WO2015107690A1 - タンデム質量分析データ処理装置 - Google Patents

タンデム質量分析データ処理装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2015107690A1
WO2015107690A1 PCT/JP2014/050947 JP2014050947W WO2015107690A1 WO 2015107690 A1 WO2015107690 A1 WO 2015107690A1 JP 2014050947 W JP2014050947 W JP 2014050947W WO 2015107690 A1 WO2015107690 A1 WO 2015107690A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
mass
ions
ion
spectrum
charge ratio
Prior art date
Application number
PCT/JP2014/050947
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
真一 山口
Original Assignee
株式会社島津製作所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社島津製作所 filed Critical 株式会社島津製作所
Priority to US15/112,453 priority Critical patent/US10249480B2/en
Priority to CN201480073586.2A priority patent/CN105917221B/zh
Priority to EP16185384.1A priority patent/EP3131028A1/en
Priority to EP14879070.2A priority patent/EP3098599A4/en
Priority to JP2015557668A priority patent/JP6028875B2/ja
Priority to PCT/JP2014/050947 priority patent/WO2015107690A1/ja
Priority to CN201610835168.3A priority patent/CN106935477B/zh
Publication of WO2015107690A1 publication Critical patent/WO2015107690A1/ja
Priority to US15/214,625 priority patent/US11145498B2/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0027Methods for using particle spectrometers
    • H01J49/0036Step by step routines describing the handling of the data generated during a measurement
    • GPHYSICS
    • G16INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR SPECIFIC APPLICATION FIELDS
    • G16CCOMPUTATIONAL CHEMISTRY; CHEMOINFORMATICS; COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE
    • G16C20/00Chemoinformatics, i.e. ICT specially adapted for the handling of physicochemical or structural data of chemical particles, elements, compounds or mixtures
    • G16C20/20Identification of molecular entities, parts thereof or of chemical compositions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/004Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
    • H01J49/0045Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/40Time-of-flight spectrometers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/4205Device types
    • H01J49/422Two-dimensional RF ion traps
    • H01J49/4225Multipole linear ion traps, e.g. quadrupoles, hexapoles
    • GPHYSICS
    • G16INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR SPECIFIC APPLICATION FIELDS
    • G16CCOMPUTATIONAL CHEMISTRY; CHEMOINFORMATICS; COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE
    • G16C20/00Chemoinformatics, i.e. ICT specially adapted for the handling of physicochemical or structural data of chemical particles, elements, compounds or mixtures
    • G16C20/40Searching chemical structures or physicochemical data

