と、
     前記複数の画素の各々に配置された薄膜トランジスタと、
     前記薄膜トランジスタに接続された画素電極と、
     前記画素電極との間で補助容量を形成する補助容量配線とを備え、
     前記第1配線及び前記第2配線と交差する信号線は、前記補助容量配線である、表示装置。
  4.  請求項1又は2に記載の表示装置であって、さらに、
     前記表示領域内に形成された複数の画素と、
     前記複数の画素の各々に配置された薄膜トランジスタと、
     前記薄膜トランジスタに接続された画素電極と、
     前記画素電極が形成された基板に設けられ、前記画素電極との間に画素容量を形成するコモン配線とを備え、
     前記第1配線及び前記第2配線と交差する信号線は、前記コモン配線である、表示装置。
  5.  請求項4に記載の表示装置であって、
     前記コモン配線は、
     透明導電層と、
     前記透明導電層上に形成され、前記コモン配線に沿って延び、且つ、前記コモン配線の幅方向に所定の間隔で並ぶ複数の金属配線とを含む、表示装置。
  6.  請求項1~5の何れか1項に記載の表示装置であって、
     前記第1配線と前記第1配線が交差する信号線との交点には、第1寄生容量が形成されており、
     前記第1配線が交差する信号線と前記第2配線との交点には、第2寄生容量が形成されており、
     前記第1寄生容量と前記第1配線における電位変化量との積と、前記第2寄生容量と前記第2配線における電位変化量との積との総和の絶対値が、前記第1寄生容量と前記第1配線における電位変化量との積の絶対値、又は、前記第2寄生容量と前記第2配線における電位変化量との積の絶対値よりも小さい、表示装置。
  7.  請求項1~5の何れか1項に記載の表示装置であって、
     前記複数の配線は、前記第1配線と同じ数の前記第2配線を含む、表示装置。
  8.  請求項1~5の何れか1項に記載の表示装置であって、
     前記駆動部は、さらに、
     前記複数のゲートドライバの各々に対して、第1クロック信号と、前記第1クロック信号とは逆位相の第2クロック信号とを供給する信号供給部と、
     前記第1クロック信号を伝送する複数の第1クロック信号線と、
     前記第2クロック信号を伝送する複数の第2クロック信号線とを含み、
     前記複数のゲートドライバの何れかに接続された第1クロック信号線は、前記複数の信号線の何れかと交差する第1配線部を含み、
     前記複数のゲートドライバの何れかに接続された第2クロック信号線は、前記第1配線部が交差する信号線に対して、前記第1配線部とは異なる位置で交差する第2配線部を含み、
     前記第1配線部が、前記第1配線であり、
     前記第2配線部が、前記第2配線である、表示装置。
  9.  請求項8に記載の表示装置であって、
     前記信号供給部は、
     前記第1クロック信号及び前記第2クロック信号を生成する生成部と、
     前記複数の第1クロック信号線の何れかと前記生成部とを接続し、前記第1クロック信号を伝送する第1信号供給線と、
     前記第1信号供給線に配置され、前記第1クロック信号線と前記生成部とが電気的に接続された状態と接続されていない状態とを切り替える第1スイッチと、
     前記複数の第2クロック信号線の何れかと前記生成部とを接続し、前記第2クロック信号を伝送する第2信号供給線と、
     前記第2信号供給線に配置され、前記第2クロック信号線と前記生成部とが電気的に接続された状態と接続されていない状態とを切り替える第2スイッチと、
     前記第1信号供給線と前記第2信号供給線とを接続する接続線と、
     前記接続線に配置された抵抗と、
     前記接続線に配置され、前記第1信号供給線と前記第2信号供給線とが電気的に接続された状態と接続されていない状態とを切り替える第3スイッチと、
     前記第1スイッチ、前記第2スイッチ及び前記第3スイッチの動作を制御し、前記第1クロック信号及び前記第2クロック信号の位相を切り替えるタイミングでは、前記第1クロック信号線及び前記第2クロック信号線が前記生成部と電気的に接続されておらず、且つ、第1信号供給線が第2信号供給線と電気的に接続された状態とし、前記第1クロック信号及び前記第2クロック信号の位相を切り替えるタイミング以外では、前記第1クロック信号線及び前記第2クロック信号線が前記生成部と電気的に接続され、且つ、前記第1信号供給線が前記第2信号供給線と電気的に接続されていない状態とする制御部とを備える、表示装置。
  10.  請求項1~5の何れか1項に記載の表示装置であって、
     前記複数の配線は、さらに、
     前記第1配線及び前記第2配線が交差する信号線に対して、前記第1配線及び前記第2配線とは異なる位置で交差する第3配線を含み、
     前記第1配線が交差する信号線と前記第1配線との交点には、第1寄生容量が形成されており、
     前記第1配線が交差する信号線と前記第2配線との交点には、第2寄生容量が形成されており、
     前記第1配線が交差する信号線と前記第3配線との交点には、第3寄生容量が形成されており、
     前記複数のゲートドライバは、
     前記複数のゲート線の何れかに接続され、前記第1配線を含む第1ゲートドライバと、
     前記第1ゲートドライバが接続されたゲート線とは異なるゲート線に接続され、前記第2配線を含む第2ゲートドライバと、
     前記第1ゲートドライバが接続されたゲート線、及び、前記第2ゲートドライバが接続されたゲート線とは異なるゲート線に接続され、前記第3配線を含む第3ゲートドライバとを含み、
     前記駆動部は、
     前記第1配線の電位を低くし、
     前記第1配線の電位を低くするタイミングで、前記第2配線の電位を高くし、
     前記第1配線の電位を低くするタイミングで、前記第3配線の電位を高くし、
     前記第1寄生容量と前記第1配線における電位変化量との積と、前記第2寄生容量と前記第2配線における電位変化量との積と、前記第3寄生容量と前記第3配線における電位変化量との積との総和の絶対値が、前記第1寄生容量と前記第1配線における電位変化量との積の絶対値、前記第2寄生容量と前記第2配線における電位変化量との積の絶対値、及び、前記第3寄生容量と前記第3配線における電位変化量との積の絶対値の何れかよりも小さい、表示装置。
  11.  請求項1~5の何れか1項に記載の表示装置であって、
     前記複数の配線は、
     N本の前記第1配線と、(N-1)本の前記第2配線とからなる配線群を含み、
     前記駆動部は、
     N本の前記第1配線の何れかについては、残りの前記第1配線及び前記第2配線において電位を切り替えるタイミングで、電位を切り替えない、表示装置。
  12.  請求項1~5の何れか1項に記載の表示装置であって、
     前記駆動部は、さらに、
     前記複数のゲートドライバの各々に対して、クロック信号を供給する信号供給部と、
     前記クロック信号を伝送する複数のクロック信号線とを含み、
     前記複数の信号線は、所定の方向に並んで配置され、
     前記複数のクロック信号線の各々は、前記所定の方向で隣り合う2つの信号線の間に配置される信号線部を含み、
     前記所定の方向において、前記隣り合う2つの信号線の一方と前記信号線部との離隔距離は、前記隣り合う2つの信号線の他方と前記信号線部との離隔距離と同じである、表示装置。
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