Definitions

  • the present invention relates to a data processing apparatus that processes data collected by a tandem mass spectrometer capable of cleaving ions and mass-analyzing ions generated thereby.
  • tandem analysis As a technique of mass spectrometry, a technique called tandem analysis or MS n analysis is known.
  • a mass spectrometer for performing tandem analysis for example, a triple quadrupole mass spectrometer (a tandem quadrupole mass spectrometer or the like) in which a quadrupole mass filter is arranged before and after a collision cell is interposed. And a Q-TOF type mass spectrometer using a time-of-flight mass spectrometer in place of a subsequent quadrupole mass filter in a triple quadrupole mass spectrometer.
  • an ion trap mass spectrometer using an ion trap that can repeatedly perform ion selection and dissociation multiple times or an ion trap time-of-flight mass spectrometer that combines an ion trap and a time-of-flight mass spectrometer
  • the apparatus can perform MS n analysis without limiting the value of n (however, in actuality, n is limited to about 5).
  • the mass resolution of the apparatus is improved, it is difficult to extremely narrow the mass-to-charge ratio width when selecting precursor ions.
  • the selective characteristics of the edge of the window (mass window) for extracting ions with a specific mass-to-charge ratio are relatively gentle (that is, the transmittance gradually deteriorates), so the selected mass charge of the window.
  • the ratio width is narrowed, the amount of precursor ions to be subjected to the dissociation operation decreases, and it becomes difficult to detect product ions with sufficiently high sensitivity (see, for example, Patent Document 1).
  • the selective mass-to-charge ratio width of the precursor ion in a general mass spectrometer is set to about 0.5 to 2 Da.
  • the resulting MS 2 spectrum contains a mixture of product ion peaks generated by dissociating multiple different ion species. Will appear. Even if such peak information obtained from the MS 2 spectrum is simply subjected to database search, it is difficult to identify a compound with sufficiently high accuracy.
  • the present invention has been made in order to solve these problems, and the first object thereof is that n is 2 or more in which peaks of product ions obtained by dissociating ions derived from a plurality of different compounds are mixed. It is to provide a tandem mass spectrometry data processing apparatus capable of identifying a plurality of compounds using an MS n spectrum.
  • the second object of the present invention is to correspond to each of a plurality of compounds from MS n spectrum where n is 2 or more in which peaks of product ions obtained by dissociating ions derived from a plurality of different compounds are mixed. It is to provide a tandem mass spectrometry data processing apparatus capable of obtaining an MS n spectrum.
  • the first aspect of the tandem mass spectrometry data processing apparatus includes a plurality of different compounds each having a mass-to-charge ratio included in a predetermined mass-to-charge ratio width.
  • a tandem mass spectrometry data processor that processes MS n spectrum data obtained by mass-analyzing product ions obtained by dissociating selected ions as precursor ions and dissociating the selected precursor ions.
  • a compound database in which at least standard MS n spectrum information is stored in association with known compounds; b) a peak information collection unit for collecting peak information from the MS n spectrum created based on data obtained by actual measurement; c) Perform a database search for the compound database based on the mass-to-charge ratio value and the MS n spectrum peak information collected by the peak information collection unit for each of a plurality of compound ions selected as the precursor ions.
  • a database search execution unit for obtaining candidate compounds d) A standard MS n spectrum for the candidate compound obtained for each ion of the plurality of compounds is acquired from the compound database, a combination of candidate compounds for the plurality of compounds is assumed, and included in one assumed combination create a MS n spectra provisional integrates standard MS n spectra for a plurality of candidate compounds, the similarity between the MS n spectrum of the actual measurement and MS n spectra of provisional calculations for each combination of candidate compounds A similarity calculation unit, And the compound can be identified using the similarity obtained by the similarity calculation unit.
  • a second aspect of the tandem mass spectrometry data processing apparatus includes a plurality of different compounds having a mass-to-charge ratio included in a predetermined mass-to-charge ratio width.
  • Tandem mass spectrometry data processing device that processes MS n spectral data obtained by mass-analyzing product ions obtained by dissociating selected ions as precursor ions and dissociating the selected precursor ions Because a) a compound database in which at least standard MS n spectrum information is stored in association with known compounds; b) a peak information collection unit for collecting peak information from the MS n spectrum created based on data obtained by actual measurement; c) The mass of neutral loss, which is the difference between the mass-to-charge ratio value of each of the plurality of compound ions selected as the precursor ions and the mass-to-charge ratio determined from the peak information collected by the peak information collecting unit.
  • a database search execution unit that calculates a candidate database by performing a database search on the compound database based on the mass-to-charge ratio of the precursor ion and the neutral loss mass; d) A standard MS n spectrum for the candidate compound obtained for each ion of the plurality of compounds is acquired from the compound database, a combination of candidate compounds for the plurality of compounds is assumed, and included in one assumed combination create a MS n spectra provisional integrates standard MS n spectrum for the candidate compounds, the similarity between the MS n spectrum of the actual measurement and MS n spectra of provisional, calculates for each combination of candidate compounds similar A degree calculation unit; And the compound can be identified using the similarity calculated by the similarity calculation unit.
  • the tandem mass spectrometry data processing apparatus can be obtained by, for example, a triple quadrupole mass spectrometer, a Q-TOF mass spectrometer, an ion trap mass spectrometer, an ion trap time-of-flight mass spectrometer, or the like.
  • MS n spectral data typically MS 2 spectral data.
  • Both of the tandem mass spectrometry data processing apparatuses according to the first and second aspects of the present invention are candidate compounds for an unknown compound to be identified using a database search using a compound database in which known compound information is stored.
  • the tandem mass spectrometry data processing apparatus according to the first aspect uses the mass-to-charge ratio of the precursor ion and the peak information (at least the mass-to-charge ratio) of the MS n spectrum in order to execute the database search.
  • the tandem mass spectrometry data processing apparatus of the second aspect in order to perform database search, the mass-to-charge ratio of the precursor ion and the mass of the neutral loss obtained from the peak information (at least the mass-to-charge ratio) of the MS n spectrum are calculated. Use.
  • the database search unit For each ion, a database search is performed after setting the mass-to-charge ratio value of the ion as one of the search conditions.
  • the peak information of the MS n spectrum and the mass information of the neutral loss obtained therefrom include information on product ions derived from ions different from the ions set as one of the search conditions as described above. Therefore, since one compound cannot necessarily be identified with high reliability, the database search unit obtains a plurality of compounds each having a certain degree of reliability as candidates for each different ion as a precursor ion. .
  • the similarity calculation unit selects a combination of candidate compounds corresponding to each of a plurality of ions selected together as precursor ions, that is, when three types of ions having different mass-to-charge ratios are selected as precursor ions, Assume a combination of three candidate compounds in which one candidate compound corresponding to each of the three types of ions is selected. This combination of assumptions may be made brute force. Then, a standard MS n spectrum for each candidate compound is obtained from the compound database, and a temporary MS n spectrum is created by integrating standard MS n spectra for candidate compounds included in one assumed combination, The similarity between the temporary MS n spectrum and the measured MS n spectrum is calculated.
  • the candidate compound included in the assumed combination is a true compound
  • the pattern similarity between the temporary MS n spectrum and the actually measured MS n spectrum is high. Therefore, the degree of similarity is similarly obtained for each combination of the set candidate compounds obtained brute force, and is presented to the user by, for example, display so that the user can identify the compound with reference to the degree of similarity. be able to.
  • candidate compounds included in the combination showing the maximum similarity may be output as the identification result.
  • MS n that appears in a mixture of product ions generated by dissociating ions of a plurality of different compounds. Based on the spectrum, these compounds can be identified with high accuracy.
  • the third aspect of the tandem mass spectrometry data processing apparatus provides a plurality of different compounds having a mass-to-charge ratio included in a predetermined mass-to-charge ratio width.
  • Tandem mass spectrometry data processing device that processes MS n spectral data obtained by mass-analyzing product ions obtained by dissociating selected ions as precursor ions and dissociating the selected precursor ions Because a) Precursor ion composition formula for obtaining mass-to-charge ratio values of a plurality of ions selected as precursor ions from MS n-1 spectrum data obtained by actual measurement and estimating the composition formula of each ion from the mass-to-charge ratio values An estimation unit; b) obtaining a mass-to-charge ratio value of product ions detected from MS n spectrum data obtained by actual measurement, and estimating a composition formula of each product ion from the mass-to-charge ratio value; c) For each product ion, verifying the consistency between the composition formula estimated by the
  • each of the precursor ion composition formula estimation units is a mass-to-charge ratio value of a plurality of ions that are taken as precursor ions from MS n-1 spectrum data obtained by actual measurement. And the composition formula of each ion, that is, the type and number of elements constituting the ion are estimated from the mass-to-charge ratio value.
  • the product ion composition formula estimation unit obtains the mass-to-charge ratio value of the product ions from the MS n spectrum data obtained by actual measurement, and estimates the composition formula of each product ion from the mass-to-charge ratio value.
  • the mass-to-charge ratio In order to estimate the composition formula from the mass-to-charge ratio values of precursor ions and product ions, the mass-to-charge ratio needs to be obtained with high accuracy. For this reason, it is desirable that the data to be processed be obtained by an apparatus using a time-of-flight mass spectrometer, such as a Q-TOF mass spectrometer or an ion trap time-of-flight mass spectrometer.
  • a time-of-flight mass spectrometer such as a Q-TOF mass spectrometer or an ion trap time-of-flight mass spectrometer.
  • the product ion attribution determination unit verifies whether or not consistency is ensured by determining whether or not the estimated composition formula is included in the composition formula of ions that are precursor ions for each product ion. Then, based on the result, it is determined which of the plurality of precursor ions the product ion is derived from.
  • the data separation unit reconstructs MS n spectrum data obtained by dividing a plurality of product ions for each precursor ion, for example, creating an MS n spectrum divided for each of the plurality of ions selected as the precursor ions. To do.
  • composition formula of a certain product ion may be included in the composition formula of a plurality of precursor ions.
  • the product ion may be associated with any of the plurality of precursor ions.
  • what is not actually a product ion may be mistakenly associated, and this will be a noise in the MS n spectrum, but at least it will not be consistent.
  • the purity of the MS n spectrum for each compound can be increased.
  • the accuracy of compound identification can be improved by subjecting the MS n spectrum data thus obtained to database search.
  • a fourth aspect of the tandem mass spectrometry data processing apparatus which has been made to achieve the second object, is a plurality of different compounds having a mass-to-charge ratio included in a predetermined mass-to-charge ratio width.
  • Tandem mass spectrometry data processing that processes MS n spectrum data obtained by mass-selecting product ions obtained by dissociating selected precursor ions together and selecting ions derived from each A device, a) A precursor ion mass that obtains mass-to-charge ratio values of a plurality of ions selected as precursor ions from MS n-1 spectrum data obtained by actual measurement, and extracts a portion after the decimal point of the mass-to-charge ratio value as a mass defect.
  • a defect extraction unit b) obtaining a mass-to-charge ratio value of product ions detected from MS n spectrum data obtained by actual measurement, and extracting a fractional part of the mass-to-charge ratio value as a mass defect; c) For each product ion, the product ion is determined by determining the similarity between the mass defect extracted by the product ion mass defect extraction unit and the mass defect of the precursor ion extracted by the precursor ion mass defect extraction unit.
  • a product ion attribution determination unit that determines which one of the plurality of precursor ions is derived from, d) a data separation unit for reconstructing MS n spectrum data obtained by dividing a plurality of product ions for each precursor ion based on the determination result by the product ion attribution determination unit; It is characterized by having.
  • Mass Defect Filtering In the metabolite analysis using mass spectrometry, a technique called Mass Defect Filtering is well known. This is to narrow down the target ions by eliminating unnecessary ions by utilizing the phenomenon that even if the integer value of the mass changes between the unchanged substance and its metabolite, the numerical value after the decimal point hardly changes. It is. In some cases, this phenomenon can also be used for a precursor ion and a product ion generated from the ion. In the tandem mass spectrometry data processing apparatus according to the fourth aspect of the present invention, different compound ions are utilized by using this mass defect. Distribute product ions from the origin to each compound. In this case as well, as in the third aspect, a mass-to-charge ratio with high precision after the decimal point is required.
  • tandem mass spectrometry data processing apparatus can be used in combination.
  • tandem mass spectrometry data processing apparatus of the first and second aspects of the present invention based on the MS n spectrum in which product ions generated by dissociation of ions of a plurality of different compounds are mixed, Multiple compounds can be identified with high accuracy.
  • tandem mass spectrometry data processing apparatus of the third and fourth aspects of the present invention a plurality of MS n spectrum data appearing in a mixture of product ions generated by dissociating ions of a plurality of different compounds. Can be separated into MS n spectral data corresponding to each of the compounds. By subjecting the MS n spectrum data thus separated to, for example, database search, a plurality of compounds that could not be separated at the time of precursor ion selection, as in the tandem mass spectrometry data processing apparatus of the first and second aspects. It can be identified with high accuracy.
  • the flowchart which shows the content of the characteristic data processing in the mass spectrometry system of 2nd Example.
  • FIG. 1 is a schematic configuration diagram of the mass spectrometry system of the first embodiment.
  • the mass spectrometry system of the first embodiment includes an ion source 10, a first stage mass separation unit 11, an ion dissociation unit 12, a second stage mass separation unit 13, a detector 14 in order to collect data to be processed.
  • a tandem mass spectrometer 1 including an analog-to-digital converter (ADC) 15 and an analysis control unit 16 is provided. Under the control of the analysis control unit 16, the ion source 10 ionizes the compound contained in the introduced sample, and the first stage mass separation unit 11 has a mass-to-charge ratio of a predetermined mass among the various ions generated. A specific ion included in a precursor ion selection window having a charge ratio width is selected as a precursor ion.
  • the ion dissociation unit 12 dissociates the selected precursor ion by collision-induced dissociation or the like, and the second stage mass separation unit 13 separates various product ions generated by the dissociation according to the mass to charge ratio.
  • the detector 14 detects the separated product ions, and generates a detection signal corresponding to the amount of each ion. This detection signal is converted into digital data by the analog-digital converter 15 and input to the data processing unit 2.
  • the tandem mass spectrometer 1 is a Q-TOF device
  • the first stage mass separation unit 11 is a quadrupole mass filter
  • the ion dissociation unit 12 is a collision cell
  • the second stage mass separation unit 13 is It is a time-of-flight mass spectrometer.
  • the tandem mass spectrometer 1 is an ion trap time-of-flight mass spectrometer
  • the first stage mass separator 11 and the ion dissociator 12 are ion traps
  • the second stage mass separator 13 is a time of flight.
  • the ionization method in the ion source 10 is not particularly limited, and an appropriate ionization method according to the sample mode (that is, a gas sample, a liquid sample, etc.) can be used.
  • the data processing unit 2 collects and stores data sequentially output from the tandem mass spectrometer 1 and based on data stored in the data storage unit 21 in order to identify a compound contained in the sample.
  • Multiple-precursor corresponding analysis processing unit 22 that executes characteristic data processing, a compound database 24 in which information relating to known compounds is registered in advance, and a database search using the compound database 24 to search for compound candidates
  • the database search part 23 to extract is included as a functional block.
  • the control unit 3 connected to the operation unit 4 and the display unit 5 which are user interfaces is responsible for overall system control for actual analysis in the tandem mass spectrometer 1 and data processing in the data processing unit 2.
  • At least a part of the control unit 3, the analysis control unit 16, and the data processing unit 2 uses a personal computer or a higher-performance workstation as hardware resources, and dedicated control / processing software installed in advance on these computers Each function can be realized by executing the software on the computer.
  • FIG. 3A is a diagram showing an example of a mass spectrum obtained when the precursor ion selection is not performed in the first stage mass separation unit 11 and the ion dissociation operation is not performed in the ion dissociation unit 12.
  • the second stage mass separation unit 13 is used with a high accuracy and high resolution such as a time-of-flight mass analyzer, it is derived from a plurality of very close compounds whose mass-to-charge ratio difference is 0.5 Da or less. Ion peaks are also observed in a separated state.
  • two peaks, peak A (m / z / 385) derived from compound A and peak B (m / z 385.2) derived from compound B appear very close to each other. Yes.
  • a plurality of adjacent peaks are sufficiently separated on the mass spectrum, and the mass-to-charge ratio value corresponding to each peak can be obtained with high accuracy.
  • the mass-to-charge ratio width of the precursor ion selection window used for the precursor ion selection is set to about 0.5 Da at a minimum.
  • the peak A and the peak B that are very close to each other cannot be separated.
  • the MS / MS analysis is performed by setting the window so that the peaks A and B are included in the precursor ion selection window, the molecular ion derived from the compound A and the molecular ion derived from the compound B are simultaneously dissociated, As shown in FIG. 3B, product ions generated by dissociation of two different ion species appear in the MS / MS spectrum.
  • FIG. 2 is a flowchart showing the procedure of this characteristic data processing
  • FIG. 4 is a schematic diagram for explaining this data processing.
  • the multiple precursor correspondence analysis processing unit 22 reads the actually measured MS / MS spectrum data from the data storage unit 21. Then, peak information (mass-to-charge ratio value and signal intensity value) appearing in the MS / MS spectrum is collected by executing peak detection processing on the MS / MS spectrum (step S1). As described above, the peak information of the product ions collected at this time does not correspond to one precursor ion, and a plurality of precursor ions (m / z in this example) whose mass-to-charge ratio is included in the precursor ion selection window. 385 and 385.2).
  • the plural precursor correspondence analysis processing unit 22 reads the actually measured mass spectrum data from the data storage unit 21, the mass-to-charge ratio value of the peak A derived from the compound A selected as the precursor ion during the MS / MS analysis, and the compound B The mass-to-charge ratio value of the derived peak B is determined. Then, the database search unit 23 uses the mass-to-charge ratio value of peak A (m / z ⁇ ⁇ 385 in this example) as precursor ion information for database search, and uses the MS / MS spectrum peak information collected in step S1 as product ion information. Then, the search condition is set so that the database search for the compound database 24 is executed according to the search condition (step S2).
  • the database search method is the same as the conventional database search for compound identification, and index values indicating the similarity of peak patterns based on the degree of coincidence of peak mass-to-charge ratio values are calculated, resulting in high index values.
  • a plurality of compounds are extracted as candidate compounds.
  • a standard MS / MS spectrum corresponding to the candidate compound extracted at this time is read from the compound database 24 (step S3).
  • FIG. 4 it is assumed that three candidate compounds a, b, and c are extracted by database search using the mass-to-charge ratio value of peak A derived from compound A as precursor ion information.
  • the database search unit 23 uses the mass-to-charge ratio value of peak B (m / z 385.2 in this example) as precursor ion information for database search, and uses the MS / MS spectrum peak information collected in step S1 as a product.
  • a search condition is set so as to be ion information, and a database search for the compound database 24 is executed according to the search condition (step S4).
  • a database search for the compound database 24 is executed according to the search condition (step S4).
  • a database search a plurality of compounds are extracted as candidate compounds, and a standard MS / MS spectrum corresponding to the extracted candidate compounds is read from the compound database 24 (step S5).
  • FIG. 4 it is assumed that three candidate compounds d, e, and f are extracted by database search using the mass-to-charge ratio value of peak B derived from compound B as precursor ion information.
  • the multiple precursor correspondence analysis processing unit 22 selects one of the plurality of candidate compounds extracted for the peak A and one of the plurality of candidate compounds extracted for the peak B, and A virtual MS / MS spectrum is created by integrating standard MS / MS spectra respectively corresponding to candidate compounds included in the combination of candidate compounds.
  • a virtual MS / MS spectrum may be created by simply adding peaks on a plurality of standard MS / MS spectra. Then, the similarity of the peak pattern between the virtual MS / MS spectrum and the actually measured MS / MS spectrum is calculated. Thereby, the similarity between the virtual MS / MS spectrum and the actually measured MS / MS spectrum for one combination of candidate compounds is obtained (step S6).
  • step S7 it is determined whether or not similarity calculation has been performed for all combinations of candidate compounds. If there is a combination of candidate compounds for which similarity calculation has not been performed, the process returns to step S6.
  • step S6 three candidate compounds a, b, c extracted for compound A and three candidate compounds d, e extracted for compound B shown in FIG. , F, specifically (a, d), (a, e), (a, f), (b, d), (b, e), (b, f), (c, d ), (C, e), and (c, f) for all nine combinations, the similarity between the virtual MS / MS spectrum and the actually measured MS / MS spectrum is obtained.
  • the multiple precursor correspondence analysis processing unit 22 displays the processing results in the descending order of similarity calculated in step S6, that is, the names and similarities of candidate compounds on the screen of the display unit 5 through the control unit 3 (step S8). The user finally sees this display and identifies a plurality of compounds A and B selected as precursor ions.
  • the precursor ion selection window includes a plurality of ion species of three or more, and the plurality of ion species are collectively used as precursor ions. Even when dissociated, it is clear that the plurality of compounds can be identified in the same manner.
  • mass spectrometry system of the first embodiment when searching for candidate compounds by database search, peak information obtained from actually measured MS / MS spectra, that is, mass-to-charge ratio values of product ions (or mass-to-charge ratio values).
  • peak information obtained from actually measured MS / MS spectra that is, mass-to-charge ratio values of product ions (or mass-to-charge ratio values).
  • the same database search can be performed using the mass of neutral loss.
  • the mass of neutral loss is the difference between the mass-to-charge ratio of precursor ions and the mass-to-charge ratio of product ions. Therefore, when the mass-to-charge ratio value of peak A derived from compound A is used as precursor ion information for database search, the difference between the mass-to-charge ratio of peak A and the mass-to-charge ratio of product ions is taken as the neutral loss mass. When the mass-to-charge ratio value of peak B derived from compound B is used as the precursor ion information for database search, the difference between the mass-to-charge ratio of peak B and the mass-to-charge ratio of product ions is calculated. What is necessary is just to use for a database search as a neutral loss mass.
  • the virtual MS / MS spectrum is obtained and the similarity between the virtual MS / MS spectrum and the actually measured MS / MS spectrum is obtained in the same manner as described in the first embodiment. Calculate and display the results in descending order of similarity.
  • the results of candidate compounds and the like are displayed in descending order of similarity. However, it may be assumed that the result giving the highest similarity is accurate and only that is displayed. Further, it is determined whether or not the similarity exceeds a predetermined threshold value, and when there is no combination of candidate compounds exceeding the threshold value, a result of “not applicable” (unidentifiable) may be displayed.
  • FIG. 5 is a schematic configuration diagram of the mass spectrometry system of the second embodiment.
  • the same components as those in the mass spectrometry system of the first embodiment are denoted by the same reference numerals. That is, in the mass spectrometry system of the second embodiment, the functional block of the data processing unit 2 is different from that of the first embodiment, and the configuration of the tandem mass spectrometer 1 and the like is exactly the same as that of the first embodiment.
  • the data processing unit 2 includes functional blocks such as a composition formula estimation unit 25, a product ion attribution determination unit 26, and a data separation processing unit 27 in addition to the data storage unit 21.
  • FIG. 6 is a flowchart showing the contents of characteristic data processing in the mass spectrometry system of the second embodiment
  • FIG. 7 is a schematic diagram for explaining the characteristic data processing.
  • the composition formula estimation unit 25 first reads the actually measured mass spectrum data from the data storage unit 21, and the mass-to-charge ratio value of the peak A derived from the compound A selected as the precursor ion and the compound B derived The mass-to-charge ratio value of peak B is determined. Then, the composition formulas of the compounds A and B, that is, the types of elements constituting the compounds and the number of each element are estimated from the obtained mass-to-charge ratio values (step S11).
  • the second stage mass separation unit 13 is of high accuracy and high resolution like a time-of-flight mass analyzer, the mass-to-charge ratio value can be obtained with high accuracy, so the composition formula can be obtained with high accuracy. Can be estimated.
  • the composition formula estimation unit 25 reads the actually measured MS / MS spectrum data from the data storage unit 21 and executes peak detection processing on the MS / MS spectrum, whereby the mass of the peak appearing in the MS / MS spectrum is obtained. Collect charge ratio values. And the composition formula of the product ion observed on a MS / MS spectrum is each estimated from the calculated
  • the composition formula is estimated on the assumption that basic elements such as H, C, O, and N are included. However, special elements such as halogen elements such as Cl and Br are used. Is included, it is easy to estimate the composition formula if additional information indicating that such a possibility exists is given. Therefore, it is preferable that the user can appropriately input such additional information and use it for the composition formula estimation.
  • the composition formula of the product ion is included in the composition formula of the original precursor ion.
  • the number of arbitrary elements constituting the ion is the same as or less than the number of elements constituting the original precursor ion, and any element constituting the product ion should be included in the original precursor ion.
  • the precursor ion is used. It can be said that the ion is very likely not the product ion.
  • the product ion attribution determination unit 26 determines, for each product ion detected in the actually measured MS / MS spectrum, whether or not the composition formula is included in the composition formulas of a plurality of precursor ions. The consistency of the formula is verified, and the peak of the product ion is attributed to a precursor ion that can be matched with the composition formula (step S13). Then, the processes in steps S13 and S14 are repeated until the attribution is determined for all the product ion peaks detected in the actually measured MS / MS spectrum (determined as Yes in step S14).
  • composition formula of a certain product ion is included in the composition formula of a plurality of precursor ions.
  • the product ion may be attributed to both of the plurality of precursor ions.
  • a composition formula of a certain product ion is not included in any of the composition formulas of a plurality of precursor ions, it may be a noise peak that is not actually derived from a product ion, so such a peak is simply Exclude it.
  • step S12 If the attribution of all the peaks derived from the product ions detected from the MS / MS spectrum in step S12 (strictly speaking, the peaks estimated to be product ions) are determined, the data separation processing unit 27 is Based on the attribution result, MS / MS spectrum data is separated so as to correspond to a plurality of precursor ions (step S15), and further, MS / MS spectra corresponding to each precursor ion are obtained based on the separated data. Create (step S16).
  • FIG. 7 (a) is a diagram showing an example in which peaks appearing in the MS / MS spectrum are assigned.
  • ⁇ and ⁇ indicate the assignment destination of each peak.
  • the unmarked peak is a peak that is not attributed to any precursor ion.
  • FIG. 7B is an example of an MS / MS spectrum separated into two according to the assignment result.
  • the product ions attributed to both of the precursor ions are actually the product ions derived from both precursor ions, and the assignment to one (or rarely both) precursor ions is incorrect. There are cases. In the latter case, a false peak appears on the separated MS / MS spectrum, but a peak that is clearly not a product ion is removed, so at least as compared with the MS / MS spectrum before separation. A useful MS / MS spectrum with high purity can be obtained.
  • the peak information obtained from each MS / MS spectrum may be used for database search to perform compound identification.
  • the peak information used for the database search is obtained by removing at least a part of the product ion peak not derived from the precursor ion at that time, so that the accuracy of the database search is improved and the correct compound can be identified. The possibility increases.
  • FIG. 8 is a schematic configuration diagram of the mass spectrometry system of the third embodiment.
  • the same components as those in the mass spectrometry systems of the first and second embodiments are denoted by the same reference numerals. That is, in the mass spectrometry system of the third embodiment, the functional block of the data processing unit 2 is different from the first and second embodiments, and the configuration of the tandem mass spectrometer 1 and the like is exactly the same as the first and second embodiments. It is.
  • the data processing unit 2 includes functional blocks such as a mass defect extraction unit 28 and a product ion attribution determination unit 29 in addition to the data storage unit 21 and the data separation processing unit 27.
  • the peak of each product ion detected in the actually measured MS / MS spectrum is attributed to any (or plural) of the plurality of precursor ions.
  • mass defect filtering is used. This is a technique often used for the analysis of metabolites using mass spectrometry, and is useful for unnecessary ions by using the approximation of the value after the decimal point (ie, mass defect) of the mass-to-charge ratio value. It distinguishes it from other ions.
  • mass defect filtering is useful for determining which precursor ion is a product ion derived from.
  • two compounds shown in FIG. 9 (a) namely triate (S-2,3,3-trichloroallyldiisopropylthiocarbamate) and fenpropimorph ((2 ⁇ , 6 ⁇ ) -4- [ 3- [4- (1,1-dimethylethyl) phenyl] -2-methylpropyl] -2,6-dimethylmorpholine) is included in the sample.
  • the mass of trialate is 304.0091
  • the mass of fenpropimorph is 304.2635
  • the mass-to-charge ratio difference between the molecular ions derived from both compounds in the mass spectrum is only 0.2544 Da. Therefore, depending on the precursor ion selection window set for MS / MS analysis as described above, ions derived from both compounds cannot be separated, and the ions derived from these compounds are collectively dissociated as precursor ions. become. As a result, in the MS / MS spectrum, product ions derived from both compounds appear mixed.
  • the mass defect of the product ion is a mass of a plurality of compounds.
  • the product ion can be attributed to the precursor ion, that is, the compound.
  • the mass defect extraction unit 28 determines the mass defect of the precursor ion and the product ion
  • the product ion attribution determination unit 29 determines the mass defect of each precursor ion as the mass defect of each product ion. Judge whether they are close and determine attribution.
  • the mass defect is not necessarily close to the precursor ion. For example, when the minimum value of the mass defect difference between the precursor ion and the product ion exceeds a predetermined threshold, the product ion It is preferable not to belong to any of the precursor ions, or conversely to belong to both of the plurality of precursor ions. If the attribution of the product ions is thus determined, the MS / MS spectrum data may be separated based on the attribution result as in the second embodiment.
  • the second embodiment and the third embodiment can be used together. That is, when determining the attribution of the product ion peak, the accuracy of the attribution can be improved by using both the estimated composition formula and the mass defect.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
  • Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

 複数の化合物由来のイオンから生成されたプロダクトイオンが混在するMS/MSスペクトルからピーク情報を収集し(S1)、複数のイオン種のm/z値の1つをプリカーサイオン情報とし、MS/MSスペクトルのピーク情報をプロダクトイオン情報とするデータベース検索をそれぞれ実行し、各化合物に対する候補化合物とその候補化合物の標準MS/MSスペクトルを求める(S2-S5)。そして、候補化合物の組み合わせ毎に標準MS/MSスペクトルを統合した仮想MS/MSスペクトルを作成し、その仮想MS/MSスペクトルと実測のMS/MSスペクトルとの類似度を計算する(S6)。候補化合物が正解の化合物であれば類似度は高くなるので、類似度の順に化合物名等の結果を表示し、ユーザに提示する(S8)。それにより、プロダクトイオンが混在するMS/MSスペクトルから複数の化合物を同時に同定することができる。 

Description

タンデム質量分析データ処理装置
 本発明は、イオンを開裂させそれにより生成されたイオンを質量分析することが可能であるタンデム質量分析装置により収集されたデータを処理するデータ処理装置に関する。
 質量分析の一手法として、タンデム分析或いはMSn分析と呼ばれる手法が知られている。タンデム分析は、試料中の化合物から生成された各種イオンの中でターゲットとなる特定の質量電荷比を持つイオンをまず選択し、該イオン(通常、プリカーサイオンと呼ばれる)を衝突誘起解離(CID=Collision-Induced Dissociation)などの解離操作により開裂させ、それにより生成されたイオン(通常、プロダクトイオンと呼ばれる)を質量分析する分析手法であり、主として分子量が大きな物質の同定やその構造の解析を行うために、近年、広く利用されている。また、化合物によっては、1回の解離操作では十分に小さな断片にまで開裂しないため、プリカーサイオンの選択とそのプリカーサイオンに対する解離操作とが複数回繰り返される(つまりnが3以上であるMSn分析が行われる)場合もある。
 タンデム分析を行うための質量分析装置としては、例えば、コリジョンセルを挟んでその前後に四重極マスフィルタを配置した三連四重極型質量分析装置(タンデム四重極型質量分析装置などとも呼ばれる)や、三連四重極型質量分析装置において後段の四重極マスフィルタに代えて飛行時間型質量分析計を用いたQ-TOF型質量分析装置などが知られている。これら質量分析装置では、プリカーサイオン選択と解離操作とが1回しか行えないので、MS2(=MS/MS)分析までのタンデム分析しか行えない。一方、イオンの選択と解離操作とを複数回繰り返し実行可能であるイオントラップを用いたイオントラップ型質量分析装置や、イオントラップと飛行時間型質量分析装置とを組み合わせたイオントラップ飛行時間型質量分析装置では、原理的には、nの値の制限のないMSn分析が可能である(ただし、実際には感度の点からnは5程度に制限される)。
 このようなタンデム分析を利用して試料中の化合物を同定する際には、一般に、その化合物由来の特定の質量電荷比を有するイオンを開裂させ、それにより生成されたプロダクトイオンを質量分析することでMS2スペクトルを取得する。そして、その実測のMS2スペクトルのピークパターンを化合物データベースに格納されている既知化合物のMS2スペクトルと照合してパターンの類似度を計算し、その類似度を参照して化合物を特定する。そのため、正確な化合物同定を行うには、マススペクトルで観測されるピーク情報(主として質量電荷比値)の精度が高いことが重要である。近年の質量分析装置の性能の向上は顕著であり、従来装置ではマススペクトル上で1本のピークとしてしか観測できなかったものが、高質量分解能の装置では、複数本のピークとして分離されて観測できることもよくある。このような質量分解能、質量精度の改善に伴い、上記のようなデータベース検索による化合物の同定の信頼度も大幅に向上している。
 上述したように装置の質量分解能は向上しているものの、プリカーサイオンを選択する際の質量電荷比幅を極端に狭くすることは難しい。これは、特定の質量電荷比を持つイオンを抜き出すためのウインドウ(質量窓)の端部の選択特性は比較的なだらかである(つまりは透過率が徐々に悪くなる)ため、ウインドウの選択質量電荷比幅を狭くすると解離操作の対象となるプリカーサイオンの量が少なくなってしまい、十分に高い感度でプロダクトイオンを検出することが難しくなるからである(例えば特許文献1等参照)。こうしたことから、一般的な質量分析装置におけるプリカーサイオンの選択質量電荷比幅は0.5~2Da程度に定められている。そのため、質量電荷比の差が小さい(例えば0.5Da以下)複数種類のイオンが存在すると、得られるMS2スペクトルには、複数の異なるイオン種が解離して生成されたプロダクトイオンのピークが混在して現れることになる。こうしたMS2スペクトルから求まるピーク情報を単純にデータベース検索に供しても、十分に高い精度で以て化合物を同定することは難しい。
特開2012-122871号公報
 上述したように従来は、マススペクトル(MS1スペクトル)上で狭い質量電荷比範囲内に複数のイオン種由来のピークが存在していることが判明している場合であっても、多くの場合、それら複数のイオンピーク全体に対して解離操作を行わざるを得ず、その結果、異なる複数のイオン種から生成されたプロダクトイオンのピークが混在したMS2スペクトルしか得られなかった。こうしたMS2スペクトルにおいて異なるイオン種由来のプロダクトイオンピークを識別することは困難であるため、データベース検索による化合物の同定精度を高めることが困難であった。
 なお、こうした問題は、典型的にはMS2スペクトルにおいて起こるものであるが、nが3以上であるMSnスペクトルにおいても事情は同じである。
 本発明はこうした課題を解決するためになされたものであり、その第1の目的は、複数の異なる化合物由来のイオンを解離して得られたプロダクトイオンのピークが混在しているnが2以上であるMSnスペクトルを用いながら、複数の化合物を同定することができるタンデム質量分析データ処理装置を提供することである。
 また本発明の第2の目的は、複数の異なる化合物由来のイオンを解離して得られたプロダクトイオンのピークが混在しているnが2以上であるMSnスペクトルから、複数の化合物にそれぞれ対応するMSnスペクトルを得ることができるタンデム質量分析データ処理装置を提供することである。
 上記第1の目的を達成するためになされた本発明に係るタンデム質量分析データ処理装置の第1の態様は、所定の質量電荷比幅に含まれる質量電荷比を有する、複数の異なる化合物にそれぞれ由来するイオンをまとめてプリカーサイオンとして選択し、その選択されたプリカーサイオンを解離して得られたプロダクトイオンを質量分析することで得られたMSnスペクトルデータを処理するタンデム質量分析データ処理装置であって、
 a)既知の化合物に対応付けて少なくとも標準的なMSnスペクトルの情報が格納された化合物データベースと、
 b)実測により得られたデータに基づいて作成されるMSnスペクトルからピーク情報を収集するピーク情報収集部と、
 c)前記プリカーサイオンとして選択された複数の化合物のイオン毎にそれぞれ、その質量電荷比値と前記ピーク情報収集部により収集されたMSnスペクトルのピーク情報とに基づき前記化合物データベースに対するデータベース検索を実行して候補化合物を求めるデータベース検索実行部と、
 d)前記複数の化合物のイオン毎に求まった候補化合物に対する標準的なMSnスペクトルを前記化合物データベースにより取得し、前記複数の化合物に対する候補化合物の組み合わせを仮定し、仮定した1つの組み合わせに含まれる複数の候補化合物に対する標準的なMSnスペクトルを統合した仮のMSnスペクトルを作成して、該仮のMSnスペクトルと前記実測のMSnスペクトルとの類似度を、候補化合物の組み合わせ毎に計算する類似度算定部と、
 を備え、前記類似度算定部により得られた類似度を利用して化合物を同定可能としたことを特徴としている。
 同じく上記第1の目的を達成するためになされた本発明に係るタンデム質量分析データ処理装置の第2の態様は、所定の質量電荷比幅に含まれる質量電荷比を有する、複数の異なる化合物にそれぞれ由来するイオンをまとめてプリカーサイオンとして選択し、その選択されたプリカーサイオンを解離して得られたプロダクトイオンを質量分析することで得られたMSnスペクトルデータを処理するタンデム質量分析データ処理装置であって、
 a)既知の化合物に対応付けて少なくとも標準的なMSnスペクトルの情報が格納された化合物データベースと、
 b)実測により得られたデータに基づいて作成されるMSnスペクトルからピーク情報を収集するピーク情報収集部と、
 c)前記プリカーサイオンとして選択された複数の化合物のイオン毎にそれぞれ、その質量電荷比値と前記ピーク情報収集部により収集されたピーク情報から判明する質量電荷比との差であるニュートラルロスの質量を計算し、そのプリカーサイオンの質量電荷比とニュートラルロス質量とに基づいて、前記化合物データベースに対するデータベース検索を実行して候補化合物を求めるデータベース検索実行部と、
 d)前記複数の化合物のイオン毎に求まった候補化合物に対する標準的なMSnスペクトルを前記化合物データベースにより取得し、前記複数の化合物に対する候補化合物の組み合わせを仮定し、仮定した1つの組み合わせに含まれる候補化合物に対する標準的なMSnスペクトルを統合した仮のMSnスペクトルを作成して、該仮のMSnスペクトルと前記実測のMSnスペクトルとの類似度を、候補化合物の組み合わせ毎に計算する類似度算定部と、
 を備え、前記類似度算定部により算出された類似度を利用して化合物を同定可能としたことを特徴としている。
 本発明に係るタンデム質量分析データ処理装置は、例えば三連四重極型質量分析装置、Q-TOF型質量分析装置、イオントラップ型質量分析装置、イオントラップ飛行時間型質量分析装置などで得られたMSnスペクトルデータ、典型的にはMS2スペクトルデータを処理するものである。
 本発明に係る第1及び第2の態様のタンデム質量分析データ処理装置はいずれも、既知の化合物情報が格納された化合物データベースを用いたデータベース検索を利用して、同定したい未知の化合物に対する候補化合物を探索する。第1の態様のタンデム質量分析データ処理装置では、データベース検索を実行するために、プリカーサイオンの質量電荷比とMSnスペクトルのピーク情報(少なくとも質量電荷比)とを利用する。一方、第2の態様のタンデム質量分析データ処理装置では、データベース検索を実行するために、プリカーサイオンの質量電荷比とMSnスペクトルのピーク情報(少なくとも質量電荷比)から求まるニュートラルロスの質量とを利用する。
 いずれの場合でも、プリカーサイオンとしてまとめて選択した(つまりはプリカーサイオン選択のための所定の質量電荷比幅に含まれる)複数のイオンの質量電荷比は既知であるから、データベース検索部では、そのイオン毎にそれぞれ、そのイオンの質量電荷比値を検索条件の1つとして設定したうえでデータベース検索を実行する。このとき、MSnスペクトルのピーク情報やそれから求まるニュートラルロスの質量情報は、上述したように検索条件の1つとして設定されたイオンとは異なるイオンに由来するプロダクトイオンの情報を含む。そのため、必ずしも高い信頼度で以て1つの化合物を特定することはできないので、データベース検索部は、プリカーサイオンとした異なるイオン毎に、或る程度の信頼度を以てヒットする化合物を候補としてそれぞれ複数求める。
 そのあと類似度算定部は、プリカーサイオンとしてまとめて選択した複数のイオンそれぞれに対応する候補化合物の組み合わせ、つまりプリカーサイオンとして質量電荷比が異なる3種のイオンがまとめて選択された場合には、その3種のイオンにそれぞれ対応する候補化合物を1つずつ選択した3つの候補化合物の組み合わせを仮定する。この組み合わせの仮定は、総当たり的に行えばよい。そして、各候補化合物に対する標準的なMSnスペクトルを化合物データベースにより取得し、仮定した1つの組み合わせに含まれる候補化合物に対する標準的なMSnスペクトルを統合することで仮のMSnスペクトルを作成し、その仮のMSnスペクトルと実測のMSnスペクトルとのパターンの類似度を計算する。
 仮定した組み合わせに含まれる候補化合物が真の化合物である場合には、仮のMSnスペクトルと実測のMSnスペクトルとのパターンの類似度は高くなる。そこで、総当たり的に求めた組候補化合物の組み合わせ毎に同様に類似度を求め、それを例えば表示によりユーザに提示することで、ユーザがその類似度を参照して化合物を同定できるようにすることができる。もちろん、例えば最大の類似度を示す組み合わせに含まれる候補化合物を同定結果として出力するようにしてもよい。
 以上のようにして、本発明に係る第1、第2の態様のタンデム質量分析データ処理装置によれば、複数の異なる化合物のイオンが解離して生成されるプロダクトイオンが混在して現れるMSnスペクトルに基づいて、それら化合物を高い確度で同定することができる。
 また上記第2の目的を達成するためになされた本発明に係るタンデム質量分析データ処理装置の第3の態様は、所定の質量電荷比幅に含まれる質量電荷比を有する、複数の異なる化合物にそれぞれ由来するイオンをまとめてプリカーサイオンとして選択し、その選択されたプリカーサイオンを解離して得られたプロダクトイオンを質量分析することで得られたMSnスペクトルデータを処理するタンデム質量分析データ処理装置であって、
 a)実測により得られたMSn-1スペクトルデータからプリカーサイオンとして選択された複数のイオンの質量電荷比値を取得し、該質量電荷比値から各イオンの組成式を推定するプリカーサイオン組成式推定部と、
 b)実測により得られたMSnスペクトルデータから検出されたプロダクトイオンの質量電荷比値を取得し、該質量電荷比値から各プロダクトイオンの組成式を推定するプロダクトイオン組成式推定部と、
 c)プロダクトイオン毎に、前記プロダクトイオン組成式推定部により推定された組成式と前記プリカーサイオン組成式推定部により推定されたプリカーサイオンの組成式との整合性を検証することにより、そのプロダクトイオンが複数のプリカーサイオンのいずれに由来するものであるかを判定するプロダクトイオン帰属判定部と、
 d)前記プロダクトイオン帰属判定部による判定結果に基づいて、複数のプロダクトイオンをプリカーサイオン毎に分けたMSnスペクトルデータを再構成するデータ分離部と、
 を備えることを特徴としている。
 本発明に係る第3の態様のタンデム質量分析データ処理装置において、プリカーサイオン組成式推定部はそれぞれ、実測により得られたMSn-1スペクトルデータからプリカーサイオンとした複数のイオンの質量電荷比値を取得し、質量電荷比値から各イオンの組成式、つまりそのイオンを構成する元素の種類と数とを推定する。プロダクトイオン組成式推定部も同様に、実測により得られたMSnスペクトルデータからプロダクトイオンの質量電荷比値を取得し、質量電荷比値から各プロダクトイオンの組成式を推定する。なお、プリカーサイオンやプロダクトイオンの質量電荷比値から組成式を推定するためには、質量電荷比が高い精度で得られている必要がある。そのため、処理対象のデータは、Q-TOF型質量分析装置やイオントラップ飛行時間型質量分析装置など、飛行時間型質量分析装置を用いた装置で得られたものであることが望ましい。
 或るプリカーサイオンが解離して生成されたプロダクトイオンでは、含まれる元素の数がプリカーサイオンにおけるその元素の数よりも増加していたり、或いはプリカーサイオンには含まれない元素が含まれていたりすることは通常あり得ない。即ち、プロダクトイオンの組成式はプリカーサイオンの組成式に包含される筈である。そこでプロダクトイオン帰属判定部は、プロダクトイオン毎に、推定された組成式がプリカーサイオンであるイオンの組成式に包含されるか否かを判定することで整合性が確保されているか否かを検証し、その結果に基づき、そのプロダクトイオンが複数のプリカーサイオンのいずれに由来するものであるかを判定する。そしてデータ分離部はその判定結果に基づいて、複数のプロダクトイオンをプリカーサイオン毎に分けたMSnスペクトルデータを再構成し、例えばプリカーサイオンとして選択した複数のイオン毎に分けたMSnスペクトルを作成する。
 もちろん、或るプロダクトイオンの組成式が複数のプリカーサイオンの組成式に包含されることはあり得るが、その場合には、プロダクトイオンをその複数のプリカーサイオンのいずれにも対応付ければよい。こうした場合、実際にはプロダクトイオンではないものが誤って対応付けられてしまう可能性があり、これはMSnスペクトルにおいてはノイズとなるが、少なくとも整合性がとれない、つまりは明らかにプロダクトイオンではないイオンを排除することで、各化合物に対するMSnスペクトルの純度を高めることができる。例えばこうして得られたMSnスペクトルデータをデータベース検索に供することで、化合物同定の正確性を高めることができる。
 さらにまた上記第2の目的を達成するためになされた本発明に係るタンデム質量分析データ処理装置の第4の態様は、所定の質量電荷比幅に含まれる質量電荷比を有する、複数の異なる化合物にそれぞれ由来するイオンをまとめてプリカーサイオンとして選択し、その選択されたプリカーサイオンを解離して得られたプロダクトイオンを質量分析することで得られたMSnスペクトルデータを処理するタンデム質量分析データ処理装置であって、
 a)実測により得られたMSn-1スペクトルデータからプリカーサイオンとして選択された複数のイオンの質量電荷比値を取得し、該質量電荷比値の小数点以下部分をマスデフェクトとして抽出するプリカーサイオンマスデフェクト抽出部と、
 b)実測により得られたMSnスペクトルデータから検出されたプロダクトイオンの質量電荷比値を取得し、該質量電荷比値の小数点以下部分をマスデフェクトとして抽出するプロダクトイオンマスデフェクト抽出部と、
 c)プロダクトイオン毎に、前記プロダクトイオンマスデフェクト抽出部により抽出されたマスデフェクトと前記プリカーサイオンマスデフェクト抽出部により抽出されたプリカーサイオンのマスデフェクトとの類似性を判定することにより、そのプロダクトイオンが複数のプリカーサイオンのいずれに由来するものであるかを判定するプロダクトイオン帰属判定部と、
 d)前記プロダクトイオン帰属判定部による判定結果に基づいて、複数のプロダクトイオンをプリカーサイオン毎に分けたMSnスペクトルデータを再構成するデータ分離部と、
 を備えることを特徴としている。
 質量分析を用いた代謝物解析では、マスデフェクトフィルタリング(Mass Defect Filtering)と呼ばれる手法がよく知られている。これは、未変化体とその代謝物とでは質量の整数値が変化しても小数点以下の数値は殆ど変化しないという現象を利用して、不要なイオンを排除して目的とするイオンを絞り込むものである。プリカーサイオンと該イオンから生成されるプロダクトイオンとにもこの現象を利用できる場合があり、本発明に係る第4の態様のタンデム質量分析データ処理装置では、このマスデフェクトを利用して異なる化合物イオン由来のプロダクトイオンをそれぞれの化合物に振り分ける。この場合にも第3の態様と同様に、小数点以下の精度の高い質量電荷比が必要である。
 なお、本発明に係る第3、第4の態様のタンデム質量分析データ処理装置は併用することができることは当然である。
 本発明に係る第1、第2の態様のタンデム質量分析データ処理装置によれば、複数の異なる化合物のイオンが解離して生成されるプロダクトイオンが混在して現れるMSnスペクトルに基づいて、それら複数の化合物を高い確度で同定することができる。
 また本発明に係る第3、第4の態様のタンデム質量分析データ処理装置によれば、複数の異なる化合物のイオンが解離して生成されるプロダクトイオンが混在して現れるMSnスペクトルデータを、複数の化合物にそれぞれ対応するMSnスペクトルデータに分離することができる。こうして分離されたMSnスペクトルデータを例えばデータベース検索に供することにより、第1、第2の態様のタンデム質量分析データ処理装置と同様に、プリカーサイオン選択の際には分離できなかった複数の化合物を高い確度で同定することができる。
本発明に係るタンデム質量分析データ処理装置を用いた第1実施例の質量分析システムの概略構成図。 第1実施例の質量分析システムにおける特徴的なデータ処理の内容を示すフローチャート。 プリカーサイオン選択ウインドウに複数のイオンが含まれる場合のマススペクトル及びMS/MSスペクトルの一例を示す図。 第1実施例の質量分析システムにおける特徴的なデータ処理を説明するための模式図。 本発明に係るタンデム質量分析データ処理装置を用いた第2実施例の質量分析システムの概略構成図。 第2実施例の質量分析システムにおける特徴的なデータ処理の内容を示すフローチャート。 第2実施例の質量分析システムにおける特徴的なデータ処理を説明するための模式図。 本発明に係るタンデム質量分析データ処理装置を用いた第3実施例の質量分析システムの概略構成図。 第3実施例の質量分析システムにおける特徴的なデータ処理を適用する場合の一例を示す図。
  [第1実施例]
 本発明に係るタンデム質量分析データ処理装置を用いた質量分析システムの一実施例(第1実施例)について、添付図面を参照して説明する。
 図1は第1実施例の質量分析システムの概略構成図である。
 第1実施例の質量分析システムは、処理対象であるデータを収集するために、イオン源10、第1段質量分離部11、イオン解離部12、第2段質量分離部13、検出器14、アナログデジタル変換器(ADC)15、分析制御部16、を含むタンデム質量分析計1を備える。分析制御部16による制御の下で、イオン源10は導入された試料に含まれる化合物をイオン化し、第1段質量分離部11は生成された各種イオンの中でその質量電荷比が所定の質量電荷比幅を有するプリカーサイオン選択ウインドウに含まれる特定のイオンをプリカーサイオンとして選択する。イオン解離部12は選択されたプリカーサイオンを衝突誘起解離等により解離させ、第2段質量分離部13は解離により生成された各種プロダクトイオンを質量電荷比に応じて分離する。そして、検出器14は分離されたプロダクトイオンを検出し、それぞれのイオンの量に応じた検出信号を生成する。この検出信号はアナログデジタル変換器15によりデジタルデータに変換され、データ処理部2に入力される。
 タンデム質量分析計1がQ-TOF装置である場合には、第1段質量分離部11は四重極マスフィルタであり、イオン解離部12はコリジョンセルであり、第2段質量分離部13は飛行時間型質量分析器である。また、タンデム質量分析計1がイオントラップ飛行時間型質量分析計である場合には、第1段質量分離部11及びイオン解離部12はイオントラップであり、第2段質量分離部13は飛行時間型質量分析器である。また、イオン源10におけるイオン化法は特に限定されず、試料の態様(つまり気体試料、液体試料など)に応じた適宜のイオン化法を用いることができる。
 データ処理部2は、タンデム質量分析計1から順次出力されるデータを収集して記憶するデータ格納21と、試料に含まれる化合物を同定するために、データ格納部21に格納されたデータに基づいて特徴的なデータ処理を実行する複数プリカーサ対応解析処理部22と、既知の化合物に関する情報が予め登録されている化合物データベース24と、化合物データベース24を利用したデータベース検索を行うことで化合物の候補を抽出するデータベース検索部23と、を機能ブロックとして含む。ユーザインターフェースである操作部4や表示部5が接続されている制御部3は、タンデム質量分析計1における実際の分析やデータ処理部2におけるデータ処理のためにシステム全体の制御を担う。
 なお、制御部3、分析制御部16、及びデータ処理部2の少なくとも一部は、パーソナルコンピュータ又はより高性能のワークステーションをハードウエア資源とし、それらコンピュータに予めインストールされた専用の制御・処理ソフトウエアを該コンピュータで実行することによりそれぞれの機能が実現されるようにすることができる。
 図3(a)は、第1段質量分離部11でプリカーサイオンの選択を行わず、且つイオン解離部12でイオンの解離操作を行わないときに得られるマススペクトルの一例を示す図である。第2段質量分離部13として飛行時間型質量分析器のように高精度、高分解能のものを用いた場合、質量電荷比差が0.5Da以下であるようなきわめて近接した複数の化合物由来のイオンピークも分離した状態で観測される。図3(a)の例では、化合物Aに由来するピークA(m/z 385)と化合物Bに由来するピークB(m/z 385.2)との2本のピークがきわめて近接して出現している。このように、マススペクトル上では近接している複数のピークも十分に分離されており、それぞれのピークに対応する質量電荷比値を精度良く求めることが可能である。
 一方、MS/MS分析に際して解離操作の対象とされるイオンの量を十分に確保するには、プリカーサイオン選択に用いられるプリカーサイオン選択ウインドウの質量電荷比幅を最小でも0.5Da程度にしておく必要がある。そのため、プリカーサイオン選択の際には、きわめて近接しているピークAとピークBとを分離することはできない。その結果、ピークA、Bがプリカーサイオン選択ウインドウに含まれるように該ウインドウを設定してMS/MS分析を実行すると、化合物A由来の分子イオンと化合物B由来の分子イオンとが同時に解離され、図3(b)に示すように、MS/MSスペクトルには2つの異なるのイオン種が解離して生成されたプロダクトイオンが混じって現れることになる。
 本実施例の質量分析システムにおけるデータ処理部2では、こうしたMS/MSスペクトルデータに対して以下に述べる特徴的なデータ処理を実施することで、複数の化合物A、Bをそれぞれ高い確度で同定できるようにしている。図2はこの特徴的なデータ処理の手順を示すフローチャート、図4はこのデータ処理を説明するための模式図である。ここでは、図3(a)に示すマススペクトルを構成するデータ及び図3(b)に示すMS/MSスペクトルを構成するデータがデータ格納部21に保存されている状態で、該データに対するデータ処理を行う場合を例に挙げて説明する。
 データ処理実行開始が指示されると、データ処理部2において複数プリカーサ対応解析処理部22は、データ格納部21から処理対象である実測のMS/MSスペクトルデータを読み出す。そして、MS/MSスペクトルに対しピーク検出処理を実行することにより、MS/MSスペクトルに現れているピークの情報(質量電荷比値及び信号強度値)を収集する(ステップS1)。上述したように、このときに収集されるプロダクトイオンのピーク情報は1つのプリカーサイオンに対応するものではなく、質量電荷比がプリカーサイオン選択ウインドウに含まれる複数のプリカーサイオン(この例ではm/z 385、385.2の2つ)に対応するものである。
 また複数プリカーサ対応解析処理部22は、データ格納部21から実測のマススペクトルデータを読み出し、MS/MS分析の際にプリカーサイオンとして選択された化合物A由来のピークAの質量電荷比値及び化合物B由来のピークBの質量電荷比値を求める。そしてデータベース検索部23は、ピークAの質量電荷比値(この例ではm/z 385)をデータベース検索のためのプリカーサイオン情報とし、ステップS1で収集したMS/MSスペクトルのピーク情報をプロダクトイオン情報とするように検索条件を設定したうえで、この検索条件に従って化合物データベース24に対するデータベース検索を実行する(ステップS2)。
 データベース検索の手法は従来の化合物同定のためのデータベース検索と同様であり、ピークの質量電荷比値の一致度などに基づくピークパターンの類似性を示す指標値が計算され、高い指標値が得られる複数の化合物が候補化合物として抽出される。また、このとき抽出された候補化合物に対応する標準MS/MSスペクトルが化合物データベース24から読み出される(ステップS3)。ここでは、図4に示すように、化合物A由来のピークAの質量電荷比値をプリカーサイオン情報としたデータベース検索によって、a、b、cなる3種の候補化合物が抽出されたものとする。
 次に、データベース検索部23は、ピークBの質量電荷比値(この例ではm/z 385.2)をデータベース検索のためのプリカーサイオン情報とし、ステップS1で収集したMS/MSスペクトルのピーク情報をプロダクトイオン情報とするように検索条件を設定したうえで、この検索条件に従って化合物データベース24に対するデータベース検索を実行する(ステップS4)。このデータベース検索によって、複数の化合物が候補化合物として抽出され、抽出された候補化合物に対応する標準MS/MSスペクトルが化合物データベース24から読み出される(ステップS5)。ここでは、図4に示すように、化合物B由来のピークBの質量電荷比値をプリカーサイオン情報としたデータベース検索によって、d、e、fなる3種の候補化合物が抽出されたものとする。
 続いて複数プリカーサ対応解析処理部22は、ピークAに対して抽出された複数の候補化合物のうちの1つとピークBに対して抽出された複数の候補化合物のうちの1つを選択し、その候補化合物の組み合わせに含まれる候補化合物にそれぞれ対応した標準MS/MSスペクトルを統合することによって仮想MS/MSスペクトルを作成する。仮想MS/MSスペクトルは、複数の標準MS/MSスペクトル上のピークを単に加算することにより作成すればよい。そして、その仮想MS/MSスペクトルと実測のMS/MSスペクトルとのピークパターンの類似度を計算する。これにより、候補化合物の1つの組み合わせに対する仮想MS/MSスペクトルと実測MS/MSスペクトルとの類似度が求まる(ステップS6)。
 そして、候補化合物の全ての組み合わせについての類似度の計算が実施されたか否かを判定し(ステップS7)、類似度計算がなされていない候補化合物の組み合わせがあればステップS6へと戻る。こうしたステップS6、S7の繰り返しによって、ここでは、図4に示した化合物Aに対して抽出された3つの候補化合物a、b、cと化合物Bに対して抽出された3つの候補化合物d、e、fとの組み合わせ、具体的には(a、d)、(a、e)、(a、f)、(b、d)、(b、e)、(b、f)、(c、d)、(c、e)、(c、f)の9通りの組み合わせの全てについて、仮想MS/MSスペクトルと実測のMS/MSスペクトルとの類似度が求まることになる。
 組み合わせとして選択された候補化合物が実際に化合物A、Bであるならば、仮想MS/MSスペクトルと実測MS/MSスペクトルとの類似度は高くなる筈である。換言すれば、この類似度に基づいて候補化合物が正解の化合物であるか否かを判断することができる。そこで、複数プリカーサ対応解析処理部22は、ステップS6で算出した類似度が高い順に処理結果、つまりは候補化合物の名称と類似度とを制御部3を通して表示部5の画面上に表示する(ステップS8)。最終的にユーザはこの表示を見て、プリカーサイオンとして選択した複数の化合物A、Bを同定する。
 上記説明では、プリカーサイオン選択ウインドウに2つのイオンが含まれる場合の例について述べたが、プリカーサイオン選択ウインドウに3以上の複数のイオン種が含まれ、その複数のイオン種がまとめてプリカーサイオンとして解離された場合であっても、同様にしてその複数の化合物を同定可能であることは明らかである。
 上記第1実施例の質量分析システムでは、データベース検索により候補化合物を探索する際に、実測のMS/MSスペクトルから求めたピーク情報、つまりはプロダクトイオンの質量電荷比値(或いは、質量電荷比値及び信号強度値)を用いていたが、同様のデータベース検索は、ニュートラルロスの質量を用いても行うことができる。
 ニュートラルロスの質量とはプリカーサイオンの質量電荷比とプロダクトイオンの質量電荷比との差である。したがって、化合物A由来のピークAの質量電荷比値をデータベース検索のためのプリカーサイオン情報とする際には、ピークAの質量電荷比とプロダクトイオンの質量電荷比との差をニュートラルロス質量としてデータベース検索に供すればよく、化合物B由来のピークBの質量電荷比値をデータベース検索のためのプリカーサイオン情報とする際には、ピークBの質量電荷比とプロダクトイオンの質量電荷比との差をニュートラルロス質量としてデータベース検索に供すればよい。データベース検索によって候補化合物がそれぞれ求まったあとには、第1実施例で説明したのと同様に、仮想MS/MSスペクトルを求めて該仮想MS/MSスペクトルと実測MS/MSスペクトルとの類似度を計算し、その類似度の高い順に結果を表示すればよい。
 なお、上記第1実施例では、類似度の高い順に候補化合物などの結果を表示したが、最も高い類似度を与える結果が正確であるとみなして、それのみを表示するようにしてもよい。また、類似度が所定の閾値を上回るか否かを判定し、閾値を上回る候補化合物の組み合わせがない場合には、該当無し(同定不能)との結果を表示するようにしてもよい。
  [第2実施例]
 本発明に係るタンデム質量分析データ処理装置を用いた質量分析システムの他の実施例(第2実施例)について、添付図面を参照して説明する。
 図5は第2実施例の質量分析システムの概略構成図である。第1実施例の質量分析システムと同じ構成要素には同じ符号を付してある。即ち、この第2実施例の質量分析システムではデータ処理部2の機能ブロックが第1実施例とは相違し、タンデム質量分析計1などの構成は第1実施例と全く同一である。
 第2実施例の質量分析システムにおいて、データ処理部2はデータ格納部21のほかに、組成式推定部25、プロダクトイオン帰属判定部26、及びデータ分離処理部27などの機能ブロックを備える。
 図6は第2実施例の質量分析システムにおける特徴的なデータ処理の内容を示すフローチャート、図7はこの特徴的なデータ処理を説明するための模式図である。以下、データ処理部2における処理について説明する。
 データ処理が開始されると、まず組成式推定部25は、データ格納部21から実測のマススペクトルデータを読み出し、プリカーサイオンとして選択された化合物A由来のピークAの質量電荷比値及び化合物B由来のピークBの質量電荷比値を求める。そして、求めた質量電荷比値から、化合物A、Bの組成式、即ち、それら化合物を構成する元素の種類と各元素の数をそれぞれ推定する(ステップS11)。上述したように、第2段質量分離部13が飛行時間型質量分析器のような高精度、高分解能のものであれば、高い精度で質量電荷比値が求まるので、高い確度で組成式を推定することができる。
 次に、組成式推定部25はデータ格納部21から実測のMS/MSスペクトルデータを読み出し、MS/MSスペクトルに対しピーク検出処理を実行することにより、MS/MSスペクトルに現れているピークの質量電荷比値を収集する。そして、求めた質量電荷比値から、MS/MSスペクトル上で観測されるプロダクトイオンの組成式をそれぞれ推定する(ステップS12)。
 なお、一般的に有機化合物であれば、H、C、O、Nなどの基本的な元素が含まれることを想定して組成式推定を行うが、Cl、Brといったハロゲン元素など、特殊な元素が含まれる場合には、そうした可能性があることを示す付加的な情報が与えられれば組成式の推定は容易である。したがって、そうした付加的な情報をユーザが適宜入力できるようにし、それを組成式推定に利用するようにするとよい。
 一般に、プロダクトイオンは元のプリカーサイオンから何らかの断片(化学構造体)が脱離したものであるから、プロダクトイオンの組成式は元のプリカーサイオンの組成式に包含される、つまりは、プロダクトイオンを構成する任意の元素の個数は元のプリカーサイオンを構成するその元素の個数と同じか或いはそれよりも少なく、プロダクトイオンを構成する任意の元素は元のプリカーサイオンにも含まれる筈である。換言すれば、プロダクトイオンを構成する或る元素の個数がプリカーサイオンを構成する該元素の個数を上回る場合や、プロダクトイオンを構成する或る元素がプリカーサイオンに含まれない場合には、そのプリカーサイオンはそのプロダクトイオンの元となったイオンでない可能性がきわめて高いといえる。そこで、プロダクトイオン帰属判定部26は、実測のMS/MSスペクトルにおいて検出されたプロダクトイオン毎に、その組成式が複数のプリカーサイオンの組成式に包含されるか否かを判定することにより、組成式の整合性を検証し、プロダクトイオンのピークを組成式の整合性がとれるプリカーサイオンに帰属させる(ステップS13)。そして、実測のMS/MSスペクトルにおいて検出された全てのプロダクトイオンピークについて帰属が決定する(ステップS14でYesと判定される)まで、ステップS13、S14の処理を繰り返す。
 もちろん、或るプロダクトイオンの組成式が複数のプリカーサイオンの組成式に包含されることは十分にあり得るから、その場合には、そのプロダクトイオンは複数のプリカーサイオンの両方に帰属させればよい。また、或るプロダクトイオンの組成式が複数のプリカーサイオンの組成式のいずれにも包含されない場合には、それは実際にはプロダクトイオン由来ではないノイズピークである可能性があるから、そうしたピークは単に除外すればよい。そうして、ステップS12においてMS/MSスペクトルから検出されたプロダクトイオン由来のピーク(厳密にはプロダクトイオンであると推定されるピーク)の全ての帰属を決定したならば、データ分離処理部27は、その帰属結果に基づいて、MS/MSスペクトルデータを複数のプリカーサイオンに対応するように分離し(ステップS15)、さらに、分離されたデータに基づいて各プリカーサイオンに対応したMS/MSスペクトルを作成する(ステップS16)。
 図7(a)はMS/MSスペクトルに現れるピークが帰属された例を示す図であり、図中、□印と○印はそれぞれのピークの帰属先を示している。また、無印のピークはいずれのプリカーサイオンにも帰属されないピークである。図7(b)は帰属結果に応じて2つに分離されたMS/MSスペクトルの例である。なお、複数のプリカーサイオンの両方に帰属されたプロダクトイオンは実際に両方のプリカーサイオン由来のプロダクトイオンである場合と、いずれか一方(又は希には両方)のプリカーサイオンへの帰属が誤りである場合とがある。後者の場合には、分離されたMS/MSスペクトル上に偽のピークが出現することになるが、明らかにプロダクトイオンではないピークは除去されるので、少なくとも分離前のMS/MSスペクトルに比べれば純度の高い有用なMS/MSスペクトルを得ることができる。
 例えば、こうしてプリカーサイオン毎に分離されたMS/MSスペクトルが得られたならば、それぞれのMS/MSスペクトルから求めたピーク情報をデータベース検索に供して化合物同定を行うようにすればよい。このときにデータベース検索に供されるピーク情報はそのときのプリカーサイオン由来ではないプロダクトイオンピークの少なくとも一部が除去されたものとなるので、データベース検索の精度が向上し、正解の化合物を同定できる可能性が高まる。
  [第3実施例]
 本発明に係るタンデム質量分析データ処理装置を用いた質量分析システムのさらに他の実施例(第3実施例)について、添付図面を参照して説明する。
 図8は第3実施例の質量分析システムの概略構成図である。第1、第2実施例の質量分析システムと同じ構成要素には同じ符号を付してある。即ち、この第3実施例の質量分析システムではデータ処理部2の機能ブロックが第1、第2実施例と相違し、タンデム質量分析計1などの構成は第1、第2実施例と全く同一である。
 第3実施例の質量分析システムにおいて、データ処理部2はデータ格納部21、データ分離処理部27などのほかに、マスデフェクト抽出部28、プロダクトイオン帰属判定部29といった機能ブロックを備える。
 この第3実施例では第2実施例と同様に、実測のMS/MSスペクトルにおいて検出された各プロダクトイオンのピークを複数のプリカーサイオンのいずれか(又は複数)に帰属させるが、その際に、一般的にマスデフェクトフィルタリングと呼ばれる手法を利用する。これは、質量分析を用いた代謝物の解析によく利用される手法であり、質量電荷比値の小数点以下の部分の値(つまりはマスデフェクト)の近似性を利用して不要なイオンと有用なイオンとを識別するものである。
 ここで、図9により、いずれのプリカーサイオンから派生したプロダクトイオンであるかを判定するためにマスデフェクトフィルタリングが有用であることを説明する。
 いま一例として図9(a)に示した2種の化合物、即ち、トリアレート(S-2,3,3-トリクロロアリルジイソプロピルチオカルバマート)とフェンプロピモルフ((2β,6β)-4-[3-[4-(1,1-ジメチルエチル)フェニル]-2-メチルプロピル]-2,6-ジメチルモルホリン)とが試料に含まれているものとする。トリアレートの質量は304.0091、フェンプロピモルフの質量は304.2635であり、マススペクトルにおいて両化合物由来の分子イオンの質量電荷比差は0.2544Daにすぎない。そのため、上述したようにMS/MS分析のための設定されるプリカーサイオン選択ウインドウによっては両化合物由来のイオンを分離することはできず、それら化合物由来のイオンはまとめてプリカーサイオンとして解離されることになる。その結果、MS/MSスペクトルでは、両化合物由来のプロダクトイオンが混じって出現する。
 トリアレートが解離するとプロダクトイオンの1つとして図9(b)に示すような化学構造を有するイオンが生成される。一方、フェンプロピモルフが解離するとプロダクトイオンの1つとして図9(c)に示すような化学構造を有するイオンが生成される。前者のプロダクトイオンのマスデフェクトは0.0405Da、後者のプロダクトイオンのマスデフェクトは0.3245Daである。トリアレートのマスデフェクトは0.0091Da、フェンプロピモルフのマスデフェクトは0.2635であり、マスデフェクトを比較するとそれぞれのプロダクトイオンは解離前の親化合物のマスデフェクトに近いことが分かる。もちろん、これは、プリカーサイオンとしてまとめて選択される複数の化合物のマスデフェクトが或る程度以上離れていることが前提であるが、そうであれば、プロダクトイオンのマスデフェクトが複数の化合物のマスデフェクトのいずれに近いのかを判断することで、プロダクトイオンをプリカーサイオン、つまりは化合物に帰属させることができる。
 そこで第3実施例の質量分析システムにおいて、マスデフェクト抽出部28はプリカーサイオンやプロダクトイオンのマスデフェクトを求め、プロダクトイオン帰属判定部29は各プロダクトイオンのマスデフェクトがいずれのプリカーサイオンのマスデフェクトに近いのかを判断し、帰属を決定する。ただし、解離の態様によっては、マスデフェクトが必ずしもプリカーサイオンに近くなるとは限らないので、例えばプリカーサイオンとプロダクトイオンとのマスデフェクト差の最小値が所定閾値を上回る場合には、そのプロダクトイオンはいずれのプリカーサイオンにも帰属しない又は逆に複数のプリカーサイオンの両方に帰属させるようにするとよい。こうしてプロダクトイオンの帰属を決定したならば、第2実施例と同様に、帰属結果に基づいてMS/MSスペクトルデータを分離すればよい。
 また、第2実施例と第3実施例とは併用することができる。即ち、プロダクトイオンピークの帰属を決定する際に、推定した組成式とマスデフェクトの両方を用いることで、帰属の精度を高めることができる。
 なお、上記実施例はいずれも本発明の一例にすぎず、本発明の趣旨の範囲で適宜変形や修正、追加を行っても本願特許請求の範囲に包含されることは明らかである。
1…タンデム質量分析計
10…イオン源
11…第1段質量分離部
12…イオン解離部
13…第2段質量離部
14…検出器
15…アナログデジタル変換器
16…分析制御部
2…データ処理部
21…データ格納部
22…複数プリカーサ対応解析処理部
23…データベース検索部
24…化合物データベース
25…組成式推定部
26、29…プロダクトイオン帰属判定部
27…データ分離処理部
28…マスデフェクト抽出部
3…制御部
4…操作部
5…表示部

Claims (4)

  1.  所定の質量電荷比幅に含まれる質量電荷比を有する、複数の異なる化合物にそれぞれ由来するイオンをまとめてプリカーサイオンとして選択し、その選択されたプリカーサイオンを解離して得られたプロダクトイオンを質量分析することで得られたMSnスペクトルデータを処理するタンデム質量分析データ処理装置であって、
     a)既知の化合物に対応付けて少なくとも標準的なMSnスペクトルの情報が格納された化合物データベースと、
     b)実測により得られたデータに基づいて作成されるMSnスペクトルからピーク情報を収集するピーク情報収集部と、
     c)前記プリカーサイオンとして選択された複数の化合物のイオン毎にそれぞれ、その質量電荷比値と前記ピーク情報収集部により収集されたMSnスペクトルのピーク情報とに基づき前記化合物データベースに対するデータベース検索を実行して候補化合物を求めるデータベース検索実行部と、
     d)前記複数の化合物のイオン毎に求まった候補化合物に対する標準的なMSnスペクトルを前記化合物データベースにより取得し、前記複数の化合物に対する候補化合物の組み合わせを仮定し、仮定した1つの組み合わせに含まれる複数の候補化合物に対する標準的なMSnスペクトルを統合した仮のMSnスペクトルを作成して、該仮のMSnスペクトルと前記実測のMSnスペクトルとの類似度を、候補化合物の組み合わせ毎に計算する類似度算定部と、
     を備え、前記類似度算定部により得られた類似度を利用して化合物を同定可能としたことを特徴とするタンデム質量分析データ処理装置。
  2.  所定の質量電荷比幅に含まれる質量電荷比を有する、複数の異なる化合物にそれぞれ由来するイオンをまとめてプリカーサイオンとして選択し、その選択されたプリカーサイオンを解離して得られたプロダクトイオンを質量分析することで得られたMSnスペクトルデータを処理するタンデム質量分析データ処理装置であって、
     a)既知の化合物に対応付けて少なくとも標準的なMSnスペクトルの情報が格納された化合物データベースと、
     b)実測により得られたデータに基づいて作成されるMSnスペクトルからピーク情報を収集するピーク情報収集部と、
     c)前記プリカーサイオンとして選択された複数の化合物のイオン毎にそれぞれ、その質量電荷比値と前記ピーク情報収集部により収集されたピーク情報から判明する質量電荷比との差であるニュートラルロスの質量を計算し、そのプリカーサイオンの質量電荷比とニュートラルロス質量とに基づいて、前記化合物データベースに対するデータベース検索を実行して候補化合物を求めるデータベース検索実行部と、
     d)前記複数の化合物のイオン毎に求まった候補化合物に対する標準的なMSnスペクトルを前記化合物データベースにより取得し、前記複数の化合物に対する候補化合物の組み合わせを仮定し、仮定した1つの組み合わせに含まれる候補化合物に対する標準的なMSnスペクトルを統合した仮のMSnスペクトルを作成して、該仮のMSnスペクトルと前記実測のMSnスペクトルとの類似度を、候補化合物の組み合わせ毎に計算する類似度算定部と、
     を備え、前記類似度算定部により算出された類似度を利用して化合物を同定可能としたことを特徴とするタンデム質量分析データ処理装置。
  3.  所定の質量電荷比幅に含まれる質量電荷比を有する、複数の異なる化合物にそれぞれ由来するイオンをまとめてプリカーサイオンとして選択し、その選択されたプリカーサイオンを解離して得られたプロダクトイオンを質量分析することで得られたMSnスペクトルデータを処理するタンデム質量分析データ処理装置であって、
     a)実測により得られたMSn-1スペクトルデータからプリカーサイオンとして選択された複数のイオンの質量電荷比値を取得し、該質量電荷比値から各イオンの組成式を推定するプリカーサイオン組成式推定部と、
     b)実測により得られたMSnスペクトルデータから検出されたプロダクトイオンの質量電荷比値を取得し、該質量電荷比値から各プロダクトイオンの組成式を推定するプロダクトイオン組成式推定部と、
     c)プロダクトイオン毎に、前記プロダクトイオン組成式推定部により推定された組成式と前記プリカーサイオン組成式推定部により推定されたプリカーサイオンの組成式との整合性を検証することにより、そのプロダクトイオンが複数のプリカーサイオンのいずれに由来するものであるかを判定するプロダクトイオン帰属判定部と、
     d)前記プロダクトイオン帰属判定部による判定結果に基づいて、複数のプロダクトイオンをプリカーサイオン毎に分けたMSnスペクトルデータを再構成するデータ分離部と、
     を備えることを特徴とするタンデム質量分析データ処理装置。
  4.  所定の質量電荷比幅に含まれる質量電荷比を有する、複数の異なる化合物にそれぞれ由来するイオンをまとめてプリカーサイオンとして選択し、その選択されたプリカーサイオンを解離して得られたプロダクトイオンを質量分析することで得られたMSnスペクトルデータを処理するタンデム質量分析データ処理装置であって、
     a)実測により得られたMSn-1スペクトルデータからプリカーサイオンとして選択された複数のイオンの質量電荷比値を取得し、該質量電荷比値の小数点以下部分をマスデフェクトとして抽出するプリカーサイオンマスデフェクト抽出部と、
     b)実測により得られたMSnスペクトルデータから検出されたプロダクトイオンの質量電荷比値を取得し、該質量電荷比値の小数点以下部分をマスデフェクトとして抽出するプロダクトイオンマスデフェクト抽出部と、
     c)プロダクトイオン毎に、前記プロダクトイオンマスデフェクト抽出部により抽出されたマスデフェクトと前記プリカーサイオンマスデフェクト抽出部により抽出されたプリカーサイオンのマスデフェクトとの類似性を判定することにより、そのプロダクトイオンが複数のプリカーサイオンのいずれに由来するものであるかを判定するプロダクトイオン帰属判定部と、
     d)前記プロダクトイオン帰属判定部による判定結果に基づいて、複数のプロダクトイオンをプリカーサイオン毎に分けたMSnスペクトルデータを再構成するデータ分離部と、
     を備えることを特徴とするタンデム質量分析データ処理装置。
PCT/JP2014/050947 2014-01-20 2014-01-20 タンデム質量分析データ処理装置 WO2015107690A1 (ja)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/112,453 US10249480B2 (en) 2014-01-20 2014-01-20 Tandem mass spectrometry data processing system
CN201480073586.2A CN105917221B (zh) 2014-01-20 2014-01-20 串联质谱分析数据处理装置
EP16185384.1A EP3131028A1 (en) 2014-01-20 2014-01-20 Tandem mass spectrometry data processing system
EP14879070.2A EP3098599A4 (en) 2014-01-20 2014-01-20 Tandem mass spectrometry data processing device
JP2015557668A JP6028875B2 (ja) 2014-01-20 2014-01-20 タンデム質量分析データ処理装置
PCT/JP2014/050947 WO2015107690A1 (ja) 2014-01-20 2014-01-20 タンデム質量分析データ処理装置
CN201610835168.3A CN106935477B (zh) 2014-01-20 2014-01-20 串联质谱分析数据处理装置
US15/214,625 US11145498B2 (en) 2014-01-20 2016-07-20 Tandem mass spectrometry data processing system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2014/050947 WO2015107690A1 (ja) 2014-01-20 2014-01-20 タンデム質量分析データ処理装置

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US15/112,453 A-371-Of-International US10249480B2 (en) 2014-01-20 2014-01-20 Tandem mass spectrometry data processing system
US15/214,625 Division US11145498B2 (en) 2014-01-20 2016-07-20 Tandem mass spectrometry data processing system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2015107690A1 true WO2015107690A1 (ja) 2015-07-23

Family

ID=53542608

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2014/050947 WO2015107690A1 (ja) 2014-01-20 2014-01-20 タンデム質量分析データ処理装置

Country Status (5)

Country Link
US (2) US10249480B2 (ja)
EP (2) EP3131028A1 (ja)
JP (1) JP6028875B2 (ja)
CN (2) CN106935477B (ja)
WO (1) WO2015107690A1 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016170174A (ja) * 2016-05-25 2016-09-23 株式会社島津製作所 タンデム質量分析データ処理装置
JPWO2018042605A1 (ja) * 2016-09-01 2019-02-28 株式会社島津製作所 質量分析データ処理装置
JP2020527695A (ja) * 2017-11-23 2020-09-10 株式会社島津製作所 質量分析装置におけるデータ取得方法
JPWO2021019607A1 (ja) * 2019-07-26 2021-02-04
JPWO2021240710A1 (ja) * 2020-05-28 2021-12-02
WO2022249291A1 (ja) * 2021-05-25 2022-12-01 株式会社島津製作所 探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017002226A1 (ja) * 2015-07-01 2017-01-05 株式会社島津製作所 データ処理装置
WO2018100621A1 (ja) * 2016-11-29 2018-06-07 株式会社島津製作所 イオン化装置及び質量分析装置
GB2561378B (en) * 2017-04-12 2022-10-12 Micromass Ltd Optimised targeted analysis
JP2021063752A (ja) * 2019-10-16 2021-04-22 株式会社島津製作所 質量分析で得られたデータの解析装置、質量分析装置、質量分析で得られたデータの解析方法および解析プログラム
CN112466412A (zh) * 2020-12-03 2021-03-09 北京计算机技术及应用研究所 一种基于质谱数据的化合物相似度检测方法
CN116304259B (zh) * 2023-05-24 2023-08-04 药融云数字科技(成都)有限公司 谱图数据的匹配检索方法、系统、电子设备和存储介质

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007287531A (ja) * 2006-04-18 2007-11-01 Shimadzu Corp 質量分析データ解析方法
JP2011520129A (ja) * 2008-05-15 2011-07-14 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー Ms/msデータ処理
JP2012122871A (ja) 2010-12-09 2012-06-28 Shimadzu Corp 質量分析方法及び装置

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6120856A (ja) 1984-07-09 1986-01-29 Jeol Ltd マス・スペクトルの開裂ピ−ク表示方式
US7473892B2 (en) * 2003-08-13 2009-01-06 Hitachi High-Technologies Corporation Mass spectrometer system
WO2006049064A1 (ja) 2004-11-02 2006-05-11 Shimadzu Corporation 質量分析方法
GB0609253D0 (en) * 2006-05-10 2006-06-21 Micromass Ltd Mass spectrometer
WO2007132502A1 (ja) * 2006-05-11 2007-11-22 Shimadzu Corporation 質量分析装置用データ処理装置
WO2008035419A1 (fr) * 2006-09-21 2008-03-27 Shimadzu Corporation Procédé de spectrométrie de masse
US7838824B2 (en) * 2007-05-01 2010-11-23 Virgin Instruments Corporation TOF-TOF with high resolution precursor selection and multiplexed MS-MS
US9601322B2 (en) * 2007-10-23 2017-03-21 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
EP2427844A4 (en) * 2009-05-08 2016-11-02 Thermo Finnigan Llc PROCESSES AND SYSTEMS FOR VOTING PRODUCTS AND PRE-REFERENCES
CN101614698A (zh) * 2009-07-27 2009-12-30 上海华质生物技术有限公司 质谱的监听装置和监听方法
US8440963B2 (en) * 2010-04-09 2013-05-14 Battelle Memorial Institute System and process for pulsed multiple reaction monitoring
US20120108448A1 (en) * 2010-11-03 2012-05-03 Agilent Technologies, Inc. System and method for curating mass spectral libraries
US8884218B2 (en) * 2011-01-31 2014-11-11 Shimadzu Corporation Method and systems for mass spectrometry for identification and structural analysis of unknown substance
GB201205009D0 (en) * 2012-03-22 2012-05-09 Micromass Ltd Multi-dimensional survey scans for improved data dependent acquisitions (DDA)
JP6044385B2 (ja) * 2013-02-26 2016-12-14 株式会社島津製作所 タンデム型質量分析装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007287531A (ja) * 2006-04-18 2007-11-01 Shimadzu Corp 質量分析データ解析方法
JP2011520129A (ja) * 2008-05-15 2011-07-14 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー Ms/msデータ処理
JP2012122871A (ja) 2010-12-09 2012-06-28 Shimadzu Corp 質量分析方法及び装置

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
LEDVINA A R ET AL.: "Increased Throughput of Proteomics Analysis by Multiplexing High- Resolution Tandem Mass Spectra", ANALYTICAL CHEMISTRY, vol. 83, no. 20, 12 September 2011 (2011-09-12), pages 7651 - 7656, XP055213064 *
MASSELON C ET AL.: "Accurate Mass Multiplexed Tandem Mass Spectrometry for High-Throughput Polypeptide Identification from Mixtures", ANAL. CHEM., vol. 72, no. 8, 15 April 2000 (2000-04-15), pages 1918 - 1924, XP002908490 *
See also references of EP3098599A4 *

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016170174A (ja) * 2016-05-25 2016-09-23 株式会社島津製作所 タンデム質量分析データ処理装置
JPWO2018042605A1 (ja) * 2016-09-01 2019-02-28 株式会社島津製作所 質量分析データ処理装置
JP2020527695A (ja) * 2017-11-23 2020-09-10 株式会社島津製作所 質量分析装置におけるデータ取得方法
US11031218B2 (en) 2017-11-23 2021-06-08 Shimadzu Corporation Data acquisition method in a mass spectrometer
JPWO2021019607A1 (ja) * 2019-07-26 2021-02-04
WO2021019607A1 (ja) * 2019-07-26 2021-02-04 株式会社島津製作所 質量分析で得られたデータの解析方法、質量分析方法およびプログラム
JP7294425B2 (ja) 2019-07-26 2023-06-20 株式会社島津製作所 質量分析で得られたデータの解析方法、質量分析方法およびプログラム
JPWO2021240710A1 (ja) * 2020-05-28 2021-12-02
WO2021240710A1 (ja) * 2020-05-28 2021-12-02 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析データ処理方法、クロマトグラフ質量分析装置、及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム
CN115516301A (zh) * 2020-05-28 2022-12-23 株式会社岛津制作所 色谱质量分析数据处理方法、色谱质量分析装置以及色谱质量分析数据处理用程序
JP7359302B2 (ja) 2020-05-28 2023-10-11 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析データ処理方法、クロマトグラフ質量分析装置、及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム
WO2022249291A1 (ja) * 2021-05-25 2022-12-01 株式会社島津製作所 探針エレクトロスプレーイオン化質量分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP3098599A1 (en) 2016-11-30
CN105917221B (zh) 2019-01-11
US11145498B2 (en) 2021-10-12
JP6028875B2 (ja) 2016-11-24
JPWO2015107690A1 (ja) 2017-03-23
CN106935477A (zh) 2017-07-07
EP3131028A1 (en) 2017-02-15
US20160343557A1 (en) 2016-11-24
CN105917221A (zh) 2016-08-31
CN106935477B (zh) 2018-09-25
US10249480B2 (en) 2019-04-02
US20160343558A1 (en) 2016-11-24
EP3098599A4 (en) 2017-01-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6028875B2 (ja) タンデム質量分析データ処理装置
JP5590156B2 (ja) 質量分析方法及び装置
KR102044211B1 (ko) 체류 시간 판정 또는 확인을 위한 윈도우가 있는 질량 분석 데이터의 사용
US7880135B2 (en) Mass spectrometer
US10381207B2 (en) Data processing system for chromatographic mass spectrometry
JP5810983B2 (ja) 質量分析を用いた化合物同定方法及び化合物同定システム
JPH08124519A (ja) Ms/ms質量分析装置用データ処理装置
JP6222277B2 (ja) タンデム質量分析データ処理装置
JP5510011B2 (ja) 質量分析方法及び質量分析装置
JP6645585B2 (ja) 質量分析データ処理装置、質量分析データ処理方法、及び質量分析データ処理プログラム
US7529630B2 (en) Method of analyzing mass analysis data and apparatus for the method
JP6146211B2 (ja) 質量分析データ処理方法及び該方法を用いた質量分析装置
JP6738816B2 (ja) 曲線減算を介する類似性に基づく質量分析の検出
JP2014215172A (ja) ペプチド構造解析のための質量分析データ解析装置
WO2018163926A1 (ja) タンデム型質量分析装置及び該装置用プログラム
US9989505B2 (en) Mass spectrometry (MS) identification algorithm
JP5056169B2 (ja) 質量分析データ解析方法及び装置
CN115516301A (zh) 色谱质量分析数据处理方法、色谱质量分析装置以及色谱质量分析数据处理用程序
JP4921302B2 (ja) 質量分析システム
JP4839248B2 (ja) 質量分析システム

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 14879070

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2015557668

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 15112453

Country of ref document: US

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

REEP Request for entry into the european phase

Ref document number: 2014879070

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2014879070

Country of ref document: EP